WO2015001753A1 - コヒーレントテラヘルツ光用光学装置 - Google Patents

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卓夫 森本
孝行 須藤
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日本電気株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to an optical device for coherent terahertz light.
  • Terahertz waves which are electromagnetic waves with a frequency of 0.1 to 10 THz (wavelength 30 ⁇ m to 3 mm), are not harmful to X-rays while passing through plastic, paper, clothes, etc., and have a fingerprint spectrum peculiar to the terahertz region. It has attracted attention because it has been discovered. Although no suitable light source has been available in the terahertz region for a long time, a stable light source has recently been obtained by using a quantum cascade laser. This greatly advanced research and development. For example, a terahertz microscope using a quantum cascade laser as described in Non-Patent Document 1 has been developed.
  • FIG. 1 The configuration of this terahertz microscope is shown in FIG.
  • a housing 101 houses a coherent terahertz light source 102 that outputs a coherent terahertz wave and an illumination optical system.
  • a sample stage 103 is provided at the tip of the illumination optical system, and an observation optical system and a terahertz camera 105 housed in a lens barrel 104 are provided at the tip. With this configuration, a terahertz image of the sample 106 placed on the sample stage 103 is acquired by the terahertz camera 105.
  • the coherent terahertz light source 102 is a quantum cascade laser, and its frequency is 2.83 THz (wavelength 106 ⁇ m).
  • the illumination optical system includes a first lens 107, a mirror 108, an iris diaphragm 109, and a second lens 110.
  • a sample stage 103 is provided at the tip of the illumination optical system, and an objective lens 111, an infrared cut filter 112, and an eyepiece 113 are provided in the observation optical system.
  • a terahertz camera 105 is installed at the tip of the eyepiece lens 113.
  • the observation optical system and the terahertz camera 105 are supported by an arm 114.
  • the first lens 107 is supported by a lens support 115, and the mirror 108 is supported by a mirror support 116.
  • the sensor package 117 is built in the terahertz camera 105.
  • An array sensor 118 is enclosed in the sensor package 117, and a window 119 is provided in the terahertz light incident portion of the sensor package 117.
  • the light output from the coherent terahertz light source 102 is collected by the first lens 107, reflected by the mirror 108, and collected at the position of the iris diaphragm 109. Next, unnecessary light is removed by the iris diaphragm 109.
  • the light that has passed through the iris diaphragm 109 is collimated by the second lens 110 and irradiated onto the sample 106 placed on the sample stage 103.
  • the light transmitted through the sample 106 enters the terahertz camera 105 through the observation optical system. As described above, a terahertz image of the sample 106 can be acquired. Note that the magnification can be adjusted by changing the combination of the objective lens 111 and the eyepiece lens 113.
  • Non-Patent Document 1 has a problem that an interference pattern is generated in the background image and the sample image becomes unclear. This is a problem caused by diffraction and interference peculiar to coherent terahertz light. Details will be described below.
  • the first problem is that it is affected by diffraction. This is because the wavelength of terahertz light is two to three orders of magnitude longer than visible light. In a microscope using visible light, the wavelength is 1 ⁇ m or less, and since it is smaller by three orders of magnitude or more than the size of the optical component, diffraction hardly becomes a problem. Moreover, since the location where the unnecessary light is generated can be specified only by tracing the ray of geometric optics, measures such as antireflection can be taken. On the other hand, the wavelength of the terahertz light is 0.03 to 3 mm, which is close to the order of the optical system size because it is one to two orders of magnitude smaller than the lens diameter and mirror diameter.
  • the beam diameter spreads over a short distance.
  • the wavelength is 0.6 mm, that is, the frequency is 0.5 THz
  • the beam diameter of ⁇ 10 mm spreads to ⁇ 25 mm when the beam diameter advances by 30 cm.
  • the second problem is that the above-described interference of unnecessary light becomes significant.
  • the coherence of the light itself is high.
  • the processing variation is 1 ⁇ m or more. For this reason, if it is visible light, the phase of scattered light will be random and coherence will be lost. Therefore, no interference fringes are generated.
  • the wavelength of terahertz light is larger than the processing variation, coherence is not lost even in scattered light. As a result, interference fringes due to scattered light are generated.
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to reduce and eliminate unnecessary interference patterns in an optical device using coherent terahertz light, and obtain a high-quality terahertz image. Is to provide.
  • an optical device for coherent terahertz light includes an optical system using coherent terahertz light having a frequency of 0.1 to 10 THz, and a structure positioned outside the effective diameter of the optical system. And an antireflection body installed on the effective diameter side.
  • the effect of the present invention is that the image quality of a coherent terahertz light image can be improved.
  • FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention.
  • the optical device for coherent terahertz light according to the present embodiment has an optical system 2 that uses coherent terahertz light 1 having a frequency of 0.1 to 10 THz.
  • the structure 4 located outside the effective diameter 3 of the optical system 2 has an antireflection body 5 on the effective diameter 3 side.
  • the optical system 2 may be provided with various optical means for controlling the coherent terahertz light 1.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing an optical apparatus according to a first embodiment of the present invention.
  • a housing 6 is provided with a coherent terahertz light source 7 that outputs coherent terahertz light 1, a first lens 9 supported by a lens support 8, a sample support 10, and a terahertz camera 11.
  • a sample is supported on the sample support 10. It is desirable that the sample is detachably supported.
  • an antireflection body 5 is provided on the optical path side of the lens holding portion of the lens support 8 and the sample support portion of the sample support 10. The antireflection body 5 is provided so as to cover the diffraction range of the terahertz light.
