WO2021162311A1 - 분리형 프로브 어레이블록 - Google Patents

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WO2021162311A1
WO2021162311A1 PCT/KR2021/001321 KR2021001321W WO2021162311A1 WO 2021162311 A1 WO2021162311 A1 WO 2021162311A1 KR 2021001321 W KR2021001321 W KR 2021001321W WO 2021162311 A1 WO2021162311 A1 WO 2021162311A1
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WO
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probe
piece
probes
guide
guide bar
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PCT/KR2021/001321
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Inventor
이용관
오제헌
황진택
Original Assignee
주식회사 프로이천
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G—PHYSICS
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere

Definitions

  • the present invention relates to a detachable probe array block, and more particularly, in an array block that transmits an inspection signal obtained by contacting an inspection object such as an LCD panel to a control device, a plurality of probes in contact with a pattern are separated from the holder It relates to a separate type probe array block that is restrained by a negative guide protrusion and a guide bar of the receiving stand body to prevent mutual contact.
  • the probe array block is a device used to perform a gross test in the process of manufacturing an LCD panel, etc., and has been developed in various forms such as a needle type, a blade type, and a film type.
  • the needle-type array block is not only arranged so that a plurality of probes constituting the inspection tip are adjacent to each other, but also when the epoxy resin is deformed when an epoxy resin is used to attach the probe to the block case, it is deformed together and mutually There was a problem in that the inspection performance was greatly deteriorated, such as causing a short circuit by causing contact between the livers.
  • the probe block 101 (Registration Patent No. 10-1558256) shown in FIGS. 1 and 2 has been proposed.
  • the probe block 101 is, as shown, a first film 332 and a second film so that a plurality of probes 100 arranged side by side at a narrow interval at the tip of the probe block 200 are not shorted to each other.
  • the contact is blocked by (334).
  • first insertion protrusion 140 and the second insertion protrusion 144 protrude from the exposed edges of the vertical portion 120 and the second horizontal portion 130 of the probe 100, respectively, and the first insertion protrusion ( 140) is inserted into the insertion hole 330a of the first film 332, and the second insertion projection 144 is inserted into the insertion hole 330a of the second film 334, respectively, so that the first insertion projection 140
  • the adjacent first insertion protrusion 140 and the second insertion protrusion 144 are restrained from contacting each other with the neighboring second insertion protrusion 144 to prevent a short circuit between them.
  • a plurality of insertion holes 330a are densely penetrated in one body called the first and second films 332 and 334, and are formed. Regardless of whether the insertion holes 330a are inserted into the insertion protrusions 140 and 144 after being attached to the probe block 101 or, conversely, the insertion protrusions 140 and 144 are first inserted into the plurality of insertion holes 330a in sequence, one body Since the operation of inserting the plurality of insertion protrusions 140 and 144 into the insertion holes 330a of the first and second films 332 and 334 one by one is very difficult, cumbersome, and inconvenient, the efficiency of the assembly operation of the probe block 101 And there was a problem that productivity is greatly reduced.
  • the interval between the insertion protrusions 140 and 144 is very close, the interval between the insertion holes 330a of the first and second films 332 and 334 is also very narrow, so the durability of the first and second films 332 and 334 is very narrow.
  • the quality or performance of the probe block 101 is greatly reduced, such as the strength is greatly reduced and thus the useful life is shortened.
  • the present invention has been proposed to solve the problems of the conventional probe block as described above.
  • a plurality of probes closely arranged in correspondence with the pattern are brought into contact with each other so as to come into contact with the pattern of the densely arranged panel.
  • the receiving base into which the probe is inserted can be divided into the main body part and the separating part, and the guide protrusion is formed in the separating part, and the guide bar is inserted and fixed in the main body part.
  • the purpose is to make the assembly operation of inserting the guide protrusion or guide bar into the probe more convenient and quicker for restraint.
  • the guide protrusion or guide bar constraining the probe as above is manufactured in the form of a bar having a rectangular cross-section, and the first or second guide slit is formed on one side thereof, so that the strength around the guide slit can be increased. , therefore, there is another object to improve the quality or performance of the probe block.
  • the present invention includes a case constituting an outer body; a plurality of probes mounted in the case so as to be in contact with the object to be inspected by a tip tip and connected to a control device by a rear tip; a pedestal for accommodating the plurality of probes so as to be aligned in parallel with each other; a probe cover mounted so as to cover the case, pressurizing and constraining the probe accommodated in the pedestal; and a guide bar separately assembled to the holder to restrain the probe accommodated in the holder to prevent contact between the probes. wealth; and a separation unit that is divided so as to be assembled with the main body, and prevents contact between the probes together with the guide bar through a guide protrusion formed on one side to restrain the probe.
  • the probe is composed of a first piece connected to the front tip and a second piece connected from the first piece to the rear end tip, and the guide bar is configured to constrain either the first piece or the second piece.
  • the guide protrusion integrally protrudes from the separation part so as to constrain the other one of the first piece or the second piece.
  • the receiving stand has a plurality of first slits formed adjacent to each other at the tip side end, and a plurality of second slits are formed adjacent to each other at the rear tip side end to accommodate the plurality of probes, ;
  • the guide bar is constrained by inserting any one of the first piece or the second piece into a second guide slit formed in a second receiving end to correspond to any one of the first slit or the second slit, and the guide
  • the protrusion is configured to be constrained by inserting the other one of the first piece or the second piece into a first guide slit formed at the first receiving end to correspond to the other one of the first slit or the second slit.
  • the probe is a fitting groove extending concavely in the same direction as the first piece along the exposed edge of the first piece or extending concavely in the same direction as the second piece along the exposed edge of the second piece It is preferable that a fitting groove is provided, and an auxiliary holder for restraining the probe in the same direction as the probe cover is fitted and coupled to the fitting groove.
  • the probe has a first alignment protrusion protruding from an edge of the first piece facing the probe cover to reduce the size of a surface in contact with the probe cover, and at the edge of the second piece facing the probe cover, the It is preferable that the second alignment protrusion protrudes to reduce the size of the surface in contact with the probe cover.
  • the separate probe array block of the present invention when inspecting an LCD panel, etc., a plurality of closely arranged probes are prevented from contacting each other by a probe guide so as to correspond to a pattern of a densely arranged panel in a one-to-one correspondence with each other. It is possible to prevent in advance the short circuit of the array block due to the contact between the probes and the erroneous contact between the probe and the pattern.
  • the probe guide is manufactured in the form of a rod or bar so as to be a separate member assembled on the support stand, and before or after assembling on the support stand. Since a plurality of probes are fitted, the assembly operation of fitting the probes into the first and second slits of the probe guide to constrain the probes by the probe guide can be performed more conveniently and quickly.
  • the probe guide restraining the probe is manufactured in the form of a rod or bar, the durability strength of the probe guide can be increased, and thus the overall performance and quality of the array block such as the durability strength and useful life of the probe block can be further improved.
  • 1 is a front view showing a conventional probe block.
  • Figure 2 is a perspective view of Figure 1;
  • FIG. 3 is a bottom perspective view of a detachable probe array block according to an embodiment of the present invention.
  • Figure 4 is an exploded perspective view of Figure 3;
  • Fig. 5 is a bottom view of the case of Fig. 3;
  • Fig. 6 is a left side view of Fig. 3;
  • Figure 7 is a front sectional view of the case of Figure 3.
  • FIG. 8 is an enlarged view of part A of FIG. 7 ;
  • Fig. 9 is a partially extracted bottom perspective view of part A of Fig. 7;
  • Fig. 10 is a partially excerpted bottom perspective view of Fig. 9;
  • the array block of the present invention is largely a case (3), a plurality of probes (5), a pedestal (7), a probe cover (9), and a probe guide ( 11) is included.
  • the case 3 is a part constituting the outer body of the array block 1, and as shown in Figs.
  • the protrusions 21 and 22 protrude from both end corners.
  • the case (3) is mounted on the bottom surface of the probe cover (9), the flexible circuit board cover (13), and the upper probe (5), the support (7) in the inner space formed together with the front cover (14). , and the probe guide 11 , as well as the front end of the flexible circuit board 15 , the pattern film 17 , and the pattern plate 19 are accommodated.
  • the probe 5 is a pin-type terminal of a thin plate that directly transmits an inspection signal from the inspection object to the flexible circuit board 15 in contact with the inspection object, and as shown in FIGS. 3 to 10, a plurality of case (3) A bar mounted on the bottom surface of the inner tip, each probe 5 is made of a conductor having a W-shape as a whole.
  • FIGS. 3 to 10 a plurality of case (3) A bar mounted on the bottom surface of the inner tip, each probe 5 is made of a conductor having a W-shape as a whole.
  • the probe 5 is in contact with an inspection object such as a pattern of an LCD panel, for example, by a tip 23 protruding from the bottom surface of the case 3 , and the case (3)
  • the rear end tip 24 protrudes backward, for example, in contact with the film 17 pattern P of the flexible circuit board 15, and the rear end tip 24 is controlled through the flexible circuit board 15 connected to the device.
  • the probe 5 includes a first piece 25 leading to the leading tip 23 and a second piece 26 leading to the rear tip as shown in FIGS. 8, 9, and 10, etc.
  • the first piece 25 extends in the vertical direction in the drawing that crosses the case 3
  • the second piece 26 extends in the left and right direction in the drawing that ends the case 3 .
  • the upper end of the first piece 25 is connected to the tip of the second piece 26 as one, it has a L-shape as a whole.
  • the first piece 25 has a lower end bent in a right angle direction up to the front end tip 23 and extends long in the front, whereas the second piece 26 has a shorter upper end portion up to the rear end tip 24 in a right angle direction. bent and extended upwards.
  • a plurality of probes 5 are mounted side by side on the receiving base 7 through a probe guide 11 to be described later, so that the probe 5 is separated from the probe guide 11 . It is pressed by the probe cover 9 to be described later to prevent it.
  • the probe 5 has a first alignment protrusion 27 protruding from the edge facing the probe cover 9 of the first piece 25 in order to keep the contact with the probe cover 9 more uniformly.
  • a second alignment protrusion 28 protrudes from the edge of the second piece 26 facing the probe cover 9 . That is, the first piece 25 and the second piece 26 minimize the area of the portion in contact with the probe cover 9 through the first alignment protrusion 27 and the second alignment protrusion 28, respectively, so that the contact surface Minimize contact failure due to increase in
  • the probe 5 is, as shown in Figs. 8, 9, and 10, at least one edge of the first piece 25 or the second piece 26, e.g., the second piece 26 when shown.
  • a fitting groove 29 concavely extending in the same direction as the second piece 26 is formed along the exposed edge of the . That is, the probe 5 is not fitted into the first and second guide slits 43 and 44 to be described later, but along the exposed inner edges, as shown in FIGS. 29) is formed. Accordingly, the probe 5 is constrained to move in the same direction as the probe cover 9 by the flat rod-shaped auxiliary holder 31 fitted in the fitting groove 29 . That is, when the auxiliary holder 31 is inserted into the fitting groove 29 formed of the second piece 26 as shown, the individual probes 5 are moved to the right or downward in FIG. 10 with respect to the entire probe 5 . refrain from moving
  • the support 7 is a means for accommodating a plurality of probes 5 in the case 3, and as shown in Figs.
  • the bar is divided into two parts, the body part 41 and the separation part 42 .
  • the main body 41 is a base of the support 7 , and as shown in FIGS. 7 to 9 , the upper and lower parts 42 and the separating part 42 to sandwich the second piece 26 of the probe 5 .
  • it may be divided into the separation unit 42 and left and right to fit the first piece 25 of the probe (5). Accordingly, the main body 41 and the upper and lower separation parts 42 sandwich the first piece 25 of the probe 5 as shown in FIGS. 7 to 9 , but the main body 41 and the left and right sides
  • the second piece 26 of the probe 5 may be inserted.
  • the main body 41 when the main body 41 and the separating part 42 are vertically divided as shown, the main body 41 includes a guide bar 11 that is assembled separately to restrain the plurality of probes 5 .
  • a plurality of second slits 34 are concavely processed on the rear surface of the main body 41 so as to fit the upper end of the second piece 26 up to the rear end tip 24 of the probe 5 .
  • a guide protrusion 12 is protruded and formed on one side facing the probe 5 to constrain the probe 5 .
  • the separation part 42 has a plurality of first slits 33 concave on the bottom surface to fit the lower end portion extending long in front of the first piece 25 up to the tip 23 . is formed Accordingly, the separation part 42 prevents the probes 5 from contacting each other through the guide protrusion 12 together with the guide bar 11 .
  • the support 7 secures a L-shaped storage space along the rear lower edge in the state in which the main body 41 and the separation part 42 are assembled, and this storage space
  • first slits 33 on the bottom surface of the separating portion 42 in contact with each other and a plurality of second slits 34 on the rear surface of the body portion 41, respectively, the respective front ends of the first slits 33 corresponding to each other ), and the respective rear ends of each probe 5 fitted into the corresponding second slit 34 are accommodated so as to be aligned side by side in a state adjacent to each other.
  • the probe cover 9 is a means for stably fixing the plurality of probes 5 accommodated in the holder 7 in the case 3 as described above, and is shown in FIGS. 3 to 5 , 7 and 8 .
  • the case (3) is arranged and mounted in the transverse direction so as to cover the bottom surface, in particular, as shown in FIGS. 7) by pressing the plurality of probes 5 accommodated in, it serves to restrain the probes 5 from being separated from the guide bar 11 or the guide protrusion 12 vertically or horizontally.
  • the probe cover 9 is mounted between the projections 21 and 22 on the bottom surface of the case 3 as shown in FIG. 3 , and the pressing projection 35 is the first piece 25 of the probe 5 . ) and the second piece 26 are bent in a L-shape so as to be pressed at the same time.
  • the guide bar 11 is a means to prevent the respective probes 5 accommodated adjacent to each other in the receiving table 7 through the second slit 34 as above from contacting each other, and FIGS. 4 and 7 to In the case shown in FIG. 10 , the second piece 26 of the probe 5 is restrained.
  • the guide bar 11 is made of a rod-shaped insulator having a rectangular cross-section extending long along the body portion 41 in the transverse direction of the case 3 .
  • the guide bar 11 has a second receiving end 46 , that is, a plurality of second guide slits 44 corresponding to the second slit 34 on the bottom surface of the drawing are concave.
  • the guide bar 11 and the corresponding guide projection 12 also constrains the first piece 25 of the probe 5, as shown in Figs. 4 and 7 to 10, and the case 3 in the transverse direction. It has a rectangular cross section elongated along the main body 41.
  • the guide protrusion 12 also has a first receiving end 45, that is, a plurality of first guide slits 43 corresponding to the first slit 33 are concavely formed on the rear side of the right side in the drawing.
  • the guide protrusion 12 is formed by inserting the first piece 25 of the probe 5 into the first guide slit 43 , and the guide bar 11 is the probe 5 and the second By inserting the piece 26 into the second guide slit 44 , the probe 5 accommodated in the pedestal 7 is restrained.
  • the guide protrusion 12 is integrated with the separating part 42 , and the guide bar 11 is inserted and fixed into the guide groove 38 of the main body 41 , and the guide protrusion 12 is separated. Since the part 42 itself is separate from the body part 41, and the guide bar 11 itself is separate from the body part 41, each of the first or second guide slits 43 and 44 ), the probe 5 can be more conveniently inserted.
  • the guide protrusion 12 is integrated with the separation part 42 , that is, the receiving base 7 , the work precision required when assembling the guide bar 11 by inserting the guide bar 11 into the guide groove 38 is not required, thus As a result, the number of work hours is reduced and work convenience is improved.
  • the guide projection 12, as well as the guide bar 11, a plurality of second guide slits 44 are processed and manufactured side by side on one side, between the first and second guide slits 43 and 44 Also, sufficient thickness is maintained, and thus, the durability strength of the guide protrusion 12 or the guide bar 11 is improved, and further, the useful life of the array block 1 is greatly increased.
  • the tip 23 of each probe 5 protruding from the bottom surface of the tip end of the case 3 is, for example, an inspection object such as a pattern of an LCD panel and
  • the inspected signal from the inspection object is transmitted to the flexible circuit board 15. transmitted to the control unit.
  • the first and second slits 33 and 34 which are the primary restraints of the pedestal 7, are spaced apart from each other. And since the second pieces 25 and 26 are constrained by the first guide slit 43 of the guide protrusion 12 and the second guide slit 44 of the guide bar 11, respectively, the short by mutual contact is delayed. to prevent
  • the separation part 42 is attached to the body part 41 with epoxy or the like.
  • the epoxy or the like Attach and fix using adhesive means.
  • the probes 5 at both ends are inserted into the first and second slits 33 and 34 .
  • the separation part 42 may be attached to the main body part 41 while it is fixed, and even at this time, the probes 5 at both ends are inserted into the first and second slits 33 and 34 .
  • the first and second By assembling the probe cover 9 so that the alignment protrusions 27 and 28 are pressed by the pressing protrusions 35, or by inserting the auxiliary holder 31 into the fitting groove 29 before that, the probe (5) Assembly can be completed conveniently.
  • the separate probe array block of the present invention when inspecting an LCD panel, etc., a plurality of closely arranged probes are prevented from contacting each other by a probe guide so as to correspond to a pattern of a densely arranged panel in a one-to-one correspondence with each other. It is possible to prevent in advance the short circuit of the array block due to the contact between the probes and the erroneous contact between the probe and the pattern.

Abstract

본 발명은 분리형 프로브 어레이블록에 관한 것으로, 외부 몸체를 이루는 케이스; 상기 케이스 내에 장착되는 복수의 프로브; 상기 복수의 프로브를 상호 인접한 상태로 정렬되도록 수납하는 받이대; 상기 받이대에 수납된 상기 프로브를 가압하여 구속하는 프로브덮개; 및 상기 프로브 상호 간의 접촉을 방지하는 가이드바;를 포함하여 이루어지며, 상기 받이대는, 상기 가이드바가 별체로 조립되는 본체부; 및 상기 본체부와 조립 가능하도록 분할되는 분리부;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하며, 따라서 복수의 프로브들을 가이드돌기와 가이드바에 의해 서로 접촉하지 않도록 하여 어레이블록의 쇼트 또는 프로브와 패턴의 오접촉 등을 미연에 방지할 수 있으며, 이때 프로브를 수용하는 받이대를 본체부와 분리부로 분할함으로써, 분리부의 가이드돌기를 본체부와 분리할 수 있도록 하고, 또 가이드바도 본체부에 조립되는 별개의 부재가 되도록 하여, 가이드돌기나 가이드바에 프로브를 끼워 구속되도록 하는 프로브 조립 작업을 일층 편리하고, 신속하게 할 수 있게 된다.

Description

분리형 프로브 어레이블록
본 발명은 분리형 프로브 어레이블록에 관한 것으로, 보다 상세하게는 LCD 패널 등과 같은 검사 대상물에 접촉하여 획득한 검사 신호를 제어장치로 전달하는 어레이블록에 있어서, 패턴에 접촉하는 복수의 프로브를 받이대 분리부의 가이드돌기와 받이대 본체부의 가이드바에 의해 구속하여 상호 접촉을 일으키지 못하도록 한 분리형 프로브 어레이블록에 관한 것이다.
일반적으로 프로브 어레이블록은 LCD 패널 등을 제조하는 과정에서 그로스 테스트(gross test)를 시행할 때 사용하는 기기로서, 니들형, 블레이드형, 필름형 등 다양한 형태로 개발되어 왔다.
이 중에서, 니들형 어레이블록은 검사팁을 이루는 복수의 프로브가 상호 인접하도록 배치될 뿐 아니라, 블록 케이스에 프로브를 부착하기 위해 에폭시 수지 등을 사용함에 따라 에폭시 수지가 변형을 일으킬 경우 함께 변형되면서 상호 간에 접촉을 일으켜 쇼트를 야기하는 등 검사 성능이 크게 떨어지는 문제점이 있었다.
이러한 문제점을 해결하기 위해, 도 1 및 도 2에 도시된 프로브 블록(101)(등록특허 제10-1558256호)이 제안된 바 있다. 이 프로브 블록(101)은 도시된 것처럼, 프로브 블록(200) 선단에 좁은 간격을 두고 일렬로 나란히 배치된 복수의 프로브(100)이 상호 간에 쇼트되지 않도록, 제1 필름(332)과 제2 필름(334)에 의해 접촉을 저지하고 있다. 즉, 프로브(100)의 수직부(120)와 제2 수평부(130)의 노출측 모서리에 제1 삽입돌기(140)와 제2 삽입돌기(144)를 각각 돌출시키고, 제1 삽입돌기(140)는 제1 필름(332)의 삽입홀(330a)에, 제2 삽입돌기(144)는 제2 필름(334)의 삽입홀(330a)에 각각 삽입되도록 함으로써, 제1 삽입돌기(140)는 이웃한 제1 삽입돌기(140)와, 제2 삽입돌기(144)는 이웃한 제2 삽입돌기(144)와 서로 접촉하지 못하도록 구속하여 상호 간의 쇼트를 방지하였다.
그러나, 위와 같은 종래의 프로브 블록(101)은 제1 및 제2 필름(332,334)이라는 하나의 몸체에 복수의 삽입홀(330a)이 촘촘하게 관통되어, 형성되는 바, 복수의 프로브(100)를 먼저 프로브 블록(101)로 부착한 뒤 삽입돌기(140,144)에 삽입홀(330a)을 끼우든, 반대로 복수의 삽입홀(330a)에 먼저 삽입돌기(140,144)를 차례로 끼우든 관계없이, 하나의 몸체로 된 제1 및 제2 필름(332,334)의 삽입홀(330a)에 복수의 삽입돌기(140,144)를 하나씩 차례로 끼우는 작업이 크게 까다롭고, 번거로우며, 불편하므로, 프로브 블록(101)의 조립 작업의 능률 및 생산성이 크게 저하되는 문제점이 있었다.
또한, 삽입돌기(140,144) 사이의 간격이 매우 촘촘하기 때문에, 제1 및 제2 필름(332,334)의 삽입홀(330a) 사이의 간격도 매우 좁아지므로, 제1 및 제2 필름(332,334)의 내구 강도가 크게 떨어지고, 따라서 가용 수명이 단축되는 등, 프로브 블록(101)의 품질이나 성능이 크게 저하되는 문제점도 있었다.
본 발명은 위와 같은 종래의 프로브 블록이 가지고 있는 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, LCD 패널 등을 검사하기 위해 촘촘하게 배치된 패널의 패턴과 접촉하도록 패턴과 대응하여 촘촘하게 배치되는 복수의 프로브들을 서로 접촉하지 않도록 가이드돌기와 가이드바에 의해 구속하면서도, 프로브가 삽입되는 받이대를 본체부와 분리부로 분할될 수 있도록 하고, 분리부에 가이드돌기를 형성하면서, 본체부에는 가이드바가 삽입, 고정되도록 함으로써, 프로브를 구속하기 위해 가이드돌기나 가이드바를 프로브에 삽입하는 조립 작업을 보다 편리하고, 신속하게 할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
또한, 위와 같이 프로브를 구속하는 가이드돌기나 가이드바를 사각 횡단면을 갖는 막대의 형태로 제작하고, 그 일측면에 제1 또는 제2 안내슬릿을 형성하고 있으므로, 안내슬릿 주위의 강도를 높일 수 있도록 하고, 따라서 프로브 블록의 품질이나 성능을 향상시키고자 하는 데 또 다른 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명은 외부 몸체를 이루는 케이스; 선단팁에 의해 검사 대상물과 접촉하고, 후단팁에 의해 제어장치로 연결되도록 상기 케이스 내에 장착되는 복수의 프로브; 상기 복수의 프로브를 상호 인접한 상태로 나란하게 정렬되도록 수납하는 받이대; 상기 케이스를 덮도록 장착되되, 상기 받이대에 수납된 상기 프로브를 가압하여 구속하는 프로브덮개; 및 상기 받이대에 수납되는 상기 프로브를 구속하도록 상기 받이대에 별체로 조립되어, 상기 프로브 상호 간의 접촉을 방지하는 가이드바;를 포함하여 이루어지며, 상기 받이대는, 상기 가이드바가 별체로 조립되는 본체부; 및 상기 본체부와 조립 가능하도록 분할되되, 상기 프로브를 구속하도록 일측에 형성된 가이드돌기를 통해 상기 가이드바와 함께 상기 프로브 상호 간의 접촉을 방지하는 분리부;를 포함하여 이루어지는 분리형 프로브 어레이블록을 제공한다.
또한, 상기 프로브는 상기 선단팁으로 이어진 제1 편과, 제1 편에서 상기 후단팁으로 이어진 제2 편으로 이루어지며, 상기 가이드바는 상기 제1 편 또는 상기 제2 편 중 어느 하나를 구속하도록 상기 본체부의 가이드홈에 조립되고, 상기 가이드돌기는 상기 제1 편 또는 상기 제2 편 중 나머지 하나를 구속하도록 상기 분리부에서 일체로 돌출되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 받이대는 상기 선단팁 측 단부에 복수의 제1 슬릿이 상호 인접하게 형성되고, 상기 후단팁 측 단부에 복수의 제2 슬릿이 상호 인접하게 형성되어, 상기 복수의 프로브를 수납하도록 되어 있으며; 상기 가이드바는 상기 제1 슬릿 또는 상기 제2 슬릿 중 어느 하나와 대응하도록 제2 수납단에 형성된 제2 안내슬릿에 상기 제1 편 또는 상기 제2 편 중 어느 하나를 삽입하여 구속하고, 상기 가이드돌기는 상기 제1 슬릿 또는 상기 제2 슬릿 중 나머지 하나와 대응하도록 제1 수납단에 형성된 제1 안내슬릿에 상기 제1 편 또는 상기 제2 편 중 나머지 하나를 삽입하여 구속하도록 되어 있는 것이 바람직하다.
또한, 상기 프로브는 상기 제1 편의 노출 측 모서리를 따라 상기 제1 편과 같은 방향으로 오목하게 연장된 끼움홈 또는 상기 제2 편의 노출 측 모서리를 따라 상기 제2 편과 같은 방향으로 오목하게 연장된 끼움홈을 구비하며, 상기 끼움홈에는 상기 프로브덮개와 같은 방향으로 상기 프로브를 구속하는 보조홀더가 끼워져 결합되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 프로브는 상기 프로브덮개를 향한 상기 제1 편의 모서리에, 상기 프로브덮개와 접촉하는 면의 크기를 줄이도록 제1 정렬돌기가 돌출되고, 상기 프로브덮개를 향한 상기 제2 편의 모서리에, 상기 프로브덮개와 접촉하는 면의 크기를 줄이도록 제2 정렬돌기가 돌출되는 것이 바람직하다.
본 발명의 분리형 프로브 어레이블록에 따르면, LCD 패널 등을 검사할 때 촘촘하게 배치된 패널의 패턴과 일대일 대응하여 접촉하도록 마찬가지로 촘촘하게 배치되는 복수의 프로브들을 프로브가이드에 의해 서로 접촉하지 않도록 하고 있으므로, 프로브 상호 간의 접촉으로 인한 어레이블록의 쇼트 또는 프로브와 패턴의 오접촉 등을 미연에 방지할 수 있게 된다.
또한, 위와 같이 프로브가이드에 의해 프로브를 상호 접촉하지 않도록 구속함에 있어, 프로브가이드를 받이대에 조립되는 별개의 부재가 되도록 막대 또는 바의 형태로 제작하고, 받이대에 조립하기 전에 또는 조립한 후에 복수의 프로브를 끼우도록 되어 있으므로, 프로브를 프로브가이드에 의해 구속하기 위해 프로브가이드의 제1 및 제2 슬릿에 끼우는 조립 작업을 일층 편리하고, 신속하게 할 수 있게 된다.
또한, 프로브를 구속하는 프로브가이드가 막대 또는 바의 형태로 제작되므로, 프로브가이드의 내구 강도를 높일 수 있고, 따라서 프로브 블록의 내구강도나 가용수명 등 어레이블록의 제반 성능 및 품질을 일층 향상시킬 수 있게 된다.
도 1은 종래의 프로브 블록을 도시한 정면도.
도 2는 도 1의 사시도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 분리형 프로브 어레이블록의 저면 사시도.
도 4는 도 3의 분해 사시도.
도 5는 도 3의 케이스 부분 저면도.
도 6은 도 3의 좌측면도.
도 7은 도 3의 케이스 부분 정단면도.
도 8은 도 7의 A 부분 확대도.
도 9는 도 7의 A 부분의 부분 발췌 저면 사시도.
도 10은 도 9의 부분 발췌 저면 사시도.
본 발명의 일 실시예에 따른 분리형 프로브 어레이블록을 첨부 도면을 참조로 상세히 설명한다.
본 발명의 어레이블록은 도 3 및 도 4에 도면부호 1로 도시된 바와 같이, 크게 케이스(3), 복수의 프로브(5), 받이대(7), 프로브덮개(9), 및 프로브가이드(11)를 포함하여 이루어진다.
여기에서, 먼저 상기 케이스(3)는 어레이블록(1)의 외부 몸체를 이루는 부분으로, 도 3, 도 4 및 도 7에 도시된 바와 같이, 직육면체의 블록 형태로 되어 있으며, 내부 공간을 확보하도록 양측단 모서리 부분에 돌기(21,22)가 돌출된다. 또, 케이스(3)는 저면에 장착되는 위 프로브덮개(9), 연성회로기판커버(13), 및 전면커버(14)와 함께 형성하는 내부 공간에 위 프로브(5), 받이대(7), 및 프로브가이드(11)는 물론, 연성회로기판(15)의 선단 부분과, 패턴필름(17), 그리고 패턴판(19)을 수용한다.
상기 프로브(5)는 검사 대상물과 접촉하여 연성회로기판(15)으로 검사 대상물로부터의 검사 신호를 직접 전송하는 박판의 핀 타입 단자로서, 도 3 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 복수 개가 나란히 케이스(3) 내부의 선단 저면에 장착되는 바, 각각의 프로브(5)는 전체적으로 W자 모양을 가지는 도전체로 되어 있다. 또한, 프로브(5)는 도 9 및 도 10에 상세 도시된 것처럼, 케이스(3)의 저면 선단으로 돌출된 선단팁(23)에 의해 예컨대, LCD 패널의 패턴과 같은 검사 대상물과 접촉하며, 케이스(3) 후방측으로 돌출된 후단팁(24)에 의해 예컨대, 연성회로기판(15)의 필름(17) 패턴(P)과 접촉하고, 후단팁(24)은 연성회로기판(15)을 통해 제어장치로 연결된다. 이를 위해, 프로브(5)는 도 8, 도 9, 및 도 10 등에 도시된 바와 같이, 선단팁(23)으로 이어진 제1 편(25)과 후단팁으로 이어진 제2 편(26)을 포함하여 이루어지는 바, 제1 편(25)은 케이스(3)를 횡단하는 도면 상 상하 방향으로 연장되며, 제2 편(26)은 케이스(3)를 종단하는 도면 상 좌우 방향으로 연장된다. 이때, 제1 편(25)의 상단이 제2 편(26)의 선단에 하나로 연결되므로, 전체적으로 ㄱ자 모양을 갖는다. 다만, 제1 편(25)은 선단팁(23)까지 하단 부분이 직각 방향으로 절곡되어 앞쪽으로 길게 연장되는 반면, 제2 편(26)은 후단팁(24)까지 상단 부분이 직각 방향으로 짧게 절곡되어 위쪽으로 연장된다.
한편, 프로브(5)는 도 7 및 도 8에 도시된 것처럼, 후술하는 프로브가이드(11)를 통해 받이대(7)에 상에 복수 개가 나란히 장착되는 바, 프로브가이드(11)로부터 이탈되는 것을 방지하도록 후술하는 프로브덮개(9)에 의해 가압된다. 이때, 프로브(5)는 프로브덮개(9)와의 접촉을 보다 균일하게 유지할 수 있도록 하기 위해, 제1 편(25)의 프로브덮개(9)를 향한 모서리에 제1 정렬돌기(27)가 돌출되고, 제2 편(26)의 프로브덮개(9)를 향한 모서리에 제2 정렬돌기(28)가 돌출된다. 즉, 제1 편(25)과 제2 편(26)은 각각 제1 정렬돌기(27)와 제2 정렬돌기(28)를 통해 프로브덮개(9)와 접촉하는 부분의 면적을 최소화함으로써, 접촉면의 증대로 인한 접촉불량을 최소화시킨다.
또한, 프로브(5)는 도 8, 도 9, 및 도 10에 도시된 것처럼, 제1 편(25) 또는 제2 편(26) 중 적어도 한 쪽 모서리 예컨대, 도시된 경우 제2 편(26)의 노출 측 모서리를 따라, 제2 편(26)과 같은 방향으로 오목하게 연장되는 끼움홈(29)이 형성된다. 즉, 프로브(5)는 후술하는 제1 및 제2 안내슬릿(43,44)에 끼워지지 않고 노출되는 안 쪽 모서리를 따라 도 9 및 도 10에 도시된 것처럼, 모서리와 나란한 방향으로 끼움홈(29)이 형성된다. 따라서, 프로브(5)는 이 끼움홈(29)에 끼워지는 납작한 막대 형태의 보조홀더(31)에 의해 프로브덮개(9)에 의한 것과 같은 방향으로 움직임이 구속된다. 즉, 보조홀더(31)는 도시된 것처럼 제2 편(26)의 형성된 끼움홈(29)에 삽입된 경우, 개별 프로브(5)가 전체 프로브(5)에 대해 도 10의 우측으로 또는 하방으로 움직이려는 것을 억제한다.
상기 받이대(7)는 전술한 바 있듯이, 복수의 프로브(5)를 케이스(3) 내에서 수납하는 수단으로, 도 4 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 케이스(3) 선단 하부에 장착되는 바, 본체부(41)와 분리부(42)로 2 분할된다.
여기에서, 본체부(41)는 받이대(7)의 기부로서, 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 프로브(5)의 제2 편(26)을 끼우도록 분리부(42)와 상하로 분할되어 있지만, 프로브(5)의 제1 편(25)을 끼우도록 분리부(42)와 좌우로 분할될 수도 있다. 따라서, 본체부(41)와 상하로 분할된 분리부(42)는 도 7 내지 도 9에 도시된 것처럼, 프로브(5) 제1 편(25)을 끼우게 되지만, 본체부(41)와 좌우로 분할되는 경우에는 도시되어 있지 않지만 프로브(5)의 제2 편(26)을 끼울 수도 있다.
이와 같이, 본체부(41)와 분리부(42)가 도시된 것처럼 상하로 분할된 경우, 본체부(41)는 복수의 프로브(5)를 구속하기 위해 별체로 조립되는 가이드바(11)를 구비한다. 또한, 본체부(41)는 프로브(5) 후단팁(24)까지 제2 편(26)의 위로 연장된 상단 부분을 끼우도록 후면에 복수의 제2 슬릿(34)이 오목하게 가공된다. 한편, 위와 같이 본체부(41)와 조립 가능하도록 상하로 분할되는 분리부(42)는 프로브(5)를 구속하도록 프로브(5)를 향한 일측면에 가이드돌기(12)가 돌출, 형성된다. 또한, 분리부(42)는 도 9에 도시된 것처럼, 선단팁(23)까지 제1 편(25)의 앞으로 길게 연장된 하단 부분을 끼우도록 저면에 복수의 제1 슬릿(33)이 오목하게 형성된다. 따라서, 분리부(42)는 가이드바(11)와 함께 가이드돌기(12)를 통해 프로브(5) 상호 간의 접촉을 방지하게 된다.
즉, 받이대(7)는 도 9에 도시된 것처럼, 본체부(41)와 분리부(42)가 조립된 상태에서, 후방 하단 모서리 부분을 따라 ㄱ자 모양의 수납 공간을 확보하고, 이 수납 공간과 접한 분리부(42) 저면에 복수의 제1 슬릿(33)을, 본체부(41) 후면에 복수의 제2 슬릿(34)을 각각 형성함으로써, 각각의 선단이 대응하는 제1 슬릿(33)에 끼워지고, 각각의 후단이 대응하는 제2 슬릿(34)에 끼워지는 각각의 프로브(5)를 상호 인접한 상태에서 나란하게 정렬되도록 수납하게 된다.
상기 프로브덮개(9)는 위와 같이 받이대(7)에 수납된 복수의 프로브(5)를 케이스(3) 내에 안정적으로 고정하는 수단으로서, 도 3 내지 도 5, 도 7, 및 도 8에 도시된 바와 같이, 케이스(3) 저면을 덮도록 횡방향으로 배치되어 장착되는 바, 특히, 도 7 및 도 8에 도시된 것처럼, 전면 하단에 누름돌기(35)가 돌출됨으로써, 위와 같이 받이대(7)에 수납된 복수의 프로브(5)를 가압하여, 프로브(5)가 가이드바(11) 또는 가이드돌기(12)로부터 상하 또는 좌우로 이탈되지 못하게 구속하는 역할을 한다. 이를 위해, 프로브덮개(9)는 도 3에 도시된 것처럼, 케이스(3)의 저면에서 돌기(21,22) 사이에 장착되며, 누름돌기(35)는 프로브(5)의 제1 편(25)과 제2 편(26)을 동시에 가압할 수 있도록 단면 ㄱ자 모양으로 절곡된다.
상기 가이드바(11)는 위와 같이 제2 슬릿(34)을 통해 받이대(7)에 서로 인접하여 수납되는 각각의 프로브(5)가 서로 접촉하는 것을 방지하는 수단으로서, 도 4 및 도 7 내지 도 10에 도시된 경우에, 프로브(5) 제2 편(26)을 구속한다. 이를 위해, 가이드바(11)는 케이스(3) 횡방향으로 본체부(41)를 따라 길게 연장된 사각 단면의 막대 모양 절연체로 제작된다. 또, 도 9에 도시된 것처럼, 가이드바(11)는 제2 수납단(46) 즉, 도면 상 저면에 위 제2 슬릿(34)과 대응하는 복수의 제2 안내슬릿(44)이 오목하게 형성된다. 한편, 이 가이드바(11)와 대응하는 가이드돌기(12)도 도 4 및 도 7 내지 도 10에 도시된 것처럼, 프로브(5) 제1 편(25)을 구속하며, 케이스(3) 횡방향으로 본체부(41)를 따라 길게 연장된 사각 단면을 갖는다. 가이드돌기(12)는 또한, 제1 수납단(45) 즉, 도면 상 우측의 후면에 위 제1 슬릿(33)과 대응하는 복수의 제1 안내슬릿(43)이 오목하게 형성된다.
따라서, 도 9에 도시된 것처럼, 가이드돌기(12)는 프로브(5) 제1 편(25)을 제1 안내슬릿(43)에 끼움으로써, 또 가이드바(11)는 프로브(5) 제2 편(26)을 제2 안내슬릿(44)에 끼움으로써, 받이대(7)에 수납되는 프로브(5)를 구속한다. 이때, 가이드돌기(12)는 분리부(42)와 일체로 되어 있고, 가이드바(11)는 본체부(41)의 가이드홈(38)에 삽입되어 고정되는 바, 가이드돌기(12)는 분리부(42) 자체가 본체부(41)와 별체로 되어 있으므로, 또 가이드바(11)는 자체로 본체부(41)와 별체로 되어 있으므로, 각각의 제1 또는 제2 안내슬릿(43,44)에 프로브(5)를 보다 편하게 끼울 수 있게 된다. 또한, 가이드돌기(12)는 분리부(42) 즉, 받이대(7)와 일체로 되어 있으므로, 가이드바(11)를 가이드홈(38)에 끼워 조립할 때 필요한 작업 정밀도를 요하지 않게 되고, 따라서 그만큼 작업공수는 줄이고, 작업 편리성은 높인다. 뿐만 아니라, 가이드돌기(12)는 물론이고, 가이드바(11)도 일측면에 복수의 제2 안내슬릿(44)이 나란히 가공, 제작되므로, 제1 및 제2 안내슬릿(43,44) 사이에도 충분한 두께가 유지되고, 따라서 가이드돌기(12)나 가이드바(11)의 내구 강도가 향상되고 더 나아가, 어레이블록(1)의 가용 수명을 크게 늘리게 된다.
이제, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 분리형 프로브 어레이블록의 작용을 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 어레이블록(1)에 의하면, 도 9에 도시된 것처럼, 케이스(3) 선단 저면에 돌출된 각 프로브(5)의 선단팁(23)이 예컨대, LCD 패널의 패턴과 같은 검사 대상물과 접촉하고, 각 프로브(5)의 후단팁(24)이 패턴필름(17)의 저면 선단에 형성된 각각의 패턴(P)에 접촉된 때, 검사 대상물로부터 검사된 신호를 연성회로기판(15)을 통해 제어장치로 전송하게 된다.
이 과정에서, 각각의 프로브(5)는 비록 상호 간에 좁은 간격으로 두고 인접한 상태로 배치되어 있지만, 받이대(7)의 일차 구속부인 제1 및 제2 슬릿(33,34)에서 이격된 제1 및 제2 편(25,26)이 각각 가이드돌기(12)의 제1 안내슬릿(43) 및 가이드바(11)의 제2 안내슬릿(44)에 의해 구속되므로, 상호 접촉에 의한 쇼트를 미연에 방지하게 된다.
