WO2018216693A1 - 多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置 - Google Patents

多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2018216693A1
WO2018216693A1 PCT/JP2018/019680 JP2018019680W WO2018216693A1 WO 2018216693 A1 WO2018216693 A1 WO 2018216693A1 JP 2018019680 W JP2018019680 W JP 2018019680W WO 2018216693 A1 WO2018216693 A1 WO 2018216693A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
conductor
main surface
wiring board
region
electronic component
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/019680
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
鬼塚 善友
Original Assignee
京セラ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 京セラ株式会社 filed Critical 京セラ株式会社
Priority to JP2019520263A priority Critical patent/JP6845316B2/ja
Priority to US16/614,519 priority patent/US10991671B2/en
Priority to CN201880030724.7A priority patent/CN110612780B/zh
Publication of WO2018216693A1 publication Critical patent/WO2018216693A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49805Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers the leads being also applied on the sidewalls or the bottom of the substrate, e.g. leadless packages for surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/13Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001Core members of the bump connector
    • H01L2224/13099Material
    • H01L2224/1319Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/93Batch processes
    • H01L2224/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L2224/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/043Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • H01L23/055Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads having a passage through the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/15Ceramic or glass substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49838Geometry or layout
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L24/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15158Shape the die mounting substrate being other than a cuboid
    • H01L2924/15162Top view
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15313Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a land array, e.g. LGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Definitions

