KR101949868B1 - 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치 - Google Patents

매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101949868B1
KR101949868B1 KR1020170021491A KR20170021491A KR101949868B1 KR 101949868 B1 KR101949868 B1 KR 101949868B1 KR 1020170021491 A KR1020170021491 A KR 1020170021491A KR 20170021491 A KR20170021491 A KR 20170021491A KR 101949868 B1 KR101949868 B1 KR 101949868B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mass spectrum
matrix
noise
mass
input
Prior art date
Application number
KR1020170021491A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20180095246A (ko
Inventor
김태만
안종록
김도훈
박한오
Original Assignee
(주)바이오니아
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)바이오니아 filed Critical (주)바이오니아
Priority to KR1020170021491A priority Critical patent/KR101949868B1/ko
Priority to PCT/KR2018/001150 priority patent/WO2018151439A1/ko
Publication of KR20180095246A publication Critical patent/KR20180095246A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101949868B1 publication Critical patent/KR101949868B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission

Abstract

본 발명은 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부; 원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부; 상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio)에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;를 포함한다.

Description

매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치{Apparatus for Display of MALDI Mass Spectrum}
본 발명은 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치에 관한 것으로, 상세하게, 신속하고 정확한 분석이 가능하며, 분석대상물질로부터 유래하는 유효 피크가 노이즈에 묻히는 것이 방지되는 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치에 관한 것이다.
질량 분석에 사용되는 이온화법의 하나로서 매트릭스 보조 레이저 탈착/이온화(MALDI=Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization) 질량분석법이 알려져 있다. 말디질량분석법은 레이저광을 시료에 단시간 조사해 순간적으로 시료를 탈착(desorption)/이온화(ionization)하여 시료의 질량을 측정하는 분석법으로, 시료 중의 분석대상물질(analyte)의 분자를 분해하는 일 없이 이온화하고 이온의 질량을 측정한다.
말디질량분석법에서는 일반적으로 분석대상물질의 용액을 매트릭스 용액과 혼합한 다음, 시료플레이트 위에 도포하고, 증발에 의해 용매를 제거함으로써 시료를 시료플레이트 위에 제조한다. 시료플레이트를 진공챔버에 도입하고, 시료에 레이저광을 조사하면, 매트릭스가 레이저광의 에너지를 흡수해, 매트릭스의 일부가 급속히 가열되고 분석대상물질과 함께 기화(탈착)되어 이온화된다. 이후, 전자기장 내에서 이온들의 운동을 측정함으로써, 분석대상물질의 분자량을 측정한다.
말디질량분석법은 분석대상물질이 조각화(분해)되지 않아 정확한 분자량의 측정이 가능하고, 검출 감도가 좋아 수 펨토몰 수준의 분석대상물질 또한 검출 가능하며, 보통 다전하(multiple charge)가 아닌 단일한 전하만을 가지므로 질량스펙트럼이 간단하고 분석이 용이하며, 분석대상물질과 매트릭스를 혼합하여 시료 플레이트에 분주한 후 건조하여 분석 가능함에 따라 시료 준비가 간단하고, 분석 시간이 1분 이내로 짧아 신속한 분석이 가능(대량 고속 분석 가능)하며, 완충용액이나 염 등의 오염에 영향을 덜 받으며, 기기의 사용 및 유지 비용이 저렴한 장점이 있다.
그러나, 말디질량분석법은 필수적으로 분석대상물질의 이온화를 돕는 매트릭스를 사용함에 따라, 매트릭스에 의한 노이즈가 필연적으로 존재할 수 밖에 없다. 매트릭스에 의해 야기되는 분석 오류를 방지하고 말디질량분석법의 분석 정확성을 높이기 위해, 일본공개특허 제2007-502980호와 같이 매트릭스 유래 이온의 발생을 억제하는 방법들이 연구되고 있다. 그러나, 이러한 방법은 매트릭스 유래 이온의 강도를 낮출 뿐, 매트릭스 유래 이온 자체는 여전히 존재함에 따라 분석 정확성을 향상시키는 데 그 한계가 있다.
