WO2021179367A1 - 一种上电缓冲电阻的性能测试方法、装置及设备 - Google Patents
一种上电缓冲电阻的性能测试方法、装置及设备 Download PDFInfo
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Definitions
- the invention relates to the field of circuit element testing, in particular to a method for testing the performance of a power-on buffer resistor.
- the invention also relates to a device and equipment for testing the performance of a power-on buffer resistor.
- the purpose of the present invention is to provide a method for testing the performance of the power-on buffer resistor, which can accurately test the performance of the power-on buffer resistor, that is, it can test the servo drive or the inverter under the condition that the performance of the power-on buffer resistance is known. Use it to eliminate potential safety hazards; another purpose of the present invention is to provide a power-on buffer resistor performance test device and equipment, which can accurately test the performance of the power-on buffer resistor, that is, it can be The use of servo drives or frequency converters under the condition of buffer resistance performance eliminates potential safety hazards.
- the performance test method of the power-on buffer resistor further includes:
- FIG. 1 is a schematic flow chart of a method for testing the performance of a power-on buffer resistor provided by the present invention
- the first control switch and the second control switch may also be of various other types, which are not limited in the embodiment of the present invention.
- the reminder can be controlled to prompt the failure of the buffer resistor to be tested, so that the staff can quickly learn and deal with it adaptively, which further improves Improve work efficiency.
- FIG. 3 is a schematic structural diagram of a performance test device for a power-on buffer resistor provided by the present invention, including:
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Abstract
一种上电缓冲电阻的性能测试方法、装置及设备，方法包括：在储能电容被充电预设时段后且储能电容的电压值不大于预设阈值的情况下判定待测缓冲电阻失效，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。
Description
本申请要求于2020年03月10日提交至中国专利局、申请号为202010164844.5、发明名称为“一种上电缓冲电阻的性能测试方法、装置及设备”的中国专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。
本发明涉及电路元件测试领域，特别是涉及一种上电缓冲电阻的性能测试方法，本发明还涉及一种上电缓冲电阻的性能测试装置及设备。
伺服驱动器或者变频器的主回路通常都包括整流电路，第一端与整流电路的输出端连接，第二端与储能电容连接的上电缓冲电阻以及储能电容，整流电路可以将交流电转换为直流电，储能电容可以将直流电储存起来并向后端负载提供稳定的直流电，由于储能电容在上电的瞬间相当于短路，因此上电缓冲电阻可以在储能电容的通电瞬间承受极大的电流防止电源烧坏，但是因此对上电缓冲电阻的要求也就较高，现有技术中没有一套成熟地测试上电缓冲电阻性能的装置，无法对上电缓冲电阻的耐损性能进行测试，在上电缓冲电阻性能未知的情况下对伺服驱动器或者变频器贸然进行使用则会存在一定安全隐患。
因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种上电缓冲电阻的性能测试方法，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患；本发明的另一目的是提供一种上电缓冲电阻的性能测试装置及设备，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。
