JP6899436B2 - 算出システム、プログラム及びターゲット - Google Patents
算出システム、プログラム及びターゲット Download PDFInfo
- Publication number
- JP6899436B2 JP6899436B2 JP2019524643A JP2019524643A JP6899436B2 JP 6899436 B2 JP6899436 B2 JP 6899436B2 JP 2019524643 A JP2019524643 A JP 2019524643A JP 2019524643 A JP2019524643 A JP 2019524643A JP 6899436 B2 JP6899436 B2 JP 6899436B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- surveying instrument
- target
- defect
- correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims description 58
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 499
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 362
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 214
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 214
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 83
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 73
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 54
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 100
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 51
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 30
- 230000006870 function Effects 0.000 description 28
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 23
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 21
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000002746 orthostatic effect Effects 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000012308 Tagetes Nutrition 0.000 description 1
- 241000736851 Tagetes Species 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000009933 burial Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000399 orthopedic effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
- G01C11/04—Interpretation of pictures
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/62—Analysis of geometric attributes of area, perimeter, diameter or volume
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C25/00—Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices referred to in the other groups of this subclass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10004—Still image; Photographic image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30132—Masonry; Concrete
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30204—Marker
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Geometry (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
図1(a)に示すように、欠陥算出システムは、測量機1と、制御装置50と、サーバ装置60と、情報処理端末装置70とを備えている。一例として、測量機1は、測量対象物を測量する機器であり、測量対象物との角度と、測量対象物との距離とを計測する。一例として、測量機1は、距離を測る光波測距儀と、角度を測るセオドライトとを組み合わせた機器である。一例として、測量機1は、測量対象物との角度と、測量対象物との距離とを同時に計測する機器である。一例として、測量機1は、トータルステーションである。
図2(a)および図2(b)に示すように、補正用ターゲット300は、基準オブジェクト301を備えている。基準オブジェクト301は、複数の線分オブジェクト302を含んでいる。複数の線分オブジェクト302は、一例として、実際に検出する欠陥の大きさや延びる方向等の要因を考慮して、縦、横、斜めの方向に配置される。