일본공개특허 제2007-502980호
본 발명은 신속하고 정확한 분석이 가능하며, 화학적 노이즈로부터 자유로운 질량 스펙트럼을 디스플레이 할 수 있는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명은 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치이며, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는, 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부; 원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부; 상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 저장부는 저장부는 매트릭스 이외의 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온의 m/z 정보를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 입력부는 상기 화학적 노이즈로부터 유래되는 피크의 제거 여부인 화학적 노이즈 제거 여부를 더 입력 받을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 신호처리부는 상기 입력부에 입력된 화학적 노이즈 제거 여부를 더 수신하며, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z에 해당하는 피크가 제거된 질량 스펙트럼인 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하고, 상기 화학적 노이즈 제거 여부에 따라, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼에서 화학적 노이즈에 의한 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여, 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 출력부는, 상기 입력부로 입력된 상기 화학적 노이즈 제거 여부와 함께, 원본 질량 스펙트럼, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 및 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 출력할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 분석대상물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질이며, 상기 원본 질량 스펙트럼은 상기 생화학물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 상기 저장부는 질병 별 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온의 m/z 정보를 더 포함할 수 있고, 상기 입력부는 원본 질량 스펙트럼을 이용하여 질병의 보유 여부를 판별하고자 한 질병의 종류를 더 입력받을 수 있다.
본 발명은 상술한 디스플레이 장치를 이용한 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 방법을 포함한다.
본 발명에 따른 디스플레이 장치는, 측정을 통해 수득된 질량 스펙트럼에서 부차적 정보에 해당하는 매트릭스나 매트릭스 외의 화학적 노이즈를 제거하여 출력하고, 나아가, 실질적으로 순수하게 유효 정보(분석대상물질 유래 피크)로 이루어진 질량 스펙트럼에서 피크의 크기 조정(scaling)하여 출력함에 따라, 분석자에게 신속하고 정확한 분석이 가능하게 하며, 직관적 인식이 가능하게 하는 장점이 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 장치는, 특히 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼을 이용한 질병 보유 유무 검출에 매우 효과적이며, 매우 신속하고 정확하게 질병 보유 유무를 판별할 수 있는 질량스펙트럼 판별 자료를 제공하는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 일 구성도이다.
이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 디스플레이 장치를 상세히 설명한다. 다음에 소개되는 도면들은 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있으며, 이하 제시되는 도면들은 본 발명의 사상을 명확히 하기 위해 과장되어 도시될 수 있다. 이때, 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다.
본 발명에 따른 디스플레이 장치는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석에 의해 수득되는 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치이다. 상세하게, 본 발명에 따른 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치는 분석대상물질(analyte)을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부; 원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부; 상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;를 포함한다.
원본 질량 스펙트럼에는 분석대상물질로부터 유래된 피크 뿐만 아니라, 매트릭스나 매트릭스 외의 화학적 불순물 등으로부터 유래된 노이즈 피크 또한 존재한다. 또한, 분석대상물질의 농도가 낮을 경우, 상대적으로 강도가 큰 매트릭스 유래 피크에 의해 분석대상물질 유래 피크가 묻혀 물질 분석 및 이를 통한 진단과 같은 후속 과정이 정확히 수행되기 어렵다. 나아가, 설사 분석대상물질의 농도가 높아 상대적으로 강도가 큰 매트릭스 유래 피크에 의해 묻히지 않는다 하더라도, 질량 스펙트럼상 유효 정보(분석대상물질 유래 피크)이외의 많은 부차적 정보가 존재함에 따라, 분석자의 신속하고 정확한 분석을 방해하며, 직관적 해석도 방해한다.
이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는, 입력부를 통해 원본 질량 스펙트럼의 측정시 사용된 매트릭스의 물질 정보, 나아가 노이즈 제거 여부등과 같은 지시를 입력받아, 원본 질량 스펙트럼으로부터 불필요한 정보들을 제거하여 이를 출력함으로써, 신속하고 정확하며, 보다 직관적으로 분석대상물질의 분석 및 이를 통한 질병 진단과 같은 후속 절차를 가능하게 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 일 구성도이다. 도 1에 도시한 일 예와 같이, 디스플레이 장치는 저장부(100), 입력부(200), 저장부(100)와 연동되고 입력부(200)로부터 입력된 입력값들을 수신하여 원본 질량 스펙트럼으로부터 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼(이하, 노이즈 제거 질량 스펙트럼으로 통칭함)을 생성하는 신호처리부(300) 및 신호처리부(300)에서 생성된 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 출력하는 출력부(400)를 포함할 수 있다.
저장부(100)에는 신호처리부(300)에서 가공(처리) 대상이 되는 원본 질량 스펙트럼과 함께, 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)이 저장될 수 있다.
원본 질량 스펙트럼은 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 질량 분석하여 수득된 질량 스펙트럼일 수 있으며, 또한, 인위적으로 가공되지 않은 측정 장치로부터 수득된 상태의 질량 스펙트럼일 수 있다. 구체적으로, 원본 질량 스펙트럼은 분석대상물질과 매트릭스를 포함하는 시료 플레이트에 레이저광을 조사하여 분석대상물질을 탈착 이온화시킨 후, 전자기장 내 전하를 띤 이온들의 운동을 측정하여 수득되는 질량 스펙트럼일 수 있다. 이때, 원본 질량 스펙트럼은 이온들의 'm/z, 해당 m/z에서의 신호검출 강도'의 구조화된 형태로 저장될 수 있음은 물론이다.