  • the optical system 2 includes a coherent terahertz light source 7, a first lens 9, an opening in which a sample of the sample support 10 is disposed, and a terahertz camera 11.
  • the effective diameter 3 in the optical system 2 is a ray tracing range in geometric optics.
  • the light emission range from the coherent terahertz light source 7 in geometric optics, the light incident / exit range of the first lens 9, and the light incident range to the terahertz camera 11 correspond to the effective diameter 3.
  • Structures outside the effective diameter 3 are the lens support 8, the sample support 10, and portions other than the light incident part of the terahertz camera 11.
  • the antireflection body 5 is provided outside the effective optical diameter 3 of the structure. That is, the antireflection body 5 is provided on the outside of the first lens 9 holding portion of the lens support 8, the sample holding portion of the sample support 10, and the light incident portion of the terahertz camera 11.
  • the terahertz camera 11 has a sensor package 12 built therein.
  • An array sensor 13 for detecting terahertz light is enclosed in the sensor package 12.
  • a window 14 that transmits terahertz light is provided in the light incident portion of the sensor package 12, and an antireflection body 5 is provided around the window 14.
  • the array sensor 13 includes terahertz light sensor elements (not shown) arranged in an array.
  • the coherent terahertz light 1 output from the coherent terahertz light source 7 is collimated by the first lens 9 and irradiated onto the sample.
  • the coherent terahertz light 1 transmitted through the sample enters the terahertz camera 11. Then, the transmitted terahertz light passes through the window 14 and enters the array sensor 13 to obtain an image of the sample.
  • the antireflective body 5 for example, a sheet in which fibers such as rayon, nylon, and polyester are stretched on a plastic base material such as polyester can be used. Since such a material has irregularities longer than the wavelength, the coherent property is lost even if there is a minute reflection. For this reason, generation
  • the antireflection body 5 preferably absorbs light and has a property close to a black body. This is because the terahertz sensor senses heat radiation.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing unnecessary light interference in the sensor package 12 when the antireflection body 5 is not provided.
  • the coherent terahertz light 1 is transmitted through the window 14, the coherent terahertz light 1 is reflected at the edge of the sensor package 12 in a direction different from the incident direction.
  • the light reflected at the left end of the opening of the sensor package 12 interferes with the light reflected at the right end to form an intensity distribution on the array sensor 13 according to the optical path difference.
  • the intensity distribution becomes a concentric interference fringe. Since the interference fringes are superimposed on the image, the quality of the acquired image is deteriorated.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing unnecessary light interference in the sensor package 12 when the antireflection body 5 is not provided.
  • FIG. 5 shows a cross-sectional view of a terahertz microscope 15 using the present invention.
  • the illumination optical system includes a coherent terahertz light source 7, a first lens 9, a mirror 16, an iris diaphragm 17, and a second lens 18.
  • the lens support part of the lens support 8 that supports the first lens 9, the mirror support part of the mirror support 19 that supports the mirror 16, the support part of the second lens 18, and the terahertz light reachable range of the iris diaphragm 17, respectively.
  • An antireflection body 5 is provided.
  • the observation optical system includes a lens barrel 20, an objective lens 21 supported by the lens barrel 20, an infrared cut filter 22, an eyepiece lens 23, and a terahertz camera 11.
  • the infrared cut filter 22 cuts infrared rays that become noise, for example, light having a frequency of 10 THz or more.
  • An antireflection body 5 is formed on the inner wall of the lens barrel 20 that supports the objective lens 21 and the like.
  • the structure of the terahertz camera 11 is the same as that of the second embodiment, and an antireflection body 5 is provided around the light incident part.
  • a sample stage 24 for supporting a sample is provided between the illumination optical system and the observation optical system.
  • the sample stage 24 is provided with a light transmission part for transmitting light, and the antireflection body 5 is provided around the light transmission part in the same manner as other optical elements.
  • the lens barrel 20 and the terahertz camera 11 are supported by an arm 25. Although referred to herein as a microscope, the magnification is not limited to 1 or more.
  • coherent terahertz light 1 is output from the coherent terahertz light source 7.
  • a quantum cascade laser is used when the light frequency is 1.5 THz or higher
  • a Schottky diode multiplier light source or the like is used when the frequency is 2 THz or lower.
  • the light output from the coherent terahertz light source 7 is collected by the first lens 9 and reflected by the mirror 16 toward the sample stage 24.
  • the reflected light is focused at the position of the iris diaphragm 17, collimated by the second lens 18, and the sample 26 on the sample stage 24 is illuminated.
  • the iris diaphragm 17 is used to exclude unnecessary light such as higher order modes.
  • the light that has been absorbed by the sample 26 and transmitted through the sample 26 is condensed and collimated by the objective lens 21 and the eyepiece lens 23 and is incident on the terahertz camera 11.
  • An array in which the image of the sample 26 is built in the sensor package 12. An image is formed on the sensor.
  • FIG. 6 shows an example of a lens.
  • An antireflection body 5 is provided on the outer periphery of the first lens 9.
  • the effective diameter of the optical system is the diameter of the portion transparent to the terahertz light
  • the structure is the outer peripheral portion of the first lens 9
  • the antireflection body 5 is provided on the outer peripheral portion.
  • FIG. 7 shows an example of a mirror.
  • An antireflection body 5 is formed on the outer periphery of the mirror 16.
  • FIG. 8 is a plan view showing an example of the iris diaphragm 17.
  • the blades 27 are supported by the diaphragm support 28.
  • An antireflection body 5 is formed on the blade 27.
  • the effective diameter can be adjusted by moving the blade 27 with the lever 29.
  • the antireflection body 5 is drawn so as to be formed on the entire surface of the blade 27, but the same effect can be obtained even if the antireflection body 5 is provided only in the vicinity of the end portion of the wing that defines the effective diameter. be able to.
  • the optical device to which the present embodiment is applied is not limited to the above, and can be applied to various devices such as a fixed diaphragm, a prism, and a diffraction grating. ⁇ Example ⁇ Next, an example of actual observation results is shown.
  • the frame can be regarded as an aperture having a fixed effective diameter.
  • the frequency of the output light of the quantum cascade laser was 2 THz.
  • the frame that causes the interference is a metal frame having an opening diameter of 30 mm and a length of 20 mm, which has been subjected to black anodized surface treatment.
  • the infrared cut filter is a filter that does not transmit light having a frequency of 10 THz or higher.
  • the terahertz camera incorporates an array sensor having 320 ⁇ 240 pixels and a pixel pitch of 23.5 ⁇ m, and the sensor size is 7.52 mm ⁇ 5.64 mm.
  • the distance from the emission point of the quantum cascade laser to the tip of the terahertz camera was 140 mm, and the infrared cut filter was installed at a position in contact with the tip of the terahertz camera.
  • FIG. 9 is a terahertz image when a metal frame is not placed. Since the light is not condensed by the lens, the entire image is dark.
  • FIG. 10 is an image of the terahertz camera when a metal frame without an antireflection body is placed at a position 90 mm from the light emitting point and 50 mm from the tip of the terahertz camera. Since the reflected light from the metal frame also enters, the entire screen becomes brighter, and at the same time, the reflected light from the circular frame interferes with the light passing through the frame, so that concentric interference fringes are generated.
  • FIG. 11 is a terahertz image when an antireflection body is installed inside the metal frame. Since reflection from the metal frame was suppressed, the image was the same as that in FIG. 9 when the metal frame was not placed, and it was found that the generation of interference fringes was sufficiently suppressed.
  • the antireflection body is a film obtained by electrostatically flocking nylon having a length of 1 mm dyed black on a polyester base material.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing a fifth embodiment of the present invention.
  • the present embodiment relates to a terahertz camera 10.
  • the terahertz camera 10 is provided with an iris diaphragm 17 at the entrance of the coherent terahertz light 1.
  • the iris diaphragm 17 can move the blade 27 to enlarge or reduce the inner diameter, and the antireflection body 5 is installed at the inner end of the blade 27.
  • the iris diaphragm 17 it is possible to prevent the terahertz light from being irradiated to the reflection element such as the end of the window 14 or the end of the sensor package 12. For this reason, it is possible to prevent deterioration in image quality due to interference of unnecessary light.
  • the iris diaphragm 17 is configured to be supported by the casing of the terahertz camera 10, but may be supported by another support.
  • FIG. 13 is a sectional view showing an optical apparatus according to a sixth embodiment.
  • the coherent terahertz light source 7 can output a plurality of types of terahertz light having different frequencies. Since the components arranged outside the coherent terahertz light source 7 such as an optical system and a terahertz camera are the same as those in the other embodiments, description thereof is omitted.
  • the coherent light source 7 includes a plurality of lasers 30 each having a different frequency, and here, a laser a30a, a laser b30b, and a laser c30c are assumed.
  • the laser 30 output from the movable mirror 31 can be selected.
  • the terahertz light reflected by the movable mirror 31 is emitted at a predetermined emission angle by the action of the lens 32.
  • the number of types of lasers 30 used is not limited to three.
  • the light source used is not limited to the laser, and means for switching the frequency of the output light is not limited to the movable mirror 31.
  • Various variations are possible using known techniques, such as turning on a plurality of light sources at the same time and switching them with a filter or slit.
  • the present invention can be applied to an optical apparatus for acquiring a fingerprint spectrum.
  • a baggage inspection device can be considered as an example of a device utilizing this feature.
  • FIG. 14 is a schematic diagram showing the baggage inspection apparatus 33 according to the present embodiment.
  • a coherent terahertz light source 7 and a terahertz camera 11 are provided in the housing 6. By making these reflection-type arrangements, a terahertz image of the baggage 35 flowing on the conveyor 34 can be acquired.
  • Terahertz light has the characteristic of transmitting paper and plastic, so it can inspect the contents of luggage that cannot be seen with visible light. Also, it is possible to check the carry-in of drugs etc. using the fingerprint spectrum.
  • the apparatus may be configured in a transmissive arrangement. Further, the inspection object is not limited to the baggage 35, and the optical device of the present embodiment can be used for inspection of fruits, vegetables, chemicals, and the like.

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Abstract

 [課題]コヒーレントテラヘルツ光を使用する光学装置において、不要な干渉パターンを低減、除去し、画質の高いテラヘルツ画像を取得する光学装置を提供する。 [解決手段] コヒーレントテラヘルツ光用光学装置は、周波数が0.1から10THzのコヒーレントテラヘルツ光1を用いる光学系2を有している。また光学系2の有効径3の外に位置する構造体4は、有効径3側に反射防止体5を有している。

Description

コヒーレントテラヘルツ光用光学装置
 本発明は、コヒーレントテラヘルツ光用光学装置に関する。
 周波数0.1~10THz(波長30μm~3mm)の電磁波であるテラヘルツ波は、プラスチック、紙、衣服などを透過しつつ、X線のような有害性が無いことや、テラヘルツ領域特有の指紋スペクトルが見出されてきたことにより、注目を集めている。テラヘルツ領域には長い間適当な光源が無かったが、近年、量子カスケードレーザを用いることにより安定な光源が得られるようになった。これにより研究・開発が大きく進展した。例えば非特許文献1のような量子カスケードレーザを用いたテラヘルツ顕微鏡が開発されている。
 このテラヘルツ顕微鏡の構成を図15に示す。筐体101内に、コヒーレントテラヘルツ波を出力するコヒーレントテラヘルツ光源102と、照明光学系が収納されている。照明光学系の先には試料ステージ103が設けられ、その先には鏡筒104に収められた観察光学系とテラヘルツカメラ105が設けられている。この構成により、試料ステージ103に置かれた試料106のテラヘルツ画像が、テラヘルツカメラ105によって取得される。
 非特許文献1によれば、コヒーレントテラヘルツ光源102は量子カスケードレーザで、その周波数は2.83THz(波長106μm)である。照明光学系には第1レンズ107、ミラー108、虹彩絞り109、第2レンズ110が設けられている。照明光学系の先には試料ステージ103が設けられ、観察光学系には対物レンズ111、赤外線カットフィルタ112、接眼レンズ113が設けられている。接眼レンズ113の先にはテラヘルツカメラ105が設置されている。観察光学系およびテラヘルツカメラ105は、アーム114によって支持されている。また第1レンズ107はレンズ支持体115によって支持され、ミラー108はミラー支持体116によって支持されている。
 テラヘルツカメラ105には、センサパッケージ117が内蔵されている。センサパッケージ117にはアレイセンサ118が封入され、センサパッケージ117のテラヘルツ光入射部には窓119が設けられている。
 コヒーレントテラヘルツ光源102から出力された光は、第1レンズ107により集光され、ミラー108によって反射され、虹彩絞り109の位置に集光される。次いで、虹彩絞り109により不要光が除去される。虹彩絞り109を通過した光は第2レンズ110によってコリメートされ、試料ステージ103に置かれた試料106に照射される。試料106を透過した光は観察光学系を通してテラヘルツカメラ105に入射する。以上のようにして、試料106のテラヘルツ画像を取得することができる。なお倍率は対物レンズ111、接眼レンズ113の組合せを変えることにより調整することができる。
小田、外8名、「Real-Time Transmission-type Terahertz Microscope,with Palm size Terahertz Camera and Compact Quantum Cascade Laser」、Proc. of SPIE、2012年8月、vol.8496、pp.84960Q-1~84960Q-11
 しかしながら、非特許文献1のテラヘルツ顕微鏡には、背景画像に干渉パターンが生じ、試料画像が不鮮明となる問題がある。これはコヒーレントなテラヘルツ光に特有の回折と干渉によって生じる問題である。詳細を下記に説明する。
 第1の問題点は回折の影響を受けることである。これはテラヘルツ光の波長が可視光より2、3桁長いことに起因する。可視光を用いた顕微鏡では波長が1μm以下であり、光学部品のサイズに対して3桁以上小さいため、回折はほぼ問題にならない。また幾何光学の光線追跡だけで不要光の発生箇所を特定できるため、反射防止などの対策が可能である。一方、テラヘルツ光の波長は0.03~3mmであり、レンズ径、ミラー径の1~2桁落ちレベルなので光学系サイズのオーダに近い。このため回折の影響が無視できない。すなわち、短距離でビーム径が広がってしまう。その影響で、レンズ枠からの反射や、絞りによる蹴られなど、不要光の発生を抑制することが困難である。ビーム径の広がりを具体的な例で比較すると、波長0.5μmの可視光の場合、1/eビーム径でφ10mmのガウシアン平行ビームは、30cm進んでもビーム径がφ10.00002mmまでしか広がらない。一方、波長0.6mmすなわち周波数0.5THzの場合は、φ10mmのビーム径が30cm進むとφ25mmに広がる。
 第2の問題点は、前記した不要光の干渉が顕著になる点である。その理由の一つは、光自体の可干渉性が高いことである。またもう一つの理由は、波長が長いため、光学部品などからの散乱光においてもコヒーレント性が失われないことである。レンズ枠を例に取ると、その加工バラツキは1μm以上である。このため可視光であれば、散乱光の位相はランダムになり干渉性は失われる。それゆえ干渉縞は発生しない。一方、テラヘルツ光では、波長が加工バラツキより大きいため散乱光においても可干渉性は失われない。その結果、散乱光による干渉縞が発生してしまう。
 本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、コヒーレントテラヘルツ光を使用する光学装置において、不要な干渉パターンを低減、除去し、画質の高いテラヘルツ画像を取得する光学装置を提供することにある。
 上記の課題を解決するために、本発明のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置は、周波数が0.1から10THzのコヒーレントテラヘルツ光を用いる光学系と、前記光学系の有効径外に位置する構造体の前記有効径側に設置された反射防止体と、を有している。
 本発明の効果は、コヒーレントテラヘルツ光画像の画像品質を向上できることである。
本発明第1の実施の形態を示す断面図。 本発明第2の実施の形態の光学装置を示す断面図。 非特許文献1のテラヘルツカメラを示す断面図。 本発明のテラヘルツカメラを示す断面図。 光学装置の第3の実施の形態の光学装置を示す断面図。 本発明第4の実施の形態のレンズを示す断面図。 本発明第4の実施の形態のミラーを示す断面図。 本発明第4の実施の形態の虹彩絞りを示す平面図。 光路に金属枠を置かずに取得したテラヘルツ画像の一例。 本発明を用いない金属枠を置いて取得したテラヘルツ画像の一例。 本発明を用いた金属枠を置いて取得したテラヘルツ画像の一例。 本発明第5の実施の形態を示す断面図。 本発明第6の実施の形態を示す断面図。 本発明第7の実施の形態を示す模式図。 非特許文献1の光学装置を示す断面図。
 以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について詳細に説明する。
 〔第1の実施形態〕図1は本発明第1の実施の形態を示す断面図である。本実施の形態のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置は、周波数が0.1から10THzのコヒーレントテラヘルツ光1を用いる光学系2を有している。また光学系2の有効径3の外に位置する構造体4は、有効径3側には反射防止体5を有している。なお図示はしていないが、光学系2にはコヒーレントテラヘルツ光1を制御する種々の光学手段が設けられていて良い。
 本実施の形態により、コヒーレントテラヘルツ光の回折および干渉の影響を排除して、画像品質の高いコヒーレントテラヘルツ光画像を得ることができる。
 〔第2の実施形態〕図2は本発明第1の実施の形態の光学装置を示す断面図である。筐体6に、コヒーレントテラヘルツ光1を出力するコヒーレントテラヘルツ光源7と、レンズ支持体8に支持された第1レンズ9と、試料支持体10と、テラヘルツカメラ11が設けられている。試料支持体10には試料が支持される。試料は着脱自在に支持されていることが望ましい。また、レンズ支持体8のレンズ保持部、試料支持体10の試料支持部の光路側には反射防止体5が設けられている。反射防止体5はテラヘルツ光の回折範囲をカバーするように設けられる。
 図2の光学装置では、光学系2は、コヒーレントテラヘルツ光源7、第1レンズ9、試料支持体10の試料が配置される開口部、テラヘルツカメラ11によって構成されている。試料を取り付けた場合には試料も含まれる。この光学系2における有効径3は、幾何光学における光線追跡範囲である。ここでは、幾何光学におけるコヒーレントテラヘルツ光源7からの光の出射範囲、第1レンズ9の光入出射範囲、テラヘルツカメラ11への光入射範囲が、有効径3に相当する。有効径3外の構造体は、レンズ支持体8、試料支持体10、テラヘルツカメラ11の光入射部以外の部分、である。本実施の形態では構造体の光学的な有効径3の外側に反射防止体5が設けられている。すなわち、レンズ支持体8の第1レンズ9保持部、試料支持体10の試料保持部、テラヘルツカメラ11の光入射部の外側、に反射防止体5が設けられている。
 テラヘルツカメラ11には、センサパッケージ12が内蔵されている。センサパッケージ12にはテラヘルツ光を検出するアレイセンサ13が封入されている。またセンサパッケージ12の光入射部には、テラヘルツ光を透過する窓14が設けられ、窓14の周囲には反射防止体5が設けられている。アレイセンサ13はテラヘルツ光センサ素子(図示せず)がアレイ状に配列されたものである。
 次に、光学装置の動作について説明する。コヒーレントテラヘルツ光源7から出力されたコヒーレントテラヘルツ光1は第1レンズ9によってコリメートされ、試料に照射される。試料を透過したコヒーレントテラヘルツ光1は、テラヘルツカメラ11に入射する。そして透過テラヘルツ光は窓14を透過し、アレイセンサ13に入射し、試料の像が取得される。
 ここで観察像に対する不要光について説明する。図2では幾何光学の光線追跡による光路が示されているが、実際の光線は回折によって図よりも広がったものになる。これらは観察に対する不要光である。本実施の形態では、この広がった光線を各光学要素に設けられた反射防止体5で吸収あるいはインコヒーレント化している。このため、不要光の干渉による像の乱れが発生しない。
 反射防止体5としては、例えばポリエステルなどのプラスチック基材の上に、レーヨン、ナイロン、ポリエステルなどの繊維が伸びたシートを用いることができる。このような材料では波長以上の凹凸があるため、たとえ微小な反射があってもコヒーレント性が失われる。このため干渉縞の発生が抑制される。また、黒ベルベットや電波吸収シートなども用いることができる。また意図的に微小構造を形成した表面を持つ材料を用いてもよい。近年注目を集めているモスアイ構造は、その好適な一例である。上記の反射防止体5は、光を吸収し、黒体に近い性質を持つことが好ましい。テラヘルツセンサは放熱も感知するためである。
 図3はセンサパッケージ12において、反射防止体5が無い場合の、不要光の干渉を模式的に示す断面図である。窓14を透過してコヒーレントテラヘルツ光1が入射すると、センサパッケージ12の縁では、コヒーレントテラヘルツ光1が入射方向とは違う方向に反射される。図3において、センサパッケージ12の開口部左端で反射された光と、右端で反射された光は干渉し、アレイセンサ13上に光路差に応じた強度分布を形成する。反射光全体の光の干渉を足し合わせると、その強度分布は同心円状の干渉縞となる。この干渉縞が像に重畳されるため、取得される画像の質が低下する。一方、図4に示すように、アレイセンサ13の入射範囲外の窓14の周囲に反射防止体5を設けた場合は、センサパッケージ12の開口部端で反射される光が無くなる。このため干渉縞は生じない。したがって、不要光の影響を排除したテラヘルツ画像を取得することができる。また、レンズ支持体8や試料支持体10など他の光学要素においても、同様の作用と効果がもたらされる。
 以上のように、本実施の形態によれば、不要光の干渉を排除して画質の高いテラヘルツ画像を得ることが出来る。
 〔第3の実施形態〕本発明の干渉縞抑制技術は種々の光学装置に適用可能である。図5に本発明を用いたテラヘルツ顕微鏡15の断面図を示す。
 筐体6の中に照明光学系が設けられている。照明光学系は、コヒーレントテラヘルツ光源7、第1レンズ9、ミラー16、虹彩絞り17、第2レンズ18で構成されている。第1レンズ9を支持するレンズ支持体8のレンズ支持部、ミラー16を支持するミラー支持体19のミラー支持部、第2レンズ18の支持部、および虹彩絞り17のテラヘルツ光到達範囲にはそれぞれ反射防止体5が設けられている。
 観察光学系は、鏡筒20と、鏡筒20に支持された対物レンズ21、赤外線カットフィルタ22、接眼レンズ23、テラヘルツカメラ11によって構成されている。赤外線カットフィルタ22は、ノイズとなる赤外線、例えば周波数10THz以上の光をカットする。また、対物レンズ21などを支持する鏡筒20の内壁には反射防止体5が形成されている。テラヘルツカメラ11の構造は第2の実施の形態と同様であり、光入射部の周囲には反射防止体5が設けられている。また照明光学系と観察光学系の間には、試料を支持するための試料ステージ24が設けられている。試料ステージ24には光が透過するための光透過部が設けられ、光透過部の周囲には他の光学要素と同様に反射防止体5が設けられている。なお鏡筒20とテラヘルツカメラ11はアーム25によって支持されている。また、ここでは顕微鏡と称するが、倍率は1倍以上には限らない。
 次にテラヘルツ顕微鏡15の動作について説明する。
 まずコヒーレントテラヘルツ光源7からコヒーレントテラヘルツ光1が出力される。コヒーレントテラヘルツ光源7として、光の周波数が1.5THz以上のときは量子カスケードレーザを用い、2THz以下のときはショットキーダイオード逓倍器光源などを使用する。
 コヒーレントテラヘルツ光源7から出力された光は、第1レンズ9により集光され、ミラー16により試料ステージ24の方向に反射される。反射された光は、虹彩絞り17の位置で焦点を結び、第2レンズ18によりコリメートされ、試料ステージ24上の試料26が照明される。虹彩絞り17は、高次のモードなど不要光を除外するために用いられる。
 試料26固有の吸収を受け試料26を透過した光は、対物レンズ21、接眼レンズ23によって、集光、コリメートされてテラヘルツカメラ11に入射し、試料26の像がセンサパッケージ12に内蔵されたアレイセンサ上に結像される。
 これらの過程で、レンズ、ミラー、フィルタなど光学部品の有効径外に広がった光は、反射防止体5によって除去もしくはインコヒーレント化される。このため、画質の低下を防ぐことが出来る。
 〔第4の実施形態〕レンズやミラーなどを一つの光学装置と見なすことも出来る。図6はレンズの例を示したものである。第1レンズ9の外周部に反射防止体5が設けられている。この構成において、光学系の有効径はテラヘルツ光に対して透明な部分の径であり、構造体は第1レンズ9の外周部であり、外周部には反射防止体5が設けられている。図7はミラーの例である。ミラー16の外周部に反射防止体5が形成されている。図8は虹彩絞り17の例を示す平面図である。羽根27が絞り支持体28に支持されている。羽根27には反射防止体5が形成されている。羽根27をレバー29で動かすことによって、有効径の大きさを調整できる。なお図では羽根27の表面全体に反射防止体5が形成されるように描いてあるが、有効径を規定する羽の端部近傍だけに反射防止体5を設けていても同様の効果を得ることができる。本実施の形態を適用する光学装置は上記に限られず、固定型の絞り、プリズム、回折格子など種々のものに適用できる。
〔実施例〕
 次に実際の観察結果の一例を示す。現象の要因を複雑化させないために、量子カスケードレーザと、レンズの無い金属枠のみと、赤外線カットフィルタと、テラヘルツカメラと、を直線上に配置して実験を行った。ここで枠は、有効径の固定された絞りとみなすことが出来る。
 量子カスケードレーザの出力光の周波数は2THzとした。干渉を引き起こすフレーム枠は、黒アルマイト表面処理を施した開口径φ30mm、長さ20mmの金属枠である。赤外線カットフィルタは、10THz以上の周波数の光を透過しないフィルタである。テラヘルツカメラは画素数320×240、画素ピッチ23.5μmのアレイセンサを内蔵したものであり、センササイズは7.52mm×5.64mmである。量子カスケードレーザの発光点からテラヘルツカメラの先端までの距離を140mmとし、赤外線カットフィルタはテラヘルツカメラの先端に接する位置に設置した。
 図9は、金属枠を置かないときのテラヘルツ画像である。レンズで集光していないため、全体的に暗い画像となっている。
 図10は、反射防止体を施していない金属枠を、発光点から90mm、テラヘルツカメラの先端から50mmの位置に置いたときのテラヘルツカメラの画像である。金属枠からの反射光も入射するため、全体的に明るくなると同時に、円形の枠からの反射光と枠内を通過した光が干渉するため、同心円状の干渉縞が発生している。
 図11は、金属枠の内側に反射防止体を設置した場合のテラヘルツ画像である。金属枠からの反射が抑えられたため、金属枠を置かない場合の図9と同様の画像となり、干渉縞の発生が十分に抑制されることが判った。反射防止体は、ポリエステル基材の上に黒色に染めた長さ1mmのナイロンを静電気植毛したフィルムである。
 このような植毛フィルムを用いると、光の波長150μmより長い凹凸があることにより、微小な反射があってもコヒーレント性を失って干渉縞が発生しないようにすることができる。
 〔第5の実施形態〕図12は本発明第5の実施の形態を示す断面図である。本実施の形態はテラヘルツカメラ10に関する。テラヘルツカメラ10には、コヒーレントテラヘルツ光1の入射部に虹彩絞り17が設けられている。虹彩絞り17は羽根27を動かして内径を拡大、縮小できるようになっており、羽根27の内側端部には反射防止体5が設置されている。虹彩絞り17を用いて、窓14端部や、センサパッケージ12端部などの反射要素にテラヘルツ光が照射されるのを防ぐことが出来る。このため、不要光の干渉による画質の低下を防ぐことが出来る。なお図12では虹彩絞り17がテラヘルツカメラ10の筐体に支持される構造となっているが、別の支持体に支持されていても良い。
 〔第6の実施形態〕図13は第6の実施の形態の光学装置を示す断面図である。本実施の形態の光学装置は、コヒーレントテラヘルツ光源7が、周波数の異なる複数種のテラヘルツ光を出力できるようになっている。光学系、テラヘルツカメラ等コヒーレントテラヘルツ光源7の外に配置される構成要素は他の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。
 コヒーレント光源7は、それぞれ周波数の異なる複数のレーザ30を備えており、ここでは仮にレーザa30a、レーザb30b、レーザc30cとしている。可動ミラー31で出力するレーザ30を選択することが出来るようになっている。可動ミラー31で反射されたテラヘルツ光はレンズ32の作用によって所定の出射角で出射される。なお用いるレーザ30の種類は3つに限られない。さらに、用いる光源はレーザに限られるものではなく、出力する光の周波数を切換える手段も可動ミラー31に限られるものではない。複数の光源を同時に点灯してフィルタやスリットで切り替えるなど、周知の技術を用いて種々のバリエーションが可能である。
 このように周波数の異なるテラヘルツ光を用いると、物質固有の吸収特性から物質を特定することが出来る。すなわち、試料の指紋スペクトルを取得することができる。
 〔第7の実施形態〕第6の実施の形態で説明したように、本発明は指紋スペクトルを取得する光学装置に適用することが出来る。この特徴を活用した装置の一例として手荷物検査装置が考えられる。
 図14は本実施の形態による手荷物検査装置33を示す模式図である。筐体6の中に、コヒーレントテラヘルツ光源7と、テラヘルツカメラ11が備えられている。これらを反射型の配置にすることにより、コンベア34上を流れる手荷物35のテラヘルツ画像を取得することが出来る。
 テラヘルツ光には紙やプラスチックを透過する特徴があるため、可視光では見ることが出来ない荷物の中身をも検査することが出来る。また指紋スペクトルを用いて、薬物などの持込をチェックすることも可能である。なお、ここでは詳述しないが、装置は透過型の配置で構成することも可能である。また、検査対象は手荷物35に限られるものではなく、例えば青果物や薬品、化学物質などの検査にも、本実施の形態の光学装置を利用することが出来る。
 以上、実施形態及び実施例を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態及び実施例に限定されものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
 この出願は、2013年7月1日に出願された日本出願特願2013-137713を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
 1  コヒーレントテラヘルツ光
 2  光学系
 3  有効径
 4  構造体
 5  反射防止体
 6、101  筐体
 7、102  コヒーレントテラヘルツ光源
 8、115  レンズ支持体
 9、107  第1レンズ
 10  試料支持体
 11、105  テラヘルツカメラ
 12、117  センサパッケージ
 13、118  アレイセンサ
 14、119  窓
 15  テラヘルツ顕微鏡
 16、108  ミラー
 17、109  虹彩絞り
 18、110  第2レンズ
 19、116  ミラー支持体
 20、104  鏡筒
 21、111  対物レンズ
 22、112  赤外線カットフィルタ
 23、113  接眼レンズ
 24、103  試料ステージ
 25、114  アーム
 26、106  試料
 27  羽根
 28  絞り支持体
 29  レバー
 30  レーザ
 31  可動ミラー
 32  レンズ
 33  手荷物検査装置
 34  コンベア
 35  手荷物

Claims (10)

  1.  周波数が0.1から10THzのコヒーレントテラヘルツ光を用いる光学系と、前記光学系の有効径外に位置する構造体の前記有効径側に設置された反射防止体と、を有する、ことを特徴とするコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  2.  前記有効径が、幾何光学の光線追跡範囲であることを特徴とする請求項1に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  3.  前記光学装置が、前記コヒーレントテラヘルツ光を検出する光検出手段を有することを特徴とするコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  4.  前記光学装置が、前記コヒーレントテラヘルツ光を出力するコヒーレントテラヘルツ光源を有することを特徴とする請求項1乃至請求項3いずれか一項に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  5.  前記コヒーレントテラヘルツ光源が、周波数の異なる複数の前記コヒーレントテラヘルツ光を選択的に出力することを特徴とする請求項4に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  6.  前記構造体が絞りであることを特徴とする請求項1乃至請求項5いずれか一項に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  7.  前記光学装置がレンズまたはミラーであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  8.  前記光学装置が前記コヒーレントテラヘルツ光を検出する光検出装置であり、前記構造体が前記光検出装置の光検出部を収納する筐体を含むことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  9.  前記光検出装置が、光検出素子がアレイ状に配列した光検出部を有することを特徴とする請求項8に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
  10.  前記光検出部への光入射部の端部に前記反射防止体が設けられていることを特徴とする請求項9に記載のコヒーレントテラヘルツ光用光学装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015141172A (ja) * 2014-01-30 2015-08-03 パイオニア株式会社 テラヘルツ波ガイド装置、及びテラヘルツ波装置
WO2019116998A1 (ja) * 2017-12-13 2019-06-20 キヤノン株式会社 テラヘルツ波カメラおよび検出モジュール
JP2019105622A (ja) * 2017-12-13 2019-06-27 キヤノン株式会社 テラヘルツ波カメラおよび検出モジュール

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10247842B2 (en) * 2015-12-23 2019-04-02 Raysecur Inc. Mail screening apparatus
WO2018169517A1 (en) * 2017-03-14 2018-09-20 Archit Lens Technology Inc. Terahertz-gigahertz illuminator
DE102018105352A1 (de) 2018-03-08 2019-09-12 Deutsche Post Ag Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Sendungen
DE102018128669A1 (de) * 2018-11-15 2020-05-20 Sick Ag Verfahren zum Herstellen eines optischen Systems
TWI723877B (zh) * 2020-05-13 2021-04-01 國家中山科學研究院 插件式同軸熱輻射影像量測系統
CN111537087B (zh) * 2020-05-25 2021-06-01 苏州大学 测量矢量随机电磁光场二维空间相干结构分布的方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001304959A (ja) * 2000-04-27 2001-10-31 Omron Corp 赤外線センサ
JP2005156188A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 光の透過測定による試料の平坦度と複素誘電率測定装置及び測定法
JP2006234681A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 立体双楕円型光学装置
JP2009288047A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Epson Toyocom Corp テラヘルツ分光分析用液体セルおよびテラヘルツ分光分析用液体セルの製造方法
