WO2018084511A1 - 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법 - Google Patents

매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법 Download PDF

Info

Publication number
WO2018084511A1
WO2018084511A1 PCT/KR2017/012053 KR2017012053W WO2018084511A1 WO 2018084511 A1 WO2018084511 A1 WO 2018084511A1 KR 2017012053 W KR2017012053 W KR 2017012053W WO 2018084511 A1 WO2018084511 A1 WO 2018084511A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
matrix
spectrum
peak
analyte
intensity
Prior art date
Application number
PCT/KR2017/012053
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
김태만
김도훈
안종록
박한오
Original Assignee
(주)바이오니아
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)바이오니아 filed Critical (주)바이오니아
Priority to EP17867075.8A priority Critical patent/EP3537143A4/en
Priority to JP2019522249A priority patent/JP6838149B2/ja
Priority to US16/347,040 priority patent/US11545349B2/en
Priority to CN201780067888.2A priority patent/CN109906377A/zh
Publication of WO2018084511A1 publication Critical patent/WO2018084511A1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0409—Sample holders or containers
    • H01J49/0418—Sample holders or containers for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI] plates or surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/626—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas
    • G01N27/628—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas and a beam of energy, e.g. laser enhanced ionisation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34—Dynamic spectrometers
    • H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
    • H01J49/164—Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]

Abstract

본 발명은 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization) 질량분석 방법에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 질량분석 방법은 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 얻되, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 분석대상물질의 질량스펙트럼인 검출 스펙트럼을 얻는 단계; 및 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함한다.

