WO2016124438A1 - Verfahren und system zum ermitteln eines optischen gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden objekt entstehenden teillichtwellen - Google Patents

Verfahren und system zum ermitteln eines optischen gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden objekt entstehenden teillichtwellen Download PDF

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WO2016124438A1
WO2016124438A1 PCT/EP2016/051515 EP2016051515W WO2016124438A1 WO 2016124438 A1 WO2016124438 A1 WO 2016124438A1 EP 2016051515 W EP2016051515 W EP 2016051515W WO 2016124438 A1 WO2016124438 A1 WO 2016124438A1
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WO
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compensator
path difference
optical path
light waves
intensity
Prior art date
Application number
PCT/EP2016/051515
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English (en)
French (fr)
Inventor
Daniel VAN OPDENBOSCH
Cordt Zollfrank
Original Assignee
Technische Universität München
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Publication date
Application filed by Technische Universität München filed Critical Technische Universität München
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G01N21/23—Bi-refringence

Definitions

  • the invention relates to a method for determining an optical path difference between partial light waves arising in a birefringent object, wherein the object is arranged with respect to an optical axis in series with at least one relative to the object about the optical axis rotatable compensator with known optical path difference between resulting in the compensator part light waves wherein the object and the compensator are arranged in series with each other at least two crossed polarizing filters with respect to the optical axis, wherein an array formed by the object, the compensator and the polarizing filters is illuminated along the optical axis with polychromatic light.
  • the invention further relates to a system for determining an optical path difference between partial light waves arising in a birefringent object, arranged in series with respect to an optical axis: at least one light source configured to generate polychromatic light; at least one first polarization filter connected with respect to an optical path of the polychromatic light of the light source produced by the light source; at least one with respect to the beam path of the polychromatic light generated by the light source downstream of the first polarizing filter, about the optical axis rotatably arranged compensator with known optical path difference between resulting in the compensator partial light waves; at least one second polarizing filter connected downstream of the compensator with respect to the beam path of the polychromatic light generated by the light source, a polarization plane of the linearly polarized light generated by the first polarizing filter being disposed perpendicular to a plane of polarization of the linearly polarized light produced by the second polarizing filter; at least one spectrometer downstream of the second polarization filter with respect to the beam
  • a measurement of the optical path difference between partial light waves generated in a birefringent object makes it possible to determine a direction-dependent refractive index and a thickness of the birefringent object.
  • This is of interest, for example, in the case of objects such as polymer films, polymer fibers, crystals, liquid crystals and proteins, since information about their internal structure, such as an orientation of macromolecules, can be derived therefrom. Furthermore, material properties such as strength, elongation at break and color uniformity can be quantified. Such information is important both for basic research as well as in industrial manufacturing processes, for example in the textile industry as a test method in the production process of organic and inorganic polymer threads.
  • the optical path difference of birefringent materials can be determined by various methods. These use different types of electromagnetic radiation as well as different methods of data generation and data acquisition. Because of the accuracy, speed, and possible detectable path differences, these methods are suitable for a variety of laboratory and manufacturing applications. Depending on the use of monochromatic or polychromatic radiation, two basic types of primary data generation can be distinguished. Common to these methods is the use of two, mostly crossed polarizing filters in the beam direction directly behind a light source and directly in front of a detecting unit to detect only the light modulated by birefringent objects.
  • DE 34 35 059 A1 discloses a method for determining an optical path difference between partial light waves arising in a unipolar, birefringent object, for which purpose a wedge-shaped compensator is used.
  • the object and the wedge-shaped compensator are located between crossed polarizing filters, wherein an assembly formed by the object, the wedge-shaped compensator and the polarizing filters is irradiated with either monochromatic or polychromatic light.
  • an optical area detector is used for detecting an intensity distribution on the wedge-shaped compensator.
  • the measuring principle is based on the fact that intensity minima 0th to nth order can be recognized at the points where the transition between the ordinary and the extraordinary beam is zero without an introduced object on the compensator.
  • the intensity minimum of the 0th order is evaluated in which complete extinction occurs during monochromatic irradiation or, in the case of polychromatic extinction, the complementary color appears.
  • an additional, wavelength-independent path difference is generated, which adds as an offset, which causes a lateral shift of all intensity minima on the wedge-shaped compensator. From the magnitude of this shift on the wedge-shaped compensator, the optical path difference of the partial light waves arising in the object can be determined.
  • a disadvantage of this method is that, to detect large gait differences, the wedge-shaped compensator also has a large retardation difference, i. must be equipped with a large wedge angle, otherwise the minimum order intensity minimum with complete extinction may not be visible because it has been pushed out of the observed range.
  • a wedge-shaped compensator designed for a large amount of girth difference only provides very inaccurate measurement results.
  • DE 34 35 059 A1 this problem is solved in that a plurality of wedge plates arranged next to one another are used with small wedge angles but with a predetermined thickness offset in order to cover the entire retardation range. In the evaluation is then switched in each case to the cheapest wedge plate, in which the minimum 0th order can best be evaluated.
  • the maximum measuring range, for a path difference caused by the object remains limited even when using multiple compensator wedges on the preset there, the entire course difference range.
  • the position of the minimum intensity order 0 is again in both methods (in the nomenclature of DE 34 35 059 A1 this is the 0th order, in the nomenclature of DE 10 2006 062 157 A1, the 1st order) on the wedge-shaped compensator or the shift of the intensity minimum caused by the insertion of the object evaluated. Since only the zero-order path difference is detected at each wavelength, the path difference caused by the object can also be an integer multiple N of the respective wavelength.
  • the factor N can be determined by detecting the zero-order path difference at two wavelengths in parallel, so that the entire difference in object distance can be calculated by combining these two measurements.
  • the object and the compensator which are located between the crossed polarizers, are also always kept in a vertical orientation with respect to their optical axis via a motorized rotating device.
  • the alignment is performed before the measurement is started and readjusted during the measurement by rotating the compensator until the total intensity becomes minimum at a wavelength selected fixedly from the two wavelengths. This procedure simultaneously determines the position of the optical axis of the object. Due to the readjustment, the measurement process can react in a production process with continuous monitoring to changes in the position of the optical axis of the object and thus avoid larger measurement errors.
  • the object of the invention is to develop a method for determining an optical path difference between partial light waves produced in a birefringent object in such a way that, compared with conventional methods, the measuring range is widened, the measuring accuracy is increased and the evaluation is simplified.
  • This object is solved by the independent claims.
  • Advantageous embodiments are set forth in particular in the dependent claims, each of which taken alone or in different combinations with each other can represent an aspect of the invention.
  • the object is arranged in relation to an optical axis in series with at least one compensator with known optical path difference rotatable relative to the object about the optical axis between partial light waves arising in the compensator wherein the object and the compensator are arranged in series with respect to the optical axis between at least two crossed polarizing filters, wherein an array formed by the object, the compensator and the polarizing filters is illuminated along the optical axis with polychromatic light, at least two around one Angle of TT / 2 staggered relative positions between the compensator and the object is detected in each case an intensity spectrum of an outgoing light from the arrangement, and wherein the optical path difference between the partial light waves arising in the object are determined taking into account a relative spectral change in intensity resulting from the detected intensity spectra.
  • the interference spectra of a birefringent object with an unknown path difference between partial light waves generated in the object and a transparent birefringent element, namely the compensator, with a known path difference between partial light waves arising in the compensator and at least two different relative positions between the compensator and the object are used Determine path difference of the resulting partial light waves in the object.
  • the compensator is rotated about the optical axis relative to the object in such a way that its crystal axis with rapid propagation velocity ("fast axis") is alternately parallel (“addition position”) and perpendicular (“subtraction position") to the fast axis of the object the ordinary and extraordinary partial light waves of the incident light wave in compensator and sample and thereby change their transmitted intensity.
  • variable compensator in particular wedge-shaped compensator, or a harmonic analysis of the data obtained
  • absolute values of the birefringence can be determined without calibration of the measurement setup with another object with a known path difference between partial light waves arising in this object.
  • a spectral evaluation of intensity minima over a larger spectral range can be carried out according to the invention.
  • any form of white light can be used.
  • White light with a large wavelength range for example from a combined deuterium halogen lamp, is advantageous in this case.
  • the invention thus relates to a non-contact method for determining optical path differences of partial light waves arising in birefringent materials by means of a polychromatic light source.
  • the present invention is a universally applicable polarization-optical method with a light source on a simple measurement setup.
  • it can have only the light source, two linear polarization filters (polarizer and analyzer), a spectrometer with detection unit, a transparent object with known birefringent properties (compensator) and a device for rotating the compensator about the optical axis relative to the object ,
  • the method compared to the conventional methods is on the one hand, the lower equipment and computational effort.
  • the process is characterized by a high measuring speed (a few milliseconds) and a reduction of the measured data volumes.
  • the speed of the computational evaluation compared to methods with harmonic analysis (Fourier analysis) is significantly increased.
  • the high accuracy of the path difference calculation and an unnecessary reference measurement with respect to the light source are also to be regarded as advantageous.
  • the method also allows the determination of larger path differences, which are a multiple of the wavelengths of the light used. Due to the short times for data acquisition and evaluation, the method is also suitable for automation.
  • the method according to the invention makes it possible to determine the optical path difference between partial light waves arising in the object in a very precise, fast and numerically extremely simple and efficient manner.
  • the method in contrast to many conventional approaches (e.g., Senarmont's method), is still applicable even if the phase offset at a test wavelength is greater than 360 °, i. at large optical gait differences.
