WO2016208083A1 - 非球面ヌルミラー干渉計 - Google Patents

非球面ヌルミラー干渉計 Download PDF

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清原 元輔
野口 正人
耕輔 清原
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株式会社清原光学
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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Definitions

  • the present invention relates to an aspheric null mirror interferometer.
  • a parallel incident wavefront is divided by a beam splitter, and one of the divided wavefronts is reflected by a highly accurate reference plane mirror to become a reference wavefront.
  • the other divided wavefront is transmitted through the test lens and the plane parallel plate, becomes a substantially spherical wavefront, is reflected by the high-precision reference spherical mirror, and becomes the test wavefront.
  • the reference wavefront and the wavefront to be detected are combined by a beam splitter, interfere, and an interference fringe is observed by a CCD camera through a photographing lens.
  • the test wavefront becomes a substantially flat wavefront, and the wavefront aberration of the test lens can be obtained based on the interference fringes.
  • the reference spherical mirror aspherical, the wavefront to be detected can be converted into a plane wave, and the same function can be achieved without adding an independent correction optical system (for example, Non-Patent Document 1).
  • the aspherical mirror is a null mirror, and the interferometer using the null mirror is a null mirror interferometer.
  • FIG. 8 is a diagram showing the conventional aspherical null mirror interferometer 200 described above.
  • the aspherical null mirror 30a is rotated in a direction that cancels out the third-order coma aberration generated by moving the lens 20a in parallel.
  • aberrations other than the third frame are generally not canceled out by the parallel movement of the lens 20a to be tested and the rotation of the aspherical null mirror 30a.
  • An aberration other than the third-order coma aberration is included in the obtained interference fringes due to misalignment.
  • the alignment error is a mistake in the installation direction and installation position of the lens 20a to be examined and the aspherical null mirror 30a.
  • FIG. 8A is a diagram showing a state in which alignment is correct in a conventional aspherical null mirror interferometer 200.
  • FIG. 8A the information included in the interference fringes is only information on “unsuccessful” of the test lens. That is, in this state, when the wavefront aberration of the test lens 20a is obtained, if the test lens 20a performs as designed, the wavefront returning to the interferometer has no aberration.
  • FIG. 8B is a diagram showing a state in which alignment is incorrect in the conventional aspherical null mirror interferometer 200.
  • the wave front is disturbed.
  • the conventional aspherical null mirror interferometer 200 when the aspherical null mirror 30a is rotated or moved in parallel, the obtained interference fringes are disturbed regardless of whether or not the subject lens 20a is produced. It is impossible to distinguish whether the disturbance is due to the performance of the lens 20a to be examined or due to misalignment. That is, in the conventional aspherical null mirror interferometer 200, if the apparent third-order coma aberration does not appear in the state shown in FIG. 8 (2), aberrations other than the third-order coma caused by misalignment are caused by interference fringes. Included in.
  • the obtained interference fringes indicate only information indicating the failure of the lens 20a to be measured, or indicate information including aberration due to misalignment. It is not possible to distinguish between This is a problem caused by the inability to find misalignment. That is, the conventional aspherical null mirror interferometer 200 has a problem in that it is impossible to find an error in the installation angle, installation position, installation angle of the lens to be tested, and installation position of the aspherical null mirror. It is an object of the present invention to provide an aspheric null mirror interferometer that can reliably detect an installation angle of an aspherical null mirror, an installation position, an installation angle of a test lens, and an installation position.
  • the aspherical null mirror interferometer of the present invention is an aspherical null mirror interferometer having an aspherical null mirror, wherein the aspherical null mirror has a planar mirror perpendicular to the aspherical axis of the aspherical null mirror, and the periphery of the aspherical null mirror. Or at least a part of the aspherical null mirror.
  • the aspherical null mirror interferometer in the aspherical null mirror interferometer, it is possible to surely find an error in the installation angle, the installation position, the installation angle of the test lens, and the installation position of the aspherical null mirror.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an aspherical null mirror interferometer 100 that is Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing the test lens 20 and the aspherical null mirror 30 used in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • FIG. 3 is a diagram showing a state of the aspheric null mirror interferometer 100 when alignment of the aspheric null mirror 30 is started in a state where the test lens 20 is not installed.
  • FIG. 4 is a diagram showing a display example of the alignment display screen 11 in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a state where the adjustment of the angle of the aspherical null mirror 30 is completed.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which the angle adjustment of the test lens 20 is completed in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a state after the operation of translating the lens holder 20h to be matched with the lens optical axis 23 and the aspherical axis 33 in the aspherical null mirror interferometer 100 is completed.
  • FIG. 8 is a diagram showing a conventional aspherical null mirror interferometer 200.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an aspherical null mirror interferometer 100 that is Embodiment 1 of the present invention.
  • the aspherical null mirror interferometer 100 is an interferometer that does not cause misalignment.
  • the aspherical null mirror interferometer 100 includes an interferometer 10, a lens holder 20 h to be tested, and an aspherical null mirror 30.
  • the test lens 20 is set in the test lens holder 20h, and the quality of the test lens 20 is determined.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing the test lens 20 and the aspherical null mirror 30 used in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • the test lens 20 includes a main body 21 of the test lens 20 and a plane mirror 22.
  • the plane mirror 22 is a mirror having a plane orthogonal to the optical axis of the lens 20 to be examined. To be precise, the plane mirror 22 has a surface obtained by extending the reflection surface of the plane mirror 22 orthogonal to the optical axis of the lens 20 to be examined.
  • a flat mirror 22 is provided at the abutting portion of the test lens 20, and the reflection surface of the flat mirror 22 is orthogonal to the lens optical axis 23 (vertical). Set to).
  • the flat mirror 22 is provided at the periphery of the test lens 20, the flat mirror 22 may be provided at a part of the periphery of the test lens 20. That is, the test lens 20 has the flat mirror 22 at all 360 degrees of the periphery, but for example, a range of 1/4 (90 degrees) or 1/8 (45 degrees) of the periphery of the test lens 20.
  • the flat mirror 22 may be provided only in the range or in other ranges. That is, the plane mirror 22, which is a mirror having a plane perpendicular to the lens optical axis 23 of the test lens 20, may be provided at least at a part of the test lens 20.
  • the aspherical null mirror 30 includes a null mirror main body 31 and a plane mirror 32.
  • the main body 31 of the null mirror is a mirror having an aspherical surface.
  • the plane mirror 32 is a plane mirror orthogonal to the optical axis of the aspherical null mirror 30. To be precise, the plane mirror 32 has a plane obtained by extending the plane mirror 32 orthogonal to the aspherical axis (optical axis) of the aspherical null mirror 30.
  • a flat mirror 32 is provided on the periphery of the aspherical null mirror 30.
  • a flat mirror 32, which is a mirror having a plane orthogonal to the aspheric axis of the aspherical null mirror 30, may be provided on a part of the periphery of the aspherical null mirror 30.
  • the aspherical null mirror 30 is provided with the plane mirror 32 at all 360 degrees of the periphery, but for example, a range of 1/4 (90 degrees) of the periphery of the aspherical null mirror 30 or 1/8 (45
  • the flat mirror 32 may be provided only in the range of degrees) or in other ranges. That is, it is sufficient if a plane mirror orthogonal to the aspheric axis of the aspherical null mirror 30 is provided on at least a part of the aspherical null mirror 30.
  • the flat mirror 32 may be provided on a portion other than the periphery of the aspherical null mirror 30, for example, on a part of the aspherical null mirror 30 orthogonal to the aspherical axis of the aspherical null mirror 30. That is, it is sufficient if the plane mirror 32 is provided on at least a part of the periphery of the aspherical null mirror 30 or a part of the aspherical null mirror 30.
  • FIG. 3 is a diagram showing a state of the aspheric null mirror interferometer 100 when alignment of the aspheric null mirror 30 is started in a state where the test lens 20 is not installed.
  • the angle of the aspherical null mirror 30 is adjusted, and the outgoing light of the interferometer 10 enters the flat mirror 32 of the aspherical null mirror 30 perpendicularly and is reflected and reflected.
  • the interferometer 10 can monitor the angle with respect to the return light.
  • FIG. 4 is a diagram showing a display example of the alignment display screen 11 in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • the display screen of the aspherical null mirror interferometer 100 includes a display screen that displays interference fringes and an alignment display screen.
  • the display screen that displays the interference fringes is a display screen that is visually recognized in order to examine the performance of the lens 20 to be examined. ).
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a state where the adjustment of the angle of the aspherical null mirror 30 is completed. On the alignment display screen 11, the angle of the aspherical null mirror 30 is adjusted so that the return light 34 from the flat mirror 32 of the aspherical null mirror 30 comes to the center position 13 of the cross shown in FIG. 4. Therefore, the work of adjusting the angle of the aspherical null mirror 30 is easy.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which the angle adjustment of the test lens 20 is completed in the aspherical null mirror interferometer 100.
  • the parallelism between the lens optical axis of the test lens 20 and the aspherical axis 33 of the aspherical null mirror 30 is confirmed as shown in FIG.
  • the parallelism of the axes is only confirmed, and the two axes of the lens optical axis 23 and the aspherical axis 33 do not coincide with each other, and a parallel shift occurs.
  • third-order coma aberration is generated in proportion to the amount of displacement.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a state after the operation of translating the lens holder 20h to be matched with the lens optical axis 23 and the aspherical axis 33 in the aspherical null mirror interferometer 100 is completed.
  • the lens holder 20h is adjusted so that the coma aberration is reduced while the coma aberration amount (vector amount) is monitored by the interferometer 10.
  • Translate As shown in FIG. 7, the subject lens holder 20h is translated.
  • the aspherical null mirror 30 may be moved in parallel to reduce coma.
  • the aspherical null mirror 30 may be translated in order to translate the lens holder 20h in parallel and reduce the coma aberration. As described above, the lens optical axis 23 of the lens 20 to be examined and the aspherical surface. The alignment of the aspherical axis 33 of the null mirror 30 is completed. According to the first embodiment, in the aspherical null mirror interferometer, it is possible to reliably find an error in the installation angle, the installation position, the installation angle of the test lens, and the installation position of the aspherical null mirror.
  • the present invention is applicable to an aspherical null mirror interferometer that measures the wavefront aberration of an aspherical lens.
  • the aspherical mirror is a null mirror
  • the interferometer using the null mirror is a null mirror interferometer.
  • SYMBOLS 100 Aspherical null mirror interferometer 10 Interferometer 13 Ray direction of interferometer 20 Test lens 20h Test lens holder 22 Plane mirror 23 Lens optical axis 30 Aspherical null mirror 32 Plane mirror 33 Aspheric axis

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Abstract

非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを確実に発見することができる非球面ヌルミラー干渉計を提供することを目的とする。 非球面ヌルミラー干渉計において、非球面軸と直交する平面を、非球面ヌルミラーの一部に具備している非球面ヌルミラーを有し、被検レンズを外した状況で、上記非球面ヌルミラーの平面ミラーからの反射戻り光で、上記非球面ヌルミラ一の角度を調整し、被検レンズの光軸と垂直な平面を、被検レンズの一部に具備している被検レンズを使用し、上記被検レンズの平面ミラーからの反射戻り光で、上記被検レンズの角度を調整する。

Description

非球面ヌルミラー干渉計
 本発明は、非球面ヌルミラー干渉計に関する。
 非球面レンズの波面収差を測定する場合、従来は、平行な入射波面がビームスプリッタで分割され、分割された一方の波面は、高精度な参照平面ミラーで反射され、参照波面となる。分割された他方の波面は、被検レンズと平行平面板とを透過し、ほぼ球面状の波面となり、高精度参照球面ミラーで反射され、被検波面となる。上記参照波面と上記被検波面とは、ビームスプリッタで合成され、干渉し、撮影レンズを通して、CCDカメラによって干渉縞を観察する。被検レンズ、参照球面ミラーの位置と方向とを調整することによって、被検波面はほぼ平面状の波面になり、干渉縞に基づいて、被検レンズの波面収差を求めることができる。
 ここで、参照球面ミラーを非球面化することによって、被検波面を平面波に変換することができ、これによって、独立した補正光学系を付加せずに、同じ機能を達成することができる(たとえば、非特許文献1参照)。
 上記非球面ミラーが、ヌルミラーであり、ヌルミラーを使用する干渉計が、ヌルミラー干渉計である。
新井 則一 KONICA TECHNICAL REPORT VOL.7(1994)P.80−81
 図8は、上記従来の非球面ヌルミラー干渉計200を示す図である。
 従来の非球面ヌルミラー干渉計200では、被検レンズ20aを平行移動することによって発生する3次コマ収差を打ち消す方向で、非球面ヌルミラー30aを回転する。このときに、被検レンズ20aの平行移動と、非球面ヌルミラー30aの回転とによっても、3次コマ以外の収差が一般的には打ち消されない。アライメントミスによって、得られる干渉縞の中に、3次コマ収差以外の収差が含まれる。なお、上記アライメントミスは、被検レンズ20a、非球面ヌルミラー30aの設置方向、設置位置のミスである。
 一般的には、被検レンズ20aを平行移動し、非球面ヌルミラー30aを回転することによって、3次コマ収差が無くなれば、実際にはアライメントが正しくなくても、アライメントが正しくなったと判断し、被検レンズ20aの波面収差を求める
 図8(1)は、従来の非球面ヌルミラー干渉計200において、アライメントが正しい状態を示す図である。
 この状態において、干渉縞に含まれる情報は、被検レンズの「不出来」のみの情報である。つまり、この状態で、被検レンズ20aの波面収差を求めた場合、被検レンズ20aが設計通りの性能が出ていれば、干渉計に戻る波面は、無収差である。被検レンズ20aに何か問題があれば、戻り波面が乱れ、干渉縞に反映される。したがって、干渉計で平面や球面を計ることと同じように、非球面を計ることができる。非球面ヌルミラー干渉計200は、波面計測とは異なり、数秒の測定時間で計測することができる。
 図8(2)は、従来の非球面ヌルミラー干渉計200において、アライメントが間違っている状態を示す図である。
 非球面ヌルミラー干渉計200において、被検レンズ20a、非球面ヌルミラー30aが、正しい設置方向から回転したり、正しい設置位置から平行移動すると、波面が乱れる。
 従来の非球面ヌルミラー干渉計200において、非球面ヌルミラー30aが回転したり、平行移動していると、被検レンズ20aの出来、不出来に関わらず、得られた干渉縞には乱れが生じるが、その乱れが、被検レンズ20aの性能によるものか、ミスアライメントによるものかを区別することができない。
 つまり、従来の非球面ヌルミラー干渉計200において、図8(2)に示す状態で、見掛け上3次コマ収差が現れていないと、ミスアライメントで発生する3次コマ以外の収差が、干渉縞の中に含まれる。すなわち、非球面ヌルミラー干渉計200においては、得られる干渉縞が、被検レンズ20aの不出来を示す情報のみを示しているのか、または、ミスアライメントを起因とする収差を含んだ情報を示しているのかを、区別することができない。これは、ミスアライメントを発見できないことによって発生する問題である。
 すなわち、従来の非球面ヌルミラー干渉計200では、非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを発見することができないという問題がある。
 本発明は、非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを確実に発見することができる非球面ヌルミラー干渉計を提供することを目的とする。
 本発明の非球面ヌルミラー干渉計は、非球面ヌルミラーを具備する非球面ヌルミラー干渉計において、上記非球面ヌルミラーは、上記非球面ヌルミラーの非球面軸と直交する平面ミラーを、上記非球面ヌルミラーの周縁の少なくとも一部分または上記非球面ヌルミラーの一部分に有することを特徴とする。
 本発明によれば、非球面ヌルミラー干渉計において、非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを確実に発見することができるという効果を奏する。
 図1は、本発明の実施例1である非球面ヌルミラー干渉計100を示す図である。
 図2は、非球面ヌルミラー干渉計100に使用する被検レンズ20と、非球面ヌルミラー30とを示す断面図である。
 図3は、非球面ヌルミラー干渉計100について、被検レンズ20が設置されていない状態で、非球面ヌルミラー30のアライメントを開始する場合の状態を示す図である。
 図4は、非球面ヌルミラー干渉計100において、アライメントの表示画面11の表示例を示す図である。
 図5は、非球面ヌルミラー30の角度の調節が終了した状態を示す図である。
 図6は、非球面ヌルミラー干渉計100において、被検レンズ20の角度調整が終了した状態を示す図である。
 図7は、非球面ヌルミラー干渉計100において、被検レンズホルダー20hを平行移動して、レンズ光軸23と非球面軸33とを互いに一致させる動作が終了した後の状態を示す図である。
 図8は、従来の非球面ヌルミラー干渉計200を示す図である。
 発明を実施するための最良の形態は、以下の実施例である。
 図1は、本発明の実施例1である非球面ヌルミラー干渉計100を示す図である。
 非球面ヌルミラー干渉計100は、ミスアライメントが発生しない干渉計である。
 非球面ヌルミラー干渉計100は、干渉計10と、被検レンズホルダー20hと、非球面ヌルミラー30とを有する。被検レンズ20を測定する場合、被検レンズホルダー20hに、被検レンズ20をセットし、被検レンズ20の良否を判断する。
 図2は、非球面ヌルミラー干渉計100に使用する被検レンズ20と、非球面ヌルミラー30とを示す断面図である。
 被検レンズ20は、被検レンズ20の本体21と、平面ミラー22とを有する。平面ミラー22は、被検レンズ20の光軸と直交する平面を有するミラーである。平面ミラー22は、正確には、平面ミラー22の反射面を延長した面が、被検レンズ20の光軸と直交する。
 なお、被検レンズ20を鏡筒内部に設置するために、被検レンズ20の当て付け部に平面ミラー22を設け、この平面ミラー22の反射面をレンズ光軸23に対して直交させる(垂直に設定する)。
 平面ミラー22が、被検レンズ20の周縁に設けられているが、平面ミラー22を、被検レンズ20の周縁の一部分に設けるようにしてもよい。すなわち、被検レンズ20は、その周縁の360度の全部に平面ミラー22を有するが、被検レンズ20の周縁のたとえば1/4(90度)の範囲とか、1/8(45度)の範囲とか、またはそれら以外の範囲にのみ、平面ミラー22を設けるようにしてもよい。つまり、被検レンズ20のレンズ光軸23と直交する平面を具備するミラーである平面ミラー22が、被検レンズ20の少なくとも一部分に設けてあればよい。
 非球面ヌルミラー30は、ヌルミラーの本体31と、平面ミラー32とを有する。ヌルミラーの本体31は、非球面を有するミラーである。平面ミラー32は、非球面ヌルミラー30の光軸と直交する平面のミラーである。平面ミラー32は、正確には、平面ミラー32を延長した面が、非球面ヌルミラー30の非球面軸(光軸)と直交する。
 平面ミラー32が、非球面ヌルミラー30の周縁に設けられている。非球面ヌルミラー30の非球面軸と直交する平面を具備するミラーである平面ミラー32を、非球面ヌルミラー30の周縁の一部分に設けるようにしてもよい。すなわち、非球面ヌルミラー30は、その周縁の360度の全部に平面ミラー32が設けられているが、非球面ヌルミラー30の周縁のたとえば1/4(90度)の範囲とか、1/8(45度)の範囲とか、またはそれら以外の範囲にのみ、平面ミラー32を設けるようにしてもよい。つまり、非球面ヌルミラー30の非球面軸と直交する平面ミラーを、非球面ヌルミラー30の少なくとも一部分に設けてあれば足りる。
 また、平面ミラー32を、非球面ヌルミラー30の周縁以外の部分、たとえば、非球面ヌルミラー30の非球面軸と直交する非球面ヌルミラー30の一部分に、平面ミラー32を設けるようにしてもよい。つまり、非球面ヌルミラー30の周縁の少なくとも一部分または、非球面ヌルミラー30の一部分に平面ミラー32が設けてあれば足りる。
 次に、非球面ヌルミラー干渉計100において、被検レンズ20の性能を測定する手順について説明する。
 図3は、非球面ヌルミラー干渉計100について、被検レンズ20が設置されていない状態で、非球面ヌルミラー30のアライメントを開始するときの状態を示す図である。
 被検レンズ20が設置されていない状態で、非球面ヌルミラー30の角度を調整して、干渉計10の出射光が非球面ヌルミラー30の平面ミラー32に垂直に入射し、反射して干渉計10に戻るようにする。干渉計10には、図4に示すように、戻り光に対して角度のモニターができるようになっている。
 図4は、非球面ヌルミラー干渉計100において、アライメントの表示画面11の表示例を示す図である。
 非球面ヌルミラー干渉計100の表示画面には、干渉縞を表示する表示画面と、アライメントの表示画面とがある。干渉縞を表示する表示画面は、被検レンズ20の性能を調べるために視認する表示画面であり、アライメントの表示画面11は、干渉縞を表示する前提として必要な非球面ヌルミラー30のアライメント(角度)を視認する表示画面である。
 図5は、非球面ヌルミラー30の角度の調節が終了した状態を示す図である。
 アライメントの表示画面11において、非球面ヌルミラー30の平面ミラー32からの戻り光34が、図4に示す十字の中心位置13に来るように、非球面ヌルミラー30の角度を調整する。したがって、非球面ヌルミラー30の角度を調整する作業が容易である。
 次に、被検レンズ20の被検レンズホルダー20hの軸と、非球面ヌルミラー30の非球面軸とを一致させる動作を実行する。
 図5に示す状態では、非球面ヌルミラー30の角度の調節が終了しているが、被検レンズ20の被検レンズホルダー20hの軸と、非球面ヌルミラー30の非球面軸とは一致していない。
 まず、被検レンズ20のホルダー20hに、被検レンズ20を設置する。干渉計10の出射光が、被検レンズ20の平面ミラー22に垂直に入射し、反射し、干渉計10に戻るように、被検レンズ20のホルダー20hの角度を調整する。
 つまり、図4に示すアライメントの表示画面11を使用して、被検レンズ20のアライメント(角度)を視認する。すなわち、アライメントの表示画面11において、被検レンズ20の平面ミラー22からの戻り光が、十字の中心位置13に来るように、被検レンズ20の角度を調整する。したがって、被検レンズの角度を調整する作業が容易である。
 図6は、非球面ヌルミラー干渉計100において、被検レンズ20の角度調整が終了した状態を示す図である。
 以上によって、被検レンズ20のレンズ光軸と非球面ヌルミラー30の非球面軸33との平行が、図6に示すように、確認される。
 しかし、この状態では、軸の平行が確認されたのみであり、レンズ光軸23と非球面軸33との2つの軸は互いに一致しておらず、平行ズレが生じている。平行ズレが発生すると、ズレ量に比例して3次コマ収差が発生する。
 次に、レンズ光軸23と非球面軸33との2つの軸を互いに一致させる動作について説明する。
 上記動作によって、非球面軸33と干渉計の光線方向13とが、ともに干渉計の光線方向13に一致している。ここで、レンズ光軸23または非球面軸33を平行移動すれば、レンズ光軸23と非球面軸33とを互いに一致させることができる。
 図7は、非球面ヌルミラー干渉計100において、被検レンズホルダ20hを平行移動して、レンズ光軸23と非球面軸33とを互いに一致させる動作が終了した後の状態を示す図である。
 レンズ光軸23と非球面軸33との2つの軸を互いに一致させる場合、干渉計10でコマ収差量(ベクトル量)をモニターしながら、コマ収差が小さくなるように、被検レンズホルダー20hを平行移動する。図7に示すように、被検レンズホルダー20hを平行移動する。コマ収差が最も小さくなれば、レンズ光軸23と非球面軸33との2つの軸が互いに一致したことになる。なお、被検レンズホルダー20hを平行移動する代わりに、コマ収差が小さくなるように、非球面ヌルミラー30を平行移動するようにしてもよい。また、被検レンズホルダー20hを平行移動するとともに、コマ収差が小さくなるように、非球面ヌルミラー30を平行移動するようにしてもよい
 以上で、被検レンズ20のレンズ光軸23と、非球面ヌルミラー30の非球面軸33とが一致し、アライメントが完了する。
 実施例1によれば、非球面ヌルミラー干渉計において、非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを確実に発見することができる。
 本発明は、非球面レンズの波面収差を測定する非球面ヌルミラー干渉計に利用可能である。また、非球面ミラーが、ヌルミラーであり、ヌルミラーを使用する干渉計が、ヌルミラー干渉計である。そして、非球面ヌルミラー干渉計において、本発明では、非球面ヌルミラーの設置角度、設置位置、被検レンズの設置角度、設置位置のミスを確実に発見することができる。
 100 非球面ヌルミラー干渉計
 10  干渉計
 13  干渉計の光線方向
 20  被検レンズ
 20h 被検レンズホルダー
 22  平面ミラー
 23  レンズ光軸
 30  非球面ヌルミラー
 32  平面ミラー
 33  非球面軸

Claims (5)

  1.  非球面ヌルミラーを具備する非球面ヌルミラー干渉計において、
     上記非球面ヌルミラーは、上記非球面ヌルミラーの非球面軸と直交する平面ミラーを、上記非球面ヌルミラーの周縁の少なくとも一部分または上記非球面ヌルミラーの一部分に有することを特徴とする非球面ヌルミラー干渉計。
  2.  請求項1において、
     被検レンズの光軸と垂直な平面ミラーを、上記被検レンズの周縁の少なくとも一部分に具備している被検レンズを使用することを特徴とする非球面ヌルミラー干渉計。
  3.  請求項1において、
     被検レンズを外した状況で、上記非球面ヌルミラーの上記平面ミラーからの反射戻り光で、上記非球面ヌルミラーの角度を調整することを特徴とする非球面ヌルミラー干渉計。
  4.  請求項2または請求項3において、
     上記被検レンズの平面ミラーからの反射戻り光で、上記被検レンズの角度を調整することを特徴とする非球面ヌルミラー干渉計。
  5.  請求項4において、
     干渉計でコマ収差をモニターしながら、上記被検レンズまたは上記非球面ヌルミラーを平行移動し、コマ収差が小さくなるように、上記非球面ヌルミラー干渉計の光線方向と、上記非球面ヌルミラーの非球面軸とを合わせることを特徴とする非球面ヌルミラー干渉計。
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