WO2015016176A1 - 有機el素子、画像表示装置及び照明装置 - Google Patents
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- H10K59/875—Arrangements for extracting light from the devices
- H10K59/879—Arrangements for extracting light from the devices comprising refractive means, e.g. lenses
Definitions
- the present invention relates to an organic EL element, an image display device, and a lighting device.
- This application claims priority on July 31, 2013 based on Japanese Patent Application No. 2013-159700 for which it applied to Japan, and uses the content here.
- An organic EL (electroluminescence) element has features such as a wide viewing angle, high-speed response, and clear self-luminous display.
- Organic EL elements having such features are expected as pillars for next-generation lighting devices, image display devices, and the like because they are thin and light and have low power consumption.
- the organic EL element has a bottom emission type in which light is extracted from the support substrate side and light is extracted from the opposite side of the support substrate according to the direction in which light generated in the organic light emitting layer is extracted to the outside of the element. It can be divided into an emission type.
- a bottom emission type organic EL device including a transparent electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a metal electrode in this order on a transparent substrate.
- the light emitted from the light emitting layer is critical at the interface between a transparent substrate (for example, glass (typical refractive index: 1.52)) and air (refractive index: 1.0).
- a transparent substrate for example, glass (typical refractive index: 1.52)
- air refractive index: 1.0
- Light incident at a small incident angle (angle formed by the incident ray and the normal of the incident interface) that is smaller than the angle is refracted at the interface and extracted outside the device.
- these lights are referred to as external mode light.
- the light incident on the interface between the transparent substrate and air at an incident angle larger than the critical angle is totally reflected at the interface, and thus is not extracted outside the device. Can be absorbed by the material.
- this light is referred to as substrate mode light, and the loss due to this is referred to as substrate loss.
- substrate mode light the light incident on various interfaces between the substrate and the cathode at an incident angle larger than the critical angle
- the loss due to this will be referred to as waveguide loss.
- Various interfaces include an anode made of a transparent conductive oxide (for example, indium tin oxide (ITO (typical refractive index: 1.82)) and a transparent substrate (for example, glass (typical refractive index: 1.52). And the interface between the high refractive index layer and the low refractive index layer disposed between the anode and the cathode. Further, among the light emitted from the light emitting layer, the light incident on the metal cathode and combined with the free electrons of the metal cathode, and the light captured on the surface of the metal electrode as surface plasmon polariton (SPP) is also external to the element. And can be finally absorbed into the material.
- SPP mode light this light is referred to as SPP mode light, and the loss due to this is referred to as plasmon loss.
- the light extraction efficiency of the organic EL element (the ratio of the light extracted outside the element with respect to the light emitted from the light emitting layer) generally remains at about 20% (for example, Patent Document 1). That is, about 80% of the light emitted from the light emitting layer is lost, and it is an important issue to reduce the loss and improve the light extraction efficiency.
- the extraction of the substrate mode light can be dealt with by providing a light diffusion sheet or the like on the transparent substrate (for example, Patent Document 2).
- Patent Document 2 On the other hand, it can be said that research has just started on a method for reducing guided mode light and SPP mode light to improve extraction efficiency, particularly a method for reducing SPP mode light and improving extraction efficiency.
- Patent Document 3 discloses a configuration in which a high refractive index layer having a higher refractive index than that of an organic light emitting layer or a transparent electrode is inserted in the vicinity of the organic light emitting layer.
- Patent Document 2 discloses a configuration in which the refractive index of the organic light emitting layer and the transparent electrode is equivalently lowered by dispersing fine particles having a refractive index lower than that of the organic light emitting layer and the transparent electrode in the organic light emitting layer and the transparent electrode. ing.
- Patent Documents 4 and 5 disclose a configuration in which a cavity is formed in a transparent electrode layer and a dielectric layer that are sequentially formed on a substrate. Light incident on the side surface of the cavity (interface extending perpendicular to the substrate) is refracted toward the substrate at this interface. Most of the light refracted to the substrate side is incident on the interface between the transparent electrode and the substrate and the interface between the substrate and air at an angle smaller than the critical angle, so that the ratio of light that causes total reflection at these interfaces can be reduced. it can.
- Patent Document 6 a method of forming a diffraction grating at an interface between a transparent substrate and an electrode has been proposed (for example, Patent Document 6).
- the light extraction efficiency cannot be improved unless the light becomes guided mode light and can be extracted outside the device.
- the present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an organic EL element, an image display device, and an illumination device that effectively extract SPP mode light and waveguide mode light and have improved light extraction efficiency. Objective.
- the present inventors first assume a number of light extraction mechanisms in two steps that take out SPP mode light as propagating light and then take out the propagating light out of the device without using it as guided mode light.
- the structures we have intensively studied effective structures that improve the light extraction efficiency. Since it is difficult to directly measure the light extraction efficiency, the investigation was mainly based on simulation.
- the organic EL device of the present invention has a structure in which an organic layer including a light emitting layer is sandwiched between a first electrode and a second electrode.
- the above-described two-step light extraction mechanism generates the SPP mode light and the second electrode side structure of the Otto type arrangement (Non-Patent Document 1) that extracts the generated SPP mode light as propagation light, and its propagation. It consists of a first electrode side structure that takes out light without using it as guided mode light.
- the present inventors refracted or directed the second electrode side structure of the Otto type arrangement and the guided mode light toward the substrate side (opposite side of the substrate in the top emission type).
- the present inventors refracted or directed the second electrode side structure of the Otto type arrangement and the guided mode light toward the substrate side (opposite side of the substrate in the top emission type).
- An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order, and a thickness of 20 nm on the surface of the second electrode opposite to the organic layer.
- a low refractive index layer of 300 nm or less and a metal layer are provided in this order from the side in contact with the opposite surface, the second electrode is made of a light-transmitting conductive material, and the refractive index of the low refractive index layer is The first refractive index material layer is lower than the refractive index of the organic layer, on the surface of the first electrode opposite to the organic layer, and in the in-plane direction of the first refractive index material layer.
- An organic EL element comprising a refractive index modulation structure having a plurality of second refractive index material regions arranged discretely.
- An organic EL element comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode in this order on a substrate, on the surface of the second electrode opposite to the organic layer, A low refractive index layer having a thickness of 20 nm or more and 300 nm or less and a metal layer are provided in this order from the side in contact with the opposite surface, and the second electrode is made of a translucent conductive material, and the low refractive index layer
- the refractive index is lower than the refractive index of the organic layer, and includes a refractive index modulation structure in which a plurality of substrate recesses discretely formed on the surface layer of the substrate are filled with a material different from the refractive index of the substrate.
- An organic EL device characterized by that.
- (3) An organic EL device comprising a first electrode, an organic layer including a light emitting layer, and a second electrode on a substrate in order, on the surface of the second electrode opposite to the organic layer
- a low refractive index layer having a thickness of 20 nm to 300 nm and a metal layer in order from the side in contact with the opposite surface, wherein the second electrode is made of a light-transmitting conductive material, and the low refractive index layer
- the refractive index of the substrate is lower than the refractive index of the organic layer, has a plurality of substrate protrusions discretely formed on the surface layer of the substrate, and is different from the refractive index of the substrate so as to cover the side surface
- An organic EL element comprising a refractive index modulation structure formed of (4) The organic EL element according to any one of (1) to (3), wherein a refractive index of the low refractive index layer is lower than a refractive index of
- the low refractive index layer is made of a material having a refractive index smaller by 0.2 or more than at least one of the second electrode and the organic layer.
- the real part ⁇ 1 of the dielectric constant of the metal layer, the dielectric constant ⁇ 2 of the low refractive index layer, and the second refractive index material region, the substrate concave portion or the substrate convex portion are within the element plane.
- ⁇ is the peak wavelength of the photoluminescence spectrum of the light emitting layer.
- the organic EL element according to (8), wherein the period is 200 nm to 2000 nm.
- An image display device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (9).
- An illumination device comprising the organic EL element according to any one of (1) to (9).
- an organic EL element an image display device, and an illumination device that effectively extract SPP mode light and waveguide mode light and improve light extraction efficiency.
- FIG. 1 It is a perspective view of the organic EL element shown in FIG. In order to make the features of the invention easy to understand, the Otto type arrangement structure is shown separately.
- FIG. 1 It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating an example of the image display apparatus provided with the organic EL element of this invention.
- FIG. 1 It is a cross-sectional schematic diagram of an organic EL element for demonstrating the change of the peak in FIG.
- A is a case where the film thickness of the low refractive index layer is 0 nm
- (b) is a case where SPP mode light and waveguide mode light are mixed as the film thickness of the low refractive index layer is increased
- (c) Is a case where the film thickness of the low refractive index layer is sufficiently thick and the evanescent wave does not reach the metal layer and is not captured as SPP mode light. It is the figure which showed the change of the peak width with respect to the film thickness of a low refractive index layer in the result of energy dissipation calculation in FIG.
- (a) is a figure which represented the formula (16) at the time of making a metal layer into Al and (b) making a metal layer into Ag. It is a figure which shows the result of the computer simulation calculation which investigated the period dependence about the light extraction efficiency of the organic EL element of 1st Embodiment of this invention using the random dipole. It is a cross-sectional schematic diagram for demonstrating the structure of the organic EL element which performed the simulation of FIG.
- the dependence of the intensity distribution of the electric field of the radiated light from the horizontal dipole on the pitch between the adjacent second refractive index material regions is calculated by computer simulation. It is the result of investigating by calculation, and the pitch (a) is 200 nm, (b) is 300 nm, (c) is 500 nm, (d) is 900 nm, (e) is 2000 nm, and (f) is 4000 nm.
- the computer simulation shows the dependence of the intensity distribution of the magnetic field of the emitted light from the dipole in the vertical direction on the pitch between the adjacent second refractive index material regions. It is the result of investigating by calculation, and the pitch (a) is 200 nm, (b) is 300 nm, (c) is 500 nm, (d) is 900 nm, (e) is 2000 nm, and (f) is 4000 nm.
- one of the first electrode and the second electrode is an anode and the other is a cathode.
- a configuration in which the first electrode is an anode and the second electrode is a cathode will be described as an example.
- the organic EL device of the present invention may include a layer not described below within a range not impairing the effects of the present invention.
- FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the first embodiment of the present invention.
- FIG. 2 is a perspective view of the organic EL element according to the first embodiment shown in FIG.
- An organic EL element 10 shown in FIG. 1 includes an anode (first electrode) 2, an organic layer 3 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 4 in this order.
- a low refractive index layer 5 having a thickness of 20 nm to 300 nm and a metal layer 6 are sequentially provided from the side in contact with the opposite surface.
- the cathode 4 is made of a translucent conductive material, and the refractive index of the low refractive index layer 5 is lower than the refractive index of the organic layer 3.
- a first refractive index material layer 8 a is provided, and a plurality of second refractive index material regions are discretely arranged in the in-plane direction of the first refractive index material layer 8 a.
- a refractive index modulation structure 8 having 8b is provided. The configuration indicated by the solid line in FIG.
- the refractive index of the organic layer means the average refractive index of all the layers including the light emitting layer made of the organic EL material.
- the laminated structure of the cathode side metal layer / low refractive index layer / cathode / organic layer is common.
- this laminated structure of metal layer / low refractive index layer / cathode / organic layer when the refractive indexes of the low refractive index layer, the cathode, and the organic layer are n L , n C , and n O , respectively, the refractive index of the low refractive index layer Are lower than the refractive index of the organic layer, n L ⁇ n O ⁇ n C (hereinafter referred to as “B pattern”), n L ⁇ n C ⁇ n O (hereinafter referred to as “C pattern”).
- n C ⁇ n L ⁇ n O (hereinafter referred to as “D pattern”).
- the Otto type arrangement it is necessary to arrange the layers in the order of metal / low refractive index medium / high refractive index medium.
- the structure of the metal layer / low refractive index layer / cathode is an Otto type arrangement.
- the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode is the Otto type arrangement
- the configuration of the metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is also the Ototo type arrangement.
- the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode / organic layer is an Otto type arrangement.
- the most preferable B to D pattern is the C pattern.
- the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is an Otto type arrangement, and the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode (transparent conductive layer) / organic layer is also used. It is an Otto type arrangement. Therefore, re-radiation of SPP mode light is most likely to occur from the metal layer. Furthermore, since the refractive index increases in the order of the low refractive index layer, the cathode (transparent conductive layer), and the organic layer, total reflection does not occur at each interface, and the re-radiated SPP mode light is extracted as it is to the substrate side.
- the cathode is PEDOT: PSS (poly (3,4-ethylenedioxythiophene) -poly (styrenesulfonic acid), typical refractive index: 1.5), etc.
- the transparent conductive material layer may be a case where the low refractive index layer is SOG (spin on glass) that satisfies the refractive index condition of air or C pattern. Next preferred is the B pattern.
- the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is an Otto type arrangement. Therefore, re-radiation of SPP mode light occurs from the metal layer.
- the refractive index of the organic layer is an intermediate value between the low refractive index layer and the cathode (transparent conductive layer)
- a part of the re-radiated SPP mode light is reflected by the cathode (transparent conductive layer) / organic layer.
- the light is totally reflected at the interface, and the remaining light is transmitted to the organic layer.
- a-ITO amorphous ITO, typical refractive index: 2.1
- a material having a lower refractive index than the material of the organic layer is selected from SOG as the material of the low refractive index layer.
- SOG material of the low refractive index layer
- the configuration of the metal layer / low refractive index layer / cathode (transparent conductive layer) is not an Otto type arrangement, but the configuration of metal layer / low refractive index layer + cathode (transparent conductive layer) / organic layer. Only Otto type arrangement. Therefore, although re-radiation of SPP mode light occurs from the metal layer, re-radiation of SPP mode light is further reduced as compared with the case of the B pattern.
- PEDOT: PSS is selected as the cathode material for the organic layer (typical refractive index: 1.7 to 1.8), and the refractive index n is selected as the material for the low refractive index layer.
- a material in which L is between n C and n 2 O , for example, SOG that satisfies the refractive index of the B pattern may be used.
- n O ⁇ n C ⁇ n L (hereinafter referred to as “E pattern”) and in the case of n C ⁇ n O ⁇ n L (hereinafter also referred to as “F pattern”), the Otto type arrangement is not achieved.
- n O ⁇ n L ⁇ n C (hereinafter referred to as “A pattern”), the metal layer / low refractive index layer / cathode are in an Otto type arrangement, and re-emission of SPP mode light occurs from the metal layer.
- the refractive index of the organic layer is lower than that of the low refractive index layer, most of the SPP mode light re-radiated at the cathode (transparent conductive layer) / organic layer interface is totally reflected. Therefore, most of the re-radiated SPP mode light is totally reflected at the cathode (transparent conductive layer) / organic layer interface, and it is difficult to extract the light extracted as the propagation light on the anode side.
- An organic EL element 10 shown in FIG. 1 is a bottom emission type organic EL element that extracts light emitted from a light emitting layer from a substrate side. Therefore, the substrate 1 is a light-transmitting substrate and usually needs to be transparent to visible light.
- transparent to visible light means that it is only necessary to transmit visible light having a wavelength emitted from the light emitting layer, and it is not necessary to be transparent over the entire visible light region.
- a smooth substrate having a transmittance in visible light of 400 to 700 nm of 50% or more is preferable.
- Specific examples of the substrate 1 include a glass plate and a polymer plate.
- the material of the glass plate examples include soda-lime glass, barium / strontium-containing glass, lead glass, aluminosilicate glass, borosilicate glass, barium borosilicate glass, and quartz.
- the polymer plate examples include polycarbonate, polymethyl methacrylate, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyether sulfide, and polysulfone.
- an opaque one can also be used.
- a substrate made of a non-metallic material such as GaN, GaAs, or sapphire, or a substrate normally used in other top emission type organic EL elements can be used.
- a material having high thermal conductivity for the substrate it is preferable to use a material having high thermal conductivity for the substrate.
- the thickness of the substrate 1 is not limited by the required mechanical strength.
- the thickness is preferably 0.01 mm to 10 mm, more preferably 0.05 mm to 2 mm.
- the refractive index modulation structure 8 has a structure in which one region (second refractive index material region) is discretely arranged in the other (first refractive index material layer) and the refractive index is modulated.
- the discrete arrangement may be a periodic arrangement or an aperiodic arrangement.
- the plurality of second refractive index material regions arranged discretely may all have the same shape or may include different shapes.
- the refractive index modulation structure 8 is a case where one region (second refractive index material region) is discretely arranged and the other (first refractive index material layer) is also discretely arranged like a checker pattern. There may be.
- the refractive index modulation structure 8 shown in FIG. 1 may be any material having a different refractive index.
- the first refractive index material layer 8a is made of a high refractive index material
- the second refractive index material region 8b is a low refractive index material.
- a high refractive index and a low refractive index in a high refractive index material and a low refractive index material mean high and low refractive indices with respect to each other.
- the first refractive index material layer 8a made of a high refractive index material is formed in a sea shape in the in-plane direction.
- the second refractive index material region 8b made of a low refractive index material has island-like portions arranged discretely in an island shape.
- the refractive index modulation structure 8 shown in FIG. 1 has a low refractive index material region in which holes formed discretely in the in-plane direction of the layer 8a made of a high refractive index material are filled with a low refractive index material. 8b is formed.
- the first refractive index material layer 8a is made of a low refractive index material
- the second refractive index material region 8b is made of a high refractive index material.
- the period (pitch) p is an integer.
- N (1 ⁇ N ⁇ 3) is preferably selected so as to satisfy the above-described formula (1).
- the period p varies depending on the material of the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, it is preferable to consider the selection of the material.
- the period p of the second refractive index material region 8b is shown.
- the direction in the element plane means the in-plane direction in which each layer of the organic EL element is laminated, for example, the in-plane direction of the surface of the first electrode or the substrate surface.
- the second refractive index material regions that are discretely arranged are periodically arranged with a period p that is approximately equal to or less than the wavelength of the light, whereby the first refractive index material layer and the second refractive index material region are photo-removed. It is good also as a structure which makes a nick crystal.
- the high refractive index material and the low refractive index material constituting the refractive index modulation structure 8 are materials having different refractive indexes and are not particularly limited as long as they have translucency.
- silicon oxide such as spin-on-glass (SOG, refractive index: 1.1 to 2.0) and silica (SiO 2 ), magnesium oxide (MgO, typical refractive index: 1.74) Oxides, metal halides including magnesium fluoride (MgF 2 , typical refractive index: 1.38), nitrides including aluminum nitride (AlN), aluminum oxynitride (AlON) and silicon Oxynitrides including oxynitrides, fluororesins including polytetrafluoroethylene (PTFE, typical refractive index: 1.35), polymethyl methacrylate (typical refractive index: 1.49) Or a polymer compound resin such as polyethylene naphthalate (typical refractive index: 1.77).
- the thickness of the refractive index modulation structure 8 is not particularly limited. For example, it is 10 to 2000 nm, preferably 50 to 1000 nm. If the thickness of the refractive index modulation structure 8 is thinner than 10 nm, the volume of the refractive index modulation structure 8 becomes small, and the waveguide mode light is hardly diffracted. If the refractive index modulation structure 8 is thicker than 2000 nm, it is difficult to maintain the flatness of the anode 2.
- the anode 2 is an electrode for applying a voltage between the anode 4 and injecting holes from the anode 2 into the light emitting layer. Therefore, it is preferable to use a material made of a metal, an alloy, a conductive compound, or a mixture thereof having a large work function for the anode 2, and there is a difference from the HOMO (Highest Occupied Molecular Orbital) level of the organic layer in contact with the anode. It is preferable to use a work function of 4 eV or more and 6 eV or less so as not to be excessive.
- the material of the anode 2 is not particularly limited as long as it is a translucent and conductive material.
- the anode 2 can be formed on the substrate 1 by, for example, a sputtering method, a vacuum deposition method, a coating method, or the like.
- the thickness of the anode 2 is not limited, but is, for example, 10 to 2000 nm, and preferably 50 to 1000 nm. When the thickness of the anode 2 is thinner than 10 nm, the sheet resistance of the anode 2 increases. If the thickness of the anode 2 is greater than 2000 nm, the flatness of the organic layer 3 cannot be maintained, and the transmittance of the anode 2 decreases.
- the organic layer 3 may include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, an electron transport layer, and the like in addition to a light emitting layer (organic light emitting layer) made of an organic EL material.
- the hole injection layer is a layer that assists hole injection into the light emitting layer
- the hole transport layer is a layer that transports to the light emitting region. These have a high hole mobility and a small ionization energy of usually 5.5 eV or less.
- a material that transports holes to the light emitting layer with lower electric field strength is preferable.
- the material to be formed is not particularly limited as long as it can perform the above functions, and any material can be selected and used from known materials.
- the organic layer 3 may be formed by a dry process such as an evaporation method or a transfer method, or may be formed by a wet process such as a spin coating method, a spray coating method, a die coating method, or a gravure printing method.
- the thickness of the organic layer 3 is not limited, but is, for example, 50 to 2000 nm, and preferably 100 to 1000 nm. If the thickness of the organic layer 3 is less than 50 nm, quenching other than SPP coupling by metal, such as reduction of internal QE due to penetration current and lossy surface coupling, occurs. When the thickness of the organic layer 3 is greater than 1000 nm, the driving voltage increases.
- the cathode 4 is an electrode for injecting electrons into the light emitting layer. Therefore, it is preferable to use a material made of a metal, an alloy, a conductive compound, or a mixture thereof having a small work function, so that the difference from the LUMO (Lowest Unoccupied Molecular Orbital) level of the organic layer in contact with the anode does not become excessive. It is preferable to use a material having a work function of 1.9 eV or more and 5 eV or less. As a material of the cathode 4, it is necessary to use a light-transmitting conductive material in order to form a cathode side structure with an Otto type arrangement. Therefore, the same anode material as described above can be used.
- the thickness of the cathode 4 is not limited, but is, for example, 30 nm to 1 ⁇ m, and preferably 50 to 500 nm. If the thickness of the cathode 4 is less than 30 nm, the sheet resistance increases and the driving voltage increases. If the thickness of the cathode 4 is greater than 1 ⁇ m, heat and radiation damage during film formation and mechanical damage due to film stress accumulate in the electrode and the organic layer.
- the low refractive index layer 5 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3 and is made of a material lower than the refractive index of the organic layer 3.
- the low refractive index layer 5 is preferably made of a material having a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4.
- the material for the low refractive index layer 5 is not particularly limited as long as it is a material having a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4.
- metal fluorides such as SOG, MgF 2 (typical refractive index: 1.38), organic fluorine compounds such as PTFE, SiO 2 (typical refractive index: 1.45), various low melting glass, Examples include porous materials.
- the low refractive index layer 5 is a layer including an air layer, and may have a lower refractive index than the translucent conductive material constituting the cathode 4.
- the low refractive index layer 5 is preferably made of a material having a refractive index smaller by 0.2 or more than at least one of the cathode 4 and the organic layer 3.
- the cathode and the organic layer correspond to an Otto type high refractive index layer. If the difference in refractive index between the low refractive index layer and the high refractive index layer is 0.2 or more in the Otto type arrangement, the in-plane component of the wave number of the SPP mode light becomes small. Therefore, the propagation light in the high refractive index layer and the SPP mode The light dispersion curves are crossed, and the efficiency of taking out the SPP mode light into the high refractive index layer by the Otto type arrangement can be increased.
- the thickness of the low refractive index layer 5 is preferably 20 nm to 300 nm. If the thickness of the low refractive index layer 5 is less than 20 nm, the metal layer and the high refractive index layer come close to each other and the in-plane wavenumber component of the SPP mode light becomes large, so that the dispersion curve shows the propagation light in the high refractive index layer. The dispersion curve does not intersect and the SPP mode light is not easily extracted into the high refractive index layer. When the thickness of the low refractive index layer 5 is greater than 300 nm, the evanescent wave does not reach the metal layer 6 and the SPP mode light is hardly extracted into the high refractive index layer. Therefore, the thickness of the low refractive index layer 5 is more preferably 200 nm or less.
- the metal layer 6 is provided on the opposite side of the cathode 4 from the organic layer 3 via a low refractive index layer 5.
- the material of the metal film 6 may be any material that causes plasmon resonance due to the light emitted from the light emitting layer. Therefore, almost any single metal or alloy can be used. In particular, a material in which the real part of the complex dielectric constant is negative and the absolute value of the real part has a large value is preferable. Examples of such materials include simple substances such as gold, silver, copper, zinc, aluminum, and magnesium, alloys of gold and silver, alloys of silver and copper, and alloys such as brass.
- the metal layer 6 may have a laminated structure of two or more layers.
- the thickness of the metal layer 6 is not limited, but is, for example, 20 to 2000 nm, and preferably 50 to 500 nm. When the thickness of the metal layer 6 is less than 20 nm, the reflectance is lowered and the front luminance is lowered. If the thickness of the metal layer 6 is greater than 500 nm, heat and radiation damage during film formation, and mechanical damage due to film stress accumulate in the electrode and the organic layer.
- the effect of the second electrode side structure by the Otto type arrangement of the organic EL element of the present invention will be described below.
- the following is a principle explanation based on the calculation formula, and therefore, the first electrode and the second electrode are not associated with either the anode or the cathode, respectively, and are described as the first electrode and the second electrode.
- SPP surface plasmon polariton
- the dispersion relation (angular frequency w, wave vector k) of normal propagation light is given by the following equation (3).
- the dispersion curve of surface plasmon polariton (SPP) does not intersect the normal dispersion light dispersion line. Therefore, normal propagating light cannot excite SPP on a flat metal surface, and propagating light cannot be extracted directly from SPP present on the flat metal surface.
- ⁇ is an incident angle of incident light from the high refractive index layer to the low refractive index layer. Accordingly, by changing the incident angle ⁇ , the SPP dispersion curve intersects with the dispersion line of the total reflection evanescent wave (hereinafter, simply referred to as “evanescent wave” is also all generated by total reflection).
- evanescent wave is also all generated by total reflection.
- the “incident angle ⁇ ” is the radiation angle of the SPP when viewed from the metal side. That is, when the Otto type arrangement is used, the dispersion curve of the SPP and the dispersion line of the evanescent wave intersect each other. This means that only the SPP radiated at a predetermined angle is in a state where energy can be exchanged by the resonance of the SPP and the evanescent wave. And it becomes possible to take out SPP as propagation light radiated
- a predetermined incident angle (SPP) of light emitted from the light emitting layer in the organic layer is provided adjacent to the organic layer.
- the light incident on the high refractive index layer / low refractive index interface from the high refractive index layer generates an evanescent wave at an angle where the dispersion curve and the dispersion line of the evanescent wave intersect.
- the generated evanescent wave excites SPP mode light on the surface of the metal layer.
- SPP mode light excited on the surface of the metal layer can be extracted as propagating light emitted at a predetermined angle via an evanescent wave generated in the Otto type arrangement structure. That is, by introducing the Otto type arrangement structure in the organic EL element, it becomes possible to extract SPP mode light as propagating light emitted at a predetermined angle.
- the excitation / extraction of the SPP mode light via the evanescent wave occurs when the low refractive index layer is sufficiently thin. This is because if the low refractive index layer is too thick, the evanescent wave oozes from the organic layer does not reach the metal layer, and the evanescent wave and the SPP mode light cannot exchange energy.
- the metal layer and the high refractive index layer come close to each other, and the wave number of the SPP mode becomes larger than the equation (2), and the dispersion curve does not intersect with the dispersion curve (3) of propagating light.
- the light extracted from the SPP is emitted at a predetermined angle corresponding to the intersection of the SPP dispersion curve and the evanescent wave dispersion line as described above.
- the propagation light in the organic layer is refracted to the light extraction side (the substrate side in the bottom emission type), and the incident angle to the interface (the angle formed by the incident ray and the normal of the incident interface).
- An interface having a refractive index perpendicular to or nearly perpendicular to the substrate surface was introduced so as to reduce the.
- the first electrode side structure includes a refractive index modulation structure in which the second refractive index material regions are discretely arranged in the in-plane direction of the first refractive index material layer, A structure having an interface having different refractive indexes that are perpendicular or nearly perpendicular (interface between the first refractive index material layer and the second refractive index material region) was introduced.
- the refractive index modulation structure as the first electrode side structure is a non-periodic structure having no periodicity even if it has a periodicity (a structure in which the second refractive index material region is periodically arranged). (Structure in which the second refractive index material region is aperiodically arranged) may be used.
- the refractive index modulation structure is a structure having periodicity
- the second refractive index material region is periodically arranged two-dimensionally.
- the diffraction effect (effect refracted at a predetermined angle with respect to the substrate surface) as a transmission diffraction grating (hereinafter simply referred to as “diffraction grating”)
- the effect as a photonic crystal (Effect of radiating in a direction perpendicular to the substrate surface) is also generated, and waveguide mode light can be extracted to the substrate side.
- the period (pitch) of the second refractive index material region is sufficiently larger than the wavelength, it is considered that refraction is the dominant mechanism and light is extracted.
- the period of the second refractive index material region is equal to or less than the wavelength, the effect of the diffraction grating and the effect of the photonic crystal become the dominant mechanism and light is considered to be extracted.
- FIG. 29 is a schematic cross-sectional view of an organic EL element having a second electrode side structure having an Otto type arrangement. First, the principle of extracting SPP mode light as guided mode light by this second electrode side structure will be described with reference to FIG. In FIG. 29, the first electrode side structure is omitted.
- n sub is the refractive index of the substrate
- n OLED is the average refractive index of the first electrode, the organic layer, and the second electrode
- n 2 is the refractive index of the low refractive index layer
- ⁇ 2 is the dielectric of the low refractive index layer.
- ⁇ 1 is the real part of the dielectric constant of the metal layer
- k sp is the in-plane direction component of the wave number vector of the SPP mode light
- k 0 is the wave number (2 ⁇ / ⁇ ) of light in vacuum ( ⁇ is from the light emitting layer) The wavelength of the emitted light in vacuum)
- ⁇ is the propagation angle of the light propagating through the high refractive index layer.
- Equation (6) the in-plane components of the wave vector match between the SPP mode light and the extracted light, that is, Equation (6) needs to be satisfied. From the equations (5) and (6), the SPP mode light is extracted as propagating light at an angle satisfying the following equation (7).
- FIG. 30 is a partial schematic cross-sectional view including a first electrode side structure of an organic EL element including a first electrode side structure having a refractive index modulation structure that functions as a transmissive diffraction grating.
- the principle of extracting light extracted from the SPP mode light by the diffraction grating will be described with reference to FIG. It is assumed that light extracted from the SPP mode light at a predetermined angle ⁇ is diffracted by a diffraction grating having a period (period of the refractive index modulation structure) p.
- the condition for diffracting to the substrate side at a predetermined angle ⁇ sub with respect to the substrate surface is that the difference between the in-plane wave number of incident light incident on the diffraction grating and the in-plane wave number of diffracted light is an integral multiple of 2 ⁇ / p.
- N 0, ⁇ 1,...
- OLED stack indicates a layer through which guided mode light including the first electrode and the organic layer propagates, and the specific layer configuration depends on the specific configuration of the present invention. .
- the position where the “diffraction grating” is provided also depends on the specific configuration of the present invention. Equation (9) is obtained from Equation (7) and Equation (8).
- N in Formula (11) may be a positive integer. In order to suppress Fresnel reflection at the interface between the substrate and air, it is desirable that the expression (11) approximately satisfies the following expression.
- the peak wavelength of the emission spectrum of the light emitting layer is adopted as ⁇ .
- the peak wavelength the peak wavelength of the photoluminescence spectrum can be used.
- N is a diffraction order and is an arbitrary integer, but if the diffraction order becomes too large, the directivity of the diffracted light decreases. Therefore, it is preferable to select the period (pitch) p and the wavelength ⁇ so that N satisfying the formula (1) is in the range of 1 ⁇ N ⁇ 3.
- the above theoretical analysis is a one-dimensional analysis, and a diffraction effect based on this analysis is obtained for a one-dimensional diffraction grating structure (a diffraction grating structure in which gratings are arranged at regular intervals in a predetermined direction). It is done.
- the one-dimensional diffraction grating structure does not have a grating structure in a direction orthogonal to the one direction, and therefore does not produce a diffraction effect for light in the orthogonal direction (light component).
- the two-dimensional diffraction grating structure has a grating structure in the orthogonal direction, and a diffraction effect is added also in that direction.
- the diffraction effect is larger in the two-dimensional diffraction grating structure than in the one-dimensional diffraction grating structure. Accordingly, in an organic EL element having a configuration that satisfies the condition of formula (1) in a predetermined cross section, the light extraction efficiency can be improved regardless of whether the configuration is a one-dimensional diffraction grating structure or a two-dimensional diffraction grating structure.
- a photonic crystal is a structure whose refractive index is periodically different, in particular, a structure whose period is equal to or less than a wavelength. This periodic structure forms a forbidden band (photonic band gap) in which light in a specific wavelength range cannot exist.
- the first electrode side structure of the present invention is a periodic refractive index modulation structure and the period is equal to or less than the wavelength
- the first electrode side structure is a one-dimensional or two-dimensional photonic crystal (respectively a substrate). It can be regarded as a photonic crystal structure in which lattices are arranged at regular intervals in a predetermined direction or two directions in a plane.
- a one-dimensional photonic crystal In a one-dimensional photonic crystal, light having a wavelength corresponding to the photonic band gap cannot propagate in one direction having a periodic structure. For this reason, the propagation of light is redistributed in directions other than in-plane, and the light can be extracted to the substrate side.
- the one-dimensional photonic crystal structure since there is no periodic structure in the direction orthogonal to the one direction, there is no photonic band gap in this direction, and there is no extraction effect due to this. small.
- the two-dimensional photonic crystal structure since the two-dimensional photonic crystal structure has a lattice structure in two different directions in the plane, a photonic band gap is formed in these two directions, and light cannot propagate. Therefore, in the two-dimensional photonic crystal, the direction in which light cannot propagate in the plane increases, and thus light is extracted to the substrate more efficiently than the one-dimensional structure.
- the first electrode side structure is a non-periodic structure having no periodicity in the in-plane direction of the substrate, light incident on the first electrode structure is diffracted at random positions and phases. Radiation angle light is not emitted intensifying each other. Therefore, by having such a structure on the first electrode side, relatively uniform (highly diffusible) orientation characteristics can be obtained. That is, in the case where the first electrode side structure is a periodic structure, it is possible to obtain an alignment characteristic in which the light intensity at a specific radiation angle is increased by the effect of strengthening the emitted light by the diffraction grating, When the first electrode side structure is an aperiodic structure, relatively uniform alignment characteristics can be obtained. Therefore, the first electrode side structure can be selected to be a structure having periodicity or a non-periodic structure according to a required light distribution characteristic.
- FIG. 3 The light propagation method indicated by the arrows in FIG. 3 is schematically shown in order to easily understand the principle of the action effect by refraction.
- the reference numeral 8a is a first refractive index material layer made of a high refractive index material and the reference numeral 8b is a second refractive index material region made of a low refractive index material will be described as an example.
- the light traveling toward the cathode 4 is incident at the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle (arrow A1)
- an evanescent wave (arrow A2) is generated in the low refractive index layer 5.
- the generated evanescent wave oozes out to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow A3) is excited.
- the excited SPP is radiated to the cathode 4 at a predetermined angle (arrow A5) through resonance with the evanescent wave (arrow A4), and can be extracted to the organic layer 3 as propagating light.
- a predetermined angle arrow A5
- arrow A4 evanescent wave
- the arrow A1 is used to explain the effect of refraction of the present invention. It only shows the propagation of part of the light. The same applies to other lights.
- refraction occurs at the interface of materials having different refractive indexes, the refraction action is not shown in the drawing for the interface that is not particularly necessary for explaining the effect of the present invention.
- the light B1 travels from the first refractive index material layer 8a to the second refractive index material region 8b, it is refracted toward the substrate 1 at the interface 9 thereof.
- the substrate for example, glass
- the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the interface 9 between the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b.
- the light C1 is light that travels to the substrate 1 side in a direction perpendicular to the substrate.
- the light C1 is not refracted at the interface between the organic layer 3 and the anode 2, the interface between the anode 2 and the first refractive index material layer 8a, and the interface between the first refractive index material layer 8a and the substrate 1; 2, the first refractive index material layer 8 a, the substrate 1, and taken out to the outside.
- the light C2 is refracted to the substrate 1 side at the interface 9 between the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b, passes through the second refractive index material region 8b, and is transmitted to the second refractive index material region 8b. After being refracted at the interface between the substrate 1 and the substrate 1, it can be taken out through the substrate 1. In the configuration without the interface 9 between the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b, total reflection occurs at the interface between the substrate 1 and air, but the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region.
- the incident angle to the substrate 1 is changed to a small angle due to refraction at the interface 9 with 8b, the light that does not cause total reflection increases and the light extraction efficiency is improved. That is, the light extraction efficiency is improved by having the configuration including the interface 9 between the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b.
- the light C3 also has a smaller incident angle to the substrate 1 due to refraction at the interface 9 between the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b, so that light that can avoid total reflection increases. This improves the light extraction efficiency.
- the second refractive index material region is periodically arranged, so that the first refractive index material layer and the second refractive index material region are a diffraction grating.
- the effect of the diffraction grating will be schematically described with reference to FIG.
- the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 4 is schematically shown for easy understanding of the principle of the effect of the diffraction grating.
- the light traveling toward the cathode 4 is incident at the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle (arrow A1)
- an evanescent wave (arrow A2) is generated in the low refractive index layer 5.
- the generated evanescent wave oozes out to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow A3) is excited.
- the excited SPP is radiated to the cathode 4 at a predetermined angle (arrow A5) through resonance with the evanescent wave (arrow A4), and can be extracted to the organic layer 3 as propagating light.
- the light extracted from the cathode side structure (cathode 4, low refractive index layer 5, metal layer 6) to point B propagates through the organic layer 3 and the anode 2 and enters the refractive index modulation structure 8 as a diffraction grating.
- the incident light is diffracted by a diffraction grating in a predetermined direction (a direction satisfying the Nth order strengthening condition).
- diffracted light is emitted at a certain predetermined angle because the diffracted light at each diffraction point is emitted while interfering.
- arrows BD1 and BD2 light incident on the interface between the substrate (for example, glass) and air at a critical angle or less is directly extracted outside.
- arrow BD1 and the arrow BD2 are strengthened by interference as described above, it is possible to extract light having a strong intensity at a specific angle, and the light extraction efficiency is improved.
- an arrow BD3r light incident on the interface between the substrate and air at an angle greater than the critical angle is totally reflected (arrow BD3r) and cannot be extracted outside the substrate.
- the material of the metal layer and the low refractive index layer, and the diffraction grating (refractive index modulation structure) so as to satisfy the formula (1) are satisfied. It is preferable to select a period.
- the intensity of the diffracted light is higher as the order N is smaller, it is preferable to select the period of the diffraction grating and the like so as to satisfy the formula (1) as the order N is smaller.
- Expression (1) when Expression (1) is satisfied, the generated SPP light can be efficiently extracted from the substrate 1 by the diffraction grating, and the light extraction efficiency can be improved.
- the second refractive index material region and the second refractive index material region are arranged periodically with a period equal to or less than the wavelength of light.
- the effect of the photonic crystal will be schematically described with reference to FIG.
- the light propagation method indicated by the arrows in FIG. 5 is schematically shown in order to easily understand the principle of the effect of the photonic crystal.
- the light traveling toward the cathode 4 is incident at the interface between the cathode 4 and the low refractive index layer 5 at a large incident angle greater than the critical angle (arrow A1)
- an evanescent wave (arrow A2) is generated in the low refractive index layer 5.
- the generated evanescent wave oozes out to the interface between the metal layer 6 and the low refractive index layer 5, and the surface plasmon polariton SPP (arrow A3) is excited.
- the excited SPP is radiated to the cathode 4 at a predetermined angle (arrow A5) through resonance with the evanescent wave (arrow A4), and can be extracted to the organic layer 3 as propagating light.
- the light extracted from the cathode side structure (cathode 4, low refractive index layer 5, metal layer 6) to point B propagates through the organic layer 3 and the anode 2 and enters the photonic crystal structure.
- a structure having a wavelength equal to or smaller than the wavelength of light exists in two dimensions, a photonic band gap acts in the two-dimensional direction, and light cannot propagate in the two-dimensional direction (light confinement effect in the two-dimensional direction).
- the periodic structure is formed in the refractive index modulation structure 8
- the propagation of light is restricted in the direction of the arrow CD2 parallel to the substrate.
- the photonic crystal structure is not formed in the direction perpendicular to the substrate, the propagation of light is not limited. By this mechanism, light travels in a direction perpendicular to the substrate. Since the direction of the arrow CD1 is perpendicular to the substrate, light can be extracted efficiently without being totally reflected even at the interface between the substrate and air.
- the refractive index modulation structure has a configuration in which the first refractive index material layer 8a shown in FIG. 3 is made of a high refractive index material and the second refractive index material region 8b is made of a low refractive index material,
- the refractive index material layer 8a may be made of a low refractive index material, and the second refractive index material region 8b may be made of a high refractive index material.
- the effect of refraction by this refractive index modulation structure is equal if the period (pitch) and size are equal.
- the effects of the diffraction grating and the photonic crystal are also the same.
- reference numeral 8Aa is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8A
- reference numeral 8Ab is a second refractive index material region.
- the second refractive index material regions 8Ab are discretely arranged on one surface of the anode 2.
- the first refractive index material layer 8Aa is composed of a sea-shaped portion disposed between the second refractive index material regions 8Ab that are discretely disposed and a continuous film portion composed of continuous layers.
- reference numeral 8 ⁇ / b> Aa may be a second refractive index material region
- reference numeral 8 ⁇ / b> Ab may be a first refractive index material layer.
- the second refractive index material region 8Aa is composed of island portions that are discretely arranged and a continuous film portion that is formed of continuous layers.
- Either the first refractive index material or the second refractive index material may be a high refractive index material or a low refractive index material.
- reference numeral 8Ba is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8B
- reference numeral 8Bb is a second refractive index material region.
- the second refractive index material region 8 ⁇ / b> Ab is configured to be discretely arranged on one surface of the anode 2, but in the example shown in FIG. 7, the second refractive index material region 8 ⁇ / b> Bb. Is a configuration arranged discretely on the substrate 1.
- the first refractive index material layer 8Ba is composed of a sea-like portion disposed between the second refractive index material regions 8Bb that are discretely disposed and a continuous film portion composed of continuous layers.
- reference numeral 8 ⁇ / b> Ba may be a second refractive index material region
- reference numeral 8 ⁇ / b> Bb may be a first refractive index material layer
- the second refractive index material region 8Ba is composed of an island-like portion in which the second refractive index material regions 8Ba are discretely arranged and a continuous film portion formed of continuous layers.
- the first refractive index material or the second refractive index material may be a high refractive index material or a low refractive index material.
- reference numeral 8Ca is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8C
- reference numeral 8Cb is a second refractive index material region.
- the second refractive index material region 8Ab is in contact with the anode 2
- the second refractive index material region 8Bb is in contact with the substrate 1
- the second refractive index material region 8 ⁇ / b> Cb is configured not to contact the anode 2 or the substrate 1.
- the first refractive index material layer 8Ca is composed of a sea-like portion disposed between the discretely disposed second refractive index material regions 8Cb and a continuous film portion composed of continuous layers.
- the reference numeral 8Ca may be the second refractive index material region
- the reference numeral 8Cb may be the first refractive index material layer.
- the second refractive index material region 8Ca includes an island-like portion in which the second refractive index material regions 8Ca are discretely arranged and a plurality of continuous film portions including continuous layers.
- the first refractive index material or the second refractive index material may be a high refractive index material or a low refractive index material.
- reference numeral 8Da is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8D
- reference numeral 8Db is a second refractive index material region
- the reference numeral 8Da may be the second refractive index material region constituting the refractive index modulation structure 8D
- the reference numeral 8Db may be the first refractive index material layer.
- the first refractive index material layer 8Da is composed of a sea-like portion disposed between the second refractive index material regions 8Db and a continuous film portion composed of continuous layers. .
- the second refractive index material region 8Db is composed of island portions that are discretely arranged and a continuous film portion that includes continuous layers.
- the reference numeral 8Db is the first refractive index material layer
- the first refractive index material layer 8Db is composed of a sea-like portion disposed between the second refractive index material regions 8Da and a continuous film portion composed of continuous layers. Is done.
- the second refractive index material region 8Da is composed of island portions that are discretely arranged and a continuous film portion that is composed of continuous layers.
- the first refractive index material or the second refractive index material may be either a high refractive index material or a low refractive index material.
- reference numeral 8Ea is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8E
- reference numeral 8Eb is a second refractive index material region.
- the second refractive index material region may have a T-shaped structure or an inverted T-shaped structure.
- the configuration may be such that the reference numeral 8Ea is the second refractive index material region and the reference numeral 8Eb is the first refractive index material layer.
- region may be sufficient.
- the first refractive index material or the second refractive index material may be a high refractive index material or a low refractive index material.
- the shape of the second refractive index material region is not particularly limited as long as it exhibits the refraction effect, diffraction effect, or photonic crystal effect of the present invention.
- the interface between the second refractive index material region and the first refractive index material layer is preferably configured so that the angle with respect to the substrate surface is 5 ° or more, and 60 ° or more. Is more preferable, and 75 ° or more is even more preferable.
- the propagating light re-radiated from the light emitting position toward the second electrode side and the propagating light re-radiated from the SPP mode light is incident on the interface from the outside and refracted to the substrate side, It can be efficiently taken out from the outer surface of the substrate.
- the interface between the second refractive index material region and the first refractive index material layer shown in FIGS. 1 to 10 is a flat surface, but may include a curved surface.
- reference numeral 8Fa is a first refractive index material layer constituting the refractive index modulation structure 8F
- reference numeral 8Fb is a second refractive index material region.
- the second refractive index material region has a rectangular cross section, but in the example shown in FIG. 11, the second refractive index material region has a circular cross section.
- Either the first refractive index material or the second refractive index material may be a high refractive index material or a low refractive index material.
- FIG. 12 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the second embodiment of the present invention.
- FIG. 13 is a perspective view of the organic EL element according to the second embodiment shown in FIG. In order to make the features of the invention easy to understand, the Otto type arrangement structure is shown separately.
- the organic EL element 20 shown in FIGS. 12 and 13 includes an anode (first electrode) 22, an organic layer 23 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 24 in this order on a substrate 21. It is an element.
- a low refractive index layer 25 having a thickness of 20 nm to 300 nm and a metal layer 26 are sequentially provided on the surface of the cathode 24 opposite to the organic layer 23 from the side in contact with the opposite surface.
- the cathode 24 is made of a translucent conductive material, and the refractive index of the low refractive index layer 25 is lower than the refractive index of the organic layer 23.
- a plurality of substrate recesses 21aa discretely formed on the surface layer 21a of the substrate 21 are provided with a refractive index modulation structure 28 filled with a material different from the refractive index of the substrate 21.
- the refractive index modulation structure 28 includes a substrate convex portion 21ab provided in the surface layer 21a of the substrate 21 and a refractive index modulation region 28a in which the discretely formed substrate concave portions 21aa are filled with a material different from the refractive index of the substrate 21. Is done.
- the refractive index modulation structure 28 of the present embodiment is the same as the refractive index modulation structure of the first embodiment in that it is formed of regions made of two types of materials having different refractive indexes.
- one (second refractive index material region) is the other region (second refractive index material region) out of regions made of two types of materials having different refractive indexes without using the substrate as a component.
- the refractive index modulation structure 28 of the present embodiment includes a substrate as a constituent element and the surface layer 21 a of the substrate 21.
- the substrate convex portion 21ab included in FIG. 1 corresponds to the first refractive index material layer
- the refractive index modulation region 28a corresponds to the second refractive index material region.
- the refractive index modulation regions 28a arranged discretely may be arranged periodically or arranged aperiodically.
- the plurality of refractive index modulation regions 28a that are discretely arranged may have the same shape or different shapes. Even in the case where the refractive index modulation structure 28 is arranged in a discrete manner by one region (refractive index modulation region 28a) discretely arranged as in the checker pattern, the other (substrate convex portion 21ab) is also discretely arranged. Good.
- One of the discretely arranged regions is composed of a plurality of island-like portions that are discretely arranged and a continuous film portion that is composed of continuous layers that are in contact with the plurality of island-like portions. It may be a structure.
- the period (pitch) p is the same as that described above with respect to a certain integer N (1 ⁇ N ⁇ 3). It is preferable to select so as to satisfy the formula (1). At this time, since the period p varies depending on the material of the metal layer 26 and the low refractive index layer 25, it is preferable to consider the selection of the material. In FIG. 12, the period p of the refractive index modulation region 28a is shown.
- the refractive index modulation regions 28a and the substrate protrusions 21ab are arranged by periodically arranging the refractive index modulation regions 28a that are discretely arranged with a period p less than or equal to the wavelength of light. May be configured to form a photonic crystal.
- any material having a refractive index different from that of the substrate 21 can be used.
- the same high refractive index material and low refractive index material that constitute the refractive index modulation structure of the first embodiment can be used.
- the thickness of the refractive index modulation structure 28 can also be the same as that of the refractive index modulation structure of the first embodiment.
- the mechanism by which the light extraction efficiency in the organic EL element of the present embodiment is improved is the same as in the first embodiment. That is, the light extraction efficiency is improved by the refraction effect, the action effect by the diffraction grating, and the action effect by the photonic crystal.
- the refraction effect is generated by the interface 29 between the substrate convex portion 21ab and the refractive index modulation region 28a.
- the effect of the diffraction grating is generated when the refractive index modulation region 28 is periodically arranged (period p) and the substrate convex portion 21ab and the refractive index modulation region 28a form a diffraction grating.
- the effect of the photonic crystal is that the refractive index modulation region 28 is periodically arranged with a period p less than or equal to the wavelength of light, so that the substrate convex portion 21ab and the refractive index modulation region 28a form a photonic crystal.
- FIG. 14 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element according to the third embodiment of the invention.
- FIG. 15 is a perspective view of the organic EL element according to the third embodiment shown in FIG. In order to make the features of the invention easy to understand, the Otto type arrangement structure is shown separately.
- the organic EL element 30 shown in FIGS. 14 and 15 includes an anode (first electrode) 32, an organic layer 33 including a light emitting layer, and a cathode (second electrode) 34 in this order on a substrate 31. It is an element.
- a surface of the cathode 34 opposite to the organic layer 33 is provided with a low refractive index layer 35 having a thickness of 20 nm or more and 300 nm or less and a metal layer 36 in order from the side in contact with the opposite surface.
- the cathode 34 is made of a translucent conductive material, and the refractive index of the low refractive index layer 35 is lower than the refractive index of the organic layer 33.
- the surface layer 31a of the substrate 31 includes a refractive index modulation structure 38 in which a material different from the refractive index of the substrate is formed so as to cover the side surfaces 31abA of the plurality of substrate convex portions 31ab formed discretely. .
- the refractive index modulation structure 38 is made of a material different from the refractive index of the substrate so as to cover the plurality of substrate protrusions 31ab discretely formed on the surface layer 31a of the substrate 31 and the side surface 31abA of the substrate protrusion 31ab.
- the refractive index modulation region 38a is formed.
- the refractive index modulation structure 38 of the present embodiment is similar to the refractive index modulation structure of the second embodiment in that the substrate is a constituent element.
- the substrate convex portion 21ab included in the surface layer 21a of the substrate 21 corresponds to the first refractive index material layer
- the refractive index modulation region 28a corresponds to the second refractive index material region.
- the refractive index modulation region 38a corresponds to the first refractive index material layer
- the substrate convex portion 31ab corresponds to the second refractive index material region. Is different.
- the substrate protrusions 31ab arranged discretely may be arranged periodically or arranged aperiodically.
- the plurality of substrate convex portions 31ab arranged discretely may all have the same shape or may include different shapes. Even in the case where the refractive index modulation structure 38 has a discrete arrangement, the other (refractive index modulation area 38a) is arranged discretely by one area (substrate convex portion 31ab) arranged discretely, like a checker pattern. Good.
- the other region is a continuous layer composed of a sea-like portion arranged between one region (substrate convex portion 31ab) arranged discretely and a continuous layer in contact with this sea-like portion.
- a structure composed of a film part may be used.
- the period (pitch) p is the above-described formula for a certain integer N (1 ⁇ N ⁇ 3). It is preferable to select so as to satisfy (1). At this time, since the period p varies depending on the material of the metal layer 36 and the low refractive index layer 35, it is preferable to consider the selection of the material. In FIG. 14, the period p of the board
- the substrate convex portions 31ab and the refractive index modulation region 38a are arranged in a photo by disposing the substrate convex portions 31ab arranged discretely periodically with a period p equal to or less than the wavelength of light. It is good also as a structure which makes a nick crystal.
- any material having a refractive index different from that of the substrate 31 can be used.
- the same high refractive index material and low refractive index material that constitute the refractive index modulation structure of the first embodiment can be used.
- the thickness of the refractive index modulation structure 38 can be the same as that of the refractive index modulation structure of the first embodiment.
- the mechanism by which the light extraction efficiency in the organic EL element of the present embodiment is improved is the same as in the first embodiment. That is, the light extraction efficiency is improved by the refraction effect, the action effect by the diffraction grating, and the action effect by the photonic crystal.
- the refraction effect is generated by the interface 39 between the substrate convex portion 31ab and the refractive index modulation region 38a.
- the effect of the diffraction grating is generated when the refractive index modulation region 38 is periodically arranged (period p) and the substrate convex portion 31ab and the refractive index modulation region 38a form a diffraction grating.
- the effect of the photonic crystal is that the refractive index modulation region 38 is periodically arranged with a period p less than or equal to the wavelength of light, so that the substrate convex portion 31ab and the refractive index modulation region 38a form a photonic crystal.
- FIG. 16 is a diagram illustrating an example of an image display device including the organic EL element.
- An image display device 100 shown in FIG. 16 is a so-called passive matrix type image display device.
- an anode wiring 104, an anode auxiliary wiring 106, a cathode wiring 108, an insulating film 110, and a cathode partition 112 are provided.
- a sealing plate 116 and a sealing material 118 are provided.
- a plurality of anode wirings 104 are formed on the substrate 1 of the organic EL element 10.
- the anode wirings 104 are arranged in parallel at a constant interval.
- the anode wiring 104 is made of a transparent conductive film, and for example, ITO (Indium Tin Oxide) can be used.
- the thickness of the anode wiring 104 can be set to 100 nm to 150 nm, for example.
- An anode auxiliary wiring 106 is formed on the end portion of each anode wiring 104, and the anode auxiliary wiring 106 is electrically connected to the anode wiring 104.
- the anode auxiliary wiring 106 functions as a terminal for connecting to the external wiring on the end side of the substrate 1, and the anode auxiliary wiring 106 is routed from a driving circuit (not shown) provided outside. Thus, current can be supplied to the anode wiring 104.
- the anode auxiliary wiring 106 is made of a metal film having a thickness of 500 nm to 600 nm, for example.
- a plurality of cathode wirings 108 are provided on the organic EL element 10.
- the plurality of cathode wirings 108 are arranged so as to be parallel to each other and orthogonal to the anode wiring 104.
- Al or an Al alloy can be used for the cathode wiring 108.
- the thickness of the cathode wiring 108 is, for example, 100 nm to 150 nm.
- a cathode auxiliary wiring (not shown) is provided at the end of the cathode wiring 108, similarly to the anode auxiliary wiring 106 for the anode wiring 104, and is electrically connected to the cathode wiring 108. This electrical connection allows a current to flow between the cathode wiring 108 and the cathode auxiliary wiring.
- An insulating film 110 is formed on the substrate 1 so as to cover the anode wiring 104.
- a rectangular opening 120 is provided in the insulating film 110 so as to expose a part of the anode wiring 104.
- the plurality of openings 120 are arranged in a matrix on the anode wiring 104.
- the organic EL element 10 is provided in the opening 120 between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108. That is, each opening 120 becomes a pixel. Accordingly, a display area is formed corresponding to the opening 120.
- the film thickness of the insulating film 110 can be, for example, 200 nm to 100 nm, and the size of the opening 120 can be, for example, 100 ⁇ m ⁇ 100 ⁇ m.
- the organic EL element 10 is located between the anode wiring 104 and the cathode wiring 108 in the opening 120. In this case, the anode 2 of the organic EL element 10 is in contact with the anode wiring 104 and the cathode 4 is in contact with the cathode wiring 108.
- the thickness of the organic EL element 10 can be set to, for example, 150 nm to 200 nm.
- a plurality of cathode partition walls 112 are formed on the insulating film 110 along a direction perpendicular to the anode wiring 104.
- the cathode partition 112 plays a role for spatially separating the plurality of cathode wirings 108 so that the wirings of the cathode wirings 108 do not conduct with each other. Accordingly, the cathode wiring 108 is disposed between the adjacent cathode partition walls 112.
- the size of the cathode partition 112 for example, the one having a height of 2 ⁇ m to 3 ⁇ m and a width of 10 ⁇ m can be used.
- the substrate 1 is bonded through a sealing plate 116 and a sealing material 118. Thereby, the space in which the organic EL element 10 is provided can be sealed, and the organic EL element 10 can be prevented from being deteriorated by moisture in the air.
- a sealing plate 116 for example, a glass substrate having a thickness of 0.7 mm to 1.1 mm can be used.
- a current can be supplied to the organic EL element 10 via the anode auxiliary wiring 106 and the cathode auxiliary wiring (not shown) by a driving device (not shown) to cause the light emitting layer to emit light. Then, light can be emitted through the substrate 1.
- An image can be displayed on the image display device 100 by controlling the light emission and non-light emission of the organic EL element 10 corresponding to the above-described pixel by the control device.
- FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a lighting device including the organic EL element 10 described above.
- the lighting device 200 shown in FIG. 17 includes the organic EL element 10 described above, and a terminal 202 that is installed adjacent to the substrate 1 (see FIG. 1) of the organic EL element 10 and connected to the anode 2 (see FIG. 1).
- the terminal 203 is connected to the cathode 4 (see FIG. 1), and the lighting circuit 201 is connected to the terminal 202 and the terminal 203 to drive the organic EL element 10.
- the lighting circuit 201 has a DC power supply (not shown) and a control circuit (not shown) inside, and supplies a current between the anode layer 2 and the cathode 4 of the organic EL element 10 through the terminal 202 and the terminal 203.
- the supplied current drives the organic EL element 10 to cause the light emitting layer to emit light.
- the emitted light is emitted to the outside through the substrate 1 and can be used as illumination light.
- the light emitting layer may be made of a light emitting material that emits white light, and each of the organic EL elements 10 using light emitting materials that emit green light (G), blue light (B), and red light (R). A plurality of them may be provided so that the combined light is white.
- a first refractive index material layer 8 a is formed on the substrate 1.
- the formation method of this 1st refractive index material layer 8a is not specifically limited.
- a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the hole 8h (see FIG. 18E) is formed.
- a forming method for example, a method using photolithography can be used. In order to do this, as shown in FIG. 18B, first, a positive resist solution is applied onto the first refractive index material layer 8a, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like, so that a resist layer is formed. R1 is formed.
- FIG. 18C when a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the hole 8h is drawn is put on and exposed with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), etc., it is shown in FIG. 18C.
- a predetermined pattern corresponding to the hole 8h is exposed to the resist layer R1 (exposed portion R1a).
- the resist layer R1a in the exposed pattern portion is removed using a developer. Thereby, the surface of the first refractive index material layer 8a is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 18D).
- the exposed portion of the first refractive index material layer 8a is removed by etching to form a hole 8h.
- etching either dry etching or wet etching can be used.
- the shape of the hole 8h can be controlled by combining isotropic etching and anisotropic etching.
- dry etching reactive ion etching (RIE) or inductively coupled plasma etching can be used.
- RIE reactive ion etching
- wet etching a method of immersing in dilute hydrochloric acid, dilute sulfuric acid, or hydrofluoric acid can be used.
- the first refractive index material layer 8a is penetrated, but it may be non-penetrated.
- the hole 8h is filled with the second refractive index material to form the second refractive index material region 8b.
- the refractive index modulation structure 8 including the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b is formed.
- the formation of the second refractive index material region 8b is not particularly limited as in the method of forming the first refractive index material layer 8a.
- the resistance heating vapor deposition method, the electron beam vapor deposition method, the sputtering method, the ion plating method In addition to various dry processes such as a CVD method, various wet processes such as a coating method can be used.
- various wet processes such as a coating method can be used.
- the hole 8h is filled.
- the structure shown in FIG. 10 can also be formed by performing these steps of FIG. 18B to FIG. 18F a plurality of times.
- the anode 2 is formed on the first refractive index material layer 8a and the second refractive index material region 8b.
- the formation method of this anode 2 is not specifically limited.
- a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the surface treatment includes high-frequency plasma treatment, sputtering treatment, corona treatment, UV ozone irradiation treatment, ultraviolet irradiation treatment, oxygen plasma treatment, and the like.
- anode buffer layer (not shown) instead of or in addition to the surface treatment of the surface treatment of the anode 2.
- anode buffer layer is produced by applying a wet process, spin coating method, casting method, micro gravure coating method, gravure coating method, bar coating method, roll coating method, wire bar coating method, dip coating method.
- the film can be formed by using a coating method such as a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, and an inkjet printing method.
- the anode buffer layer When the anode buffer layer is produced by a dry process, the anode buffer layer can be formed by using a plasma treatment or the like exemplified in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-303412.
- a method of forming a film of a single metal, a metal oxide, a metal nitride, or the like can be given.
- Specific film forming methods include an electron beam evaporation method, a sputtering method, a chemical reaction method, a coating method, and a vacuum evaporation method. The method etc. can be used.
- an organic layer 3 including a light emitting layer made of an organic EL material is formed on the anode 2.
- a polishing process, an etching process, or the like for flattening may be appropriately performed.
- a conventionally known method can be used to form the organic layer 3 and is not particularly limited. For example, a method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, or an LB method can be used.
- the cathode 4 is formed on the organic layer 3.
- the method for forming the cathode 4 can be the same as the method for forming the anode 2 and is not particularly limited.
- a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the low refractive index layer 5 is formed on the cathode 4.
- the method for forming the low refractive index layer 5 is not particularly limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the low-refractive index layer 5 is a low-refractive index layer including an air layer, for example, after the SOG layer is formed, the SOG material is left at a predetermined position in the SOG layer using photolithography.
- the low refractive index layer is formed by etching away the SOG layer so that the portion where the SOG layer is removed becomes an air layer.
- a metal layer 6 is formed on the low refractive index layer 5 as shown in FIG.
- the method for forming the metal layer 6 is not particularly limited. For example, vapor deposition or sputtering can be used.
- the organic EL element 10 can be manufactured by the above process. After these series of steps, it is preferable to use the organic EL element 10 stably for a long period of time and to attach a protective layer and a protective cover (not shown) for protecting the organic EL element 10 from the outside.
- a protective layer polymer compounds, metal oxides, metal fluorides, metal borides, silicon compounds such as silicon nitride and silicon oxide, and the like can be used. And these laminated bodies can also be used.
- As the protective cover a glass plate, a plastic plate whose surface is subjected to low water permeability treatment, a metal, or the like can be used.
- the protective cover is preferably bonded to the substrate 1 with a thermosetting resin or a photocurable resin and sealed.
- a spacer because a predetermined space can be maintained and the organic EL element 10 can be prevented from being damaged. If an inert gas such as nitrogen, argon or helium is sealed in this space, it becomes easy to prevent the upper metal layer 6 from being oxidized. In particular, when helium is used, heat conduction is high, and thus heat generated from the organic EL element 10 when voltage is applied can be effectively transmitted to the protective cover, which is preferable. Further, by installing a desiccant such as barium oxide in this space, it becomes easy to suppress the moisture adsorbed in the series of manufacturing steps from damaging the organic EL element 10.
- an inert gas such as nitrogen, argon or helium
- FIG. 19A In order to form the substrate recess 21aa (FIG. 19E) on the substrate 21, for example, a method using photolithography can be used. In order to do this, as shown in FIG. 19A, first, a positive resist solution is applied onto the substrate 21, and the excess resist solution is removed by spin coating or the like to form a resist layer R2.
- the resist layer R2 Covering the formed resist layer R2 with a mask (not shown) on which a predetermined pattern for forming the substrate recess 21aa is drawn, and performing exposure with ultraviolet rays (UV), electron beams (EB), etc., As shown in FIG. 19B, the resist layer R2 is exposed with a predetermined pattern corresponding to the substrate recess 21aa (exposed portion R2a). Then, the resist layer R2a in the exposed pattern portion is removed using a developer. Thus, the surface of the substrate 1 is exposed corresponding to the exposed pattern portion (FIG. 19C).
- UV ultraviolet rays
- EB electron beams
- the exposed portion of the substrate 1 is removed by etching to form a substrate recess 21aa.
- etching either dry etching or wet etching can be used.
- the shape of the substrate recess 21aa can be controlled by combining isotropic etching and anisotropic etching.
- dry etching reactive ion etching (RIE) or inductively coupled plasma etching can be used.
- wet etching a method of immersing in dilute hydrochloric acid or dilute sulfuric acid can be used.
- the substrate recess 21aa is filled with a refractive index modulation material to form a refractive index modulation region 28a.
- the refractive index modulation structure 28 is formed on the surface layer 21 a of the substrate 21.
- the method for forming the refractive index modulation region 28a is not particularly limited. For example, in addition to various dry processes such as resistance heating vapor deposition, electron beam vapor deposition, sputtering, ion plating, and CVD, various wet processes such as coating can be used.
- the anode 22 is formed on the substrate convex portion 21ab and the refractive index modulation region 28a.
- the formation method of this anode 22 is not specifically limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the surface treatment includes high-frequency plasma treatment, sputtering treatment, corona treatment, UV ozone irradiation treatment, ultraviolet irradiation treatment, oxygen plasma treatment, and the like.
- anode buffer layer (not shown) instead of or in addition to the surface treatment of the surface treatment of the anode 22.
- the anode buffer layer is produced by applying a wet process, spin coating method, casting method, micro gravure coating method, gravure coating method, bar coating method, roll coating method, wire bar coating method, dip coating method.
- the film can be formed by using a coating method such as a spray coating method, a screen printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, and an inkjet printing method.
- the anode buffer layer When the anode buffer layer is produced by a dry process, the anode buffer layer can be formed by using a plasma treatment or the like exemplified in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-303412.
- a method of forming a film of a single metal, a metal oxide, a metal nitride, or the like can be given.
- Specific film forming methods include an electron beam evaporation method, a sputtering method, a chemical reaction method, a coating method, and a vacuum evaporation method. The method etc. can be used.
- an organic layer 23 including a light emitting layer made of an organic EL material is formed on the anode 22.
- polishing or etching for flattening may be appropriately performed.
- a conventionally known method can be used to form the organic layer 23 and is not limited. For example, methods such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, and an LB method can be used.
- the cathode 24 is formed on the organic layer 23.
- the cathode 24 can be formed by the same method as the anode 22 and is not limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- a low refractive index layer 25 is formed on the cathode 24.
- the method for forming the low refractive index layer 25 is not particularly limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, a CVD method, or the like can be used.
- the low-refractive index layer 25 is a low-refractive index layer including an air layer, for example, after the SOG layer is formed, the SOG material is left at a predetermined position using photolithography in the SOG layer.
- the low refractive index layer is formed by etching away the SOG layer so that the portion where the SOG layer is removed becomes an air layer.
- a metal layer 26 is formed on the low refractive index layer 25 as shown in FIG.
- the formation method of the metal layer 26 is not specifically limited, For example, a vapor deposition method and sputtering can be used.
- the organic EL element 30 of the third embodiment can be formed by changing the shape of the mask used for the exposure in FIG. 19B or by using a negative resist as the resist to be used.
- the organic EL element 20 can be manufactured by the above process. After these series of steps, like the organic EL element 10, the organic EL element 20 is stably used for a long period of time, and a protective layer and a protective cover (not shown) for protecting the organic EL element 20 from the outside are mounted.
- a protective layer polymer compounds, metal oxides, metal fluorides, metal borides, silicon compounds such as silicon nitride and silicon oxide, and the like can be used. And these laminated bodies can also be used.
- As the protective cover a glass plate, a plastic plate whose surface is subjected to low water permeability treatment, a metal, or the like can be used.
- the protective cover is preferably bonded to the substrate 21 with a thermosetting resin or a photocurable resin and sealed.
- a spacer because a predetermined space can be maintained and the organic EL element 20 can be prevented from being damaged. If an inert gas such as nitrogen, argon, or helium is sealed in this space, it is easy to prevent the upper metal layer 26 from being oxidized. In particular, when helium is used, heat conduction is high, and thus heat generated from the organic EL element 20 when voltage is applied can be effectively transmitted to the protective cover, which is preferable.
- a desiccant such as barium oxide in this space, it is easy to suppress the moisture adsorbed in the series of manufacturing steps from damaging the organic EL element 20.
- FIG. 20 shows the result of energy dissipation calculation in which the intensity of light emitted from the organic layer is developed with the wave number component in the organic EL element surface direction.
- the horizontal axis represents the wave number of the light emitted from the organic layer, the organic EL element surface direction component divided by the vacuum wave number k 0 , that is, the effective refractive index, and the vertical axis represents the light intensity of the wave number, that is, the development.
- the coefficient is shown.
- the calculation was performed separately for the TM polarization component and the TE polarization component. This calculation shows the result of an organic EL element in which a flat anode, an organic layer, and a cathode (metal) are laminated on a substrate (glass).
- the peak area on the highest wavenumber side of TM polarized light represents the intensity of the SPP mode light, but it can be seen that most of the light emitted from the organic layer is captured as the SPP mode light.
- the film thicknesses of the anode and the organic layer are 150 nm and 100 nm, respectively.
- FIG. 21 shows the dependence of the intensity of the light (TM polarization component) emitted from the organic layer on the energy dissipation calculation in the Otto type organic EL element, depending on the film thickness of the low refractive index layer.
- the Otto type organic EL device has the same structure as the device of FIG. 20 in the substrate, the anode, and the organic layer, but a cathode (50 nm) made of ITO, which is a transparent conductive material, is formed on the organic layer. Further, a low refractive index layer and a metal layer are sequentially formed.
- the refractive index of the low refractive index layer is 1.38
- FIG. 21A shows a case where the metal layer is Al
- FIG. 21B shows the case where the metal layer is Ag.
- the film thickness (nm) is shown.
- the peak change will be described below with reference to FIGS. 22 (a), (b), and (c).
- the light is completely trapped on the surface of the metal layer as SPP mode light. This represents the time when the film thickness of the low refractive index layer is 0 nm, and the SPP mode light attenuates rapidly while propagating in the in-plane direction through the interface between the metal layer and the cathode, and thus the peak width is large. .
- the film thickness of the low refractive index layer increases, it becomes as shown in FIG. 22B, and the SPP mode light and the waveguide mode light are mixed due to the Otto type arrangement.
- the extracted SPP mode light becomes guided mode light, and is again captured as SPP mode light by the metal layer by interface reflection.
- the peak width is gradually narrowed.
- the film thickness of the low refractive index layer becomes sufficiently large, it becomes as shown in FIG.
- the Otto type arrangement is used, the evanescent wave at the light emitting point does not reach the metal layer and is not captured as SPP mode light.
- the emitted light is captured as guided mode light. That is, when the thickness of the low refractive index layer exceeds a certain thickness, the trapped light is only guided mode light, so that the ease of attenuation does not change and the peak width also does not change.
- the wave number k SPP of the surface plasmon polariton (SPP) generated on the surface of the metal layer can be expressed by the following formula (13).
- ⁇ 1 is the dielectric constant of the metal layer
- ⁇ 2 is the dielectric constant of the low refractive index layer
- k 0 is the wave number of light in vacuum at the peak wavelength of light emitted from the light emitting layer.
- the real part can be expressed by the following equation (14).
- the vertical component of the wave number in the low refractive index layer of surface plasmon polariton (SPP) generated on the surface of the metal layer can be expressed by the following formula (15).
- FIG. 24A is a graph showing the equation (16) when the metal layer is Al and (b) is the metal layer Ag.
- the strength of the surface plasmon polariton (SPP) generated on the surface of the metal layer in the equation (16) at the low refractive index layer / cathode interface is:
- the intensity on the surface of the metal layer is normalized as 1
- the peak of the thickness of the low refractive index layer where the intensity of the surface plasmon polariton (SPP) at the position propagated in the thickness direction of the low refractive index layer is 0.4 or less. It can be seen that the width is saturated to a certain value.
- the SPP mode light is extracted into the organic layer by the Otto arrangement.
- a certain value for example, 0.4
- the refractive index of the low refractive index layer and the material of the cathode are not limited.
- the FDTD method is an analysis method for tracking the time change of the electromagnetic field at each point in space by differentiating Maxwell's equation describing the time change of the electromagnetic field spatially and temporally. More specifically, it is a technique in which the light emission in the light emitting layer is regarded as radiation from a minute dipole and the time variation of the radiation (electromagnetic field) is tracked. The simulation result shows the result of light extraction to the substrate.
- ⁇ on the horizontal axis is the wavelength in vacuum
- ⁇ on the vertical axis is the light extraction efficiency (ratio of the light intensity extracted from the substrate to the total radiation intensity from the dipole).
- the calculation was performed with a dipole as a light emission source being random (dipole moments are random in the x, y, and z directions).
- the x and y directions are directions parallel to the substrate surface
- the z direction is a direction perpendicular to the substrate surface.
- the graph of the calculation result of the light extraction efficiency shown below is the calculation result for this random dipole.
- FIG. 25 shows the result of calculating the dependence of the period in which the opening is arranged on the light extraction efficiency by computer simulation using the FDTD method in order to confirm the effect of the organic EL element of the present invention.
- the light extraction efficiency obtained by the simulation is the light extraction efficiency when the light is extracted up to the substrate (the relative value of the light intensity extracted up to the substrate with respect to the total emission intensity) (the same applies to the following simulation results).
- ⁇ on the horizontal axis represents the wavelength of the emitted light
- ⁇ on the vertical axis represents the light extraction efficiency.
- FIG. 26 is a cross-sectional view showing a model structure of the bottom emission type organic EL element 10 of the first embodiment used in the simulation.
- the refractive index values used for the calculation are as follows.
- the substrate 1 is made of glass, and a refractive index of 1.52 is used.
- the first refractive index material layer 8a is made of zinc oxide and has a refractive index of 2.00.
- the refractive index material region 8b is made of SOG, and its refractive index is 1.25.
- zinc oxide corresponds to a high refractive index material and SOG corresponds to a low refractive index material.
- the refractive index is 1.82 + 0.009i at 550 nm, and other wavelengths are extrapolated by the Lorentz model.
- the average refractive index of the organic layer 3 was 1.72.
- the cathode (second electrode) 4 is made of amorphous ITO (a-ITO), the refractive index is 2.08 + 0.013i at 550 nm, and the other wavelengths are extrapolated by the Lorentz model.
- the low refractive index layer 5 is made of SOG and has a refractive index of 1.25.
- the refractive index is 0.649 + 4.32i at 550 nm, and other wavelengths are extrapolated by the Drude model.
- the layer thicknesses of the anode 2, the organic layer 3, the cathode 4, the low refractive index layer 5, the metal layer 6, and the refractive index modulation structure 8 were 150 nm, 100 nm, 50 nm, 50 nm, 100 nm, and 200 nm, respectively.
- the period (pitch) p between the second refractive index material regions 8b was 200 nm, 300 nm, 500 nm, 900 nm, 2000 nm, 4000 nm, and 8000 nm.
- the size s of the second refractive index material region 8b (or the size s of the hole 8h) was set to 1 ⁇ 2 of the period p.
- the computer simulation calculation was performed assuming that light emission (star mark in FIG. 26) was emitted at a position of 52.5 nm from the cathode 4 on the central axis of the first refractive index material layer 8a made of a high refractive index material.
- a structure having a cathode-side structure with an Otto-type arrangement does not have a first electrode-side structure that extracts propagating light extracted into the organic layer without using it as guided mode light (hereinafter, “ Otto-type arrangement only ”) and no second electrode-side structure of Otto-type arrangement, and no first electrode-side structure for extracting propagating light out of the waveguide mode light.
- Otto-type arrangement only a structure having a cathode-side structure with an Otto-type arrangement, but does not have a first electrode-side structure that extracts propagating light extracted into the organic layer without using it as guided mode light
- standard structure hereinafter sometimes referred to as “standard structure”.
- the standard structure means a structure formed on a substrate in the order of an anode layer, an organic layer, and a cathode metal layer.
- the standard structure was such that the substrate was made of glass, the anode was made of ITO, the organic layer was sandwiched, and the cathode was made of Al.
- Refractive indexes of 1.52, 1.82 + 0.009i, 1.72, and 0.649 + 4.32i were used, respectively, and the anode, organic layer, and cathode layer thicknesses were 150 nm, 100 nm, and 100 nm, respectively. did.
- the light extraction efficiency was lower than that of the cathode side structure having only the Otto type arrangement at almost all wavelengths of 450 nm to 750 nm. This is because the total area of the interface between the first refractive material layer and the second refractive material region perpendicular to the substrate surface decreases as the period p increases, and the propagating light in the organic layer decreases with respect to the substrate surface. This is because it is difficult to be refracted in a direction close to vertical.
- the period p is preferably 200 nm to 2000 nm, more preferably 300 nm to 900 nm, and even more preferably 500 nm to 900 nm under the above conditions.
- FIG. 27 shows that when the second refractive index material region is periodically arranged in one direction in the organic EL element of the first embodiment, the period p of the second refractive index material region is (a) 200 nm, and (b) 300 nm. , (C) 500 nm, (d) 900 nm, (e) 2000 nm, and (f) 4000 nm, showing the results obtained by computer simulation of the intensity distribution of the electric field of the emitted light from the horizontal dipole It is.
- the wavelength of the emitted light was 620 nm.
- the intensity distribution is shown with the substrate on the top and the metal layer on the bottom.
- the computer simulation of FIG. 27 is also a result of the model structure obtained by performing the computer simulation of FIG.
- the period p of the second refractive index material region is (a) 200 nm, (b) 300 nm, (c) 500 nm, (d) 900 nm, (e) 2000 nm, and (f) in the same case as FIG.
- the result obtained by computer simulation about the intensity distribution of the magnetic field of the radiated light from the vertical dipole in each case of 4000 nm is shown.
- the wavelength of the emitted light was 620 nm.
- the intensity distribution is shown with the substrate on the top and the metal layer on the bottom.
- the computer simulation of FIG. 28 is also a result of the model structure obtained by performing the computer simulation of FIG.
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Abstract
本発明の有機EL素子(10)は、陽極(第1電極)(2)と、発光層を含む有機層(3)と、陰極(第2電極)(4)とを順に具備する有機EL素子であって、陰極(4)の、有機層(3)の反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層(5)と、金属層(6)とを順に具備し、陰極(4)は、透光性導電材料からなり、低屈折率層(5)の屈折率は有機層(3)の屈折率よりも低く、陽極(2)の有機層(3)と反対側の面には、第1屈折率材料層(8a)を有し、第1屈折率材料層(8a)の面内方向には、離散的に配置する複数の第2屈折率材料領域(8b)を有する屈折率変調構造(8)を備えている。
Description
本発明は、有機EL素子、画像表示装置及び照明装置に関するものである。本願は、2013年7月31日に、日本に出願された特願2013-159700に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子は、広視野角、高速応答、鮮明な自発光表示等の特徴を有する。このような特徴を有する有機EL素子は、薄型軽量で低消費電力であること等の理由から、次世代の照明装置や画像表示装置等の柱として期待されている。
有機EL素子は、有機発光層で発生した光が、素子外部へ取り出される際の向きに応じて、支持基板側から光が取り出されるボトムエミッション型と、支持基板の反対側から光が取り出されるトップエミッション型とに分けられる。
有機EL素子は、有機発光層で発生した光が、素子外部へ取り出される際の向きに応じて、支持基板側から光が取り出されるボトムエミッション型と、支持基板の反対側から光が取り出されるトップエミッション型とに分けられる。
例えば、透明基板上に、透明電極、発光層を含む有機層、金属電極を順に備えるボトムエミッション型の有機EL素子を考える。このような有機EL素子において、発光層で発光した光のうち、透明基板(例えば、ガラス(代表的な屈折率:1.52))と空気(屈折率:1.0)との界面に臨界角以下の小さい入射角(入射光線と入射する界面の法線がなす角度)で入射した光は、その界面で屈折して素子の外部に取り出される。以下、これらの光を外部モード(External Mode)光という。
これに対して、発光層で発光した光のうち、透明基板と空気との界面に臨界角より大きい入射角で入射した光は、その界面で全反射されるため素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。以下、この光を基板モード(Substrate Mode)光といい、これによる損失を基板損失という。
発光層で発光した光のうち、基板と陰極との間の種々の界面に臨界角より大きい入射角で入射した光も、これらの界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収される。以下、この光を導波モード(Waveguide Mode)光といい、これによる損失を導波損失という。種々の界面は、透明導電性酸化物からなる陽極(例えば、酸化インジウム錫(ITO(代表的な屈折率:1.82))と透明基板(例えば、ガラス(代表的な屈折率:1.52))との界面や、陽極と陰極間に配置される高屈折率層と低屈折率層との界面等が挙げられる。
さらに、発光層で発光した光のうち、金属陰極に入射して金属陰極の自由電子と結合し、表面プラズモンポラリトン(SPP;Surface Plasmon Polariton)として金属電極の表面に捕捉された光も素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。以下、この光をSPPモード光といい、これによる損失をプラズモン損失という。
これに対して、発光層で発光した光のうち、透明基板と空気との界面に臨界角より大きい入射角で入射した光は、その界面で全反射されるため素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。以下、この光を基板モード(Substrate Mode)光といい、これによる損失を基板損失という。
発光層で発光した光のうち、基板と陰極との間の種々の界面に臨界角より大きい入射角で入射した光も、これらの界面で全反射されて素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収される。以下、この光を導波モード(Waveguide Mode)光といい、これによる損失を導波損失という。種々の界面は、透明導電性酸化物からなる陽極(例えば、酸化インジウム錫(ITO(代表的な屈折率:1.82))と透明基板(例えば、ガラス(代表的な屈折率:1.52))との界面や、陽極と陰極間に配置される高屈折率層と低屈折率層との界面等が挙げられる。
さらに、発光層で発光した光のうち、金属陰極に入射して金属陰極の自由電子と結合し、表面プラズモンポラリトン(SPP;Surface Plasmon Polariton)として金属電極の表面に捕捉された光も素子の外部に取り出されず、最終的に材料に吸収されうる。以下、この光をSPPモード光といい、これによる損失をプラズモン損失という。
有機EL素子の光取り出し効率(発光層で発光した光に対して素子の外部に取り出される光の割合)は、一般に20%程度に留まっている(例えば、特許文献1)。すなわち、発光層で発光した光のうち、約80%が損失となっており、これらの損失を低減して光の取り出し効率を向上させることが重要な課題となっている。
基板モード光の取り出しについては、透明基板上に光拡散シートなどを設けることで対処できる(例えば、特許文献2)。これに対し、導波モード光及びSPPモード光を低減し、取り出し効率を向上させる方法、特に、SPPモード光を低減し、取り出し効率を向上させる方法については研究が緒に就いたばかりといえる。
基板モード光の取り出しについては、透明基板上に光拡散シートなどを設けることで対処できる(例えば、特許文献2)。これに対し、導波モード光及びSPPモード光を低減し、取り出し効率を向上させる方法、特に、SPPモード光を低減し、取り出し効率を向上させる方法については研究が緒に就いたばかりといえる。
導波モード光は、光が高屈折率材料から低屈折率材料に入射する際に全反射が起きることにより生じる。そのため、導波モード光を低減するためには、全反射を起きにくくする、あるいは、全反射を生じる光の割合を低減させる方策が知られている。
特許文献3には、有機発光層の近傍に有機発光層や透明電極よりも屈折率の高い高屈折率層を挿入する構成が開示されている。特許文献2には、有機発光層及び透明電極に有機発光層及び透明電極よりも低屈折率の微粒子を分散させることで、等価的に有機発光層及び透明電極の屈折率を下げる構成が開示されている。
特許文献3には、有機発光層の近傍に有機発光層や透明電極よりも屈折率の高い高屈折率層を挿入する構成が開示されている。特許文献2には、有機発光層及び透明電極に有機発光層及び透明電極よりも低屈折率の微粒子を分散させることで、等価的に有機発光層及び透明電極の屈折率を下げる構成が開示されている。
特許文献4及び特許文献5には、基板上に順に形成された透明電極層及び誘電体層にキャビティを有する構成が開示されている。
このキャビティの側面(基板に対して垂直に延びる界面)に入射する光は、この界面において基板側に屈折する。基板側に屈折した光の多くは、臨界角より小さい角度で透明電極と基板の界面、及び基板と空気の界面に入射するため、これらの界面で全反射を生じる光の割合を低減することができる。
このキャビティの側面(基板に対して垂直に延びる界面)に入射する光は、この界面において基板側に屈折する。基板側に屈折した光の多くは、臨界角より小さい角度で透明電極と基板の界面、及び基板と空気の界面に入射するため、これらの界面で全反射を生じる光の割合を低減することができる。
一方、光の取り出し効率を向上させる方法として、透明基板と電極との界面などに回折格子を形成する方法が提案されている(例えば、特許文献6)。
A. Otto, Z. Physik 216, 398 (1968)
しかしながら、SPPモード光を伝播光として取り出しても、その光が導波モード光となって素子の外部に取り出すことができなければ、光取り出し効率を向上させることができない。
本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、SPPモード光及び導波モード光を効果的に取り出して、光取り出し効率が向上した有機EL素子、画像表示装置及び照明装置を提供することを目的とする。
本発明者らは、まず、SPPモード光を伝播光として取り出し、その次に、その伝播光を導波モード光とせずに素子の外部に取り出すという2ステップの光取り出し機構を想定して多数の構造の中から、光取り出し効率を向上させる有効な構造を鋭意検討した。
光取り出し効率を直接計測することは困難であるため、主にシミュレーションに基づいて検討を行った。
光取り出し効率を直接計測することは困難であるため、主にシミュレーションに基づいて検討を行った。
本発明の有機EL素子は、発光層を含む有機層を第1電極と第2電極が挟持してなる構造のものである。ここで、上記の2ステップの光取り出し機構は、SPPモード光を生成し、生成されたSPPモード光を伝播光として取り出すOtto型配置(非特許文献1)の第2電極側構造と、その伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造とからなる。
本発明者らは、シミュレーションにより、Otto型配置の第2電極側構造と、導波モード光を基板側(トップエミッション型では基板の反対側)に屈折又は指向させる、基板に対して垂直又は垂直に近い界面を備えた第1電極側構造とを組み合わせることにより、かかる第2電極側構造及び第1電極側構造の単独の光取り出し効率の向上効果からは予測できないほどの顕著な効果を得ることができることを見い出し、本発明を完成させた。
上記課題を解決するため、概要を説明した本発明は以下の構成を採用する。
(1)第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極の前記有機層と反対側の面には、第1屈折率材料層を有し、前記第1屈折率材料層の面内方向には、離散的に配置された複数の第2屈折率材料領域を有する屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(2)基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凹部が、基板の屈折率と異なる材料で充填されてなる屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(3)基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凸部を有し、その側面を被覆するように基板の屈折率と異なる材料が形成されてなる屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(4)前記低屈折率層の屈折率は、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする(1)~(3)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(5)前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする(4)に記載の有機EL素子。
(6)前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする(1)~(5)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(7)前記第2屈折率材料領域、前記基板凹部又は前記基板凸部が、素子面内の少なくとも一方向に配列される周期が、500nm~2000nmであることを特徴とする(1)~(6)のいずれかに一項に記載の有機EL素子。
(8)前記金属層の誘電率の実部ε1、前記低屈折率層の誘電率ε2、及び、前記第2屈折率材料領域、前記基板凹部又は前記基板凸部が、素子面内の少なくとも一方向に配列される周期pが、ある整数N(1≦N≦3)に対して以下の式を満たすように選択されていることを特徴とする(1)~(6)のいずれか一項に記載の有機EL素子;
ここで、λは前記発光層のフォトルミネッセンス・スペクトルのピーク波長である。
(9)前記周期が、200nm~2000nmであることを特徴とする(8)に記載の有機EL素子。
(10)(1)~(9)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする画像表示装置。
(11)(1)~(9)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする照明装置。
(1)第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記第1電極の前記有機層と反対側の面には、第1屈折率材料層を有し、前記第1屈折率材料層の面内方向には、離散的に配置された複数の第2屈折率材料領域を有する屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(2)基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凹部が、基板の屈折率と異なる材料で充填されてなる屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(3)基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、前記第2電極は、透光性導電材料からなり、前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凸部を有し、その側面を被覆するように基板の屈折率と異なる材料が形成されてなる屈折率変調構造を備えることを特徴とする有機EL素子。
(4)前記低屈折率層の屈折率は、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする(1)~(3)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(5)前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする(4)に記載の有機EL素子。
(6)前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする(1)~(5)のいずれか一項に記載の有機EL素子。
(7)前記第2屈折率材料領域、前記基板凹部又は前記基板凸部が、素子面内の少なくとも一方向に配列される周期が、500nm~2000nmであることを特徴とする(1)~(6)のいずれかに一項に記載の有機EL素子。
(8)前記金属層の誘電率の実部ε1、前記低屈折率層の誘電率ε2、及び、前記第2屈折率材料領域、前記基板凹部又は前記基板凸部が、素子面内の少なくとも一方向に配列される周期pが、ある整数N(1≦N≦3)に対して以下の式を満たすように選択されていることを特徴とする(1)~(6)のいずれか一項に記載の有機EL素子;
(9)前記周期が、200nm~2000nmであることを特徴とする(8)に記載の有機EL素子。
(10)(1)~(9)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする画像表示装置。
(11)(1)~(9)のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする照明装置。
本発明によれば、SPPモード光及び導波モード光を効果的に取り出し、光取り出し効率が向上した有機EL素子、画像表示装置及び照明装置を提供できる。
以下、本発明を適用した有機EL素子、画像表示装置及び照明装置について、図面を用いてその構成を説明する。以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などは実際と同じであるとは限らない。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。一の実施形態で説明した内容は他の実施形態では説明を省略する場合がある。
本発明の有機EL素子は、いわゆるトップエミッション型、ボトムエミッション型のいずれを適用してもよい。
本発明において、第1電極及び第2電極は、一方が陽極で他方が陰極であるが、以下では、第1電極を陽極、第2電極を陰極とする構成を例に挙げて説明する。
本発明の有機EL素子は本発明の効果を損ねない範囲で以下に記載していない層を備えてもよい。
本発明の有機EL素子は、いわゆるトップエミッション型、ボトムエミッション型のいずれを適用してもよい。
本発明において、第1電極及び第2電極は、一方が陽極で他方が陰極であるが、以下では、第1電極を陽極、第2電極を陰極とする構成を例に挙げて説明する。
本発明の有機EL素子は本発明の効果を損ねない範囲で以下に記載していない層を備えてもよい。
(有機EL素子(第1実施形態))
図1は、本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図2は、図1に示す第1実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図1に示す有機EL素子10は、陽極(第1電極)2と、発光層を含む有機層3と、陰極(第2電極)4とを順に具備する。陰極4の有機層3と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層5と、金属層6とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極4は、透光性導電材料からなり、低屈折率層5の屈折率は、有機層3の屈折率よりも低い。基板1と陽極2との間には、第1屈折率材料層8aを有し、第1屈折率材料層8aの面内方向には、離散的に配置される複数の第2屈折率材料領域8bを有する屈折率変調構造8を備える。
図1において実線で示す構成は、ボトムエミッション型のものである。図1おいて符号1’は、本発明の構成をわかりやすく説明するためにトップエミッション型の場合の基板1の配置を併せて示したものである。他の実施形態についても、トップエミッション型の場合の基板の配置は同様である。
上記のように陰極側の構造について屈折率の比較を行う場合には、有機層の屈折率とは、有機EL材料からなる発光層を含む全ての層の平均の屈折率をいう。
図1は、本発明の第1実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図2は、図1に示す第1実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図1に示す有機EL素子10は、陽極(第1電極)2と、発光層を含む有機層3と、陰極(第2電極)4とを順に具備する。陰極4の有機層3と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層5と、金属層6とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極4は、透光性導電材料からなり、低屈折率層5の屈折率は、有機層3の屈折率よりも低い。基板1と陽極2との間には、第1屈折率材料層8aを有し、第1屈折率材料層8aの面内方向には、離散的に配置される複数の第2屈折率材料領域8bを有する屈折率変調構造8を備える。