  • the present invention relates to a multi-piece wiring board in which a plurality of wiring board regions having electronic component mounting portions are arranged vertically and horizontally on a mother board, a package for storing electronic parts, and an electronic device.
  • an electronic component storage package used to store electronic components such as semiconductor elements and surface acoustic wave elements is formed on an insulating substrate made of a ceramic sintered body such as an aluminum oxide sintered body or a glass ceramic sintered body. And a concave mounting portion for accommodating electronic components.
  • an insulating substrate serving as an electronic component storage package has a square plate-like base portion and a square frame-like frame portion laminated on the upper surface of the base portion so as to surround the mounting portion.
  • a concave mounting portion is formed by the upper surface of the base portion and the inner side surface of the frame portion.
  • a lid body made of metal is joined to the frame-like metallized layer on the upper surface of the frame body, and the mounting portion is hermetically sealed.
  • a structure in which a metal frame (also referred to as a seal ring) is joined to the upper surface of the frame part via a frame-like metallized layer, a brazing material, and the like is employed.
  • a concave mounting portion is formed with the inner side surface of the inner surface.
  • Such a package for storing electronic parts is generally manufactured in the form of a so-called multi-cavity wiring board in which a plurality of wiring boards are obtained simultaneously from a large-area mother board.
  • the multi-cavity wiring board for example, a plurality of wiring board regions each serving as an individual electronic component storage package are arranged vertically and horizontally on a mother board made of an aluminum oxide sintered body.
  • a dividing groove is formed in the main surface such as the upper surface of the mother board along the boundary of the wiring board region. A bending stress is applied to the mother board across the dividing groove, and the mother board is broken, thereby being divided into individual wiring boards.
  • a method of providing a dividing groove with a laser has been proposed (see, for example, JP-A-2014-27219).
  • the multi-cavity wiring board of the present disclosure is provided between a first main surface, a second main surface facing the first main surface, the first main surface, and the second main surface, and an electronic component is provided
  • a third main surface provided with a mounting portion to be mounted and a connection conductor to which an electronic component is connected, and a plurality of wiring board regions are arranged, and a disposal margin area provided surrounding the plurality of wiring board regions is provided
  • a mother board having dividing grooves along a boundary of the wiring board region on the first main surface and the second main surface, and a boundary of the wiring board region and the abandonment region, and the wiring A through hole provided across a boundary of the substrate region or a boundary of the wiring substrate region and the disposal margin region and penetrating from the first main surface to the second main surface; and the wiring in the second main surface
  • An external connection conductor provided at each corner of the substrate region,
  • An auxiliary conductor is provided around the through hole in the third main surface, and the auxiliary conductor has a wide conductor provided
  • An electronic component storage package includes an insulating substrate, and is provided between a first main surface, a second main surface facing the first main surface, and the first main surface and the second main surface. And a third main surface on which a mounting portion on which the electronic component is mounted and a connection conductor to which the electronic component is connected is provided, and an outer edge of the insulating substrate, which is provided from the first main surface to the second main surface.
  • a notch portion including a first notch portion and a second notch portion, and a plurality of external connection conductors provided on the insulating substrate on the second main surface, wherein the third main surface includes An auxiliary conductor including a wide conductor and a narrow conductor is provided on the inner surface of the notch, and the wide conductor is provided in a region connected to the connection conductor in the vicinity of the first notch. And is not connected to the connection conductor in the vicinity of the second notch.
  • the band, the auxiliary conductor has both of the narrow conductor and the wide conductors are provided.
  • the electronic device of the present disclosure includes the above-described electronic component storage package and an electronic component mounted on the electronic component storage package.
  • (A) is a plane perspective view showing a part of the multi-cavity wiring board of this embodiment, and (b) is a cross-sectional perspective view taken along line X-X ′ of (a). It is a principal part enlarged view which shows the principal part of the multi-cavity wiring board of this embodiment. It is a principal part enlarged view which shows the principal part of the multi-piece wiring board of other embodiment.
  • (A) is a plane perspective view showing a part of a multi-piece wiring board of another embodiment, and (b) is a cross-sectional perspective view taken along line Y-Y ′ of (a). It is a principal part enlarged view which shows the principal part of the multi-piece wiring board of other embodiment.
  • (A) is a plane perspective view showing the electronic component storage package of the present embodiment, and (b) is a cross-sectional perspective view taken along the line Z-Z ′ of (a).
  • reference numeral 101 denotes a mother board (multi-piece wiring board)
  • 102 denotes a wiring board region serving as an electronic component storage package
  • 103 denotes a first main surface
  • 104 denotes a second main surface
  • 105 denotes an electronic component.
  • 106 is a mounting portion, 107 is a connection conductor, 108 is a third main surface, 109 is a disposal margin area, 110 is a boundary, 111 is a dividing groove, 112 is a through hole, 113 is an external connection conductor, 114 is an auxiliary conductor, 115 Is a wide conductor, 116 is a narrow conductor, 117 is a base, 118 is a frame, 200 is a wiring board (electronic component storage package), 201 is an insulating substrate, 202 is a frame-like metallized layer, 203 is a lid, 204 is Reference numeral 205 denotes a first notch, reference numeral 206 denotes a second notch, and reference numeral 300 denotes an electronic device. 1 to 6, the same portions are denoted by the same reference numerals.
  • the wiring board 200 arranged on the mother board 101 has a third main surface 108 including a concave mounting part 106, and an electronic component 105 is accommodated in the mounting part 106.
  • the wiring board 200 includes a base portion 117 and a frame portion 118 stacked on the base portion 117.
  • a frame-shaped metallized layer 202 is provided on the frame part 118 of the first main surface 103, and a metal frame (not shown) and a lid 203 made of metal are joined to the frame-shaped metallized layer 202 by a brazing material.
  • a metal frame is bonded to the frame-like metallized layer 202, the lid 203 is further bonded to the metal frame.
  • the wiring board 200 includes a connection conductor 107 to which the electronic component 105 is connected, an external connection conductor 113, an auxiliary conductor 114, and the like.
  • the electronic component 105 is bonded to the connection conductor 107 provided on the mounting portion 106 of the wiring board 200 with a bonding material or the like, so that the electronic device 300 is formed.
  • Such a wiring board 200 is generally manufactured in the form of a so-called multi-cavity wiring board in which a plurality of wiring boards 200 are obtained collectively from a single large-area mother board 101.
  • a plurality of wiring board regions 102 are arranged vertically and horizontally on a mother board 101 made of, for example, an aluminum oxide sintered body.
  • the mother board 101 has a wiring board region 102 in which through holes 112 are provided on the outer periphery.
  • the through hole 112 provided on the outer periphery of each wiring board region 102 is provided with an inner surface conductor (not shown) on a part of the inner surface of the through hole 112, and further includes a third main surface including the mounting portion 106.
  • FIG. 1 shows a structure in which through holes 112 are provided at the four corners of each wiring board region 102.
  • the through holes 112 may be formed at positions other than the four corners of each wiring board region 102, for example, at the central part on the long side and on the short side.
  • the internal conductors and auxiliary conductors 114 provided in the through holes 112 connect the connection conductors 107, external connection conductors 113, etc. between adjacent wiring board regions 102, and the wiring conductors of the mother board 101 are integrally connected. Is done.
  • the mother substrate 101 is a ceramic sintered body such as an aluminum oxide sintered body, a glass ceramic sintered body, an aluminum nitride sintered body, a silicon carbide sintered body, a silicon nitride sintered body, or a mullite sintered body. It is formed by the body.
  • a ceramic sintered body such as an aluminum oxide sintered body, a glass ceramic sintered body, an aluminum nitride sintered body, a silicon carbide sintered body, a silicon nitride sintered body, or a mullite sintered body. It is formed by the body.
  • the mother board 101 is manufactured by laminating a plurality of ceramic insulating layers and integrally firing the laminated body. That is, if the mother substrate 101 is made of an aluminum oxide sintered body, it is manufactured as follows. First, an appropriate organic solvent and a binder are added to a raw material powder containing glass components such as aluminum oxide and silicon oxide and formed into a sheet shape to produce a plurality of ceramic green sheets. Next, after punching a part of this part to form a ceramic green sheet provided with a plurality of frame parts, a plurality of frame parts are formed on a flat ceramic green sheet that has not been punched. The ceramic green sheets formed with are laminated.
  • a mother substrate 101 in which wiring substrate regions 102 formed by laminating a plurality of ceramic insulating layers are vertically and horizontally arranged can be manufactured.
  • the punched ceramic green sheet becomes the frame portion 118, and the ceramic green sheet not punched becomes the base portion 117.
  • the wiring board 200 to be an electronic component storage package has a mounting portion 106 (concave portion) for the electronic component 105 at the center of the upper surface thereof.
  • the base part 117 and the frame part 118 act as a container for protecting the electronic component 105 accommodated in the mounting part 106.
  • Examples of the electronic component 105 housed in the mounting unit 106 include various electronic components such as a piezoelectric vibrator such as a crystal vibrator, a surface acoustic wave element, a semiconductor element (IC), a capacitive element, an inductor element, and a resistor. Can do.
  • the wiring board 200 having such a configuration is a communication device such as a mobile phone or a smart phone, a computer, an IC card, or the like.
  • a communication device such as a mobile phone or a smart phone, a computer, an IC card, or the like.
  • the electronic device 300 in this case is used as an oscillator.
  • the electronic component 105 accommodated in the mounting portion 106 is electrically connected to the connection conductor 107 provided on the third main surface 108 by a bonding material such as a conductive adhesive.
  • the wiring board 200 is a product manufactured in a so-called multi-cavity form and divided into individual pieces.
  • a plurality of wiring board regions 102 having mounting portions 106 are arranged vertically and horizontally on a mother board 101 in which a plurality of ceramic insulating layers are laminated.
  • a dividing groove 111 is formed on the upper surface of the mother board 101 by a laser (not shown) along the boundary 110 of the wiring board region 102, and for example, a multi-piece wiring board as shown in FIG. ing.
  • Such a mother board 101 is divided along the dividing grooves 111 in the wiring board region 102, and the wiring board 200 to be an electronic component storage package is manufactured.
  • a laser is applied to the first main surface 103 and the second main surface 104 of the mother board 101 along the boundary 110 of the wiring board region 102 by a laser.
  • a dividing groove 111 is formed.
  • Divided grooves 111 are also formed on a third main surface 108 (a boundary portion between the base portion 117 and the frame portion 118) provided between the first main surface 103 and the second main surface 104 of the mother substrate 101. This is because when the dividing groove 111 is formed by the laser along the boundary 110 of the wiring board region 102, the through hole 112 is formed on the boundary 110 of the wiring board region 102 or the boundary 110 of the wiring board region 102 and the disposal margin region 109.
  • the dividing groove 111 is also formed on the third main surface 108 by irradiating the inner surface conductor provided on a part of the inner surface of the through hole 112 with a laser. In the thickness direction of the substrate 101, as shown in FIGS. 1 and 2, the depth of the dividing groove 111 is increased as it is closer to the inner surface of the through hole 112.
  • the dividing groove 111 includes, for example, a dividing groove 111 on the first main surface 103 side and a dividing groove 111 provided on both surfaces of the dividing groove 111 on the second main surface 104 side. It is provided in a lattice shape between the substrate regions 102 and between the wiring substrate region 102 and the disposal margin region 109.
  • the mother board 101 is bent in the thickness direction. It is divided into one wiring board 200.
  • the dividing groove 111 provided in the mother substrate 101 may be provided only on one side on the first main surface 103 side, or may be provided only on one side on the second main surface 104 side.
  • Wiring conductors such as connection conductors 107 are formed from the bottom (third main surface 108) of the mounting portion 106 to the lower surface (second main surface 104) of the wiring substrate 200 on the inside and the surface of the wiring substrate 200.
  • a portion formed on the second main surface 104 of the wiring board 200 is, for example, an external connection conductor 113.
  • those formed inside the wiring board 200 are through conductors (so-called via conductors, etc.), auxiliary conductors 114, portions where connection conductors 107 for connecting electronic components 105 are not exposed, and the like.
  • connection conductor 107 By electrically connecting the electronic component 105 mounted on the mounting portion 106 to the connection conductor 107, the electronic component 105 is connected to an external electric circuit (FIG. 5) via the connection conductor 107, the auxiliary conductor 114, the external connection conductor 113, and the like. (Not shown).
  • These wiring conductors are made of a metal material such as copper, silver, palladium, gold, platinum, tungsten, molybdenum, manganese, or an alloy containing them.
  • a metal paste (not shown) prepared by adding an organic solvent and a binder to molybdenum powder is applied to a ceramic green sheet serving as the wiring board 200. It can be applied by a predetermined pattern and formed by simultaneous firing.
  • a metallized conductor layer that becomes the external connection conductor 113 of the wiring board 200 after the division is formed at each corner of the lower surface of each wiring board region 102.
