WO2011148936A1 - 3波長用光源装置、3波長用受光装置および光ヘッド装置 - Google Patents

3波長用光源装置、3波長用受光装置および光ヘッド装置 Download PDF

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WO2011148936A1
WO2011148936A1 PCT/JP2011/061863 JP2011061863W WO2011148936A1 WO 2011148936 A1 WO2011148936 A1 WO 2011148936A1 JP 2011061863 W JP2011061863 W JP 2011061863W WO 2011148936 A1 WO2011148936 A1 WO 2011148936A1
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light
optical axis
wavelength
axis correction
light source
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PCT/JP2011/061863
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浩司 宮坂
琢治 野村
元志 中山
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旭硝子株式会社
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1353Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1086Beam splitting or combining systems operating by diffraction only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0006Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD

Definitions

  • the present invention provides a three-wavelength light source device, a three-wavelength light-receiving device, and an optical system that handles optical storage as an optical system that includes an optical axis correction element having a function of aligning the traveling direction when three light beams having different wavelengths are incident.
  • Information recording and / or reproduction hereinafter referred to as “optical disk”) such as optical recording media such as DVD, magneto-optical disk, and high-density optical recording media (hereinafter referred to as “optical disk”) such as “Blu-ray” (registered trademark: BD). , “Recording / reproducing”).
  • a light source such as a semiconductor laser element that emits light having different wavelengths is used for each optical disk of different standards. Then, the output light from the light source is condensed on the information recording surface of the optical disk by the objective lens having a different numerical aperture NA, and the reflected light is branched by, for example, a beam splitter and received by a photodetector, thereby obtaining an electric signal. To record / reproduce information.
  • a light source for example, a laser element that emits light in a blue-violet wavelength band to record / reproduce BD, a laser element that emits light in a red wavelength band to record / reproduce DVD, and In order to record / reproduce a CD, a configuration in which laser elements that emit light in the infrared wavelength band are individually arranged can be considered.
  • the optical head device is increased in size, weight, and optical components. There is a problem that the number of parts increases. Further, as a light source, a laser element that emits light in a blue-violet wavelength band for BD, and a laser element that emits light in a red wavelength band for DVD and light in an infrared wavelength band for CD, Even with the configuration of the optical head device arranged individually, for the same reason, particularly when the optical head device capable of recording / reproducing BD, DVD, CD is mounted on a thin notebook personal computer or the like, the required small size is required.
  • a reduction in weight and weight cannot be realized. Therefore, as a light source that emits light in these three wavelength bands (hereinafter referred to as “three wavelengths”) to the optical head device, for example, a semiconductor that emits light of three wavelengths is integrated in one CAN type package. Realization of a reduction in size and weight using a hybrid type or monolithic type laser element constructed in this manner is under study.
  • the optical axes of the light in the plurality of wavelength bands do not match.
  • the optical axis in such an optical system and the optical axis of the light in one wavelength band are matched, the optical axis of the light in the other wavelength band does not coincide with the optical axis, which causes aberrations. .
  • aberration occurs in the optical system in this manner, for example, in the case of an optical head device, there is a problem that light reflected from the optical disk cannot be detected with high accuracy by a photodetector, and stable recording and reproduction cannot be performed. .
  • the two-wavelength deflecting optical element used in the two-wavelength light source device of Patent Document 1 uses a birefringent medium, and sets the polarization state of incident light of two wavelengths as linearly polarized light orthogonal to each other.
  • a restriction that must be done Therefore, for example, unpolarized light cannot enter the two-wavelength deflecting optical element, and even when linearly polarized light orthogonal to each other is incident, the polarization direction of the linearly polarized light and the two-wavelength deflecting optical element
  • the degree of freedom in design is low, for example, it is necessary to align the optical axis with the optical axis.
  • the first and second diffraction gratings used in the optical head device of Patent Document 2 are not birefringent media, but have a grating pattern formed on an isotropic material such as glass, for example.
  • the polarization state of light having a wavelength of.
  • the height of the grating step is determined by the BD wavelength and DVD. It is set to be approximately an integral multiple of the wavelength for CD and a non-integer multiple of the wavelength for CD, and only the light of the wavelength for CD is diffracted.
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and in particular, when three wavelengths of light are incident, at least two of them are deflected in the optical system by deflecting the light with respect to a specific one or two wavelengths.
  • the optical axes of the light having the wavelengths are made to coincide (also referred to as “optical axis correction”).
