WO2015146506A1 - 位相フィルタ、撮像光学系、及び撮像システム - Google Patents

位相フィルタ、撮像光学系、及び撮像システム Download PDF

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concave
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崎田 康一
太田 光彦
島野 健
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日立マクセル株式会社
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B11/00Filters or other obturators specially adapted for photographic purposes

Definitions

  • the present invention relates to an imaging system to which a technique for expanding the depth of field or the depth of focus is applied, a phase filter used therefor, and an imaging optical system.
  • the shape of the diaphragm needs to be rectangular, so that a severe accuracy is required for adjusting the optical axis between the diaphragm, the optical phase filter, and the lens. Therefore, there is a problem that the tolerance of the design error of the entire optical system is reduced.
  • an object of the present invention is to obtain a high-quality image by suppressing deterioration in image quality due to a ghost or the like in a phase filter, an imaging optical system, and an imaging system for enabling expansion of depth of field or depth of focus. It is to provide a suitable technique.
  • the phase filter of the present invention that solves the above problems includes a plurality of annular zones that are rotationally symmetric with respect to the optical axis, each annular zone having a cross-sectional shape defined by a concave or convex substantially parabola, At least one of the annular zones has a maximum depth in a concave cross-sectional shape defined by the substantially parabola, or a maximum height in a convex cross-sectional shape defined by the substantially parabola, It provides a phase of one wavelength or more of incident light.
  • the imaging optical system of the present invention includes a plurality of annular zones that are rotationally symmetric with respect to an optical axis, and each of the annular zones has a cross-sectional shape defined by a concave or convex substantially parabola, At least one of the bands has a maximum depth in a concave cross-sectional shape defined by the substantially parabola or a maximum height in a convex cross-sectional shape defined by the substantially parabola.
  • a phase filter that gives a phase of one wavelength or more is mounted on the imaging optical system.
  • the imaging system of the present invention includes a plurality of annular zones that are rotationally symmetric with respect to an optical axis, and each annular zone has a cross-sectional shape defined by a concave or convex substantially parabola, and each annular zone At least one of the ring zones has a maximum depth in a concave cross-sectional shape defined by the substantially parabola or a maximum height in a convex cross-sectional shape defined by the substantially parabola.
  • Deconvolution image processing is performed on an image captured by an imaging optical system in which a phase filter that gives a phase of one wavelength or more is mounted on the imaging optical system. According to such a configuration of the present invention, it is possible to avoid a change in the center of gravity of the point spread function and to suppress the occurrence of an image defect due to the rotational deviation of the optical axis in the phase filter.
  • the present invention it is possible to obtain a high-quality image by suppressing image quality deterioration due to a ghost or the like.
  • FIG. 1 It is a schematic diagram of the imaging optical system carrying the phase filter of this embodiment. It is a top view which shows the structural example 1 of the phase filter in this embodiment. It is a sectional side view which shows the structural example 1 of the phase filter in this embodiment. It is a top view which shows the structural example 2 of the phase filter in this embodiment. It is a sectional side view which shows the structural example 2 of the phase filter in this embodiment. It is sectional drawing explaining the ring zone structure example 1 in this embodiment. It is a figure which shows the comparative example 1 of PSF and the prior art in the phase filter of this embodiment. It is a figure which shows the structural example of the imaging system using the phase filter of this embodiment. It is a top view which shows the structural example 3 of the phase filter in this embodiment.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an imaging optical system 150 on which the phase filter 101 of this embodiment is mounted.
  • FIG. 2 is a plan view showing a structural example 1 of the phase filter 101 in this embodiment.
  • FIG. 3 is a side sectional view showing Structural Example 1 of the filter 101.
  • the phase filter 101 has a disk-like outer shape and a rotationally symmetric shape with the optical axis 1 as the center. Further, in this phase filter 101, grooves having a substantially parabolic cross section, that is, concave surfaces 112 are formed in a plurality of rows at substantially equal intervals concentrically around the optical axis 1 described above.
  • the concave surface 112 formed concentrically around the optical axis 1 in this manner is referred to as an annular zone 111, and the annular zone 111 and the like are collectively referred to as an annular zone structure 110.
  • an annular structure 110 including only two rows of annular zones 111 is shown for the sake of simplicity of explanation. Actually, like the phase filter 101 of FIGS. 2 to 3, it has a ring zone structure 110 composed of a plurality of ring zones 111 (two or more rows).
  • the above-described annular zone 111 is a concave surface that acts as a concave lens in the radial direction of the pupil plane with respect to the light incident on the annular zone 111.
  • the width of the annular zone 111 in the phase filter 101 shown here is equal between the annular zones.
  • FIGS. 4 and 3 it is also possible to adopt a case where the cross-sectional shape of the annular zone 111 is not a concave shape but a convex shape.
  • the phase filter 101 includes a plurality of convex surfaces 113 having a substantially parabolic shape and a convex cross-sectional shape formed in a plurality of rows concentrically around the optical axis 1 described above at substantially equal intervals.
  • the annular zone 111 in this case is a convex surface that acts as a convex lens in the radial direction of the pupil plane with respect to the light rays incident on the annular zone 111.
  • the imaging lens 102 is disposed so that the phase filter 101 and the optical axis 1 are in common.
  • the imaging lens 102 is a lens that can form an image of the object space at a predetermined position on the optical axis 1 when the phase filter 101 is not provided.
  • the curvature of the concave surface 112 (or convex surface 113) of the phase filter 101 is set so that the diverging light becomes a locally substantially parallel light beam (on the paper surface) by the imaging lens 102.
  • substantially parallel refers to a state in which the light rays of each concave surface 112 (or convex surface 113) that have passed through each concave surface 112 (or convex surface 113) are substantially parallel after passing through the imaging lens 102.
  • the propagation direction of the local substantially parallel light beam is directed to the original focal position 3 along the refraction direction of the light beam 2 passing through the center of the annular zone 111.
  • a virtual tangential plane with respect to the concave surface 112 (or convex surface 113) at the center of the annular zone 111 is perpendicular to the optical axis 1 of the imaging lens 102, and the light beam passing therethrough is not refracted by the phase filter 101.
  • the phase filter 101 since it is incident on the image lens 102, it is clear that the light beam passes through the focal position 3 when the phase filter 101 is not provided.
  • the substantially parallel light fluxes from the plurality of annular zones 111 overlap in the range 104 in the optical axis direction in the vicinity of the focal point 3.
  • the light beam diverging and refracted by the imaging lens 102 from each annular zone 111 has been described as a substantially parallel light beam.
  • the propagation form is a light beam propagating along the side surface of the cone.
  • each annular zone 111 is represented by a conic represented by (Equation 1).
  • the uneven shape of the annular zone 111 may be concave as shown in FIGS. 2 and 3 or convex as shown in FIGS.
  • PSFi represents the contribution of the i-th annular zone 111 to the PSF.
  • J0 (•) is a 0th-order first-order Bessel function
  • is the diameter of the PSF
  • W20 is the defocus amount
  • ⁇ i is the diameter of the i-th annular zone 111.
  • the Bessel function is an oscillation function, when the oscillation of the phase term of the integrand is sufficiently faster than the oscillation of the Bessel function, a stationary phase approximation solution can be applied.
  • This application condition is that the height in the cross-sectional shape of the annular zone 111 (the height from the cross-section bottom 120 to the surface 121 of the annular zone 111) corresponds to several times the wavelength ⁇ of the incident light to the phase filter 101 To establish.
  • the wavelength ⁇ of the incident light is assumed to be a representative value in the wavelength region when having a wavelength region width like white light.
  • the contribution to the PSF in each annular zone 111 is calculated by the stationary phase approximate solution, It becomes. It can be seen that the contribution of any annular zone 111 to the PSF can be made almost insensitive to the defocus W20.
  • the width of each annular zone 111 is the same, and the phase given by each annular zone 111 is twice the wavelength of incident light, that is, 2 ⁇ , in the sectional shape of the annular zone 111.
  • the height (height from the cross-section bottom 120 to the surface 121 of the annular zone 111) is set.
  • FIG. 7 is a diagram showing the PSF in the optical axis direction calculated using the phase filter 101 of the present embodiment and assuming that the object to be imaged is 1 m from the optical system.
  • a PSF when the phase filter 101 of the present embodiment is employed and a PSF in a conventional optical system that does not use the phase filter 101 of the present embodiment are shown together.
  • the relationship between the position in the optical axis direction and the PSF is very sensitive, the position on the optical axis shifts even a little, and the defocus increases even a little.
  • the PSF changes rapidly, when the phase filter 101 of the present embodiment is employed, the PSF can be kept substantially constant over a wide range.
  • the height (depth) of the sectional shape of each annular zone 111 is set to the wavelength ⁇ of incident light.
  • the phase filter 101 in this embodiment can employ quartz glass having a refractive index n1 as a material.
  • an unevenness is formed as a cross-sectional shape of each annular zone 111 by using an existing pattern forming technique and etching technique for quartz glass.
  • the groove shape is formed on the quartz glass using a high hardness cutting tool such as diamond, so that the sectional shape of each annular zone 111 is uneven (particularly, A technique for forming a concave groove) may be employed.
  • the phase filter 101 may be formed by forming a thick plate having unevenness as a mold and performing plastic injection molding using this mold.
  • the phase filter 101 may be formed on a transparent flat substrate by disposing a convex member or a concave member having a refractive index n1 in a ring shape centered on the optical axis.
  • the phase filter 101 of the present embodiment has a rotationally symmetric shape with the optical axis as the center, the above-described processing can be created by appropriately adopting conventional processing techniques, and the efficiency in manufacturing can be improved. The labor is improved compared to the production of the rectangular phase filter.
  • the imaging optical system 150 using the phase filter 101 of the above-described embodiment and an imaging system 300 that performs image processing on an image captured by the imaging optical system 150 will be described with reference to FIG. .
  • the object 301 exists at a relatively short distance from the imaging optical system 150 and the object 302 exists at a far distance.
  • the front lens group 151 that condenses the reflected light of the objects 301 and 302, the phase filter 101 of the present embodiment that processes the light collected by the front lens group 151 as incident light, A diaphragm 152 that is behind the phase filter 101 and adjusts the amount of light (circular in accordance with the phase filter 101), a rear lens group 153 that processes light adjusted by the diaphragm 152 (that is, the imaging lens 102), At least.
  • the reflected light of the object 301 and the object 302 is incident on the phase filter 101 via the front lens group 151 in the imaging optical system 150, and the light from the phase filter 101 is transmitted to the aperture 152 and the rear lens group. It enters the rear lens group 153 via 153 and forms images 303 and 304 that are uniformly blurred in the direction of the optical axis 1 (by the above-described smoothing of the point image distribution in the focal direction). Therefore, the imaging system 300 has a configuration in which the image sensor 305 is disposed at a position where the images 303 and 304 and the like overlap in the optical axis direction.
  • the imaging system 300 converts the output signal from the image sensor 305 described above into an appropriate still image or video image format and outputs it as an image signal while maintaining the highest resolution information that can be output by the image sensor 305.
  • An image signal output circuit 306 is provided.
  • the imaging system 300 includes a monitor output generation circuit 307 that receives the image signal output from the image signal output circuit 306, converts the image signal into a format that can be displayed on the display, and outputs the image signal on the monitor display 308.
  • the images displayed on the monitor display 308 are images 303 and 304 in which the near object 301 and the distant object 302 are uniformly blurred, as schematically shown in FIG. However, since such monitor output processing is not essential for the imaging system 300, there is no problem even if the monitor display 308 and the monitor output generation circuit 307 are not included.
  • the imaging system 300 also includes a deconvolution preprocessing circuit 309 and a deconvolution filter circuit 310.
  • the output signal from the image signal output circuit 306 described above is branched and input to the deconvolution preprocessing circuit 309.
  • the deconvolution preprocessing circuit 309 converts the digital image data format suitable for the filter operation in the deconvolution filter circuit 310.
  • the output signal of the deconvolution preprocessing circuit 309 is filtered by the deconvolution filter circuit 310 and input to the second monitor output generation circuit 311.
  • the second monitor output generation circuit 311 converts the input signal from the deconvolution filter circuit 310 into an arbitrary general still image or moving image format, and outputs and displays it as an output signal on the second monitor display 312.
  • the cross-sectional bottom 120 in the concave or convex cross-sectional shape is offset by a predetermined height in the radial direction of the pupil plane with respect to the incident light between at least one of the above-mentioned respective annular zones 111.
  • the configuration will be described.
  • the PSF is further homogenized not only by the effect of the annular zone 111 having a substantially parabolic shape in cross section but also by the effect of adding the height offset as described above to each annular zone 111.
  • FIG. 9 is a plan view showing Structural Example 3 of the phase filter 101 in the present embodiment
  • FIG. 10 is a side sectional view of the same.
  • the cross-sectional bottom 120 in the cross-sectional shape is offset by a predetermined height in the radial direction of the pupil plane with respect to the incident light.
  • the relationship between the conic curve (substantially parabola) corresponding to the cross-sectional structure of each annular zone 111 and the offset is as shown in FIG.
  • the separation distance (height) between the cross-sectional bottom 120 of each annular zone 111 and the cross-sectional bottom 122 of the adjacent annular zone 111 is defined as the offset distance.
  • the above-described offset is made in the direction from the back surface (surface from which incident light is emitted) of the phase filter 101 toward the surface 121 of the phase filter 101, and the cross-sectional shape closest to the phase filter central axis 105 is obtained.
  • An offset 107 is generated in total from the cross-section bottom 120 to the cross-section bottom 120 in the cross-sectional shape closest to the phase filter outer edge 106.
  • the phase given to the 50 annular zones 111 in the phase filter 101 by the height defined by the conic curve is 2 ⁇ (twice the wavelength of the incident light). Is set.
  • Each annular zone 111 in this example is given an offset that gradually increases from 0 to ⁇ , that is, monotonously increases from the phase filter central axis 115 toward the outer edge 106.
  • an offset that gradually increases from ⁇ to 0, that is, monotonously decreases from the phase filter central axis 115 toward the outer edge 106 may be a given configuration.
  • the offset in each annular zone 111 does not simply increase or decrease as it goes from the phase filter center axis 115 toward the outer edge 106, but is simply increased or decreased.
  • the offsets may be replaced at random (however, the total offset 107 between the annular zones 111 is the same as the total offset when the offset is simply increased or decreased).
  • FIG. 13 is a diagram showing an example of a PSF in the prior art
  • FIG. 14 is a diagram showing an example of a PSF in the phase filter of this embodiment.
  • FIG. 7 the absolute value of the contribution to the PSF in each annular zone 111 is added to show the effect, but here, the calculation result including the phase is shown.
  • a normal imaging optical system such as a camera is an incoherent optical system in a wide wavelength range, and the contribution to the PSF in each annular zone 111 is not examined including the phase, but here, a uniform and stable PSF is used.
  • FIG. 13 shows the PSF in the optical axis direction when the above-described offset is not set
  • FIG. 14 shows the PSF in the optical axis direction when the offset is given.
  • FIG. 19 is a plan view showing a structural example 6 of the phase filter 101 in the present embodiment
  • FIG. 20 is a side sectional view of the same.
  • the ring zone width 108 in the phase filter 101 is monotonously decreased from the phase filter central axis 115 toward the outer edge 106, thereby reducing the area of the ring zone 111. It can be made substantially constant, and each ring zone component of the PSF can be adjusted.
  • PSF is also rotationally symmetric and isotropically expanded, so that a restored image by signal processing does not have directionality, and adverse effects due to optical axis rotation deviation in the phase filter can be suppressed.
  • the fact that PSF is rotationally symmetric leads to a reduction in the amount of processing data, it is possible to reduce the memory for storing the coefficient matrix used for signal processing, and to downsize the signal processing circuit.
  • the fact that the shape of the phase filter is rotationally symmetric makes it possible to create the mold used for molding by rotary lathe processing, which can reduce processing time and manufacturing costs compared to rectangular phase filters. It becomes.
  • the bottom position in the concave or convex cross-sectional shape between at least one of the annular zones is a predetermined height in the radial direction of the pupil plane with respect to incident light.
  • An offset structure may be provided.
