WO2013007695A1 - Procédé de commande d'un détecteur photosensible par détection automatique d'un rayonnement incident - Google Patents

Procédé de commande d'un détecteur photosensible par détection automatique d'un rayonnement incident Download PDF

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WO2013007695A1
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potential
photosensitive
column conductor
column
transistors
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David BLANCHON
David Couder
Benoît CANDIARD
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Trixell
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    • G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/241—Electrode arrangements, e.g. continuous or parallel strips or the like
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Definitions

  • the invention relates to a method for controlling a photosensitive device, for example a digital x-ray detector comprising a matrix of photosensitive spots.
  • a photosensitive device for example a digital x-ray detector comprising a matrix of photosensitive spots.
  • it relates to a method of controlling the reading of electrical charges accumulated in the photosensitive points of the device.
  • the invention also applies to the determination of a quantity of photons received by the photosensitive device.
  • Photosensitive devices formed of a matrix of points that are sensitive to visible or near-surface radiation. visible. These photosensitive devices are called solid state detectors, solid state detectors or flat panel detectors. They can be used in X-ray image formation by interposing a scintillator between the X-ray radiation and the photosensitive dot matrix to convert X-radiation into light radiation in the wavelength band. photosensitive spots.
  • Each photosensitive point is generally at least constituted by a photosensitive element such as a diode and a switch element in series, for example a field effect transistor.
  • Each photosensitive point is connected between a column conductor and a line conductor.
  • imaging phase the photosensitive elements are exposed to a radiation that they convert into electrical charges.
  • reading phase a reading pulse is successively applied to the switching elements by line conductors in order to transfer the electric charges to read circuits via the column conductors.
  • photosensitive devices have been made in the form of cassettes used in association with a base station comprising an X-ray source.
  • the cassettes can be mobile in order to be easily placed near a patient of whom it is desired obtain a radiological image.
  • Solid state detectors have many advantages over radiological films, especially in terms of image exploitation.
  • the base station and the cassette to synchronize the acquisition window, i.e. the time interval during which the solid state detector is able to convert the photons. received, with the radiation window, that is, the time interval during which X-rays are emitted by the base station.
  • the radiation window can begin before the acquisition window or end after. The patient is then unnecessarily subjected to an X-ray dose.
  • the exposure of the photosensitive spots to radiation during the reading phase degrades the quality of the radiological image.
  • the synchronization ensures that the entire radiation window is included in the acquisition window, the entire X radiation emitted by a base station can then be processed by the mobile cassette.
  • connection means therefore imposes the presence of connection means between the base station and the cassette.
  • the base stations originally intended to operate with radiological film cassettes do not include such connecting means.
  • the replacement of a radiological film cassette with a cassette comprising a solid state detector therefore imposes structural modifications of the base station.
  • These structural modifications lead to a complexification of the radiological system and an additional cost of installation.
  • the connecting means have disadvantages.
  • a wired link means restricts the mobility of a mobile cassette.
  • a wireless link allows more mobility but generally does not allow synchronization. This is particularly the case for wireless links based on the IEEE 802.1 1 standard.
  • the constraints of electromagnetic compatibility in the medical field impose very low emission powers. This raises problems of reliability of the wireless link.
  • An object of the invention is in particular to overcome all or part of the aforementioned drawbacks by allowing a photosensitive device to process all of a received radiation without requiring connection means with the radiation source.
  • the invention makes it possible detecting the arrival of photons on the photosensitive device without the need for an additional sensor and without engaging a read phase, that is to say without applying a read pulse to the switch elements of the photosensitive elements.
  • the subject of the invention is a method of controlling a photosensitive device comprising a column conductor, line conductors and photosensitive spots, each photosensitive point being connected between the column conductor and one of the row conductors, and comprising a photosensitive element capable of converting a photon flux into electric charges, and a transistor controlled by the corresponding line conductor, the transistors being controlled in the off state during an acquisition phase in which the photon flux is converted into electric charges , and being successively controlled in the on state during a read phase so as to transfer line by line the electrical charges to the column conductor.
  • Each transistor introduces in the off state a parasitic coupling capacitance between the corresponding photosensitive element and column conductor.
  • the method is characterized in that it comprises a step of determining an electrical potential on the column conductor at a time when the transistors are controlled in the off state. According to a first particular embodiment, the method comprises the following additional steps:
  • ⁇ determine the electric potential of the column conductor at a second time where the transistors are controlled in the off state
  • the photosensitive device comprises n c column conductors, each photosensitive point being connected between one of the column conductors and one of the conductive line so as to form a matrix of photosensitive elements, the electric potential being determined successively on each of the column conductors in a first time interval where the transistors are controlled in the off state, the potentials forming a first sequence of potentials for each column conductor.
  • the method further comprises the following steps:
  • ⁇ determine for each column conductor and at each occurrence from the potential consequences, a potential difference between the electric potential of the first sequence and the electric potential corresponding to the second sequence, differences in potential forming one of n test image c columns by no lines of pixels,
  • the invention has the particular advantage that it allows to replace any type of mobile cassette in a radiological system without requiring structural modification.
  • FIG. 1 represents an example of a photosensitive device to which the control method according to the invention can be applied;
  • FIG. 2 represents the main steps of the control method according to the invention
  • FIG. 3 represents steps of the control method according to a first particular embodiment of the invention in which an electric potential is read periodically as long as it has not evolved significantly;
  • FIG. 4 represents an example of time sequencing of the steps of the control method according to the first particular embodiment of the invention.
  • FIG. 5 represents steps of the control method according to a second particular embodiment of the invention in which the electrical potential is read several times over several column conductors;
  • FIG. 6 represents an example of a test image obtained by the control method according to the second particular embodiment of the invention, said image being divided into blocks;
  • FIG. 7 illustrates the principle of a pyramidal detection according to the second particular embodiment of the invention.
  • FIG. 8 graphically represents an example of probability of occurrence of means of a block corresponding to an unexposed area of the photosensitive device of FIG. 1;
  • FIG. 9 graphically represents an example of probability of occurrence of the means of a block corresponding to an exposed area of the photosensitive device;
  • FIG. 10 graphically represents an example of non-detection rate as a function of the average of a block
  • FIG. 11 graphically represents the relation between a dimension of a block and a minimum average of this block that can be detected with a given non-detection rate
  • FIG. 12 graphically represents the relationship between the size of a block and the average of this block for an exposure on a given surface of the photosensitive device
  • FIG. 13 gathers in the same graph the graphs of FIGS. 11 and 12;
  • FIG. 14 illustrates the effect of a variation in the size of the blocks on the detection of an exposure of the photosensitive device.
  • FIG. 1 represents an example of a photosensitive device 10 to which the control method according to the invention can be applied.
  • the photosensitive device 10 comprises a matrix 1 1 of photosensitive dots, a line control circuit 12 and a set 13 of charge reading circuits 131, 132 and 133.
  • the matrix 11 is formed. from three lines L to L 3 by three columns Ci to C 3 of photosensitive points, referenced Pi to P 9 individually, and P p generically.
  • Such a matrix may of course be formed of a larger number of photosensitive points, up to several million points.
  • the photosensitive spots may also be arranged in a single column so as to form a detection strip.
  • Each photosensitive point P p comprises a photosensitive diode Dp and a field effect transistor (FET) T.
  • the photosensitive diodes could be replaced by any photosensitive element capable of converting light radiation into electrical charges, for example a phototransistor.
  • a scintillator may be placed between an X-ray source and the matrix 1 1 in order to produce an X-ray image.
  • the transistors T are, for example, thin-film transistors, better known by the English name of " Thin Film Transistors " (TFT).
  • the photosensitive device 10 furthermore comprises line conductors X 1 to X 3 respectively connecting outputs 121 to 123 of the line control circuit 12 to the gates of the transistors T of the first line L of photosensitive points P 1 to P 3 , to the gates of the transistors T. of the second line L 2 of photosensitive points P 4 to P 6 , and to the gates of the transistors T of the third line L 3 of photosensitive points P 7 to P 9 .
  • the photosensitive device 10 also comprises column conductors Yi to Y 3 .
  • the column conductor Yi connects the drains of the transistors T of the first column Ci of photosensitive points Pi, P 4 and P 7 to the charge reading circuit 131.
  • the column conductor Y 2 connects the drains of the transistors T of the second column C 2 of photosensitive points P 2 , P 5 and P 8 to the charge reading circuit 132.
  • the column conductor Y 3 connects the drains of the transistors T of the third column C 3 of photosensitive points P 3 , P 6 and P 9 to the charge reading circuit 133.
  • the source of the transistor T is connected to the cathode of the light-sensitive diode Dp.
  • the anodes of all the photodiodes Dp are connected to an output 124 of the line control circuit 12.
  • the output 124 delivers a bias voltage V P oi ar , negative with respect to the reference potential of the photosensitive device 10.
  • the voltage V p0 i r is for example of the order of - 7 V.
