WO2022074939A1 - 受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法 - Google Patents

受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2022074939A1
WO2022074939A1 PCT/JP2021/029872 JP2021029872W WO2022074939A1 WO 2022074939 A1 WO2022074939 A1 WO 2022074939A1 JP 2021029872 W JP2021029872 W JP 2021029872W WO 2022074939 A1 WO2022074939 A1 WO 2022074939A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
voltage
source follower
light receiving
predetermined
receiving element
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/029872
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
恭範 佃
Original Assignee
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 filed Critical ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Priority to CN202180067825.3A priority Critical patent/CN116325166A/zh
Publication of WO2022074939A1 publication Critical patent/WO2022074939A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/102Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier or surface barrier
    • H01L31/107Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier or surface barrier the potential barrier working in avalanche mode, e.g. avalanche photodiode

Abstract

反射光の受光タイミングに基づいて測距を行う受光素子において、測距精度を向上させる。 充電部(330)は、アバランシェフォトダイオード(340)のカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す。ソースフォロワートランジスタ(320)のソースは、アバランシェフォトダイオード(340)の一方の端子に接続される。論理ゲート(350)は、アバランシェフォトダイオード(340)の一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する。ソースフォロワー遮断スイッチ(310)は、出力信号に基づいてソースフォロワートランジスタ(320)のドレインと所定電圧との間の経路を開閉する。

Description

受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法
 本技術は、受光素子に関する。詳しくは、光子の有無を検出する受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法に関する。
 従来より、測距機能を持つ電子装置において、ToF(Time of Flight)方式と呼ばれる測距方式が知られている。このToF方式は、照射光を電子装置から物体に照射し、その照射光が反射して電子装置に戻ってくるまでの往復時間を求めて距離を測定する方式である。照射光に対する反射光の検出には、SPAD(Single-Photon Avalanche Diode)が用いられることが多い。例えば、SPADと、SPADを充電する電流源と、SPADのカソード電圧が降下してから一定時間経過後にSPADの充電を開始するアクティブリチャージ回路とを設けた測距装置が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2020-94849号公報
 上述の従来技術では、電流源に加えて、アクティブリチャージ回路が充電を行うことにより、カソード電圧が降下してから降下前の電圧に復帰するまでの時間の短縮を図っている。しかしながら、アクティブリチャージ回路による充電中に光子が入射すると、SPADからの信号の波形が乱れて測距する際の誤差が大きくなり、測距精度が低下してしまうという問題がある。
 本技術はこのような状況に鑑みて生み出されたものであり、反射光の受光タイミングに基づいて測距を行う受光素子において、測距精度を向上させることを目的とする。
 本技術は、上述の問題点を解消するためになされたものであり、その第1の側面は、アバランシェフォトダイオードと、アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、上記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、上記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、上記出力信号に基づいて上記ソースフォロワートランジスタのドレインと上記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチとを具備する受光素子、および、その制御方法である。これにより、測距精度が向上するという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記ソースフォロワー遮断スイッチは、所定レベルの上記出力信号が出力されたときに開状態に移行し、上記開状態に移行したときから所定の遅延時間が経過したときに閉状態に移行し、上記ソースフォロワートランジスタは、上記ソースフォロワー遮断スイッチが閉状態に移行したときから上記一方の端子の電圧が所定のカットオフ電圧になるときまでの期間内にドレイン電流を生成してもよい。これにより、高照度の際に測距精度が向上するという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記ソースフォロワートランジスタのゲートには、上記ソースフォロワートランジスタの閾値電圧と上記ソースフォロワー遮断スイッチが開状態から閉状態に移行したときの上記一方の端子の電圧との和から、上記参照電圧と上記閾値電圧との和までの範囲内のバイアス電圧が印加されてもよい。これにより、ソースフォロワー遮断スイッチが閉状態に移行したときから出力信号が所定レベルになるときまでの期間内にドレイン電流が生成されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記論理ゲートに入力される信号の振幅を制限する電圧制限トランジスタをさらに具備してもよい。これにより、素子サイズの小さなトランジスタが使用可能になるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記論理ゲートの入力端子は、上記充電部および上記電圧制限トランジスタの接続ノードに接続されてもよい。これにより、素子サイズの小さなトランジスタが使用可能になるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記論理ゲートの入力端子は、上記電圧制限トランジスタおよび前記アバランシェフォトダイオードの接続ノードに接続されてもよい。これにより、クウェンチ検出時間誤差の増加を抑制しつつ、電流源などの面積を削減することができるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記ソースフォロワートランジスタのゲートには、上記所定電圧が印加されてもよい。
 また、この第1の側面において、発光源からの照射光の発光タイミングと上記出力信号の立下りおよび立ち上りの一方のタイミングとの間の時間に基づいて物体までの距離を計算する距離計算部をさらに具備してもよい。これにより、物体までの距離が測定されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記アバランシェフォトダイオード、上記充電部、上記ソースフォロワートランジスタ、上記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、複数の画素のそれぞれに設けられてもよい。これにより、画素ごとに光子の有無が検出されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、上記充電部、上記ソースフォロワートランジスタ、上記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、所定のロジック基板に設けられてもよい。これにより、基板毎の回路規模が削減されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、上記ソースフォロワートランジスタおよびソースフォロワー遮断スイッチを含む読出し回路の一部は、所定の高耐圧基板に設けられ、上記読出し回路の残りは、所定のロジック基板に設けられてもよい。これにより、画素サイズの小型化が容易になるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記充電部は、上記所定電圧と上記一方の端子との間に挿入された電流制限抵抗を備えてもよい。これにより、配線数が削減されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記出力信号に基づいて上記充電部と上記所定電圧との間の経路を開閉する充電部遮断スイッチをさらに具備してもよい。これにより、電流源からの定電流が遮断されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときまでの期間に亘って上記ソースフォロワー遮断スイッチを開状態にするための第1の論理レベルのパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、上記ソースフォロワー遮断スイッチは、上記パルス信号が上記第1の論理レベルレベルの期間内に開状態に移行し、上記パルス信号が上記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に閉状態に移行してもよい。これにより、遅延時間が経過したときにソースフォロワートランジスタのドレイン電流が生成されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときにパルス幅の期間に亘って上記ソースフォロワー遮断スイッチを閉状態にするための第1の論理レベルのパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、上記ソースフォロワー遮断スイッチは、上記パルス信号が上記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に開状態に移行し、上記パルス信号が上記第1の論理レベルの期間内に閉状態に移行してもよい。これにより、遅延時間が経過したときにソースフォロワートランジスタのドレイン電流が生成されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記一方の端子は、カソードであり、上記所定電圧は、電源電圧であり、上記充電部は、上記電源電圧から上記カソードへ上記定電流を供給してもよい。これにより、カソード電圧の降下により光子が検出されるという作用をもたらす。