  • the light source device for three wavelengths or the three wavelengths which does not depend on the polarization state of incident light, has small wavelength dependency of light utilization efficiency, and can correct the optical axis of light of a predetermined wavelength with high accuracy. It is an object of the present invention to provide a light receiving device for use, and an optical head device using one or both of these devices.
  • a three-wavelength light source device comprising: a light source that emits light; and an optical axis correction element that selectively emits light having one or two wavelengths out of the incident light having the three wavelengths.
  • the optical axis correction element has a concavo-convex portion having a concavo-convex shape in cross section by a combination of a convex portion made of the first material and a concave portion made of the second material, and the refractive index of the first material and the The refractive index of the second material is substantially the same for one or two wavelengths of the three wavelengths of light, and is different for the remaining wavelengths of light. One of the wavelengths matches the optical axis of at least one of the remaining wavelengths. 3 to provide a wavelength light source apparatus for morphism.
  • the cross-sectional shape of the concavo-convex portion has a diffraction grating shape having a periodic pitch, or reduces aberrations with respect to light having a wavelength to be deflected among the three wavelengths of light to the diffraction grating shape.
  • the light source device for three wavelengths having a shape to which a distribution of optical path differences is added is provided.
  • the optical axis correction element includes a first optical axis correction plate and a second optical axis correction plate, and the first optical axis correction plate and the second optical axis correction plate each have the concave and convex portions.
  • the light source device for three wavelengths having a portion is provided.
  • the above-described three-wavelength light source device including a position adjusting unit that changes a position of the optical axis correction element in an optical axis direction or a plane direction orthogonal to the optical axis direction.
  • the optical axis correction element includes a first optical axis correction plate and a second optical axis correction plate, and the first optical axis correction plate and the second optical axis correction plate are each provided with the unevenness.
  • ) + ⁇ + A ⁇ x + W (x, y), W (x, y) a 0 + a 1 (x / r 0 ) + a 2 (y / r 0 ) + a 3 (x / r 0 ) 2 + A 4 (x / r 0 ) ⁇ (y / r 0 ) + a 5 (y / r 0 ) 2 +...
  • the light source device for three wavelengths is provided.
  • the above-described three-wavelength light source device including a position adjusting unit that changes the position of the optical axis correction element in a plane direction orthogonal to the optical axis direction.
  • the refractive index of the first material and the refractive index of the second material with respect to the light with the wavelength ⁇ 1 substantially match, and the light with the wavelength ⁇ 2 and the light with the wavelength ⁇ 3
  • the above-described light source device for three wavelengths is provided in which the refractive index of the first material and the refractive index of the second material are different.
  • the refractive index of the first material and the refractive index of the second material with respect to the light with the wavelength ⁇ 1 are different, and the first with respect to the light with the wavelength ⁇ 2 and the light with the wavelength ⁇ 3
  • the above-described light source device for three wavelengths in which the refractive index of the material and the refractive index of the second material substantially coincide with each other is provided.
  • the above three-wavelength light source device in which one or both of the first material and the second material contains an inorganic material.
  • the wavelength ⁇ 1 is a 405 nm wavelength band ranging from 395 to 425 nm
  • the wavelength ⁇ 2 is a 660 nm wavelength band ranging from 640 to 680 nm
  • the wavelength ⁇ 3 is a 785 nm wavelength band ranging from 765 to 805 nm.
  • the three-wavelength light source device is provided.
  • a three-wavelength light receiving device comprising: an optical axis correcting element that selectively emits light in a traveling direction; and a photodetector that receives the three-wavelength light, wherein the optical axis correcting element includes: The combination of the convex portion made of the first material and the concave portion made of the second material has an uneven portion having an uneven shape in cross section, and the refractive index of the first material and the refractive index of the second material Is substantially the same for one or two wavelengths of light of the three wavelengths and is different for the remaining wavelengths of light, and one of the three wavelengths of light is A three-wavelength light receiving device in which the light reaches the photodetector in coincidence with at least one of the remaining wavelengths of light To provide.
  • the cross-sectional shape of the concavo-convex portion has a diffraction grating shape having a periodic pitch, or reduces aberrations with respect to light having a wavelength to be deflected among the three wavelengths of light to the diffraction grating shape.
  • the above-described three-wavelength light receiving device having a shape to which an optical path difference distribution is added is provided.