매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z 정보에서, 매트릭스는 유기 매트릭스일 수 있고, 유기 매트릭스는 UV 레이저에 의해 쉽게 여기(excitation)되는 구조를 갖는 유기화합물일 수 있다. 유기 매트릭스는 종래 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석법에 사용되는 것으로 알려진 어떠한 유기화합물이어도 무방하다. 일 예로, 유기화합물은 시그마 알드리치(Sigma-Aldrich)등에서 판매하는 상용 매트릭스 물질(Matrix Substances for MALDI-MS, Sigma-Aldrich)을 포함할 수 있으며, 보다 구체적인 일 예로, 유기 매트릭스는 3,5-dimethoxy-4-hydroxycinnamic acid (sinapinic acid), 4-hydroxy-3-methoxycinnamic acid(ferulic acid), Picolinic acid(PA), α-cyano-4-hydroxycinnamic acid(CHCA), 2,5-dihydroxybenzoic acid(DHB), 2-(4-hydroxyphenylazo)-benzoic acid(HABA), 2-mercaptobenzo-thiazole (MBT) 및 3-Hydroxypicolinic acid(3-HPA)에서 선택되는 하나 또는 둘 이상의 유기화합물을 포함할 수 있으나, 본 발명이 열거된 매트릭스 물질로 한정되는 것은 아니다.
매트릭스 유래 이온의 m/z 정보는, 유기 매트릭스 자체를 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 질량 분석하여 수득된 질량 스펙트럼인 매트릭스 질량 스펙트럼에 존재하는 피크들의 m/z(들)일 수 있다. 즉, 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z 정보는 유기 매트릭스로부터 유래되는 이온(들)의 m/z(들)일 수 있다.
저장부(100)에는, 매트릭스 종류별로, 각 매트릭스의 매트릭스 유래 이온의 m/z 정보가 저장될 수 있으며, '매트릭스 물질- 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z'의 구조화된 형태로 저장된 것일 수 있다.
입력부(200)는 신호처리부(300)에서 원본 질량 스펙트럼이 처리되기 위한 정보를 사용자로부터 입력받을 수 있다. 구체적으로, 입력부(200)는 사용자로부터 원본 질량 스펙트럼의 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력 받을 수 있다. 일 예로, 입력부(200)는 원본 질량 스펙트럼의 수득시 2종 이상의 매트릭스가 사용된 경우, 사용된 2종 이상의 매트릭스 물질 정보를 모두 입력 받을 수 있다. 이때, 사용자는 질량 스펙트럼을 이용하여 분석대상물질을 분석하거나 질병 등을 진단하는 숙련자 또는 전문가를 포함할 수 있다.
입력부(200)는 사용자가 신호처리부(300)에서 원본 질량 스펙트럼이 처리되기 위한 매트릭스 물질 정보 등이 입력될 수 있는 하드웨어 구성을 의미할 수 있다. 일 예로, 입력부(200)는 마우스(mouse), 키패드(key pad), 돔스위치(dome switch), 터치 패드(접촉식 정전 용량 방식, 압력식 저항막 방식, 적외선 감지 방식, 표면 초음파 전도 방식, 적분식 장력 측정 방식, 피에조 효과 방식 등), 조그휠, 조그스위치 등으로 구성될 수 있다. 또한, 입력부(200)는 터치스크린(Touch Screen), 터치패널(Touch Panel), 키보드 등을 포함할 수 있다.
또한, 입력부(200)는 사용자에 의해 입력된 매트릭스 물질 정보(원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질)를 신호처리부(300)에 전달할 수 있다.
신호처리부(300)는 입력부(200)에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 저장부(100)와 연동하여, 원본 질량스펙트럼에서 매트릭스 유래 피크(들)을 제거함으로써 매트릭스에 의한 노이즈가 제거된 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다. 상세하게, 신호처리부(300)는, 저장부(100)에 저장된 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)를 기반으로, 원본 질량 스펙트럼으로부터 입력부로 입력된 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크(들)를 제거하여 매트릭스에 의한 노이즈가 제거된 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다. 이는, 본 발명에 따른 디스플레이 장치가 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석에 의해 수득되는 질량 스펙트럼을 처리(가공)하여 디스플레이하는 장치임에 따라 가능한 것이다. 상세하게, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석은 이온(들)의 m/z라는 불연속적인 값(discrete value)들에 해당하는 이온의 수량을 검출하는 것이다. 이에 따라, 유효한 데이터와 화학적 노이즈(시료에 포함된 분석대상물질 이외의 화합물에 의한 질량피크) 데이터 모두 불연속적인 m/z 값에서의 검출강도로 질량스펙트럼에 표시되게 된다. 이러한 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석 방법의 특징에 의해, 단지 원본 질량 스펙트럼에서, 입력부로 입력된 매트릭스의 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크(들)를 제거하는 단순 처리를 통해, 원본 질량 스펙트럼으로부터 매트릭스 노이즈를 제거할 수 있는 것이다. 이때, 매트릭스 유래 이온들의 m/z(들)에 해당하는 피크(들)를 제거한다 한다 함은, 원본 질량 스펙트럼에서 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z 값(들)에서 피크의 강도를 0로 세팅(setting)하는 것을 의미함은 물론이다.