Description

매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법
본 발명은 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법에 관한 것이다.
질량 분석에 사용되는 이온화법의 하나로서 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화(MALDI=Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization, 말디) 법이 알려져 있다. 말디법은 레이저광을 시료에 단시간 조사해 순간적으로 시료를 기화시킴으로써, 시료 중의 분석대상물질(analyte)의 분자를 분해하는 일 없이 이온화하는 것이다.
말디질량분석법에서는 일반적으로 분석대상물질의 용액을 매트릭스 용액과 혼합한 다음, 시료 플레이트 상에 도포해, 증발에 의해 용매를 제거함으로써 시료를 제조한다. 이 시료에 레이저광을 조사하면, 매트릭스가 레이저광의 에너지를 흡수해, 매트릭스의 일부가 급속히 가열되고 분석대상물질과 함께 기화(탈착)되어 이온화된다. 이후, 전자기장 내 전하를 띤 이온들의 운동을 측정함으로써, 분석대상물질의 분자량을 측정한다.
말디질량분석법은 분석대상물질이 조각화되지 않아 정확한 분자량의 측정이 가능하고, 검출 감도가 좋아 수 펨토몰 수준의 분석대상물질 또한 검출 가능하며, 보통 다전하(multiple charge)가 아닌 단일한 전하만을 가지므로 질량스펙트럼이 간단하고 분석이 용이하며, 분석대상물질과 매트릭스를 혼합하여 시료 플레이트에 분주한 후 건조하여 분석 가능함에 따라 시료 준비가 간단하고, 분석 시간이 1분 이내로 짧아 신속한 분석이 가능(대량 고속 분석 가능)하며, 완충용액이나 염 등의 오염에 영향을 덜 받으며, 기기의 사용 및 유지 비용이 저렴한 장점이 있다.
지금까지 말디질량분석법은 특히 고분자 화합물의 이온화에 이용되어 왔지만, 상술한 장점들에 의해, 최근, 저분자 화합물로의 활용 요망이 매우 높아지고 있다. 그러나, 일반적으로 말디질량분석법에서 매트릭스로 사용되는 물질은 수백 달톤(Da) 정도의 분자량을 갖는다. 이에 따라, 매트릭스를 이용해 MALDI 질량분석을 하는 경우, 질량 스펙트럼(mass spectrum)에는 매트릭스에서 기인하는 이온 피크가 저질량(m/z) 영역에 현저히 관측된다. 분석대상물질이 고분자 화합물일 경우에는 이러한 저질량 영역에서의 매트릭스 피크의 존재는 문제가 되지 않으나, 분석대상물질의 분자량이 작아질수록, 질량 스펙트럼 상에서 목적으로 하는 저분자 화합물 유래의 피크와 매트릭스에 기인한 피크가 매우 근접하여 혼재하거나 그 피크가 서로 겹쳐, 저분자량의 분석대상물질의 분석에는 그 한계가 있다.
이러한 한계를 극복하고자 일본등록특허 제4918662호와 같이, 유기 매트릭스를 무기 매트릭스로 대체하고자 하는 연구, 국제특허 WO2013/008723호와 같이, 새로운 매트릭스를 개발하고자 하는 연구가 이루어지고 있다. 그러나, 무기 매트릭스의 경우 이온화율이 유기 매트릭스에 비해 현저하게 떨어지는 한계가 있으며, 새로운 매트릭스를 개발한다 하더라도 매트릭스에 기인한 방해 피크가 여전히 존재할 수 밖에 없어, 다양한 저분자 화합물을 정확하고 민감하게 분석하는 것에는 그 기술적 한계가 있다.
본 발명의 목적은 저분자량 화합물을 정밀하게 검출할 수 있는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법을 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 저분자량 화합물의 종류와 무관하게, 극히 다양한 종류의 화합물을 정밀하게 검출할 수 있는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석방법을 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 매트릭스 노이즈(noise)로부터 자유로워, 화합물의 완전한 질량 스펙트럼을 얻을 수 있는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization) 질량분석 방법은 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 얻되, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 분석대상물질의 질량스펙트럼인 검출 스펙트럼을 얻는 단계; 및 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함한다.
본 발명에 따른 질량분석 방법에 있어, 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻음으로써, 즉, 동일 질량 범위의 매트릭스를 사용하여 동일한 질량 범위에 나타나는 피크를 포함하는 각 검출 스펙트럼을 사용함으로써, 저분자량 화합물의 질량 분석 스펙트럼에서 매트릭스 피크에 의해 정밀성이 저하되는 문제를 근본적으로 방지할 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 보정된 질량스펙트럼은 둘 이상의 매트릭스-제거 스펙트럼에서 공통적으로 존재하는 피크와 일 매트릭스-제거 스펙트럼에만 존재하는 피크를 병합(merge)하여 산출될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법은 a) 상기 분석대상물질과 제1매트릭스를 포함하는 제1시료에 레이저를 조사하여 제1검출 스펙트럼을 얻고, 상기 분석대상물질과 제2매트릭스를 포함하는 제2시료에 레이저를 조사하여 제2검출 스펙트럼을 얻는 단계; b) 상기 제1검출 스펙트럼에서 상기 제1매트릭스의 피크를 제거하여 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 얻고, 상기 제2검출 스펙트럼에서 상기 제2매트릭스의 피크를 제거하여 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 얻는 단계; 및 c) 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로, 상기 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 c) 단계는, 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼에 공통적으로 존재하는 피크인 공통 피크와 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼 중 일 스펙트럼에만 존재하는 피크인 보완 피크를 병합(merge)하는 단계;를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 병합 시, 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크와 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크간의 강도비를 이용하여, 상기 보완 피크의 강도를 보정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 병합 시, 상기 공통 피크의 각 m/z(mass-to-charge ratio)별 평균 강도를 산출하여 공통 피크 스펙트럼을 얻는 단계; 및 상기 공통 피크 스펙트럼상 일 피크의 강도를 병합되는 보완 피크가 속하는 매트릭스-제거 스펙트럼상 상기 일 피크와 동일한 m/z에서의 강도로 나눈 비를 상기 보완 피크의 강도와 곱하여 보완 피크의 강도를 보정하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 b) 단계는 매트릭스 피크의 제거 전, 제1검출 스펙트럼 및 제2검출 스펙트럼을 각각을 표준화하는 단계를 더 포함하며, 상기 표준화 단계는 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 누적한 총 강도로 나누어 수행될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 a) 단계 전, 분석대상물질을 함유하지 않으며 제1매트릭스를 함유하는 제1기준시료 및 분석대상물질을 함유하지 않으며 제2매트릭스를 함유하는 제2기준시료 각각에 레이저를 조사하여, 매트릭스 별, 매트릭스 유래 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 제1매트릭스의 피크와 상기 제2매트릭스의 피크에서, 두 매트릭스 간 최인접한 피크의 m/z차는 1 이상일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 서로 상이한 매트릭스는 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA), 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB), 2-(4-hydroxyphenylazo)-benzoic acid(HABA), 2-mercaptobenzo-thiazole (MBT) 및 3-Hydroxypicolinic acid(3-HPA)에서 선택되는 둘 이상의 물질일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법에 있어, 상기 분석대상물질은 1000 달톤 이하의 화합물을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 질량분석 방법은 TOF(Time Of Flight) MS(Mass Spectrometer), IT(Ion trap) MS, FT-ICR(Fourier transform ion cyclotron resonance) MS, Quadrupole MS 또는 Orbitrap MS를 이용한 것일 수 있다.