  • the optical axis correction element includes a first optical axis correction plate and a second optical axis correction plate, and the first optical axis correction plate and the second optical axis correction plate are each provided with the unevenness.
  • the above-described three-wavelength light-receiving device having a portion is provided.
  • the above-described three-wavelength light receiving device including a position adjusting unit that changes a position of the optical axis correction element in an optical axis direction or a plane direction orthogonal to the optical axis direction.
  • the optical axis correction element includes a first optical axis correction plate and a second optical axis correction plate, and the first optical axis correction plate and the second optical axis correction plate are each provided with the unevenness.
  • ) + ⁇ + A ⁇ x + W (x, y), W (x, y) a 0 + a 1 (x / r 0 ) + a 2 (y / r 0 ) + a 3 (x / r 0 ) 2 + A 4 (x / r 0 ) ⁇ (y / r 0 ) + a 5 (y / r 0 ) 2 +...
  • the three-wavelength light receiving device is provided.
  • the above-described three-wavelength light receiving device including a position adjusting unit that changes a position of the optical axis correction element in a plane direction orthogonal to the optical axis direction.
  • the refractive index of the first material and the refractive index of the second material with respect to the light with the wavelength ⁇ 1 substantially match, and the first with respect to the light with the wavelength ⁇ 2 and the light with the wavelength ⁇ 3 .
  • the refractive index of the first material and the refractive index of the second material with respect to the light with the wavelength ⁇ 1 are different, and the first with respect to the light with the wavelength ⁇ 2 and the light with the wavelength ⁇ 3
  • the above-described three-wavelength light receiving device is provided in which the refractive index of the second material and the refractive index of the second material substantially coincide.
  • the above three-wavelength light-receiving device in which one or both of the first material and the second material contains an inorganic material.
  • the wavelength ⁇ 1 is a 405 nm wavelength band ranging from 395 to 425 nm
  • the wavelength ⁇ 2 is a 660 nm wavelength band ranging from 640 to 680 nm
  • the wavelength ⁇ 3 is a 785 nm wavelength band ranging from 765 to 805 nm.
  • the three-wavelength light-receiving device is provided.
  • a light source an objective lens for condensing the light emitted from the light source on the optical disc, a photodetector for receiving the light reflected by the optical disc, and guiding the light emitted from the light source to the objective lens
  • a beam splitter that guides the light reflected by the optical disc to the photodetector, and includes the light source, and the light source device for three wavelengths is provided in an optical path between the light source and the beam splitter.
  • An optical head device is provided.
  • a light source an objective lens for condensing the light emitted from the light source on the optical disc, a photodetector for receiving the light reflected by the optical disc, and guiding the light emitted from the light source to the objective lens,
  • a beam splitter that guides the light reflected by the optical disc to the photodetector, and includes the photodetector, and includes the three wavelengths in the optical path between the beam splitter and the photodetector.
  • An optical head device provided with a light receiving device is provided.
  • the present invention in a predetermined optical system using the wavelength ⁇ 1 , the wavelength ⁇ 2, and the wavelength ⁇ 3 which are at least three different wavelength bands, light of one or two wavelengths is deflected to It is possible to provide a three-wavelength light source device and a three-wavelength light receiving device that match the optical axis.
  • the three-wavelength light source device and / or the three-wavelength light receiving device of the present invention can be used to reduce the size and weight of light of three wavelengths, and to stabilize the optical disc corresponding to the light of each wavelength.
  • An optical head device capable of recording / reproducing can be provided.
  • FIG. 1 is a conceptual schematic diagram of a light source device for three wavelengths (first embodiment).
  • FIG. (A) The schematic diagram which shows the optical effect
  • (B) 3 schematically shows an optical action for the wavelength lambda 2 of the light and the wavelength lambda 3 of the optical wavelength light source apparatus (first embodiment).
  • the graph which shows the example of the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of a 1st material, and the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of a 2nd material.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a configuration of a light source device for three wavelengths and another optical action for light of wavelength ⁇ 1 (third embodiment).
  • A The schematic diagram which shows the optical effect
  • (B) The schematic diagram which shows the structure of the light source device for 3 wavelengths, and the optical effect
  • the graph which shows the example of the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of a 1st material, and the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of a 2nd material.
  • FIG. 6 A schematic diagram of an optical head device including a light receiving device for three wavelengths.
  • 6 is a graph showing the wavelength dependence of diffraction efficiency of the optical axis correction element in the three-wavelength light source device of Example 1.