  • the photosensitive device 10 of FIG. 1 operates in the following manner.
  • the matrix 11 is exposed to a photon flux.
  • the photons are converted into electrical charges at each photosensitive point P p by the photodiode Dp.
  • the quantity of electric charges is proportional to the number of photons received by the photodiode Dp.
  • the transistors T are in the off state, so that the electrical charges accumulate in each photosensitive point P p at the point of connection between the photodiode Dp and the transistor T. This results in a potential drop of this connection point. called "floating point".
  • the electrical charges accumulated in each photosensitive point must then be read in order to be able to restore a two-dimensional image of the photon flux received by the matrix 11.
  • the reading of the electrical charges of the photosensitive points P p is carried out line by line, simultaneously for all the photosensitive points of the same line.
  • the line control circuit 12 applies to each line conductor X 1 -X3 addressed a read pulse passing the transistors T of the line addressed to the on state.
  • the floating points of the addressed line then recover their polarization potential, which circulates in each column conductor Yi to Y 3 a current proportional to the amount of charges accumulated at the corresponding floating point.
  • the charge reading circuits 131 to 133 exploit these currents in order to determine the quantity of photons received by each photosensitive point P p of the addressed line.
  • the invention is based on an intrinsic property of the transistors, namely the presence of a naturally occurring parasitic coupling capacitance in the blocked state between the drain and the source of a field effect transistor, as well as between the collector and the emitter of a bipolar transistor.
  • This parasitic coupling capacitance is relatively low, for example of the order of 10 femtofarad (10 " farad), but nevertheless sufficient to generate a variation of the potential of the column conductors.Through the capacitive coupling effect, a potential variation of the point floating point of each photosensitive point P p connected to a column conductor Yi-Y 3 causes a proportional variation of the potential of this column conductor Y 1 -Y 3.
  • the variation of the potential of a column conductor Y 1 -Y 3 is proportional to the sum of the potential variations of the floating point of all the photosensitive points P p connected to this column conductor Yi-Y 3.
  • the parasitic coupling capacitance of each transistor T is represented by a capacitor C whose first electrode is connected to the floating point (connection point between a photodiode Dp and the associated transistor T) of the photosensitive point P p considered and of which a second electrode is connected to the column conductor Yi-Y 3 to which the photosensitive point P p is connected. It is noted that this parasitic coupling capacitance could be enhanced by the presence of a capacitor connected in parallel, that is to say between the drain and the source of each transistor T.
  • FIG. 2 represents possible steps of the control method which is the subject of the invention. This method applies for example to the photosensitive device 10 of FIG.
  • a first test is performed: the electrical potential V n- of one of the drivers column Yi to ⁇ 3 is determined at a first instant t n- i.
  • a second test is performed: the electrical potential V n of the same column conductor Yi-Y 3 is determined at a second time t n .
  • a test that is to say the determination of the electric potential of a column conductor Y 1 -Y 3 , is performed by means of the charge reading circuit 131 -133 associated with the column conductor Y 1 -Y 3 considered.
  • the electrical charges present on the column conductor are read and converted into a numerical value representative of the electrical potential of the column conductor.
  • the difference of electric potential AV (V n -V n- i) of the column conductor Y 1 -Y 3 between times t n and t n- i is determined.
  • this potential difference AV is compared with a predetermined threshold S.
  • a read step 25 is triggered or not.
  • a reading phase is executed, the lines L-, L 3 of photosensitive points P p being read successively by applying a read pulse on each of the conductors line X 1 to X 3 .
  • the determination of the threshold S results from a compromise between two conflicting requirements.
  • the threshold S must not be too low in order to avoid the execution of a reading phase while the matrix 11 has not been exposed to a photon flux. Indeed, even in the absence of exposure, a potential difference of a column conductor Y 1 -Y 3 can be observed because of the noise introduced by the various electronic components, in particular by the charge reading circuit 131. 133 when determining the potential.
  • the threshold S must not be too high in order to avoid missing an acquisition phase of an image.
  • FIG. 3 represents a particular embodiment of the invention making it possible to continuously check the arrival of photons on the matrix 1 1 of the photosensitive device 10.
  • the photosensitive device 10 is in a standby mode, that is to say that tests are performed at regular intervals of time.
  • the duration T v of each time interval is for example of the order of a few milliseconds or a few tens of milliseconds.
  • This duration T v can be set so as to be less than the minimum duration of exposure, that is to say the minimum duration during which the photosensitive device 10 is likely to be exposed to a flux of photons.
  • Such a condition is for example necessary when, during the acquisition phase, the load reading circuits slowly derive the electrical potential on the column conductor to which they are connected.
  • the difference in potential AV determined during step 23 is the difference between the electrical potential V n of a column conductor Yi-Y 3 determined during the last test at time t n and the potential V n determined during the penultimate test at time t n- i.
  • the repetition of the tests is carried out by a loop comprising the steps 22, 23 and 24, as well as an additional step 31 closing the loop. Step 31 is performed at the end of step 24 if the potential difference AV is not greater than the threshold S.
  • FIG. 4 represents, in two chronograms, the time sequence of the various steps of the control method.
  • a first timing diagram 41 represents the operation of the photosensitive device 10.
  • a second timing diagram 42 represents the operation of the source of photons or X-rays.
  • the photosensitive device 10 is in the standby mode 41 1 between instants t n- 2 and t w .
  • tests 412 are executed at different times t n -2, t n -i and t n .
  • the duration T v separates the successive tests.
  • the potential difference AV between the last two tests is determined and compared with the threshold S.
  • the potential difference ⁇ v is insufficient to trigger a reading phase .
  • a new test is then performed at time t n .
  • a flow of photons or X-rays begins to be emitted by the source towards the photosensitive device 10.
  • the emission duration is noted d x .
  • a waiting step 413 is performed from the instant t w .
  • This time t w occurs a period after time t c n, c being the length of the steps of processing time 23 and 24.
  • the waiting step 413 is effected for a period of w, until a moment t r . It ensures that the emission of photons or X-rays is complete at the time of the reading phase. Indeed, the reading of the photosensitive points during their exhibition would give a very degraded image.
  • the reading step 25 can be executed.
  • the method according to the invention can be optimized in different ways.
  • the potential difference of several or even all the column YrY 3 conductors is taken into account, and not just one of them.
  • steps 21 to 23 can be performed for each column conductor Yi to Y 3 .
  • Step 24 may for example consist in comparing the sum of the potential differences on all the column conductors Yi to Y 3 with an overall threshold. It can also consist of individually comparing the potential difference of the column conductors with a threshold, a reading phase being executed only if the number of positive comparisons, that is to say the number of potential differences greater than the threshold. , is greater than a given number.
  • the column conductors considered may be adjacent or not.
  • the potential of the Yi-Y 3 column conductor (s) is determined several times successively for the same test. An average value of the potential is then determined for each column conductor Yi-Y 3 considered.
  • the difference in potential AV determined during step 23 is then the difference between the average value of the electric potential V n determined during the last test at the instant t n and the mean value of the electric potential V n determined during the test. penultimate test at time t n -i.
  • the control method according to the invention allows a photosensitive device comprising a matrix of photosensitive points to synchronize autonomously, independently of the source of photons or X-rays.
  • the control method does not require the addition of hardware components to the photosensitive device or the source of photons or X-rays. Unlike solutions or an ion chamber device is placed in the input plane of the photosensitive device, the control method according to the invention does not degrade the quality of the signal that arrives on the matrix.
  • FIG. 5 represents a particular embodiment of the control method according to the invention.
  • This embodiment applies to photosensitive devices comprising a plurality of column conductors. It relies on the one hand on the taking into account of the electric potential on all column conductors and, on the other hand, on a repeated determination of these electric potentials for the same test.
  • a photosensitive device comprising n c column conductors, that is to say n c columns of photosensitive points P p .
  • a first step 51 the electric potential is determined once or successively on each of the n column conductors c.
  • These ni xn c potentials are determined in a first time interval during an acquisition phase, that is to say in a time interval where the transistors T of the photosensitive device are controlled in the off state.
  • These potentials form, for each column conductor, a first sequence of potentials. They are denoted V j where 1 denotes the first sequence of potentials, i is an integer between 1 and ni and denotes the occurrence in the first sequence, and j is an integer between 1 and n c and denotes one of column drivers.
  • the electric potential is again determined successively on each of the n c column conductors.
  • ni xn c potentials are determined in a second time interval, always during the acquisition phase. They form, for each column driver, a second sequence of potentials.
  • the potentials of the first and second sequences are denoted respectively V-gj and V 2 JJ, where i is an integer between 1 and ni and denotes the occurrence in the sequence considered, and j is an integer between 1 and n c and denotes one of the column drivers.
  • a third step 53 potential differences AVj between the electrical potentials V ⁇ j of the first sequence and the corresponding electrical potentials V 2, ij of the second sequence are determined.
  • a potential difference is determined for each column conductor j and each occurrence i in the potential sequences.