본 발명에 따른 질량분석 방법은, 서로 상이한 매트릭스를 사용하여 수득된 질량 스펙트럼을 상호 보완함으로써, 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼을 얻을 수 있음에 따라, 저분자량의 화합물을 함유하는 분석대상물질을 정확하게 분석할 수 있는 장점이 있으며, 분석대상물질의 종류에 무관하게 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼을 수득할 수 있으며, 극히 다양한 종류의 물질을 정밀하게 분석할 수 있는 장점이 있다. 또한, 본 발명에 따른 질량 분석 방법은 말디질량분석법에서 유기 매트릭스로 효과적으로 사용되는 종래의 매트릭스를 제약 없이 사용할 수 있음에 따라, 별도의 분석 플랫폼의 개발이 불필요하며, 우수한 탈착/이온화율, 저가의 분석 비용, 극히 간단한 시료(샘플)의 준비, 우수한 민감도를 갖는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에서 측정된 제1검출 스펙트럼을 도시한 도면이며,
도 2는 본 발명의 실시예에서 수득된 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 도시한 도면이며,
도 3은 본 발명의 실시예에서 측정된 제2검출 스펙트럼을 도시한 도면이며,
도 4는 본 발명의 실시예에서 수득된 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 도시한 도면이며,
도 5는 본 발명의 실시예에서 수득된 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼인 보정 스펙트럼을 도시한 도면이다.
이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 질량분석 방법을 상세히 설명한다. 이때, 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다.
매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption /Ionization, 이하 MALDI) 질량분석 방법에서, 매트릭스(유기 매트릭스) 유래의 피크는 질량 스펙트럼(mass spectrum)상 m/z 100~400의 저분자량 영역에 주로 존재한다. 이에 따라, 분자량 1000 달톤(dalton) 이하, 특히 500 달톤 이하의 저분자량 물질을 분석하고자 하는 경우, 매트릭스 유래의 피크와 분석대상물질 유래의 피크가 혼재할 뿐만 아니라 그 피크 자체가 겹쳐져 목적하는 분석대상물질의 분석이 실질적으로 극히 어려운 한계가 있다. 유기 매트릭스 대신 무기 매트릭스를 사용하는 방법은 분석 비용이 높아 상용화의 걸림돌로 작용하고 있으며, 다양한 종류의 분석대상물질에 대해 분석 기법 또한 아직 확립되지 않은 상태이다.
이에, 본 출원인은 말디질량분석법에서 통상적으로 사용하는 유기 매트릭스를 이용하여, 분자량이 1000 달톤 이하, 보다 특징적으로는 분자량이 500 달톤 이하의 저분자량의 화합물을 포함하는 분석대상물질의 완전한 질량 스펙트럼을 얻을 수 있는 분석방법을 제공하고자 한다.
본 발명에 따른 분석방법은, 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization)법을 이용한 분석대상물의 질량분석 방법이며, 특징적으로는 1000 달톤 이하의 분자량을 갖는, 보다 특징적으로는 500 달톤 이하의 분자량을 갖는 화합물을 포함하는 분석대상물질의 질량분석 방법이다. 본 발명에 따른 분석 방법은, 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 얻되, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 분석대상물질의 질량스펙트럼인 검출 스펙트럼을 얻는 단계; 및 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 분석 방법은, 매트릭스 자체의 탈착/이온화를 가능한 억제하거나, 분석시의 분석 방법을 보다 특화시켜 질량 분석시의 정확도와 민감도를 향상시키는 것이 아닌, 서로 상이한 매트릭스를 사용하여 수득된 질량 스펙트럼을 상호 보완함으로써, 분석대상물질의 완전한 질량 스펙트럼(보정된 질량스펙트럼)을 얻을 수 있다.
본 발명에 따른 분석 방법은, 즉, 동일 질량 범위의 매트릭스를 사용하여 동일한 질량 범위에 나타나는 피크를 포함하는 각 검출 스펙트럼을 사용함으로써, 저분자량 화합물의 질량 분석 스펙트럼에서 매트릭스 피크에 의해 정밀성이 저하되는 문제를 근본적으로 방지할 수 있는 효과가 있다. 구체적으로, 본 발명에 따른 분석 방법은, 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득하고, 상기 매트릭스 피크 제거에 의해 소실된 스펙트럼 정보를, 각 검출 스펙트럼 수득 시 동일한 질량 범위의 매트릭스를 사용함에 따라 상호 보완하여 보정된 질량스펙트럼을 얻음으로써, 저분자 화합물을 분석함에 따라 저분자 화합물의 질량 분석 스펙트럼에서의 피크와 매트릭스 자체의 피크가 겹침에 따라 저분자 화합물의 정밀한 질량 분석이 어려운 문제를 해결할 수 있다.
이에 따라, 저분자량의 분석대상물질을 정확하게 분석하고, 분석대상물질의 종류와 상관없이 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼을 수득할 수 있으면서도, 말디질량분석법에서 유기 매트릭스로 통상적으로 사용되고 또한, 유용하고 효과적으로 사용되는 매트릭스를 제약 없이 사용할 수 있어, 종래 유기 매트릭스를 이용한 말디법의 이점을 그대로 가질 수 있는 장점이 있다. 구체적으로는, 종래 유기 매트릭스를 이용한 말디질량분석법이 갖는, 우수한 탈착/이온화율, 저가의 분석 비용, 극히 간단한 시료(샘플)의 준비, 다양한 물질의 분석능 등의 장점을 그대로 유지할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 통상의 말디질량분석법에서 사용되는 어떠한 유기 매트릭스를 사용하여도 무방하며, 다만 검출 스펙트럼을 수득할 때, 둘 이상, 구체적으로는 2 내지 5, 보다 구체적으로는 2 내지 3개의 유기 매트릭스를 사용하여 각 매트릭스 별로 분석대상물질의 질량스펙트럼을 수득하면 족하다.
검출 스펙트럼을 수득할 때, 사용되는 매트릭스의 수가 증가할수록 보다 높은 신뢰성을 갖는 분석대상물질 자체의 질량 스펙트럼을 얻을 수 있다. 그러나, 사용되는 매트릭스가 증가할수록 물질 분석에 소요되는 비용 및 시간이 증가하여 가능한 2종의 매트릭스를 이용하여 분석을 수행되는 것이 가장 유리하다.
이를 위해, 검출 스펙트럼을 수득할 때 사용되는 매트릭스는, 질량스펙트럼 기준 매트릭스(매트릭스 자체)로부터 유래하는 피크들이 서로 상이한(겹치지 않는) 2종 이상의 매트릭스인 것이 유리하다. 피크들이 겹치지 않는 매트릭스를 사용하는 경우, 단 2종의 매트릭스로도 분석대상물질의 완전한 질량 스펙트럼을 얻을 수 있다. 또한, 매트릭스(매트릭스 자체)로부터 유래하는 피크 중, 서로 상이한 매트릭스 간 최인접한 피크의 질량(m/z)차가 1 이상, 좋게는 5 이상인, 2종 이상의 매트릭스인 것이 유리하다. 매트릭스 간 서로 상이한 피크를 갖되, 일 매트릭스의 피크와 다른 일 매트릭스의 피크간의 가장 작은 질량(m/z)차가 1 이상, 좋게는 5 이상인 경우, 통상의 말디질량분석법이 갖는 분해능(resolution) 내에서 매트릭스 별로, 매트릭스에서 유래하는 피크와 분석대상물질에서 유래하는 피크의 안정적인 분리 검출이 가능하여, 단 2종의 매트릭스로도 분석대상물질의 완전한 질량 스펙트럼을 매우 정확하고 안정적이며 신뢰도 높게 산출할 수 있다.
서로 상이한 질량 스펙트럼을 가지며, 매트릭스 별 가장 인접한 피크간의 질량차가 1 이상, 좋게는 5 이상인 유기 매트릭스라면, 어떠한 유기 매트릭스의 세트(set)라도 a) 단계에 효과적으로 사용될 수 있다. 구체적인 일 예로, a) 단계에 사용되는 유기 매트릭스는 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA), 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB), 2-(4-hydroxyphenylazo)-benzoic acid(HABA), 2-mercaptobenzo-thiazole (MBT) 및 3-Hydroxypicolinic acid(3-HPA)에서 선택되는 둘 이상의 물질일 수 있다. 보다 구체적인 일 예로, a) 단계에 사용되는 유기 매트릭스는 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA), 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB), 2-(4-hydroxyphenylazo)-benzoic acid(HABA), 2-mercaptobenzo-thiazole (MBT) 및 3-Hydroxypicolinic acid(3-HPA)에서 선택되는 두 물질일 수 있다. 보다 더 구체적인 일 예로, a) 단계에서 사용되는 유기 매트릭스의 세트(일 매트릭스/ 다른 일 매트릭스)는 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA) / 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB)일 수 있으나, 본 발명이 a) 단계에 사용되는 유기 매트릭스의 특정한 종류에 의해 한정될 수 없음은 물론이다.
