WO2017221714A1 - 半導体装置および細胞電位測定装置 - Google Patents

半導体装置および細胞電位測定装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2017221714A1
WO2017221714A1 PCT/JP2017/021193 JP2017021193W WO2017221714A1 WO 2017221714 A1 WO2017221714 A1 WO 2017221714A1 JP 2017021193 W JP2017021193 W JP 2017021193W WO 2017221714 A1 WO2017221714 A1 WO 2017221714A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
differential amplifier
input
transistor
current mirror
potential
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/021193
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
祐理 加藤
祐輔 大池
Original Assignee
ソニー株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ソニー株式会社 filed Critical ソニー株式会社
Priority to US16/307,214 priority Critical patent/US10866211B2/en
Priority to CN201780036689.5A priority patent/CN109313158B/zh
Priority to JP2018523695A priority patent/JP6919651B2/ja
Publication of WO2017221714A1 publication Critical patent/WO2017221714A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12MAPPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
    • C12M1/00Apparatus for enzymology or microbiology
    • C12M1/34Measuring or testing with condition measuring or sensing means, e.g. colony counters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45183Long tailed pairs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416Systems
    • G01N27/4161Systems measuring the voltage and using a constant current supply, e.g. chronopotentiometry
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C12BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
    • C12MAPPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
    • C12M1/00Apparatus for enzymology or microbiology
    • C12M1/42Apparatus for the treatment of microorganisms or enzymes with electrical or wave energy, e.g. magnetism, sonic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
    • G01N27/4148Integrated circuits therefor, e.g. fabricated by CMOS processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416Systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/483Physical analysis of biological material
    • G01N33/487Physical analysis of biological material of liquid biological material
    • G01N33/48707Physical analysis of biological material of liquid biological material by electrical means
    • G01N33/48728Investigating individual cells, e.g. by patch clamp, voltage clamp
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/483Physical analysis of biological material
    • G01N33/487Physical analysis of biological material of liquid biological material
    • G01N33/48707Physical analysis of biological material of liquid biological material by electrical means
    • G01N33/48735Investigating suspensions of cells, e.g. measuring microbe concentration
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45183Long tailed pairs
    • H03F3/45188Non-folded cascode stages
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28Electrolytic cell components
    • G01N27/30Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/327Biochemical electrodes, e.g. electrical or mechanical details for in vitro measurements
    • G01N27/3271Amperometric enzyme electrodes for analytes in body fluids, e.g. glucose in blood
    • G01N27/3273Devices therefor, e.g. test element readers, circuitry
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/129Indexing scheme relating to amplifiers there being a feedback over the complete amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/156One or more switches are realised in the feedback circuit of the amplifier stage
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/228A measuring circuit being coupled to the input of an amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/396Indexing scheme relating to amplifiers the output of an amplifier can be switched on or off by a switch to couple the output signal to a load
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/48Indexing scheme relating to amplifiers the output of the amplifier being coupled out by a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45156At least one capacitor being added at the input of a dif amp
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45512Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more capacitors, not being switched capacitors, and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45536Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising a switch and being coupled between the LC and the IC

Definitions

  • the present disclosure relates to a semiconductor device and a cell potential measuring device, and more particularly to a semiconductor device and a cell potential measuring device that can amplify and read out the potential of a solution with high accuracy.
  • Patent Document 1 There are devices that measure action potentials emitted from living cells by arranging microelectrodes in an array in a culture solution containing living cells and electrochemically measuring the potential of the culture solution (for example, Patent Document 1). reference).
  • CMOS Complementary Metal-Oxide Semiconductor
  • each readout electrode is connected to one amplifier in order and a method in which each readout electrode is connected to the same number of amplifiers as the readout electrodes. is there.
  • the size of the amplifier can be increased to reduce noise.
  • the number of measurement points that can be measured simultaneously (hereinafter referred to as the number of simultaneous measurement points) is one.
  • the number of simultaneous measurement points can be increased by operating a plurality of amplifiers simultaneously.
  • the size of each amplifier is reduced and noise is increased.
  • noise and the number of simultaneous measurement points are traded off.
  • the potential difference between the reference electrode disposed at a position away from the potential generation point in the solution and the readout electrode disposed in the vicinity of the potential generation point is multiplied and output. It has been devised to provide an open loop type differential amplifier. In this case, in the circuits after the differential amplifier, noise is suppressed to a reciprocal multiple of the amplification gain of the differential amplifier. Therefore, an increase in noise due to the small size of the differential amplifier can be suppressed. Therefore, it is possible to achieve both increase in the number of simultaneous measurement points and suppression of noise.
  • the output signal is not fed back as an input signal, so that the amplification gain is increased and the range of the input signal to be operated (signal input range) is narrowed. Therefore, it is difficult to amplify and read out the potential of the solution with high accuracy.
  • the present disclosure has been made in view of such a situation, and makes it possible to amplify and read out the potential of a solution with high accuracy.
  • a semiconductor device includes a read electrode that reads a potential of a solution and a differential amplifier that includes a current mirror circuit, and the read electrode is connected to a diode-connected transistor of the current mirror circuit. Connected to a gate of a first input transistor connected to a first input terminal of the differential amplifier, and an output terminal of the differential amplifier is connected to a transistor not connected to the diode of the current mirror circuit.
  • a semiconductor device configured to be connected to a second input terminal of the differential amplifier connected to a gate of a second input transistor via a capacitor.
  • a read electrode for reading the potential of the solution and a differential amplifier having a current mirror circuit are provided, and the read electrode is connected to a diode-connected transistor of the current mirror circuit.
  • a first input terminal of the differential amplifier is connected to a gate of the first input transistor, and an output terminal of the differential amplifier is connected to a non-diode-connected transistor of the current mirror circuit.
  • a second input terminal of the differential amplifier connected to the gates of the two input transistors via a capacitor.
  • a cell potential measurement device includes a read electrode that reads an action potential of a cell contained in a solution, and a differential amplifier that includes a current mirror circuit, and the read electrode includes the current mirror circuit. Connected to the gate of a first input transistor connected to a diode-connected transistor, connected to a first input terminal of the differential amplifier, and the output terminal of the differential amplifier is a diode connection of the current mirror circuit.
  • a cell potential measuring device configured to be connected to a second input terminal of the differential amplifier connected to a gate of a second input transistor connected to a transistor that is not connected via a capacitor.
  • a read electrode for reading an action potential of a cell contained in a solution and a differential amplifier having a current mirror circuit are provided, and the read electrode is diode-connected to the current mirror circuit. Connected to the gate of the first input transistor connected to the first transistor, connected to the first input terminal of the differential amplifier, and the output terminal of the differential amplifier is not diode-connected to the current mirror circuit A second input terminal of the differential amplifier connected to the gate of the second input transistor connected to the transistor is connected via a capacitor.
  • the potential of the solution can be amplified and read with high accuracy.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration example of the differential amplifier of FIG. 2. It is a figure explaining the signal input range in the differential amplifier of FIG. It is a block diagram showing an example of composition of a 2nd embodiment of a cell potential measuring device to which this indication is applied. It is a figure which shows the detailed structural example of the sensor of FIG. It is a figure which shows the structural example of the sensor in 3rd Embodiment of the cell potential measuring apparatus to which this indication is applied.
  • FIG. 1 First Embodiment: Cell Potential Measuring Device (FIGS. 1 to 4) 2. Second Embodiment: Cell Potential Measuring Device (FIGS. 5 and 6) 3. Third Embodiment: Cell Potential Measuring Device (FIG. 7)
  • FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a first embodiment of a cell potential measurement device to which the present disclosure is applied.
  • CMOS complementary metal-oxide-semiconductor
  • a semiconductor device semiconductor device formed on a semiconductor substrate (chip) (not shown) using technology.
  • sensors 11A for reading out the electrochemical potential of the culture solution containing biological cells are two-dimensionally arranged in an array (matrix).
  • a sensor drive line 12 is formed for each row with respect to the array of sensors 11A, and a vertical signal line 13 is formed for each column.
  • the vertical selection circuit 14 drives each sensor 11A of the sensing unit 11 in units of rows. Specifically, one end of the sensor drive line 12 is connected to an output terminal (not shown) corresponding to each row of the vertical selection circuit 14.
  • the vertical selection circuit 14 sequentially selects each row so that sensor signals from each sensor 11A are sequentially read in units of rows, and outputs a selection signal and the like from an output terminal connected to the sensor drive line 12 of the selected row.
  • the sensor 11A in the selected row reads out the electric signal of the potential of the culture solution as a sensor signal and supplies it to the vertical signal line 13.
  • the A / D conversion circuit 15 has a signal processing circuit for each column of the sensing units 11. Each signal processing circuit of the A / D conversion circuit 15 performs signal processing such as A / D conversion processing on the sensor signal output from each sensor in the selected row through the vertical signal line 13. The A / D conversion circuit 15 outputs the sensor signal after the signal processing obtained by the selected signal processing circuit through the output terminal 17 according to the selection scanning of the horizontal selection circuit 16.
  • the horizontal selection circuit 16 selects the signal processing circuit of the A / D conversion circuit 15 in order. By the selective scanning by the horizontal selection circuit 16, sensor signals subjected to signal processing by each signal processing circuit of the A / D conversion circuit 15 are sequentially output to the output terminal 17.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a structure example of the sensor 11A of FIG.
  • the senor 11 ⁇ / b> A includes a readout electrode 31, a differential amplifier 32, a capacitor 33, and a switch 34.
  • the readout electrode 31 reads out the electrical signal of the potential of the culture solution 41 as the electrical signal of the action potential of the living cells contained in the culture solution 41.
  • the electrical signal read from the readout electrode 31 is input to the differential amplifier 32 as an input signal, and the output signal output from the differential amplifier 32 is input as an input signal via the capacitor 33.
  • the differential amplifier 32 multiplies the potential difference between the two input signals and outputs it as an output signal. This output signal is input to the capacitor 33 and the switch 34.
  • the switch 34 outputs an output signal as a sensor signal to the vertical signal line 13 based on the selection signal input by the sensor drive line 12 of FIG. Specifically, the switch 34 outputs an output signal as a sensor signal to the vertical signal line 13 when a selection signal is input, that is, when the row of the sensor 11A is a selected row. On the other hand, when the selection signal is not input, that is, when the row of the sensor 11A is not the selection row, the switch 34 does not output the output signal to the vertical signal line 13 as a sensor signal.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a detailed configuration example of the differential amplifier 32 of FIG.
  • the differential amplifier 32 in FIG. 3 is a differential amplifier using a current mirror circuit composed of a diode-connected pMOS transistor 61 and a pMOS transistor 62 as a load resistance.
  • the differential amplifier 32 includes a pMOS transistor 61, a pMOS transistor 62, an input transistor 63 and an input transistor 64 composed of an nMOS transistor, a constant current source 65, an input terminal 66, an input terminal 67, and an output terminal 68. Is done.
  • the pMOS transistor 61 is connected in series with the input transistor 63, and the pMOS transistor 62 is connected in series with the input transistor 64. Further, the pMOS transistor 61 and the pMOS transistor 62 are connected to the power supply potential VDD, and the input transistor 63 and the input transistor 64 are connected to the ground potential VSS via the constant current source 65.
  • the input terminal 66 connected to the readout electrode 31 is connected to the gate of the input transistor 63 connected to the diode-connected pMOS transistor 61 of the input transistor 63 and the input transistor 64 that does not have an amplification gain.
  • An input terminal 67 connected to the output terminal 68 is connected via the capacitor 33 to the gate of the input transistor 64 connected to the pMOS transistor 62 which is not diode-connected and to which the amplification gain is applied. This forms a closed loop that feeds back the output signal of the differential amplifier 32 as an input signal.
  • the output terminal 68 is connected to a connection point between the pMOS transistor 62 and the input transistor 64.
  • the differential amplifier 32 forms a closed loop that feeds back an output signal as an input signal. Therefore, compared with an open loop type differential amplifier, the amplification gain can be suppressed and the signal input range can be widened.
  • the differential amplifier 32 measures an accurate action potential by the fluctuation of the potential of the readout electrode 31 due to the feedback of the output signal affecting the activity of the living cell. Can be prevented from becoming impossible.
  • the output signal is fed back to the readout electrode 31 due to the parasitic capacitance between the gate and drain of the input transistor 63.
  • the input transistor 63 is an input transistor that does not have an amplification gain, the fluctuation of the potential of the read electrode 31 due to feedback is small.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a signal input range in the differential amplifier 32 of FIG.
  • the horizontal axis represents the potential difference between the potential Vin (+) of the input signal input to the input terminal 66 and the potential Vout ( ⁇ ) of the input signal input to the input terminal 67
  • the vertical axis represents The amplification gain of a differential amplifier is shown.
  • a solid line indicates the amplification gain of the differential amplifier 32 with respect to each potential difference
  • a dotted line indicates the amplification gain of the open-loop type differential amplifier with respect to each potential difference.
  • the differential amplifier 32 can amplify the potential difference of the input signals with high accuracy. That is, the electrical signal of the potential of the culture solution 41 read by the readout electrode 31 can be amplified with high accuracy.
  • FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration example of the second embodiment of the cell potential measurement device to which the present disclosure is applied.
  • the cell potential measuring apparatus 10 of FIG. 1 differs from the configuration of the cell potential measuring apparatus 10 of FIG. 1 in that the sensor 101 is provided instead of the sensor 11A and the reference electrode 102 is newly provided.
  • the cell potential measuring apparatus 100 not only the electrical signal of the potential of the readout electrode 31 but also the electrical signal of the potential of the reference electrode 102 is input to the sensor 101.
  • the sensor 101 of the cell potential measuring apparatus 100 generates a sensor signal using the electrical signal of the potential of the readout electrode 31 and the electrical signal of the potential of the reference electrode 102.
  • the reference electrode 102 is arranged at a position away from the living cells in the culture solution, and reads the reference potential of the culture solution.
  • the reference electrode 102 supplies each sensor 101 with the read electric signal of the reference potential.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a detailed configuration example of the sensor 101 of FIG.
  • the reference electrode 102 is connected to the input terminal 67 through the capacitor 121.
  • the differential amplifier 32 can cancel noise components mixed in the readout electrode 31 and the reference electrode 102 in the same phase. As a result, the noise of the output signal output from the differential amplifier 32 can be reduced.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration example of a sensor in the third embodiment of the cell potential measurement device to which the present disclosure is applied.
  • a reset switch 141 is connected in parallel with the capacitor 33 between the output terminal 68 and the input terminal 67.
  • the reset switch 141 short-circuits the output terminal 68 and the input terminal 67 based on a reset signal Reset supplied from a control circuit (not shown).
  • a reset signal Reset supplied from a control circuit (not shown).
  • the threshold mismatch between the input transistor 63 and the input transistor 64 can be canceled and the operating point of the differential amplifier 32 can be reset. Accordingly, it is possible to prevent different offsets in each sensor 140 from being superimposed on the input signal due to mismatch between the threshold values of the input transistor 63 and the input transistor 64, and variation in amplification gain for the same input signal between the sensors 140 can be prevented. As a result, variations in sensor signal values between the sensors 140 can be suppressed.
  • the reset switch 141 may be connected in parallel with the capacitor 33 as in the third embodiment.
  • this indication can also take the following structures.
  • a readout electrode for reading the potential of the solution A differential amplifier having a current mirror circuit, and The read electrode is connected to a first input terminal of the differential amplifier connected to a gate of a first input transistor connected to a diode-connected transistor of the current mirror circuit; An output terminal of the differential amplifier is connected to a gate of a second input transistor connected to a non-diode-connected transistor of the current mirror circuit, and is connected to a second input terminal of the differential amplifier via a capacitor.
  • a semiconductor device configured to be connected to each other.
  • a readout electrode for reading out the action potential of the cells contained in the solution;
  • a differential amplifier having a current mirror circuit, and The read electrode is connected to a first input terminal of the differential amplifier connected to a gate of a first input transistor connected to a diode-connected transistor of the current mirror circuit;
  • An output terminal of the differential amplifier is connected to a gate of a second input transistor connected to a non-diode-connected transistor of the current mirror circuit, and is connected to a second input terminal of the differential amplifier via a capacitor.
  • Cell potential measuring device configured to be connected to each other.

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biotechnology (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Zoology (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Genetics & Genomics (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Microbiology (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Hematology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Urology & Nephrology (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Apparatus Associated With Microorganisms And Enzymes (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Measuring Or Testing Involving Enzymes Or Micro-Organisms (AREA)

Abstract

本開示は、溶液の電位を高精度で増幅して読み出すことができるようにする半導体装置および細胞電位測定装置に関する。 読み出し電極は、溶液の電位を読み出す。差動増幅器は、カレントミラー回路を有する。読み出し電極は、カレントミラー回路のダイオード接続されたpMOSトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、差動増幅器の第1の入力端子に接続される。差動増幅器の出力端子は、カレントミラー回路のダイオード接続されていないpMOSトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される。本開示は、例えば、細胞電位測定装置等に適用することができる。

Description

半導体装置および細胞電位測定装置
 本開示は、半導体装置および細胞電位測定装置に関し、特に、溶液の電位を高精度で増幅して読み出すことができるようにした半導体装置および細胞電位測定装置に関する。
 生体細胞を含む培養液内に微小電極をアレイ状に配置し、培養液の電位を電気化学的に計測することにより、生体細胞が発する活動電位を測定するデバイスが存在する(例えば、特許文献1参照)。
 このようなデバイスにおいて、近年、CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)集積回路技術を用いて、多数の電極、増幅器、A/D(Analog/Digital)変換器などを1つのチップにまとめ、多点で同時に電位を測定することが考案されている。
 多点で同時に電位を測定する方法としては、各読み出し電極を1つの増幅器に順に接続して測定する方法と、各読み出し電極を、読み出し電極と同数の各増幅器に接続して測定する方法とがある。
 前者の方法では、増幅器の数が1つで済むため、増幅器のサイズを大きくしてノイズを削減することができる。しかしながら、同時に測定可能な測定点の数(以下、同時測定点数という)は1つである。
 これに対して、後者の方法では、複数の増幅器を同時に動作させることにより、同時測定点数を複数にすることができる。しかしながら、読み出し電極の数だけ増幅器を用意する必要があるため、各増幅器のサイズが小さくなり、ノイズが大きくなる。以上のように、上述した方法では、ノイズと同時測定点数とがトレードオフになる。
 そこで、後者の方法において、増幅器の代わりに、溶液内の電位発生点から離れた位置に配置された参照電極と、電位発生点近傍に配置された読み出し電極との電位差を増倍して出力するオープンループ型の差動増幅器を設けることが考案されている。この場合、差動増幅器以降の回路において、ノイズが差動増幅器の増幅ゲインの逆数倍に抑制される。従って、差動増幅器のサイズが小さいことによるノイズの増大を抑制することができる。よって、同時測定点数の増加とノイズの抑制の両立を図ることができる。
特開2002-31617号公報
 しかしながら、オープンループ型の差動増幅器では、出力信号が入力信号として帰還しないため、増幅ゲインが大きくなり、動作する入力信号のレンジ(信号入力レンジ)が狭くなる。従って、溶液の電位を高精度で増幅して読み出すことは困難である。
 本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、溶液の電位を高精度で増幅して読み出すことができるようにするものである。
 本開示の第1の側面の半導体装置は、溶液の電位を読み出す読み出し電極と、カレントミラー回路を有する差動増幅器とを備え、前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続されるように構成された半導体装置である。
 本開示の第1の側面においては、溶液の電位を読み出す読み出し電極と、カレントミラー回路を有する差動増幅器とが備えられ、前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される。
 本開示の第2の側面の細胞電位測定装置は、溶液に含まれる細胞の活動電位を読み出す読み出し電極と、カレントミラー回路を有する差動増幅器とを備え、前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続されるように構成された細胞電位測定装置である。
 本開示の第2の側面においては、溶液に含まれる細胞の活動電位を読み出す読み出し電極と、カレントミラー回路を有する差動増幅器とが備えられ、前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される。
 本開示の第1および第2の側面によれば、溶液の電位を高精度で増幅して読み出すことができる。
 なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
本開示を適用した細胞電位測定装置の第1実施の形態の構成例を示す図である。 図1のセンサの構造例を示す図である。 図2の差動増幅器の詳細構成例を示す図である。 図3の差動増幅器における信号入力レンジを説明する図である。 本開示を適用した細胞電位測定装置の第2実施の形態の構成例を示すブロック図である。 図5のセンサの詳細構成例を示す図である。 本開示を適用した細胞電位測定装置の第3実施の形態におけるセンサの構成例を示す図である。
 以下、本開示を実施するための形態(以下、実施の形態という)について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
 1.第1実施の形態:細胞電位測定装置(図1乃至図4)
 2.第2実施の形態:細胞電位測定装置(図5および図6)
 3.第3実施の形態:細胞電位測定装置(図7)
 <第1実施の形態>
 (細胞電位測定装置の第1実施の形態の構成例)
 図1は、本開示を適用した細胞電位測定装置の第1実施の形態の構成例を示す図である。
 図1の細胞電位測定装置10は、センシング部11、センサ駆動線12、垂直信号線13、垂直選択回路14、A/D変換回路15、水平選択回路16、および出力端子17が、CMOS集積化技術を用いて図示せぬ半導体基板(チップ)に形成された半導体デバイス(半導体装置)である。
 細胞電位測定装置10のセンシング部11には、生体細胞を含む培養液の電気化学的電位を読み出すセンサ11Aが、アレイ状(行列状)に2次元配置される。また、センシング部11には、アレイ状のセンサ11Aに対して行ごとにセンサ駆動線12が形成され、列ごとに垂直信号線13が形成される。
 垂直選択回路14は、センシング部11の各センサ11Aを行単位等で駆動する。具体的には、垂直選択回路14の各行に対応した図示せぬ出力端には、センサ駆動線12の一端が接続されている。垂直選択回路14は、各センサ11Aからのセンサ信号を行単位で順に読み出すように、各行を順に選択し、選択行のセンサ駆動線12と接続する出力端から選択信号等を出力する。これにより、選択行のセンサ11Aは、培養液の電位の電気信号をセンサ信号として読み出し、垂直信号線13に供給する。
 A/D変換回路15は、センシング部11の列ごとに信号処理回路を有する。A/D変換回路15の各信号処理回路は、選択行の各センサから垂直信号線13を通して出力されるセンサ信号に対して、A/D変換処理等の信号処理を行う。A/D変換回路15は、水平選択回路16の選択走査にしたがって、選択された信号処理回路により得られた信号処理後のセンサ信号を、出力端子17を介して出力する。
 水平選択回路16は、A/D変換回路15の信号処理回路を順番に選択する。この水平選択回路16による選択走査により、A/D変換回路15の各信号処理回路で信号処理されたセンサ信号が順番に出力端子17に出力される。
 (センサの構造例)
 図2は、図1のセンサ11Aの構造例を示す図である。
 図2では、説明の便宜上、1行分のセンサ11Aのみが図示してある。
 図2に示すように、センサ11Aは、読み出し電極31、差動増幅器32、容量33、およびスイッチ34により構成される。
 図2のセンサ11Aの読み出し電極31は、生体細胞を含む培養液41の中に配置される。読み出し電極31は、培養液41の電位の電気信号を、培養液41に含まれる生体細胞の活動電位の電気信号として読み出す。
 差動増幅器32には、読み出し電極31から読み出された電気信号が入力信号として入力されるとともに、差動増幅器32から出力された出力信号が容量33を介して入力信号として入力される。差動増幅器32は、この2つの入力信号の電位差を増倍して出力信号として出力する。この出力信号は、容量33とスイッチ34に入力される。
 スイッチ34は、図1のセンサ駆動線12により入力される選択信号に基づいて、出力信号をセンサ信号として垂直信号線13に出力する。具体的には、スイッチ34は、選択信号が入力された場合、即ちセンサ11Aの行が選択行である場合、出力信号をセンサ信号として垂直信号線13に出力する。一方、選択信号が入力されない場合、即ちセンサ11Aの行が選択行ではない場合、スイッチ34は、出力信号をセンサ信号として垂直信号線13に出力しない。
 (差動増幅器の詳細構成例)
 図3は、図2の差動増幅器32の詳細構成例を示す図である。
 図3の差動増幅器32は、ダイオード接続されたpMOSトランジスタ61とpMOSトランジスタ62からなるカレントミラー回路を負荷抵抗とする差動増幅器である。具体的には、差動増幅器32は、pMOSトランジスタ61、pMOSトランジスタ62、nMOSトランジスタからなる入力トランジスタ63および入力トランジスタ64、定電流源65、入力端子66、入力端子67、並びに出力端子68により構成される。
 pMOSトランジスタ61は入力トランジスタ63と直列に接続され、pMOSトランジスタ62は入力トランジスタ64と直列に接続される。また、pMOSトランジスタ61とpMOSトランジスタ62は電源電位VDDに接続され、入力トランジスタ63と入力トランジスタ64は、定電流源65を介してアース電位VSSに接続される。
 入力トランジスタ63と入力トランジスタ64のうちの、ダイオード接続されたpMOSトランジスタ61と接続する、増幅ゲインがかからない入力トランジスタ63のゲートには、読み出し電極31と接続する入力端子66が接続される。また、ダイオード接続されていないpMOSトランジスタ62と接続する、増幅ゲインがかかる入力トランジスタ64のゲートには、容量33を介して出力端子68と接続する入力端子67が接続される。これにより、差動増幅器32の出力信号を入力信号として帰還させる閉ループが形成される。また、出力端子68は、pMOSトランジスタ62と入力トランジスタ64との接続点に接続される。
 以上のように、差動増幅器32は、出力信号を入力信号として帰還させる閉ループを形成する。従って、オープンループ型の差動増幅器に比べて、増幅ゲインを抑制し、信号入力レンジを広くすることができる。
 また、差動増幅器32では、読み出し電極31と入力トランジスタ63と間に何等の回路も挿入されないため、入力信号に1以下の増幅ゲインがかからず、S/N(Signal/Noise)が劣化しない。
 これに対して、読み出し電極31と入力トランジスタ63と間に何等かの回路が挿入される場合、入力信号に1以下の増幅ゲインがかり、S/Nが劣化する。従って、S/Nの劣化を防止するために、大きな容量を読み出し電極31の近傍に配置する必要がある。よって、読み出し電極31間のピッチを縮小し、センサ11Aの数、即ち同時測定点数を増加させることが困難である。
 また、差動増幅器32は、出力信号が読み出し電極31に帰還されないため、出力信号の帰還による読み出し電極31の電位の変動が、生体細胞の活動に影響を及ぼし、正確な活動電位を測定することができなくなることを防止することができる。
 なお、差動増幅器32においても、入力トランジスタ63のゲートとドレインの間の寄生容量によって、出力信号が読み出し電極31に帰還する可能性はある。しかしながら、入力トランジスタ63は、増幅ゲインがかからない入力トランジスタであるため、帰還による読み出し電極31の電位の変動は小さい。
 (信号入力レンジの説明)
 図4は、図3の差動増幅器32における信号入力レンジを説明する図である。
 図4のグラフにおいて、横軸は、入力端子66に入力される入力信号の電位Vin(+)と入力端子67に入力される入力信号の電位Vout(-)の電位差を示し、縦軸は、差動増幅器の増幅ゲインを示す。また、実線は、各電位差に対する差動増幅器32の増幅ゲインを示し、点線は、各電位差に対するオープンループ型の差動増幅器の増幅ゲインを示す。
 図4の点線で示すように、オープンループ型の差動増幅器では、増幅ゲインが大きくなり、信号入力レンジr´が狭くなる。これに対して、差動増幅器32は、閉ループを形成するため、差動増幅器32では、図4の実線で示すように、増幅ゲインが小さくなり、信号入力レンジrが、信号入力レンジr´に比べて広くなる。その結果、差動増幅器32は、入力信号の電位差を高精度で増幅することができる。即ち、読み出し電極31により読み出された培養液41の電位の電気信号を高精度で増幅することができる。
 <第2実施の形態>
 (細胞電位測定装置の第2実施の形態の構成例)
 図5は、本開示を適用した細胞電位測定装置の第2実施の形態の構成例を示すブロック図である。
 図5に示す構成のうち、図1の構成と同じ構成には同じ符号を付してある。重複する説明については適宜省略する。
 図5の細胞電位測定装置100の構成は、センサ11Aの代わりにセンサ101が設けられる点、および、参照電極102が新たに設けられる点が、図1の細胞電位測定装置10の構成と異なる。細胞電位測定装置100では、センサ101に読み出し電極31の電位の電気信号だけでなく、参照電極102の電位の電気信号も入力される。
 具体的には、細胞電位測定装置100のセンサ101は、読み出し電極31の電位の電気信号と参照電極102の電位の電気信号を用いて、センサ信号を生成する。参照電極102は、培養液内の生体細胞から離れた位置に配置され、培養液の基準電位を読み出す。参照電極102は、読み出された基準電位の電気信号を各センサ101に供給する。
 (差動増幅器の詳細構成例)
 図6は、図5のセンサ101の詳細構成例を示す図である。
 図6に示す構成のうち、図3の構成と同じ構成には同じ符号を付してある。重複する説明については適宜省略する。
 図5のセンサ101の構成は、入力端子67に容量121を介して参照電極102が接続される点が、センサ11Aの構成と異なる。
 センサ101では、入力端子67に容量121を介して参照電極102が接続されるので、差動増幅器32は、読み出し電極31と参照電極102に同相で混入するノイズ成分をキャンセルすることができる。その結果、差動増幅器32から出力される出力信号のノイズを低減することができる。
 <第3実施の形態>
 (細胞電位測定装置の第3実施の形態におけるセンサの構成例)
 本開示を適用した細胞電位測定装置の第3実施の形態の構成は、センサの構成を除いて、図5の細胞電位測定装置100と同一であるので、以下では、センサの構成についてのみ説明する。
 図7は、本開示を適用した細胞電位測定装置の第3実施の形態におけるセンサの構成例を示す図である。
 図7に示す構成のうち、図6の構成と同じ構成には同じ符号を付してある。重複する説明については適宜省略する。
 図7のセンサ140の構成は、出力端子68と入力端子67の間に、容量33と並列にリセットスイッチ141が接続される点が、図6のセンサ101の構成と異なる。
 リセットスイッチ141は、図示せぬ制御回路から供給されるリセット信号Resetに基づいて、出力端子68と入力端子67を短絡する。これにより、差動増幅器32のpMOSトランジスタ61側とpMOSトランジスタ62側の電流を釣り合わせ、入力信号の電位差がゼロ(Vin(+)-Vin(-)=0)の状態を参照電極102の入力電圧としてサンプルホールドすることができる。
 即ち、入力トランジスタ63と入力トランジスタ64の閾値のミスマッチをキャンセルし、差動増幅器32の動作点をリセットすることができる。従って、入力トランジスタ63と入力トランジスタ64の閾値のミスマッチにより各センサ140で異なるオフセットが入力信号に重畳され、センサ140間で同一の入力信号に対する増幅ゲインがばらつくことを防止することができる。その結果、センサ140間のセンサ信号の値のばらつきを抑制することができる。
 なお、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、他の効果があってもよい。
 また、本開示の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
 例えば、第1実施の形態において、第3実施の形態と同様に、容量33と並列にリセットスイッチ141が接続されるようにしてもよい。
 なお、本開示は、以下のような構成もとることができる。
 (1)
 溶液の電位を読み出す読み出し電極と、
 カレントミラー回路を有する差動増幅器と
 を備え、
 前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、
 前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される
 ように構成された
 半導体装置。
 (2)
 前記第2の入力端子には、前記溶液の基準電位を読み出す参照電極が接続される
 ように構成された
 前記(1)に記載の半導体装置。
 (3)
 前記第2の入力端子には、前記参照電極が容量を介して接続される
 ように構成された
 前記(2)に記載の半導体装置。
 (4)
 前記出力端子と前記第2の入力端子の間には、前記容量と並列にスイッチが接続される
 ように構成された
 前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の半導体装置。
 (5)
 前記出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと前記第2の入力トランジスタとの接続点に接続される
 ように構成された
 前記(1)乃至(4)のいずれかに記載の半導体装置。
 (6)
 前記読み出し電極はアレイ状に配置される
 ように構成された
 前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の半導体装置。
 (7)
 溶液に含まれる細胞の活動電位を読み出す読み出し電極と、
 カレントミラー回路を有する差動増幅器と
 を備え、
 前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、
 前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される
 ように構成された
 細胞電位測定装置。
 10 細胞電位測定装置, 31 読み出し電極, 32 差動増幅器, 33 容量, 41 培養液, 61,62 pMOSトランジスタ, 63,64 入力トランジスタ, 66,67 入力端子, 68 出力端子, 100 細胞電位測定装置, 102 参照電極, 121 容量, 141 リセットスイッチ

Claims (7)

  1.  溶液の電位を読み出す読み出し電極と、
     カレントミラー回路を有する差動増幅器と
     を備え、
     前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、
     前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される
     ように構成された
     半導体装置。
  2.  前記第2の入力端子には、前記溶液の基準電位を読み出す参照電極が接続される
     ように構成された
     請求項1に記載の半導体装置。
  3.  前記第2の入力端子には、前記参照電極が容量を介して接続される
     ように構成された
     請求項2に記載の半導体装置。
  4.  前記出力端子と前記第2の入力端子の間には、前記容量と並列にスイッチが接続される
     ように構成された
     請求項1に記載の半導体装置。
  5.  前記出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと前記第2の入力トランジスタとの接続点に接続される
     ように構成された
     請求項1に記載の半導体装置。
  6.  前記読み出し電極はアレイ状に配置される
     ように構成された
     請求項1に記載の半導体装置。
  7.  溶液に含まれる細胞の活動電位を読み出す読み出し電極と、
     カレントミラー回路を有する差動増幅器と
     を備え、
     前記読み出し電極は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されたトランジスタと接続する第1の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第1の入力端子に接続され、
     前記差動増幅器の出力端子は、前記カレントミラー回路のダイオード接続されていないトランジスタと接続する第2の入力トランジスタのゲートに接続される、前記差動増幅器の第2の入力端子に、容量を介して接続される
     ように構成された
     細胞電位測定装置。
PCT/JP2017/021193 2016-06-21 2017-06-07 半導体装置および細胞電位測定装置 WO2017221714A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/307,214 US10866211B2 (en) 2016-06-21 2017-06-07 Semiconductor device and cell potential measuring apparatus
CN201780036689.5A CN109313158B (zh) 2016-06-21 2017-06-07 半导体装置和细胞电位测量设备
JP2018523695A JP6919651B2 (ja) 2016-06-21 2017-06-07 半導体装置および細胞電位測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-122563 2016-06-21
JP2016122563 2016-06-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017221714A1 true WO2017221714A1 (ja) 2017-12-28

Family

ID=60783845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/021193 WO2017221714A1 (ja) 2016-06-21 2017-06-07 半導体装置および細胞電位測定装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10866211B2 (ja)
JP (1) JP6919651B2 (ja)
CN (1) CN109313158B (ja)
WO (1) WO2017221714A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11828741B2 (en) * 2018-06-01 2023-11-28 The Johns Hopkins University Sensor that detects an analyte in the presence of an interfering stimulus

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114324538A (zh) * 2021-12-31 2022-04-12 上海天马微电子有限公司 检测器件及其检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0372368U (ja) * 1989-11-20 1991-07-22
EP1278064A1 (en) * 2001-07-18 2003-01-22 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA High-density microelectrode arrangement
WO2005080956A1 (ja) * 2004-02-20 2005-09-01 Tanita Corporation 塩素計
JP2012093244A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Hiroo Imamura 物理量検出回路、及び物理量検出方法
JP2015052609A (ja) * 2009-09-30 2015-03-19 ベーリンガー インゲルハイム フェトメディカ ゲーエムベーハーBoehringer Ingelheim Vetmedica GmbH マイクロセンサを用いた測定装置
JP2015206604A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 新日本無線株式会社 電気化学計測装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11187865A (ja) * 1997-12-25 1999-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 細胞電位測定電極及びこれを用いた測定装置
JP3909738B2 (ja) 2000-07-13 2007-04-25 松下電器産業株式会社 細胞外記録用一体化複合電極
JP4673747B2 (ja) 2003-11-14 2011-04-20 株式会社タニタ 水質計
US8025779B2 (en) * 2003-11-14 2011-09-27 Tanita Corporation Water quality analyzer
JP5688731B2 (ja) * 2010-12-10 2015-03-25 国立大学法人徳島大学 静電容量型水分計および水位計
US9351653B1 (en) * 2012-11-29 2016-05-31 Intan Technologies, LLC Multi-channel reconfigurable systems and methods for sensing biopotential signals
EP2974034B1 (en) * 2013-03-15 2021-07-14 Alfred E. Mann Foundation for Scientific Research High voltage monitoring successive approximation analog to digital converter
US9071209B1 (en) * 2013-07-26 2015-06-30 Intan Technologies, LLC Systems and methods for a current sensing patch-clamp amplifier
JP5850121B2 (ja) * 2014-10-07 2016-02-03 セイコーエプソン株式会社 物理量測定装置及び電子機器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0372368U (ja) * 1989-11-20 1991-07-22
EP1278064A1 (en) * 2001-07-18 2003-01-22 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA High-density microelectrode arrangement
WO2005080956A1 (ja) * 2004-02-20 2005-09-01 Tanita Corporation 塩素計
JP2015052609A (ja) * 2009-09-30 2015-03-19 ベーリンガー インゲルハイム フェトメディカ ゲーエムベーハーBoehringer Ingelheim Vetmedica GmbH マイクロセンサを用いた測定装置
JP2012093244A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Hiroo Imamura 物理量検出回路、及び物理量検出方法
JP2015206604A (ja) * 2014-04-17 2015-11-19 新日本無線株式会社 電気化学計測装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11828741B2 (en) * 2018-06-01 2023-11-28 The Johns Hopkins University Sensor that detects an analyte in the presence of an interfering stimulus

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2017221714A1 (ja) 2019-04-11
CN109313158A (zh) 2019-02-05
CN109313158B (zh) 2021-09-17
JP6919651B2 (ja) 2021-08-18
US10866211B2 (en) 2020-12-15
US20190293597A1 (en) 2019-09-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2755814T3 (es) Sensor de visión de contraste temporal basado en muestreos y retenciones
JP5175168B2 (ja) 電流サンプリング方法と回路
JP4351632B2 (ja) センサ配置およびセンサ配置の駆動方法
CN104852697B (zh) 改善共模抑制比的装置和方法
JP6164797B2 (ja) 信号受信部テスト回路、撮像装置、信号受信部テスト方法、撮像装置のテスト方法
US20130082936A1 (en) Sensor array with high linearity
JP2009014386A (ja) 温度検出回路
US20170123010A1 (en) Semiconductor device and a method for measuring a cell voltage
CN105490651B (zh) 半导体集成电路、可变增益放大器以及传感系统
CN107005659B (zh) 放射线检测器
US20140320685A1 (en) Imaging apparatus and imaging system
WO2017221714A1 (ja) 半導体装置および細胞電位測定装置
WO2009096192A1 (ja) バッファ回路及びそれを備えたイメージセンサチップ並びに撮像装置
US20140333289A1 (en) Current detection device for multi-sensor array
JP2007221429A (ja) 演算増幅器
WO2021251155A1 (ja) 半導体装置及び細胞電位測定装置
Chen et al. A high dynamic range CMOS readout chip for electrochemical sensors
US20140070074A1 (en) Semiconductor integrated circuit and image sensor
US8416021B2 (en) Amplifier circuit
Kern et al. A low-power, offset-corrected potentiostat for chemical imaging applications
US20230333040A1 (en) Potential measuring device
US20230392991A1 (en) Complementary metal-oxide-semiconductor temperature sensor with wide-range sensing capability and high energy-efficiency
Mulberry et al. A half-shared transimpedance amplifier architecture for high-throughput CMOS bioelectronics
KR101324218B1 (ko) 산소 및 과산화수소 기반의 전기화학 당뇨센서를 위한 정전압분극장치
JP2008283284A (ja) Ad変換器

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2018523695

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17815183

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 17815183

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1