  • phase filter of the present embodiment may have a structure in which the height of the offset is different between the annular zones.
  • phase filter of the present embodiment may have a structure in which the height of the offset between the annular zones monotonously increases or decreases monotonously from the optical axis toward the peripheral edge of the phase filter.
  • the efficiency of forming the annular zone in the phase filter is improved, and it becomes possible to achieve further homogenization of PSF under excellent manufacturing cost and efficiency.
  • the width of the annular zone may be equal between the annular zones.
  • the efficiency of the annular zone formation in the phase filter is improved, and the cost and time required for the phase filter manufacturing can be reduced.

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Abstract

 本発明は、点像分布関数の重心変化を回避し、位相フィルタにおける光軸の回転ずれによる画像の不具合発生を抑制可能とすることを目的とする。 本発明は、位相フィルタ101において、光軸に対して回転対称な複数の輪帯111を備え、各輪帯111が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、各輪帯111のうち少なくともいずれかの輪帯は、略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものとする。

Description

位相フィルタ、撮像光学系、及び撮像システム
 本発明は、被写界深度または焦点深度を拡大する技術を適用した撮像システム及びこれに用いられる位相フィルタ、撮像光学系に関する。
===参照による取り込み===
 本出願は、2014年3月27日に出願された日本特許出願第2014-65542号の優先権を主張し、その内容を参照することにより、本出願に取り込む。
 撮像カメラ光学系の瞳面において、瞳面内座標に対して点像分布関数(以下、PSF:Point Spread Function)で与えられる位相分布を与えることによって焦点ずれに対する点像のぼけを均一化し、この均一なぼけを、デコンボリューションと称される画像処理によって除去して光学系の被写界深度や焦点深度を拡大するWavefront Coding(以下WFCと略す)と呼ばれる技術(特許文献1参照)が提案されている。
 また、シーンを表す光を拡散し、アパーチャの座標に依存しない散乱関数を有するディフューザと、拡散されたシーンを表す光を受信し、画像を表すデータを生成するセンサと、点像分布関数を用いて画像のぼけを除去するハードウェアプロセッサを備えるシステム(特許文献2参照)なども提案されている。
米国特許第5,748,371号公報 特表2013-518474号公報
 ところが、上述のWFC技術において、位相変調用の光学位相フィルタが光軸に対して非回転対称な構造である場合、それに応じた問題が生じる。すなわち、合焦位置からのずれ量(デフォーカス量)に依存してPSFの重心が移動してしまう問題が生じる。更にこの問題に伴い、信号処理により変調中間画像から上述の光学位相フィルタに起因する変調分を除去する際、方向性を持ったゴースト像を発生させる問題も生じる。さらに、光学位相フィルタが矩形状(図21参照)であることに応じて、絞り形状も矩形とする必要があるため、絞りと光学位相フィルタとレンズの間の光軸調整に関してシビアな精度が求められ、光学システム全体の設計誤差の許容範囲を減少させるという問題点がある。
 他方、回転対称な光学位相フィルタを利用する場合であっても、従来技術においては、統計光学による確率モデルによって位相板の形状を決定するため、ディフューザの形状を一意に決定することができず、寸法精度などを明確に規定しにくいなどの製造面での課題が残されている。
 そこで本発明の目的は、被写界深度または焦点深度を拡大可能にするための位相フィルタ、撮像光学系、及び撮像システムにおいて、ゴースト等による画質劣化を抑制し高画質な画像を取得するのに好適な技術を提供することにある。
 上記課題を解決する本発明の位相フィルタは、光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである。
 また、本発明の撮像光学系は、光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである位相フィルタを、結像光学系に搭載する。
 また、本発明の撮像システムは、光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである位相フィルタを、結像光学系に搭載した撮像光学系にて撮像された画像に対し、デコンボリューション画像処理を行う。かかる本発明の構成によれば、点像分布関数の重心変化を回避し、位相フィルタにおける光軸の回転ずれによる画像の不具合発生を抑制可能となる。
 本発明によれば、ゴースト等による画質劣化を抑制し高画質な画像を取得することが可能となる。
本実施形態の位相フィルタを搭載した撮像光学系の模式図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例1を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例1を示す側断面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例2を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例2を示す側断面図である。 本実施形態における輪帯構造例1を説明する断面図である。 本実施形態の位相フィルタにおけるPSFと従来技術との比較例1を示す図である。 本実施形態の位相フィルタを用いた撮像システムの構成例を示す図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例3を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例3を示す側断面図である。 本実施形態の輪帯の断面構造におけるコーニック曲線とオフセットの関係を示す図である。 本実施形態における輪帯構造例2を説明する断面図である。 従来技術におけるPSFの例を示す図である。 本実施形態の位相フィルタにおけるPSFの例を示す図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例4を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例4を示す側断面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例5を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例5を示す側断面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例6を示す平面図である。 本実施形態における位相フィルタの構造例6を示す側断面図である。 従来の3次関数位相板を示す図である。
 以下に本発明の実施形態について図面を用いて詳細に説明する。図1は本実施形態の位相フィルタ101を搭載した撮像光学系150の模式図であり、図2は本実施形態における位相フィルタ101の構造例1を示す平面図、図3は本実施形態における位相フィルタ101の構造例1を示す側断面図である。なお、図1にて示す撮像光学系150が含む、位相フィルタ101および結像レンズ102はいずれも側断面の形状を示したものとなっている。
 図1~3にて示すように、位相フィルタ101は、外形が円盤状で光軸1を中心とした回転対称な形状となっている。また、この位相フィルタ101は、略放物線状の断面形状を有する溝すなわち凹面112が、上述の光軸1を中心に同心円状に略等間隔で複数列形成されている。このように光軸1を中心に同心円状に形成された凹面112を輪帯111とし、輪帯111らを輪帯構造110と総称する。なお、図1の位相フィルタ101の例では、説明の簡略化のため2列の輪帯111のみからなる輪帯構造110を示している。実際には、図2~3の位相フィルタ101の如く、(2列以上の)多数列の輪帯111からなる輪帯構造110を有している。
 上述した輪帯111は当該輪帯111に入射する光線に対して瞳面の半径方向に凹レンズとして作用する凹面となる。なお、ここで示す位相フィルタ101における輪帯111の幅は各輪帯間で等しいものとなっている。一方、図4、3にて示すように、輪帯111における断面形状が、凹状ではなく凸状で構成される場合も採用できる。その場合の位相フィルタ101は、略放物線状で凸状の断面形状を有する凸面113が、上述の光軸1を中心に同心円状に略等間隔で複数列形成されている。従って、この場合の輪帯111は、当該輪帯111に入射する光線に対して瞳面の半径方向に凸レンズとして作用する凸面となる。
 他方、撮像光学系150においては、上述の位相フィルタ101と光軸1を共通にするよう、結像レンズ102が配置されている。この結像レンズ102は位相フィルタ101が無い場合、物体空間の像を光軸1上の所定位置に結像させることができるレンズである。こうした結像レンズ102に位相フィルタ101を組み合わせた構成で撮像光学系150をなすことで、位相フィルタ101に入射する光線103(入射光束)は、上述した凹面112(ないし凸面113)によって屈折され、局所的に発散光となる。この発散光が結像レンズ102によって(紙面上)局所的に略平行な光束となるよう、位相フィルタ101における凹面112(ないし凸面113)の曲率は設定されている。局所的に略平行とは、各凹面112(ないし凸面113)を通過した凹面112(ないし凸面113)毎の光線が、結像レンズ102の通過後に略平行となっている状態を指す。
 この局所的な略平行光束の伝播方向は輪帯111の中心を通る光線2の屈折方向に沿って元の焦点位置3に向かう。なぜなら輪帯111の中心での凹面112(ないし凸面113)に対する仮想的な接平面は、結像レンズ102の光軸1に垂直であり、そこを通る光線は位相フィルタ101で屈折せずに結像レンズ102に入射するため、その光線は位相フィルタ101がない場合の焦点位置3を通ることが明らかであるからである。このように複数の輪帯111からの略平行光束が焦点3の近傍において光軸方向に範囲104でオーバーラップする。説明の便宜上、前記では各輪帯111からの、発散し結像レンズ102によって屈折された光束を、略平行光束と述べたが、実際には光軸1を中心に回転対称であるから、実際の伝播形態は円錐の側面に沿って伝播するような光束である。このような光束が、異なる角度で複数オーバーラップすることで、複数の非回折ビームが重なり合って点像分布の焦点方向への平滑化が達成される。
 なお、図2、3に例示した位相フィルタ101において、各輪帯111での断面の略形状は、(式1)が示すコーニックで表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000001
 ここでyは深さ、xは高さ又は輪帯内の位置、Rは曲率半径、κはコーニック定数であり、κ=1の時、この式は放物線を表す式となる。輪帯111の凹凸形状は、図2、3のように凹状であっても、図4、5のように凸状であっても良い。
 輪帯111における断面形状を放物線で近似すると、各輪帯111におけるPSFへの寄与は次式で表すことが出来る。
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000002
 ここでPSFiは、i番目の輪帯111のPSFへの寄与を表す。J0(・)は0次の第一種ベッセル関数、ρはPSFの径、W20はデフォーカス量、ξiはi番目の輪帯111の径を示す。ベッセル関数は振動関数であるが、被積分関数の位相項の振動がベッセル関数の振動よりも十分に速い場合、停留位相近似解法が適用できる。この適用条件は、輪帯111の断面形状における高さ(断面底部120から輪帯111の表面121までの高さ)が、位相フィルタ101への入射光の波長λの数倍相当である場合に成立する。ここで入射光の波長λは、白色光のような波長領域幅を持つ場合は、波長領域内の代表値であるとする。この場合の各輪帯111におけるPSFへの寄与を停留位相近似解法で計算すると、
Figure JPOXMLDOC01-appb-I000003
 となる。どの輪帯111のPSFへの寄与もデフォーカスW20に対して略不感にできることが分かる。そこで、本実施形態の輪帯111における断面形状は、κ=-1として、放物線形状を成し、直径30mm、焦点距離50mmのレンズに対し、輪帯111の数を50とした構造を採用した。また図6にて示すように、各輪帯111の幅はすべて同じであり、各輪帯111が与える位相が、入射光の波長の2倍すなわち2λになるよう、輪帯111の断面形状における高さ(断面底部120から輪帯111の表面121までの高さ)を設定している。
 図7は、本実施形態の位相フィルタ101を用い、撮像対象の物体が光学系から1mのところにあるものとして計算した光軸方向のPSFを示す図である。ここでは、本実施形態の位相フィルタ101を採用した場合のPSFと、本実施形態の位相フィルタ101を使用しない従来の光学系におけるPSFとを合わせて示している。図7の例でも明らかなように、従来の光学系では、光軸方向の位置とPSFとの関係が非常にセンシティブであり、光軸上の位置が少しでもずれて、デフォーカスが少しでも増加すると、PSFは急激に変化してしまうのに対し、本実施形態の位相フィルタ101を採用した場合は、広い範囲に渡ってPSFを略一定に保つことができる。
 本実施形態の位相フィルタ101において、全体のPSFは、各輪帯111のPSFへの寄与の総和に相当するため、各輪帯111の断面形状における高さ(深さ)を入射光の波長λ以上の最大光路差を与えるよう構成することにより、各輪帯111のPSF寄与の焦点深度が深くなる。
 なお、本実施形態における位相フィルタ101は、素材として屈折率n1の石英ガラスを採用できる。この場合、石英ガラスに対する既存のパターン形成技術とエッチング技術を利用することで、各輪帯111の断面形状として凹凸を形成することとなる。勿論、位相フィルタ101の製作技術としては、他にも、ダイヤモンド等の高硬度の切削工具を使用して石英ガラスに対して溝加工を施すことで、各輪帯111の断面形状として凹凸(特に凹となる溝)を形成する技術を採用しても良い。さらには、凹凸を有する厚盤を金型として形成し、この金型を利用してプラスチック射出成形を行って位相フィルタ101を形成するとしても良い。また、透明な平板状の基板に、屈折率n1の凸状部材また凹状部材を光軸を中心とした輪帯状に配置することで位相フィルタ101を形成するとしても良い。いずれにしても、本実施形態の位相フィルタ101は、光軸を中心として回転対称の形状であるため、上述のごとき加工は従来から存在する加工技術を適宜採用すれば作成でき、製作における効率や手間は矩形の位相フィルタの製作時よりも改善されることになる。
 続いて、上述した本実施形態の位相フィルタ101を用いた撮像光学系150と、当該撮像光学系150にて撮像される画像に対し画像処理を施す撮像システム300の構成について図8に基づき説明する。ここでは、撮像光学系150から比較的近い距離に物体301が存在し、遠い距離に物体302が存在している状況を想定する。また撮像光学系150においては、物体301、302らの反射光を集光する前玉レンズ群151、前玉レンズ群151が集光した光を入射光として処理する本実施形態の位相フィルタ101、位相フィルタ101の後方にあって光量を調整する絞り152(位相フィルタ101に合わせて円形である)、絞り152で光量調整された光を処理する後玉レンズ群153(すなわち結像レンズ102)、を少なくとも含む。
 この場合、上述の物体301、物体302の反射光が、撮像光学系150における前玉レンズ群151を介して位相フィルタ101に入射し、この位相フィルタ101からの光が絞り152および後玉レンズ群153を介して後玉レンズ群153に入射し、光軸1の方向にぼけ方が均一(上述した点像分布の焦点方向への平滑化による)な像303、304を形成することになる。そこで撮像システム300においては、像303、304らが光軸方向にオーバーラップする位置に画像センサ305を配置した構成となっている。
 また、撮像システム300は、上述の画像センサ305からの出力信号を、画像センサ305で出力可能な最高解像度の情報を保ったまま、適宜な静止画または動画の画像フォーマットに変換し画像信号として出力する画像信号出力回路306を備えている。また、撮像システム300は、画像信号出力回路306で出力した画像信号を受けて、これをディスプレイ出力可能なフォーマットに変換し、モニタディスプレイ308で出力させるモニタ出力生成回路307を備えている。モニタディスプレイ308で表示される画像は、図8にて模式的に示す通り、近い物体301も、遠い物体302も一様にぼけた画像303、304が得られる。ただし、撮像システム300として、こうしたモニタ出力処理は必須ではないため、モニタディスプレイ308、およびモニタ出力生成回路307を含まない構成としても問題ない。
 また、撮像システム300は、デコンボリューション前処理回路309、およびデコンボリューションフィルタ回路310を備えている。撮像システム300においては、上述の画像信号出力回路306からの出力信号を分岐して、デコンボリューション前処理回路309に入力する。これにより、デコンボリューション前処理回路309において、デコンボリューションフィルタ回路310でのフィルタ演算に適したデジタル画像データ形式に変換することとなる。また、このデコンボリューション前処理回路309の出力信号は、デコンボリューションフィルタ回路310にてフィルタ処理を行って第2のモニタ出力生成回路311に入力される。第2のモニタ出力生成回路311は、デコンボリューションフィルタ回路310からの入力信号を任意の一般の静止画、または動画の画像フォーマットに変換し、出力信号として第2のモニタディスプレイ312で出力表示させる。第2のモニタディスプレイ312で出力表示を行う場合、上述した、近い物体301にも遠い物体302にも焦点のあった画像が出力される。このとき、位相フィルタ101を用いているため、第2のモニタディスプレイ312での出力画像においては、撮像光学系150からの距離によって該当物体の画像位置がずれるようなことはなく、物体301、302の本来の位置を反映した位置に画像が形成される。
 続いて、上述の各輪帯111のうち少なくともいずれかの輪帯間で、凹状または凸状の断面形状における断面底部120を、入射光に対する瞳面の半径方向に所定高さオフセットした構造を備えた構成について説明する。こうした構成においては、断面形状を略放物線形状とした輪帯111における効果だけでなく、各輪帯111に上述の如き高さオフセットを加えたことによる効果によって、さらにPSFの均質化が図られる。
 図9は、本実施形態における位相フィルタ101の構造例3を示す平面図であり、図10は同じく側断面図である。ここで例示するように、輪帯111の各間では、断面形状における断面底部120を、入射光に対する瞳面の半径方向に所定高さづつオフセットさせている。各輪帯111の断面構造形状に対応したコーニック曲線(略放物線)とオフセットの関係は図11に示す通りである。断面形状が凹状、凸状のいずれであっても、各輪帯111の断面底部120と、隣接する輪帯111における断面底部122との間の離間距離(高さ)をオフセット距離とする。
 図10の例では、位相フィルタ101における背面(入射光が射出される面)から位相フィルタ101の表面121に向かう方向で、上述のオフセットがなされており、位相フィルタ中心軸105直近の断面形状における断面底部120から、位相フィルタ外縁106直近の断面形状における断面底部120に至るトータルで、オフセット107が生じている。なお、図12にて例示するように、位相フィルタ101における50個の輪帯111に対し、コーニック曲線で規定される高さによって与える位相は2λ(入射光の波長の2倍)になるように設定されている。この例における各輪帯111は位相フィルタ中心軸115から外縁106に向かうに従って、0からλまで徐々に大きくなる、すなわち単調増加するオフセットが与えられている。
 なお、図15、16にて例示するように、位相フィルタ101の各輪帯111において、位相フィルタ中心軸115から外縁106に向かうに従って、λから0まで徐々に大きくなる、すなわち単調減少するオフセットが与えられた構成となっていてもよい。また、図17、18にて例示するように、各輪帯111におけるオフセットが位相フィルタ中心軸115から外縁106に向かうに従って単純増加ないし単純減少する構成ではなく、そうした単純増加ないし単純減少させた場合のオフセットを、ランダムに入れ替えた構成としてもよい(但し、輪帯111各間のオフセットの総和107は、単純増加ないし単純減少させた場合のオフセットの総和と同じ)。
 ここで、上述のごときオフセットを考慮した構成とした位相フィルタ101における効果について説明する。図13は従来技術におけるPSFの例を示す図であり、図14は本実施形態の位相フィルタにおけるPSFの例を示す図である。図7においては、各輪帯111におけるPSFへの寄与の絶対値を合算して効果を示したのに対し、ここでは位相を含めた計算結果を示す。カメラなどの通常の撮像光学系は、広い波長範囲でかつインコヒーレントな光学系であり、各輪帯111におけるPSFへの寄与を位相まで含めて検討はなされないが、ここでは均一で安定したPSFを得るために、位相を考慮して加算した結果を示す。図13は上述のオフセットを設定しない場合、図14はオフセットを付与した場合の光軸方向のPSFを示している。
 広い波長範囲でかつインコヒーレントな光学系では、これらは広い波長範囲で平均化され、一点から結象する光であってもコヒーレンシーが低いため、PSFの振動は大きく緩和される。図13に例示する従来技術でのPSFはデフォーカスゼロのところに集中するのに対し、図14に例示するPSFは広範囲のデフォーカスに渡って分布していることが分かる。よって、輪帯111の各間でオフセットを付与した位相フィルタ101においては、より安定化したPSFを得ることができる。
 なお、上述までは全ての輪帯111における幅すなわち輪帯幅が一定である例について説明したが、輪帯毎に異なる輪帯幅を設定することにより、PSFの各輪帯成分を調整することができる。図19は、本実施形態における位相フィルタ101の構造例6を示す平面図であり、図20は同じく側断面図である。図19、20にて例示するように、位相フィルタ101における輪帯幅108を、位相フィルタ中心軸115から外縁106に向かうに従って、単調に減少させた構成とすることにより、輪帯111の面積を略一定にすることができ、PSFの各輪帯成分を調整することが可能となる。
 以上、本発明を実施するための最良の形態などについて具体的に説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
 こうした本実施形態によれば、原理的にデフォーカス量に依存して、PSFの重心が変化することを回避出来る。また、PSFも回転対称で等方的に拡がるため、信号処理による復元画像が方向性を持つことがなくなり、位相フィルタにおける光軸の回転ずれによる弊害を抑制することができる。また、PSFが回転対称となることは、処理データ量の低減につながり、信号処理に用いる係数行列の格納用メモリを削減し、信号処理回路を小型化することも可能となる。更に、位相フィルタの形状が回転対称であることは、その成形に用いる金型を回転旋盤加工で作成することが可能となり、矩形の位相フィルタに比べて加工時間の短縮や製造コストの削減が可能となる。
 したがって、点像分布関数の重心変化を回避し、位相フィルタにおける光軸の回転ずれによる画像の不具合発生を抑制可能となる。その結果、本実施例によれば、ゴースト等による画質劣化を抑制し高画質な画像を取得することが可能となる。また、そのような高画質な画像を、低コストで取得することが可能となる。
 本明細書の記載により、少なくとも次のことが明らかにされる。すなわち、本実施形態の位相フィルタにおいて、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯間で、前記凹状または凸状の断面形状における底部位置を、入射光に対する瞳面の半径方向に所定高さオフセットした構造を備えるとしてもよい。
 これによれば、PSFの更なる均質化を図ることが可能となり、デコンボリューション後の画像品質を更に良質なものと出来る。
 また、本実施形態の位相フィルタにおいて、前記オフセットの高さが各輪帯間で異なる構造を備えるとしてもよい。
 これによれば、より一層のPSFの均質化を図ることが可能となり、デコンボリューション後の画像品質を更に良質なものと出来る。
 また、本実施形態の位相フィルタにおいて、前記各輪帯間でのオフセットの高さが、光軸から当該位相フィルタにおける周縁部に向け、単調増加または単調減少する構造を備えるとしてもよい。
 これによれば、位相フィルタにおける輪帯形成の効率が改善され、より一層のPSFの均質化を優れた製造コストや効率の下で図ることが可能となる。
 また、本実施形態の位相フィルタにおいて、前記輪帯の幅が各輪帯間で等しいとしてもよい。
 これによれば、位相フィルタにおける輪帯形成の効率が改善され、位相フィルタ製造にかかるコストや時間を低減出来る。

Claims (7)

  1.  光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである、位相フィルタ。
  2.  前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯間で、前記凹状または凸状の断面形状における底部位置を、入射光に対する瞳面の半径方向に所定高さオフセットした構造を備える、請求項1に記載の位相フィルタ。
  3.  前記オフセットの高さが各輪帯間で異なる構造を備える、請求項2に記載の位相フィルタ。
  4.  前記各輪帯間でのオフセットの高さが、光軸から当該位相フィルタにおける周縁部に向け、単調増加または単調減少する構造を備える、請求項3に記載の位相フィルタ。
  5.  前記輪帯の幅が各輪帯間で等しい、請求項1に記載の位相フィルタ。
  6.  光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである位相フィルタを、結像光学系に搭載した、撮像光学系。
  7.  光軸に対して回転対称な複数の輪帯を備え、前記各輪帯が凹状又は凸状の略放物線で規定される断面形状を有し、前記各輪帯のうち少なくともいずれかの輪帯は、前記略放物線で規定された凹状の断面形状での最大深さ、または前記略放物線で規定された凸状の断面形状での最大高さが、入射光の一波長以上の位相を与えるものである位相フィルタを、結像光学系に搭載した撮像光学系にて撮像された画像に対し、デコンボリューション画像処理を行う、撮像システム。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129790A (ja) * 2016-01-21 2017-07-27 オムロン株式会社 光学系および撮像装置
JP2018101065A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 株式会社日立製作所 光学部品およびそれを用いた撮像システム
JP2021081734A (ja) * 2021-02-01 2021-05-27 オムロン株式会社 光学系および撮像装置
JP2021092732A (ja) * 2019-12-12 2021-06-17 国立大学法人 和歌山大学 光学装置、撮像システム、分析システム、方法、及び空間光変調素子
CN114924397A (zh) * 2022-05-18 2022-08-19 Oppo广东移动通信有限公司 相位板、镜头及电子设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06102415A (ja) * 1992-09-24 1994-04-15 Keiwa Shoko Kk 集光板
JPH06331942A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Olympus Optical Co Ltd 投影レンズ系
JP2001013307A (ja) * 1999-06-25 2001-01-19 Matsushita Electric Works Ltd 反射板及びその製造方法
JP2003117959A (ja) * 2001-10-15 2003-04-23 Olympus Optical Co Ltd 光学素子成形用の金型装置及び光学素子
WO2013001709A1 (ja) * 2011-06-27 2013-01-03 パナソニック株式会社 撮像装置
WO2014155754A1 (ja) * 2013-03-28 2014-10-02 富士フイルム株式会社 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法及びプログラム並びに記録媒体
WO2015004881A1 (ja) * 2013-06-29 2015-01-15 Hori Kenji 位相変換作用を持つフィルタ、レンズ、結像光学系及び撮像システム

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06102415A (ja) * 1992-09-24 1994-04-15 Keiwa Shoko Kk 集光板
JPH06331942A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Olympus Optical Co Ltd 投影レンズ系
JP2001013307A (ja) * 1999-06-25 2001-01-19 Matsushita Electric Works Ltd 反射板及びその製造方法
JP2003117959A (ja) * 2001-10-15 2003-04-23 Olympus Optical Co Ltd 光学素子成形用の金型装置及び光学素子
WO2013001709A1 (ja) * 2011-06-27 2013-01-03 パナソニック株式会社 撮像装置
WO2014155754A1 (ja) * 2013-03-28 2014-10-02 富士フイルム株式会社 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法及びプログラム並びに記録媒体
WO2015004881A1 (ja) * 2013-06-29 2015-01-15 Hori Kenji 位相変換作用を持つフィルタ、レンズ、結像光学系及び撮像システム

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017129790A (ja) * 2016-01-21 2017-07-27 オムロン株式会社 光学系および撮像装置
CN106993118A (zh) * 2016-01-21 2017-07-28 欧姆龙株式会社 光学系统及摄像装置
EP3196686A3 (en) * 2016-01-21 2017-08-30 Omron Corporation Optical system and photographing apparatus
US10194076B2 (en) 2016-01-21 2019-01-29 Omron Corporation Optical system and photographing apparatus
CN106993118B (zh) * 2016-01-21 2019-10-25 欧姆龙株式会社 光学系统及摄像装置
JP2018101065A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 株式会社日立製作所 光学部品およびそれを用いた撮像システム
JP2021092732A (ja) * 2019-12-12 2021-06-17 国立大学法人 和歌山大学 光学装置、撮像システム、分析システム、方法、及び空間光変調素子
JP7500042B2 (ja) 2019-12-12 2024-06-17 国立大学法人 和歌山大学 光学装置、撮像システム、分析システム、方法、及び空間光変調素子の使用方法
JP2021081734A (ja) * 2021-02-01 2021-05-27 オムロン株式会社 光学系および撮像装置
JP7103448B2 (ja) 2021-02-01 2022-07-20 オムロン株式会社 撮像装置および情報コード読取装置
CN114924397A (zh) * 2022-05-18 2022-08-19 Oppo广东移动通信有限公司 相位板、镜头及电子设备

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