검출 스펙트럼을 얻은 후, 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 산출할 수 있다.
이때, ‘해당 매트릭스의 피크’는 각 검출 스펙트럼에 사용된 매트릭스의 피크를 의미하며, ‘매트릭스의 피크’는 질량스펙트럼에서 매트릭스로부터 유래한 매트릭스 이온의 피크를 의미한다. 또한, 매트릭스-제거 스펙트럼은 매트릭스로부터 유래한 매트릭스 이온의 피크와 이격(분리)되어 위치하지 않고 매트릭스 이온의 피크와 연속된 피크(서로 이어진 쌍봉 피크 이상의 다봉 피크 형태)로 존재하는 피크 또한 제거된 것일 수 있다.
매트릭스-제거 스펙트럼은, 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크가 제거됨에 따라, 분석대상물질에서 유래된 이온의 피크들이 존재할 수 있으며, 나아가 분석대상물질에서 유래된 이온의 피크만이 존재할 수 있다(이때, back ground noise가 존재할 수 있음은 물론이다). 각 매트릭스-제거 스펙트럼은 매트릭스의 피크가 제거되었음에 따라, 각자 불완전한 분석대상물질의 피크 정보를 가지고 있다. 그러나, 서로 상이한 둘 이상의 매트릭스에 의해 서로 상이한 둘 이상의 매트릭스-제거 스펙트럼이 수득됨에 따라, 둘 이상의 매트릭스-제거 스펙트럼을 통해 완전한 분석대상물질의 질량스펙트럼을 산출할 수 있다. 즉, 하나의 매트릭스-제거 스펙트럼에 존재하는 불완전한 정보를 다른 매트릭스-제거 스펙트럼이 가지고 있음에 따라, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 통해 1000 달톤 이하, 보다 특징적으로는 500 달톤 이하의 분자량을 갖는 분석대상물질의 온전한 질량스펙트럼(분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼)을 산출할 수 있으며, 고분자와 유사한 정밀도로 1000 달톤 이하, 보다 특징적으로는 500 달톤 이하의 분자량을 갖는 분석대상물을 검출(detection) 및 확인(verification)할 수 있다.
구체적으로, 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼은 둘 이상의 매트릭스-제거 스펙트럼에서 공통적으로 존재하는 피크와 일 매트릭스-제거 스펙트럼에만 존재하는 피크를 병합(merge)하여 산출될 수 있다.
병합시, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 수득된 질량스펙트럼(들)에서, 일 질량 스펙트럼을 기준으로, 일 질량 스펙트럼에 다른 질량 스펙트럼에만 존재하는 피크(들)가 병합될 수 있다. 이와 달리, 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 수득된 질량스펙트럼(들)에서, 공통적으로 존재하는 피크(들)가 추출되고, 각 질량 스펙트럼에만 존재하는 피크(들)가 추출되어, 추출된 피크(들)간 병합될 수 있다.
보다 구체적으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 분석 방법은, a) 상기 분석대상물질과 제1매트릭스를 포함하는 제1시료에 레이저를 조사하여 제1검출 스펙트럼을 얻고, 상기 분석대상물질과 제2매트릭스를 포함하는 제2시료에 레이저를 조사하여 제2검출 스펙트럼을 얻는 단계; b) 상기 제1검출 스펙트럼에서 상기 제1매트릭스의 피크를 제거하여 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 얻고, 상기 제2검출 스펙트럼에서 상기 제2매트릭스의 피크를 제거하여 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 얻는 단계; 및 c) 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로, 상기 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함할 수 있다.
즉, a) 단계는 서로 상이한 적어도 둘 이상의 매트릭스(제1매트릭스 및 제2매트릭스) 각각을 이용하여 매트릭스 별 질량 스펙트럼을 측정하는 단계이다.
a) 단계에서, 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)은, 시료에 레이저를 조사하고 탈착 이온화된 이온들이 검출기에 의해 검출되어 수득되는 스펙트럼으로, 검출 이온의 강도를 일 축으로 m/z(mass-to-charge ratio)를 다른 일 축으로 갖는 질량 스펙트럼일 수 있다. 이에 따라, a) 단계에서 수득되는 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)은 매트릭스로부터 기인한 피크와 분석대상물질로부터 기인한 피크가 공존하는 스펙트럼을 의미할 수 있다. 이때, 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)은 사비트스키-골레이 알고리즘(Savitsky-Golay algorithm)등과 같이 기 알려지고 통상적으로 사용되는 알고리즘을 이용하여 평탄화된 것일 수 있음은 물론이다.
제1시료와 제2시료는 각각 단일한 말디용 시료 플레이트(plate) 상에 서로 이격되어 위치하거나, 서로 상이한 말디용 시료 플레이트 각각에 위치할 수 있다. 또한, 제1시료와 제2시료는 각각 유기 매트릭스를 이용한 말디질량분석법에서 통상적으로 사용하는 방법을 통해 준비된 것일 수 있다. 구체적인 일 예로, 시료(제1시료 또는 제2시료)는 매트릭스와 분석대상물질을 함유하는 시료액을 시료 플레이트에 점적한 후 용매를 휘발제거하여 제조된 것일 수 있다. 이와 달리 시료는 매트릭스가 기 형성된 시료 플레이트의 매트릭스 상부로 분석대상물질을 함유하는 용액을 점적한 후 용매를 휘발 제거하여 제조된 것일 수 있다. 그러나, 상술한 바와 같이, 제1시료와 제2시료는 통상적으로 사용되는 말디질량분석법의 시료 제조방법으로 제조된 것이면 족하며, 상술한 구체예에 의해 한정될 수 없음은 물론이다.
a) 단계의 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)에서, 레이저의 조사 강도, 조사되는 레이저의 파장, 레이저의 조사 횟수, 펄스형 레이저인 경우 펄스의 형태 및 펄스의 수, 레이저의 조사 면적 등을 포함하는 레이저 조사 조건은 서로 동일하여도 무방하며, 레이저 조사 조건이 서로 상이하여도 무방하다. 이는, 후술하는 바와 같이, c) 단계의 병합시, 각 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)을 보정하는 단계를 통해 매트릭스별 물질 특이성에 의한 질량 스펙트럼간의 차이와 함께, 레이저 조사 조건에 의해 야기되는 질량 스펙트럼간의 차이 또한 보정할 수 있기 때문이다. 다만, 최종적으로 산출되는 질량 스펙트럼(c) 단계의 질량 스펙트럼)의 정확도를 보다 향상시키고 보다 간단한 보정으로 병합이 이루어질 수 있도록, a) 단계에서 각 시료 별 레이저 조사시의 레이저 조사 조건은 서로 동일한 것이 유리하다. 이때, 조사되는 레이저는 매트릭스가 흡수하는 파장 대역의 레이저이면 무방하며, 통상의 말디질량분석법에서 사용되는 레이저이면 무방하다. 구체적이며 비 한정적인 일 예로, 조사되는 레이저는 UV(ultra violet) 레이저 또는 IR(infra red) 레이저일 수 있으며, UV 레이저는 N2 레이저, Nd/YAG 레이저, 엑시머(Eximer) 레이저 등을 포함할 수 있고, UV 레이저는 CO2 레이저, Er/YAG 레이저 등을 포함할 수 있다.
a) 단계에서, 측정을 통해 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)을 수득한 후, b) 상기 제1검출 스펙트럼에서 상기 제1매트릭스의 피크를 제거하여 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 얻고, 상기 제2검출 스펙트럼에서 상기 제2매트릭스의 피크를 제거하여 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 얻는 단계;가 수행될 수 있다.
이는, 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)에서 각 매트릭스 자체로부터 유래된 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하는 것을 의미한다. 즉, b) 단계는, 제1검출 스펙트럼에서 제1매트릭스로부터 기인한 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 산출하고, 제2검출 스펙트럼에서 제2매트릭스로부터 기인한 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 산출하는 단계일 수 있다.
이때, 본 발명은 종래 잘 알려지고 종래 사용되는 유기 매트릭스를 사용함에 따라, 제1매트릭스 또는 제1매트릭스로부터 기인한 이온의 질량은, 이미 잘 알려진 값들일 수 있다. 이에 따라, b) 단계에서 매트릭스 종류 별 각 매트릭스의 질량 스펙트럼 상 피크가 나타나는 m/z 값들은 기 설정된 값일 수 있다.
이와 달리, 각 매트릭스 별로, 매트릭스 자체의 질량 스펙트럼을 측정하여, 매트릭스 종류 별 매트릭스로부터 유래된 이온의 m/z을 검출하고, 매트릭스 별 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼 또는 제2검출 스펙트럼)에서, 검출된 매트릭스 유래 이온들의 m/z값들에 해당하는 m/z에 위치하는 피크를 제거함으로써, b) 단계가 수행될 수 있다.