 また、この第1の側面において、上記一方の端子は、アノードであり、上記所定電圧は、読出し回路グラウンドであり、上記充電部は、上記アノードから上記読出し回路グラウンドへ上記定電流を供給してもよい。これにより、アノード電圧の上昇により光子が検出されるという作用をもたらす。
 また、本技術の第2の側面は、照射光を照射する照明装置と、前記照射光に対する反射光を受光する受光素子とを具備し、前記受光素子は、アバランシェフォトダイオードと、アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと
を備える測距システムである。これにより、測距システムの測距精度が向上するという作用をもたらす。
 また、本技術の第3の側面は、アバランシェフォトダイオードと、アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、上記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、上記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、上記出力信号に基づいて上記ソースフォロワートランジスタのドレインと上記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと、上記出力信号を処理する信号処理部とを具備する測距モジュールである。これにより、測距モジュールの測距精度が向上するという作用をもたらす。
本技術の第1の実施の形態における測距モジュールの一構成例を示すブロック図である。 本技術の第1の実施の形態における固体撮像素子の一構成例を示すブロック図である。 本技術の第1の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第1の実施の形態における画素の実装例を示す回路図である。 本技術の第1の実施の形態における信号処理部の一構成例を示すブロック図である。 本技術の第1の実施の形態における信号処理部の別の構成例を示すブロック図である。 本技術の第1の実施の形態における測距モード中の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。 本技術の第1の実施の形態におけるスタンバイモードから測距モードに移行する際の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。 本技術の第1の実施の形態における測距モジュールの動作の一例を示すフローチャートである。 本技術の第2の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第3の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第4の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第4の実施の形態の変形例における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第5の実施の形態における測距モード中の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。 本技術の第5の実施の形態におけるスタンバイモードから測距モードに移行する際の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。 本技術の第6の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第7の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第7の実施の形態に第4の実施の形態を適用した場合の画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第7の実施の形態に第4の実施の形態の変形例を適用した場合の画素の一構成例を示す回路図である。 本技術の第8の実施の形態における画素の一構成例を示す回路図である。 車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。 撮像部の設置位置の一例を示す説明図である。
 以下、本技術を実施するための形態(以下、実施の形態と称する)について説明する。説明は以下の順序により行う。
 1.第1の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設けた例)
 2.第2の実施の形態(ソースフォロワートランジスタおよび抵抗を設けた例)
 3.第3の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、定電流を遮断する例)
 4.第4の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、振幅を制限する例)
 5.第5の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、ローレベルのパルス信号を生成する例)
 6.第6の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、そのゲートに電源電圧を印加する例)
 7.第7の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、3枚の基板に画素内の素子を配置する例)
 8.第8の実施の形態(ソースフォロワートランジスタを設け、SPADのアノード、カソードの接続先を逆にした例)
 9.移動体への応用例
 <1.第1の実施の形態>
 [測距モジュールの構成例]
 図1は、本技術の第1の実施の形態における測距モジュール100の一構成例を示すブロック図である。この測距モジュール100は、物体までの距離を測定するものであり、発光源110、タイミング生成部120および固体撮像素子200を備える。測距モジュール100は、スマートフォン、パーソナルコンピュータや車載機器などに搭載され、距離を測定するために用いられる。なお、測距モジュール100を設けたシステムは、特許請求の範囲に記載の測距システムの一例である。
 タイミング生成部120は、発光源110および固体撮像素子200を同期して動作させるためのタイミング信号を生成するものである。このタイミング生成部120は、タイミング信号として、所定周波数(100メガヘルツ乃至10ギガヘルツなど)のクロック信号CLKpを生成し、固体撮像素子200に信号線129を介して供給する。また、タイミング生成部120は、クロック信号CLKpと同期して生成されたクロック信号CLKdを発光源110に信号線128を介して供給する。クロック信号CLKdの周波数は、クロック信号CLKpの1/N(Nは、整数)である。
 発光源110は、タイミング生成部120からのクロック信号CLKdに同期して間欠光を照射光として供給するものである。例えば、照射光として近赤外光などが用いられる。なお、発光源110は、特許請求の範囲に記載の照射装置の一例である。
 固体撮像素子200は、照射光に対する反射光を受光し、クロック信号CLKdの示す発光タイミングから反射光を受光したタイミングまでの往復時間を測定するものである。この固体撮像素子200は、物体までの距離を往復時間から算出し、その距離を示す距離データを生成して出力する。なお、固体撮像素子200は、特許請求の範囲に記載の受光素子の一例である。
 [固体撮像素子の構成例]
 図2は、本技術の第1の実施の形態における固体撮像素子200の一構成例を示すブロック図である。この固体撮像素子200は、制御回路210、画素アレイ部220および信号処理部230を備える。画素アレイ部220には、複数の画素300が二次元格子状に配列される。
 制御回路210は、タイミング生成部120からのクロック信号CLKpに基づいて画素アレイ部220内の画素300のそれぞれを制御するものである。
 信号処理部230は、画素300からの信号とクロック信号CLKpとに基づいて画素300ごとに往復時間を測定し、距離を算出するものである。この信号処理部230は、距離を示す距離データを測距点に対応する画素群ごとに生成し、それらを外部に出力する。なお、画素アレイ部220内に配置されても構わないし、画素アレイ部220の外に配置されても構わない。
 [画素の構成例]
 図3は、本技術の第1の実施の形態における画素300の一構成例を示す断面図および回路図である。この画素300は、SPAD340および読出し回路305を備える。SPAD340は、受光基板201に配置される。一方、SPAD340以外の回路、すなわち、読出し回路305、制御回路210および信号処理部230(不図示)は、受光基板201に積層されたロジック基板202に配置される。SPAD340のみを受光基板201に配置することにより、SPAD340の開口率を最大化することができ、受光性能を向上させることができる。ただし、画素300の容量は増大するため、その分、充電速度が低下する。
 受光基板201とロジック基板202とは、ビアなどの接続部を介して電気的に接続される。なお、ビアの他、Cu-Cu接合やバンプにより接続することもできる。