또한, 이와 같이, 제1 및 제2 안내슬릿(43,44)에 프로브(5)를 삽입하기 위해서는 예컨대, 먼저, 도 7에 도시된 것처럼, 케이스(3)의 저면 선단에 에폭시 등의 접착수단을 이용해 받이대(7) 본체부(41)를 부착하여 고정한다. 그 다음, 본체부(41) 위에 분리부(42)를 에폭시 등으로 부착하는데, 이때 본체부(41)와 분리부(42)의 정밀한 정렬을 위해 별도의 지그를 사용하는 것이 바람직하다. 그리고 나서, 도 9에 도시된 것처럼, 가이드바(11)의 양단에 각각 4 내지 5 개의 프로브(5)를 삽입한 채로 가이드바(11)를 가이드홈(38)에 삽입한 후, 에폭시 등의 접착수단을 이용해 부착하여 고정한다. 이때, 양단의 프로브(5)는 제1 및 제2 슬릿(33,34)에 삽입된다. 또는 반대로, 먼저 가이드바(11)를 가이드홈(38)에 삽입하여 부착, 고정한 후, 가이드돌기(12) 양단의 제1 안내슬릿(43)에 각각 4 내지 5 개의 프로브(5)를 삽입한 채로 분리부(42)를 본체부(41)에 부착하여 고정할 수도 있으며, 이때에도 양단의 프로브(5)는 제1 및 제2 슬릿(33,34)에 삽입된다.
이후, 나머지 제1 및 제2 슬릿(33,34) 및 제1 및 제2 안내슬릿(43,44)에 차례로 프로브(5)를 끼워 넣은 후, 도 8에 도시된 것처럼, 제1 및 제2 정렬돌기(27,28)를 누름돌기(35)에 의해 가압하도록 프로브덮개(9)를 조립함으로써, 또는 그 전에 보조홀더(31)를 끼움홈(29)에 끼워 넣음으로써, 프로브(5)의 조립을 편리하게 마칠 수 있게 된다.
본 발명의 분리형 프로브 어레이블록에 따르면, LCD 패널 등을 검사할 때 촘촘하게 배치된 패널의 패턴과 일대일 대응하여 접촉하도록 마찬가지로 촘촘하게 배치되는 복수의 프로브들을 프로브가이드에 의해 서로 접촉하지 않도록 하고 있으므로, 프로브 상호 간의 접촉으로 인한 어레이블록의 쇼트 또는 프로브와 패턴의 오접촉 등을 미연에 방지할 수 있게 된다.

Claims (5)

  1. 외부 몸체를 이루는 케이스(3);
    선단팁(23)에 의해 검사 대상물과 접촉하고, 후단팁(24)에 의해 제어장치로 연결되도록 상기 케이스(3) 내에 장착되는 복수의 프로브(5);
    상기 복수의 프로브(5)를 상호 인접한 상태로 정렬되도록 수납하는 받이대(7);
    상기 케이스(3)를 덮도록 장착되되, 상기 받이대(7)에 수납된 상기 프로브(5)를 가압하여 구속하는 프로브덮개(9); 및
    상기 받이대(7)에 수납되는 상기 프로브(5)를 구속하도록 상기 받이대(7)에 별체로 조립되어, 상기 프로브(5) 상호 간의 접촉을 방지하는 가이드바(11);를 포함하여 이루어지며,
    상기 받이대(7)는,
    상기 가이드바(11)가 별체로 조립되는 본체부(41); 및
    상기 본체부(41)와 조립 가능하도록 분할되되, 상기 프로브(5)를 구속하도록 일측에 형성된 가이드돌기(12)를 통해 상기 가이드바(11)와 함께 상기 프로브(5) 상호 간의 접촉을 방지하는 분리부(42);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 분리형 프로브 어레이블록.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 프로브(5)는 상기 선단팁(23)으로 이어진 제1 편(25)과, 제1 편(25)에서 상기 후단팁(24)으로 이어진 제2 편(26)으로 이루어지며,
    상기 가이드바(11)는 상기 제1 편(25) 또는 상기 제2 편(26) 중 어느 하나를 구속하도록 상기 본체부(41)의 가이드홈(38)에 조립되고, 상기 가이드돌기(12)는 상기 제1 편(25) 또는 상기 제2 편(26) 중 나머지 하나를 구속하도록 상기 분리부(42)에서 일체로 돌출되는 것을 특징으로 하는 분리형 프로브 어레이블록.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 받이대(7)는 상기 선단팁(23) 측 단부에 복수의 제1 슬릿(33)이 상호 인접하게 형성되고, 상기 후단팁(24) 측 단부에 복수의 제2 슬릿(34)이 상호 인접하게 형성되어, 상기 복수의 프로브(5)를 수납하도록 되어 있으며; 상기 가이드바(11)는 상기 제1 슬릿(33) 또는 상기 제2 슬릿(34) 중 어느 하나와 대응하도록 제2 수납단(46)에 형성된 제2 안내슬릿(44)에 상기 제1 편(25) 또는 상기 제2 편(26) 중 어느 하나를 삽입하여 구속하고, 상기 가이드돌기(12)는 상기 제1 슬릿(33) 또는 상기 제2 슬릿(34) 중 나머지 하나와 대응하도록 제1 수납단(45)에 형성된 제1 안내슬릿(43)에 상기 제1 편(25) 또는 상기 제2 편(26) 중 나머지 하나를 삽입하여 구속하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 분리형 프로브 어레이블록.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 프로브(5)는 상기 제1 편(25)의 노출 측 모서리를 따라 상기 제1 편(25)과 같은 방향으로 오목하게 연장된 끼움홈 또는 상기 제2 편(26)의 노출 측 모서리를 따라 상기 제2 편(26)과 같은 방향으로 오목하게 연장된 끼움홈(29)을 구비하며, 상기 끼움홈(29)에는 상기 프로브덮개(9)와 같은 방향으로 상기 프로브(5)를 구속하는 보조홀더(31)가 끼워져 결합되는 것을 특징으로 하는 분리형 프로브 어레이블록.
  5. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 프로브(5)는 상기 프로브덮개(9)를 향한 상기 제1 편(25)의 모서리에, 상기 프로브덮개(9)와 접촉하는 면의 크기를 줄이도록 제1 정렬돌기(27)가 돌출되고, 상기 프로브덮개(9)를 향한 상기 제2 편(26)의 모서리에, 상기 프로브덮개(9)와 접촉하는 면의 크기를 줄이도록 제2 정렬돌기(28)가 돌출되는 것을 특징으로 하는 분리형 프로브 어레이블록.
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