  • the outer periphery of the external connection conductor 113 is in contact with an inner surface conductor provided in the through hole 112.
  • the external connection conductor 113 is made of, for example, a metal such as tungsten or molybdenum.
  • the external connection conductor 113 is made of a metallized conductor layer of molybdenum, a metal made by adding an organic solvent, a binder, or the like to the molybdenum powder.
  • the paste can be formed by printing in a predetermined pattern on the lower surface of the ceramic green sheet that becomes the base 117 of the ceramic insulating layer.
  • the metal paste is formed by a screen printing method or the like so that the thickness of the external connection conductor 113 after firing becomes about 8 to 20 ⁇ m.
  • a metal frame (not shown) may be further joined to the upper surface of the frame-like metallized layer 202 provided on the first main surface 103 with a brazing material.
  • the joining of the metal frames may be performed in the state of a multi-piece wiring board, or may be performed in the state of an individual electronic component storage package (wiring board 200). When productivity is taken into consideration, the joining is performed in a multi-piece state. Then, a lid 203 made of metal is joined to the metal frame, and the electronic component 105 is sealed to the mounting portion 106.
  • a metal layer such as a nickel plating layer and a gold plating layer is sequentially deposited on the exposed surfaces of the frame-like metallized layer 202, the connection conductor 107, the external connection conductor 113, and the like.
  • the nickel plating layer is formed with a thickness of about 1.0 to 20 ⁇ m
  • the gold plating layer is formed with a thickness of about 0.1 to 1.0 ⁇ m.
  • the multi-cavity wiring board of the present embodiment is provided between the first main surface 103 and the second main surface 104 facing the first main surface 103, and between the first main surface 103 and the second main surface 104, A third main surface 108 provided with a mounting portion 106 on which the electronic component 105 is mounted, and a connection conductor 107 to which the electronic component 105 is connected, and a plurality of wiring board regions 102 are arranged. It has a margin area 109 provided so as to be surrounded, and is divided along the boundary 110 between the wiring board area 102 and the boundary 110 between the wiring board area 102 and the margin area 109 on the first main surface 103 and the second main surface 104.
  • the main substrate 101 having the groove 111 and the boundary 110 of the wiring substrate region 102 or the boundary 110 of the wiring substrate region 102 and the disposal margin region 109 are provided to extend from the first main surface 103 to the second main surface 104.
  • the auxiliary conductor 114 is provided around the through hole 112 in the third main surface 108, and the auxiliary conductor 114 is provided on the side connected to the connection conductor 107 and on the side not connected to the connection conductor 107.
  • the wide conductor 115 is provided across the boundary 110 of the adjacent wiring board region 102.
  • the laser is a wide conductor. Since 115 is irradiated, disconnection of the auxiliary conductor 114 can be suppressed. That is, as shown in FIG. 1B, for example, when the dividing groove 111 is formed from the first main surface 103 side of the mother substrate 101 with a laser, the laser is connected to each wiring substrate region 102 near the surface of the through hole 112. When the laser moves through the through-hole 112 along the boundary 110, the laser beam is irradiated in the thickness direction of the through-hole 112.
  • the depth of the dividing groove 111 provided in the boundary 110 excluding the region near the through hole 112 of the wiring board region 102 is larger than the depth from the first main surface 103 to the auxiliary conductor 114 in the thickness direction of the mother board 101. Even if it is formed to be small, there is a possibility that the depth of the dividing groove 111 increases in a region near the through hole 112 of the wiring board region 102 and the auxiliary conductor 114 is disconnected. Even if the inner conductor is provided in the through hole 112, the inner conductor is easily broken by a laser because the inner conductor (not shown) has a small thickness. Therefore, when the auxiliary conductor 114 is disconnected, there is a possibility that a conduction path between the adjacent wiring board regions 102 cannot be secured via the auxiliary conductor 114, the inner conductor, and the like.
  • a wide conductor 115 provided on the side where the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107 and a narrow conductor 116 provided on the side not connected to the connection conductor 107 are provided.
  • the wide conductor 115 is provided across the boundary 110 of the adjacent wiring board region 102, even if the auxiliary conductor 114 is irradiated with a laser, the laser is irradiated on the wide conductor 115.
  • the wide conductor 115 has a sufficient width to suppress disconnection, disconnection of the auxiliary conductor 114 can be suppressed. If the auxiliary conductor 114 is not disconnected, a conduction path between adjacent wiring board regions 102 is secured even if the inner conductor is disconnected.
  • inner conductors for connecting the wiring conductors between the wiring board regions 102 arranged on the multi-cavity wiring board are provided on the inner face of the through hole 112 on the second main face 104 side.
  • the depth of the dividing groove 111 on the first main surface 103 side is increased, and the depth of the dividing groove 111 on the second main surface 104 side is decreased. If it is provided, it becomes difficult for the laser to the inner surface conductor to be irradiated, and disconnection of the inner surface conductor by the laser can be suppressed.
  • the auxiliary conductor 114 since the auxiliary conductor 114 includes a wide conductor 115 provided on the side connected to the connection conductor 107 and a narrow conductor 116 provided on the side not connected to the connection conductor 107, the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107. Since the distance (W1) between the wide conductor 115 and the connecting conductor 107 of the auxiliary conductor 114 can be reduced on the side where the auxiliary conductor 114 is connected, good conduction can be achieved and the auxiliary conductor 114 can be connected on the side not connected to the connecting conductor 107.
  • the auxiliary conductor 114 can obtain the contradictory effect that the insulation can be performed satisfactorily. That is, when the auxiliary conductor (not shown) is formed with the same width on the entire circumference as in the prior art, the width of the auxiliary conductor is used to suppress the disconnection of the auxiliary conductor when the dividing groove 111 is formed by the laser. However, the electronic component storage package has been further reduced in size, and the distance between the auxiliary conductor and the connection conductor 107 provided close to the mounting portion 106 is reduced, and the piezoelectric vibration element is reduced. When the electronic component 105 such as the above is mounted on the connection conductor 107 with a bonding material or the like, there is a possibility that a short circuit may occur due to the flow of the bonding material or the like.
  • the structure includes the wide conductor 115 provided on the side where the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107 and the narrow conductor 116 provided on the side not connected to the connection conductor 107. Therefore, on the side connected to the connection conductor 107, the connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114 can be electrically connected to each other by the wide conductor 115 of the auxiliary conductor 114, and the side not connected to the connection conductor 107. In this case, the connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114 can be well insulated by the narrow conductor 116 of the auxiliary conductor 114.
  • the through holes 112 are provided at the four corners of the wiring board region 102. Because of such a structure, even if the dividing groove 111 is formed by a laser, the auxiliary conductor 114 provided around the through holes 112 at the four corners of the wiring board region 102 is suppressed while suppressing the disconnection of the auxiliary conductor 114. Thus, the wiring board regions 102 can be efficiently connected to each other, and the metal layer can be satisfactorily adhered to the wiring conductor exposed in the wiring board regions 102 by electroplating.
  • the wiring conductors are connected to the through holes 112 at the four corners of the wiring board region 102 as shown in FIGS. Since it is integrally connected by the auxiliary conductor 114 provided around, the inner conductor provided on the inner surface of the through hole 112, the connecting conductor 107, etc., it also serves as chamfering the four corners of the wiring board region 102.
  • the inner surface of the through hole 112 can be used as a connection means between the wiring board regions 102.
  • each wiring board region 102 Provided on the second main surface 104 of each wiring board region 102 from the connecting conductor 107 provided on the mounting portion 106 of each wiring board region 102 to the auxiliary conductor 114 and the through conductor (not shown) or the inner conductor of the through hole 112.
  • a part of a conductive path is formed for electrical connection between the electronic component 105 and an external electric circuit (not shown).
  • it is provided around the through hole 112 at the boundary 110 of each wiring board region 102 and at the boundary 110 between each wiring board region 102 and the disposal margin region 109.
  • the width of the auxiliary conductor 114 (the distance between the inner circumference of the auxiliary conductor 114 in plan view and the outer edge of the wide conductor 115 provided across the boundary 110) is larger than that of the conventional auxiliary conductor. Therefore, even when a part of the auxiliary conductor 114 is cut when the dividing groove 111 is formed by the laser, a region on the outer edge side of the wide conductor 115 is secured as a conduction path.
  • the wiring board regions 102 are efficiently connected between the wiring board regions 102 via the auxiliary conductors 114 provided around the through holes 112 at the four corners of the wiring board region 102. Connection can be made and a metal layer such as a nickel plating layer or a gold plating layer can be satisfactorily deposited on the wiring conductor exposed to each wiring board region 102 by electroplating. And the connection reliability between the external connection conductor 113 and the external electric circuit can be improved.
  • the boundary 110 of each wiring board region 102 and each wiring board is about ⁇ 0.10 to 0.15 mm, and the auxiliary conductor 114 provided around the through hole 112 is formed of the narrow conductor 116.
  • the width is about 0.03 to 0.05 mm, and the width of the wide conductor 115 is about 0.6 to 0.12 mm.
  • the dividing groove 111 in a cross-sectional view is larger than the horizontal distance between the region in which the dividing groove 111 starts to change deep in the vicinity of the through hole 112 and the inner surface of the through hole 112.
  • a wide conductor 115 is provided.
  • the wiring board region 102 is rectangular in plan view, and the through hole 112 is provided on the short side or the long side of the wiring board region 102. Because of such a structure, even if a large number of connection conductors 107 are provided or the connection conductors 107 are separated from the four corners of the wiring board 200, the short side or the long side of the wiring board region 102 On the side, the positions of the through-hole 112 and the auxiliary conductor 114 can be freely moved, and the position of the connection conductor 107 can be appropriately moved.
  • auxiliary conductor 114 when the auxiliary conductor 114 is connected, if it is desired to provide the connection conductor 107 on the short side of the wiring board region 102, as shown in FIG. A through hole 112 is provided so as to straddle, an auxiliary conductor 114 is provided around the through hole 112, a wide conductor 115 is provided on the side where the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107, and the connection conductor 107 A narrow conductor 116 provided on the unconnected side may be provided, and both ends of the wide conductor 115 may be provided so as to straddle the boundary 110 of the wiring board region 102.
  • the dividing groove 111 is formed with a laser at the short-side boundary 110 of the wiring board region 102, the disconnection of the auxiliary conductor 114 is suppressed, and each through hole 112 of the wiring board region 102 is suppressed.
  • the wiring board regions 102 can be efficiently connected through the auxiliary conductors 114 provided in the periphery, and the metal layer can be satisfactorily adhered to the wiring conductors exposed to the wiring board regions 102 by electroplating.
  • the auxiliary conductor 114 includes a wide conductor 115 provided on the side connected to the connection conductor 107 and a narrow conductor 116 provided on the side not connected to the connection conductor 107. Therefore, on the side connected to the connection conductor 107, the distance between the wide conductor 115 and the connection conductor 107 of the auxiliary conductor 114 can be reduced, so that the connection conductor 107 and the wide conductor 115 can be electrically connected. Since the gap between the narrow conductor 116 and the connection conductor 107 of the auxiliary conductor 114 can be increased on the side not connected to the connection conductor 107, the connection conductor 107 and the narrow conductor 116 can be well insulated.
  • Opposing effects can be obtained in the auxiliary conductor 114 provided on the short side or the long side of the wiring board region 102.
  • 3 shows the wiring board region 102 having a structure in which one through hole 112 and a connection conductor 107 are provided on the short side, a plurality of through holes 112 and a plurality of through holes 112 are provided on the short side or the long side.
  • the connection conductor 107 may be provided, and a plurality of through holes 112 and a plurality of connection conductors 107 may be provided on both the short side and the long side.
  • the step of forming the dividing grooves 111 with a laser may be performed on the fired mother substrate 101, but a plurality of ceramic sheet laminates, that is, an unfired laminate that becomes the mother substrate 101 is preferable.
  • a laser before firing the laminate, the workability is good, and adhesion of the melt by the laser can be suppressed.
  • a UV laser, a green laser, an IR laser, or the like may be used as the type of laser.
  • the output per unit area of the laser during laser processing (the unit area of the surface of the workpiece at the site irradiated with the laser) is relatively small, and the amount of melt generated is small accordingly.
  • the wide conductor 115 is provided on the third main surface 108 so as to be exposed to the mounting portion 106.
  • the distance (W1) between the wide conductor 115 and the connection conductor 107 of the auxiliary conductor 114 can be further reduced, and the connection conductor 107 and the wide width can be reduced.
  • Conductivity with the conductor 115 can be further improved.
  • the auxiliary conductor 114 is provided at the boundary between the base portion 117 and the frame portion 118 in the thickness direction of the mother board 101.