  • FIG. (A) Profile example of incident intensity and output intensity of the optical axis correcting element in the light source device for three wavelengths according to the fourth embodiment.
  • (B) Profile example of convex part height and first-order diffraction efficiency of the optical axis correction element in the light source device for three wavelengths of Example 4.
  • 10 is a graph showing the wavelength dependence of diffraction efficiency of the optical axis correction element in the three-wavelength light source device of Example 4.
  • (A) The relationship between the grating pitch and the phase difference of the optical axis correction element in Example 5 ( ⁇ 1 95%).
  • (B) Relationship between grating pitch and phase difference ( ⁇ 1 89%) of the optical axis correction element in Example 5.
  • (C) The relationship between the grating pitch and the phase difference of the optical axis correction element in Example 5 ( ⁇ 1 85%).
  • Example 18 is a graph showing the wavelength dependence of diffraction efficiency of the optical axis correction element in the three-wavelength light source device of Example 13.
  • 6 is a graph showing the wavelength dependence of diffraction efficiency in the optical axis correction element of Comparative Example 1.
  • 6 is a graph showing the wavelength dependence of diffraction efficiency in the optical axis correction element of Comparative Example 2.
  • FIG. 1 is a conceptual schematic diagram of a light source device for three wavelengths according to the present embodiment.
  • the three-wavelength light source device 10 includes a light source 20 and an optical axis correction element 30 provided in the traveling direction of light emitted from the light source 20.
  • the light source 20 includes an integrated semiconductor laser element that emits light of wavelength ⁇ 1 , light of wavelength ⁇ 2 , and light of wavelength ⁇ 3 ( ⁇ 1 ⁇ 2 ⁇ 3 ).
  • a CAN package It is integrated inside.
  • the optical axis correction element 30 has a structure in which two materials having different refractive indexes are combined, and the boundary line between these materials is uneven.
  • any one or two of the three wavelengths of light incident on the optical axis correction element 30 are deflected by the unevenness, so that at least two of the three wavelengths of light are deflected. Are set so that their optical axes coincide. Note that “deflection” is used to include the phenomenon of “diffraction”.
  • the wavelength ⁇ 1 is a 405 nm wavelength band (395 to 420 nm) for BD
  • the wavelength ⁇ 2 is 660 nm for DVD.
  • a combination of a wavelength band (640 to 680 nm) and a 785 nm wavelength band (765 to 805 nm) for CD as the wavelength ⁇ 3 can be considered. The combination of these wavelengths is not limited to this.
  • a 450 nm wavelength band that becomes Blue (420 to 480 nm)
  • a 533 nm wavelength band that becomes Green (520 to 560 nm)
  • a Red 610 to 670 nm
  • the 645 nm wavelength band that becomes) may be designed as these wavelength ⁇ 1 , wavelength ⁇ 2, and wavelength ⁇ 3 , respectively.
  • a combination of other wavelength bands may be used.
  • FIG. 2A is a schematic diagram showing the optical action of the three-wavelength light source device 10 for light of one wavelength among the three wavelengths of light
  • FIG. 2B is 3 for light of the remaining two wavelengths.
  • FIG. 4 is a schematic diagram showing an optical action of the wavelength light source device 10.
  • the light source 20 does not display the package portion.
  • the light source 20 that emits light of three wavelengths includes a one-wavelength light source 25 and a two-wavelength light source 26 that are arranged at regular intervals and housed in a package (not shown).
  • the one-wavelength light source 25 emits light having a wavelength ⁇ 1 from the first light emitting point 21, and the two-wavelength light source 26 emits light having a wavelength ⁇ 2 from the second light emitting point 22 and has a wavelength ⁇ 3. Is emitted from the third light emitting point 23. If the optical axis of the predetermined optical system is the optical axis 44, the optical axis 44 is on the second light emitting point 22, and between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22. Assume that there is a distance d.
  • the first light emission point 21 and the third light emission point 23 are offset from the optical axis 44, and among these, the light having the wavelength ⁇ 1 emitted from the first light emission point 21 is transmitted in a predetermined optical system.
  • the optical axis correction element 30 sets the optical axis to be the same as the optical axis 44.
  • the actual light has a finite area in a plane orthogonal to the traveling direction, but in FIGS. 2A and 2B, the light is emitted from each light emitting point in the optical system of the light source device 10 for three wavelengths. Only representative rays are shown by solid lines, and are shown in the following embodiments. As shown in FIG.