为解决上述技术问题，本发明提供了一种上电缓冲电阻的性能测试方法，包括：
控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；
在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值；
若否，则判定所述待测缓冲电阻失效。
优选地，在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
若所述储能电容的电压值大于所述预设阈值，则控制所述直流电源停止为所述储能电容供电，并控制电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能。
优选地，所述控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
将初始值为0的测试次数加一；
判断所述测试次数是否达到预设次数；
若否，则返回控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电的步骤。
优选地，所述判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值具体为：
通过电压检测模块获取所述储能电容的电压值；
判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值；
则所述电压检测模块包括：
第一端与所述储能电容的第一端连接，第二端分别与第二分压电阻的第一端以及处理器连接的第一分压电阻；
第二端分别与所述储能电容的第二端以及所述处理器连接的所述第二分压电阻。
优选地，所述控制所述直流电源停止为所述储能电容供电，并控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能具体为：
通过设置在所述直流电源与所述待测缓冲电容之间的第一控制开关控制所述直流电源停止为所述储能电容供电；
通过设置在所述储能电容与电能泄放模块之间的第二控制开关控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能。
优选地，该上电缓冲电阻的性能测试方法应用于处理器。
优选地，所述处理器为可编程逻辑控制器PLC。
优选地，所述判定所述待测缓冲电阻失效之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
控制提示器提示所述待测缓冲电阻失效。
为解决上述技术问题，本发明还提供了一种上电缓冲电阻的性能测试装置，包括：
控制模块，用于控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；
判断模块，用于在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值，若否，则触发判定模块；
所述判定模块，用于判定所述待测缓冲电阻失效。
为解决上述技术问题，本发明还提供了一种上电缓冲电阻的性能测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的上电缓冲电阻的性能测试方法的步骤。
本发明提供了一种上电缓冲电阻的性能测试方法，考虑到待测缓冲电阻在损坏后通常会形成断路，直流电源便无法正常地通过待测缓冲电阻为储能电容充电，因此本申请可以在储能电容被充电预设时段后且储能电容的电压值不大于预设阈值的情况下判定待测缓冲电阻失效，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。
本发明还提供了一种上电缓冲电阻的性能测试装置及设备，具有如上上电缓冲电阻的性能测试相同的有益效果。
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出 创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试方法的流程示意图；
图2为本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试设备的结构示意图；
图3为本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试装置的结构示意图；
图4为本发明提供的另一种上电缓冲电阻的性能测试设备的结构示意图。
本发明的核心是提供一种上电缓冲电阻的性能测试方法，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患；本发明的另一核心是提供一种上电缓冲电阻的性能测试装置及设备，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参考图1，图1为本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试方法的流程示意图，该上电缓冲电阻的性能测试方法包括：
步骤S1：控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；
具体的，考虑到直流电源每次在为储能电容充电的过程中，待测缓冲电阻可以起到分压的作用并对自身产生损耗，特别是在直流电源刚接通到储能电容的瞬间，由于储能电容通电瞬间短路的自身特性，这时直流电源 所有的电压都加载在待测缓冲电阻上，即有大电流通过待测缓冲电阻，此刻对待测缓冲电阻的损耗较大，因此有必要对待测缓冲电阻的耐损性能进行测试。
其中，直流电源可以为多种类型，但是其电压需要达到伺服驱动器或者变频器在实际应用过程中直流部分的电压值，例如311V左右(可由220V交流电转换)等，此外，针对使用三相380V的交流转换直流537V左右的伺服驱动器或者变频器同样可以适用，这样才能起到更加真实的测试效果。
步骤S2：在储能电容被充电预设时段后判断储能电容的电压值是否大于预设阈值；
具体的，考虑到待测缓冲电阻在正常的情况下，会正常地进行分压并形成通路，使得直流电源逐渐地对储能电容进行充电，若待测缓冲电阻受损严重，则其通常情况下无法再流通电流，也即形成断路，因此本发明实施例可以在储能电容被充电预设时段后判断储能电容的电压值是否大于预设阈值，通过此方法来判定待测缓冲电阻是否失效。
其中，预设时段可以进行自主设定，例如可以为10s等，预设阈值也可以进行自主设定，例如可以为5V等，本发明实施例在此不做限定。
步骤S3：若否，则判定待测缓冲电阻失效。
具体在，在充电预设时段后若储能电容的电压值没能超过预设阈值(且在处理器正常的情况下)，则可以证明此待测缓冲电阻断路(无法给储能电容充电)或者阻值异常增大，其流通电流等性能已经较差，无法在储能电路的充电回路中起到很好的作用，因此可以判定待测缓冲电阻失效，由此，本发明实施例便可以准确地对待测缓冲电阻的性能进行测试，在对伺服驱动器或者变频器之前让使用者真切了解到产品是否可靠。
其中，为了更好地对待测缓冲电阻的性能进行测试，单次的测试往往是不够的，因此可以对上述步骤进行重复从而对待测缓冲电阻进行反复多次测试。
本发明提供了一种上电缓冲电阻的性能测试方法，考虑到待测缓冲电阻在损坏后通常会形成断路，直流电源便无法正常地通过待测缓冲电阻为储能电容充电，因此本申请可以在储能电容被充电预设时段后且储能电容 的电压值不大于预设阈值的情况下判定待测缓冲电阻失效，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。
在上述实施例的基础上：
作为一种优选的实施例，在储能电容被充电预设时段后判断储能电容的电压值是否大于预设阈值之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
若储能电容的电压值大于预设阈值，则控制直流电源停止为储能电容供电，并控制电能泄放模块泄放储能电容中的电能。
具体的，在储能电容的电压大于预设值时，可以证明储能电容已经被正常顺利地进行充电，因此可以判定待测缓冲电阻是有效地，为了快速地对于储能电容进行下一次充电，也即为了快速的对于待测缓冲电阻进行下一次的测试，必须要快速的泄放掉储能电容中的电能，因此本发明实施例可以控制电能泄放模块泄放储能电容中的电能，便于进行下一次对待测缓冲电阻的测试，能够提高工作效率以及保证多次测试的快速进行。
作为一种优选的实施例，控制电能泄放模块泄放储能电容中的电能之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
将初始值为0的测试次数加一；
判断测试次数是否达到预设次数；
若否，则返回控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电的步骤。
具体的，本发明实施例中测试方法可以应用于处理器中，如此一来，便能够自动化地对待测缓冲电阻进行预设次数的测试，节省了人力，提高了工作效率。
其中，预设次数可以进行自主设定，例如可以设定为100次等，本发明实施例在此不做限定。
为了更好地对本发明实施例进行说明，请参考图2，图2位本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试设备的结构示意图，作为一种优选的实施例，判断储能电容的电压值是否大于预设阈值具体为：
通过电压检测模块获取储能电容的电压值；
判断储能电容的电压值是否大于预设阈值；
则电压检测模块包括：
第一端与储能电容的第一端连接，第二端分别与第二分压电阻的第一端以及处理器连接的第一分压电阻；
第二端分别与储能电容的第二端以及处理器连接的第二分压电阻。
具体的，电压检测模块可以为两个分压电阻构成，具有结构简单，检测准确的优点。
其中，如图2所示，第一分压电阻可以包括多个电阻，例如可以包括R4、R5、R6、以及R7，在没有极大阻值的单个电阻的情况下可以采用这种多个电阻的形式作为第一分压电阻，本发明实施例在此不做限定。
具体的，在图2中，被测缓冲电阻R1左边的所有部分可以整体看作直流电源，该直流电源进行了二次的滤波，能够得到更优质无交流分量的直流电，便于测试的进行。
当然，直流电源还可以为其他多种类型，例如图2中的直流电源中也可以省去整流单元2，或者省去整流单元2与交流单相220V输入之间的所有器件等，本发明实施例在此不做限定。
具体的，本申请可以对伺服驱动器或者变频器所使用的缓冲电阻进行极限测试，后端使用的电解电容以及缓冲电阻的功耗可以进行调整，根据伺服驱动器或者变频器设计的储能电容容量和缓冲电阻的阻值功耗大小去调整电路被测缓冲电阻阻值功耗。其中，电解电容充电时间为T＝R*C，可以得出充电时间与缓冲电阻阻值和母线电容容量成正比。当伺服驱动器或者变频器刚上电时，由于直流侧的滤波电容容量C2非常大，在刚充电的瞬间相当于短路，电流会很大，缓冲电阻承受的瞬间电流I1＝311V/R1，在缓慢充电时电阻所流过的电流缓慢减少。所以本发明的测试方法的母线电容较大，充放电过程的时间大概可以为30s。
其中，电能泄放模块可以为多种类型，例如可以为图2中的放电电阻等，本发明实施例在此不做限定。
当然，除了两个分压电阻外，电压检测模块还可以为其他类型，本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例，控制直流电源停止为储能电容供电，并控制电能泄放模块泄放储能电容中的电能具体为：
通过设置在直流电源与待测缓冲电容之间的第一控制开关控制直流电源停止为储能电容供电；
通过设置在储能电容与电能泄放模块之间的第二控制开关控制电能泄放模块泄放储能电容中的电能。
具体的，通过控制开关分别对直流电源的供电以及电能泄放模块的接入进行控制，可以具有快速响应以及控制准确的效果，两个控制开关可以分别为多种类型，例如如图2所示，第一控制开关即为图2中的继电器K1，第二控制开关即为图2中的继电器K2，继电器具有成本低、结构简单以及寿命长等优点。
其中，处理器在切换第一控制开关以及第二控制开关时根据控制开关类型的不同可以在切换过程中加入一定的时间间隔，以防止出现两者同时导通的情况。
当然，除了继电器外，第一控制开关以及第二控制开关分别还可以为其他多种类型，本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例，该上电缓冲电阻的性能测试方法应用于处理器。
具体的，在应用于处理器时，能够解放人工并提高自动化程度。
当然，除了应用于处理器外，该上电缓冲电阻的性能测试方法还可以由人工执行，本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例，处理器为可编程逻辑控制器PLC。
具体的，PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)具有体积小、成本低以及处理速度快等优点。
当然，除了PLC外，处理器还可以为其他多种类型，本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例，判定待测缓冲电阻失效之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：
控制提示器提示待测缓冲电阻失效。
具体的，为了使得工作人员更快速地得知待测缓冲电阻失效，本发明实施例中可以控制提示器提示待测缓冲电阻失效，以便工作人员快速得知并进行适应性地处理，进一步地提高了工作效率。
当然，除了提示之外，还可以控制直流电源停止供电，防止图2中的前端缓冲电阻R2、待测缓冲电阻R1和后端放电电阻R3直接接入310V直流中，使得缓冲电阻R2、待测缓冲电阻R1和后端放电电阻R3烧坏。
其中，提示器可以为多种类型，例如可以为显示器或者各种类型的报警器等，本发明实施例在此不做限定。
请参考图3，图3位本发明提供的一种上电缓冲电阻的性能测试装置的结构示意图，包括：
控制模块1，用于控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；
判断模块2，用于在储能电容被充电预设时段后判断储能电容的电压值是否大于预设阈值，若否，则触发判定模块3；
判定模块3，用于判定待测缓冲电阻失效。
对于本发明实施例提供的上电缓冲电阻的性能测试装置的介绍请参照前述的上电缓冲电阻的性能测试方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。
请参考图4，图4为本发明提供的另一种上电缓冲电阻的性能测试设备的结构示意图，包括：
存储器4，用于存储计算机程序；
处理器5，用于执行计算机程序时实现如前述实施例中的上电缓冲电阻的性能测试方法的步骤。
对于本发明实施例提供的上电缓冲电阻的性能测试设备的介绍请参照前述的上电缓冲电阻的性能测试方法的实施例，本发明实施例在此不再赘述。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的 都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个......”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
- 一种上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，包括：控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值；若否，则判定所述待测缓冲电阻失效。
- 根据权利要求1所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：若所述储能电容的电压值大于所述预设阈值，则控制所述直流电源停止为所述储能电容供电，并控制电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能。
- 根据权利要求2所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，所述控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：将初始值为0的测试次数加一；判断所述测试次数是否达到预设次数；若否，则返回控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电的步骤。
- 根据权利要求1所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，所述判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值具体为：通过电压检测模块获取所述储能电容的电压值；判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值；则所述电压检测模块包括：第一端与所述储能电容的第一端连接，第二端分别与第二分压电阻的第一端以及处理器连接的第一分压电阻；第二端分别与所述储能电容的第二端以及所述处理器连接的所述第二分压电阻。
- 根据权利要求2所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，所述控制所述直流电源停止为所述储能电容供电，并控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能具体为：通过设置在所述直流电源与所述待测缓冲电容之间的第一控制开关控制所述直流电源停止为所述储能电容供电；通过设置在所述储能电容与电能泄放模块之间的第二控制开关控制所述电能泄放模块泄放所述储能电容中的电能。
- 根据权利要求5所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，该上电缓冲电阻的性能测试方法应用于处理器。
- 根据权利要求6所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，所述处理器为可编程逻辑控制器PLC。
- 根据权利要求1至7任一项所述的上电缓冲电阻的性能测试方法，其特征在于，所述判定所述待测缓冲电阻失效之后，该上电缓冲电阻的性能测试方法还包括：控制提示器提示所述待测缓冲电阻失效。
- 一种上电缓冲电阻的性能测试装置，其特征在于，包括：控制模块，用于控制直流电源通过待测缓冲电阻为储能电容充电；判断模块，用于在所述储能电容被充电预设时段后判断所述储能电容的电压值是否大于预设阈值，若否，则触发判定模块；所述判定模块，用于判定所述待测缓冲电阻失效。
- 一种上电缓冲电阻的性能测试设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述的上电缓冲电阻的性能测试方法的步骤。
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2020
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