WO2017168737A1

WO2017168737A1 - 欠陥画像表示制御装置及びプログラム

Info

Publication number: WO2017168737A1
Application number: PCT/JP2016/060862
Authority: WO
Inventors: 達也永野; 満寿夫友池; 吉田　秀智; 昌弘大矢
Original assignee: 株式会社ニコン・トリンブル
Priority date: 2016-03-31
Filing date: 2016-03-31
Publication date: 2017-10-05
Also published as: JP6569002B2; JPWO2017168737A1

Abstract

検出された結果が正しいか否かの確認や、検出された結果に漏れがないことの確認等が望まれる。欠陥画像表示制御装置は、構造物の外観に現れた欠陥を含み、かつ、オルソ補正処理された外観画像を、表示部に表示させる表示制御部であって、前記構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示すオブジェクトを前記外観画像の一部に重ね、かつ、前記表示部に表示されている前記外観画像の中で異なる複数の位置にオブジェクトを表示可能である前記表示制御部を備える。

Description

欠陥画像表示制御装置及びプログラム

　本発明は、欠陥画像表示制御装置及びプログラムに関する。

　特許文献１には、コンクリート構造物の外観に現れたひびを、測量機が備えた超望遠のカメラで撮像し、撮像画像を画像解析することにより、微細なひびを検出する装置が記載されている。

特開２００９－５３１２６号公報

　特許文献１のような技術には、検出された結果が正しいか否かの確認や、検出された結果に漏れがないことの確認等に有用な技術が求められている。

　本発明の一態様によれば、構造物の外観に現れた欠陥を含み、かつ、オルソ補正処理された外観画像を、表示部に表示させる表示制御部であって、前記構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示すオブジェクトを前記外観画像の一部に重ね、かつ、前記表示部に表示されている前記外観画像の中で異なる複数の位置にオブジェクトを表示可能とする前記表示制御部を備える欠陥画像表示制御装置が提供される。

　本発明の他の態様によれば、構造物の外観に現れた欠陥を含み、かつ、オルソ補正処理された外観画像を、表示部に表示させる表示制御ステップであって、前記構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示すオブジェクトを前記外観画像の一部に重ね、かつ、前記表示部に表示されている前記外観画像の中で異なる複数の位置にオブジェクトを表示可能とする前記表示制御ステップを実行するプログラムが提供される。

欠陥検出システムの構成を示す図。測量機の正面図。測量機の背面図。測量機の底面図。測量機のシステム構成を示すブロック図。欠陥画像表示制御装置のブロック図。（ａ）は、測定面と測定範囲の関係を示す図、（ｂ）は、測定面と測定範囲と撮像範囲の関係を示す図。構造物の欠陥検出の手順を示すフローチャート。器械設置を説明する図。デジタル画像上の任意の画素の座標データを説明する図。測定面が鉛直面であるときの定義方法を示す図。（ａ）及び（ｂ）は、測量機と正対していない測定範囲を指定する方法を示す図。測量機の水平軸周りの回転駆動の範囲を説明する図。第１撮像部による自動測定の手順を説明するフローチャート。鉛直面の測定範囲をタイル状に自動測定する状態を説明する図。欠陥の一例である欠陥の検出及び測定をする手順を示すフローチャート。（ａ）は、欠陥を有する外観画像を示す図、（ｂ）は、欠陥に対して強調表示処理を施した外観画像を示す図、（ｃ）は、欠陥をセグメントに分けセグメント毎に強調表示処理を施した外観画像を示す図。欠陥画像表示制御装置の表示部に表示された画面の一例を示す図。図１８に示した画面に次ぐ表示状態を示す図。連続する複数のセグメントを選択した状態の画面を示す図。非連続な複数のセグメントを選択した状態の画面を示す図。（ａ）は、オルソ補正前を示し図、（ｂ）は、オルソ補正処理後を示す図。スティッチング処理された全体外観画像を示す図。編集する外観画像データを欠陥画像表示制御装置の表示部に表示した画面を示す図。欠陥の追加作業を行う編集画面を示す図。図２５の外観画像を拡大し欠陥の追加作業を行うときの編集画面を示す図。欠陥の位置を選択し欠陥幅データを入力するまでの手順を示すフローチャートであり、（ａ）は、欠陥の一方の端点と他方の端点を選択した後、欠陥幅データを入力する例を示すフローチャート、（ｂ）は、欠陥の一方の端点を選択した後、欠陥幅データを入力し、その後、他方の端点を選択する例を示すフローチャート、（ｃ）は、欠陥幅データを入力してから欠陥の一方の端点と他方の端点を選択する例を示すフローチャート。欠陥幅データの候補値が列挙されたメニューボックスが表示された編集画面を示す図。欠陥の幅の幅方向における二点を指定して幅を計測する編集画面を示す図。欠陥の編集履歴が表示された編集画面を示す図。外観画像の拡大に合わせてガイドオブジェクトの図形部も拡大された状態を示す図。外観画像が拡大又は縮小しない場合に、ガイドオブジェクトの図形部を拡大又は縮小する画面を示す図。欠陥の位置を選択したときに自動的に欠陥幅データを入力する手順を示すフローチャートであり、（ａ）は、欠陥の一方の端点を選択したときに欠陥幅データを自動的に入力する例を示すフローチャート、（ｂ）は、欠陥の他方の端点を選択したときに欠陥幅データを自動的に入力する例を示すフローチャート。（ａ）～（ｊ）は、ガイドオブジェクトを構成する図形部の変形例を示す図。

　以下、構造物の外観に現れた欠陥を検出する欠陥検出システムを説明する。
　図１に示すように、欠陥検出システムは、測量機１と、欠陥画像表示制御装置５０とを備えている。一例として、測量機１は、測量対象物を測量する機器であり、測量対象物との角度と、測量対象物との距離とを計測する。一例として、測量機１は、距離を測る光波測距儀と、角度を測るセオドライトとを組み合わせた機器である。一例として、測量機１は、測量対象物との角度と、測量対象物との距離とを同時に計測する機器である。一例として、測量機１は、トータルステーションである。一例として、測量対象物は、プリズム方式を採用している場合、プリズム、ミラー、レフシート等の反射プリズムで構成された第１ターゲットである。なお、測量対象物は、測標、目標物と呼ぶ場合がある。

　一例として、測量機１は、プリズム、ミラー、レフシート等の反射プリズムを使用しないノンプリズム方式を採用している。ノンプリズム方式では、測量対象物に直接レーザー等の測距光を照射し、測定面で反射した戻りの反射光を検出して測量対象物の測定面との距離を計測する。ノンプリズム方式の測量対象物として、例えば橋梁、ダム、ビル、トンネル、鉄骨、道路、電車、飛行機、送電線及び古墳等の構造物が挙げられる。プリズム方式ではなく、モータ駆動により鉛直角及び水平角の駆動が行われ、視準先をオートフォーカスにて視準可能とすれば、測量機１を現場に設置した後はユーザが現場に足を踏み入れることなく離れた場所から測量することが可能となる。一例として、測量機１は、カメラ等の撮像装置を有し、測量対象物である構造物の壁面を撮像する。一例として、測定面の画像は、構造物の外観画像である。測量機１は、撮像した測定面の位置データと、撮像した外観画像データとを出力する。

　測量機１は、電源から電力が供給される。一例として、電源は、測量機１に内蔵された電源、測量機１に着脱可能に構成された電源、測量機１に対して外部から電力を供給する外部電源４９である。一例として、電源は、ニッケル水素電池やリチウムイオン電池等の二次電池、商用電源、発電機等である。

　一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、デスクトップ型又はラップトップ型のコンピュータ、タブレット等の汎用の情報処理装置である。一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、有線（例えば接続ケーブル）又は無線で測量機１と接続される。一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１と数メートル離して設置される。欠陥画像表示制御装置５０は、ソフトウェアがインストールされる。一例として、ソフトウェアは、画像から構造物の欠陥を検出する欠陥検出プログラムであり、検出した欠陥に関するデータを編集する欠陥編集プログラムである。欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１を制御する制御装置であり、欠陥検出プログラムを実行して、外観画像データを撮像するため測量機１を制御する。また、欠陥画像表示制御装置５０は、欠陥編集プログラムを実行することにより、外観画像データを表示し、欠陥検出プログラムで検出することができなかった新たな欠陥を追加し、また、欠陥検出プログラムが検出した欠陥を修正することができる。

　欠陥画像表示制御装置５０は、外観画像データと外観画像データに含まれる観測点の位置データが測量機１から入力されると、外観画像データから構造物の外観に現れた欠陥を検出する。一例として、欠陥は、構造物の外観に現れたひびや窪みである。このような欠陥は、一例として、剥落、すり減り等の経年劣化を原因に形成される。欠陥は、一例として、地震や波浪等の外力によって形成される。欠陥は、一例として、撓みや振動等を原因とする構造的変状によって形成される。欠陥は、一例として、酸素や二酸化炭素の浸透、水分や塩化物の浸透等を原因とする化学的劣化により形成される。欠陥は、一例として、鉄筋の腐食等によって形成される。欠陥画像表示制御装置５０は、外観画像データから構造物の欠陥を検出し、位置データを参照して欠陥に関連する欠陥データを算出する。欠陥データは、欠陥の位置を示すデータを含む。一例として、位置データ及び欠陥データは、好ましくは、グローバル座標系（ローカル座標系ではない座標系、世界測地系、日本測地系）に従った座標データである。

　一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１の制御装置である。欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１に対して、構造物の外観を撮像するための指示を出力し、測量機１の動作を制御する。一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１を鉛直軸及び水平軸回りに回転させ、構造物の外観を撮像させる。

　〔測量機の構成〕
　図２に示すように、測量機１は、整準部２と、本体部６と、撮像部７とを備えている。整準部２は、例えば整準台である。整準部２は、底板３と、上板４と、整準ねじ５とを含んでいる。底板３は、三脚に固定される部材である。底板３は、例えば、ねじ等で三脚の脚頭に固定される。上板４は、整準ねじ５を用いることで、底板３に対する傾きが変更可能に構成されている。上板４には、本体部６が取り付けられている。測量機１の第１軸である鉛直軸Ｏ１の傾きは、整準ねじ５を用いることで変更可能である。

　整準とは、測量機１の鉛直軸を鉛直にすることである。整準した測量機１は、鉛直軸Ｏ１が鉛直方向に沿った状態である。整準した測量機１は、鉛直軸Ｏ１が鉛直方向に沿った状態であり、且つ、測量機１の第２軸である水平軸Ｏ２が鉛直軸Ｏ１に対して直角の状態である。整準は、レベリング（ｌｅｖｅｌｉｎｇ）と表現することがある。

　求心とは、測量機１の鉛直中心を第２ターゲット（測標）の中心に一致させることである。求心とは、地上の測量基準位置（基準点）等の測点の鉛直線上に測量機１の機械中心を一致させることである。求心は、致心やセンタリング（ｃｅｎｔｅｒｉｎｇ）と表現することがある。求心した測量機１は、鉛直軸Ｏ１が第２ターゲットの中心を通過する状態である。第２ターゲットは、例えば器械高計測用ターゲットや測量鋲である。

　図２及び図３に示すように、本体部６は、整準部２により鉛直軸周りに回転可能に支持されている。本体部６は、整準部２に対して鉛直軸周りに回転可能に構成されている。本体部６は、整準部２の上方に位置している。本体部６は、撮像部７を水平軸周りに回転可能に支持している。本体部６は、支柱部である。本体部６は、托架部である。本体部６は、第１表示部１８と、第２表示部１９と、水平角操作部２３と、鉛直角操作部２４と、把持部２５と、第３撮像部１４（図４参照）とを含んでいる。

　第１表示部１８及び第２表示部１９は、画像やオブジェクトを表示する表示機能を有している。一例として、第１表示部１８及び第２表示部１９は、各表示部の表示面に、撮像部７が生成した画像データに基づく画像や観測データに基づく情報を表示する。一例として、第１表示部１８及び第２表示部１９は、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイである。一例として、第１表示部１８は、反側に配置されている。一例として、第１表示部１８は、例えば反観測を行う場合に利用される。第２表示部１９は、正側に配置されている。一例として、第２表示部１９は、正観測を行う場合に利用される。一例として、第１表示部１８及び第２表示部１９は、ユーザによる操作を受け付ける操作部としての機能を有している。この場合、第１表示部１８及び第２表示部１９は、静電容量式のタッチパネルや感圧式のタッチパネル等により構成されている。一例として、第１表示部１８は、水平軸周り又は鉛直軸周りに回転可能である。一例として、第２表示部１９は、水平軸周り又は鉛直軸周りに回転可能である。一例として、第２表示部１９は、鉛直方向の傾斜変更が可能である。

　水平角操作部２３は、本体部６を水平方向に回転するためにユーザにより操作される部材である。ユーザにより水平角操作部２３が操作されると、本体部６及び撮像部７はともに水平方向に回転する。鉛直角操作部２４は、撮像部７を鉛直方向に回転するためにユーザにより操作される部材である。水平角操作部２３及び鉛直角操作部２４は、例えばノブである。把持部２５は、例えば測量機１を持ち運ぶ際にユーザが把持するための部材である。把持部２５は、例えばキャリングハンドルである。把持部２５は、例えば本体部６の上面に固定されている。

　図４に示すように、第３撮像部１４は、第３対物レンズ１０を含む第３光学系と、第３撮像素子とを含んでいる。第３光学系は、第２ターゲットからの光を第３撮像素子に導く。第３撮像素子は、第２ターゲットを撮像して、画像データを生成する。第３撮像部１４は、測量機１の下方を撮像して、画像データを生成する。第３撮像部１４は、鉛直軸Ｏ１を含む下方を撮像して、画像データを生成する。一例として、第３撮像素子は、ＣＣＤやＣＭＯＳで構成されている。第３撮像部１４で生成された画像データは、画像処理部３３に出力される。一例として、第３撮像部１４は、ユーザが測量機１を整準したり求心したりする場合に、測量機１の下方の画像を第１表示部１８や第２表示部１９に表示させるための画像データを生成する。第３撮像部１４は、本体部６に固定されている。一例として、第３撮像部１４は、求心カメラである。一例として、第３撮像部１４は、求心望遠鏡である。

　撮像部７は、本体部６によって水平軸周りに回転可能に支持されている。撮像部７は、水平軸Ｏ２周りに回転可能に構成されている。撮像部７は、整準部２に対して鉛直軸Ｏ１周りに回転可能に構成されている。撮像部７は、鉛直軸Ｏ１周りに回転可能であり、且つ、水平軸Ｏ２周りに回転可能である。撮像部７は、ユーザにより水平角操作部２３が操作された操作量に応じて、水平方向に回転する。撮像部７は、ユーザにより鉛直角操作部２４が操作された操作量に応じて、鉛直方向に回転する。

　撮像部７は、第１撮像部１１と、第２撮像部１２とを備えている。一例として、第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、ＣＣＤやＣＭＯＳで構成されている。第１撮像部１１及び第２撮像部１２で生成された画像データは、画像処理部３３に出力される。一例として、第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、視準する場合に、第１ターゲットを含む視野の画像を第１表示部１８や第２表示部１９に表示させるための画像データを生成する。一例として、プリズム方式の場合、第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、測量対象物である第１ターゲットを撮像する。一例として、ノンプリズム方式の場合、第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、構造物の外観を構成する測定面を測定する。第１撮像部１１及び第２撮像部１２が撮像する視野は、第３撮像部１４が撮像する視野とは異なり、第３撮像部１４が撮像する視野とは重複しない。

　第１撮像部１１は、第１対物レンズ８を含む第１光学系と、第１撮像素子とを含んでいる。第１光学系は、撮像視野内の光（例えば第１ターゲットからの光を含む）を第１撮像素子に導く。一例として、第１撮像部１１は、望遠カメラである。一例として、第１撮像部１１は、視準カメラである。一例として、第１撮像部１１は、視準望遠鏡である。一例として、第１撮像部１１は、望遠カメラである。一例として、第１撮像部１１は、第１画角を有する。一例として、第１撮像部１１は、第１視野を有する。

　第２撮像部１２は、第２対物レンズ９を含む第２光学系と、第２撮像素子とを含んでいる。第２光学系は、撮像視野内の光（例えば第１ターゲットからの光を含む）を第２撮像素子に導く。第２対物レンズ９は、第１対物レンズ８とは別個に備えている。一例として、第２対物レンズ９は、撮像部７において第１対物レンズ８が配置されている面と同じ面に配置されている。一例として、第２対物レンズ９は、第１対物レンズ８と鉛直方向に並んで配置されている。一例として、第２対物レンズ９の光軸は、第１対物レンズ８の光軸と平行である。第２撮像部１２は、第１撮像部１１の第１画角より広い第２画角を有する。第１撮像部１１の第１画角は、第２撮像部１２の第２画角より狭い。第２撮像部１２の第２視野角は、第１撮像部１１の第１視野角より広い。第１撮像部１１の第１視野角は、第２撮像部１２の第２視野角より狭い。一例として、第２撮像部１２は、視準する場合に第１ターゲットを含み第１視野よりも広い第２視野の画像を第１表示部１８や第２表示部１９に表示させるための画像データを生成する。一例として、第２撮像部１２は、広角カメラである。一例として、第２撮像部１２は、広角望遠鏡である。

　視準とは、対物レンズをターゲットに向けて、視準軸をターゲットの中心に一致させることである。視準軸は、対物レンズの光学的な中心点を通り、水平軸に垂直に交差する軸である。視準軸は、第１撮像部１１の第１対物レンズ８の光学的な中心点を通り、水平軸Ｏ２に垂直に交差する軸である。視準軸は、セオドライトの対物レンズの中心を通り水平軸と直交する軸である。視準軸は、第１対物レンズ８の光軸と一致している。視準した測量機１は、第１対物レンズ８を第１ターゲットに向けて、測量機１の第３軸である視準軸Ｏ３が第１ターゲットの中心に一致した状態である。視準軸において測量機１内部から測量機１外部に向かう方向を視準方向と呼ぶ場合がある。

　〔測量機のシステム構成〕
　図５は、測量機１のシステム構成を示すブロック図である。
　測量機１は、第１撮像部１１及び第２撮像部１２を含む撮像部７と第３撮像部１４とを備えている。測量機１は、測距部１３と、水平角駆動部１５と、送光部１６と、鉛直角駆動部１７と、第１表示部１８と、第２表示部１９と、通信部２０と、水平角操作部用エンコーダ２１と、鉛直角操作部用エンコーダ２２と、水平角操作部２３と、鉛直角操作部２４と、水平角測角部３１と、鉛直角測角部３２と、画像処理部３３と、一時記憶部３４と、記憶部３５と、操作部３６と、制御部４０と、傾き検出部３７とを備えている。

　第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、制御部４０により設定された撮像条件（ゲイン、蓄積時間（シャッタ速度）等）に基づいて撮像して生成した画像データを画像処理部３３に出力する。第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、撮像して生成した画像データに基づく画像の明るさが適正となるよう制御部４０により適正露出が自動的に設定される。第１撮像部１１及び第２撮像部１２は、制御部４０により自動露出機能が実行される。第１撮像部１１における第１光学系は、制御部４０によるフォーカス調節指示に応じてフォーカスレンズ駆動部がフォーカスレンズの位置を光軸方向に沿って変更可能に構成されている。第３撮像部１４は、制御部４０により設定された撮像条件（ゲイン、蓄積時間（シャッタ速度）等）に基づいて撮像して生成した第３画像データを画像処理部３３に出力する。第１撮像部１１は、オートフォーカス部１１ａを備えている。

　画像処理部３３は、第１撮像部１１、第２撮像部１２及び第３撮像部１４から出力された画像データに対して画像処理を施す。画像処理部３３で画像処理が施された画像データは、一時記憶部３４に記憶される。例えばライブビュー動作時において、第１撮像部１１や第２撮像部１２、第３撮像部１４が連続して撮像した場合、順次出力される画像データは、一時記憶部３４に順次記憶される。

　一時記憶部３４は、画像データを一時的に記憶する。一例として、一時記憶部３４は、揮発性メモリである。一例として、一時記憶部３４は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）である。

　画像処理部３３で施される画像処理は、表示用画像データを生成する処理、圧縮した画像データを生成する処理、記録用画像データを生成する処理、画像データに基づく画像から一部切り出すことで電子的に画像を拡大する（デジタルズーム）処理等が挙げられる。画像処理部３３により生成された表示用画像データは、制御部４０の制御により第１表示部１８や第２表示部１９に表示される。

　なお、測量機１は、視準用接眼光学系や求心用接眼光学系を備えていてもよいし、備えていなくてもよい。

　画像処理部３３により生成された記録用画像データは、通信部２０を介して外部メモリに記録される。一例として、外部メモリは、不揮発性メモリである。一例として、外部メモリは、フラッシュメモリやハードディスクや光ディスクである。

　測距部１３は、測量部であり、一例として、発光素子とダイクロイックミラーと受光素子とを備える光波距離計として構成されている。一例として、発光素子は、パルスレーザダイオード（ＰＬＤ）等のレーザダイオード、赤外発光ダイオード等の発光ダイオードである。一例として、測距部１３は、発光素子が出射する測距光を、ダイクロイックミラーによって第１対物レンズ８と同軸の光線として測量対象物である第１ターゲット（例えば反射プリズムや構造物の外観を構成する測定面）に向けて送光する。測量対象物で反射された光は、再び第１対物レンズ８に戻り、ダイクロイックプリズムで測距光と分離され、受光素子へ入射する。測量対象物までの距離は、発光素子から測距部１３内部で受光素子に入射する参照光と、測量対象物からの測距光との時間差から算出される。なお、測距部１３は、位相差に基づいて測量対象物までの距離を算出する位相差測距方式であってもよい。

　送光部１６は、第１ターゲットに対して送光し第１ターゲットを照射する。一例として、送光部１６は、測距部１３の発光ダイオードである。一例として、送光部１６と測距部１３は、同一の発光ダイオードを兼用する。送光部１６は、第１対物レンズ８と同軸の光線を第１ターゲットに向けて送光する。一例として、送光部１６は、測距部１３とは別に設けられた発光ダイオードである。

　水平角測角部３１は、視準軸Ｏ３の水平方向の回転角度（鉛直軸Ｏ１周りの角度）を検出する。水平角測角部３１は、検出した回転角度に対応する信号を制御部４０に出力する。水平角測角部３１は、一例として、エンコーダにより構成されている。水平角測角部３１は、一例として、光学式アブソリュート形ロータリエンコーダにより構成されている。水平角測角部３１は、水平角を検出する角度検出部である。

　鉛直角測角部３２は、視準軸Ｏ３の鉛直（高低）方向の回転角度（水平軸Ｏ２周りの角度）を検出する。鉛直角測角部３２は、検出した角度に対応する検出信号を制御部４０に出力する。鉛直角測角部３２は、一例として、エンコーダにより構成されている。鉛直角測角部３２は、一例として、光学式アブソリュート形ロータリエンコーダにより構成されている。鉛直角測角部３２は、鉛直角を検出する角度検出部である。

　水平角操作部用エンコーダ２１は、水平角操作部２３の回転角度を検出する。水平角操作部用エンコーダ２１は、検出した回転角度に対応する信号を制御部４０に出力する。

　水平角駆動部１５は、整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。水平角駆動部１５が整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動することで、撮像部７は、整準部２に対して鉛直軸Ｏ１周りに回転する。一例として、水平角駆動部１５は、モータで構成されている。
　一例として、水平角駆動部１５は、ユーザにより第１表示部１８や第２表示部１９のタッチパネルがタッチされた位置に基づき制御部４０が算出した駆動量に応じて、整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。
　一例として、水平角駆動部１５は、欠陥画像表示制御装置５０や遠隔操作装置等の外部機器から回転駆動指示を受け付けた場合、外部機器から受け付けた回転駆動指示に基づき制御部４０が算出した駆動量に応じて、整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。
　一例として、水平角駆動部１５は、水平角操作部２３が操作された場合、整準部２に対して本体部６を測量機１の鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。

　鉛直角操作部用エンコーダ２２は、鉛直角操作部２４の回転角度を検出する。鉛直角操作部用エンコーダ２２は、検出した回転角度に対応する信号を制御部４０に出力する。

　鉛直角駆動部１７は、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。鉛直角駆動部１７は、例えばモータで構成されている。
　一例として、鉛直角駆動部１７は、ユーザにより第１表示部１８や第２表示部１９のタッチパネルがタッチされた位置に基づき制御部４０が算出した駆動量に応じて、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。
　一例として、鉛直角駆動部１７は、外部機器から回転駆動指示を受け付けた場合、外部機器から受け付けた回転駆動指示に基づき制御部４０が算出した駆動量に応じて、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。
　一例として、鉛直角駆動部１７は、鉛直角操作部２４が操作された場合、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。

　通信部２０は、外部機器である欠陥画像表示制御装置５０との通信を行う。通信部２０は、外部機器とのデータ入出力を行うインタフェースである。通信部２０として、例えば、ＡｃｔｉｖｅＳｙｎｃ規格の通信用インタフェースや、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ　Ｓｅｒｉａｌ　Ｂｕｓ）規格の通信用インタフェースや、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）規格の無線通信用インタフェースや、ＲＳ－２３２Ｃシリアル通信規格の通信用インタフェースが挙げられる。通信部２０は、測量機１で撮像された画像データや位置データを欠陥画像表示制御装置５０に対して送信し、また、欠陥画像表示制御装置５０から送信された測量機１を制御する指示信号を受信する。

　記憶部３５は、測量機１の動作に必要なプログラムやパラメータ、工事の基礎となる設計データ等を記憶する。記憶部３５は、プログラム、パラメータ及び設計データを測量機１の非動作時にも失われないように格納する。記憶部３５は、一例として、不揮発性メモリやハードディスクである。一例として、記憶部３５は、ＲＯＭ　（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）である。一例として、記憶部３５は、測量機１が撮像した測定面の画像データを保存する。一例として、記憶部３５は、グローバル座標系で作成された地図データを記憶する。一例として、記憶部３５は、欠陥検出プログラムや欠陥編集プログラムを保存する。欠陥検出プログラムや欠陥編集プログラムは、測量機１で実行することもできる。記憶部３５は、傾き検出部３７により検出された測量機１の鉛直軸の傾き状態（傾斜データ）を記憶する。記憶部３５に記憶されている傾斜データは、例えば欠陥画像表示制御装置５０に送信され、測量機１で撮像して生成された画像データに対して欠陥画像表示制御装置５０がオルソ補正処理を施す際に使用される。欠陥画像表示制御装置５０は、測量機１で撮像して生成された画像データに対して、測量機１の鉛直軸の傾き状態に基づいてオルソ補正処理を施す。

　操作部３６は、一例として、筐体に配置された押ボタン、ボリュームスイッチ、スライドスイッチ等の機械的な操作部材である。操作部３６は、一例として、第１表示部１８や第２表示部１９の表示部の表示面に配置されたタッチパネルである。機械的な操作部材は、ユーザにより操作されると、各操作部材に関連付けられた機能を実行する指示信号を制御部４０に出力する。また、タッチパネルは、表示されたオブジェクトがタッチされたとき、オブジェクトに定義づけられた機能を実行する指示信号を制御部４０に出力する。

　制御部４０は、測量機１の全体の動作を制御する。
　一例として、制御部４０は、操作部３６や外部機器からの指示信号に従って、整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。一例として、制御部４０は、ユーザにより水平角操作部２３が操作されたことに応じて、整準部２に対して本体部６を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動する。一例として、制御部４０は、操作部３６や外部機器からの指示に従って、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。一例として、制御部４０は、ユーザにより鉛直角操作部２４が操作されたことに応じて、本体部６に対して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。
　一例として、制御部４０は、第１撮像部１１及び第２撮像部１２を動作して、設定された撮像条件に基づいて、第１ターゲットである反射プリズムや構造物の外観を構成する測定面を撮像し、撮像して生成した画像データを画像処理部３３に出力する。
　一例として、制御部４０は、欠陥画像表示制御装置５０から駆動指示信号が入力されると、指示信号に従って、第１撮像部１１（オートフォーカス部１１ａを含む）、第２撮像部１２、第３撮像部１４、撮像部７、水平角駆動部１５、鉛直角駆動部１７等を駆動する。
　一例として、制御部４０は、欠陥画像表示制御装置５０に対して撮像部７が生成した画像データや観測データを通信部２０から出力する。

　〔欠陥画像表示制御装置のシステム構成〕
　図６は、欠陥画像表示制御装置５０のシステム構成を示すブロック図である。
　欠陥画像表示制御装置５０は、制御部５１と、表示部５２と、操作部５３と、記憶部５４と、通信部５５とを備えている。
　制御部５１は、コンピュータと同様な構成を有しており、ＣＰＵ５１ａ、ＲＯＭ５１ｂ及びＲＡＭ５１ｃがバスを介して相互に接続されている。一例として、制御部５１は、記憶部５４を構成するハードディスク等にインストールされた欠陥検出プログラム５４ａを実行する。また、一例として、制御部５１は、表示部５２に画像等を表示させる表示制御部として機能する。制御部５１は、撮像部７が生成した画像データに基づく画像や観測データに基づく情報を表示部５２に表示させる。一例として、制御部５１は、構造物の外観を構成する測定面の画像を表示部５２に表示させる。一例として、制御部５１は、外観画像データに含まれる構造物の欠陥を検出する欠陥検出部として機能する。制御部５１は、外観画像データに対応づけられた座標データを用いて、欠陥検出部により検出された欠陥に関する欠陥データを算出する算出部として機能する。また、欠陥編集プログラム５４ｂを実行することにより、外観画像データを表示し、欠陥検出プログラム５４ａで検出された欠陥データに対して、新たに視認した欠陥データを追加し、また、検出された欠陥データを修正する。一例として、制御部５１は、測量機１に対して、第１撮像部１１、第２撮像部１２、第３撮像部１４、撮像部７、水平角駆動部１５、鉛直角駆動部１７等を駆動する指示信号を通信部５５を介して出力する。

　表示部５２は、画像やオブジェクトを表示する表示機能を有している。一例として、表示部５２は、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＣＲＴである。一例として、表示部５２は、表示部の表示面に、第１撮像部１１や第２撮像部１２が生成した画像データに基づく画像や観測データに基づく情報を表示する。

　操作部５３は、一例として、キーボードであり、マウスであり、表示部５２の表示面に配置されたタッチパネルである。操作部５３は、表示部５２に表示されたオブジェクトを選択することによって、オブジェクトに定義づけられた機能を実行する指示を制御部５１に出力する。一例として、マウスは、右クリックボタンと、左クリックボタンと、ホイールとを備えている。一例として、左クリックボタンは、クリックすることで、マウスカーソルの位置を選択（又は確定）することができ、右クリックボタンは、クリックすることで、メニューボックスをマウスカーソルの位置にポップアップ表示することができる。一例として、ホイールは、回転させることによって、表示された画像を拡大し、縮小することができる。また、タッチパネルの場合、指やスタイラスペン等によって表示面をなぞることで、カーソルの位置を移動させたりすることができ、また、表示面に対してタッチすることで、カーソル位置を選択（又は確定）することができる。

　一例として、欠陥編集プログラム５４ｂを実行している場合において、表示された外観画像に含まれる欠陥の位置で左クリックボタンがクリックされると、制御部５１は、当該位置を欠陥の位置として確定する。また、欠陥の位置で右クリックボタンがクリックされると、制御部５１は、メニューボックスをポップアップ表示し、メニューボックス内に表示された複数の選択候補値の中から選択された１つの候補値を欠陥の欠陥幅データとする。さらに、ホイールが回転されたとき、制御部５１は、回転方向と回転量に応じた拡大率又は縮小率で表示部５２に表示されている外観画像を拡大又は縮小する。

　記憶部５４は、プログラムやパラメータ等を測量機１の非動作時にも失われないように格納する。一例として、記憶部５４は、不揮発性メモリやハードディスクである。一例として、記憶部５４は、欠陥検出プログラム５４ａ、工事の基礎となる設計データ等を記憶する。一例として、記憶部５４は、構造物の外観を構成する測定面の画像データを記憶する。一例として、記憶部５４は、グローバル座標系で作成された地図データを記憶する。一例として、記憶部５４には、欠陥検出プログラム５４ａに従って、記録フォルダが作成される。記録フォルダには、欠陥検出プログラム５４ａに従って測量機１で撮像された測定範囲の複数の外観画像データ等が保存される。

　通信部５５は、測量機１の通信部２０と通信をする。一例として、通信部５５は、測量機１で撮像され画像データや位置データを受信し、また、測量機１を制御する指示信号を出力する。一例として、通信部５５は、ワイドエリアネットワークやローカルエリアネットワーク等のネットワークを介して外部機器と通信する。一例として、通信部５５は、外部のサーバ装置と通信する。一例として、通信部５５は、工事の基礎となる設計データを格納した管理サーバ装置から設計データを受信する。一例として、通信部５５は、管理サーバ装置に対して、構造物の外観を構成する測定面の画像データを送信する。

　〔構造物の欠陥検出の概要〕
　図７（ａ）は、測定面と測定範囲の関係を示す図である。
　欠陥検出では、測定対象となる構造物の外観が平面で構成された鉛直面の場合は少なくとも任意の２点を観測（視準、測距及び測角）して得られた観測データ（測距部１３で測距して得られた測距データ、水平角測角部３１で測角して得られた水平角データ及び鉛直角測角部３２で測角して得られた鉛直角データ）から測定面６１を定義する。測定対象となる構造物の外観が平面で構成された斜面の場合は少なくとも任意の３点を観測して得られた観測データから測定面６１を定義する。測定面６１を定義するとき、第２撮像部１２で撮像して生成された画像データに基づく画像を第１表示部１８及び第２表示部１９に表示したり、送光部１６から送光したりすることで、ユーザは測量機１が構造物のどこを観測しようとしているのかを把握することが可能となる。

　測定範囲６２は、構造物における少なくとも任意の２点について測角（水平角及び鉛直角を測定）することで設定される。測定面６１の定義を行った後に測定範囲６２の設定を行う場合、測定範囲６２の設定は、測定面６１を定義しているため、構造物の少なくとも任意の２点を測距することなく測角するだけでも可能となる。測定面６１の定義を行った後に測定範囲６２の設定を行う場合、測定範囲６２の設定は、構造物の少なくとも任意の２点について、測距部１３で測距して得られた測距データ、水平角測角部３１で測角して得られた水平角データ及び鉛直角測角部３２で測角して得られた鉛直角データのうち、測距部１３で測距して得られた測距データを用いることなく、水平角測角部３１で測角して得られた水平角データ及び鉛直角測角部３２で測角して得られた鉛直角データを用いるだけで可能となる。
　測定面６１を定義するときに観測する２点と、測定範囲６２を設定するときに測角する２点は、少なくとも一方が異なる観測点でもよいし、同じ観測点でもよい。

　図７（ｂ）は、測定面と測定範囲と撮像範囲の関係を示す図である。測量機１は、設定した測定範囲６２すべての外観画像データを得るために、第１撮像部１１による撮像を順次行い、第１画角の撮像範囲６３の外観画像データを順次生成する。測定面６１が既に定義されていることで、デジタル画像である外観画像データに基づく外観画像の任意の画素の位置は、撮像時に視準した観測点からの角度を変換することによって座標データで特定することができる。各外観画像データに対しては、欠陥の検出が行われる。検出された欠陥の位置は、欠陥データである座標データで特定される。一例として、外観画像データの位置データや欠陥の位置等を示す欠陥データは、グローバル座標データである。撮像された測定範囲６２における各外観画像データは、オルソ補正処理が行われ、次いで、スティッチング処理が行われ、記憶部５４等に保存される。また、オルソ補正処理が行われた各外観画像データが記憶部５４等に保存される。

　図８は、構造物の欠陥検出の手順を示すフローチャートである。
　ステップＳ１において、欠陥画像表示制御装置５０の制御部５１は、測量機１のリモート制御を開始し、測量機１は、構造物の測定面６１等を視準する。一例として、制御部５１は、測量機１の制御部４０を介して、第１撮像部１１、及び、第２撮像部１２の画角の切り替え、撮像、測距、オートフォーカス、マニュアル露出、ホワイトバランス、送光部１６のオンオフ切り替え等を行うことができるようになる。一例として、制御部５１は、測角値や整準状態を表示部５２に表示させる。
　ステップＳ２において、制御部５１は、記憶部５４に外観画像データを保存する記録フォルダを作成する。

　ステップＳ３において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、トライアルメジャーを行う。一例として、トライアルメジャーでは、ユーザがこれから欠陥検出したいと考える構造物の外観に現れた欠陥を含むように測量機１の第１撮像部１１又は第２撮像部１２で撮像する。一例として、欠陥は、第１撮像部１１又は第２撮像部１２で撮像して生成された外観画像データを欠陥画像表示制御装置５０で画像解析することによって検出される。制御部５１は、第１撮像部１１又は第２撮像部１２で撮像して生成された外観画像データに基づく外観画像を表示部５２に表示させる。ユーザは、表示部５２に表示された外観画像を見て、操作部５３を操作し、制御部５１は、制御部４０を介して、第１撮像部１１の感度、露出等を調整し、第１撮像部１１の設定を、外観画像の中から欠陥を検出できる設定とする。一例として、トライアルメジャーは、複数の場所で行う。一例として、測量機１は、トライアルメジャーの結果、発見された測定環境の良い場所で器械設置される。

　ステップＳ４において、測量機１の器械設置が行われる。図９は、器械設置を説明する図である。一例として、器械設置では、第３撮像部１４で第２ターゲットを撮像して測量機１の整準及び求心をする。一例として、測量機１は、制御部５１の制御に従って、既知点２点Ａ１（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１），Ａ２（Ｘ２，Ｙ２，Ｚ２）それぞれを測角及び測距する。図９に示すように、器械設置により、測量機１は、グローバル座標６４上の測量機１の位置を示す座標値（（Ｘ，Ｙ，Ｚ）＝（Ｘｉ，Ｙｉ，Ｚｉ））と、図示されない水平角の基準方向を決定する方向角とを算出することで、グローバル座標６４上に設置される。

　一例として、トライアルメジャーは、器械設置の前に行われる。一例として、トライアルメジャーは、器械設置の後に行われる。一例として、トライアルメジャーと器械設置の順番は、欠陥画像表示制御装置５０を用いてユーザが設定する。ユーザがトライアルメジャーと器械設置の順番を設定する場合は、一例として、表示部５２にトライアルメジャーと機器設置を選択するためのオブジェクトを表示させ、操作部５３で選択させる。器械設置は、手間のかかる作業であるので、トライアルメジャーの後に行うことが好ましい。

　ステップＳ５において、測量機１は、制御部５１の制御に基づいて、測定面６１を定義する。一例として、測量機１は、構造物の外観（例えば壁面）の少なくとも任意の２点について測角及び測距を行い、任意の２点を含む面を測定面６１として定義する。測量機１は、器械設置によりグローバル座標６４における測量機１の位置を特定し、測定面６１を定義することで、測定面６１のいずれの観測点もグローバル座標で特定することができる。

　図１０は、測定面６１の定義により特定可能なデジタル画像上の任意の画素の位置データを説明する図である。
　上述したように、測定面６１の定義がされることで、測量機１が撮像した撮像範囲６３における任意の画素（Ｐ）は、測量機１が十字形状を有したレチクルの中心が示す観測点Ｏの角度（ＨＡ，ＶＡ）を算出し、画素（Ｐ）の観測点Ｏからの角度をグローバル座標データに変換することができる。これにより、外観画像データにおける各画素の位置は、各画素に対して角度観測を行った場合と同じように、位置データであるグローバル座標データで特定することができる。一例として、第１撮像部１１の第１撮像素子が１９２０画素×１０８０画素を有する場合、デジタル画像は、第１撮像素子が有する画素数に応じた精度で位置を特定することができる。
　なお、測定面６１の定義方法についての詳細は後述する。

　ステップＳ６において、測量機１は、制御部５１の制御に基づいて、定義された測定面６１内において、構造物の欠陥検出を行う測定範囲６２を指定する。
　なお、測定範囲６２の定義についての詳細は後述する。

　ステップＳ７において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、水平角駆動部１５を駆動して撮像部７を鉛直軸Ｏ１周りに回転駆動し、鉛直角駆動部１７を駆動して撮像部７を水平軸Ｏ２周りに回転駆動する。測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２の自動測定を行う。測量機１は、撮像毎に視準方向を変えながら、測定範囲６２を第１撮像部１１で順次撮像する。欠陥画像表示制御装置５０には、順次撮像された外観画像データが位置データと共に入力される。制御部５１は、測量機１から入力された外観画像データについて、欠陥を検出する。
　なお、第１撮像部１１の自動測定についての詳細は後述する。

　ステップＳ８において、欠陥画像表示制御装置５０では、ステップＳ７で撮像された外観画像データを再度表示し、欠陥の編集を行うことができる。ユーザは、外観画像が表示部５２に表示されることで、欠陥が正確に検出されているかを目視確認することができる。そして、欠陥が検出されていない箇所があるときは、欠陥を追加する処理を行い、検出した欠陥が画像中の欠陥とずれているときは、当該欠陥を修正し、一致させる変更処理を行う。

　〔測定面の定義（ステップＳ５）〕
　測定面の定義方法を、測定対象となる構造物の外観が平面で構成された鉛直面である場合を例に説明する。図１１に示すように、鉛直面の測定面６１の定義方法は、鉛直の測定面６１上の測定面６１内の任意の２つの観測点Ｐ１，Ｐ２を、第２撮像部１２で撮像しながら、例えば送光部１６を用いて指定し、観測点Ｐ１，Ｐ２の測角及び測距による観測を行う。測量機１は、制御部５１の制御に従って、視準、測距を行った任意の観測点Ｐ１，Ｐ２を含む鉛直面を測定面６１として定義する。

　〔測定範囲の定義（ステップＳ６）〕
　図１２（ａ）に示すように、測定範囲６２を含む測定面６１が鉛直面の場合、測量機１は、制御部５１の制御に従って、第２撮像部１２で撮像しながら、送光部１６を用いて、測定面６１内の任意の２つの観測点Ｐ３，Ｐ４を指定し、各観測点Ｐ３，Ｐ４について、測角を行う。この測角位置は、測定面６１が定義されていることで、グローバル座標データとして算出される（Ｐ３（Ｘ３，Ｙ３，Ｚ３）、Ｐ４（Ｘ４，Ｙ４，Ｚ４））。測定範囲６２は、単に指定された観測点Ｐ３，Ｐ４によって指定された範囲ではなく、定義された測定面６１に投影された範囲となる。測定範囲６２が測量機１と正対している場合、測定範囲６２は、観測点Ｐ３、Ｐ４を対角とした長方形となる。

　図１２（ｂ）に示すように、測定範囲６２が測量機１と正対していない場合には、測定した角度のみから単純にＰ３、Ｐ４の範囲の長方形６５とすると、一部観測できない領域６６ａが発生する。長方形６５には、測定範囲６２に含まれない不要な領域６６ｂも発生する。測量機１は、制御部５１の制御に従って、定義した測定面６１に投影した測定範囲６２ａを計算により求め設定する。この測定範囲６２ａは、測量機１に対して遠い側の辺が測量機１に対して近い側の辺に対して短い四角形となる。
　一例では、測定面６１を定義する際に指定した任意の観測点Ｐ１，Ｐ２をそのまま測定範囲を指定するための観測点Ｐ３，Ｐ４として用いることもできる。

　測定範囲６２は、長方形形状が１つだけの場合に限定されない。測定範囲６２は、複数であってもよく、２つ以上に追加することも可能であり、また、指定した測定範囲の一部の範囲を除外することも可能である。

　〔自動測定（ステップＳ７）〕
　設定した測定範囲６２の大きさによっては、第１撮像部１１による１回の撮像では設定した測定範囲６２をすべてカバーすることができないことがある。一例として、測量機１は、制御部５１の制御に従って、撮像範囲が重複するように、且つ、重複する領域が不必要に大きくならないように、水平角駆動部１５及び鉛直角駆動部１７を駆動制御する。測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２の全体を撮像する。

　図１３は、測量機１の水平軸周りの回転駆動の範囲を説明する図である。測量機１の鉛直角駆動部１７による水平軸Ｏ２周りの回転駆動は、次のように制御される。
　一例として、測定面６１が例えば鉛直面である場合は、概ね、鉛直角が４５°以上、１３５°以下の範囲で撮像部７が水平軸Ｏ２周りに回転駆動される。また、測定面６１が例えば鉛直面である場合は、概ね、鉛直角が２２５°以上、３１５°以下の範囲で撮像部７が水平軸Ｏ２周りに回転駆動される。
　鉛直角とは、水平軸Ｏ２周りにおける撮像部７の回転角で、測量機１の視準方向が天頂を向いているときを０°、水平を向いているときを９０°として示す角度である。

　図１４は、ステップＳ７で示した自動測定の詳細な手順を説明するフローチャートである。
　ステップＳ１１において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２内の撮像領域を順次撮像できるように、水平角駆動部１５及び鉛直角駆動部１７を制御し、撮像部７を回転する。そして、測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２内において、現在の撮像領域を撮像した後、隣接する撮像領域に順次移動し、第１撮像部１１で測定範囲６２の全ての領域を自動測定する。
　なお、測量機１の自動測定についての詳細は後述する。

　ステップＳ１２において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、各撮像領域との距離を計算する。ステップＳ１３において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、第１撮像部１１のオートフォーカス制御を行う。オートフォーカス制御では、第１撮像部１１における第１光学系を構成するフォーカスレンズを、制御部４０によるフォーカス調節指示に応じて光軸方向に沿って変位し、光を第１撮像素子上に合焦させる。

　一例として、オートフォーカス制御は、測定点のグローバル座標データと測量機１の位置を示すグローバル座標データから観測点と測量機１との距離を計算し、計算した距離に基づいてフォーカスレンズを光軸方向に沿って変位する。

　一例として、オートフォーカス制御は、測距部１３で、測量機１と観測点との距離を測距して、測距した距離に基づいてフォーカスレンズを光軸方向に沿って変位する。
　一例として、オートフォーカス制御は、フォーカスレンズをコントラストが最大となる位置に変位させるコントラスト方式で行う。

　測定面６１は、コンクリート壁面であることが多く、コントラストを検出しにくい。オートフォーカス制御は、ステップＳ１２で測距した距離に基づいて行う方式が好ましい。

　ステップＳ１４において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２における第１画角の各撮像範囲６３を撮像する。測量機１は、制御部５１の制御に従って、各撮像範囲６３のレチクルの中心が示す観測点Ｏの角度（ＨＡ，ＶＡ）を算出する。測量機１は、制御部５１の制御に従って、撮像した外観画像データの各画素のグローバル座標データを、観測中心の観測点Ｏからの角度を変換することによって算出する。これにより、撮像範囲６３の全ての画素がグローバル座標データに変換される。

　一例として、測量機１は、外観画像データの中に欠陥が検出されると、欠陥の始点と終点の画素を、位置データとしての観測中心の観測点Ｏからの角度を変換することによって算出する。

　測量機１は、グローバル座標データにより画素の位置が特定された外観画像データを、欠陥画像表示制御装置５０に送信する。制御部５１は、表示部５２に、順次、外観画像データに基づく外観画像を表示させる。
　一例として、測量機１は、撮像した各外観画像データの位置データとして、全ての画素のグローバル座標データを算出し、欠陥画像表示制御装置５０に出力する。

　ステップＳ１５において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、オルソ補正処理を行うため、撮像した外観画像の４隅の座標データを算出する。４隅の座標データは、各外観画像データにおける４隅の画素の座標データである。

　ステップＳ１６において、制御部５１は、撮像した外観画像データのそれぞれについて、欠陥の検出を行い、欠陥の位置、長さ及び幅を測定する。
　なお、欠陥の検出についての詳細は後述する。
　ステップＳ１７において、制御部５１は、各外観画像データのオルソ補正処理を行う。一例として、制御部５１は、外観画像データにオルソ補正処理を施すオルソ補正処理部として機能する。

　ステップＳ１８において、制御部５１は、各外観画像データを繋ぎ合わせるスティッチング処理を行う。一例として、制御部５１は、オルソ補正処理が施された第１外観画像データとオルソ補正処理が施された第２外観画像データとを繋ぎ合わせるスティッチング処理を施すスティッチング処理部として機能する。
　なお、オルソ処理とスティッチング処理についての詳細は後述する。

　測定面６１である壁面が鉛直面である場合は、概ね、鉛直角が４５°以上、１３５°以下の範囲で撮像部７が水平軸Ｏ２周りに回転駆動される。また、測定面６１である壁面が鉛直面である場合は、概ね、鉛直角が２２５°以上、３１５°以下の範囲で撮像部７が水平軸Ｏ２周りに回転駆動される。

　図１５は、鉛直面の測定範囲６２をタイル状に自動測定する状態を説明する図である。
　一例として、測定範囲６２は、長方形である。一例として、測定範囲６２の内側には、測定の除外領域を有していない。測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２より広い長方形の全撮像範囲７１を、第１撮像部１１を用いて撮像する。自動測定では、第１画角の第１撮像部１１を用いる。第１撮像部１１は、全撮像範囲７１内を、第１画角の撮像領域７２の大部分が重ならないように撮像する。一例として、各撮像領域７２は、外縁を含む外縁領域が隣接する撮像領域７２と重複する重複領域７０を有する。各撮像領域７２は、一例として、同じ大きさの長方形である。各撮像領域７２は、一例として、同じ大きさの正方形でもよい。測量機１は、撮像領域７２がタイル状に並ぶように、全撮像範囲７１を撮像する。一例として、測量機１は、全撮像範囲７１内において、第１撮像部１１をＳ字状に移動させて、全撮像範囲７１を撮像する。撮像開始は、Ｓ字形状のルートの何れの端部であってもよい。一例として、測量機１は、全撮像範囲７１を、連続して撮像できるルートで順次撮像する。一例として、測量機１は、全撮像範囲７１を、水平角駆動部１５及び鉛直角駆動部１７による撮像部７の移動量が最少となるルートで順次撮像する。一例として、測量機１は、現在の撮像領域７２に対して次に撮像する撮像領域７２を、現在の撮像領域７２に対して隣接する撮像領域７２とする。

　図１６は、欠陥の検出及び測定をする手順を示すフローチャートである。
　ステップＳ２１において、測量機１は、制御部５１の制御に従って、測定範囲６２における各撮像領域７２を撮像する。一例として、測量機１は、制御部５１の制御に従って、各撮像領域７２を撮像する際、測量機１が十字形状を有したレチクルの中心が示す観測点の角度（ＨＡ，ＶＡ）を算出し、中心の観測点からの角度（ＨＡ，ＶＡ）を変換することによって、各画素のグローバル座標データを算出する。測量機１は、位置データとして、撮像した外観画像データ、及び、画素に対応づけられたグローバル座標データを欠陥画像表示制御装置５０に送信する。測量機１から送信された外観画像データやグローバル座標データ（位置データ）は、制御部５１により記憶部５４（例えばステップＳ２で作成された記録フォルダ）に保存される。

　ステップＳ２２において、欠陥画像表示制御装置５０の制御部５１は、表示部５２に、外観画像データに基づく外観画像を順次表示させる。図１７（ａ）は、欠陥８１を有する外観画像の一例を示している。

　制御部５１は、欠陥検出部として機能する。ステップＳ２３において、制御部５１は、各外観画像データについて、欠陥の検出を行う。一例として、制御部５１は、各外観画像データに対して画像処理（画像解析）を行うことで欠陥を検出する。一例として、欠陥の検出は、外観画像のコントラストを検出して行われる。制御部５１は、欠陥を検出すると、欠陥の位置を示す欠陥位置データを測定する。一例として、欠陥位置データは、グローバル座標系で特定される座標データである。欠陥位置データは、位置データとしてのレチクルの示す観測点Ｏからの角度を変換することによって欠陥の位置を特定する座標データである。一例として、制御部５１は、欠陥８１の始点の画素に対応したグローバル座標データを特定する。また、制御部５１は、欠陥８１の終点の画素に対応したグローバル座標データを特定する。制御部５１は、欠陥の始点と終点との間の距離を、欠陥長さデータとして測定する。制御部５１は、欠陥位置データに基づく情報や欠陥長さデータに基づく情報を、外観画像データに基づく外観画像とともに表示部５２に表示する。

　一例として、検出する欠陥の幅は、特に限定されないが、一例として、０．２ｍｍ以上であり、また、０．１ｍｍ以上である。
　一例として、欠陥８１の検出は、測量機１が行ってもよい。

　ステップＳ２４において、制御部５１は、外観画像において検出した欠陥８１をユーザが識別できるように欠陥識別表示処理を行う。一例として、制御部５１は、外観画像において検出した欠陥８１に対して強調表示処理を行う。一例として、制御部５１は、図１７（ｂ）に示すように、外観画像において検出した欠陥８１に欠陥オブジェクト８１ａを重畳して表示する。欠陥オブジェクト８１ａの形状は、検出した欠陥に応じた形状で構成される。欠陥オブジェクト８１ａの形状は、検出したひびや窪みの形状に応じた形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、線形状で構成される。線形状の場合は、一例として、線の太さ、線種（実線、点線、鎖線、波線等）を異ならせて強調表示処理を行うことができる。一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、矩形形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、円形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、重畳する欠陥周辺の色とは異なる色で表示される。

　一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、欠陥８１の幅に応じて、強調表示処理を異ならせる。例えば、制御部５１は、数値範囲が第１範囲の欠陥幅データと数値範囲が第２範囲の欠陥幅データとで異なる強調表示処理を行う。一例として、制御部５１は、０．１ｍｍ以上０．２ｍｍ未満の幅を有する欠陥に対して第１強調表示処理を行い、０．２ｍｍ以上０．３ｍｍ未満の幅を有する欠陥に対して第１強調表示処理とは異なる第２強調表示処理を行い、０．３ｍｍ以上０．４ｍｍ未満の幅を有する欠陥に対して第１強調表示処理や第２強調表示処理とは異なる第３強調表示処理を行う。なお、各強調表示処理を定義づける数値範囲は、以上の例に限定されるものではない。また、強調表示処理の数も、３つに限定されるものではなく、２つでもよく、また、４つ以上であってもよい。
　強調表示処理としては、一例として、欠陥８１の欠陥幅に応じて、線形状（線種）や形状を異ならせる。また、欠陥８１の欠陥幅に応じて、色を異ならせる。
　一例として、ステップＳ２４は、省略してもよい。

　ステップＳ２５において、制御部５１は、検出した欠陥に関して欠陥幅データを測定する。一例として、欠陥８１の検出のみを目的とする場合、ステップＳ２４や以降の処理を省略してもよい。

　ステップＳ２６において、制御部５１は、欠陥（ひび）が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所を変化点８２として検出する。また、欠陥（ひび）の端部を端点８４として検出する。制御部５１は、隣接する変化点８２の間のセグメント８３を一単位として取り扱う。制御部５１は、欠陥位置データとしての各セグメント８３の始点と終点の画素に対応したグローバル座標データを特定する。制御部５１は、各セグメント８３の始点と終点との間の距離を、セグメント８３の欠陥長さデータとして算出する。また、制御部５１は、各セグメント８３の欠陥幅データを算出する。図１７（ｃ）に示すように、一例として、制御部５１は、セグメント８３の欠陥幅に対応する欠陥幅識別表示処理をセグメント８３毎に行う。一例として、制御部５１は、セグメント８３の欠陥幅に対応する強調表示処理を行う。

　図１７（ｃ）に示すように、一例として、制御部５１は、外観画像において検出したセグメント８３に対して欠陥オブジェクト８３ａを重畳して強調表示処理を行う。欠陥オブジェクト８３ａの形状は、検出した欠陥に応じた形状で構成される。欠陥オブジェクト８３ａの形状は、検出したひびや窪みの形状に応じた形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８３ａは、線形状で構成される。線形状の場合は、一例として、線の太さ、線種（実線、点線、鎖線、波線等）等を異ならせて強調表示処理を行うことができる。一例として、欠陥オブジェクト８３ａは、矩形形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８３ａは、円形状で構成される。一例として、欠陥オブジェクト８３ａは、重畳する欠陥周辺の色とは異なる色で表示される。

　一例として、欠陥オブジェクト８３ａは、欠陥の幅に応じて、強調表示処理を異ならせる。例えば、制御部５１は、第１範囲の欠陥幅データと第２範囲の欠陥幅データとで異なる強調表示処理を行う。さらに具体的に、制御部５１は、０．１ｍｍ以上０．２ｍｍ未満の幅に対して第１強調表示処理を行い、０．２ｍｍ以上０．３ｍｍ未満の幅に対して第１強調表示処理とは異なる第２強調表示処理を行い、０．３ｍｍ以上０．４ｍｍ未満の幅に対して第１強調表示処理や第２強調表示処理とは異なる第３強調表示処理を行う。なお、各強調表示処理を定義づける数値範囲は、以上の例に限定されるものではない。また、強調表示処理の数も、３つに限定されるものではなく、２つでもよく、また、４つ以上であってもよい。
　強調表示処理としては、一例として、セグメント８３の欠陥幅に応じて、線形状（線種）や形状を異ならせる。また、セグメント８３の欠陥幅に応じて、色を異ならせる。

　一例として、セグメント８３の欠陥オブジェクト８３ａの識別表示処理（強調表示処理）は、隣接する変化点８２間の欠陥オブジェクト８３ａに対するものだけでなく、端点８４と端点８４に隣接する変化点８２との間の欠陥オブジェクト８３ａに対しても行う。

　ステップＳ２７において、制御部５１は、外観画像データに関する欠陥データを格納したデータファイルを作成し、欠陥データのデータファイルを外観画像データのデータファイルと関連づけて記憶部５４の記録フォルダに保存する。一例として、欠陥データは、欠陥位置データ、欠陥長さデータ及び欠陥幅データを含む。一例として、欠陥位置データ、欠陥長さデータ及び欠陥幅データを含む欠陥データは、上述したステップＳ２４及びステップＳ２５のような欠陥データでもよいし、上述したステップＳ２６のようなセグメント毎の欠陥データでもよい。

　図１８及び図１９は、欠陥画像表示制御装置５０の表示部５２に表示された画面の一例を示す。図１８に示すように、表示部５２に表示された画面は、スクロールバー８５と、外観画像表示領域８６と、スティッチ画像表示領域８７と、一覧表示領域８８とを有する。
　外観画像表示領域８６は、測量機１で撮像された外観画像データに基づく外観画像が表示される領域である。一例として、図８のステップＳ７で示した自動測定を測量機１が行っており、測量機１で撮像された外観画像データが欠陥画像表示制御装置５０へ順次送信されている。このような場合、制御部５１は、測量機１から送信された最新の外観画像データに基づく外観画像を外観画像表示領域８６に表示する。制御部５１は、測量機１から受信した最新の外観画像データに基づく外観画像で外観画像表示領域８６に表示される外観画像を更新して表示する。外観画像表示領域８６には、測量機１で撮像された順番で、外観画像データに基づく外観画像が切り替えて表示される。

　図１９に示すように、スティッチ画像表示領域８７は、複数の外観画像データが繋ぎ合わされたスティッチング処理済み外観画像データに基づくスティッチング処理済み外観画像が表示される領域である。一例として、図８のステップＳ７で示した自動測定を測量機１が行っており、測量機１で撮像された外観画像データが欠陥画像表示制御装置５０へ順次送信されている。このような場合、制御部５１は、測量機１から外観画像データが送信される毎に、測量機１から送信された複数の外観画像データにスティッチング処理を施したスティッチング処理済み外観画像データに基づくスティッチング処理済み外観画像をスティッチ画像表示領域８７に表示する。

　なお、測量機１から送信された外観画像データが１つのときは、測量機１から送信された外観画像データに対してスティッチング処理を施すことなく、測量機１から送信された外観画像データに基づく外観画像をスティッチ画像表示領域８７に表示する。

　スクロールバー８５は、スティッチ画像表示領域８７の周囲に表示される。一例として、スクロールバー８５は、スティッチ画像表示領域８７に表示されるスティッチング処理済み外観画像の縦方向に沿ったスクロールバーと、スティッチ画像表示領域８７に表示されるスティッチング処理済み外観画像の横方向に沿ったスクロールバーの２つを有する。

　ユーザによりスクロールバー８５が操作されると、制御部５１は、スクロールバー８５に対する操作内容に応じて、スティッチ画像表示領域８７に表示されているスティッチング処理済み外観画像をスクロールする。スティッチング処理済み外観画像がスティッチ画像表示領域８７より大きい場合、ユーザは、スクロールバー８５を操作することでスティッチング処理済み外観画像の所望の領域を見ることができる。

　一例として、制御部５１は、スティッチング処理済み外観画像を構成する複数の外観画像のうち、測量機１から送信された最新の外観画像データ（測量機１で撮像された最新の外観画像データ）に基づく外観画像がスティッチ画像表示領域８７に表示されるようにスティッチング処理済み外観画像を表示する。ユーザは、例えばスクロールバー８５を操作することなく、測量機１から送信された最新の外観画像データ（測量機１で撮像された最新の外観画像データ）に基づく外観画像を順次確認することができる。

　一例として、図８のステップＳ７で示した自動測定を測量機１が行っており、測量機１で撮像された外観画像データが欠陥画像表示制御装置５０へ順次送信されている。このような場合、制御部５１は、測量機１により自動測定で撮像される外観画像データの総数情報を測量機１から受信することで、測量機１による自動測定の進捗状況をスティッチング処理済み外観画像とともにスティッチ画像表示領域８７に表示する。一例として、測量機１による自動測定の進捗状況としては、全撮像枚数中何枚目までの外観画像がスティッチ画像表示領域８７に表示されたかを示す情報や、全撮像枚数までの残り枚数を示す情報が挙げられる。

　一例として、測量機１で順次撮像して生成され且つ測量機１又は欠陥画像表示制御装置５０でオルソ補正処理が施された第１外観画像データ及び第２外観画像データに対してスティッチング処理を施していない場合がある。又は、測量機１で順次撮像して生成され且つ測量機１又は欠陥画像表示制御装置５０でオルソ補正処理が施された第１外観画像データ及び第２外観画像データに対してスティッチング処理が完了していない場合がある。これらの場合、制御部５１は、オルソ補正処理が施された第１外観画像データに基づく第１外観画像を外観画像表示領域８６に表示する。このとき、制御部５１は、第１外観画像データに関する第１欠陥データに基づく第１欠陥情報を一覧表示領域８８に表示する。
　なお、このとき、制御部５１は、オルソ補正処理が施された第１外観画像データに基づく第１外観画像をスティッチ画像表示領域８７に表示してもよい。

　一例として、測量機１で順次撮像して生成され且つ測量機１又は欠陥画像表示制御装置５０でオルソ補正処理が施された第１外観画像データ及び第２外観画像データに対するスティッチング処理が施された場合、制御部５１は、第１外観画像データと第２外観画像データとをスティッチングしたスティッチング処理済み外観画像データに基づくスティッチング処理済み外観画像をスティッチ画像表示領域８７に表示する。このとき、制御部５１は、第１外観画像データに関する第１欠陥データに基づく前記第１欠陥情報と、第２外観画像データに関する第２欠陥データに基づく第２欠陥情報とを一覧表示領域８８に表示する。また、このとき、制御部５１は、オルソ補正処理が施された第１外観画像データに基づく第１外観画像に代えて、オルソ補正処理が施された第２外観画像データに基づく第２外観画像を外観画像表示領域８６に表示する。

　一例として、スティッチ画像表示領域８７に外観画像データが移動されるときには、既に、欠陥の検出処理が終了し、オルソ補正処理が完了している。欠陥８１やセグメント８３に対する強調表示処理は、外観画像表示領域８６に表示されているときに行ってもよいし、スティッチ画像表示領域８７に表示されてから行ってもよい。

　一覧表示領域８８は、制御部５１により外観画像データから検出された欠陥８１のセグメント８３毎に、識別データとして付与された識別番号と、欠陥データとなる始点座標データのＸ座標データと、始点座標データのＹ座標データと、始点座標データのＺ座標データと、終点座標データのＸ座標データと、終点座標データのＹ座標データと、終点座標データのＺ座標データと、欠陥幅データと、欠陥長さデータとを表示する領域である。

　外観画像表示領域８６、及び、スティッチ画像表示領域８７において、１つのセグメント８３が操作部５３によって選択されたとき、制御部５１は、強調表示処理として、選択されたセグメント８３を四角形状等の選択枠８９で包囲する。また、制御部５１は、一覧表示領域８８において、選択されたセグメント８３のデータに対して網掛け表示等の識別表示を行う。一覧表示領域８８において、１つ又は複数のセグメント８３が操作部５３によって選択されたとき、制御部５１は、選択されたセグメント８３を四角形状の選択枠８９で包囲する。一例として、選択枠８９は、円形や三角形等である。一例として、選択枠８９の形状は、セグメント８３の長さや形状に応じて適宜変更される。一例として、制御部５１は、連続する同じ幅のセグメント８３を選択枠８９で包囲する。

　図２０は、連続する複数のセグメント８３を選択した状態の画面を示す図である。一例として、制御部５１は、連続する複数のセグメント８３が選択されたとき、選択されたセグメント８３毎に選択枠８９で包囲すると共に、一覧表示領域８８において、選択されたセグメント８３のデータに対して網掛け表示等の識別表示を行う。一例として、制御部５１は、欠陥データとして、欠陥８１の連続性を各セグメント８３の始点座標データと終点座標データに基づいて自動検出する。一例として、始点を含むセグメント８３と終点を含むセグメント８３が選択されると、最初のセグメント８３の始点と最後のセグメント８３の終点のセグメントの間における連続するセグメント８３を検出し選択する。

　一例として、制御部５１は、さらに、選択された複数のセグメント８３で構成された欠陥８１の始点座標データ、終点座標データ、欠陥長さデータ、欠陥幅データの最大値や最小値や平均値等を算出し表示する。一例として、制御部５１は、選択したセグメント８３の割合を表示する。例えば、制御部５１は、欠陥幅データが０．１ｍｍ以上０．２ｍｍ未満はＸ％、０．２ｍｍ以上０．３ｍｍ未満はＹ％と表示する。一例として、複数のセグメント８３が選択された後にも、新たなセグメント８３を選択することができる。

　図２１は、非連続なセグメント８３を選択した状態の画面を示す図である。一例として、制御部５１は、欠陥データとして、選択されたセグメント８３の数、選択したセグメント８３の長さの合計、選択したセグメント８３の欠陥幅データの平均値、選択したセグメント８３の幅データの最大値、選択したセグメント８３の欠陥幅データの最小値等を表示する。一例として、制御部５１は、選択されたセグメント８３の欠陥幅データの割合を表示する。例えば、制御部５１は、欠陥幅データが０．１ｍｍ以上０．２ｍｍ未満はＸ％、０．２ｍｍ以上０．３ｍｍ未満はＹ％と表示する。

　〔オルソ補正処理（ステップＳ１７）〕
　図２２はオルソ補正処理を示す図であり、（ａ）は、オルソ補正前を示し、（ｂ）は、オルソ補正処理（正射投影補正処理）後を示す。
　図２２（ａ）に示すように、測定面６１と測量機１とは正対していない場合には、各外観画像データに基づく外観画像９１ａには歪みが発生する。撮像された各外観画像データは、各画素をグローバル座標で特定することができる。制御部５１は、各画素をグローバル座標データを用いて外観画像データを測定面６１に投影したオルソ補正処理を行う。一例として、制御部５１は、各外観画像データの四隅のグローバル座標データを算出する。制御部５１は、４隅の画素のグローバル座標データに基づいて測定面６１に投影したオルソ補正を行う。オルソ補正処理の際には、記憶部５４に格納されている第１撮像部１１の第１撮像素子や第１光学系の傾斜に関する傾斜データも考慮に入れる。これにより、オルソ補正処理がされた外観画像９１ｂは、全体が測量機１と正対した状態で撮像された画像と同じとなる。制御部５１は、検出した欠陥８１に対してもオルソ補正処理を行う。

　一例として、オルソ補正処理を行うと外観画像が若干劣化するため、オルソ補正処理は、欠陥検出・測定後に行う。制御部５１は、オルソ補正処理が施されていない外観画像データから欠陥を検出する。一例として、幅検出・測定の前にオルソ補正処理を行ってもよい。

　〔スティッチング処理（ステップＳ１８）〕
　オルソ補正処理が施された各外観画像データにあっても、各画素について、グローバル座標データを有する。

　一例として、互いに隣接する外観画像データを繋ぎ合わせる場合、制御部５１は、互いに隣接する外観画像データの同じ座標値の画素が重なるように繋ぎ合わせる。
　一例として、制御部５１は、互いに隣接する外観画像データを繋ぎあわせなくても、座標上に、各外観画像データのグローバル座標データに基づいて、その外観画像データを当てはめる。この場合、制御部５１は、各外観画像データの中心のグローバル座標データは任意の画素のグローバル座標データ等、複数の画素のグローバル座標データを用いて、座標上に、外観画像データを当てはめる。
　一例として、隣接する外観画像データは、重複領域を有する。重複領域は、同じグローバル座標データが与えられている。スティッチング処理する際、制御部５１は、グローバル座標データで特定される何れか一方の外観画像データの重複領域を削除する。

　図２３は、４枚の外観画像データに基づく外観画像９２ａ～９２ｄのスティッチング処理部を施した全体外観画像９２を示す図である。制御部５１は、測定範囲６２を撮像した個々の外観画像データを繋ぎ合わせ、測定範囲６２の全体外観画像データに基づく全体外観画像９２を構成する。

　一例として、制御部５１は、第１外観画像データに対応づけられた第１座標データと第２外観画像データに対応づけられた第２座標データとを用いて、オルソ補正処理が施された第１外観画像データとオルソ補正処理が施された第２外観画像データとを繋ぎ合わせるスティッチング処理を施す。

　〔保存（ステップＳ２７）〕
　記憶部５４の記録フォルダには、撮像した複数の外観画像データが所定のファイル形式の画像ファイルとして保存される。記録フォルダには、各外観画像データを関連付けて、位置データとしての各外観画像データを構成する画素のグローバル座標データも保存される。外観画像データの画像ファイルは、例えば、ＪＰＥＧ形式やビットマップ形式で保存され、座標データは、テキストファイルで保存される。また、外観画像データと座標データとは、ＥＸＩＦ形式で保存される。外観画像データの保存形式は、ＪＰＥＧ形式以外のデータであってもよい。

　制御部５１は、記憶部５４の記録フォルダに、実際に撮像された測定範囲６２における個々の外観画像データ等を画像データファイルとして保存する。一例として、記憶部５４の記録フォルダに、測定範囲６２におけるオルソ補正処理された個々の外観画像データを画像データファイルとして保存する。一例として、記憶部５４の記録フォルダに、オルソ補正処理された外観画像データをスティッチング処理した全体外観画像データ等を１つの画像データファイルとして保存する。一例として、記憶部５４の記録フォルダに、欠陥に対して強調表示処理が施された個々の外観画像データの画像データファイルや全体外観画像データの１つの画像データファイル等を保存する。

　〔欠陥の編集〕
　ところで、上述したひび等の欠陥の検出は、コントラストを測定する等、画像処理（画像解析）によって行われる。このため、外観画像データから全ての欠陥を正確に検出できないことも考えられる。例えば部分的に欠陥を検出したり、欠陥ではない箇所を欠陥として誤検出したりすることが考えられる。そこで、ユーザは、記憶部５４に保存した外観画像データに基づく外観画像を目視検査し、欠陥画像表示制御装置５０は、ユーザの指示に従って外観画像データに関する欠陥データを編集する構成とした。一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、ユーザは外観画像で欠陥を視認できるが欠陥画像表示制御装置５０（制御部５１）が欠陥として検出していない箇所について、ユーザ指示に基づいて外観画像データに関する欠陥データを追加することができる。一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、欠陥画像表示制御装置５０（制御部５１）により欠陥として検出されているもののユーザが外観画像で欠陥を視認できない箇所について、ユーザ指示に基づいて外観画像データに関する欠陥データを削除や切り取り、変更等、修正することができる。このように、制御部５１は、欠陥編集部として機能する。

　図２４は、外観画像データに基づく外観画像の欠陥を編集する編集モードにおける編集画面が表示された表示部５２の一例を示す。一例として、図２４に示す編集画面は、外観画像表示領域１０３と、編集モード選択オブジェクト１１７と、入力オブジェクト１０６とを含む。

　外観画像表示領域１０３は、記憶部５４に保存されている外観画像データに基づく外観画像１００が表示される領域である。一例として、記憶部５４に保存されている外観画像データは、測量機１で撮像されて生成された後、測量機１から欠陥画像表示制御装置５０へ送信された外観画像データである。

　一例として、制御部５１は、欠陥編集プログラム５４ｂに従って、記憶部５４に保存されている外観画像データに基づく外観画像１００を表示部５２に表示させる。一例として、制御部５１は、記憶部５４の記録フォルダに格納されているオルソ補正処理済みの外観画像データのデータファイルを１つ又は複数選択し、選択された外観画像データのデータファイルに格納された外観画像データを読み出して表示部５２に表示する。一例として、制御部５１により選択された外観画像データのデータファイルは、ユーザの操作によって選択されたデータファイルである。一例として、制御部５１により選択された外観画像データのデータファイルは、測定範囲６２を撮像した全外観画像データのデータファイルである。

　一例として、選択した外観画像データが、測定範囲６２の全域をカバーするために測量機１により撮像して生成された複数の外観画像データに含まれる場合、制御部５１は、測定範囲６２を撮像した個々の外観画像データをすべて選択する。制御部５１は、選択したすべての外観画像データに対してスティッチング処理を施してスティッチング処理済み外観画像データを生成する。一例として、外観画像データのスティッチング処理は、互いに隣接する外観画像データの同じ座標値（例えばグローバル座標値）の画素が重なるように行う。一例として、制御部５１は、スティッチング処理済み外観画像データに基づくスティッチング処理済み外観画像を外観画像表示領域１０３に表示する。

　一例として、制御部５１は、スティッチング処理済み外観画像を構成する個々の外観画像の撮像範囲６３を示すオブジェクト１０１をスティッチング処理済み外観画像に重畳して表示する。一例として、図２４の編集画面では、９つの外観画像データに対してスティッチング処理を施して生成されたスティッチング処理済み外観画像データに基づくスティッチング処理済み外観画像が外観画像表示領域１０３に表示されている。そのため、図２４の編集画面では、スティッチング処理済み外観画像に重畳して、９つの外観画像データそれぞれに対応するオブジェクト１０１が９つ表示されている。オブジェクト１０１が図２４に示したように表示されるのは、上述した図１５と同様、個々の外観画像データが隣接する外観画像データと重複する領域である重複領域７０を有しているためである。

　外観画像表示領域１０３に表示される外観画像やスティッチング処理済み外観画像の位置（領域）が変更された場合において、変更後の位置（領域）に対応する外観画像データが存在するとき、制御部５１は、変更後の位置（領域）に対応する外観画像データに基づく画像を表示する。又は、変更前に表示していたスティッチング処理済み外観画像データと変更後の位置（領域）に対応する外観画像データとをスティッチングした新たなスティッチング処理済み外観画像データに基づく新たなスティッチング処理済み外観画像を生成して変更後の位置（領域）に対応するように表示する。変更後の位置（領域）に対応する外観画像データが存在しないときは、外観画像表示領域１０３に表示されていた外観画像やスティッチング処理済み外観画像の位置（領域）を変更して表示する。

　なお、図２５に示すように、外観画像表示領域１０３に表示する外観画像やスティッチング処理済み外観画像に測定範囲６２が含まれる場合、制御部５１は、測定範囲６２を示すオブジェクト１０２を外観画像やスティッチング処理済み外観画像に重畳して表示する。

　なお、一例として、欠陥検出プログラム５４ａと欠陥編集プログラム５４ｂとは、１つのソフトウェアで構成された単一プログラムあってもよい。また、一例として、欠陥検出プログラム５４ａ及び欠陥編集プログラム５４ｂ、又は、単一プログラムは、同じ装置にインストールしてもよい。このような構成とすることで、ユーザは、欠陥を検出した後、その外観画像に対して欠陥の編集を効率的に行うことができる。また、欠陥検出プログラム５４ａ及び欠陥編集プログラム５４ｂ、又は、単一プログラムは、外観画像の撮像と編集を別の場所で行うことができるように、異なる装置にインストールしてもよい。

　編集モード選択オブジェクト１１７は、追加オブジェクト１１７ａと、切り取りオブジェクト１１７ｂと、削除オブジェクト１１７ｃと、結合オブジェクト１１７ｄと、変更オブジェクト１１７ｅとを有する。

　追加オブジェクト１１７ａは、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データについて、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００において変化点又は端点を追加する機能を実行するためのユーザ操作を受け付ける位置をユーザに示すオブジェクトである。

　切り取りオブジェクト１１７ｂは、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データについて、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００において指定した２つの変化点又は端点の間の欠陥データを切り取る機能を実行するためのユーザ操作を受け付ける位置をユーザに示すオブジェクトである。

　削除オブジェクト１１７ｃは、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データについて、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００において指定した範囲内にある変化点又は端点を削除し、削除により端点が２つ生成されたときはその間を新たな欠陥データとして追加する機能を実行するためのユーザ操作を受け付ける位置をユーザに示すオブジェクトである。

　結合オブジェクト１１７ｄは、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データについて、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００において指定した２つの欠陥オブジェクト８３ａを結合して１つの欠陥オブジェクト８３ａにする機能を実行するためのユーザ操作を受け付ける位置をユーザに示すオブジェクトである。

　変更オブジェクト１１７ｅは、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データについて、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像１００において変化点又は端点の位置を変更する機能を実行するためのユーザ操作を受け付ける位置をユーザに示すオブジェクトである。

　一例として、追加オブジェクト１１７ａ、切り取りオブジェクト１１７ｂ、削除オブジェクト１１７ｃ、結合オブジェクト１１７ｄ及び変更オブジェクト１１７ｅは、ラジオボタンで構成される。

　入力オブジェクト１０６は、レイヤ入力部１０６ａと、座標入力部１０６ｂと、高度入力部１０６ｃと、欠陥幅入力部１０６ｄと、色凡例表示部１０６ｅとを含む。

　レイヤ入力部１０６ａは、一例として、外観画像表示領域１０３に表示されている外観画像に対応する外観画像データに関連づけられている欠陥データが属するレイヤが表示されるオブジェクトである。また、一例として、レイヤ入力部１０６ａは、欠陥データが追加や編集されたとき、追加や編集された欠陥データのレイヤを指定するオブジェクトである。欠陥データは、編集や追加する欠陥データの欠陥の幅に対応してレイヤが定義されている。レイヤ入力部１０６ａでは、欠陥幅入力部１０６ｄに入力された欠陥幅に対応するレイヤが入力される。一例として、欠陥検出プログラム５４ａで検出された欠陥８１の欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａは、１つのレイヤとして特定されている。また、一例として、欠陥オブジェクト８１ａは、欠陥の幅に応じてレイヤが特定されている。また、一例として、欠陥編集プログラム５４ｂで追加変更された欠陥１１１の欠陥オブジェクト１１１ａは、欠陥幅入力部１０６ｄに入力された欠陥幅に対応するレイヤが入力される。一例として、欠陥検出プログラム５４ａで検出されたセグメント８３の欠陥オブジェクト８３ａは、欠陥の幅に応じてレイヤが特定されている。

　座標入力部１０６ｂ及び高度入力部１０６ｃは、ガイドオブジェクト１１０の示す位置の座標データが入力されるオブジェクトである。一例として、座標入力部１０６ｂ及び高度入力部１０６ｃは、マウスカーソルの位置に表示されるガイドオブジェクト１１０の示す位置の座標データが入力されるオブジェクトである。表示されている外観画像データは、各画素のグローバル座標系の座標データを測定可能である。そこで、制御部５１は、マウスカーソルの示す位置のグローバル座標系の座標データを算出し、算出した座標データに従った値を座標入力部１０６ｂ及び高度入力部１０６ｃに入力する。

　欠陥幅入力部１０６ｄは、欠陥の欠陥幅データ入力部であり、追加する欠陥の欠陥幅データが入力されるオブジェクトである。

　一例として、欠陥の幅に応じて異なる識別表示処理を行う場合であって、色による強調表示処理を行うとき、色凡例表示部１０６ｅは、幅毎の色定義を表示するオブジェクトである。一例として、第１範囲の欠陥幅データと第２範囲の欠陥幅データとで異なる強調表示処理を行う。一例として、色凡例表示部１０６ｅは、青のレイヤの数値範囲は０．０ｍｍ以上０．１ｍｍ未満、緑のレイヤの数値範囲は０．１ｍｍ以上０．２ｍｍ未満、黄色のレイヤの数値範囲は０．２ｍｍ以上０．３ｍｍ未満といったように色凡例を表示する。なお、レイヤは、色の他、線種等によって区別されるようにしてもよい。なお、各レイヤを定義づける数値範囲は、以上の例に限定されるものではない。また、レイヤの数も、特に限定されるものではない。

　図２５は、欠陥の追加作業を行う編集画面を示す図である。図２６は、欠陥の追加作業を行う編集画面を示す図であり、図２５の外観画像を拡大した画面を示している。一例として、画面の右には、入力オブジェクト１０６が表示される。また、既に検出されている欠陥８１を示す欠陥オブジェクト８１ａが表示されている。図１７（ｃ）に示すように、欠陥オブジェクト８１ａは、変化点８２を表示し、変化点８２間のセグメント８３の欠陥オブジェクト８３ａを、周辺の色とは異なる色や線種で強調表示処理してもよい。

　マウスカーソルの位置が表示している外観画像１００と重なるとき、制御部５１は、マウスカーソルの位置に、ガイドオブジェクト１１０を表示する。ガイドオブジェクト１１０は、外観画像１００に現れた欠陥１１１の幅を測定するためのガイドであり、構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示す。ガイドオブジェクト１１０は、一例として、十字形状に複数の円形状を重ねた図形部１１０ａと、図形部１１０ａの大きさに対応付いた寸法値で構成される数値部１１０ｄとを備える。一例として、図形部１１０ａにおける複数の円形状は、同心円である。一例として、図形部１１０ａは、２つの円形状を有する。一例として、図形部１１０ａは、十字形状の交点と複数の円形状の中心が一致している。図形部１１０ａの画面上における大きさは、外観画像１００に現れた欠陥１１１の実空間における大きさを測るための指標となる。一例として、図形部１１０ａは、中心から等方的な形状を有する。これにより、ユーザは、欠陥１１１の幅を把握しやすくなる。数値部１１０ｄは、構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示す数値（実際の寸法）である。

　ガイドオブジェクト１１０の色は、レイヤの色と同じ色であってもよいし、異なっていてもよい。一例として、ガイドオブジェクト１１０は、表示されているレイヤとの区別を容易にするため、表示されているレイヤの色とは異なる色で表示される。

　一例として、多数のレイヤが外観画像１００上に表示され、レイヤに多くの色が使用されているとき、ガイドオブジェクト１１０は、閾値より少ない複数のレイヤの色の中から１つ選択され、表示されているレイヤの色と容易に区別できるようにする。また、最も数の少ないレイヤの色が選択され、表示されているレイヤの色と容易に区別できるようにする。

　一例として、表示部５２に表示されている外観画像１００を拡大又は縮小するときであっても、制御部５１は、ガイドオブジェクト１１０の大きさを変更しない。図形部１１０ａの外周円１１０ｂの直径及び内周円１１０ｃの直径は、外観画像が表示している実空間における構造物の大きさの尺度となっている。外周円１１０ｂの近くには、実空間における寸法値で構成される数値部１１０ｄが表示され、内周円１１０ｃの近くにも、実空間における寸法値で構成される数値部１１０ｄが表示される。数値部１１０ｄは、外周円１１０ｂ及び内周円１１０ｃの直径に対応する実空間における寸法値で構成される。図２５では、一例として、外周円１１０ｂの近くには「φ６．４ｍｍ」と表示され、内周円１１０ｃの近くには「φ３．２ｍｍ」と表示されている。一例として、内周円１１０ｃは、外周円１１０ｂの１／２である。勿論、外周円１１０ｂに対する内周円１１０ｃの大きさは、１／２に限定されるものではない。

　一例として、マウスホイールが回転されると、制御部５１は、回転方向と回転量に応じて、表示部５２に表示されている外観画像１００を拡大又は縮小する。外観画像１００が拡大又は縮小されたときにおいても、一例として、制御部５１は、図形部１１０ａの大きさを変更しない。この場合、制御部５１は、外周円１１０ｂの数値部１１０ｄの数値と内周円１１０ｃの数値部１１０ｄの数値を外観画像１００の拡大率や縮小率に応じて変更する。一例として、図２６は、図２５の外観画像を拡大したものであり、外周円１１０ｂの近くには、数値部１１０ｄとして、「φ６．４ｍｍ」が「φ３．２ｍｍ」と変更表示され、内周円１１０ｃの近くには、数値部１１０ｄとして、「φ３．２ｍｍ」が「φ１．６ｍｍ」と変更表示される。

　図２６及び図２７（ａ）に示すように、ユーザは、操作部５３を構成するマウスを使用して、外観画像１００上において、図形部１１０ａを移動させて、例えば、図形部１１０ａを、外観画像１００に現れた欠陥１１１に重ねる。一例として、欠陥１１１は、欠陥検出プログラム５４ａで検出されなかった欠陥である。一例として、制御部５１は、位置を選択する選択部である。欠陥１１１の一端に位置する端点に図形部１１０ａの位置を合わせ、左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ３１において、位置合わせされた端点１０８の位置を選択する。この際、マウスホイールを回転させて、外観画像１００を拡大又は縮小させて、例えば、欠陥１１１の幅を外周円１１０ｂに合わせる。これにより、ユーザは、外周円１１０ｂの近くに表示された数値部１１０ｄによって欠陥１１１の幅を把握することができる。また、ユーザは、欠陥１１１の幅を内周円１１０ｃに合わせる。これにより、ユーザは、内周円１１０ｃの近くに表示された数値部１１０ｄによって欠陥１１１の幅を把握することができる。

　外観画像１００に現れた欠陥１１１に対して、例えば欠陥１１１の端の箇所を指定し、その後、図形部１１０ａを用いながら欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所まで欠陥１１１に沿ってなぞる。この間、一例として、ガイドオブジェクト１１０は、表示され続ける。そして、一端部から図形部１１０ａの中心点との間には、一例として、ガイドオブジェクト１１０の移動軌跡を示す軌跡オブジェクトが表示されてもよい。一例として、図形部１１０ａが欠陥（ひび）が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所に至り、ここで再度左クリックがされると、制御部５１は、ステップＳ３２において、左クリックされた当該箇所を選択し、端点１０９とする。

　一例として、欠陥１１１対応する欠陥オブジェクト１１１ａを追加するにあたっては、先ず、外観画像１００に現れた欠陥１１１の一端部と欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所（他端部）を指定する。これにより、欠陥データの追加作業が確定し、２つの箇所を結ぶ欠陥データが生成され、端点１０８から端点１０９までの間には、欠陥データに従って表示される欠陥オブジェクト１１１ａが追加される。指定した２つの箇所は、生成された欠陥データにおいては端点や変化点となる。ここの説明では、最初に指定した箇所が端点１０８であり、次に指定した箇所が、欠陥１１１の途中であるため変化点となる端点１０９となる。そして、端点１０８と端点１０９の長さが、欠陥長さデータとなる。

　欠陥データの追加作業が確定すると、ステップＳ３３において、図形部１１０ａを入力オブジェクト１０６まで移動し欠陥幅入力部１０６ｄを選択すると、欠陥幅入力部１０６ｄにおいて、欠陥幅データをキーボード等を使って直接入力可能となり、制御部５１は、入力された値を欠陥幅データとする。この際、欠陥幅データは、外周円１１０ｂ又は内周円１１０ｃの数値部１１０ｄの数値を参考に入力される。欠陥幅データが入力されると、追加された欠陥データの欠陥オブジェクト１１１ａは、色凡例表示部１０６ｅの定義に従った色にされる。そして、幅に応じたレイヤに設定される。

　図２７（ｂ）に示すように、一例として、外観画像１００に現れた欠陥１１１の一端に位置する端点に図形部１１０ａを合わせ、左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ４１において、位置合わせされた端点１０８の位置を選択する。次いで、外観画像１００を拡大又は縮小して図形部１１０ａの大きさを欠陥１１１の幅に合わせる。そして、図形部１１０ａを入力オブジェクト１０６まで移動し欠陥幅入力部１０６ｄを選択すると、欠陥幅入力部１０６ｄにおいて、欠陥幅データがキーボード等を使って直接入力可能となる。ステップＳ４２において、制御部５１は、入力された値を欠陥幅データとする。次いで、図形部１１０ａを用いながら欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所まで欠陥１１１に沿ってなぞる。そして、ここで再度左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ４３において、左クリックされた当該箇所を選択し、端点１０９とする。

　図２７（ｃ）に示すように、一例として、外観画像１００に現れた欠陥１１１の一端に位置する端点に図形部１１０ａの位置を合わせると共に、大きさを合わせる。そして、図形部１１０ａを入力オブジェクト１０６まで移動し欠陥幅入力部１０６ｄを選択すると、欠陥幅入力部１０６ｄにおいて、欠陥幅データがキーボード等を使って直接入力可能となり、ステップＳ５１において、制御部５１は、入力された値を欠陥幅データとする。この後、図形部１１０ａを欠陥１１１の一端に位置する端点に戻し、左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ５２において、位置合わせされた端点１０８の位置を選択する。次いで、図形部１１０ａを用いながら欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所まで欠陥１１１に沿ってなぞる。そして、ここで再度左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ５３において、左クリックされた当該箇所を選択し、端点１０９とする。

　なお、ガイドオブジェクト１１０は、一例として、端点１０８を選択してから端点１０９を選択するまでの間は外観画像１００上から消されていてもよい。

　図２８は、欠陥幅データの候補値が列挙されたメニューボックス１０７が表示された編集画面を示す図である。
　一例として、端点１０８又は端点１０９が決定された後、右クリックがされると、制御部５１は、メニューボックス１０７を表示する。メニューボックス１０７は、一例として、２つの表示部として、上表示部１０７ａと下表示部１０７ｂとを備えている。上表示部１０７ａには、前回入力された欠陥幅データが候補値として表示される。下表示部１０７ｂには、候補値として、外周円１１０ｂの数値部１１０ｄの寸法値と、内周円１１０ｃの数値部１１０ｄの寸法値と、外周円１１０ｂの数値部１１０ｄと内周円１１０ｃの数値部１１０ｄの中間の寸法値と、内周円１１０ｃの数値部１１０ｄの半分の寸法値とが表示される。メニューボックス１０７内に表示された複数の候補値の中の何れかが１つが選択されると、制御部５１は、選択された候補値を欠陥幅入力部１０６ｄに入力する。このような方法によれば、キーボード等で入力する手間を省くことができる。なお、表示部の数は２つに限定されるものではなく、３つ以上であってもよい。

　図２９は、欠陥の幅の幅方向における二点を指定して幅を計測する編集画面を示す図である。
　一例として、端点１０８又は端点１０９が決定された後、欠陥１１１の幅方向の一側縁の端点１２１で左クリックをして位置が選択されると、制御部５１は、当該位置の選択処理をする。次いで、他側縁の端点１２２で左クリックをして位置が選択されると、制御部５１は、当該位置を選択する。好ましくは、外観画像１００に現れた欠陥１１１が延びる方向に対して交差するように二点を選択する。一例として、欠陥１１１の溝が延びる方向に対して直交するように二点を選択する。制御部５１は、２点が選択されると、その位置に、２点のグローバル座標より測定した２点間距離を欠陥幅データとして表示すると共に、欠陥幅データを欠陥幅入力部１０６ｄに入力する。また、一例として、一側縁の端点１２１を選択してから他側縁の端点１２２を選択するまでの間は、一側縁の端点１２１からの移動距離を示す数値をマウスカーソルの位置の近くに表示することが好ましい。このような方法によっても、キーボード等で入力する手間を省くことができる。

　１つ目の端点１０９を指定し、欠陥幅データの入力が完了し、引き続き、マウスカーソルが外観画像１００上に移動されると、制御部５１は、再度、ガイドオブジェクト１１０を表示し、次の端点（変化点又は端点）１０９を指定できるようにする。欠陥１１１に重なるように引かれた複数の端点や変化点を含む欠陥オブジェクト１１１ａは、欠陥１１１を追加するモードが終了されたとき、最後の端点１０９の位置を終点とする。

　以上のように欠陥１１１を追加したり、欠陥８１，１１１を変更したときには、その変更履歴のデータを記憶部５４の記録フォルダに保存する。図３０は、欠陥が編集履歴が表示された編集画面を示す図である。この画面では、一覧表示領域８８において、欠陥データの他に、変更日時データと変更者を表示する。これにより、何時誰が欠陥を編集したのかを把握することができる。これにより、一目で、自動検出された欠陥なのか編集された欠陥なのかを視認することができる。
　一例として、欠陥データは、ＤＸＦやＤＷＧ形式のファイルで保存できるようにし、ＣＡＤ等との互換性を高めるようにしてもよい。

　以上のような欠陥画像表示制御装置５０によれば、以下に列挙する効果が得られる。
　（１）実空間における物体の大きさの尺度を示すガイドオブジェクト１１０を指標とすることで、外観画像１００に現れた欠陥１１１の幅を容易に把握することができる。
　（２）欠陥画像表示制御装置５０の表示部５２される外観画像は、オルソ補正処理が施されていることで、全体が測量機１と正対した状態で撮像された画像と同じとすることができ、欠陥の幅等を容易に把握することができる。

　（３）欠陥１１１の端点１０８から端点１０９まで移動する間、ガイドオブジェクト１１０が表示され続けるので、外観画像１００に現れた欠陥１１１を容易になぞることができる。そして、欠陥１１１をなぞる間に、欠陥１１１の幅をガイドオブジェクト１１０によって把握することができる。例えば、欠陥が同じ幅で続いているか、幅が変化したか、欠陥が曲がったか等の状況の変化を容易に把握することができる。

　（４）外観画像１００の拡大又は縮小倍率に応じて、ガイドオブジェクト１１０の表示の大きさを変更することなく数値部１１０ｄの寸法値を変更する。これにより、外観画像１００の縮尺に関係なく、欠陥１１１の幅を容易に把握することができる。また、編集する欠陥の始点と終点の何れか一方だけが表示部５２に表示されている外観画像１００に表示されている状態においては、外観画像を拡大することで、表示されている始点（端点）や終点（端点）の位置を正確に把握し選択することができる。
　（５）ガイドオブジェクト１１０は、図形部１１０ａを備えているので、欠陥１１１の幅を図形部１１０ａの大きさを参照して容易に把握することができる、更に、ガイドオブジェクト１１０が数値部１１０ｄを備えているときには、欠陥１１１に図形部１１０ａを合わせた際に数値部１１０ｄの数値を見ることで、欠陥１１１の幅を容易に把握することができる。

　（６）図形部１１０ａは、中心から等方的な形状を有する。これにより、ユーザは、欠陥１１１の幅を把握しやすくなる。
　（７）ガイドオブジェクト１１０の位置を選択することで、外観画像１００に現れた欠陥１１１の端点１０８及び端点１０９を選択することができ、追加した欠陥１１１に重畳された欠陥オブジェクト１１１ａの位置や長さを座標上で容易に特定することができる。
　（８）外観画像に対して、検出済みの欠陥データを修正（削除、結合、変更）したり、外観画像１００から新たに視認できる欠陥１１１の欠陥データを容易に追加することができる。
　（９）外観画像では欠陥を視認できるが欠陥として検出されていない箇所に欠陥データとしての欠陥オブジェクト１１１ａを追加することができる。

　（１０）欠陥として検出されているものの、外観画像上の欠陥とずれている場合等は、欠陥データに対して、削除、切り取り等の処理を行ったり、変化点又は端点の位置を変更したりして容易に修正することができる。
　（１１）ガイドオブジェクト１１０をガイドとして把握した欠陥幅データを欠陥幅入力部１０６ｄに容易に入力することができる。
　（１２）欠陥幅データは、欠陥幅入力部１０６ｄに欠陥画像表示制御装置５０の操作部５３を構成するキーボード等の入力装置で容易に入力することができる。
　（１３）メニューボックス１０７の複数の選択候補値の中から選択された１つの候補値を選択することで、欠陥幅入力部１０６ｄに容易に外観画像１００に現れた欠陥１１１の欠陥幅データを入力することができる。

　（１４）外観画像１００に現れた欠陥１１１が延びる方向に沿った任意の一側縁の一点を選択すると共に他側縁の任意の一点を選択することで、欠陥の幅を容易で正確に測定することができる。

　（１５）外観画像データの欠陥オブジェクト１１１ａは、外観画像データの各画素にグローバル座標データが対応付いていることから、正確な位置データとなる。
　（１６）表示部５２には、表示される外観画像データのみがスティッチング処理されて表示されるので、欠陥の編集処理時におけるデータ処理量を減らすことができる。

　なお、上記欠陥画像表示制御装置５０は、以下のように変更してもよい。
　〔ガイドオブジェクトの変形例〕
　・上述の例において、ガイドオブジェクト１１０は、外観画像１００を拡大又は縮小したときにおいても、図形部１１０ａの大きさを変更せず、外観画像１００の拡大率や縮小率に応じて数値部１１０ｄの数値を変更している（実施態様１）。図３１に示すように、これに対して、外観画像１００を拡大又は縮小したときにおいて、あわせて、外観画像１００の拡大率や縮小率に応じて図形部１１０ａの大きさを変更して、数値部１１０ｄの数値を変更しないようにしてもよい（実施態様２）。

　・図３２に示すように、外観画像１００を拡大又は縮小しない場合であっても、ガイドオブジェクト１１０の図形部１１０ａを拡大又は縮小するようにしてもよい（実施態様３）。これにより、例えば、現在表示されている外観画像１００の欠陥１１１の幅に合わせて図形部１１０ａの大きさを調整することができる。この場合、数値部１１０ｄは、図形部１１０ａの拡大率や縮小率に応じて数値を変更する。追加する欠陥１１１の始点（端点）と終点（端点）が表示部５２に表示されている外観画像１００に表示されているときには、図形部１１０ａの大きさを変えるだけで欠陥１１１の幅を容易に把握することができる。
　・上述した実施態様１～実施態様３は、ユーザの操作に応じて、制御部５１が切り替えるようにしてもよい。

　・一例として、ガイドオブジェクト１１０は、外観画像表示領域１０３の中で位置が固定され、固定されたガイドオブジェクト１１０に対して外観画像１００をスクロールさせて、欠陥１１１と位置を合わせるようにしてもよい。例えば、図２５に示すように、ガイドオブジェクト１１０を外観画像表示領域１０３の左上に固定して表示し、また、図２６に示すようにガイドオブジェクト１１０を外観画像表示領域１０３の中心に固定して表示する。そして、外観画像表示領域１０３の中で外観画像１００の位置を上下左右方向に移動（スクロール）することで、外観画像１００の欠陥１１１をガイドオブジェクト１１０の位置に合わせる構成としてもよい。このような構成によっても、同様な効果を得ることができる。この場合におけるガイドオブジェクト１１０の固定位置は、外観画像表示領域１０３の中であれば特に限定されるものではない。

　・一例として、例えばガイドオブジェクト１１０を外観画像表示領域１０３の基本位置の左上から外観画像表示領域１０３の中心に移動させる。次いで、制御部５１は、外観画像表示領域１０３の中をガイドオブジェクト１１０が移動する状態から外観画像表示領域１０３の中で外観画像１００の位置を上下左右方向に移動（スクロール）させるモードに切り替える。そして、外観画像１００の欠陥１１１を、外観画像表示領域１０３の中で外観画像１００の位置を上下左右方向に移動（スクロール）させる。これにより、外観画像１００の欠陥１１１をガイドオブジェクト１１０の位置に合わせることができる。このような構成によっても、同様な効果を得ることができる。
　なお、外観画像表示領域１０３の中で外観画像１００の位置を上下左右方向に移動（スクロール）させてから外観画像表示領域１０３の中をガイドオブジェクト１１０が移動する状態に切り替えるようにしてもよい。

　・一例として、操作部５３がタッチパネルを備えるときには、上述した操作部５３を構成するマウスを用いて欠陥を編集する操作を、表示面を指やスタイラスペンでなぞったりタッチすることによって行うことができる。例えば、ユーザは、ガイドオブジェクト１１０をタッチして移動させることもできるし、外観画像表示領域１０３の中で外観画像１００の位置を上下左右方向に移動（スクロール）させることもできる。このような機能は、タッチパネル機能付きのタブレットで欠陥画像表示制御装置５０を構成したときに特に有効である。

　・測定範囲６２が広範なときには、測定範囲全体を表示部５２に表示しても欠陥８１を目視で特定することはできない。そこで、ガイドオブジェクト１１０は、所定の拡大率以上になると外観画像１００上に表示されるようにしてもよい。

　〔欠陥幅データ入力の変形例〕
　・欠陥幅データの入力は、ガイドオブジェクト１１０で欠陥１１１の始点、終点、又は、変化点を選択したときに、選択時における図形部１１０ａの大きさに対応付けられた実空間における数値を欠陥幅入力部１０６ｄに自動的に入力するようにしてもよい。このような方法によっても、欠陥幅データの入力の手間を省くことができる。このような場合、欠陥の幅を合わせる際の基準を明確にするため、図形部１１０ａの円は１つであることが好ましい。

　図３３（ａ）に示すように、一例として、欠陥１１１の一端に位置する端点に図形部１１０ａの位置を合わせると共に、大きさを合わせる。そして、左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ６１において、端点１０８の位置を選択するとともに、選択時の図形部１１０ａに対応付けられた数値部１１０ｄの寸法値を欠陥幅データとする。この後、図形部１１０ａを用いながら欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所まで欠陥１１１に沿ってなぞる。そして、図形部１１０ａが他端部に至りここで再度左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ６２において、左クリックされた当該箇所を選択し、端点１０９とする。

　図３３（ｂ）に示すように、一例として、欠陥１１１の一端にガイドオブジェクト１１０の位置を合わせる。そして、左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ７１において、端点１０８の位置を選択する。この後、図形部１１０ａを用いながら欠陥１１１が折れ曲がる箇所や幅が変化する箇所まで欠陥１１１に沿ってなぞる。図形部１１０ａが他端部に至ると、ここでガイドオブジェクト１１０の位置を合わせると共に、大きさを合わせる。左クリックすると、制御部５１は、ステップＳ７２において、左クリックされた当該箇所を選択し、端点１０９とするとともに、選択時の図形部１１０ａに対応付けられた数値部１１０ｄの値を欠陥幅データとする。

　・以上のような欠陥幅データの自動入力時において、外観画像１００を拡大又は縮小したとき、図形部１１０ａの大きさを変更せず、外観画像１００の拡大率や縮小率に応じて数値部１１０ｄの寸法値を変更するようにしてもよい。また、外観画像１００の拡大率や縮小率に応じて図形部１１０ａの大きさを変更して、数値部１１０ｄの寸法値を変更しないようにしてもよい。さらに、外観画像１００を拡大又は縮小しない場合であっても、ガイドオブジェクト１１０の図形部１１０ａを拡大又は縮小するようにしてもよい。何れの場合であっても、欠陥１１１をなぞる際の特異的な第１位置（一端部）や第２位置（一端部）を選択したとき、その時点の図形部１１０ａに対応付けられた実空間における寸法値が欠陥幅データとして欠陥幅入力部１０６ｄに入力される。

　〔図形部の変形例〕
　上述したガイドオブジェクト１１０の図形部１１０ａは、十字形状に複数の円形状を重ねた形状を有しているが、更に、図３４（ａ）～（ｊ）に示す構成を有していてもよい。
　図３４（ａ）に示すように、図形部１１０ａは、１つの円形で構成してもよい。上述したように、欠陥幅データを自動入力するときには、指標となる円が複数であると、ユーザがどちらの円を基準に欠陥の幅を測定してよいか困惑してしまうので、欠陥幅データを自動入力する場合は、１つの円であることが好ましい。

　また、円の数は、拡大率に合わせて変更してもよい。一例として、外観画像１００を拡大するほど、円の数を減らしていくようにしてもよい。また、一例として、外観画像１００を拡大するほど、円の数を増やすようにしてもよい。

　図３４（ｂ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、四角形であってもよい。さらに、図形部１１０ａは、三角形であってもよいし、正五角形、正六角形等の正多角形であってもよい。すなわち、中心から等方的な形状であることが好ましい。一例として、正多角形の場合には、正多角形の中心から各頂点までの距離の２倍の値を数値部１１０ｄの寸法値として表示する。さらに、図３４（ｃ）及び（ｄ）に示すように、図形部１１０ａは、点線などで構成された一重の円で構成されていてもよい。

　図３４（ｅ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、×字形状のスケールで構成されていてもよい。更に、×形状のスケールは、一例として、指標となる円と重畳してもよい。なお、図形部１１０ａは、×字形状のスケールに代えて＋字形状のスケールで構成されていてもよい。一例として、×字形状のスケールと＋字形状のスケールとを重ねてもよい。

　図３４（ｆ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、正方格子形状を有していてもよい。更に、図３４（ｇ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、三角格子形状を有していてもよい。
　図３４（ｈ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、同心円状に直径の異なる円を重畳して構成してもよい。同心円状に重畳する円の数は、３つであってもよいし、更に、４つ以上であってもよい。

　図３４（ｉ）に示すように、図形部１１０ａは、一例として、同心円状に直径の異なる円を重畳して構成してもよい。この場合、各円は、線色（線種）を変えることが好ましい、さらに、この際の線色（線種）は、色凡例表示部１０６ｅで定義されている幅の線色（線種）に関連付けることがより好ましい。

　図３４（ｊ）に示すように、図形部１１０ａは、同心円状に直径の異なる円を重畳して構成し、隣接する円の間の透過率を変えるようにしてもよい。
　一例として、中心から外周に向かうに連れて順次透過率が高くなるようにする。この場合、中心部の透過率が最も低くなり、下層に位置する外観画像１００が最も見えにくくなる。また、最外の領域の透過率が最も高くなり、下層に位置する外観画像１００が最も見えやすくなる。
　また、一例として、中心から外周に向かうに連れて順次透過率が低くなるようにする。この場合、中心部の透過率が最も高くなり、下層に位置する外観画像１００が最も見やすくなる。また、最外の領域の透過率が最も低くなり、下層に位置する外観画像１００が最も見えにくくなる。
　なお、透過率を変える際に対象となる図形部１１０ａの色は、特に限定されるものではない。

　図３４（ｉ）や（ｊ）に示すように、円の色や透過率を変えたときには、色や透過率によって、実際の欠陥の幅を把握することができることから、ガイドオブジェクト１１０から数値部１１０ｄを割愛し、図形部１１０ａのみとしてもよい。

　〔その他の変形例〕
　・外観画像１００の背景に方形格子や三角格子を表示して、欠陥の幅や長さを把握する目安としてもよい。
　・ガイドオブジェクト１１０は、欠陥１１１の一端部と他端部を選択するときに限って表示されるようにしてもよい。

　・欠陥編集プログラム５４ｂで欠陥８１，１１１が示す欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａ，１１１ａを変更した場合において、欠陥検出プログラム５４ａで検出した欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａと欠陥編集プログラム５４ｂで編集した欠陥オブジェクト１１１ａとが矛盾することがある。一例として、特定のレイヤの欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａ，１１１ａが表示されているときに、表示されていない他のレイヤの欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａ，１１１ａを未検出の欠陥と誤認してしまうおそれがある。そして、編集作業で入力した欠陥幅データが他のレイヤとして検出されている欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａ，１１１ａの欠陥幅データと食い違うおそれがある。このような場合、一例として、制御部５１は、欠陥編集プログラム５４ｂで編集した欠陥オブジェクト１１１ａの欠陥データを欠陥検出プログラム５４ａで検出した欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａの欠陥データより優先する。また、一例として、制御部５１は、欠陥検出プログラム５４ａで検出した欠陥オブジェクト８１ａ，８３ａの欠陥データを欠陥編集プログラム５４ｂで編集した欠陥オブジェクト１１１ａの欠陥データより優先する。

　・一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、表示部５２や操作部５３が接続される情報処理装置で構成されていてもよい。この場合、表示部５２や操作部５３は、欠陥画像表示制御装置に対して、外部機器とのデータ入出力を行うインタフェースを通じて接続される。
　・一例として、欠陥画像表示制御装置５０は、デスクトップ型又はラップトップ型のコンピュータ装置で構成することができる。コンピュータ装置で構成する場合、欠陥画像表示制御装置５０は、制御部５１、記憶部５４等を備えるコンピュータ本体と、コンピュータ本体に接続される表示部５２と、コンピュータ本体に接続される操作部５３とで構成される。
　・欠陥画像表示制御装置５０は、一例として、測量機１を備えていてもよい。この場合、測量機１の制御部４０が制御部５１と同様な機能を実現してもよい。また、欠陥検出プログラム５４ａや欠陥編集プログラム５４ｂの処理を制御部４０と制御部５１とに割り当てる並列処理を行うようにしてもよい。更に、外観画像を表示する表示部は、第１表示部１８、第２表示部１９、表示部５２の中から選ばれる１つ以上の表示部で構成することができる。

　・一例として、外観画像は、グローバル座標系の代わりにローカル座標系に従った座標データに対応付けられていてもよい。
　・欠陥データは、測量機１のＧＮＳＳで算出したデータであってもよい。
　・スティッチング処理の方法は、特に限定されるものではない。
　・オルソ補正処理は、欠陥８１の検出処理の後ではなく前に行ってもよい。
　・オルソ補正処理は、互いに隣接する画像の共通する一部分を繋ぎ合わせるようにして行ってもよい。

１…測量機、２…整準部、３…底板、４…上板、５…整準ねじ、６…本体部、７…撮像部、８…第１対物レンズ、９…第２対物レンズ、１０…第３対物レンズ、１１…第１撮像部、１１ａ…オートフォーカス部、１２…第２撮像部、１３…測距部、１４…第３撮像部、１５…水平角駆動部、１６…送光部、１７…鉛直角駆動部、１８…第１表示部、１９…第２表示部、２０…通信部、２１…水平角操作部用エンコーダ、２２…鉛直角操作部用エンコーダ、２３…水平角操作部、２４…鉛直角操作部、２５…把持部、３１…水平角測角部、３２…鉛直角測角部、３３…画像処理部、３４…一時記憶部、３５…記憶部、３６…操作部、３７…傾き検出部、４０…制御部、４９…外部電源、５０…欠陥画像表示制御装置、５１…制御部、５１ａ…ＣＰＵ、５１ｂ…ＲＯＭ、５１ｃ…ＲＡＭ、５２…表示部、５３…操作部、５４…記憶部、５４ａ…欠陥検出プログラム、５４ｂ…欠陥編集プログラム、５５…通信部、６０…壁面、６１…測定面、６２…測定範囲、６２ａ…測定範囲、６３…撮像範囲、６４…グローバル座標、６５…長方形、６６ａ…一部観測できない領域、６６ｂ…不要な領域、７０…重複領域、７１…全撮像範囲、７２…撮像領域、８１…欠陥、８１ａ…欠陥オブジェクト、８２…変化点、８３…セグメント、８３ａ…欠陥オブジェクト、８４…端点、８５…スクロールバー、８６…外観画像表示領域、８７…スティッチ画像表示領域、８８…一覧表示領域、８９…選択枠、９１ａ…外観画像、９１ｂ…外観画像、９２…全体外観画像、９２ａ…外観画像、９２ｂ…外観画像、９２ｃ…外観画像、９２ｄ…外観画像、１００…外観画像、１０１…枠線、１０２…枠線、１０６…入力オブジェクト、１０６ａ…レイヤ入力部、１０６ｂ…座標入力部、１０６ｃ…高度入力部、１０６ｄ…欠陥幅入力部、１０７…メニューボックス、１０７ａ…上表示部、１０７ｂ…下表示部、１０８…端点、１０９…端点、１１０…ガイドオブジェクト、１１０ａ…図形部、１１０ｂ…外周円、１１０ｃ…内周円、１１０ｄ…数値部、１１１…欠陥、１１１ａ…欠陥オブジェクト、１１７…編集モード選択オブジェクト、１１７ａ…追加ボタン、１１７ｂ…切り取りボタン、１１７ｃ…削除ボタン、１１７ｄ…結合ボタン、１１７ｅ…変更ボタン。

Claims

　構造物の外観に現れた欠陥を含み、かつ、オルソ補正処理された外観画像を、表示部に表示させる表示制御部であって、前記構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示すオブジェクトを前記外観画像の一部に重ね、かつ、前記表示部に表示されている前記外観画像の中で異なる複数の位置にオブジェクトを表示可能とする前記表示制御部
　を備える欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記外観画像の中で前記オブジェクトを移動させる
　請求項１に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記オブジェクトを移動させるとき、前記オブジェクトを表示しない
　請求項２に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記オブジェクトを移動させるとき、前記オブジェクトを表示する
　請求項２に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記外観画像の拡大倍率又は縮小倍率に応じて、前記オブジェクトの表示の大きさを変更することなく、前記オブジェクトに対応付けられる前記実空間における前記尺度の数値を変更する
　請求項１ないし請求項４のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記オブジェクトの表示の大きさを拡大又は縮小し、前記オブジェクトの拡大倍率又は縮小倍率に応じて、前記オブジェクトに対応付けられる前記実空間における前記尺度の数値を変更する
　請求項１ないし請求項４のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記オブジェクトは、前記尺度を示す図形部を含む
　請求項１ないし請求項６のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記図形部は、中心から等方的な形状を有する
　請求項７に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記オブジェクトが表示されている位置を前記欠陥における特異的な位置として選択する選択部を更に備える
　請求項１ないし請求項８のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記表示制御部は、前記外観画像に対して、既に検出している前記欠陥に対応した欠陥データを欠陥オブジェクトで表示する
　請求項９に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥データを編集する欠陥編集部を更に備える
　請求項１０に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、前記特異的な位置として選択された第１位置と第２位置との間を欠陥データとして追加する
　請求項１１に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記オブジェクトは、前記欠陥が変化する位置に対応した変化点を含み、
　前記欠陥編集部は、前記欠陥データの前記変化点を修正する
　請求項１１に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、前記実空間における前記欠陥の欠陥幅データを入力する
　請求項１１に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、前記表示部に表示された欠陥幅入力部に直接入力された数値を前記欠陥幅データとする
　請求項１４に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、前記表示部に表示されたメニューボックスにおいて、複数の選択候補値の中から選択された１つの候補値を前記欠陥幅データとする
　請求項１４に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、前記外観画像で選択された互いに異なる２点間の距離を前記欠陥幅データとする
　請求項１４に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥編集部は、選択された位置における前記オブジェクトの大きさに対応付けられた前記実空間における大きさのデータを前記欠陥幅データとする
　請求項１４に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記外観画像は、座標データに対応づけられている
　請求項１ないし請求項１８のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記座標データは、前記外観画像を構成する画素に対応づけられたグローバル座標データである
　請求項１９に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記外観画像は、順次撮像された第１外観画像及び第２外観画像とを含み、
　前記表示制御部は、前記第１外観画像に対応づけられた第１座標データと前記第２外観画像に対応づけられた第２座標データとを用いて、前記オルソ補正処理が施された前記第１外観画像と前記オルソ補正処理が施された前記第２外観画像とを繋ぎ合わせるスティッチング処理を施すスティッチング処理部を更に備える
　請求項１９又は請求項２０に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥画像表示制御装置は、前記外観画像が表示される表示部を更に備える
　請求項１ないし請求項２１のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　前記欠陥画像表示制御装置は、
　測量機を更に備え、
　前記測量機は、
　前記構造物を測量する測量部と、
　前記構造物を撮像する撮像部と、
　前記測量部及び前記撮像部を前記測量機の鉛直軸周りに回転する水平角駆動部と、
　前記測量部及び前記撮像部を前記測量機の水平軸周りに回転する鉛直角駆動部と、
　基準方向に対する視準方向の角度を検出する角度検出部と、
　前記水平角駆動部及び前記鉛直角駆動部を制御するとともに、前記構造物を撮像するように前記撮像部を制御する制御部とを備える
　請求項１ないし請求項２２のうち、何れか１項に記載の欠陥画像表示制御装置。
　構造物の外観に現れた欠陥を含み、かつ、オルソ補正処理された外観画像を、表示部に表示させる表示制御ステップであって、前記構造物が位置する実空間における物体の大きさの尺度を示すオブジェクトを前記外観画像の一部に重ね、かつ、前記表示部に表示されている前記外観画像の中で異なる複数の位置にオブジェクトを表示可能とする前記表示制御ステップを実行するプログラム。