WO2023026678A1 - 治具基板およびティーチング方法 - Google Patents

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博充 阪上
徹 山内
信二 相澤
啓伸 渡邊
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Definitions

  • the EFEM 15 is arranged facing the VTM 11a.
  • the EFEM 15 is a rectangular parallelepiped, equipped with an FFU (Fan Filter Unit), and is an atmospheric transfer chamber maintained in an atmospheric pressure atmosphere.
  • Two LLMs 14 are connected to one side surface along the longitudinal direction of the EFEM 15 .
  • Four load ports (LP: Load Port) 16 are connected to the other longitudinal side of the EFEM 15 .
  • a FOUP (Front-Opening Unified Pod) (not shown), which is a container that accommodates a plurality of wafers, is mounted on the LP 16 .
  • An aligner 17 and an MTB (Mapping temporary buffer) 18 are connected to one lateral side of the EFEM 15 .
  • a robot arm 150 is also arranged in the EFEM 15 .
  • the substrate processing system 1 has a control device 100 .
  • the control device 100 is, for example, a computer, and includes a CPU (Central Processing Unit), RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), auxiliary storage device, and the like.
  • the CPU operates based on programs stored in the ROM or auxiliary storage device, and controls the operation of each component of the substrate processing system 1 .
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example of detecting the center of the fork.
  • FIG. 7 is a top view showing an example of detecting the center of the fork.
  • the fork 120 or the fork 151 is moved to the mounting table 140 as indicated by an arrow 121. and the jig wafer 200 to the touch position.
  • FIG. 9 is a diagram showing an example of the orientation of the prism and a captured image.
  • the prism 203a2 is rotated from the x-axis of the jig wafer 200, so the captured image 220 is also rotated.
  • the captured image 220 captures the mark 122 and includes two circular points of the mark 122 .
  • the information processing device 300 performs circular edge detection to calculate the point-to-point distance 122a between the center coordinates of the two points. Note that the point-to-point distance can be similarly calculated for the marks 152 as well.
  • the operator makes advance preparations such as mechanical adjustments such as horizontal adjustment and height adjustment, setting of the FOUP storing the jig wafer 200, and selection of teaching points (step S1).
  • advance preparations such as mechanical adjustments such as horizontal adjustment and height adjustment, setting of the FOUP storing the jig wafer 200, and selection of teaching points (step S1).
  • mechanical adjustments such as horizontal adjustment and height adjustment
  • setting of the FOUP storing the jig wafer 200 setting of the FOUP storing the jig wafer 200
  • selection of teaching points step S1
  • FIG. 25 is a flowchart showing an example of LP teaching processing.
  • FIG. 26 is a diagram showing an example of tentative determination of the Z position for the slots of the FOUP.
  • FIG. 27 is a diagram showing an example of imaging by a jig wafer in a slot. 28 is a diagram showing an example of the positional relationship between the jig wafer and the forks in FIG. 27.
  • FIG. 25 is a flowchart showing an example of LP teaching processing.
  • FIG. 26 is a diagram showing an example of tentative determination of the Z position for the slots of the FOUP.
  • FIG. 27 is a diagram showing an example of imaging by a jig wafer in a slot.
  • 28 is a diagram showing an example of the positional relationship between the jig wafer and the forks in FIG. 27.
  • the information processing device 300 When the information processing device 300 receives from the control device 100 that the fork 151 has moved to the imaging position, it instructs the jig wafer 200 to perform imaging. As shown in FIG. 28, jig wafer 200 captures images of marks 152 on forks 151 with its own first cameras 202a and 202b. At this time, the notch 206 of the jig wafer 200 is on the root side of the fork 151 . The jig wafer 200 transmits the captured image data to the information processing device 300 (step S224). The information processing device 300 calculates the amount of deviation of the XYZ axes based on the received imaging data, and transmits it to the control device 100 (step S225).
  • the information processing device 300 When the information processing device 300 receives from the control device 100 that the fork 151 has moved to the imaging position, it instructs the jig wafer 200 to perform imaging. As shown in FIG. 32, jig wafer 200 captures images of marks 152 on forks 151 with its own first cameras 202a and 202b. At this time, the notch 206 of the jig wafer 200 is on the root side of the fork 151 . Further, the teeth of the fork 151 and the rotary stage 17a are positioned so as not to interfere with each other. The jig wafer 200 transmits the captured image data to the information processing device 300 (step S248).
  • FIG. 34 and 35 are flowcharts showing an example of the LLM teaching process for the EFEM robot.
  • FIG. 36 is a diagram illustrating an example of probe mapping for LLM dogs.
  • FIG. 37 is a diagram showing an example of imaging by a jig wafer above the mounting table of the LLM.
  • 38 is a diagram showing an example of the positional relationship between the jig wafer and the mounting table in FIG. 37.
  • the information processing device 300 instructs the robot arm 150 via the control device 100 to place the jig wafer 200 from the FOUP onto the aligner 17 .
  • the robot arm 150 acquires the jig wafer 200 from the FOUP with the fork 151 (step S264).
  • the robot arm 150 moves to the aligner 17 and places the jig wafer 200 on the fork 151 on the rotary stage 17a of the aligner 17 (step S265).
  • the controller 100 rotates the rotary stage 17a of the aligner 17 to orient the notch 206 of the jig wafer 200 toward the base of the fork 151 (step S266).
  • the robot arm 150 acquires the jig wafer 200 placed on the rotating stage 17a of the aligner 17 with the fork 151 and moves it to the LLM 14 to be taught (step S267). As shown in FIG. 37, the robot arm 150 moves the jig wafer 200 mounted on the fork 151 to an imaging position above the mounting table 140 of the LLM 14 . At this time, the height 261 from the upper surface of the mounting table 140 to the lower surface of the jig wafer 200 is adjusted to a predetermined value. Further, the jig wafer 200 confirms that the fork 151 is stationary based on the data from the motion sensor 212, and then transmits information to the information processing device 300 indicating that the movement to the imaging position has been completed. good too.
  • the information processing device 300 When the information processing device 300 receives from the control device 100 that the fork 151 has moved to the imaging position, it instructs the jig wafer 200 to perform imaging. As shown in FIG. 41, jig wafer 200 captures images of marks 152 of fork 151 positioned between mounting table 140 and jig wafer 200 with first cameras 202a and 202b of jig wafer 200, respectively. At this time, the notch 206 of the jig wafer 200 is on the root side of the fork 151 . The jig wafer 200 transmits the captured image data to the information processing device 300 (step S275).
  • the information processing device 300 executes teaching processing for the vacuum transfer robot #1 in the vacuum transfer chamber (VTM) 11a (step S3).
  • VTM vacuum transfer chamber
  • FIG. 42 is a flow chart showing an example of the teaching process for the vacuum transfer robot #1.
  • the control device 100 checks whether the received deviation amount is within a preset allowable range (step S320). As a result of confirming the amount of deviation, the control device 100 determines whether or not adjustment is necessary (step S321). When the control device 100 determines that adjustment is necessary (step S321: Yes), it adjusts the position of the fork 120 based on the amount of deviation (step S322), and proceeds to step S323. That is, the control device 100 corrects the transfer position data of the forks 120 in the LLM 14 . On the other hand, when the control device 100 determines that the adjustment is not necessary (step S321: No), the process proceeds to step S323 without performing the adjustment.