  • the auxiliary conductor 114 is pressed when the base portion 117 and the frame portion 118 are laminated. Even when the width of the wide conductor 115 is reduced, the wide conductor 115 is provided on the third main surface 108 so as to be exposed to the mounting portion 106. Therefore, the width of the conduction path is secured, and the connection conductor 107 and the wide conductor A good conduction state with 115 can be maintained.
  • connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114 can be formed by printing in a predetermined pattern on the upper surface of the ceramic green sheet that becomes the base 117 of the ceramic insulating layer.
  • the metal paste is formed by a screen printing method or the like so that the thickness of the connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114 after firing is about 8 to 12 ⁇ m.
  • the laminated body that becomes the pressed mother substrate 101 has a wider conductor than that during printing by pressing the auxiliary conductor 114 provided at the boundary between the base 117 and the frame portion 118 in the thickness direction of the mother substrate 101. 115 will be thin. However, if the wide conductor 115 is provided on the third main surface 108 so as to be exposed to the mounting portion 106 as described above, the width of the wide conductor 115 at the boundary between the base portion 117 and the frame portion 118 becomes large, and a conduction path is formed. Therefore, it is easy to secure the width of the connection conductor 107, and a good conduction state between the connection conductor 107 and the wide conductor 115 can be maintained.
  • the narrow conductor 116 is not exposed to the mounting portion 106 on the third main surface 108 but is covered with a frame portion 118 provided on the third main surface 108.
  • the auxiliary conductor 114 is provided on the side where the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107, and on the side where the auxiliary conductor 114 is not connected to the connection conductor 107.
  • a narrow conductor 116 that is not exposed and is covered with a frame portion 118 provided on the third main surface 108 is included.
  • the auxiliary conductor 114 is included on the side where the connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114 are connected.
  • the distance (W1) between the wide conductor 115 and the connection conductor 107 can be reduced, and the connection conductor 107 and the wide conductor 115 can be electrically connected. Further, on the side where the auxiliary conductor 114 is not connected to the connection conductor 107, the distance (W2) between the narrow conductor 116 and the connection conductor 107 of the auxiliary conductor 114 can be further increased, and all of the narrow conductors 116 are frame portions 118. It becomes a structure covered with.
  • connection conductor 107 and the wide conductor 115 can be electrically connected to each other, and the electronic component 105 such as a piezoelectric vibration element can be more effectively connected to the connection conductor.
  • This auxiliary conductor has the contradictory effect that, when mounted on the joint 107 with a joining material or the like, the short-circuit due to the joining material flowing out or the like can be suppressed and insulation between the connection conductor 107 and the narrow conductor 116 can be performed more favorably. You can get at 114.
  • the narrow conductor 116 is not exposed to the mounting portion 106 on the third main surface 108 and is covered with a frame portion 118 (shown in a plan perspective view) provided on the third main surface 108. It has a structure.
  • the wide conductor 115 provided on the side where the auxiliary conductor 114 is connected to the connection conductor 107 and the side not connected to the connection conductor 107 are provided, and the mounting portion 106 is provided on the third main surface 108.
  • a narrow conductor 116 which is not exposed and is covered with a frame portion 118 provided on the third main surface 108.
  • a plurality of wiring board regions 102 having mounting portions 106 are arranged vertically and horizontally on a mother board 101 (multiple wiring wiring board) formed by laminating a plurality of ceramic insulating layers.
  • a dividing groove 111 is formed by a laser along a boundary 110 between adjacent wiring board regions 102 or a boundary 110 between the wiring board region 102 and the disposal margin region 109. Furthermore, along the boundary 110 of the wiring board region 102 or the boundary 110 of the wiring board region 102 and the disposal margin region 109 so as to face the dividing groove 111 on the upper surface on the lower surface (second main surface 104) of the mother substrate 101.
  • the dividing groove 111 is formed by the laser.
  • inner conductors (not shown) for connecting the wiring conductors between the wiring board regions 102 arranged on the multi-cavity wiring board are formed in the through holes 112 on the second main surface 104 side.
  • the depth of the dividing groove 111 on the first main surface 103 side is increased, and the dividing groove 111 on the second main surface 104 side is provided.
  • the narrow conductor 116 is not exposed to the mounting portion 106 on the third main surface 108 and is covered with the frame portion 118 provided on the third main surface 108, Even if the width is reduced, if the width of the wide conductor 115 provided on the side connected to the connection conductor 107 and straddling the boundary 110 of the adjacent wiring board region 102 is firmly secured, the width is Even if the auxiliary conductor 114 including the small narrow conductor 116 is irradiated with the laser, the laser is irradiated to the wide conductor 115, and the wide conductor 115 has a sufficient width to suppress disconnection. 114 disconnection can be suppressed.
  • the division grooves 111 are formed on the upper surface (first main surface 103) of the mother substrate 101 by the laser along the boundary 110 of the wiring substrate region 102.
  • the laser is irradiated in the thickness direction of the through-hole 112.
  • the dividing groove 111 provided in the boundary 110 excluding the region close to the through hole 112 of the wiring board region 102 is smaller than the depth from the first main surface 103 to the auxiliary conductor 114 in the thickness direction of the mother substrate 101.
  • the depth of the dividing groove 111 is larger than the depth from the first main surface 103 to the auxiliary conductor 114 in a region near the through hole 112 of the wiring board region 102.
  • the wide conductor 115 has a sufficient width to suppress disconnection in this way, even when the through-hole 112 side of the wide conductor 115 of the auxiliary conductor 114 is cut by a laser in plan view, the wide conductor Since the structure in which the auxiliary conductors 114 between the adjacent wiring board regions 102 are integrally connected in the uncut portion of 115 is maintained, disconnection of the auxiliary conductors 114 can be suppressed.
  • the wide conductor 115 is shown in an example in which both ends of the wide conductor 115 are linear along the boundary 110.
  • the shape along the extension (L1) of the outer edge of the dividing groove 111 that is, the line connecting the outer edge of the wide conductor 115 and the outer edge of the narrow conductor 116, along the extension (L1) of the outer edge of the adjacent dividing groove 111. If the shape is adopted, the minimum width portion of the conductor is not formed between the outer edge of the dividing groove 111 and the wide conductor 115, and the width of the uncut portion of the wide conductor 115 can be left larger.
  • the structure in which the auxiliary conductors 114 between the regions 102 are integrally connected is more reliably maintained. Therefore, disconnection of the auxiliary conductor 114 can be more effectively suppressed.
  • the shape along the outer edge of the dividing groove 111 at both ends of the wide conductor 115 is not limited to a straight line and may be a curved line.
  • the electronic component storage package (wiring substrate 200) of the present embodiment includes an insulating substrate 201, a first main surface 103, a second main surface 104 facing the first main surface 103, the first main surface 103, and the first main surface 103. 2 between the main surface 104 and the third main surface 108 on which the mounting part 106 on which the electronic component 105 is mounted and the connection conductor 107 to which the electronic component 105 is connected are provided, and the outer edge of the insulating substrate 201, Provided from the first main surface 103 to the second main surface 104 and provided on the insulating substrate 201 at the notch portion 204 including the first notch portion 205 and the second notch portion 206 and the second main surface 104.
  • a plurality of external connection conductors 113 are provided, and an auxiliary conductor 114 including a wide conductor 115 and a narrow conductor 116 is provided on the inner surface of the notch portion 204 on the third main surface 108, and the first notch A wide conductor 115 is provided in the region connected to the connection conductor 107 in the vicinity of the portion 205 and connected in the vicinity of the second notch portion 206. Without being connected to the body 107 region, the auxiliary conductor 114 is both narrow conductor 116 and the wide conductor 115 is provided.
  • the gap (W2) between the narrow conductor 116 and the connection conductor 107 can be increased while securing a conduction path with the wide conductor 115, and a metal layer is excellent on the wiring conductor exposed by electroplating.
  • the auxiliary conductor 114 including the wide conductor 115 and the narrow conductor 116 is provided on the inner surface of the notch portion 204.
  • a metal layer can be satisfactorily applied to the wiring conductor exposed by plating, and a short circuit with the connection conductor 107 not connected to the auxiliary conductor 114 can be suppressed.
  • the electronic component storage package 200 includes a base 117 and a frame 118 stacked on the base 117, and the auxiliary conductor 114 is provided in a region where the base 117 and the frame 118 are stacked.
  • the auxiliary conductor 114 is formed by a screen printing method or the like so that the thickness of the auxiliary conductor 114 after firing is about 8 to 12 ⁇ m. Then, when manufacturing the mother board 101 on which the electronic component storage package 200 is arranged, the ceramic green sheet serving as the base portion 117 and the ceramic green sheet serving as the frame portion 118 are brought into close contact with each other so as to be integrated. Pressed.
  • the laminated body that becomes the pressurized mother substrate 101 is also pressurized since the auxiliary conductor 114 provided at the boundary between the base portion 117 and the frame portion 118 in the thickness direction of the mother substrate 101 is from the time of printing.
  • the auxiliary conductor 114 tends to be larger than the original design size of the auxiliary conductor 114.
  • the auxiliary conductor 114 including the wide conductor 115 and the narrow conductor 116 is provided on the inner surface of the cutout portion 204 in this way, and the region connected to the connection conductor 107 in the vicinity of the first cutout portion 205.
  • the conductors constituting the wide conductor 115 are large even when pressed during lamination, and the conductive path can be secured by the wide conductor 115 even when the auxiliary conductor 114 is thinned by pressurization.
  • the interval (W2) between the narrow conductor 116 and the connection conductor 107 is secured. it can.
  • the mounting portion 106 provided on the third main surface 108 of the insulating base 201 is provided with a pair of connection conductors 107 along the short side, and the pair of connection conductors 107 are electrically conductively bonded.
  • the electronic component 105 such as a crystal resonator element or a semiconductor element is connected and accommodated by a bonding material such as an agent
  • the mounting portion 106 is mounted on the upper surface (first main surface 103) of the frame portion 118 in plan view.
  • a lid 203 is joined to a frame-like metallized layer 202 provided so as to surround by a brazing material or the like and hermetically sealed.
  • the brazing material is integrated with the lower surface of the lid 203 in advance, and the lid 203 made of metal is placed on the frame-like metallized layer 202, and the lid 203 is joined by heat treatment.
  • the mounting portion 106 is hermetically sealed.
  • a lid 203 made of metal is placed on a metal frame (not shown) previously joined to the upper surface of the insulating base 201 by a method such as brazing, and a seam welder is placed on the outer periphery of the lid 203.
  • the pair of roller electrodes are rolled while being in contact with each other, and a large current for welding is passed between the roller electrodes. Due to this resistance heating, the contact portion between the roller electrode and the lid 203 is heated to a high temperature.
  • the electronic component storage package 200 may be an electronic component storage package 200 that employs a method of performing hermetic sealing by seam welding the lid 203 to a metal frame.
  • the electronic device 300 includes the electronic component storage package 200 described above and the electronic component 105 mounted on the electronic component storage package 200. With such a structure, even when the electronic component storage package 200 is downsized, it is possible to suppress a decrease in electrical conductivity and disconnection between the connection conductor 107 and the auxiliary conductor 114, and the metal layer is attached to each wiring conductor by electroplating. And the electronic device 300 excellent in connection reliability with the electronic component 105 can be provided. That is, since the gap (W1) between the wide conductor 115 and the connection conductor 107 can be reduced, a conduction path is ensured by the wide conductor 115. Therefore, when manufacturing the mother board 101 on which the electronic component storage package 200 is arranged.
  • each electronic component storage package 200 has a metal layer satisfactorily deposited by electroplating, and the electronic component 105 and the connection conductor 107, and the external connection conductor 113 and the electronic device 300 are mounted. It is possible to provide the electronic device 300 having excellent electrical connectivity with connection pads and the like of a circuit board (not shown).
  • the distance (W2) between the narrow conductor 116 and the connection conductor 107 is large, and for example, when an electronic component 105 such as a piezoelectric vibration element is mounted on the connection conductor 107 with a bonding material or the like, the possibility of short-circuiting can be reduced. If the electronic component storage package 200 in which the narrow conductor 116 is not exposed to the mounting portion 106 on the third main surface 108 and is covered with the frame portion 118 provided on the third main surface 108 is further used. It is possible to provide an electronic device 300 that effectively suppresses a short circuit and has excellent connection reliability.
  • the multi-cavity wiring board (mother board 101), the electronic component storage package 200, and the electronic device 300 of the present disclosure are not limited to the examples of the embodiments described above, and depart from the gist of the present disclosure.
  • the mother board 101 in which the wiring board region 102 in which the concave mounting portion 106 is provided by the two insulating layers is arranged is used as the mother board 101.
  • 101 may be used, or a mother board 101 in which flat wiring boards (not shown) having no recesses are arranged may be used.
  • the shape of the through hole 112 provided on the outer edge of the wiring board region 102 arranged on the mother board 101 is a circular shape, it may be an elliptical shape, a long hole shape, or other shapes.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