출력부(400)는 신호처리부(300)에서 생성된 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 입력받아 이를 시각적으로 인식 가능한 형태로 사용자에게 출력 가능한 하드웨어일 수 있다. 구체적인 일 예로, 출력부(400)는 프린터기, 디스플레이 패널(EPD, ECD, LCD, OLED등), 터치 패널 등을 들 수 있다. 이때, 터치 패널 등과 같이 입력과 출력이 모두 가능한 하드웨어의 경우 단일한 하드웨어에 의해 입력부와 출력부가 구현될 수도 있음은 물론이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 저장부(100)는 매트릭스 외의 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온(들)의 m/z 정보를 더 포함할 수 있으며, 입력부(200)는 사용자로부터 매트릭스 외의 화학적 노이즈로부터 유래되는 피크의 제거 여부인 화학적 노이즈 제거 여부를 더 입력 받을 수 있다.
매트릭스 외의 화학적 노이즈는 분석대상물질과 매트릭스를 이용하여 질량 분석될 시료를 제조하고 플레이트(plate)위에 위치시키는 과정에서 주로 야기될 수 있다. 구체적으로, 시료를 제조하기 위해 사용되는 용매, 분석대상물질의 용이한 이온화나 탈착을 위해 매트릭스와 함께 첨가되는 첨가제, 불가피한 불순물(오염)등에 의해 화학적 노이즈가 발생할 수 있다. 이에 따라, 원본 데이터에는 분석대상물질로부터 야기되는 피크(들), 매트릭스로부터 야기되는 피크(들), 이외의 부차적인 피크들이 존재할 수 밖에 없으며, 이러한 부차적인 피크들이 화학적 노이즈로 분류될 수 있다.
이에 따라, 화학적 노이즈는, 매트릭스와 분석대상물질 이외의, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 분석을 위한 시료 준비 과정에서 사용된 물질들에 의해 야기되는 노이즈를 의미할 수 있다.
저장부(100)가 매트릭스 외의 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온(들)의 m/z 정보를 더 포함하는 경우, 신호처리부(300)는 입력부(200)로 입력되는 화학적 노이즈 제거 여부를 수신하고, 수신된 화학적 노이즈 제거 여부에 따라, 매트릭스 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼에서 화학적 노이즈 유래 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크들을 제거함으로써, 매트릭스 노이즈 및 화학적 노이즈가 모두 제거된 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다.
구체적으로, 신호처리부(300)는 입력부(200)에 입력된 화학적 노이즈 제거 여부를 더 수신하며, 원본 질량 스펙트럼에서 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온들의 m/z들에 해당하는 피크가 제거된 질량 스펙트럼인 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하고, 화학적 노이즈 제거 여부에 따라, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼에서 매트릭스 외의 화학적 노이즈에 의한 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크를 제거하여, 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다.
즉, 신호처리부(300)는 입력부(200)로 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 저장부(100)와 연동하여 수신된 매트릭스 물질에 해당하는 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)를 추출하고, 원본 질량 스펙트럼에서 추출된 매트릭스 유래 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크를 제거하여 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다. 이후, 입력부로 입력된 화학적 노이즈 제거 여부를 수신하고, 입력부를 통해 화학적 노이즈 제거 지시가 입력된 경우, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼에서 화학적 노이즈 유래 이온(들)의 m/z(들)에 해당하는 피크를 제거하여 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성할 수 있다. 이때, 입력부로 화학적 노이즈 미제거가 입력된 경우, 저장부에 저장된 화학적 노이즈 유래 이온화 질량을 이용한 원본 질량 스펙트럼의 처리가 이루어지지 않을 수 있음은 물론이다.
또한, 신호처리부(300)는 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성한 후, 노이즈 제거 질량 스펙트럼에 존재하는 피크들의 강도 중 최대 강도를 기준으로 노이즈 제거 질량 스펙트럼의 강도 축(axis)을 다시 스케일링(re-scaling)할 수 있다. 이때, 강도 축의 스케일링은 피크들의 강도 중 최대 강도가 강도 축의 최대값이 되도록 출력되는 강도 축이 조절되는 것을 의미할 수 있다.