 読出し回路305は、SF(Source Follower)遮断スイッチ310、ソースフォロワートランジスタ320、電流源330、アンプ350およびパルス整形回路360を備える。ソースフォロワートランジスタ320として、例えば、nMOS(n-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタが用いられる。
 電流源330は、電源電圧VDDと、SPAD340のカソードとの間に挿入される。SPAD340のアノードは、所定の負バイアスVSPADのノードに接続される。また、SF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320は、電源電圧VDDと、SPAD340のカソードとの間に直列に接続される。また、アンプ350の入力端子は、SPAD340のカソードに接続され、アンプ350の出力端子は、パルス整形回路360および信号処理部230に接続される。
 SPAD340は、入射光に対する光電変換により電荷(電子など)を生成し、アバランシェ増倍してカソードから出力するものである。SPAD340のアノードとカソードとの間には、アバランシェ降伏するときの降伏電圧よりも絶対値が大きな逆バイアスが印加されている。逆バイアスと降伏電圧との差分は、超過バイアスと呼ばれる。光子が入射した際に、SPAD340のカソード電圧Vcaは超過バイアスの分だけ降下し、このときのカソード電圧をボトム電位Vbtmとする。なお、SPAD340は、特許請求の範囲に記載のアバランシェフォトダイオードの一例である。
 電流源330は、電源電圧VDDからSPAD340のカソードへの経路に一定の定電流を流すものである。なお、電流源330は、特許請求の範囲に記載の充電部の一例である。
 アンプ350は、SPAD340のカソード電圧Vcaと所定の参照電圧Vrefとの比較結果に基づいて出力信号OUTを出力するものである。カソード電圧Vcaが参照電圧Vref以下の場合にローレベルの出力信号OUTが出力され、カソード電圧Vcaが参照電圧Vrefより高い場合にハイレベルの出力信号OUTが出力される。
 パルス整形回路360は、出力信号OUTに基づいてパルス信号PSWを生成し、SF遮断スイッチ310に供給するものである。例えば、パルス整形回路360は、出力信号OUTの立下りから所定の遅延時間が経過するまでの期間に亘ってハイレベルのパルス信号PSWを生成する。遅延期間には、例えば、光子の入射によりアンプ350の出力が反転してから、カソード電圧Vcaがボトム電位Vbtmに達するまでの時間に略一致する値が設定される。
 SF遮断スイッチ310は、パルス信号PSWに従って、ソースフォロワートランジスタ320のドレインと電源電圧VDDとの間の経路を開閉するものである。例えば、SF遮断スイッチ310は、パルス信号PSWがハイレベルの期間内に開状態に移行し、パルス信号PSWがローレベルの期間内に閉状態に移行する。なお、SF遮断スイッチ310は、特許請求の範囲に記載のソースフォロワー遮断スイッチの一例である。
 ソースフォロワートランジスタ320のゲートには、所定のバイアス電圧Vb1が印加される。このバイアス電圧Vb1の設定方法については後述する。
 上述の接続構成により、画素300に光子が入射されると、SPAD340は、その光子を光電変換した電荷をアバランシェ増倍し、光電流を生成する。この光電流に応じてSPAD340のカソード電圧Vcaが降下する。そして、カソード電圧Vcaがアンプ350の参照電圧Vref以下になると、アンプ350は、ローレベルの出力信号OUTを出力する。これにより、光子の入射が検出される。
 また、パルス整形回路360は、出力信号OUTの立下りから遅延時間が経過するまでの期間に亘ってハイレベルのパルス信号PSWを生成する。このハイレベルのパルス信号PSWにより、SF遮断スイッチ310は、開状態に移行する。
 そして、出力信号OUTの立下りから遅延時間が経過すると、パルス信号PSWがローレベルになり、SF遮断スイッチ310が閉状態に移行する。このとき、ソースフォロワートランジスタ320はオン状態となり、バイアス電圧Vb1に応じたドレイン電流Idを生成する。また、カソード電圧Vcaはボトム電位Vbtmに達しているため、電流源330からの定電流とドレイン電流IdとによりSPAD340が充電され、カソード電圧Vcaが上昇する。ただし、カソード電圧Vcaがアンプ350の参照電圧Vrefに達する前に、ソースフォロワートランジスタ320はオフ状態に移行する。
 ここで、バイアス電圧Vb1には、次の式を満たす値が設定される。
  Vbtm<Vb1-Vthn              ・・・式1
  Vref>Vb1-Vthn              ・・・式2
上式において、Vthnは、ソースフォロワートランジスタ320の閾値電圧である。
 式1を満たすバイアス電圧Vb1により、ソースフォロワートランジスタ320は、ドレイン側のSF遮断スイッチ310が閉状態に移行した際にオン状態となる。また、式2を満たすバイアス電圧Vb1により、ソースフォロワートランジスタ320は、カソード電圧Vcaがアンプ350の参照電圧Vrefに達する前にオフ状態に移行する。
 式1および式2をまとめると、次の式が得られる。
  Vbtm+Vthn<Vb1<Vref+Vthn
 図4は、本技術の第1の実施の形態における画素300の実装例を示す回路図である。例えば、SF遮断スイッチ310として、pMOSトランジスタ311が用いられる。また、電流源330として、ゲートにバイアス電圧Vb2が印加されたpMOSトランジスタ331が用いられる。
 なお、nMOSトランジスタをSF遮断スイッチ310として用いることもできる。この場合には、パルス信号PSWの極性を逆にすればよい。
 また、アンプ350の代わりに、インバータを用いることもできる。この場合には、パルス信号PSWの極性を逆にするか、あるいは、nMOSトランジスタをSF遮断スイッチ310として用いればよい。なお、アンプ350は、特許請求の範囲に記載の論理ゲートの一例である。
 [信号処理部の構成例]
 図5は、本技術の第1の実施の形態における信号処理部230の一構成例を示すブロック図である。この信号処理部230は、列ごと、または、所定数の画素毎ににTDC(Time-to-Digital Converter)231および距離計算部232を備える。
 TDC231は、クロック信号CLKpの示す発光タイミングから、対応する列からの出力信号OUTの立下り(すなわち、受光タイミング)までの時間を計測するものである。このTDC231は、測定した時間を示すデジタル信号を距離計算部232に供給する。
 距離計算部232は、TDC結果毎にヒストグラムを蓄積するものである。この距離計算部232は、クロック信号CLKpよりも低い周波数の周期ごとに、その周期内でTDC231により計測されたヒストグラムを出力する。なお、距離計算部232は、次の式を用いて距離Dを算出し、その距離Dを示す距離データを出力することもある。
  D=c×dt/2
上式において、cは光速であり、単位は、メートル毎秒(m/s)である。また、距離Dの単位は、例えば、メートル(m)であり、往復時間dtの単位は、例えば、秒(s)である。
 なお、図6に例示するように、画素アレイ部220内に信号処理部230を配置することもできる。この場合には、所定数(4個など)の画素300ごとに、その下部にTDC231が配置される。同図においては、距離計算部232は省略されている。
 図7は、本技術の第1の実施の形態における測距モード中の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。タイミングT0の直前に光子が入射すると、カソード電圧Vcaは、初期状態のトップ電位Vtopから降下を開始し、タイミングT0でアンプ350の閾値以下となる。これにより、アンプ350の出力信号OUTがローレベルになる。
 タイミングT0から遅延時間が経過したタイミングT1でカソード電圧Vcaがボトム電位Vbtmに達する。また、タイミングT0からT1までの期間内に、パルス整形回路360はハイレベルのパルス信号PSWを出力する。この期間内にSF遮断スイッチ310は、開状態に移行する。
 タイミングT1でパルス信号PSWがローレベルになると、SF遮断スイッチ310は閉状態に移行し、ソースフォロワートランジスタ320はドレイン電流Idを供給する。タイミングT1以降において、電流源330からの定電流とドレイン電流IdとによりSPAD340が充電され、カソード電圧Vcaが上昇する。このように、定電流より大きな充電電流よる充電を以下、「急速充電」と称する。
 そして、カソード電圧Vcaが参照電圧Vrefに達するタイミングT3の前のタイミングT2において、カソード電圧Vcaがカットオフ電圧Vcutに達し、ソースフォロワートランジスタ320がオフ状態に移行する。これにより、急速充電が停止する。ここで、カットオフ電圧Vcutは、式2の右辺、すなわちバイアス電圧Vb1および閾値電圧Vthnの差分に該当する。
 タイミングT3で出力信号OUTがハイレベルになり、次の光子の入射の検出が可能となる。タイミングT1乃至T3の期間は、画素300が光子の入射に反応することができず、この期間は、デッドタイムと呼ばれる。タイミングT3からdt2が経過したときに、カソード電圧Vcaが元のトップ電位Vtopに復帰し、充電が終了する。
 ここで、ソースフォロワートランジスタ320を設けず、SF遮断スイッチ310と同様のスイッチにより、電源電圧VDDとSPAD340のカソードとの間の経路を開閉する構成の画素を第1の比較例として想定する。
 第1の比較例では、ソースフォロワートランジスタ320がタイミングT2でオフ状態になることが無いため、急速充電が継続する。このため、ソースフォロワートランジスタ320を設けた場合よりも、カソード電圧Vcaの上昇速度が速くなる。同図における一定鎖線は、第1の比較例のカソード電圧の変動を示す。
 第1の比較例では、ソースフォロワートランジスタ320を設けた場合よりもデッドタイムが短くなるものの、測距の際に距離データに誤差が生じるおそれがある。例えば、充電によりカソード電圧Vcaが参照電圧Vrefを超えてから、充電が終了するまでの期間dt1は、定電流よりも充電電流が大きい。このため、この期間dt1内に光子が入射された場合、クウェンチ波形が鈍ってしまい、ソースフォロワートランジスタ320を設けた場合よりもクウェンチまでの時間が長くなる。この結果、本来と異なるタイミングでクウェンチが観測され、距離データの誤差が大きくなる。