  • the method of the present invention can be automated for fast measurement by rotating the compensator at high frequency (about 1 kHz) and recording the Intensticiansspektren be synchronized with a parallel / vertical position of the compensator to the object.
  • the integration in a commercial polarizing microscope with little effort is possible.
  • the optical path difference can even be determined spatially resolved.
  • the integration may e.g. be achieved via a provided for retrofitting spectroscope as a slot for the camera shaft.
  • At least one difference intensity spectrum is formed by subtracting two detected intensity spectra from each other, which are detected at ⁇ / 2 mutually offset relative positions between the compensator and the object, wherein the optical path difference between resulting in the object partial light waves from zeros of the difference intensity spectrum determined becomes.
  • Subtraction direction (angular positions ⁇ and ⁇ 'to each other) has, at a constant ⁇ ⁇ ⁇ , values according to
  • ⁇ ( ⁇ ) sin flzU, / 2) sin (2 ⁇ / ⁇ ). (4)
  • n an element of natural numbers including 0. If object 1 is the compensator used according to the invention and object 2 is the object to be examined, prior knowledge of ⁇ therefore permits an assignment of the zeros. As a result, it is possible to distinguish between zeros which are caused either solely by the optical path difference between partial light waves arising in the object or solely by the optical path difference between partial light waves arising in the compensator.
  • the intensity factor cos 2 (9 N ») allows the orientation of an object to be examined to be determined and adjusted in the context of the method according to the invention. This can be done by rotation of the rotatable compensator, so that e K0 mp is zero and the subsequent maximization of ⁇ ( ⁇ ) by rotation of the object to With knowledge of I (n74) one can determine by means of formula (1) the angular position of the object.
  • the optical path difference between partial light waves arising in the object is determined exclusively from the zeros of the difference intensity spectrum, which are caused solely by the optical path difference between partial light waves arising in the object.
  • the number of generated measurement data is reduced by two g successively recorded intensity spectra in parallel and vertical object / compensator alignment subtracted from each other and are eliminated from the difference intensity spectrum, the zeros to be assigned to the compensator. The remaining zeros then provide in a simple, precise way a statement about the sought path difference of the resulting partial light waves in the object. This is accompanied by a further data reduction.
  • the path difference between the partial light waves arising in the object can be calculated by analytically calculating the common solution ⁇ 2 of the formula (5) for the considered Determine zeros.
  • the solution of the formula (5) for the path difference between partial light waves arising in the birefringent object is the smallest common half-multiple of the wavelengths of the zeros and can be achieved by a common mathematical method, for example a prime factorization.
  • the solution may alternatively be found by iteratively shifting the successive values while controlling the standard deviation of the solutions.
  • a given exponential decay of the normalized wavelengths of the solutions over n guarantees that the unique solution is the one with the least standard deviation.
  • the accuracy of the method depends on the accuracy of the measurement data of the spectrometer used. According to formula (5), the measurement error-related accuracy of the method decreases in proportion to n. For example, if the path difference to be detected between partial light waves formed in the object is 18 times the average viewing wavelength and a conventional spectrometer with a wavelength accuracy of 0.1 nm is used Determining the path difference between partial light waves arising in the object with an absolute accuracy of 4 nm. This corresponds to a relative precision of 0.0004. Alternatively or additionally, the positions of the zeros assigned to the rotating compensator can serve as control and weighting.
  • the number x of zeros in the considered wavelength range (h ⁇ ⁇ h 2 ) depends on the equation from the path differences of object and compensator in relation to the area.
  • the path difference ⁇ 0 is selected ⁇ ⁇ arising in the compensator partial light waves so small that only one, then heranzu endeavourde to control, zero under consideration Wavelength range h r K 2 emerges (2AA K0 mp ⁇ Ai) In this Fa ll all other zeros appearing in the considered wavelength range are to be assigned to the object.
  • the speed of the measurement is only due to the strength of the light source, the necessary counting times of the spectrometer and the possible circulation times of the compensator.
  • the current state of the art therefore allows recording frequencies of a few milliseconds.
  • the amount of data obtained becomes considerable reduced.
  • the data obtained is an amount of not more than 100, typically 10, numbers corresponding to the zeros of the difference intensity spectra.
  • the method guarantees a high uniqueness of the retardation determination.
  • the reliability of the method is based on the fact that one can quickly detect errors of a subcomponent by the absence of the characteristic for the compensator zeros.
  • the method works independently of the object azimuth, unless the object is oriented parallel to one of the polarization filters.
  • the high accuracy of the path difference calculation with the method according to the invention is due to the fact that the path differences of examined objects, each without parametric adaptation, are multiples of the wavelengths of the investigated zeros, which can be determined with the precision of the spectrometer. Also eliminates the need for referencing the light source. The possibility of detecting high differences in the path, which are a multiple of the wavelengths of the white light, is given by the method.
  • the method is highly suitable for automation.
  • the method is suitable by additional optical elements, such as lens systems, diaphragms or two-dimensional spectrometer also for determining spatially resolved path differences.
  • At least one imaging optical system or at least one two-dimensional spectrometer arrangement is used for detecting the intensity spectra.
  • additional optical elements such as lenses, Apertures or two-dimensional spectrometer, the method can thus be used to determine spatially resolved path differences between resulting in the object partial light waves. The scanning of birefringent objects is thus possible, which represents an elementary advantage over the previously known methods.
  • a further advantageous embodiment provides that a disc-shaped compensator is used. This enables a spectrally resolved detection of intensity spectra. In contrast, no spectrally resolved detection is used in the prior art described above, but only an area detector, which detects the intensity distribution on the wedge-shaped compensator. According to the embodiment, instead of a wedge-shaped compensator, a flat compensator disk, in particular with plane-parallel surfaces, is used, which makes possible on the detection side a spectral evaluation of intensity minima instead of a position determination of intensity minima along a wedge-shaped compensator. These differences have the effect that, with the present method, it is also possible to determine large path differences with high accuracy and with little effort.
  • the rotation of the compensator and the acquisition of the intensity spectra are automated.
  • the rotation of the compensator and the acquisition of the intensity spectra are tuned apart.
  • the method can be combined in particular with manufacturing processes.
  • an electrically controllable drive can be used for automated turning of the compensator.
  • the system according to the invention for determining an optical path difference between partial light waves emerging in a birefringent object comprises, arranged in series with respect to an optical axis: at least one light source configured to produce polychromatic light; at least one first polarization filter connected with respect to an optical path of the polychromatic light of the light source produced by the light source; at least one with respect to the beam path of the polychromatic light generated by the light source downstream of the first polarizing filter, about the optical axis rotatably arranged compensator with known optical path difference between resulting in the compensator partial light waves; at least one second polarizing filter connected downstream of the compensator with respect to the beam path of the polychromatic light generated by the light source, a polarization plane of the linearly polarized light generated by the first polarizing filter being disposed perpendicular to a plane of polarization of the linearly polarized light produced by the second polarizing filter; at least one spectrometer downstream of the second polarization filter with respect to the beam path of the
  • the system can be configured to carry out the method.
  • the system has a simplified measurement setup compared to conventional systems.
  • This can additionally comprise the object to be examined a broadband light source, in particular white light source, two polarization filters (polarizer and analyzer), a spectrometer, a transparent object with known birefringent properties (compensator) and a device for rotating the compensator about the optical axis relative to the object ,
  • the object has an optical object axis oriented perpendicular to the optical axis and an azimuthally rotatable orientation a1.
  • the unipolar, birefringent compensator has an optical compensator axis oriented perpendicular to the optical axis and an azimuthally rotatable orientation a2.
  • the polarizers are oriented perpendicular to each other.
  • ⁇ is preferably chosen to be 45 ° to the orientation of the polarizer, so that the linearly polarized light is decomposed into approximately two equal components, parallel and perpendicular to the optical axis of the arrangement.
  • the evaluation unit is set up to form at least one difference intensity spectrum by subtracting two detected intensity spectra from one another, which are detected at ⁇ / 2 offset relative positions between the compensator and the object, and the optical path difference between resulting in the object partial light waves to determine from zeros of the difference intensity spectrum.
  • the evaluation unit is set up to determine the optical path difference between partial light waves arising in the object exclusively from the zeros of the difference intensity spectrum, which are caused solely by the optical path difference between partial light waves arising in the object.
  • the advantages mentioned above with respect to the corresponding embodiment are connected accordingly.
  • the spectrometer is part of an imaging optical system or a two-dimensional spectrometer.
  • the advantages mentioned above with respect to the corresponding embodiment are connected accordingly.
  • the compensator is disc-shaped.
  • the compensator can have plane-parallel surfaces.
  • the system has at least one device for rotating the compensator, which can be controlled automatically for detecting the intensity spectra.
  • Figure 1 is a schematic representation of an embodiment of a system according to the invention.
  • Figures 2a, 2b and 2c an exemplary application of the method according to the invention.
  • FIGS. 3a, 3b and 3c show a further exemplary application of the method according to the invention.
  • Figure 1 shows a schematic representation of an embodiment of an inventive system 1 for determining an optical path difference between resulting in a birefringent object 2 partial light waves.
  • the system 1 comprises, arranged in series with respect to an optical axis 3, a light source 4 arranged to generate polychromatic light, a first polarization filter 5 (polarizer) connected downstream of the light source 4 with respect to a beam path of the polychromatic light generated by the light source 4, a polarization of the beam path from the light source 4 generated polychromatic light downstream of the first polarizing filter 5, about the optical axis 3 rotatably mounted compensator 6 with known optical path difference between resulting in the compensator 6 partial light waves, with respect to the beam path of the light source 4 generated by the polychromatic light downstream of the compensator 6 second polarization filter 7 (analyzer), wherein a polarization plane 8 of the linearly polarized light generated by the first polarization filter 5 perpendicular to a polarization plane 9 of the second polarization filter 7 generated linearly polarized light is arranged, one with respect to the beam path of the light source 4 generated by the polychromatic light of the second polarizing filter 7 downstream spectr
  • the object 2 is arranged between the polarization filter 7 and the compensator 6.
  • the system 1 also comprises a lens 11 and a diaphragm 12 connected downstream of the lens 11.
  • the spectrometer 10 is part of an imaging optical system or a two-dimensional spectrometer.
  • the compensator 6 is disc-shaped.
  • the evaluation unit 14 is set up to detect at least two mutually offset by ⁇ / 2 relative positions between the compensator 6 and the object 2 each an intensity spectrum of an outgoing light from the spectrometer 10 and the optical path difference between the resulting in the object 2 partial light waves, taking into account to determine from the detected intensity spectral resulting relative spectral intensity change.
  • the evaluation unit 14 is set up to form at least one difference intensity spectrum from each other by subtracting two detected intensity spectra from one another, which are offset relative to each other by ⁇ / 2 relative positions between the 1
  • Compensator 6 and the object 2 are detected, and to determine the optical path difference between resulting in the object 2 partial light waves from zeros of the difference intensity spectrum.
  • the evaluation unit 14 is preferably set up to determine the optical path difference between partial light waves arising in the object 2 exclusively from the zeros of the difference intensity spectrum, which are caused solely by the optical path difference between partial light waves arising in the object 2.
  • the system 1 also comprises a device, not shown, for rotating the compensator 6, which can be automatically controlled to detect the intensity spectra.
  • Figures 2a, 2b and 2c relate to an exemplary application of the method according to the invention.
  • a spectrometer is connected to a commercially available polarization light microscope via a sleeve in the eyepiece or camera shaft and an optical fiber.
  • the illumination is focused on the area to be examined with the aid of a diaphragm.
  • the polarization filters are crossed and a compensator with a known path difference is placed in the shaft provided for this purpose nm introduced.
  • Two spectra are recorded, between whose recording the compensator is azimuthally rotated by ⁇ / 2 (FIG. 2a: graphs (a: addition position) and (b: subtraction position)).
  • a spreadsheet of the column with the descending ordered by size zeros ⁇ 0 opened a column for an ascending series of n, and another having the formula ⁇ 0/2.
  • the zeros of the compensator are omitted from the row of n.
  • the standard deviation of the values of the last column is displayed.
  • Figures 3a, 3b and 3c relate to a further exemplary application of the method according to the invention.
  • an optical spectrometer is set up to pass from a continuous spectrum halogen light source followed by a polarizer the extruded film is illuminated through.
  • the polarizer here has an azimuth angle of TT / 4 to the axis of birefringence in the film.
  • a polarizer-crossed analyzer is placed directly in front of the spectrometer.
  • a compensator with nm brought into the beam path. This is rotated by a motor with a frequency f.
  • the frequency with which the spectrometer records intensity spectra during the measurements corresponds to 4f according to the invention.
  • the frequency should be set at least so high that the beam passing variations of the film quality can be detected. This is done by considering the sweep rate t of an expected error through the beam path and choosing f> 1 / (4t).
  • Each two successively recorded intensity spectra (FIG. 3a: (a: addition position) and (b: subtraction position)) are subtracted in pairs from one another by the corresponding difference intensity spectra (FIG. 3b: graphs (c: difference intensity spectrum (a) - (b)) or (d : Difference intensity spectrum (b) - (a))).
  • the zeros that can be identified in the difference intensity spectrum are determined by arithmetic averaging of the adjacent measured values at which a sign change occurs. Those zeros that satisfy formula (5) with ⁇ ⁇ 1 ⁇ are automatically discarded. All other zeros are used according to formula (5) to AAob j ect to be calculated by means of (5) ( Figure 3c: Table 2).
  • the relative deviation from the actual value obtained when considering the zero positions with an assumed resolution of 1 nm due to rounding errors is in this example only 0.0001 even with the comparatively high n considered.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen, wobei das Objekt (2) bezüglich einer optischen Achse (3) in Reihe zu wenigstens einem relativ zum Objekt (2) um die optische Achse (3) drehbaren Kompensator (6) mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator (6) entstehenden Teillichtwellen angeordnet wird, wobei das Objekt (2) und der Kompensator (6) bezüglich der optischen Achse (3) in Reihe zwischen wenigstens zwei gekreuzten Polarisationsfiltern (5, 7) angeordnet werden, wobei eine aus dem Objekt (2), dem Kompensator (6) und den Polarisationsfiltern (5, 7) gebildete Anordnung entlang der optischen Achse (3) mit polychromatischem Licht beleuchtet wird. Um ein Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen derart weiterzubilden, dass im Vergleich zu herkömmlichen Verfahren der Messbereich erweitert, die Messgenauigkeit erhöht und die Auswertung vereinfacht wird, wird mit der Erfindung vorgeschlagen, dass bei wenigstens zwei um π/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator (6) und dem Objekt (2) jeweils ein Intensitätsspektrum eines von der Anordnung ausgehenden Lichts erfasst wird, wobei der optische Gangunterschied zwischen den im Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung ermittelt wird.

Description

Verfahren und System zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen, wobei das Objekt bezüglich einer optischen Achse in Reihe zu wenigstens einem relativ zum Objekt um die optische Achse drehbaren Kompensator mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen angeordnet wird, wobei das Objekt und der Kompensator bezüglich der optischen Achse in Reihe zwischen wenigstens zwei gekreuzten Polarisationsfiltern angeordnet werden, wobei eine aus dem Objekt, dem Kompensator und den Polarisationsfiltern gebildete Anordnung entlang der optischen Achse mit polychromatischem Licht beleuchtet wird.
Des Weiteren betrifft die Erfindung ein System zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen, aufweisend bezüglich einer optischen Achse in Reihe angeordnet: wenigstens eine zum Erzeugen von polychromatischem Licht eingerichtete Lichtquelle; wenigstens einen bezüglich eines Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts der Lichtquelle nachgeschalteten ersten Polarisationsfilter; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem ersten Polarisationsfilter nachgeschalteten, um die optische Achse drehbar angeordneten Kompensator mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem Kompensator nachgeschalteten zweiten Polarisationsfilter, wobei eine Polarisationsebene des von dem ersten Polarisationsfilter erzeugten linear polarisierten Lichts senkrecht zu einer Polarisationsebene des von dem zweiten Polarisationsfilter erzeugten linear polarisierten Lichts angeordnet ist; wenigstens ein bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem zweiten Polarisationsfilter nachgeschaltetes Spektrometer; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem Spektrometer nachgeschalteten optischen Detektor; und wenigstens eine signaltechnisch mit dem optischen Detektor verbindbare Auswertungseinheit; wobei das Objekt zwischen einem der Polarisationsfilter und dem Kompensator anordbar ist.
Trifft Licht senkrecht auf ein unipolares, einachsiges, doppelbrechendes Objekt, dessen optische Achse ebenfalls senkrecht zur Lichteinfallsrichtung ausgerichtet ist, entstehen in dem Objekt zwei Teillichtwellen, nämlich eine senkrecht zur optischen Achse des Objekts polarisierte Teillichtwelle (ordentlicher Strahl mit Brechungsindex n0) und eine parallel zur optischen Achse des Objekts polarisierte Teillichtwelle (außerordentlicher Strahl mit Brechungsindex nao). Die Teillichtwellen bewegen sich mit unterschiedlicher Geschwindigkeit, aber in gleicher Richtung durch das Objekt, so dass entlang der Dicke D des Objektes ein optischer Gangunterschied Δλ zwischen den beiden Teillichtwellen erzeugt wird. Der optische Gangunterschied ist dabei gegeben durch
Figure imgf000004_0001
Eine Messung des optischen Gangunterschiedes zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen ermöglicht eine Bestimmung eines richtungsabhängigen Brechungsindex und einer Dicke des doppelbrechenden Objekts. Dies ist beispielsweise bei Objekten wie Polymerfolien, Polymerfasern, Kristallen, Flüssigkristallen und Proteinen von Interesse, da sich hiervon Informationen über deren innere Struktur, wie beispielsweise eine Orientierung von Makromolekülen, ableiten lassen. Des Weiteren lassen sich damit auch Materialeigenschaften wie beispielsweise Festigkeit, Reißdehnung und Farbgleichmäßigkeit quantifizieren. Derartige Informationen sind sowohl für die Grundlagenforschung als auch in industriellen Fertigungsprozessen, beispielsweise in der Textilindustrie als Prüfverfahren im Herstellungsprozess von organischen und anorganischen Polymerfäden, von Bedeutung.
Der optische Gangunterschied doppelbrechender Materialien kann mit verschiedenen Verfahren bestimmt werden. Diese verwenden unterschiedliche Arten elektromagnetischer Strahlung sowie verschiedene Methoden der Datenerzeugung und Datenerfassung. Aufgrund der entsprechenden Genauigkeit, Geschwindigkeit und möglicher ermittelbarer Gangunterschiede eignen sich diese Verfahren für verschiedene Anwendungen in Labor und Fertigung. Je nach Verwendung von monochromatischer oder polychromatischer Strahlung kann man zwei grundsätzliche Arten der primären Datenerzeugung unterscheiden. Gemeinsam ist diesen Verfahren die Verwendung von zwei, meist gekreuzten Polarisationsfiltern in Strahlrichtung direkt hinter einer Lichtquelle und direkt vor einer detektierenden Einheit, um ausschließlich das von doppelbrechenden Objekten modulierte Licht zu detektieren. DE 34 35 059 A1 offenbart ein Verfahren zur Ermittlung eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem unipolaren, doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen, wozu ein keilförmiger Kompensator verwendet wird. Das Objekt und der keilförmige Kompensator befinden sich zwischen gekreuzten Polarisationsfiltern, wobei eine aus dem Objekt, dem keilförmigen Kompensator und den Polarisationsfiltern gebildete Anordnung entweder mit monochromatischem oder polychromatischem Licht bestrahlt wird. Zur Erfassung einer Intensitätsverteilung auf dem keilförmigen Kompensator wird ein optischer Flächendetektor eingesetzt. Das Messprinzip beruht darauf, dass ohne eingeführtes Objekt auf dem Kompensator Intensitätsminima 0. bis n. Ordnung an den Stellen erkennbar sind, bei denen der Gangunterscheid zwischen ordentlichem und außerordentlichem Strahl Null ist. Ausgewertet wird das Intensitätsminimum 0. Ordnung bei dem bei monochromatischer Bestrahlung vollständige Auslöschung auftritt bzw. bei polychromatischer Auslöschung die Komplementärfarbe erscheint. Durch das Einführen des Objektes wird ein zusätzlicher, wellenlängenunabhängiger Gangunterschied erzeugt, der sich als Offset addiert, was auf dem keilförmigen Kompensator eine seitliche Verschiebung aller Intensitätsminima bewirkt. Aus der Größe dieser Verschiebung am keilförmigen Kompensator kann der optische Gangunterschied der in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen bestimmt werden.
Ein Nachteil dieser Methode besteht darin, dass zur Erfassung großer Gangunterschiede der keilförmige Kompensator ebenfalls mit einer großen Gangunterschiedsdifferenz, d.h. mit einem großen Keilwinkel, ausgestattet sein muss, da sonst das Intensitätsminimum 0. Ordnung mit vollständiger Auslöschung möglicherweise nicht sichtbar ist, weil es aus dem beobachteten Bereich herausgeschoben wurde. Ein derartiger, auf einen großen Gangunterschiedsumfang ausgelegter keilförmiger Kompensator liefert allerdings nur noch sehr ungenaue Messergebnisse. In DE 34 35 059 A1 wird dieses Problem dadurch gelöst, dass mehrere, nebeneinander angeordnete Keilplatten mit kleinen Keilwinkeln aber vorgegebenem Dickenoffset eingesetzt werden, um den gesamten Gangunterschiedsbereich abzudecken. Bei der Auswertung wird dann jeweils auf die günstigste Keilplatte umgeschaltet, bei der das Minimum 0. Ordnung am besten ausgewertet werden kann. Der maximale Messbereich, für einen von dem Objekt verursachten Gangunterschied bleibt aber auch beim Einsatz mehrerer Kompensatorkeile auf den dort voreingestellten, gesamten Gangunterschiedsumfang beschränkt.
In DE 10 2006 062 157 A1 wurde das Messprinzip aus der DE 34 35 059 A1 weiterentwickelt, so dass mit einem einzigen keilförmigen Kompensator ein Objektgangunterschied gemessen werden kann, der größer als der im keilförmigen Kompensator bereitgestellte Gangunterschiedsumfang ist. Die Detektion des Intensitätsminimums 0. Ordnung erfolgt hierzu auf zwei verschiedenen Wellenlängen parallel, indem entweder bei Weißlichtbeleuchtung auf der Detektionsseite zwei Zeilendetektoren jeweils den beiden Wellenlängen entsprechende Bandpassfilter vorgeschaltet werden oder mit zwei den beiden Wellenlängen entsprechenden Laserdioden zeitlich hintereinander über den gleichen Strahlengang ein Zeilendetektor beleuchtet wird. Für jede Wellenlänge wird bei beiden Methoden dann wieder die Position des Intensitätsminimums 0. Ordnung (in der Nomenklatur von DE 34 35 059 A1 ist dies die 0. Ordnung, in der Nomenklatur von DE 10 2006 062 157 A1 die 1. Ordnung) auf dem keilförmigen Kompensator bzw. die Verschiebung des Intensitätsminimums verursacht durch das Einführen des Objektes ausgewertet. Da man auf jeder Wellenlänge nur den Gangunterschied 0. Ordnung detektiert, kann der durch das Objekt verursachte Gangunterschied auch ein ganzzahliges Vielfaches N der jeweiligen Wellenlänge betragen. Der Faktor N lässt sich darüber bestimmen, dass man auf zwei Wellenlängen parallel den Gangunterschied 0. Ordnung detektiert, so dass durch Kombination dieser beiden Messungen der gesamte Objektgangunterschied berechnet werden kann. Das Objekt und der Kompensator, die sich zwischen den gekreuzten Polarisatoren befinden, werden bezüglich ihrer optischen Achse zudem über eine motorisierte Drehvorrichtung immer in einer senkrechten Ausrichtung zueinander gehalten. Die Ausrichtung wird vor Beginn der Messung vorgenommen und während der Messung nachjustiert, indem der Kompensator so lange gedreht wird, bis auf einer fest aus den beiden Wellenlängen ausgewählten Wellenlänge die Gesamtintensität minimal wird. Durch diese Prozedur wird gleichzeitig die Lage der optischen Achse des Objektes bestimmt. Durch die Nachjustierung kann das Messverfahren in einem Produktionsprozess mit kontinuierlichem Monitoring auf Veränderungen der Lage der optischen Achse des Objektes reagieren und so größere Messfehler vermeiden.
In der Veröffentlichung „Two-wave-plate compensator method for single-point retardation measurements", Montarou, Carole C. und Thomas K. Gaylord, Applied optics 43, Nr. 36 (2004): 6580-95 ist ein Verfahren zur Bestimmung eines optischen Gangunterschieds eines unipolaren, doppelbrechenden Objektes beschrieben. Hierbei wird eine monochromatische Lichtquelle eingesetzt, so dass auf der Detektionsseite eine Intensitätsmessung stattfindet. Das Objekt und der Kompensator befinden sich zwischen gekreuzten Polarisatoren und werden gegeneinander verdreht, bis ein Intensitätsminimum erkennbar ist. Aus dem Winkel der Verdrehung wird der optische Gangunterschied berechnet.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen derart weiterzubilden, dass im Vergleich zu herkömmlichen Verfahren der Messbereich erweitert, die Messgenauigkeit erhöht und die Auswertung vereinfacht wird. Diese Aufgabe wird durch die unabhängigen Ansprüche gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind insbesondere in den abhängigen Ansprüchen wiedergegeben, die jeweils für sich genommen oder in unterschiedlicher Kombination miteinander einen Aspekt der Erfindung darstellen können.
Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen, wobei das Objekt bezüglich einer optischen Achse in Reihe zu wenigstens einem relativ zum Objekt um die optische Achse drehbaren Kompensator mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen angeordnet wird, wobei das Objekt und der Kompensator bezüglich der optischen Achse in Reihe zwischen wenigstens zwei gekreuzten Polarisationsfiltern angeordnet werden, wobei eine aus dem Objekt, dem Kompensator und den Polarisationsfiltern gebildete Anordnung entlang der optischen Achse mit polychromatischem Licht beleuchtet wird, wobei bei wenigstens zwei um einen Winkel von TT/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator und dem Objekt jeweils ein Intensitätsspektrum eines von der Anordnung ausgehenden Lichts erfasst wird, und wobei der optische Gangunterschied zwischen den im Objekt entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung ermittelt wird.
Erfindungsgemäß werden die Interferenzspektren eines doppelbrechenden Objektes mit unbekanntem Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen und einem transparenten doppelbrechenden Element, nämlich dem Kompensator, mit bekanntem Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen bei wenigstens zwei verschiedenen Relativstellungen zwischen dem Kompensator und dem Objekt herangezogen, um den Gangunterschied der in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen zu ermitteln. Dabei wird der Kompensator um die optische Achse relativ zu dem Objekt derart gedreht, dass seine Kristallachse mit schneller Ausbreitungsgeschwindigkeit („schnelle Achse") wechselweise parallel („Additionsstellung") und senkrecht („Subtraktionsstellung") zur schnellen Achse des Objektes steht. Dabei interferieren die ordentlichen und außerordentlichen Teillichtwellen der einfallenden Lichtwelle in Kompensator und Probe und verändern hierdurch ihre transmittierte Intensität.
Mit der Erfindung kann die herkömmliche Notwendigkeit eines variablen Kompensators, insbesondere keilförmigen Kompensators, oder einer harmonischen Analyse der erhaltenen Daten entfallen. Zudem können absolute Werte der Doppelbrechung ohne Kalibration des Messaufbaus mit einem weiteren Objekt mit bekanntem Gangunterschied zwischen in diesem Objekt entstehenden Teillichtwellen ermittelt werden. An Stelle einer Positionsbestimmung von Intensitätsminima entlang eines keilförmigen Kompensators, wie mit DE 34 35 059 A1 und DE 10 2006 062 157 A1 vorgeschlagen, kann erfindungsgemäß eine spektrale Auswertung von Intensitätsminima über einen größeren spektralen Bereich erfolgen.
Als Lichtquelle kann jede Form von Weißlicht verwendet werden. Weißlicht mit einem großen Wellenlängenbereich, beispielsweise aus einer kombinierten Deuterium-Halogenlampe, ist hierbei vorteilhaft.
Die Erfindung betrifft somit ein berührungsloses Verfahren zum Ermitteln von optischen Gangunterschieden von in doppelbrechenden Materialien entstehenden Teillichtwellen mit Hilfe einer polychromatischen Lichtquelle. Im Gegensatz zu den bekannten Verfahren zur quantitativen Bestimmung des optischen Gangunterschiedes zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen handelt es sich bei der vorliegenden Erfindung um ein universell einsetzbares, polarisationsoptisches Verfahren mit einer Lichtquelle an einem einfachen Messaufbau. Dieser kann neben dem zu untersuchenden Objekt lediglich die Lichtquelle, zwei lineare Polarisationsfilter (Polarisator und Analysator), ein Spektrometer mit Detektionseinheit, ein transparentes Objekt mit bekannten doppelbrechenden Eigenschaften (Kompensator) sowie eine Vorrichtung zum Drehen des Kompensators um die optische Achse relativ zum Objekt aufweisen.
Maßgeblicher Vorteil des Verfahrens im Vergleich zu den herkömmlichen Methoden ist zum einen der geringere Geräte- und Rechenaufwand. Zum anderen zeichnet sich das Verfahren durch eine hohe Messgeschwindigkeit (wenige Millisekunden) und eine Reduktion der gemessenen Datenmengen aus. Auch wird die Geschwindigkeit der rechnerischen Auswertung gegenüber Methoden mit harmonischer Analyse (Fourier-Analyse) deutlich gesteigert. Die hohe Genauigkeit der Gangunterschiedsberechnung sowie eine nicht notwendige Referenzmessung bzgl. der Lichtquelle sind ebenso als vorteilhaft anzusehen. Ferner ermöglicht das Verfahren auch die Ermittlung größerer Gangunterschiede, welche ein Vielfaches der Wellenlängen des verwendeten Lichts betragen. Aufgrund der kurzen Zeiten für Datenerfassung und Auswertung eignet sich das Verfahren auch zur Automatisierung.
Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht die Ermittlung des optischen Gangunterschieds zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen auf sehr präzise, schnelle und numerisch äußerst einfache und effiziente Art und Weise. Das Verfahren ist, im Gegensatz zu vielen herkömmlichen Vorgehensweisen (z.B. Senarmont-Methode), auch dann noch anwendbar, wenn der Phasenversatz bei einer Testwellenlänge mehr als 360° beträgt, d.h. bei großen optischen Gangunterschieden.
Das Verfahren der vorliegenden Erfindung lässt sich für die schnelle Messung automatisieren indem der Kompensator mit hoher Frequenz (ca. 1 kHz) rotiert und die Aufnahme der Intensitätsspektren mit einer parallel/senkrecht Stellung des Kompensators zum Objekt synchronisiert werden.
Weiterhin ist die Integration in ein handelsübliches Polarisationsmikroskops mit wenig Aufwand möglich. Dadurch kann der optische Gangunterschied sogar ortsaufgelöst bestimmt werden. Die Integration kann z.B. über ein zur Nachrüstung angebotenes Spektroskop als Einschub für den Kameraschacht erreicht werden.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung wird wenigstens ein Differenzintensitätsspektrum durch Subtraktion von zwei erfassten Intensitätsspektren voneinander gebildet, die bei um π/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator und dem Objekt erfasst werden, wobei der optische Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen aus Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums ermittelt wird. Aus den im Differenzintensitätsspektrum ersichtlichen Nullstellen kann unter Kenntnis des Gangunterschieds in dem verwendeten Kompensator und unter Zuhilfenahme bekannter Formeln der unbekannte Gangunterschied in dem zu untersuchenden Objekt analytisch berechnet werden.
Allgemein ist die beobachtete wellenlängenabhängige transmittierte Intensität I der Interferenzspektren einer linear polarisierten Lichtwelle aufgrund von doppelbrechenden Objekten beliebiger azimutaler Orientierung durch einen gekreuzten Analysator gegeben durch ΐ{λ) = (1 )
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wobei Ι0(λ) die Intensität des von der Lichtquelle ausgehenden polychromatischen Lichts, ΔλΝ der Gangunterschied zwischen in einem doppelbrechenden Objekt N entstehenden Teillichtwellen in Richtung eines als Analysator eingesetzten Polarisationsfilters, n die Gesamtzahl der Objekte im Strahlengang, ΘΝ eine Winkelabweichung (0 bis π/2) der optischen Achse eines Objektes N gegenüber dem Analysator, N* das Objekt, dessen Winkelabweichung π/4 am nächsten ist, und cos2(6) der Polarisations-Intensitätsfaktor ist (Malus 1811 ). Bei einem einzelnen doppelbrechenden Objekt mit Gangunterschied Δλ, welches sich unter einem Winkel θ=π/4 zu den Polarisationsfiltern im Strahlengang befindet, ist die obige Formel äquivalent zu (Bloss 1999) ΐ(λ) = Ιΰ{λ)·ύη2(πΑλΙ λ) . (2)
Ein durch Subtraktion zweier Interferenzspektren voneinander gebildetes Differenzintensitätsspektrum ΔΙ(λ) der Intensitäten zweier Objekte in Additions- und o
Subtraktionsrichtung (Winkelstellungen Θ und θ' zueinander) hat, bei einem konstanten ΘΝ·, Werte gemäß
Αΐ(λ) = (ΐ(λ, θ)- ΐ(λ, 0'))cos2 (ΘΝ. )
= 70 (AX- COS(2Ä-(ÄA, + AA2 )/ 2) + COS(2«:(AA1 - A/l2 )/ A))cos2 (^vt). (3)
Durch die ausschließliche Verwendung der Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zur Ermittlung des Gangunterschieds zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen wird eine Reduktion der zu verarbeitenden Daten erreicht. Die Formel (3) kann für zwei im Strahl befindliche doppelbrechende Objekte 1 und 2 vereinfacht werden zu dem Produkt
Δΐ(λ) = sin flzU, / 2)sin(2 ^ / λ) . (4)
ΔΙ(λ) ist hiernach dann 0, wenn erfüllt ist
2ΑλΝ /λ = η , (5) wobei n ein Element der natürlichen Zahlen einschließlich 0 ist. Wenn Objekt 1 der erfindungsgemäß eingesetzte Kompensator und Objekt 2 das zu untersuchende Objekt ist, erlaubt vorherige Kenntnis von Δλι daher eine Zuordnung der Nullstellen. Dadurch kann zwischen Nullstellen unterschieden werden, die entweder allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen oder allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen bedingt sind.
Die spektralen Absorptionen der Objekte im Strahlengang müssen nach Formel (3) aufgrund des Wegfalls von Ι0(λ) nicht berücksichtigt werden. Ein konstantes ΘΝ· kann einfach, beispielsweise durch Drehung des Kompensators, um jeweils π/2 oder durch Orientierung des Objektes nahe an θΝ=ττ/4 erreicht werden.
Der Intensitätsfaktor cos2(9N») erlaubt, im Rahmen des erfindungsgemäßen Verfahrens die Orientierung eines zu untersuchenden Objektes zu bestimmen und einzustellen. Dies kann durch Drehung des rotierbaren Kompensators geschehen, so dass eK0mp Null beträgt und die anschließende Maximierung von Ι(θ) durch Drehung des Objektes nach
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Mit Kenntnis über I(n74) kann man mittels Formel (1 ) die Winkelstellung des Objektes bestimmen.
Vorteilhafterweise wird der optische Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen ausschließlich aus den Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums ermittelt, die allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen bedingt sind. Die Zahl der erzeugten Messdaten wird reduziert, indem zwei g nacheinander aufgenommenen Intensitätsspektren bei paralleler und senkrechter Objekt/Kompensator-Ausrichtung voneinander subtrahiert und aus dem Differenzintensitätsspektrum die dem Kompensator zuzuordnenden Nullstellen eliminiert werden. Die verbleibenden Nullstellen liefern dann auf einfache, präzise Weise eine Aussage über den gesuchten Gangunterschied der in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen. Dies geht mit einer weiteren Datenreduzierung einher. Aus der jeweiligen Wellenlänge der Nullstellen, die nach einer Prüfung durch die Formel (5) nicht vom Kompensator herrühren, lässt sich der Gangunterschied zwischen den in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen durch ein analytisches Errechnen der gemeinsamen Lösung Δλ2 der Formel (5) für die betrachteten Nullstellen ermitteln.
Die Lösung der Formel (5) für den Gangunterschied zwischen in dem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen ist das kleinste gemeinsame halbe Vielfache der Wellenlängen der Nullstellen und kann über eine gängige rechnerische Methode, beispielsweise einer Primfaktorzerlegung, erreicht werden. Speziell bei einer nicht automatisierten Analyse und der Verwendung eines Tabellenkalkulators kann alternativ die Lösung durch iteratives Verschieben der aufeinander folgenden n bei gleichzeitiger Kontrolle der Standardabweichung der Lösungen gefunden werden. Ein gegebener exponentieller Abfall der normierten Wellenlängen der Lösungen über n garantiert, dass die eindeutige Lösung jene mit der geringsten Standardabweichung ist.
Die Genauigkeit des Verfahrens hängt von der Genauigkeit der Messdaten des verwendeten Spektrometers ab. Nach Formel (5) sinkt die messfehlerbedingte Genauigkeit des Verfahrens proportional mit n. Beträgt beispielsweise der zu ermittelnde Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen das 18-fache der mittleren betrachtenden Wellenlänge und wird ein herkömmliches Spektrometer mit einer Wellenlängengenauigkeit von 0.1 nm verwendet, ist eine Ermittlung des Gangunterschieds zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen mit einer absoluten Genauigkeit von 4 nm möglich. Dies entspricht einer relativen Präzision von 0.0004. Alternativ oder ergänzend können die Positionen der dem rotierenden Kompensator zugeordneten Nullstellen als Kontrolle und Gewichtung dienen.
Zwei in engem Zusammenhang stehende Aspekte für die mathematische Auswertbarkeit der Nullstellen sind die Differenz der Gangunterschiede von rotierendem Kompensator und Objekt sowie das Verhältnis aus Gangunterschied und dem Wellenlängenbereich des zur Untersuchung herangezogenen Weißlichtes. Die Erfüllung von Formel (5) bei einem gemeinsamen oder sehr ähnlichem λ führt zu folgendem Fall, welcher bei der Zuordnung besonderer Diskussion bedarf (6)
Wenn die Gangunterschiede vom Kompensator und dem zu untersuchenden Objekt identisch sind (Δλ1~Δλ2), so ist das Differenzintensitätsspektrum Null. Sind die Gangunterschiede von Kompensator und Objekt ganzzahlige Vielfache oder Fraktionen voneinander (Δλ =ηΔλ2 v ηΔλι=Δλ2, wobei n Element der natürlichen Zahlen ist) so treten Nullstellen der beiden doppelbrechenden Objekte zwar an denselben Positionen auf, jedoch ist die erste Ableitung des Differenzintensitätsspektrums bei den Wellenlängen ganzzahliger Fraktionen beider Objekte Null. Hierdurch können gemeinsame Nullstellen identifiziert, und zur Auswertung herangezogen werden.
Die Anzahl x der Nullstellen im betrachteten Wellenlängenbereich (h^<h2) hängt gemäß der Gleichung
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von den Gangunterschieden von Objekt und Kompensator in Relation zum Bereich ab.
Ist die Zahl der im Wellenlängenbereich betrachteten Nullstellen größer als (λ^λ^/Α, wobei A die Wellenlängen-Auflösung des verwendeten Spektrometers ist, so können diese nicht mit Sicherheit zugeordnet werden. In einem typischen Versuchsaufbau mit sichtbarem Weißlicht (300 nm-800 nm) und einem Spektrometer mit einer Auflösung von 5 nm, kann daher ein Gangunterschied von Objekt und Kompensator in Additionsstellung von nicht mehr als 30 pm betrachtet werden. Im Umkehrschluss sollte der zur Betrachtung herangezogene Wellenlängenbereich so gewählt sein, dass in jedem Fall eine Nullstelle des zu untersuchenden Objektes auftaucht, das heißt Wellenlängen nicht größer als 2AK0bjekl beinhaltend. Es ist von Vorteil, wenn der Gangunterschied Δλκ0πΡ der in dem Kompensators entstehenden Teillichtwellen so klein gewählt wird, dass nur eine, dann zur Kontrolle heranzuziehende, Nullstelle im betrachteten Wellenlängenbereich hrK2 auftaucht (2AAK0mp<Ai ). In diesem Fall sind alle weiteren im betrachteten Wellenlängenbereich auftauchenden Nullstellen dem Objekt zuzuordnen. Bei der Betrachtung vieler Nullstellen, speziell wenn diese in enger Folge auftreten, kann es von Vorteil sein, die über Formel (5) errechneten Gangunterschiede arithmetisch zu mittein und ein Bestimmtheitsmaß R2 als dritte Kontrollinstanz neben der eindeutigen Lösung von Formel (5) selbst und dem exponentiellen Abfall von 2ΔλΝ/λ zu implementieren.
Die Geschwindigkeit der Messung wird lediglich durch die Stärke der Lichtquelle, die notwendigen Zählzeiten des Spektrometers und die möglichen Umlaufzeiten des Kompensators bedingt. Der heutige Stand der Technik erlaubt daher Aufnahmefrequenzen von wenigen Millisekunden. Weiterhin wird die Menge der erhaltenen Daten beträchtlich reduziert. In einer typischen Messung mit Licht im sichtbaren Bereich sind die erhaltenen Daten eine Menge von nicht mehr als 100, typischerweise 10, Zahlen, welche den Nullstellen der Differenzintensitätsspektren entsprechen.
Bei der Auswertung der erhaltenen Daten wird folglich die Notwendigkeit zur harmonischen Analyse der erhaltenen Spektren, etwa durch Fourier-Analyse, aufgrund des direkten Zusammenhanges zwischen den Nullstellen der Differenzintensitätsspektren und den Gangunterschieden der doppelbrechenden Objekte im Strahl eliminiert. Dadurch wird die Geschwindigkeit der rechnerischen Auswertung gegenüber Methoden mit harmonischer Analyse deutlich gesteigert. Es muss lediglich der Gangunterschied aufgefunden werden, der Formel (5) erfüllt. Dies wird dadurch weiter vereinfacht, dass diese Lösung das halbierte kleinste ganzzahliges Vielfache der Nullstellenpositionen ist und dass die Folge der Wellenlängen der Nullstellen einem exponentiellen Abfall zweiter Ordnung entspricht.
Insbesondere wenn der bekannte Gangunterschied des Kompensators kleiner ist als die kleinste zur Untersuchung herangezogenen Wellenlänge, aber größer als die Hälfte davon, garantiert das Verfahren eine hohe Eindeutigkeit der Gangunterschiedsermittlung. Die Zuverlässigkeit des Verfahrens beruht darauf, dass man Fehler einer Teilkomponente rasch durch das Fehlen der für den Kompensator charakteristischen Nullstelle erkennen kann. Ebenso funktioniert das Verfahren unabhängig vom Objektazimuth, es sei denn, das Objekt ist parallel zu einem der Polarisationsfilter orientiert.
Die hohe Genauigkeit der Gangunterschiedsberechnung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird durch den Umstand bedingt, dass die Gangunterschiede untersuchter Objekte jeweils ohne parametrische Anpassung Vielfache der Wellenlängen der untersuchten Nullstellen sind, welche mit der Präzision des Spektrometers bestimmt werden können. Auch entfällt die Notwendigkeit zur Referenzierung der Lichtquelle. Die Möglichkeit zur Ermittlung hoher Gangunterschiede, die ein Vielfaches der Wellenlängen des Weißlichtes betragen, ist durch das Verfahren gegeben.
Da die Schritte zur Datenerfassung und Auswertung in kurzer Zeit durchgeführt werden können, eignet sich das Verfahren in hohem Maße zur Automatisierung. Das Verfahren eignet sich durch zusätzliche optische Elemente, wie Linsensysteme, Blenden oder zweidimensionale Spektrometer auch zur Ermittlung ortsaufgelöster Gangunterschiede.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird zum Erfassen der Intensitätsspektren wenigstens ein abbildendes optisches System oder wenigstens eine zweidimensionale Spektrometeranordnung verwendet. Hierdurch ist eine ortsaufgelöste Ermittlung des Gangunterschieds zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen möglich. Durch die optionale Implementierung zusätzlicher optischer Elemente, wie beispielsweise Linsen, Blenden oder zweidimensionaler Spektrometer, kann das Verfahren somit zur Bestimmung ortsaufgelöster Gangunterschiede zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen verwendet werden. Auch das Abrastern von doppelbrechenden Objekten ist damit möglich, was einen elementaren Vorteil gegenüber den bislang bekannten Verfahren darstellt.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung sieht vor, dass ein scheibenförmiger Kompensator verwendet wird. Dies ermöglicht eine spektral aufgelöste Detektion von Intensitätsspektren. Im Gegensatz hierzu wird beim eingangs beschriebenen Stand der Technik keine spektral aufgelöste Detektion eingesetzt, sondern nur ein Flächendetektor, der die Intensitätsverteilung auf dem keilförmigen Kompensator erfasst. Gemäß der Ausgestaltung wird an Stelle eines keilförmigen Kompensators eine flache Kompensatorscheibe, insbesondere mit planparallelen Flächen, verwendet, was auf der Detektionsseite eine spektrale Auswertung von Intensitätsminima an Stelle einer Positionsbestimmung von Intensitätsminima entlang eines keilförmigen Kompensators möglich macht. Diese Unterschiede bewirken, dass mit dem vorliegenden Verfahren auch große Gangunterschiede mit hoher Genauigkeit und geringem Aufwand bestimmt werden können.
Es ist des Weiteren von Vorteil, wenn die Drehung des Kompensators und die Erfassung der Intensitätsspektren automatisiert erfolgen. Hierzu werden die Drehung des Kompensators und die Erfassung der Intensitätsspektren auseinander abgestimmt. Hierdurch ist das Verfahren insbesondere mit Fertigungsprozessen kombinierbar. Zum automatisierten Drehen des Kompensators kann ein elektrisch ansteuerbarer Antrieb eingesetzt werden.
Das erfindungsgemäße System zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt entstehenden Teillichtwellen umfasst bezüglich einer optischen Achse in Reihe angeordnet: wenigstens eine zum Erzeugen von polychromatischem Licht eingerichtete Lichtquelle; wenigstens einen bezüglich eines Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts der Lichtquelle nachgeschalteten ersten Polarisationsfilter; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem ersten Polarisationsfilter nachgeschalteten, um die optische Achse drehbar angeordneten Kompensator mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator entstehenden Teillichtwellen; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem Kompensator nachgeschalteten zweiten Polarisationsfilter, wobei eine Polarisationsebene des von dem ersten Polarisationsfilter erzeugten linear polarisierten Lichts senkrecht zu einer Polarisationsebene des von dem zweiten Polarisationsfilter erzeugten linear polarisierten Lichts angeordnet ist; wenigstens ein bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem zweiten Polarisationsfilter nachgeschalteten Spektrometer; wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle erzeugten polychromatischen Lichts dem Spektrometer nachgeschalteten optischen Detektor; und wenigstens eine signaltechnisch mit dem optischen Detektor verbindbare Auswertungseinheit; wobei das Objekt zwischen einem der Polarisationsfilter und dem Kompensator anordbar ist; und wobei die Auswertungseinheit eingerichtet ist, bei wenigstens zwei um ττ/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator und dem Objekt jeweils ein Intensitätsspektrum eines von dem Spektrometer ausgehenden Lichts zu erfassen und den optischen Gangunterschied zwischen den im Objekt entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung zu ermitteln.
Mit dem System sind die oben mit Bezug auf das Verfahren genannten Vorteile entsprechend verbunden. Insbesondere kann das System zur Durchführung des Verfahrens ausgestaltet sein. Das System weist verglichen mit herkömmlichen Systemen einen vereinfachten Messaufbau auf. Dieser kann zusätzlich dem zu untersuchenden Objekt eine breitbandige Lichtquelle, insbesondere Weißlichtquelle, zwei Polarisationsfilter (Polarisator und Analysator), ein Spektrometer, ein transparentes Objekt mit bekannten doppelbrechenden Eigenschaften (Kompensator) sowie eine Vorrichtung zum Drehen des Kompensators um die optische Achse relativ zum Objekt umfassen. Das Objekt weist eine senkrecht zur optischen Achse orientierte optische Objektachse und eine azimutal drehbare Ausrichtung a1 auf. Der unipolare, doppelbrechende Kompensator weist eine senkrecht zur optischen Achse orientierte optischer Kompensatorachse und eine azimutal drehbare Ausrichtung a2 auf. Die Polarisatoren sind senkrecht zueinander orientiert. Ein erstes Intensitätsspektrums s1 wird aufgenommen, wenn die optischen Achsen von Objekt und Kompensator parallel zueinander ausgerichtet sind, das heißt, wenn α1 =α2=α. α wird dabei vorzugsweise 45° zur Ausrichtung des Polarisators gewählt, so dass das linear polarisierte Licht in etwa zwei gleich große Komponenten, parallel und senkrecht zur optischen Achse der Anordnung zerlegt wird. Dann wird ein zweites Spektrums s2 aufgenommen, wenn die optischen Achsen von Objekt und Kompensator senkrecht zueinander ausgerichtet sind, das heißt wenn α2=α1 +90° ist.
Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung ist die Auswertungseinheit eingerichtet, wenigstens ein Differenzintensitätsspektrum durch Subtraktion von zwei erfassten Intensitätsspektren voneinander zu bilden, die bei um π/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator und dem Objekt erfasst werden, und den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen aus Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln. Mit dieser Ausgestaltung sind die oben mit Bezug auf die entsprechende Ausgestaltung genannten Vorteile entsprechend verbunden. Aus dem Differenzintensitätsspektrum s2-s1 kann die spektrale Lage der Nullstellen ermittelt werden. „„
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Die Nullstellen können über λ1(η)=2Δλ /η mit n Element der natürlichen Zahlen dem Objekt und über λ2(η)=2Δλ2/η dem Kompensator zugeordnet werden. Da die optischen Eigenschaften des Kompensators bekannt sind, ist auch die Lage der Kompensator- Nullstellen bekannt. Dadurch können die restlichen Nullstellen dem Objekt zugeordnet werden.
Vorteilhafterweise ist die Auswertungseinheit eingerichtet, den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen ausschließlich aus den Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln, die allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen bedingt sind. Mit dieser Ausgestaltung sind die oben mit Bezug auf die entsprechende Ausgestaltung genannten Vorteile entsprechend verbunden. Nach der beschriebenen Zuordnung der Nullstellen zu dem Objekt und zu dem Kompensator werden nur noch die identifizierten Objekt-Nullstellen weiter ausgewertet. Über Δλ1=λ1(η)/2η kann der optischen Gangunterschieds zwischen den in dem Objekt entstehenden Teillichtwellen durch Auswertung von mindestens zwei Objektnullstellen ermittelt werden.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist das Spektrometer Teil eines abbildenden optischen Systems oder ein zweidimensionales Spektrometer. Mit dieser Ausgestaltung sind die oben mit Bezug auf die entsprechende Ausgestaltung genannten Vorteile entsprechend verbunden. Es können zusätzlich Mittel, beispielsweise eine Linse mit Blende, zur Auswahl bzw. zur Vergrößerung eines Bereichs aus dem Lichtfeld hinter dem zweiten Polarisator vorhanden sein.
Vorzugsweise ist der Kompensator scheibenförmig ausgebildet ist. Mit dieser Ausgestaltung sind die oben mit Bezug auf die entsprechende Ausgestaltung genannten Vorteile entsprechend verbunden. Der Kompensator kann planparallele Flächen aufweisen.
Ferner ist es von Vorteil, wenn das System wenigstens eine Einrichtung zum Drehen des Kompensators aufweist, die zum Erfassen der Intensitätsspektren automatisiert ansteuerbar ist. Mit dieser Ausgestaltung sind die oben mit Bezug auf die entsprechende Ausgestaltung genannten Vorteile entsprechend verbunden.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung und den Figuren. Es zeigen:
Figur 1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels für ein erfindungsgemäßes System;
Figuren 2a, 2b und 2c eine beispielhafte Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens; und _ _
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Figuren 3a, 3b und 3c eine weitere beispielhafte Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Figur 1 zeigt eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels für ein erfindungsgemäßes System 1 zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt 2 entstehenden Teillichtwellen.
Das System 1 umfasst bezüglich einer optischen Achse 3 in Reihe angeordnet eine zum Erzeugen von polychromatischem Licht eingerichtete Lichtquelle 4, einen bezüglich eines Strahlengangs des von der Lichtquelle 4 erzeugten polychromatischen Lichts der Lichtquelle 4 nachgeschalteten ersten Polarisationsfilter 5 (Polarisator), einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle 4 erzeugten polychromatischen Lichts dem ersten Polarisationsfilter 5 nachgeschalteten, um die optische Achse 3 drehbar angeordneten Kompensator 6 mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator 6 entstehenden Teillichtwellen, einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle 4 erzeugten polychromatischen Lichts dem Kompensator 6 nachgeschalteten zweiten Polarisationsfilter 7 (Analysator), wobei eine Polarisationsebene 8 des von dem ersten Polarisationsfilter 5 erzeugten linear polarisierten Lichts senkrecht zu einer Polarisationsebene 9 des von dem zweiten Polarisationsfilter 7 erzeugten linear polarisierten Lichts angeordnet ist, ein bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle 4 erzeugten polychromatischen Lichts dem zweiten Polarisationsfilter 7 nachgeschaltetes Spektrometer 10, einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle 4 erzeugten polychromatischen Lichts dem Spektrometer 10 nachgeschalteten optischen Detektor 13 und eine signaltechnisch mit dem optischen Detektor 13 verbindbare Auswertungseinheit 14. Das Objekt 2 ist zwischen dem Polarisationsfilter 7 und dem Kompensator 6 angeordnet. Das System 1 umfasst zudem eine Linse 11 und eine der Linse 11 nachgeschaltete Blende 12. Das Spektrometer 10 ist Teil eines abbildenden optischen Systems oder ein zweidimensionales Spektrometer. Der Kompensator 6 ist scheibenförmig ausgebildet.
Die Auswertungseinheit 14 ist eingerichtet, bei wenigstens zwei um ττ/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator 6 und dem Objekt 2 jeweils ein Intensitätsspektrum eines von dem Spektrometer 10 ausgehenden Lichts zu erfassen und den optischen Gangunterschied zwischen den im Objekt 2 entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung zu ermitteln.
Des Weiteren ist die Auswertungseinheit 14 eingerichtet, wenigstens ein Differenzintensitätsspektrum durch Subtraktion von zwei erfassten Intensitätsspektren voneinander zu bilden, die bei um ττ/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem 1
Kompensator 6 und dem Objekt 2 erfasst werden, und den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt 2 entstehenden Teillichtwellen aus Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln. Vorzugsweise ist die Auswertungseinheit 14 eingerichtet, den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt 2 entstehenden Teillichtwellen ausschließlich aus den Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln, die allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt 2 entstehenden Teillichtwellen bedingt sind.
Das System 1 umfasst zudem eine nicht gezeigte Einrichtung zum Drehen des Kompensators 6, die zum Erfassen der Intensitätsspektren automatisiert ansteuerbar ist.
Figuren 2a, 2b und 2c betreffen eine beispielhafte Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Hierzu wird an ein handelsübliches Polarisations-Lichtmikroskop über eine Hülse im Okular- oder Kameraschacht und eine optische Faser ein Spektrometer angeschlossen. Nach der Justage der Abbildung wird die Beleuchtung mit Hilfe einer Blende auf den zu untersuchenden Bereich konzentriert. Die Polarisationsfilter werden gekreuzt und in den dafür vorgesehen Schacht ein Kompensator mit bekanntem Gangunterschied
Figure imgf000018_0001
nm eingeführt. Es werden zwei Spektren aufgenommen, zwischen deren Aufnahme der Kompensator azimutal um π/2 gedreht wird (Figur 2a: Graphen (a: Additionsstellung) und (b: Subtraktionsstellung)). Die beiden Intensitätsspektren werden voneinander subtrahiert (Figur 2b: Graphen (c: Differenzintensitätsspektrum (a)-(b)) oder (d: Differenzintensitätsspektrum (b)-(a))). Die in den Differenzintensitätsspektren erkennbaren Nullstellen werden notiert. Diejenigen Nullstellen, die Formel (5) mit AAKomp erfüllen, werden verworfen. Alle anderen Nullstellen werden gemäß Formel (5) herangezogen, um AA0bjekt zu berechnen (Tabelle 1 gemäß Figur 2c: Nullstellen der Differenzintensitätsspektren der in Figuren 2a und 2b gezeigten Daten mit einer Auflösung von 1 nm und weitere erfindungsgemäße Datenverarbeitung). Dazu wird in einem Tabellenkalkulator neben der Spalte mit den absteigend nach Größe geordneten Nullstellen λ0 eine Spalte für eine aufsteigende Reihe von n eröffnet, sowie eine Weitere mit der Formel ηλ0/2. Die Nullstellen des Kompensators werden von der Reihe der n ausgelassen. In einer weiteren Zelle wird die Standardabweichung der Werte der letzten Spalte angezeigt. Durch Wahl einer anfänglichen Reihe n = [0, 1 , 6] und Verschieben um ganze Zahlenwerte, bis die kleinste Standardabweichung gefunden ist, wird so nach höchstens 7 Iterationen die eindeutige gemeinsame Lösung gefunden.
Figuren 3a, 3b und 3c betreffen eine weitere beispielhafte Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens. In einer Fertigungsstraße, in welcher Polymerextrudate hergestellt werden, wird ein optisches Spektrometer derart aufgestellt, dass es von einer Halogen-Lichtquelle mit kontinuierlichem Spektrum und anschließendem Polarisator durch die extrudierte Folie hindurch beleuchtet wird. Der Polarisator hat hierbei einen Azimutwinkel von TT/4 zur Achse der Doppelbrechung in der Folie. Es wird direkt vor dem Spektrometer ein zum Polarisator gekreuzter Analysator angebracht. Weiterhin wird ein Kompensator mit
Figure imgf000019_0001
nm in den Strahlengang gebracht. Dieser wird von einem Motor mit einer Frequenz f gedreht. Die Frequenz, mit der das Spektrometer während der Messungen Intensitätsspektren aufnimmt, entspricht erfindungsgemäß 4f. Dabei sollte die Frequenz mindestens so hoch eingestellt sein, dass den Strahl passierende Schwankungen der Folienqualität detektiert werden können. Dies geschieht durch Betrachtung der Durchlaufgeschwindigkeit t eines erwarteten Fehlers durch den Strahlengang und die Wahl von f>1/(4t). Je zwei aufeinander folgend aufgenommene Intensitätsspektren (Figur 3a: (a: Additionsstellung) und (b: Subtraktionsstellung)) werden paarweise voneinander abgezogen um die entsprechenden Differenzintensitätsspektren (Abbildung 3b: Graphen (c: Differenzintensitätsspektrum (a)-(b)) oder (d: Differenzintensitätsspektrum (b)-(a))) zu erhalten. Die im Differenzintensitätsspektrum erkennbaren Nullstellen werden durch arithmetische Mittelung der angrenzenden Messwerte, bei denen ein Vorzeichenwechsel geschieht, bestimmt. Diejenigen Nullstellen, die Formel (5) mit ΔλΚοΠ1ρ erfüllen, werden automatisch verworfen. Alle anderen Nullstellen werden gemäß Formel (5) herangezogen, um AAobjekt mittels (5) zu berechnen (Figur 3c: Tabelle 2). Die bei der Betrachtung der Nullstellenpositionen mit einer angenommenen Auflösung von 1 nm aufgrund von Rundungsfehlern erhaltene relative Abweichung vom tatsächlichen Wert beträgt in diesem Beispiel selbst bei den betrachteten, vergleichsweise hohen n lediglich 0.0001.
Bezugszeichenliste
1 System
2 Objekt
3 optische Achse
4 Lichtquelle
5 Polarisationsfilter
6 Kompensator
7 Polarisationsfilter
8 Polarisationsebene
9 Polarisationsebene
10 Spektrometer
11 Linse
12 Blende
13 optischer Detektor
14 Auswertungseinheit

Claims

Ansprüche
1. Verfahren zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen, wobei das Objekt (2) bezüglich einer optischen Achse (3) in Reihe zu wenigstens einem relativ zum Objekt (2) um die optische Achse (3) drehbaren Kompensator (6) mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator (6) entstehenden Teillichtwellen angeordnet wird, wobei das Objekt (2) und der Kompensator (6) bezüglich der optischen Achse (3) in Reihe zwischen wenigstens zwei gekreuzten Polarisationsfiltern (5, 7) angeordnet werden, wobei eine aus dem Objekt (2), dem Kompensator (6) und den Polarisationsfiltern (5, 7) gebildete Anordnung entlang der optischen Achse (3) mit polychromatischem Licht beleuchtet wird, dadurch gekennzeichnet, dass bei wenigstens zwei um ττ/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator (6) und dem Objekt (2) jeweils ein Intensitätsspektrum eines von der Anordnung ausgehenden Lichts erfasst wird, wobei der optische Gangunterschied zwischen den im Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung ermittelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Differenzintensitätsspektrum durch Subtraktion von zwei erfassten Intensitätsspektren voneinander gebildet wird, die bei um π/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator (6) und dem Objekt (2) erfasst werden, wobei der optische Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen aus Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums ermittelt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der optische Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen ausschließlich aus den Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums ermittelt wird, die allein durch dem optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen bedingt sind.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass zum Erfassen der Intensitätsspektren wenigstens ein abbildendes optisches System oder wenigstens eine zweidimensionale Spektrometeranordnung verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass ein scheibenförmiger Kompensator (6) verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Drehung des Kompensators (6) und die Erfassung der Intensitätsspektren automatisiert erfolgen.
7. System (1) zum Ermitteln eines optischen Gangunterschieds zwischen in einem doppelbrechenden Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen, aufweisend bezüglich einer optischen Achse (3) in Reihe angeordnet:
wenigstens eine zum Erzeugen von polychromatischem Licht eingerichtete Lichtquelle
(4);
wenigstens einen bezüglich eines Strahlengangs des von der Lichtquelle (4) erzeugten polychromatischen Lichts der Lichtquelle (4) nachgeschalteten ersten Polarisationsfilter (5); wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle (4) erzeugten polychromatischen Lichts dem ersten Polarisationsfilter (5) nachgeschalteten, um die optische Achse (3) drehbar angeordneten Kompensator (6) mit bekanntem optischen Gangunterschied zwischen in dem Kompensator (6) entstehenden Teillichtwellen;
wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle (4) erzeugten polychromatischen Lichts dem Kompensator (6) nachgeschalteten zweiten Polarisationsfilter (7), wobei eine Polarisationsebene (8) des von dem ersten Polarisationsfilter (5) erzeugten linear polarisierten Lichts senkrecht zu einer Polarisationsebene (9) des von dem zweiten Polarisationsfilter (7) erzeugten linear polarisierten Lichts angeordnet ist;
wenigstens ein bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle (4) erzeugten polychromatischen Lichts dem zweiten Polarisationsfilter (7) nachgeschaltetes Spektrometer (10);
wenigstens einen bezüglich des Strahlengangs des von der Lichtquelle (4) erzeugten polychromatischen Lichts dem Spektrometer (10) nachgeschalteten optischen Detektor (13); und
wenigstens eine signaltechnisch mit dem optischen Detektor (13) verbindbare Auswertungseinheit (14);
wobei das Objekt (2) zwischen einem der Polarisationsfilter (5, 7) und dem Kompensator (6) anordbar ist;
dadurch gekennzeichnet,
dass die Auswertungseinheit (14) eingerichtet ist, bei wenigstens zwei um ττ/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator (6) und dem Objekt (2) jeweils ein Intensitätsspektrum eines von dem Spektrometer (10) ausgehenden Lichts zu erfassen und den optischen Gangunterschied zwischen den im Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen unter Berücksichtigung einer sich aus den erfassten Intensitätsspektren ergebenden relativen spektralen Intensitätsänderung zu ermitteln.
8. System (1 ) nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Auswertungseinheit (14) eingerichtet ist, wenigstens ein Differenzintensitätsspektrum durch Subtraktion von zwei erfassten Intensitätsspektren voneinander zu bilden, die bei um π/2 zueinander versetzten Relativstellungen zwischen dem Kompensator (6) und dem Objekt (2) erfasst werden, und den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen aus Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln.
9. System (1 ) nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Auswertungseinheit (14) eingerichtet ist, den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen ausschließlich aus den Nullstellen des Differenzintensitätsspektrums zu ermitteln, die allein durch den optischen Gangunterschied zwischen in dem Objekt (2) entstehenden Teillichtwellen bedingt sind.
10. System (1 ) nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Spektrometer (10) Teil eines abbildenden optischen Systems oder ein zweidimensionales Spektrometer ist.
11. System (1 ) nach einem der Ansprüche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Kompensator (6) scheibenförmig ausgebildet ist.
12. System (1 ) nach einem der Ansprüche 7 bis 11 , gekennzeichnet durch wenigstens eine Einrichtung zum Drehen des Kompensators (6), die zum Erfassen der Intensitätsspektren automatisiert ansteuerbar ist.
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