JP2010038809A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Murata Mfg Co Ltd テラヘルツ分光装置
JP2011198801A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Canon Inc 光伝導素子
WO2011134562A1 (de) * 2010-04-30 2011-11-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. Anordnung zum erzeugen eines signals mit einstellbarer zeit- oder phasenlage
JP2011252872A (ja) * 2010-06-04 2011-12-15 Nec Corp 反射型イメージング装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3825756A (en) * 1973-05-03 1974-07-23 Barnes Eng Co Calibration device for a gas analyzer
US4782222A (en) * 1987-09-03 1988-11-01 Power Spectra Bulk avalanche semiconductor switch using partial light penetration and inducing field compression
US4864119A (en) * 1987-09-03 1989-09-05 Power Spectra, Inc. Bulk avalanche semiconductor switch using a mesa structure
US4903101A (en) * 1988-03-28 1990-02-20 California Institute Of Technology Tunable quantum well infrared detector
US5030828A (en) * 1990-06-25 1991-07-09 Grumman Aerospace Corporation Recessed element photosensitive detector array with optical isolation
US5591975A (en) * 1993-09-10 1997-01-07 Santa Barbara Research Center Optical sensing apparatus for remotely measuring exhaust gas composition of moving motor vehicles
US7008870B2 (en) * 2003-12-26 2006-03-07 Macronix International Co., Ltd. Structure applied to a photolithographic process and method for fabricating a semiconductor device
US7642205B2 (en) * 2005-04-08 2010-01-05 Mattson Technology, Inc. Rapid thermal processing using energy transfer layers
US7825381B2 (en) * 2007-06-29 2010-11-02 Agiltron, Inc. Micromechanical device for infrared sensing
US9523152B2 (en) * 2013-09-06 2016-12-20 Massachusetts Institute Of Technology Metallic dielectric photonic crystals and methods of fabrication

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001304959A (ja) * 2000-04-27 2001-10-31 Omron Corp 赤外線センサ
JP2005156188A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 光の透過測定による試料の平坦度と複素誘電率測定装置及び測定法
JP2006234681A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 立体双楕円型光学装置
JP2009288047A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Epson Toyocom Corp テラヘルツ分光分析用液体セルおよびテラヘルツ分光分析用液体セルの製造方法
JP2010038809A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Murata Mfg Co Ltd テラヘルツ分光装置
JP2011198801A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Canon Inc 光伝導素子
WO2011134562A1 (de) * 2010-04-30 2011-11-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. Anordnung zum erzeugen eines signals mit einstellbarer zeit- oder phasenlage
JP2011252872A (ja) * 2010-06-04 2011-12-15 Nec Corp 反射型イメージング装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015141172A (ja) * 2014-01-30 2015-08-03 パイオニア株式会社 テラヘルツ波ガイド装置、及びテラヘルツ波装置
WO2019116998A1 (ja) * 2017-12-13 2019-06-20 キヤノン株式会社 テラヘルツ波カメラおよび検出モジュール
JP2019105622A (ja) * 2017-12-13 2019-06-27 キヤノン株式会社 テラヘルツ波カメラおよび検出モジュール
JP7288296B2 (ja) 2017-12-13 2023-06-07 キヤノン株式会社 テラヘルツ波カメラおよび検出モジュール
US11770596B2 (en) 2017-12-13 2023-09-26 Canon Kabushiki Kaisha Terahertz wave camera and detection module

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