상세하게, 상기 a) 단계 전, 분석대상물질을 함유하지 않으며 제1매트릭스를 함유하는 제1기준시료 및 분석대상물질을 함유하지 않으며 제2매트릭스를 함유하는 제2기준시료 각각에 레이저를 조사하여, 매트릭스 별 매트릭스 유래 질량스펙트럼을 얻는 단계;가 더 수행될 수 있다. 구체적으로, 제1기준시료는 분석대상물질을 함유하지 않는 것을 제외하고 제1시료와 동일한 시료일 수 있으며, 제2기준시료 또한 검출대상물질을 함유하지 않는 것을 제외하고 제2시료와 동일한 시료일 수 있다. 또한, 제1기준시료를 이용하여 매트릭스 유래 질량 스펙트럼을 수득하기 위한 말디질량분석법 측정 조건(레이저 조사 조건 등)은 제1시료의 측정 조건과 유사 내지 동일할 수 있으며, 제2기준시료를 이용하여 매트릭스 유래 질량 스펙트럼을 수득하기 위한 말디법 측정 조건(레이저 조사 조건등)은 제2시료의 측정 조건과 유사 내지 동일할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
이에 따라, b) 단계에서는, a) 단계의 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스에 기인한 이온들의 m/z값에 해당하는 피크들이 제거되어, 매트릭스에 의한 피크가 존재하지 않는 매트릭스-제거 스펙트럼이 수득될 수 있다. 즉, 매트릭스-제거 스펙트럼은 검출스펙트럼에 사용된 매트릭스로부터 유래한 피크들이 존재하지 않으며 매트릭스의 피크와 겹치는 분석대상물질의 피크 또한 존재하지 않는, 부분적인(불완전한) 분석대상물질의 피크들이 존재하는 스펙트럼일 수 있다.
상세하게, 제1매트릭스-제거 스펙트럼은 제1매트릭스로부터 유래한 피크들이 제거되며, 제1매트릭스의 피크와 겹치는 분석대상물질의 피크 정보 또한 제거되어 부분적인(불완전한) 분석대상물질의 피크들에 대한 정보를 가지고 있다. 또한, 제2매트릭스-제거 스펙트럼은 제2매트릭스로부터 유래한 피크들이 제거되며, 제2매트릭스의 피크와 겹치는 분석대상물질의 피크 정보 또한 제거되어 부분적인(불완전한) 분석대상물질의 피크들에 대한 정보를 가지고 있다. 그러나, 제1매트릭스-제거 스펙트럼에서 제거된 분석대상물질의 피크(피크 정보)는 제2매트릭스-제거 스펙트럼에 존재하며, 제2매트릭스-제거 스펙트럼에서 제거된 분석대상물질의 피크(피크 정보)는 제1매트릭스-제거 스펙트럼에 존재하게 된다. 이에 따라, c) 단계를 통해, 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 이용하여, 분석대상물질의 온전한 질량스펙트럼이며 매트릭스로부터 자유로운 질량스펙트럼인 보정된 질량스펙트럼을 얻을 수 있다.
구체적으로, 상기 c) 단계는, 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼에 공통적으로 존재하는 피크인 공통 피크와 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼 중 일 스펙트럼에만 존재하는 피크인 보완 피크를 병합(merge)하는 단계;를 포함할 수 있다.
즉, 모든 매트릭스-제거 스펙트럼에 공통적으로 존재하는 피크정보(m/z 및 강도)를 추출하고, 매트릭스-제거 스펙트럼 중 일 매트릭스-제거 스펙트럼에만 존재하는 피크정보(m/z 및 강도)를 추출한 후, 공통적으로 존재하는 공통 피크와 일 스펙트럼에만 존재하는 피크인 보완 피크를 서로 병합함으로써, 온전한 분석대상물질의 질량 스펙트럼인 보완 스펙트럼을 산출할 수 있다.
매트릭스-제거 스펙트럼 별로 매트릭스가 상이함에 따라, 동일한 분석대상물질이라 하더라도 레이저 탈착/이온화율이 상이할 수 있다. 이에 따라, 병합 시, 매트릭스의 상이성에 의해 야기되는 병합되는 피크 별 강도의 차이를 보정하는 보정단계가 더 수행된 후, 보정된 피크들이 서로 합해질 수 있다.
구체적으로, 상기 병합 시, 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크와 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크간의 강도비를 이용하여, 상기 보완 피크의 강도를 보정하는 단계가 수행될 수 있으며, 이러한 보정단계가 수행된 후 공통 피크와 보완 피크가 서로 합해져 보완 스펙트럼이 산출될 수 있다.
일 예로, 공통 피크의 일 m/z값(ma/z)에 대해, 제1매트릭스-제거 스펙트럼에서의 일 m/z값(ma/z)에서의 강도와 제2매트릭스-제거 스펙트럼에서의 일 m/z값(ma/z)에서의 강도간의 강도비를 이용하여, 보완 피크의 강도를 보정할 수 있다.
즉, 일 m/z값(ma/z)에서 공통 피크간의 강도비=제1매트릭스-제거 스펙트럼 상 ma/z에서의 강도(I1a)/제2매트릭스-제거 스펙트럼 상 ma/z에서의 강도(I2a)라 할 경우, 보완 피크가 제1매트릭스-제거 스펙트럼에 속하는 피크일 때, 보완 피크는 보완 피크의 m/z는 유지하되, 보완 피크의 원 강도(I0)에 I2a/I1a가 곱해진 보완된 강도로 보정되어 제2매트릭스-제거 스펙트럼과 합해질 수 있다. 다른 일 예로, 일 m/z값( ma/z)에서 공통 피크간의 강도비=제1매트릭스-제거 스펙트럼 상 ma/z에서의 강도(I1a)/제2매트릭스-제거 스펙트럼 상 ma/z에서의 강도(I2a)라 할 경우, 보완 피크가 제2매트릭스-제거 스펙트럼에 속하는 피크일 때, 보완 피크는 보완 피크의 m/z는 유지하되, 보완 피크의 원 강도(I0)에 I1a/I2a가 곱해진 보완된 강도로 보정되어 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 합해질 수 있다.
이때, 특별히 한정되지 않으나 보정의 정확성을 높이는 측면에서, 강도비의 기준이 되는 일 m/z(ma/z)는 매트릭스-제거 스펙트럼에서 보완 피크와 가장 인접한 공통 피크의 일 질량일 수 있다. 그러나, 본 발명이 보정시 강도비의 기준이 되는 일 m/z에 의해 한정되는 것은 아니며, 각 공통 피크간 강도비의 평균을 이용하여 보완 피크의 강도 보정이 이루어질 수 있음은 물론이며, 이 또한 본 발명의 일 변형예에 속함은 자명하다.
상술한 일 예는, 매트릭스-제거 스펙트럼 중, 일 스펙트럼과 보완 피크를 병합하여 보완 스펙트럼을 산출하는 예이나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
다른 일 예로, 보완 스펙트럼은, 어떤 일 매트릭스-제거 스펙트럼에 기반한 것이 아닌, 매트릭스-제거 스펙트럼들로부터 공통 피크와 보완 피크들을 별도로 선별하고 공통 피크와 보완 피크 각각의 강도를 보완하여 합함으로써 수득될 수 있다.
공통 피크의 강도 보완은 가중평균법(weight average method)을 이용하여 수행될 수 있으며, 보완 피크의 강도 보완은 보완된 공통 피크의 강도와 보완되기 전 공통 피크(보완 피크가 속하는 스펙트럼 상 해당 공통 피크)의 강도비를 이용하여 보완될 수 있다. 상세하게, 병합 시, 상기 공통 피크의 각 m/z별 평균 강도를 산출하여 공통 피크 스펙트럼을 얻는 단계; 및 상기 공통 피크 스펙트럼상 일 피크의 강도를 병합되는 보완 피크가 속하는 매트릭스-제거 스펙트럼상 상기 일 피크와 동일한 m/z에서의 강도로 나눈 비를 상기 보완 피크의 강도와 곱하여 보완 피크의 강도를 보정하는 단계;를 포함할 수 있다. 즉, 매트릭스-제거 스펙트럼(들)에 공통적으로 존재하는 공통 피크(m/z 및 강도)를 선별한 후, 공통 피크의 각 m/z값별 해당 m/z에서의 매트릭스-제거 스펙트럼의 평균 강도(Iave)를 산출하여, 공통 피크들의 m/z와 평균 강도(Iave)로 이루어진 공통 피크 스펙트럼을 수득할 수 있다. 이후, 보완 피크가 속한 매트릭스-제거 스펙트럼이 제1매트릭스-제거 스펙트럼이라 할 때, 공통 피크 스펙트럼에서 일 공통 피크의 m/z(mb/z)에서의 강도(Iaveb)를 제1매트릭스-제거 스펙트럼에서 동일한 일 m/z(mb/z)에서의 강도(I1b)로 나눈 강도비(Iaveb/I1b)를 보완 피크의 강도(I0)와 곱하여 보완 피크의 강도를 보정할 수 있다. 이후, 강도가 보정된 보완 피크를 공통 피크 스펙트럼과 합함으로써 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼인 보완 스펙트럼이 얻어질 수 있다. 이때, 보완 피크가 속한 매트릭스-제거 스펙트럼이 제2매트릭스-제거 스펙트럼인 경우, 공통 피크 스펙트럼에서 일 공통 피크의 m/z(mb/z)에서의 강도(Iaveb)를 제2매트릭스-제거 스펙트럼에서 동일한 일 m/z(mb/z)에서의 강도(I2b)로 나눈 강도비(Iaveb/I2b)를 보완 피크의 강도(I0)와 곱할 수 있음은 물론이다.
상술한 보정은 병합 단계에서 보정이 수행되는 경우의 일 예를 상술한 것이나, 이에 한정되는 것은 아니다. 둘 이상의 유기 매트릭스를 이용한 검출 결과에서 매트릭스로부터 기인한 시그널(피크)들을 제거한 후, 서로 상이한 매트릭스를 사용함에 따라 매트릭스 시그널의 제거에 의해 손실된 분석대상물질의 정보를 다른 매트릭스에 존재하는 정보를 이용하여 보완함으로써 완전한 분석대상물질의 정보(질량스펙트럼)를 얻는다는 본 발명의 사상에 따라, 매트릭스의 상이함에 의해 나타나는, 동일 분석대상물질의 질량스펙트럼별 강도의 차이를 보완하여 상쇄시킬 수 있는 어떠한 알려진 보정방법을 사용하여도 무방하다.
구체적이며 비한정적인 일 예로, 상술한 보정 단계의 수행 여부와 무관하게, b) 단계의 매트릭스 피크의 제거 전, 제1검출 스펙트럼 및 제2검출 스펙트럼을 각각을 표준화하는 단계가 더 수행될 수 있다.
상세하게, 표준화 단계는 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 누적한 총 강도로 나누어 표준화함으로써, 검출스펙트럼 별 매트릭스에 의한 강도 차를 상쇄시킬 수 있다.
즉, a) 단계에서 수득되는 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도는 누적 합산한 총 강도로, 해당 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 나눠 표준화한 후, b) 단계에서 표준화된 검출 스펙트럼에서 매트릭스로부터 기인한 피크들을 제거하여 표준화된 매트릭스-제거 스펙트럼(들)을 얻고, c) 단계에서 표준화된 매트릭스-제거 스펙트럼에서 공통 피크와 보완 피크를 선별하여 병합함으로써, 분석대상물질의 온전한 질량 스펙트럼을 산출할 수 있다.
상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 분석 방법에 있어, a) 단계의 검출 스펙트럼, b) 단계에서 사용되는 제거대상인 매트릭스 피크에 해당하는 m/z 또는 매트릭스 유래 질량스펙트럼, 및/또는 c) 단계에서 추출되는 공통 피크나 보완 피크에서, 각 스펙트럼(또는 피크)은 말디질량분석법에서 기 알려지고 사용되는 통상의 소프트웨어를 통해 노이즈가 제거된 스펙트럼일 수 있음은 물론이다. 또한, 이와 달리, 기 설정된 강도 이상을 갖는 피크들만을 유효한 데이터로 하여, 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 분석 방법이 수행될 수 있음은 물론이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 분석 방법에 있어, 질량 분석(검출)은 TOF(Time Of Flight) MS(Mass Spectrometer), IT(Ion trap) MS, FT-ICR(Fourier transform ion cyclotron resonance) MS, Quadrupole MS 또는 Orbitrap MS에 의해 수행될 수 있다. 이때, 토프형 질량 분석기에는 선형 토프(linear TOF) 또는 리플렉트론 토프(Reflectron TOF)일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 분석 방법에 있어, 분석대상물질은 이온화 질량을 분석하고자 하는 목적 물질을 의미하며, 본 발명은 1000 달톤, 보다 특징적으로 500 달톤 이하의 분자량을 갖는 저분자량 화합물을 포함하는 분석대상물질의 검출에 보다 효과적이다. 구체적인 일 예로, 분석대상물질은 유기물, 무기물, 생화학물질 또는 이들의 복합물을 포함하며, 상기 복합물은 상기 유기물, 무기물 및 생화학물질에서 선택된 둘 이상의 물질이 혼합된 혼합물과 상기 유기물, 무기물 및 생화학물질에서 선택된 둘 이상의 물질이 화학적으로 결합(또는 반응한) 결합물(반응물)을 포함할 수 있다. 상기 생화학물질은 세포 구성물질, 유전물질, 탄소화합물, 생물체의 대사, 물질 합성, 물질 수송 또는 신호전달 과정에 영향을 미치는 유기물 또는 약물을 포함할 수 있으며, 생화학물질은 생체로부터 추출 및 처리된 바이오샘플을 포함할 수 있으며, 이와 독립적으로 생화학물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질(바이오마커)을 포함할 수 있다. 상세하게, 생화학물질은 유기금속화합물, 펩타이드, 탄수화물, 단백질, 단백질 복합체, 지질, 대사체, 항원, 항체, 효소, 기질, 아미노산, 압타머(Aptamer), 당, 핵산, 핵산 단편, PNA(Peptide Nucleic Acid), 세포 추출물, 질병 지표 또는 이들의 조합(혼합된 혼합물 또는 화학적으로 결합된 결합물을 포함함)등을 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 본 발명은 둘 이상의 유기 매트릭스를 이용한 검출 결과에서 매트릭스로부터 기인한 시그널(피크)들을 제거한 후, 서로 상이한 매트릭스를 사용함에 따라 매트릭스 시그널의 제거에 의해 손실된 분석대상물질의 정보를 다른 매트릭스에 존재하는 정보를 이용하여 보완함으로써 완전한 분석대상물질의 정보(질량스펙트럼)를 얻을 수 있다. 이에 따라, 분석대상물질이 1종의 물질로 한정되지 않으며, 1000 달톤 이하의 분자량을 갖는 화합물을 포함하며, 서로 상이한 2종 이상의 물질이 혼재하는 분석대상물질 또한 분석 가능하며, 실질적으로 분석대상물질의 종류나 분석대상물질을 이루는 물질의 수에 제약 받지 않는다.
(실시예 1)
표 1과 같은, 신생아 대사이상 검사를 위한 바이오마커 3종(표 1에서 S로 표시)과 바이오마커 정량을 위해 동위원소로 표지된 아미노산 9종(표 1에서 I로 표시, NSK-A-Amino acid Reference Standard, Cambridge Isotope Lab)을 분석대상물질로 사용하였다. 또한, 제1매트릭스로 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(이하, CHCA), 제2매트릭스로 2,5-dihydroxybenzoic acid(이하 DHB)를 사용하였으며, 제1매트릭스와 제2매트릭스 각각으로부터 생성되는 이온(매트릭스 이온)의 m/z를 표 2로 도시하였다.
Analyte m/z
Leucine (S) 132
Methionine (S) 150
Phenylalaine (S) 166
Valine (I) 126
Ornithine (I) 135
Aspartate (I) 137
Glutamate (I) 151
Methionine (I) 153
Phenylalaine (I) 172
Citrulline (I) 178
Arginine (I) 180
Tyrosine (I) 188
CHCA matrix (m/z) DHB matrix (m/z)
146 137
164 154
172 155
190 177
212 273
379
매트릭스 용액은 0.05중량%의 TFA(trifluoroacetic acid)를 함유하는 아세토니트릴/물(1 : 1 부피비) 용액을 이용하여, 10 mg/ml의 CHCA, 300 nmol/ml의 Leucine (S), 120 nmol/ml의 Phenylalaine (S), 67 nmol/ml의 Methionine (S) 및 300 nmol/ml의 동위원소로 표지된 아미노산 9종(NSK-A-Amino acid Reference Standard, Cambridge Isotope Lab)을 함유하는 제1검출대상 용액을 제조하였다. 또한, 동일한 0.05중량%의 TFA(trifluoroacetic acid)를 함유하는 아세토니트릴/물(1 : 1 부피비) 용액을 이용하여, 20 mg/ml의 DHB, 300 nmol/ml의 Leucine (S), 120 nmol/ml의 Phenylalaine (S), 67 nmol/ml의 Methionine (S) 및 300 nmol/ml의 동위원소로 표지된 아미노산 9종(NSK-A-Amino acid Reference Standard, Cambridge Isotope Lab)을 함유하는 제2검출대상 용액을 제조하였다.
이후, 스테인리스 스틸 시료 플레이트에 제1검출대상 용액과 제2검출대상 용액을 각각 1 μl씩 분주하고 건조하여 제1시료와 제2시료를 제조한 후, 각 시료를 말디-토프 질량분석기(AXIMA LNR MALDI TOF Mass Spectrometer, Kratos Analytical)를 이용하여 분석하였다.
도 1은 CHCA 매트릭스를 함유하는 제1시료를 말디-토프 질량분석하여 얻어진 질량 스펙트럼(제1검출 스펙트럼)이다. 도 2는 제1검출 스펙트럼에서 CHCA 매트릭스에 해당하는 질량의 피크가 제거된 질량 스펙트럼인 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 도시한 도면이다. 도 1 및 도 2에서 푸른색으로 표시된 피크는 동위원소로 표지된 아미노산의 피크이며, 붉은색으로 표시된 피크는 바이오마커의 피크이며, 도 1에서 검은색으로 표시된 피크는 매트릭스(CHCA)에 의한 피크이다.
도 3은 DHB 매트릭스를 함유하는 제2시료를 말디-토프 질량분석하여 얻어진 질량 스펙트럼(제2검출 스펙트럼)이다. 도 4는 제2검출 스펙트럼에서 DHB 매트릭스에 해당하는 질량의 피크가 제거된 질량 스펙트럼인 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 도시한 도면이다. 도 1 및 도 2와 유사하게, 도 3 및 도 4에서 푸른색으로 표시된 피크는 동위원소로 표지된 아미노산의 피크이며, 붉은색으로 표시된 피크는 바이오마커의 피크이며, 도 3에서 검은색으로 표시된 피크는 매트릭스(DHB)에 의한 피크이다.
도 5는 도 2의 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 도 4의 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 병합하되, 제2매트릭스-제거 스펙트럼에만 존재하는 피크인 보완 피크(도 4의 Phe(I))를 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 합하되, 보완 피크와 최인접한 공통피크인 Phe(S) 피크의 강도비를 이용하여, 보완 피크의 강도를 보정(보완 피크의 원 강도x제1매트릭스-제거 스펙트럼의 Phe(S) 강도/제2매트릭스-제거 스펙트럼의 Phe(S) 강도)한 후 합하여 산출된 보정 스펙트럼이다. 도 5에서 알 수 있듯이, 3종의 바이오마커 및 9종의 아미노산이 모두 검출되어, 검출대상물질의 온전한 질량 스펙트럼이 산출됨을 알 수 있다.
이상과 같이 본 발명에서는 특정된 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.

Claims (12)

  1. 분석대상물질을 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 얻되, 둘 이상의 서로 상이한 매트릭스 각각을 이용하여 분석대상물질의 질량스펙트럼인 검출 스펙트럼을 얻는 단계; 및 각 검출 스펙트럼에서 해당 매트릭스의 피크를 제거하여 매트릭스-제거 스펙트럼을 수득한 후, 서로 상이한 매트릭스 별 매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization) 질량분석 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 보정된 질량스펙트럼은 둘 이상의 매트릭스-제거 스펙트럼에서 공통적으로 존재하는 피크와 일 매트릭스-제거 스펙트럼에만 존재하는 피크를 병합(merge)하여 산출되는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    a) 상기 분석대상물질과 제1매트릭스를 포함하는 제1시료에 레이저를 조사하여 제1검출 스펙트럼을 얻고, 상기 분석대상물질과 제2매트릭스를 포함하는 제2시료에 레이저를 조사하여 제2검출 스펙트럼을 얻는 단계;
    b) 상기 제1검출 스펙트럼에서 상기 제1매트릭스의 피크를 제거하여 제1매트릭스-제거 스펙트럼을 얻고, 상기 제2검출 스펙트럼에서 상기 제2매트릭스의 피크를 제거하여 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    c) 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼을 기반으로, 상기 분석대상물질의 보정된 질량스펙트럼을 얻는 단계;
    를 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 c) 단계는,
    상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼에 공통적으로 존재하는 피크인 공통 피크와 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼과 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼 중 일 스펙트럼에만 존재하는 피크인 보완 피크를 병합(merge)하는 단계;를 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 병합 시, 상기 제1매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크와 상기 제2매트릭스-제거 스펙트럼의 공통 피크간의 강도비를 이용하여, 상기 보완 피크의 강도를 보정하는 단계를 더 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 병합 시, 상기 공통 피크의 각 m/z별 평균 강도를 산출하여 공통 피크 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    상기 공통 피크 스펙트럼상 일 피크의 강도를 병합되는 보완 피크가 속하는 매트릭스-제거 스펙트럼상 상기 일 피크와 동일한 m/z에서의 강도로 나눈 비를 상기 보완 피크의 강도와 곱하여 보완 피크의 강도를 보정하는 단계;
    를 더 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  7. 제 3항에 있어서,
    상기 b) 단계는 매트릭스 피크의 제거 전, 제1검출 스펙트럼 및 제2검출 스펙트럼을 각각을 표준화하는 단계를 더 포함하며,
    상기 표준화 단계는 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 검출 스펙트럼에 존재하는 각 피크의 강도를 누적한 총 강도로 나누어 수행되는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  8. 제 3항에 있어서,
    상기 a) 단계 전, 분석대상물질을 함유하지 않으며 제1매트릭스를 함유하는 제1기준시료 및 분석대상물질을 함유하지 않으며 제2매트릭스를 함유하는 제2기준시료 각각에 레이저를 조사하여, 매트릭스 별, 매트릭스 유래 질량스펙트럼을 얻는 단계;를 더 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  9. 제 3항에 있어서,
    상기 제1매트릭스의 피크와 상기 제2매트릭스의 피크에서, 두 매트릭스 간 최인접한 피크의 질량(m/z)차는 1 이상인 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  10. 제 1항에 있어서,
    상기 서로 상이한 매트릭스는 α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA), 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB), 2-(4-hydroxyphenylazo)-benzoic acid(HABA), 2-mercaptobenzo-thiazole (MBT) 및 3-Hydroxypicolinic acid(3-HPA)에서 선택되는 둘 이상의 물질인 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  11. 제 1항에 있어서,
    상기 분석대상물질은 분자량 1000 달톤 이하의 화합물을 포함하는 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
  12. 제 1항에 있어서,
    상기 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화(MALDI) 질량분석은 TOF(Time Of Flight) MS(Mass Spectrometer), IT(Ion trap) MS, FT-ICR(Fourier transform ion cyclotron resonance) MS, Quadrupole MS 또는 Orbitrap MS를 이용한 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량분석 방법.
PCT/KR2017/012053 2016-11-03 2017-10-30 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법 WO2018084511A1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP17867075.8A EP3537143A4 (en) 2016-11-03 2017-10-30 MATRIX ASSISTED LASER DESORPTION / IONIZATION MASS SPECTROMETRY METHOD
JP2019522249A JP6838149B2 (ja) 2016-11-03 2017-10-30 マトリックス支援レーザ脱離／イオン化質量分析方法
US16/347,040 US11545349B2 (en) 2016-11-03 2017-10-30 Matrix-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry method
CN201780067888.2A CN109906377A (zh) 2016-11-03 2017-10-30 基质辅助激光解吸/离子化质量分析方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2016-0145936 2016-11-03
KR1020160145936A KR101834720B1 (ko) 2016-11-03 2016-11-03 매트릭스 도움 레이저 탈착／이온화 질량분석 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018084511A1 true WO2018084511A1 (ko) 2018-05-11

Family

ID=61727586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2017/012053 WO2018084511A1 (ko) 2016-11-03 2017-10-30 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11545349B2 (ko)
EP (1) EP3537143A4 (ko)
JP (1) JP6838149B2 (ko)
KR (1) KR101834720B1 (ko)
CN (1) CN109906377A (ko)
WO (1) WO2018084511A1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101949868B1 (ko) * 2017-02-17 2019-02-19 (주)바이오니아 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치
JP7354832B2 (ja) * 2019-03-20 2023-10-03 株式会社リコー Ｍａｌｄｉ質量分析用測定試料調製方法、ｍａｌｄｉ質量分析用測定試料調製装置、及びｍａｌｄｉ質量分析用測定試料調製プログラム
CN112986374A (zh) * 2019-12-13 2021-06-18 中国科学院大连化学物理研究所 一种激光解吸电离质谱基质、检测方法、质谱以及质谱在神经递质检测中的应用
CN111175369B (zh) * 2020-02-24 2023-02-03 陕西师范大学 一种用于小分子检测的maldi-tof ms基质及其应用

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4918662B1 (ko) 1969-10-31 1974-05-11
JP2006523845A (ja) * 2003-04-14 2006-10-19 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 芳香族ホスホニウム塩及びマススペクトロメトリー分析における標識試薬としてのこれらの使用
WO2013008723A1 (ja) 2011-07-08 2013-01-17 国立大学法人九州大学 Ｍａｌｄｉ質量分析用マトリックス
JP2013238407A (ja) * 2012-05-11 2013-11-28 Shimadzu Corp １ｈ−テトラゾール誘導体及び質量分析用マトリックス
JP2015121500A (ja) * 2013-12-25 2015-07-02 株式会社島津製作所 質量分析方法及び質量分析装置
US20150186754A1 (en) * 2012-07-18 2015-07-02 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno Classification method for spectral data

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6849847B1 (en) * 1998-06-12 2005-02-01 Agilent Technologies, Inc. Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis
US7409298B2 (en) * 2002-04-12 2008-08-05 Northeastern University Matched filtration with experimental noise determination for denoising, peak picking and quantitation in LC-MS
DE10238069A1 (de) * 2002-08-19 2004-03-04 N.V. Nutricia MALDI-Matrix
US7317187B2 (en) * 2004-05-20 2008-01-08 Davidson William R Frontal affinity chromatography/MALDI tandem mass spectrometry
US7634364B2 (en) * 2005-06-23 2009-12-15 Life Technologies Corporation Methods and systems for mass defect filtering of mass spectrometry data
JP4918662B2 (ja) 2007-06-27 2012-04-18 国立大学法人 東京大学 Ｍａｌｄｉ質量分析用の試料ホルダおよび質量分析方法
JP5072682B2 (ja) * 2008-03-28 2012-11-14 富士フイルム株式会社 質量分析用デバイス、これを用いる質量分析装置および質量分析方法
JP5092861B2 (ja) * 2008-04-14 2012-12-05 株式会社島津製作所 混合液体マトリックスを用いたｍａｌｄｉ質量分析法
CN102175750A (zh) * 2011-02-25 2011-09-07 中国科学院上海有机化学研究所 生物体样品基质辅助激光解吸离子化-傅立叶变换离子回旋共振质谱分析方法
JP5673348B2 (ja) * 2011-05-25 2015-02-18 株式会社島津製作所 質量分析データ解析方法及び解析装置
EP2778684A1 (en) * 2013-03-14 2014-09-17 Zentech Detection of compounds in a dried fluid spot by direct MALDI/MS
WO2015044958A1 (en) * 2013-09-25 2015-04-02 Council Of Scientific & Industrial Research Quantitation of structural isomers using maldi ms/ms
GB201317837D0 (en) * 2013-10-09 2013-11-20 Kratos Analytical Ltd Microbial analysis
JP6403204B2 (ja) * 2015-01-16 2018-10-10 日本電子株式会社 質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法
JP6569800B2 (ja) * 2016-03-14 2019-09-04 株式会社島津製作所 質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム
CN114175627B (zh) * 2019-06-07 2024-04-12 交互数字Vc控股公司 用于基于分布式光孔的光场显示器的光学方法和系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4918662B1 (ko) 1969-10-31 1974-05-11
JP2006523845A (ja) * 2003-04-14 2006-10-19 ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド 芳香族ホスホニウム塩及びマススペクトロメトリー分析における標識試薬としてのこれらの使用
WO2013008723A1 (ja) 2011-07-08 2013-01-17 国立大学法人九州大学 Ｍａｌｄｉ質量分析用マトリックス
JP2013238407A (ja) * 2012-05-11 2013-11-28 Shimadzu Corp １ｈ−テトラゾール誘導体及び質量分析用マトリックス
US20150186754A1 (en) * 2012-07-18 2015-07-02 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno Classification method for spectral data
JP2015121500A (ja) * 2013-12-25 2015-07-02 株式会社島津製作所 質量分析方法及び質量分析装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3537143A4

Also Published As

Publication number Publication date
US20190279853A1 (en) 2019-09-12
US11545349B2 (en) 2023-01-03
JP2019533160A (ja) 2019-11-14
EP3537143A4 (en) 2020-06-03
KR101834720B1 (ko) 2018-03-06
EP3537143A1 (en) 2019-09-11
CN109906377A (zh) 2019-06-18
JP6838149B2 (ja) 2021-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2018084511A1 (ko) 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석 방법
US10679838B2 (en) System and methods for ionizing compounds using matrix-assistance for mass spectrometry and ion mobility spectrometry
Loboda et al. A tandem quadrupole/time‐of‐flight mass spectrometer with a matrix‐assisted laser desorption/ionization source: Design and performance
Holčapek et al. Recent developments in liquid chromatography–mass spectrometry and related techniques
Chernushevich et al. An introduction to quadrupole–time‐of‐flight mass spectrometry
Vaclavik et al. Rapid determination of melamine and cyanuric acid in milk powder using direct analysis in real time-time-of-flight mass spectrometry
US8581179B2 (en) Protein sequencing with MALDI mass spectrometry
Wang et al. Analysis of low molecular weight compounds by MALDI-FTICR-MS
CN105074471B (zh) 通过直接maldi/ms检测干液斑中化合物的方法
US20130306855A1 (en) Efficient detection of ion species utilizing fluorescence and optics
US20160203963A1 (en) Mass Correction
Fincher et al. Matrix‐free mass spectrometry imaging of mouse brain tissue sections on silicon nanopost arrays
Flores et al. An integrated strategy for rapid and accurate determination of free and cell-bound microcystins and related peptides in natural blooms by liquid chromatography–electrospray-high resolution mass spectrometry and matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight/time-of-flight mass spectrometry using both positive and negative ionization modes
CN103760219A (zh) 一种基于dart/q-tof法分析鉴定龙血竭中多种酚酸类成分的方法
Chen et al. Matrix-assisted ionization vacuum for protein detection, fragmentation and PTM analysis on a high resolution linear ion trap-orbitrap platform
Liu An introduction to hybrid ion trap/time‐of‐flight mass spectrometry coupled with liquid chromatography applied to drug metabolism studies
Dubois et al. On the mechanism and control of salt-induced resolution loss in matrix-assisted laser desorption/ionization
Li et al. Detection limits for matrix‐assisted laser desorption of polypeptides with an external ion source Fourier‐transform mass spectrometer
WO2018088757A1 (ko) 매트릭스 도움 레이저 탈착/이온화 질량분석용 시료 플레이트 및 이를 이용한 질량분석 방법
CN210668276U (zh) 一种多段式四极杆电极系统
Dualde et al. Optimization of resolving power, fragmentation, and mass calibration in an orbitrap spectrometer for analysis of 24 pesticide metabolites in urine
CN108463723B (zh) 同量异位质量标记
WO2018151439A1 (ko) 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치
Su et al. Rapid drug-screening and quantitation of 3, 4-methylenedioxymethamphetamine in urine by MALDI-TOF mass spectrometry
Mwangi et al. MALDI matrix cluster ions as internal references for ion mobility measurements

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17867075

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2019522249

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017867075

Country of ref document: EP

Effective date: 20190603