図1において実線で示す構成は、ボトムエミッション型のものである。図1おいて符号1’は、本発明の構成をわかりやすく説明するためにトップエミッション型の場合の基板1の配置を併せて示したものである。他の実施形態についても、トップエミッション型の場合の基板の配置は同様である。
上記のように陰極側の構造について屈折率の比較を行う場合には、有機層の屈折率とは、有機EL材料からなる発光層を含む全ての層の平均の屈折率をいう。
本発明の有機EL素子において、陰極側の金属層/低屈折率層/陰極/有機層の積層構造が共通する。この金属層/低屈折率層/陰極/有機層の積層構造において、低屈折率層、陰極、有機層の屈折率をそれぞれnL、nC、nOとすると、低屈折率層の屈折率が有機層の屈折率よりも低い構成としては、nL<nO<nCの場合(以下「Bパターン」という)、nL<nC<nOの場合(以下「Cパターン」という)と、nC<nL<nOの場合(以下「Dパターン」という)の3通りがある。Otto型配置では、金属/低屈折率媒質/高屈折率媒質の順で層を配置する必要がある。Bパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置になっている。Cパターンの場合は、金属層/低屈折率層/陰極の構成がOtto型配置である他、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成もOtto型配置になっている。Dパターンの場合は、金属層/低屈折率層+陰極/有機層の構成がOtto型配置になっている。
B~Dパターンで最も好ましいのは、Cパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成がOtto型配置になっていると共に、金属層/低屈折率層+陰極(透明導電層)/有機層の構成でもOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が最も生じやすい。さらに、低屈折率層、陰極(透明導電層)、有機層の順に屈折率が高くなるため各界面で全反射が生じず、再放射されたSPPモード光がそのまま基板側へ取り出される。この具体的な構成としては、陰極(透明導電層)がPEDOT:PSS(ポリ(3,4-エチレンジオキシチオフェン)-ポリ(スチレンスルホン酸)、代表的な屈折率:1.5)などの透明導電材料層で、低屈折率層が空気やCパターンの屈折率条件を満たすSOG(スピンオングラス)である場合が挙げられる。
次に好ましいのは、Bパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成がOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。但し、有機層の屈折率が低屈折率層と陰極(透明導電層)の中間の値なので再放射されたSPPモード光のうちの一部の光は、陰極(透明導電層)/有機層の界面で全反射し、その残りの光が有機層に透過する。この具体的な構成例としては、有機層(代表的な屈折率:1.7~1.8)に対し、陰極の材料としてa-ITO(アモルファスITO、代表的な屈折率:2.1)を選び、低屈折率層の材料としてSOGの中から有機層の材料より低屈折率のものを選ぶ場合が挙げられる。
次に好ましいのは、Dパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成はOtto型配置になっていないが、金属層/低屈折率層+陰極(透明導電層)/有機層の構成でだけOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じるが、Bパターンの場合よりもさらにSPPモード光の再放射が少なくなる。
この具体的な構成としては、有機層(代表的な屈折率:1.7~1.8)に対し、陰極の材料としてPEDOT:PSSを選び、低屈折率層の材料として、その屈折率nLがnCとnOの中間となるような材料、例えば、Bパターンの屈折率条件を満たすSOGを採用すればよい。
次に好ましいのは、Bパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成がOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じる。但し、有機層の屈折率が低屈折率層と陰極(透明導電層)の中間の値なので再放射されたSPPモード光のうちの一部の光は、陰極(透明導電層)/有機層の界面で全反射し、その残りの光が有機層に透過する。この具体的な構成例としては、有機層(代表的な屈折率:1.7~1.8)に対し、陰極の材料としてa-ITO(アモルファスITO、代表的な屈折率:2.1)を選び、低屈折率層の材料としてSOGの中から有機層の材料より低屈折率のものを選ぶ場合が挙げられる。
次に好ましいのは、Dパターンである。この場合は、金属層/低屈折率層/陰極(透明導電層)の構成はOtto型配置になっていないが、金属層/低屈折率層+陰極(透明導電層)/有機層の構成でだけOtto型配置になっている。そのため、金属層からSPPモード光の再放射が生じるが、Bパターンの場合よりもさらにSPPモード光の再放射が少なくなる。
この具体的な構成としては、有機層(代表的な屈折率:1.7~1.8)に対し、陰極の材料としてPEDOT:PSSを選び、低屈折率層の材料として、その屈折率nLがnCとnOの中間となるような材料、例えば、Bパターンの屈折率条件を満たすSOGを採用すればよい。
nO<nC<nLの場合(以下「Eパターン」という)、nC<nO<nLの場合(以下「Fパターン」ということがある)ではOtto型配置にはならない。nO<nL<nCの場合(以下「Aパターン」という)では、金属層/低屈折率層/陰極がOtto型配置になっており、金属層からSPPモード光の再放射は生じる。しかし、有機層の屈折率が低屈折率層よりも低いため、陰極(透明導電層)/有機層の界面で再放射されたSPPモード光のほとんどが全反射してしまう。そのため、再放射されたSPPモード光のほとんどが陰極(透明導電層)/有機層の界面で全反射してしまい、陽極側の伝播光として取り出した光を取り出すことが困難である。
図1に示す有機EL素子10は、発光層で発光した光を基板側から取り出すボトムエミッション型の有機EL素子である。そのため、基板1は透光性の基板であり、通常、可視光に対して透明であることが必要である。ここで、「可視光に対し透明である」とは、発光層から発する波長の可視光を透過することができればよいという意味であり、可視光領域全域にわたり透明である必要はない。400~700nmの可視光における透過率が50%以上で、平滑な基板が好ましい。
基板1としては、具体的には、ガラス板、ポリマー板等が挙げられる。ガラス板の材料としては、ソーダ石灰ガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、鉛ガラス、アルミノケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英等が挙げられる。ポリマー板としては、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルサルファイド、ポリサルフォン等を挙げることができる。
発光光が可視光でない場合は、可視光の場合と同様に、基板1は少なくとも発光波長領域に対して透明であることが必要である。透過率としては、発光が最大強度となる波長に対し、50%以上であることが好ましく、70%以上であることが更に好ましい。
トップエミッション型に適用するためには、上記記載と同様なものの他に、不透明なものも使用できる。具体的には、例えばCu、Ag、Au、Pt、W,Ti、Ta、Nb、Alの単体、またはこれらの元素を含んだ合金、あるいはステンレスなどの金属材料からなる基板、Si、SiC、AlN、GaN、GaAs、サファイアなどの非金属材料からなる基板、その他のトップエミッション型の有機EL素子で通常用いられる基板を用いることができる。素子の発光に伴い生じる熱を逃がすためには、熱伝導率の高い材料を基板に用いることが好ましい。
基板1としては、具体的には、ガラス板、ポリマー板等が挙げられる。ガラス板の材料としては、ソーダ石灰ガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、鉛ガラス、アルミノケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英等が挙げられる。ポリマー板としては、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルサルファイド、ポリサルフォン等を挙げることができる。
発光光が可視光でない場合は、可視光の場合と同様に、基板1は少なくとも発光波長領域に対して透明であることが必要である。透過率としては、発光が最大強度となる波長に対し、50%以上であることが好ましく、70%以上であることが更に好ましい。
トップエミッション型に適用するためには、上記記載と同様なものの他に、不透明なものも使用できる。具体的には、例えばCu、Ag、Au、Pt、W,Ti、Ta、Nb、Alの単体、またはこれらの元素を含んだ合金、あるいはステンレスなどの金属材料からなる基板、Si、SiC、AlN、GaN、GaAs、サファイアなどの非金属材料からなる基板、その他のトップエミッション型の有機EL素子で通常用いられる基板を用いることができる。素子の発光に伴い生じる熱を逃がすためには、熱伝導率の高い材料を基板に用いることが好ましい。
基板1の厚さは、要求される機械的強度にもより、限定するものではない。好ましくは、0.01mm~10mm、より好ましくは0.05mm~2mmである。
屈折率変調構造8は、一方の領域(第2屈折率材料領域)が他方(第1屈折率材料層)内に離散的に配置されて屈折率が変調する構造を有する。離散的配置は、周期的に配置する構成でも、非周期的に配置する構成でもよい。離散的に配置される複数の第2屈折率材料領域は、全て同じ形状であっても異なる形状が含まれてもよい。屈折率変調構造8は、チェッカーパターンのように、離散的に配置される一方の領域(第2屈折率材料領域)によって、他方(第1屈折率材料層)も離散的な配置となる場合であってもよい。
図1に示す屈折率変調構造8は、屈折率の異なる材料であればよく、例えば、第1屈折率材料層8aが高屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが低屈折率材料からなる(高屈折率材料、低屈折率材料における高屈折率、低屈折率とは、互いに対する屈折率の高低を意味する。)。この場合、図2に示すように、第1実施形態に係る有機EL素子の屈折率変調構造8は、高屈折率材料からなる第1屈折率材料層8aがその面内方向に海状に形成された海状部と、低屈折率材料からなる第2屈折率材料領域8bが離散的に島状に配置された島状部を有する。言い換えると、図1に示す屈折率変調構造8は、高屈折率材料からなる層8aの面内方向に離散的に形成された孔部に、低屈折率材料が充填された低屈折率材料領域8bが形成された構成である。屈折率の高低を逆にし、第1屈折率材料層8aが低屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが高屈折率材料からなるとして、低屈折率材料からなる層8aの面内方向に離散的に形成された孔部に、高屈折率材料が充填され、高屈折率材料領域8bが形成された構成としてもよい。
「島状部」および「海状部」とは、離散的に配置された部分と、その周囲を覆うように形成された部分を言い、ちょうど海の中に離散的に存在する島のような関係に対応する部分を意味する。
図1に示す屈折率変調構造8は、屈折率の異なる材料であればよく、例えば、第1屈折率材料層8aが高屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが低屈折率材料からなる(高屈折率材料、低屈折率材料における高屈折率、低屈折率とは、互いに対する屈折率の高低を意味する。)。この場合、図2に示すように、第1実施形態に係る有機EL素子の屈折率変調構造8は、高屈折率材料からなる第1屈折率材料層8aがその面内方向に海状に形成された海状部と、低屈折率材料からなる第2屈折率材料領域8bが離散的に島状に配置された島状部を有する。言い換えると、図1に示す屈折率変調構造8は、高屈折率材料からなる層8aの面内方向に離散的に形成された孔部に、低屈折率材料が充填された低屈折率材料領域8bが形成された構成である。屈折率の高低を逆にし、第1屈折率材料層8aが低屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが高屈折率材料からなるとして、低屈折率材料からなる層8aの面内方向に離散的に形成された孔部に、高屈折率材料が充填され、高屈折率材料領域8bが形成された構成としてもよい。
「島状部」および「海状部」とは、離散的に配置された部分と、その周囲を覆うように形成された部分を言い、ちょうど海の中に離散的に存在する島のような関係に対応する部分を意味する。
離散的に配置される第2屈折率材料領域(図1の符号8b)が、素子面内の少なくとも一方向に周期的に配置された構成とする場合、その周期(ピッチ)pは、ある整数N(1≦N≦3)に対して、前述の式(1)を満たすように選択するのが好ましい。この際、周期pは、金属層6及び低屈折率層5の材料によっても変化するため、その材料の選択も併せて勘案することが好ましい。図1においては、第2屈折率材料領域8bの周期pを示している。素子面内の方向とは有機EL素子の各層が積層される面内方向を意味し、例えば第1電極の面または基板面の面内方向を意味する。
離散的に配置される第2屈折率材料領域が、光の波長と同程度以下の周期pで周期的に配置されることによって、第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域とがフォトニック結晶をなす構成としてもよい。
屈折率変調構造8を構成する高屈折率材料と低屈折率材料は、互いに屈折率の異なる材料であって、透光性を有する材料であれば特に制限はない。例えば、スピンオングラス(SOG、屈折率:1.1~2.0)やシリカ(SiO2)をはじめとするケイ素酸化物、酸化マグネシウム(MgO、代表的な屈折率:1.74)をはじめとする酸化物、フッ化マグネシウム(MgF2、代表的な屈折率:1.38)をはじめとする金属ハロゲン化物、窒化アルミニウム(AlN)をはじめとする窒化物、アルミニウム酸窒化物(AlON)やケイ素酸窒化物をはじめとする酸窒化物、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE、代表的な屈折率:1.35)をはじめとするフッ素系樹脂、ポリメチルメタクリレート(代表的な屈折率:1.49)やポリエチレンナフタレート(代表的な屈折率:1.77)をはじめとする高分子化合物樹脂などから選択して用いることができる。これらよりなる多孔質性材料、混合物も用いることもできる。窒素等の各種不活性ガス、真空等を用いてもよい。
屈折率変調構造8の厚さは、特に限定するものではない。例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。屈折率変調構造8の厚さが、10nmより薄いと屈折率変調構造8の体積が小さくなり、導波モード光が回折されにくくなる。屈折率変調構造8の厚さが、2000nmより厚いと陽極2の平坦度を保ちにくくなる。
陽極2は、陰極4との間で電圧を印加し、陽極2より発光層に正孔を注入するための電極である。そのため、陽極2は、仕事関数の大きい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましく、陽極に接する有機層のHOMO(Highest Occupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が4eV以上6eV以下のものを用いるのが好ましい。陽極2の材料としては、透光性でかつ導電性の材料であれば特に制限はない。例えば、酸化インジウム錫(ITO)、酸化亜鉛錫(IZO)、酸化錫、酸化亜鉛などの透明無機酸化物、PEDOT、ポリアニリンなどの導電性高分子および任意のアクセプタなどでドープした導電性高分子、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの透明カーボン材料を挙げることができる。ここにおいて、陽極2は、基板1上に例えば、スパッタ法、真空蒸着法、塗布法などによって形成することができる。
陽極2の厚さは限定するものではないが、例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。陽極2の厚さが、10nmより薄いと陽極2のシート抵抗が増大する。陽極2の厚さが、2000nmより厚いと有機層3の平坦度を保てなくなると共に、陽極2の透過率が低下する。
陽極2の厚さは限定するものではないが、例えば10~2000nmであり、好ましくは50~1000nmである。陽極2の厚さが、10nmより薄いと陽極2のシート抵抗が増大する。陽極2の厚さが、2000nmより厚いと有機層3の平坦度を保てなくなると共に、陽極2の透過率が低下する。
有機層3が含む発光層の材料としては、有機EL素子用の材料として知られる任意の材料を用いることができる。
有機層3は、有機EL材料からなる発光層(有機発光層)の他、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層等を備えてもよい。
正孔注入層は発光層への正孔注入を助ける層であり、正孔輸送層は発光領域まで輸送する層である。これらは、正孔移動度が大きく、イオン化エネルギーが通常5.5eV以下と小さい。このような正孔注入、正孔輸送層としては、より低い電界強度で正孔を発光層に輸送する材料が好ましい。形成する材料は、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。
有機層3は、有機EL材料からなる発光層(有機発光層)の他、正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層、電子輸送層等を備えてもよい。
正孔注入層は発光層への正孔注入を助ける層であり、正孔輸送層は発光領域まで輸送する層である。これらは、正孔移動度が大きく、イオン化エネルギーが通常5.5eV以下と小さい。このような正孔注入、正孔輸送層としては、より低い電界強度で正孔を発光層に輸送する材料が好ましい。形成する材料は、上記の機能を担えるものであれば特に制限はなく、公知のものの中から任意のものを選択して用いることができる。
有機層3は、蒸着法、転写法などの乾式プロセスによって成膜してもよいし、スピンコート法、スプレーコート法、ダイコート法、グラビア印刷法など、湿式プロセスによって成膜してもよい。
有機層3の厚さは、限定するものではないが、例えば50~2000nmであり、好ましくは100~1000nmである。有機層3の厚さが50nmより薄いと突き抜け電流による内部QEの低下や損失性表面カップリング(lossy surface Coupling)など、金属によるSPPカップリング以外の消光が起こる。有機層3の厚さが、1000nmより厚いと駆動電圧が上昇する。
有機層3の厚さは、限定するものではないが、例えば50~2000nmであり、好ましくは100~1000nmである。有機層3の厚さが50nmより薄いと突き抜け電流による内部QEの低下や損失性表面カップリング(lossy surface Coupling)など、金属によるSPPカップリング以外の消光が起こる。有機層3の厚さが、1000nmより厚いと駆動電圧が上昇する。
陰極4は、発光層に電子を注入するための電極である。そのため、仕事関数の小さい金属、合金、導電性化合物、あるいはこれらの混合物からなる材料を用いることが好ましく、陽極に接する有機層のLUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital)準位との差が過大にならないように仕事関数が1.9eV以上5eV以下のものを用いるのが好ましい。
陰極4の材料としては、Otto型配置の陰極側構造を形成するために、透光性の導電材料とする必要がある。そのため、上記の陽極材料と同じものを用いることができる。
陰極4の厚さは、限定するものではないが、例えば30nm~1μmであり、好ましくは50~500nmである。陰極4の厚さが、30nmより薄いとシート抵抗が増加して、駆動電圧が上昇する。陰極4の厚さが、1μmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
陰極4の材料としては、Otto型配置の陰極側構造を形成するために、透光性の導電材料とする必要がある。そのため、上記の陽極材料と同じものを用いることができる。
陰極4の厚さは、限定するものではないが、例えば30nm~1μmであり、好ましくは50~500nmである。陰極4の厚さが、30nmより薄いとシート抵抗が増加して、駆動電圧が上昇する。陰極4の厚さが、1μmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
低屈折率層5は、陰極4の、有機層3とは反対側に備えられており、有機層3の屈折率よりも低い材料からなる。低屈折率層5は、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有する材料からなることが好ましい。
低屈折率層5の屈折率が、陰極4の屈折率より大きいと、発光層で発光した光が陰極側に伝播し、陰極4と低屈折率層5との界面に達したとき、臨界角以上の角度で入射したときに全反射が起きるためである。
低屈折率層5の屈折率が、陰極4の屈折率より大きいと、発光層で発光した光が陰極側に伝播し、陰極4と低屈折率層5との界面に達したとき、臨界角以上の角度で入射したときに全反射が起きるためである。
このような低屈折率層5の材料としては、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有する材料であれば特に制限はない。例えば、SOG、MgF2(代表的な屈折率:1.38)等の金属フッ化物、PTFE等の有機フッ素化合物、SiO2(代表的な屈折率:1.45)、各種の低融点ガラス、多孔性物質が挙げられる。低屈折率層5は空気層を含む層からなり、陰極4を構成する透光性導電材料より低い屈折率を有するものでもよい。
低屈折率層5は、陰極4及び有機層3のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることが好ましい。これは、陰極や有機層がOtto型配置の高屈折率層に相当するためである。Otto型配置で低屈折率層と高屈折率層の屈折率差が0.2以上あれば、SPPモード光の波数の面内成分が小さくなるため、高屈折率層中の伝播光とSPPモード光の分散曲線交わるようになり、Otto型配置によるSPPモード光の高屈折率層中への取出し効率を高くすることができる。
低屈折率層5は、陰極4及び有機層3のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることが好ましい。これは、陰極や有機層がOtto型配置の高屈折率層に相当するためである。Otto型配置で低屈折率層と高屈折率層の屈折率差が0.2以上あれば、SPPモード光の波数の面内成分が小さくなるため、高屈折率層中の伝播光とSPPモード光の分散曲線交わるようになり、Otto型配置によるSPPモード光の高屈折率層中への取出し効率を高くすることができる。
低屈折率層5の厚さは、20nm~300nmであることが好ましい。低屈折率層5の厚みが、20nmより薄いと、金属層と高屈折率層が接近してSPPモード光の面内波数成分が大きくなるため、分散曲線が高屈折率層中の伝播光の分散曲線と交わらなくなり、SPPモード光が高屈折率層中に取り出されにくくなる。低屈折率層5の厚みが、300nmより厚いと、エバネッセント波が金属層6に届かなくなり、SPPモード光が高屈折率層中に取り出されにくくなる。そのため、低屈折率層5の厚みは、200nm以下であることがより好ましい。
金属層6は、陰極4の有機層3とは反対側に低屈折率層5を介して備えられている。
金属膜6の材料としては、発光層における発光光によりプラズモン共鳴が生じるものであればよい。そのため、ほとんどの金属の単体または合金を用いることができる。中でも、複素誘電率の実部が負で、実部の絶対値が大きな値を持つような材料が好ましい。かかる材料としては例えば、金、銀、銅、亜鉛、アルミニウム、マグネシウム等の単体や、金と銀との合金、銀と銅との合金、真鍮等の合金が挙げられる。金属層6は、2層以上の積層構造であってもよい。
金属層6の厚さは、限定するものではないが、例えば20~2000nmであり、好ましくは50~500nmである。金属層6の厚さが、20nmより薄いと反射率が低くなり正面輝度が低下する。金属層6の厚さが、500nmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
金属膜6の材料としては、発光層における発光光によりプラズモン共鳴が生じるものであればよい。そのため、ほとんどの金属の単体または合金を用いることができる。中でも、複素誘電率の実部が負で、実部の絶対値が大きな値を持つような材料が好ましい。かかる材料としては例えば、金、銀、銅、亜鉛、アルミニウム、マグネシウム等の単体や、金と銀との合金、銀と銅との合金、真鍮等の合金が挙げられる。金属層6は、2層以上の積層構造であってもよい。
金属層6の厚さは、限定するものではないが、例えば20~2000nmであり、好ましくは50~500nmである。金属層6の厚さが、20nmより薄いと反射率が低くなり正面輝度が低下する。金属層6の厚さが、500nmより厚いと成膜時の熱や放射線ダメージ、膜応力による機械的ダメージが電極や有機層に蓄積する。
次に、本発明の有機EL素子の、Otto型配置による第2電極側構造の作用効果について以下に説明する。以下は、計算式に基づく原理的な説明であるため、第1電極と第2電極をそれぞれ陽極または陰極の一方に対応させることはせずに、第1電極と第2電極のまま記載する。
平坦な金属の表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の角振動数をωsp、波数ベクトルをkspとすると、この分散関係は、金属の誘電率ε1と、金属の表面に接触する誘電体の誘電率ε2によって決まり、次式(2)によって与えられる(cは光真空中の光の速さ)。
これに対して、通常の伝播光の分散関係(角振動数w、波数ベクトルk)は、次式(3)によって与えられる。
表面プラズモンポラリトン(SPP)の分散曲線は通常の伝播光の分散直線と交差しない。そのため、通常の伝播光では平坦な金属の表面にSPPを励起することはできず、平坦な金属の表面に存在するSPPから直接伝播光を取り出すことはできない。
平坦な金属の表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の角振動数をωsp、波数ベクトルをkspとすると、この分散関係は、金属の誘電率ε1と、金属の表面に接触する誘電体の誘電率ε2によって決まり、次式(2)によって与えられる(cは光真空中の光の速さ)。
これに対して、Otto型配置、すなわち高屈折率層(誘電率ε3)/低屈折率層(誘電率ε2)/金属(誘電率ε1)の積層構造を用いた場合について考える。ここで、高屈折率層側から臨界角より大きい入射角で入射した光は、高屈折率層と低屈折率層の界面で全反射する。この際、界面の低屈折率層側には非伝播光であるエバネッセント波が生じる。エバネッセント波は、全反射の点から遠ざかるに連れてその光強度は減衰する(入射光は界面で全反射するが、その一部は界面から滲み出して存在していると見ることができる)。このエバネッセント波の分散曲線は、次式(4)によって与えられる。ここで、θは高屈折率層から低屈折率層への入射光の入射角である。
従って、入射角θを変えることにより、SPPの分散曲線と全反射によるエバネッセント波(以降、単に「エバネッセント波」という場合も、全て全反射によって生じたものをさすものとする)の分散直線に交点(ω=ωsp、k=ksp)を持たせることが可能となる。すなわち、エバネッセント波を用いれば、平坦な金属の表面にSPPを励起することができ、平坦な金属の表面に存在するSPPからエバネッセント波を介して伝播光として取り出すことが可能となる。ここで、「入射角θ」は金属側からみると、SPPの放射角度ということになる。すなわち、Otto型配置を用いると、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線とが交差するようになる。
これは、所定の角度で放射されるSPPだけが、SPPとエバネッセント波とが共鳴することによりエネルギーをやり取りできる状態となることを意味する。そして、SPPを、エバネッセント波を介して所定の角度で放射される伝播光として取り出すことが可能となる。
これは、所定の角度で放射されるSPPだけが、SPPとエバネッセント波とが共鳴することによりエネルギーをやり取りできる状態となることを意味する。そして、SPPを、エバネッセント波を介して所定の角度で放射される伝播光として取り出すことが可能となる。
従って、有機EL素子において、例えば、有機層に隣接して高屈折率層/低屈折率層/金属層を設けると、有機層中の発光層で発光した光のうち、所定の入射角(SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線とが交点を有する角度)で高屈折率層から高屈折率層/低屈折率の界面へ入射した光は、エバネッセント波を生じる。生じたエバネッセント波は、金属層の表面にSPPモード光を励起する。金属層の表面に励起されたSPPモード光は、Otto型配置構造において生成されるエバネッセント波を介して所定の角度で放射される伝播光として取り出すことが可能となる。すなわち、有機EL素子において、Otto型配置構造を導入することにより、SPPモード光を所定の角度で放射される伝播光として取り出すことが可能となる。ただし、エバネッセント波を介したSPPモード光の励起・取り出しは、上記低屈折率層が十分薄膜である場合に生じる。これは、低屈折率層が厚すぎると、有機層からのエバネッセント波の滲み出しが金属層まで到達せず、エバネッセント波とSPPモード光同士がエネルギーをやりとりできないためであり、低屈折率層が薄すぎると、金属層と高屈折率層が接近してSPPモードの波数が(2)式より大きくなり、分散曲線が伝播光の分散曲線(3)と交わらなくなるためである。
こうしてSPPから取り出される光は、上記の通り、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線との交点に対応する所定の角度を有して放射される。
こうしてSPPから取り出される光は、上記の通り、SPPの分散曲線とエバネッセント波の分散直線との交点に対応する所定の角度を有して放射される。
次に、本実施形態の有機EL素子の第1電極側構造の作用効果について以下に説明する。
第1電極側構造としては、有機層中の伝播光が光取り出し側(ボトムエミッション型では基板側)に屈折して、界面への入射角(入射光線と入射する界面の法線がなす角度)が小さくなるように、基板面に対して垂直又は垂直に近い屈折率の界面を導入した。
より具体的には、第1電極側構造として、第1屈折率材料層の面内方向に離散的に第2屈折率材料領域が配置されてなる屈折率変調構造を備え、基板面に対して垂直又は垂直に近い屈折率の異なる界面(第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域との界面)を有する構造を導入した。
第1電極側構造としては、有機層中の伝播光が光取り出し側(ボトムエミッション型では基板側)に屈折して、界面への入射角(入射光線と入射する界面の法線がなす角度)が小さくなるように、基板面に対して垂直又は垂直に近い屈折率の界面を導入した。
より具体的には、第1電極側構造として、第1屈折率材料層の面内方向に離散的に第2屈折率材料領域が配置されてなる屈折率変調構造を備え、基板面に対して垂直又は垂直に近い屈折率の異なる界面(第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域との界面)を有する構造を導入した。
第1電極側構造としての屈折率変調構造は、周期性を有する構造(第2屈折率材料領域が周期的に配置される構造)であっても、周期性を有さない非周期的な構造(第2屈折率材料領域が非周期的に配置される構造)であってもよい。
屈折率変調構造が周期性を有する構造体の場合、本発明では第2屈折率材料領域が2次元的に周期的に並ぶことになる。そのため、屈折の効果に加えて、透過型回折格子(以下、単に「回折格子」という)としての回折効果(基板面に対して所定の角度に屈折される効果)や、フォトニック結晶としての効果(基板面に対して垂直な方向に放射させる効果)も併せて生じ、導波モード光を基板側に取り出すことが可能となる。
第2屈折率材料領域の周期(ピッチ)が、波長より十分大きい場合は、屈折が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されると考えられる。一方、第2屈折率材料領域の周期が波長と同等以下である時は、回折格子の効果やフォトニック結晶の効果が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されていると考えられる。
屈折率変調構造が周期性を有する構造体の場合、本発明では第2屈折率材料領域が2次元的に周期的に並ぶことになる。そのため、屈折の効果に加えて、透過型回折格子(以下、単に「回折格子」という)としての回折効果(基板面に対して所定の角度に屈折される効果)や、フォトニック結晶としての効果(基板面に対して垂直な方向に放射させる効果)も併せて生じ、導波モード光を基板側に取り出すことが可能となる。
第2屈折率材料領域の周期(ピッチ)が、波長より十分大きい場合は、屈折が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されると考えられる。一方、第2屈折率材料領域の周期が波長と同等以下である時は、回折格子の効果やフォトニック結晶の効果が支配的なメカニズムとなって、光が取り出されていると考えられる。
第1電極側構造が周期性を有し、透過型回折格子として機能する場合について、光取り出し効率が向上する原理を、図29及び図30を用いてより具体的に説明する。
図29は、Otto型配置を有する第2電極側構造を備えた有機EL素子の断面模式図である。図29を用いて、この第2電極側構造によりSPPモード光を導波モード光として取り出す原理についてまず説明する。図29では第1電極側構造については省略している。
ここで、nsubは基板の屈折率、nOLEDは第1電極、有機層及び第2電極の平均の屈折率、n2は低屈折率層の屈折率、ε2は低屈折率層の誘電率、ε1は金属層の誘電率の実部、kspはSPPモード光の波数ベクトルの基板面内方向成分、k0は真空中の光の波数(2π/λ)(λは発光層から放射される光の真空中の波長)、θは高屈折率層中を伝播する光の伝播角とする。
SPPモード光の波数kspは式(2)から、以下の式(5)によって与えられる。
ただし、ε2=n2
2である。SPPモード光が再放射され、伝播光として取り出されるためには、SPPモード光と取り出される光とで波数ベクトルの面内成分が一致する、すなわち、式(6)が成立する必要がある。
式(5)及び式(6)から、SPPモード光は以下の式(7)を満たす角度で伝播光として取り出される。
図29は、Otto型配置を有する第2電極側構造を備えた有機EL素子の断面模式図である。図29を用いて、この第2電極側構造によりSPPモード光を導波モード光として取り出す原理についてまず説明する。図29では第1電極側構造については省略している。
ここで、nsubは基板の屈折率、nOLEDは第1電極、有機層及び第2電極の平均の屈折率、n2は低屈折率層の屈折率、ε2は低屈折率層の誘電率、ε1は金属層の誘電率の実部、kspはSPPモード光の波数ベクトルの基板面内方向成分、k0は真空中の光の波数(2π/λ)(λは発光層から放射される光の真空中の波長)、θは高屈折率層中を伝播する光の伝播角とする。
SPPモード光の波数kspは式(2)から、以下の式(5)によって与えられる。
次に、回折格子によって、そのSPPモード光から取り出された光を外部に取り出す原理について説明する。
図30は、透過型回折格子として機能する屈折率変調構造を有する第1電極側構造を備えた有機EL素子の第1電極側構造を含む一部の断面模式図である。
図30を用いて、回折格子によって、そのSPPモード光から取り出された光を外部に取り出す原理について説明する。
SPPモード光から所定の角度θで取り出された光が、周期(屈折率変調構造の周期)pを有する回折格子によって回折されるとする。基板面に対して所定の角度θsubで基板側に回折する条件は、回折格子に入射する入射光の面内波数と回折光の面内波数との差が、2π/pの整数倍であり、以下の式(8)で表される。ここで、N=0、±1、・・・である。
図30において、「OLED積層部」とは、第1電極及び有機層を含む導波モード光が伝播する層を示すものであり、具体的な層構成は本発明の具体的な構成に依存する。「回折格子」を備える位置も本発明の具体的な構成に依存する。
式(7)及び式(8)から、式(9)が得られる。
基板と空気の界面で全反射が起きない条件は、式(10)を満たすことである。
従って、回折格子の格子間隔が以下の式(11)を満たすNが存在するような回折格子を設けることにより、回折光に基板と空気の界面で全反射を抑制し、その結果、光取り出し効率は向上する。
ここで、SPP共鳴を生じる周波数域においては、εl<0、ε2<|εl|であるため、
式(11)中のNは正の整数としてよい。
基板と空気の界面でのフレネル反射を抑えるためには、式(11)はおおよそ次の式を満たしていることが望ましい。実際の有機EL素子の発光波長はスペクトル分布をもつため、このλとしては発光層の発光スペクトルのピーク波長を採用する。ピーク波長としては、フォトルミネセンス・スペクトルのピーク波長を用いることができる。
Nは回折次数であり、任意の整数であるが、回折次数が大きくなりすぎると、回折光の指向性が低下する。そこで、式(1)を満たすようなNが1≦N≦3の範囲にあるように周期(ピッチ)pと波長λを選ぶことが好ましい。
図30は、透過型回折格子として機能する屈折率変調構造を有する第1電極側構造を備えた有機EL素子の第1電極側構造を含む一部の断面模式図である。
図30を用いて、回折格子によって、そのSPPモード光から取り出された光を外部に取り出す原理について説明する。
SPPモード光から所定の角度θで取り出された光が、周期(屈折率変調構造の周期)pを有する回折格子によって回折されるとする。基板面に対して所定の角度θsubで基板側に回折する条件は、回折格子に入射する入射光の面内波数と回折光の面内波数との差が、2π/pの整数倍であり、以下の式(8)で表される。ここで、N=0、±1、・・・である。
図30において、「OLED積層部」とは、第1電極及び有機層を含む導波モード光が伝播する層を示すものであり、具体的な層構成は本発明の具体的な構成に依存する。「回折格子」を備える位置も本発明の具体的な構成に依存する。
基板と空気の界面でのフレネル反射を抑えるためには、式(11)はおおよそ次の式を満たしていることが望ましい。実際の有機EL素子の発光波長はスペクトル分布をもつため、このλとしては発光層の発光スペクトルのピーク波長を採用する。ピーク波長としては、フォトルミネセンス・スペクトルのピーク波長を用いることができる。
以上の理論的な解析は1次元的な解析であり、1次元回折格子構造(所定の一方向に規則的な間隔で格子が配置する回折格子構造)については、この解析に基づく回折効果が得られる。1次元回折格子構造では、その一方向に直交する方向については格子構造を有さないため、その直交方向の光(光の成分)に対しては回折効果を生じない。これに対して、2次元回折格子構造ではその直交方向に対しても格子構造を有し、その方向についても回折効果が追加されることになる。よって、2次元回折格子構造では1次元回折格子構造よりも回折効果が大きい。
従って、所定の断面において、式(1)の条件を満たす構成を備えた有機EL素子では、その構成が1次元回折格子構造でも2次元回折格子構造でも、光取り出し効率の向上が得られる。
従って、所定の断面において、式(1)の条件を満たす構成を備えた有機EL素子では、その構成が1次元回折格子構造でも2次元回折格子構造でも、光取り出し効率の向上が得られる。
次に、フォトニック結晶の効果による光の取り出し効率の向上について説明する。
フォトニック結晶は、屈折率が周期的に異なる構造体で、特にその周期が波長と同等以下である構造体のことである。この周期的構造により、特定の波長範囲の光が存在できない禁制帯(フォトニックバンドギャップ)が形成される。本発明の第1電極側構造が周期的な屈折率変調構造で、その周期が波長と同等以下である場合には、第1電極側構造を1次元もしくは2次元のフォトニック結晶(それぞれ、基板面内の所定の一方向または二方向に規則的な間隔で格子が配列するフォトニック結晶構造)と見なすことができる。1次元のフォトニック結晶では、周期構造を有する一方向に対しては、フォトニックバンドギャップに相当する波長の光は伝播することができない。このため、面内以外の方向へ光の伝播が再分配され、光を基板側に取り出すことができる。1次元フォトニック結晶構造では、その一方向に直交する方向については周期構造を有しないため、この方向についてはフォトニックバンドギャップが存在せず、これによる取り出し効果はないか、あるとしても非常に小さい。
一方、2次元フォトニック結晶構造では面内の互いに異なる2方向に対して格子構造を有するため、この2方向に対してはフォトニックバンドギャップが形成され、光が伝播できないことになる。よって、2次元のフォトニック結晶では面内で光が伝播できない方向が増大するため、1次元構造よりもより効率的に基板へ光が取り出される。
フォトニック結晶は、屈折率が周期的に異なる構造体で、特にその周期が波長と同等以下である構造体のことである。この周期的構造により、特定の波長範囲の光が存在できない禁制帯(フォトニックバンドギャップ)が形成される。本発明の第1電極側構造が周期的な屈折率変調構造で、その周期が波長と同等以下である場合には、第1電極側構造を1次元もしくは2次元のフォトニック結晶(それぞれ、基板面内の所定の一方向または二方向に規則的な間隔で格子が配列するフォトニック結晶構造)と見なすことができる。1次元のフォトニック結晶では、周期構造を有する一方向に対しては、フォトニックバンドギャップに相当する波長の光は伝播することができない。このため、面内以外の方向へ光の伝播が再分配され、光を基板側に取り出すことができる。1次元フォトニック結晶構造では、その一方向に直交する方向については周期構造を有しないため、この方向についてはフォトニックバンドギャップが存在せず、これによる取り出し効果はないか、あるとしても非常に小さい。
一方、2次元フォトニック結晶構造では面内の互いに異なる2方向に対して格子構造を有するため、この2方向に対してはフォトニックバンドギャップが形成され、光が伝播できないことになる。よって、2次元のフォトニック結晶では面内で光が伝播できない方向が増大するため、1次元構造よりもより効率的に基板へ光が取り出される。
第1電極側構造が、基板面内方向に周期性を有さない非周期的な構造の場合は、この第1電極構造に入射した光がランダムな位置・位相で回折されるため、特定の放射角度光が強め合って放射されることはない。従って、第1電極側にこのような構造を持つことによって、比較的均一な(拡散性の高い)配向特性を得ることができる。
つまり、第1電極側構造が周期的な構造の場合は、回折格子による出射光の強め合いの効果により、ある特定の放射角の光強度が強くなる配向特性を得ることができるのに対し、第1電極側構造が非周期的な構造の場合は、比較的均一な配向特性を得ることができる。
そのため、第1電極側構造は、必要とされる配光特性に応じて周期性を有する構造にするか、非周期的な構造にするかを選択することができる。
つまり、第1電極側構造が周期的な構造の場合は、回折格子による出射光の強め合いの効果により、ある特定の放射角の光強度が強くなる配向特性を得ることができるのに対し、第1電極側構造が非周期的な構造の場合は、比較的均一な配向特性を得ることができる。
そのため、第1電極側構造は、必要とされる配光特性に応じて周期性を有する構造にするか、非周期的な構造にするかを選択することができる。
次に、本実施形態の有機EL素子の屈折による作用効果を、図3を用いて模式的に説明する。図3に矢印で示した光の伝播の仕方は、屈折による作用効果の原理をわかりやすく説明するために模式的に示したものである。図3においては、符号8aが高屈折率材料からなる第1屈折率材料層であり、符号8bが低屈折率材料からなる第2屈折率材料領域である場合を例に説明する。
有機層3に含まれる発光層のA点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面で臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印A1)全反射すると(矢印A1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印A2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで滲み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印A3)が励起される。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
ここで、有機層3のA点で発光した光は、全方位に進むので矢印A1以外の方向に進む光も当然存在する、矢印A1は本発明の屈折による作用効果を説明するために、そのうちの一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。その他の光についても同様である。
屈折は屈折率が異なる材料の界面で生じるが、本発明の効果を説明するために特に必要ではない界面には図中では屈折作用の図示を省略している。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
ここで、有機層3のA点で発光した光は、全方位に進むので矢印A1以外の方向に進む光も当然存在する、矢印A1は本発明の屈折による作用効果を説明するために、そのうちの一部の光の伝播を摸式的に示しているに過ぎない。その他の光についても同様である。
屈折は屈折率が異なる材料の界面で生じるが、本発明の効果を説明するために特に必要ではない界面には図中では屈折作用の図示を省略している。
陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)から有機層3のB点にまで取り出された光は、B1のように伝播して基板1まで取り出される。
すなわち、B点から有機層3及び陽極2を通って進む光B1は、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9で基板1側に屈折し、第2屈折率材料領域8b内を透過して、第2屈折率材料領域8bと基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。
ここで、光B1が第1屈折率材料層8aから第2屈折率材料領域8bへ進む際、その界面9において基板1側へ屈折する。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射すると全反射となるが、この界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
すなわち、B点から有機層3及び陽極2を通って進む光B1は、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9で基板1側に屈折し、第2屈折率材料領域8b内を透過して、第2屈折率材料領域8bと基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。
ここで、光B1が第1屈折率材料層8aから第2屈折率材料領域8bへ進む際、その界面9において基板1側へ屈折する。基板(例えば、ガラス)と空気との界面では臨界角以上の角度で入射すると全反射となるが、この界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わる。そのため、基板と空気との界面での全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
有機層3に含まれる発光層のC点で発光した光のうち、光C1は基板に対して垂直方向に基板1側に進む光である。光C1は、有機層3と陽極2との界面、陽極2と第1屈折率材料層8aとの界面、及び、第1屈折率材料層8aと基板1との界面でも屈折することなく、陽極2内、第1屈折率材料層8a内、基板1内を進み、外部に取り出される。
光C2は第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9で基板1側に屈折し、第2屈折率材料領域8b内を透過して、第2屈折率材料領域8bと基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9がない構成では基板1と空気の界面で全反射を生じるが、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、全反射を生じない光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
光C3も同様に、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。
光C2は第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9で基板1側に屈折し、第2屈折率材料領域8b内を透過して、第2屈折率材料領域8bと基板1との界面で屈折した後、基板1内を通って外部に取り出されうる。第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9がない構成では基板1と空気の界面で全反射を生じるが、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、全反射を生じない光が増えて光取り出し効率が向上する。すなわち、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9を備える構成を有することにより、光取り出し効率が向上する。
光C3も同様に、第1屈折率材料層8aと第2屈折率材料領域8bとの界面9での屈折により基板1への入射角が小さい角度に変わるので、全反射を避けられる光が増えて光取り出し効率が向上する。
次に、本発明の第1実施形態の有機EL素子10において、第2屈折率材料領域が周期的に配置されることよって、第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域とが回折格子をなす場合に、その回折格子による作用効果を、図4を用いて模式的に説明する。図4に矢印で示した光の伝播の仕方は、回折格子による作用効果の原理をわかりやすく説明するために模式的に示したものである。
有機層3に含まれる発光層のA点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面で臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印A1)全反射すると(矢印A1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印A2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで滲み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印A3)が励起される。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)からB点にまで取り出された光は有機層3及び陽極2を伝搬し、回折格子としての屈折率変調構造8に入射する。入射した光は、回折格子によってある所定の方向(N次の強めあい条件を満たす方向)に回折光が放射される。
回折光は、通常の屈折光と比べて、回折点毎の回折光が干渉しながら放出されているため、ある所定の角度に非常に強く光が取り出される。
ここで、矢印BD1や矢印BD2のように、基板(例えば、ガラス)と空気との界面に、臨界角以下で入射した光は、そのまま外部に取り出される。この矢印BD1や矢印BD2は上記のように干渉により、強めあっているため、ある特定の角度に強度が強い光を取り出すことが可能となり、光の取り出し効率が向上する。
一方、矢印BD3のように、基板と空気との界面に、臨界角以上の角度で入射する光は、全反射(矢印BD3r)してしまい、基板外部に取り出すことができない。
このように全反射する光を減らし、効率的に光を取り出すためには、式(1)を満たすように、金属層及び低屈折率層の材料、並びに、回折格子(屈折率変調構造)の周期を選択することが好ましい。特に次数Nが小さいほど回折光の強度が高いので、次数Nが小さいほど、式(1)を満たすように回折格子の周期等を選択することが好ましい。言い換えると、式(1)をみたせば、回折格子により、発生したSPP光を効率よく基板1から光を取り出すことができ、光の取り出し効率を向上することができる。
回折光は、通常の屈折光と比べて、回折点毎の回折光が干渉しながら放出されているため、ある所定の角度に非常に強く光が取り出される。
ここで、矢印BD1や矢印BD2のように、基板(例えば、ガラス)と空気との界面に、臨界角以下で入射した光は、そのまま外部に取り出される。この矢印BD1や矢印BD2は上記のように干渉により、強めあっているため、ある特定の角度に強度が強い光を取り出すことが可能となり、光の取り出し効率が向上する。
一方、矢印BD3のように、基板と空気との界面に、臨界角以上の角度で入射する光は、全反射(矢印BD3r)してしまい、基板外部に取り出すことができない。
このように全反射する光を減らし、効率的に光を取り出すためには、式(1)を満たすように、金属層及び低屈折率層の材料、並びに、回折格子(屈折率変調構造)の周期を選択することが好ましい。特に次数Nが小さいほど回折光の強度が高いので、次数Nが小さいほど、式(1)を満たすように回折格子の周期等を選択することが好ましい。言い換えると、式(1)をみたせば、回折格子により、発生したSPP光を効率よく基板1から光を取り出すことができ、光の取り出し効率を向上することができる。
第1実施形態の有機EL素子10において、第2屈折率材料領域が光の波長と同程度以下の周期で周期的に配置されることによって、第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域とがフォトニック結晶をなす場合について、そのフォトニック結晶による作用効果を、図5を用いて模式的に説明する。図5に矢印で示した光の伝播の仕方は、フォトニック結晶による作用効果の原理をわかりやすく説明するために模式的に示したものである。
有機層3に含まれる発光層のA点で発光した光のうち、陰極4側に進んだ光が陰極4と低屈折率層5との界面で臨界角以上の大きな入射角で入射して(矢印A1)全反射すると(矢印A1r)、低屈折率層5中にエバネッセント波(矢印A2)が発生する。発生したエバネッセント波は、金属層6と低屈折率層5との界面まで滲み出し、表面プラズモンポラリトンSPP(矢印A3)が励起される。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
励起されたSPPは、エバネッセント波(矢印A4)との共鳴を介して、上述したように所定の角度で陰極4に放射され(矢印A5)、伝播光として有機層3に取り出されうる。
陰極側構造(陰極4、低屈折率層5、金属層6)からB点にまで取り出された光は、有機層3及び陽極2を伝搬し、フォトニック結晶構造に入射する。2次元に光の波長と同等以下の構造体が存在する場合、その2次元方向にはフォトニックバンドギャップが作用し、光は2次元方向へ伝播できなくなる(2次元方向における光閉じ込め効果)。第1の実施形態において、周期構造は屈折率変調構造8に形成されているため、光の伝搬が制限されるのは基板と平行な矢印CD2方向である。
一方で、基板に垂直な方向は、フォトニック結晶構造が形成されていないので、光の伝搬は制限されない。このメカニズムにより、光が基板に垂直な方向に進むことになる。
矢印CD1方向は基板に垂直なため、基板と空気の界面でも全反射することなく、効率よく光を取り出すことができる。
一方で、基板に垂直な方向は、フォトニック結晶構造が形成されていないので、光の伝搬は制限されない。このメカニズムにより、光が基板に垂直な方向に進むことになる。
矢印CD1方向は基板に垂直なため、基板と空気の界面でも全反射することなく、効率よく光を取り出すことができる。
屈折率変調構造は、図3に示す第1屈折率材料層8aが高屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが低屈折率材料からなる構成であっても、逆に、第1屈折率材料層8aが低屈折率材料からなり、第2屈折率材料領域8bが高屈折率材料からなる構成であってよい。この屈折率変調構造による屈折の効果は、周期(ピッチ)とサイズが等しければ、等しくなる。また回折格子やフォトニック結晶の効果も同様である。
図6~図11は、第1実施形態の他の例である。
図6に示す例では、符号8Aaは屈折率変調構造8Aを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Abは第2屈折率材料領域である。第2屈折率材料領域8Abは、陽極2の一方の表面上に離散的に配置される。第1屈折率材料層8Aaは、離散的に配置された第2屈折率材料領域8Ab間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
図6に示す例とは逆に、符号8Aaが第2屈折率材料領域であり、符号8Abが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Aaは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部とからなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図6に示す例とは逆に、符号8Aaが第2屈折率材料領域であり、符号8Abが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Aaは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部とからなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図7に示す例では、符号8Baは屈折率変調構造8Bを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Bbは第2屈折率材料領域である。図6に示す例では、第2屈折率材料領域8Abは、陽極2の一方の表面上に離散的に配置される構成であったが、図7に示す例では、第2屈折率材料領域8Bbは基板1上に離散的に配置される構成である。第1屈折率材料層8Baは、離散的に配置された第2屈折率材料領域8Bbの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
図7に示す例とは逆に、符号8Baが第2屈折率材料領域であり、符号8Bbが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Baが離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部からなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図7に示す例とは逆に、符号8Baが第2屈折率材料領域であり、符号8Bbが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Baが離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部からなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図8に示す例では、符号8Caは屈折率変調構造8Cを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Cbは第2屈折率材料領域である。図6に示す例では、第2屈折率材料領域8Abは陽極2に接触する構成であり、図7に示す例では、第2屈折率材料領域8Bbは基板1に接触する構成であったが、図8に示す例では、第2屈折率材料領域8Cbは陽極2にも基板1にも接触しない構成である。第1屈折率材料層8Caは、離散的に配置された第2屈折率材料領域8Cbの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
図8に示す例とは逆に、符号8Caが第2屈折率材料領域であり、符号8Cbが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Caが離散的に配置された島状部と、連続する層からなる複数の連続膜部からなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図8に示す例とは逆に、符号8Caが第2屈折率材料領域であり、符号8Cbが第1屈折率材料層であってもよい。この場合、第2屈折率材料領域8Caが離散的に配置された島状部と、連続する層からなる複数の連続膜部からなる。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図9に示す例では、符号8Daが屈折率変調構造8Dを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Dbが第2屈折率材料領域である。逆に、符号8Daが屈折率変調構造8Dを構成する第2屈折率材料領域であり、符号8Dbが第1屈折率材料層の場合でもよい。
符号8Daが第1屈折率材料層の場合、第1屈折率材料層8Daは第2屈折率材料領域8Dbの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。第2屈折率材料領域8Dbは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
一方、符号8Dbが第1屈折率材料層の場合、第1屈折率材料層8Dbは第2屈折率材料領域8Daの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。第2屈折率材料領域8Daは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
以上いずれの場合においても、第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
符号8Daが第1屈折率材料層の場合、第1屈折率材料層8Daは第2屈折率材料領域8Dbの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。第2屈折率材料領域8Dbは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
一方、符号8Dbが第1屈折率材料層の場合、第1屈折率材料層8Dbは第2屈折率材料領域8Daの間に配置された海状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。第2屈折率材料領域8Daは、離散的に配置された島状部と、連続する層からなる連続膜部で構成される。
以上いずれの場合においても、第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図10に示す例では、符号8Eaは屈折率変調構造8Eを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Ebは第2屈折率材料領域である。図10に示すように、第2屈折率材料領域がT字構造や逆T字構造であってもよい。図10に示す例とは逆に、符号8Eaが第2屈折率材料領域であり、符号8Ebが第1屈折率材料層である構成であってもよい。また、第1屈折率材料層と第2屈折率材料領域のいずれか一方又は両方が、連続する層からなる連続膜部を持つ構成であってもよい。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
第2屈折率材料領域の形状は、本発明の屈折効果、回折効果、又はフォトニック結晶の効果を発揮するものであれば特に制限はない。高い屈折効果を発揮するためには、第2屈折率材料領域と第1屈折率材料層との界面が基板面に対する角度は5°以上であるように構成されているのが好ましく、60°以上がより好ましく、75°以上がより一層好ましい。界面をこのような角度とすることにより、発光位置から第2電極側へ向かう導波モード光とSPPモード光から再放射された伝播光がその界面に外側から入射して基板側に屈折し、基板の外表面から外部へ効率的に取り出すことが出来る。
図1~図10に示す第2屈折率材料領域と第1屈折率材料層との界面は平面であるが、曲面を含んだ構成でもよい。
図11に示す例では、符号8Faは屈折率変調構造8Fを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Fbは第2屈折率材料領域である。図8に示す例では、第2屈折率材料領域は断面が矩形の構成であったが、図11に示す例では、第2屈折率材料領域は断面が円状の構成である。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
図11に示す例では、符号8Faは屈折率変調構造8Fを構成する第1屈折率材料層であり、符号8Fbは第2屈折率材料領域である。図8に示す例では、第2屈折率材料領域は断面が矩形の構成であったが、図11に示す例では、第2屈折率材料領域は断面が円状の構成である。
第1屈折率材料、第2屈折率材料のいずれが高屈折率材料でも低屈折率材料でもよい。
(有機EL素子(第2実施形態))
図12は、本発明の第2実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図13は、図12に示す第2実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図12及び図13に示す有機EL素子20は、基板21上に、陽極(第1電極)22と、発光層を含む有機層23と、陰極(第2電極)24とを順に具備する有機EL素子である。さらに、陰極24の有機層23と反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層25と、金属層26とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極24は、透光性導電材料からなり、低屈折率層25の屈折率は前記有機層23の屈折率よりも低い。基板21の表面層21aに離散的に形成された複数の基板凹部21aaには、基板21の屈折率と異なる材料で充填されてなる屈折率変調構造28を備えている。
図12は、本発明の第2実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図13は、図12に示す第2実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図12及び図13に示す有機EL素子20は、基板21上に、陽極(第1電極)22と、発光層を含む有機層23と、陰極(第2電極)24とを順に具備する有機EL素子である。さらに、陰極24の有機層23と反対側の面に、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層25と、金属層26とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極24は、透光性導電材料からなり、低屈折率層25の屈折率は前記有機層23の屈折率よりも低い。基板21の表面層21aに離散的に形成された複数の基板凹部21aaには、基板21の屈折率と異なる材料で充填されてなる屈折率変調構造28を備えている。
屈折率変調構造28は、基板21の表面層21aが備える基板凸部21abと、離散的に形成された基板凹部21aaを基板21の屈折率と異なる材料で充填した屈折率変調領域28aとから構成される。
本実施形態の屈折率変調構造28は、屈折率の異なる2種類の材料からなる領域によって形成されている点は第1実施形態の屈折率変調構造と同様である。
一方、第1実施形態の屈折率変調構造は、基板を構成要素とせずに、屈折率の異なる2種類の材料からなる領域のうち、一方(第2屈折率材料領域)が他方の領域(第1屈折率材料層)内に離散的に配置されて屈折率が変調する構成であるのに対して、本実施形態の屈折率変調構造28は、基板を構成要素とし、基板21の表面層21aが備える基板凸部21abが第1屈折率材料層に相当し、屈折率変調領域28aが第2屈折率材料領域に相当する。
本実施形態の屈折率変調構造28は、屈折率の異なる2種類の材料からなる領域によって形成されている点は第1実施形態の屈折率変調構造と同様である。
一方、第1実施形態の屈折率変調構造は、基板を構成要素とせずに、屈折率の異なる2種類の材料からなる領域のうち、一方(第2屈折率材料領域)が他方の領域(第1屈折率材料層)内に離散的に配置されて屈折率が変調する構成であるのに対して、本実施形態の屈折率変調構造28は、基板を構成要素とし、基板21の表面層21aが備える基板凸部21abが第1屈折率材料層に相当し、屈折率変調領域28aが第2屈折率材料領域に相当する。
離散的に配置する屈折率変調領域28aは周期的に配置される構成でも、非周期的に配置される構成でもよい。離散的に配置される複数の屈折率変調領域28aは全て同じ形状であっても異なる形状が含まれてもよい。屈折率変調構造28は、チェッカーパターンのように、離散的に配置される一方の領域(屈折率変調領域28a)によって、他方(基板凸部21ab)も離散的な配置となる場合であってもよい。離散的に配置される一方の領域(屈折率変調領域28a)は、離散的に配置される複数の島状部と、複数の島状部に接する連続する層からなる連続膜部で構成される構造であってもよい。
離散的に配置される屈折率変調領域28aが少なくとも一方向に周期的に配置された構成とする場合、その周期(ピッチ)pは、ある整数N(1≦N≦3)に対して前述の式(1)を満たすように選択するのが好ましい。この際、周期pは、金属層26及び低屈折率層25の材料によっても変化するため、その材料の選択も併せて勘案することが好ましい。図12においては、屈折率変調領域28aの周期pを示している。
屈折率変調構造28は、離散的に配置される屈折率変調領域28aが光の波長と同程度以下の周期pで周期的に配置されることによって、屈折率変調領域28aと基板凸部21abとがフォトニック結晶をなす構成としてもよい。
屈折率変調領域28aを構成する材料としては、基板21と異なる屈折率の材料であれば、基板21の屈折率より高いものでも低いものでも用いることができる。例えば、第1実施形態の屈折率変調構造を構成する高屈折率材料及び低屈折率材料と同様なものを用いることができる。
屈折率変調構造28の厚さも、第1実施形態の屈折率変調構造と同様の厚さとすることができる。
屈折率変調構造28の厚さも、第1実施形態の屈折率変調構造と同様の厚さとすることができる。
本実施形態の有機EL素子における光取り出し効率が向上するメカニズムは、第1実施形態の場合と同様である。すなわち、屈折効果、回折格子による作用効果およびフォトニック結晶による作用効果によって光取り出し効率を向上する。屈折効果は、基板凸部21abと屈折率変調領域28aとの界面29によって生じる。回折格子による作用効果は、屈折率変調領域28が周期的に配置される(周期p)ことによって基板凸部21abと屈折率変調領域28aとが回折格子をなすことによって生じる。フォトニック結晶による作用効果は、屈折率変調領域28が光の波長と同程度以下の周期pで周期的に配置することによって、基板凸部21abと屈折率変調領域28aとがフォトニック結晶をなすことによって生じる。
(有機EL素子(第3実施形態))
図14は、本発明の第3実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図15は、図14に示す第3実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図14及び図15に示す有機EL素子30は、基板31上に、陽極(第1電極)32と、発光層を含む有機層33と、陰極(第2電極)34とを順に具備する有機EL素子である。さらに、陰極34の有機層33と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層35と、金属層36とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極34は、透光性導電材料からなり、低屈折率層35の屈折率は有機層33の屈折率よりも低い。基板31の表面層31aには、離散的に形成された複数の基板凸部31abの側面31abAを被覆するように基板の屈折率と異なる材料が形成されてなる屈折率変調構造38を備えている。
図14は、本発明の第3実施形態に係る有機EL素子の一例を説明するための断面模式図である。図15は、図14に示す第3実施形態に係る有機EL素子の斜視図である。発明の特徴を分かりやすくするため、Otto型配置構造の部分を離して図示した。
図14及び図15に示す有機EL素子30は、基板31上に、陽極(第1電極)32と、発光層を含む有機層33と、陰極(第2電極)34とを順に具備する有機EL素子である。さらに、陰極34の有機層33と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層35と、金属層36とを該反対側の面に接する側から順に具備する。陰極34は、透光性導電材料からなり、低屈折率層35の屈折率は有機層33の屈折率よりも低い。基板31の表面層31aには、離散的に形成された複数の基板凸部31abの側面31abAを被覆するように基板の屈折率と異なる材料が形成されてなる屈折率変調構造38を備えている。
屈折率変調構造38は、基板31の表面層31aに離散的に形成された複数の基板凸部31abと、その基板凸部31abの側面31abAを被覆するように、基板の屈折率と異なる材料で形成された屈折率変調領域38aとから構成される。
本実施形態の屈折率変調構造38は、第2実施形態の屈折率変調構造と基板を構成要素とする点は同様である。
一方、第2実施形態の屈折率変調構造28は、基板21の表面層21aが備える基板凸部21abが第1屈折率材料層に相当し、屈折率変調領域28aが第2屈折率材料領域に相当するのに対して、第3実施形態の屈折率変調構造38は、屈折率変調領域38aが第1屈折率材料層に相当し、基板凸部31abが第2屈折率材料領域に相当する点が異なる。
本実施形態の屈折率変調構造38は、第2実施形態の屈折率変調構造と基板を構成要素とする点は同様である。
一方、第2実施形態の屈折率変調構造28は、基板21の表面層21aが備える基板凸部21abが第1屈折率材料層に相当し、屈折率変調領域28aが第2屈折率材料領域に相当するのに対して、第3実施形態の屈折率変調構造38は、屈折率変調領域38aが第1屈折率材料層に相当し、基板凸部31abが第2屈折率材料領域に相当する点が異なる。
離散的に配置される基板凸部31abは周期的に配置される構成でも、非周期的に配置される構成でもよい。離散的に配置される複数の基板凸部31abは全て同じ形状であっても異なる形状が含まれてもよい。屈折率変調構造38は、チェッカーパターンのように、離散的に配置される一方の領域(基板凸部31ab)によって、他方(屈折率変調領域38a)も離散的な配置となる場合であってもよい。他方の領域(屈折率変調領域38a)は、離散的に配置される一方の領域(基板凸部31ab)の間に配置された海状部と、この海状部に接する連続する層からなる連続膜部で構成される構造であってもよい。
離散的に配置される基板凸部31abが少なくとも一方向に周期的に配置された構成とする場合、その周期(ピッチ)pは、ある整数N(1≦N≦3)に対して前述の式(1)を満たすように選択するのが好ましい。この際、周期pは、金属層36及び低屈折率層35の材料によっても変化するため、その材料の選択も併せて勘案することが好ましい。図14においては、基板凸部31abの周期pを示している。
屈折率変調構造38は、離散的に配置される基板凸部31abが光の波長と同程度以下の周期pで周期的に配置することによって、基板凸部31abと屈折率変調領域38aとがフォトニック結晶をなす構成としてもよい。
屈折率変調領域38aを構成する材料としては、基板31と異なる屈折率の材料であれば、基板31の屈折率より高いものでも低いものでも用いることができる。例えば、第1実施形態の屈折率変調構造を構成する高屈折率材料及び低屈折率材料と同様なものを用いることができる。
屈折率変調構造38の厚さも、第1実施形態の屈折率変調構造と同様の厚さとすることができる。
屈折率変調構造38の厚さも、第1実施形態の屈折率変調構造と同様の厚さとすることができる。
本実施形態の有機EL素子における光取り出し効率が向上するメカニズムは第1実施形態の場合と同様である。すなわち、屈折効果、回折格子による作用効果およびフォトニック結晶による作用効果によって光取り出し効率を向上する。屈折効果は、基板凸部31abと屈折率変調領域38aとの界面39によって生じる。回折格子による作用効果は、屈折率変調領域38が周期的に配置される(周期p)ことによって基板凸部31abと屈折率変調領域38aとが回折格子をなすことによって生じる。フォトニック結晶による作用効果は、屈折率変調領域38が光の波長と同程度以下の周期pで周期的に配置することによって、基板凸部31abと屈折率変調領域38aとがフォトニック結晶をなすことによって生じる。
(画像表示装置)
次に、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置について説明を行う。上記の有機EL素子10~30を備えた画像表示装置は、それぞれ同様なので、有機EL素子10として説明する。
図16は、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明した図である。
図16に示した画像表示装置100は、いわゆるパッシブマトリクス型の画像表示装置であり、有機EL素子10の他に、陽極配線104、陽極補助配線106、陰極配線108、絶縁膜110、陰極隔壁112、封止プレート116、シール材118とを備えている。
次に、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置について説明を行う。上記の有機EL素子10~30を備えた画像表示装置は、それぞれ同様なので、有機EL素子10として説明する。
図16は、上記の有機EL素子を備えた画像表示装置の一例を説明した図である。
図16に示した画像表示装置100は、いわゆるパッシブマトリクス型の画像表示装置であり、有機EL素子10の他に、陽極配線104、陽極補助配線106、陰極配線108、絶縁膜110、陰極隔壁112、封止プレート116、シール材118とを備えている。
本実施の形態において、有機EL素子10の基板1上には、複数の陽極配線104が形成されている。陽極配線104は、一定の間隔を隔てて平行に配置される。陽極配線104は、透明導電膜により構成され、例えばITO(Indium Tin Oxide)を用いることができる。陽極配線104の厚さは、例えば、100nm~150nmとすることができる。それぞれの陽極配線104の端部の上には、陽極補助配線106が形成され、陽極補助配線106は陽極配線104と電気的に接続されている。このような構成とすることにより、陽極補助配線106は、基板1の端部側において外部配線と接続するための端子として機能し、外部に設けられた図示しない駆動回路から陽極補助配線106を介して陽極配線104に電流を供給することができる。陽極補助配線106は、例えば、厚さ500nm~600nmの金属膜によって構成される。
有機EL素子10上には、複数の陰極配線108が設けられている。複数の陰極配線108は、それぞれが平行となるよう、かつ、陽極配線104と直交するように配設されている。陰極配線108には、Al又はAl合金を使用することができる。陰極配線108の厚さは、例えば、100nm~150nmである。陰極配線108の端部には、陽極配線104に対する陽極補助配線106と同様に、図示しない陰極補助配線が設けられ、陰極配線108と電気的に接続されている。この電気的な接続によって、陰極配線108と陰極補助配線との間に電流を流すことができる。
基板1上には、陽極配線104を覆うように絶縁膜110が形成される。絶縁膜110には、陽極配線104の一部を露出するように矩形状の開口部120が設けられている。複数の開口部120は、陽極配線104の上にマトリクス状に配置されている。この開口部120に、陽極配線104と陰極配線108の間に有機EL素子10が設けられる。すなわち、それぞれの開口部120が画素となる。従って、開口部120に対応して表示領域が形成される。絶縁膜110の膜厚は、例えば、200nm~100nmとすることができ、開口部120の大きさは、例えば、100μm×100μmとすることができる。
有機EL素子10は、開口部120において陽極配線104と陰極配線108の間に位置している。そしてこの場合、有機EL素子10の陽極2が陽極配線104と接触し、陰極4が陰極配線108と接触する。有機EL素子10の厚さは、例えば、150nm~200nmとすることができる。
絶縁膜110の上には、複数の陰極隔壁112が陽極配線104と垂直な方向に沿って形成されている。陰極隔壁112は、陰極配線108の配線同士が導通しないように、複数の陰極配線108を空間的に分離するための役割を担っている。従って、隣接する陰極隔壁112の間にそれぞれ陰極配線108が配置される。陰極隔壁112の大きさとしては、例えば、高さが2μm~3μm、幅が10μmのものを用いることができる。
基板1は、封止プレート116とシール材118を介して貼り合わせられている。これにより、有機EL素子10が設けられた空間を封止することができ、有機EL素子10が空気中の水分により劣化するのを防ぐことができる。封止プレート116としては、例えば、厚さが0.7mm~1.1mmのガラス基板を使用することができる。
このような構造の画像表示装置100において、図示しない駆動装置により、陽極補助配線106、図示しない陰極補助配線を介して、有機EL素子10に電流を供給し、発光層を発光させることができる。そして基板1を通し、光を出射させることができる。そして、上述の画素に対応した有機EL素子10の発光、非発光を制御装置により制御することにより、画像表示装置100に画像を表示させることができる。
(照明装置)
上記の有機EL素子を用いた照明装置について説明を行う。上記の有機EL素子10~30を備えた画像表示装置は、それぞれ同様なので、有機EL素子10として説明する。
図17は、上記の有機EL素子10を備える照明装置の一例を説明した図である。
図17に示した照明装置200は、上述した有機EL素子10と、有機EL素子10の基板1(図1参照)に隣接して設置され陽極2(図1参照)に接続される端子202と、陰極4(図1参照)に接続される端子203と、端子202と端子203とに接続し有機EL素子10を駆動するための点灯回路201とから構成される。
上記の有機EL素子を用いた照明装置について説明を行う。上記の有機EL素子10~30を備えた画像表示装置は、それぞれ同様なので、有機EL素子10として説明する。
図17は、上記の有機EL素子10を備える照明装置の一例を説明した図である。
図17に示した照明装置200は、上述した有機EL素子10と、有機EL素子10の基板1(図1参照)に隣接して設置され陽極2(図1参照)に接続される端子202と、陰極4(図1参照)に接続される端子203と、端子202と端子203とに接続し有機EL素子10を駆動するための点灯回路201とから構成される。
点灯回路201は、図示しない直流電源と図示しない制御回路を内部に有し、端子202と端子203を通して、有機EL素子10の陽極層2と陰極4との間に電流を供給する。供給された電流は、有機EL素子10を駆動し、発光層を発光させる。発光した光は、基板1を通し、外部に出射され、照明光として利用することができる。発光層は白色光を出射する発光材料より構成されていてもよく、また緑色光(G)、青色光(B)、赤色光(R)を出射する発光材料を使用した有機EL素子10をそれぞれ複数個設け、その合成光が白色となるようにしてもよい。
(有機EL素子の製造方法)
以下では、本発明の実施形態のうち、第1実施形態及び第2実施形態の有機EL素子の製造方法についてそれぞれ一例を挙げて説明する。第3実施形態の有機EL素子の製造方法については、第2実施形態の有機EL素子の製造方法の工程や手法等を適用して実施することができる。
以下では、本発明の実施形態のうち、第1実施形態及び第2実施形態の有機EL素子の製造方法についてそれぞれ一例を挙げて説明する。第3実施形態の有機EL素子の製造方法については、第2実施形態の有機EL素子の製造方法の工程や手法等を適用して実施することができる。
(有機EL素子(第1実施形態)の製造方法)
本発明の第1実施形態である有機EL素子の製造方法について図18を参照して説明する。
まず、図18(a)に示すように、基板1上に、第1屈折率材料層8aを形成する。この第1屈折率材料層8aの形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
本発明の第1実施形態である有機EL素子の製造方法について図18を参照して説明する。
まず、図18(a)に示すように、基板1上に、第1屈折率材料層8aを形成する。この第1屈折率材料層8aの形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
次に、孔部8h(図18(e)参照)を形成する。形成する方法は、例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図18(b)に示すように、まず第1屈折率材料層8aの上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層R1を形成する。
そして、孔部8hを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行うと、図18(c)に示すように、レジスト層R1に孔部8hに対応した所定のパターンが露光される(露光された部分R1a)。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層R1aを除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、第1屈折率材料層8aの表面が露出する(図18(d))。
図18(e)に示すように、残存したレジスト層R1をマスクとして、露出した第1屈折率材料層8aの部分をエッチング除去して孔部8hを形成する。エッチングとしては、ドライエッチングとウェットエッチングの何れをも使用することができる。この際に等方性エッチングと異方性エッチングを組合せることで、孔部8hの形状の制御を行うことができる。ドライエッチングとしては、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)や誘導結合プラズマエッチングが利用できる。ウェットエッチングとしては、希塩酸や希硫酸、フッ酸への浸漬を行う方法などが利用できる。図18(e)では、第1屈折率材料層8aを貫通させているが非貫通でも良い。
次に、図18(f)に示すように、レジスト層R1を除去した後、第2屈折率材料で孔部8hを充填して第2屈折率材料領域8bを形成する。こうして、第1屈折率材料層8a及び第2屈折率材料領域8bからなる屈折率変調構造8が形成される。この第2屈折率材料領域8bの形成も、第1屈折率材料層8aの形成方法と同様に特に限定されないが、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などの各種のドライプロセスの他、塗布法などの各種のウェットプロセスを用いることができる。図18(f)では、孔部8hを充填しているが、図7、図8、図11のような構造を形成する場合は、一部充填し、残りを別の材料で充填してもよい。これらの図18(b)~図18(f)の工程を複数回行うことにより、図10のような構造を形成することもできる。
次に、図18(g)に示すように、第1屈折率材料層8a及び第2屈折率材料領域8b上に陽極2を形成する。この陽極2の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
陽極2を形成した後に、陽極2の表面処理を行うことで、オーバーコートされる層の性能(陽極2との密着性、表面平滑性、ホール注入障壁の低減化など)を改善することができる。表面処理を行うには高周波プラズマ処理を始めとしてスパッタリング処理、コロナ処理、UVオゾン照射処理、紫外線照射処理、または酸素プラズマ処理などがある。
陽極2の表面処理の表面処理を行う代わりに、もしくは表面処理に追加して、図示しない陽極バッファ層を形成することで表面処理と同様の効果が期待できる。陽極バッファ層をウェットプロセスにて塗布して作製する場合には、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェットプリント法等の塗布法などを用いて成膜することができる。
陽極バッファ層をドライプロセスにて作製する場合は、特開2006-303412号公報に例示のプラズマ処理などを用いて成膜することができる。この他にも金属単体あるいは金属酸化物、金属窒化物等を成膜する方法が挙げられ、具体的な成膜方法としては、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、化学反応法、コーティング法、真空蒸着法などを用いることができる。
図18(h)に示すように、陽極2上に、有機EL材料からなる発光層を含む有機層3を形成する。ここで、有機層3を形成する下地となる陽極2の表面が凹凸状の場合は、平坦化するような研磨加工、エッチング処理などを適宜行ってもよい。
有機層3の形成には従来公知の方法を用いることができ、特に限定されないが、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
有機層3の形成には従来公知の方法を用いることができ、特に限定されないが、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
図18(i)に示すように、有機層3上に陰極4を形成する。陰極4の形成も陽極2の形成と同様の方法を用いることができ、特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
図18(j)に示すように、陰極4上に低屈折率層5を形成する。低屈折率層5の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
低屈折率層5を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
低屈折率層5を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
最後に、図18(k)に示すように、低屈折率層5上に金属層6を形成する。金属層6の形成方法には特に限定されない。例えば、蒸着法、スパッタリングを用いることができる。
以上の工程により、有機EL素子10を製造することができる。これら一連の工程後、有機EL素子10を長期安定的に用い、有機EL素子10を外部から保護するための保護層や保護カバー(図示せず)を装着することが好ましい。保護層としては、高分子化合物、金属酸化物、金属フッ化物、金属ホウ化物、窒化ケイ素、酸化ケイ素等のシリコン化合物などを用いることができる。そして、これらの積層体も用いることができる。保護カバーとしては、ガラス板、表面に低透水率処理を施したプラスチック板、金属などを用いることができる。この保護カバーは、熱硬化性樹脂や光硬化性樹脂で基板1と貼り合わせて密閉する方法を採ることが好ましい。この際に、スペーサを用いることで所定の空間を維持することができ、有機EL素子10が傷つくのを防止できるため好ましい。この空間に窒素、アルゴン、ヘリウムのような不活性なガスを封入すれば、上側の金属層6の酸化を防止しやすくなる。特にヘリウムを用いた場合、熱伝導が高いため、電圧印加時に有機EL素子10より発生する熱を効果的に保護カバーに伝えることができるため、好ましい。更に酸化バリウム等の乾燥剤をこの空間内に設置することにより上記一連の製造工程で吸着した水分が有機EL素子10にダメージを与えるのを抑制しやすくなる。
以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
(有機EL素子(第2実施形態)の製造方法)
次に、本発明の第2実施形態である有機EL素子の製造方法について図19を参照して説明する。
図19(a)に示すように、基板21上に、基板凹部21aa(図19(e))を形成するには、例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図19(a)に示すように、まず基板21の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層R2を形成する。
次に、本発明の第2実施形態である有機EL素子の製造方法について図19を参照して説明する。
図19(a)に示すように、基板21上に、基板凹部21aa(図19(e))を形成するには、例えば、フォトリソグラフィを用いた方法が使用できる。これを行うには、図19(a)に示すように、まず基板21の上にポジ型レジスト液を塗布し、スピンコート等により余分なレジスト液を除去して、レジスト層R2を形成する。
形成されたレジスト層R2上に、基板凹部21aaを形成するための所定のパターンが描画されたマスク(図示せず)をかぶせ、紫外線(UV)、電子線(EB)等により露光を行うと、図19(b)に示すように、レジスト層R2に基板凹部21aaに対応した所定のパターンが露光される(露光された部分R2a)。そして現像液を用いて露光されたパターンの部分のレジスト層R2aを除去する。これにより露光されたパターンの部分に対応して、基板1の表面が露出する(図19(c))。
次に、図19(d)に示すように、残存したレジスト層R2をマスクとして、露出した基板1の部分をエッチング除去して基板凹部21aaを形成する。エッチングとしては、ドライエッチングとウェットエッチングの何れをも使用することができる。この際に等方性エッチングと異方性エッチングを組合せることで、基板凹部21aaの形状の制御を行うことができる。ドライエッチングとしては、反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)や誘導結合プラズマエッチングが利用できる。ウェットエッチングとしては、希塩酸や希硫酸への浸漬を行う方法などが利用できる。
図19(e)に示すように、レジスト層R2を除去した後、屈折率変調材料で基板凹部21aaを充填して屈折率変調領域28aを形成する。こうして、基板21の表面層21aに屈折率変調構造28が形成される。屈折率変調領域28aの形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などの各種のドライプロセスのほか、塗布法などの各種のウェットプロセスを用いることができる。
図19(f)に示すように、基板凸部21ab及び屈折率変調領域28a上に陽極22を形成する。この陽極22の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
陽極22を形成した後に、陽極22の表面処理を行うことで、オーバーコートされる層の性能(陽極22との密着性、表面平滑性、ホール注入障壁の低減化など)を改善することができる。表面処理を行うには高周波プラズマ処理を始めとしてスパッタリング処理、コロナ処理、UVオゾン照射処理、紫外線照射処理、または酸素プラズマ処理などがある。
陽極22の表面処理の表面処理を行う代わりに、もしくは表面処理に追加して、図示しない陽極バッファ層を形成することで表面処理と同様の効果が期待できる。陽極バッファ層をウェットプロセスにて塗布して作製する場合には、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェットプリント法等の塗布法などを用いて成膜することができる。
陽極バッファ層をドライプロセスにて作製する場合は、特開2006-303412号公報に例示のプラズマ処理などを用いて成膜することができる。この他にも金属単体あるいは金属酸化物、金属窒化物等を成膜する方法が挙げられ、具体的な成膜方法としては、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、化学反応法、コーティング法、真空蒸着法などを用いることができる。
図19(g)に示すように、陽極22上に、有機EL材料からなる発光層を含む有機層23を形成する。ここで、有機層23を形成する下地となる陽極22の表面が凹凸状の場合は、平坦化するような研磨加工、エッチング処理などを適宜行ってもよい。
有機層23の形成には従来公知の方法を用いることができ、限定されない。例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
有機層23の形成には従来公知の方法を用いることができ、限定されない。例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法等の方法を用いることができる。
図19(h)に示すように、有機層23上に陰極24を形成する。陰極24の形成も陽極22の形成と同様の方法を用いることができ、限定するものではない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
次に、図19(i)に示すように、陰極24上に低屈折率層25を形成する。低屈折率層25の形成方法は特に限定されない。例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法などを用いることができる。
低屈折率層25を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
低屈折率層25を、空気層を含んでなる低屈折率層とする場合は、例えば、SOG層を形成した後に、SOG層のうち、フォトリソグラフィを用いて所定箇所だけSOG材料を残すようにSOG層をエッチング除去して、SOG層を除去した部分が空気層となるようにして、低屈折率層を形成する。
最後に、図19(j)に示すように、低屈折率層25上に金属層26を形成する。金属層26の形成方法は特に限定されないが、例えば、蒸着法、スパッタリングを用いることができる。
また第3実施形態の有機EL素子30は、図19(b)で露光する際に用いるマスクの形状を変える、もしくは使用するレジストをネガ型レジストとすることで、形成することができる。
以上の工程により、有機EL素子20を製造することができる。これら一連の工程後、有機EL素子10と同様に、有機EL素子20を長期安定的に用い、有機EL素子20を外部から保護するための保護層や保護カバー(図示せず)を装着することが好ましい。保護層としては、高分子化合物、金属酸化物、金属フッ化物、金属ホウ化物、窒化ケイ素、酸化ケイ素等のシリコン化合物などを用いることができる。そして、これらの積層体も用いることができる。保護カバーとしては、ガラス板、表面に低透水率処理を施したプラスチック板、金属などを用いることができる。この保護カバーは、熱硬化性樹脂や光硬化性樹脂で基板21と貼り合わせて密閉する方法を採ることが好ましい。この際に、スペーサを用いることで所定の空間を維持することができ、有機EL素子20が傷つくのを防止できるため好ましい。この空間に窒素、アルゴン、ヘリウムのような不活性なガスを封入すれば、上側の金属層26の酸化を防止しやすくなる。特にヘリウムを用いた場合、熱伝導が高いため、電圧印加時に有機EL素子20より発生する熱を効果的に保護カバーに伝えることができるため、好ましい。酸化バリウム等の乾燥剤をこの空間内に設置することにより上記一連の製造工程で吸着した水分が有機EL素子20にダメージを与えるのを抑制しやすくなる。
以上の有機EL素子の製造方法では陽極側から作製する方法を説明したが、陰極側から作製してもよい。
(Otto型配置におけるSPP取り出し)
本発明における有機EL素子のOtto型配置による金属層表面に捕捉された表面プラズモンポラリトン(SPP)を取り出すことが可能な低屈折率層の膜厚を検討する。
本発明における有機EL素子のOtto型配置による金属層表面に捕捉された表面プラズモンポラリトン(SPP)を取り出すことが可能な低屈折率層の膜厚を検討する。
図20に、有機層で発光した光の強度を、有機EL素子面方向における波数成分で展開するエネルギー散逸計算を行った結果を示す。横軸が、有機層で発光した光の波数の、有機EL素子面方向成分を真空の波数k0で割ったもの、すなわち有効屈折率であり、縦軸がその波数の光の強度、すなわち展開係数を示している。計算は、TM偏光成分、TE偏光成分に分けて行った。この計算は基板(ガラス)上に、各層が平坦な陽極と有機層と陰極(金属)とを積層した有機EL素子の結果を示している。この場合、TM偏光の最も高波数側のピーク面積がSPPモード光の強度を表しているが、有機層で発光した光の多くがSPPモード光として捕捉されているのが分かる。陽極と有機層の膜厚は、それぞれ150nm、100nmである。
一方で、Otto型配置の有機EL素子におけるエネルギー散逸計算による有機層で発光した光(TM偏光成分)の強度の、低屈折率層の膜厚による依存性を示した図を図21に示す。Otto型配置の有機EL素子は、基板、陽極、有機層は図20の素子と同じ構成であるが、有機層上に透明導電材料であるITOからなる陰極(50nm)が形成され、さらにその上に低屈折率層、金属層が順に形成された構成から成る。
低屈折率層の屈折率を1.38とし、図21(a)は金属層をAlとし、図21(b)は金属層をAgとした場合で、グラフ線の数字は低屈折率層の膜厚(nm)を示す。
低屈折率層の屈折率を1.38とし、図21(a)は金属層をAlとし、図21(b)は金属層をAgとした場合で、グラフ線の数字は低屈折率層の膜厚(nm)を示す。
図21(a)、(b)共に、低屈折率層の膜厚が厚くなるに従って、ピーク波数が小さくなり、かつピーク幅が狭くなるようにシフトしていることが分かる。また膜厚が厚くなるに従って、ピーク波数のシフトはわずかになり、ピーク幅も一定に近づいていることが確認できる。ピーク波数が小さくなることは、金属層に接した低屈折率層の膜厚が大きくなり、SPPの波数がこの低屈折率層の屈折率の影響で小さくなることを示しており、ピーク幅が狭くなることは、SPPとして捕捉されていた光が伝播光として取り出され、光の減衰が小さくなっていることを示している。これについて、次に説明する。
図22(a)、(b)、(c)を用いてピークの変化について、以下に説明する。図22(a)は、SPPモード光として光が完全に金属層表面に捕捉されている。これは、低屈折率層の膜厚が0nmの時を表しており、SPPモード光は金属層と陰極の界面を面内方向に伝播しながら急速に減衰するため、ピーク幅が大きくなっている。
低屈折率層の膜厚が厚くなるにつれて、図22(b)のようになり、Otto型配置によってSPPモード光と導波モード光が混在した状態となる。これは、取り出されたSPPモード光が導波モード光となり、界面反射により再度金属層にSPPモード光として再捕捉されることを意味している。この場合、光は図22(a)のSPPモード光に比べ減衰しにくいため、ピーク幅は次第に狭くなる。
最後に、低屈折率層の膜厚が十分厚くなると、図22(c)のようになる。この場合、Otto型配置をしているが、発光点におけるエバネッセント波が金属層に届かなくなり、SPPモード光として捕捉されない。この場合、発光した光は導波モード光として、捕捉されることとなる。つまり、低屈折率層の膜厚がある厚みを超えると、捕捉された光は導波モード光のみとなるため、減衰のしやすさは変わらなくなり、ピーク幅にも変化が生じなくなる。
低屈折率層の膜厚が厚くなるにつれて、図22(b)のようになり、Otto型配置によってSPPモード光と導波モード光が混在した状態となる。これは、取り出されたSPPモード光が導波モード光となり、界面反射により再度金属層にSPPモード光として再捕捉されることを意味している。この場合、光は図22(a)のSPPモード光に比べ減衰しにくいため、ピーク幅は次第に狭くなる。
最後に、低屈折率層の膜厚が十分厚くなると、図22(c)のようになる。この場合、Otto型配置をしているが、発光点におけるエバネッセント波が金属層に届かなくなり、SPPモード光として捕捉されない。この場合、発光した光は導波モード光として、捕捉されることとなる。つまり、低屈折率層の膜厚がある厚みを超えると、捕捉された光は導波モード光のみとなるため、減衰のしやすさは変わらなくなり、ピーク幅にも変化が生じなくなる。
図23は、低屈折率層の膜厚に対する、ピーク幅(半値幅)の変化を示した図である。図23の金属層がAlの場合に、低屈折率層の膜厚が200nm以上でピーク幅の変化が小さくなり、発光した光がSPPモード光として捕捉されにくくなっていることが分かる。金属層がAgの場合に、低屈折率層の膜厚が150nm以上でピーク幅の変化が小さくなり、SPPモード光として捕捉されにくくなっていることが分かる。
つまりSPPモード光として捕捉される膜厚は少なくとも300nm以下であり、200nm以下で捕捉の効果が顕著になることが分かる。本検討は低屈折率層の屈折率をn=1.38の場合を計算しているが、屈折率は1.38に限定されるものではなく、金属層もAgとAlに限定されるものではない。
つまりSPPモード光として捕捉される膜厚は少なくとも300nm以下であり、200nm以下で捕捉の効果が顕著になることが分かる。本検討は低屈折率層の屈折率をn=1.38の場合を計算しているが、屈折率は1.38に限定されるものではなく、金属層もAgとAlに限定されるものではない。
Otto型配置において、金属層表面に捕捉された表面プラズモンポラリトン(SPP)は、陰極と低屈折率層の界面で全反射した光によって発生するエバネッセント波によって取り出すことができる。すなわち、このエバネッセント波の波数が、金属層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数kSPPと交点を持つ必要がある。
金属層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数kSPPは以下の式(13)で表すことができる。但し、ε1は金属層の誘電率であり、ε2は低屈折率層の誘電率であり、k0は前記発光層で発光する光のピーク波長における真空中の光の波数である。
またその実数部は以下の式(14)で表すことができる。
金属層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の電磁場の大きさ(強度)を、金属層表面での値を1として規格化すると、金属層に垂直な方向に指数関数的に減衰しながら滲み出し、低屈折率層/陰極界面に到達した表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度は、各界面での反射が無視できる場合、近似的に
となる。
但し、κSPPは表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数の基板面内方向成分の実部を真空中の光の波数k0で割った値とする。式(16)が十分大きければ、金属層の表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の電磁場が陰極や有機層に滲み出し、陰極と低屈折率層の界面での全反射により生じたエバネッセント波とカップリングして、取り出すことができる。
図24(a)は金属層をAl、(b)は金属層をAgとした場合の式(16)をグラフ化した図である。
但し、κSPPは表面プラズモンポラリトン(SPP)の波数の基板面内方向成分の実部を真空中の光の波数k0で割った値とする。式(16)が十分大きければ、金属層の表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の電磁場が陰極や有機層に滲み出し、陰極と低屈折率層の界面での全反射により生じたエバネッセント波とカップリングして、取り出すことができる。
図24(a)は金属層をAl、(b)は金属層をAgとした場合の式(16)をグラフ化した図である。
この結果を、図21(a)、(b)と比較すると、式(16)において、金属層表面に生成される表面プラズモンポラリトン(SPP)の、低屈折率層/陰極界面での強度は、金属層表面での強度を1として規格化すると、低屈折率層の厚み方向に伝搬した位置での表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度が0.4以下となる低屈折率層の厚みで、ピーク幅が一定値に飽和していることが分かる。すなわち、式(16)が0.4以下となるときには、低屈折率層と陰極界面にまで滲み出す表面プラズモンポラリトン(SPP)の強度が小さくなり、Otto型配置による光取り出し効果は少なくなると言える。逆に言えば、低屈折率層の膜厚は、式(16)が0.4以上となれば、Otto型配置による光取り出し効果を十分に得ることができることが分かる。
本検討は低屈折率層の屈折率をn=1.38の場合を計算しているが、屈折率は1.38に限定されるものではなく、金属層もAgとAlに限定されるものではない。式(16)で表わされる、低屈折率層と陰極界面でのSPPの強度が一定値(例えば0.4)より大きいという条件を満たせば、Otto配置によってSPPモード光を有機層中に取り出すことができ、この条件を満たす限り、低屈折率層の屈折率や陰極の材料は限定されるものではない。
本検討は低屈折率層の屈折率をn=1.38の場合を計算しているが、屈折率は1.38に限定されるものではなく、金属層もAgとAlに限定されるものではない。式(16)で表わされる、低屈折率層と陰極界面でのSPPの強度が一定値(例えば0.4)より大きいという条件を満たせば、Otto配置によってSPPモード光を有機層中に取り出すことができ、この条件を満たす限り、低屈折率層の屈折率や陰極の材料は限定されるものではない。
本発明の有機EL素子の実施例について以下に説明する。
実施例では、各実施形態の有機EL素子の光取り出し効率への効果の確認をシミュレーションにより行った。最初に、シミュレーションに用いた有限差分時間領域法(FDTD method:Finite Difference Time Domain Method)について説明する。FDTD法は、電磁界の時間変化を記述するMaxwellの方程式を空間的・時間的に差分化し、空間の各点における電磁界の時間変化を追跡する解析手法である。より具体的には、発光層における発光を微小ダイポールからの放射と捉えて、その放射(電磁界)の時間変化を追跡するという手法である。シミュレーション結果は、基板まで光取り出しを行った結果を示す。横軸のλは真空中の波長、縦軸のηは光取り出し効率(ダイポールからの全放射強度に対する基板取り出し光強度の割合)である。以下の図においても同じである。
計算は、現実に近い発光現象をシミュレートするために、発光源であるダイポールをランダム(ダイポールのモーメントがx、y、z方向にランダム)として行った。ここで、x及びy方向は、基板面に平行な方向であり、z方向は基板面に垂直な方向である。以下に示す光取り出し効率の計算結果のグラフ図はこのランダムなダイポールに対する計算結果である。
計算は、現実に近い発光現象をシミュレートするために、発光源であるダイポールをランダム(ダイポールのモーメントがx、y、z方向にランダム)として行った。ここで、x及びy方向は、基板面に平行な方向であり、z方向は基板面に垂直な方向である。以下に示す光取り出し効率の計算結果のグラフ図はこのランダムなダイポールに対する計算結果である。
図25は、本発明の有機EL素子の効果を確認するために、FDTD法を用いて、光取り出し効率への開口部が配置される周期の依存性をコンピュータシミュレーションで求めた結果を示す。シミュレーションで求めた光取り出し効率は、基板までの光取り出しを行った場合の光取り出し効率(全発光強度に対する基板まで取り出された光強度の相対値)である(以下のシミュレーション結果についても同様)。グラフの横軸のλは発光光の波長、縦軸のηは光取り出し効率である。
図26は、シミュレーションで用いた第1実施形態のボトムエミッション型の有機EL素子10のモデル構造を示す断面図である。
計算に用いた屈折率の値は以下のとおりである。基板1はガラスからなるとして、屈折率としては1.52を用いた。屈折率変調構造8を構成する第1屈折率材料層8a、第2屈折率材料領域8bのうち、第1屈折率材料層8aは、酸化亜鉛からなるとしてその屈折率としては2.00、第2屈折率材料領域8bは、SOGからなるとしてその屈折率としては1.25を用いた。この場合、酸化亜鉛が高屈折率材料、SOGが低屈折率材料に相当する。陽極(第1電極)2はITOからなるとして、屈折率としては550nmで1.82+0.009iとし、その他の波長はローレンツモデルで外挿した。有機層3の平均の屈折率としては1.72を用いた。陰極(第2電極)4はアモルファスITO(a-ITO)からなるとして屈折率としては550nmで2.08+0.013iとし、その他の波長はローレンツモデルで外挿した。低屈折率層5は、SOGからなるとして屈折率としては屈折率1.25を用いた。金属層6はアルミニウム(Al)からなるとして、屈折率としては550nmで0.649+4.32iを用い、その他の波長はドルーデモデルで外挿した。
陽極2、有機層3、陰極4、低屈折率層5、金属層6、屈折率変調構造8の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、50nm、50nm、100nm、200nmとした。
第2屈折率材料領域8b間の周期(ピッチ)pが200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nm、8000nmの場合についてそれぞれ計算した。第2屈折率材料領域8bのサイズs(又は、孔部8hのサイズs)は、周期pの1/2とした。
発光(図26中の星マーク)は、高屈折率材料からなる第1屈折率材料層8aの中心軸上で、陰極4から52.5nmの位置で発光したとしてコンピュータシミュレーション計算を行った。
比較のために、Otto型配置の陰極側構造を有するが、有機層中まで取り出された伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造は有さない構造(以下、「Otto型配置のみ構造」ということがある)と、Otto型配置の第2電極側構造を有さず、且つ伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造も有さない構造(以下、「標準構造」ということがある)の場合も計算した。
標準構造は、基板上に、陽極層、有機層、陰極金属層の順に形成された構造を意味する。シミュレーションにおいては、標準構造は基板がガラスからなり、陽極がITOからなり、有機層を挟んで、陰極はAlからなるものを用いた。屈折率としてはそれぞれ、1.52、1.82+0.009i、1.72、0.649+4.32iを用い、陽極、有機層、陰極の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、100nmとした。
計算に用いた屈折率の値は以下のとおりである。基板1はガラスからなるとして、屈折率としては1.52を用いた。屈折率変調構造8を構成する第1屈折率材料層8a、第2屈折率材料領域8bのうち、第1屈折率材料層8aは、酸化亜鉛からなるとしてその屈折率としては2.00、第2屈折率材料領域8bは、SOGからなるとしてその屈折率としては1.25を用いた。この場合、酸化亜鉛が高屈折率材料、SOGが低屈折率材料に相当する。陽極(第1電極)2はITOからなるとして、屈折率としては550nmで1.82+0.009iとし、その他の波長はローレンツモデルで外挿した。有機層3の平均の屈折率としては1.72を用いた。陰極(第2電極)4はアモルファスITO(a-ITO)からなるとして屈折率としては550nmで2.08+0.013iとし、その他の波長はローレンツモデルで外挿した。低屈折率層5は、SOGからなるとして屈折率としては屈折率1.25を用いた。金属層6はアルミニウム(Al)からなるとして、屈折率としては550nmで0.649+4.32iを用い、その他の波長はドルーデモデルで外挿した。
陽極2、有機層3、陰極4、低屈折率層5、金属層6、屈折率変調構造8の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、50nm、50nm、100nm、200nmとした。
第2屈折率材料領域8b間の周期(ピッチ)pが200nm、300nm、500nm、900nm、2000nm、4000nm、8000nmの場合についてそれぞれ計算した。第2屈折率材料領域8bのサイズs(又は、孔部8hのサイズs)は、周期pの1/2とした。
発光(図26中の星マーク)は、高屈折率材料からなる第1屈折率材料層8aの中心軸上で、陰極4から52.5nmの位置で発光したとしてコンピュータシミュレーション計算を行った。
比較のために、Otto型配置の陰極側構造を有するが、有機層中まで取り出された伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造は有さない構造(以下、「Otto型配置のみ構造」ということがある)と、Otto型配置の第2電極側構造を有さず、且つ伝播光を導波モード光とせずに外部に取り出す第1電極側構造も有さない構造(以下、「標準構造」ということがある)の場合も計算した。
標準構造は、基板上に、陽極層、有機層、陰極金属層の順に形成された構造を意味する。シミュレーションにおいては、標準構造は基板がガラスからなり、陽極がITOからなり、有機層を挟んで、陰極はAlからなるものを用いた。屈折率としてはそれぞれ、1.52、1.82+0.009i、1.72、0.649+4.32iを用い、陽極、有機層、陰極の層厚はそれぞれ、150nm、100nm、100nmとした。
図25に示すように、周期pが4000nm及び8000nmの場合は、450nm~750nmのほとんど全波長で、Otto型配置のみの陰極側構造よりも光取り出し効率が低かった。これは、基板面に対し垂直な第1屈折材料層と第2屈折材料領域の界面の総面積が、周期pが大きくなっていくにつれ減少し、有機層中の伝播光が基板面に対して垂直に近い方向へ屈折されにくくなるためである。周期pが大きな屈折率変調構造とする場合は、屈折率変調構造の膜厚を大きくして、上記界面の面積を十分大きくすればOtto型配置のみの陰極側構造に比べてより高い光取り出し効率を得ることができる。
一方、周期pが900nmの場合は、450nm~750nmの全波長でOtto型配置のみの陰極側構造よりも大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が500nmの場合は、450nm~710nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、特に低波長側ほど(特に670nm以下)では大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が300nmの場合も、450nm~720nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nmの場合と同様に特に低波長側ほど(特に670nm以下)では大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が2000nmの場合は、450nm~700nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nmの場合と同様に特に低波長側ほど(特に570nm以下)では、かなり高い光取り出し効率が得られた。周期が200nmの場合は、450nm~600nm及び660nm~710nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nm~550nm以下ではかなり高い光取り出し効率が得られた。
周期pが200nm~2000nmの場合、450nm~750nmのほとんど全波長で、標準構造に比べて1.1倍~2倍の光取り出し効率が得られた。
以上の結果から、上記条件の下では、周期pを200nm~2000nmにすることが好ましく、300nm~900nmにすることがより好ましく、500nm~900nmにすることがさらに好ましいことがわかった。
一方、周期pが900nmの場合は、450nm~750nmの全波長でOtto型配置のみの陰極側構造よりも大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が500nmの場合は、450nm~710nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、特に低波長側ほど(特に670nm以下)では大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が300nmの場合も、450nm~720nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nmの場合と同様に特に低波長側ほど(特に670nm以下)では大幅に高い光取り出し効率が得られた。周期が2000nmの場合は、450nm~700nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nmの場合と同様に特に低波長側ほど(特に570nm以下)では、かなり高い光取り出し効率が得られた。周期が200nmの場合は、450nm~600nm及び660nm~710nmの波長ではOtto型配置のみの陰極側構造よりも高い光取り出し効率が得られ、500nm~550nm以下ではかなり高い光取り出し効率が得られた。
周期pが200nm~2000nmの場合、450nm~750nmのほとんど全波長で、標準構造に比べて1.1倍~2倍の光取り出し効率が得られた。
以上の結果から、上記条件の下では、周期pを200nm~2000nmにすることが好ましく、300nm~900nmにすることがより好ましく、500nm~900nmにすることがさらに好ましいことがわかった。
この結果は、当業者であってもOtto型配置の陰極側構造及び陽極側構造のそれぞれの構造に基づいて予測することは困難であり、シミュレーションを行って初めて得ることができた知見である。
図27は、第1実施形態の有機EL素子について第2屈折率材料領域が一方向に周期的に配置する場合について、第2屈折率材料領域の周期pが(a)200nm、(b)300nm、(c)500nm、(d)900nm、(e)2000nm、(f)4000nmそれぞれの場合の、水平方向のダイポールからの放射光の電場の強度分布を、コンピュータシミュレーションで得られた結果を示すものである。放射光の波長は620nmを用いた。強度分布は基板が上側、金属層が下側で示している。図27のコンピュータシミュレーションについても図26のコンピュータシミュレーションを行ったモデル構造で行った結果である。
図28は、図27と同様な場合について、第2屈折率材料領域の周期pが(a)200nm、(b)300nm、(c)500nm、(d)900nm、(e)2000nm、(f)4000nmそれぞれの場合の、垂直方向のダイポールからの放射光の磁場の強度分布を、コンピュータシミュレーションで得られた結果を示すものである。放射光の波長は620nmを用いた。強度分布は基板が上側、金属層が下側で示している。図28のコンピュータシミュレーションについても図26のコンピュータシミュレーションを行ったモデル構造で行った結果である。
シミュレーション結果から、第2屈折率材料領域の周期が検討のすべての場合において、電磁場共に、斜め方向に放射されていることが確認できる。
1、21、31 基板
2、22、32 第1電極(陽極)
3、23、33 有機層
4、24、34 第2電極(陰極)
5、25、35 低屈折率層
6、26、36 金属層
8、28、38 屈折率変調構造
8a 第1屈折率材料層
8b 第2屈折率材料領域
9、29、39 界面
21a、31a 表面層
21aa 基板凹部
21ab、31ab 基板凸部
28a、38a 屈折率変調領域
29、39 界面
10、20、30 有機EL素子
100 画像表示装置
200 照明装置
2、22、32 第1電極(陽極)
3、23、33 有機層
4、24、34 第2電極(陰極)
5、25、35 低屈折率層
6、26、36 金属層
8、28、38 屈折率変調構造
8a 第1屈折率材料層
8b 第2屈折率材料領域
9、29、39 界面
21a、31a 表面層
21aa 基板凹部
21ab、31ab 基板凸部
28a、38a 屈折率変調領域
29、39 界面
10、20、30 有機EL素子
100 画像表示装置
200 照明装置
Claims (11)
- 第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、
前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、
前記第2電極は、透光性導電材料からなり、
前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、
前記第1電極の前記有機層と反対側の面には、第1屈折率材料層を有し、
前記第1屈折率材料層の面内方向には、離散的に配置された複数の第2屈折率材料領域を有する屈折率変調構造を備えたことを特徴とする有機EL素子。 - 基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、
前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、
前記第2電極は、透光性導電材料からなり、
前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、
前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凹部が、基板の屈折率と異なる材料で充填されてなる屈折率変調構造を備えたことを特徴とする有機EL素子。 - 基板上に、第1電極と、発光層を含む有機層と、第2電極とを順に具備する有機EL素子であって、
前記第2電極の前記有機層と反対側の面には、厚さ20nm以上300nm以下の低屈折率層と、金属層とを該反対側の面に接する側から順に具備し、
前記第2電極は、透光性導電材料からなり、
前記低屈折率層の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低く、
前記基板の表面層に離散的に形成された複数の基板凸部を有し、その側面を被覆するように基板の屈折率と異なる材料が形成されてなる屈折率変調構造を備えたことを特徴とする有機EL素子。 - 前記低屈折率層の屈折率は、前記第2電極の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の有機EL素子。
- 前記第2電極の屈折率は、前記有機層の屈折率よりも低いことを特徴とする請求項4に記載の有機EL素子。
- 前記低屈折率層は、前記第2電極及び前記有機層のうちの少なくとも一方よりも屈折率が0.2以上小さい材料からなることを特徴とする請求項1~5のいずれか一項に記載の有機EL素子。
- 前記第2屈折率材料領域、前記基板凹部又は前記基板凸部が、素子面内の少なくとも一方向に配列される周期が、500nm~2000nmであることを特徴とする請求項1~6のいずれかに一項に記載の有機EL素子。
- 前記周期が、200nm~2000nmであることを特徴とする請求項8に記載の有機EL素子。
- 請求項1~9のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする画像表示装置。
- 請求項1~9のいずれか一項に記載の有機EL素子を備えることを特徴とする照明装置。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| JP2013159700 | 2013-07-31 | ||
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|---|---|
| WO (1) | WO2015016176A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9890332B2 (en) | 2015-03-08 | 2018-02-13 | Proton Power, Inc. | Biochar products and production |
| CN113555515A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光器件及显示面板 |
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2014
- 2014-07-28 WO PCT/JP2014/069820 patent/WO2015016176A1/ja not_active Ceased
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