  • a difference AV-i is determined between the first potential VI J of the first sequence and the first potential V 2, ij of the second sequence, between the second potential V I2 J of the first sequence and the second potential V 2 , 2 , j of the second sequence, and so on for all the occurrences i of the two sequences of potentials.
  • All these potential differences can be represented as a test image of n c columns by n lines of pixels, each line of the test image corresponding to an occurrence i in the potential sequences, the columns corresponding to the column drivers j of the photosensitive device.
  • the value of each pixel of the test image is equal to the potential difference AVij for the occurrence i and the column conductor j considered.
  • a variable m is initialized to a predetermined integer value.
  • the photosensitive devices generally comprise a number of columns equal to a power of two.
  • the value of the integer n is discussed below.
  • the test image is divided into blocks of ni lines per m columns of pixels.
  • the variable m thus defines a dimension of the blocks.
  • Figure 6 shows an example test image 61 divided into 7 blocks marked 61 1 to 61 7.
  • a MAVj average of the differences of AVy potentials is determined for each block.
  • each average MAVj is compared with a predetermined threshold S m . This threshold S m is determined according to the dimension m. If none of the average MAVj is greater than the threshold S m , step 54 is repeated with a dimension m greater than the dimension m considered previously.
  • the increase of the dimension m is represented by a substep 545 performed in place of the substep 541 for initializing the dimension m.
  • FIG. 7 illustrates the principle of the pyramidal detection.
  • the advantage of this detection is that the average MAVj of each block of a given level can be obtained by averaging the two blocks of the previous level. If, during the sub-step 544, at least one of the averages MAVj is greater than the threshold S m , a reading step 55 is triggered. This step 55 consists, as before, in successively reading the different lines of photosensitive points P p by applying a read pulse on each of the row conductors.
  • False alarm means that a read step 55 is triggered while the photosensitive device has not been exposed.
  • non-detection it is meant that a read step 55 is not triggered while the photosensitive device has been exposed. It is considered that each pixel of the test image, that is to say each column of the photosensitive device, is subjected to an electronic noise of standard deviation s, for example equal to 8.2 Isb, where Isb is the abbreviation of the expression "least significant bit", 1 Isb being the smallest voltage variation that can be discretized on a column conductor.
  • Figure 8 illustrates, by a graph, an example of probability of occurrence of MAVj averages of a block corresponding to an unexposed area.
  • a graph an example of probability of occurrence of MAVj averages of a block corresponding to an unexposed area.
  • the graph makes it possible to determine a detection threshold S m equal to 6.4 A block whose average MAVj is greater than 6.4 is therefore considered to be an exposed area with a false alarm rate of 3.2 x 10 "10 .
  • FIG. 9 illustrates, by a graph, an example of the probability of occurrence of the MAVj means of a block corresponding to an exposed area with a statistical mean m b equal to the detection threshold S m . As illustrated by FIG. 9, there is as much probability that the average MAVj is below the detection threshold S m that is greater than this threshold.
  • FIG. 10 represents, by a graph, an example of a non-detection rate as a function of the average m b of a block.
  • the graph makes it possible to determine that, for an exposure giving an average m b equal to 8 Isb, the probability of detection is equal to 95%. This means that out of 1 00 blocks tested with an average of 8 Isb, 5 blocks would not be detected. Such a non-detection rate is not always acceptable, especially when a patient is subjected to X-radiation.
  • the following hypotheses are considered as examples. An exhibition takes place every 20 minutes.
  • the dimension m of the blocks is equal to 50 and the number n c of Column drivers is equal to 2880.
  • the photosensitive device must be at least exposed to a flux such that the average MAV j of a block is equal to 1 1, 5 Isb for the photosensitive device to be considered to have been exposed to radiation with an equal non-detection rate to 6.6 x 10 "8.
  • This minimum detectable average is denoted m d. the minimum detectable average of m depends on the dimension m of the blocks.
  • FIG. 11 illustrates, by a graph, the relation between the dimension m of a block and the minimum detectable mean M d . This graph shows that the larger the blocks, the lower the minimum detectable mean M d is small.
  • a photosensitive device is not necessarily exposed over the entire surface of its matrix.
  • the dimension m of the blocks must therefore also take into account the exposed areas of the matrix. For example, an exposure on a surface of 100 x 100 photosensitive spots is considered.
  • the blocks are always considered to be centered on this surface.
  • FIG. 12 illustrates, by a graph, the relation between the dimension m of a block, and the average MAV j of a block corresponding to such an exposure. If the dimension m of the block centered on the exposed area is less than or equal to the width of the exposed surface, the average MAV j of this block remains constant. On the other hand, if the dimension m of the block becomes greater than the width of the exposed surface, the average MAV j of the block decreases.
  • Figure 13 combines the two graphs of Figures 1 and 12 in a single graph.
  • a first curve 131 represents the average minimum detectable M d
  • a second curve 132 represents the average MAV j .
  • Curves 131 and 132 show that, for an exposure over a width of 100 columns with an average m b approximately equal to 17 Isb, a block centered on the exposure zone is detected as corresponding to an exposure zone with a non-detection rate of 6.6 x 10 "8 if and only if its dimension m is between 25 and 450. Furthermore, it appears a detection optimum for a dimension m equal to the width of exposure.
  • the exposure width is not generally known, and in some imaging areas the exposed surface can vary widely between different exposures, so a single dimension m does not allow the photosensitive device to detect exposures. of any width, the test step 54 of the exposure of the photosensitive dots thus enables the photosensitive device to adapt the dimension m of the blocks to the effective width of the exposure.
  • Figure 14 illustrates the effect of the variation of the dimension m of the blocks on the detection of an exposure. It represents, by a graph, the minimum detectable mean M d as a function of the width L of the exposed area for different dimensions m of blocks.
  • a first curve 141 represents the minimum detectable mean M d for a dimension m equal to 30.
  • a second curve 142 represents the minimum detectable mean M d for a dimension m equal to 100.
  • a third curve 143 represents the minimum detectable mean M d for a dimension m equal to 500.
  • a fourth curve 144 represents the minimum detectable mean M d for a dimension m successively taking the values 32, 64, 128, 256, 512 and 1024.
  • the curves 141 to 144 show that the variation of the dimension m blocks allows optimal detection regardless of the width of the exposed area.
  • the parasitic coupling capacitance of the transistors of a photosensitive dot array may be similarly used for the purpose of measuring the amount of photons or X-rays received by the photosensitive device. Indeed, the variation of potential of the floating points, and thus of the column conductors, is proportional to the quantity of photons or X-rays received. By performing several tests to determine the potential on the column drivers during the acquisition phase, it is possible to deduce the amount of photons or X-rays received.
  • This radiation quantification function can in particular be used to control the transmission power of the photon or X-ray flux, or to interrupt the emission once the desired quantity of photons or X-rays has been received.

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Abstract

L'invention concerne un procédé de commande d'un dispositif photosensible, par exemple d'un détecteur numérique de rayons X comprenant une matrice de points photosensibles. Le dispositif photosensible comprend un conducteur colonne, des conducteurs ligne et des points photosensibles. Chaque point photosensible est relié entre le conducteur colonne et l'un des conducteurs ligne, et comprend un élément photosensible apte à convertir un flux de photons en charges électriques, et un transistor apte à transférer les charges électriques vers le conducteur colonne sur commande d'un signal reçu par le conducteur ligne correspondant. L'invention repose sur la présence d'une capacité de couplage parasite entre le drain et la source de chaque transistor à l'état bloqué. Cette capacité introduit une variation de potentiel sur le conducteur colonne avec la réception de photons. Le procédé selon l'invention comporte des étapes (21, 22, 23, 24) permettant de comparer la variation de potentiel à un seuil, une étape de lecture (25) des points photosensibles étant exécutée en cas de comparaison positive.

Description

PROCÉDÉ DE COMMANDE D'UN DÉTECTEUR PHOTOSENSIBLE PAR DÉTECTION AUTOMATIQUE D'UN RAYONNEMENT INCIDENT
L'invention concerne un procédé de commande d'un dispositif photosensible, par exemple d'un détecteur numérique de rayons X comprenant une matrice de points photosensibles. En particulier, elle concerne un procédé de commande de la lecture de charges électriques accumulées dans les points photosensibles du dispositif. L'invention s'applique également à la détermination d'une quantité de photons reçue par le dispositif photosensible.
Les techniques de dépôt en films minces de matériaux semi- conducteurs, tels que le silicium amorphe hydrogéné, sur des supports isolants, par exemple en verre, permettent de réaliser des dispositifs photosensibles formés d'une matrice de points sensibles au rayonnement visible ou proche du visible. Ces dispositifs photosensibles sont appelés détecteurs à l'état solide, détecteurs à semi-conducteurs ou encore détecteurs à panneaux plats. Ils peuvent être utilisés dans le cadre de la formation d'images radiologiques par rayons X en interposant un scintillateur entre le rayonnement X et la matrice de points photosensibles, de manière à convertir le rayonnement X en rayonnement lumineux dans la bande de longueurs d'onde des points photosensibles. Chaque point photosensible est en général au moins constitué d'un élément photosensible tel qu'une diode et d'un élément interrupteur en série, par exemple un transistor à effet de champ. Chaque point photosensible est connecté entre un conducteur colonne et un conducteur ligne. Durant une phase dite de prise d'image, les éléments photosensibles sont exposés à un rayonnement qu'ils convertissent en charges électriques. Durant une phase dite de lecture, une impulsion de lecture est successivement appliquée aux éléments interrupteurs par les conducteurs ligne afin de transférer les charges électriques vers des circuits de lecture par l'intermédiaire des conducteurs colonne. Pour la radiologie médicale, des dispositifs photosensibles ont été réalisés sous forme de cassettes utilisées en association avec une station de base comprenant une source de rayonnement X. Les cassettes peuvent être mobiles afin d'être facilement placées à proximité d'un patient dont on souhaite obtenir une image radiologique. Les détecteurs à l'état solide présentent de nombreux avantages par rapport aux films radiologiques, notamment en termes d'exploitation des images. Cependant, une synchronisation est généralement nécessaire entre la station de base et la cassette pour synchroniser la fenêtre d'acquisition, c'est-à-dire l'intervalle de temps pendant lequel le détecteur à l'état solide est apte à convertir les photons reçus, avec la fenêtre de rayonnement, c'est-à-dire l'intervalle de temps pendant lequel des rayons X sont émis par la station de base. En effet, en l'absence de synchronisation, la fenêtre de rayonnement peut débuter avant la fenêtre d'acquisition ou se terminer après. Le patient est alors soumis inutilement à une dose de rayons X. En outre, l'exposition des points photosensibles à un rayonnement pendant la phase de lecture dégrade la qualité de l'image radiologique. Ainsi, la synchronisation permet de s'assurer que l'intégralité de la fenêtre de rayonnement est incluse dans la fenêtre d'acquisition, l'intégralité du rayonnement X émis par une station de base pouvant alors être traitée par la cassette mobile. La synchronisation impose donc la présence de moyens de liaison entre la station de base et la cassette. Or les stations de base prévues à l'origine pour fonctionner avec des cassettes à films radiologiques ne comportent pas de tels moyens de liaison. Le remplacement d'une cassette à films radiologiques par une cassette comprenant un détecteur à l'état solide impose par conséquent des modifications structurelles de la station de base. Ces modifications structurelles entraînent une complexification du système radiologique et un surcoût d'installation. De plus, les moyens de liaison présentent des inconvénients. En particulier, un moyen de liaison filaire restreint la mobilité d'une cassette mobile. Une liaison sans fil permet plus de mobilité mais ne permet en général pas de synchronisation. Tel est notamment le cas des liaisons sans fil basées sur la norme IEEE 802.1 1 . En outre, les contraintes de compatibilité électromagnétique dans le domaine médical imposent de très faibles puissances d'émission. Il se pose alors des problèmes de fiabilité de la liaison sans fil.
Un but de l'invention est notamment de remédier à tout ou partie des inconvénients précités en permettant à un dispositif photosensible de traiter l'ensemble d'un rayonnement reçu sans nécessiter de moyens de liaison avec la source du rayonnement. L'invention permet notamment de détecter l'arrivée de photons sur le dispositif photosensible sans nécessiter de capteur additionnel et sans engager de phase de lecture, c'est-à-dire sans appliquer d'impulsion de lecture aux éléments interrupteurs des éléments photosensibles. A cet effet, l'invention a pour objet un procédé de commande d'un dispositif photosensible comprenant un conducteur colonne, des conducteurs ligne et des points photosensibles, chaque point photosensible étant relié entre le conducteur colonne et l'un des conducteurs ligne, et comprenant un élément photosensible apte à convertir un flux de photons en charges électriques, et un transistor commandé par le conducteur ligne correspondant, les transistors étant commandés à l'état bloqué pendant une phase d'acquisition où le flux de photons est converti en charges électriques, et étant successivement commandés à l'état passant pendant une phase de lecture de manière à transférer ligne par ligne les charges électriques vers le conducteur colonne. Chaque transistor introduit à l'état bloqué une capacité de couplage parasite entre l'élément photosensible et le conducteur colonne correspondants. Le procédé se caractérise en ce qu'il comporte une étape consistant à déterminer un potentiel électrique sur le conducteur colonne à un instant où les transistors sont commandés à l'état bloqué. Selon une première forme particulière de réalisation, le procédé comprend les étapes supplémentaires suivantes :
■ déterminer le potentiel électrique sur le conducteur colonne à un deuxième instant où les transistors sont commandés à l'état bloqué,
■ déterminer une différence du potentiel électrique sur le conducteur colonne entre les premier et deuxième instants,
■ comparer la différence de potentiel électrique à un seuil prédéterminé,
■ si la différence de potentiel électrique est supérieure au seuil prédéterminé, commander successivement les transistors de manière à transférer individuellement les charges électriques de chaque point photosensible vers le conducteur colonne.
Cette forme particulière de réalisation permet de détecter une évolution du potentiel électrique entre deux instants, et de déclencher la lecture des charges électriques en cas d'évolution significative. Selon une deuxième forme particulière de réalisation, le dispositif photosensible comprend nc conducteurs colonne, chaque point photosensible étant relié entre l'un des conducteurs colonne et l'un des conducteurs ligne de manière à former une matrice de points photosensibles, le potentiel électrique étant déterminé ni fois successivement sur chacun des conducteurs colonne dans un premier intervalle de temps où les transistors sont commandés à l'état bloqué, les potentiels formant une première suite de potentiels pour chaque conducteur colonne.
Le procédé comporte de plus les étapes suivantes :
■ déterminer le potentiel électrique ni fois successivement sur chacun des conducteurs colonne dans un deuxième intervalle de temps où les transistors sont commandés à l'état bloqué, les potentiels formant une deuxième suite de potentiels pour chaque conducteur colonne,
■ déterminer, relativement à chaque conducteur colonne et à chaque occurrence dans les suites de potentiels, une différence de potentiel entre le potentiel électrique de la première suite et le potentiel électrique correspondant de la deuxième suite, les différences de potentiel formant une image test de nc colonnes par ni lignes de pixels,
■ tester l'exposition des points photosensibles, ladite étape comprenant les sous-étapes successives suivantes :
- découper l'image test en blocs de m colonnes par ni lignes de pixels,
- déterminer, pour chaque bloc, une moyenne des différences de potentiel,
- comparer chaque moyenne à un seuil prédéterminé fonction de la dimension m des blocs,
■ si aucune moyenne n'est supérieure au seuil prédéterminé, répéter l'étape de test avec une dimension m de bloc supérieure à la dimension m précédente,
■ si au moins une moyenne est supérieure au seuil prédéterminé, commander successivement les transistors de manière à transférer individuellement les charges électriques de chaque point photosensible vers le conducteur colonne correspondant. Cette forme particulière de réalisation permet d'optimiser la détection d'une exposition du dispositif photosensible quelle que soit la largeur de la zone exposée. L'invention a notamment pour avantage qu'elle permet de remplacer tout type de cassette mobile dans un système radiologique sans nécessiter de modification structurelle.
L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre, faite en regard de dessins annexés sur lesquels :
- la figure 1 représente un exemple de dispositif photosensible auquel peut s'appliquer le procédé de commande selon l'invention ;
- la figure 2 représente les étapes principales du procédé de commande selon l'invention ;
- la figure 3 représente des étapes du procédé de commande selon une première forme particulière de réalisation de l'invention dans laquelle un potentiel électrique est lu périodiquement tant qu'il n'a pas évolué significativement ;
- la figure 4 représente un exemple d'enchaînement temporel des étapes du procédé de commande selon la première forme particulière de réalisation de l'invention ;
- la figure 5 représente des étapes du procédé de commande selon une deuxième forme particulière de réalisation de l'invention dans laquelle le potentiel électrique est lu plusieurs fois sur plusieurs conducteurs colonne ;
- la figure 6 représente un exemple d'image test obtenue par le procédé de commande selon la deuxième forme particulière de réalisation de l'invention, ladite image étant découpée en blocs ;
- la figure 7 illustre le principe d'une détection pyramidale selon la deuxième forme particulière de réalisation de l'invention ;
- la figure 8 représente graphiquement un exemple de probabilité d'occurrence de moyennes d'un bloc correspondant à une zone non exposée du dispositif photosensible de la figure 1 ; - la figure 9 représente graphiquement un exemple de probabilité d'occurrence des moyennes d'un bloc correspondant à une zone exposée du dispositif photosensible ;
- la figure 10 représente graphiquement un exemple de taux de non-détection en fonction de la moyenne d'un bloc ;
- la figure 1 1 représente graphiquement la relation entre une dimension d'un bloc et une moyenne minimale de ce bloc pouvant être détectée avec un taux de non-détection donné ;
- la figure 12 représente graphiquement la relation entre la dimension d'un bloc et la moyenne de ce bloc pour une exposition sur une surface donnée du dispositif photosensible ;
- la figure 13 regroupe dans un même graphique les graphiques des figures 1 1 et 12 ;
- la figure 14 illustre l'effet d'une variation de la dimension des blocs sur la détection d'une exposition du dispositif photosensible.
La figure 1 représente un exemple de dispositif photosensible 10 auquel peut s'appliquer le procédé de commande selon l'invention. Le dispositif photosensible 10 comprend une matrice 1 1 de points photosensibles, un circuit de commande lignes 12 et un ensemble 13 de circuits de lecture de charges 131 , 132 et 133. Dans l'exemple de la figure 1 , la matrice 1 1 est formée de trois lignes L à L3 par trois colonnes Ci à C3 de points photosensibles, référencés Pi à P9 individuellement, et Pp génériquement. Une telle matrice peut bien entendu être formée d'un plus grand nombre de points photosensibles, pouvant aller jusqu'à plusieurs millions de points. Par ailleurs, les points photosensibles peuvent également être disposés selon une unique colonne de manière à former une barrette de détection. Chaque point photosensible Pp comprend une diode photosensible Dp et un transistor à effet de champ (FET) T. Les diodes photosensibles pourraient être remplacées par tout élément photosensible capable de convertir un rayonnement lumineux en charges électriques, par exemple un phototransistor. Par ailleurs, un scintillateur peut être placé entre une source de rayonnement X et la matrice 1 1 afin de réaliser une image à rayons X. Les transistors T sont par exemple des transistors à couches minces, mieux connus sous la dénomination anglo-saxonne de "Thin Film Transistors" (TFT). Le dispositif photosensible 10 comprend en outre des conducteurs ligne Xi à X3 reliant respectivement des sorties 121 à 123 du circuit de commande lignes 12 aux grilles des transistors T de la première ligne L de points photosensibles Pi à P3, aux grilles des transistors T de la deuxième ligne L2 de points photosensibles P4 à P6, et aux grilles des transistors T de la troisième ligne L3 de points photosensibles P7 à P9. Le dispositif photosensible 10 comprend également des conducteurs colonne Yi à Y3. Le conducteur colonne Yi relie les drains des transistors T de la première colonne Ci de points photosensibles P-i, P4 et P7 au circuit de lecture de charges 131 . Le conducteur colonne Y2 relie les drains des transistors T de la deuxième colonne C2 de points photosensibles P2, P5 et P8 au circuit de lecture de charges 132. Le conducteur colonne Y3 relie les drains des transistors T de la troisième colonne C3 de points photosensibles P3, P6 et P9 au circuit de lecture de charges 133. Dans chaque point photosensible Pp, la source du transistor T est connectée à la cathode de la diode photosensible Dp. Les anodes de toutes les photodiodes Dp sont reliées à une sortie 124 du circuit de commande lignes 12. La sortie 124 délivre une tension de polarisation VPoiar, négative par rapport au potentiel de référence du dispositif photosensible 10. La tension Vp0iar est par exemple de l'ordre de - 7 V.
Le dispositif photosensible 10 de la figure 1 fonctionne de la manière suivante. Dans une phase d'acquisition d'une image, la matrice 1 1 est exposée à un flux de photons. Les photons sont convertis en charges électriques au niveau de chaque point photosensible Pp par la photodiode Dp. La quantité de charges électriques est proportionnelle au nombre de photons reçus par la photodiode Dp. Les transistors T sont à l'état bloqué, de sorte que les charges électriques s'accumulent dans chaque point photosensible Pp au point de connexion entre la photodiode Dp et le transistor T. Il en résulte une baisse de potentiel de ce point de connexion, appelé "point flottant". Les charges électriques accumulées dans chaque point photosensible doivent ensuite être lues afin de pouvoir restituer une image en deux dimensions du flux de photon reçus par la matrice 1 1 . La lecture des charges électriques des points photosensibles Pp s'effectue ligne par ligne, simultanément pour tous les points photosensibles d'une même ligne. A cet effet, dans une phase de lecture, le circuit de commande lignes 12 applique à chaque conducteur ligne X1 -X3 adressé une impulsion de lecture faisant passer les transistors T de la ligne adressée à l'état passant. Les points flottants de la ligne adressée retrouvent alors leur potentiel de polarisation, ce qui fait circuler dans chaque conducteur colonne Yi à Y3 un courant proportionnel à la quantité de charges accumulées au point flottant correspondant. Les circuits de lecture de charges 131 à 133 exploitent ces courants afin de déterminer la quantité de photons reçue par chaque point photosensible Pp de la ligne adressée. L'invention repose sur une propriété intrinsèque des transistors, à savoir la présence d'une capacité de couplage parasite existant naturellement à l'état bloqué entre le drain et la source d'un transistor à effet de champ, de même qu'entre le collecteur et l'émetteur d'un transistor bipolaire. Cette capacité de couplage parasite est relativement faible, par exemple de l'ordre de 10 femtofarad (10"15 farad), mais néanmoins suffisante pour engendrer une variation du potentiel des conducteurs colonne. Par effet de couplage capacitif, une variation de potentiel du point flottant de chaque point photosensible Pp connecté à un conducteur colonne Yi-Y3 entraîne une variation proportionnelle du potentiel de ce conducteur colonne Y1 -Y3. Ainsi, la variation du potentiel d'un conducteur colonne Yi-Y3 est proportionnelle à la somme des variations de potentiel du point flottant de tous les points photosensibles Pp connectés à ce conducteur colonne Yi-Y3. Sur la figure 1 , la capacité de couplage parasite de chaque transistor T est représentée par un condensateur C dont une première électrode est connectée au point flottant (point de connexion entre une photodiode Dp et le transistor T associé) du point photosensible Pp considéré et dont une deuxième électrode est connectée au conducteur colonne Yi-Y3 auquel est relié le point photosensible Pp. Il est noté que cette capacité de couplage parasite pourrait être renforcée par la présence d'un condensateur connecté en parallèle, c'est-à-dire entre le drain et la source de chaque transistor T.
La figure 2 représente des étapes possibles du procédé de commande faisant l'objet de l'invention. Ce procédé s'applique par exemple au dispositif photosensible 10 de la figure 1 . Dans une première étape 21 , un premier test est effectué : le potentiel électrique Vn- de l'un des conducteurs colonne Yi à Υ3 est déterminé à un premier instant tn-i . Dans une deuxième étape 22, un deuxième test est effectué : le potentiel électrique Vn du même conducteur colonne Yi-Y3 est déterminé à un deuxième instant tn. Un test, c'est-à-dire la détermination du potentiel électrique d'un conducteur colonne Y1-Y3, est effectué au moyen du circuit de lecture de charges 131 -133 associé au conducteur colonne Y1-Y3 considéré. Les charges électriques présentes sur le conducteur colonne sont lues et converties en une valeur numérique représentative du potentiel électrique du conducteur colonne. Dans une troisième étape 23, la différence de potentiel électrique AV (Vn - Vn-i) du conducteur colonne Y1-Y3 entre les instants tn et tn-i est déterminée. Dans une quatrième étape 24, cette différence de potentiel AV est comparée à un seuil S prédéterminé. En fonction du résultat de cette comparaison, une étape de lecture 25 est déclenchée ou non. En particulier, si la différence de potentiel AV est supérieure au seuil S, une phase de lecture est exécutée, les lignes L-, à L3 de points photosensibles Pp étant lues successivement par application d'une impulsion de lecture sur chacun des conducteurs ligne X1 à X3. La détermination du seuil S résulte d'un compromis entre deux exigences antagonistes. Selon une première exigence, le seuil S ne doit pas être trop faible afin d'éviter l'exécution d'une phase de lecture alors que la matrice 1 1 n'a pas été exposée à un flux de photons. En effet, même en l'absence d'exposition, une différence de potentiel d'un conducteur colonne Y1-Y3 peut être observée en raison du bruit introduit par les différents composants électroniques, notamment par le circuit de lecture de charges 131 -133 lors de la détermination du potentiel. A l'inverse, le seuil S ne doit pas être trop élevé afin d'éviter de manquer une phase d'acquisition d'une image.
La figure 3 représente une forme particulière de réalisation de l'invention permettant de vérifier en permanence l'arrivée de photons sur la matrice 1 1 du dispositif photosensible 10. Le dispositif photosensible 10 est dans un mode veille, c'est-à-dire que des tests sont effectués à des intervalles de temps réguliers. La durée Tv de chaque intervalle de temps est par exemple de l'ordre de quelques millisecondes ou quelques dizaines de millisecondes. Cette durée Tv peut être fixée de manière à être inférieure à la durée minimale d'exposition, c'est-à-dire la durée minimale pendant laquelle le dispositif photosensible 10 est susceptible d'être exposé à un flux de photons. Une telle condition est par exemple nécessaire lorsque, pendant la phase d'acquisition, les circuits de lecture de charge font dériver lentement le potentiel électrique sur le conducteur colonne auquel ils sont connectés. Il est alors nécessaire de comparer le potentiel électrique sur un conducteur colonne entre un instant où le dispositif photosensible 10 n'est pas exposé à un flux de photons, et un instant où il est effectivement exposé à un flux de photons. La différence de potentiel AV déterminée lors de l'étape 23 est la différence entre le potentiel électrique Vn d'un conducteur colonne Yi-Y3 déterminé lors du dernier test à l'instant tn et le potentiel Vn- déterminé lors de l'avant-dernier test à l'instant tn-i . Sur la figure 3, la répétition des tests est réalisée par une boucle comprenant les étapes 22, 23 et 24, ainsi qu'une étape supplémentaire 31 fermant la boucle. L'étape 31 est effectuée à l'issue de l'étape 24 si la différence de potentiel AV n'est pas supérieure au seuil S. Dans cette étape 31 , le potentiel Vn devient le potentiel Vn- . A l'issue de l'étape 31 , une nouvelle étape 22 de test est effectuée dans laquelle un nouveau potentiel Vn est déterminé. Ainsi, ce potentiel Vn peut être comparé dans l'étape 23 au nouveau potentiel Vn- déterminé lors de la précédente étape 22. La figure 4 représente, par deux chronogrammes, l'enchaînement temporel des différentes étapes du procédé de commande. Un premier chronogramme 41 représente le fonctionnement du dispositif photosensible 10. Un deuxième chronogramme 42 représente le fonctionnement de la source de photons ou de rayons X. Le dispositif photosensible 10 est dans le mode veille 41 1 entre des instants tn-2 et tw. Pendant ce mode veille 41 1 , des tests 412 sont exécutés à différents instants tn-2, tn-i et tn. La durée Tv sépare les tests successifs. Après chaque test 412, la différence de potentiel AV entre les deux derniers tests est déterminée et comparée au seuil S. En l'occurrence, après l'instant tn-i , la différence de potentiel AV est insuffisante pour déclencher une phase de lecture. Un nouveau test est alors effectué à l'instant tn. A un instant tx, précédant l'instant tn, un flux de photons ou de rayons X commence à être émis par la source en direction du dispositif photosensible 10. La durée d'émission est notée dx. Ainsi, lors de l'étape 24 suivant le test 412 à l'instant tn, il est déterminé que la différence de potentiel AV est supérieure au seuil S. Une étape 25 de lecture doit donc être déclenchée. Au préalable, une étape d'attente 413 est effectuée à partir de l'instant tw. Cet instant tw se produit une durée dc après l'instant tn, la durée dc étant la durée de traitement des étapes 23 et 24. L'étape d'attente 413 est effectuée pendant une durée dw, jusqu'à un instant tr. Elle permet de s'assurer que l'émission de photons ou de rayons X est terminée au moment de la phase de lecture. En effet, la lecture des points photosensibles pendant leur exposition donnerait une image très dégradée. En outre, dans le cas d'une imagerie X, seulement une partie du rayonnement X reçu par le patient serait exploitée. La durée dw doit donc être supérieure à la durée maximale d'exposition, c'est-à-dire la durée maximale pendant laquelle le dispositif photosensible 10 est susceptible d'être exposé à un flux de photons. A l'issue de l'étape d'attente 413, l'étape de lecture 25 peut être exécutée.
Dans le but de réduire l'impact du bruit électronique introduit par les composants du dispositif photosensible 10, le procédé selon l'invention peut être optimisé de différentes manières. Dans une première variante, il est tenu compte de la différence de potentiel de plusieurs - voire de tous les - conducteurs colonne YrY3, et non uniquement l'un d'entre eux. A cet effet, les étapes 21 à 23 peuvent être réalisées pour chaque conducteur colonne Yi à Y3. L'étape 24 peut par exemple consister à comparer la somme des différences de potentiel sur l'ensemble des conducteurs colonne Yi à Y3 avec un seuil global. Elle peut aussi consister à comparer individuellement la différence de potentiel des conducteurs colonne à un seuil, une phase de lecture n'étant exécutée que si le nombre de comparaisons positives, c'est-à- dire le nombre de différences de potentiel supérieures au seuil, est supérieur à un nombre donné. Les conducteurs colonne considérés peuvent être adjacents ou non. Dans une deuxième variante de réduction de l'impact du bruit électronique, le potentiel du ou des conducteurs colonne Yi-Y3 est déterminé plusieurs fois successivement pour un même test. Une valeur moyenne du potentiel est ensuite déterminée pour chaque conducteur colonne Yi-Y3 considéré. La différence de potentiel AV déterminée lors de l'étape 23 est alors la différence entre la valeur moyenne du potentiel électrique Vn déterminé lors du dernier test à l'instant tn et la valeur moyenne du potentiel électrique Vn- déterminé lors de l'avant-dernier test à l'instant tn-i . Le procédé de commande selon l'invention permet à un dispositif photosensible comprenant une matrice de points photosensibles de se synchroniser de manière autonome, indépendamment de la source de photons ou de rayons X. Dans le domaine de l'imagerie médicale, où les dispositifs photosensibles peuvent être intégrés dans des cassettes mobiles, il devient possible de remplacer n'importe quel dispositif photosensible, notamment les cassettes à films radiologiques ou les cassettes comprenant des moyens de synchronisation avec la source de rayonnement X, sans modifier l'interface du système. En outre, le procédé de commande ne nécessite pas d'ajouter de composants matériels au dispositif photosensible ou à la source de photons ou de rayons X. Contrairement aux solutions ou un dispositif à chambre d'ionisation est placé dans le plan d'entrée du dispositif photosensible, le procédé de commande selon l'invention ne dégrade pas la qualité du signal qui arrive sur la matrice.
La figure 5 représente une forme particulière de réalisation du procédé de commande selon l'invention. Cette forme de réalisation s'applique à des dispositifs photosensibles comprenant plusieurs conducteurs colonnes. Elle s'appuie d'une part sur la prise en compte du potentiel électrique sur tous les conducteurs colonne et, d'autre part, sur une détermination répétée de ces potentiels électriques pour un même test. Pour la suite de la description, on considère un dispositif photosensible comprenant nc conducteurs colonnes, c'est-à-dire nc colonnes de points photosensibles Pp.
Dans une première étape 51 , le potentiel électrique est déterminé ni fois successivement sur chacun des nc conducteurs colonne. Ces ni x nc potentiels sont déterminés dans un premier intervalle de temps durant une phase d'acquisition, c'est-à-dire dans un intervalle de temps où les transistors T du dispositif photosensible sont commandés à l'état bloqué. Ces potentiels forment, pour chaque conducteur colonne, une première suite de potentiels. Ils sont notés V j où 1 désigne la première suite de potentiels, i est un entier compris entre 1 et ni et désigne l'occurrence dans la première suite, et j est un entier compris entre 1 et nc et désigne l'un des conducteurs colonne. Dans une deuxième étape 52, le potentiel électrique est à nouveau déterminé ni fois successivement sur chacun des nc conducteurs colonne. Ces ni x nc potentiels sont déterminés dans un deuxième intervalle de temps, toujours durant la phase d'acquisition. Ils forment, pour chaque conducteur colonne, une deuxième suite de potentiels. Les potentiels de la première et de la deuxième suite sont notés respectivement V-gj et V2JJ, où i est un entier compris entre 1 et ni et désigne l'occurrence dans la suite considérée, et j est un entier compris entre 1 et nc et désigne l'un des conducteurs colonne.
Dans une troisième étape 53, des différences de potentiels AVj entre les potentiels électriques V^j de la première suite et les potentiels électriques V2,ij correspondants de la deuxième suite sont déterminées. Une différence de potentiel est déterminée relativement à chaque conducteur colonne j et à chaque occurrence i dans les suites de potentiels. En particulier, pour chaque conducteur colonne, une différence AV-i est déterminée entre le premier potentiel V-I J de la première suite et le premier potentiel V2,ij de la deuxième suite, entre le deuxième potentiel V I2J de la première suite et le deuxième potentiel V2,2,j de la deuxième suite, et ainsi de suite pour toutes les occurrences i des deux suites de potentiels. Toutes ces différences de potentiels peuvent être représentées sous forme d'une image test de nc colonnes par ni lignes de pixels, chaque ligne de l'image test correspondant à une occurrence i dans les suites de potentiels, les colonnes correspondant aux conducteurs colonne j du dispositif photosensible. La valeur de chaque pixel de l'image test est égale à la différence de potentiel AVij pour l'occurrence i et le conducteur colonne j considérés.
Dans une quatrième étape 54, l'exposition des points photosensibles est testée. Cette étape 54 comprend les sous-étapes suivantes. Dans une première sous-étape 541 , une variable m est initialisée à une valeur entière prédéterminée. Les dispositifs photosensibles comprennent généralement un nombre de colonnes égal à une puissance de deux. La variable m est alors avantageusement fixée par la relation m = nc/2n, où n est un entier supérieur ou égal à 1 . La valeur de l'entier n est discutée ci-après. Dans une deuxième sous-étape 542, l'image test est découpée en blocs de ni lignes par m colonnes de pixels. La variable m définit ainsi une dimension des blocs. La figure 6 représente un exemple d'image test 61 découpée en 7 blocs notés 61 1 à 61 7. Dans une troisième sous-étape 543, une moyenne MAVj des différences de potentiels AVy est déterminée pour chaque bloc. Dans une quatrième sous-étape 544, chaque moyenne MAVj est comparée à un seuil prédéterminé Sm. Ce seuil Sm est déterminé en fonction de la dimension m. Si aucune des moyenne MAVj n'est supérieure au seuil Sm, l'étape 54 est répétée avec une dimension m supérieure à la dimension m considérée précédemment. L'augmentation de la dimension m est représentée par une sous-étape 545 effectuée à la place de la sous-étape 541 d'initialisation de la dimension m. Lorsque la dimension m est fixée par la relation m = nc/2n, la dimension m des blocs peut être augmentée en diminuant la valeur de l'entier n, par exemple d'une unité. On peut alors parler de détection pyramidale, la dimension m des blocs étant doublée à chaque sous-étape 545. La figure 7 illustre le principe de la détection pyramidale. L'avantage de cette détection est que la moyenne MAVj de chaque bloc d'un niveau donné peut être obtenue par la moyenne des deux blocs du niveau précédent. Si, lors de la sous-étape 544, au moins l'une des moyennes MAVj est supérieure au seuil Sm, une étape de lecture 55 est déclenchée. Cette étape 55 consiste, comme précédemment, à lire successivement les différentes lignes de points photosensibles Pp par application d'une impulsion de lecture sur chacun des conducteurs ligne.
La suite de la description illustre l'impact de la dimension m sur le taux de fausse alarme et sur le taux de non-détection. Par fausse alarme, on entend le fait qu'une étape de lecture 55 est déclenchée alors que le dispositif photosensible n'a pas été exposé. Par non-détection, on entend le fait qu'une étape de lecture 55 n'est pas déclenchée alors que le dispositif photosensible a été exposé. On considère que chaque pixel de l'image test, c'est-à-dire chaque colonne du dispositif photosensible, est soumis à un bruit électronique d'écart-type s, par exemple égal à 8,2 Isb, où Isb est le sigle de l'expression anglo-saxonne "least significant bit", 1 Isb étant la plus petite variation de tension pouvant être discrétisée sur un conducteur colonne. Statistiquement, le bruit d'un pixel dans une image test suit une loi normale de variance 2. s2. Pour un bloc correspondant à une zone non exposée du dispositif photosensible, la moyenne des pixels du bloc suit une loi normale de moyenne zéro et de variance 2.s2/(ni.m). La figure 8 illustre, par un graphique, un exemple de probabilité d'occurrence des moyennes MAVj d'un bloc correspondant à une zone non exposée. Dans cet exemple, on considère un bruit électronique d'écart-type s égal à 8,2 Isb, une dimension m égale à 50 et un nombre ni de lignes égal à 3. Ainsi, un bloc de dimensions 3 x 50 correspondant à une zone non exposée a une chance sur 10000 d'avoir une moyenne MAVj égale à 4. A partir de ce graphique, il est possible de déterminer un seuil de détection Sm en fonction du taux de fausse alarme souhaité. Les hypothèses suivantes sont considérées à titre d'exemple. Un test, c'est-à-dire la détermination d'une série de potentiels Vy, est effectué toutes les 1 00 millisecondes (ms). L'objectif est d'obtenir une seule fausse alarme en 1 0 ans de fonctionnement. Sur ces 1 0 ans, le nombre de tests est égal à (1 0 x 365 x 24 x 60 x 60 x 1 0 =) 3,2 x 1 09. Le taux de fausse alarme doit donc être égal à 3,2 x 1 0"10. Le graphique permet de déterminer un seuil de détection Sm égal à 6,4. Un bloc dont la moyenne MAVj est supérieure à 6,4 est donc considéré comme correspondant à une zone exposée avec un taux de fausse alarme égal à 3,2 x 1 0"10.
On considère à présent un bloc correspondant à une zone exposée du dispositif photosensible. Ce bloc subit la même loi statistique qu'un bloc correspondant à une zone non exposée, mais avec une moyenne statistique mb qui dépend du flux de photons reçu. La figure 9 illustre, par un graphique, un exemple de probabilité d'occurrence des moyennes MAVj d'un bloc correspondant à une zone exposée avec une moyenne statistique mb égale au seuil de détection Sm. Comme illustré par la figure 9, il y a autant de chances que la moyenne MAVj soit inférieure au seuil de détection Sm que supérieure à ce seuil.
La figure 1 0 représente, par un graphique, un exemple de taux de non-détection en fonction de la moyenne mb d'un bloc. Le graphique permet de déterminer que, pour une exposition donnant une moyenne mb égale à 8 Isb, la probabilité de détection est égale à 95%. Cela signifie que sur 1 00 blocs testés avec une moyenne de 8 Isb, 5 blocs ne seraient pas détectés. Un tel taux de non-détection n'est pas toujours acceptable, notamment lorsqu'un patient est soumis à un rayonnement X. Les hypothèses suivantes sont considérées à titre d'exemple. Une exposition a lieu toutes les 20 minutes. La dimension m des blocs est égale à 50 et le nombre nc de conducteurs colonne est égal à 2880. On considère toujours un bruit électronique d'écart-type s égal à 8,2 Isb. L'objectif est de ne manquer qu'une exposition tous les 10 ans. Le taux de non-détection voulu est donc de (1 /(10x365x24x60x(1 /20)x(2880/50) =) 6,6 x 10"8. La moyenne MAV, du bloc correspondant est par exemple égale à 1 1 ,5 Isb. En résumé, un bloc dont la moyenne MAVj est égale à 1 1 ,5 Isb est considéré comme correspondant à une zone exposée avec un taux de non-détection égal à 6,6 x 10"8. Ainsi, le dispositif photosensible doit être au minimum exposé à un flux tel que la moyenne MAVj d'un bloc soit égale à 1 1 ,5 Isb pour que le dispositif photosensible soit considéré comme ayant été exposé à un rayonnement avec un taux de non-détection égal à 6,6 x 10"8. Cette moyenne minimale détectable est notée Md. La moyenne minimale détectable Md est fonction de la dimension m des blocs.
La figure 1 1 illustre, par un graphique, la relation entre la dimension m d'un bloc et la moyenne minimale détectable Md. Ce graphique montre que plus les blocs sont larges, plus la moyenne minimale détectable Md est faible.
Par ailleurs, un dispositif photosensible n'est pas forcément exposé sur toute la surface de sa matrice. Ainsi, pour une exposition donnée, seuls certains des conducteurs colonne peuvent être reliés à des points photosensibles ayant reçu un rayonnement. La dimension m des blocs doit donc également tenir compte des zones exposées de la matrice. A titre d'exemple, on considère une exposition sur une surface de 100 x 100 points photosensibles. Dans un souci de simplification, les blocs sont toujours considérés comme étant centrés sur cette surface. La figure 12 illustre, par un graphique, la relation entre la dimension m d'un bloc, et la moyenne MAVj d'un bloc correspondant à une telle exposition. Si la dimension m du bloc centré sur la zone exposée est inférieure ou égale à la largeur de la surface exposée, la moyenne MAVj de ce bloc reste constante. En revanche, si la dimension m du bloc devient supérieure à la largeur de la surface exposée, la moyenne MAVj du bloc diminue.
La figure 13 regroupe les deux graphiques des figures 1 1 et 12 dans un seul graphique. Une première courbe 131 représente la moyenne minimale détectable Md Une deuxième courbe 132 représente la moyenne MAVj. Les courbes 131 et 132 font apparaître que, pour une exposition sur une largeur de 100 colonnes avec une moyenne mb environ égale à 17 Isb, un bloc centré sur la zone d'exposition est détecté comme correspondant à une zone d'exposition avec un taux de non-détection de 6,6 x 10"8 si et seulement si sa dimension m est comprise entre 25 et 450. Par ailleurs, il apparaît un optimum de détection pour une dimension m égale à la largeur de l'exposition. Cependant, cette largeur d'exposition n'est généralement pas connue. Or, dans certains domaines d'imagerie, la surface exposée peut énormément varier entre les différentes expositions. Par conséquent, une unique dimension m ne permet pas au dispositif photosensible de détecter des expositions de n'importe quelle largeur. L'étape de test 54 de l'exposition des points photosensibles permet donc au dispositif photosensible d'adapter la dimension m des blocs à la largeur effective de l'exposition.
La figure 14 illustre l'effet de la variation de la dimension m des blocs sur la détection d'une exposition. Elle représente, par un graphique, la moyenne minimale détectable Md en fonction de la largeur L de la zone exposée pour différentes dimensions m de blocs. Une première courbe 141 représente la moyenne minimale détectable Md pour une dimension m égale à 30. Une deuxième courbe 142 représente la moyenne minimale détectable Md pour une dimension m égale à 100. Une troisième courbe 143 représente la moyenne minimale détectable Md pour une dimension m égale à 500. Enfin, une quatrième courbe 144 représente la moyenne minimale détectable Md pour une dimension m prenant successivement les valeurs 32, 64, 128, 256, 512 et 1024. Les courbes 141 à 144 montrent que la variation de la dimension m des blocs permet une détection optimale quelle que soit la largeur de la zone exposée. La capacité de couplage parasite des transistors d'une matrice de points photosensibles peut être utilisée de manière analogue dans le but de mesurer la quantité de photons ou de rayons X reçue par le dispositif photosensible. En effet, la variation de potentiel des points flottants, et donc des conducteurs colonne, est proportionnelle à la quantité de photons ou de rayons X reçue. En réalisant plusieurs tests de détermination du potentiel sur les conducteurs colonne pendant la phase d'acquisition, il est possible d'en déduire la quantité de photons ou de rayons X reçue. Cette fonction de quantification du rayonnement peut notamment être utilisée pour asservir la puissance d'émission du flux de photons ou de rayons X, ou pour interrompre l'émission une fois que la quantité désirée de photons ou de rayons X a été reçue.

Claims

REVENDICATIONS
1 . Procédé de commande d'un dispositif photosensible (10) comprenant un conducteur colonne (Y1-Y3), des conducteurs ligne (X1-X3) et des points photosensibles (Pp), chaque point photosensible (Pp) étant relié entre le conducteur colonne (Y1-Y3) et l'un des conducteurs ligne (X1-X3), et comprenant un élément photosensible (Dp) apte à convertir un flux de photons en charges électriques, et un transistor (T) commandé par le conducteur ligne (X1-X3) correspondant, les transistors (T) étant commandés à l'état bloqué pendant une phase d'acquisition où le flux de photons est converti en charges électriques, et étant successivement commandés à l'état passant pendant une phase de lecture de manière à transférer ligne par ligne les charges électriques vers le conducteur colonne (Y1-Y3), chaque transistor (T) introduisant à l'état bloqué une capacité de couplage parasite (C) entre l'élément photosensible (Pp) et le conducteur colonne (Y1-Y3) correspondants, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comporte une étape (21 , 22) consistant à déterminer un potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y1-Y3) à un instant (tn-2, tn-i , tn) où les transistors (T) sont commandés à l'état bloqué.
2. Procédé selon la revendication 1 , comprenant les étapes supplémentaires suivantes :
■ déterminer (22) le potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y Y3) à un deuxième instant (tn) où les transistors (T) sont commandés à l'état bloqué,
■ déterminer (23) une différence du potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y1-Y3) entre les premier et deuxième instants,
■ comparer (24) la différence de potentiel électrique à un seuil prédéterminé,
■ si la différence de potentiel électrique est supérieure au seuil prédéterminé, commander (25) successivement les transistors (T) de manière à transférer individuellement les charges électriques de chaque point photosensible (Pp) vers le conducteur colonne (Y1-Y3).
3. Procédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape (21 , 22) consistant à déterminer le potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y Y3) est répétée périodiquement tant que la différence de potentiel entre les deux derniers instants de détermination n'est pas supérieure au seuil prédéterminé, l'étape (25) de commande des transistors (T) étant alors exécutée.
4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel la durée (Tv) de la période entre deux déterminations successives du potentiel sur un conducteur colonne est inférieure à une durée (dx) minimale pendant laquelle le dispositif photosensible (10) est susceptible d'être exposé à un flux de photons.
5. Procédé selon l'une des revendications 2 à 4, dans lequel le seuil est déterminé de manière à éviter l'exécution de l'étape (25) de commande des transistors (T) en l'absence d'exposition des éléments photosensibles (Pp) à un flux de photons, et de manière à éviter la non- exécution de l'étape (25) de commande des transistors (T) après une exposition effective des éléments photosensibles (Pp).
6. Procédé selon l'une des revendications 2 à 5, dans lequel le potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y1-Y3) est déterminé plusieurs fois successivement pour une même étape (21 , 22) de détermination du potentiel, les différents potentiels étant moyennés avant de déterminer leur différence avec un autre potentiel afin de réduire le bruit associé à la détermination du potentiel.
7. Procédé selon l'une des revendications 2 à 6, dans lequel le dispositif photosensible (10) comprend plusieurs conducteurs colonne (Y-r Y3), chaque point photosensible (Pp) étant relié entre l'un des conducteurs colonne (Y1-Y3) et l'un des conducteurs ligne (X1 -X3) de manière à former une matrice (1 1 ) de points photosensibles (Pp), le potentiel électrique étant déterminé dans chaque étape correspondante (21 , 22) sur plusieurs conducteurs colonne (Y1 -Y3), l'étape (23) de détermination de la différence de potentiel étant exécutée pour chacun desdits conducteurs colonne (Y-i - Y3), et l'étape (24) de comparaison de la différence de potentiel avec le seuil prédéterminé tenant compte de l'ensemble des différences de potentiel.
8. Procédé selon la revendication 7, dans lequel l'étape (24) de comparaison des différences de potentiel comprend la comparaison individuelle de chaque différence de potentiel avec le seuil prédéterminé, l'étape (25) de commande des transistors (T) n'étant exécutée que si le nombre de comparaisons positives est supérieur à un nombre prédéterminé.
9. Procédé selon l'une des revendications 2 à 8, dans lequel l'étape (25) de commande des transistors (T) est précédée d'une étape d'attente (413), une durée de l'étape d'attente (413) étant supérieure à une durée (dx) maximale pendant laquelle le dispositif photosensible (10) est susceptible d'être exposé à un flux de photons.
10. Procédé selon la revendication 1 , comprenant les étapes supplémentaires suivantes :
■ déterminer (22) le potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y Y3) à un deuxième instant (tn) où les transistors (T) sont commandés à l'état bloqué,
■ déterminer (23) une différence du potentiel électrique sur le conducteur colonne (Y1 -Y3) entre les premier et deuxième instants,
■ déterminer la quantité de photons reçue par le dispositif photosensible (10) en fonction de la différence de potentiel.
1 1 . Procédé selon la revendication 1 , dans lequel le dispositif photosensible (10) comprend nc conducteurs colonne (Y1-Y3), chaque point photosensible (Pp) étant relié entre l'un des conducteurs colonne (Y1-Y3) et l'un des conducteurs ligne (X1 -X3) de manière à former une matrice (1 1 ) de points photosensibles (Pp), le potentiel électrique étant déterminé (51 ) ni fois successivement sur chacun des conducteurs colonne (Y1-Y3) dans un premier intervalle de temps où les transistors (T) sont commandés à l'état bloqué, les potentiels formant une première suite de potentiels pour chaque conducteur colonne,
le procédé comportant les étapes supplémentaires suivantes :
■ déterminer (52) le potentiel électrique ni fois successivement sur chacun des conducteurs colonne (Y1-Y3) dans un deuxième intervalle de temps où les transistors (T) sont commandés à l'état bloqué, les potentiels formant une deuxième suite de potentiels pour chaque conducteur colonne,
■ déterminer (53), relativement à chaque conducteur colonne et à chaque occurrence dans les suites de potentiels, une différence de potentiel entre le potentiel électrique de la première suite et le potentiel électrique correspondant de la deuxième suite, les différences de potentiel formant une image test de nc colonnes par ni lignes de pixels,
■ tester (54) l'exposition des points photosensibles, ladite étape comprenant les sous-étapes successives suivantes :
- découper (542) l'image test en blocs (61 1 -617) de m colonnes par ni lignes de pixels,
- déterminer (543), pour chaque bloc (61 1 -617), une moyenne des différences de potentiel,
- comparer (544) chaque moyenne à un seuil prédéterminé fonction de la dimension m des blocs,
■ si aucune moyenne n'est supérieure au seuil prédéterminé, répéter l'étape de test (54) avec une dimension m de bloc supérieure à la dimension m précédente,
■ si au moins une moyenne est supérieure au seuil prédéterminé, commander (55) successivement les transistors (T) de manière à transférer individuellement les charges électriques de chaque point photosensible (Pp) vers le conducteur colonne (Y1 -Y3) correspondant.
12. Procédé selon la revendication 1 1 , dans lequel la dimension m des blocs (61 1 -617) est déterminée de manière à ce que l'image test soit découpée une première fois en 2n blocs, avec n un entier supérieur ou égal à 1 , la dimension m des blocs étant augmentée à chaque répétition de l'étape de test en diminuant la valeur de n d'une unité.
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