さらに、図6(c)及び図6(d)では、4つの図形オブジェクト308のうちで3つが四角形状で1つが三角形状となっている。複数の図形オブジェクト308に少なくとも1つ異形オブジェクト308aを含ませることによって、制御装置50は、測量機1が撮像した画像データから画像処理により図形の形状のパターンで補正用ターゲット300の種類を特定することができる。すなわち、複数の図形オブジェクト308及び異形オブジェクト308aは、補正用ターゲットの種類を示す識別オブジェクトとしても機能する。一例として、図6(c)のように、3つの四角形状の図形オブジェクト308と1つの三角形状の異形オブジェクト308aの組み合わせパターンは、近距離用補正用ターゲット300aと設定することができる。また、一例として、遠距離用補正用ターゲット300bと設定することができる。さらに、一例として、1つの補正用ターゲット300が太い線幅の線分オブジェクトと細い線幅の線分オブジェクトとを備えたターゲットとを識別することができる。図形オブジェクト308や異形オブジェクト308aの形状は、四角形状に限定されるものではなく、さらに、丸形状や×形状等を含んでいてもよい。より多くの図形を用いることによって、表現可能なパターンが増えることになり、より多くの補正用ターゲットの種類を設定することができる。また、全部の図形オブジェクト308の中で異形オブジェクト308aは、少なくとも1つ含まれていればよく、2個以上であってもよい。
図9に示すように、測量機1は、整準部2と、本体部6と、撮像部7とを備えている。整準部2は、例えば整準台である。整準部2は、底板3と、上板4と、整準ねじ5とを含んでいる。底板3は、三脚に固定される部材である。底板3は、例えば、ねじ等で三脚の脚頭に固定される。上板4は、整準ねじ5を用いることで、底板3に対する傾きが変更可能に構成されている。上板4には、本体部6が取り付けられている。測量機1の第1軸である鉛直軸O1の傾きは、整準ねじ5を用いることで変更可能である。
図12は、測量機1のシステム構成を示すブロック図である。
測量機1は、第1撮像部11及び第2撮像部12を含む撮像部7と第3撮像部14とを備えている。測量機1は、測距部13と、水平角駆動部15と、レーザポインタ16と、鉛直角駆動部17と、第1表示部18と、第2表示部19と、通信部20と、水平角操作部用エンコーダ21と、鉛直角操作部用エンコーダ22と、水平角操作部23と、鉛直角操作部24と、水平角測角部31と、鉛直角測角部32と、画像処理部33と、一時記憶部34と、記憶部35と、操作部36と、制御部40と、傾き検出部37とを備えている。
画像処理部33により生成された記録用画像データは、通信部20を介して外部メモリに記録される。一例として、外部メモリは、不揮発性メモリである。一例として、外部メモリは、フラッシュメモリやハードディスクや光ディスクである。
水平角駆動部15は、整準部2に対して本体部6を鉛直軸O1周りに回転駆動する。水平角駆動部15が整準部2に対して本体部6を鉛直軸O1周りに回転駆動することで、撮像部7は、整準部2に対して鉛直軸O1周りに回転する。一例として、水平角駆動部15は、モータで構成されている。
鉛直角操作部用エンコーダ22は、鉛直角操作部24の回転角度を検出する。鉛直角操作部用エンコーダ22は、検出した回転角度に対応する信号を制御部40に出力する。
通信部20は、外部機器である制御装置50との通信を行う。通信部20は、外部機器とのデータ入出力を行うインタフェースである。通信部20として、例えば、ActiveSync規格の通信用インタフェースや、USB(Universal Serial Bus)規格の通信用インタフェースや、Bluetooth(登録商標)規格の無線通信用インタフェースや、RS−232Cシリアル通信規格の通信用インタフェースが挙げられる。通信部20は、測量機1で撮像された画像データや位置データを制御装置50に対して送信し、また、制御装置50から送信された測量機1を制御する指示信号を受信する。一例として、通信部20は、制御装置50を介することなく、直接サーバ装置60と通信する。一例として、測量機1で撮像された画像データや位置データをサーバ装置60に対して送信する。
一例として、制御部40は、操作部36や外部機器からの指示信号に従って、整準部2に対して本体部6を鉛直軸O1周りに回転駆動する。一例として、制御部40は、操作部36や外部機器からの指示に従って、本体部6に対して撮像部7を水平軸O2周りに回転駆動する。一例として、制御部40は、ユーザにより水平角操作部23が操作されたことに応じて、本体部6に対して撮像部7を鉛直軸O1周りに回転駆動する。
〔制御装置のシステム構成〕
図13は、制御装置50のシステム構成を示すブロック図である。
制御部51は、コンピュータと同様な構成を有しており、CPU51a、ROM51b及びRAM51cがバスを介して相互に接続されている。一例として、制御部51は、記憶部54を構成するハードディスク等にインストールされた欠陥検出プログラム51dを実行する。一例として、制御部51は、表示部52に画像等を表示させる表示制御部として機能する。制御部51は、撮像部7が生成した画像データに基づく画像や観測データに基づく情報を表示部52に表示させる。一例として、制御部51は、構造物の外観を構成する測定面の画像を表示部52に表示させる。一例として、制御部51は、外観画像データに含まれる構造物の欠陥を検出する欠陥検出部として機能する。制御部51は、外観画像データに対応づけられた座標データを用いて、欠陥検出部により検出された欠陥に関する欠陥データを算出する算出部として機能する。一例として、制御部51は、測量機1に対して、第1撮像部11、第2撮像部12、第3撮像部14、撮像部7、水平角駆動部15、鉛直角駆動部17等を駆動する指示信号を通信部55を介して出力する。一例として、補正プログラム51eを実行する。補正プログラム51eは、補正用ターゲット300毎の既知の基準オブジェクト301の第2線幅データを保持している。制御部51は、補正用ターゲット300のターゲット画像データから基準オブジェクト301を検出する。そして、基準オブジェクト301の第1線幅データを算出し、第2線幅データと比較し、欠陥幅データを補正する補正データを算出する算出部として機能する。さらに、制御部51は、補正データを欠陥幅データに適用する補正部として機能する。
図14は、サーバ装置60のシステム構成を示すブロック図である。
サーバ装置60は、制御部61と、記憶部62と、通信部63とを備えている。制御部61は、コンピュータと同様な構成を有しており、CPU、ROM及びRAMがバスを介して相互に接続されている。記憶部62は、一例として大容量のハードディスクである。制御部61は、記憶部62に対して各種のデータを保存すると共に、各種のデータを読み出す。一例として、制御部61は、測量機1が撮像した補正用ターゲット300のターゲット画像データと、ターゲット画像データを撮像した測量機1の第1測量機識別データとしての測量機識別データと、撮像日時等のデータとを関連付けて保存する。一例として、制御部61は、測量機1が撮像した構造物の外観画像データと、外観画像データを撮像した測量機1の第2測量機識別データとしての測量機識別データと、撮像日時等のデータとを関連付けて保存する。一例として、制御部61は、補正用ターゲット300のターゲット画像データから基準オブジェクト301を検出する。そして、基準オブジェクト301の第1線幅データを算出し、既知の基準オブジェクト301の第2線幅データとを比較し、欠陥幅データを補正する補正データを算出し記憶部62に保存する。一例として、制御部61は、補正データを欠陥データに適用し、補正後の欠陥データを保存する。
図15は、構造物の欠陥検出の概要を示す図であり、図15(a)は、測定面と測定範囲の関係を示す図である。
図15(b)は、測定面と測定範囲と撮像範囲の関係を示す図である。測量機1は、設定した測定範囲202すべての外観画像データを得るために、第1撮像部11による撮像を順次行い、第1画角の撮像範囲203の外観画像データを順次生成する。測定面200が既に定義されていることで、デジタル画像である外観画像データに基づく外観画像の任意の画素の位置は、撮像時に視準した観測点からの角度を変換することによって座標データで特定することができる。各外観画像データに対しては、欠陥の検出が行われる。検出された欠陥の位置は、欠陥データである座標データで特定される。一例として、外観画像データの位置データや欠陥の位置等を示す欠陥データは、グローバル座標データである。撮像された測定範囲202における各外観画像データは、オルソ補正処理が行われ、次いで、スティッチング処理が行われ、記憶部54等に保存される。
ステップS1において、制御装置50の制御部51は、測量機1のリモート制御を開始し、測量機1は、構造物の測定面200等を視準する。一例として、制御部51は、測量機1の制御部40を介して、第1撮像部11及び第2撮像部12の画角の切り替え、撮像、測距、オートフォーカス、マニュアル露出、ホワイトバランス、レーザポインタ16のオンオフ切り替え等を行うことができるようになる。一例として、制御部51は、測角値や整準状態を表示部52に表示させる。
ステップS3において、測量機1は、制御部51の制御に従って、トライアルメジャーを行う。一例として、トライアルメジャーでは、ユーザがこれから欠陥検出したいと考える構造物の外観に現れた欠陥を含むように測量機1の第1撮像部11又は第2撮像部12で撮像する。一例として、欠陥は、第1撮像部11又は第2撮像部12で撮像して生成された外観画像データを制御装置50で画像解析しコントラストを測定することによって検出される。制御部51は、第1撮像部11又は第2撮像部12で撮像して生成された外観画像データに基づく外観画像を表示部52に表示させる。ユーザは、表示部52に表示された外観画像を見て、操作部53を操作し、制御部51は、制御部40を介して、第1撮像部11の感度、露出等を調整し、第1撮像部11の設定を、外観画像の中から欠陥を検出できる設定とする。一例として、トライアルメジャーは、複数の場所で行う。一例として、測量機1は、トライアルメジャーの結果、発見された測定環境の良い場所で器械設置される。
上述したように、測定面200の定義がされることで、測量機1が撮像した撮像範囲203における任意の画素(P)は、測量機1が十字形状を有したレチクルの十字線中心が示す観測点Oの角度(HA,VA)を算出し、画素(P)の観測点Oからの角度をグローバル座標データに変換することができる。これにより、外観画像データにおける各画素の位置は、各画素に対して角度観測を行った場合と同じように、位置データであるグローバル座標データで特定することができる。一例として、第1撮像部11の第1撮像素子が1920画素×1080画素を有する場合、デジタル画像は、第1撮像素子が有する画素数に応じた精度で位置を特定することができる。
ステップS6において、測量機1は、制御部51の制御に基づいて、定義された測定面200内において、構造物の欠陥検出を行う測定範囲202を指定する。
ステップS7において、測量機1は、制御部51の制御に従って、水平角駆動部15を駆動して撮像部7を鉛直軸O1周りに回転駆動し、鉛直角駆動部17を駆動して撮像部7を水平軸O2周りに回転駆動する。測量機1は、制御部51の制御に従って、測定範囲202の自動測定を行う。測量機1は、撮像毎に視準方向を変えながら、測定範囲202を第1撮像部11で順次撮像する。制御装置50には、順次撮像された外観画像データが位置データと共に入力される。制御部51は、測量機1から入力された外観画像データについて、欠陥を検出する。
〔測定面の定義(ステップS5)〕
測定対象となる構造物の外観には、一例として、平面がある。平面の種類には、一例として、鉛直面及び水平面と、斜面とがある。
図21は、斜面の測定面200の定義方法を示す図である。斜面の測定面200の定義方法は、斜面の測定面200上の任意の3つの観測点P1,P2,P3を、第2撮像部12で撮像しながら、例えばレーザポインタ16を用いて指定し、測角及び測距による観測を行う。測量機1は、制御部51の制御に従って、測角及び測距を行った任意の観測点P1,P2,P3を含む斜面を測定面200として定義する。
一例として、測量機1は、制御部51の制御に従って、測定面200を定義するときに、常に3点以上を測角及び測距を行い、3点の観測データに基づいて、測定面200が鉛直もしくは水平であるか、斜面であるかを判定する。
図22(a)に示すように、測定範囲202を含む測定面200が鉛直面の場合、測量機1は、制御部51の制御に従って、第2撮像部12で撮像しながら、レーザポインタ16を用いて、測定面200内の任意の2つの観測点P3,P4を指定し、各観測点P3,P4について、測角を行う。この測角位置は、測定面200が定義されていることで、グローバル座標データとして算出される(P3(X3,Y3,Z3)、P4(X4,Y4,Z4))。測定範囲202は、単に指定された観測点P3,P4によって指定された範囲ではなく、定義された測定面200に投影された範囲となる。測定範囲202が測量機1と正対している場合、測定範囲202は、観測点P3、P4を対角とした長方形となる。
測定範囲202は、長方形形状が1つだけの場合に限定されない。測定範囲202は、複数であってもよく、2つ以上に追加することも可能であり、また、指定した測定範囲の一部の範囲を除外することも可能である。
設定した測定範囲202の大きさによっては、第1撮像部11による1回の撮像では設定した測定範囲202をすべてカバーすることができないことがある。一例として、測量機1は、制御部51の制御に従って、撮像範囲が重複するように、且つ、重複する領域が不必要に大きくならないように、水平角駆動部15及び鉛直角駆動部17を駆動制御する。測量機1は、制御部51の制御に従って、測定範囲202の全体を撮像する。
一例として、測定面200の種類が鉛直面、斜面である場合は、概ね、鉛直角が45°以上、135°以下の範囲で撮像部7が水平軸O2周りに回転駆動される。また、測定面200の種類が鉛直面、斜面である場合は、概ね、鉛直角が225°以上、315°以下の範囲で撮像部7が水平軸O2周りに回転駆動される。
図25は、ステップS7で示した自動測定の詳細な手順を説明するフローチャートである。
ステップS12において、測量機1は、制御部51の制御に従って、各撮像領域との距離を算出する。ステップS13において、測量機1は、制御部51の制御に従って、第1撮像部11のオートフォーカス制御を行う。オートフォーカス制御では、第1撮像部11における第1光学系を構成するフォーカスレンズを、制御部40によるフォーカス調節指示に応じて光軸方向に沿って変位し、光を第1撮像素子上に合焦させる。
一例として、オートフォーカス制御は、フォーカスレンズをコントラストが最大となる位置に変位させるコントラスト方式で行う。
ステップS15において、測量機1は、制御部51の制御に従って、オルソ補正処理を行うため、撮像した外観画像の4隅の座標データを算出する。4隅の座標データは、各外観画像データにおける4隅の画素の座標データである。
なお、欠陥の検出についての詳細は後述する。
〔測量機1の自動測定(ステップS7)〕
測定面200である壁面が鉛直面、斜面である場合は、概ね、鉛直角が45°以上、135°以下の範囲で撮像部7が水平軸O2周りに回転駆動される。また、測定面200である壁面が鉛直面、斜面である場合は、概ね、鉛直角が225°以上、315°以下の範囲で撮像部7が水平軸O2周りに回転駆動される。
一例として、測定範囲202は、長方形である。一例として、測定範囲202の内側には、測定の除外領域を有していない。測量機1は、制御部51の制御に従って、測定範囲202より広い長方形の全撮像範囲211を、第1撮像部11を用いて撮像する。自動測定では、第1画角の第1撮像部11を用いる。第1撮像部11は、全撮像範囲211内を、第1画角の撮像範囲203の大部分が重ならないように撮像する。一例として、各撮像範囲203は、上下左右に隣接する撮像範囲203と外縁部が重複する重複部分210を有する。各撮像範囲203は、一例として、同じ大きさの長方形である。各撮像範囲203は、一例として、同じ大きさの正方形でもよい。測量機1は、撮像範囲203がタイル状に並ぶように、全撮像範囲211を撮像する。一例として、測量機1は、全撮像範囲211内において、第1撮像部11をS字状に移動させて、全撮像範囲211を撮像する。撮像開始は、S字形状のルートの何れの端部であってもよい。一例として、測量機1は、全撮像範囲211を、連続して撮像できるルートで順次撮像する。一例として、測量機1は、全撮像範囲211を、水平角駆動部15及び鉛直角駆動部17による撮像部7の移動量が最少となるルートで順次撮像する。一例として、測量機1は、現在の撮像範囲203に対して次に撮像する撮像範囲203を、優先して現在の撮像範囲203に対して隣接する撮像範囲203とする。
図27は、欠陥の一例である欠陥検出及び測定をする手順を示すフローチャートである。
一例として、欠陥401の検出は、測量機1が行ってもよい。
図29及び図30は、制御装置50の表示部52に表示された検査画面の一例を示す。図29に示すように、表示部52には、検査画面として、外観画像表示オブジェクト406と、スティッチ画像表示オブジェクト407と、一覧表示オブジェクト408とが表示される。
図31はオルソ補正処理を示す図であり、(a)は、オルソ補正前を示し、(b)は、オルソ補正処理(正射投影補正処理)後を示す。
オルソ化処理が施された各外観画像データにあっても、各画素について、グローバル座標データを有する。
一例として、制御部51は、互いに隣接する外観画像データを繋ぎあわせなくても、座標上に、各外観画像データのグローバル座標データに基づいて、その外観画像データを当てはめる。この場合、制御部51は、各外観画像データの中心のグローバル座標データは任意の画素のグローバル座標データ等、複数の画素のグローバル座標データを用いて、座標上に、外観画像データを当てはめる。
記憶部54のフォルダには、撮像した複数の外観画像データが保存される。フォルダには、各外観画像データを関連付けて、位置データとしての各外観画像データを構成する画素のグローバル座標データも保存される。外観画像データは、例えば、JPEG形式やビットマップ形式で保存され、座標データは、テキストファイルで保存される。また、外観画像データと座標データとは、EXIF形式で保存される。外観画像データの保存形式は、JPEG形式以外のデータであってもよい。
構造物の欠陥を検出する測定範囲は、作業者が作業しやすい場所ばかりではなく、高所等作業者が近づくことが困難な場所も多い。欠陥の検出を行う実際の測定面となる壁面201に設置することが不能なとき、図1(a)に示すように、補正用ターゲット300は、欠陥の検出を行う実際の測定範囲と類似した類似壁面201aに設置される。類似壁面201aは、一例として、実際の測定範囲と離れた異なる場所にある壁面である。類似壁面201aは、一例として、実験施設、研究施設の中に設けられた壁面である。類似壁面201aは、一例として、欠陥を測定する構造物の壁面であっても、測定範囲とは離れた位置の壁面である。
図1(b)に示すように、補正用ターゲット300は、一例として、欠陥401の検出を行う実際の壁面201bに設置されることもある。この場合、補正データ生成・適用処理は、図27の欠陥検出・測定の処理が行われ、さらに、図31に示すオルソ補正処理及び図32に示すスティッチング処理に引き続き一連に行われる。
(1)算出システムでは、測定面200に設置された補正用ターゲット300を測量機1で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により基準オブジェクト301を検出し、基準オブジェクト301の第1線幅データを算出する。そして、第1線幅データと基準オブジェクト301の実際の線幅である既知の第2線幅データとを比較し、補正データを算出する。補正データ及び欠陥幅データを一例としてサーバ装置60に保存しておくことで、制御装置50や情報処理端末装置70でサーバ装置60にアクセスして、欠陥幅データに補正データを適用し、補正後の欠陥幅データを確認することができる。
(3)一例として、欠陥検出する壁面201が高所等作業者が近づくことが困難な場所であっても、測定範囲202に対して外側、すなわち測定範囲202とは異なる類似壁面201aに補正用ターゲット300を設置して、補正データを算出することができる。
(7)同じ1つの外観画像すなわち撮像範囲203に、欠陥401及び補正用ターゲット300が含まれているときには、欠陥401と補正用ターゲット300が近いことから、補正データもより正確なものとなる。
(9)線分オブジェクト302は、傾きの異なる複数の線分であるので、欠陥401の延びる向きと同じ、若しくは、近い向きの線分オブジェクト302から生成された補正データで、欠陥幅データを補正することができる。
(11)図形オブジェクト308の中の異形オブジェクト308aの位置を特定することで、壁面201における補正用ターゲット300の測量機1と向き合う第1面を含む平面内(測量機1の視準軸O3に直交する面内)における視準軸O3まわりの回転を検出することができる。
・補正用ターゲット300は、補正データを算出するための用途以外にも使用することは可能である。一例として、欠陥の幅の検証用や経時変化を確認する際の参照用として使用することもできる。一例として、欠陥401の近くに補正用ターゲット300を1年間等長期間に亘って設置する。補正用ターゲット300が備えた遠距離用基準オブジェクト301bや近距離用基準オブジェクト301aの線分オブジェクト302の線幅は、長期間経過しても変化しない。したがって、作業者が測量機1で補正用ターゲット300の線分オブジェクト302の線分と欠陥401とを目視で比較することによって、欠陥401の経年変化を確認することができる。例えば欠陥の幅が時間の経過とともに広くなったか等を確認することができる。このように、作業者は、補正用ターゲット300を欠陥401の経年変化を確認する際の参照用として使用することができる。すなわち、補正用ターゲット300は、算出システムが補正データを生成できるものであれば、他の用途に利用されてもよい。
・座標としては、グローバル座標データではなく、ローカル座標データを用いてもよい。
・欠陥401としては、壁面のひびの他、道路、滑走路等のひびや窪みであってもよい。また、橋げた等の構造物の一部である鉄骨が劣化して形成されたひび等であってもよい。欠陥401としては、撮像装置でコントラストによって検出可能なものであれば、ひびや窪みに限定されるものではない。
Claims (22)
- 既知のサイズの基準オブジェクトを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出する第1算出部と、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出する第2算出部と、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出する補正データ算出部とを備え、
前記ターゲットは、前記ターゲットの種類を示す識別オブジェクトを備え、
前記補正データ算出部は、前記識別オブジェクトが示す種類のターゲットが備える前記基準オブジェクトの前記第2サイズデータと前記第1サイズデータとを比較し、前記補正データを算出する
算出システム。 - 前記算出システムは、さらに、
前記補正データを前記欠陥データに適用し、前記欠陥データを補正する補正部を備える
請求項1に記載の算出システム。 - 前記ターゲットは、前記欠陥を検出する壁面と異なる壁面に位置している
請求項1又は2に記載の算出システム。 - 前記測量機は、測定範囲を連続して撮像することによって撮像し、
前記ターゲットは、前記測定範囲内に位置している
請求項1又は2に記載の算出システム。 - 前記測量機によって撮像される測定範囲内に、前記欠陥及び前記ターゲットが位置している
請求項1又は2に記載の算出システム。 - 前記基準オブジェクトは、線分オブジェクトを備え、
前記第1サイズデータは、前記第1算出部によって検出された前記線分オブジェクトの線幅に関する第1線幅データであり、
前記第2サイズデータは、前記線分オブジェクトの実際の線幅に関する第2線幅データである
請求項1又は2に記載の算出システム。 - 前記線分オブジェクトは、傾きの異なる複数の線分である
請求項6記載の算出システム。 - 前記ターゲットは、複数の図形オブジェクトを備え、
前記複数の図形オブジェクトは、前記識別オブジェクトを構成する
請求項1に記載の算出システム。 - 既知のサイズの基準オブジェクトと、図形オブジェクトと、前記図形オブジェクトと異なる異形形状オブジェクトとを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出する第1算出部と、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出する第2算出部と、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出する補正データ算出部とを備える
算出システム。 - 既知のサイズの基準オブジェクト及び傾き検出オブジェクトを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出する第1算出部と、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出する第2算出部と、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出する補正データ算出部とを備え、
前記第1算出部は、前記傾き検出オブジェクトの傾きを検出し、前記傾きに合わせて、前記第1サイズデータを算出する
算出システム。 - 既知のサイズの基準オブジェクトを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出する第1算出部と、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出する第2算出部と、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出する補正データ算出部とを備え、
前記ターゲットは、
前記測量機から前記ターゲットまでが第1距離のときに前記第1算出部で検出される近距離用の前記基準オブジェクトが配置される領域と、
前記測量機から前記ターゲットまでが前記第1距離より長い第2距離のときに前記第1
算出部で検出される遠距離用の前記基準オブジェクトが配置される領域とを備える
算出システム。 - 前記算出システムは、
前記補正データを前記欠陥データに適用し、前記欠陥データを補正する補正部と、
ネットワークを介して前記第1サイズデータ、前記欠陥データ及び前記補正データを保存する記憶部とをさらに備える
請求項1,8,9,10,11のうち何れか1項に記載の算出システム。 - 前記記憶部は、前記第1サイズデータ及び前記補正データを、前記ターゲット画像データを撮像し生成した前記測量機の第1測量機識別データに関連付けて保存すると共に、
前記欠陥データを、前記外観画像データを撮像し生成した前記測量機の第2測量機識別データに関連付けて保存し、
前記補正部は、前記第1測量機識別データと前記第2測量機識別データとが一致しているとき、前記欠陥データに対して前記補正データを適用し、前記欠陥データを補正する
請求項12に記載の算出システム。 - 前記記憶部は、前記補正部が補正した欠陥データを保存する
請求項13に記載の算出システム。 - 既知のサイズの基準オブジェクトを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出する第1算出部と、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出する第2算出部と、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出する補正データ算出部と、
前記補正データを前記欠陥データに適用し、前記欠陥データを補正する補正部とを備え、
前記補正部は、前記測量機から前記ターゲットまでの複数の距離のそれぞれに対応した前記補正データに従って、前記測量機から前記ターゲットまでの距離に対する前記補正データの補正関数を算出し、
前記補正関数を適用して、前記測量機から前記ターゲットまでの実際の距離に対する前記補正データを算出し、前記欠陥データを補正する
算出システム。 - 既知のサイズの基準オブジェクトと、ターゲットの種類を示す識別オブジェクトとを備える前記ターゲットを測量機で撮像して生成されたターゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出するステップと、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出するステップと、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出するにあたって、前記識別オブジェクトが示す種類のターゲットが備える前記基準オブジェクトの前記第2サイズデータと前記第1サイズデータとを比較し、前記補正データを算出するステップと
を実行するプログラム。 - 既知のサイズの基準オブジェクトを備えるターゲットを測量機で撮像して生成されたタ
ーゲット画像データから画像処理により前記基準オブジェクトを検出し、前記基準オブジェクトの大きさに関する第1サイズデータを算出するステップと、
構造物の外観を前記測量機で撮像して生成された外観画像データから画像処理により欠陥を検出し、前記欠陥の大きさに関する欠陥データを算出するステップと、
前記第1サイズデータと前記基準オブジェクトの実際の大きさに関する第2サイズデータとを比較し、前記欠陥データを補正するための補正データを算出するにあたって、前記測量機から前記ターゲットまでの複数の距離のそれぞれに対応した前記補正データに従って、前記測量機から前記ターゲットまでの距離に対する前記補正データの補正関数を算出し、前記補正関数を適用して、前記測量機から前記ターゲットまでの実際の距離に対する前記補正データを算出し、前記欠陥データを補正するステップと
を実行するプログラム。 - 測量機に撮像されるターゲットであって、
前記ターゲットは、
前記測量機から前記ターゲットまでが第1距離に設置されたときに前記測量機に検出される近距離用基準オブジェクトが配置される領域と、
前記測量機から前記ターゲットまでが前記第1距離より長い第2距離のときに前記測量機に検出される遠距離用基準オブジェクトが配置される領域と、
各領域に設けられる識別オブジェクトであって、前記ターゲットの種類を示す前記識別オブジェクトとを備える
ターゲット。 - 前記近距離用基準オブジェクト及び前記遠距離用基準オブジェクトは、傾きの異なる複数の線分オブジェクトを備える
請求項18に記載のターゲット。 - 測量機に撮像されるターゲットであって、
前記ターゲットは、
前記測量機から前記ターゲットまでが第1距離に設置されたときに前記測量機に検出される近距離用基準オブジェクトが配置される領域と、
前記測量機から前記ターゲットまでが前記第1距離より長い第2距離のときに前記測量機に検出される遠距離用基準オブジェクトが配置される領域と、
各領域に設けられる図形オブジェクト及び前記図形オブジェクトと異なる異形形状オブジェクトと
を備えるターゲット。 - 測量機に撮像されるターゲットであって、
前記ターゲットは、
前記測量機から前記ターゲットまでが第1距離に設置されたときに前記測量機に検出される近距離用基準オブジェクトが配置される第1領域と、
前記測量機から前記ターゲットまでが前記第1距離より長い第2距離のときに前記測量機に検出される遠距離用基準オブジェクトが配置される第2領域と、
前記ターゲットの傾きを検出するための傾き検出オブジェクトとを備え、
前記傾き検出オブジェクトは、前記ターゲットの外周部に沿うようにして実線により構成されおり、前記傾き検出オブジェクトの内側に前記第1領域及び前記第2領域が位置しており、
縦方向に互いに平行な2つの縦実直線オブジェクトと、横方向に互いに平行な2つの横実直線オブジェクトとを備えているターゲット。 - 測量機に撮像されるターゲットであって、
前記ターゲットは、
前記測量機から前記ターゲットまでが第1距離に設置されたときに前記測量機に検出される近距離用基準オブジェクトが配置される第1領域と、
前記測量機から前記ターゲットまでが前記第1距離より長い第2距離のときに前記測量機に検出される遠距離用基準オブジェクトが配置される第2領域とを備え、
前記第2領域は、互いに直交するように延びる直線オブジェクトで構成された中心指標オブジェクトによって区画された複数の領域で構成されており、前記複数の領域の各々に前記遠距離用基準オブジェクトが配置されており、
前記第1領域は、前記複数の領域で囲まれる中央領域であって、前記中央領域に複数の前記近距離用基準オブジェクトが配置されており、
前記近距離用基準オブジェクトの各々及び前記遠距離用基準オブジェクトの各々は、線
分オブジェクトを放射状に設けて構成されているターゲット。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/022024 WO2018229917A1 (ja) | 2017-06-14 | 2017-06-14 | 算出システム、算出方法、プログラム及びターゲット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018229917A1 JPWO2018229917A1 (ja) | 2020-03-26 |
JP6899436B2 true JP6899436B2 (ja) | 2021-07-07 |
Family
ID=64659035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019524643A Active JP6899436B2 (ja) | 2017-06-14 | 2017-06-14 | 算出システム、プログラム及びターゲット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11132789B2 (ja) |
EP (1) | EP3640588B1 (ja) |
JP (1) | JP6899436B2 (ja) |
WO (1) | WO2018229917A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3660786A4 (en) * | 2017-07-25 | 2020-08-05 | FUJIFILM Corporation | METHOD FOR GENERATING A DAMAGE DIAGRAM, DEVICE FOR GENERATING A DAMAGE DIAGRAM, SYSTEM FOR GENERATING A DAMAGE DIAGRAM AND RECORDING MEDIUM |
KR101836926B1 (ko) * | 2017-12-05 | 2018-04-19 | 한국지질자원연구원 | 트렌치 단면 기준선 설정 장치 및 이를 이용한 트렌치 단면 분석 방법 |
JP2020193081A (ja) * | 2019-05-29 | 2020-12-03 | 村田機械株式会社 | ティーチングシステム、搬送システム、及びティーチングデータ生成方法 |
JP7341844B2 (ja) * | 2019-10-17 | 2023-09-11 | キヤノン株式会社 | レンズ制御装置、光学機器およびレンズ制御方法 |
CN113793332B (zh) * | 2021-11-15 | 2022-02-08 | 山东德普检测技术有限公司 | 一种实验仪器缺陷识别分类方法及系统 |
US12094172B2 (en) * | 2022-12-22 | 2024-09-17 | Industrial Technology Research Institute | Camera calibration method and camera calibration system |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH675132A5 (ja) * | 1987-09-01 | 1990-08-31 | Zellweger Uster Ag | |
JP2000018921A (ja) * | 1998-07-06 | 2000-01-21 | Hitachi Ltd | 寸法測定方法及び装置 |
JP4005277B2 (ja) * | 1999-09-06 | 2007-11-07 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、方法及び記録媒体 |
JP2001280960A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-10 | Nkk Corp | 遠隔計測方法及び装置 |
JP2003065959A (ja) | 2001-08-23 | 2003-03-05 | Hitachi Ltd | 非破壊検査装置 |
JP2004163292A (ja) | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Topcon Corp | 測量装置と電子的記憶媒体 |
JP5097480B2 (ja) | 2007-08-29 | 2012-12-12 | 株式会社トプコン | 画像測定装置 |
JP4954006B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2012-06-13 | 三洋電機株式会社 | クラック幅計測システム、操作装置、クラック幅計測方法、及びクラック幅計測プログラム |
US20090154789A1 (en) * | 2007-12-17 | 2009-06-18 | Gradience Imaging, Inc. | System and method for detecting optical defects |
US9235902B2 (en) * | 2011-08-04 | 2016-01-12 | University Of Southern California | Image-based crack quantification |
JP5838138B2 (ja) * | 2012-08-30 | 2015-12-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥観察システムおよび欠陥観察方法 |
TW201418662A (zh) * | 2012-11-15 | 2014-05-16 | Nat Applied Res Laboratories | 遠距離量測裂縫之方法及其裝置 |
JP5531148B1 (ja) * | 2013-08-09 | 2014-06-25 | ジビル調査設計株式会社 | 構造物の点検装置 |
JP6198644B2 (ja) | 2014-03-11 | 2017-09-20 | 株式会社パスコ | 精密計測用ターゲット及び精密計測方法 |
JP6499898B2 (ja) * | 2014-05-14 | 2019-04-10 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 検査方法、テンプレート基板およびフォーカスオフセット方法 |
JP2016050887A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | 関西工事測量株式会社 | クラック計測システム |
JP6412474B2 (ja) * | 2015-09-03 | 2018-10-24 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | クラック幅計測システム |
-
2017
- 2017-06-14 WO PCT/JP2017/022024 patent/WO2018229917A1/ja unknown
- 2017-06-14 US US16/620,775 patent/US11132789B2/en active Active
- 2017-06-14 EP EP17913998.5A patent/EP3640588B1/en active Active
- 2017-06-14 JP JP2019524643A patent/JP6899436B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2018229917A1 (ja) | 2018-12-20 |
EP3640588A1 (en) | 2020-04-22 |
EP3640588A4 (en) | 2021-04-21 |
US11132789B2 (en) | 2021-09-28 |
US20200175666A1 (en) | 2020-06-04 |
JPWO2018229917A1 (ja) | 2020-03-26 |
EP3640588B1 (en) | 2024-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6899436B2 (ja) | 算出システム、プログラム及びターゲット | |
JP6654649B2 (ja) | 欠陥検出装置及びプログラム | |
JP5060358B2 (ja) | 測量システム | |
JP6591676B2 (ja) | モニタリング方法、モニタリングシステム及びプログラム | |
US6731329B1 (en) | Method and an arrangement for determining the spatial coordinates of at least one object point | |
JP4356050B2 (ja) | 測量装置と電子的記憶媒体 | |
US11236997B2 (en) | Surveying instrument and program | |
US20150276401A1 (en) | Robotic laser pointer apparatus and methods | |
JP6569002B2 (ja) | 欠陥画像表示制御装置及びプログラム | |
US7177016B2 (en) | Electronic surveying apparatus | |
JP2021039013A (ja) | 壁面のひび割れ測定機および測定方法 | |
JP4359083B2 (ja) | 測量システム | |
JP5795853B2 (ja) | 測量システム | |
JP4167509B2 (ja) | 測量システム | |
JP4217083B2 (ja) | 測量システム | |
JP4899129B2 (ja) | 測量装置 | |
JP2004085555A (ja) | 測量システム | |
JPH0244280A (ja) | テレビ映像を利用した測量装置 | |
Scherer | a Circleless" 2D/3D Total STATION": a Low Cost Instrument for Surveying, Recording Point Clouds, Documentation, Image Acquisition and Visualisation | |
JP2004085554A (ja) | 自動測量システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200707 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20200904 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210127 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210329 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210518 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210614 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6899436 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |