WO2023127710A1 - 電波反射体 - Google Patents

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WO2023127710A1
WO2023127710A1 PCT/JP2022/047519 JP2022047519W WO2023127710A1 WO 2023127710 A1 WO2023127710 A1 WO 2023127710A1 JP 2022047519 W JP2022047519 W JP 2022047519W WO 2023127710 A1 WO2023127710 A1 WO 2023127710A1
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WO
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radio wave
wave reflector
thin film
layer
conductive thin
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Application number
PCT/JP2022/047519
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English (en)
French (fr)
Inventor
博之 野本
泰明 井手
宗宏 畠井
Original Assignee
積水化学工業株式会社
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32—LAYERED PRODUCTS
    • B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B7/00—Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
    • B32B7/02—Physical, chemical or physicochemical properties
    • B32B7/025—Electric or magnetic properties
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00—Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/30—Adhesives in the form of films or foils characterised by the adhesive composition
    • E—FIXED CONSTRUCTIONS
    • E04—BUILDING
    • E04B—GENERAL BUILDING CONSTRUCTIONS; WALLS, e.g. PARTITIONS; ROOFS; FLOORS; CEILINGS; INSULATION OR OTHER PROTECTION OF BUILDINGS
    • E04B1/00—Constructions in general; Structures which are not restricted either to walls, e.g. partitions, or floors or ceilings or roofs
    • E04B1/99—Room acoustics, i.e. forms of, or arrangements in, rooms for influencing or directing sound
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q15/00—Devices for reflection, refraction, diffraction or polarisation of waves radiated from an antenna, e.g. quasi-optical devices
    • H01Q15/14—Reflecting surfaces; Equivalent structures
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields

Definitions

  • the present invention relates to a radio wave reflector for reflecting radio waves.
  • Patent Literature 1 proposes a communication system in which a monopole antenna and a metal reflector that reflects radio waves are arranged in an indoor underfloor space.
  • radio waves radiated from a monopole antenna are diffused into the underfloor space by a reflector, and the radio waves are prevented from leaking out of the room (building) from the underfloor space and being absorbed by the floor of the building.
  • a metal reflector that reflects radio waves is generally composed of a metal plate such as aluminum or copper. It is known that metal reflectors reflect short-wave radio waves with high intensity in the direction of specular reflection, but diffuse the radio waves so that they are difficult to reflect, making it difficult for radio waves to reach a wide range of space. Also, metal reflectors are generally opaque. That is, since the other side cannot be seen from one side of the metal reflector, the presence of the metal reflector is conspicuous when such a metal reflector is used in a living room, and the line of sight is obstructed when such a metal reflector is used in a window. It disturbs the atmosphere of the room and deteriorates the scenery.
  • the present invention has been made with a focus on the above-mentioned problems, and aims to provide a radio wave reflector that can reflect radio waves while maintaining strength and that can preserve the scenery.
  • the present invention includes the subjects described in the following sections.
  • Section 1 A radio wave reflector for reflecting waves, When the incident wave is specularly reflected, there is a frequency at which the intensity of the reflected wave is -30 dB or more with respect to the intensity of the incident wave, A radio wave reflector having a total light transmittance of 65% or more in a D65 standard light source.
  • Item 3 Adhesion of a conductive thin film layer containing a conductor that reflects radio waves, a base layer containing a substrate, a protective layer containing a protective material for protecting the conductive thin film layer, and the conductive thin film layer and the protective layer. and an adhesive layer containing an adhesive for Item 2.
  • Item 4 The radio wave reflector according to Item 3, wherein the conductive thin film layer has a surface resistivity of 3.5 ⁇ / ⁇ or less and a thickness of 500 nm or less.
  • Item 5. The radio wave reflection according to Item 3 or 4, wherein the conductive thin film layer has conductor-free regions surrounded by one or more linear conductors and periodically arranged at predetermined intervals. body.
  • Item 6. The radio wave reflector according to item 5, wherein the conductive thin film layer has a conductor coverage defined as a ratio of the area occupied by the conductor per unit area of 1% or more and 10% or less.
  • Item 7. The radio wave reflector according to Item 5 or 6, wherein the conductor has a line width of 0.1 ⁇ m or more and 4.0 ⁇ m or less.
  • Item 8 The radio wave reflector according to any one of Items 1 to 7, wherein the overall shape is a polygon with a side length of 15 cm or more.
  • Item 9. The radio wave reflector according to any one of Items 3 to 7, wherein the protective layer is subjected to antiglare treatment or antireflection treatment.
  • a radio wave reflector capable of reflecting radio waves while maintaining strength and preserving the scenery.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the angular range of reflected waves reflected by the radio wave reflector according to the embodiment of the present invention
  • FIG. 3B is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a radio wave reflector according to an embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 3B.
  • 3 shows a schematic configuration of the whole radio wave reflector shown in FIG. 2, (A) is a plan view, and (B) is an enlarged view of part A of (A). (A) to (E) are cross-sectional views showing other examples of arrangement patterns of conductors.
  • FIG. 3B is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a radio wave reflector according to an embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 3B. 3 shows a schematic configuration of the whole radio wave reflector shown in FIG. 2, (A) is a plan view, and (B) is an enlarged view of part A of (
  • FIG. 10 is a plan view of a radio wave reflector showing another example of an arrangement pattern of conductors;
  • (A) is a cross-sectional view showing another example of a conductor, and
  • (B) is an enlarged view of part D of (A).
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a radio wave reflector according to another embodiment;
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a radio wave reflector according to another embodiment;
  • (A) is an explanatory diagram showing an example of application of the building material to a building, and
  • (B) is a plan view showing an example of application to a room.
  • the radio wave reflector 11 of the present invention is a communication device or the like having a transmission antenna capable of transmitting radio waves.
  • the receiving unit 21 is a communication device having a receiving antenna capable of receiving radio waves. Examples of the receiving unit 21 include smartphones, mobile phones, tablet terminals, notebook PCs, portable game machines, repeaters, radios, and televisions.
  • the radio wave reflector 11 includes a conductor 12 that reflects radio waves.
  • the frequency of the incident wave is 2 GHz or more and less than 6 GHz, 6 GHz or more and less than 20 GHz, 20 GHz or more and less than 60 GHz, 60 GHz or more and less than 100 GHz, 100 GHz or more and less than 150 GHz, or 150 GHz or more when the radio wave reflector 11 is attached to a wall or the like and flattened.
  • a radio wave reflector 11 reflects radio waves of any frequency of 300 GHz or less.
  • the incident angle of the incident wave is at least a predetermined angle of 15 degrees or more and 75 degrees or less, preferably 45 degrees, and more preferably the entire angle range of 15 degrees or more and 75 degrees or less.
  • the specular reflection intensity is ⁇ 30 dB or more with respect to the incident wave.
  • the specular reflection intensity is ⁇ 30 dB or more and 0 dB or less with respect to the incident wave at a frequency of 28.5 GHz, and more preferably, the specular reflection intensity is ⁇ 30 dB or more with respect to the incident wave in the entire frequency band of 20 GHz or more and 60 GHz or less. 0 dB or less.
  • the specular reflection intensity is ⁇ 30 dB or more and 0 dB or less with respect to the incident wave in the entire frequency band of 2 GHz or more and 300 GHz or less.
  • “Specular reflection intensity” is the intensity of reflected radio waves, and refers to the intensity of a reflected wave when an incident wave is specularly reflected.
  • the term “flat” refers to a state in which there is no unevenness and is not curved, or a state in which the radius of curvature of any point on the surface is 1000 mm or more even when unevenness is present.
  • the specular reflection intensity is preferably -25 dB or more and 0 dB or less, more preferably -22 dB or more and 0 dB or less, even more preferably -20 dB or more and 0 dB or less, and -15 dB or more and 0 dB or less, with respect to the incident wave. Since the specular reflection intensity is ⁇ 30 dB or more with respect to the incident wave, the radio wave reflector 11 can reflect radio waves while maintaining a high reflection intensity, and the receiving section 21 has a practical intensity for use. Can receive radio waves.
  • the specular reflection intensity and the reflection intensity are the distance between the reflection point 11a of the radio wave reflector 11 and the radio wave source 20 and the distance between the reflection point 11a of the radio wave reflector 11 and the receiving section 21. This is the value when the distance is 1 m.
  • specular reflection means that when the radio wave emitted from the radio wave source 20 (transmitting antenna) is reflected by the radio wave reflector 11, the incident angle ⁇ 1 of the incident wave and the reflection of the reflected wave It means that the angles ⁇ 2 are equal.
  • the direction in which the reflected wave travels when the radio wave is specularly reflected is also called the “specular reflection direction”.
  • the incident angle ⁇ 1 is defined by the incident wave traveling in the incident direction (indicated by arrow A1 in FIG. 1) when the radio wave enters the radio wave reflector 11 and the normal line 22 of the reflecting surface of the radio wave reflector 11.
  • the angle of reflection ⁇ 2 is the angle between the reflected wave traveling in the direction of reflection (indicated by arrow A2 in FIG.
  • the normal line 22 is a straight line perpendicular to the tangent line (or tangent plane) at the reflection point 11a.
  • the intensity of the reflected wave is hereinafter also referred to as "reflection intensity”.
  • the radio wave reflector 11 is configured such that the receiving angular position of the reflected wave is -15 degrees or more and +15 degrees with respect to the regular reflection direction of the radio wave on a virtual plane including the incident direction of the incident wave and the reflection direction of the reflected wave. It is preferable that the kurtosis of the distribution of the intensity of the reflected wave at each receiving angular position is ⁇ 0.4 or less when the angular range ⁇ is varied as follows.
  • the kurtosis is more preferably -1.0 or less. More preferably -1.1 or less, still more preferably -1.2 or less. Although the lower limit of the kurtosis is not particularly limited, it is usually about -0.5.
  • the virtual plane can also be said to be a plane including the reflection point 11a on the reflecting surface of the radio wave reflector 11, the radio wave source 20, and the reflected wave receiver 21.
  • FIG. The kurtosis is obtained when the radio wave reflector 11 is attached to a wall or the like and flattened.
  • Kurtosis is a statistic that indicates how much a distribution deviates from a normal distribution, and indicates the degree of kurtosis and the spread of tails.
  • the reception angular position i of the receiving unit 21 is set at a predetermined angle (for example, at a time of 5 degrees) from the specular reflection direction of the radio wave centering on the reflection point 11a, at ⁇ 15 degrees or more and +15 degrees or less with respect to the specular reflection direction of the radio wave.
  • the reflection intensity x is measured by moving within the angle range ⁇ .
  • the reception angular position i of the receiver 21 is positioned on an arc centered on the reflection point 11a. Reflection intensity value at each reception angular position i the average value of , and the standard deviation is s, the kurtosis is obtained from the following formula.
  • kurtosis indicates that the intensity data at each angular position is distributed flatter than the normal distribution. The smaller is, the flatter the distribution.
  • the difference in reflection intensity depending on the reception angular position becomes small within the angular range ⁇ of ⁇ 15 degrees with respect to the specular reflection direction of the radio wave.
  • the radio wave reflector 11 has a total light transmittance of 65% or higher, preferably 80% or higher, more preferably 85% or higher, and still more preferably 90% or higher, under a D65 standard light source.
  • the total light transmittance refers to the ratio of the total transmitted luminous flux to the parallel incident luminous flux of the test piece, and is defined in JISK7375:2008. That is, the radio wave reflector 11 is so-called "transparent", and the term "transparent" means that the other side of the radio wave reflector 11 can be viewed from one side, and includes semi-transparency. Further, the radio wave reflector 11 may be colored as a whole.
  • each layer has a total light transmittance of 65%.
  • the conductors 12 of the conductive thin film layer 16 may be formed with a thickness such that the total light transmittance is 65% or more.
  • the radio wave reflector 11 preferably has a square overall shape in plan view, and preferably has a side length of 15 cm or more and 400 cm or less.
  • Radio waves with a frequency of 2 GHz or more and 300 GHz or less are attenuated by distance, but in order to reflect with sufficient intensity at all points within a practical distance from the radio wave source 20, the length of one side L10 is set to 15 cm or more. is preferred.
  • the upper limit of the length L10 of one side is not particularly limited, it is preferably 400 cm or less from the viewpoint of manufacturing.
  • the overall shape is not limited to a square, but may be a rectangle, or a polygon such as a triangle, pentagon, or hexagon.
  • the shortest distance between a certain vertex and the opposite side or the shortest distance between a certain side and the opposite side may be set to 15 cm or more and 400 cm or less.
  • the diameter is set to 15 cm or more and 400 cm or less.
  • the minor axis is set to 15 cm or more and 400 cm or less.
  • the overall shape of the radio wave reflector 11 is fan-shaped, the length of the arc or the shorter radius is set to 15 cm or more and 400 cm or less.
  • the overall shape may be a three-dimensional shape such as a cylindrical shape or a conical shape.
  • the radio wave reflector 11 has a shape and size that can reflect radio waves with a reflection intensity of -30 dB or more with respect to the incident wave. selected as appropriate.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is set to about 0.25 mm in this embodiment, it is not limited to this, and the thickness L1 is preferably 1 mm or less.
  • the radio wave reflector 11 includes the conductive thin film layer 16, the substrate layer 13, the adhesive layer 14, and the protective layer 15, the thickness of each of the substrate layer 13, the conductive thin film layer 16, the adhesive layer 14, and the protective layer 15 is The thickness L1 of the reflector 11 is set to be 1 mm or less. Since the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is small, the radio wave reflector 11 has flexibility. Flexibility refers to the property of having flexibility under normal temperature and normal pressure, and capable of deformation such as bending without being sheared or broken even when a force is applied.
  • the radio wave reflector 11 has flexibility to the extent that it can be attached along a curved surface having a curvature radius R of about 300 mm, but the value of the curvature radius R is not limited.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is the sum of the thickness L3 of the conductive thin film layer 16 and the thickness L2 of the base layer 13, or the thickness L3 of the conductive thin film layer 16, the thickness L2 of the base layer 13, and the thickness L2 of the adhesive layer 14. It is the sum of the thickness L4 and the thickness L5 of the protective layer 15 .
  • the thickness L3 of the conductive thin film layer 16 is much thinner than the respective thicknesses L2, L4, and L5 of the base layer 13, the adhesive layer 14, and the protective layer 15, when calculating the thickness L1 of the radio wave reflector 11, Alternatively, the thickness L3 of the conductive thin film layer 16 may be ignored.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11, the thickness L3 of the conductive thin film layer 16, the thickness L2 of the base layer 13, the thickness L4 of the adhesive layer 14, and the thickness L5 of the protective layer 15 are measured at a plurality of arbitrary points. , is obtained by calculating the average value of the obtained measured values.
  • thickness L1 thickness L3, thickness L2, thickness L4, and thickness L5
  • a reflectance spectroscopic film thickness measurement for example, F3-CS-NIR manufactured by Filmetrics Co., Ltd.
  • F3-CS-NIR a reflectance spectroscopic film thickness measurement
  • the surface resistivity of the radio wave reflector 11 in a state where the radio wave reflector 11 is attached to a wall or the like and flattened is preferably 0.003 ⁇ / ⁇ or more and 10 ⁇ / ⁇ or less. Although the details will be described later, the surface resistivity is measured as the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 including the conductor 12 .
  • the surface resistivity of the radio wave reflector 11 when the radio wave reflector 11 is flat refers to the surface resistivity of the radio wave reflector 11 when the radio wave reflector 11 is placed on a flat mounting surface.
  • the term “flat” refers to a state in which there is no unevenness and is not curved, or a state in which the radius of curvature of any point on the surface is 1000 mm or more even when unevenness is present.
  • Surface resistivity means surface resistance per square centimeter.
  • the surface resistivity can be measured by the four-probe method in accordance with JISK6911 by contacting a measuring terminal to the surface of the conductive thin film layer 16, which will be described later. If the conductive thin film layer 16 is not exposed because it is protected by a resin sheet or the like, a non-contact resistance measuring device (manufactured by Napson Co., Ltd., trade name: EC-80P, or equivalent) is used. It can be measured by an eddy current method.
  • the radio wave reflector 11 has a surface resistivity change rate before and after the radio wave reflector 11 is curved along the surface of a member having a curved surface with a curvature radius of 200 mm (also referred to as a “surface resistivity change rate during bending”). ) R may be -10% or more and 10% or less.
  • the rate of change R of the surface resistivity when curved is the ratio of the surface resistivity R1 of the wave reflector 11 when the wave reflector 11 is flattened to the surface resistivity R1 of the wave reflector 11 when the wave reflector 11 is a member having a curved surface with a curvature radius of 200 mm. It refers to the rate of change in the surface resistivity R2 in the state of being curved along the surface.
  • R (%) (R2-R1)/R1 x 100.
  • the reflection intensity of radio waves changes according to the surface resistivity.
  • the rate of change R of the surface resistivity of the radio wave reflector 11 when it is bent is -10% or more and 10% or less, even when the radio wave reflector 11 is curved, it is sufficiently similar to when it is flattened. It is possible to achieve a high reflection intensity of radio waves.
  • the radio wave reflector 11 preferably has a bending elastic modulus of 0.05 GPa or more and 4 GPa or less.
  • the flexural modulus is a value that indicates how much bending stress can be endured, and is defined in JIS K7171.
  • the radio wave reflector 11 has flexibility, and the radio wave reflector 11 can be curved without breaking, and a curved surface with a radius of curvature of 200 mm or more can be obtained. can be pasted on.
  • the flexural modulus is measured according to JIS K7171. Flexibility refers to the property of having flexibility under normal temperature and normal pressure, and capable of deformation such as bending without being sheared or broken even when a force is applied.
  • the radio wave reflector 11 preferably has a Young's modulus of 0.01 GPa or more and 80 GPa or less. Young's modulus refers to the elastic modulus when a solid is stretched by applying tension in one direction, and is also called the tensile elastic modulus, and is defined in JIS K7161-2014. By setting the Young's modulus within the above range, the radio wave reflector 11 is easily deformed, and the radio wave reflector 11 is curved without being broken, and is attached to a curved surface with a radius of curvature of 200 mm or more. be able to. Young's modulus is measured according to JIS K7127-1999.
  • the radio wave reflector 11 has at least a degree of flexibility that allows it to be attached along a curved surface with a radius of curvature of 200 mm or more, preferably a degree that allows it to be attached along a curved surface with a radius of curvature of 100 mm or more. of flexibility.
  • the radio wave reflector 11 may have plasticity.
  • Plasticity refers to the property of being able to deform by applying external pressure, and retaining the deformed shape even when the force is removed when deformation exceeding the elastic limit is given by pressure. All of the synthetic resins forming the base layer 13, the adhesive layer 14, and the protective layer 15 may have plasticity, or at least one of the base layer 13, the adhesive layer 14, and the protective layer 15 may have plasticity. One may have plasticity.
  • the radio wave reflector 11 has a difference between the yellow index after the heat and humidity resistance test and the yellow index before the heat and humidity resistance test, that is, the degree of yellowing is 3 or less.
  • the yellow index is also called yellowness, and refers to the degree to which the hue deviates from colorless or white toward yellow.
  • a yellow index is calculated
  • the radio wave reflector 11 is removed from the constant temperature and humidity chamber. This is a test for confirming the properties and conditions of the radio wave reflector 11 after taking it out and allowing it to stand at room temperature for 4 hours.
  • the incident wave is incident on the radio wave reflector 11 at a predetermined angle of 15 degrees or more and 75 degrees or less, preferably 45 degrees, more preferably 15 degrees or more and 75 degrees or less.
  • an incident wave with a frequency of 2 GHz or more and 300 GHz or less is specularly reflected.
  • the difference in intensity of reflected waves from the radio wave reflector 11 before and after the heat and humidity resistance test is within 3 dB in all frequency bands from 2 GHz to 300 GHz.
  • the radio wave reflector 11 has a surface resistivity change rate r before and after the heat and humidity resistance test (also referred to as "surface resistivity change rate during the heat and humidity resistance test") of 20% or less.
  • the change rate r of the surface resistivity during the heat and humidity resistance test refers to the rate at which the surface resistivity r2 after the heat and humidity resistance test changes with respect to the surface resistivity r1 before the heat and humidity resistance test.
  • the reflection intensity of radio waves changes according to the surface resistivity. However, since the rate of change r of the surface resistivity of the radio wave reflector 11 during the heat and humidity resistance test is 20% or less, the reflection intensity of the radio wave reflector 11 does not decrease significantly even after the heat and humidity resistance test. The reflection intensity of radio waves can be realized.
  • the pencil hardness of the protective layer 15 with a surface load of 500 g is preferably "F” or higher, more preferably “H” or higher. It is preferably “4H” or more.
  • the "pencil hardness test” as used herein is a test based on JIS K 5600-5-4 (1999). "Surface load of 500 g" is included if the load applied to the surface during the pencil hardness test is 500 g ⁇ 10 g.
  • the pencil hardness of the protective layer 15 with a surface load of 500 g may be F or higher.
  • the reduction rate of the adhesive force of the protective layer 15 to the adherend layer is preferably 50% or less, more preferably 45% or less, and further Preferably it is 40% or less.
  • "attached layer” means a layer that is in direct contact with the layer of interest.
  • the adhered layer of the protective layer 15 is the adhesive layer 14 in this embodiment.
  • the adhesive force is measured by a tensile adhesive strength test according to JIS K 6849 (1994).
  • the radio wave reflector 11 includes a conductive thin film layer 16 containing a conductor 12, a base material layer 13 laminated on the conductive thin film layer 16 and containing a base material, and a protective layer containing a protective material for protecting the conductive thin film layer 16. 15 and an adhesive layer 14 containing an adhesive for bonding the conductive thin film layer 16 and the protective layer 15 together. Further, the radio wave reflector 11 may include a conductive thin film layer 16 containing the conductor 12 and a resin that keeps the conductor 12 in a sheet shape.
  • the radio wave reflector 11 is laminated in the order of a substrate layer 13, a conductive thin film layer 16, an adhesive layer 14, and a protective layer 15 from the bottom.
  • the vertical direction is defined based on FIG. 2, and the vertical and horizontal directions and the horizontal direction are defined based on FIGS. However, it does not define the vertical and horizontal directions when the radio wave reflector 11 is attached to a building or the like. 1 to 11 are not shown to scale. Also, in FIG. 3, the adhesive layer 14 and the protective layer 15 are partly omitted from the radio wave reflector 11 .
  • the base material layer 13 has a conductive thin film layer 16 including the conductor 12 laminated on its upper surface, and is composed of a base material.
  • the outer shape is formed in a square shape in plan view, but is not limited to this, and may be rectangular, circular, elliptical, fan-shaped, polygonal, three-dimensional shape, etc. according to the overall shape of the radio wave reflector 11 .
  • may be A sheet made of a synthetic resin is used as the substrate which is the substrate layer 13 .
  • Examples of synthetic resins include PET (polyethylene terephthalate), polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polymethyl methacrylate, polyester, polyformaldehyde, polyamide, polyphenylene ether, vinylidene chloride, polyvinyl acetate, polyvinyl acetal, and AS resin. , ABS resin, acrylic resin, fluorine resin, nylon resin, polyacetal resin, polycarbonate resin, polyamide resin, and polyurethane resin. Also, the thickness L2 (the length in the vertical direction in FIG. 2) of the base material layer 13 is set to 50 ⁇ m in the present embodiment, but is not limited to this. In addition to the base material, the base material layer 13 may contain an arbitrary material such as a synthetic resin or an arbitrary member.
  • one or more linear conductors 12 are preferably formed as a thin film on the upper surface of the base layer 13 .
  • the conductor 12 is preferably made of silver (Ag), for example.
  • the conductor 12 may be made of a metal having free electrons, and is not limited to silver. For example, gold (Au), copper (Cu), platinum (Pt), zinc (Zn), iron (Fe).
  • the thickness (film thickness) L3 of the conductive thin film layer 16 (conductor 12) is 500 nm (0.5 ⁇ m) or less in this embodiment, but is not limited to this.
  • the thickness L3 is preferably 5 nm or more from the viewpoint of ensuring appropriate radio wave intensity.
  • the conductive thin film layer 16 may contain an arbitrary material such as synthetic resin or an arbitrary member.
  • the surface roughness Sa of the conductive thin film layer 16 is not particularly limited, it is preferably 1 ⁇ m or more and 7 ⁇ m or less, more preferably 1.03 ⁇ m or more and 6.72 ⁇ m or less. When the surface roughness Sa is within this range, it becomes easier to diffusely reflect radio waves.
  • the surface roughness Sa is determined by the arithmetic mean height of ISO 25178 and measured according to ISO 25178. Using a laser microscope (product name VK-X1000/1050, manufactured by Keyence Corporation, or equivalent), the surface roughness is measured at multiple locations on the surface of the conductive thin film layer 16, and the average value of the obtained measurement values can be calculated to obtain the surface roughness Sa of the conductive thin film layer 16 .
  • the conductor 12 and the base layer 13 are to be measured.
  • a plurality of conductors 12 are provided, the surface roughness of each conductor 12 is measured at a plurality of locations, and the average value of the measured values is defined as the surface roughness Sa of the conductor 12. .
  • the conductive thin film layer 16 preferably has a surface resistivity of 3.5 ⁇ / ⁇ or less.
  • the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 is the surface resistivity of the radio wave reflector 11 .
  • the conductive thin film layer 16 has one or more linear conductors 12 arranged around a region 12a without conductors 12 . That is, conductors 12 and areas 12a without conductors 12 are periodically arranged at predetermined intervals. The conductors 12 and the regions 12a without the conductors 12 gather to form a thin film. The distance between adjacent regions 12a without conductors 12 may be equal to the line width L6 of the conductors 12, or may be longer than the line width L6.
  • the term "linear" means that the length in the longitudinal direction is 3000 times or more the length in the direction orthogonal to the longitudinal direction. In the arrangement pattern of the conductors 12 of the present embodiment, for example, as shown in FIG. A region 12a without conductors 12 is square.
  • the areas 12a without the conductors 12 are arranged at intervals of the line width L6 of the conductors 12.
  • Conductors 12A and 12B are electrically connected at intersections where conductors 12 (12A) extending in the horizontal direction and conductors 12 (12B) extending in the vertical direction overlap.
  • a line width L6 of the conductor 12 is set to 0.1 ⁇ m or more and 4.0 ⁇ m or less.
  • the length L7 between the conductors 12 adjacent in the vertical or horizontal direction is greater than the wavelength of visible light, and the radio wave reflector 11 It is set to be smaller than the wavelength of the reflected radio wave, and in this embodiment, it is set to 2 ⁇ m or more and 10 cm or less. It is more preferably 20 ⁇ m or more and 1 cm or less, still more preferably 25 ⁇ m or more and 1 mm or less. More preferably, it is 30 ⁇ m or more and 250 ⁇ m or less.
  • the arrangement pattern of the conductors 12 is not limited to the arrangement shown in FIG. , and the shape of the region 12a without the conductor 12 may be rectangular. Also, the conductors 12 may be arranged in an arrangement pattern of shapes shown in FIGS. In FIG. 4A, a plurality of conductors 12A are arranged at predetermined intervals in the horizontal direction, and a plurality of conductors 12B extending in the vertical direction are arranged between the conductors 12A extending in the horizontal direction. They are arranged in a staggered pattern.
  • the zigzag pattern means that a plurality of conductors 12B extending in the vertical direction are arranged in the horizontal direction at predetermined intervals, and the plurality of conductors 12B forming one row are adjacent to each other in the vertical direction of the row. It is positioned between a plurality of conductors 12B forming a row, and refers to a state in which the conductors 12B in alternate rows are arranged in a straight line.
  • the conductor 12A is arranged along the horizontal direction, while the conductors 12B and 12C extend along an oblique direction tilted up and down with respect to the horizontal direction, and the conductors 12B and 12C cross each other on conductor 12A.
  • the shape of the region 12a without the conductor 12 is an equilateral triangle.
  • the shape of the region 12a without the conductor 12 may be an isosceles triangle or a triangle with three sides of different lengths instead of an equilateral triangle.
  • regular hexagonal regions 12a without conductors 12 formed by linear conductors 12 are periodically arranged, and in FIG. The formed regular pentagonal regions 12a without the conductor 12 are arranged periodically.
  • FIG. 4E circular regions 12a formed of linear conductors 12 and having no conductors 12 are periodically arranged. 4A to 4E show only the conductor 12.
  • FIG. 4C regular hexagonal regions 12a without conductors 12 formed by linear conductors 12 are periodically arranged, and in FIG. The formed regular pentagonal regions 12a without the conductor 12 are arranged periodically.
  • circular regions 12a formed of linear conductors 12 and having no conductors 12 are periodically arranged. 4A to 4E show only the conductor 12.
  • FIG. 4C regular hexagonal regions 12a without conductor
  • the conductive thin film layer 16 preferably has a conductor coverage of 1% or more and 10% or less.
  • the conductor coverage rate refers to the ratio of the area occupied by the conductor 12 per unit area in plan view.
  • the coverage ratio can also be said to be the ratio of the area of the base layer 13 covered with the conductor 12 to the area of the base layer 13 in plan view. 2 and 3, when the conductive thin film layer 16 is not provided on the periphery of the base material layer 13 but is provided inside the edge of the base material layer 13 , the coverage rate refers to the ratio of the area occupied by the conductor 12 per unit area in the region where the conductive thin film layer 16 is provided on the upper surface of the base material layer 13 in plan view.
  • the area where the conductive thin film layer 16 is provided is the upper surface area of the base material layer 13 excluding the peripheral edge portion of the base material layer 13 (the portion between the edge of the base material layer 13 and the conductive thin film layer 16). area. Conductor coverage is measured using a scanning electron microscope (SEM), a transmission electron microscope (TEM), an optical microscope, or the like.
  • a method for manufacturing the conductive thin film layer 16 having the above arrangement pattern there is a method of forming a conductive film, forming a pattern by etching, and taking out the conductive thin film having the pattern. Further, a method of applying a photosensitive resist on a base film provided with a lift-off layer, forming a pattern by photolithography, filling the patterned portion with a conductor, and then taking out a conductive thin film having a pattern. be done.
  • the manufacturing method is not limited to the above, and examples of methods for forming the conductive thin film layer 16 include a method of adhering a metal thin film and a method of vapor-depositing metal.
  • the conductive thin film layer 16 may have, for example, a metamaterial structure.
  • the metamaterial structure is obtained by periodically arranging sheet-shaped conductors 12, which are dielectrics. Reflects radio waves belonging to The shape of each conductor 12 is not limited and may be the shape described above. For example, as shown in FIG. 5, each conductor 12 may be square.
  • the length L12 of one side and the interval L13 between the adjacent conductors 12 may be set so that the conductors 12 reflect radio waves with a frequency of 2 GHz or more and 300 GHz or less.
  • the length L12 of one side of the conductor 12 may be 0.7 mm or more and 800 mm or less, and the interval L13 may be 1 ⁇ m or more and 1000 ⁇ m or less.
  • the thickness L3 of the conductor 12 is preferably 350 nm (0.35 ⁇ m) or less, more preferably 100 nm or less, and even more preferably 50 nm or less.
  • the number of conductors 12 is appropriately set according to the size (area) of the base material layer 13 . In one example, the conductors 12 may be formed on the base layer 13 so as to match the size of the base layer 13 , two vertically and two horizontally, a total of four conductors 12 .
  • the conductive thin film layer 16 is not limited to a metamaterial structure, and may be any one of a metal nanowire laminated film, multi-layered graphene, and partially exfoliated graphite.
  • the conductor 12 forming the conductive thin film layer 16 may be, for example, in the form shown in FIG.
  • the conductor 12 is formed in a pattern in which a first conductive portion 62 including a plurality of first enclosing portions 61 and a second conductive portion 64 including a plurality of second enclosing portions 63 overlap each other. there is The first enclosing portion 61 and the second enclosing portion 63 do not share any portion when projected onto a projection plane parallel to the conductive thin film layer.
  • the first surrounding portions 61 surrounding the first region AR1 in which the conductor 12 is not formed are repeatedly formed at a constant pitch.
  • the first conductive portion 62 is formed in a lattice shape, but may be formed in a pentagonal shape, a hexagonal shape, a circular shape, or the like.
  • the second conductive portion 64 surrounds the fourth region AR4, which is a region where the conductor 12 is not formed.
  • the fourth area AR4 is formed across a plurality of adjacent first areas AR1.
  • the second conductive portion 64 may be positioned on the same plane as the first conductive portion 62, or may be positioned on a different plane. That is, the second conductive portion 64 may or may not be conductive to the first conductive portion 62 .
  • the adjacent second conductive portions 64 are separated from each other, they may be in contact with each other.
  • the second conductive portion 64 is formed in a rectangular shape, it may be formed in a pentagonal shape, a hexagonal shape, a circular shape, or the like.
  • radio wave diffusivity means that the difference between the specular reflection intensity and the radio wave intensity around the specular reflection falls within a certain range.
  • the adhesive layer 14 adheres the protective layer 15 onto the base material layer 13 and the conductive thin film layer 16, and is made of an adhesive.
  • the adhesive layer 14 has a size corresponding to that of the base material layer 13 in plan view.
  • a synthetic resin or rubber adhesive sheet is used as the adhesive that is the adhesive layer 14. Examples of synthetic resins include acrylic resins, silicon resins, polyvinyl alcohol resins, and the like.
  • the thickness L4 of the adhesive layer 14 is set to 150 ⁇ m in this embodiment, it is not limited to this.
  • the adhesive layer 14 may contain any substance such as synthetic resin or any other member.
  • the adhesive layer 14 is preferably made of a synthetic resin material with a dielectric loss tangent (tan ⁇ ) of 0.018 or less.
  • a lower dielectric loss tangent is more preferable, but it is usually 0.0001 or more.
  • the dielectric loss tangent represents the degree of electrical energy loss within a dielectric, and the greater the dielectric loss tangent of a material, the greater the electrical energy loss.
  • the synthetic resin material of the adhesive layer 14 has a dielectric constant that changes according to the frequency of the electric field.
  • the dielectric constant is the ratio of the dielectric constant of a medium (synthetic resin material in this embodiment) to the dielectric constant of a vacuum.
  • the dielectric constant varies between 1.5 and 7. More preferably, it changes between 1.8 and 6.5.
  • Inductive loss tangent and relative permittivity are measured using a known method (e.g., cavity resonator method, coaxial resonator method) using a measuring device (e.g., Toyo Technica, model number TTPX table-top cryogenic prober, material impedance analyzer MIA-5M). measured by
  • the synthetic resin material constituting the base layer 13 and the protective layer 15 may have a dielectric loss tangent of 0.018 or less, and the dielectric constant changes according to the electric field. can be anything.
  • the adhesive layer 14 preferably has a hydroxyl value of 5 mgKOH/g or more, more preferably 8 mgKOH/g or more, still more preferably 30 mgKOH/g or more, still more preferably 90 mgKOH/g or more. is.
  • the upper limit of the hydroxyl value of the adhesive layer 14 is preferably 120 mgKOH/g or less.
  • the hydroxyl value of the adhesive layer 14 is 5 mgKOH/g or more, there is an advantage that the adhesive layer 14 is less likely to foam and/or whiten under high-temperature and high-humidity environments.
  • the hydroxyl value is measured by a test method conforming to JIS K 1557.
  • the acid value of the adhesive layer 14 is preferably 50 mgKOH/g or less, more preferably 45 mgKOH/g or less, still more preferably 30 mgKOH/g or less, still more preferably 10 mgKOH/g or less. is.
  • the lower limit of the acid value of the adhesive layer 14 is preferably 0.1 mgKOH/g or more.
  • the adhesive layer 14 preferably does not contain an ultraviolet absorber.
  • an ultraviolet absorber When the adhesive layer 14 does not contain an ultraviolet absorber, there is an advantage that the adhesive layer 14 can be easily adjusted to be colorless and transparent.
  • “not containing” includes not only the case where the ultraviolet absorber is not contained at all, but also the case where the adhesive layer 14 contains a small amount that does not impair the colorless transparency.
  • the protective layer 15 has a size corresponding to that of the base material layer 13 in plan view, protects the conductor 12, and is made of a protective material.
  • a synthetic resin film is used as a protective material that is the protective layer 15 .
  • synthetic resins include PET (polyethylene terephthalate), COP (cycloolefin polymer), polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polymethyl methacrylate, polyester, polyformaldehyde, polyamide, polyphenylene ether, vinylidene chloride, and polyvinyl acetate.
  • the thickness L5 of the protective layer 15 is set to 50 ⁇ m in this embodiment, it is not limited to this.
  • the protective layer 15 may contain an arbitrary substance such as synthetic resin or an arbitrary member.
  • anti-glare treatment or anti-reflection treatment may be applied to at least one of the upper surface (outer surface) and lower surface (surface in contact with the adhesive layer 14) in FIG. 2 of a synthetic resin film.
  • Anti-glare treatment involves forming an uneven shape on at least one surface of the protective layer 15 to scatter light and reduce reflection of a light source such as illumination on the protective layer 15 . This is a process that suppresses congestion.
  • a method of applying anti-glare treatment for example, a method of applying a binder resin in which fine particles are dispersed is applied to the surface of the film. Also, known methods such as sandblasting and chemical etching may be used.
  • Antireflection treatment (also referred to as “AR treatment”) is to form an antireflection film on at least one surface of the film, and reflect light reflected from the surface of the antireflection film and from the interface between the antireflection film and the film. This is a process of attenuating the reflected light by interference to suppress reflection of a light source such as illumination.
  • the anti-reflection film may be a single layer, or may be one in which thin films having different refractive indices are alternately laminated, and known anti-reflection films are used.
  • the protective layer 15 may be a synthetic resin film with anti-glare treatment or anti-reflection treatment attached to one side or both sides of the film.
  • the protective layer 15 preferably has a moisture permeability at a temperature of 40° C. and a humidity of 90% rh (relative humidity) of 20 g/m 2 ⁇ 24 h or less, more preferably 16 g/m 2 ⁇ 24 h or less, More preferably, it is 12 g/m 2 ⁇ 24h or less, and still more preferably 10 g/m 2 ⁇ 24h or less.
  • the moisture permeability of the protective layer 15 at a temperature of 40° C. and a humidity of 90% rh (relative humidity) is 20 g/m 2 ⁇ 24 h or less
  • the conductive thin film layer 16 is less likely to corrode, and the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 is improved. has the advantage of being less likely to rise.
  • the "water vapor permeability" referred to in this specification is measured by a test method based on JIS Z 0208 (1976).
  • the radio wave reflector 11 has a total light transmittance of 65% or more in the D65 standard light source and is highly transparent. The presence of the radio wave reflector 11 is not conspicuous and hinders the atmosphere and scenery of the living room, so that the scenery can be maintained well. Further, in the radio wave reflector 11, there is at least one frequency at which the intensity of the reflected wave when the incident wave with a frequency of 2 GHz or more and 300 GHz or less is specularly reflected is ⁇ 30 dB or more with respect to the incident wave. Therefore, radio waves can be reflected while maintaining a high reflection intensity. For this reason, even with radio waves that have a short wavelength and are highly straight, it is possible to suppress the occurrence of blind spots in the indoor space as much as possible. do not have.
  • the receiving unit 21 can receive the radio wave reflected by the radio wave reflector 11 while maintaining the reflection intensity.
  • the radio wave reflector 11 may It can be provided with rigidity to the extent that it can be attached to the surface, and it is easy to perform operations such as attachment. Moreover, since the protective layer 15 is provided, the conductive thin film layer 16 can be prevented from being damaged.
  • the radio wave reflector 11 can reflect radio waves while maintaining a high reflection intensity.
  • the conductors 12 Light rays such as visible rays pass through the region 12a where there is no region 12a, and the total light transmittance of the radio wave reflector 11 can be 65% or more.
  • the conductor coverage of the conductive thin film layer 16 is 1% or more and 10% or less, the ratio of the area where the conductor 12 is not arranged is large, and the total light transmittance of the radio wave reflector 11 is 65% or more. becomes.
  • the line width L6 of the conductor 12 is 0.1 ⁇ m or more and 4.0 ⁇ m or less, the ratio of the area where the conductor 12 is not arranged is large, and the total light transmittance of the radio wave reflector 11 is 65%. That's it.
  • the radio wave reflector 11 If the overall shape of the radio wave reflector 11 is a square with one side length of 15 cm or more and 400 cm or less, the radio wave should be reflected into the space in the living room with a practical reflection intensity that can be received by the receiving unit. Therefore, when the radio wave reflector 11 is arranged in the living room, blind spots are less likely to occur.
  • FIG. 7 shows another embodiment of the invention.
  • conductive thin film layers 16A and 16B are stacked vertically in two layers.
  • the conductive thin film layer 16A formed on the base material layer 13A and the conductive thin film layer 16B formed on the base material layer 13B are aligned so that their arrangement patterns overlap when viewed from the top.
  • the arrangement patterns of the conductive thin film layers 16A and 16B do not have to overlap in plan view, and the conductive thin film layers 16A and 16B may be formed in different arrangement patterns.
  • the lower surface of the base material layer 13B is attached onto the conductive thin film layer 16A with an adhesive layer 14A, and the protective layer 15 is attached onto the conductive thin film layer 16B with an adhesive layer 14B.
  • the radio waves incident on the radio wave reflector 11 are reflected by the first conductive thin film layer 16B, but part of them pass through the conductive thin film layer 16B without being reflected by the conductive thin film layer 16B.
  • the radio waves passing through the conductive thin film layer 16B are reflected by the second conductive thin film layer 16A.
  • radio waves passing through the upper conductive thin film layer 16B can be reflected by the lower conductive thin film layer 16A.
  • the reflection intensity of 11 can be kept higher than when the conductor 12 is only one layer.
  • the kurtosis of the reflection intensity distribution in the angle range ⁇ of ⁇ 15 degrees with respect to the specular reflection direction of the radio wave can be further reduced, and the difference in reflection intensity depending on the angular position within the angle range ⁇ becomes smaller. Furthermore, since the two layers of adhesive layers 14A and 14B are used, the value of the dielectric loss tangent is even smaller than in the embodiment shown in FIG. 2, and the reflection intensity can be kept even higher. Since other configurations and actions are the same as those of the embodiment shown in FIGS. 2 and 3, the same reference numerals are assigned to the corresponding configurations, and detailed description thereof will be omitted.
  • the conductive thin film layers 16 formed on the base material layer 13 are laminated in two layers, but may be laminated in three or more layers. As the number of laminated conductive thin film layers 16 increases, the reflection intensity increases, but the total thickness of the radio wave reflector 11 increases, so the total light transmittance and flexibility decrease. Therefore, the number of layers of the conductive thin film layer 16 is appropriately set according to the intended use.
  • FIG. 8 Another embodiment of the radio wave reflector 11 is shown in FIG.
  • the radio wave reflector 11 has the conductive thin film layer 16 and the base material layer 13 and does not have the adhesive layer 14 and the protective layer 15 .
  • the conductor 12 of the conductive thin film layer 16 is formed in a square shape as a sheet-like thin film on substantially the entire upper surface of the base material layer 13 .
  • the thickness L3 of the conductor 12 is 10 nm in this embodiment, it is not limited to this.
  • the surface resistivity is 9.8 ⁇ / ⁇ in this embodiment.
  • the conductor coverage is defined as the ratio of the area occupied by the conductor 12 per unit area in the portion where the conductive thin film layer 16 is provided on the base layer 13. The coverage becomes 100%.
  • the radio wave reflector 11 has a total light transmittance of 70%. Since other configurations and actions are the same as those of the embodiment shown in FIGS. 2 and 3, the same reference numerals are assigned to the corresponding configurations, and detailed description thereof will be omitted.
  • the conductive thin film layer 16 is composed of one conductor 12 in this embodiment, it may be composed of a plurality of conductors 12 .
  • the plurality of conductors 12 are arranged at predetermined intervals over substantially the entire upper surface of the base material layer 13 .
  • the shape of the conductor 12 may be circular, rectangular, triangular, polygonal, or the like.
  • the conductive thin film layer 16 may have a metamaterial structure, and may be any one of a metal nanowire laminated film, multi-layered graphene, and partially exfoliated graphite.
  • any of the radio wave reflectors 11 described above may be included in the building material 30 and used.
  • the building material 30 is, for example, as shown in FIG. 9(A), wall surfaces, ceiling surfaces, floor surfaces of rooms and corridors, wallpaper for partitions, decorative materials 30A such as posters, and decorative materials such as transparent stickers for light covers.
  • 30B can be installed in a building.
  • the radio wave reflector 11 may be formed as being held inside the building material 30 .
  • the wall surface 31 itself, which is the building material 30 , or the lamp cover 32 itself may be composed of the radio wave reflector 11 .
  • the building materials 30 are not limited to indoor walls and light covers, but may be partitions, pillars, lintels, outer walls of buildings, windows, and the like.
  • FIG. 9B is a plan view of the interior of the room, and the building material 30, which is the radio wave reflector 11, is formed as a corner pillar 30C having a curved surface at the corner of the room. The radio wave entering from the window 33 is reflected by the corner post 30C and reaches a wider range of the indoor space S.
  • radio wave reflector 11 is not limited to the building material 30, and may be held inside a member made of a non-conductive material such as resin and used at any place.
  • Examples 1 to 8 were produced as the radio wave reflector 11, and evaluation tests were conducted on the landscape security, the radio wave extension to blind spots, and the reflection property for Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 3.
  • Table 1 shows the conditions and evaluation results of Examples 1-8
  • Table 2 shows the conditions and evaluation results of Comparative Examples 1-3.
  • the radio wave reflector 11 of the present invention is not limited to Examples 1-8.
  • the radio wave reflector 11 produced as Example 1 is the radio wave reflector 11 having the same configuration as the embodiment shown in FIGS.
  • the radio wave reflector 11 has a square planar shape, a side length L10 of 20 cm, and a thickness L1 of 0.25 mm.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is the sum of the thickness L3 of the conductive thin film layer 16, the thickness L2 of the base layer 13, the thickness L4 of the adhesive layer 14, and the thickness L5 of the protective layer 15.
  • the radio wave reflector 11 has a maximum value of reflection intensity of radio waves (hereinafter also referred to as “maximum value of radio wave reflection intensity”) when an incident wave with a frequency of 2 GHz or more and 300 GHz or less is reflected, is ⁇ 20 dB, and transmits all light rays. rate is 90.0%.
  • a synthetic resin material sheet made of PET (Lumirror 50T60 manufactured by Toray Industries, Inc.) was used as the base material layer 13, and the thickness L2 of the base material layer 13 was set to 50 ⁇ m.
  • the conductor 12 of the conductive thin film layer 16 is a linear metal thin film made of silver (Ag), the thickness (film thickness) L3 is 500 nm, the line width L6 is 0.5 ⁇ m, and the length between adjacent conductors 12 is L7 was set to 60 ⁇ m.
  • the conductive thin film layer 16 has a surface resistivity of 1.7 ⁇ / ⁇ and a conductor coverage of 3.3%.
  • a rubber-based adhesive was used as the adhesive layer 14 .
  • the adhesive layer 14 was placed in a reaction vessel equipped with a cooling tube, a nitrogen inlet tube, a thermometer, a dropping funnel and a stirring device, and a rubber-based polymer (styrene-(ethylene-propylene)-styrene type block copolymer 50 Mixture of % by mass and 50% by mass of styrene-(ethylene-propylene) type block copolymer, styrene content 15%, weight average molecular weight 130,000) 100 parts by weight, synthetic resin (manufactured by Mitsui Chemicals, FMR-0150) 40 parts by weight, 20 parts by weight of softener (LV-100, manufactured by JX Nippon Oil & Energy Co., Ltd.), 0.5 parts by weight of antioxidant (ADEKA Corporation, Adekastab AO-330) and 150 parts by weight of toluene were charged, and 40 C.
  • the thickness L4 of the adhesive layer 14 was set to 150 ⁇ m.
  • the induced tangent of the adhesive layer 14 is 0.04.
  • a synthetic resin sheet made of PET (Lumirror 50T60 manufactured by Toray Industries, Inc.) was used as the protective layer 15 .
  • the thickness L5 of the protective layer 15 was set to 50 ⁇ m.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11, the thickness L3 of the conductive thin film layer 16, the thickness L2 of the base layer 13, the thickness L4 of the adhesive layer 14, and the thickness L5 of the protective layer 15 are measured at a plurality of arbitrary points. , is obtained by calculating the average value of the obtained measured values.
  • a reflectance spectroscopic film thickness measuring instrument eg, F3-CS-NIR manufactured by Filmetrics Co., Ltd.
  • the conductor 12 is formed on the base layer 13 .
  • a core layer of 0.01 to 3 ⁇ m is formed on one surface of a copper foil having a thickness of 5 to 200 ⁇ m and having sufficient strength as a metal layer by a method such as electrolytic or electroless plating.
  • a conductive thin film layer 16 having a predetermined arrangement pattern is formed on the surface of the core layer by a method such as electrolytic or electroless plating.
  • the entire conductive thin film layer 16 is covered with the base material layer 13 .
  • An adhesive is applied to the base layer 13 in advance.
  • the copper foil and core layer are removed by etching. Thereby, the conductor 12 is formed on the base material layer 13 .
  • the protective layer 15 is attached to the side of the conductor 12 opposite to the base layer 13 by the adhesive layer 14 .
  • the protective layer 15 is adhered onto the conductor 12 of the substrate layer 13 so as to prevent air bubbles from entering.
  • the radio wave reflector 11 is manufactured.
  • Example 2 The radio wave reflector 11 produced as Example 2 differs from Example 1 in the maximum value of the radio wave reflection intensity and the length L10 of one side of the shape of the radio wave reflector 11 .
  • the maximum value of the radio wave reflection intensity is -28 dB
  • the length L10 of one side is 18 cm.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • the radio wave reflector 11 produced as Example 3 is a radio wave reflector 11 having the same configuration as the embodiment shown in FIG. 8, unlike Examples 1 and 2.
  • FIG. The radio wave reflector 11 has a square shape, the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is 0.05 mm, and the length L10 of one side is 20 cm.
  • the radio wave reflector 11 has a maximum radio wave reflection intensity of -28 dB and a total light transmittance of 70.0%.
  • a synthetic resin material sheet made of PET (Lumirror 50T60 manufactured by Toray Industries, Inc.) was used as the base material layer 13, and the thickness L2 of the base material layer 13 was set to 50 ⁇ m.
  • the conductor 12 of the conductive thin film layer 16 is a metal thin film made of copper and has a thickness (film thickness) L3 of 10 nm.
  • the conductive thin film layer 16 has a surface resistivity of 6.8 ⁇ / ⁇ and a conductor coverage of 100%.
  • the formation of the conductor 12 on the base material layer 13 in Example 3 uses, for example, a roll-to-roll sputtering apparatus.
  • a target containing a metal for example, copper
  • a ground shield is provided in such a size that 5% of the cathode is covered with respect to the cathode.
  • a film forming chamber of the sputtering apparatus is evacuated by a vacuum pump, the pressure is reduced to 3.0 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa, for example, and argon gas is supplied at a predetermined flow rate (100 sccm), for example.
  • the substrate layer 13 is conveyed under the cathode at a conveying speed of 0.1 m/min and a tension of 100 N, for example.
  • a pulsed power of 5 kW is supplied from a bipolar power supply connected to the cathode, whereby metal is ejected from the target and deposited on the surface of the substrate layer 13, thereby forming a metal thin film.
  • the evaluation of whether or not the metal thin film is formed with the desired thickness is performed, for example, by the following procedure.
  • a nanoindenter TI950, manufactured by HYSITRON
  • HYSITRON a nanoindenter
  • the thickness of the metal thin film is measured from the gap caused by the indentation.
  • Example 4 The radio wave reflector 11 produced as Example 4 differs from Example 1 in the structure of the protective layer 15 .
  • the protective layer 15 is a synthetic resin material sheet made of PET with anti-glare treatment (AG treatment) applied to the upper and lower surfaces.
  • AG treatment anti-glare treatment
  • model number N7BB manufactured by Kimoto Co., Ltd. is used, and the protective layer 15 subjected to anti-glare treatment (AG treatment) is hard-coated to withstand normal use of the radio wave reflector 11 .
  • the thickness L5 of the protective layer 15 is 188 ⁇ m.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is 0.388 ⁇ m, the maximum value of the radio wave reflection intensity is -20 dB, and the total light transmittance is 83.6%.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • Example 5 The radio wave reflector 11 prepared as Example 5 differs from Example 1 in the structure of the protective layer 15 .
  • the protective layer 15 is a synthetic resin material sheet made of PET, the upper surface of which is subjected to anti-glare treatment.
  • model number PFN18507HA4 manufactured by Daicel Corporation is used.
  • the thickness L5 of the protective layer 15 is 188 ⁇ m.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is 0.388 ⁇ m, the maximum value of the radio wave reflection intensity is -20 dB, and the total light transmittance is 83.7%.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • Example 6 The radio wave reflector 11 prepared as Example 6 differs from Example 1 in the structure of the protective layer 15 .
  • the protective layer 15 is a synthetic resin material sheet made of PET, the upper surface of which is subjected to antireflection treatment (AR treatment).
  • AR treatment antireflection treatment
  • model number PFN10507CAS manufactured by Daicel Corporation is used.
  • the thickness L5 of the protective layer 15 is 100 ⁇ m.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is 0.3 ⁇ m, the maximum value of the radio wave reflection intensity is -20 dB, and the total light transmittance is 84.6%.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • Example 7 The radio wave reflector 11 produced as Example 7 differs from Example 1 in the structure of the protective layer 15 .
  • the protective layer 15 is a synthetic resin material sheet made of PET, the upper surface of which is subjected to antireflection treatment (AR treatment).
  • AR treatment antireflection treatment
  • model number Scotchtint LR2CLARX manufactured by 3M Corporation is used.
  • the thickness L5 of the protective layer 15 is 76 ⁇ m.
  • the thickness L1 of the radio wave reflector 11 is 0.276 ⁇ m, the maximum value of the radio wave reflection intensity is -20 dB, and the total light transmittance is 92.0%.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • Example 8 The radio wave reflector 11 produced as Example 8 differs from Example 1 in the adhesive layer 14 .
  • An acrylic adhesive was used as the adhesive layer 14 .
  • the acrylic adhesive was obtained by the following procedures. Monofunctional long-chain urethane acrylate (PEM-X264 manufactured by AGC, molecular weight 10000) 40 parts by weight, and acrylic monomer 60 parts by weight (2-ethylhexyl acrylate (2EHA) 35 parts by weight, cyclohexyl acrylate (CHA) 10 parts by weight, 2-hydroxy 10 parts by mass of ethyl acrylate (2HEA) and 5 parts by mass of dimethylacrylamide (DMAA)) were mixed and stirred.
  • PEM-X264 manufactured by AGC, molecular weight 10000
  • acrylic monomer 60 parts by weight (2-ethylhexyl acrylate (2EHA) 35 parts by weight, cyclohexyl acrylate (CHA) 10 parts by weight, 2-hydroxy 10 parts by mass of ethyl acryl
  • a crosslinking agent (1.6 hexanediol diacrylate (A-HD -N, manufactured by Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.)) and a photopolymerization initiator (Omnirad 651 (manufactured by IGM Japan LLC)) were added, stirred, and vacuum degassed. An acrylic adhesive was thus obtained.
  • a crosslinking agent 1.6 hexanediol diacrylate (A-HD -N, manufactured by Shin Nakamura Chemical Co., Ltd.)
  • a photopolymerization initiator (Omnirad 651 (manufactured by IGM Japan LLC)
  • the radio wave reflector prepared as Comparative Example 1 differs from Example 1 in the following points.
  • the radio wave reflector has a total light transmittance of 62.0%.
  • the conductor 12 of the conductive thin film layer 16 is made of copper, the line width L6 is 5 ⁇ m, the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 is 1.1 ⁇ / ⁇ , and the conductor coverage is 30.6%.
  • Other configurations are the same as those of the first embodiment.
  • the radio wave reflector prepared as Comparative Example 2 differs from Example 3 in the following points.
  • the maximum value of the radio wave reflection intensity is -20 dB, and the total light transmittance is 60.0%.
  • the conductive thin film layer 16 has a thickness (film thickness) L3 of 15 nm.
  • the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 is 2.8 ⁇ / ⁇ .
  • Other configurations are the same as those of the third embodiment.
  • the radio wave reflector prepared as Comparative Example 3 differs from Example 3 in the following points.
  • the maximum value of the radio wave reflection intensity is -40 dB, and the total light transmittance is 80.0%.
  • the conductive thin film layer 16 has a thickness (film thickness) L3 of 2.5 nm.
  • the surface resistivity of the conductive thin film layer 16 is 9.8 ⁇ / ⁇ .
  • Other configurations are the same as those of the third embodiment.
  • Examples Measurement of the intensity of the reflected wave and the frequency at which the reflection intensity of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 3 (collectively referred to as “samples”), which are the measurement objects, are ⁇ 30 dB or more are described in JISR1679:2007. It was carried out according to the method of measuring the amount of reflection.
  • a vector network analyzer (E5061B LF-RF manufactured by Agilent) was used, and a rectangular horn antenna was used as a receiving antenna. The sample, the receiving antenna, and the transmitting antenna were arranged on the same plane, and the distance between the sample and the receiving antenna and the distance between the sample and the transmitting antenna were 1 m.
  • the incident angle .theta.1 and the reflection angle .theta.2 of the radio wave with respect to the sample were set to 45 degrees.
  • Radio waves whose frequency is changed from 2 GHz to 300 GHz from the transmitting antenna (2 GHz radio wave, 3 GHz radio wave, 5 GHz radio wave, 30 GHz or higher up to 300 GHz in increments of 30 GHz (that is, 30, 60, 90, 120...300 GHz) radio wave) was output, and the reflection intensity for the radio wave of each frequency was measured.
  • the coaxial cables of the receiving antenna and the transmitting antenna were directly connected by a vector network analyzer, and the signal level at each frequency was calibrated as 0. After that, the device was reconfigured and measurements were taken.
  • the reflection intensity at each frequency of the sample was measured as the attenuation of the signal level from the 0 point.
  • the frequency of the radio wave was 10 GHz or less
  • the sample was irradiated with a plane wave using an appropriate millimeter wave lens in consideration of the first Fresnel radius of the rectangular horn antenna.
  • the total light transmittance was measured in accordance with the method specified in JISK 7375:2008 with a D65 standard light source (one of the standard light sources specified by the CIE (International Commission on Illumination)).
  • the surface resistivity was measured by contacting a measuring terminal to the surface of the conductive thin film layer 16 while the conductive thin film layer 16 was formed and exposed during the manufacturing of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 3, and was measured according to JIS K6911. It was measured by the four-terminal method according to
  • Evaluation index Three evaluation indices were set: landscape security, radio wave extension to blind spots, and reflection.
  • the appearance security is an index for evaluating the degree of visibility of the transparency of the radio wave reflector 11 and the arrangement pattern of the conductors 12 of the conductive thin film layer 16 . Transparency is evaluated by placing the radio wave reflector 11 on paper on which characters are written and viewing the radio wave reflector 11 from the upper side of the radio wave reflector 11 to see if the characters are visible. Also, the degree to which the arrangement pattern of the conductors 12 of the conductive thin film layer 16 is visible is evaluated as follows. A light source is placed at a position 0.5 m away from the radio wave reflector 11 to irradiate the radio wave reflector 11 with light.
  • the radio wave expandability to blind spots is an index for evaluating whether or not the reflected waves reflected by the radio wave reflector 11 can be sufficiently received by the receiving unit 21 in a building with blind spots.
  • a test was conducted using a hallway 40 in a building made of reinforced concrete and a stair landing 41 protruding in a direction perpendicular to the direction in which the hallway 40 extends.
  • the stair landing 41 has a rectangular planar shape and is provided continuously to the opening 43 of the side wall 42 of the corridor 40 .
  • the width L20 of the corridor 40 is about 2 m, and the length of the opening 43 along the direction in which the corridor 40 extends, that is, the length L21 of the stair landing 41 along the direction in which the corridor 40 extends is about 3 m.
  • the depth of the landing 41 (the length from the opening 43 to the wall facing the opening 43) L22 is approximately 2 m.
  • the radio wave reflector 11 is installed so that its center of gravity is positioned at the center of the corridor 40 in the width direction and at the center of the opening 43 of the side wall 42 in the extending direction of the corridor 40 in plan view. .
  • the radio wave reflector 11 is erected so that the plane on which radio waves are incident is perpendicular to the floor of the corridor 40 .
  • the transmitting antenna 44 which is the radio wave source, is installed in the center of the width direction of the corridor 40 at a distance L23 from the radio wave reflector 11 in plan view, and the distance L23 is set to 5 m.
  • a receiving antenna 45 that receives radio waves from the transmitting antenna 44 is installed in the center of the stair landing 41 in plan view.
  • a plane including the center of gravity of the transmitting antenna 44, the center of gravity of the receiving antenna 45, and the center of gravity of the radio wave reflector 11 is parallel to the floor of the corridor 40. It is installed using a laser level so that The distance between the floor and said plane is 1.0 m.
  • the direction of the surface of the radio wave reflector 11 on which radio waves are incident is such that the incident angle ⁇ 1 and the reflection angle ⁇ 2 of the radio wave to the radio wave reflector 11 are 45 degrees.
  • a radio wave with a frequency of 28.5 GHz was output from the transmitting antenna 44 and measurements were taken.
  • the vector network analyzer is used to directly connect the coaxial cables of the receiving antenna 45 and the transmitting antenna 44, and the signal level is calibrated to zero.
  • the device was reconfigured and measurements were taken.
  • a radio wave is output from the transmitting antenna 44 , reflected by the radio wave reflector 11 , and received by the receiving antenna 45 .
  • the reflection intensity of the radio wave received by the receiving antenna 45 is measured as the attenuation of the signal level from the 0 point, and when the intensity is -25 dB or more, it is evaluated as " ⁇ ", and when it is -30 dB or more, it is evaluated as " ⁇ ". and the case of less than -30 dB was evaluated as "x".
  • the evaluations of " ⁇ " and " ⁇ " mean that the radio wave reflection intensity is practical for use.
  • the reflection property is an index indicating the degree to which the light source is reflected on the surface of the radio wave reflector 11 . Reflectivity is evaluated as follows. As shown in FIGS. 11A and 11B, a rectangular parallelepiped room 50 having walls 53, a ceiling 52, and a floor 51 was prepared. A distance L30 between the floor surface 51 and the ceiling 52 is 3 m, and two straight tube fluorescent lamps 54, 54 having a length of 1119 mm are attached in parallel to the central portion of the ceiling 52. FIG. A distance L31 between the central position between the two fluorescent lamps 54, 54 and the wall 53 parallel to the fluorescent lamps 54, 54 is 2.5 m. The lateral length L34 of the wall 53 is 4 m.
  • the radio wave reflectors 11 of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 3 were attached to the central position of the wall 53 in the lateral direction with double-sided tape.
  • the evaluator 55 is standing on the floor 51, at the center in the horizontal direction and at a distance L33 from the wall 53, where the distance L33 is 2 m.
  • the distance L32 between the vertical central position of the radio wave reflector 11 and the floor surface 51 is 1.5 m, and the vertical central position of the radio wave reflector 11 is approximately the same as the eye height of the evaluator 55 .
  • the lateral center position of the evaluator 55, the radio wave reflector 11, and the longitudinal center position of the fluorescent lamp are arranged in a line in a direction perpendicular to the lateral direction when viewed from the top as shown in FIG. 11(B).
  • an evaluator 55 evaluated the degree of reflection of the fluorescent lights 54 and 54 on the surface of the radio wave reflector 11 .
  • the fluorescent lamps 54, 54 are reflected on the radio wave reflector 11, and the shapes of the fluorescent lamps 54, 54 including the contours of the fluorescent lamps 54, 54 are visually recognized, and the light emitted by the fluorescent lamps 54, 54 is visually recognized. was evaluated as "x".
  • Tables 1 and 2 show the evaluation results.
  • Example 1 the total light transmittance is as high as 90%, the characters are visible, the arrangement pattern of the conductors 12 is not visible, the landscape security is evaluated as " ⁇ ", and radio waves are transmitted to blind spots.
  • the reflection intensity of the radio wave received by the receiving unit 21 was ⁇ 25 dB or more, and the evaluation was “ ⁇ ”.
  • Example 8 differs from Example 1 in the type of adhesive, the same results as Example 1 were obtained.
  • Comparative Example 1 which has the same structure as Examples 1 and 2, uses copper as the conductor material, has a higher conductor coverage than Example 1, and has a total light transmittance of 62%, which is higher than that of Example 1. was also lower. For this reason, although the radio wave extendability to the blind spot was evaluated as " ⁇ ", the landscape security was evaluated as "x”, and Example 1 was better than Comparative Example 1 in landscape security.
  • Example 2 the length L10 of one side of the radio wave reflector 11 is set shorter than in Example 1, but the total light transmittance is as high as 90%, characters are visible, and the conductor 12
  • the layout pattern was not visible, and the landscape security was evaluated as " ⁇ ".
  • Example 2 was evaluated as " ⁇ " because the radio wave reflection intensity was -30 dB or more.
  • Comparative Example 1 the landscape security was evaluated as "x" as described above, and Example 2 was better than Comparative Example 1 in landscape security.
  • Example 3 the thickness of the conductive thin film layer 16 is small and the total light transmittance is as high as 70%. It was ⁇ 30 dB or more and was evaluated as “ ⁇ ”.
  • Comparative Example 2 which has the same structure as in Example 3, the thickness of the conductive thin film layer 16 is greater than that in Example 3, the total light transmittance is 60%, and the radio wave extension to blind spots is rated as " ⁇ ". Although it was an evaluation, the landscape security was evaluated as "x”.
  • Comparative Example 3 which has a structure similar to that of Example 3, the thickness of the conductive thin film layer 16 is smaller than that of Example 3, and although the scenery security is evaluated as " ⁇ ", the radio wave reflection intensity is small and does not affect blind spots. The radio wave expandability was evaluated as "x”.
  • Example 4 the upper and lower surfaces of the protective layer 15 are subjected to AG treatment, and in Example 5, the upper surface of the protective layer 15 is subjected to AG treatment.
  • the reflection property was evaluated as "good”.
  • the thickness L10 of the radio wave reflector 11 is larger than those in Examples 1 to 3, and the landscape security property is evaluated as " ⁇ ", and the radio wave expandability to the blind spot is evaluated as " ⁇ ". Met.
  • the upper surface of the protective layer 15 is subjected to AR treatment, and the thickness L5 of the protective layer 15 in Example 6 is set larger than that in Example 7.
  • the reflection property was evaluated as " ⁇ ".
  • the thickness L10 of the radio wave reflector 11 is larger than those in Examples 1 to 3, and the scenery security property is evaluated as " ⁇ ", and the radio wave expandability to the blind spot is evaluated as " ⁇ ". Met.
  • the protective layer 15 was not subjected to AG treatment or AR treatment, and the reflection property was evaluated as "x".
  • expressions that express shapes such as squares and cylinders do not only represent shapes such as squares and cylinders in a geometrically strict sense, but also include irregularities and chamfers to the extent that the same effect can be obtained. Shapes including parts etc. shall also be represented. References to "comprise,” “comprise,” “comprise,” “include,” or “have” an element are not exclusive expressions that exclude the presence of other elements.
  • substantially parallel means substantially “parallel”, and includes not only a strictly “parallel” state but also an error of several degrees. The same applies to expressions with other "abbreviations”.
  • edge refers to the distal portion of an object
  • edge refers to an area of definite extent that includes the “edge”. Any point within a certain range including the edge is regarded as an “edge”. The same applies to other expressions with "... part”.
  • Radio Wave Reflector 12 Conductor 13 Base Layer 14 Adhesive Layer 15 Protective Layer 16 Conductive Thin Film Layer L6 Conductor Line Width L10 Length of One Side of Radio Wave Reflector

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Abstract

強度を保ちながら電波を反射させ、かつ景観を保つことのできる電波反射体を提供する。 本発明の電波反射体は、電波を反射させるためのものであり、入射波が正反射したときの反射波の強度が、前記入射波の強度に対して－３０ｄＢ以上になる周波数が存在し、Ｄ６５標準光源における全光線透過率が６５％以上である。

Description

電波反射体
　本発明は、電波を反射させるための電波反射体に関する。
　携帯電話や無線通信においては、２ＧＨｚ以上３００ＧＨｚ以下程度の周波数帯の電波が用いられる。このような波長が短い電波は直進性が強く、障害物があっても回り込みにくいため、電波を広い範囲に届かせるために、建造物の壁や床面、天井、柱等の建造物の表面（以下、「壁等」という。）に反射板が設けられる。例えば特許文献１には、モノポールアンテナと、電波を反射する金属反射板とを屋内の床下空間に配置した通信システムが提案されている。特許文献１においては、反射板によりモノポールアンテナから放射される電波を床下空間に拡散させるとともに、床下空間から居室（建物）外に漏洩したり、建造物の床部に電波が吸収されることを防いでいる。
特開２０１０－２５８５１４号公報
　電波を反射させる金属反射板は、一般的に、アルミニウムや銅等の金属板から構成される。金属反射板は、波長の短い電波の場合、正反射方向には強い強度で反射させるが、電波を拡散させて反射させにくく、空間の広い範囲に電波が届きにくいことが知られている。また、金属反射板は一般的に不透明である。すなわち、金属反射板の一方側からみて他方側が視認できないため、このような金属反射板を居室に用いた場合には金属反射板の存在が目立ったり、窓に用いられた場合には視線が遮られ、室内の雰囲気を阻害し景観が悪くなる。
　本発明は、上記した課題に着目してなされたものであり、強度を保ちながら電波を反射させ、かつ景観を保つことのできる電波反射体を提供することを目的とする。
　上記目的を達成するため、本発明は、次の項に記載の主題を包含する。
　項１．波を反射させるための電波反射体であって、
　入射波が正反射したときの反射波の強度が、前記入射波の強度に対して－３０ｄＢ以上になる周波数が存在し、
　Ｄ６５標準光源における全光線透過率が６５％以上である、電波反射体。
　項２．入射波の周波数が２ＧＨｚ以上３００ＧＨｚ以下の任意の周波数である、項１に記載の電波反射体。
　項３．電波を反射させる導電体を含む導電薄膜層と、基材を含む基材層と、前記導電薄膜層を保護するための保護材を含む保護層と、前記導電薄膜層と前記保護層とを接着するための接着剤を含む接着層とを有し、
　前記基材層、前記導電薄膜層、前記接着層、前記保護層の順に積層されている、項１に記載の電波反射体。
　項４．前記導電薄膜層は、表面抵抗率が３．５Ω／□以下であり、厚みが５００ｎｍ以下である、項３に記載の電波反射体。
　項５．前記導電薄膜層は、１または複数の線状の前記導電体により囲まれた導電体の無い領域が、所定の間隔を空けて周期的に配置されている、項３または４に記載の電波反射体。
　項６．前記導電薄膜層において、単位面積当たりの導電体が占める面積の割合として規定される導電体被覆率が１％以上、１０％以下である、項５記載の電波反射体。
　項７．前記導電体の線幅は、０．１μｍ以上、４．０μｍ以下である、項５又は６に記載の電波反射体。
　項８．全体の形状が、１辺の長さが１５ｃｍ以上の多角形状である、項１～７のいずれか１項に記載の電波反射体。
　項９．前記保護層は、アンチグレア処理またはアンチリフレクション処理が施されている、項３～７のいずれか１項に記載の電波反射体。
　本発明によれば、強度を保ちながら電波を反射させ、かつ景観を保つことのできる電波反射体を提供できる。
本発明の一実施形態に係る電波反射体により反射する反射波の角度範囲を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る電波反射体の概略構成を示す断面図であり、図３（Ｂ）のＢ－Ｂ線に沿う断面図である。 図２に示す電波反射体の全体の概略構成を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＡ部分の拡大図である。 （Ａ）～（Ｅ）は導電体の配置パターンの他の例を示す断面図である。 導電体の配置パターンの他の例を示す電波反射体の平面図である。 （Ａ）は、導電体の他の例を示す断面図であり、（Ｂ）は、（Ａ）のＤ部分の拡大図である。 他の実施形態に係る電波反射体の概略構成を示す断面図である。 他の実施形態に係る電波反射体の概略構成を示す断面図である。 （Ａ）は建築材料の建築物への適用例を示す説明図、（Ｂ）は室内への適用例を示す平面図である。 死角への電波拡張性の測定方法の説明図である。 映り込み性の評価方法の説明図であり、（Ａ）は部屋を側面からみた図であり、（Ｂ）は部屋を平面からみた図である。
（全体構成）
　本発明の実施形態を図面を参照して説明する。本発明の電波反射体１１は、図１に示すように、電波発生源２０から出力された電波を反射するものであり、反射された反射波は受信部２１により受信される。電波発生源２０は電波を送信可能な送信アンテナを持つ通信装置等である。受信部２１は、電波を受信可能な受信アンテナを持つ通信機器である。受信部２１としては、例えば、スマートフォン、携帯電話、タブレット端末、ノートＰＣ、携帯ゲーム機、中継器、ラジオ、テレビ等が挙げられる。
　電波反射体１１は、電波を反射させる導電体１２を含む。電波反射体１１を壁等に貼り付けて平らとした状態で、入射波の周波数が２ＧＨｚ以上６ＧＨｚ未満、６ＧＨｚ以上２０ＧＨｚ未満、２０ＧＨｚ以上６０ＧＨｚ未満、６０ＧＨｚ以上１００ＧＨｚ未満、１００ＧＨｚ以上１５０ＧＨｚ未満、または１５０ＧＨｚ以上３００ＧＨｚ以下の任意の周波数の電波を電波反射体１１に反射させる。入射波の入射角は、１５度以上７５度以下の少なくともある所定の角度であり、好ましくは、４５度、より好ましくは１５度以上７５度以下の角度の範囲全てとする。このとき、電波反射体１１に入射波が正反射したときの反射波の強度（以下、「正反射強度」ともいう。）が入射波に対して－３０ｄＢ以上となる周波数が少なくとも一つ存在する。好ましくは、周波数２８．５ＧＨｚにおいて、正反射強度が入射波に対して－３０ｄＢ以上０ｄＢ以下となり、より好ましくは２０ＧＨｚ以上６０ＧＨｚ以下の周波数帯域全てにおいて、正反射強度が入射波に対して－３０ｄＢ以上０ｄＢ以下となる。更に好ましくは２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の周波数帯域全てにおいて正反射強度が入射波に対して－３０ｄＢ以上、０ｄＢ以下となる。「正反射強度」とは、電波が反射する強度である反射強度であって、入射波が正反射したときの反射波の強度をいう。「平ら」とは、凹凸がなく湾曲していない状態か、凹凸があった場合であっても、表面上の任意の点の曲率半径が１０００ｍｍ以上の状態をいう。
　正反射強度は、入射波に対して、－２５ｄＢ以上、０ｄＢ以下が好ましく、－２２ｄＢ以上、０ｄＢ以下がより好ましく、－２０ｄＢ以上、０ｄＢ以下がさらに好ましく、－１５ｄＢ以上、０ｄＢ以下がさらに好ましい。正反射強度が、入射波に対して－３０ｄＢ以上であることで、電波反射体１１は反射強度を大きく保った状態で電波を反射させることができ、受信部２１が使用に実用的な強度で電波を受信することができる。なお、本実施形態において、正反射強度および反射強度は、電波反射体１１の反射点１１ａと電波発生源２０との間の距離および電波反射体１１の反射点１１ａと受信部２１との間の距離を１ｍとした場合の値である。
　図１を参照して説明すると、正反射とは、電波発生源２０（送信アンテナ）から発射された電波が電波反射体１１により反射されるときに、入射波の入射角θ１と反射波の反射角θ２が等しいことをいう。電波が正反射したときの反射波の進む方向を「正反射方向」ともいう。入射角θ１とは、電波が電波反射体１１に入射するときの入射方向（図１中の矢印Ａ１に示す。）に進む入射波と、電波反射体１１の反射面の法線２２とがなす角度であり、反射角θ２とは、反射方向（図１中の矢印Ａ２に示す。）に進む反射波と、反射面の法線２２とがなす角度である。法線２２とは、反射点１１ａにおいて接線（または接平面）と直交する直線をいう。反射波の強度を以下、「反射強度」とも言う。
　また、電波反射体１１は、入射波の入射方向と反射波の反射方向とを含む仮想の平面において、反射波の受信角度位置を、電波の正反射方向に対して－１５度以上、＋１５度以下の角度範囲αで変化させた時の、各受信角度位置における反射波の強度の分布の尖度は－０．４以下が好ましい。尖度は、より好ましくは－１．０以下である。更に好ましくは－１．１以下、更により好ましくは－１．２以下である。上記尖度の下限は特に限定されないが通常－０．５程度である。また、仮想の平面は、電波反射体１１の反射面上の反射点１１ａと、電波発生源２０と、反射波の受信部２１とを含む平面とも言える。尖度は電波反射体１１を壁等に取り付けた平らとした状態で求められる。
　尖度は、分布が正規分布からどれだけ逸脱しているかを表す統計量で、山の尖り度と裾の広がり度を示す。図１に示すように、電波発生源２０から出力された電波が、電波反射体１１に対して所定の入射角θ１で入射したとする。受信部２１の受信角度位置ｉを、反射点１１ａを中心として電波の正反射方向から所定の角度ずつ（例えば５度ずつ）、電波の正反射方向に対して－１５度以上、＋１５度以下の角度範囲α内で移動させて、反射強度ｘを測定する。受信部２１の受信角度位置ｉは、反射点１１ａを中心とした円弧上に位置している。各受信角度位置ｉでの反射強度の値
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000001
の平均値を
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000002
、標準偏差をsとすると尖度は次の式から求められる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000003
（式１）
　尖度は、負の値の場合に各角度位置における強度データが正規分布より扁平な分布、すなわち、データが平均値付近から散らばり分布の裾が広がっている状態を示しており、尖度の値が小さいほど分布が扁平である。本実施形態では尖度を－０．４以下に設定することで、電波の正反射方向に対して±１５度の角度範囲α内においては、受信角度位置による反射強度の差が小さくなる。
　電波反射体１１は、Ｄ６５標準光源における全光線透過率が６５％以上であり、８０％以上であることが好ましく、より好ましくは８５％以上であり、更に好ましくは９０％以上である。全光線透過率は、試験片の平行入射光束に対する全透過光束の割合をいい、ＪＩＳＫ７３７５：２００８に規定されている。すなわち、電波反射体１１はいわゆる「透明」であり、「透明」とは、電波反射体１１の一方側からみて他方側が視認可能であることを言い、半透明を含む。また、電波反射体１１は全体として着色されていてもよい。また、詳細は後述するが、電波反射体１１が導電体１２を含む導電薄膜層１６、基材層１３、接着層１４及び保護層１５を備える場合、それぞれの層が全光線透過率が６５％以上を有する樹脂により形成されていてもよく、導電薄膜層１６の導電体１２は全光線透過率が６５％以上を有する厚みに形成されていてもよい。
　電波反射体１１は、本実施形態では全体の形状が平面視において正方形であり、１辺の長さが１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下であることが好ましい。周波数が２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の電波は距離により減衰するが、電波発生源２０から実用に耐える距離内全ての地点において、十分な強度で反射するために、一辺の長さＬ１０を１５ｃｍ以上とすることが好ましい。一辺の長さＬ１０の上限は特に限定されないが、製造上の観点から４００ｃｍ以下が好ましい。全体形状は正方形には限定されず、長方形でもよく、三角形、五角形、六角形等の多角形でもよく、この場合、最も短い辺の長さが１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下に設定される。または、ある頂点と対辺との間の最も短い距離、またはある辺と対辺との間の最も短い距離が１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下に設定されてもよい。また、電波反射体１１の全体形状が円形の場合には、直径が１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下に設定される。電波反射体１１の全体形状が楕円形の場合には、短径が１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下に設定される。電波反射体１１の全体形状が扇形の場合には、弧または半径の短い方の長さが１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下に設定される。さらに、全体形状は筒状、錐状等の３次元形状であってもよい。電波反射体１１は、全体の形状が入射波に対して－３０ｄＢ以上の反射強度で電波を反射することができる形状、大きさであり、形状、大きさは電波反射体１１の使用の態様に応じて適宜選択される。
　本実施形態では電波反射体１１は厚みＬ１が約０．２５ｍｍに設定されているが、これに限定されず、厚みＬ１は１ｍｍ以下となることが好ましい。電波反射体１１が導電薄膜層１６、基材層１３、接着層１４及び保護層１５を備える場合、基材層１３、導電薄膜層１６、接着層１４及び保護層１５のそれぞれの厚みは、電波反射体１１の厚みＬ１が１ｍｍ以下となるように設定されている。電波反射体１１の厚みＬ１が小さいことから、電波反射体１１は可撓性を有する。可撓性とは、常温常圧下において柔軟性を有し、力を加えても、せん断したり破断したりすることなしに、撓みなどの変形が可能な性質をいう。電波反射体１１は、曲率半径Ｒが３００ｍｍ程度の湾曲面に沿って貼付けることのできる程度の可撓性を有するが、曲率半径Ｒの値は限定されない。なお、電波反射体１１の厚みＬ１は、導電薄膜層１６の厚みＬ３および基材層１３の厚みＬ２の合計、または導電薄膜層１６の厚みＬ３、基材層１３の厚みＬ２、接着層１４の厚みＬ４、及び保護層１５の厚みＬ５の合計となる。しかし、導電薄膜層１６の厚みＬ３は基材層１３、接着層１４、及び保護層１５の各厚みＬ２、Ｌ４、Ｌ５に比べて非常に薄いため、電波反射体１１の厚みＬ１を算出する際に導電薄膜層１６の厚みＬ３を無視してもよい。また、電波反射体１１の厚みＬ１、導電薄膜層１６の厚みＬ３、基材層１３の厚みＬ２、接着層１４の厚みＬ４、及び保護層１５の厚みＬ５は、任意の複数箇所を測定して、得られた測定値の平均値を算出することで求められる。厚みＬ１、厚みＬ３、厚みＬ２、厚みＬ４、及び厚みＬ５の測定には、例えば、計測器として反射率分光式膜厚測定（例えば、フィルメトリクス株式会社製、F3－CS-NIR）が用いられる。
　電波反射体１１を壁等に貼り付けて平らとした状態の電波反射体１１の表面抵抗率は、０．００３Ω/□以上１０Ω/□以下が好ましい。詳細は後述するが、表面抵抗率は導電体１２を含む導電薄膜層１６の表面抵抗率として測定される。電波反射体１１を平らとした状態の電波反射体１１の表面抵抗率は、平らな載置面に電波反射体１１を載置したときの電波反射体１１の表面抵抗率をいう。「平ら」とは、凹凸がなく湾曲していない状態か、凹凸があった場合であっても、表面上の任意の点の曲率半径が１０００ｍｍ以上の状態をいう。
　表面抵抗率は、１ｃｍ２（１平方センチメートル）あたりの表面抵抗を意味する。表面抵抗率は後述する導電薄膜層１６の表面に測定端子を接触させて、ＪＩＳＫ６９１１に準拠して四端子法で測定することができる。なお、樹脂シート等で保護が施され導電薄膜層１６が露出していない場合には、非接触式抵抗測定器（ナプソン株式会社製、商品名：ＥＣ－８０Ｐ、又はその同等品）を用いて渦電流法によって測定することができる。
　電波反射体１１は、電波反射体１１を曲率半径２００ｍｍの曲面を有する部材の表面に沿って湾曲させた状態の前後における表面抵抗率の変化率（「湾曲時の表面抵抗率の変化率」ともいう。）Ｒが－１０％以上１０％以下であってもよい。湾曲時の表面抵抗率の変化率Ｒとは、電波反射体１１を平らとした状態の電波反射体１１の表面抵抗率Ｒ１に対して、電波反射体１１を曲率半径２００ｍｍの曲面を有する部材の表面に沿って湾曲させた状態の表面抵抗率Ｒ２が変化する割合をいう。Ｒ（％）＝（Ｒ２－Ｒ１）／Ｒ１×１００で求められる。
　電波の反射強度は表面抵抗率に応じて変化する。しかし、電波反射体１１の湾曲時の表面抵抗率の変化率Ｒは－１０％以上１０％以下であるため、電波反射体１１を湾曲させた状態であっても平らにした状態と同様に十分な電波の反射強度を実現できる。
　電波反射体１１は、曲げ弾性率が０．０５ＧＰａ以上４ＧＰａ以下であることが好ましい。曲げ弾性率とは、どれくらいの曲げ応力に耐えられるかを示す値であり、ＪＩＳ　Ｋ７１７１に定義されている。曲げ弾性率を上記の範囲内とすることで、電波反射体１１は可撓性を有し、電波反射体１１を破断させずに電波反射体１１を湾曲させて、曲率半径が２００ｍｍ以上の曲面に貼り付けることができる。曲げ弾性率はＪＩＳ　Ｋ７１７１に準拠して測定される。可撓性とは、常温常圧下において柔軟性を有し、力を加えても、せん断したり破断したりすることなしに、撓みなどの変形が可能な性質をいう。
　電波反射体１１は、ヤング率が０．０１ＧＰａ以上８０ＧＰａ以下であることが好ましい。ヤング率とは、固体を一つの方向に張力を加えて引き伸ばしたときの弾性率をいい、引張弾性率ともいわれ、ＪＩＳ　Ｋ７１６１－２０１４に定義されている。ヤング率を上記の範囲内とすることで、電波反射体１１が変形しやすくなり、電波反射体１１を破断させずに電波反射体１１を湾曲させて、曲率半径が２００ｍｍ以上の曲面に貼り付けることができる。ヤング率はＪＩＳ　Ｋ７１２７－１９９９に準拠して測定される。
　電波反射体１１は、少なくとも、曲率半径が２００ｍｍ以上の曲面に沿って貼付けることのできる程度の可撓性を有し、好ましくは曲率半径が１００ｍｍ以上の曲面に沿って貼り付けることのできる程度の可撓性を有する。
　電波反射体１１は、可塑性を有していてもよい。可塑性とは、外圧を加えることにより変形が可能であり、加圧によって弾性限界を超える変形を与えたとき、力を取り去っても変形した形状を保持する性質をいう。基材層１３、接着層１４、及び保護層１５を構成する合成樹脂の全てが可塑性を有するものであってもよいし、基材層１３、接着層１４、及び保護層１５のうちの少なくとも１つが可塑性を有してもよい。
　電波反射体１１は、耐熱耐湿試験の後のイエローインデックスと耐熱耐湿試験の前のイエローインデックスとの差、すなわち黄変度が３以下である。イエローインデックスとは黄色度とも呼ばれ、無色または白色から色相が黄色方向に離れる度合いをいう。イエローインデックスはＪＩＳＫ７３７３に準拠した方法で求められる。
　耐熱耐湿試験は、温度６０℃、湿度９５％ＲＨ（相対湿度が９５％）に調整した恒温恒湿槽内に電波反射体１１を５００時間放置した後、電波反射体１１を恒温恒湿槽から取り出し、常温で４時間静置した後、電波反射体１１の性質や状態を確認する試験である。
　耐熱耐湿試験の前後の電波反射体１１に、入射波の入射角が１５度以上７５度以下の所定の角度で、好ましくは、４５度、より好ましくは１５度以上７５度以下の角度の範囲全てにおいて、２ＧＨｚ以上３００ＧＨｚ以下の周波数の入射波を正反射させる。このとき、耐熱耐湿試験の後の電波反射体１１の反射波の強度と耐熱耐湿試験の前の電波反射体１１の反射波の強度との差が３ｄＢ以内となる入射波の周波数が少なくとも１つ存在する。好ましくは２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の周波数帯域全てにおいて、耐熱耐湿試験の前後における電波反射体１１の反射波の強度の差が３ｄＢ以内となる。
　電波反射体１１は、耐熱耐湿試験の前後における表面抵抗率の変化率ｒ（「耐熱耐湿試験時の表面抵抗率の変化率」ともいう。）が２０％以下である。耐熱耐湿試験時の表面抵抗率の変化率ｒとは、上述の耐熱耐湿試験前の表面抵抗率ｒ１に対して、耐熱耐湿試験後の表面抵抗率ｒ２が変化する割合をいう。耐熱耐湿試験時の表面抵抗率の変化率ｒは以下の式で求められる。ｒ＝（ｒ１－ｒ２）／ｒ１×１００
　電波の反射強度は表面抵抗率に応じて変化する。しかし、電波反射体１１の耐熱耐湿試験時の表面抵抗率の変化率ｒは２０％以下であるため、耐熱耐湿試験後であっても電波反射体１１は反射強度が大きく低下せず、十分な電波の反射強度を実現できる。
　電波反射体１１に対して鉛筆硬度試験を行った場合、保護層１５に対する表面荷重５００ｇでの鉛筆硬度は、「Ｆ」以上であることが好ましく、より好ましくは、「Ｈ」以上であり、更に好ましくは「４Ｈ」以上である。本明細書でいう「鉛筆硬度試験」は、ＪＩＳ　Ｋ　５６００－５－４（１９９９）に準拠した試験である。また、「表面荷重５００ｇ」は、鉛筆硬度試験に際して表面に加わる荷重が、５００ｇ±１０ｇであれば、これに含まれることとする。保護層１５に対して鉛筆硬度試験を行った場合に、保護層１５に対する表面荷重５００ｇでの鉛筆硬度がＦ以上であってもよい。
　また、電波反射体１１は、耐熱耐湿試験を行った後、保護層１５における被着層に対する接着力の低減率が５０％以下であることが好ましく、より好ましくは、４５％以下であり、更に好ましくは４０％以下である。本明細書でいう「被着層」とは、対象の層に直接接触した層を意味する。保護層１５の被着層は、本実施形態では、接着層１４である。接着力の測定方法は、ＪＩＳ　Ｋ　６８４９（１９９４）に準拠した引張り接着強さ試験によって測定される。
（電波反射体１１の構造）
　電波反射体１１の構造の一例を、図２、図３を用いて説明する。電波反射体１１は、導電体１２を含む導電薄膜層１６と、導電薄膜層１６に積層され、基材を含む基材層１３と、導電薄膜層１６を保護するための保護材を含む保護層１５と、導電薄膜層１６と保護層１５とを接着するための接着剤を含む接着層１４とを有するものであってもよい。また、電波反射体１１は、導電体１２を含む導電薄膜層１６と、導電体１２をシート形状に保つ樹脂とを備えてもよい。基材を含む基材層１３と、導電薄膜層１６を保護するための保護材を含む保護層１５と、導電薄膜層１６と保護層１５とを接着するための接着剤を含む接着層１４のうち、少なくとも一つを樹脂で構成してもよい。電波反射体１１は、図２において、下から基材層１３、導電薄膜層１６、接着層１４、保護層１５の順に積層されている。
　なお、以下の説明では、図２に基づき上下方向を規定し、図３、図４に基づき縦横方向、左右方向を規定しているが、上下方向、縦横方向、左右方向は説明のために用いており、電波反射体１１の建築物等への取付け等の使用時における上下方向、縦横方向を規定するものではない。また、図１～図１１は実際の縮尺を示すものではない。また図３においては、電波反射体１１の一部で接着層１４、保護層１５の図示を省略している。
（基材層１３）
　基材層１３は上面に導電体１２を含む導電薄膜層１６が積層されるものであり、基材から構成される。本実施形態では、外形が平面視において正方形状に形成されているがこれに限定されず、電波反射体１１の全体形状に合わせて長方形、円形、楕円形、扇形、多角形、三次元形状等であってもよい。基材層１３である基材として、合成樹脂製のシートが用いられる。合成樹脂としては、例えば、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレート、ポリエステル、ポリフォルムアルデヒド、ポリアミド、ポリフェニレンエーテル、塩化ビニリデン、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアセタール、ＡＳ樹脂、ＡＢＳ樹脂、アクリル樹脂、フッ素樹脂、ナイロン樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂からなる群から選択される１種以上が挙げられる。また、基材層１３の厚みＬ２（図２における上下方向の長さ）は、本実施形態では５０μｍに設定されているが、これに限定されるものではない。なお、基材層１３は基材に加え、任意の合成樹脂等の物質や任意の部材を含んでいてもよい。
（導電薄膜層１６）
　導電薄膜層１６は、１または複数の線状の導電体１２が基材層１３の上面に薄膜として形成されていることが好ましい。導電体１２は、例えば銀（Ａｇ）から構成されることが好ましい。なお、導電体１２は自由電子を持つ金属から構成されていればよく、銀に限らず、例えば、金（Ａｕ）、銅（Ｃｕ）、白金（Ｐｔ）、亜鉛（Ｚｎ）、鉄（Ｆｅ）、スズ（Ｓｎ）、鉛（Ｐｂ）、アルミニウム（Ａｌ）、コバルト（Ｃｏ）、インジウム（Ｉｎ）、ニッケル（Ｎｉ）、クロム（Ｃｒ）、チタン（Ｔｉ）、アルチモン（Ｓｂ）、ビスマス（Ｂｉ）、タリウム（Ｔｌ）、ゲルマニウム（Ｇｅ），カドミウム（Ｃｄ）、シリコン（Ｓｉ）、タングステン（Ｗ）、モリブデン（Ｍｏ）、酸化インジウム錫（ＩＴＯ）、および合金（例えばニッケル、クロムおよびモリブデンを含有する合金）等であってもよいニッケル、クロム及びモリブデンを含有する合金としては、例えば、ハステロイＢ－２、Ｂ－３、Ｃ－４、Ｃ－２０００、Ｃ－２２、Ｃ－２７６、Ｇ－３０、Ｎ、Ｗ、Ｘ等の各種グレードが挙げられる。
　また、導電薄膜層１６（導電体１２）の厚み（膜厚）Ｌ３は、本実施形態では５００ｎｍ（０．５μｍ）以下としているが、これに限定されるものではない。厚みＬ３は、適切な電波強度を確保する観点から、５ｎｍ以上であることが好ましい。なお、導電薄膜層１６は導電体１２に加え、任意の合成樹脂等の物質や任意の部材を含んでいてもよい。
　導電薄膜層１６の表面粗さＳａは特に限定されないが、１μｍ以上、７μｍ以下であることが好ましく、１．０３μｍ以上、６．７２μｍ以下であることがより好ましい。表面粗さＳａがこの範囲内であることで、電波を拡散反射させやすくなる。
　表面粗さＳａはＩＳＯ　２５１７８の算術平均高さにより求められ、ＩＳＯ　２５１７８に準拠して測定される。レーザー顕微鏡（製品名VK-X1000/1050、キーエンス社製、又はその同等品）を用いて、導電薄膜層１６の表面の複数箇所で表面粗さを測定して、得られた測定値の平均値を算出することで導電薄膜層１６の表面粗さＳａを求めることができる。なお、導電体１２および基材層１３を測定対象とする場合もある。本実施形態では複数の導電体１２を有しており、各導電体１２それぞれにおいて、複数箇所で表面粗さを測定し、それらの測定値の平均値を導電体１２の表面粗さＳａとする。
　導電薄膜層１６は、表面抵抗率が３．５Ω／□以下であることが好ましい。導電薄膜層１６の表面抵抗率は、すなわち電波反射体１１の表面抵抗率となる。
　一例においては、導電薄膜層１６は、１または複数の線状の導電体１２が、導電体１２の無い領域１２ａを囲んで配置されている。すなわち、導電体１２および導電体１２の無い領域１２ａが所定の間隔を空けて周期的に配置されたものである。導電体１２および導電体１２の無い領域１２ａが集まって薄膜を形成している。隣り合う導電体１２の無い領域１２ａの間の間隔は、導電体１２の線幅Ｌ６と等しい長さでもよく、線幅Ｌ６よりも大きい長さでもよい。なお、線状とは、長手方向の長さが長手方向と直交する方向の長さの３０００倍以上であることをいう。本実施形態の導電体１２の配置パターンは、例えば図３（Ｂ）に示すように、導電体１２が縦方向および横方向に沿って等間隔に配置されており、導電体１２により囲まれた導電体１２の無い領域１２ａが正方形である。すなわち、導電体１２の無い領域１２ａは導電体１２の線幅Ｌ６の間隔を空けて配置される。横方向に沿う導電体１２（１２Ａ）と縦方向に沿う導電体１２（１２Ｂ）とが重なり合う交点において導電体１２Ａ、１２Ｂは電気的に導通している。導電体１２の線幅Ｌ６は、０．１μｍ以上、４．０μｍ以下に設定されている。縦方向または横方向に沿って隣り合う導電体１２の間の長さＬ７（正方形である導電体１２の無い領域１２ａの一辺の長さ）は、可視光線の波長より大きく、電波反射体１１に反射する電波の波長より小さくなるように設定され、本実施形態では、２μｍ以上、１０ｃｍ以下に設定される。より好ましくは２０μｍ以上、１ｃｍ以下、更に好ましくは２５μｍ以上、１ｍｍ以下が好ましい。一層好ましくは３０μｍ以上、２５０μｍ以下である。
　導電体１２の配置パターンは図３（Ｂ）に示す配置に限定されず、例えば、隣り合う横方向に延びる導電体１２Ａ同士の間の間隔と、隣り合う縦方向に延びる導電体１２Ｂ同士の間の間隔とが異なっており、導電体１２の無い領域１２ａの形状が長方形であってもよい。また、導電体１２は図４（Ａ）～（Ｅ）に示す形状の配置パターンで配置されていてもよい。図４（Ａ）においては、複数の導電体１２Ａが横方向に沿って所定の間隔を空けて配置され、この横方向に延びる導電体１２Ａの間に、縦方向に延びる複数の導電体１２Ｂが千鳥状に配置される。千鳥状とは、縦方向に延びる複数の導電体１２Ｂが横方向に所定の間隔を空けて配列され、かつ、一つの列を形成する複数の導電体１２Ｂが、この列の縦方向に隣の列を形成する複数の導電体１２Ｂの間に位置し、一つ飛びの列の導電体１２Ｂは一直線上に並ぶように配列された状態をいう。図４（Ｂ）においては、導電体１２Ａが横方向に沿って配置されるとともに、導電体１２Ｂ、１２Ｃが横方向に対して上下に傾いた斜め方向に沿って延び、かつ導電体１２Ｂ及び１２Ｃが、互いに導電体１２Ａ上で交差する。これにより、導電体１２の無い領域１２ａの形状が正三角形である。なお、導電体１２の無い領域１２ａの形状の形状が正三角形ではなく、二等辺三角形や３辺の長さが異なる三角形であってもよい。図４（Ｃ）においては、線状の導電体１２により形成された正六角形の導電体１２の無い領域１２ａが周期的に配置され、図４（Ｄ）においては、線状の導電体１２により形成された正五角形の導電体１２の無い領域１２ａが周期的に配置されている。図４（Ｅ）においては、線状の導電体１２により形成された円形の導電体１２の無い領域１２ａが周期的に配置されている。なお、図４（Ａ）～（Ｅ）は導電体１２のみを図示している。
　導電薄膜層１６は、導電体被覆率が１％以上、１０％以下であることが好ましい。導電体被覆率は、平面視において単位面積当たりの導電体１２が占める面積の割合をいう。被覆率は、基材層１３の平面視における面積に対して、導電体１２によって覆われる基材層１３の面積の割合とも言える。図２、図３に示す実施形態のように、導電薄膜層１６が基材層１３の周縁部に設けられておらず、基材層１３の端縁よりも内側に設けられている場合には、被覆率は、平面視において基材層１３の上面の導電薄膜層１６が設けられている領域において、単位面積当たりの導電体１２が占める面積の割合をいう。導電薄膜層１６が設けられている領域とは、基材層１３の上面領域から基材層１３の周縁部（基材層１３の端縁と導電薄膜層１６との間の部分）を除いた領域となる。導電体被覆率は、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、光学顕微鏡等を用いて測定される。
　上記の配置パターンを有する導電薄膜層１６の製造方法としては、導電体膜を成形した後、エッチングによりパターンを形成し、パターンを有する導電薄膜体を取り出す方法がある。また、リフトオフ層を設けたベースフィルム上に、感光性レジストを塗工し、フォトリソグラフィ法によりパターン形成し、パターン部に導電体を充填した後に、パターンを有する導電薄膜体を取り出す方法などが挙げられる。なお、製造方法は上記に限定されることはなく、導電薄膜層１６の形成においては、金属薄膜を接着する方法、金属を蒸着する方法などが挙げられる。
　（導電薄膜層１６の他の実施形態）
　導電薄膜層１６は、例えばメタマテリアル構造を有していてもよい。メタマテリアル構造は、誘電体であるシート形状の導電体１２を周期的に等配列させたものであり、この周期配列構造により負の誘電率を有し、周期間隔に基づいて定まる特定の周波数帯域に属する電波を反射する。各導電体１２の形状は限定されず上述の形状であってよいが、例えば、図５に示すように、各導電体１２は正方形状であってもよい。導電体１２が２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の周波数の電波を反射するように、一辺の長さＬ１２及び隣り合う導電体１２の間の間隔Ｌ１３が設定されていてもよい。この場合、導電体１２の一辺の長さＬ１２は０．７ｍｍ以上、８００ｍｍ以下であってもよく、間隔Ｌ１３は１μｍ以上、１０００μｍ以下であってもよい。導電体１２の厚みＬ３は、３５０ｎｍ（０．３５μｍ）以下であることが好ましく、１００ｎｍ以下であることがより好ましく、さらに５０ｎｍ以下であることがより好ましい。導電体１２の数は基材層１３の大きさ（面積）に合わせて適宜設定される。一例では、導電体１２は、導電体１２は基材層１３の大きさに合わせて基材層１３上に縦に２つ、横に２つの合計４つ形成されていてもよい。この場合、各導電体１２の一辺の長さＬ１２は７７．４６０ｍｍ、隣り合う導電体１２の間の間隔Ｌ１３は１００μｍ、厚みＬ３は３５０ｎｍ（０．３５μｍ）以下に設定されている。導電薄膜層１６はメタマテリアル構造に限定されず、金属ナノワイヤ積層膜、多層グラフェン、部分剥離グラファイトのいずれかであってもよい。
（導電薄膜層１６の他の実施形態）
　導電薄膜層１６を構成する導電体１２は、例えば、図６に示すような態様でもよい。導電体１２は、複数の第１の囲み部６１を含む第１の導電部６２と、複数の第２の囲み部６３を含む第２の導電部６４とが、重なるようなパターンで形成されている。第１の囲み部６１と第２の囲み部６３とは、導電薄膜層に平行な投影面に投影した場合に、互いに共有した部分を有していない。
　第１の導電部６２は、導電体１２が形成されていない第１の領域ＡＲ１を囲む第１の囲み部６１が、一定のピッチで繰り返し形成されている。ここでは、第１の導電部６２は、格子状に形成されているが、五角形状、六角形状、円形状等に形成されてもよい。
　第２の導電部６４は、導電体１２が形成されていない領域である第４の領域ＡＲ４を囲む。第４の領域ＡＲ４は、隣り合う複数の第１の領域ＡＲ１にまたがるように形成されている。第２の導電部６４は、第１の導電部６２と同じ平面上に位置してもよいし、異なる平面上に位置してもよい。すなわち、第２の導電部６４は、第１の導電部６２に対して導通していてもよいし、導通していなくてもよい。また、隣り合う第２の導電部６４は互いに離れているが、接していてもよい。なお、第２の導電部６４は、四角形状に形成されているが、五角形状、六角形状、円形状等に形成されてもよい。
　この導電体１２によれば、電波の拡散性を向上することができる。ここでいう「電波の拡散性」とは、正反射強度と、正反射の周囲の電波強度との差が一定の範囲に収まることを意味する。
（接着層１４）
　接着層１４は、基材層１３および導電薄膜層１６の上に保護層１５を接着するものであり、接着剤から構成される。接着層１４は、平面視において基材層１３に対応する大きさを有する。接着層１４である接着剤として、合成樹脂やゴム製の粘着シートが用いられる。合成樹脂としては、例えば、アクリル樹脂や、シリコン樹脂、ポリビニルアルコール樹脂等が挙げられる。接着層１４の厚みＬ４は、本実施形態では１５０μｍに設定されているが、これに限定されるものではない。なお、接着層１４は接着剤に加え、任意の合成樹脂等の物質や任意の部材を含んでいてもよい。
　接着層１４は、誘電正接（tanδ）が０．０１８以下の合成樹脂材料からなるものが用いられることが好ましい。誘電正接は低いほど好ましいが、通常０．０００１以上である。誘電正接とは、誘電体内での電気エネルギー損失の度合いを表すものであり、誘電正接が大きい材料ほど電気エネルギー損失は大きくなる。誘電正接が０．０１８以下である接着層１４を用いることで、電波反射体１１における電波の電気エネルギーの損失が少なくなり、反射強度をより強くすることができる。
　また、接着層１４の合成樹脂材料は、電場の周波数に応じて比誘電率が変化するものであることが好ましい。比誘電率とは、媒質（本実施形態では合成樹脂材料）の誘電率と真空の誘電率の比である。電場に応じて比誘電率が変化することで、特定の周波数の電場での反射波の強度を高めることができる。比誘電率は、１．５以上、７以下の間で変化することが好ましい。より好ましくは、１．８以上、６．５以下の間で変化することが好ましい。誘導正接、比誘電率は測定装置（例えば、東洋テクニカ社、型番ＴＴＰＸテーブルトップ極低温プローバー、マテリアルインピーダンスアナライザＭＩＡ－５Ｍ）を用いて既知の方法（例えば、空洞共振器法、同軸共振器法）により測定される。
　なお、接着層１４だけでなく、基材層１３及び保護層１５を構成する合成樹脂材料が、誘電正接が０．０１８以下のものであってもよく、電場に応じて比誘電率が変化するものであってもよい。
　また、接着層１４は、水酸基価が５ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であることが好ましく、より好ましくは、８ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であり、更に好ましくは、３０ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であり、更に好ましくは、９０ｍｇＫＯＨ／ｇ以上である。一方、接着層１４の水酸基価の上限は、１２０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であることが好ましい。接着層１４の水酸基価が５ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であると、高温高湿環境下において、接着層１４が発泡又は／及び白化しにくいという利点がある。本明細書において、水酸基価は、ＪＩＳ　Ｋ　１５５７に準拠する試験方法により測定される。
　また、接着層１４の酸価は、５０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であることが好ましく、より好ましくは、４５ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であり、更に好ましくは、３０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であり、更に好ましくは、１０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下である。一方、接着層１４の酸価の下限は、０．１ｍｇＫＯＨ／ｇ以上であることが好ましい。接着層１４の酸価が５０ｍｇＫＯＨ／ｇ以下であると、導電体１２が腐食することを防ぐことができ、電波反射性の経時的な安定性を高くすることができる。本明細書において、酸価は、ＪＩＳ　Ｋ　２５０１に準拠する試験方法により測定される。
　接着層１４は、紫外線吸収剤を不含有であることが好ましい。接着層１４が紫外線吸収剤を不含有であると、接着層１４を無色透明に調整しやすいという利点がある。ここで、「不含有」には、紫外線吸収剤を全く含有していない場合だけでなく、接着層１４が無色透明を損なわない程度の僅かな量を含有する場合も含むものとする。
（保護層１５）
　保護層１５は、平面視において基材層１３に対応する大きさを有し、導電体１２を保護するものであり、保護材から構成される。保護層１５である保護材として、合成樹脂製のフィルムが用いられる。合成樹脂としては、例えばＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＣＯＰ（シクロオレフィンポリマー）、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレート、ポリエステル、ポリフォルムアルデヒド、ポリアミド、ポリフェニレンエーテル、塩化ビニリデン、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアセタール、ＡＳ樹脂、ＡＢＳ樹脂、アクリル樹脂、フッ素樹脂、ナイロン樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂からなる群から選択される１種以上が挙げられる。保護層１５の厚みＬ５は、本実施形態では５０μｍに設定されているが、これに限定されるものではない。なお、保護層１５には保護材に加え任意の合成樹脂等の物質や任意の部材を含んでいてもよい。
　保護層１５は、例えば合成樹脂製のフィルムの図２における上面（外側の面）、下面（接着層１４と接する面）の少なくとも一方に、アンチグレア処理またはアンチリフレクション処理が施されていてもよい。
　アンチグレア処理（「ＡＧ処理」、「ノングレア処理」ともいう。）とは、保護層１５の少なくとも一方の面に凹凸形状を形成し、光を散乱させて保護層１５への照明等の光源の映り込みを抑制する処理をいう。アンチグレア処理を施す方法として、例えば、微粒子を分散させたバインダー樹脂をフィルムの面に塗布する方法が挙げられる。また、サンドブラスト、ケミカルエッチング等、既知の方法が用いられてもよい。
　アンチリフレクション処理（「ＡＲ処理」ともいう。）とは、フィルムの少なくとも一方の面に反射防止膜を形成し、反射防止膜表面から反射する反射光と反射防止膜とフィルムとの界面から反射する反射光とを干渉により減衰させ、照明等の光源の映り込みを抑制する処理である。反射防止膜は単層でもよいが、屈折率の異なる薄膜を交互に積層させたものでもよく、既知の反射防止膜が用いられる。
　保護層１５は、合成樹脂製のフィルムの片面または両面に、アンチグレア処理またはアンチリフレクション処理が施されたフィルムが貼り付けられたものであってもよい。
　保護層１５は、温度４０℃、湿度９０％ｒｈ（相対湿度）での透湿度が、２０ｇ／ｍ２・２４ｈ以下であることが好ましく、より好ましくは、１６ｇ／ｍ２・２４ｈ以下であり、更に好ましくは、１２ｇ／ｍ２・２４ｈ以下であり、更に好ましくは、１０ｇ／ｍ２・２４ｈ以下である。保護層１５の温度４０℃、湿度９０％ｒｈ（相対湿度）での透湿度が、２０ｇ／ｍ２・２４ｈ以下であると、導電薄膜層１６が腐食しにくく、導電薄膜層１６の表面抵抗率が上昇しにくいという利点がある。本明細書でいう「透湿度」は、ＪＩＳ　Ｚ　０２０８（１９７６）に準拠した試験方法で測定される。
　本実施形態によれば、電波反射体１１はＤ６５標準光源における全光線透過率が６５％以上であり透明性が高いため、電波反射体１１を居室に用いた場合に、視線が遮られたり、電波反射体１１の存在が目立って居室の雰囲気や景観を阻害することがなく、景観を良好に保つことができる。また、電波反射体１１においては、２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の周波数の入射波が正反射したときの反射波の強度が、入射波に対して－３０ｄＢ以上になる周波数が少なくとも１つ存在する。このため、反射強度を大きく保った状態で電波を反射させることができる。このため、波長が短く直進性の高い電波であっても、室内の空間内においてできる限り死角空間が生じるのを抑えることができ、死角空間を少なくするために電波反射体を多数設置する必要がない。
　また、電波の正反射方向に対して±１５度の角度範囲α内の尖度を－０．４以下に設定した場合には、±１５度の角度範囲α内においては、受信角度位置による反射強度の差が小さくなり、電波反射体１１が反射した電波を反射強度を保った状態で受信部２１が受信可能である。
　さらに、導電体１２を含む導電薄膜層１６が基材層１３と積層し、保護層１５が接着層１４により接着されている構成とした場合には、電波反射体１１は居室等の壁や柱に張り付けることができる程度の剛性を備えることができ、貼り付け等の作業がしやすい。また、保護層１５を備えているため、導電薄膜層１６が傷つくのを防ぐことができる。
　導電薄膜層１６の表面抵抗率が３．５Ω／□以下である場合には、電波反射体１１は反射強度を大きく保った状態で電波を反射させることができる。また、導電薄膜層１６において、１または複数の線状の導電体１２により囲まれた導電体の無い領域が、所定の間隔を空けて周期的に配置されている場合には、導電体１２の無い領域１２ａを可視光線等の光線が通過し、電波反射体１１の全光線透過率が６５％以上とすることができる。
　導電薄膜層１６の導電体被覆率が１％以上、１０％以下である場合には、導電体１２が配置されていない面積の割合が大きく、電波反射体１１の全光線透過率が６５％以上となる。
　導電体１２の線幅Ｌ６が、０．１μｍ以上、４．０μｍ以下である場合には、導電体１２が配置されていない面積の割合が大きく、電波反射体１１の全光線透過率が６５％以上となる。
　電波反射体１１の全体の形状が、１辺の長さが１５ｃｍ以上、４００ｃｍ以下の四角形である場合には、居室内の空間に受信部が受信できる実用的な反射強度で電波を反射させることができ、居室に電波反射体１１を配置した場合に死角が生じにくい。
　保護層１５にアンチグレア処理またはアンチリフレクション処理が施されていることで、電波反射体１１への照明等の光源の映り込みを抑制することができる。
　（他の実施形態）
　図７に本発明の他の実施形態を示す。図７に示す電波反射体１１は、導電薄膜層１６Ａ、１６Ｂが上下方向に二層に積層されている。基材層１３Ａ上に形成された導電薄膜層１６Ａと基材層１３Ｂ上に形成された導電薄膜層１６Ｂと配置パターンが平面から見て重なるように位置合わせされる。なお、導電薄膜層１６Ａ、１６Ｂの配置パターンは平面視において重なっていなくてもよく、導電薄膜層１６Ａ、１６Ｂは異なる配置パターンで形成されていてもよい。導電薄膜層１６Ａの上に、基材層１３Ｂの下面が接着層１４Ａにより貼付けられ、導電薄膜層１６Ｂの上に、接着層１４Ｂにより保護層１５が貼付けられている。
　電波反射体１１に入射した電波は、一層目の導電薄膜層１６Ｂにより反射されるが、一部は導電薄膜層１６Ｂで反射されずに導電薄膜層１６Ｂを通過する。この導電薄膜層１６Ｂを通過した電波は、二層目の導電薄膜層１６Ａにより反射される。このように、導電体１２を含む導電薄膜層１６を上下方向に複数積層することで、上層の導電薄膜層１６Ｂを通過した電波を下層の導電薄膜層１６Ａで反射させることができ、電波反射体１１の反射強度を導電体１２が一層のみの場合と比べてより大きく保つことができる。また、電波の正反射方向に対して±１５度の角度範囲αにおける、反射強度の分布の尖度をさらに小さくすることができ、角度範囲α内の角度位置による反射強度の差が小さくなる。さらに、二層の接着層１４Ａ、１４Ｂを用いているので、誘電正接の値が図２に示す実施形態よりもさらに小さくなり、反射強度をさらに大きく保つことができる。その他の構成及び作用は図２、図３に示す実施形態と同様であるため、対応する構成に同一の符号を付すことで詳細な説明は省略する。
　なお、図７の実施形態では、基材層１３に形成された導電薄膜層１６が二層に積層されているが、三層以上積層されていてもよい。導電薄膜層１６を積層する数が多くなると反射強度が大きくなるが、電波反射体１１全体の厚みが厚くなるため、全光線透過率、可撓性が低下する。このため、導電薄膜層１６の積層数は使用用途等に応じて適宜設定される。
（他の実施形態）
　図８に電波反射体１１の他の実施形態を示す。図８の実施形態においては、電波反射体１１は導電薄膜層１６と基材層１３とを備え、接着層１４と保護層１５とを備えていない。この場合、導電薄膜層１６の導電体１２は基材層１３の上面の略全面にシート状の薄膜として正方形状に形成されている。導電体１２の厚みＬ３は、本実施形態では１０ｎｍとしているが、これに限定されない。表面抵抗率は、本実施形態では９．８Ω／□である。図８の実施形態においては、導電体被覆率は、基材層１３の上の導電薄膜層１６が設けられている部分における単位面積当たりの導電体１２が占める面積の割合として規定され、導電体被覆率は１００％となる。本実施形態においては、電波反射体１１の全光線透過率は７０％である。その他の構成及び作用は図２、図３に示す実施形態と同様であるため、対応する構成に同一の符号を付すことで詳細な説明は省略する。
　なお、本実施形態では導電薄膜層１６は１枚の導電体１２から構成されるが、複数枚の導電体１２から構成されていてもよい。この場合、複数の導電体１２が基材層１３の上面の略全面に、所定の間隔を空けて配置される。また、導電体１２の形状は、円形、長方形、三角形、多角形などであってもよい。導電薄膜層１６はメタマテリアル構造を有していてもよく、金属ナノワイヤ積層膜、多層グラフェン、部分剥離グラファイトのいずれかであってもよい。
（使用）
　上記のいずれかの電波反射体１１は建築材料３０に含まれて使用されてもよい。建築材料３０は、例えば図９（Ａ）に示すように、室内や廊下の壁面、天井面、床面、パーティーション用の壁紙、ポスター等の装飾材３０Ａ、電灯カバー用の透明シール等の装飾材３０Ｂとして、建築物内に取り付けることが可能なものである。電波反射体１１を含んだ装飾材３０Ａ、３０Ｂを壁面３１や電灯カバー３２に取付けることで、屋外から窓３３等を介して室内に入った電波を、壁面３１や電灯カバー３２に設けた装飾材３０Ａ、３０Ｂで反射する。これにより、室内空間Ｓのより広範囲に電波が届き、電波受信の利便性が向上する。
　また、電波反射体１１は建築材料３０の内部に保持されたものとして形成されてもよい。例えば、建築材料３０である壁面３１そのものや電灯カバー３２そのものが電波反射体１１で構成されていてもよい。さらに、建築材料３０は室内の壁や電灯カバーに限定されず、パーティーション、柱、鴨居、建築物の外壁、窓等であってもよい。例えば、図９（Ｂ）は室内を平面から見た図であり、電波反射体１１である建築材料３０は部屋の隅の曲面を有する隅柱３０Ｃとして形成されている。窓３３から入った電波が隅柱３０Ｃに反射して室内空間Ｓのより広範囲に電波が届く。なお、図９（Ａ）、図９（Ｂ）は建築材料３０の適用例を示すものであり、実際の電波の反射の範囲を示すものではない。また、電波反射体１１は建築材料３０に限らず、樹脂などの非導電性材料からなる部材の内部に保持されて任意の場所で使用されてもよい。
（評価試験）
　電波反射体１１として実施例１～８を作成し、この実施例１～８と比較例１～３とについて、景観担保性、死角への電波拡張性、映り込み性について評価試験を行なった。実施例１～８の条件および評価結果を表１に示し、比較例１～３の条件および評価結果を表２に示す。ただし、本発明の電波反射体１１は、実施例１～８に限定されない。
（実施例１）
　実施例１として作成した電波反射体１１は、図２、図３に示す実施形態と同様の構成を有する電波反射体１１である。電波反射体１１は平面形状が正方形状であり、一辺の長さＬ１０を２０ｃｍ、電波反射体１１の厚みＬ１を０．２５ｍｍとした。なお、電波反射体１１の厚みＬ１は、導電薄膜層１６の厚みＬ３、基材層１３の厚みＬ２、接着層１４の厚みＬ４、保護層１５の厚みＬ５の合計となる。しかし、導電薄膜層１６の厚みＬ３は基材層１３、接着層１４、保護層１５の各厚みＬ２、Ｌ４、Ｌ５に比べて非常に薄いため、電波反射体１１の厚みＬ１に導電薄膜層１６の厚みＬ３は考慮されていない。電波反射体１１は、２ＧＨｚ以上、３００ＧＨｚ以下の周波数の入射波が反射したときの電波の反射強度の最大値（以下、「電波反射強度の最大値」ともいう。）が－２０ｄＢ、全光線透過率が９０．０％である。基材層１３としてＰＥＴからなる合成樹脂材料シート（東レ社製、ルミラー５０Ｔ６０）を用い、基材層１３の厚みＬ２を５０μｍとした。導電薄膜層１６の導電体１２は銀（Ａｇ）からなる線状の金属薄膜であり、厚み（膜厚）Ｌ３を５００ｎｍ、線幅Ｌ６を０．５μｍ、隣り合う導電体１２の間の長さＬ７を６０μｍとした。導電薄膜層１６の表面抵抗率は１．７Ω／□、導電体被覆率は３．３％である。接着層１４として、ゴム系接着剤を用いた。詳細には、接着層１４は、冷却管、窒素導入管、温度計、滴下ロートおよび撹拌装置を備えた反応容器に、ゴム系ポリマー（スチレン－（エチレン－プロピレン）－スチレン型ブロック共重合体５０質量％とスチレン－（エチレン－プロピレン）型ブロック共重合体５０質量％との混合物、スチレン含有率１５％、重量平均分子量１３万）１００重量部、合成樹脂（三井化学社製、ＦＭＲ－０１５０）４０重量部、軟化剤（ＪＸ日鉱日石エネルギー社製、ＬＶ－１００）２０重量部、酸化防止剤（ＡＤＥＫＡ社製、アデカスタブＡＯ－３３０）０．５重量部およびトルエン１５０重量部を仕込み、４０℃で５時間撹拌したものである。接着層１４の厚みＬ４は１５０μｍとした。接着層１４の誘導正接は０．０４である。保護層１５としてＰＥＴからなる合成樹脂製シート（東レ社製、ルミラー５０T６０）を用いた。保護層１５の厚みＬ５を５０μｍとした。なお、電波反射体１１の厚みＬ１、導電薄膜層１６の厚みＬ３、基材層１３の厚みＬ２、接着層１４の厚みＬ４、及び保護層１５の厚みＬ５は、任意の複数箇所を測定して、得られた測定値の平均値を算出することで求められる。厚みＬ１～Ｌ５の測定には、例えば、計測器として反射率分光式膜厚測定器（例えば、フィルメトリクス株式会社製、F3－CS-NIR）が用いられた。
　実施例１の電波反射体１１の製造方法を説明する。まず、導電体１２の基材層１３への形成を行なう。金属層として十分な強度を有する５～２００μｍの厚さの銅箔の一方の表面に、０．０１～３μｍのコア層を電解または無電解めっきなどの方法によって形成する。そして、コア層の表面に電解または無電解めっきなどの方法によって所定の配置パターンの導電薄膜層１６を形成する。次に、導電薄膜層１６の全部を基材層１３で覆う。基材層１３には粘着剤があらかじめ塗布されている。そして、銅箔およびコア層をエッチング除去する。これにより導電体１２が基材層１３上に形成される。
　そして、接着層１４により保護層１５を導電体１２の基材層１３とは反対側に取付ける。接着層１４を用いて、気泡が入らないよう保護層１５を基材層１３の導電体１２上に貼付ける。これにより電波反射体１１が製造される。
（実施例２）
　実施例２として作成した電波反射体１１は、実施例１とは電波反射強度の最大値および電波反射体１１の形状の一辺の長さＬ１０が異なっている。実施例２では、電波反射強度の最大値は－２８ｄＢであり、一辺の長さＬ１０は１８ｃｍである。その他の構成は実施例１と同様である。
（実施例３）
　実施例３として作成した電波反射体１１は、実施例１、２とは異なり図８に示す実施形態と同様の構成を有する電波反射体１１である。電波反射体１１は正方形状であり、電波反射体１１の厚みＬ１を０．０５ｍｍ、一辺の長さＬ１０を２０ｃｍとした。電波反射体１１は、電波反射強度の最大値が－２８ｄＢ、全光線透過率が７０．０％である。基材層１３としてＰＥＴからなる合成樹脂材料シート（東レ社製、ルミラー５０Ｔ６０）を用い、基材層１３の厚みＬ２を５０μｍとした。導電薄膜層１６の導電体１２は銅からなる金属薄膜であり、厚み（膜厚）Ｌ３を１０ｎｍとした。導電薄膜層１６の表面抵抗率は６．８Ω／□、導電体被覆率は１００％である。
　実施例３における導電体１２の基材層１３への形成は、例えば、ロールｔｏロール方式のスパッタリング装置を用いている。スパッタリング装置の成膜室に備えられたカソードに、金属（例えば銅）を含むターゲットを取り付ける。カソードに対して、５％カソードが隠れる程度の大きさにアースシールドを設ける。スパッタリング装置の成膜室は、真空ポンプにより排気され、例えば３．０×１０－４Ｐａまで減圧され、また、例えばアルゴンガスが所定の流量（１００ｓｃｃｍ）で供給される。この状態で、基材層１３を例えば搬送速度０．１ｍ／分、張力１００Nでカソード下に搬送する。カソードに接続されたバイポーラ電源から５ｋＷのパルス電力が供給されることで、ターゲットから金属が吐出されて基材層１３の表面に堆積し、これにより金属薄膜が形成される。
　金属薄膜が所望の厚みで形成されたか否かの評価は例えば以下の手順により行なわれる。例えば、ナノインデンター（ＨＹＳＩＴＲＯＮ社製、ＴＩ９５０）を用いて、所定の箇所（本実施形態では約３０か所）に金属薄膜を貫通する圧痕を形成する。レーザー顕微鏡（ＫＥＹＥＮＣＥ社製、ＶＫ－Ｘ１０００／１０５０）を用いて、圧痕による隙間から金属薄膜の厚みを計測する。約３０か所の測定値から平均膜厚及び標準偏差を求め、平均膜厚が所望の厚みＬ３であるか、及び測定値のばらつきが所望の範囲内（例えば、標準偏差が５以内）であるかを評価する。
（実施例４）
　実施例４として作成した電波反射体１１は、実施例１とは保護層１５の構成が異なっている。保護層１５は上面および下面にアンチグレア処理（ＡＧ処理）が施されたＰＥＴからなる合成樹脂材料シートである。実施例４では、株式会社きもと製の型番Ｎ７ＢＢを用いており、アンチグレア処理（ＡＧ処理）が施された保護層１５は電波反射体１１の通常の使用に耐えるハードコーティングがなされている。保護層１５の厚みＬ５は１８８μｍである。
　電波反射体１１の厚みＬ１は０．３８８μｍ、電波反射強度の最大値は－２０ｄＢ、全光線透過率が８３．６％である。その他の構成は実施例１と同様である。
（実施例５）
　実施例５として作成した電波反射体１１は、実施例１とは保護層１５の構成が異なっている。保護層１５は上面にアンチグレア処理が施されたＰＥＴからなる合成樹脂材料シートである。実施例５では、株式会社ダイセル製の型番ＰＦＮ１８　５０７ＨＡ４を用いている。保護層１５の厚みＬ５は１８８μｍである。
　電波反射体１１の厚みＬ１は０．３８８μｍ、電波反射強度の最大値は－２０ｄＢ、全光線透過率が８３．７％である。その他の構成は実施例１と同様である。
（実施例６）
　実施例６として作成した電波反射体１１は、実施例１とは保護層１５の構成が異なっている。保護層１５は上面にアンチリフレクション処理（ＡＲ処理）が施されたＰＥＴからなる合成樹脂材料シートである。実施例６では、株式会社ダイセル製の型番ＰＦＮ１０　５０７ＣＡＳを用いている。保護層１５の厚みＬ５は１００μｍである。
　電波反射体１１の厚みＬ１は０．３μｍ、電波反射強度の最大値は－２０ｄＢ、全光線透過率が８４．６％である。その他の構成は実施例１と同様である。
（実施例７）
　実施例７として作成した電波反射体１１は、実施例１とは保護層１５の構成が異なっている。保護層１５は上面にアンチリフレクション処理（ＡＲ処理）が施されたＰＥＴからなる合成樹脂材料シートである。実施例７では、株式会社スリーエム製の型番Scotchtint LR2CLARXを用いている。保護層１５の厚みＬ５は７６μｍである。
　電波反射体１１の厚みＬ１は０．２７６μｍ、電波反射強度の最大値は－２０ｄＢ、全光線透過率が９２．０％である。その他の構成は実施例１と同様である。
（実施例８）
　実施例８として作成した電波反射体１１は、実施例１とは接着層１４が異なっている。接着層１４として、アクリル系接着剤を用いた。アクリル系接着剤は以下の手順により得たものである。単官能長鎖ウレタンアクリレート（ＡＧＣ製ＰＥＭ－Ｘ２６４、分子量１００００）４０質量部、及びアクリルモノマー６０質量部（２－エチルヘキシルアクリレート（２ＥＨＡ）３５質量部、シクロヘキシルアクリレート（ＣＨＡ）１０質量部、２－ヒドロキシエチルアクリレート（２ＨＥＡ）１０質量部、及びジメチルアクリルアミド（ＤＭＡＡ）５質量部）を混合、攪拌した。得られた（メタ）アクリル酸エステル系共重合体溶液に、（メタ）アクリル酸エステル系共重合体の固形分１００質量部に対して、架橋剤（１．６ヘキサンジオールジアクリレート（Ａ－ＨＤ－Ｎ、新中村化学製））０．５質量部、及び光重合開始剤（Ｏｍｎｉｒａｄ６５１（ＩＧＭジャパン合同会社製））を添加し、攪拌し、真空脱泡した。これにより、アクリル系接着剤が得られた。
（比較例１）
　比較例１として作成した電波反射体は、実施例１とは以下の点において異なっている。電波反射体の全光線透過率が６２．０％である。導電薄膜層１６の導電体１２は銅からなり、線幅Ｌ６は５μｍ、導電薄膜層１６の表面抵抗率は１．１Ω／□、導電体被覆率は３０．６％である。その他の構成は実施例１と同様である。
（比較例２）
　比較例２として作成した電波反射体は、実施例３とは以下の点において異なっている。電波反射強度の最大値は、－２０ｄＢ、全光線透過率が６０．０％である。導電薄膜層１６は、厚み（膜厚）Ｌ３を１５ｎｍとした。導電薄膜層１６の表面抵抗率は２．８Ω／□である。その他の構成は実施例３と同様である。
（比較例３）
　比較例３として作成した電波反射体は、実施例３とは以下の点において異なっている。電波反射強度の最大値は－４０ｄＢ、全光線透過率が８０．０％である。導電薄膜層１６は、厚み（膜厚）Ｌ３を２．５ｎｍとした。導電薄膜層１６の表面抵抗率は９．８Ω／□である。その他の構成は実施例３と同様である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
（反射強度、全光線透過率、表面抵抗率の測定方法）
　測定対象物である実施例１～８、比較例１～３（まとめて「試料」とも言う。）の反射波の強度と反射強度が―３０ｄＢ以上となる周波数の測定は、ＪＩＳＲ１６７９：２００７に記載された反射量の測定方法に沿って行った。ベクトルネットワークアナライザ（アジレント社製E5061B LF-RF）を用い、受信アンテナとして矩形ホーンアンテナを用いた。試料と受信アンテナと送信アンテナとは同一平面上に配置し、試料と受信アンテナとの間の距離および試料と送信アンテナとの間の距離は１ｍとした。試料に対する電波の入射角θ１、反射角θ２を４５度に設定した。送信アンテナから、周波数を２ＧＨｚから３００ＧＨｚまで変化させた電波（２ＧＨｚの電波、３ＧＨｚの電波、５ＧＨｚの電波、３０ＧＨｚ以上は３０ＧＨｚ刻みに３００ＧＨｚまで（すなわち、３０、６０、９０、１２０・・・３００ＧＨｚ）の電波）を出力し、各周波数の電波に対する反射強度を測定した。この時、ベクトルネットワークアナライザにて受信アンテナと送信アンテナの同軸ケーブルを直結し、各周波数における信号レベルを０として校正した。その後再度装置を構成し、測定を行った。試料の各周波数における反射強度は、０点からの信号レベルの減衰量として測定した。なお電波の周波数が１０ＧＨｚ以下の場合においては、矩形ホーンアンテナの第一フレネル半径を考慮し、適宜ミリ波レンズを用いて試料に平面波を照射した。
　全光線透過率は、Ｄ６５標準光源（ＣＩＥ（国際照明委員会）が規定する標準光源の一つ）においてＪＩＳＫ　７３７５：２００８に規定された方法に準拠して測定した。
　表面抵抗率は、実施例１～８、比較例１～３の製造時に導電薄膜層１６が形成されて露出している状態で、導電薄膜層１６の表面に測定端子を接触させて、ＪＩＳＫ６９１１に準拠して四端子法で測定した。
（評価指標）
　景観担保性、死角への電波拡張性、映り込み性の３つの評価指標を設定した。
（景観担保性）
　景観担保性は電波反射体１１の透明性および導電薄膜層１６の導電体１２の配置パターンが視認される度合いを評価する指標である。透明性は、文字が書かれた紙の上に電波反射体１１を載置し、電波反射体１１の上側から電波反射体１１を目視した場合に、文字が視認できるか否かを評価する。また、導電薄膜層１６の導電体１２の配置パターンが視認される度合いは、以下のように評価される。電波反射体１１から０．５ｍ離れた位置に光源を配置して光線を電波反射体１１に照射する。電波反射体１１を挟んで光源とは反対側であって、電波反射体１１から０．５ｍ離れた位置において、目視で電波反射体１１を観察し、導電体１２の配置パターンが視認されるか否かを評価する。文字を視認可能であり、かつ、光源としてＬＥＤ（Light　Emitting　Diode）、蛍光灯及び白熱球いずれからの光線を照射した場合においても、目視で導電体１２の配置パターンが視認されない場合を「◎」と評価した。文字を視認可能であり、かつ、ＬＥＤからの光線を照射した場合には目視で導電体１２の配置パターンが視認されるが、蛍光灯からの光線を照射した場合には目視で導電体１２の配置パターンが視認されない場合を「〇」と評価した。文字を視認できないか、光源としてＬＥＤ、蛍光灯からの光線を照射し、いずれの光線でも目視で導電体１２の配置パターンが視認される場合を「×」と評価した。「◎」、「〇」の評価は、景観担保性において電波反射体１１が実用的に使用できることを意味する。
（死角への電波拡張性）
　死角への電波拡張性は、死角のある建物内において、電波反射体１１により反射された反射波を受信部２１により十分に受信可能であるか否かを評価する指標である。図１０に示すように、鉄筋コンクリート製の建物内の廊下４０と、廊下４０の延在する方向に直交する方向に突出する階段踊場４１とを用いて試験を行った。階段踊場４１は、平面形状が長方形状であって、廊下４０の側壁４２の開口部４３に連続して設けられている。廊下４０の幅Ｌ２０は約２ｍ、廊下４０の延在する方向に沿った開口部４３の長さ、すなわち階段踊場４１の廊下４０の延在する方向に沿う長さＬ２１は約３ｍであり、階段踊場４１の奥行き（開口部４３から開口部４３に対向する壁までの長さ）Ｌ２２は約２ｍである。
　電波反射体１１は、その重心点が、平面視において、廊下４０の幅方向の中央であって、側壁４２の開口部４３の廊下４０の延在する方向の中央に位置するように設置される。電波反射体１１は電波が入射する面が廊下４０の床面に対して垂直になるように立てて設置される。電波発生源である送信アンテナ４４は、平面視において、電波反射体１１から距離Ｌ２３離れた廊下４０の幅方向の中央に設置され、距離Ｌ２３は５ｍに設定される。送信アンテナ４４からの電波を受信する受信アンテナ４５は、平面視において階段踊場４１の中央に設置される。送信アンテナ４４、受信アンテナ４５、電波反射体１１は、送信アンテナ４４の重心点と、受信アンテナ４５の重心点と、電波反射体１１の重心点とを含む平面が、廊下４０の床面に平行となるようにレーザー水準器を用いて設置される。床面と前記平面との間の距離は１．０ｍである。電波反射体１１の電波が入射する面の向きは、電波反射体１１への電波の入射角θ１、反射角θ２が４５度となる向きである。
　送信アンテナ４４から２８．５ＧＨｚの周波数の電波を出力し、測定を行った。この時、ベクトルネットワークアナライザにて受信アンテナ４５と送信アンテナ４４の同軸ケーブルを直結し、信号レベルを０として校正する。その後再度装置を構成し、測定を行った。送信アンテナ４４から電波を出力し、電波反射体１１で反射させ、受信アンテナ４５で受信する。受信アンテナ４５で受信した電波の反射強度を０点からの信号レベルの減衰量として測定し、強度が－２５ｄＢ以上の場合を「◎」と評価し、－３０ｄＢ以上の場合を「〇」と評価し、－３０ｄＢ未満の場合を「×」と評価した。「◎」、「〇」の評価は、電波の反射強度が使用に実用的な強度であることを意味する。
（映り込み性）
　映り込み性は、電波反射体１１の表面に光源が映り込む度合いを示す指標である。映り込み性は以下のように評価される。図１１（Ａ）、図１１（Ｂ）に示すように、壁５３と天井５２と床面５１を有する直方体の部屋５０を用意した。床面５１と天井５２との間の距離Ｌ３０は３ｍであり、天井５２の中央部には長さ１１１９ｍｍの直管蛍光灯５４、５４が２本平行に取り付けられている。２本の蛍光灯５４、５４の間の中央位置と、蛍光灯５４、５４に平行な壁５３との距離Ｌ３１は２．５ｍである。壁５３の横方向の長さＬ３４は４ｍである。壁５３の横方向中央位置に実施例１～８、比較例１～３の電波反射体１１を両面テープで取り付けた。評価者５５は、床面５１上であって、横方向中央であり壁５３から距離Ｌ３３離れた位置に起立しており、距離Ｌ３３は２ｍである。電波反射体１１の上下方向中央位置と床面５１との間の距離Ｌ３２は１．５ｍであり、電波反射体１１の上下方向中央位置は評価者５５の目の高さとほぼ同じである。評価者５５と電波反射体１１の横方向中央位置と蛍光灯の長さ方向の中央位置とは図１１（Ｂ）に示すように平面からみて横方向に直交する方向に一列に並んでいる。このような部屋５０において、評価者５５が電波反射体１１の表面に蛍光灯５４、５４が映り込む度合いを評価した。蛍光灯５４、５４が電波反射体１１に映り込んで、蛍光灯５４、５４の輪郭を含む蛍光灯５４、５４の形状が視認されるとともに、蛍光灯５４、５４が発する光が視認される場合を「×」と評価した。蛍光灯５４、５４の輪郭や形状は視認されないが、蛍光灯５４、５４が発する光が視認される場合を「○」と評価した。蛍光灯５４、５４の輪郭や形状および蛍光灯５４、５４が発する光が視認されない場合を「◎」と評価した。「◎」、「〇」の評価は、映り込み性において電波反射体１１が実用的に使用できることを意味する。
（評価結果）
　表１、表２に評価結果を示す。実施例１は、全光線透過率が９０％と高く、文字が視認可能で、導電体１２の配置パターンが視認されず、景観担保性が「◎」の評価であり、また、死角への電波拡張性の試験において、受信部２１で受信した電波の反射強度が－２５ｄＢ以上であり「◎」の評価であった。また、実施例８は実施例１と接着剤の種類が異なるものであるが、実施例１と同じ結果となった。一方、実施例１、２と同様の構造を有する比較例１は、導電体の材料が銅であり導電体被覆率が実施例１よりも高く、全光線透過率が６２％と実施例１よりも低くなった。このため、死角への電波拡張性は「◎」の評価であるものの景観担保性が「×」の評価であり、景観担保性において実施例１は比較例１よりも良好であった。
　実施例２は、実施例１と比較して電波反射体１１の一辺の長さＬ１０が短く設定されているが、全光線透過率が９０％と高く、文字が視認可能で、導電体１２の配置パターンが視認されず、景観担保性が「◎」の評価であった。死角への電波拡張性の試験において、実施例２は、電波の反射強度が－３０ｄＢ以上であり「○」の評価であった。一方、比較例１においては上述のように景観担保性が「×」の評価であり、景観担保性において実施例２は比較例１よりも良好であった。
　実施例３は、導電薄膜層１６の厚みが小さく全光線透過率が７０％と高く、景観担保性が「○」の評価であり、また、死角への電波拡張性において、電波の反射強度が－３０ｄＢ以上であり「○」の評価であった。一方、実施例３と同様の構造を有する比較例２は、導電薄膜層１６の厚みが実施例３よりも大きく、全光線透過率が６０％となり、死角への電波拡張性は「◎」の評価であるものの、景観担保性が「×」の評価であった。また実施例３と同様の構造を有する比較例３は、導電薄膜層１６の厚みが実施例３よりも小さく、景観担保性が「○」の評価であるものの、電波反射強度は小さく死角への電波拡張性は「×」の評価であった。
　実施例４は保護層１５の上下面にＡＧ処理を施しており、実施例５は保護層１５の上面にＡＧ処理を施している。実施例４、５において、映り込み性は「○」の評価であった。また、実施例４、５は電波反射体１１の厚みＬ１０が実施例１～３に比べて大きく、景観担保性が「○」の評価であり、死角への電波拡張性は「◎」の評価であった。実施例６、７は保護層１５の上面にＡＲ処理を施しており、実施例６の保護層１５の厚みＬ５は実施例７よりも大きく設定されている。実施例６、７において、映り込み性は「◎」の評価であった。また、実施例６、７は電波反射体１１の厚みＬ１０が実施例１～３に比べて大きく、景観担保性が「○」の評価であり、死角への電波拡張性は「◎」の評価であった。実施例１～３、比較例１～３においては、保護層１５にＡＧ処理またはＡＲ処理が施されておらず、映り込み性は「×」の評価であった。
　以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。実施形態として記載され又は図面に示されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、本発明の範囲をこれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。例えば、「ある方向に」、「ある方向に沿って」、「平行」、「直交」、「中心」、「同心」或いは「同軸」等の相対的或いは絶対的な配置を表す表現は、厳密にそのような配置を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の角度や距離をもって相対的に変位している状態も表すものとする。例えば、「同一」、「等しい」及び「均質」等の物事が等しい状態であることを表す表現は、厳密に等しい状態を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の差が存在している状態も表すものとする。例えば、四角形状や円筒形状等の形状を表す表現は、幾何学的に厳密な意味での四角形状や円筒形状等の形状を表すのみならず、同じ効果が得られる範囲で、凹凸部や面取り部等を含む形状も表すものとする。一つの構成要素を「備える」、「具える」、「具備する」、「含む」、又は「有する」という表現は、他の構成要素の存在を除外する排他的な表現ではない。
　本明細書にて、「略平行」、又は「略直交」のように「略」を伴った表現が、用いられる場合がある。例えば、「略平行」とは、実質的に「平行」であることを意味し、厳密に「平行」な状態だけでなく、数度程度の誤差を含む意味である。他の「略」を伴った表現についても同様である。
　また、本明細書において「端部」及び「端」などのように、「…部」の有無で区別した表現が用いられている。例えば、「端」は物体の末の部分を意味するが、「端部」は「端」を含む一定の範囲を持つ域を意味する。端を含む一定の範囲内にある点であれば、いずれも、「端部」であるとする。他の「…部」を伴った表現についても同様である。
１１　電波反射体
１２　導電体
１３　基材層
１４　接着層
１５　保護層
１６　導電薄膜層
Ｌ６　導電体の線幅
Ｌ１０　電波波反射体の１辺の長さ

Claims (9)

  1. 　電波を反射させるための電波反射体であって、
    　入射波が正反射したときの反射波の強度が、前記入射波の強度に対して－３０ｄＢ以上になる周波数が存在し、
    　Ｄ６５標準光源における全光線透過率が６５％以上である、電波反射体。
  2. 　入射波の周波数が２ＧＨｚ以上３００ＧＨｚ以下の任意の周波数である、請求項１に記載の電波反射体。
  3. 　電波を反射させる導電体を含む導電薄膜層と、基材を含む基材層と、前記導電薄膜層を保護するための保護材を含む保護層と、前記導電薄膜層と前記保護層とを接着するための接着剤を含む接着層とを有し、
    　前記基材層、前記導電薄膜層、前記接着層、前記保護層の順に積層されている、請求項１に記載の電波反射体。
  4. 　前記導電薄膜層は、表面抵抗率が３．５Ω／□以下であり、厚みが５００ｎｍ以下である、請求項３に記載の電波反射体。
  5. 　前記導電薄膜層は、１または複数の線状の前記導電体により囲まれた導電体の無い領域が、所定の間隔を空けて周期的に配置されている、請求項３または４に記載の電波反射体。
  6. 　前記導電薄膜層において、単位面積当たりの前記導電体が占める面積の割合として規定される導電体被覆率が１％以上、１０％以下である、請求項５に記載の電波反射体。
  7. 　前記導電体の線幅は、０．１μｍ以上、４．０μｍ以下である、請求項５に記載の電波反射体。
  8. 　全体の形状が、１辺の長さが１５ｃｍ以上の多角形である、請求項１に記載の電波反射体。
  9. 　前記保護層は、アンチグレア処理またはアンチリフレクション処理が施されている、請求項３に記載の電波反射体。
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