  • the optical axis correction element 30 performs optical axis correction for deflecting the light 41 having the wavelength ⁇ 1 by inclining by an angle ⁇ in the X-axis direction so as to coincide with the optical axis 44.
  • the optical axis correction action does not occur for the light 42 having the wavelength ⁇ 2 and the light 43 having the wavelength ⁇ 3 . That is, it has a function of performing optical axis correction in a wavelength selective manner for light of a specific wavelength.
  • the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 are independently arranged, the light with respect to the light 41 having the wavelength ⁇ 1 that is likely to cause a shift in the optical axis due to variations in the arrangement state or the like. Axis correction can be performed.
  • FIG. 3 is an example showing a schematic cross-sectional view of the optical axis correction element 30.
  • the optical axis correction element 30 has a concavo-convex portion 33 combined so that the cross-sectional shape is concavo-convex by a convex portion 31 made of a first material and a concave portion 32 made of a second material.
  • grooved part 33 means the unevenness
  • the concavo-convex portion 33 can be a diffraction grating whose cross section has a periodic pitch as shown in FIG. 3, for example, but may have a concavo-convex shape that is not periodic as will be described later.
  • the recessed part 32 may be provided so that the groove
  • the transparent substrate 34a and the transparent substrate 34b sandwiching the concavo-convex portion 33 are provided to constitute the optical axis correction element 30, but a configuration in which one of the transparent substrates is not provided may be employed.
  • the transparent substrates 34a and 34b various materials such as a resin plate and a resin film can be used as long as they are transparent to incident light, but optically isotropic materials such as glass and quartz glass are used. When used, it is preferable because it does not affect the birefringence of the transmitted light.
  • the first material constituting the convex portion 31 and the second material constituting the concave portion 32 are each made of a homogeneous and optically isotropic material. Therefore, the refractive index does not depend on the polarization state of incident light.
  • a combination of the first material and the second material has a wavelength dispersion characteristic of a refractive index described below.
  • Figure 4 is a wavelength on the horizontal axis lambda, the vertical axis represents the refractive index with respect to light having a wavelength lambda n (lambda), the refractive index of the wavelength dispersion characteristic n 1 of the first material (lambda) in a solid line, the second wavelength dispersion characteristics n 2 of the refractive index in the material a (lambda) is an example indicated by the broken line.
  • the refractive index of each material, n 1 ( ⁇ 1 ) and n 2 ( ⁇ 1 ) for the light of wavelength ⁇ 1 is different, and the wavelength ⁇ 2 N 1 ( ⁇ 2 ) and n 2 ( ⁇ 2 ) are substantially equal to each other, and the refractive index of each material is n 1 ( ⁇ 3 ) and n for light of wavelength ⁇ 3.
  • 2 ( ⁇ 3 ) is a characteristic that substantially matches.
  • the approximate match means the value of
  • grooved part 33 is a blazed shape, if it is 40% or less as mentioned above in 660 nm, the 0th-order diffraction efficiency (straight forward transmittance) (eta) 0 (660) of 660 nm light will be 80. If it is not less than 30% and not more than 30% and not more than 20%, ⁇ 0 (660) is 90% or more and 95% or more, respectively, and a constant high amount of light is obtained for 660 nm light.
  • the concavo-convex portion 33 of the optical axis correction element 30 showing the wavelength dispersion characteristic of the refractive index in FIG. 4 is different from the light 41 having the wavelength ⁇ 1 in that the optical path difference occurs and the propagation direction changes. Since no optical path difference occurs with respect to the light 42 of ⁇ 2 and the light 43 of wavelength ⁇ 3 , the light passes straight through. Then, the light 41 of the wavelength lambda 1, by a design that controls the propagation direction that varies in irregular portion 33, in this case, the correction for matching the optical axis of the light 41 of the wavelength lambda 1 to the optical axis 44 can do.
  • a resin material containing an aromatic hydrocarbon or a resin containing inorganic fine particles can be used as the first material exhibiting the refractive index wavelength dispersion characteristic n 1 ( ⁇ ) as shown in FIG. 4, for example, a resin material containing an aromatic hydrocarbon or a resin containing inorganic fine particles can be used.
  • the aromatic hydrocarbon compound one having a biphenyl structure or a phenylsilane structure can be used.
  • a low Abbe number sol-gel material or an inorganic material may be used.