상세하게, 원본 질량 스펙트럼에는 유효 정보에 해당하는 피크 뿐만 아니라, 매트릭스나 매트릭스 외의 화학적 노이즈와 같이 부차적 정보에 해당하는 피크 또한 존재한다. 이때, 분석대상물질의 농도가 낮거나 이온화 율이 떨어지는 물질인 경우, 노이즈 피크(매트릭스 및 매트릭스 외의 화학적 노이즈에 의한 피크)의 강도가 실제 분석대상물질에 의해 유래된 피크의 강도보다 현저하게 높아, 유효 정보에 해당하는 피크의 인식 및 식별이 어려울 수 있다. 그러나, 상술한 바와 같이, 신호처리부에 의해 노이즈 제거 질량 스펙트럼이 생성된 후, 노이즈 제거 질량 스펙트럼에 잔류하는 피크들 중 최대 강도를 기준으로 강도 축이 다시 스케일링 되어 출력부로 출력되는 경우, 노이즈에 의해 유효 정보가 묻히는 것을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 유효 정보들을 정확하고 즉각적으로 인식할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어, 원본 질량 스펙트럼 의 분석대상물질은 그 분자의 이온을 질량 분석하고자 하는 목적 물질을 의미한다. 구체적인 일 예로, 분석대상물질은 유기물, 무기물, 생화학물질 또는 이들의 복합물을 포함하며, 복합물은 유기물, 무기물 및 생화학물질에서 선택된 둘 이상의 물질이 혼합된 혼합물과 유기물, 무기물 및 생화학물질에서 선택된 둘 이상의 물질이 화학적으로 결합(또는 반응한) 결합물(반응물)을 포함할 수 있다. 생화학물질은 세포 구성물질, 유전물질, 탄소화합물, 생물체의 대사, 물질 합성, 물질 수송 또는 신호전달 과정에 영향을 미치는 유기물 또는 약물을 포함할 수 있으며, 생화학물질은 생체로부터 추출 및 처리된 바이오샘플을 포함할 수 있으며, 이와 독립적으로 생화학물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질(바이오마커)을 포함할 수 있다. 상세하게, 생화학물질은 유기금속화합물, 펩타이드, 탄수화물, 단백질, 단백질 복합체, 지질, 대사체, 항원, 항체, 효소, 기질, 아미노산, 압타머(Aptamer), 당, 핵산, 핵산 단편, PNA(Peptide Nucleic Acid), 세포 추출물, 질병 지표 또는 이들의 조합(혼합된 혼합물 또는 화학적으로 결합된 결합물을 포함함)등을 포함할 수 있다.
특징적으로, 분석대상물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질일 수 있으며, 이에 따라, 원본 질량 스펙트럼은 생화학물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼일 수 있다.
상술한 화학적 노이즈 제거는, 분석대상물질이 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질인 경우 보다 유리하며 보다 효과적이다.
이는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화를 이용하여 질병 진단(검출)을 수행하는 경우, 진단(검출)하고자 하는 질병의 종류에 따라, 매트릭스 물질, 용매, 시료 플레이트 제조 및 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 측정 조건들(레이저 파장, 레이저 세기, 조사 영역, 조사 시간 등)이 프로토콜로 기 확립되는 것이 통상적이다. 이에 따라, 진단(검출)하고자 하는 질병의 종류가 규정된 경우, 프로토콜에 따라 시료(분석대상물질과 매트릭스를 포함하는 시료)의 제조 및 질량 분석이 수행된다. 또한, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화를 이용하여 질병 진단(검출)을 수행하는 경우, 다양한 질병 가능 보유자를 대상으로 동일한 프로토콜에 따른 질량 분석이 반복적으로 수행되는 것이 통상적이다.
이에 따라, 진단(검출)하고자 하는 질병이 정해지는 경우, 질병에 따라 기 확립된 프로토콜에 따라 질량 분석이 수행됨에 따라, 화학적 노이즈 또한 질병에 따라 달라질 수 있다. 즉, 동일한 질병인 경우 동일한 이온(들)의 m/z에서 화학적 노이즈가 발생할 수 있으며, 질병이 달라지는 경우에 화학적 노이즈로부터 유래한 이온(들)의 m/z 값(들)이 달라질 수 있다.
이는, 분석대상물질이 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질인 경우, 분석대상물질로부터 야기하는 유효 데이터 이외의 다른 데이터들이 실질적으로 완벽하게 제거될 수 있음을 의미한다. 즉, 분석대상물질이 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질인 경우, 신호처리부(300)에서 생성되는 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼은 분석대상물질로부터 야기된 이온화 질량의 피크들 이외의 다른 부차적 피크들이 실질적으로 완전히 제거된 노이즈-프리(noise-free) 질량 스펙트럼일 수 있다.
