WO2017159169A1 - 電解コンデンサ容量診断装置 - Google Patents

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Abstract

電解コンデンサ容量診断装置は、電解コンデンサの充電時における電圧上昇挙動を検知する検知部と、検知部により検知された第1の電圧上昇挙動と第1の電圧上昇挙動の検知後において検知部により検知された第2の電圧上昇挙動との間の相違を電解コンデンサの容量の変化を表すものとして検出する診断部と、を有する。

Description

電解コンデンサ容量診断装置
 本発明は、電解コンデンサ容量診断装置に関する。
 例えば、充電器やインバータ等のACとDCの相互変換を行う機器において、脈流を吸収するための平滑用コンデンサとして、大きな静電容量を有する電解コンデンサが用いられる。
 しかし、電解コンデンサは、電解液の蒸発により静電容量が減少する。例えば、電解コンデンサが、工場内、炎天下、熱帯地方などの高温下で使用されると、電解液の蒸発が早まり、静電容量が低下することで、寿命が短くなる。
 コンデンサの静電容量を使用時に検知するために、例えば、特許文献1に開示された電力用コンデンサの異常診断機能付充電装置は、検出回路および診断回路を有する。検出回路は、電力用コンデンサの充電電圧がその基準電圧に達したことを検出する検出回路と、基準コンデンサの充電電圧がその基準電圧に達したことを検出する検出回路と、を含む。診断回路は、電力用コンデンサの充電電圧がその基準電圧に達した時間と基準コンデンサの充電電圧がその基準電圧に達した時間とを比較し、コンデンサの静電容量を診断する。
特開2014-11872号公報
 本発明は、新規のハードウェアを付加することなく、電解コンデンサの容量の変化を診断することが可能な電解コンデンサ容量診断装置を提供する。
 本発明に係る電解コンデンサ容量診断装置は、電解コンデンサの充電時における電圧上昇挙動を検知する検知部と、検知部により検知された第1の電圧上昇挙動と第1の電圧上昇挙動の検知後において検知部により検知された第2の電圧上昇挙動との間の相違を電解コンデンサの容量の変化を表すものとして検出する診断部と、を有する。
 本発明によれば、新規のハードウェアを付加することなく、電解コンデンサの容量の変化を診断することができる。
図1は、充電器の構成の一部を示す回路図である。 図2は、電解コンデンサが昇圧されるときの時間と電解コンデンサの端子間電圧との関係を示す図である。 図3は、電解コンデンサの静電容量を診断する処理を示すフローチャートである。
 本発明の実施の形態の説明に先立ち、従来の技術における問題点を簡単に説明する。特許文献1に開示された技術では、コンデンサの静電容量を診断するために、上記の検出回路および診断回路の新規のハードウェアを付加する必要があるという問題点があった。
 以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
 本実施の形態では、充電器に実装された電解コンデンサ容量診断装置を例に挙げて説明する。
 図1は、本発明の実施の形態に係る充電器1の一部構成を示す回路図である。
 図1に示すように、充電器1は、AC-DCコンバータであるPFC(Power Factor Correction)部10と、DSP(Digital Signal Proccessor)30とを有する。なお、制御部の一例として、DSP30を例示するが、DSP以外の制御回路で構成されても良い。制御部(例えばDSP30)は、本発明の「電解コンデンサ容量診断装置」に対応する。
 PFC部10は、整流回路12、電力用コンデンサ14、コイル16、ダイオード18、スイッチング素子S1,S2、および、電解コンデンサ20を有し、整流回路12で全波整流された脈流電圧を所望の直流電圧に変換することで力率を改善する。
 PFC部10は、高効率を実現するために、第1および第2のコイル16、第1および第2のダイオード18およびスイッチング素子S1,S2を有する2つの回路が並列に接続された二段構成のものである。なお、PFC部10は、一段構成のものであってもよい。なお、電解コンデンサ20を昇圧させるAC-DCコンバータあれば、PFC部10に限らず、どのようなものであってもよい。
 整流回路12は、ダイオードブリッジを有し、AC電源2から供給される交流電圧・交流電流を全波整流する。
 スイッチング素子S1,S2には、例えば、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)が用いられる。
 DSP30は、電解コンデンサ20の端子間電圧Vcに基づいて、スイッチング素子S1をPWM(Pulse Width Modulation)駆動させるための第1PWM信号を生成し、スイッチング素子S2をPWM駆動させるための第2PWM信号を生成する。
 第1PWM信号により、スイッチング素子S1を動作させた場合、電力用コンデンサ14に蓄えられた電荷が第1のコイル16に放電される。同様に、第2PWM信号により、スイッチング素子S2を動作させた場合、電力用コンデンサ14に蓄えられた電荷が第2のコイル16に放電される。つまり、電解コンデンサ20には第1および第2のコイル16によって連続的に電流が流れる。これにより、電解コンデンサ20の端子間電圧Vcが昇圧される。
 DSP30は、電圧センサ(図示略)によって検出された電解コンデンサ20の端子間電圧Vcのデジタル信号処理を行う。
 DSP30は、本発明の検知部32の機能を有する。DSP30の検知部32は、電解コンデンサ20の端子間電圧Vcを検出するとともに、時間を計測する。
 具体的には、DSP30の検知部32は、端子間電圧Vcを検出し、端子間電圧Vcが第1目標電圧Vo1に達した時から端子間電圧Vcが第2目標電圧Vo2に達した時までの経過時間をカウントする。なお、第1および第2目標電圧Vo1,Vo2は、AC電源2が投入された後に電解コンデンサ20が昇圧されるときの互いに異なる電圧値であればよい。ここでは、例えば、第1目標電圧Vo1は入力AC電圧の√2倍の141Vである。また、第2目標電圧Vo2は400Vである。したがって、第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2に上昇する電圧の上昇幅は、259V(=400V-141V)である。ここで、電圧が目標電圧に達したとは、電圧が目標電圧に1回でも達することでもよいし、電圧が目標電圧における所定幅の中に収まることであってもよい。
 DSP30は、本発明の診断部34の機能を有する。DSP30の検知部32は、経過時間あたりの電圧の上昇幅(電圧上昇傾き)を算出し、DSP30の診断部34は、電圧上昇傾きと規定値(規定の傾き)とを比較し、比較結果を出力する。ここで、規定値は、充電器1の初期時(例えば、出荷時)における電圧上昇傾きに基づいて決定される。電解コンデンサ20は、製造条件などにより、静電容量にばらつきを持つ。そのため、充電器1の初期時(例えば、出荷時)における電圧上昇傾きを求め、この傾きに基づいて規定値を決定することで、製造上の静電容量のばらつきの影響を抑えて電解コンデンサの容量変化を正確に検出することができる。なお、例えば、規定値は、初期時の電圧上昇傾きに所定値を加算した傾きをいう。
 次に、電解コンデンサ20の静電容量を診断する方法について図2および図3を参照して説明する。
 図2は、電解コンデンサ20が昇圧されるときの電解コンデンサ20の端子間電圧と時間との関係を示す図である。図2に示す縦軸は端子間電圧Vcを表し、横軸は時間tを表す。
 図2に、充電器1の初期時(例えば、出荷時)における電圧上昇を破線で示し、初期時後の使用時における電圧上昇を実線で示す。また、端子間電圧Vcを第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2に昇圧させるときの経過時間は、充電器1の初期時(例えば、出荷時)よりその後の使用時の方が短くなる。図2では、初期時の経過時間t20と使用時の経過時間t21との時間差がΔtで示されている。一般的に、電解コンデンサ20の静電容量が低下するのに応じて、電圧上昇傾きは大きくなり、時間差Δtは大きくなり、電圧を所定幅上昇させるときに必要とされる時間は短くなる。
 図3は、電解コンデンサ20の静電容量を診断する処理を示すフローチャートである。
 なお、電圧上昇傾きの規定値(規定の傾き)は、充電器1の初期時における電圧上昇傾きに基づいて決定され、DSP30の記憶部に予め記憶されている。
 本処理は、AC電源2の入力によって開始される(ステップS12)。
 次に、DSP30の検知部32は、端子間電圧Vcを検出し、端子間電圧Vcが第1目標電圧Vo1に達したか否かを判断する(ステップS14)。
 第1目標電圧Vo1に達していない場合(ステップS14:N)、処理は、ステップS14に戻る。
 第1目標電圧Vo1に達した場合(ステップS14:Y)、DSP30のタイマーは、PFC部10の起動(ステップS16)がされてから(第1目標電圧Vo1に達してから)の経過時間をカウントする。
 次に、DSP30の検知部32は、端子間電圧Vcを検出し、端子間電圧Vcが第2目標電圧Vo2に達しているか否かを判断する(ステップS18)。
 第2目標電圧Vo2に達していない場合(ステップS18:N)、処理は、ステップS18に戻る。
 第2目標電圧Vo2に達した場合(ステップS18:Y)、タイマーは、経過時間のカウントを終了する。
 次に、DSP30の検知部32は、タイマーによりカウントされた経過時間t21と電圧の上昇幅とに基づいて、電圧上昇傾きを算出し、DSP30の診断部34は、電圧上昇傾きと規定値(規定の傾き)とを比較し、電圧上昇傾きが規定値以下であるか否かを判断する(ステップS20)。
 電圧上昇傾きが規定値以下の場合(ステップS20:Y)、充電器1が通常起動される(ステップS22)。
 電圧上昇傾きが規定値を超えた場合(ステップS20:N)、電解コンデンサ20の容量劣化が生じていると判断し、電解コンデンサ20の容量劣化が生じていることを示す出力を行う。例えば、表示部(図示略)に劣化フラグが提示される(ステップS24)。
 上記実施の形態に係る電解コンデンサ容量診断装置(例えばDSP30に対応)によれば、DSP30の検知部32は、初期時および使用時における電解コンデンサ20の電圧上昇挙動をそれぞれ検出する。DSP30の診断部34は、初期時に検知された電圧上昇挙動に基づく規定値と使用時に検知された電圧上昇挙動とを比較する。言い換えると、初期時に検知された電圧上昇挙動(第1の電圧上昇挙動)と使用時に検知された電圧上昇挙動(第2の電圧上昇挙動)との間の相違(差分)は、電解コンデンサの容量の変化を表すものである。この変化が規定値(所定値)を超えた場合に、DSP30の診断部34は、電解コンデンサ20の容量劣化が生じていると判断し、外部にその旨を出力する。これにより、新規のハードウェアを付加することなく、電解コンデンサの静電容量の変化を診断することが可能となる。
 上記実施の形態では、第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2に上昇する電圧の上昇幅と、第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2に達するまでの経過時間とに基づいて、電圧上昇傾きを電圧上昇挙動として算出したが、本発明はこれに限らず、例えば、初期時(例えば、出荷時)の経過時間t20を第1の電圧上昇挙動とし、使用時の経過時間t21を、第2の電圧上昇挙動としてもよい。そして、経過時間t20と経過時間t21との時間差Δtを算出し、DSP30が時間差Δtが規定値(規定の時間差)以下であるか否かを判断し、時間差Δtが規定値を超えた場合、電解コンデンサ20の容量の減少(劣化)を表すものとして検出するようにしてもよい。
 また、本発明は、例えば、初期時(例えば、出荷時)の予め定められた第1時点における第1電圧と第2時点にける第2電圧との電圧差を第1の電圧上昇挙動とし、使用時の予め定められた第1時点における第1電圧と第2時点にける第2電圧との電圧差を第2の電圧上昇挙動としてもよい。そして、第1の電圧上昇挙動(初期時の所定期間における電圧差)と第2の電圧上昇挙動(使用時の所定期間における電圧差)との差分ΔVを算出し、差分ΔVが規定値(規定の電圧差)以下であるか否かを判断し、電圧差が規定値を超えた場合、電解コンデンサ20の容量の減少(劣化)を表すものとして検出するようにしてもよい。
 また、上記実施の形態では、PFC部10の出力電圧が例えば400Vである場合に、電解コンデンサ20の電圧上昇挙動をDSP30で検知し、初期時の電圧上昇挙動と使用時の電圧上昇挙動とを比較するものを示した。しかし、本発明はこれに限らない。例えば、スイッチング素子S1,S2をPWM駆動させる周期を変更することにより、PFC部10の出力電圧を、例えば400V、300Vのように2以上に可変させてもよい。そして、各出力電圧における電解コンデンサ20の電圧上昇挙動をDSP30で検知し、各出力電圧における初期時の電圧上昇挙動と使用時の電圧上昇挙動との相違から、両方の出力電圧のそれぞれで電解コンデンサ20の容量の減少を表すものとして検出した場合、電解コンデンサ20の容量の減少を表すものとして検出するようにしてもよい。これにより、電解コンデンサ20の容量を診断する精度を高めることが可能となる。なお、両方の出力電圧の一方で電解コンデンサ20の容量の減少を表すものとして検出した場合、電解コンデンサ20の容量の減少を表すものとして検出するようにしてもよい。
 また、上記実施の形態では、PFC部10の出力電圧が例えば400Vである場合に、電解コンデンサ20の電圧上昇挙動をDSP30で検知し、初期時の電圧上昇挙動と使用時の電圧上昇挙動とを比較するものを示した。しかし、本発明はこれに限らない。例えば、スイッチング素子S1,S2をPWM駆動させる周期を変更することにより、PFC部10の出力電圧を、例えば400V、300Vのように2以上に可変可能としても良い。
 この場合において、PFC部10の出力電圧を300Vとする場合、第2目標電圧Vo2を400Vではなく300Vとする。
 そして、初期時(例えば、出荷時)に第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2(300V)に達するまでの経過時間t20と、その後の使用時に第1目標電圧Vo1から第2目標電圧Vo2(300V)に達するまでの経過時間t21との時間差Δtを電解コンデンサの容量の変化を表すものとして算出し、時間差Δtが規定値(規定の時間差)以下であるか否かを判断する。
 このとき、第2目標電圧Vo2が低くなることに伴い、初期時(例えば、出荷時)の経過時間t20と使用時の経過時間t21との時間差Δtが小さくなる。
 そのため、時間差Δtと比較する規定値(規定の時間差)は、単一の値ではなく、PFC部10の出力電圧毎に準備され、電解コンデンサ20の診断時のPFC部10の出力電圧に応じた、規定値(規定の時間差)を用いることが好ましい。また、上記電圧差ΔVを用いる場合も同様の対応とすることが好ましい。
 また、上記実施の形態では、使用時における電解コンデンサ20の電圧上昇挙動を検出するものを示したが、本発明はこれに限らず、例えば、複数回にわたり検出された電圧上昇挙動の推移をDSP30に記憶させておき、電圧上昇挙動の推移に基づいて電解コンデンサ20の容量の低下時期を予測するようにしてもよい。予測結果をユーザーに知らせることにより、電解コンデンサ20の交換時期を予定することができる。
 さらに、上記実施の形態では、電圧上昇挙動を検出し、初期時の電圧上昇挙動と使用時の電圧上昇挙動とをDSP30が比較する場合について示したが、本発明はこれに限らず、例えば、電圧上昇挙動を検出するための検出回路、および。電圧上昇挙動を比較するためのコンピュータを設けてもよい。
 また、上記実施の形態では、電解コンデンサ20の容量減少(劣化)を検出した場合、外部出力(例えば、表示部(図示略)に劣化フラグを提示)することを示したが、本発明はこれに限らず、例えば、電解コンデンサ20の容量減少(劣化)を検出した場合には、PFC部10の出力電力を低下させて継続動作させても良い。これは、PFC部10の出力電力を低下させることにより、リップル(脈動)自体が低下するため、電解コンデンサ20の容量が減少した状態であっても、リップルを平滑することができるためである。
 その他、上記実施の形態は、何れも本発明の実施するにあたっての具体化の一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその要旨、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
 本発明は、新規のハードウェアを付加することなく、電解コンデンサの容量の変化を診断することが要求される電解コンデンサ容量診断装置に好適に利用される。
 1 充電器
 2 AC電源
 10 PFC部
 12 整流回路
 14 電力用コンデンサ
 16 コイル
 18 ダイオード
 20 電解コンデンサ
 30 DSP(電解コンデンサ容量診断装置)
 32 検知部
 34 診断部
 S1,S2 スイッチング素子

Claims (8)

  1.  電解コンデンサの充電時における電圧上昇挙動を検知する検知部と、
     前記検知部により検知された第1の電圧上昇挙動と前記第1の電圧上昇挙動の検知後において前記検知部により検知された第2の電圧上昇挙動との間の相違を前記電解コンデンサの容量の変化を表すものとして検出する診断部と、
     を備える、電解コンデンサ容量診断装置。
  2.  前記検知部は、所定時間あたりの前記電圧の上昇幅に基づく電圧上昇傾きを、前記電圧上昇挙動として検知する、請求項1に記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  3.  前記検知部は、前記電解コンデンサの電圧が第1目標電圧に達してから当該第1目標電圧より高い第2目標電圧に達するまでの経過時間を、前記電圧上昇挙動として検知する、請求項1に記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  4.  前記検知部は、予め定められた第1時点における前記電解コンデンサの電圧である第1電圧と、前記第1時点後の第2時点における前記電解コンデンサの電圧である第2電圧との電圧の差を、前記電圧上昇挙動として検知する、請求項1に記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  5.  前記診断部は、前記電解コンデンサの容量の変化が規定値を超えた場合、電解コンデンサの容量劣化が生じていることを示す出力を行う、請求項1から請求項4のいずれかに記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  6.  前記規定値は、前記電解コンデンサに印加される電圧毎に準備され、
     前記診断部は、前記電解コンデンサに印加される電圧に応じた規定値を用いる、請求項5に記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  7.  前記検知部は、前記電解コンデンサの充電時に前記電解コンデンサに印加される電圧が第1電圧である場合の前記電圧上昇挙動と、前記印加される電圧が第1電圧とは異なる第2電圧である場合の前記電圧上昇挙動とをそれぞれ検知し、それぞれの電圧上昇挙動に対して前記相違を検出する、請求項1に記載の電解コンデンサ容量診断装置。
  8.  前記診断部は、前記検知部により複数回にわたり検出された前記電圧上昇挙動の推移に基づいて、前記電解コンデンサの将来の容量状態を予測する、請求項1から4のいずれかに記載の電解コンデンサ容量診断装置。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0322821A (ja) * 1989-06-19 1991-01-31 Daikin Ind Ltd 電源用電解コンデンサの故障診断装置
JP2002267708A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Toshiba Corp 電解コンデンサの劣化診断方法および装置
JP2003127822A (ja) * 2001-10-22 2003-05-08 Keihin Corp バックアップコンデンサ容量診断方法
JP2009053012A (ja) * 2007-08-27 2009-03-12 Panasonic Corp 蓄電装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0322821A (ja) * 1989-06-19 1991-01-31 Daikin Ind Ltd 電源用電解コンデンサの故障診断装置
JP2002267708A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Toshiba Corp 電解コンデンサの劣化診断方法および装置
JP2003127822A (ja) * 2001-10-22 2003-05-08 Keihin Corp バックアップコンデンサ容量診断方法
JP2009053012A (ja) * 2007-08-27 2009-03-12 Panasonic Corp 蓄電装置

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