WO2017200146A1 - 반도체용 프로브핀 케이스 - Google Patents

반도체용 프로브핀 케이스 Download PDF

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홍성천
최병철
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(주)파인디앤씨
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Definitions

  • the present invention relates to a probe pin case for a semiconductor, and more particularly, to a case capable of accommodating and managing ultra-fine microfabricated probe pins for mounting on a probe used in semiconductor testing.
  • a probe is used to inspect electrical characteristics before packaging a semiconductor.
  • Probe pins applied to such a probe is subjected to ultra-precision micromachining in order to contact the precise measurement and the fine contact.
  • a plurality of probe pins are stored in a glass bottle or the like when stored, and when applied to the probe, the probe pins are gripped using a gripping means such as tweezers and then mounted on the probe.
  • the magnetic force is generated in a plurality of probe pins are vulnerable to static electricity that may occur during operation, there was a difficult problem to apply to the probe by extracting the individual probe pins.
  • the present invention is to provide a probe pin case for a semiconductor that can prevent damage to the ultra-fine micro-processed probe pins, and easily determine the quantity of water in order to overcome the problems described above as the technical problem of the present invention.
  • a probe coupled to one side of the tray (1) and the side of the tray (1) to be interposed by placing a plurality of probe pins individually It is to provide a probe pin case for a semiconductor, characterized in that the cover 2 is configured to prevent the pin from being lost to the outside.
  • FIG. 1 is a perspective view of the present invention.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view of the tray 1 according to the invention.
  • FIG. 4 is a side sectional view of the tray 1 according to the invention.
  • FIG. 5 is an exemplary view showing an implementation of the present invention.
  • the rail jaw (11) is formed at both ends to form a bent portion that is bent inward from the outside, and formed as described above is located between the pair of rail jaw (11) arranged to face each other of the tray (1)
  • a gauge 14 for determining the number of probe pins in the transverse direction is further formed at a central portion of one side of the tray 1, and a plurality of pin receiving portions 13 formed on one side of the tray 1.
  • a transverse groove 15 is further formed in the center of the tweezers and the tip of the gripping means to be located outside the probe pin (4) to facilitate the operator's work.
  • a locking protrusion 12 for preventing the cover 2 from leaving the tray 1 is further formed.
  • a locking groove 21 corresponding to the locking protrusion 12 is further formed, and the tray 1 and the cover 2 are formed of a transparent material to be provided inside. It is to provide a probe pin case for a semiconductor, characterized in that the number of probe pins 4 and the appearance inspection is possible.
  • FIG. 1 is a perspective view of the present invention
  • FIG. 2 is an exploded perspective view of the present invention
  • FIG. 3 is a plan view of the tray 1 according to the present invention
  • FIG. 4 is a side cross-sectional view of the tray 1 according to the present invention
  • 5 is an exemplary view showing an implementation of the present invention.
  • the probe pin case for a semiconductor of the present invention is a cover coupled to the tray (1) and the upper opening of the tray (1) interpolating and holding the probe pin (3) It consists of (2).
  • the plurality of probe pins 3 are individually disposed to interpose and the tray 1 is coupled to one side of the tray 1 to prevent the interpolated probe pins from being lost to the outside. It consists of the cover 2 which can be made.
  • the tray (1) and the cover (2) is formed of a transparent material, it is possible to determine the loading amount of the probe pin provided on the inside, it is possible to perform the appearance inspection of the ultra-fine micro-processed probe pin.
  • This external inspection of the probe pin can be carried out using a separate enlargement device, etc.
  • the external inspection of the individual probe pins It is to overcome the difficult to implement, and to prevent the tip portion from being damaged by friction due to a plurality of probe pins.
  • the tray 1 as described above is formed at both ends of the rail jaw (11) forming a bent portion bent inward from the outer side, and is formed between the pair of rail jaw 11 formed so as to face each other
  • the gauge 14 is formed in the transverse direction in the center.
  • a lateral groove 15 is provided at the center of the plurality of pin receiving portions 13 formed on one side of the tray 1, so that the tips of the tweezers and the gripping means can be located outside the probe pin 3. More is formed.
  • the lateral groove 15 as described above is formed by etching the plurality of pin receiving portion 13 in the lateral direction.
  • the rail jaw (11) is provided with a bent portion bent in the inward direction from the outside of the tray 1, respectively disposed on both sides, the bent portion formed to face the cover 2 is coupled to the tray (1) The side of is to be interpolated to each rail jaw (11).
  • a locking protrusion 12 is further formed at one end of the tray 1 to prevent the cover 2 coupled to the tray 1 from being pushed out.
  • the pin receiving portion 13 is formed by etching from the surface to the inner side so that the probe pin can be interpolated in the longitudinal direction of the tray 1, the plurality of pin receiving portion 13 formed as described above is the tray (1) Is formed in the transverse direction.
  • the plurality of pin receiving portions 13 formed as described above are disposed to correspond to both sides with respect to the gauge 14 formed at the center of the tray 1.
  • the gauge 14 is to determine the number of the pin receiving portion 13, it is possible to determine the number of the probe pin (3) is inserted into the pin receiving portion (13).
  • Cover 2 is coupled to one side of the tray 1 as described above is formed in a flat plate shape is formed so that both ends of the rail jaw 11 is interleaved and slide along the rail jaw (11).
  • the probe pin 3 is to prevent the loss to the outside.
  • the cover 2 is formed to be slid to prevent the probe pin 3 from spilling, which may occur when the cover 2 is opened upward.
  • a locking groove 21 corresponding to the locking protrusion 12 is further formed on one side of the cover 2.
  • the semiconductor probe pin case of the present invention can be completed.
  • the present invention it is possible to prevent breakage of the semiconductor probe pins and to easily grasp the remaining quantity of the fine probe pins, thereby enabling application in a semiconductor inspection-related industrial field.

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Abstract

본 발명은 반도체용 프로브핀 케이스에 관한 것으로, 반도체 테스트시 사용되는 프로브에 장착하기 위해, 초정밀 미세가공한 프로브핀을 수용하고 관리할 수 있는 케이스에 관한 것이다. 이를 위해 복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공하게 된다.

Description

반도체용 프로브핀 케이스
본 발명은 반도체용 프로브핀 케이스에 관한 것으로, 반도체 테스트시 사용되는 프로브에 장착하기 위해, 초정밀 미세가공한 프로브핀을 수용하고 관리할 수 있는 케이스에 관한 것이다.
일반적으로 반도체를 검사하기 위해서는 프로브를 이용하여 반도체의 패키징 작업전에 전기적인 특성 등에 대하여 검사를 시행하게 된다.
상기와 같은 프로브에 적용되는 프로브핀은 정밀한 측정 및 미세한 접점에 접촉하기 위해 초정밀 미세가공을 하게 된다.
이와 같은 프로브핀의 특성에 의해 보관시 복수개의 프로브핀을 유리병 등에 담지하여 보관하게 되고, 프로브에 적용시 핀셋 등의 파지수단을 이용하여 파지한 후 프로브에 장착하게 된다.
그러나, 복수개의 프로브핀을 단순히 유리병 등에 보관하게 때문에 각각의 프로브핀의 접촉 및 마찰 등에 의해 팁부분이 파손되거나, 미세한 크기로 인하여 작업 후 남아있는 수량의 파악도 어려워 재고 관리가 난해한 문제가 있었다.
또한, 작업시 발생할 수 있는 정전기 등에 취약하여 복수개의 프로브핀에 자력이 발생하여 개개의 프로브핀을 적출하여 프로브에 적용하기에 난해한 문제가 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 극복하기 위해, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 파손을 방지하고, 수량파악을 용이하게 할 수 있는 반도체용 프로브핀 케이스을 제공하는 것을 본 발명의 기술적 과제로 한다.
본 발명의 기술적 과제를 해결하기 위한 반도체용 프로브핀 케이스에 있어서, 복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공하게 된다.
본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 제공함으로써, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 파손을 방지하고, 수량파악을 용이하게 할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 전개사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 트레이(1)의 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 트레이(1)의 측단면도이다.
도 5는 본 발명의 실시를 도시한 예시도이다.
본 발명의 실시를 위한 최선의 형태로는 복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공하게 된다.
이때, 양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)을 형성하여 프로브핀을 수용할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 핀수용부(13)가 형성되는 일측면에 슬라이딩 되도록 결합되는 커버(2)로 구성되도록 한다.
또한, 상기 트레이(1)의 일측면 중앙부에 횡측방향으로 프로브핀의 수를 파악하기 위한 게이지(14)가 더 형성되며, 상기 트레이(1)의 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(4)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성되어 작업자의 작업이 용이하도록 한다.
또한, 상기 트레이(1)의 일측 단부에는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)와 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하지 않도록 하기 위한 걸림돌기(12)가 더 형성되고, 상기 커버(2)의 단부에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성되도록 하며, 상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성하여 내측에 구비되는 프로브핀(4)의 갯수파악 및 외관검사가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스를 제공하게 된다.
이하에서 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 당업자가 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 전개사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 트레이(1)의 평면도이고, 도 4는 본 발명에 따른 트레이(1)의 측단면도이며, 도 5는 본 발명의 실시를 도시한 예시도이다.
도 1 내지 도 5를 참조하여 상세하게 설명하면, 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스는 프로브핀(3)을 내삽하여 보관하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 상측 개방구에 결합되는 커버(2)로 구성된다.
보다 상세하게 설명하면, 복수개의 프로브핀(3)을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것이다.
이때, 상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성되어, 내측에 구비되는 프로브핀의 적재량을 파악할 수 있으며, 초정밀 미세가공한 프로브핀의 외관검사를 시행할 수 있도록 한다.
이와 같은 프로브핀의 외관검사는 별도의 확대장치 등을 이용하여 시행할 수 있는데, 기존의 유리병 등을 이용한 보틀링 보관법에 의해 하나의 보틀에 복수개의 프로브핀이 담겨질 때 개개의 프로브핀의 외관검사를 시행하기 어려운 점을 극복하기 위한 것이며, 복수개의 프로브핀에 의한 마찰 등으로 팁부분이 파손되는 것을 방지할 수 있도록 하기 위한 것이다.
상기와 같은 트레이(1)는 양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)을 형성하며, 중앙부에 횡측방향으로 게이지(14)를 형성하게 된다.
또한, 상기 트레이(1)의 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(3)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성된다.
상기와 같은 횡측홈(15)은 복수개의 핀수용부(13)를 횡측방향으로 식각하여 형성되도록 한다.
이때, 상기 레일턱(11)은 트레이(1)의 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 구비하도록 하되, 양측면에 각각 배치되고, 절곡부가 마주보도록 형성하여 트레이(1)에 결합되는 커버(2)의 측면이 각각의 레일턱(11)에 내삽되도록 하는 것이다.
또한, 상기 트레이(1)의 일측단부에는 걸림돌기(12)가 더 형성되어, 트레이(1)에 결합되는 커버(2)가 밀려나가는 것을 방지하도록 한다.
보다 상세하게 설명하면, 트레이(1)의 측면에 형성되는 레일턱(11)에 커버(2)가 내삽된 후 트레이(1)의 일측면에 형성되는 핀수용부(13)의 개방된 부분을 밀폐시키게 되는 것이다.
이때, 상기 핀수용부(13)는 트레이(1)의 종측방향으로 프로브핀이 내삽될 수 있도록 표면에서 내측으로 식각되어 형성되며, 상기와 같이 형성된 핀수용부(13) 복수개가 트레이(1)의 횡측방향으로 배치되어 형성된다.
상기와 같이 형성된 복수개의 핀수용부(13)는 트레이(1)의 중앙에 형성되는 게이지(14)를 중심으로 양측에 대응되도록 배치되어 형성된다.
이때, 상기 게이지(14)는 핀수용부(13)의 갯수를 확인할 수 있도록 하는 것이며, 핀수용부(13)에 내삽되어 구비되는 프로브핀(3)의 갯수를 파악할 수 있도록 한다.
상기와 같은 트레이(1)의 일측면에 결합되는 커버(2)는 평판형상으로 형성되어 레일턱(11)에 양측 단부가 각각 내삽되어 레일턱(11)을 따라 슬라이딩 될 수 있도록 형성된다.
이는 작업공정간 작업자에 의해 트레이(1)의 핀수용부(13)에 내삽되는 프로브핀(3)을 적재 또는 추출하여 사용하기 용이하도록 하며, 트레이(1)의 이동 또는 보관시 내측에 구비되는 프로브핀(3)이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있도록 하는 것이다.
보다 상세하게 설명하면, 상기와 같이 커버(2)를 슬라이딩 되도록 형성하여 상측방향으로 개방할 경우 발생될 수 있는 프로브핀(3)의 쏟아짐을 방지하게 되는 것이다.
이때, 상기 커버(2)의 일측에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성된다.
이는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)에 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하는 것을 방지하기 위한 것이다.
상기와 같은 방법에 의해 본 발명의 반도체용 프로브핀 케이스를 완성할 수 있는 것이다.
본 발명에 의하면, 반도체용 프로브핀의 파손을 방지하고 미세한 프로브핀의 잔존 수량을 파악하기 용이하여 반도체 검사관련 산업분야에서의 적용이 가능하다.

Claims (6)

  1. 반도체용 프로브핀 케이스에 있어서,
    복수개의 프로브핀을 개별로 배치하여 내삽할 수 있도록 하는 트레이(1)와 상기 트레이(1)의 일측면에 결합되어 내삽된 프로브핀이 외부로 유실되는 것을 방지할 수 있는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
  2. 제 1항에 있어서,
    양측 단부에는 외측에서 내측방향으로 절곡된 절곡부를 형성하는 레일턱(11)이 형성되고, 상기와 같이 형성되어 마주보도록 배치되는 한쌍의 레일턱(11) 사이에 위치하도록 트레이(1)의 일측면상에 복수개의 핀수용부(13)을 형성하여 프로브핀을 수용할 수 있도록 하는 트레이(1);와
    상기 트레이(1)의 핀수용부(13)가 형성되는 일측면에 슬라이딩 되도록 결합되는 커버(2)로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 트레이(1)의 일측면 중앙부에 횡측방향으로 프로브핀의 수를 파악하기 위한 게이지(14)가 더 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 트레이(1)의 일측면상에 형성되는 복수개의 핀수용부(13)의 중심부에는 핀셋과 파지수단의 팁이 프로브핀(4)의 외측에 위치할 수 있도록 하는 횡측홈(15)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
  5. 제 2항에 있어서,
    상기 트레이(1)의 일측 단부에는 커버(2)를 슬라이딩시켜 트레이(1)와 결합할 때, 커버(2)가 트레이(1)를 이탈하지 않도록 하기 위한 걸림돌기(12)가 더 형성되고, 상기 커버(2)의 단부에는 상기 걸림돌기(12)에 대응하는 걸림홈(21)이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
  6. 제 1항 내지 제 5항 중 어느 한항에 있어서,
    상기 트레이(1)와 커버(2)는 투명재질로 형성하여 내측에 구비되는 프로브핀(4)의 갯수파악 및 외관검사가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체용 프로브핀 케이스.
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