이에 따라, 저장부(100)에 저장되는 화학적 노이즈에 의한 이온의 m/z 정보는 질병 별 화학적 노이즈 유래 이온의 m/z 정보일 수 있다. 상세하게, 저장부(100)에는 질병 종류별로, 화학적 노이즈로부터 유래한 이온(들)의 m/z 정보가 저장될 수 있다. 이때, 정보는 질병 종류와 화학적 노이즈 유래 이온(들)의 m/z 정보를 포함하는 구조화된 형태의 자료일 수 있음은 물론이다.
이때, 입력부(200)는 매트릭스 물질 정보, 화학적 노이즈 제거 여부를 지시하는 지시 명령(command)과 함께, 원본 질량 스펙트럼을 통해 질병 보유 여부를 판별하고자 한 질병의 종류 또한 입력받을 수 있다.
또한, 신호처리부(300)에서 생성된 노이즈 제거 질량 스펙트럼(1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 및/또는 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼)은 출력부(400)로 송신되어 출력될 수 있음은 물론이며, 신호처리부(300)에서 생성된 노이즈 제거 질량 스펙트럼(1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 및/또는 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼)은 입력부(200)로 입력된 정보들과 함께, 원본 질량 스펙트럼에 맵핑되어 저장부(100)에 저장될 수 있음은 물론이다.
출력부(400)는, 매트릭스 물질 정보, 화학적 노이즈 제거 여부 및/또는 질병의 종류등 입력부(200)를 통해 입력된 정보나 지시와 함께, 원본 질량 스펙트럼, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 및 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 출력할 수 있다. 또한, 매트릭스 물질 정보 뿐만 아니라, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 생성시 사용된 매트릭스 유래 이온의 m/z 정보 또한 출력될 수 있다. 이와 유사하게 입력부(200)에 화학적 노이즈 제거 지시가 입력된 경우, 질병의 종류 뿐만 아니라, 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 생성시 사용된 질병 별 화학적 노이즈 유래 이온의 m/z 정보 또한 출력될 수 있다.
이에 따라, 출력부(400)를 통해, 사용자에게 원본 질량 스펙트럼, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼, 실질적으로 순수하게 유효 정보(분석대상물질로부터 야기된 피크들)들로 이루어진 질량 스펙트럼인 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼이 제공될 수 있다. 또한, 출력부(400)를 통해, 원본 질량 스펙트럼 및 노이즈 제거 스펙트럼(들)과 함께, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 생성을 위해 사용된 매트릭스 물질 정보, 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 생성을 위해 사용된 질병 종류, 질병 종류에 따른 화학적 노이즈 유래 이온의 m/z 정보 등이 함께 제공될 수 있다.
출력부(400)를 통해, 부차적인 정보가 제거되고, 실질적으로 순수한 유효 정보들로만 이루어진 질량 스펙트럼이 스케일링 되어 사용자에게 제공됨에 따라, 유효 정보가 매트릭스나 화학적 노이즈에 의해 묻히지 않으며, 즉각적이고 정확한 진단이나 검출이 가능한 장점이 있다.
본 발명은 상술한 디스플레이 장치를 이용한 디스플레이 방법을 포함한다.
구체적으로, 본 발명에 따른 디스플레이 방법은 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 방법으로, 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온들의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부; 원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부; 상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온들의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및 상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;를 포함하는 디스플레이 장치를 이용한 디스플레이 방법이다.
보다 구체적으로, 본 발명에 따른 디스플레이 방법은, a) 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 질량 스펙트럼을 수득하는 단계; b) a) 단계에서 수득되는 질량 스펙트럼이 원본 질량 스펙트럼으로 저장부에 저장된 후, 입력부를 통해, a) 단계에서 사용된 매트릭스의 물질 정보가 입력되는 단계; 및 c) 신호처리부에 의해 노이즈 제거 질량 스펙트럼이 생성되고 출력부를 통해 출력되는 단계;를 포함할 수 있다.
a) 단계의 질량 스펙트럼(원본 질량 스펙트럼)은 분석대상물질 및 유기 매트릭스를 포함하는 시료에 레이저를 조사하고 탈착 이온화된 이온들이 검출기에 의해 검출되어 수득되는 스펙트럼으로, 검출 이온의 강도를 일 축으로 이온의 m/z( mass-to-charge ratio)를 다른 일 축으로 갖는 질량스펙트럼일 수 있다.
시료는 유기 매트릭스를 이용한 말디(MALDI)질량분석법에서 통상적으로 사용하는 방법을 통해 준비된 것일 수 있다. 구체적인 일 예로, 시료는 매트릭스와 분석대상물질을 함유하는 시료액을 시료 플레이트에 점적한 후 용매를 휘발제거하여 제조된 것일 수 있다. 이와 달리 시료는 매트릭스가 기 형성된 시료 플레이트의 매트릭스 상부로 분석대상물질을 함유하는 용액을 점적한 후 용매를 휘발 제거하여 제조된 것일 수 있다. 그러나, 상술한 바와 같이, 시료는 통상적으로 사용되는 말디질량분석법의 시료 제조방법으로 제조된 것이면 족하며, 상술한 구체예에 의해 한정될 수 없음은 물론이다. 이때, 조사되는 레이저는 시료에 함유된 유기 매트릭스가 흡수하는 파장 대역의 레이저이면 무방하며, 통상의 말디질량분석법에서 사용되는 레이저이면 무방하다. 구체적이며 비 한정적인 일 예로, 조사되는 레이저는 UV(ultra violet) 레이저 또는 IR(infra red) 레이저일 수 있으며, UV 레이저는 N2 레이저, Nd/YAG 레이저, 엑시머(Eximer) 레이저 등을 포함할 수 있고, IR 레이저는 CO2 레이저, Er/YAG 레이저 등을 포함할 수 있다. 이온들의 질량 검출은 TOF(Time Of Flight) MS(Mass Spectrometer), IT(Ion trap) MS, FT-ICR(Fourier transform ion cyclotron resonance) MS, Quadrupole MS 또는 Orbitrap MS에 의해 수행될 수 있다. 이때, TOF 질량 분석기는 선형 토프(linear TOF) 또는 리플렉트론 토프(Reflectron TOF)일 수 있다.
또한, b) 단계에서, 화학적 노이즈 제거 여부 또는 화학적 노이즈 제거 여부와 질병의 종류가 입력부를 통해 더 입력될 수 있으며, 이에 의해, b) 단계에서 매트릭스 노이즈가 제거된 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼과 함께, 매트릭스 노이즈 및 화학적 노이즈가 모두 제거된 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼이 생성되어, c) 단계에서 출력될 수 있다.
이때, 상술한 바와 같이, 분석대상물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질인 것이 보다 유리하며, 이에 따라, a) 단계에서 사용되는 매트릭스는 해당 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질에 따라 기 선별된 매트릭스일 수 있음은 물론이다.
이상과 같이 본 발명에서는 특정된 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.

Claims (8)

  1. 분석대상물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인 원본 질량 스펙트럼과 매트릭스 별 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio) 정보를 포함하는 데이터가 저장되는 저장부;
    원본 질량 스펙트럼 수득시 사용된 매트릭스 물질 정보를 입력받는 입력부;
    상기 입력부에 입력된 매트릭스 물질 정보를 수신하고, 상기 저장부와 연동하여, 상기 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질 정보에 따라, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 해당 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z(mass to charge ratio)에 해당하는 피크를 제거하여, 노이즈가 제거된 질량 스펙트럼인 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는 신호처리부; 및
    상기 신호처리부로부터 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 수신하고 이를 출력하는 출력부;
    를 포함하는 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 저장부는 매트릭스 이외의 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온의 m/z 정보를 더 포함하는 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 입력부는 상기 화학적 노이즈로부터 유래되는 피크의 제거 여부인 화학적 노이즈 제거 여부를 더 입력 받는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 신호처리부는 상기 입력부에 입력된 화학적 노이즈 제거 여부를 더 수신하며, 상기 원본 질량 스펙트럼에서 입력부를 통해 입력된 매트릭스 물질의 매트릭스 유래 이온의 m/z에 해당하는 피크가 제거된 질량 스펙트럼인 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하고, 상기 화학적 노이즈 제거 여부에 따라, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼에서 화학적 노이즈에 의한 이온의 m/z에 해당하는 피크를 제거하여, 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 생성하는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 출력부는, 상기 입력부로 입력된 상기 화학적 노이즈 제거 여부와 함께, 원본 질량 스펙트럼, 1차 노이즈 제거 질량 스펙트럼 및 2차 노이즈 제거 질량 스펙트럼을 출력하는, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 분석대상물질은 질병을 검출하는데 사용되는 지표 물질을 포함하는 생화학물질이며, 상기 원본 질량 스펙트럼은 상기 생화학물질을 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화시켜 수득된 질량 스펙트럼인, 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 저장부는 질병 별 화학적 노이즈(chemical noise)에 의한 이온의 m/z 정보를 포함하며, 상기 입력부는 원본 질량 스펙트럼을 이용하여 질병의 보유 여부를 판별하고자 한 질병의 종류를 더 입력받는 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치.
  8. 제 1항 내지 제 7항에서 선택된 어느 한 항에 따른 디스플레이 장치를 이용한 매트릭스 보조 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 방법.
KR1020170021491A 2017-02-17 2017-02-17 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치 KR101949868B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170021491A KR101949868B1 (ko) 2017-02-17 2017-02-17 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치
PCT/KR2018/001150 WO2018151439A1 (ko) 2017-02-17 2018-01-26 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170021491A KR101949868B1 (ko) 2017-02-17 2017-02-17 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180095246A KR20180095246A (ko) 2018-08-27
KR101949868B1 true KR101949868B1 (ko) 2019-02-19

Family

ID=63170331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170021491A KR101949868B1 (ko) 2017-02-17 2017-02-17 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101949868B1 (ko)
WO (1) WO2018151439A1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013534311A (ja) * 2010-08-02 2013-09-02 クラトス・アナリテイカル・リミテツド 質量スペクトルデータを得る方法及び装置
JP2015076169A (ja) * 2013-10-07 2015-04-20 日本電子株式会社 質量分析装置、同定方法、およびプログラム
US20150186754A1 (en) * 2012-07-18 2015-07-02 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno Classification method for spectral data
WO2016103341A1 (ja) * 2014-12-24 2016-06-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070087446A1 (en) * 2003-04-14 2007-04-19 Waters Investments Limited Aromatic phosphonium salts and their use as labeling reagents in mass spectrometry analysis
WO2005022583A2 (en) 2003-08-21 2005-03-10 Applera Corporation Reduction of matrix interference for maldi mass spectrometry analysis
JP5857873B2 (ja) * 2012-05-11 2016-02-10 株式会社島津製作所 １ｈ−テトラゾール誘導体及び質量分析用マトリックス
KR101834720B1 (ko) * 2016-11-03 2018-03-06 (주)바이오니아 매트릭스 도움 레이저 탈착／이온화 질량분석 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013534311A (ja) * 2010-08-02 2013-09-02 クラトス・アナリテイカル・リミテツド 質量スペクトルデータを得る方法及び装置
US20150186754A1 (en) * 2012-07-18 2015-07-02 Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno Classification method for spectral data
JP2015076169A (ja) * 2013-10-07 2015-04-20 日本電子株式会社 質量分析装置、同定方法、およびプログラム
WO2016103341A1 (ja) * 2014-12-24 2016-06-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018151439A1 (ko) 2018-08-23
KR20180095246A (ko) 2018-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Gómez-Ríos et al. Solid phase microextraction-mass spectrometry: metanoia
US10679838B2 (en) System and methods for ionizing compounds using matrix-assistance for mass spectrometry and ion mobility spectrometry
US7718958B2 (en) Mass spectroscopic reaction-monitoring method
Chen et al. What can we learn from ambient ionization techniques?
US8937288B1 (en) Mass spectrometry analysis of microorganisms in samples
Enke Reactive intermediates: MS investigations in solution
EP3486937B1 (en) Mass spectrometry analysis of microorganisms in samples
US7985948B2 (en) Systems and methods for analyzing substances using a mass spectrometer
US6930305B2 (en) Method and system for high-throughput quantitation of small molecules using laser desorption and multiple-reaction-monitoring
Kennedy et al. Evaluation and performance of desorption electrospray ionization using a triple quadrupole mass spectrometer for quantitation of pharmaceuticals in plasma
US20130306855A1 (en) Efficient detection of ion species utilizing fluorescence and optics
Hu et al. Desorption electrospray ionization using an Orbitrap mass spectrometer: exact mass measurements on drugs and peptides
US20210343518A1 (en) Multi-mode ionization apparatus and uses thereof
JP2005521874A5 (ko)
JP6838149B2 (ja) マトリックス支援レーザ脱離／イオン化質量分析方法
CN110243920B (zh) 2-肼喹啉在maldi-tof-ms中作为反应性基质检测小分子糖的方法
CN201152867Y (zh) 新型红外激光解吸/真空紫外单光子电离质谱分析装置
KR101949868B1 (ko) 매트릭스 도움 레이저 탈착 이온화 질량 스펙트럼의 디스플레이 장치
US20050269508A1 (en) Apparatus and methods for detecting compounds using mass spectra
Williams et al. Advances in trace element solid sample analysis: laser ablation laser ionization TOF mass spectrometry (LALI-TOF-MS)
Daniel et al. Interfacing liquid chromatography with atmospheric pressure MALDI-MS
Oriňák et al. New approaches to coupling TLC with TOF-SIMS
Lotito et al. Tunable fragmentation of organic molecules in laser ablation glow discharge time-of-flight mass spectrometry
Chen et al. Novel atmospheric biomolecule ionization technologies
Challamalla et al. Negative ion mode mass spectrometry-an overview

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant