WO2012053451A1 - 有機ｅｌパネル、およびその製造方法 - Google Patents

有機ｅｌパネル、およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2012053451A1
WO2012053451A1 PCT/JP2011/073711 JP2011073711W WO2012053451A1 WO 2012053451 A1 WO2012053451 A1 WO 2012053451A1 JP 2011073711 W JP2011073711 W JP 2011073711W WO 2012053451 A1 WO2012053451 A1 WO 2012053451A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
organic
substrate
sealing
sealing film
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2011/073711
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
剛 平瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to US13/880,035 priority Critical patent/US8994012B2/en
Publication of WO2012053451A1 publication Critical patent/WO2012053451A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00—Electroluminescent light sources
    • H05B33/02—Details
    • H05B33/04—Sealing arrangements, e.g. against humidity
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00—Organic light-emitting devices
    • H10K50/80—Constructional details
    • H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844—Encapsulations
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80—Constructional details
    • H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K59/873—Encapsulations
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/17—Passive-matrix OLED displays

Definitions

  • the present invention relates to an organic EL panel and a manufacturing method thereof.
  • Organic EL (Electroluminescence) display devices are attracting attention because they have lower power consumption than a cathode ray tube (CRT), the same level as liquid crystal (LCD), high image quality, and wide viewing angle.
  • CTR cathode ray tube
  • LCD liquid crystal
  • Organic EL elements used in organic EL display devices are generally configured to sandwich an organic material from above and below with electrodes (anode and cathode). Then, holes are injected from the anode and electrons are injected from the cathode into the organic layer made of the organic material, and the holes and electrons are recombined in the organic layer to emit light.
  • an organic EL display device a display region on an element substrate made of a glass substrate or the like on which an organic EL element is provided is covered with a sealing resin, and the sealing resin is sandwiched between the element substrates.
  • an organic EL element is sealed by attaching a sealing substrate made of a glass substrate or the like so as to face each other.
  • an ultraviolet curable resin or a thermosetting resin is used as the sealing resin, and is generally cured after the sealing substrate is attached.
  • An external electrode and an external terminal are arranged around the display region, and the organic EL element is driven by applying a driving voltage through the external electrode and the external terminal.
  • Patent Document 1 discloses a configuration having the above configuration.
  • FIG. 6 is an explanatory diagram showing an outline of the organic EL display device disclosed in Patent Document 1 and a manufacturing method thereof.
  • an organic EL display device in which an element substrate 101 and a sealing substrate 103 face each other with a sealing resin 102 that seals a display area, the element substrate 101 and the sealing substrate are bonded to each other.
  • a protective wall (seal part) 107 is provided between the display area 103 and the display area and the electrode area.
  • Japanese Patent Publication Japanese Patent Laid-Open No. 2003-178866 (published on June 27, 2003)” Japanese Patent Publication “JP 2000-223264 A (published on August 11, 2000)”
  • Patent Document 1 has the following problems. (1) It is necessary to separately form a protective wall (seal part) 107 around the organic EL element, and a narrow frame cannot be realized. (2) When the sealing substrate 103 is formed as a thin film, there are pinholes on the thin film, moisture and oxygen can easily enter, and even if the sealing resin 102 is formed, the organic EL element can be adversely affected. There is sex. (3) It is difficult to ensure flatness, which may affect optical characteristics.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a high-quality organic EL panel that is excellent in reliability and can realize a narrow frame and a manufacturing method thereof.
  • the organic EL panel of the present invention is An element substrate; A sealing substrate; An organic EL panel comprising an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer and a cathode between the element substrate and the sealing substrate, A resin sealing film and an inorganic sealing film are laminated on a surface of the sealing substrate facing the element substrate.
  • the element substrate is formed of a thin film base material, moisture, oxygen, and the like that have entered from the sealing substrate are formed by the two-layer structure of the resin sealing film and the inorganic sealing film. It is possible to reliably prevent adverse effects.
  • the structure in which the resin sealing film and the inorganic sealing film are laminated on the surface of the sealing substrate facing the element substrate is easy to flatten and less adversely affect the optical characteristics.
  • the organic EL panel of the present invention is The resin sealing film, the inorganic sealing film, and the adhesive may be laminated in this order on the surface of the sealing substrate that faces the element substrate.
  • the unevenness and pinholes of the thin film substrate can be eliminated by the resin sealing film.
  • the organic EL panel of the present invention is The inorganic sealing film and the resin sealing film may be laminated in this order on the surface of the sealing substrate that faces the element substrate.
  • the manufacturing method of the organic electroluminescent panel of this invention is the following.
  • An organic EL panel manufacturing method comprising an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer and a cathode between the element substrate and the sealing substrate,
  • a resin sealing film made of polyvinyl alcohol and an inorganic sealing film made of silicon oxide are laminated on the surface of the sealing substrate facing the element substrate.
  • the sealing film made of polyvinyl alcohol has very strong hydrophilicity, and therefore, it is possible to prevent an adverse effect on the organic EL element by absorbing moisture that has entered from the sealing substrate side. it can.
  • a sealing film made of silicon oxide formed by a vapor phase growth method such as a plasma CVD method has a very strong hydrophilicity, and therefore absorbs moisture that has entered from the sealing substrate side, thereby forming an organic EL element. The adverse effects of can be prevented more reliably.
  • the element substrate is formed from a thin film substrate, moisture, oxygen, etc. that have entered from the sealing substrate are organic due to the two-layer structure of the sealing film made of polyvinyl alcohol and the sealing film made of silicon oxide. An adverse effect on the EL element can be reliably prevented.
  • a structure in which a polyvinyl alcohol resin sealing film and an inorganic sealing film made of silicon oxide are laminated on the surface of the sealing substrate that faces the element substrate is easy to flatten and adversely affects optical characteristics. Less.
  • An organic EL panel of the present invention includes an element substrate, a sealing substrate, and an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer, and a cathode between the element substrate and the sealing substrate. It is a panel, The resin sealing film and the inorganic sealing film are laminated
  • the organic EL panel manufacturing method of the present invention includes an element substrate, a sealing substrate, and an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer, and a cathode between the element substrate and the sealing substrate.
  • a method for producing an organic EL panel comprising: a resin sealing film made of polyvinyl alcohol and an inorganic sealing film made of silicon oxide are laminated on a surface of the sealing substrate facing the element substrate. It is characterized by that.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of an organic EL panel according to the present embodiment.
  • an organic EL element 15 is formed on an element substrate 10, and an adhesive 11 is formed so as to cover the organic EL element 15.
  • a SiO 2 sealing film 12 made of 5 to 50 ⁇ m of SiO 2 (silicon oxide) 12 and a PVA sealing film 13 made of 5 to 50 ⁇ m of PVA (Poly Vinyl Alcohol) are formed in this order on the adhesive 11. ing.
  • a sealing substrate 14 made of a thin film base material of 30 to 100 ⁇ m is formed on the PVA sealing film 13.
  • the element substrate 10 for example, an inorganic material substrate made of glass or quartz can be used.
  • a plastic substrate made of polyethylene terephthalate (PET), polycarbazole, polyimide, or the like can be used.
  • PET polyethylene terephthalate
  • polycarbazole polycarbazole
  • polyimide polyimide
  • the organic EL element 15 for example, when a bottom edge (BE) structure is used, a lower electrode (anode) formed on the element substrate 10, a light emitting layer formed on the lower electrode, and a light emitting layer What consists of the formed upper electrode (cathode) can be provided.
  • BE bottom edge
  • the light emitting layer can be composed of a hole transport layer, an organic light emitting layer formed on the hole transport layer, and an electron transport layer formed on the organic light emitting layer, but is not limited thereto. Any layer can be formed from a known material.
  • the hole transport layer can be formed from a tertiary amine derivative such as a triphenyldiamine derivative, hydrazone, or the like.
  • the organic light emitting layer can be formed from a trisquinolinoaluminium complex, a dopant containing material such as rubrene, and the like.
  • the electron transport layer can be formed from polysilane, an oxadiazole derivative, or the like.
  • the anode can be formed of a known electrode material.
  • a metal having a work function of 4.5 eV or more such as gold (Au), platinum (Pt), nickel (Ni), and an oxide (ITO) made of indium (In) and tin (Sn)
  • the transparent electrode material include tin (Sn) oxide (SnO 2), indium (In), and oxide (IZO) made of zinc (Zn).
  • the cathode can be formed of a known electrode material. Specifically, metals such as lithium (Li), calcium (Ca), cerium (Ce), barium (Ba), and aluminum (Al) having a work function of 4.5 eV or less, or Mg containing these metals. : Alloys such as Ag alloy and Li: Al alloy.
  • acrylic resin-based adhesives (Acrylic resin adhesives) mainly composed of acrylic acid and derivatives or epoxy resin-based adhesives (Epoxy resin adhesives) mainly composed of epoxy resins can be used. It is not limited to this.
  • a substrate made of a thin film substrate is used.
  • a substrate made of a thin film substrate film
  • PET polyethylene terephthalate
  • PES polyethersulfone
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PC polycarbonate
  • PEEK polyetheretherketone
  • PSF polysulfone
  • PEI polyetherimide
  • a thin film substrate made of an organic resin such as arylate (PAR), polybutylene terephthalate (PBT), polypropylene, polypropylene sulfide, polyphenylene sulfide, polyphenylene oxide, polyphthalamide, or polyimide can be used.
  • the organic EL panel 1 having excellent flexibility can be provided.
  • the thin film substrate, the PVA sealing film 13 and the SiO 2 sealing film 12 as the sealing substrate 14 can be integrated.
  • the PVA sealing film 13 and the SiO 2 sealing film 12 are formed in this order on the surface of the sealing substrate 14 facing the organic EL element 15.
  • the PVA sealing film 13 is formed on the sealing substrate 14, so that the unevenness and pinholes of the thin film substrate can be eliminated.
  • the PVA sealing film 13 is very hydrophilic and absorbs moisture that has entered from the sealing substrate 14, thereby preventing adverse effects on the organic EL element 15.
  • the SiO 2 sealing film 12 formed by the vapor phase growth method is also very hydrophilic and absorbs moisture that has penetrated from the PVA sealing film 13, thereby reliably adversely affecting the organic EL element 15. Can be prevented.
  • the SiO 2 sealing film 12 has very high mechanical strength and is excellent in heat resistance.
  • the barrier characteristics are improved and the reliability is improved. Can do. Moreover, it is not necessary to form a protective wall as in Patent Document 1, and a narrow frame can be realized. Further, flattening is easy and there is little adverse effect on the optical characteristics.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing the organic EL panel according to the present embodiment.
  • the organic EL element 15 is formed on the element substrate 10.
  • the organic EL element 15 is formed on the lower electrode (anode) formed on the element substrate 10, the light emitting layer formed on the lower electrode, and the light emitting layer. It consists of an upper electrode (cathode).
  • the organic EL element 15 was formed on the lower electrode (cathode) formed on the element substrate 10, the light emitting layer formed on the lower electrode, and the light emitting layer. It consists of an upper electrode (anode).
  • the anode and the cathode are known electrode materials, and can be appropriately selected and formed by, for example, a method such as EB vapor deposition, sputtering, ion plating, or resistance heating vapor deposition, but is not limited thereto. .
  • the light-emitting layer can be composed of a hole transport layer, an organic light-emitting layer formed on the hole transport layer, and an electron transport layer formed on the organic light-emitting layer. It can be formed using a film forming method such as a vapor deposition method, a Langmuir Blodget vapor deposition method, a dip coating method, a spin coating method, or an organic molecular beam epitaxy method.
  • a film forming method such as a vapor deposition method, a Langmuir Blodget vapor deposition method, a dip coating method, a spin coating method, or an organic molecular beam epitaxy method.
  • a PVA sealing film 13 is formed on the sealing substrate 14.
  • UV-ozone cleaning is performed on the 30 to 100 ⁇ m thin film base material used as the sealing substrate 14 to improve the paintability.
  • PVA is applied on the thin film substrate by, for example, a spinner method, a printing method, a slit method, or the like, and baked to form a PVA sealing film 13 of 5 to 50 ⁇ m.
  • the SiO 2 sealing film 12 is formed on the PVA sealing film 13.
  • SiO 2 is applied on the PVA sealing film 13 in the range of 80 ° C. to 140 ° C. by, for example, a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method, and baked and cured in the range of 80 ° C. to 140 ° C. As a result, a SiO 2 sealing film 12 of 5 to 50 ⁇ m is formed.
  • a plasma CVD Chemical Vapor Deposition
  • an adhesive 11 is formed on the SiO 2 sealing film 12.
  • an epoxy resin adhesive not containing acid is transferred and applied onto the SiO 2 sealing film 12.
  • the element substrate 10 and the sealing substrate 14 are bonded together.
  • Bonding is performed in a dry atmosphere (dew point temperature of ⁇ 30 ° C. or lower, desirably ⁇ 70 ° C. or lower) or in a vacuum atmosphere (100 Pa or lower). At that time, when a pressure is pressed against the sealing substrate 14, the filling resin as the adhesive 11 spreads uniformly.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing the configuration of the organic EL panel according to the present embodiment.
  • a protective film 16 as an inorganic sealing film is formed on an element substrate 10, and an organic EL element 15 is formed thereon.
  • a PVA sealing film 13 made of 5 to 50 ⁇ m PVA and a SiO 2 sealing film 12 made of 5 to 50 ⁇ m SiO 2 are formed in this order.
  • a sealing substrate 14 made of a thin film base material of 30 to 100 ⁇ m is formed on the SiO 2 sealing film 12.
  • the protective film 16 an inorganic film having strong hydrophilicity, for example, a film made of SiO 2 , Al 2 O 3 , or DLC (diamond-like carbon) formed by a vapor deposition method can be used. Thereby, for example, even when a plastic substrate is used as the element substrate 10, the protective film 16 absorbs moisture that has entered from the element substrate 10, thereby preventing adverse effects on the organic EL element 15.
  • the SiO 2 sealing film 12 and the PVA sealing film 13 are formed in this order on the surface of the sealing substrate 14 facing the organic EL element 15.
  • the PVA sealing film 13 is also used as an adhesive, and there is no need to separately form an adhesive.
  • the SiO 2 sealing film 12 formed by the vapor phase growth method has very strong hydrophilicity, and can prevent the adverse effect on the organic EL element 15 by absorbing moisture that has entered from the sealing substrate 14. it can.
  • the PVA sealing film 13 is also very hydrophilic and can reliably prevent adverse effects on the organic EL element 15 by absorbing moisture that has entered from the SiO 2 sealing film 12.
  • the SiO 2 sealing film 12 and the PVA sealing film 13 are formed on the sealing substrate 14, and the protective film 16 is formed on the element substrate 10. Barrier characteristics can be improved and reliability can be improved. Moreover, it is not necessary to form a protective wall as in Patent Document 1, and a narrow frame can be realized. Further, flattening is easy and there is little adverse effect on the optical characteristics.
  • a protective film 16 is formed on the element substrate 10.
  • an inorganic film having strong hydrophilicity is formed by a plasma CVD method, a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like.
  • an organic EL element 15 is formed on the protective film 16.
  • the organic EL element 15 includes a lower electrode formed on the protective film 16, a light emitting layer formed on the lower electrode, and an upper electrode formed on the light emitting layer.
  • the lower electrode and the upper electrode can be appropriately selected and formed by a known method such as EB vapor deposition, sputtering, ion plating, or resistance heating vapor deposition. However, it is not limited to these.
  • the light emitting layer can be composed of a hole transport layer, an organic light emitting layer formed on the hole transport layer, and an electron transport layer formed on the organic light emitting layer.
  • it can be formed using a film forming method such as a vacuum vapor deposition method, a Langmuir Blodget vapor deposition method, a dip coating method, a spin coating method, or an organic molecular beam epitaxy method.
  • the SiO 2 sealing film 12 is formed on the sealing substrate 14.
  • UV-ozone cleaning is performed on a 30 to 100 ⁇ m thin film base material used as the sealing substrate 14 to improve paintability.
  • SiO 2 is applied on the thin film substrate in the range of 80 ° C. to 140 ° C., for example, by a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method, and baked and cured in the range of 80 ° C. to 140 ° C.
  • a 50 ⁇ m SiO 2 sealing film 12 is formed.
  • a PVA sealing film 13 is formed on the SiO 2 sealing film 12.
  • a PVA sealing film 13 having a thickness of 5 to 50 ⁇ m is formed on the SiO 2 sealing film 12 by applying, for example, a spinner method, a printing method, a slit method or the like.
  • the element substrate 10 and the sealing substrate 14 are bonded together.
  • Bonding is performed in a dry atmosphere (dew point temperature of ⁇ 30 ° C. or lower, desirably ⁇ 70 ° C. or lower) or in a vacuum atmosphere (100 Pa or lower). At that time, when pressure is applied to the sealing substrate 14, the filling resin as the PVA sealing film 13 spreads uniformly.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing the configuration of the organic EL panel according to the present embodiment.
  • a protective film 16 is formed on an element substrate 10, and an organic EL element 15 is formed thereon.
  • a protective film 17 is formed so as to surround the organic EL element 15.
  • a PVA sealing film 13 made of 5 to 50 ⁇ m PVA and a SiO 2 sealing film 12 made of 5 to 50 ⁇ m SiO 2 are formed in this order.
  • a sealing substrate 14 made of a thin film base material of 30 to 100 ⁇ m is formed on the SiO 2 sealing film 12.
  • the protective films 16 and 17 an inorganic film having strong hydrophilicity, for example, a film made of SiO 2 , Al 2 O 3 , DLC (diamond-like carbon) formed by a vapor deposition method, or the like is used. It can. Thereby, for example, even when a plastic substrate is used as the element substrate 10, the protective film 16 absorbs moisture that has entered from the element substrate 10, and the protective film 17 absorbs moisture that has entered from the PVA sealing film 13. As a result, adverse effects on the organic EL element 15 can be prevented.
  • the SiO 2 sealing film 12 and the PVA sealing film 13 are formed on the sealing substrate 14, and the protective films 16 and 17 are provided so as to surround the organic EL element 15. Since it is formed, the barrier characteristics can be improved and the reliability can be improved. Moreover, it is not necessary to form a protective wall as in Patent Document 1, and a narrow frame can be realized. Further, flattening is easy and there is little adverse effect on the optical characteristics.
  • the protective film 16 is formed on the element substrate 10.
  • an inorganic film having strong hydrophilicity is formed by a plasma CVD method, a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like.
  • the organic EL element 15 is formed on the protective film 16.
  • the organic EL element 15 includes a lower electrode formed on the protective film 16, a light emitting layer formed on the lower electrode, and an upper electrode formed on the light emitting layer.
  • the lower electrode and the upper electrode can be appropriately selected and formed by a known method such as EB vapor deposition, sputtering, ion plating, or resistance heating vapor deposition. However, it is not limited to these.
  • the light emitting layer can be composed of a hole transport layer, an organic light emitting layer formed on the hole transport layer, and an electron transport layer formed on the organic light emitting layer.
  • it can be formed using a film forming method such as a vacuum vapor deposition method, a Langmuir Blodget vapor deposition method, a dip coating method, a spin coating method, or an organic molecular beam epitaxy method.
  • a protective film 17 is formed on the organic EL element 15 so as to surround the organic EL element 15.
  • an inorganic film having strong hydrophilicity is formed on the element substrate 10 as a protective film 17 by plasma CVD, sputtering, vacuum deposition, or the like.
  • the SiO 2 sealing film 12 is formed on the sealing substrate 14.
  • UV-ozone cleaning is performed on the thin film base material used as the sealing substrate 14 to improve the paintability.
  • SiO 2 is applied on the thin film substrate in the range of 80 ° C. to 140 ° C., for example, by a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method, and baked and cured in the range of 80 ° C. to 140 ° C.
  • a 50 ⁇ m SiO 2 sealing film 12 is formed.
  • a PVA sealing film 13 having a thickness of 5 to 50 ⁇ m is formed on the SiO 2 sealing film 12 by applying, for example, a spinner method, a printing method, a slit method or the like.
  • the element substrate 10 and the sealing substrate 14 are bonded together.
  • Bonding is performed in a dry atmosphere (dew point temperature of ⁇ 30 ° C. or lower, desirably ⁇ 70 ° C. or lower) or in a vacuum atmosphere (100 Pa or lower). At that time, when pressure is applied to the sealing substrate 14, the filling resin as the PVA sealing film 13 spreads uniformly.
  • the area where the PVA sealing film 13 is formed is irradiated with UV (0.5 to 10 J (preferably 1 to 6 J)) and heated in the atmosphere (70 to 120 ° C. for 10 minutes or more). 2 hours or less) is performed to cure the PVA sealing film 13.
  • UV 0.5 to 10 J (preferably 1 to 6 J)
  • heated in the atmosphere 70 to 120 ° C. for 10 minutes or more. 2 hours or less
  • the organic EL panel of the present invention is An element substrate; A sealing substrate; An organic EL panel comprising an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer and a cathode between the element substrate and the sealing substrate, A resin sealing film and an inorganic sealing film are laminated on a surface of the sealing substrate facing the element substrate.
  • the element substrate is formed of a thin film base material, moisture, oxygen, and the like that have entered from the sealing substrate are formed by the two-layer structure of the resin sealing film and the inorganic sealing film. It is possible to reliably prevent adverse effects.
  • the structure in which the resin sealing film and the inorganic sealing film are laminated on the surface of the sealing substrate facing the element substrate is easy to flatten and less adversely affect the optical characteristics.
  • the organic EL panel of the present invention is The resin sealing film, the inorganic sealing film, and the adhesive may be laminated in this order on the surface of the sealing substrate that faces the element substrate.
  • the unevenness and pinholes of the thin film substrate can be eliminated by the resin sealing film.
  • the organic EL panel of the present invention is The inorganic sealing film and the resin sealing film may be laminated in this order on the surface of the sealing substrate that faces the element substrate.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is
  • the resin sealing film is preferably made of polyvinyl alcohol.
  • the sealing film made of polyvinyl alcohol has very strong hydrophilicity, it is possible to prevent adverse effects on the organic EL element by absorbing moisture that has entered from the sealing substrate side. .
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is
  • the inorganic sealing film is preferably made of silicon oxide.
  • the sealing film made of silicon oxide formed by a vapor phase growth method such as a plasma CVD method has very strong hydrophilicity, by absorbing moisture that has entered from the sealing substrate side, An adverse effect on the organic EL element can be prevented.
  • the sealing film made of silicon oxide has very high mechanical strength and excellent heat resistance.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is
  • the resin sealing film preferably has a thickness of 5 ⁇ m to 50 ⁇ m.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is
  • the inorganic sealing film preferably has a thickness of 5 ⁇ m to 50 ⁇ m.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is It is preferable that an inorganic sealing film is formed on a surface of the element substrate facing the sealing substrate.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is The organic EL element is formed on the element substrate,
  • the inorganic sealing film is preferably formed so as to surround the organic EL element.
  • the organic EL panel according to an embodiment of the present invention is
  • the sealing substrate and the element substrate are preferably made of a flexible base material.
  • an organic EL panel having excellent flexibility can be provided.
  • the method for producing an organic EL panel of the present invention comprises: An element substrate; A sealing substrate; An organic EL panel manufacturing method comprising an organic EL element formed by laminating at least an anode, an organic light emitting layer and a cathode between the element substrate and the sealing substrate, A resin sealing film made of polyvinyl alcohol and an inorganic sealing film made of silicon oxide are laminated on the surface of the sealing substrate facing the element substrate.
  • the sealing film made of polyvinyl alcohol has very strong hydrophilicity, and therefore, it is possible to prevent an adverse effect on the organic EL element by absorbing moisture that has entered from the sealing substrate side. it can.
  • a sealing film made of silicon oxide formed by a vapor phase growth method such as a plasma CVD method has a very strong hydrophilicity, and therefore absorbs moisture that has entered from the sealing substrate side, thereby forming an organic EL element. The adverse effects of can be prevented more reliably.
  • the element substrate is formed of a thin film base material, moisture, oxygen, and the like entering the sealing substrate are organic due to the two-layer structure of the sealing film made of polyvinyl alcohol and the sealing film made of silicon oxide. An adverse effect on the EL element can be reliably prevented.
  • a structure in which a polyvinyl alcohol resin sealing film and an inorganic sealing film made of silicon oxide are laminated on the surface of the sealing substrate facing the element substrate is easy to flatten and adversely affect optical characteristics. Less.
  • the organic EL panel of the present invention is excellent in reliability, it can be suitably used for a display device.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

　素子基板（１０）と、封止基板（１４）と、素子基板（１０）と、封止基板（１４）との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子（１５）とを備える本発明の一形態の有機ＥＬパネル（１）において、封止基板（１４）の素子基板（１０）に対向する表面上に、ＰＶＡ封止膜（１３）とＳｉＯ２封止膜（１２）が形成されている。

Description

有機ＥＬパネル、およびその製造方法
　本発明は、有機ＥＬパネル、およびその製造方法に関するものである。
　有機ＥＬ(Electroluminescence)表示装置は、消費電力がブラウン管(CRT)より低く、液晶(LCD)と同程度で、高画質、広視野角と言った特徴があり、注目されている。
　有機ＥＬ表示装置に使われている有機ＥＬ素子は、一般的に、有機材料を上下から電極（陽極および陰極）で挟み込むように構成されている。そして、有機材料からなる有機層に対して、陽極から正孔が、陰極から電子がそれぞれ注入され、その有機層にて正孔と電子が再結合して発光が生じるようになっている。
　このような有機ＥＬ素子では、水分や酸素の侵入等によって有機層が結晶化すると、ダークスポットと呼ばれる非発光点が発生する要因になってしまう。ダークスポットは、経時的に成長し、またその成長によって有機ＥＬ素子を短寿命化することが知られている。したがって、有機ＥＬ表示装置を構成する上で、有機ＥＬ素子への水分や酸素の侵入等については、これを極力抑制する必要がある。
　このことから、有機ＥＬ表示装置の中には、有機ＥＬ素子が設けられているガラス基板などからなる素子基板上の表示領域を封止樹脂で覆い、その封止樹脂を挟み込む状態で素子基板に対向させてガラス基板などからなる封止基板を貼り付け、これによって有機ＥＬ素子を封止するようにしたものがある。このような構成の有機ＥＬ表示装置において、封止樹脂としては、例えば紫外線硬化型または熱硬化型の樹脂が用いられ、封止基板の貼り付け後に硬化されるのが一般的である。そして、表示領域の周囲に外部電極および外部端子が配されており、これら外部電極および外部端子を通じて駆動電圧を印加することによって、有機ＥＬ素子を駆動することとなる。
　例えば、特許文献１において、上記のような構成を有する構成が開示されている。
　図６は、特許文献１に開示された有機ＥＬ表示装置およびその製造方法の概要を示す説明図である。
　図６に示すように、表示領域を封止する封止樹脂１０２を介して素子基板１０１と封止基板１０３とが対向して、貼り合わされる有機ＥＬ表示装置において、素子基板１０１と封止基板１０３との間に、表示領域と電極領域とを遮るための防護壁（シール部）１０７が設けられている。
日本国公開特許公報「特開２００３－１７８８６６号公報（２００３年６月２７日公開）」 日本国公開特許公報「特開２０００－２２３２６４号公報（２０００年８月１１日公開）」
　しかしながら、上記特許文献１に記載された構成では、以下の問題が生じる。
（１）有機ＥＬ素子の周辺に防護壁（シール部）１０７を別途に形成する必要があり、狭額縁化を実現できない。
（２）封止基板１０３を薄膜で形成した場合、薄膜上にピンホールがあり、水分や酸素が侵入しやすく、封止樹脂１０２を形成しても不充分で有機ＥＬ素子に悪影響を与える可能性がある。
（３）平坦性確保が困難であり、光学特性に影響を与える可能性がある。
　本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、信頼性に優れ、且つ狭額縁化を実現できる高品質の有機ＥＬパネル、およびその製造方法を提供することを目的とする。
　さらには、柔軟性に優れた有機ＥＬパネル、およびその製造方法を提供することを目的とする。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルは、
　素子基板と、
　封止基板と、
　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルであって、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とが積層されていることを特徴とする。
　上記構成によれば、素子基板が薄膜基材から形成されていても、樹脂封止膜と無機封止膜との２層構造により、封止基板から侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことを確実に防止することができる。
　よって、柔軟性に優れた有機ＥＬパネルを提供することが可能である。
　また、封止基板の素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とを積層する構造で、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を及ぼすことが少なくなる。
　さらに、狭額縁化を実現することも可能である。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルは、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記樹脂封止膜、前記無機封止膜、接着剤がこの順に積層されていてもよい。
　上記構成によれば、素子基板を薄膜基材から形成しても、樹脂封止膜により薄膜基材が有する凸凹やピンホールを無くすことができる。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルは、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記無機封止膜、前記樹脂封止膜がこの順に積層されていてもよい。
　上記構成によれば、樹脂封止膜を接着剤として兼用することにより、別途に接着剤を形成する必要がなくなる。
　また、上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルの製造方法は、
　素子基板と、
　封止基板と、
　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルの製造方法であって、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する表面上に、ポリビニルアルコールからなる樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜とを積層して形成したことを特徴とする。
　上記製造方法によれば、ポリビニルアルコールからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響を防止することができる。
　また、プラズマＣＶＤ法など気相成長法により形成される酸化シリコンからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響をさらに確実に防止することができる。
　よって、素子基板が薄膜基材から形成されていても、ポリビニルアルコールからなる封止膜と酸化シリコンからなる封止膜との２層構造により、封止基板から侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことを確実に防止することができる。
　また、封止基板の素子基板に対向する面上に、ポリビニルアルコール樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜とを積層する構造で、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を及ぼすことが少なくなる。
　さらに、狭額縁化を実現することも可能である。
　本発明の他の目的、特徴、および優れた点は、以下に示す記載によって十分分かるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明で明白になるであろう。
　本発明の有機ＥＬパネルは、素子基板と、封止基板と、前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルであって、前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とが積層されていることを特徴とする。
　本発明の有機ＥＬパネルの製造方法は、素子基板と、封止基板と、前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルの製造方法であって、前記封止基板の前記素子基板に対向する表面上に、ポリビニルアルコールからなる樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜とを積層して形成したことを特徴とする。
　それゆえ、信頼性に優れ、且つ狭額縁化を実現できる高品質の有機ＥＬパネル、およびその製造方法を提供することができる。
本発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。 本発明の実施の形態１に係る有機ＥＬパネルの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態２に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。 本発明の実施の形態２に係る有機ＥＬパネルの製造方法を示す断面図である。 本発明の実施の形態３に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。 従来の有機ＥＬ表示装置の構成を示す断面図である。
　以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
〔実施の形態１〕
　以下、図１～図２に基づいて本実施の形態について説明する。
　（全体構成）
　先ず、図１に基づいて有機ＥＬパネルの全体構成について説明する。
　図１は、本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。
　図１に示すように、有機ＥＬパネル１は、素子基板１０上に、有機ＥＬ素子１５が形成され、この有機ＥＬ素子１５を覆うように、接着剤１１が形成されている。
　接着剤１１上に、５～５０μｍのＳｉＯ２(酸化シリコン)からなるＳｉＯ２封止膜１２、５～５０μｍのＰＶＡ（Poly Vinyl Alcohol；ポリビニルアルコール）からなるＰＶＡ封止膜１３がこの順に形成されている。
　ＰＶＡ封止膜１３上には、３０～１００μｍの薄膜基材からなる封止基板１４が形成されている。
　ここで、素子基板１０としては、例えば、ガラスまたは石英等からなる無機材料基板を用いることができる。または、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリカルバゾール、またはポリイミド等からなるプラスティック基板を用いることもできる。但し、柔軟性を考慮した場合、可撓性プラスティック基板を用いることが好ましい。
　有機ＥＬ素子１５としては、例えば、ボトムエッジ（ＢＥ）構造を用いた場合、素子基板１０上に形成された下部電極（陽極）と、下部電極上に形成された発光層と、発光層上に形成された上部電極（陰極）とからなるものを設けることができる。
　発光層は、正孔輸送層と、正孔輸送層上に形成された有機発光層と、有機発光層上に形成された電子輸送層とから構成することができるが、これに限定されない。何れの層も公知の材料から形成することができる。
　例えば、正孔輸送層は、トリフェニルジアミン誘導体などの第３級アミン誘導体や、ヒドラゾンなどより形成することができる。有機発光層は、トリスキノリノアルミニム錯体や、ルブレン等のドーパント含有物などより形成することができる。電子輸送層は、ポリシランや、オキサジアゾール誘導体などより形成することができる。
　陽極は、公知の電極材料によって形成することができる。具体的には、仕事関数が４．５ｅＶ以上の金（Ａｕ）、白金（Ｐｔ）、ニッケル（Ｎｉ）等の金属、および、インジウム（Ｉｎ）と錫（Ｓｎ）からなる酸化物（ＩＴＯ）、錫（Ｓｎ）の酸化物（ＳｎＯ２）インジウム（Ｉｎ）と亜鉛（Ｚｎ）からなる酸化物（ＩＺＯ）等が透明電極材料として挙げられる。
　陰極は、公知の電極材料によって形成することができる。具体的には、仕事関数が４．５ｅＶ以下のリチウム（Ｌｉ）、カルシウム（Ｃａ）、セリウム（Ｃｅ）、バリウム（Ｂａ）、アルミニウム（Ａｌ）等の金属、または、これらの金属を含有するＭｇ：Ａｇ合金、Ｌｉ：Ａｌ合金等の合金が挙げられる。
　接着剤１１としては、アクリル酸および誘導体を主成分とするアクリル樹脂系接着剤(Acrylic resin adhesives)もしくはエポキシ樹脂を主成分とするエポキシ樹脂系接着剤(Epoxy resin adhesives)を用いることができるが、これに限定されない。
　封止基板１４としては、薄膜基材（フィルム）からなる基板が用いられる。例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエーテルスルホン（ＰＥＳ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、ナイロン、ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）、ポリスルホン（ＰＳＦ）、ポリエーテルイミド（ＰＥＩ）、ポリアリレート（ＰＡＲ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリプロピレン、ポリプロピレンサルファイド、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニレンオキサイド、ポリフタールアミド、ポリイミドなどの有機樹脂からなる薄膜基材を用いることができる。
　封止基板１４として、薄膜基材が用いられるため、柔軟性に優れた有機ＥＬパネル１を提供することができる。
　ここで、封止基板１４としての薄膜基材、ＰＶＡ封止膜１３、ＳｉＯ２封止膜１２を一体化することもできる。
　上述したように、有機ＥＬパネル１において、封止基板１４の有機ＥＬ素子１５と対向する表面に、ＰＶＡ封止膜１３、ＳｉＯ２封止膜１２がこの順に形成されている。
　上記封止基板１４として、薄膜基材が用いられても、ＰＶＡ封止膜１３が封止基板１４上に形成されているため、薄膜基材が有する凸凹やピンホールを無くすことができる。
　また、ＰＶＡ封止膜１３が、親水性が非常に強く、封止基板１４から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響を防止することができる。
　さらに、気相成長法により形成されるＳｉＯ２封止膜１２も、親水性が非常に強く、ＰＶＡ封止膜１３から侵入しきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響を確実に防止することができる。
　その他に、ＳｉＯ２封止膜１２は、機械的強度が非常に高く、さらに耐熱性に優れている。
　本実施の形態に係る有機ＥＬパネル１において、封止基板１４上に、ＰＶＡ封止膜１３、ＳｉＯ２封止膜１２が形成されているため、バリア特性を向上させ、信頼性を向上させることができる。また、特許文献１のように防護壁を形成する必要がなくなり、狭額縁化を実現することができる。さらに、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を与えることが少ない。
　（製造方法）
　次に、図２に基づいて本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの製造方法について説明する。
　図２は、本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの製造方法を示す断面図である。
　先ず、図２の（ａ）に示すように、素子基板１０上に、有機ＥＬ素子１５を形成する。
　ボトムエッジ（ＢＥ）構造を用いた場合、有機ＥＬ素子１５は、素子基板１０上に形成された下部電極（陽極）と、下部電極上に形成された発光層と、発光層上に形成された上部電極（陰極）とからなる。
　トップエッジ（ＴＥ）構造を用いた場合、有機ＥＬ素子１５は、素子基板１０上に形成された下部電極（陰極）と、下部電極上に形成された発光層と、発光層上に形成された上部電極（陽極）とからなる。
　陽極と陰極は、公知の電極材料で、例えば、ＥＢ蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の方法で適宜選択して形成することができるが、これらには限定されない。
　発光層は、正孔輸送層と、正孔輸送層上に形成された有機発光層と、有機発光層上に形成された電子輸送層とから構成することができるが、各層は、例えば、真空蒸着法、ラングミュアブロジェット蒸着法、ディップコーティング法、スピンコーティング法、有機分子線エピタキシ法などの成膜方法を用いて形成することができる。
　次に、図２の（ｂ）に示すように、封止基板１４上に、ＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　具体的には、封止基板１４として用いられる３０～１００μｍ薄膜基材に対して、例えばＵＶ‐オゾン洗浄を行い、塗れ性を向上させる。その後、薄膜基材上に、例えばスピナー法、印刷法、スリット法などでＰＶＡを塗布し、焼成することにより５～５０μｍのＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　次に、図２の（ｃ）に示すように、ＰＶＡ封止膜１３上に、ＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　具体的には、ＰＶＡ封止膜１３上に、８０℃～１４０℃の範囲で例えばプラズマＣＶＤ（Chemical Vapour Deposition）法などでＳｉＯ２を塗布し、８０℃～１４０℃の範囲で焼成し硬化させることにより、５～５０μｍのＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　次に、図２の（ｄ）に示すように、ＳｉＯ２封止膜１２上に、接着剤１１を形成する。
　具体的には、ＳｉＯ２封止膜１２上に、例えば、酸を含まないエポキシ樹脂系接着剤を転写して、塗布する。
　次に、図２の（ｅ）に示すように、素子基板１０と封止基板１４とを貼り合わせる。
　貼り合わせは、乾燥雰囲気（露点温度－３０℃以下、望ましくは－７０℃以下）もしくは真空雰囲気中（１００Ｐａ以下）で行なう。その際に、封止基板１４に圧力を押圧すると、接着剤１１としての充填樹脂は均一に広がる。
　次に、接着剤１１が形成されたエリアに、ＵＶ照射（０.５～１０J（望ましくは１～６J））を行い、大気中にて加熱（７０℃以上１２０℃以下、１０分以上２時間以下）処理を行って、接着剤１１を硬化させる。
〔実施の形態２〕
　本発明の有機ＥＬパネルに関する実施の一形態について図３に基づいて説明すれば以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施の形態１にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
　（全体構成）
　図３は、本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。
　図３に示すように、有機ＥＬパネル１は、素子基板１０上に、無機封止膜としての保護膜１６が形成され、その上に有機ＥＬ素子１５が形成されている。
　有機ＥＬ素子１５上には、５～５０μｍのＰＶＡからなるＰＶＡ封止膜１３、５～５０μｍのＳｉＯ２からなるＳｉＯ２封止膜１２がこの順に形成されている。
　ＳｉＯ２封止膜１２上には、３０～１００μｍの薄膜基材からなる封止基板１４が形成されている。
　ここで、保護膜１６としては、親水性が強い無機膜、例えば、気相成長法により形成されるＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、ＤＬＣ（ダイヤモンドライクカーボン）からなる膜等を用いることができる。これにより、例えば、素子基板１０としてプラスティック基板を用いても、素子基板１０から侵入してきた水分を保護膜１６が吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響を防止することができる。
　上述したように、封止基板１４の有機ＥＬ素子１５と対向する面に、ＳｉＯ２封止膜１２、ＰＶＡ封止膜１３がこの順に形成されている。
　ＰＶＡ封止膜１３は、接着剤として兼用され、別途に接着剤を形成する必要がなくなる。
　気相成長法により形成されるＳｉＯ２封止膜１２は、親水性が非常に強く、封止基板１４から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響を防止することができる。
　また、ＰＶＡ封止膜１３も、親水性が非常に強く、ＳｉＯ２封止膜１２から侵入てきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響をさらに確実に防止することができる。
　本実施の形態に係る有機ＥＬパネル１において、封止基板１４上に、ＳｉＯ２封止膜１２、ＰＶＡ封止膜１３が形成され、素子基板１０上に保護膜１６が形成されているため、バリア特性を向上させ、信頼性を向上させることができる。また、特許文献１のように防護壁を形成する必要がなくなり、狭額縁化を実現することができる。さらに、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を与えることが少ない。
　（製造方法）
　次に、図４に基づいて本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの製造方法について説明する。
　先ず、図４の（ａ）に示すように、素子基板１０上に、保護膜１６を形成する。
　具体的には、素子基板１０上に、保護膜１６として、例えば親水性が強い無機膜をプラズマＣＶＤ法、スパッタ法、真空蒸着法などで形成する。
　次に、図４の（ｂ）に示すように保護膜１６上に、有機ＥＬ素子１５を形成する。
　有機ＥＬ素子１５は、保護膜１６上に形成された下部電極と、下部電極上に形成された発光層と、発光層上に形成された上部電極とからなる。
　下部電極と上部電極は、例えば、ＥＢ蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の公知の方法で適宜選択して形成することができる。しかしこれらには限定されない。
　発光層は、正孔輸送層と、正孔輸送層上に形成された有機発光層と、有機発光層上に形成された電子輸送層とから構成することができるが、各層は、公知の方法で形成することができる。例えば、真空蒸着法、ラングミュアブロジェット蒸着法、ディップコーティング法、スピンコーティング法、有機分子線エピタキシ法などの成膜方法を用いて形成することができる。
　次に、図４の（ｃ）に示すように封止基板１４上に、ＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　具体的には、封止基板１４として用いられる３０～１００μｍの薄膜基材に対して、例えばＵＶ‐オゾン洗浄を行い、塗れ性を向上させる。その後、薄膜基材上に、８０℃～１４０℃の範囲で例えばプラズマＣＶＤ（Chemical Vapour Deposition）法などでＳｉＯ２を塗布し、８０℃～１４０℃の範囲で焼成し硬化させることにより、５～５０μｍのＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　次に、図４の（ｄ）に示すようにＳｉＯ２封止膜１２上に、ＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　具体的には、ＳｉＯ２封止膜１２上に、例えばスピナー法、印刷法、スリット法などでＰＶＡを塗布し、５～５０μｍのＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　次に、図４の（ｅ）に示すように、素子基板１０と封止基板１４とを貼り合わせる。
　貼り合わせは、乾燥雰囲気（露点温度－３０℃以下、望ましくは－７０℃以下）もしくは真空雰囲気中（１００Ｐａ以下）で行なう。その際に、封止基板１４に圧力を押圧すると、ＰＶＡ封止膜１３としての充填樹脂は均一に広がる。
　次に、ＰＶＡ封止膜１３が形成されたエリアに、ＵＶ照射（０.５～１０J（望ましくは１～６J））を行い、大気中にて加熱（７０℃以上１２０℃以下、１０分以上２時間以下）処理を行って、ＰＶＡ封止膜１３を硬化させる。
〔実施の形態３〕
　本発明の有機ＥＬパネルに関する実施の一形態について図５に基づいて説明すれば以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施の形態１，２にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
　（全体構成）
　図５は、本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの構成を示す断面図である。
　図５に示すように、有機ＥＬパネル１は、素子基板１０上に、保護膜１６が形成され、その上に有機ＥＬ素子１５が形成されている。
　有機ＥＬ素子１５を囲むように、保護膜１７が形成されている。
　保護膜１７上には、５～５０μｍのＰＶＡからなるＰＶＡ封止膜１３、５～５０μｍのＳｉＯ２からなるＳｉＯ２封止膜１２がこの順に形成されている。
　ＳｉＯ２封止膜１２上には、３０～１００μｍの薄膜基材からなる封止基板１４が形成されている。
　ここで、保護膜１６・１７としては、親水性が強い無機膜、例えば、気相成長法により形成されるＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、ＤＬＣ（ダイヤモンドライクカーボン）からなる膜等を用いることができる。これにより、例えば、素子基板１０としてプラスティック基板を用いても、素子基板１０から侵入してきた水分を保護膜１６が吸収し、ＰＶＡ封止膜１３から侵入してきた水分を保護膜１７が吸収することにより、有機ＥＬ素子１５への悪影響を防止することができる。
　本実施の形態に係る有機ＥＬパネル１において、封止基板１４上に、ＳｉＯ２封止膜１２、ＰＶＡ封止膜１３が形成され、有機ＥＬ素子１５を囲むようにに保護膜１６・１７が形成されているため、バリア特性を向上させ、信頼性を向上させることができる。また、特許文献１のように防護壁を形成する必要がなくなり、狭額縁化を実現することができる。さらに、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を与えることが少ない。
　（製造方法）
　次に、本実施の形態に係る有機ＥＬパネルの製造方法について説明する。
　先ず、素子基板１０上に、保護膜１６を形成する。
　具体的には、素子基板１０上に、保護膜１６として、例えば親水性が強い無機膜をプラズマＣＶＤ法、スパッタ法、真空蒸着法などで形成する。
　次に、保護膜１６上に、有機ＥＬ素子１５を形成する。
　有機ＥＬ素子１５は、保護膜１６上に形成された下部電極と、下部電極上に形成された発光層と、発光層上に形成された上部電極とからなる。
　下部電極と上部電極は、例えば、ＥＢ蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、または抵抗加熱蒸着法等の公知の方法で適宜選択して形成することができる。しかしこれらには限定されない。
　発光層は、正孔輸送層と、正孔輸送層上に形成された有機発光層と、有機発光層上に形成された電子輸送層とから構成することができるが、各層は、公知の方法で形成することができる。例えば、真空蒸着法、ラングミュアブロジェット蒸着法、ディップコーティング法、スピンコーティング法、有機分子線エピタキシ法などの成膜方法を用いて形成することができる。
　次に、有機ＥＬ素子１５上に、この有機ＥＬ素子１５を囲むように保護膜１７を形成する。
　具体的には、素子基板１０上に、保護膜１７として、例えば親水性が強い無機膜をプラズマＣＶＤ法、スパッタ法、真空蒸着法などで形成する。
　次に、封止基板１４上に、ＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　具体的には、封止基板１４として用いられる薄膜基材に対して、例えばＵＶ‐オゾン洗浄を行い、塗れ性を向上させる。その後、薄膜基材上に、８０℃～１４０℃の範囲で例えばプラズマＣＶＤ（Chemical Vapour Deposition）法などでＳｉＯ２を塗布し、８０℃～１４０℃の範囲で焼成し硬化させることにより、５～５０μｍのＳｉＯ２封止膜１２を形成する。
　次に、ＳｉＯ２封止膜１２上に、ＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　具体的には、ＳｉＯ２封止膜１２上に、例えばスピナー法、印刷法、スリット法などでＰＶＡを塗布し、５～５０μｍのＰＶＡ封止膜１３を形成する。
　次に、素子基板１０と封止基板１４とを貼り合わせる。
　貼り合わせは、乾燥雰囲気（露点温度－３０℃以下、望ましくは－７０℃以下）もしくは真空雰囲気中（１００Ｐａ以下）で行なう。その際に、封止基板１４に圧力を押圧すると、ＰＶＡ封止膜１３としての充填樹脂は均一に広がる。
　次に、ＰＶＡ封止膜１３が形成されたエリアに、ＵＶ照射（０.５～１０J（望ましくは１～６J））を行い、大気中にて加熱（７０℃以上１２０℃以下、１０分以上２時間以下）処理を行って、ＰＶＡ封止膜１３を硬化させる。
　なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではない。当業者は、請求項に示した範囲内において、本発明をいろいろと変更できる。すなわち、請求項に示した範囲内において、適宜変更された技術的手段を組み合わせれば、新たな実施形態が得られる。すなわち、発明の詳細な説明の項においてなされた具体的な実施形態は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と次に記載する請求の範囲内で、いろいろと変更して実施することができるものである。
　（本発明の総括）
　以上のように、本発明の有機ＥＬパネルは、
　素子基板と、
　封止基板と、
　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルであって、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とが積層されていることを特徴とする。
　上記構成によれば、素子基板が薄膜基材から形成されていても、樹脂封止膜と無機封止膜との２層構造により、封止基板から侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことを確実に防止することができる。
　よって、柔軟性に優れた有機ＥＬパネルを提供することが可能である。
　また、封止基板の素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とを積層する構造で、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を及ぼすことが少なくなる。
　さらに、狭額縁化を実現することも可能である。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルは、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記樹脂封止膜、前記無機封止膜、接着剤がこの順に積層されていてもよい。
　上記構成によれば、素子基板を薄膜基材から形成しても、樹脂封止膜により薄膜基材が有する凸凹やピンホールを無くすことができる。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルは、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記無機封止膜、前記樹脂封止膜がこの順に積層されていてもよい。
　上記構成によれば、樹脂封止膜を接着剤として兼用することにより、別途に接着剤を形成する必要がなくなる。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記樹脂封止膜は、ポリビニルアルコールからなることが好ましい。
　上記構成によれば、ポリビニルアルコールからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響を防止することができる。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記無機封止膜は、酸化シリコンからなることが好ましい。
　上記構成によれば、プラズマＣＶＤ法など気相成長法により形成される酸化シリコンからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響を防止することができる。
　また、酸化シリコンからなる封止膜は、機械的強度が非常に高く、さらに耐熱性に優れている。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記樹脂封止膜は、厚さが５μｍ以上５０μｍ以下であることが好ましい。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記無機封止膜は、厚さが５μｍ以上５０μｍ以下であることが好ましい。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記素子基板の前記封止基板に対向する面上に、無機封止膜が形成されていることが好ましい。
　上記構成によれば、素子基板から侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことを防止することができる。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記素子基板上に、前記有機ＥＬ素子が形成され、
　前記有機ＥＬ素子を囲むように、前記無機封止膜が形成されていることが好ましい。
　上記構成によれば、侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことをさらに確実に防止することができる。
　また本発明の一形態の有機ＥＬパネルは、
　前記封止基板と前記素子基板とは、可撓性基材からなることが好ましい。
　上記構成によれば、柔軟性に優れた有機ＥＬパネルを提供することができる。
　上記の課題を解決するために、本発明の有機ＥＬパネルの製造方法は、
　素子基板と、
　封止基板と、
　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルの製造方法であって、
　前記封止基板の前記素子基板に対向する表面上に、ポリビニルアルコールからなる樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜とを積層して形成したことを特徴とする。
　上記製造方法によれば、ポリビニルアルコールからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響を防止することができる。
　また、プラズマＣＶＤ法など気相成長法により形成される酸化シリコンからなる封止膜は、親水性が非常に強いため、封止基板側から侵入してきた水分を吸収することにより、有機ＥＬ素子への悪影響をさらに確実に防止することができる。
　よって、素子基板が薄膜基材から形成されていても、ポリビニルアルコールからなる封止膜と酸化シリコンからなる封止膜との２層構造により、封止基板から侵入してきた水分や酸素等が有機ＥＬ素子に悪影響を及ぼすことを確実に防止することができる。
　また、封止基板の素子基板に対向する面上に、ポリビニルアルコール樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜とを積層する構造で、平坦化が容易で、光学特性に悪影響を及ぼすことが少なくなる。
　さらに、狭額縁化を実現することも可能である。
　本発明の有機ＥＬパネルは、信頼性に優れたため、表示装置に好適に利用することができる。
　１　　　　　有機ＥＬパネル
　１０　　　　素子基板
　１１　　　　接着剤
　１２　　　　ＳｉＯ２封止膜
　１３　　　　ＰＶＡ封止膜
　１４　　　　封止基板
　１５　　　　有機ＥＬ素子
　１６・１７　保護膜

Claims (11)

  1. 　素子基板と、
    　封止基板と、
    　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルであって、
    　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、樹脂封止膜と無機封止膜とが積層されていることを特徴とする有機ＥＬパネル。
  2. 　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記樹脂封止膜、前記無機封止膜、接着剤がこの順に積層されていることを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬパネル。
  3. 　前記封止基板の前記素子基板に対向する面上に、前記無機封止膜、前記樹脂封止膜がこの順に積層されていることを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬパネル。
  4. 　前記樹脂封止膜は、ポリビニルアルコールからなることを特徴とする請求項１～３の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  5. 　前記無機封止膜は、酸化シリコンからなることを特徴とする請求項１～４の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  6. 　前記樹脂封止膜は、厚さが５μｍ以上５０μｍ以下であることを特徴とする請求項１～５の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  7. 　前記無機封止膜は、厚さが５μｍ以上５０μｍ以下であることを特徴とする請求項１～６の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  8. 　前記素子基板の前記封止基板に対向する面上に、無機封止膜が形成されていることを特徴とする請求項１～７の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  9. 　前記素子基板上に、前記有機ＥＬ素子が形成され、
    　前記有機ＥＬ素子を囲むように、前記無機封止膜が形成されていることを特徴とする請求項８に記載の有機ＥＬパネル。
  10. 　前記封止基板と前記素子基板とは、可撓性基材からなることを特徴とする請求項１～９の何れか１項に記載の有機ＥＬパネル。
  11. 　素子基板と、
    　封止基板と、
    　前記素子基板と前記封止基板との間に少なくとも陽極、有機発光層および陰極が積層して成る有機ＥＬ素子とを備える有機ＥＬパネルの製造方法であって、
    　前記封止基板の前記素子基板に対向する表面上に、ポリビニルアルコールからなる樹脂封止膜と酸化シリコンからなる無機封止膜を積層して形成したことを特徴とする有機ＥＬパネルの製造方法。
PCT/JP2011/073711 2010-10-21 2011-10-14 有機ｅｌパネル、およびその製造方法 Ceased WO2012053451A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/880,035 US8994012B2 (en) 2010-10-21 2011-10-14 Organic EL panel and process for production thereof

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-236401 2010-10-21
JP2010236401 2010-10-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2012053451A1 true WO2012053451A1 (ja) 2012-04-26

Family

ID=45975164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2011/073711 Ceased WO2012053451A1 (ja) 2010-10-21 2011-10-14 有機ｅｌパネル、およびその製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8994012B2 (ja)
WO (1) WO2012053451A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103887442A (zh) * 2012-12-19 2014-06-25 环球展览公司 Oled装置以及制作其的方法
JP2015002134A (ja) * 2013-06-18 2015-01-05 セイコーエプソン株式会社 発光装置および電子機器
EP3001477A4 (en) * 2013-05-21 2017-01-25 LG Chem, Ltd. Organic electronic device

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012053451A1 (ja) * 2010-10-21 2012-04-26 シャープ株式会社 有機ｅｌパネル、およびその製造方法
US9312511B2 (en) * 2012-03-16 2016-04-12 Universal Display Corporation Edge barrier film for electronic devices
JP2017004642A (ja) * 2015-06-05 2017-01-05 双葉電子工業株式会社 可撓性有機ｅｌディバイス
CN109585669B (zh) * 2017-09-29 2024-05-17 京东方科技集团股份有限公司 薄膜封装结构及其制备方法
US10879489B2 (en) * 2018-05-21 2020-12-29 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Organic device having protective film and method of manufacturing the same
US20220209166A1 (en) * 2019-04-11 2022-06-30 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting element and display device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH058346A (ja) * 1990-10-17 1993-01-19 Mitsubishi Kasei Polytec Co 耐熱性防湿フイルム
JPH08187825A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Kimoto & Co Ltd 耐候性防湿フィルム
JP2003249349A (ja) * 1997-04-17 2003-09-05 Kureha Chem Ind Co Ltd エレクトロルミネセンス素子及びその製造方法
JP2006004650A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示素子及び光学デバイス

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69128524T2 (de) 1990-10-17 1998-04-16 Mitsubishi Chem Corp Hitze- und feuchtigkeitsbeständiger film
TW379513B (en) 1997-04-17 2000-01-11 Kureha Chemical Ind Co Ltd Moisture-proof film and electro-luminescent element
JP3817081B2 (ja) 1999-01-29 2006-08-30 パイオニア株式会社 有機ｅｌ素子の製造方法
JP3705190B2 (ja) 2001-10-03 2005-10-12 ソニー株式会社 表示装置の製造方法
WO2012053451A1 (ja) * 2010-10-21 2012-04-26 シャープ株式会社 有機ｅｌパネル、およびその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH058346A (ja) * 1990-10-17 1993-01-19 Mitsubishi Kasei Polytec Co 耐熱性防湿フイルム
JPH08187825A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Kimoto & Co Ltd 耐候性防湿フィルム
JP2003249349A (ja) * 1997-04-17 2003-09-05 Kureha Chem Ind Co Ltd エレクトロルミネセンス素子及びその製造方法
JP2006004650A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示素子及び光学デバイス

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103887442A (zh) * 2012-12-19 2014-06-25 环球展览公司 Oled装置以及制作其的方法
EP3001477A4 (en) * 2013-05-21 2017-01-25 LG Chem, Ltd. Organic electronic device
US10103352B2 (en) 2013-05-21 2018-10-16 Lg Chem, Ltd. Organic electronic device having dimension tolerance between encapsulating layer and metal-containing layer less than or equal to 200 microns
US10522786B2 (en) 2013-05-21 2019-12-31 Lg Chem, Ltd. Organic electronic device having dimension tolerance between encapsulating layer and metal layer less than or equal to 200 microns
JP2015002134A (ja) * 2013-06-18 2015-01-05 セイコーエプソン株式会社 発光装置および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
US8994012B2 (en) 2015-03-31
US20130214266A1 (en) 2013-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2012053451A1 (ja) 有機ｅｌパネル、およびその製造方法
JP4907674B2 (ja) 有機発光ディスプレイ装置の製造方法
US20200168839A1 (en) Oled packaging method and oled packaging structure
JP4890582B2 (ja) 有機発光ディスプレイ装置の製造方法
JP2010027599A (ja) 有機発光ディスプレイ装置及びその製造方法
US9178178B2 (en) Organic light-emitting diode display having improved adhesion and damage resistance characteristics, an electronic device including the same, and method of manufacturing the organic light-emitting diode display
US9954170B2 (en) Recess structure for print deposition process and manufacturing method thereof
KR101421168B1 (ko) 유기전계발광 표시소자 및 그 제조방법
WO2016086535A1 (zh) Oled封装结构及其封装方法
CN103682143A (zh) 有机发光显示装置及其制造方法
US7872255B2 (en) Organic light-emitting device
CN1973579A (zh) 有机半导体元件
WO2020177028A1 (en) Array substrate, display panel, and manufacturing method thereof
JP6648752B2 (ja) 封止構造体
JP4745181B2 (ja) 有機ｅｌ発光装置、及び有機ｅｌ発光装置の製造方法
JP4499672B2 (ja) 有機ｅｌ素子及びその製造方法
JP2011124219A (ja) 有機発光ディスプレイ装置及びその製造方法
WO2011114860A1 (ja) 発光装置
WO2018152897A1 (zh) Oled封装方法与oled封装结构
KR20150078246A (ko) 보호물질, 이를 구비한 유기전계발광 표시소자 및 그 제조방법
WO2019200668A1 (zh) 一种oled的封装结构及封装方法
KR101873598B1 (ko) 밀봉특성이 개량된 유기발광 표시장치
CN106876329B (zh) Oled显示装置的制作方法
CN114188382B (zh) Oled显示面板及其封装方法
CN105957978B (zh) 封装结构及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11834291

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13880035

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 11834291

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP