WO2017163607A1 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2017163607A1
WO2017163607A1 PCT/JP2017/003086 JP2017003086W WO2017163607A1 WO 2017163607 A1 WO2017163607 A1 WO 2017163607A1 JP 2017003086 W JP2017003086 W JP 2017003086W WO 2017163607 A1 WO2017163607 A1 WO 2017163607A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
rack
component
automatic analyzer
racks
consumable
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/003086
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
和広 野田
達也 福垣
孝宏 熊谷
Original Assignee
株式会社 日立ハイテクノロジーズ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 日立ハイテクノロジーズ filed Critical 株式会社 日立ハイテクノロジーズ
Priority to EP17769654.9A priority Critical patent/EP3435091B1/en
Priority to US16/086,844 priority patent/US11041872B2/en
Priority to CN201780017240.4A priority patent/CN108780104B/zh
Priority to JP2018507087A priority patent/JP6619080B2/ja
Publication of WO2017163607A1 publication Critical patent/WO2017163607A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G59/00—De-stacking of articles
    • B65G59/02—De-stacking from the top of the stack
    • B65G59/026—De-stacking from the top of the stack with a stepwise upward movement of the stack
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G59/00—De-stacking of articles
    • B65G59/10—De-stacking nested articles
    • B65G59/101—De-stacking nested articles by means of oscillating escapement-like mechanisms
    • B65G59/103—De-stacking nested articles by means of oscillating escapement-like mechanisms comprising lifting or gripping means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G60/00—Simultaneously or alternatively stacking and de-stacking of articles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/0099—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor comprising robots or similar manipulators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2201/00—Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
    • B65G2201/02—Articles
    • B65G2201/0235—Containers
    • B65G2201/0258—Trays, totes or bins
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00178—Special arrangements of analysers
    • G01N2035/00277—Special precautions to avoid contamination (e.g. enclosures, glove- boxes, sealed sample carriers, disposal of contaminated material)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0412—Block or rack elements with a single row of samples
    • G01N2035/0417—Block or rack elements with a single row of samples forming an endless chain in a vertical plane
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418—Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/042—Plate elements with several rows of samples moved independently, e.g. by fork manipulator
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0418—Plate elements with several rows of samples
    • G01N2035/0425—Stacks, magazines or elevators for plates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
    • G01N2035/0429—Sample carriers adapted for special purposes
    • G01N2035/0434—Sample carriers adapted for special purposes in the form of a syringe or pipette tip

Definitions

  • the present invention relates to an automatic analyzer used for chemical analysis such as biochemical analysis and immunological analysis in clinical tests, and a sample processing system for automatically processing samples when testing samples such as blood and urine in a laboratory. .
  • the nozzle tip, reaction vessel, etc. that come into contact with the sample may be made disposable parts (hereinafter referred to as consumables).
  • Patent Document 1 in an automatic analyzer that analyzes and inspects a sample using parts such as disposable nozzle tips and reaction vessels, supply of unused parts racks for supplying unused parts, An automatic analyzer capable of performing recovery with a compact device configuration is disclosed. Specifically, the parts rack holding unused parts is raised from the maximum lowered position to the rack separation station by the supply elevator so that only the uppermost stacked part rack remains on the rack separation station. Separated. The separated parts rack is moved to a parts picking station, and the parts on the parts rack are picked up one after another by the movable gripping portion. After the parts are consumed, the used parts rack is dropped by opening the floor of the parts picking station and collected on the lifting platform of the collecting elevator.
  • the component rack supply mechanism disclosed in Patent Document 1 separates only the component rack positioned at the top from the other component racks by a separation mechanism having a claw that catches a part of the consumables rack.
  • a separation mechanism having a claw that catches a part of the consumables rack.
  • the row of component racks may be inclined with respect to the stacking direction and may be displaced.
  • misalignment may also occur when the symmetry between the component rack separation mechanism and the stacked component racks is not maintained. If a misalignment occurs, the claw of the separation mechanism will not be able to hook and hold the parts rack evenly on the left and right, and the top part rack may not be separated or may fall, resulting in a nozzle tip, reaction container, etc.
  • the consumables cannot be supplied to the apparatus, and delaying or stopping the analysis results may lead to loss of the specimen sample used for analysis and specimen processing.
  • the present invention provides a separation of component racks that can stably separate only the uppermost component rack from other component racks and supply it to the analysis unit without being affected by the positional deviation of the stacked component racks.
  • An object of the present invention is to provide an automatic analyzer and an automatic sample processing system having a mechanism.
  • an automatic analyzer having a consumable supply device for supplying a consumable rack having an upper surface for holding consumables and a flange portion provided below, a plurality of the consumable racks are held in a stacked state.
  • a stand that can hold the consumables rack in a horizontal state, a drive unit that moves the stand in a vertical direction, a control unit that controls the operation of the drive unit, and a horizontal distance apart from each other.
  • a pair of separation mechanisms are provided for separating the uppermost consumable rack from the stacked consumable racks, and the pair of separation mechanisms abuts the lower surface of the flange portion to support the consumable rack.
  • a fixed correction unit that corrects the position of the consumable rack by contacting the side surface of the collar unit.
  • a component rack that can be stably separated from other component racks and supplied to the analysis unit without being affected by the positional deviation of the stacked component racks.
  • An automatic analyzer and an automatic sample processing system provided with a separation mechanism can be provided.
  • the automatic analyzer contacts and dispenses the sample, and advances the analysis operation of the sample using disposable parts (hereinafter, consumables) that are exchanged for each sample.
  • consumables disposable parts
  • a nozzle tip and a reaction vessel are used as consumables.
  • both of these parts are not necessarily used, and only one of them may be used.
  • the consumables are two-dimensionally held on the component rack, and are set and supplied in a state where the component racks are stacked on the lifting platform.
  • FIG. 1 is a top view of the automatic analyzer according to the present invention.
  • Automatic analyzers are useful for measuring various types of analysis items such as biochemical analysis items, immunological analysis items, or genetic analysis items by treating biological samples such as plasma, serum, and urine with various reagents and measuring them. It is a device that can obtain information. For example, in immunoassay, a sample containing a measurement object is mixed with magnetic particles, a labeled antibody containing a labeling substance, and an antibody that binds the magnetic particles to the measurement object to cause an antigen-antibody reaction.
  • the reaction product to which the magnetic particles and the labeling substance are bound is captured by a magnetic separation means, and a voltage is applied to the captured reaction product to measure the amount of luminescence, thereby quantifying the measurement object.
  • biological samples such as plasma, serum, urine, etc. of each patient sample collected in the laboratory are automatically divided into small volumes according to the contents of the test, and automatic analysis is performed. It is possible to improve the efficiency of the sample processing process leading to the apparatus.
  • the operation of each component mechanism of the automatic analyzer 1 is controlled by the controller 2.
  • the automatic analyzer 1 includes a sample rack transport system including a sample input unit 3, a sample transport line 4 and a sample storage unit 5, an analysis measurement system including a reaction disk 6, a reagent disk 7 and a measurement unit 8, and supply of consumables. It has a consumable handling system having a device 9 and a parts transporting device 10.
  • a sample to be analyzed and measured is contained in a sample container 11, and each sample rack 12 is loaded with a plurality of sample containers 11.
  • a single sample rack 12 holds a plurality of sample containers (or a single sample container).
  • Samples analyzed and measured by the automatic analyzer 1 are biological samples such as plasma, serum, and urine.
  • Information on the sample in the sample container 11 and request information for analysis items are input in advance through the input unit of the control device.
  • the analysis conditions for each analysis item are stored in the control device 2.
  • a sample identification information medium such as a barcode is provided on the outer wall of each sample container 11, and a carrier identification information medium such as a barcode is provided on each sample rack 12.
  • the upper medium is not limited to a barcode, and may be, for example, an RFID tag, an IC chip, or a two-dimensional barcode.
  • the sample rack 12 loaded with the sample containers is set in the sample loading unit 3 by the operator.
  • the sample insertion unit 3 is once connected to the sample transport line 4, and pushes out and feeds the sample rack 12 step by step toward the sample transport line.
  • the sample transport line 4 that has received the sample rack 12 transports the sample rack to the sample collection position S.
  • the method of moving the sample rack is not limited to a method such as driving of a transport belt or movement of a rack transport arm.
  • the carrier identification information of each sample rack and the sample identification information of each sample container are read by an identification information reader (not shown) such as a barcode reader, and the information is It is transmitted to the control device 2.
  • the control device 2 controls the operations of the sample sampling mechanism 13, the reagent disk 7, the reagent dispensing mechanism 14, the reaction disk 6, the measuring unit 8, and the like based on the read information.
  • the sample rack 12 that has undergone the sample collection process at the sample collection position S is transported to the sample storage unit 5 by the sample transport line 4 and stored therein.
  • the consumable supply device 9 provides a nozzle tip 29 and a reaction vessel 30 that are used to avoid carryover or contamination between samples. These consumables are moved in the consumable supply device 9 while being two-dimensionally (arrayed) held by the component rack 15.
  • the component carrying device 10 grasps one of the consumable reaction containers from the component rack 15 positioned in the consumable take-out mechanism B and sets it on the reaction disk 6. Next, one of the consumable nozzle tips is grasped and carried out from the same component rack, and set at the tip mounting position 16.
  • the chip coupling nozzle of the sample sampling mechanism 13 couples the nozzle chip at the chip mounting position 16, and then the sample sampling mechanism 13 executes a sample collecting operation.
  • the consumable supply device 9 includes a component rack separation mechanism A and a consumable take-out mechanism B. As will be described later, a supply elevator 17 for supplying unused component racks 15 is disposed below the component rack separating mechanism A, and the used component racks 15 are collected below the consumable take-out mechanism B. A lifting platform 18 is arranged.
  • the consumable supply device 9 is provided with a component rack separation mechanism A, a consumable take-out mechanism B, and a component rack disposal mechanism.
  • a supply elevator 19 is disposed below the component rack separation mechanism A
  • a recovery elevator 20 is disposed below the consumable take-out mechanism B.
  • These elevators 19 and 20 are accommodated in a rack elevator chamber 21 (see FIG. 1) of the consumable supply device 9. Further, these elevators are attached to a movable table 22. As a result, the user can set a new component rack 15 on the supply elevator 17 in a state where the rack 22 is pulled out from the rack elevator chamber 21 (see FIG. 1) to the front side.
  • the used parts rack 15 can be removed from the top 18.
  • In the back of the rack lifting / lowering chamber 21 see FIG.
  • two detachable waste component collection boxes 24a and 24b are arranged so as to be located below the component disposal position 23 in FIG.
  • the elevators 19 and 20 are settled in a place where the bases 17 and 18 can be raised and lowered as before.
  • the component rack separation mechanism A located above the rack supply unit of the consumable supply device 9 includes a plurality of stacked component racks that are lifted upward by the supply elevator 19 toward the component rack discard mechanism unit. Among them, a separation mechanism 25 that separates and holds the uppermost component rack 15 from the other component racks 15 so as to remain in the component rack disposal mechanism unit, and a lowermost part rack that is separated from the other component racks by the lowering of the lifting platform 17.
  • the rack transfer device 26 that moves the upper part rack 15 from the part rack separation mechanism A to the consumable take-out mechanism B, and the parts rack sent to the consumable take-out mechanism B at a plurality of locations.
  • the rack positioning device 27 is positioned so as to be settled at a predetermined position by pressing and the platform 18 of the elevator for recovery from the component take-out station is a component.
  • floor are placed the parts rack at the take-out mechanism part B of consumables Open (open member), and a like then close the floor floor switchgear 28.
  • the component rack separation mechanism section A has a pair of separation mechanisms 25 arranged on opposite sides of the component rack 15.
  • the separation mechanism 25 is symmetrical, and both side surfaces have the same structure.
  • the separation mechanism 25 is intended to separate the uppermost component rack and the second and lower component racks from among the stacked component racks 15.
  • the side wall of the component rack 15 has an inclined surface that extends toward the lower edge so that the lower edge 42 is formed larger than the upper edge 41 on which the components are installed, and the cross section is trapezoidal. Since the inside of the side wall is hollow and there is no bottom wall at the bottom, it is a box shape that makes it easy to stack the component racks 15 up and down.
  • the upper edge 41 of the component rack 15 is substantially square, and holes that can be loaded with a large number of consumables are two-dimensionally arranged, and components that become consumables are inserted into the holes, respectively.
  • One component rack 15 in the embodiment can be loaded with a plurality of consumable nozzle tips 29 and a plurality of consumable reaction containers 30. In the case of FIG. 3, the same amount of the nozzle tip 29 and the reaction vessel 30 are loaded in the component rack 15.
  • flange portions 31a and 31b having a predetermined width and length are formed.
  • the pair of brim portions 31a and 31b are supported on lower surfaces by support portions 32a and 32b of a separation mechanism 25, which will be described later, so as to facilitate separation of the component racks. Further, when there is a positional deviation with respect to the stacking direction of the component rack 15 or a positional deviation due to the asymmetry of the component rack and the separation mechanism, the positional deviation is corrected by abutting with the correction portions 35a and 35b of the separation mechanism. To work.
  • the flange portions 31a and 31b having a predetermined width and length are used, but they are in contact with movable mechanisms 33a and 33b having a lowering prevention member of the separation mechanism described later so as to facilitate separation of the component racks. If it is a structure that works, it may be a structure that abuts against the descending prevention member by a hole or the like and hooks it.
  • the separation mechanism 25 is intended to correct the position of the component rack 15 and the movable portion 33a having a pair of support portions (lowering prevention members) 32a spaced apart so as to fit the width of the component rack. It has a correction mechanism 34a having a pair of correction portions (correction plates) 35a that are spaced apart to fit the width.
  • the movable mechanism 33a and the correction mechanism 34a form a pair with respect to the direction in which the flange portion 31a of the component rack 15 is formed, and are arranged alternately. Note that the movable mechanism 33a and the correction mechanism 34a are not necessarily arranged alternately, and may be arranged one by one, for example.
  • the pair of movable mechanisms 33a having the support portions 32a are attached to the rotating shaft 36a so that the horizontally long directions are parallel to each other.
  • the movable mechanism 33a includes a support portion 32a formed by bending a relatively thin metal (for example, stainless steel) and a stopper 40a. Moreover, since it is formed of a thin metal, it has some elasticity.
  • the elastic body 39a is, for example, a torsion spring, is disposed in contact with the movable mechanism 33a, and presses the pair of movable mechanisms 33a disposed on the left and right so as to protrude toward the magazine.
  • the stopper 40a contacts the fixed end 37 or a plate piece fixed to the fixed end 37 so that the upper surface of the support portion 32a is in an optimal position for holding the flange portion described later, and fixes the position of the movable mechanism 33a. Let Therefore, the movable mechanism 33a can be rotated around the rotation shaft 36a by the fixed end 37 of the movable mechanism 33a and the movable end by the support portion 32a (see FIGS. 5A and 5B). In the state of FIG.
  • the upper surface of the support portion 32a comes into contact with the flange portion 31a, and the component rack having the flange portion is held on the support portion 32a.
  • the component rack can be moved vertically without being caught by the support portion 32a.
  • the correction mechanism 34a having the correction unit 35a is attached so that the horizontal direction is parallel to the movable mechanism 33a. Since it is coupled to the fixed end 37, the distance between the correction portions 35 a of the pair of separation mechanisms 25 is fixed so as to match the width of the component rack without rotating.
  • FIG. 6 shows a state where no component racks exist in the component rack separation mechanism A. Since the upper ends of the support portions 32a and 32b are in contact with the stoppers 40a and 40b, the distance L2 between the tips of the pair of shelf portions 38a and 38b is the distance between the tip portions of the pair of flange portions 31a and 31b of the component rack 15. It is provided so as to be narrower than L, and is disposed so as to be wider than the distance L3 of the width excluding the flange portions 31a and 31b of the component rack 15.
  • the pair of correction mechanisms 34a and 34b are coupled to the fixed end 37, and the distance between them is fixed at a constant distance L1 that is equal to or slightly larger than the width of the component rack.
  • the interval L1 is the same as the interval L1 between the upper ends of the shelf portions 38a and 38b.
  • the position of the component rack 15 is separated by a certain distance from the distance L between the tip ends of the pair of flange portions 31a and 31b.
  • FIG. 7 shows a state in which the component rack 15 holding the unused stacked consumables 29 and 30 is raised by the supply elevator 17.
  • a plurality of component racks are stacked on the component racks 15a, 15b, 15c,.
  • the flanges 31a and 31b come into contact with the side surfaces of the support portions 32a and 32b to expand the movable portions 33a and 33b. Rotate. That is, the ascending force of the component rack 15a applied from the supply elevator 19 pushes the support portions 32a and 32b outward against the force of the elastic bodies 39a and 39b working to push out the shelf.
  • the interval L1 ′ between the upper ends of the shelf portions 38a and 38b rotates around the rotation shafts 36a and 36b integrally with the support portions 32a and 32b, so that no component rack exists in the separation mechanism portion A of the component rack.
  • the distance L1 ′ (> L1> L) is greater than the distance between the end portions L of the pair of flange portions 31a and 31b of the component rack 15 at the time (FIG. 6).
  • misalignment and distortion can be corrected by the correction portions 35a and 35b coming into contact with the side surfaces of the flange portions 31a and 31b. It is. As a result, misalignment of the plurality of stacked component racks 15a occurs, and only one of the flange portions of the component rack 15a comes into contact with the support portions 32a and 32b, so that the pair of movable mechanisms 33a and 33b rotate evenly. As a result, it is possible to prevent the case where the uppermost component rack cannot be reliably separated or the component rack is dropped.
  • FIG. 8 shows a state in which the supply platform 17 is further raised and the flange portions 31a and 31b of the uppermost component rack 15a have passed the support portions 32a and 32b.
  • the movable mechanisms 33a and 33b are kept closed. Even in this state, the presence of the correction mechanisms 34a and 34b is important. When the correction mechanisms 34a and 34b do not exist, the movable mechanisms 33a and 33b maintain the closed state. However, when the positional shift of the stacked component racks is generated, the flange portions 31a and 31b of the component rack 15a are generated.
  • the correction mechanisms 34a and 34b are provided so as to abut against the flanges 31a and 31b of the uppermost component rack 15a to suppress positional deviation, thereby contributing to equal contact between the support portions 32a and 32b and the component rack thereafter. To do.
  • FIG. 9 shows a state where the supply platform 17 is lowered.
  • the distance L2 between the tip portions of the pair of support portions 32a and 32b is narrower than the distance L between the tip portions of the flange portions 31a and 31b of the component rack 15a (L2 ⁇ L). It cannot descend as the platform 17 descends.
  • the component racks 15b, 15c the uppermost component rack 15a is in a state in which the flange portions 31a and 31b are placed on the shelf portions 38a and 38b, and the correction portions 35a and 35b suppress the positional deviation of the component rack 15 to thereby reduce the shelf portions 38a and 38a.
  • 38b and the flanges 31a and 31b of the component rack are in contact with each other and are not lowered. As a result, stable separation between the uppermost component rack 15a and the other component racks 15b, 15c,... Is achieved.
  • the automatic analyzer has been described.
  • the consumable supply device mounted in the automatic sample processing system is equivalent. Achieved in configuration.
  • the first stage can be stably stabilized without being affected by the misalignment. Since only the component rack can be separated from the other component racks and supplied to the analysis unit, it is possible to contribute to stable analysis performance and operation performance.
  • the stacking of the component racks tends to be uncertain in the stacking direction depending on how they are stacked.
  • the present invention can be applied to a product, and can be versatile as an implementation in an automatic analyzer and an automatic sample processing system.

Landscapes

  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

本発明は、ディスポーザブルな部品を部品ラックに搭載し、複数個積み重ねた部品ラックの状態から積み重ねの先頭段の部品ラックのみを他の部品ラックから分離し自動分析装置または、自動検体処理システムへ供給する部品ラックの供給機構において、その中でも積み重ねられた部品ラックの積み重ね状態および部品ラックと分離機構の非対称性などによる位置ズレの影響を受けて部品ラックの分離不可となることなく、部品ラックを安定的に供給することが可能な部品ラックの分離機構を備えた供給機構を有する自動分析装置および自動検体処理システムを提供することを目的とする。　具体的には、複数個積み重ねた部品ラックの状態から積み重ねの先頭段の部品ラックのみを他の部品ラックから分離する分離機構を備えた供給機構を有する自動分析装置および自動検体処理システムにおいて、分離機構は積み重ねた部品ラックの先頭段と二段目との間を分離可能とする一対の下降阻止部材を有する可動機構と、積み重ねた部品ラックの位置ズレによる影響を受けることが無いよう部品ラックの位置ズレを補正する一対の補正部材を有する補正機構を備えたことを特徴とする。

Description

自動分析装置
　本発明は、臨床検査における生化学分析や免疫分析等の化学分析に用いる自動分析装置及び、血液・尿などの検体を検査室で検査する際に検体の処理を自動的に行う検体処理システムに関する。
　サンプル間のコンタミネーションを防止するため、サンプルと接触するノズルチップや反応容器等をディスポーザブルな部品（以下、消耗品と称する）とすることがある。
　特許文献１には、ディスポーザブルなノズルチップや反応容器等の部品を用いてサンプルの分析検査を行う自動分析装置において、未使用の部品を供給する未使用部品ラックの供給と、使用済み部品ラックの回収をコンパクトな装置構成で行うことができる自動分析装置が開示されている。具体的には、未使用部品を保持している部品ラックは、供給用昇降機により最大下降位置からラック分離ステーションまで上昇され、積み重ねられている最上段の部品ラックだけがラック分離ステーション上に残るように分離される。分離された部品ラックは部品取り出しステーションに移動され、その場所で部品ラック上の部品が可動把持部により次々と取り出される。部品消費後、部品取り出しステーションの床部を開くことにより、使用済みの部品ラックは落下され、回収用昇降機の昇降台上に回収されている。
特許第４４５４９０４号
　特許文献１に示された部品ラック供給機構は消耗品ラックの一部をひっかける爪を有する分離機構により、最上段に位置付けられた部品ラックのみを他の部品ラックから分離している。しかし、積み重ねられた部品ラックの段数が多い場合には、部品ラックの列は重ね方向に対して傾き、位置ずれを起こす可能性がある。また、部品ラックの分離機構と積み重ねられた部品ラックの対称性が維持されていない場合にも位置ずれが発生する可能性がある。位置ずれが発生すると、分離機構の爪が部品ラックを左右均等に引っ掛けて保持することができず、最上段の部品ラックが分離できない、もしくは落下する可能性があり、ひいてはノズルチップや反応容器などの消耗品を装置へ供給することができず、分析結果の遅延や停止することで分析および検体処理に使用される検体サンプルの損失につながる恐れがある。
　そこで本発明は、積み重ねられた部品ラックの位置ズレの影響を受けることなく、安定して最上段の部品ラックのみを他の部品ラックから分離し分析部へ供給することが可能な部品ラックの分離機構を備えた自動分析装置および自動検体処理システムを提供することを目的とする。
　上記課題に鑑みた本発明の特徴は以下の通りである。すなわち、消耗品を保持する上面と、下方に設けられたツバ部を有する消耗品ラックを供給する消耗品供給装置を備えた自動分析装置において、前記消耗品ラックを複数積み重ねた状態で保持することができる台と、前記消耗品ラックを水平状態で保持する台を垂直方向に移動させる駆動部と、前記駆動部の動作を制御する制御部と、水平方向に一定距離離間した状態で配置され、積み重ねられた状態の前記消耗品ラックから、最上段の消耗品ラックを分離する一対の分離機構を備え、前記一対の分離機構は、それぞれ、前記ツバ部の下面に当接して消耗品ラックを支持する可動式の支持部と、前記ツバ部の側面に当接して消耗品ラックの位置を補正する固定式の補正部を有することを特徴としている。
　本発明によれば、積み重ねられた部品ラックの位置ズレの影響を受けることなく、安定して最上段の部品ラックのみを他の部品ラックから分離し分析部へ供給することが可能な部品ラックの分離機構を備えた自動分析装置および自動検体処理システムを提供することができる。本発明の他の目的、特徴及び利点は添付図面に関する以下の本発明の実施例の記載から明らかになるだろう。
自動分析装置の各構成について示す平面図 昇降室に設置される消耗品供給装置の各構成について示す斜視図 本発明における部品ラック分離機構部の構成を示す斜視図 本発明における分離機構の構成を示す斜視図 本発明における分離機構の動作について示す断面図 部品ラック分離機構部に部品ラックが存在しない状態を示す断面図 部品ラック分離機構部へ部品ラックを供給する状態を示す断面図 最上段の部品ラックの分離前の状態を示す断面図 最上段の部品ラックの分離後の状態を示す断面図
　以下に図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。なお、各図中、同一の部材には同一の符号を付し、重複した説明は適宜省略する。
　以下に本発明を適用した実施例に基づき図面を参照して説明する。実施例として自動分析装置における使用例を用いて説明する。自動分析装置は、サンプルに接触し分注を行い、サンプル毎に交換されるディスポーザブルな部品(以下、消耗品)を用いてサンプルの分析操作を進める。この例では、消耗品として、ノズルチップ及び反応容器を用いることを説明しているが、これらの両方の部品は必ず用いなければならないわけではなく、片方だけでも良い。また、ノズルチップ及び反応容器以外の消耗品を用いるように構成しても良い。消耗品は部品ラック上に２次元的に保持され、昇降台上に部品ラック同士が積み重なる状態でセットされ供給される。
　第１図は本発明における自動分析装置の上面図を示す図である。自動分析装置は、血漿，血清，尿などの生体サンプルを種々の試薬で処理し測定することにより、生化学分析項目、免疫分析項目、または遺伝子分析項目などの多種類の分析項目に関し有益な測定情報を得ることができる装置である。例えば、免疫分析等では測定対象物を含む試料に、磁性粒子、標識物質を含む標識抗体、及び磁性粒子を測定対象物に結合させる抗体を混合して抗原抗体反応を起こさせ、測定対象物、磁性粒子及び標識物質が結合した反応生成物を磁気分離手段で捕捉し、捕捉した反応生成物に電圧を印加してその発光量を計測することで測定対象物を定量化する。また自動検体処理システムにおいて、検査室に集約された各患者検体の血漿，血清，尿などの生体サンプルを検査内容に応じた容量となるように自動で生体サンプルの小分け分注処理行い、自動分析装置に至る検体処理の過程を効率化することができる。
　自動分析装置１の各構成機構部分は、制御装置２によって動作制御される。自動分析装置１は、検体投入部３，検体搬送ライン４及び検体収納部５を有する検体ラックの搬送系と、反応ディスク６，試薬ディスク７及び測定部８を有する分析測定系と、消耗品供給装置９及び部品運搬装置１０を有する消耗品取り扱い系を有している。分析測定されるべきサンプルは、サンプル容器１１に収容されており、各検体ラック１２には複数本のサンプル容器１１が装填されている。１つの検体ラック１２に複数本(単体でも良い)のサンプル容器を保持される。自動分析装置１によって分析測定されるサンプルは、血漿，血清，尿などの生体サンプルである。サンプル容器１１内のサンプルに関する情報及び分析項目の依頼情報は、予め制御装置の入力部を通して入力される。各分析項目の分析条件は、制御装置２に記憶されている。
　各サンプル容器１１の外壁にはバーコードのような検体識別情報媒体が設けられており、各検体ラック１２にはバーコードのようなキャリア識別情報媒体が設けられている。上方媒体はバーコードに限定されず、例えばＲＦＩＤタグやＩＣチップ、二次元バーコードでも良い。検体容器を装填した状態の検体ラック１２は、操作者によって検体投入部３にセットされる。検体投入部３はその一旦が検体搬送ライン４に接続されており、検体搬送ラインに向けて１ステップずつ検体ラック１２を押し出して送り出す。
　検体ラック１２を受け取った検体搬送ライン４は、サンプル採取位置Ｓまで検体ラックを搬送する。なお、検体ラックを移動させる方式としては、搬送ベルトの駆動やラック搬送アームの移動等、方式は限定されない。サンプル採取位置へ搬送される前に、各検体ラックのキャリア識別情報及び各サンプル容器の検体識別情報が、バーコード読み取り装置のような識別情報読み取り器（図示せず）により読み取られ、その情報は制御装置２に伝達される。制御装置２は、読み取り情報に基づいて検体サンプリング機構１３試薬ディスク７，試薬分注機構１４，反応ディスク６，測定部８などの動作を制御する。サンプル採取位置Ｓにてサンプル採取処理を受けた検体ラック１２は、検体搬送ライン４により検体収納部５に搬送され、そこに収納される。
　消耗品取り扱い系では、消耗品供給装置９がサンプル間のキャリオーバ又はコンタミネーションを避けるために使用されるノズルチップ２９及び反応容器３０を提供する。これらの消耗品は、部品ラック１５に２次元的（アレイ的）に保持された状態で消耗品供給装置９内を移動される。部品運搬装置１０は、消耗品の取り出し機構部Ｂに位置づけられた部品ラック１５上から消耗品の反応容器の１つを掴んで搬出し、反応ディスク６上にセットする。次いで同じ部品ラック上から消耗品のノズルチップの１つを掴んで搬出し、チップ装着位置１６にセットする。検体サンプリング機構１３のチップ結合用ノズルは、チップ装着位置１６にてノズルチップを結合し、その後検体サンプリング機構１３はサンプル採取動作を実行する。
　消耗品供給装置９は、部品ラック分離機構部Ａ及び消耗品の取り出し機構部Ｂを備えている。後述するように、部品ラック分離機構部Ａの下方には未使用の部品ラック１５の供給用昇降台１７が配置され、消耗品の取り出し機構部Ｂの下方には使用済みの部品ラック１５の回収用昇降台１８が配置される。
　次に、消耗品供給装置９の構成について第２図を参照して説明する。
　消耗品供給装置９には、部品ラック分離機構部Ａと消耗品の取り出し機構部Ｂと部品ラック廃棄機構部が設けられる。部品ラック分離機構部Ａの下方には供給用の昇降機１９が配置され、消耗品の取り出し機構部Ｂの下方には回収用の昇降機２０が配置される。これらの昇降機１９，２０は消耗品供給装置９のラック昇降室２１(図１参照)内に収納される。また、これらの昇降機は可動式の台２２に取り付けられる。これにより、ユーザはラック昇降室２１(図１参照)から台２２ごと前面側に引き出した状態で、供給用の昇降台１７へ新たな部品ラック１５をセットすることができ、さらに回収用の台１８上から使用済みの部品ラック１５を除去することができる。ラック昇降室２１(図１参照)の奥には、第１図における部品廃棄位置２３の下方に位置するように、取り外し可能な二つの廃棄部品回収箱２４ａ，２４ｂが配置されている。引き出した台２２を所定位置まで押し込むことにより、昇降機１９，２０は元のように台１７，１８が昇降可能な場所に落ち着く。
　消耗品供給装置９のラック供給部の上方に位置される部品ラック分離機構部Ａには、供給用の昇降機１９によって部品ラック廃棄機構部の方へ上方に持ち上げられた積み重ね状態の複数部品ラックの内、最上段の部品ラック１５のみを部品ラック廃棄機構部に残すように他の部品ラック１５から分離して保持する分離機構２５と、昇降台１７の下降により他の部品ラックから分離された最上段であった部品ラック１５を部品ラック分離機構部Ａから消耗品の取り出し機構部Ｂの方へ移動させるラック移送装置２６と、消耗品の取り出し機構部Ｂに送られた部品ラックを複数箇所にて押圧することにより所定位置に落ち着かせるように位置決めをするラック位置決め装置２７と、部品取り出しステーションから回収用の昇降機の台１８が部品ラックを受け取るときに、消耗品の取り出し機構部Ｂにおいて部品ラックを載置している床部（開閉可能部材）を開き、その後床部を閉じる床部開閉装置２８などを備えている。
　次に、消耗品供給装置９における部品ラック分離機構部Ａの構成および部品ラックについて図３を参照して説明する。
　部品ラック分離機構部Ａは部品ラック１５の両側に一対の分離機構２５を対向して配置している。分離機構２５は左右対称となり、両側面が同様の構造となっている。分離機構２５は、積みかさねられた部品ラック１５のうち、最上段の部品ラックと二段目以下の部品ラックとの分離を目的としている。
　部品ラック１５の側壁は、部品が設置された上縁４１よりも下縁４２が大きく形成されるよう下縁に向かって広がる傾斜面を有し、断面は台形状である。側壁の内側は空洞であり、下部には底壁がないため、部品ラック１５同士を上下に積み重ねることが容易となる箱形である。
　部品ラック１５の上縁４１はほぼ四角形であり、消耗品を多数装填し得る孔が２次元的に配列されそれぞれに消耗品となる部品が挿入されている。実施例における１つの部品ラック１５には、消耗品のノズルチップ２９及び消耗品の反応容器３０をそれぞれ複数ずつ装填できる。第３図の場合にはノズルチップ２９及び反応容器３０は同数量を部品ラック１５に装填している。
　部品ラック１５の少なくとも対向する二つの側壁の下端には、所定の幅と長さを持つツバ部３１ａ，３１ｂが形成されている。これらの一対のツバ部３１ａ，３１ｂは、後述する分離機構２５の支持部３２ａ，３２ｂによって下面を支持されることで、部品ラック同士の分離を容易にするように働く。また部品ラック１５の重ね方向に対する位置ズレや部品ラックと分離機構の非対称性による位置ズレが発生していた場合には、分離機構の補正部３５ａ，３５ｂと当接することで位置ズレを補正するように働く。実施例においては所定の幅と長さを持つツバ部３１ａ，３１ｂとするが、後述する分離機構の下降阻止部材を有する可動機構３３ａ，３３ｂに当接して部品ラック同士の分離を容易にするように働く構造であれば、穴等にて下降阻止部材と当接し、引っ掛ける構造であれば良い。
　次に、本発明における分離機構２５の構成について図４および図５を用いて説明する。
　分離機構２５は、部品ラックの幅に適合するような間隔に離間された一対の支持部（下降阻止部材）３２ａを有する可動部３３ａと、部品ラック１５の位置の補正を目的とし、部品ラックの幅に適合するような間隔に離間された一対の補正部（補正板）３５ａを有する補正機構３４ａを有している。可動機構３３ａと補正機構３４ａは、部品ラック１５のツバ部３１ａが形成されている方向に対してそれぞれ一対を成し、交互に配置される。なお、可動機構３３ａと補正機構３４ａは、必ずしも交互に配置されていなくても良く、例えば一つずつ並べて配置していても良い。
　支持部３２ａを有する一対の可動機構３３ａは、横長方向が互いに平行であるように回転軸３６ａに取り付けられている。可動機構３３ａは比較的薄い金属（例えばステンレス鋼）を屈曲させて形成した支持部３２ａとストッパー４０ａを有する。また、薄い金属により形成されるので多少の弾性を有する。
　弾性体３９ａは、例えばねじりバネであり、可動機構３３ａに接触して配置され、左右に配置された一対の可動機構３３ａがマガジンに向かって張り出すように押しつけている。ストッパー４０ａは支持部３２ａの上面が後述するツバ部を保持するのに最適な位置となるよう、固定端３７あるいは固定端３７に固定された板片に接触して、可動機構３３ａの位置を固定させる。そのため、可動機構３３ａは、回転軸３６ａを中心軸として、可動機構３３ａの固定端３７と支持部３２ａによる可動端により回動することができる（図５（ａ），（ｂ）参照）。図５（ａ）の状態では、支持部３２ａの上面がツバ部３１ａと接触して、当該ツバ部を有する部品ラックを支持部３２ａの上に保持する。図５（ｂ）の状態では、支持部３２ａ引っ込んでいるので、部品ラックは支持部３２ａに引っかかることなく上下方向に移動することが可能となる。
　補正部３５ａを有する補正機構３４ａは可動機構３３ａと同様に横長方向が平行であるように取り付けられている。固定端３７と結合しているため回動などの動作をすることなく、一対の分離機構２５の補正部３５ａの間隔が、部品ラックの幅に適合するように固定されている。
　次に、第６図乃至第９図を参照して分離機構の動作について説明する。
　第６図は、部品ラック分離機構部Ａに一切の部品ラックが存在しないときの状態を示す。支持部３２ａ，３２ｂの上端がストッパー４０ａ，４０ｂに当接しているため、一対の棚部３８ａ，３８ｂの先端の間隔Ｌ２は、部品ラック１５の一対のツバ部３１ａ，３１ｂの先端部間の距離Ｌより狭くなるように設けられ、しかも、部品ラック１５のツバ部３１ａ，３１ｂを除いた幅の距離Ｌ３よりも広くなるように配設されている。
　また、一対の補正機構３４ａ，３４ｂは固定端３７と結合しており、その間隔は、部品ラックの幅と等しいあるいはわずかだけ大きいような一定の間隔Ｌ１に固定されている。具体的には、支持部３２ａ，３２ｂの上端がストッパー４０ａ，４０ｂに当接している状態（図５（ａ）および図６の状態）で、棚部３８ａ，３８ｂの上端の間隔Ｌ１と同一となり、部品ラック１５の一対のツバ部３１ａ，３１ｂの先端部間の距離Ｌより一定距離で離間された位置となる。
　第７図は、未使用の積み重ねられた消耗品２９，３０を保持した部品ラック１５が、供給用昇降台１７によって上昇されている状態を示す。なお、以下では、部品ラックは上から部品ラック１５ａ，１５ｂ，１５ｃ・・・と複数重ねて配置されているものとする。最上段にある部品ラック１５ａが一対の棚部３２ａ，３２ｂの間を上昇して通過するとき、支持部３２ａ，３２ｂの側面にツバ部３１ａ，３１ｂが当接し、可動部３３ａ，３３ｂを押し広げて回動させる。つまり、供給用昇降機１９から付与された部品ラック１５ａの上昇する力は、棚部を押し出すように働いている弾性体３９ａ，３９ｂの力に抗して支持部３２ａ，３２ｂを外側へ押し広げる。
　これによって、支持部３２ａ，３２ｂは押し広げられ、一対の支持部３２ａ，３２ｂの先端部間の距離は、当接したツバ部３１ａ，３１ｂと同じ幅Ｌ２’（＝ Ｌ）となる。さらに棚部３８ａ，３８ｂの上端の間隔Ｌ１’は、支持部３２ａ，３２ｂと一体として回転軸３６ａ，３６ｂを中心に回動するため、部品ラックの分離機構部Ａに一切の部品ラックが存在しない時（図６）の部品ラック１５の一対のツバ部３１ａ，３１ｂの先端部間Ｌの距離より広い距離Ｌ１’（＞Ｌ1＞Ｌ）となる。
　なお、積み重ねられた部品ラックの位置ずれや歪みが生じていた場合であっても、補正部３５ａ，３５ｂがツバ部３１ａ，３１ｂの側面に接触することにより位置ずれおよび歪みを補正することが可能である。これにより、積み重ねられた複数の部品ラック１５ａの位置ズレが発生し、部品ラック１５ａのツバ部の一方のみが支持部３２ａ，３２ｂと接触することで、一対の可動機構３３ａ，３３ｂが均等に回動できず、結果として、最上段の部品ラックを確実に分離することができない場合や部品ラックを落とすことなどを防止できる。
　第８図は、供給用昇降台１７がさらに上昇し、最上段の部品ラック１５ａのツバ部３１ａ，３１ｂが支持部３２ａ，３２ｂを通り過ぎた状態を示す。支持部３２ａ，３２ｂを押し広げていた部品ラック１５ａのツバ部と棚部との接触が解消させることにより、棚部は再び弾性体３９ａ，３９ｂにより押され、一対の棚部３８ａ，３８ｂの先端部間の間隔Ｌ２’（＝ Ｌ２＜Ｌ）となる。
　この場合、最上段の部品ラック１５ａは支持部３２の上に保持されるが、上から二段目以下の部品ラック１５ｂのツバ部は、支持部３２ａ，３２ｂに接触することはない。したがって、可動機構３３ａ，３３ｂは閉じたままの状態を維持される。本状態においても補正機構３４ａ，３４ｂの存在が重要となる。補正機構３４ａ，３４ｂが存在しない場合、可動機構３３ａ，３３ｂは閉じた状態を維持しているが、積み重ねられた部品ラックの位置ズレが発生している状態では、部品ラック１５ａのツバ部３１ａ，３１ｂが支持部３２ａ，３２ｂより上方の位置と片あたりで接触し、回動可能な可動機構３３ａ，３３ｂは意図しない状態として下降阻止部材３２ａ，３２ｂを押し広げられてしまい、この後の動作にて、均等な部品ラックとの接触が不可となる場合が考えられる。そのため、補正機構３４ａ，３４ｂを備えることで最上段の部品ラック１５ａのツバ部３１ａ，３１ｂと当接し位置ズレを抑制し、この後の支持部３２ａ，３２ｂと部品ラックとの均等な接触に貢献する。
　第９図は、供給用昇降台１７が下降した状態を示す。この時、一対の支持部３２ａ，３２ｂの先端部の間隔Ｌ２は、部品ラック１５ａのツバ部３１ａ，３１ｂの先端部間の距離Ｌより狭いため（Ｌ２＜Ｌ）、部品ラック１５ａは供給用昇降台１７の下降に伴って下降することはできない。一方、支持部３２ａ，３２ｂより下方に位置する、部品ラック１５ｂ，１５ｃ，…などは、供給用昇降台１７の下降動作に従って自重により下降する。これにより、最上段の部品ラック１５ａは、ツバ部３１ａ，３１ｂが棚部３８ａ，３８ｂの上に乗った状態となり、かつ補正部３５ａ，３５ｂにより部品ラック１５の位置ズレを抑制し棚部３８ａ，３８ｂと部品ラックのツバ部３１ａ，３１ｂとの均等に接触した状態となり下降されない。これにより、最上段であった部品ラック１５ａと他の部品ラック１５ｂ，１５ｃ，…との安定した分離が達成される。
　なお、この実施例においては、自動分析装置について述べたが部品ラックを使用し使いまわしを許さない消耗品の供給を行うという観点では、自動検体処理システムに搭載される消耗品供給装置も同等の構成にて達成される。
　本発明によれば、複数個積み重ねた部品ラックの積み上げ状態および部品ラックと分離機構の非対称性などによる位置ズレが発生した場合にも、位置ズレの影響を受けることなく、安定して先頭段の部品ラックのみを他の部品ラックから分離し分析部へ供給することが可能となるため、安定した分析性能及び動作性能に貢献が可能となる。
　また通常、部品ラックのいわゆる消耗品の装置本体への供給は使用者(ユーザー等)が行うため、部品ラックの積み上げは積み上げかたによって積み上げ方向に位置は不定となりやすく供給時の積み上げに際しての負担となるリスクを考慮しなければならないが、本発明では複数個積み重ねた部品ラックの積み上げ状態および部品ラックと分離機構の非対称性などによる位置ズレに対する抑制可能となるため、供給時の積み上げに際しての使用者への負担となるリスクが低減可能となる。
　また、部品ラックにかかわらず、積み重ねられて先頭段と二段目との間を分離する動作を行い、分離に使用される一対以上をなしたツバや穴等の引っ掛け部を有する容器等の構造物に対して、本発明内容が適用可能であり自動分析装置及び自動検体処理システムへの実装として汎用性を伴うことが可能である。
１:自動分析装置　２:制御装置　３:検体投入部　４:検体搬送ライン　５:検体収納部　６:反応ディスク　７:試薬ディスク　８:測定部　９:消耗品供給装置　１０:部品運搬装置　１１:サンプル容器　１２:検体ラック　１３:検体サンプリング機構　１４:試薬分注機構　１５, １５ａ,１５ｂ,１５ｃ:部品ラック　１６:チップ装着位置　１７，１８:台　１９，２０:昇降機　２１:ラック昇降室　２２:台　２３:部品廃棄位置　２４ａ,２４ｂ:廃棄部品回収箱　２５:分離機構　２６:ラック移送装置　２７:ラック位置決め装置　２８:床部開閉装置　２９:ノズルチップ　３０:反応容器　３１ａ,３１ｂ:ツバ部　３２ａ,３２ｂ:支持部　３３ａ,３３ｂ:可動機構　３４ａ,３４ｂ:補正機構　３５ａ,３５ｂ：補正部　３６ａ,３６ｂ:回転軸　３７:固定端　３８ａ,３８ｂ:棚部　３９ａ,３９ｂ:弾性体　４０ａ,４０ｂ:ストッパー　Ａ: 部品ラック分離機構部　Ｂ:消耗品の取り出し機構部　Ｓ:サンプル採取位置　

Claims (8)

  1. 　消耗品を保持する上面と、下方に設けられたツバ部を有する消耗品ラックを供給する消耗品供給装置を備えた自動分析装置において、
    　前記消耗品ラックを複数積み重ねた状態で保持することができる台と、
    　前記消耗品ラックを水平状態で保持する台を垂直方向に移動させる駆動部と、
    　前記駆動部の動作を制御する制御部と、
    　水平方向に一定距離離間した状態で配置され、積み重ねられた状態の前記消耗品ラックから、最上段の消耗品ラックを分離する一対の分離機構を備え、
    　前記一対の分離機構は、それぞれ、前記ツバ部の下面に当接して消耗品ラックを支持する可動式の支持部と、前記ツバ部の側面に当接して消耗品ラックの位置を補正する固定式の補正部を有する、自動分析装置。
  2. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記制御部は、最上段の消耗品ラックのツバ部が前記支持部よりも上方であって、前記最上段の消耗品ラックの下に位置する消耗品ラックのツバ部が前記支持部よりも下方に位置付けられるよう、前記台を第一の距離だけ上昇させた後に、前記第一の距離よりも短い第二の距離だけ前記台を下降させる、自動分析装置。
  3. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記支持部と前記補正部が交互に配置されている、自動分析装置。
  4. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記一対の分離機構は、前記支持部を前記消耗品ラックに向かって付勢する弾性体を有する、自動分析装置。
  5. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記支持部と前記補正部が隣接して配置されている、自動分析装置。
  6. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記支持部は、前記消耗品ラックを支持可能な第一の位置と、前記支持部の間を前記消耗品が通過可能な第二の位置の間を移動可能であり、
    　前記支持部が第一の位置にある状態では、前記ツバ部の先端の間隔Ｌが、前記支持部の間の距離Ｌ２よりも大きく、かつ、前記保持部の間の距離Ｌ１よりも小さい、自動分析装置。
  7. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記支持部は、前記消耗品ラックを支持可能な第一の位置と、前記支持部の間を前記消耗品が通過可能な第二の位置の間を移動可能であり、
    　前記支持部が第二の位置にある状態で、前記ツバ部の先端の間隔Ｌが前記支持部の間の距離Ｌ２と略同じである、自動分析装置。
  8. 　請求項１記載の自動分析装置において、
    　前記消耗品は、チップ、容器、またはその両方である、自動分析装置。
PCT/JP2017/003086 2016-03-23 2017-01-30 自動分析装置 WO2017163607A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP17769654.9A EP3435091B1 (en) 2016-03-23 2017-01-30 Automatic analysis device
US16/086,844 US11041872B2 (en) 2016-03-23 2017-01-30 Automatic analysis device
CN201780017240.4A CN108780104B (zh) 2016-03-23 2017-01-30 自动分析装置
JP2018507087A JP6619080B2 (ja) 2016-03-23 2017-01-30 自動分析装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-057821 2016-03-23
JP2016057821 2016-03-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2017163607A1 true WO2017163607A1 (ja) 2017-09-28

Family

ID=59900214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/003086 WO2017163607A1 (ja) 2016-03-23 2017-01-30 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11041872B2 (ja)
EP (1) EP3435091B1 (ja)
JP (1) JP6619080B2 (ja)
CN (1) CN108780104B (ja)
WO (1) WO2017163607A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021089298A (ja) * 2021-03-05 2021-06-10 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、消耗品供給装置および消耗品供給方法
JPWO2020044790A1 (ja) * 2018-08-29 2021-10-14 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
JP2021529314A (ja) * 2018-06-29 2021-10-28 エフ．ホフマン−ラ ロシュ アーゲーＦ． Ｈｏｆｆｍａｎｎ−Ｌａ Ｒｏｃｈｅ Ａｋｔｉｅｎｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ 自動分析器
CN113791233A (zh) * 2021-09-16 2021-12-14 温雯 一种泌尿外科检测用尿液分析辅助装置
EP3779465A4 (en) * 2018-03-29 2022-01-12 Sysmex Corporation SAMPLE MEASUREMENT SYSTEM AND RACK CONVEYING METHOD

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT201600130628A1 (it) * 2016-12-23 2018-06-23 Inpeco Holding Ltd Apparato per la gestione di liquidi
JP7029334B2 (ja) * 2018-03-29 2022-03-03 シスメックス株式会社 検体測定システム、ラックの搬送方法
CN110510311A (zh) * 2019-08-23 2019-11-29 中南大学湘雅医院 一种标本盒分发回收装置
CN115583508B (zh) * 2022-09-08 2023-04-28 合肥哈工龙延智能装备有限公司 基于全自动开装封箱码垛一体机的拆盘机构

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001069263A1 (fr) * 2000-03-15 2001-09-20 Hitachi, Ltd. Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
JP2005249650A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd マイクロプレートの供給収納装置およびマイクロプレートの供給方法ならびに収納方法
JP2005249649A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd マイクロプレートの供給装置
CN104020309A (zh) * 2014-06-25 2014-09-03 长春迪瑞医疗科技股份有限公司 全自动化学发光免疫分析仪的消耗品托盘自动加载装置
CN104108603A (zh) * 2013-04-16 2014-10-22 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种杯盒抓取机构及方法
JP2015511313A (ja) * 2012-02-03 2015-04-16 エフ・ホフマン・ラ・ロッシュ・アー・ゲーＦ． Ｈｏｆｆｍａｎｎ Ｌａ Ｒｏｃｈｅ Ａｇ 試料取り扱いシステム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE9421735U1 (de) * 1994-09-08 1996-07-11 Steinbrenner Bernd Dr Vorrichtung zur Bereitstellung einer Vielzahl von Gegenständen auf einem Träger
DE29713840U1 (de) * 1997-07-15 1997-10-09 Langguth Gmbh & Co Vorrichtung zum Vereinzeln leerer Eimer
WO2007132526A1 (ja) * 2006-05-16 2007-11-22 Rorze Corporation シャトル型搬送装置、マイクロプレート供給回収装置、マイクロプレート用ピックアップ装置、マイクロプレート用カセット、及びマイクロプレート用収納棚
JP5694813B2 (ja) * 2010-03-04 2015-04-01 エフ．ホフマン−ラ ロシュ アーゲーＦ． Ｈｏｆｆｍａｎｎ−Ｌａ Ｒｏｃｈｅ Ａｋｔｉｅｎｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ 自動分析器において分析対象物を単離かつ分析する方法及び分析システム
JP5703072B2 (ja) * 2011-03-08 2015-04-15 富士フイルム株式会社 生化学分析用カートリッジおよび生化学分析装置
JP5868916B2 (ja) 2013-09-06 2016-02-24 株式会社ユニバーサルエンターテインメント 遊技機
CN204624286U (zh) * 2015-03-17 2015-09-09 陈乃华 一种可调式取杯器
CN204737074U (zh) * 2015-05-15 2015-11-04 楚天科技股份有限公司 叠盒机
CN205076103U (zh) * 2015-09-24 2016-03-09 上海固好包装机械有限公司 盒子码垛包装机构

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001069263A1 (fr) * 2000-03-15 2001-09-20 Hitachi, Ltd. Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
JP2005249650A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd マイクロプレートの供給収納装置およびマイクロプレートの供給方法ならびに収納方法
JP2005249649A (ja) * 2004-03-05 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd マイクロプレートの供給装置
JP2015511313A (ja) * 2012-02-03 2015-04-16 エフ・ホフマン・ラ・ロッシュ・アー・ゲーＦ． Ｈｏｆｆｍａｎｎ Ｌａ Ｒｏｃｈｅ Ａｇ 試料取り扱いシステム
CN104108603A (zh) * 2013-04-16 2014-10-22 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种杯盒抓取机构及方法
CN104020309A (zh) * 2014-06-25 2014-09-03 长春迪瑞医疗科技股份有限公司 全自动化学发光免疫分析仪的消耗品托盘自动加载装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3779465A4 (en) * 2018-03-29 2022-01-12 Sysmex Corporation SAMPLE MEASUREMENT SYSTEM AND RACK CONVEYING METHOD
JP2021529314A (ja) * 2018-06-29 2021-10-28 エフ．ホフマン−ラ ロシュ アーゲーＦ． Ｈｏｆｆｍａｎｎ−Ｌａ Ｒｏｃｈｅ Ａｋｔｉｅｎｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ 自動分析器
JP7221997B2 (ja) 2018-06-29 2023-02-14 エフ． ホフマン－ラ ロシュ エージー． 自動分析器
JPWO2020044790A1 (ja) * 2018-08-29 2021-10-14 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
JP7052051B2 (ja) 2018-08-29 2022-04-11 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
JP2021089298A (ja) * 2021-03-05 2021-06-10 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、消耗品供給装置および消耗品供給方法
JP7022855B2 (ja) 2021-03-05 2022-02-18 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、消耗品供給装置および消耗品供給方法
CN113791233A (zh) * 2021-09-16 2021-12-14 温雯 一种泌尿外科检测用尿液分析辅助装置
CN113791233B (zh) * 2021-09-16 2024-04-05 丰都县江北医院 一种泌尿外科检测用尿液分析辅助装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3435091B1 (en) 2021-04-07
JPWO2017163607A1 (ja) 2018-12-20
US20190094250A1 (en) 2019-03-28
EP3435091A1 (en) 2019-01-30
JP6619080B2 (ja) 2019-12-11
US11041872B2 (en) 2021-06-22
CN108780104B (zh) 2021-12-17
EP3435091A4 (en) 2019-11-27
CN108780104A (zh) 2018-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6619080B2 (ja) 自動分析装置
JP7473597B2 (ja) 自動化された診断アナライザおよびその動作のための方法
US20200408794A1 (en) Automated storage modules for diagnostic analyzer liquids and related systems and methods
JP5226508B2 (ja) シャトル型搬送装置
US8562909B2 (en) Device for decapping and recapping sample tubes
US7914737B2 (en) Multi-level diagnostic apparatus with a lift system
JP6034416B2 (ja) 自動分析器において分析対象物を単離かつ分析する方法及び分析システム
WO2001069263A1 (fr) Analyseur automatique et dispositif d'alimentation en pieces servant a l'analyseur
JP2017012196A (ja) マルチウェル・プレート及び蓋体
JP2015118091A (ja) 容器ホルダの保管および供給
JP2014238423A (ja) 分析対象物を分離して検出する方法
JP2011123067A (ja) 空間的分離による増幅システム
JP5933918B2 (ja) 型形状繋止式の把持システム
US9164114B2 (en) Supply unit for continuous loading
JP2011185930A (ja) 分析器のハードウェア構成
EP3032265B1 (en) Device for storing of fluid containers
JP7221997B2 (ja) 自動分析器
JP2023523240A (ja) 低減された汚染リスクを伴うグリッパ装置
JP5276189B2 (ja) マイクロプレート用ピックアップ装置、及びマイクロプレート供給回収装置
CN219084965U (zh) 自动化诊断分析仪中的库存处理设备
JP4607677B2 (ja) 自動分析装置の容器搬送機構
WO2020262359A1 (ja) 自動分析装置
JP2021156826A (ja) 試薬容器供給ユニット及びそれを備えた自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2018507087

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2017769654

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017769654

Country of ref document: EP

Effective date: 20181023

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17769654

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1