多数個取り配線基板は、第1主面および第1主面に相対する第2主面と、第1主面と第2主面との間に設けられ、電子部品が搭載される搭載部、および電子部品が接続される接続導体が設けられた第3主面と、複数の配線基板領域が配列され、複数の配線基板領域を取り囲んで設けられた捨て代領域を有し、第1主面および第2主面において配線基板領域の境界、および配線基板領域と捨て代領域の境界に沿って分割溝を有している母基板と、配線基板領域の境界、または配線基板領域と捨て代領域の境界に跨って設けられ、第1主面から第2主面にかけて貫通した貫通孔と、第2主面において、配線基板領域の各角部に設けられた外部接続導体とを備えており、第3主面における貫通孔の周囲に補助導体が設けられ、補助導体は、接続導体と接続される側に設けられる幅広導体と、接続導体と接続されない側に設けられる幅狭導体とを含んでおり、幅広導体は隣接する配線基板領域の境界を跨いで設けられている。

Description

多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置
 本発明は、電子部品の搭載部を有する複数の配線基板領域が母基板に縦横の並びに配列された多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置に関するものである。
 従来、半導体素子、弾性表面波素子等の電子部品を収容するために用いられる電子部品収納用パッケージは、酸化アルミニウム質焼結体またはガラスセラミック焼結体等のセラミック焼結体からなる絶縁基板に、電子部品を収容するための凹状の搭載部を有している。電子部品収納用パッケージとなる絶縁基板は、一般に、四角平板状の基部と、搭載部を取り囲むように基部の上面に積層された四角枠状の枠部とを有している。基部の上面と、枠部の内側面とで凹状の搭載部が形成される。搭載部に電子部品が搭載されたのち、枠体の上面の枠状メタライズ層に金属からなる蓋体が接合されて、搭載部が気密に封止される。なお、この枠部の上面に枠状メタライズ層、およびろう材等を介して金属枠体(シールリングともいう)が接合される構造も採用されており、基部の上面と枠部および金属枠体の内側面とで凹状の搭載部が形成される。
 このような電子部品収納用パッケージは、一般に広面積の母基板から複数個の配線基板を同時集約的に得るようにした、いわゆる多数個取り配線基板の形態で製作されている。多数個取り配線基板は、例えば酸化アルミニウム質焼結体からなる母基板に、それぞれが個片の電子部品収納用パッケージとなる複数の配線基板領域が縦横に配列されている。配線基板領域の境界に沿って、母基板の上面等の主面に分割溝が形成されている。この分割溝を挟んで母基板に曲げ応力が加えられて母基板が破断されることによって、個片の配線基板に分割される。また、レーザーによって分割溝を設ける方法が提案されている(例えば、特開2014-27219号公報参照。)。
 本開示の多数個取り配線基板は、第1主面および該第1主面に相対する第2主面と、前記第1主面と前記第2主面との間に設けられ、電子部品が搭載される搭載部、および電子部品が接続される接続導体が設けられた第3主面と、複数の配線基板領域が配列され、該複数の配線基板領域を取り囲んで設けられた捨て代領域を有し、前記第1主面および前記第2主面において前記配線基板領域の境界、および前記配線基板領域と前記捨て代領域の境界に沿って分割溝を有している母基板と、前記配線基板領域の境界、または前記配線基板領域と前記捨て代領域の境界に跨って設けられ、前記第1主面から前記第2主面にかけて貫通した貫通孔と、前記第2主面において、前記配線基板領域の各角部に設けられた外部接続導体とを備えており、前記第3主面における前記貫通孔の周囲に補助導体が設けられ、該補助導体は、前記接続導体と接続される側に設けられる幅広導体と、前記接続導体と接続されない側に設けられる幅狭導体とを含んでおり、前記幅広導体は隣接する前記配線基板領域の境界を跨いで設けられている。
 本開示の電子部品収納用パッケージは、絶縁基板を含み、第1主面および該第1主面に相対する第2主面と、前記第1主面と前記第2主面との間に設けられ、電子部品が搭載される搭載部、および電子部品が接続される接続導体が設けられる第3主面と、前記絶縁基板の外縁において、前記第1主面から前記第2主面にかけて設けられ、第1切欠き部および第2切欠き部を含む切欠き部と、前記第2主面において、前記絶縁基板に設けられた複数の外部接続導体とを備えており、前記第3主面において、前記切欠き部の内面に幅広導体と幅狭導体とを含む補助導体が設けられており、前記第1切欠き部の近傍で、前記接続導体と接続される領域に、前記幅広導体が設けられており、前記第2切欠き部の近傍で、前記接続導体と接続されない領域に、前記補助導体が前記幅狭導体および前記幅広導体の両方が設けられている。
 本開示の電子装置は、上記の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージに搭載された電子部品とを有している。
(a)は本実施形態の多数個取り配線基板の一部を示す平面透視図であり、(b)は(a)のX-X’線における断面透視図である。 本実施形態の多数個取り配線基板の要部を示す要部拡大図である。 他の実施形態の多数個取り配線基板の要部を示す要部拡大図である。 (a)は他の実施形態の多数個取り配線基板の一部を示す平面透視図であり、(b)は(a)のY-Y’線における断面透視図である。 他の実施形態の多数個取り配線基板の要部を示す要部拡大図である。 (a)は本実施形態の電子部品収納用パッケージを示す平面透視図であり、(b)は(a)のZ-Z’線における断面透視図である。
 本開示の多数個取り配線基板および電子部品収納用パッケージとなる配線基板について、添付の図面を参照しつつ説明する。図1~図6において、101は母基板(多数個取り配線基板)、102は電子部品収納用パッケージとなる配線基板領域、103は第1主面、104は第2主面、105は電子部品、106は搭載部、107は接続導体、108は第3主面、109は捨て代領域、110は境界、111は分割溝、112は貫通孔、113は外部接続導体、114は補助導体、115は幅広導体、116は幅狭導体、117は基部、118は枠部、200は配線基板(電子部品収納用パッケージ)、201は絶縁基板、202は枠状メタライズ層、203は蓋体、204は切欠き部、205は第1切欠き部、206は第2切欠き部、300は電子装置である。なお、図1~図6において同一箇所には同じ符号を付している。
 母基板101に配列された配線基板200は、凹状の搭載部106を含む第3主面108を有し、この搭載部106に電子部品105が収容される。配線基板200は、基部117と基部117上に積層された枠部118とを有している。第1主面103の枠部118には枠状メタライズ層202が設けられ、この枠状メタライズ層202にろう材によって金属枠体(図示せず)、金属からなる蓋体203が接合される。なお、枠状メタライズ層202に金属枠体が接合される場合には、さらにこの金属枠体に蓋体203が接合される構造となる。また、配線基板200は、電子部品105が接続される接続導体107、外部接続導体113、補助導体114等を有している。配線基板200の搭載部106に設けられた接続導体107に電子部品105が接合材等で接合されて、電子装置300が形成される。
 このような配線基板200は、一般に1枚の広面積の母基板101から複数個の配線基板200を同時集約的に得るようにした、いわゆる多数個取り配線基板の形態で製作される。多数個取り配線基板は、例えば酸化アルミニウム質焼結体からなる母基板101に複数の配線基板領域102が縦横に配列されている。図1に示すように、母基板101は外周に貫通孔112が設けられた配線基板領域102が配列されてなる。また、各配線基板領域102の外周に設けられる貫通孔112には、貫通孔112の内面の一部に内面導体(図示せず)が設けられており、さらに搭載部106を含む第3主面108の貫通孔112の周辺には補助導体114が設けられている。これらの内面導体、補助導体114は、隣り合う配線基板領域102の配線導体同士を電気的に接続する機能を有する。図1においては、貫通孔112が各配線基板領域102の四隅に設けられた構造を示している。なお、貫通孔112の形成位置は、各配線基板領域102の四隅以外、例えば長辺側の中央部、短辺側に形成されていてもよい。この貫通孔112に設けられた内面導体、補助導体114により、隣接する配線基板領域102間における接続導体107、外部接続導体113等が接続されて、母基板101の各配線導体が一体的に接続される。そして、例えば、母基板101の捨て代領域109の外縁部に設けられためっき用導体(図示せず)に導出されることにより、このめっき用導体から電気を供給して、外部接続導体113等に電気めっきにより金属層が被着される。
 母基板101は、例えば酸化アルミニウム質焼結体,ガラスセラミック焼結体,窒化アルミニウム質焼結体,炭化珪素質焼結体,窒化珪素質焼結体,ムライト質焼結体等のセラミック焼結体により形成されている。
 母基板101は複数のセラミック絶縁層が積層され、この積層体が一体焼成されて製作される。すなわち、母基板101が酸化アルミニウム質焼結体からなる場合であれば、次のようにして製作される。まず、酸化アルミニウムおよび酸化ケイ素等のガラス成分を含む原料粉末に適当な有機溶剤、およびバインダーを添加してシート状に成形して、複数のセラミックグリーンシートを作製する。次に、この一部のものについて打ち抜き加工を施して複数の枠部が設けられたセラミックグリーンシートに成形した後、打ち抜き加工を施していない平板状のセラミックグリーンシートの上に、複数の枠部が形成されたセラミックグリーンシートを積層する。その後、この積層体を一体焼成すれば、複数のセラミック絶縁層が積層されてなる配線基板領域102が縦横に配列形成された母基板101を作製することができる。この場合、打ち抜き加工を施したセラミックグリーンシートが枠部118になり、打ち抜き加工を施していないセラミックグリーンシートが基部117になる。
 電子部品収納用パッケージとなる配線基板200は、その上面の中央部に電子部品105の搭載部106(凹状の部位)を有している。基部117および枠部118は、搭載部106に収容される電子部品105を保護するための容器として作用するものである。搭載部106に収容される電子部品105としては、水晶振動子等の圧電振動子,弾性表面波素子,半導体素子(IC),容量素子,インダクタ素子,抵抗器等の種々の電子部品を挙げることができる。
 このような形態の配線基板200は、例えば電子部品105が水晶振動子の場合であり、電子装置300が水晶デバイスである場合には、携帯電話、スマートホン等の通信機器、コンピュータ、ICカード等の情報機器等の電子機器において、周波数、時間の基準となる発振器用のパッケージとして使用され、この場合の電子装置300は発振器として使用される。搭載部106に収容された電子部品105は、例えば導電性接着剤等の接合材によって、第3主面108に設けられた接続導体107と電気的に接続される。
 配線基板200は、いわゆる多数個取りの形態で製作されたものが個片に分割されたものである。例えば、複数のセラミック絶縁層が積層されてなる母基板101に、搭載部106を有する複数の配線基板領域102が縦横の並びに配列される。母基板101の上面に、配線基板領域102の境界110に沿ってレーザー(図示せず)により分割溝111が形成され、例えば図1等に示すような多数個取り配線基板が基本的に構成されている。このような母基板101が配線基板領域102の分割溝111に沿って分割されて、電子部品収納用パッケージとなる配線基板200が製作される。
 また、図1および図2で示すように、母基板101を分割するために、配線基板領域102の境界110に沿って、母基板101の第1主面103および第2主面104にレーザーによって分割溝111が形成される。そして、母基板101の第1主面103と第2主面104との間に設けられる第3主面108(基部117と枠部118の境界部分)においても、分割溝111が形成される。これは、配線基板領域102の境界110に沿ってレーザーにより分割溝111を形成する際に、貫通孔112が配線基板領域102の境界110、または配線基板領域102と捨て代領域109の境界110に跨って設けられており、貫通孔112の内面の一部に設けられた内面導体にもレーザーが照射されることにより、分割溝111が第3主面108にも形成されるためであり、母基板101の厚み方向において、図1および図2で示すように、貫通孔112の内面に近いほど、分割溝111の深さが大きくなるように形成されている。そして、分割溝111は、例えば第1主面103側の分割溝111と、第2主面104側の分割溝111の両面に設けられた分割溝111で構成されており、母基板101の配線基板領域102の間、および配線基板領域102と捨て代領域109との間に格子状に設けられている。そして、それぞれの分割溝111が形成されている部分(配線基板領域102の境界110等)で母基板101に応力を加えて母基板101を厚み方向にたわませることによって、母基板101が個片の配線基板200に分割されることになる。なお、母基板101に設けられる分割溝111は、第1主面103側の片面だけに設けてもよく、第2主面104側の片面だけに設けてもよい。
 配線基板200の内部および表面には、搭載部106の底部(第3主面108)等から配線基板200の下面(第2主面104)にかけて接続導体107等の配線導体が形成されている。これらの配線導体のうち、配線基板200の第2主面104に形成された部位は、例えば外部接続導体113である。配線導体のうち、配線基板200の内部に形成されたものは貫通導体(いわゆるビア導体等)、補助導体114、電子部品105を接続するための接続導体107の露出しない部位等である。搭載部106に搭載される電子部品105を接続導体107に電気的に接続させることにより、接続導体107、補助導体114、および外部接続導体113等を介して電子部品105が外部の電気回路(図示せず)に電気的に接続される。
 これらの配線導体は、例えば銅,銀,パラジウム,金,白金,タングステン,モリブデン,マンガン等の金属材料、またはそれらを含む合金からなる。配線導体は、例えば、高融点金属であるモリブデンからなる場合であれば、モリブデンの粉末に有機溶剤およびバインダーを添加して作製した金属ペースト(図示せず)を配線基板200となるセラミックグリーンシートに所定パターンで塗布しておき、同時焼成により形成することができる。
 上記の多数個取り配線基板(母基板101)において、それぞれの配線基板領域102の下面の各角部には、分割後に配線基板200の外部接続導体113となるメタライズ導体層が形成されている。この外部接続導体113は、例えばその外周が貫通孔112に設けられた内面導体に接している。外部接続導体113は、例えばタングステン、モリブデン等の金属からなり、例えば外部接続導体113がモリブデンのメタライズ導体層からなる場合であれば、モリブデンの粉末に有機溶剤、バインダー等を添加して作製した金属ペーストを、セラミック絶縁層の基部117となるセラミックグリーンシートの下面に所定パターンで印刷しておくことにより形成することができる。金属ペーストは、例えば、焼成後の外部接続導体113の厚みが8~20μm程度となるように、スクリーン印刷法等により形成される。
 また、第1主面103に設けられる枠状メタライズ層202の上面に、さらに金属枠体(図示せず)がろう材により接合されていてもよい。この金属枠体の接合は、多数個取り配線基板の状態で行なわれてもよく、個片の電子部品収納用パッケージ(配線基板200)の状態で行なわれてもよい。生産性を考慮した場合には、多数個取りの状態で上記接合が行なわれる。そして、この金属枠体に金属からなる蓋体203が接合されて電子部品105が搭載部106に封止される。この実施形態の例においては、枠状メタライズ層202、接続導体107、外部接続導体113等の露出した表面にニッケルめっき層と金めっき層等の金属層(図示せず)が順次被着されている。そして、例えばニッケルめっき層は1.0~20μm程度、金めっき層は0.1~1.0μm程度で形成される。これらのめっき層により、露出した各配線導体の表面が金属層で覆われるため腐食防止効果があり、半田およびろう材等の濡れ性が良好な配線導体となる。
 本実施形態の多数個取り配線基板は、第1主面103および第1主面103に相対する第2主面104と、第1主面103と第2主面104との間に設けられ、電子部品105が搭載される搭載部106、および電子部品105が接続される接続導体107が設けられた第3主面108と、複数の配線基板領域102が配列され、複数の配線基板領域102を取り囲んで設けられた捨て代領域109を有し、第1主面103および第2主面104において配線基板領域102の境界110、および配線基板領域102と捨て代領域109の境界110に沿って分割溝111を有している母基板101と、配線基板領域102の境界110、または配線基板領域102と捨て代領域109の境界110に跨って設けられ、第1主面103から第2主面104にかけて貫通した貫通孔112と、第2主面104において、配線基板領域102の各角部に設けられた外部接続導体113とを備えており、第3主面108における貫通孔112の周囲に補助導体114が設けられ、補助導体114は、接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116とを含んでおり、幅広導体115は隣接する配線基板領域102の境界110を跨いで設けられている。
 このような構造としたことから、電子部品収納用パッケージとなる配線基板200が小型化しても、配線基板領域102の境界110に沿ってレーザーにより分割溝111を形成する際に、レーザーが幅広導体115に照射されるため、補助導体114の断線を抑制できる。つまり、図1の(b)で示したように、例えばレーザーで母基板101の第1主面103側から分割溝111を形成する場合、貫通孔112の表面付近ではレーザーを各配線基板領域102の境界110に沿ってレーザーが貫通孔112を移動する際に、貫通孔112の厚み方向に照射されるため、分割溝111の深さが貫通孔112に近いほど大きくなる領域が存在する。このため、配線基板領域102の貫通孔112に近い領域を除く境界110に設けられる分割溝111の深さが、母基板101の厚み方向において第1主面103から補助導体114までの深さよりも小さくなるように形成しても、配線基板領域102の貫通孔112に近い領域では分割溝111の深さが大きくなり、補助導体114が断線する可能性があった。そして、貫通孔112に内面導体が設けられていたとしても、内面導体(図示せず)の厚みが小さいためにレーザーで内面導体も断線され易い。よって、補助導体114が断線した場合、補助導体114、内面導体等を介して隣接する配線基板領域102間の導通経路を確保できない可能性があった。
 しかし、図2に平面透視図として示したように、補助導体114が接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116とを含んでおり、幅広導体115が隣接する配線基板領域102の境界110を跨いで設けられる構造としたことから、たとえ補助導体114にレーザーが照射されてもそのレーザーは幅広導体115に照射されることになり、幅広導体115が断線を抑制できるのに十分な幅を有することから、補助導体114の断線を抑制できる。なお、補助導体114が断線しなければ、たとえ内面導体が断線しても隣接する配線基板領域102間の導通経路が確保される。
 また、母基板101においては、多数個取り配線基板に配列された各配線基板領域102間の配線導体を接続するための内面導体が第2主面104側の貫通孔112の内面に設けられており、図1(b)に示したように、第1主面103側の分割溝111の深さが大きくなるように、また第2主面104側の分割溝111の深さが小さくなるように設ければ、内面導体へのレーザーが照射され難くなり、内面導体のレーザーによる断線を抑制することができる。
 また、補助導体114は、接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116とを含んでいることから、接続導体107と接続される側においては、補助導体114の幅広導体115と接続導体107との間隔(W1)を小さくできるため、導通を良好に行うことができるとともに、接続導体107と接続されない側においては、補助導体114の幅狭導体116と接続導体107との間隔(W2)を大きくできるため、絶縁を良好に行うことができるという相反する効果を、この補助導体114で得ることができる。つまり、従来のように補助導体(図示せず)を全周において同一の幅で形成した場合、レーザーにより分割溝111を形成する際の補助導体の断線を抑制するためには、補助導体の幅を大きくする必要があるが、電子部品収納用パッケージはさらに小型化が図られてきており、補助導体と搭載部106に近接して設けられた接続導体107との間隔が狭くなり、圧電振動素子等の電子部品105を接続導体107に接合材等により搭載する際に、接合材の流れ出し等により短絡する可能性があった。
 しかし、図2に示したように、補助導体114が接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116とを含んでいる構造としたことから、接続導体107と接続される側においては、補助導体114の幅広導体115により接続導体107と補助導体114との導通を良好に行うことができるとともに、接続導体107と接続されない側においては、補助導体114の幅狭導体116により接続導体107と補助導体114との絶縁を良好に行うことができる。
 また、本実施形態の多数個取り配線基板は、貫通孔112が配線基板領域102の四隅に設けられている。このような構造としたことから、レーザーにより分割溝111を形成しても、補助導体114の断線を抑制しながら、配線基板領域102の四隅の貫通孔112の周囲に設けられた補助導体114を介して各配線基板領域102間を効率よく接続でき、電気めっきにより各配線基板領域102に露出した配線導体に良好に金属層を被着させることができる。つまり、多数個取り配線基板に配列された各配線基板領域102間が、図1(a)、(b)で示したようにそれぞれの配線導体が、配線基板領域102の四隅の貫通孔112の周囲に設けられた補助導体114、貫通孔112の内面に設けられた内面導体、接続導体107等により一体的に接続されていることから、配線基板領域102の四隅を面取りすることを兼ねると同時に、貫通孔112の内面を各配線基板領域102間の接続手段に使用することができる。
 各配線基板領域102の搭載部106に設けられた接続導体107から補助導体114、および図示しない貫通導体、または貫通孔112の内面導体を経て、各配線基板領域102の第2主面104に設けられる外部接続導体113にかけて接続され、電子部品105と外部電気回路(図示せず)とを電気的に接続するための導電経路の一部が形成されている。そして、例えば図1(a)、図2に示したように、各配線基板領域102の境界110、および各配線基板領域102と捨て代領域109との境界110における貫通孔112の周囲に設けられた補助導体114の幅(平面視における補助導体114の内周と、境界110を跨いで設けられる幅広導体115の外縁との距離)が従来の補助導体に比べて大きい。そのため、レーザーにより分割溝111を形成する際に補助導体114の一部が切断されても、幅広導体115の外縁側の領域が導通経路として確保される。
 よって、電子部品収納用パッケージとなる配線基板領域102が小型化しても、配線基板領域102の四隅の貫通孔112の周囲に設けられた補助導体114を介して各配線基板領域102間を効率よく接続でき、電気めっきにより各配線基板領域102に露出した配線導体に良好にニッケルめっき層、金めっき層等の金属層を被着させることができるため、接続導体107と電子部品105との接続信頼性、および外部接続導体113と外部電気回路との接続信頼性を向上できる。
 なお、配線基板200の大きさが、例えば1.2mm(長辺側の長さ)×1.0mm(短辺側の長さ)サイズであれば、各配線基板領域102の境界110、および各配線基板領域102と捨て代領域109との境界110における貫通孔112の大きさがφ0.10~0.15mm程度であり、このような貫通孔112の周囲に設けられる補助導体114は、幅狭導体116の幅が0.03~0.05mm程度、そして、幅広導体115の幅が0.6~0.12mm程度である。そして、レーザーで補助導体114が切断されないように、断面視における分割溝111が貫通孔112の近傍で深く変化し始める領域と、貫通孔112の内面との水平方向の距離よりも大きくなるように、幅広導体115が設けられる。
 また、本実施形態の多数個取り配線基板は、平面視において、配線基板領域102が矩形状であり、貫通孔112は、配線基板領域102の短辺側または長辺側に設けられている。このような構造としたことから、多数の接続導体107が設けられたり、配線基板200の四隅から接続導体107が離間している構造であっても、配線基板領域102の短辺側または長辺側において貫通孔112、および補助導体114の位置を自由に移動させて接続導体107の位置を適切に移動させることができる。
 つまり、例えば補助導体114接続されると接続導体107を配線基板領域102の短辺側に設けたい場合、図3に示したように、配線基板領域102間の短辺側の中央に境界110を跨いで貫通孔112を設けておき、この貫通孔112の周囲に補助導体114を設けるとともに、補助導体114が接続導体107と接続される側に幅広導体115を設けておき、さらに接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116を設けておき、幅広導体115の両端が配線基板領域102の境界110を跨ぐように設ければよい。このような構造より、配線基板領域102の短辺側の境界110にレーザーで分割溝111を形成する際においても、補助導体114の断線を抑制しながら、配線基板領域102の各貫通孔112の周囲に設けられた補助導体114を介して、各配線基板領域102間を効率よく接続でき、電気めっきにより各配線基板領域102に露出した配線導体に良好に金属層を被着させることができる。
 さらに、図3に示したように、補助導体114は接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられる幅狭導体116とを含んでいることから、接続導体107と接続される側においては、補助導体114の幅広導体115と接続導体107との間隔を小さくできるため、接続導体107と幅広導体115との導通を良好に行うことができるとともに、接続導体107と接続されない側においては、補助導体114の幅狭導体116と接続導体107との間隔を大きくできるため、接続導体107と幅狭導体116との絶縁も良好に行うことができるという相反する効果を、この配線基板領域102の短辺側または長辺側に設けられた補助導体114において得ることができる。なお、図3では短辺側に1つの貫通孔112、および接続導体107が設けられた構造の配線基板領域102を示したが、短辺側または長辺側に、複数の貫通孔112および複数の接続導体107が設けられた構造でもよく、さらに短辺側と長辺側の両側に複数の貫通孔112、および複数の接続導体107が設けられた構造であってもよい。
 また、レーザーにより分割溝111を形成する工程は、焼成後の母基板101で行ってもよいが、複数のセラミックシートの積層体の段階、つまり母基板101となる未焼成の積層体が好ましい。積層体の焼成前にレーザーで分割溝111を形成することによって加工性が良好であり、レーザーによる溶融物の付着を抑制することができる。具体的には、レーザーの種類として、UVレーザー、グリーンレーザー、IRレーザー等を用いればよい。レーザー加工時のレーザーの単位面積(レーザーが照射される部位における被加工物の表面の単位面積)あたりの出力が比較的小さく、これに応じて溶融物の発生量が少ない。この場合、焼結後の母基板101に比べて、焼成前のバインダー等の有機物が含まれる母基板101のほうがレーザーによる溶融物の除去が容易である。そのため、上記のように比較的小さいエネルギーのレーザーでも、良好な形状の分割溝111を形成することが可能となる。
 また、本実施形態の多数個取り配線基板は、幅広導体115が第3主面108において搭載部106に露出して設けられている。このような構造としたことから、補助導体114が接続導体107と接続される側において、補助導体114の幅広導体115と接続導体107との間隔(W1)をより小さくでき、接続導体107と幅広導体115との導通をさらに良好に行うことができる。また、補助導体114は母基板101の厚み方向における基部117と枠部118との境界に設けられており、母基板101を製造する際、基部117と枠部118との積層時に加圧されて幅広導体115の厚みが薄くなっても、幅広導体115が第3主面108において搭載部106に露出して設けられていることから、導通経路の幅が確保されており接続導体107と幅広導体115との良好な導通状態を維持できる。
 接続導体107、補助導体114は、セラミック絶縁層の基部117となるセラミックグリーンシートの上面に所定パターンで印刷しておくことにより形成することができる。金属ペーストは、例えば、焼成後の接続導体107、補助導体114の厚みが8~12μm程度となるように、スクリーン印刷法等により形成される。そして、母基板101を製造する際、基部117となるセラミックグリーンシートと、枠部118となるセラミックグリーンシートを密着させて一体化するために積層時に加圧される。加圧された母基板101となる積層体は、母基板101の厚み方向における基部117と枠部118との境界に設けられた補助導体114が加圧されることにより、印刷時よりも幅広導体115の厚みが薄くなってしまう。しかし、このように幅広導体115が第3主面108において搭載部106に露出して設けられていれば、基部117と枠部118との境界における幅広導体115の幅が大きな構造となり、導通経路の幅を確保し易く、接続導体107と幅広導体115との良好な導通状態を維持できる。
 また、本実施形態の多数個取り配線基板は、幅狭導体116が第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118で覆われている。このような構造としたことから、補助導体114が接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられ、第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118で覆われている幅狭導体116とを含んでおり、接続導体107と補助導体114が接続される側においては、補助導体114の幅広導体115と接続導体107との間隔(W1)を小さくでき、接続導体107と幅広導体115との導通を良好に行うことができる。また、補助導体114が接続導体107と接続されない側においては、補助導体114の幅狭導体116と接続導体107との間隔(W2)をより大きくでき、さらに幅狭導体116の全てが枠部118で覆われた構造となる。
 よって、接続導体107が幅広導体115と接続される側で、接続導体107と幅広導体115との導通を良好に行うことができるとともに、より効果的に圧電振動素子等の電子部品105を接続導体107に接合材等により搭載する際に、接合材の流れ出し等による短絡を抑制して接続導体107と幅狭導体116との絶縁をさらに良好に行うことができるという相反する効果を、この補助導体114で得ることができる。
 このような多数個取り配線基板の1つの実施例を図4(a)、(b)に示す。多数個取り配線基板は、幅狭導体116が第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118(平面透視図で表示)で覆われている構造となっている。そして、各配線基板領域102において、補助導体114が接続導体107と接続される側に設けられる幅広導体115と、接続導体107と接続されない側に設けられ、第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118で覆われている幅狭導体116とを含んでいる。
 複数のセラミック絶縁層が積層されてなる母基板101(多数個取り配線基板)に、搭載部106を有する複数の配線基板領域102が縦横の並びに配列されており、この母基板101の上面(第1主面103)に、隣り合う配線基板領域102の境界110、または配線基板領域102と捨て代領域109の境界110に沿って、レーザーにより分割溝111が形成される。さらに、母基板101の下面(第2主面104)に、上面の分割溝111に対向するように配線基板領域102の境界110、または配線基板領域102と捨て代領域109の境界110に沿って、レーザーにより分割溝111が形成される。なお、母基板101においては、多数個取り配線基板に配列された各配線基板領域102間の配線導体を接続するための内面導体(図示せず)が第2主面104側の貫通孔112の内面に設けられており、図4(b)に示したように、第1主面103側の分割溝111の深さが大きくなるように、また、第2主面104側の分割溝111の深さが小さくなるように設けることにより、内面導体へのレーザーが照射され難くなり、内面導体のレーザーによる断線を抑制することができる。
 なお、幅狭導体116が第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118で覆われている構造とするために、幅狭導体116の幅を小さくしても、接続導体107と接続される側に設けられ、隣接する配線基板領域102の境界110を跨いで設けられる幅広導体115の幅がしっかりと確保されていれば、たとえ幅が小さい幅狭導体116を含む補助導体114にレーザーが照射されてもそのレーザーは幅広導体115に照射されることなり、幅広導体115が断線を抑制できるのに十分な幅を有することから、補助導体114の断線を抑制できる。
 つまり、図4(a)、(b)で示したように、母基板101の上面(第1主面103)に、配線基板領域102の境界110に沿ってレーザーにより分割溝111が形成される場合、貫通孔112の表面付近では配線基板領域102の境界110に沿ってレーザーが貫通孔112を移動する際に、レーザーが貫通孔112の厚み方向に照射されるため、分割溝111の深さが貫通孔112に近いほど深く変化する領域が存在する。このため、配線基板領域102の貫通孔112に近い領域を除く境界110に設けられる分割溝111が、母基板101の厚み方向において第1主面103から補助導体114までの深さよりも小さくなるように形成されても、配線基板領域102の貫通孔112に近い領域では分割溝111の深さが第1主面103から補助導体114までの深さよりも大きくなってしまう。しかし、このように幅広導体115が断線を抑制できるのに十分な幅を有しているため、平面視において補助導体114の幅広導体115の貫通孔112側がレーザーにより切断された場合でも、幅広導体115の切断されていない部分で隣接する配線基板領域102間の補助導体114が一体的に接続された構造が維持されるため、補助導体114の断線を抑制できる。
 ここで、例えば図5で示したように、幅広導体115の形状を幅広導体115の両端部を境界110に沿って直線状とした例を示したが、例えば幅広導体115の両端部において、近接する分割溝111の外縁の延長(L1)に沿った形状、つまり、幅広導体115の外縁と幅狭導体116の外縁を結ぶ線を、近接する分割溝111の外縁の延長(L1)に沿った形状とすれば、分割溝111の外縁と幅広導体115との間に導体の極小幅部が形成されず、幅広導体115の切断されない部分の幅をより大きく残すことができるため、隣接する配線基板領域102間の補助導体114が一体的に接続された構造がより確実に維持される。よって、補助導体114の断線をより一層効果的に抑制できる。なお、幅広導体115の両端部における分割溝111の外縁に沿った形状は、直線状だけでなく、湾曲状としてもかまわない。
 本実施形態の電子部品収納用パッケージ(配線基板200)は、絶縁基板201を含み、第1主面103および第1主面103に相対する第2主面104と、第1主面103と第2主面104との間に設けられ、電子部品105が搭載される搭載部106、および電子部品105が接続される接続導体107が設けられる第3主面108と、絶縁基板201の外縁において、第1主面103から第2主面104にかけて設けられ、第1切欠き部205および第2切欠き部206を含む切欠き部204と、第2主面104において、絶縁基板201に設けられた複数の外部接続導体113とを備えており、第3主面108において、切欠き部204の内面に幅広導体115と幅狭導体116とを含む補助導体114が設けられており、第1切欠き部205の近傍で、接続導体107と接続される領域に、幅広導体115が設けられており、第2切欠き部206の近傍で、接続導体107と接続されない領域に、補助導体114が幅狭導体116および幅広導体115の両方が設けられている。
 このような構造としたことから、導通経路を幅広導体115で確保しながら、幅狭導体116と接続導体107との間隔(W2)を大きくでき、電気めっきにより露出する配線導体に金属層を良好に被着させることができるとともに、補助導体114に接続されない接続導体107との短絡を抑制できる電子部品収納用パッケージを提供できる。つまり、電子部品収納用パッケージ200を製造するために、レーザーによって母基板101に分割溝111を設ける際、切欠き部204となる貫通孔112の近傍においてレーザーが貫通孔112の露出した内面にも照射されて深溝部が形成されても、切欠き部204の内面に幅広導体115と幅狭導体116とを含む補助導体114が設けられており、導通経路を幅広導体115で確保しながら、電気めっきにより露出する配線導体に金属層を良好に被着させることができるとともに、補助導体114に接続されない接続導体107との短絡を抑制できる。
 電子部品収納用パッケージ200は、基部117と基部117上に積層された枠部118とを有しており、補助導体114は、基部117と枠部118が積層される領域に設けられている。補助導体114は、焼成後の補助導体114の厚みが8~12μm程度となるように、スクリーン印刷法等により形成される。そして、電子部品収納用パッケージ200が配列された母基板101を製造する際に、基部117となるセラミックグリーンシートと、枠部118となるセラミックグリーンシートを密着させて一体化するために積層時に加圧される。このため、加圧された母基板101となる積層体は、母基板101の厚み方向における基部117と枠部118との境界に設けられた補助導体114も加圧されることから、印刷時よりも補助導体114の厚みが薄くなると同時に、当初の補助導体114の設計寸法よりも拡がる傾向にあった。
 しかしながら、このように切欠き部204の内面に幅広導体115と幅狭導体116とを含む補助導体114が設けられており、第1切欠き部205の近傍で、接続導体107と接続される領域に、幅広導体115が設けられており、第2切欠き部206の近傍で、接続導体107と接続されない領域に、補助導体114が幅狭導体116および幅広導体115の両方が設けられている構造により、積層時に加圧されても幅広導体115を構成している導体の幅が大きく、加圧により補助導体114の厚みが薄くなっても、導通経路を幅広導体115で確保できる。また、幅狭導体116を構成している導体の幅が小さく、加圧により補助導体114が接続配線導体107側に拡がっても、幅狭導体116と接続導体107との間隔(W2)を確保できる。
 このような電子部品収納用パッケージ200となる配線基板の一例を、図6に平面透視図、および断面透視図で示した。この例では、絶縁基体201の第3主面108に設けられた搭載部106には、短辺側に沿って一対の接続導体107が設けられており、この一対の接続導体107に導電性接着剤等の接合材により水晶振動素子、半導体素子等の電子部品105が接続されて収容された後、搭載部106が枠部118の上面(第1主面103)に、平面視で搭載部106を取り囲んで設けられた枠状メタライズ層202に、蓋体203がろう材等により接合されて気密封止される。すなわち、蓋体203の下面にあらかじめろう材が一体化されて設けられており、枠状メタライズ層202上に金属からなる蓋体203を載置して、熱処理することで蓋体203が接合されて搭載部106が気密封止される。
 なお、絶縁基体201の上面にあらかじめろう付け等の方法で接合された金属枠体(図示せず)に金属からなる蓋体203を載置して、この蓋体203の外周縁にシーム溶接機の一対のローラー電極を接触させながら転動させるとともに、このローラー電極間に溶接のための大電流を流し、この抵抗発熱により、ローラー電極と蓋体203との接触部を高温とし、この熱によって金属枠体に蓋体203をシーム溶接することによって、気密封止を行う方法を採用した電子部品収納用パッケージ200であってもよい。
 本実施形態の電子装置300は、上記記載の電子部品収納用パッケージ200と、電子部品収納用パッケージ200に搭載された電子部品105とを有している。このような構造により、電子部品収納用パッケージ200が小型化しても、接続導体107と補助導体114との導電性の低下、断線を抑制でき、電気めっきによる各配線導体への金属層の被着性、および電子部品105との接続信頼性に優れた電子装置300を提供できる。つまり、幅広導体115と接続導体107との間隔(W1)を小さくできるため、導通経路を幅広導体115で確保されるため、電子部品収納用パッケージ200が配列された母基板101を製造する際に、各電子部品収納用パッケージ200の露出する配線導体に、電気めっきにより金属層が良好に被着されており、電子部品105と接続導体107、および外部接続導体113と電子装置300が実装される回路基板(図示せず)の接続パッド等との電気的接続性に優れた電子装置300を提供できる。
 また、幅狭導体116と接続導体107との間隔(W2)が大きく、例えば圧電振動素子等の電子部品105を接続導体107に接合材等により搭載する際に、短絡する可能性を低減できる。なお、幅狭導体116が第3主面108において搭載部106に露出せず、第3主面108上に設けられた枠部118で覆われている電子部品収納用パッケージ200を用いれば、さらに効果的に短絡が抑制され、接続信頼性に優れた電子装置300を提供できる。
 なお、本開示の多数個取り配線基板(母基板101)、電子部品収納用パッケージ200、および電子装置300は、以上の実施の形態の例に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えても何ら差し支えない。例えば、上記実施形態の例において、2層からなる絶縁層により凹状の搭載部106が設けられた配線基板領域102が配列された母基板101としたが、3層以上の絶縁層からなる母基板101としてもよく、また凹部が設けられない平板状の配線基板(図示せず)が配列された母基板101で構成してもよい。また、母基板101に配列された配線基板領域102の外縁に設けられた貫通孔112の形状を円形状としたが、楕円状、長孔状、その他の形状としてもよい。

Claims (7)

  1. 第1主面および該第1主面に相対する第2主面と、前記第1主面と前記第2主面との間に設けられ、電子部品が搭載される搭載部、および電子部品が接続される接続導体が設けられた第3主面と、
    複数の配線基板領域が配列され、該複数の配線基板領域を取り囲んで設けられた捨て代領域を有し、前記第1主面および前記第2主面において前記配線基板領域の境界、および前記配線基板領域と前記捨て代領域の境界に沿って分割溝を有している母基板と、
    前記配線基板領域の境界、または前記配線基板領域と前記捨て代領域の境界に跨って設けられ、前記第1主面から前記第2主面にかけて貫通した貫通孔と、
    前記第2主面において、前記配線基板領域の各角部に設けられた外部接続導体とを備えており、
    前記第3主面における前記貫通孔の周囲に補助導体が設けられ、該補助導体は、前記接続導体と接続される側に設けられる幅広導体と、前記接続導体と接続されない側に設けられる幅狭導体とを含んでおり、前記幅広導体は隣接する前記配線基板領域の境界を跨いで設けられていることを特徴とする多数個取り配線基板。
  2. 前記貫通孔は、前記配線基板領域の四隅に設けられていることを特徴とする請求項1記載の多数個取り配線基板。
  3. 平面視において、前記配線基板領域が矩形状であり、
    前記貫通孔は、前記配線基板領域の短辺側または長辺側に設けられていることを特徴とする請求項1記載の多数個取り配線基板。
  4. 前記幅広導体は、前記第3主面において前記搭載部に露出して設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の多数個取り配線基板。
  5. 前記幅狭導体は、前記第3主面において前記搭載部に露出せず、前記第3主面上に設けられた枠部で覆われていることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の多数個取り配線基板。
  6. 絶縁基板を含み、第1主面および該第1主面に相対する第2主面と、前記第1主面と前記第2主面との間に設けられ、電子部品が搭載される搭載部、および電子部品が接続される接続導体が設けられる第3主面と、
    前記絶縁基板の外縁において、前記第1主面から前記第2主面にかけて設けられ、第1切欠き部および第2切欠き部を含む切欠き部と、
    前記第2主面において、前記絶縁基板に設けられた複数の外部接続導体とを備えており、
    前記第3主面において、前記切欠き部の内面に幅広導体と幅狭導体とを含む補助導体が設けられており、前記第1切欠き部の近傍で、前記接続導体と接続される領域に、前記幅広導体が設けられており、前記第2切欠き部の近傍で、前記接続導体と接続されない領域に、前記補助導体が前記幅狭導体および前記幅広導体の両方が設けられていることを特徴とする電子部品収納用パッケージ。
  7. 請求項6に記載の電子部品収納用パッケージと、該電子部品収納用パッケージに搭載された電子部品とを有していることを特徴とする電子装置。
PCT/JP2018/019680 2017-05-23 2018-05-22 多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置 WO2018216693A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019520263A JP6845316B2 (ja) 2017-05-23 2018-05-22 多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置
US16/614,519 US10991671B2 (en) 2017-05-23 2018-05-22 Multi-piece wiring substrate, electronic component housing package, and electronic device
CN201880030724.7A CN110612780B (zh) 2017-05-23 2018-05-22 多连配线基板、电子部件收纳用封装件以及电子装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-101869 2017-05-23
JP2017101869 2017-05-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018216693A1 true WO2018216693A1 (ja) 2018-11-29

Family

ID=64395491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/019680 WO2018216693A1 (ja) 2017-05-23 2018-05-22 多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10991671B2 (ja)
JP (1) JP6845316B2 (ja)
CN (1) CN110612780B (ja)
WO (1) WO2018216693A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021106655A1 (ja) * 2019-11-26 2021-06-03
KR20220000966A (ko) * 2020-06-27 2022-01-04 김기중 복수의 단자를 포함하는 케이블 커넥터

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11729915B1 (en) * 2022-03-22 2023-08-15 Tactotek Oy Method for manufacturing a number of electrical nodes, electrical node module, electrical node, and multilayer structure

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006005035A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 電子部品収納用セラミックパッケージ集合体およびセラミックパッケージ
JP2011029424A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Kyocera Corp 多数個取り配線基板
JP2015138812A (ja) * 2014-01-20 2015-07-30 日本特殊陶業株式会社 部品搭載用パッケージの製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH058971U (ja) * 1991-07-16 1993-02-05 京セラ株式会社 多数個取りセラミツク基板
JP2002290030A (ja) * 2001-03-23 2002-10-04 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板
JP2004343072A (ja) * 2003-04-23 2004-12-02 Kyocera Corp 多数個取り配線基板
JPWO2005052666A1 (ja) * 2003-11-27 2008-03-06 イビデン株式会社 Icチップ実装用基板、マザーボード用基板、光通信用デバイス、icチップ実装用基板の製造方法、および、マザーボード用基板の製造方法
JP5179046B2 (ja) * 2006-11-22 2013-04-10 新光電気工業株式会社 電子部品および電子部品の製造方法
JP2009010103A (ja) * 2007-06-27 2009-01-15 Ngk Spark Plug Co Ltd 多数個取りセラミック基板
JP2014027219A (ja) 2012-07-30 2014-02-06 Kyocera Corp 多数個取り配線基板、配線基板および多数個取り配線基板の製造方法
JP6317115B2 (ja) * 2014-01-21 2018-04-25 京セラ株式会社 多数個取り配線基板、配線基板および多数個取り配線基板の製造方法
US9379081B2 (en) * 2014-03-24 2016-06-28 King Dragon Nternational Inc. Semiconductor device package and method of the same
JP2016072606A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 日本特殊陶業株式会社 配線基板および多数個取り配線基板

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006005035A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 電子部品収納用セラミックパッケージ集合体およびセラミックパッケージ
JP2011029424A (ja) * 2009-07-27 2011-02-10 Kyocera Corp 多数個取り配線基板
JP2015138812A (ja) * 2014-01-20 2015-07-30 日本特殊陶業株式会社 部品搭載用パッケージの製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021106655A1 (ja) * 2019-11-26 2021-06-03
JP7361132B2 (ja) 2019-11-26 2023-10-13 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュール
KR20220000966A (ko) * 2020-06-27 2022-01-04 김기중 복수의 단자를 포함하는 케이블 커넥터
KR102348395B1 (ko) * 2020-06-27 2022-01-10 김기중 복수의 단자를 포함하는 케이블 커넥터

Also Published As

Publication number Publication date
US20200168577A1 (en) 2020-05-28
JPWO2018216693A1 (ja) 2020-03-19
CN110612780B (zh) 2022-04-19
US10991671B2 (en) 2021-04-27
JP6845316B2 (ja) 2021-03-17
CN110612780A (zh) 2019-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6671441B2 (ja) 電子部品収納用パッケージ、多数個取り配線基板、電子装置および電子モジュール
WO2018216693A1 (ja) 多数個取り配線基板、電子部品収納用パッケージ、および電子装置
JP7075810B2 (ja) 電子部品収納用パッケージ、電子装置、および電子モジュール
WO2021106655A1 (ja) 電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュール
CN111052352B (zh) 多连片式布线基板、电子部件收纳用封装件、电子装置以及电子模块
JP5705649B2 (ja) 圧電振動素子収納用パッケージおよび圧電装置
JP3538774B2 (ja) 配線基板
JP6495701B2 (ja) 電子部品収納用パッケージおよびその製造方法
WO2020218335A1 (ja) 電子部品収納用パッケージ、電子装置、および電子モジュール
JP4511335B2 (ja) 多数個取り配線基板および電子装置
JP6321477B2 (ja) 電子部品収納用パッケージ、パッケージ集合体および電子部品収納用パッケージの製造方法
JP2005244543A (ja) 圧電振動子収納用パッケージおよび圧電装置
JP6374279B2 (ja) 多数個取り配線基板、配線基板および多数個取り配線基板の製造方法
JP2006041310A (ja) 多数個取り配線基板
JP5743870B2 (ja) 配線基板および多数個取り配線基板
JPWO2019017441A1 (ja) 電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュール
JP2018166225A (ja) 配線基板および電子装置
JP2015220586A (ja) 圧電振動素子搭載用基板および圧電装置
JP2017011025A (ja) 電子部品収納用パッケージ、電子装置および電子モジュール
JP2002164451A (ja) 電子部品収納用パッケージ
JP2002261179A (ja) 電子部品収納用パッケージ
JP2014068136A (ja) 圧電振動素子収納用パッケージおよび圧電装置ならびに圧電装置の製造方法
JP2012134301A (ja) 配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18806137

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019520263

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 18806137

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1