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Abstract

治具基板(200)は、搬送機構(12a、12b、150)のティーチング方法に用いる治具基板(200)であって、第1のカメラ(202)と、第2のカメラ(204)とを有する。第1のカメラ(202)は、搬送機構(12a、12b、150)のフォーク(120、151)の位置を検出するための第1の画像データを撮像する。第2のカメラ(204)は、基板を載置する載置台(130、140)の位置を検出するための第2の画像データを撮像する。

Description

治具基板およびティーチング方法
 本開示は、治具基板およびティーチング方法に関する。
 半導体デバイスを製造する際、複数のモジュールの間で基板の搬送を行う搬送機構を備える基板処理システムが用いられる。基板処理システムでは、搬送機構が各モジュール内に基板を搬入し、各モジュール内に配置された載置台へ基板を受け渡す。このような基板処理システムでは、各モジュール内に精度よく基板を搬送するために、例えば作業者が検査用基板を用いて各モジュール内の基板載置位置等の搬送に必要な情報を搬送機構にティーチング(教示)する。また、検査用基板に設けたカメラで載置台を撮像し、撮像した画像に基づいて搬送機構が載置台に基板を受け渡す位置を補正することが提案されている。
特開2019-102728号公報
 本開示は、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる治具基板およびティーチング方法を提供する。
 本開示の一態様による治具基板は、搬送機構のティーチング方法に用いる治具基板であって、第1のカメラと、第2のカメラとを有する。第1のカメラは、搬送機構のフォークの位置を検出するための第1の画像データを撮像する。第2のカメラは、基板を載置する載置台の位置を検出するための第2の画像データを撮像する。
 本開示によれば、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる。
図1は、本開示の一実施形態における基板処理システムの一例を示す横断平面図である。 図2は、本開示の一実施形態における基板処理システムのティーチング時の構成の一例を示す図である。 図3は、本実施形態における治具ウエハの一例を示す図である。 図4は、治具ウエハにおけるカメラ搭載位置の一例を示す図である。 図5は、治具ウエハにおけるカメラ近傍の断面の一例を示す部分断面図である。 図6は、フォークの中心を検出する場合の一例を示す断面図である。 図7は、フォークの中心を検出する場合の一例を示す上面図である。 図8は、第1のカメラとフォークとの関係の一例を示す図である。 図9は、プリズムの向きと撮像画像の一例を示す図である。 図10は、撮像画像からZ軸の高さを求めるグラフの一例を示す図である。 図11は、載置台の中心を検出する場合の一例を示す断面図である。 図12は、載置台の中心を検出する場合の一例を示す上面図である。 図13は、第2のカメラとマークとの関係の一例を示す図である。 図14は、図13における座標算出の一例を示す図である。 図15は、第2のカメラとエッジとの関係の一例を示す図である。 図16は、図15における座標算出の一例を示す図である。 図17は、本実施形態におけるティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図18は、EFEMロボットのティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図19は、アライナ一次ティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図20は、アライナおよびMTBの断面の一例を示す図である。 図21は、アライナ一次ティーチング処理におけるフォークの動きの一例を示す図である。 図22は、探りマッピングの一例を示す図である。 図23は、探りマッピングの一例を示す図である。 図24は、探りマッピングの一例を示す図である。 図25は、LPティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図26は、FOUPのスロットに対するZ位置の仮決めの一例を示す図である。 図27は、スロット内の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図28は、図27における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。 図29は、アライナ二次ティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図30は、治具ウエハをアライナに載置した状態の一例を示す図である。 図31は、アライナに載置した治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図32は、図31における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。 図33は、MTBティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図34は、EFEMロボットのLLMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図35は、EFEMロボットのLLMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図36は、LLMのドグに対する探りマッピングの一例を示す図である。 図37は、LLMの載置台上空の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図38は、図37における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。 図39は、治具ウエハをリフトピンに載置した状態の一例を示す図である。 図40は、リフトピン上の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図41は、図40における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。 図42は、真空搬送ロボット#1のティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図43は、真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図44は、PMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図45は、PMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図46は、PMの載置台上空の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図47は、図46における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。 図48は、リフトピン上の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図49は、図48における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。 図50は、パスティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図51は、治具ウエハをパスに載置した状態の一例を示す図である。 図52は、パスに載置した治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。 図53は、図52における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。 図54は、真空搬送ロボット#2のティーチング処理の一例を示すフローチャートである。 図55は、変形例における治具ウエハと撮像画像の一例を示す図である。
 以下に、開示する治具基板およびティーチング方法の実施形態について、図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下の実施形態により開示技術が限定されるものではない。
 近年、プロセスの性能向上のために、基板処理システムにおける装置の搬送精度の向上が求められている。搬送精度の向上には、搬送機構に対してティーチングを行うことが知られている。ところが、搬送機構のティーチングにおいて、装置内を大気開放し、基準となる基板(以下、ウエハともいう。)を人の手で載置台に載置して行う方法では、給排気時間とクリーニング時間が必要となり、ダウンタイムが長くなっていた。これに対し、上述のように、カメラ等のセンサを設けた検査用基板を用いることで、人の手を介さずに真空中で検査用基板を搬送し、搬送機構が載置台に基板を受け渡す搬送位置を補正することが提案されている。しかしながら、当該検査用基板では、フォーク自体の高さ方向の位置を補正することは難しい。また、画像の撮像時において、検査用基板が静止していることを確認することが困難である。そこで、検査用基板(治具基板)が静止していることを確認しつつ、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることが期待されている。
[基板処理システム1の構成]
 図1は、本開示の一実施形態における基板処理システムの一例を示す横断平面図である。図1に示す基板処理システム1は、枚葉でウエハ(例えば、半導体ウエハ。)にプラズマ処理等の各種処理を施すことが可能な基板処理システムである。
 基板処理システム1は、処理システム本体10と、処理システム本体10を制御する制御装置100とを備える。処理システム本体10は、例えば図1に示すように、真空搬送室11a,11bと、複数のプロセスモジュール13と、複数のロードロックモジュール14と、EFEM(Equipment Front End Module)15とを備える。なお、以下の説明では、真空搬送室11a,11bをVTM(Vacuum Transfer Module)11a,11b、プロセスモジュール13をPM(Process Module)13、ロードロックモジュール14をLLM(Load Lock Module)14とも表現する。
 VTM11a,11bは、それぞれ平面視において略四角形状を有する。VTM11a,11bは、対向する2つの側面にそれぞれ複数のPM13が接続されている。また、VTM11aの他の対向する2つの側面のうち、一方の側面にはLLM14が接続され、他方の側面にはVTM11bと接続するためのパス19が接続されている。VTM11bは、パス19を介してVTM11aと接続されている。VTM11a,11bは、真空室を有し、内部にロボットアーム12a,12bが配置されている。
 ロボットアーム12a,12bは、旋回、伸縮、昇降自在に構成されている。ロボットアーム12a,12bは、先端に配置されたフォーク120にウエハを載置することで、PM13、LLM14およびパス19の間でウエハを搬送することができる。ロボットアーム12a,12bは、搬送機構の一例である。なお、ロボットアーム12a,12bは、PM13、LLM14およびパス19の間でウエハを搬送することが可能であればよく、図1に示される構成に限定されるものではない。
 PM13は、処理室を有し、内部に配置された円柱状の載置台130を有する。載置台130は、上面から突出自在な複数の細棒状の3つのリフトピン131を有する。各リフトピン131は平面視において同一円周上に配置され、載置台130の上面から突出することによって載置台130に載置されたウエハを支持して持ち上げると共に、載置台130内へ退出することによって支持するウエハを載置台130へ載置させる。PM13は、載置台130にウエハが載置された後、内部を減圧して処理ガスを導入し、さらに内部に高周波電力を印加してプラズマを生成し、プラズマによってウエハにプラズマ処理を施す。VTM11a,11bとPM13とは、開閉自在なゲートバルブ132で仕切られている。
 LLM14は、VTM11aとEFEM15との間に配置されている。LLM14は、内部を真空、大気圧に切り換え可能な内圧可変室を有し、内部に配置された円柱状の載置台140を有する。LLM14は、ウエハをEFEM15からVTM11aへ搬入する際、内部を大気圧に維持してEFEM15からウエハを受け取った後、内部を減圧してVTM11aへウエハを搬入する。また、ウエハをVTM11aからEFEM15へ搬出する際、内部を真空に維持してVTM11aからウエハを受け取った後、内部を大気圧まで昇圧してEFEM15へウエハを搬入する。載置台140は、上面から突出自在な複数の細棒状の3つのリフトピン141を有する。各リフトピン141は平面視において同一円周上に配置され、載置台140の上面から突出することによってウエハを支持して持ち上げると共に、載置台140内へ退出することによって支持するウエハを載置台140へ載置させる。LLM14とVTM11aとは、開閉自在なゲートバルブ142で仕切られている。また、LLM14とEFEM15とは、開閉自在なゲートバルブ143で仕切られている。なお、2つのLLM14の間には、LLM14の高さ(Z軸)を決定するドグ20が設けられている。ドグ20は、2つのLLM14のゲートバルブ143が開放された状態で、後述するフォーク151の先端に設けられたマッピングセンサ151aによって検出される。マッピングセンサ151aは、例えば、フォーク151の両側の歯の先端内側に対向するように設けられた遮光センサである。
 EFEM15は、VTM11aに対向して配置されている。EFEM15は、直方体状であり、FFU(Fan Filter Unit)を備え、大気圧雰囲気に保持された大気搬送室である。EFEM15の長手方向に沿った一の側面には、2つのLLM14が接続されている。EFEM15の長手方向に沿った他の側面には、4つのロードポート(LP:Load Port)16が接続されている。LP16には、複数のウエハを収容する容器であるFOUP(Front-Opening Unified Pod)(図示せず)が載置される。EFEM15の短手方向に沿った一の側面には、アライナ17およびMTB(Mapping temporary Buffer)18が接続されている。また、EFEM15内には、ロボットアーム150が配置されている。
 ロボットアーム150は、ガイドレールに沿って移動自在に構成されると共に、旋回、伸縮、昇降自在に構成される。ロボットアーム150は、先端に配置されたフォーク151にウエハを載置することで、LP16のFOUP、アライナ17、MTB18およびLLM14の間でウエハを搬送することができる。ロボットアーム150は、搬送機構の一例である。なお、ロボットアーム150は、FOUP、アライナ17、MTB18およびLLM14の間でウエハを搬送することが可能であればよく、図1に示される構成に限定されるものではない。
 アライナ17は、ウエハの位置合わせを行う。アライナ17は、駆動モータ(図示せず)によって回転される回転ステージ(図示せず)を有する。回転ステージは、例えばウエハの直径よりも小さい直径を有し、上面にウエハを載置した状態で回転可能に構成されている。回転ステージの近傍には、ウエハの外周縁を検知するための光学センサが設けられている。アライナ17では、光学センサにより、ウエハの中心位置およびウエハの中心に対するノッチの方向が検出され、ウエハの中心位置およびノッチの方向が所定位置および所定方向となるように、フォーク151にウエハが受け渡される。これにより、LLM14内においてウエハの中心位置およびノッチの方向が所定位置および所定方向となるように、ウエハの搬送位置が調整される。また、アライナ17の直下には、MTB18が設けられ、ウエハを一時的に退避することができる。
 パス19は、VTM11aとVTM11bとの間に配置されている。パス19は、VTM11aとVTM11bとの間でウエハの受け渡しを行うためのパスステージ190を有する。パスステージ190は、例えばウエハの直径およびフォーク120の歯間よりも小さい直径を有するように構成されている。
 基板処理システム1は、制御装置100を有する。制御装置100は、例えばコンピュータであり、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、補助記憶装置等を備える。CPUは、ROMまたは補助記憶装置に格納されたプログラムに基づいて動作し、基板処理システム1の各構成要素の動作を制御する。
[基板処理システム1のティーチング時の構成]
 図2は、本開示の一実施形態における基板処理システムのティーチング時の構成の一例を示す図である。図2に示すように、基板処理システム1の搬送機構をティーチングする場合には、治具ウエハ200と、情報処理装置300とを基板処理システム1の制御装置100に接続する。
 制御装置100は、ティーチング時において、情報処理装置300に任意の位置に対するティーチングを司令する。また、制御装置100は、情報処理装置300からウエハの載置位置やフォークのタッチポジションに関する情報を取得して、ロボット制御装置5を制御するための搬送位置データに反映する。なお、ロボット制御装置5は、ロボットアーム12a,12b,150を制御する制御装置である。
 治具ウエハ200は、各モジュール内に搬送され、載置台やフォークの画像を撮像して情報処理装置300に送信する、搬送機構のティーチング用の治具である。治具ウエハ200は、第1のカメラ202、第2のカメラ204、制御部210、通信部211、モーションセンサ212およびバッテリ213を有する。モーションセンサ212には、ジャイロセンサおよび加速度センサが含まれる。
 第1のカメラ202および第2のカメラ204は、それぞれ複数のカメラであり、フォークおよび載置台を撮像する。制御部210は、通信部211を介して情報処理装置300から受信した司令に基づいて、第1のカメラ202および第2のカメラ204により撮像画像を取得する。また、制御部210は、受信した司令に基づいて、モーションセンサ212により角速度データや加速度データ等を取得する。制御部210は、取得した撮像画像と、角速度データや加速度データ等とを、通信部211を介して情報処理装置300に送信する。通信部211は、無線通信モジュールであり、例えば、Bluetooth(登録商標)やWi-Fi(登録商標)等のモジュールを用いることができる。モーションセンサ212は、治具ウエハ200の角速度等を測定し、測定データを制御部210に出力する。バッテリ213は、治具ウエハ200の各部に電源を供給する。バッテリ213は、例えば、リチウムイオン二次電池やリチウムイオンポリマー二次電池を用いることができる。
 情報処理装置300は、例えばパーソナルコンピュータであり、制御装置100から受け付けたティーチングの司令に基づいて、治具ウエハ200を用いて各種のデータを取得し演算等を行う。情報処理装置300は、第1通信部301、第2通信部302および制御部303を有する。第1通信部301は、無線通信モジュールであり、例えば、Bluetooth(登録商標)やWi-Fi(登録商標)等のモジュールを用いることができる。第1通信部301は、治具ウエハ200の通信部211との間で通信を行う。第2通信部302は、例えばNIC(Network Interface Card)であり、有線または無線で制御装置100との間で通信を行う。
 制御部303は、CPU、RAM、ROM、補助記憶装置等を備える。CPUは、ROMまたは補助記憶装置に格納されたプログラムに基づいて動作し、情報処理装置300におけるティーチング処理等の情報処理を実行する。制御部303は、制御装置100からティーチングの司令を受け付けると、治具ウエハ200に対するデータ取得、取得したデータに基づく画像処理や位置の算出等の各種の処理を実行する。また、制御部303は、図示しない記憶部に撮像画像や測定データ等のログを記憶する。なお、情報処理装置300は、基板処理システム1に内蔵してもよいし、制御装置100が情報処理装置300における各種処理を実行するようにしてもよい。
[治具ウエハ]
続いて、治具ウエハ200について説明する。なお、以下の説明では、VTM11a,11b、PM13、LLM14およびEFEM15といったモジュールを基準とした座標をXYZ軸で表し、治具ウエハ200を基準とした座標をxy軸で表す。
 図3は、本実施形態における治具ウエハの一例を示す図である。図3に示すように、治具ウエハ200におけるカメラは、ベースウエハ201上に、複数(例えば2つ)の第1のカメラ202と、複数(例えば3つ)の第2のカメラ204とを有する。ベースウエハ201は、製品用ウエハと同一サイズのウエハであることが好ましい。ベースウエハ201として製品用ウエハと同一サイズのウエハを用いることで、複数のモジュールの間で治具ウエハ200を製品用ウエハと同様に搬送できる。具体的には、例えば直径が300mmの製品用ウエハを用いる場合、ベースウエハ201として直径が300mmのウエハを用いることが好ましい。なお、図3において図示はしないが、治具ウエハ200は、上述のモーションセンサ212も有する。
 第1のカメラ202は、ベースウエハ201に対してフォークが接触する位置の、例えば同一円周上に配置されている。例えば、それぞれの第1のカメラ202は、ベースウエハ201の中心を基準としたxy軸のうち、同一円周上に2箇所設けることが好ましい。それぞれの第1のカメラ202は、後述するプリズム203aおよびベースウエハ201に形成された開口203を介してベースウエハ201の下方を撮影可能に構成されている。
 第2のカメラ204は、ベースウエハ201の表面の外周縁部に、例えば同一円周上に配置されている。例えば、それぞれの第2のカメラ204は、ベースウエハ201の中心を基準としたxy軸のうち、同一円周上に3箇所設けることが好ましい。それぞれの第2のカメラ204は、後述するプリズム205aおよびベースウエハ201に形成された開口205を介してベースウエハ201の下方を撮影可能に構成されている。
 次に図4を用いて、第1のカメラ202および第2のカメラ204の搭載位置の詳細について説明する。図4は、治具ウエハにおけるカメラ搭載位置の一例を示す図である。図4に示すように、第1のカメラ202は、ベースウエハ201の負側のx軸近傍の位置に第1のカメラ202aが配置され、正側のx軸近傍の位置に第1のカメラ202bが配置される。第2のカメラ204は、ベースウエハ201のxy座標における第二象限の位置に第2のカメラ204aが配置され、第一象限の位置に第2のカメラ204bが配置され、第三象限の位置に第2のカメラ204cが配置される。
 図5は、治具ウエハにおけるカメラ近傍の断面の一例を示す部分断面図である。図5に示すように、第2のカメラ204は、光軸がベースウエハ201と平行になるように設置され、プリズム205aおよび開口205を介して、治具ウエハ200の下方向を撮像可能となっている。このように、プリズム205aを用いることで、治具ウエハ200の厚さを薄くすることができる。なお、第1のカメラ202およびプリズム203aも同様に設置されている。なお、図示はしないが、プリズム203a,205aの近傍には、照明用のLED(Light Emitting Diode)が設けられている。
 続いて、図6から図10を用いてフォークの中心の検出について説明する。図6は、フォークの中心を検出する場合の一例を示す断面図である。図7は、フォークの中心を検出する場合の一例を示す上面図である。図6および図7に示すように、例えば、LLM14の載置台140において、リフトピン141に治具ウエハ200が載置された状態で、フォーク120またはフォーク151を、矢印121に示すように載置台140と治具ウエハ200の間のタッチポジションに移動させる。第1のカメラ202は、プリズム203aおよび開口203を介して、フォーク120またはフォーク151の歯に設けられた位置検出用のターゲットとなるマーク122またはマーク152を撮像する。なお、マーク122,152は、暗所用に蓄光材を用いたマークとしてもよい。
 図8は、第1のカメラとフォークとの関係の一例を示す図である。図7および図8に示すように、フォーク120またはフォーク151の左側の歯では、プリズム203a1を介して第1のカメラ202aで、歯に設けられたマーク122またはマーク152が撮像される。また、右側の歯では、プリズム203a2を介して第1のカメラ202bで、歯に設けられたマーク122またはマーク152が撮像される。次に、第1のカメラ202bを一例としてZ軸の座標検出について説明する。
 図9は、プリズムの向きと撮像画像の一例を示す図である。図9に示すように、プリズム203a2は、治具ウエハ200のx軸から回転した状態で配置されているため、撮像画像220も同様に回転した状態となる。撮像画像220には、マーク122が撮像されており、マーク122の2つの円形の点が含まれている。情報処理装置300は、円形のエッジ検出を行って2つの点の中心座標間の点間距離122aを算出する。なお、マーク152についても同様に点間距離を算出することができる。
 図10は、撮像画像からZ軸の高さを求めるグラフの一例を示す図である。情報処理装置300は、図10に示す予め計測された点間距離と、フォーク120,151から治具ウエハ200までの高さを対応付けたグラフ221から求めた式に基づいて、フォーク120,151の高さ、つまりZ軸の座標を算出する。情報処理装置300は、算出したZ軸の座標と、タッチポジションの目標値とに基づいて、タッチポジションまでの距離を示すタッチポジション値を算出する。情報処理装置300は、後述する載置台の中心から算出したXY軸のズレ量と、タッチポジション値とに基づいて、フォーク120,151のタッチポジションにおける3軸の値を求めることができる。
 次に、図11から図16を用いて載置台の中心の検出について説明する。図11は、載置台の中心を検出する場合の一例を示す断面図である。図12は、載置台の中心を検出する場合の一例を示す上面図である。図11および図12に示すように、例えば、PM13またはLLM14において、矢印123に示すように、治具ウエハ200を載置したフォーク120またはフォーク151を、載置台130または載置台140の上空まで移動させる。第2のカメラ204は、プリズム205aおよび開口205を介して、載置台130または載置台140のエッジ133、または、位置検出用のターゲットとなるマーク144を撮像する。
 図13は、第2のカメラとマークとの関係の一例を示す図である。図13に示すように、載置台140では、載置台140の周縁部に設けたマーク144が、プリズム205a1~205a3をそれぞれ介して、第2のカメラ204a~204cで撮像される。このとき、第2のカメラ204bを例とすると、第2のカメラ204bの光軸230は、治具ウエハ200の基準座標(0,0)を通る直線と重なる。つまり、撮像画像のxy軸と治具ウエハ200のxy軸とが異なる状態である。
 図14は、図13における座標算出の一例を示す図である。図14では、フォーク151の正規位置に治具ウエハ200が載置されているものとする。図14に示すように、プリズム205a2は、治具ウエハ200のx軸から回転した状態で配置されているが、撮像画像222は、光軸230をy’軸とした画像となる。撮像画像222には、マーク144の一例である穴223が撮像されている。なお、マーク144は、暗所用に蓄光材を用いたマークとしてもよい。情報処理装置300は、円形のエッジ検出を行って、穴223の撮像画像222における中心座標を算出する。ここで、撮像画像222の撮像範囲は、予め治具ウエハ200ごとに校正されており、撮像画像222の中心座標224が穴223の中心座標と一致すると、載置台140の中心に治具ウエハ200が位置するように校正されているものとする。従って、情報処理装置300は、穴223の中心座標と、撮像画像222の中心座標224との差分225,226を算出することで、載置台140におけるフォーク151のXY軸のズレ量を算出することができる。
 情報処理装置300は、撮像画像222を光軸230が治具ウエハ200のxy軸の座標に合うように回転させて、撮像画像222のx’y’軸と治具ウエハ200のxy軸とを合わせた撮像画像222aを生成する。つまり、情報処理装置300は、撮像画像222における穴223の中心座標および中心座標224を、治具ウエハ200のxy軸の座標に変換する。情報処理装置300は、第2のカメラ204a,204cで撮像された撮像画像からも同様に、治具ウエハ200のxy軸における、穴223の中心座標および中心座標224の座標を求める。情報処理装置300は、3箇所の穴223の中心座標に基づいて、載置台140の中心座標のXY値を求め、3箇所の差分225,226に対応する変換後の座標に基づいて、現在の治具ウエハ200の中心座標のXY値を求める。情報処理装置300は、載置台140の中心座標のXY値と、現在の治具ウエハ200の中心座標のXY値とに基づいて、フォーク151のXY軸のズレ量を算出する。
 図15は、第2のカメラとエッジとの関係の一例を示す図である。図15に示すように、載置台130では、載置台130の周縁部のエッジ133が、プリズム205a1~205a3をそれぞれ介して、第2のカメラ204a~204cで撮像される。このとき、第2のカメラ204bを例とすると、第2のカメラ204bの光軸230は、治具ウエハ200の基準座標(0,0)を通る直線と重なる。つまり、撮像画像のxy軸と治具ウエハ200のxy軸とが異なる状態である。
 図16は、図15における座標算出の一例を示す図である。図16に示すように、プリズム205a2は、治具ウエハ200のx軸から回転した状態で配置されているが、撮像画像231は、光軸230をy’軸とした画像となる。撮像画像231には、エッジ133の一例であるエッジ232が撮像されている。なお、撮像画像231では、光軸230が通る中心のエッジ232の部分に丸印を付している。情報処理装置300は、エッジ検出を行って、エッジ232の撮像画像231における座標を検出する。ここで、撮像画像231の撮像範囲は、予め治具ウエハ200ごとに校正されており、撮像画像231の中心座標233が、エッジ232のy’軸の値と一致すると、載置台130の中心に治具ウエハ200が位置するように校正されているものとする。従って、情報処理装置300は、エッジ232のy’軸の値と、撮像画像231の中心座標233のy’軸の値との差分234を算出することで、載置台130におけるフォーク120のXY軸のズレ量を算出することができる。
 情報処理装置300は、撮像画像231を光軸230が治具ウエハ200のxy軸の座標に合うように回転させて、撮像画像231のx’y’軸と治具ウエハ200のxy軸とを合わせた撮像画像231aを生成する。つまり、情報処理装置300は、撮像画像231におけるエッジ232の座標および中心座標233を、治具ウエハ200のxy軸の座標に変換する。情報処理装置300は、第2のカメラ204a,204cで撮像された撮像画像からも同様に、治具ウエハ200のxy軸における、エッジ232の座標および中心座標233を求める。情報処理装置300は、3箇所のエッジ232の座標に基づいて、載置台130の中心座標のXY値を求め、3箇所の差分234に対応する変化後の座標に基づいて、現在の治具ウエハ200の中心座標のXY値を求める。情報処理装置300は、載置台130の中心座標のXY値と、現在の治具ウエハ200の中心座標のXY値とに基づいて、フォーク120のXY軸のズレ量を算出する。
[ティーチング方法]
 次に、本実施形態の基板処理システム1のティーチング時の動作について説明する。図17は、本実施形態におけるティーチング処理の一例を示すフローチャートである。なお、以下の説明において、基板処理システム1の各構成要素の動作は、制御装置100によって制御され、ティーチングは、情報処理装置300によって制御される。また、本実施形態におけるティーチング処理は、大気圧、室温環境で実行する。
 まず、作業者によって、水平調整や高さ調整といったメカ調整、治具ウエハ200を格納したFOUPのセット、ティーチング箇所の選択といった事前準備が行われる(ステップS1)。本実施形態では、処理システム本体10の各構成要素について一通りティーチングを行う場合について説明する。
 事前準備が整うと、情報処理装置300は、EFEMロボットのティーチング処理を実行する(ステップS2)。ここで、図18を用いてEFEMロボットのティーチング処理について説明する。図18は、EFEMロボットのティーチング処理の一例を示すフローチャートである。
 情報処理装置300は、まず、アライナ一次ティーチング処理を実行する(ステップS21)。ここで、図19を用いてアライナ一次ティーチング処理について説明する。また、図20および図21を用いて、アライナ17およびMTB18の断面と、フォーク151の動きとを合わせて説明する。図19は、アライナ一次ティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図20は、アライナおよびMTBの断面の一例を示す図である。図21は、アライナ一次ティーチング処理におけるフォークの動きの一例を示す図である。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、フォーク151をアライナ17に移動するように指示する(ステップS211)。図20に示すように、アライナ17は、回転ステージ17aにペデスタル170を有する。なお、MTB18は、アライナの直下に位置し、載置台18aを有する。図21に示すように、ロボットアーム150は、アライナ17まで移動して、フォーク151をペデスタル170まで伸ばし、フォーク151の歯の先端に設けられたマッピングセンサ151aを用いて、ペデスタル170に対して探りマッピングを実行する(ステップS212)。
 図22から図24は、探りマッピングの一例を示す図である。なお、図22から図24では、ペデスタル170の検出の場合について説明するが、LP16のFOUPにおける治具ウエハ200の検出、MTB18における載置台18aの検出、LLM14におけるドグ20の検出についても同様であるので、その説明は省略する。
 図22に示すように、ロボットアーム150は、フォーク151を移動させ、歯の先端に設けられたマッピングセンサ151aを初期位置240まで移動させる。次に、ロボットアーム150は、フォーク151のマッピングセンサ151aを探り動作の開始位置241まで移動させ、サーチ幅242および前進方向の幅243で上下に動かすことで、歯の先端に設けられたマッピングセンサ151aでペデスタル170を検出する。なお、サーチ幅242および幅243は、例えば、それぞれ10mmおよび1mmとすることができる。探り動作は、サーチオフセット244の前進方向の終端まで行われる。なお、サーチオフセット244は、例えば、10mmとすることができる。ロボットアーム150は、ペデスタル170を検出箇所245で検出すると、当該上下動の下側の位置246までフォーク151のマッピングセンサ151aを移動させる。なお、ロボットアーム150は、下から上への探り動作中にペデスタル170を検出した場合は、上側の位置までフォーク151のマッピングセンサ151aを移動させる。
 図23に示すように、ロボットアーム150は、フォーク151のマッピングセンサ151aを幅243分だけ前進方向に移動させてから、上側の位置249まで移動速度を落として上方向に移動させる。ロボットアーム150は、マッピングセンサ151aが立ち上がりエッジを検出したボトム位置247と、立ち下がりエッジを検出したトップ位置248とを記録する。
 図24に示すように、ロボットアーム150は、フォーク151のマッピングセンサ151aを上側の位置249からZ軸の位置(高さ)を変えずに、後退位置250まで移動させる。ロボットアーム150は、ボトム位置247およびトップ位置248のZ軸位置と、フォークのXY軸の移動量251とを制御装置100に出力する。制御装置100は、ボトム位置247およびトップ位置248のZ軸位置に基づいて、ロボットアーム150のホーム位置240aからのZ軸駆動量252,253を算出し、移動量251とともにロボットアーム150のティーチング位置に反映する。制御装置100は、ティーチング位置を情報処理装置300に送信する。情報処理装置300は、ティーチング位置に基づいて、フォーク151の位置を仮決めし(ステップS213)、元の処理に戻る。
 図18の説明に戻る。情報処理装置300は、LPティーチング処理を実行する(ステップS22)。ここで、図25から図28を用いてLPティーチング処理について説明する。図25は、LPティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図26は、FOUPのスロットに対するZ位置の仮決めの一例を示す図である。図27は、スロット内の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図28は、図27における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、フォーク151をLP16に移動するように指示する(ステップS221)。ロボットアーム150は、図26に示すように、LP16に載置されたFOUP内のスロット#13の治具ウエハ200、および、スロット#1,#25のダミーウエハDWに対して、探りマッピングを実行し、フォーク151のZ軸の位置を仮決めする(ステップS222)。
 ロボットアーム150は、図27に示すように、スロット#13にフォーク151を挿入し、撮像位置まで移動させる(ステップS223)。このとき、治具ウエハ200とフォーク151との距離260は、予め定めた所定値とする。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク151が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。図28に示すように、治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、フォーク151のマーク152をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク151の根元側となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS224)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、XYZ軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS225)。
 制御装置100は、受信したズレ量について、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS226)。制御装置100は、ズレ量の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS227)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS227:Yes)、ズレ量に基づいて、フォーク151の位置を調整し(ステップS228)、元の処理に戻る。すなわち、制御装置100は、FOUP内のスロットにおけるフォーク151の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS227:No)、調整は行わずに元の処理に戻る。
 図18の説明に戻る。情報処理装置300は、LPティーチング処理が完了すると、全てのLP16がLPティーチング処理を完了したか否かを判定する(ステップS23)。情報処理装置300は、全てのLP16が完了していないと判定した場合(ステップS23:No)、ステップS22に戻り、残りのLP16についてLPティーチング処理を実行する。なお、この場合、治具ウエハ200を格納したFOUPのLP16間の移動は作業者が行ってもよいし、予め全てのLP16に治具ウエハ200を格納したFOUPをセットしておいてもよい。情報処理装置300は、全てのLP16が完了したと判定した場合(ステップS23:Yes)、アライナ二次ティーチング処理を実行する(ステップS24)。
 ここで、図29から図32を用いてアライナ二次ティーチング処理について説明する。図29は、アライナ二次ティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図30は、治具ウエハをアライナに載置した状態の一例を示す図である。図31は、アライナに載置した治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図32は、図31における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、FOUPの治具ウエハ200をフォーク151で取得するように指示する(ステップS241)。ロボットアーム150は、図30に示すように、取得した治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに載置する(ステップS242)。制御装置100は、アライナ17の回転ステージ17aを回転させ、偏心量に基づいてXY軸の位置のオフセット値を算出する(ステップS243)。
 ロボットアーム150は、治具ウエハ200を回転ステージ17aからフォーク151で取得する(ステップS244)。制御装置100は、算出したオフセット値を反映して、ロボットアーム150に治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに載置するよう指示する。ロボットアーム150は、指示に基づいて、治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに載置する(ステップS245)。
 制御装置100は、アライナ17の回転ステージ17aを回転させ、偏心量に基づいてXY軸の位置を仮決めする(ステップS246)。なお、回転ステージ17aのオフセット値の算出、および、XY軸の位置の仮決めについては、治具ウエハ200に代えてベアシリコンウエハ等のダミーウエハDWを用いてもよい。制御装置100は、ロボットアーム150に対して、フォーク151をアライナ17に移動するよう指示する。ロボットアーム150は、図31に示すように、フォーク151のマーク152が治具ウエハ200の第1のカメラ202で撮像可能な撮像位置まで、フォーク151を移動させる(ステップS247)。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク151が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。図32に示すように、治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、フォーク151のマーク152をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク151の根元側となっている。また、フォーク151の歯と回転ステージ17aとは、干渉しない位置となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS248)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、アライナ17におけるタッチポジションを決定し、制御装置100に送信する(ステップS249)。制御装置100は、決定したタッチポジションに基づいて、アライナ17におけるフォーク151の搬送位置データを補正し、元の処理に戻る。
 図18の説明に戻る。情報処理装置300は、MTBティーチング処理を実行する(ステップS25)。ここで、図33を用いてMTBティーチング処理について説明する。図33は、MTBティーチング処理の一例を示すフローチャートである。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、フォーク151をMTB18に移動するように指示する。ロボットアーム150は、フォーク151をMTB18に移動する(ステップS251)。ロボットアーム150は、MTB18の載置台18aに対して探りマッピングを実行する(ステップS252)。制御装置100は、探りマッピングの結果に基づいて、タッチポジションを仮決めする(ステップS253)。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、アライナ17の治具ウエハ200をフォーク151で取得してMTB18に一度載置し、載置した治具ウエハ200を再度フォーク151で取得するよう指示する。ロボットアーム150は、アライナ17の回転ステージ17aに載置された治具ウエハ200をフォーク151で取得して、MTB18の載置台18aに載置する(ステップS254)。
 ロボットアーム150は、MTB18の載置台18aに載置された治具ウエハ200をフォーク151で取得して、アライナ17の回転ステージ17aに載置する(ステップS255)。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク151が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、フォーク151のマーク152をそれぞれ撮像する。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS256)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、MTB18におけるタッチポジションを決定し、制御装置100に送信する(ステップS257)。制御装置100は、決定したタッチポジションに基づいて、MTB18におけるフォーク151の搬送位置データを補正する。ロボットアーム150は、情報処理装置300の指示に基づいて、治具ウエハ200をアライナ17を介してLP16に移動し(ステップS258)、元の処理に戻る。
 図18の説明に戻る。情報処理装置300は、ロボットアーム150のLLM14に対するティーチングである、EFEMロボットのLLMティーチング処理を実行する(ステップS26)。ここで、図34から図41を用いてEFEMロボットのLLMティーチング処理について説明する。図34および図35は、EFEMロボットのLLMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図36は、LLMのドグに対する探りマッピングの一例を示す図である。図37は、LLMの載置台上空の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図38は、図37における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。図39は、治具ウエハをリフトピンに載置した状態の一例を示す図である。図40は、リフトピン上の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図41は、図40における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。
 情報処理装置300は、ティーチング対象のLLM14が、1つ目のLLM14であるか否かを判定する(ステップS261)。情報処理装置300は、1つ目のLLM14でないと判定した場合(ステップS261:No)、ステップS266に進む。
 一方、情報処理装置300は、1つ目のLLM14であると判定した場合(ステップS261:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム150に対して探りマッピングの実行を指示する。制御装置100は、全てのLLM14のゲートバルブ143を開放する。ロボットアーム150は、ゲートバルブ143が開放されると、図36に示すように、LLM14間にあるドグ20に対して探りマッピングを実行する(ステップS262)。制御装置100は、探りマッピングの結果に基づいて、タッチポジションを仮決めする(ステップS263)。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、治具ウエハ200をFOUPからアライナ17に載置するように指示する。ロボットアーム150は、FOUPから治具ウエハ200をフォーク151で取得する(ステップS264)。ロボットアーム150は、アライナ17まで移動してフォーク151の治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに載置する(ステップS265)。制御装置100は、アライナ17の回転ステージ17aを回転させて、治具ウエハ200のノッチ206をフォーク151の根元側に向ける(ステップS266)。
 ロボットアーム150は、情報処理装置300の指示に基づいて、アライナ17の回転ステージ17aに載置された治具ウエハ200をフォーク151で取得して、ティーチング対象のLLM14に移動させる(ステップS267)。ロボットアーム150は、図37に示すように、フォーク151に載置された治具ウエハ200を、LLM14の載置台140上空の撮像位置まで移動させる。このとき、載置台140の上面から治具ウエハ200の下面までの高さ261は、予め設定された所定値となるように調整される。また、治具ウエハ200は、モーションセンサ212のデータに基づいて、フォーク151の静止状態を確認してから、撮像位置までの移動を完了した旨の情報を情報処理装置300に送信するようにしてもよい。さらに、治具ウエハ200は、モーションセンサ212のデータを情報処理装置300に送信するようにしてもよい。なお、モーションセンサ212のデータは、他の撮像時でも同様に用いることができる。さらに、当該データは、例えば、水平調整、フォーク151の垂れの確認、接触タイミングのばらつき確認等に用いるようにしてもよい。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク151が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。また、情報処理装置300は、治具ウエハ200から撮像位置までの移動を完了した旨の情報を受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示するようにしてもよい。さらに、情報処理装置300は、治具ウエハ200からモーションセンサ212のデータを受信すると、受信したデータを解析して治具ウエハ200の静止状態を判定し、静止状態であると判定すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示するようにしてもよい。図38に示すように、治具ウエハ200は、自身の第2のカメラ204a,204bで、載置台140のマークである穴223をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク151の根元側となっている。また、リフトピン141は、フォーク151と干渉しない位置となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS268)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、XY軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS269)。
 制御装置100は、受信したズレ量について、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS270)。制御装置100は、ズレ量の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS271)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS271:Yes)、ズレ量に基づいて、フォーク151の位置を調整し(ステップS272)、ステップS273に進む。すなわち、制御装置100は、LLM14におけるフォーク151の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS271:No)、調整は行わずにステップS273に進む。
 図39に示すように、制御装置100は、載置台140のリフトピン141を上昇させる。ロボットアーム150は、リフトピン141に治具ウエハ200を載置する(ステップS273)。ロボットアーム150は、フォーク151のマーク152が治具ウエハ200の第1のカメラ202a,202bで撮像可能なように、図40に示す位置までフォーク151を所定距離移動させる(ステップS274)。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク151が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。図41に示すように、治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、載置台140と治具ウエハ200との間に位置するフォーク151のマーク152をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク151の根元側となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS275)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、タッチポジションまでの距離、つまり、フォーク151から治具ウエハ200までの高さ(Z軸)を算出し、制御装置100に送信する(ステップS276)。
 制御装置100は、受信したタッチポジションまでの距離に基づいて、タッチポジションの座標のZ軸を表すタッチポジション値を算出し、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS277)。制御装置100は、タッチポジション値の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS278)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS278:Yes)、タッチポジション値に基づいて、フォーク151の位置を調整し(ステップS279)、ステップS280に進む。すなわち、制御装置100は、LLM14におけるフォーク151の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS278:No)、調整は行わずにステップS280に進む。
 ロボットアーム150は、制御装置100の指示に基づいて、載置台140に載置された治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに移動させ(ステップS280)、元の処理に戻る。
 図18の説明に戻る。情報処理装置300は、EFEMロボットのLLMティーチング処理が完了すると、全てのLLM14がEFEMロボットのLLMティーチング処理を完了したか否かを判定する(ステップS27)。情報処理装置300は、全てのLLM14が完了していないと判定した場合(ステップS27:No)、ステップS26に戻り、残りのLLM14についてEFEMロボットのLLMティーチング処理を実行する。情報処理装置300は、全てのLLM14が完了したと判定した場合(ステップS27:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム150に、治具ウエハ200をLP16のFOUPに移動させるように指示する。ロボットアーム150は、治具ウエハ200をLP16のFOUPに移動させ(ステップS28)、元の処理に戻る。
 図17の説明に戻る。情報処理装置300は、真空搬送室(VTM)11aの真空搬送ロボット#1のティーチング処理を実行する(ステップS3)。ここで、図42を用いて真空搬送ロボット#1のティーチング処理について説明する。図42は、真空搬送ロボット#1のティーチング処理の一例を示すフローチャートである。
 情報処理装置300は、VTM11aのロボットアーム12a(真空搬送ロボット#1)のLLM14に対するティーチングである、真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理を実行する(ステップS31)。ここで、図43を用いて真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理について説明する。図43は、真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。なお、治具ウエハ200と載置台140との関係等を示す図は、EFEMロボットのLLMティーチング処理と同様であるので省略する。
 情報処理装置300は、ティーチング対象のLLM14が、1つ目のLLM14であるか否かを判定する(ステップS311)。情報処理装置300は、1つ目のLLM14でないと判定した場合(ステップS311:No)、ステップS314に進む。
 一方、情報処理装置300は、1つ目のLLM14であると判定した場合(ステップS311:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム150に対して、治具ウエハ200をFOUPからアライナ17に載置するように指示する。ロボットアーム150は、FOUPから治具ウエハ200をフォーク151で取得する(ステップS312)。ロボットアーム150は、アライナ17まで移動してフォーク151の治具ウエハ200をアライナ17の回転ステージ17aに載置する(ステップS313)。制御装置100は、アライナ17の回転ステージ17aを回転させて、治具ウエハ200のノッチ206をフォーク151の先端側に向ける(ステップS314)。
 ロボットアーム150は、情報処理装置300の指示に基づいて、アライナ17の回転ステージ17aに載置された治具ウエハ200をフォーク151で取得して、ティーチング対象のLLM14に移動させる(ステップS315)。制御装置100は、載置台140のリフトピン141を上昇させる。ロボットアーム150は、リフトピン141に治具ウエハ200を載置する(ステップS316)。
 VTM11aのロボットアーム12aは、制御装置100の指示に基づいて、フォーク120を載置台140と治具ウエハ200との間に移動させる(ステップS317)。情報処理装置300は、制御装置100からフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、載置台140と治具ウエハ200の間に位置するフォーク120のマーク122をそれぞれ撮像する。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS318)。情報処理装置300は、受信した画像データに基づいて、XYZ軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS319)。
 制御装置100は、受信したズレ量について、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS320)。制御装置100は、ズレ量の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS321)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS321:Yes)、ズレ量に基づいて、フォーク120の位置を調整し(ステップS322)、ステップS323に進む。すなわち、制御装置100は、LLM14におけるフォーク120の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS321:No)、調整は行わずにステップS323に進む。
 VTM11aのロボットアーム12aは、制御装置100の指示に基づいて、フォーク120を、LLM14から真空搬送室(VTM)11aへ移動させる(ステップS323)。EFEM15のロボットアーム150は、制御装置100の指示に基づいて、リフトピン141に載置された治具ウエハ200をフォーク151で取得して、アライナ17の回転ステージ17aに移動させ(ステップS324)、元の処理に戻る。
 図42の説明に戻る。情報処理装置300は、真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理が完了すると、全てのLLM14が真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理を完了したか否かを判定する(ステップS32)。情報処理装置300は、全てのLLM14が完了していないと判定した場合(ステップS32:No)、ステップS31に戻り、残りのLLM14について真空搬送ロボット#1のLLMティーチング処理を実行する。情報処理装置300は、全てのLLM14が完了したと判定した場合(ステップS32:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム150に、治具ウエハ200をFOUPに移動させるように指示する。ロボットアーム150は、治具ウエハ200をFOUPに移動させる(ステップS33)。
 情報処理装置300は、PMティーチング処理を実行する(ステップS34)。ここで、図44から図49を用いてPMティーチング処理について説明する。図44および図45は、PMティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図46は、PMの載置台上空の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図47は、図46における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。図48は、リフトピン上の治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図49は、図48における治具ウエハと載置台の位置関係の一例を示す図である。
 情報処理装置300は、ティーチング対象のPM13が、1つ目のPM13であるか否かを判定する(ステップS341)。情報処理装置300は、1つ目のPM13でないと判定した場合(ステップS341:No)、ステップS343に進む。
 一方、情報処理装置300は、1つ目のPM13であると判定した場合(ステップS341:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム150,12aに対して、治具ウエハ200をFOUPからLLM14を経由してVTM11aまで移動するように指示する。ロボットアーム150,12aは、治具ウエハ200をLP16のFOUPからLLM14を経由して真空搬送室(VTM)11aまで移動させる(ステップS342)。
 VTM11aのロボットアーム12aは、図46に示すように、フォーク120上の治具ウエハ200を、PM13の載置台130上空の撮像位置まで移動させる(ステップS343)。このとき、載置台130の上面から治具ウエハ200の下面までの高さ262は、予め設定された所定値となるように調整される。また、治具ウエハ200は、モーションセンサ212のデータに基づいて、フォーク120の静止状態を確認してから、撮像位置までの移動を完了した旨の情報を情報処理装置300に送信するようにしてもよい。さらに、治具ウエハ200は、モーションセンサ212のデータを情報処理装置300に送信するようにしてもよい。なお、モーションセンサ212のデータは、他の撮像時においても同様に用いることができる。さらに、当該データは、例えば、水平調整、フォーク120の垂れの確認、接触タイミングのばらつき確認等に用いるようにしてもよい。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。また、情報処理装置300は、治具ウエハ200から撮像位置までの移動を完了した旨の情報を受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示するようにしてもよい。さらに、情報処理装置300は、治具ウエハ200からモーションセンサ212のデータを受信すると、受信したデータを解析して治具ウエハ200の静止状態を判定し、静止状態であると判定すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示するようにしてもよい。図47に示すように、治具ウエハ200は、自身の第2のカメラ204a,204bで、載置台130のエッジ232をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク120の根元側となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS344)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、XY軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS345)。
 制御装置100は、受信したズレ量について、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS346)。制御装置100は、ズレ量の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS347)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS347:Yes)、ズレ量に基づいて、フォーク120の位置を調整し(ステップS348)、ステップS349に進む。すなわち、制御装置100は、PM13におけるフォーク120の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS347:No)、調整は行わずにステップS349に進む。
 図48に示すように、制御装置100は、載置台130のリフトピン131を上昇させる。ロボットアーム12aは、リフトピン131に治具ウエハ200を載置する(ステップS349)。なお、リフトピン131上において、載置台130の上面から治具ウエハ200の下面までの高さ262は、フォーク120の場合と同じとする。
 情報処理装置300は、制御装置100からリフトピン131に治具ウエハ200が載置されたことを受信すると、フォーク120を治具ウエハ200の下方から退避させ、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。図49に示すように、治具ウエハ200は、自身の第2のカメラ204a,204b,204cで、載置台130のエッジ232をそれぞれ撮像する。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS350)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、XY軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS351)。なお、治具ウエハ200は、リフトピン131に対応する接触センサ207を設け、全ての接触センサ207でリフトピン131の接触を確認してから撮像を行ってもよい。
 制御装置100は、受信したズレ量について、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS352)。制御装置100は、ズレ量の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS353)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS353:Yes)、ズレ量に基づいて、フォーク120の位置を調整し(ステップS354)、ステップS355に進む。すなわち、制御装置100は、PM13におけるフォーク120の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS353:No)、調整は行わずにステップS355に進む。
 ロボットアーム12aは、フォーク120のマーク122が治具ウエハ200の第1のカメラ202a,202bで撮像可能なように、フォーク120を所定距離移動させる(ステップS355)。
 情報処理装置300は、制御装置100からフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、載置台130と治具ウエハ200の間に位置するフォーク120のマーク122をそれぞれ撮像する。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS356)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、タッチポジションまでの距離、つまり、フォーク120から治具ウエハ200までの高さ(Z軸)を算出し、制御装置100に送信する(ステップS357)。
 制御装置100は、受信したタッチポジションまでの距離に基づいて、タッチポジションの座標のZ軸を表すタッチポジション値を算出し、予め設定された許容範囲内であるか否かを確認する(ステップS358)。制御装置100は、タッチポジション値の確認の結果、調整が必要であるか否かを判定する(ステップS359)。制御装置100は、調整が必要であると判定した場合(ステップS359:Yes)、タッチポジション値に基づいて、フォーク120の位置を調整し(ステップS360)、ステップS361に進む。すなわち、制御装置100は、PM13におけるフォーク120の搬送位置データを補正する。一方、制御装置100は、調整が必要でないと判定した場合(ステップS360:No)、調整は行わずにステップS361に進む。
 ロボットアーム12aは、制御装置100の指示に基づいて、載置台130に載置された治具ウエハ200を、PM13からVTM11aに移動させ(ステップS361)、元の処理に戻る。
 図42の説明に戻る。情報処理装置300は、PMティーチング処理が完了すると、VTM11aに接続されている全てのPM13がPMティーチング処理を完了したか否かを判定する(ステップS35)。情報処理装置300は、VTM11aに接続されている全てのPM13が完了していないと判定した場合(ステップS35:No)、ステップS34に戻り、残りのPM13についてPMティーチング処理を実行する。情報処理装置300は、VTM11aに接続されている全てのPM13が完了したと判定した場合(ステップS35:Yes)、制御装置100を介してロボットアーム12a,150に、治具ウエハ200を真空搬送室(VTM)11aからLLM14およびアライナ17を経由してLP16のFOUPまで移動させるように指示する。ロボットアーム12a,150は、治具ウエハ200をVTM11aからLLM14およびアライナ17を経由してLP16のFOUPに移動させる(ステップS36)。
 情報処理装置300は、パスティーチング処理を実行する(ステップS37)。ここで、図50から図53を用いてパスティーチング処理について説明する。図50は、パスティーチング処理の一例を示すフローチャートである。図51は、治具ウエハをパスに載置した状態の一例を示す図である。図52は、パスに載置した治具ウエハによる撮像の一例を示す図である。図53は、図52における治具ウエハとフォークの位置関係の一例を示す図である。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム150,12aに対して、治具ウエハ200をFOUPからアライナ17およびLLM14を経由してVTM11a(VTM#1)まで移動するように指示する。ロボットアーム150,12aは、治具ウエハ200をLP16のFOUPからアライナ17およびLLM14を経由して真空搬送室(VTM)11a(VTM#1)まで移動させる(ステップS371)。
 VTM11a(VTM#1)のロボットアーム12aは、フォーク120に載置された治具ウエハ200を、パス19のパスステージ190上空の撮像位置まで移動させる。情報処理装置300は、制御装置100からフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、自身の第2のカメラ204a,204bで、パスステージ190の周縁部に設けたマークをそれぞれ撮像する。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS372)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、XY軸のズレ量を算出し、制御装置100に送信する(ステップS373)。制御装置100は、受信したズレ量に基づいて、パス19におけるフォーク120の位置を調整する(ステップS374)。ロボットアーム12aは、図51に示すように、フォーク120上の治具ウエハ200を、パス19のパスステージ190に載置する(ステップS375)。ロボットアーム12aは、図52に示すように、フォーク120のマーク122が治具ウエハ200の第1のカメラ202a,202bで撮像可能なように、フォーク120をタッチポジションのダウン位置に移動させる(ステップS376)。
 情報処理装置300は、制御装置100からVTM11a(VTM#1)のフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、図53に示すように、自身の第1のカメラ202a,202bで、フォーク120のマーク122をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、フォーク120の根元側となっている。また、フォーク120の歯とパスステージ190とは、干渉しない位置となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS377)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、パス19におけるVTM11a(VTM#1)側のタッチポジションを決定し、制御装置100に送信する(ステップS378)。制御装置100は、パス19におけるロボットアーム12aのフォーク120の搬送位置データを補正する。
 情報処理装置300は、制御装置100を介してロボットアーム12aをVTM11a(VTM#1)側に戻し、真空搬送室(VTM)11b(VTM#2)のロボットアーム12bのティーチングを行うように指示する。ロボットアーム12bは、自身のフォーク120のマーク122がパスステージ190に載置された治具ウエハ200の第1のカメラ202a,202bで撮像可能なように、フォーク120をタッチポジションのダウン位置に移動させる(ステップS379)。
 情報処理装置300は、制御装置100からVTM11b(VTM#2)のフォーク120が撮像位置まで移動したことを受信すると、治具ウエハ200に対して撮像を指示する。治具ウエハ200は、自身の第1のカメラ202a,202bで、フォーク120のマーク122をそれぞれ撮像する。このとき、治具ウエハ200のノッチ206は、ロボットアーム12aのフォーク120の根元側となっているので、ロボットアーム12bのフォーク120では、マーク122の位置もノッチ206の方向に合わせた位置となっている。つまり、ロボットアーム12bのフォーク120では、ロボットアーム12aのフォーク120とはマーク122の位置が逆向きとなる。また、フォーク120の歯とパスステージ190とは、干渉しない位置となっている。治具ウエハ200は、撮像した画像データを情報処理装置300に送信する(ステップS380)。情報処理装置300は、受信した撮像データに基づいて、パス19におけるVTM11b(VTM#2)側のタッチポジションを決定し、制御装置100に送信する(ステップS381)。制御装置100は、パス19におけるロボットアーム12bのフォーク120の搬送位置データを補正する。
 ロボットアーム12bは、情報処理装置300の指示に基づいて、フォーク120をVTM11b(VTM#2)側に移動させる。また、ロボットアーム12aは、情報処理装置300の指示に基づいて、パス19のパスステージ190から治具ウエハ200を取得する。ロボットアーム12a,150は、情報処理装置300の指示に基づいて、治具ウエハ200を、パス19からLLM14およびアライナ17を経由してFOUPに移動させ(ステップS382)、元の処理に戻る。
 図42の説明に戻る。情報処理装置300は、パスティーチング処理が完了すると、真空搬送ロボット#1のティーチング処理も完了して、さらに元の処理に戻る。
 図17の説明に戻る。情報処理装置300は、真空搬送室11bの真空搬送ロボット#2のティーチング処理を実行する(ステップS4)。ここで、図54を用いて真空搬送ロボット#2のティーチング処理について説明する。図54は、真空搬送ロボット#2のティーチング処理の一例を示すフローチャートである。
 情報処理装置300は、PMティーチング処理を実行する(ステップS41)。なお、ステップS41のPMティーチング処理は、図42に示すステップS34のPMティーチング処理と、治具ウエハ200をVTM11b(VTM#2)まで搬送する点を除いて同様であるので、その説明は省略する。
 情報処理装置300は、PMティーチング処理が完了すると、VTM11b(VTM#2)に接続されている全てのPM13がPMティーチング処理を完了したか否かを判定する(ステップS42)。情報処理装置300は、VTM11bに接続されている全てのPM13が完了していないと判定した場合(ステップS42:No)、ステップS41に戻り、残りのPM13についてPMティーチング処理を実行する。情報処理装置300は、VTM11bに接続されている全てのPM13が完了したと判定した場合(ステップS42:Yes)、治具ウエハ200をLP16のFOUPまで戻して、元の処理に戻る。
 図17の説明に戻る。情報処理装置300は、真空搬送室11bの真空搬送ロボット#2のティーチング処理が完了すると、基板処理システム1のティーチングが完了したとして、ティーチング処理を終了する。このように、本実施形態では、基板処理システム1の各モジュールにおいて、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる。また、ティーチング処理を省力化することができる。さらに、ティーチング処理にかかる時間を短縮することができる。
[変形例]
 上記した実施形態では、治具ウエハ200の第1のカメラ202および第2のカメラ204は、プリズム203a,205aを介して、治具ウエハ200の下方向を撮像するように配置したが、これに限定されない。例えば、プリズムまたは鏡を組み合わせて、上下方向を撮像可能としてもよく、この場合について、図55を用いて説明する。図55は、変形例における治具ウエハと撮像画像の一例を示す図である。
 図55では、PM13の載置台130において、治具ウエハ200aがリフトピン131上に載置された状態を示す。このとき、治具ウエハ200aは、載置台130のエッジが撮像可能なように、予め定めた所定値215の高さに載置されている。
 図55に示すように、治具ウエハ200aは、プリズム205aに代えて鏡部208を有する。鏡部208は、治具ウエハ200aの上方向を撮像可能な鏡208aと、治具ウエハ200aの下方向を撮像可能な鏡208bとを有する。第2のカメラ204は、鏡208aを介して、載置台130の上部に載置台130と対向するように設けられたシャワープレート134を撮像できる。また、第2のカメラ204は、鏡208bおよび開口205を介して、載置台130を撮像できる。治具ウエハ200aの第2のカメラ204で撮像された画像209は、鏡208aに対応する領域209aと鏡208bに対応する領域209bとを有する。領域209aには、シャワープレート134が撮像され、領域209bには、載置台130が撮像される。なお、プリズム203aも同様に鏡部208に置き換えてもよい。このように、上下方向の鏡208a,208bを用いることで、載置台130だけでなく、シャワープレート134との位置関係においても搬送位置の精度を向上させることができる。
 以上、本実施形態によれば、治具基板(治具ウエハ200)は、搬送機構(ロボットアーム12a,12b,150)のティーチング方法に用いる治具基板であって、第1のカメラ202と、第2のカメラ204とを有する。第1のカメラ202は、搬送機構のフォーク(フォーク120,151)の位置を検出するための第1の画像データを撮像する。第2のカメラ204は、基板を載置する載置台(載置台130,140)の位置を検出するための第2の画像データを撮像する。その結果、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、第1のカメラ202は、検出したフォークの位置に基づいて、載置台に載置された基板に対するフォークの位置を調整するための第1の画像データを撮像する。その結果、フォークの高さ方向(Z軸)を含む位置について調整することができる。
 また、本実施形態によれば、第1の画像データは、フォークに設けられた位置検出用のマークを含む。その結果、マークに基づいて、フォークの高さ方向(Z軸)を含む位置について調整することができる。
 また、本実施形態によれば、第1のカメラ202は、載置台に載置された治具基板を、載置台から持ち上げるリフトピン(リフトピン131,141)で持ち上げた状態で、治具基板と載置台との間に位置するフォークのマークを含む第1の画像データを撮像する。その結果、その結果、マークに基づいて、フォークの高さ方向(Z軸)を含む位置について調整することができる。
 また、本実施形態によれば、第1のカメラ202は、フォークのZ軸方向の位置を調整するための第1の画像データを撮像する。その結果、フォークの高さ方向(Z軸)を含む位置について調整することができる。
 また、本実施形態によれば、第2のカメラ204は、検出した載置台の位置に基づいて、載置台に対するフォークの位置を調整するための第2の画像データを撮像する。その結果、載置台に対するフォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、第2の画像データは、載置台の位置を検出するための載置台の端部を含む。その結果、載置台に対するフォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、第2のカメラ204は、フォークのX軸およびY軸方向の位置を調整するための第2の画像データを撮像する。その結果、載置台に対するフォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、第1のカメラ202および第2のカメラ204は、それぞれ複数個である。その結果、高さ方向を含めた搬送位置の精度を、より向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、治具基板は、さらに、第1の画像データまたは第2の画像データを撮像する際に、治具基板の静止状態を検出するモーションセンサ212を有する。その結果、治具ウエハ200が静止していることが確認できるので、高さ方向を含めた搬送位置の精度を、より向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、ティーチング方法は、搬送機構(ロボットアーム12a,12b,150)のティーチング方法であって、支持体(スロット、回転ステージ17a、載置台18a、リフトピン131,141、パスステージ190)に支持された治具基板(治具ウエハ200)の下部に、搬送機構のフォーク(フォーク120,151)を移動する工程と、治具基板に設けられた第1のカメラ202で、フォークに設けられた位置検出用のマーク(マーク122,152)を含む第1の画像データを撮像する工程と、第1の画像データに基づいて、フォークの移動先の位置を決定する工程と、決定したフォークの移動先の位置に基づいて、フォークの搬送位置データを補正する工程と、を有する。その結果、高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、決定する工程は、マークに基づいて、フォークの移動先のX軸およびY軸方向の位置を決定する。その結果、フォークの搬送位置のX軸方向およびY軸方向の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、決定する工程は、マークに基づいて、フォークの移動先のZ軸方向の位置を決定する。その結果、フォークの搬送位置のZ軸方向の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、ティーチング方法は、さらに、基板を載置する載置台の上部に、治具基板を載置したフォークを移動する工程と、治具基板に設けられた第2のカメラ204で、載置台の端部(エッジ232)、または、載置台に設けられたマーク(穴223)を含む第2の画像データを撮像する工程と、第2の画像データに基づいて、載置台に対するフォークの位置を決定する工程と、決定した載置台に対するフォークの位置に基づいて、フォークの搬送位置データを補正する工程と、を有する。その結果、載置台に対するフォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、載置台に対するフォークの位置を決定する工程は、端部またはマークに基づいて、フォークのX軸およびY軸方向の位置を決定する。その結果、載置台に対するフォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、載置台は、ロードロックモジュール14またはプロセスモジュール13の載置台(載置台140,130)である。その結果、ロードロックモジュール14またはプロセスモジュール13における、フォークの搬送位置の精度を向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、ティーチング方法は、さらに、治具基板を載置したフォークを移動する工程の後に、治具基板に設けられた治具基板の静止状態を検出するモーションセンサ212のデータに基づいて、治具基板の静止状態を判定し、静止状態であると判定した場合、第2の画像データの撮像を指示する工程を有する。その結果、搬送位置の精度を、より向上させることができる。
 また、本実施形態によれば、支持体は、ロードポート16に載置された基板を収納する容器内のスロット、アライナ17の回転ステージ17a、載置台から基板を持ち上げるリフトピン(リフトピン131,141)、または、パス19のステージ(パスステージ190)である。その結果、それぞれのモジュールにおける高さ方向を含めた搬送位置の精度を向上させることができる。
 今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。上記の実施形態は、添付の請求の範囲およびその主旨を逸脱することなく、様々な形体で省略、置換、変更されてもよい。
 また、上記した実施形態では、処理システム本体10の各構成要素について一通りティーチングを行う場合を説明したが、これに限定されない。例えば、メンテナンス時等において、VTM11a,11b、PM13、LLM14、EFEM15、LP16、アライナ17、MTB18、パス19の各構成要素それぞれを単体でティーチングしてもよい。
 1 基板処理システム
 5 ロボット制御装置
 10 処理システム本体
 11a,11b 真空搬送室(VTM)
 12a,12b,150 ロボットアーム
 13 プロセスモジュール(PM)
 14 ロードロックモジュール(LLM)
 15 EFEM
 16 ロードポート(LP)
 17 アライナ
 17a 回転ステージ
 18a,130,140 載置台
 19 パス
 20 ドグ
 100 制御装置
 120,151 フォーク
 122,152 マーク
 131,141 リフトピン
 190 パスステージ
 200 治具ウエハ
 202 第1のカメラ
 203a,205a プリズム
 204 第2のカメラ
 210 制御部
 211 通信部
 212 モーションセンサ
 213 バッテリ
 223 穴
 232 エッジ
 300 情報処理装置

Claims (18)

  1.  搬送機構のティーチング方法に用いる治具基板であって、
     前記搬送機構のフォークの位置を検出するための第1の画像データを撮像する第1のカメラと、
     基板を載置する載置台の位置を検出するための第2の画像データを撮像する第2のカメラと、
     を有する治具基板。
  2.  前記第1のカメラは、検出した前記フォークの位置に基づいて、前記載置台に載置された前記基板に対する前記フォークの位置を調整するための前記第1の画像データを撮像する、
     請求項1に記載の治具基板。
  3.  前記第1の画像データは、前記フォークに設けられた位置検出用のマークを含む、
     請求項2に記載の治具基板。
  4.  前記第1のカメラは、前記載置台に載置された前記治具基板を、前記載置台から持ち上げるリフトピンで持ち上げた状態で、前記治具基板と前記載置台との間に位置する前記フォークの前記マークを含む前記第1の画像データを撮像する、
     請求項3に記載の治具基板。
  5.  前記第1のカメラは、前記フォークのZ軸方向の位置を調整するための前記第1の画像データを撮像する、
     請求項2~4のいずれか1つに記載の治具基板。
  6.  前記第2のカメラは、検出した前記載置台の位置に基づいて、前記載置台に対する前記フォークの位置を調整するための前記第2の画像データを撮像する、
     請求項1~5のいずれか1つに記載の治具基板。
  7.  前記第2の画像データは、前記載置台の位置を検出するための前記載置台の端部を含む、
     請求項6に記載の治具基板。
  8.  前記第2のカメラは、前記フォークのX軸およびY軸方向の位置を調整するための前記第2の画像データを撮像する、
     請求項6または7に記載の治具基板。
  9.  前記第1のカメラおよび前記第2のカメラは、それぞれ複数個である、
     請求項1~8のいずれか1つに記載の治具基板。
  10.  さらに、前記第1の画像データまたは前記第2の画像データを撮像する際に、前記治具基板の静止状態を検出するモーションセンサを有する、
     請求項1~9のいずれか1つに記載の治具基板。
  11.  搬送機構のティーチング方法であって、
     支持体に支持された治具基板の下部に、前記搬送機構のフォークを移動する工程と、
     前記治具基板に設けられた第1のカメラで、前記フォークに設けられた位置検出用のマークを含む第1の画像データを撮像する工程と、
     前記第1の画像データに基づいて、前記フォークの移動先の位置を決定する工程と、
     決定した前記フォークの移動先の位置に基づいて、前記フォークの搬送位置データを補正する工程と、
     を有するティーチング方法。
  12.  前記決定する工程は、前記マークに基づいて、前記フォークの移動先のX軸およびY軸方向の位置を決定する、
     請求項11に記載のティーチング方法。
  13.  前記決定する工程は、前記マークに基づいて、前記フォークの移動先のZ軸方向の位置を決定する、
     請求項11または12に記載のティーチング方法。
  14.  さらに、基板を載置する載置台の上部に、前記治具基板を載置した前記フォークを移動する工程と、
     前記治具基板に設けられた第2のカメラで、前記載置台の端部、または、前記載置台に設けられたマークを含む第2の画像データを撮像する工程と、
     前記第2の画像データに基づいて、前記載置台に対する前記フォークの位置を決定する工程と、
     決定した前記載置台に対する前記フォークの位置に基づいて、前記フォークの搬送位置データを補正する工程と、
     を有する請求項11~13のいずれか1つに記載のティーチング方法。
  15.  前記載置台に対する前記フォークの位置を決定する工程は、前記端部または前記マークに基づいて、前記フォークのX軸およびY軸方向の位置を決定する、
     請求項14に記載のティーチング方法。
  16.  前記載置台は、ロードロックモジュールまたはプロセスモジュールの載置台である、
     請求項14または15に記載のティーチング方法。
  17.  さらに、前記治具基板を載置した前記フォークを移動する工程の後に、前記治具基板に設けられた前記治具基板の静止状態を検出するモーションセンサのデータに基づいて、前記治具基板の静止状態を判定し、静止状態であると判定した場合、前記第2の画像データの撮像を指示する工程、
     を有する請求項14~16のいずれか1つに記載のティーチング方法。
  18.  前記支持体は、ロードポートに載置された前記基板を収納する容器内のスロット、アライナの回転ステージ、載置台から基板を持ち上げるリフトピン、または、パスのステージである、
     請求項11~17のいずれか1つに記載のティーチング方法。
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