WO2022225232A1 - 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템 및 마킹 방법 - Google Patents
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Definitions
- the marker 30 may be disposed toward the uncoated area 3 , and the mark M is formed by marking ink in the area A (see FIG. 3A ) corresponding to the defect D on the uncoated area 3 . can do.
- the area (A) will be described in detail later.
- Each guide roll 50 may include a pair of rollers contacting both surfaces of the electrode sheet 1 with the electrode sheet 1 interposed therebetween, and the electrode sheet 1 is tensioned by the guide roll 50 . can be maintained and moved.
- the length L of the region A A may be equal to or similar to the length L D of the defect D .
- the length L A of the region A may be slightly longer than the length L D of the defect D in consideration of cutting tolerance and the like.
- the space required for installing the heater 20 , the marker 30 , and the blower 40 can be reduced.
- the guide roll 50 is not disposed between the heater 20 , the marker 30 , and the blower 40 . Therefore, even if the distance between the adjacent pair of guide rolls 50 with respect to the moving direction of the electrode sheet 1 is short, the heater 20, the marker 30 and the blower 40 operate the pair of guide rolls ( 50) can be placed between Thereby, there is an advantage that it becomes easy to apply the marking system to the existing equipment.
Abstract
Description
Claims (12)
- 전극활물질이 도포된 활물질층 및 상기 활물질층의 폭방향 일측에 위치한 무지부를 포함하는 전극 시트의 결함 식별용 마킹 시스템에 있어서,상기 전극 시트의 결함을 감지하는 비전 센서;상기 전극 시트의 이동 방향에 대해 상기 비전 센서의 이후에 위치하며, 상기 비전 센서에서 상기 결함이 감지되면 상기 무지부를 가열하는 히터;상기 히터에 의해 가열된 상기 무지부 상에서 상기 결함에 대응되는 영역에 잉크로 마킹하는 마커; 및상기 전극 시트의 이동 방향에 대해 상기 마커의 이후에 위치하며, 상기 영역의 잉크를 건조시키는 블로워를 포함하는 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 전극 시트에 접촉하여 상기 전극 시트의 이동을 가이드하는 적어도 하나의 가이드롤을 더 포함하고,상기 전극 시트의 이동 방향에 대해 상기 마커와 상기 블로워의 사이에는 상기 가이드롤이 배치되지 않은 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 히터는,상기 전극 시트의 이동 방향에 대해 상기 마커의 이전에 배치되거나, 상기 무지부를 사이에 두고 상기 마커와 마주보도록 배치된 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 마커와 상기 히터는 상기 무지부의 동일면을 향하도록 배치된 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 히터는 상기 무지부에 대해 비접촉하는 열원 또는 열풍 분사장치를 포함하는 결함 식별용 마킹 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 전극 시트의 이동 속도 또는 상기 영역의 길이 중 적어도 하나를 기반으로 상기 히터 및/또는 블로워를 제어하는 컨트롤러를 더 포함하는 전극 시트 결함 식별용 마킹 시스템.
- 전극활물질이 도포된 활물질층 및 상기 활물질층의 폭방향 일측에 위치한 무지부를 포함하는 전극 시트의 결함 식별용 마킹방법에 있어서,비전 센서가 상기 전극 시트의 결함을 감지하는 감지 단계;결함이 감지되면 히터가 상기 무지부를 가열하는 가열 단계;가열된 상기 무지부 상에서 상기 결함에 대응되는 영역에 마커가 잉크로 마킹하는 마킹 단계; 및블로워가 상기 영역에 에어를 분사하여 잉크를 건조시키는 건조 단계를 포함하는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 영역은 소정의 최소 길이를 갖는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 가열 단계에서,상기 히터의 온도는 상기 전극 시트의 이동 속도에 비례하고,상기 히터의 작동 시간은 상기 영역의 길이에 비례하는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 건조 단계에서,상기 블로워의 출력은 상기 전극 시트의 이동 속도에 비례하고,상기 블로워의 작동 시간은 상기 영역의 길이에 비례하는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 마킹 단계에서,상기 영역에는 잉크가 불연속적으로 마킹되는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
- 제 7 항에 있어서,상기 히터는 상기 무지부를 섭씨 30도 내지 100도로 가열하는 전극 시트 결함 식별용 마킹방법.
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Citations (5)
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---|---|---|---|---|
KR20010055922A (ko) * | 1999-12-13 | 2001-07-04 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체 패키지의 불량 표시 장치 및 방법 |
KR101222218B1 (ko) * | 2004-09-22 | 2013-01-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전극 집전체의 검사장치 및 이를 이용한 검사방법 |
KR101275815B1 (ko) * | 2011-03-15 | 2013-06-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이차전지용 전극 모재의 결함표시장치 및 결함표시방법 |
KR20180010732A (ko) * | 2016-07-22 | 2018-01-31 | 주식회사 엘지화학 | 고체 잉크 입자들로 인쇄된 바코드부를 포함하는 이차전지 |
JP2019061943A (ja) * | 2017-03-06 | 2019-04-18 | 株式会社リコー | 薄膜電極、樹脂層及び無機層作製用インク並びに電極印刷装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010055922A (ko) * | 1999-12-13 | 2001-07-04 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체 패키지의 불량 표시 장치 및 방법 |
KR101222218B1 (ko) * | 2004-09-22 | 2013-01-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전극 집전체의 검사장치 및 이를 이용한 검사방법 |
KR101275815B1 (ko) * | 2011-03-15 | 2013-06-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이차전지용 전극 모재의 결함표시장치 및 결함표시방법 |
KR20180010732A (ko) * | 2016-07-22 | 2018-01-31 | 주식회사 엘지화학 | 고체 잉크 입자들로 인쇄된 바코드부를 포함하는 이차전지 |
JP2019061943A (ja) * | 2017-03-06 | 2019-04-18 | 株式会社リコー | 薄膜電極、樹脂層及び無機層作製用インク並びに電極印刷装置 |
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