 これに対し、ソースフォロワートランジスタ320を設けた場合、カソード電圧Vcaが参照電圧Vrefに達する(すなわち、出力信号OUTがローレベルになる)前にソースフォロワートランジスタ320のドレイン電流Idが停止する。このため、カソード電圧Vcaが参照電圧Vrefを超えてから、充電が終了するまでの期間dt2において、定電流により充電が行われる。このため、この期間dt2内に光子が入射された場合、クウェンチまでの時間が第1の比較例よりも短くなり、距離データの誤差が低減される。
 特に、高照度の際に、デッドタイム直後の期間dt1やdt2に光子が入射されることが多い。このため、ソースフォロワートランジスタ320を設けることにより、高照度の際に測距精度を向上させることができる。
 次に、SF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320の両方を設けない構成の画素を第2の比較例として想定する。第2の比較例では、電流源330からの定電流のみにより充電が行われ、急速充電が行われない。このため、SF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320を設けた場合よりも、カソード電圧Vcaの上昇速度が遅くなる。同図における点線は、第2の比較例のカソード電圧の変動を示す。第2の比較例では、デッドタイムが長くなってしまう。
 これに対し、SF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320を設けた場合、ドレイン電流Idがさらに供給されるため、カソード電圧Vcaの上昇速度は速くなる。これにより、第2の比較例よりもデッドタイムを短くすることができる。
 図8は、本技術の第1の実施の形態におけるスタンバイモードから測距モードに移行する際の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。ここで、スタンバイモードは、所定の画素300の光検出動作が無効に設定されるモードである。一方、測距モードは、所定の画素300の光検出動作が有効に設定されるモードである。スタンバイモードにおいて、パルス信号PSWは、ハイレベルに設定される。
 タイミングT0において、測距モジュール100がスタンバイモードから測距モードへ移行すると、制御回路210は、画素300内のパルス整形回路360を制御して、ローレベルのパルス信号PSWを出力させる。
 タイミングT0でパルス信号PSWがローレベルになると、SF遮断スイッチ310は閉状態に移行し、ソースフォロワートランジスタ320はドレイン電流Idを供給する。タイミングT1以降において、電流源330からの定電流とドレイン電流IdとによりSPAD340が急速充電され、カソード電圧Vcaが上昇する。
 そして、カソード電圧Vcaが参照電圧Vrefに達するタイミングT2の前のタイミングT1において、カソード電圧Vcaがカットオフ電圧Vcutに達し、ソースフォロワートランジスタ320がオフ状態に移行する。
 SF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320を設けた場合、急速充電されるため、それらを設けない第2の比較例よりもカソード電圧Vcaの上昇速度は速くなる。これにより、測距モードに移行してからカソード電圧Vcaが復帰して測距可能になるまでの時間を短くすることができる。この結果、第2の比較例よりも最短測距距離を短くすることができる。
 図9は、本技術の第1の実施の形態における測距モジュール100の動作の一例を示すフローチャートである。この動作は、測距を行うための所定のアプリケーションが実行されたときに開始される。
 測距モジュール100は、照射光の発光と、反射光の受光とを開始する(ステップS901)。また、測距モジュール100は、往復時間を測定し(ステップS902)、物体までの距離を算出する(ステップS903)。ステップS903の後に、測距モジュール100は、測距のための動作を終了する。
 このように、本技術の第1の実施の形態では、SF遮断スイッチ310が閉状態に移行してからカソード電圧Vcaがカットオフ電圧Vcutになるまでの期間にソースフォロワートランジスタ320がドレイン電流を供給する。これにより、画素300の出力信号OUTがハイレベルになってから充電が終了するまでの充電電流が少なくなり、その期間内の充電電流が多いことにより生じる距離データの誤差を低減することができる。
 <2.第2の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、電流源330によりSPAD340を充電していたが、この構成では、電流源330にバイアス電圧Vb2を供給するための配線が画素ごとに必要となり、多画素化が困難になるおそれがある。この第2の実施の形態の固体撮像素子200は、電流源330の代わりに抵抗を設け、配線数を削減した点において第1の実施の形態と異なる。
 図10は、本技術の第2の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第2の実施の形態の画素300は、電流源330の代わりに電流制限抵抗370が配置される点において第1の実施の形態と異なる。電流制限抵抗370は、電源電圧VDDとSPAD340のカソードとの間に挿入される。なお、電流制限抵抗370は、特許請求の範囲に記載の充電部の一例である。
 電流源330の代わりに電流制限抵抗370を設けることにより、バイアス電圧Vb2が不要となり、その電圧を供給するための配線を削減することができる。
 このように、本技術の第2の実施の形態によれば、電源電圧VDDとSPAD340のカソードとの間に電流制限抵抗370を設けたため、バイアス電圧Vb2を供給するための配線を削減することができる。
 <3.第3の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、バイアス電圧Vb2の静定に時間を要するため、測距モードに移行して画素を有効にしてから光子の検出が可能になるまでの期間を短縮することが困難であった。この第3の実施の形態の固体撮像素子200は、電流源遮断スイッチ380を追加した点において第1の実施の形態と異なる。
 図11は、本技術の第3の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第3の実施の形態の画素300は、電流源遮断スイッチ380をさらに備える点において第1の実施の形態と異なる。
 電流源遮断スイッチ380は、パルス信号PSWに従って、電源電圧VDDと電流源330との間の経路を開閉するものである。電流源遮断スイッチ380として、例えば、pMOSトランジスタ381が用いられる。なお、電流源遮断スイッチ380は、特許請求の範囲に記載の充電部遮断スイッチの一例である。また、電流源遮断スイッチ380を電源側、電流源330を接地側に配置しているが、逆に、電流源遮断スイッチ380を接地側、電流源330を電源側に配置することもできる。
 パルス信号PSWがハイレベルの期間内に電流源遮断スイッチ380が電流源330の定電流を遮断する。このため、固体撮像素子200は、例えば、スタンバイモードから測距モードに移行する前に予め、バイアス電圧Vb2の供給を開始しておき、そのバイアス電圧Vb2が静定してから測距モードに移行して画素300を有効にすることができる。これにより、スタンバイモードから測距モードに移行した際に、光子の検出が可能となるまでの時間を短縮することができる。
 なお、第3の実施の形態に第2の実施の形態を適用することができる。
 このように、本技術の第3の実施の形態によれば、電流源遮断スイッチ380が定電流を遮断するため、バイアス電圧Vb2の静定を待たずに急速充電を開始し、測距モードに移行してから光子の検出が可能になるまでの時間を短縮することができる。
 <4.第4の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、アンプ350が出力信号OUTを出力していたが、そのアンプ350以降のトランジスタのサイズを小型化することが困難なことがある。この第4の実施の形態の固体撮像素子200は、振幅を制限するトランジスタを追加した点において第1の実施の形態と異なる。
 図12は、本技術の第4の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第4の実施の形態の画素300は、電圧制限トランジスタ390をさらに備える点において第1の実施の形態と異なる。
 電圧制限トランジスタ390として、例えば、pMOSトランジスタが用いられる。電圧制限トランジスタ390は、電流源330とSPAD340との間に挿入される。電圧制限トランジスタ390のゲートにはバイアス電圧Vb3が印加される。また、電流源330および電圧制限トランジスタ390の接続ノードは、アンプ350の入力端子に接続される。
 電圧制限トランジスタ390は、電流源330および電圧制限トランジスタ390の接続ノード、すなわち、アンプ350の入力信号の振幅を制限するものである。例えば、バイアス電圧Vb3には、次の式を満たす値が設定される。
  Vb3>VDD-(V0+V1)          ・・・式3
上式において、V0は、薄膜トランジスタの耐圧である。V1は、電圧制限トランジスタ390のゲート-ソース間電圧である。
 式3を満たすバイアス電圧Vb3により、アンプ350の入力信号の振幅をSAPD340の超過バイアス未満に低下させることができる。これにより、アンプ350以降のトランジスタとして、薄膜トランジスタなどの素子サイズの小さなものを用いることができる。
 なお、第4の実施の形態に、第2、第3の実施の形態を適用することができる。
 このように、本技術の第4の実施の形態によれば、電圧制限トランジスタ390がアンプ350の入力信号の振幅を制限するため、アンプ350以降のトランジスタの素子サイズを小さくすることができる。
 [変形例]
 上述の第4の実施の形態では、電流源330および電圧制限トランジスタ390の接続ノードをアンプ350の入力端子に接続していた。この構成では、アンプ350を含む回路を薄膜化することができ、小面積化が実現できる反面、接続ノードのカソード電圧Vcaの振幅が小さくなることに伴ってスルーレートが低下してしまう。このことによってアンプ350の閾値の製造ばらつきによるクウェンチ検出時間誤差が増大する欠点がある。この第4の変形例の固体撮像素子200は、SPAD340のカソードを直接アンプ350の入力端子に接続する点において第4の実施の形態と異なる。
 図13は、本技術の第4の実施の形態の変形例における画素300の一構成例を示す回路図である。この第4の実施の形態の変形例の画素300は、SPAD340のカソードがアンプ350の入力端子に接続される点において第4の実施の形態と異なる。同図では、電圧制限の無いカソードの電圧をモニタすることでクウェンチ検出時間誤差の増加を抑えつつ、電流源330などの面積削減を可能としている。
 このように、本技術の第4の実施の形態の変形例では、SPAD340のカソードをアンプ350の入力端子に接続したため、クウェンチ検出時間誤差の増加を抑制しつつ、電流源330などの面積を削減することができる。
 <5.第5の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、パルス整形回路360が、出力信号OUTの立下りから遅延時間が経過するまでの間にハイレベルのパルス信号PSWを生成していた。しかしながら、この構成では、SPAD340の電子増倍時に、充電電流によりクウェンチが阻害されることがある。この第5の実施の形態における画素300は、遅延時間が経過したときにローレベルのパルス信号PSWを生成する点において第1の実施の形態と異なる。
 図14は、本技術の第5の実施の形態における測距モード中の固体撮像素子200の動作の一例を示すタイミングチャートである。
 カソード電圧Vcaが参照電圧Vref未満となるタイミングT0から遅延時間が経過したタイミングT1において、第5の実施の形態のパルス整形回路360は、所定のパルス幅のローレベルのパルス信号PSWを生成する。同図において、タイミングT1から、タイミングT4までの期間がパルス幅に該当する。同図に例示するように光の入射タイミングからタイミングT0までの期間内は、SF遮断スイッチ310が開状態となる。この制御により、SPAD340の電子増倍中にソースフォロワートランジスタ320からの充電電流により、クウェンチが阻害されることを防止し、クウェンチに要する時間を短くすることができる。
 図15は、本技術の第5の実施の形態におけるスタンバイモードから測距モードに移行する際の固体撮像素子の動作の一例を示すタイミングチャートである。
 タイミングT0において、測距モジュール100がスタンバイモードから測距モードへ移行すると、制御回路210は、画素300内のパルス整形回路360を制御して、所定のパルス幅のローレベルのパルス信号PSWを出力させる。同図においてタイミングT0からT3までの期間がパルス幅に該当する。
 なお、第5の実施の形態に、第2乃至第4の実施の形態のそれぞれを適用することもできる。
 このように、本技術の第5の実施の形態では、遅延時間が経過したタイミングでパルス整形回路360が、所定のパルス幅のローレベルのパルス信号PSWを生成する。これにより、SPAD340の電子増倍時に、ソースフォロワートランジスタ320からの充電電流によりクウェンチが阻害されることを防止し、クウェンチに要する時間を短くすることができる。
 <6.第6の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、ソースフォロワートランジスタ320のゲートにバイアス電圧Vb1を印加していたが、この構成では、バイアス電圧Vb1を供給するための配線が画素ごとに必要となり、多画素化が困難になるおそれがある。この第6の実施の形態の固体撮像素子200は、ソースフォロワートランジスタ320のゲートに電源電圧VDDを印加することにより、配線数を削減した点において第1の実施の形態と異なる。
 図16は、本技術の第6の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第6の実施の形態の画素300は、ソースフォロワートランジスタ320のゲートに電源電圧VDDが印加される点において第1の実施の形態と異なる。これにより、バイアス電圧Vb1が不要となり、バイアス電圧Vb1を供給するための配線を削減することができる。また、電源電圧VDDは、次の式を満たすものとする。
  Vbtm+Vthn<VDD<Vref+Vthn
 なお、第6の実施の形態に、第2乃至第5の実施の形態のそれぞれを適用することもできる。
 このように、本技術の第6の実施の形態では、ソースフォロワートランジスタ320のゲートに電源電圧VDDが印加されるため、バイアス電圧Vb1が不要となり、バイアス電圧Vb1を供給するための配線を削減することができる。
 <7.第7の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、受光基板201およびロジック基板202に、固体撮像素子200内の回路を分散して配置していたが、この構成では、ロジック基板202のプロセスの最適化が困難になるおそれがある。この第7の実施の形態の固体撮像素子200は、3枚の積層基板に固体撮像素子200内の回路を分散して配置する点において第1の実施の形態と異なる。
 図17は、本技術の第7の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第7の実施の形態の画素300は、読出し回路305の一部が高耐圧基板203に配置され、残りがロジック基板202に配置される点において第1の実施の形態と異なる。例えば、読出し回路305内のSF遮断スイッチ310およびソースフォロワートランジスタ320が高耐圧基板203に配置される。読出し回路305の残りと、その後段(信号処理部230など)は、ロジック基板202に配置される。
 高耐圧であることが要求される素子を分離して高耐圧基板203に対応するウェハーに形成することにより、薄膜トランジスタに最適化したロジック基板202のプロセスを選択することができる。これにより、画素サイズの小型化が容易となる。
 なお、第7の実施の形態に、第4の実施の形態や、その変形例を適用することもできる。第4の実施の形態を適用する場合、図18に例示するように、読出し回路305内のSF遮断スイッチ310、電圧制限トランジスタ390およびソースフォロワートランジスタ320が高耐圧基板203に配置される。また、第4の実施の形態の変形例を適用する場合、図19に例示するように、アンプ350がさらに高耐圧基板203に配置される。
 このように本技術の第7の実施の形態によれば、読出し回路305の一部を高耐圧基板203に配置するため、ロジック基板202のプロセスを最適化することができる。これにより、画素サイズの小型化が容易となる。
 <8.第8の実施の形態>
 上述の第1の実施の形態では、SPAD340のカソードに電流源330およびアンプ350を接続していたが、SPAD340のアノードに電流源330およびアンプ350を接続することもできる。この第8の実施の形態の固体撮像素子200は、SPAD340のアノード、カソードの接続先を変更した点において第1の実施の形態と異なる。
 図20は、本技術の第8の実施の形態における画素300の一構成例を示す回路図である。この第8の実施の形態の画素300において、SPAD340のカソードが降伏電圧+超過バイアスの電圧に接続される。電流源330は、SPAD340のアノードと読出し回路グラウンドGNDとの間に挿入される。また、nMOSのソースフォロワートランジスタ320の代わりに、pMOSのソースフォロワートランジスタ321が設けられる。SF遮断スイッチ310は、パルス信号PSWに従って、ソースフォロワートランジスタ321のドレインと負バイアスVSPADとの間の経路を開閉する。同図に例示した接続により、アノード電圧の降下により、光子を検出することができる。
 なお、第8の実施の形態に、第2乃至第7の実施の形態を適用することができる。
 このように、本技術の第8の実施の形態によれば、SPAD340のアノードに電流源330およびアンプ350を接続したため、アノード電圧の降下により、光子を検出することができる。
 <9.移動体への応用例>
 本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
 図21は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。
 車両制御システム12000は、通信ネットワーク12001を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図21に示した例では、車両制御システム12000は、駆動系制御ユニット12010、ボディ系制御ユニット12020、車外情報検出ユニット12030、車内情報検出ユニット12040、及び統合制御ユニット12050を備える。また、統合制御ユニット12050の機能構成として、マイクロコンピュータ12051、音声画像出力部12052、及び車載ネットワークI/F(interface)12053が図示されている。
 駆動系制御ユニット12010は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット12010は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。
 ボディ系制御ユニット12020は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット12020は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット12020には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット12020は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
 車外情報検出ユニット12030は、車両制御システム12000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット12030には、撮像部12031が接続される。車外情報検出ユニット12030は、撮像部12031に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像を受信する。車外情報検出ユニット12030は、受信した画像に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。
 撮像部12031は、光を受光し、その光の受光量に応じた電気信号を出力する光センサである。撮像部12031は、電気信号を画像として出力することもできるし、測距の情報として出力することもできる。また、撮像部12031が受光する光は、可視光であっても良いし、赤外線等の非可視光であっても良い。
 車内情報検出ユニット12040は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット12040には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部12041が接続される。運転者状態検出部12041は、例えば運転者を撮像するカメラを含み、車内情報検出ユニット12040は、運転者状態検出部12041から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。
 マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット12010に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行うことができる。
 また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
 また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で取得される車外の情報に基づいて、ボディ系制御ユニット12020に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で検知した先行車又は対向車の位置に応じてヘッドランプを制御し、ハイビームをロービームに切り替える等の防眩を図ることを目的とした協調制御を行うことができる。
 音声画像出力部12052は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図21の例では、出力装置として、オーディオスピーカ12061、表示部12062及びインストルメントパネル12063が例示されている。表示部12062は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。
 図22は、撮像部12031の設置位置の例を示す図である。
 図22では、撮像部12031として、撮像部12101,12102,12103,12104,12105を有する。
 撮像部12101,12102,12103,12104,12105は、例えば、車両12100のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部等の位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部12101及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として車両12100の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部12102,12103は、主として車両12100の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部12104は、主として車両12100の後方の画像を取得する。車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
 なお、図22には、撮像部12101ないし12104の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲12111は、フロントノーズに設けられた撮像部12101の撮像範囲を示し、撮像範囲12112,12113は、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部12102,12103の撮像範囲を示し、撮像範囲12114は、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部12104の撮像範囲を示す。例えば、撮像部12101ないし12104で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両12100を上方から見た俯瞰画像が得られる。
 撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、距離情報を取得する機能を有していてもよい。例えば、撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、複数の撮像素子からなるステレオカメラであってもよいし、位相差検出用の画素を有する撮像素子であってもよい。
 例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を基に、撮像範囲12111ないし12114内における各立体物までの距離と、この距離の時間的変化(車両12100に対する相対速度)を求めることにより、特に車両12100の進行路上にある最も近い立体物で、車両12100と略同じ方向に所定の速度(例えば、0km/h以上)で走行する立体物を先行車として抽出することができる。さらに、マイクロコンピュータ12051は、先行車の手前に予め確保すべき車間距離を設定し、自動ブレーキ制御(追従停止制御も含む)や自動加速制御(追従発進制御も含む)等を行うことができる。このように運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
 例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を元に、立体物に関する立体物データを、2輪車、普通車両、大型車両、歩行者、電柱等その他の立体物に分類して抽出し、障害物の自動回避に用いることができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両12100の周辺の障害物を、車両12100のドライバが視認可能な障害物と視認困難な障害物とに識別する。そして、マイクロコンピュータ12051は、各障害物との衝突の危険度を示す衝突リスクを判断し、衝突リスクが設定値以上で衝突可能性がある状況であるときには、オーディオスピーカ12061や表示部12062を介してドライバに警報を出力することや、駆動系制御ユニット12010を介して強制減速や回避操舵を行うことで、衝突回避のための運転支援を行うことができる。
 撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、赤外線を検出する赤外線カメラであってもよい。例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在するか否かを判定することで歩行者を認識することができる。かかる歩行者の認識は、例えば赤外線カメラとしての撮像部12101ないし12104の撮像画像における特徴点を抽出する手順と、物体の輪郭を示す一連の特徴点にパターンマッチング処理を行って歩行者か否かを判別する手順によって行われる。マイクロコンピュータ12051が、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在すると判定し、歩行者を認識すると、音声画像出力部12052は、当該認識された歩行者に強調のための方形輪郭線を重畳表示するように、表示部12062を制御する。また、音声画像出力部12052は、歩行者を示すアイコン等を所望の位置に表示するように表示部12062を制御してもよい。
 以上、本開示に係る技術が適用され得る車両制御システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、例えば、撮像部12031に適用され得る。具体的には、具体的には、図1の測距モジュール100を、車外情報検出ユニット12030に適用することができる。車外情報検出ユニット12030に本開示に係る技術を適用することにより、測距精度を向上させ、車両制御システムの安全性を高くすることができる。
 なお、上述の実施の形態は本技術を具現化するための一例を示したものであり、実施の形態における事項と、特許請求の範囲における発明特定事項とはそれぞれ対応関係を有する。同様に、特許請求の範囲における発明特定事項と、これと同一名称を付した本技術の実施の形態における事項とはそれぞれ対応関係を有する。ただし、本技術は実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において実施の形態に種々の変形を施すことにより具現化することができる。
 また、上述の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、CD(Compact Disc)、MD(MiniDisc)、DVD(Digital Versatile Disc)、メモリカード、ブルーレイディスク(Blu-ray(登録商標)Disc)等を用いることができる。
 なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって、限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。
 なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
(1)アバランシェフォトダイオードと、
 アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
 前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
 前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
 前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと
を具備する受光素子。
(2)前記ソースフォロワー遮断スイッチは、所定レベルの前記出力信号が出力されたときに開状態に移行し、前記開状態に移行したときから所定の遅延時間が経過したときに閉状態に移行し、
 前記ソースフォロワートランジスタは、前記ソースフォロワー遮断スイッチが閉状態に移行したときから前記一方の端子の電圧が所定のカットオフ電圧になるときまでの期間内にドレイン電流を生成する
前記(1)記載の受光素子。
(3)前記ソースフォロワートランジスタのゲートには、前記ソースフォロワートランジスタの閾値電圧と前記ソースフォロワー遮断スイッチが開状態から閉状態に移行したときの前記一方の端子の電圧との和から、前記参照電圧と前記閾値電圧との和までの範囲内のバイアス電圧が印加される
前記(1)または(2)に記載の受光素子。
(4)前記論理ゲートに入力される信号の振幅を制限する電圧制限トランジスタをさらに具備する前記(1)から(3)のいずれかに記載の固体撮像素子。
(5)前記論理ゲートの入力端子は、前記充電部および前記電圧制限トランジスタの接続ノードに接続される
前記(4)記載の受光素子。
(6)前記論理ゲートの入力端子は、前記電圧制限トランジスタおよび前記アバランシェフォトダイオードの接続ノードに接続される
前記(4)記載の受光素子。
(7)前記ソースフォロワートランジスタのゲートには、前記所定電圧が印加される
前記(1)から(6)のいずれかに記載の受光素子。
(8)発光源からの照射光の発光タイミングと前記出力信号の立下りおよび立ち上りの一方のタイミングとの間の時間に基づいて物体までの距離を計算する距離計算部をさらに具備する前記(1)から(7)のいずれかに記載の受光素子。
(9)前記アバランシェフォトダイオード、前記充電部、前記ソースフォロワートランジスタ、前記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、複数の画素のそれぞれに設けられる
前記(1)から(8)のいずれかに記載の受光素子。
(10)前記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、
 前記充電部、前記ソースフォロワートランジスタ、前記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、所定のロジック基板に設けられる
前記(1)から(9)のいずれかに記載の受光素子。
(11)前記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、
 前記ソースフォロワートランジスタおよびソースフォロワー遮断スイッチを含む読出し回路の一部は、所定の高耐圧基板に設けられ、
 前記読出し回路の残りは、所定のロジック基板に設けられる
前記(1)から(9)のいずれかに記載の受光素子。
(12)前記充電部は、前記所定電圧と前記一方の端子との間に挿入された電流制限抵抗を備える
前記(1)から(11)のいずれかに記載の受光素子。
(13)前記出力信号に基づいて前記充電部と前記所定電圧との間の経路を開閉する充電部遮断スイッチをさらに具備する
前記(1)から(12)のいずれかに記載の受光素子。
(14)前記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときまでの期間に亘って前記ソースフォロワー遮断スイッチを開状態にするための第1の論理レベルのパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、
 前記ソースフォロワー遮断スイッチは、前記パルス信号が前記第1の論理レベルの期間内に開状態に移行し、前記パルス信号が前記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に閉状態に移行する
前記(1)から(13)のいずれかに記載の受光素子。
(15)前記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときにパルス幅の期間に亘って前記ソースフォロワー遮断スイッチを閉状態にするための第1の論理レベルのパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、
 前記ソースフォロワー遮断スイッチは、前記パルス信号が前記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に開状態に移行し、前記パルス信号が前記第1の論理レベルの期間内に閉状態に移行する
前記(1)から(13)のいずれかに記載の受光素子。
(16)前記一方の端子は、カソードであり、
 前記所定電圧は、電源電圧であり、
 前記充電部は、前記電源電圧から前記カソードへ前記定電流を供給する
前記(1)から(15)のいずれかに記載の受光素子。
(17)前記一方の端子は、アノードであり、
 前記所定電圧は、読出し回路グラウンドであり、
 前記充電部は、前記アノードから前記読出し回路グラウンドへ前記定電流を供給する
前記(1)から(15)のいずれかに記載の受光素子。
(18)アバランシェフォトダイオードと、
 アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
 前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
 前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
 前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと、
 前記出力信号を処理する信号処理部と
を具備する測距モジュール。
(19)照射光を照射する照明装置と、
 前記照射光に対する反射光を受光する受光素子と
 を具備し、
 前記受光素子は、
 アバランシェフォトダイオードと、
 アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
 前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
 前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
 前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと
を備える
 測距システム。
(20)アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電手順と、
 前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する出力手順と、
 前記出力信号に基づいて前記一方の端子の電圧にソースが接続されたソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断手順と
を具備する受光素子の制御方法。
 100 測距モジュール
 110 発光源
 120 タイミング生成部
 200 固体撮像素子
 201 受光基板
 202 ロジック基板
 203 高耐圧基板
 210 制御回路
 220 画素アレイ部
 230 信号処理部
 231 TDC
 232 距離計算部
 300 画素
 305 読出し回路
 310 SF遮断スイッチ
 311、331、381 pMOSトランジスタ
 320、321 ソースフォロワートランジスタ
 330 電流源
 340 SPAD
 350 アンプ
 360 パルス整形回路
 370 電流制限抵抗
 380 電流源遮断スイッチ
 390 電圧制限トランジスタ
 12030 車外情報検出ユニット

Claims (20)

  1.  アバランシェフォトダイオードと、
     アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
     前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
     前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
     前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと
    を具備する受光素子。
  2.  前記ソースフォロワー遮断スイッチは、所定レベルの前記出力信号が出力されたときに開状態に移行し、前記開状態に移行したときから所定の遅延時間が経過したときに閉状態に移行し、
     前記ソースフォロワートランジスタは、前記ソースフォロワー遮断スイッチが閉状態に移行したときから前記一方の端子の電圧が所定のカットオフ電圧になるときまでの期間内にドレイン電流を生成する
    請求項1記載の受光素子。
  3.  前記ソースフォロワートランジスタのゲートには、前記ソースフォロワートランジスタの閾値電圧と前記ソースフォロワー遮断スイッチが開状態から閉状態に移行したときの前記一方の端子の電圧との和から、前記参照電圧と前記閾値電圧との和までの範囲内のバイアス電圧が印加される
    請求項1記載の受光素子。
  4.  前記論理ゲートに入力される信号の振幅を制限する電圧制限トランジスタをさらに具備する請求項1記載の受光素子。
  5.  前記論理ゲートの入力端子は、前記充電部および前記電圧制限トランジスタの接続ノードに接続される
    請求項4記載の受光素子。
  6.  前記論理ゲートの入力端子は、前記電圧制限トランジスタおよび前記アバランシェフォトダイオードの接続ノードに接続される
    請求項4記載の受光素子。
  7.  前記ソースフォロワートランジスタのゲートには、前記所定電圧が印加される
    請求項1記載の受光素子。
  8.  発光源からの照射光の発光タイミングと前記出力信号の立下りおよび立ち上りの一方のタイミングとの間の時間に基づいて物体までの距離を計算する距離計算部をさらに具備する請求項1記載の受光素子。
  9.  前記アバランシェフォトダイオード、前記充電部、前記ソースフォロワートランジスタ、前記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、複数の画素のそれぞれに設けられる
    請求項1記載の受光素子。
  10.  前記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、
     前記充電部、前記ソースフォロワートランジスタ、前記論理ゲートおよびソースフォロワー遮断スイッチは、所定のロジック基板に設けられる
    請求項1記載の受光素子。
  11.  前記アバランシェフォトダイオードは、所定の受光基板に設けられ、
     前記ソースフォロワートランジスタおよびソースフォロワー遮断スイッチを含む読出し回路の一部は、所定の高耐圧基板に設けられ、
     前記読出し回路の残りは、所定のロジック基板に設けられる
    請求項1記載の受光素子。
  12.  前記充電部は、前記所定電圧と前記一方の端子との間に挿入された電流制限抵抗を備える
    請求項1記載の受光素子。
  13.  前記出力信号に基づいて前記充電部と前記所定電圧との間の経路を開閉する充電部遮断スイッチをさらに具備する
    請求項1記載の受光素子。
  14.  前記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときまでの期間に亘って前記ソースフォロワー遮断スイッチを開状態にするための第1の論理レベルのパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、
     前記ソースフォロワー遮断スイッチは、前記パルス信号が前記第1の論理レベルの期間内に開状態に移行し、前記パルス信号が前記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に閉状態に移行する
