WO2014098084A1 - Esd保護デバイス - Google Patents

Esd保護デバイス Download PDF

Info

Publication number
WO2014098084A1
WO2014098084A1 PCT/JP2013/083767 JP2013083767W WO2014098084A1 WO 2014098084 A1 WO2014098084 A1 WO 2014098084A1 JP 2013083767 W JP2013083767 W JP 2013083767W WO 2014098084 A1 WO2014098084 A1 WO 2014098084A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
discharge
protection device
esd protection
cavity
discharge electrodes
Prior art date
Application number
PCT/JP2013/083767
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
喜人 大坪
足立 淳
Original Assignee
株式会社 村田製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 村田製作所 filed Critical 株式会社 村田製作所
Priority to CN201390000997.XU priority Critical patent/CN204947322U/zh
Priority to JP2014553156A priority patent/JP5757372B2/ja
Publication of WO2014098084A1 publication Critical patent/WO2014098084A1/ja
Priority to US14/723,852 priority patent/US9837795B2/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01TSPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
    • H01T2/00Spark gaps comprising auxiliary triggering means
    • H01T2/02Spark gaps comprising auxiliary triggering means comprising a trigger electrode or an auxiliary spark gap
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B3/00Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
    • H01B3/02Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances
    • H01B3/12Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances ceramics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01TSPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
    • H01T4/00Overvoltage arresters using spark gaps
    • H01T4/10Overvoltage arresters using spark gaps having a single gap or a plurality of gaps in parallel
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01TSPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
    • H01T4/00Overvoltage arresters using spark gaps
    • H01T4/10Overvoltage arresters using spark gaps having a single gap or a plurality of gaps in parallel
    • H01T4/12Overvoltage arresters using spark gaps having a single gap or a plurality of gaps in parallel hermetically sealed
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
    • H02H9/04Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
    • H02H9/06Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage using spark-gap arresters

Definitions

  • the present invention relates to an ESD protection device including at least one pair of discharge electrodes opposed via a cavity formed in a ceramic laminate.
  • FIG. 10 shows a conventional ESD protection device 1000 described in Patent Document 1.
  • 10A is a cross-sectional view of the ESD protection device 1000
  • FIG. 10B is a cross-sectional view taken along the line II of the ESD protection device 1000 in FIG. 10A.
  • the ESD protection device 1000 includes a ceramic laminate 101 in which a plurality of ceramic layers are laminated. A cavity 102 is formed inside the ceramic laminate 101.
  • a pair of discharge electrodes 103 and 103 are disposed between the plurality of ceramic layers.
  • Each of the pair of discharge electrodes 103, 103 has one main surface and the other main surface, and four end surfaces 103a, 103a connecting the one main surface and the other main surface.
  • One end surface 103 a of one discharge electrode 103 of the pair of discharge electrodes 103, 103 and one end surface 103 a of the other discharge electrode 103 are opposed to each other through the cavity 102.
  • External electrodes 105 and 105 connected to the discharge electrodes 103 and 103 are formed on the surface of the ceramic laminate 101.
  • the other main surface side of the pair of discharge electrodes 103 and 103 and the bottom surface of the cavity portion 102 are integrally formed over the region 102 a between the opposing end surfaces 103 a and 103 a of the pair of discharge electrodes 103 and 103, from metal.
  • a discharge auxiliary electrode 104 including a conductive material and an insulating material made of ceramic is formed. The portions exposed to the cavity 102 of the discharge electrodes 103 and 103 are joined to the discharge auxiliary electrode 104 only on the other main surface.
  • the ESD protection device 1000 is used by being disposed, for example, between a signal line of a circuit and the ground.
  • a voltage that causes dielectric breakdown between the pair of discharge electrodes 103 and 103 (voltage higher than the discharge start voltage) is applied, a discharge occurs between the discharge electrodes 103 and 103 in the cavity 102, and the discharge causes excessive discharge.
  • the voltage can be guided to the ground, and the subsequent circuit can be protected.
  • the portion exposed to the cavity 102 of the discharge electrodes 103 and 103 is easily peeled off from the discharge auxiliary electrode 104 due to an impact applied at the time of discharge. There was a problem that it might change.
  • An object of the present invention is to provide an ESD protection device that operates with a discharge start voltage as low as that of the prior art and has a small change in discharge start voltage due to repeated discharge.
  • an ESD protection device of the present invention includes a ceramic laminate in which a plurality of ceramic layers are laminated, a cavity formed inside the ceramic laminate, and the ceramic layers. At least one having a first main surface and the other main surface, a plurality of end surfaces connecting the one main surface and the other main surface, and a corner portion connecting adjacent end surfaces of the plurality of end surfaces.
  • One end face of the discharge electrode is an ESD protection device facing through the cavity, and the cavity is a region between the facing end faces, the facing end face and the corner portion. Region along the other end face connected through, and is characterized in that it is formed integrally with the other hand on the main surface, the area along the region and the another end face along the end face of the opposite.
  • an ESD protection device that operates with a discharge start voltage as low as that of the prior art and has a small change in discharge start voltage due to repeated discharge.
  • FIG. 1A is a cross-sectional view of an ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line II of the ESD protection device 100 in FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of Comparative Example 1 of the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of Comparative Example 2 of the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a modified example of the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of an ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of Comparative Example 3 of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view of Comparative Example 4 of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view of a first modification of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view of a second modification of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of a conventional ESD protection device 1000.
  • FIG. 1 shows an ESD protection device 100 according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1A is a cross-sectional view of the ESD protection device 100.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line II of the ESD protection device 100 in FIG.
  • the ESD protection device 100 includes a cuboid ceramic laminate 1 in which a plurality of ceramic layers are laminated.
  • the ceramic laminate 1 is made of, for example, a BaO—Al 2 O 3 —SiO 2 low temperature sintered ceramic material (hereinafter referred to as a BAS material).
  • a pair of rectangular parallelepiped discharge electrodes 3 and 3 are disposed between the plurality of ceramic layers.
  • Each of the pair of discharge electrodes 3, 3 includes one main surface and the other main surface, four end surfaces 3a connecting the one main surface and the other main surface, and four end surfaces adjacent to each other among the four end surfaces 3a. And two corner portions 3b.
  • the discharge electrodes 3 and 3 are made of a conductive material such as Cu, for example.
  • the discharge auxiliary electrode 4 includes, for example, a conductive material such as alumina-coated Cu particles and a semiconductor material made of ceramic such as SiC.
  • External electrodes 5 and 5 connected to the discharge electrodes 3 and 3 are formed on the surface of the ceramic laminate 1.
  • the external electrodes 5 and 5 are made of Ag, for example.
  • a hollow portion 2 is formed inside the ceramic laminate 1.
  • One end surface 3 a of one discharge electrode 3 of the pair of discharge electrodes 3, 3 and one end surface 3 a of the other discharge electrode 3 are opposed to each other through the cavity 2.
  • the cavity 2 is a region 2a between the opposing end faces 3a, 3a of the pair of discharge electrodes 3, 3, another end face connected through the opposing end faces 3a, 3a and the corners 3b, 3b, 3b, 3b.
  • the discharge electrodes 3 and 3 are made of a conductive material such as Cu
  • the discharge auxiliary electrode 4 is made of a material obtained by mixing a conductive material such as Cu and a semiconductor material made of ceramic such as SiC. Therefore, the discharge electrodes 3 and 3 and the discharge auxiliary electrode 4 are made of different materials, so that the bondability is poor, and the discharge electrodes 3 and 3 exposed to the cavity 2 are easily peeled off from the discharge auxiliary electrode 4 due to impact during discharge. .
  • the area of the ceramic laminate 1 on the discharge electrodes 3 and 3 is formed so as to leave the U-shaped region 3e along the other end faces 3c and 3c as the cavity 2, and the cavity of the discharge electrodes 3 and 3 is formed.
  • the area of the part exposed to the part 2 is reduced. Therefore, the discharge electrodes 3 and 3 are suppressed from being peeled off from the auxiliary discharge electrode 4 due to the impact during discharge, and the change in the discharge start voltage due to repeated discharge can be reduced.
  • the side connecting the opposite end surfaces 3a, 3a and the U-shaped regions 3e, 3e, the other end surfaces 3c, 3c, 3c and the U-shaped regions 3e, 3e are connected.
  • the shape of the cavity 2 is conventionally set so that the periphery of the sides and the portions of the discharge electrodes 3 and 3 that are likely to generate discharge, such as the corners 3b, 3b, 3b, and 3b, are left as exposed portions of the cavity 2. Therefore, it is possible to maintain the discharge start voltage as low as the conventional one.
  • the ESD protection device 100 can reduce a change in the discharge start voltage due to repeated discharges while maintaining a discharge start voltage as low as the conventional one. it can.
  • the boundary between the ceramic laminate 1 and one main surface of the discharge electrodes 3, 3 exposed in the cavity 2 is U-shaped. Since the shape of the boundary is not a straight line but a U-shape, when the ESD protection device 100 is mounted on the substrate by reflow, the force applied to the ceramic laminate 1 due to the thermal expansion of the gas in the cavity 2 is dispersed. Thus, the ceramic laminate 1 is unlikely to peel off from the one main surface side of the discharge electrodes 3 and 3.
  • the BAS material is formed by mixing and mixing each material centered on Ba, Al, and Si at a predetermined ratio and calcining at 800 to 1000 ° C.
  • the obtained BAS material is pulverized by a zirconia ball mill to form a ceramic material made of the BAS material having an average particle size of about 1 to 2 ⁇ m.
  • An organic solvent such as toluene or echinene is added to the ceramic material and mixed. Thereafter, a binder and a plasticizer are added and mixed to form a slurry.
  • the slurry is formed by the doctor blade # method to form a plurality of ceramic green sheets having a thickness of 10 to 50 ⁇ m.
  • a discharge auxiliary electrode forming paste containing a conductive material and a semiconductor material is formed.
  • a ceramic material composed of alumina-coated Cu particles having an average particle size of about 3 to 10 ⁇ m and SiC particles having an average particle size of about 1 to 2 ⁇ m is prepared at a predetermined ratio, a binder resin and a solvent are added, and 3 By stirring and mixing with this roll, a discharge auxiliary electrode forming paste is formed.
  • an unfired discharge auxiliary electrode 4 is formed by applying a discharge auxiliary electrode forming paste by screen printing on one main surface of the ceramic green sheet.
  • a solvent is added to a binder resin composed of Cu powder and ethyl cellulose, and the mixture is stirred and mixed with three rolls to form a discharge electrode forming paste.
  • an unfired pair of discharge electrodes 3 and 3 is formed by applying a discharge electrode forming paste by screen printing.
  • a plurality of ceramic green sheets are laminated in a predetermined order and pressed to form a ceramic laminate 1 in which the resin paste, the discharge electrodes 3 and 3 and the discharge auxiliary electrode 4 are laminated inside.
  • the ceramic laminate 1 is divided by cutting using a micro cutter.
  • the divided ceramic laminate 1 is fired in an N 2 atmosphere.
  • the resin paste disappears and the cavity 2 is formed.
  • a plurality of external electrodes 5 and 5 electrically connected to the discharge electrodes 3 and 3 are formed by applying and baking a conductive paste containing Ag or the like on the surface of the ceramic laminate 1.
  • an ESD protection device 100 as shown in FIG. 1 is completed by forming a film made of Ni and Sn on the external electrodes 5 and 5 by electrolytic plating.
  • the initial discharge start voltage and the discharge start voltage after repeated discharge were evaluated for the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • the discharge start voltage was measured by an electrostatic discharge immunity test defined in IEC61000-4-2. Specifically, 8 kV was applied to the ESD protection device by contact discharge, and the peak voltage detected on the protection circuit side was taken as the discharge start voltage.
  • the discharge starting voltage after repeated discharge was a peak voltage measured by the same method as described above after applying 8 kV to the ESD protection device 100 times by contact discharge.
  • Example 1 having the same structure as that of the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention was produced by the same method as the manufacturing method described above. Moreover, as a comparison object with Example 1, by changing the coating pattern of the resin paste with respect to Example 1, the ESD protection device 200 of Comparative Example 1, which is different from Example 1 only in the shape and dimensions of the cavity, An ESD protection device 300 of Comparative Example 2 was produced.
  • Comparative Example 1 as shown in FIG. 2, a rectangular cavity portion 22 was formed when viewed in plan, as in the prior art (Patent Document 1) shown in FIG.
  • Patent Document 1 shown in Comparative Example 2
  • Comparative Example 2 as shown in FIG. 3, a rectangular cavity 32 having a smaller lateral width than the cavity 22 of Comparative Example 1 was formed when viewed in plan.
  • Table 1 shows the measurement results of the discharge start voltages of Example 1, Comparative Example 1, and Comparative Example 2.
  • Example 1 As can be seen from Table 1, the change in the initial discharge start voltage in Example 1 due to repetitive discharge is smaller than that in Comparative Example 1 of the prior art. Further, in Example 1, the initial discharge start voltage is kept smaller than that in Comparative Example 1. That is, in Example 1, while maintaining the initial discharge start voltage as low as that of the prior art, the change in the discharge start voltage due to repeated discharge can be reduced as compared with Comparative Example 1 of the prior art. Yes.
  • Comparative Example 2 in which the width of the rectangular cavity is narrower than that in Comparative Example 1, the change in the discharge start voltage due to repeated discharge is smaller than that in Comparative Example 1, but the initial discharge start voltage is compared. There is a problem that it becomes larger than Example 1.
  • Example 1 the change of the discharge start voltage due to the repetition of discharge is made smaller than that of Comparative Example 1, and the initial discharge start voltage can be maintained as low as that of Comparative Example 1.
  • FIG. 4 shows a cross-sectional view of a modified example 400 of the ESD protection device 100 according to the first embodiment of the present invention.
  • the modified example 400 is different from the ESD protection device 100 described above, in each of the pair of discharge electrodes 43, 43, another end surface connected to the opposite end surfaces 43a, 43a via the corner portions 43b, 43b, 43b, 43b. 43c, 43c, 43c, and 43c are formed so as to spread as they move away from the opposed end surfaces 43a and 43a when viewed in plan. Even in this case, it is possible to reduce the change in the discharge start voltage due to the repetition of discharge while maintaining the same low discharge start voltage as before.
  • the discharge auxiliary electrode 4 is formed, but the discharge auxiliary electrode 4 may not be formed. Even when the auxiliary discharge electrode 4 is not formed, the discharge electrodes 3 and 3 and the ceramic laminate 4 to be joined are made of different materials, and therefore the discharge electrodes 3 and 3 are easily peeled off from the ceramic laminate 4. Therefore, even in this case, it is meaningful to apply the present invention.
  • the shape of the cavity 2 is the same as that of the present invention, so that the discharge start voltage due to repeated discharge is maintained while maintaining the same low discharge start voltage as before. Change can be reduced.
  • FIG. 5 shows a cross-sectional view of an ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention.
  • the end surfaces 3a and 3a on the short side of the pair of rectangular discharge electrodes 3 and 3 are opposed to each other when viewed in a plan view.
  • part of the long side end surfaces 53a and 53a of the pair of rectangular discharge electrodes 53 and 53 are opposed to each other.
  • the corner portions 3 b, 3 b, 3 b, 3 b of the opposing end surfaces 3 a, 3 a have two for each of the pair of discharge electrodes 3, 3, but in the ESD protection device 500, 1 One pair is provided for each of the pair of discharge electrodes 53 and 53.
  • the cavity 2 is formed in a U-shaped region on one main surface of the discharge electrodes 3, 3, but in the ESD protection device 500, the cavity 52 is L-shaped. It is formed in the area.
  • the corner portions 3b and 3b are directly opposed to each other.
  • the corner portions 53b and 53b are not directly opposed to each other, and the corner portion 53b and the end surface 53a are opposed to each other. Yes.
  • the opposing end faces 53a and 53a are arranged in parallel with the longitudinal direction of the rectangular ceramic laminate 51 when viewed in plan, as shown in FIG. Therefore, by setting the length of the facing portions 53a and 53a to be longer, the facing length of the facing discharge electrodes 53 and 53 can be increased, so that the ESD protection device 500 can be used repeatedly. The number of times can be increased.
  • the corner part 53b and the end surface 53a are made to oppose, compared with the case where the corner parts 3b and 3b are made to oppose like the ESD protection device 100, printing deviation etc.
  • the discharge start voltage can be stabilized against variations in the positions of the discharge electrodes 3 and 3 due to the above.
  • the same method as the manufacturing method of the ESD protection device 100 of the first embodiment can be used.
  • the difference between the manufacturing method of the first embodiment and the manufacturing method of the second embodiment is that the shape in which the resin paste is applied, the shape in which the discharge electrode paste is applied, the shape of the cavity 52 and the discharge electrodes 53, 53. Is changed to match.
  • the discharge start voltage was evaluated in the same manner as the ESD protection device 100 of the first embodiment.
  • Example 2 having the same structure as that of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention was produced.
  • Example 2 by changing the coating pattern of the resin paste and the discharge electrode paste with respect to Example 2, only the shape and dimensions of the cavity and the discharge electrode are different from Example 1.
  • the ESD protection device 600 of Example 3 and the ESD protection device 700 of Comparative Example 4 were produced.
  • Comparative Example 3 a rectangular cavity 62 was formed as shown in FIG.
  • Comparative Example 4 as shown in FIG. 7, a rectangular cavity 72 having a smaller vertical width than the cavity 22 of Comparative Example 3 was formed.
  • Table 2 shows the measurement results of the discharge start voltages of Example 2, Comparative Example 3, and Comparative Example 4.
  • Example 2 As can be seen from Table 2, in Example 2, as in Example 1, the initial discharge start voltage is kept as low as the conventional one, and the change in the discharge start voltage is reduced compared to Comparative Example 3. Is able to.
  • FIGS. 8 and 9 are cross-sectional views of a first modification 800 and a second modification 900 of the ESD protection device 500 according to the second embodiment of the present invention, respectively.
  • the first modified example 800 is connected to each of the pair of discharge electrodes 83 and 83 through opposing end faces 83a and 83a and corner portions 83b, 83b, 83b, and 83b.
  • the other end faces 83c, 83c, 83c, 83c are formed so as to expand as they are separated from the opposing end faces 83a, 83a when viewed in plan.
  • the tip portion including the opposing end faces 93a, 93a of the discharge electrodes 93, 93 has a parallelogram shape when viewed in plan.

Abstract

 本発明の目的は、従来と同じ程度の低い放電開始電圧で動作しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化が小さいESD保護デバイスを提供することである。 本発明のESD保護デバイス(100)は、内部に空洞部(2)が形成されたセラミック積層体(1)と、セラミック積層体(1)内に配置された少なくとも1対の放電電極(3、3)と、セラミック積層体(1)の表面に形成され、放電電極(3、3)と接続された外部電極(5、5)とを備え、1対の放電電極(3、3)のうちの一方の放電電極(3)の1つの端面(3a)と、他方の放電電極(3)の1つの端面(3a)とが、空洞部(2)を介して対向し、空洞部(2)が、対向する端面(3a、3a)間の領域(2a)、対向する端面(3a)とコーナー部(3b)を介してつながれた別の端面(3c)に沿う領域(2c)、ならびに、一方主面上の、対向する端面(3a)に沿う領域および別の端面(3c)に沿う領域(3e)に一体に形成されている。

Description

ESD保護デバイス
 本発明は、セラミック積層体内に形成された空洞部を介して対向する少なくとも1対の放電電極を備えたESD保護デバイスに関する。
 従来から、電子機器の回路を静電気から保護するために、例えば特許文献1(WO2008/146514)に記載されたESD(Electro-Static Discharge;静電気放電)保護デバイスが用いられている。
 図10に、特許文献1に記載された従来のESD保護デバイス1000を示す。なお、図10(A)は、ESD保護デバイス1000の断面図、図10(B)は、図10(A)におけるESD保護デバイス1000のI-I線断面図である。
 ESD保護デバイス1000は、複数のセラミック層が積層されてなるセラミック積層体101を備えている。セラミック積層体101の内部には、空洞部102が形成されている。
 複数のセラミック層間には、1対の放電電極103、103が配置されている。1対の放電電極103、103のそれぞれは、一方主面および他方主面と、一方主面と他方主面をつなぐ4つの端面103a、103aとを有している。1対の放電電極103、103のうちの一方の放電電極103の1つの端面103aと、他方の放電電極103の1つの端面103aは、空洞部102を介して対向している。
 セラミック積層体101の表面には、放電電極103、103と接続された外部電極105、105が形成されている。
 1対の放電電極103、103の他方主面側および、空洞部102の底面であって、1対の放電電極103、103の対向する端面103a、103aの間の領域102aにわたって一体に、金属からなる導電性材料とセラミックからなる絶縁性材料とを含む放電補助電極104が形成されている。放電電極103、103の空洞部102に露出する部分は、他方主面のみで放電補助電極104と接合されている。
 ESD保護デバイス1000は、例えば、回路の信号線路とグランドとの間に配置して使用する。1対の放電電極103、103間で絶縁破壊を起こす電圧(放電開始電圧以上の電圧)が印加されると、空洞部102内において放電電極103、103間で放電が起こり、その放電により過剰な電圧をグランドへ導き、後段の回路を保護することができる。
WO2008/146514
 しかしながら、上述した従来のESD保護デバイス1000においては、放電電極103、103の空洞部102に露出した部分が、放電時にかかる衝撃により放電補助電極104から剥がれやすいため、放電を繰り返すと放電開始電圧が変化してしまう場合があるという問題点があった。
 本発明の目的は、従来と同じ程度の低い放電開始電圧で動作しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化が小さいESD保護デバイスを提供することである。
 上記の目的を達成するために、本発明のESD保護デバイスは、複数のセラミック層が積層されてなるセラミック積層体と、前記セラミック積層体の内部に形成された空洞部と、前記複数のセラミック層間に配置され、一方主面および他方主面と、前記一方主面と前記他方主面をつなぐ複数の端面と、前記複数の端面のうちの互いに隣接する端面をつなぐコーナー部とを有する、少なくとも1対の放電電極と、前記セラミック積層体の表面に形成され、前記放電電極と接続された外部電極とを備え、前記1対の放電電極のうちの一方の放電電極の1つの端面と、他方の放電電極の1つの端面とが、前記空洞部を介して対向するESD保護デバイスであって、前記空洞部が、前記対向する端面の間の領域、前記対向する端面と前記コーナー部を介してつながれた別の端面に沿う領域、ならびに、前記一方主面上の、前記対向する端面に沿う領域および前記別の端面に沿う領域に一体に形成されていることを特徴としている。
 本発明によれば、従来と同じ程度の低い放電開始電圧で動作しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化が小さいESD保護デバイスを得ることができる。
図1(A)は、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の断面図である。図1(B)は、図1(A)におけるESD保護デバイス100のI-I線断面図である。 図2は、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の比較例1の断面図である。 図3は、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の比較例2の断面図である。 図4は、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の変形例の断面図である。 図5は、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の断面図である。 図6は、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の比較例3の断面図である。 図7は、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の比較例4の断面図である。 図8は、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の第1の変形例の断面図である。 図9は、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の第2の変形例の断面図である。 図10は、従来のESD保護デバイス1000の断面図である。
(第1の実施形態)
 図1に、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100を示す。図1(A)は、ESD保護デバイス100の断面図である。図1(B)は、図1(A)におけるESD保護デバイス100のI-I線断面図である。
 ESD保護デバイス100は、複数のセラミック層が積層されてなる直方体のセラミック積層体1を備えている。セラミック積層体1は、例えばBaO-Al23-SiO2系低温焼結セラミック材料(以下、BAS材と呼ぶ)からなっている。
 複数のセラミック層間には、1対の直方体の放電電極3、3が配置されている。1対の放電電極3、3のそれぞれは、一方主面および他方主面と、一方主面と他方主面をつなぐ4つの端面3aと、4つの端面3aのうちの互いに隣接する端面をつなぐ4つのコーナー部3bとを有している。放電電極3、3は、例えばCu等の導電性材料からなっている。
 1対の放電電極3、3の他方主面側および、空洞部2の底面であって、1対の放電電極3、3の対向する端面3a、3aの間の領域2aにわたって一体に、放電補助電極4が形成されている。放電補助電極4は、例えば、アルミナ被膜Cu粒子等の導電性材料および、SiC等のセラミックからなる半導体材料を含んでいる。
 セラミック積層体1の表面には、放電電極3、3と接続された外部電極5、5が形成されている。外部電極5、5は、例えば、Agからなっている。
 セラミック積層体1の内部には、空洞部2が形成されている。1対の放電電極3、3のうちの一方の放電電極3の1つの端面3aと、他方の放電電極3の1つの端面3aとが、空洞部2を介して対向している。1対の放電電極3、3を平面視したときには、長方形の放電電極3、3の短辺同士で対向している。空洞部2は、1対の放電電極3、3の対向する端面3a、3aの間の領域2a、対向する端面3a、3aとコーナー部3b、3b、3b、3bを介してつながれた別の端面3c、3c、3c、3cに沿う領域2c、2c、2c、2c、ならびに、放電電極3、3の一方主面上の、対向する端面3a、3aおよび別の端面3c、3c、3c、3cに沿うコ字状の領域3e、3eに一体に形成されている。
 上述したように、放電電極3、3はCu等の導電性材料からなり、放電補助電極4はCu等の導電性材料と、SiC等のセラミックからなる半導体材料を混合した材料からなっている。したがって、放電電極3、3と放電補助電極4は異種の材料であることから接合性が悪く、放電時の衝撃により、空洞部2に露出した放電電極3、3は放電補助電極4から剥がれやすい。
 しかしながら、上述した構造のESD保護デバイス100によれば、図10に示すような従来のESD保護デバイス1000に対して、1対の放電電極3、3それぞれの一方主面上の、対向する端面3aおよび別の端面3c、3cに沿うコ字状の領域3eを空洞部2として残すように、放電電極3、3上のセラミック積層体1の面積を広げて形成し、放電電極3、3の空洞部2に露出した部分の面積を小さくしている。そのため、放電時の衝撃によって放電電極3、3が放電補助電極4から剥がれることが抑制されており、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
 さらに、ESD保護デバイス100によれば、対向する端面3a、3aとコ字状の領域3e、3eをつなぐ辺、別の端面3c、3c、3c、3cとコ字状の領域3e、3eをつなぐ辺、および、コーナー部3b、3b、3b、3bという放電が発生しやすい放電電極3、3の部分の周辺を、空洞部2に露出させた部分として残すように、空洞部2の形状を従来よりも小さくしているため、従来と同じ程度の低い放電開始電圧に維持することができる。
 以上に示すように、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100は、従来と同じ程度の低い放電開始電圧を維持しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
 さらに、ESD保護デバイス100においては、空洞部2に露出した、セラミック積層体1と放電電極3、3の一方主面との境界がコ字状となっている。境界の形状を一直線ではなく、コ字状にしているため、ESD保護デバイス100をリフローにより基板に実装する際に、空洞部2内の気体の熱膨張に伴いセラミック積層体1にかかる力が分散され、セラミック積層体1が放電電極3、3の一方主面側から剥がれにくい。その結果、リフロー後に空洞部2の体積が大きくなりにくいだけでなく、他方主面のみで放電補助電極4と接合したセラミック積層体1の面積の拡大を抑制でき、放電電極3、3の剥がれを抑制することができる。
 次に、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の製造方法の一例について説明する。
 まず、Ba、Al、Siを中心とした各素材を所定の割合で調合、混合し、800~1000℃で仮焼することにより、BAS材を形成する。得られたBAS材をジルコニアボールミルで粉砕し、平均粒径約1~2μm程度のBAS材からなるセラミック材料を形成する。このセラミック材料に、トルエンやエキネン等の有機溶媒を加え、混合する。その後、バインダー、可塑剤を加え、混合し、スラリーを形成する。
 次に、スラリーをドクターブレート#法により成形し、厚み10~50μmのセラミックグリーンシートを複数枚形成する。
 次に、導電性材料および半導体材料を含む放電補助電極形成用ペーストを形成する。具体的には、平均粒径約3~10μmのアルミナ被膜Cu粒子と、平均粒径約1~2μmのSiC粒子からなるセラミック材料を所定の割合で調合し、バインダー樹脂と溶剤を添加し、3本ロールで撹拌、混合することで放電補助電極形成用ペーストを形成する。
 次に、セラミックグリーンシートの一方主面上に、スクリーン印刷により放電補助電極形成用ペーストを塗布することにより、未焼成の放電補助電極4を形成する。
 次に、Cu粉とエチルセルロース等からなるバインダー樹脂に溶剤を添加し、3本ロールで撹拌、混合することで放電電極形成用ペーストを形成する。
 次に、スクリーン印刷により放電電極形成用ペーストを塗布することにより、未焼成の1対の放電電極3、3を形成する。
 次に、スクリーン印刷により、対向する端面3a、3aの間の領域2a、対向する端面3a、3aとコーナー部3b、3b、3b、3bを介してつながれた別の端面3c、3c、3c、3cに沿う領域2c、2c、2c、2c、ならびに、一方主面上の、対向する端面3a、3aおよび別の端面3c、3c、3c、3cに沿うコ字状の領域3e、3eに一体に、樹脂ペーストを塗布する。樹脂ペーストには、焼成時に消失する材料として、例えば、PET、ポリプロピレン、エチルセルロース、アクリル樹脂等を用いる。
 次に、複数枚のセラミックグリーンシートを所定の順番で積層し、圧着することにより、樹脂ペースト、放電電極3、3および放電補助電極4が内部に積層されたセラミック積層体1を形成する。
 次に、マイクロカッタを用いたカットにより、セラミック積層体1を分割する。
 次に、分割されたセラミック積層体1をN2雰囲気中で焼成する。焼成によって、樹脂ペーストは消失し、空洞部2が形成される。
 次に、セラミック積層体1の表面上にAg等を含む導電ペーストを塗布し、焼き付けることにより、放電電極3、3と電気的に接続された複数の外部電極5、5を形成する。
 最後に、必要であれば、外部電極5、5上に、電解めっきにより、NiおよびSnからなる膜を形成することにより、図1に示すようなESD保護デバイス100を完成させる。
 本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100に対して、初期の放電開始電圧および、繰り返し放電後の放電開始電圧を評価した。
 放電開始電圧は、IEC61000-4-2に定められている、静電気放電イミュニティ試験により測定した。具体的には、接触放電にて8kVをESD保護デバイスに印加して、保護回路側で検出されたピーク電圧を放電開始電圧とした。
 繰り返し放電後の放電開始電圧は、接触放電にて8kVをESD保護デバイスに100回印加した後に、前記と同様の方法により測定したピーク電圧とした。
 評価対象として、上述した製造方法と同一の方法より、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100と同一の構造の実施例1を作製した。また、実施例1との比較対象として、樹脂ペーストの塗布パターンを実施例1に対して変更することにより、実施例1と空洞部の形状、寸法のみが異なる比較例1のESD保護デバイス200、比較例2のESD保護デバイス300を作製した。比較例1では、図2に示すように、図10に示した従来技術(特許文献1)と同様に、平面視したときに長方形の空洞部22を形成した。比較例2では、図3に示すように、平面視したときに、比較例1の空洞部22よりも横幅が小さい長方形の空洞部32を形成した。
 表1に、実施例1、比較例1、比較例2それぞれの放電開始電圧の測定結果を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 表1から分かるように、実施例1における初期の放電開始電圧の繰り返し放電による変化は、従来技術の比較例1に比べて小さくなっている。さらに、実施例1では、初期の放電開始電圧は、比較例1よりも小さい値を維持している。すなわち、実施例1では、初期の放電開始電圧を、従来と同じ程度に低く維持しつつ、従来技術の比較例1と比べて、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができている。
 一方、比較例1よりも長方形の空洞部の横幅を狭めた比較例2では、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化が比較例1に比べて小さくなっているが、初期の放電開始電圧が比較例1に比べて大きくなってしまうという問題点がある。これに対して、実施例1では、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を比較例1に比べて小さくしつつ、初期の放電開始電圧を比較例1と同じ程度に低く維持できている。
 以上、本発明の第1実施形態にかかるESD保護デバイス100の構造、および製造方法の一例について説明した。しかしながら、本発明が上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
 図4に、本発明の第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100の変形例400の断面図を示す。変形例400は、上述したESD保護デバイス100とは異なり、1対の放電電極43、43のそれぞれにおいて、対向する端面43a、43aとコーナー部43b、43b、43b、43bを介してつながる別の端面43c、43c、43c、43cが、平面視したときに対向する端面43a、43aから離れるにつれて広がるように形成されている。この場合においても、従来と同じ程度の低い放電開始電圧を維持しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
 また、前記実施形態では、放電補助電極4が形成されているが、放電補助電極4が形成されていなくても良い。放電補助電極4が形成されていない場合であっても、接合する放電電極3、3とセラミック積層体4は、異なる材料からなるため、放電電極3、3がセラミック積層体4から剥がれやすい。そのため、この場合においても、本発明を適用する意義がある。
 放電補助電極4が形成されていないESD保護デバイスにおいて、本発明と同様の空洞部2の形状にすることにより、従来と同じ程度の低い放電開始電圧を維持しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
 また、前記実施形態では、放電補助電極4は、導電性材料と半導体材料とを含んでいるが、半導体材料の代わりに、BAS材等の絶縁性材料を含んでいても良い。もしくは、放電補助電極4は、導電性材料と、半導体材料および絶縁性材料の両方とを含んでいても良い。
(第2の実施形態)
 図5に、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の断面図を示す。
 第1の実施形態にかかるESD保護デバイス100では、平面視したときに、1対の長方形の放電電極3、3の短辺側の端面3a、3a同士を対向させているが、第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500では、1対の長方形の放電電極53、53の長辺側の端面53a、53aの一部同士を対向させている。
 ESD保護デバイス100では、対向する端面3a、3aのコーナー部3b、3b、3b、3bは、1対の放電電極3、3それぞれに2つずつ有しているが、ESD保護デバイス500では、1対の放電電極53、53それぞれに1つずつ有している。
 また、ESD保護デバイス100では、空洞部2は、放電電極3、3の一方主面上において、コ字状の領域に形成されているが、ESD保護デバイス500では、空洞部52はL字状の領域に形成されている。
 また、ESD保護デバイス100では、コーナー部3b、3b同士を直接対向させているが、ESD保護デバイス500では、コーナー部53b、53b同士を直接対向させず、コーナー部53bと端面53aを対向させている。
 この場合においても、従来と同じ程度の低い放電開始電圧を維持しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
 さらに、第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500によれば、対向する端面53a、53aを、図5に示すように、平面視したときに長方形のセラミック積層体51の長手方向と並行に配置していることから、対向部53a、53aの長さをより長く設定することにより、対向する放電電極53、53の対向する長さを大きくすることができるため、ESD保護デバイス500の繰り返し使用可能回数を多くすることができる。
 また、ESD保護デバイス500によれば、コーナー部53bと端面53aを対向させていることから、ESD保護デバイス100のようにコーナー部3b、3b同士を対向させている場合に比べて、印刷ずれ等による放電電極3、3の位置にばらつきに対して放電開始電圧を安定させることができる。
 第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の製造方法には、第1の実施形態のESD保護デバイス100の製造方法と同様の方法を用いることができる。第1の実施形態の製造方法と第2の実施形態の製造方法の相違点は、樹脂ペーストを塗布する形状、放電電極用ペーストを塗布する形状を、空洞部52および放電電極53、53の形状に合わせるように変更していることである。
 第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500に対して、第1の実施形態のESD保護デバイス100と同様に、放電開始電圧を評価した。
 評価対象として、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500と同一の構造の実施例2を作製した。また、実施例2との比較対象として、樹脂ペーストおよび放電電極用ペーストの塗布パターンを実施例2に対して変更することにより、実施例1と空洞部および放電電極の形状、寸法のみが異なる比較例3のESD保護デバイス600、比較例4のESD保護デバイス700を作製した。比較例3では、図6に示すように、長方形の空洞部62を形成した。比較例4では、図7に示すように、比較例3の空洞部22よりも縦幅が小さい長方形の空洞部72を形成した。
 表2に、実施例2、比較例3、比較例4それぞれの放電開始電圧の測定結果を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 表2から分かるように、実施例2では、実施例1と同様に、初期の放電開始電圧を、従来と同じ程度に低く維持しつつ、比較例3と比べて放電開始電圧の変化を小さくすることができている。
 以上、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の構造、および製造方法の一例について説明した。しかしながら、本発明が上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
 図8、図9にそれぞれ、本発明の第2の実施形態にかかるESD保護デバイス500の第1の変形例800、第2の変形例900の断面図を示す。
 第1の変形例800は、上述したESD保護デバイス500とは異なり、1対の放電電極83、83のそれぞれにおいて、対向する端面83a、83aとコーナー部83b、83b、83b、83bを介してつながる別の端面83c、83c、83c、83cが、平面視したときに対向する端面83a、83aから離れるにつれて広がるように形成されている。
 第2の変形例900は、放電電極93、93の対向する端面93a、93aを含む先端の部分は、平面視したときに平行四辺形の形状となっている。
 これらの第1の変形例800、第2の変形例900の場合においても、従来と同じ程度の低い放電開始電圧を維持しつつ、放電の繰り返しによる放電開始電圧の変化を小さくすることができる。
1 セラミック積層体
2 空洞部
2a 1対の放電電極の対向する端面の間の領域
2c 1対の放電電極の別の端面に沿う領域
3 放電電極
3a 放電電極の対向する端面
3b 放電電極のコーナー部
3c 放電電極の別の端面
3e 放電電極の一方主面上の領域
4 放電補助電極
5 外部電極
100、400、500、800、900 ESD保護デバイス

Claims (3)

  1.  複数のセラミック層が積層されてなるセラミック積層体と、
     前記セラミック積層体の内部に形成された空洞部と、
     前記複数のセラミック層間に配置され、一方主面および他方主面と、前記一方主面と前記他方主面をつなぐ複数の端面と、前記複数の端面のうちの互いに隣接する端面をつなぐコーナー部とを有する、少なくとも1対の放電電極と、
     前記セラミック積層体の表面に形成され、前記放電電極と接続された外部電極とを備え、
     前記1対の放電電極のうちの一方の放電電極の1つの端面と、他方の放電電極の1つの端面とが、前記空洞部を介して対向するESD保護デバイスであって、
     前記空洞部が、前記対向する端面の間の領域、前記対向する端面と前記コーナー部を介してつながれた別の端面に沿う領域、ならびに、前記一方主面上の、前記対向する端面に沿う領域および前記別の端面に沿う領域に一体に形成されていることを特徴とするESD保護デバイス。
  2.  前記1対の放電電極の前記他方主面側および、前記空洞部の底面であって、前記1対の放電電極の前記対向する端面の間の領域に、導電性材料と、半導体材料および絶縁性材料のうちの少なくとも一方とを含む放電補助電極が形成されていることを特徴とする請求項1に記載されたESD保護デバイス。
  3.  前記1対の放電電極のそれぞれにおいて、前記空洞部に露出した前記一方主面の形状は、L字状であることを特徴とする請求項1または2に記載されたESD保護デバイス。
PCT/JP2013/083767 2012-12-19 2013-12-17 Esd保護デバイス WO2014098084A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201390000997.XU CN204947322U (zh) 2012-12-19 2013-12-17 Esd保护器件
JP2014553156A JP5757372B2 (ja) 2012-12-19 2013-12-17 Esd保護デバイス
US14/723,852 US9837795B2 (en) 2012-12-19 2015-05-28 ESD protection device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-276918 2012-12-19
JP2012276918 2012-12-19

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US14/723,852 Continuation US9837795B2 (en) 2012-12-19 2015-05-28 ESD protection device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014098084A1 true WO2014098084A1 (ja) 2014-06-26

Family

ID=50978411

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2013/083767 WO2014098084A1 (ja) 2012-12-19 2013-12-17 Esd保護デバイス

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9837795B2 (ja)
JP (1) JP5757372B2 (ja)
CN (1) CN204947322U (ja)
WO (1) WO2014098084A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016098623A1 (ja) * 2014-12-18 2016-06-23 株式会社村田製作所 Esd保護装置およびその製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160029985A (ko) * 2014-09-05 2016-03-16 성균관대학교산학협력단 유전체에 균일하게 플라즈마를 발생시키는 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002093546A (ja) * 2000-07-10 2002-03-29 Samsung Electro Mech Co Ltd 表面実装型静電気放電装置及びその製造方法
WO2011145598A1 (ja) * 2010-05-20 2011-11-24 株式会社村田製作所 Esd保護デバイス
WO2013115054A1 (ja) * 2012-01-30 2013-08-08 株式会社村田製作所 Esd保護装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101027092B1 (ko) 2007-05-28 2011-04-05 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Esd 보호 디바이스
EP2357709B1 (en) * 2008-12-10 2019-03-20 Murata Manufacturing Co. Ltd. Esd protection device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002093546A (ja) * 2000-07-10 2002-03-29 Samsung Electro Mech Co Ltd 表面実装型静電気放電装置及びその製造方法
WO2011145598A1 (ja) * 2010-05-20 2011-11-24 株式会社村田製作所 Esd保護デバイス
WO2013115054A1 (ja) * 2012-01-30 2013-08-08 株式会社村田製作所 Esd保護装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016098623A1 (ja) * 2014-12-18 2016-06-23 株式会社村田製作所 Esd保護装置およびその製造方法
JPWO2016098623A1 (ja) * 2014-12-18 2017-05-25 株式会社村田製作所 Esd保護装置およびその製造方法
CN107005028A (zh) * 2014-12-18 2017-08-01 株式会社村田制作所 Esd保护装置以及其制造方法
US10381806B2 (en) 2014-12-18 2019-08-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. ESD protection device and manufacturing method for same

Also Published As

Publication number Publication date
CN204947322U (zh) 2016-01-06
JPWO2014098084A1 (ja) 2017-01-12
US20150263489A1 (en) 2015-09-17
US9837795B2 (en) 2017-12-05
JP5757372B2 (ja) 2015-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101072673B1 (ko) Esd 보호 디바이스
KR101392455B1 (ko) Esd 보호 디바이스 및 그 제조 방법
KR101254212B1 (ko) Esd 보호 디바이스
WO2011145598A1 (ja) Esd保護デバイス
JP5459295B2 (ja) Esd保護デバイスおよびその製造方法
TWI532283B (zh) Electrostatic countermeasure components
JP5757372B2 (ja) Esd保護デバイス
WO2015087394A1 (ja) Esd保護デバイスとその製造方法
WO2012105497A1 (ja) Esd保護装置
JP5874743B2 (ja) Esd保護装置
JP6119371B2 (ja) Esd保護装置及びその製造方法
JP5605413B2 (ja) Esd保護デバイスとその製造方法
JP6036989B2 (ja) Esd保護装置
US9036317B2 (en) Antistatic device
WO2014188791A1 (ja) Esd保護装置
JP6048055B2 (ja) Esd保護デバイスとその製造方法
US10057970B2 (en) ESD protection device
WO2016203976A1 (ja) Esd保護装置
JP5644829B2 (ja) Esd保護デバイスとその製造方法
US10292249B2 (en) ESD protection device
JP6048577B2 (ja) Esd保護装置及びその製造方法
WO2017006689A1 (ja) Esd保護装置
WO2013146324A1 (ja) Esd保護装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 201390000997.X

Country of ref document: CN

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13864354

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2014553156

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13864354

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1