    請求項1記載の受光素子。
  15.  前記出力信号の立下りおよび立下りのいずれかのタイミングから所定の遅延時間が経過したときにパルス幅の期間に亘って前記ソースフォロワー遮断スイッチを閉状態にするための第1の論理レベルパルス信号を出力するパルス整形回路をさらに具備し、
     前記ソースフォロワー遮断スイッチは、前記パルス信号が前記第1の論理レベルと異なる第2の論理レベルの期間内に開状態に移行し、前記パルス信号が前記第1の論理レベルレベルの期間内に閉状態に移行する
    請求項1記載の受光素子。
  16.  前記一方の端子は、カソードであり、
     前記所定電圧は、電源電圧であり、
     前記充電部は、前記電源電圧から前記カソードへ前記定電流を供給する
    請求項1記載の受光素子。
  17.  前記一方の端子は、アノードであり、
     前記所定電圧は、読出し回路グラウンドであり、
     前記充電部は、前記アノードから前記読出し回路グラウンドへ前記定電流を供給する
    請求項1記載の受光素子。
  18.  アバランシェフォトダイオードと、
     アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
     前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
     前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
     前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと、
     前記出力信号を処理する信号処理部と
    を具備する測距モジュール。
  19.  照射光を照射する照明装置と、
     前記照射光に対する反射光を受光する受光素子と
     を具備し、
     前記受光素子は、
     アバランシェフォトダイオードと、
     アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電部と、
     前記一方の端子にソースが接続されたソースフォロワートランジスタと、
     前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する論理ゲートと、
     前記出力信号に基づいて前記ソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断スイッチと
    を備える
     測距システム。
  20.  アバランシェフォトダイオードのカソードおよびアノードのいずか一方の端子と所定電圧との間に定電流を流す充電手順と、
     前記一方の端子の電圧と所定の参照電圧との比較結果に基づいて出力信号を出力する出力手順と、
     前記出力信号に基づいて前記一方の端子の電圧にソースが接続されたソースフォロワートランジスタのドレインと前記所定電圧との間の経路を開閉するソースフォロワー遮断手順と
    を具備する受光素子の制御方法。
PCT/JP2021/029872 2020-10-07 2021-08-16 受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法 WO2022074939A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202180067825.3A CN116325166A (zh) 2020-10-07 2021-08-16 光接收元件、测距模块、测距系统和用于控制光接收元件的方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020169469A JP2022061517A (ja) 2020-10-07 2020-10-07 受光素子、測距モジュール、および、受光素子の制御方法
JP2020-169469 2020-10-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2022074939A1 true WO2022074939A1 (ja) 2022-04-14

Family

ID=81126430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/029872 WO2022074939A1 (ja) 2020-10-07 2021-08-16 受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2022061517A (ja)
CN (1) CN116325166A (ja)
WO (1) WO2022074939A1 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090315135A1 (en) * 2006-07-21 2009-12-24 Hod Finkelstein Shallow-Trench-Isolation (STI)-Bounded Single-Photon CMOS Photodetector
JP2020505602A (ja) * 2017-01-25 2020-02-20 アップル インコーポレイテッドApple Inc. 変調感度を有するspad検出器
JP2020094849A (ja) * 2018-12-11 2020-06-18 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光検出装置及び測距装置
US20200284652A1 (en) * 2019-02-13 2020-09-10 Technion Research And Development Foundation Sensing device
JP2020143959A (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 制御回路および測距システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090315135A1 (en) * 2006-07-21 2009-12-24 Hod Finkelstein Shallow-Trench-Isolation (STI)-Bounded Single-Photon CMOS Photodetector
JP2020505602A (ja) * 2017-01-25 2020-02-20 アップル インコーポレイテッドApple Inc. 変調感度を有するspad検出器
JP2020094849A (ja) * 2018-12-11 2020-06-18 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光検出装置及び測距装置
US20200284652A1 (en) * 2019-02-13 2020-09-10 Technion Research And Development Foundation Sensing device
JP2020143959A (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 制御回路および測距システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2022061517A (ja) 2022-04-19
CN116325166A (zh) 2023-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11818481B2 (en) Solid-state image sensor and electronic device
KR102657111B1 (ko) 고체 촬상 소자, 촬상 장치 및 고체 촬상 소자의 제어 방법
CN212321848U (zh) 光检测设备以及距离测量传感器
WO2021090691A1 (ja) センシングデバイスおよび測距装置
US20210293958A1 (en) Time measurement device and time measurement apparatus
JP7478526B2 (ja) 固体撮像素子、および、測距システム
WO2021059675A1 (ja) 固体撮像素子、および、電子機器
US20240111033A1 (en) Photodetection device and photodetection system
WO2022074939A1 (ja) 受光素子、測距モジュール、測距システム、および、受光素子の制御方法
WO2021192460A1 (ja) センシングデバイス、および、電子装置
US20230108619A1 (en) Imaging circuit and imaging device
JP2023072096A (ja) チャージポンプ回路および昇圧方法
WO2021256276A1 (ja) 測距装置および測距システム
JP2020141362A (ja) 光検出装置
WO2024084792A1 (ja) 光検出装置、測距装置、および、光検出装置の制御方法
WO2022172622A1 (ja) 光検出装置および光検出システム
WO2022149388A1 (ja) 撮像装置および測距システム
WO2022118552A1 (ja) 光検出装置および光検出システム
WO2022064867A1 (ja) 固体撮像素子、および、撮像装置
US11711634B2 (en) Electronic circuit, solid-state image sensor, and method of controlling electronic circuit
WO2022168356A1 (ja) 光検出装置、および、測距システム
WO2023145261A1 (ja) 測距装置および測距装置の制御方法
WO2023153104A1 (ja) 信号生成回路および光検出装置
WO2021251057A1 (ja) 光検出回路および測距装置
KR20230149294A (ko) 광 검출 장치 및 광 검출 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21877243

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 21877243

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1