  • a multilayer film structure since the wavelength dispersion characteristic of the refractive index can be adjusted by using a multilayer film structure, a multilayer film structure may be used.
  • an aliphatic hydrocarbon As the second material exhibiting the wavelength dispersion characteristic n 2 ( ⁇ ) of the refractive index, an aliphatic hydrocarbon, a fluorine-based hydrocarbon, a sulfur-based hydrocarbon, a polysiloxane-based resin, or the like can be used. It is also possible to use those resins containing inorganic fine particles.
  • the aliphatic hydrocarbon it is preferable to select a material such as adamantane, diamantane, or tricyclodecane because a material having a high refractive index and a high Abbe number can be obtained.
  • a multilayer film structure of a high Abbe number sol-gel material, an inorganic material, or an inorganic material may be used.
  • Materials used for these inorganic fine particles, sol-gel, and inorganic materials include titanium oxide, zinc oxide, tantalum oxide, niobium oxide, zirconium oxide, tungsten oxide, indium oxide, tin oxide, hafnium oxide, cerium oxide, yttrium oxide, and barium titanate. , Silica, alumina and the like. Moreover, you may use the material which mixed the above-mentioned inorganic material. In general, an inorganic material has light resistance to light in a blue wavelength band. Therefore, when transmitting light in a blue wavelength band, an inorganic material is used as at least one of the first material and the second material. It is good to contain.
  • At least one of the first material and the second material may be composed of an inorganic material.
  • the convex portion 31 is a combination of the first material and the concave portion 32 is the second material
  • the wavelength dispersion characteristic of the refractive index is obtained by the combination of the material of the concave and convex portion 33.
  • a combination of the second material and the recess 32 as the first material may be used.
  • the refractive index in light in the blue wavelength band is high.
  • the resin material may be deteriorated. Therefore, when a material containing a resin is used as the first material and the second material, the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line (587.56 nm) of this material are: First material: 1.5 ⁇ nd ⁇ 1.70, 10 ⁇ vd ⁇ 35, Second material: 1.5 ⁇ nd ⁇ 1.70, 35 ⁇ vd ⁇ 60, It is preferable to select a value in the range.
  • FIG. 5A is an example of a graph showing the relationship of the refractive index nh at the h-line (405 nm) to the refractive index nC at the C-line (656 nm) for the inorganic material.
  • FIG. It is a graph in which data extracted from the catalog (http://www.hoya-opticalworld.com/japanese/datadownload/index.html modified date: April 21, 2010) is plotted. As shown in FIG.
  • the refractive index nd and Abbe number vd in the d-line are as follows: First material: nd> 1.70, vd ⁇ 554.928 / (nd) 4 -132.831 / (nd) 2 +20.608, Second material: nd> 1.70, vd> 554.928 / (nd) 4 -132.831 / (nd) 2 +20.608, It is preferable to select a value in the range.
  • Fig. 5 (b) is excerpted from HOYA glass catalog data (http://www.hoya-opticalworld.com/japanese/datadownload/index.html modified date: April 21, 2010). It is an example of the graph showing the relationship of the Abbe number vd with respect to the refractive index nd in d line
  • Vd 56.9581 ⁇ (nd) 2 ⁇ 280.588 ⁇ (nd) +356.349
  • the curve is shown by a solid line.
  • the concavo-convex portion 33 has a diffraction grating whose cross section has a periodic concavo-convex shape.
  • the wavelength lambda 1 of the light for example, blazed or generates diffracted light with high primary diffraction efficiency was approximated blazed stepwise, preferably has a pseudo-blazed shape.
  • the grating pitch representing the period of the diffraction grating is P
  • the wavelength is ⁇
  • the diffraction order is m
  • the pseudo blazed shape can be formed by repeating photolithography and etching.
  • the present invention is not limited to this, and it can be formed by cutting or grinding, a press using a mold, an imprint method using a mold, and the like including a blazed shape and other arbitrary uneven shapes.
  • the recessed part 32 can be formed by apply
  • the present invention is not limited to this, and when an inorganic material is used as the recess 32, a CVD method, a sputtering method including a bias sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like can be used.
  • the unevenness (lattice) shape of the uneven portion 33 when deflecting light of a specific wavelength When light of a specific wavelength incident on the optical axis correction element 30 is emitted while changing its traveling direction, it can be considered that the wavefront changes. Then, as shown in FIG. 3, the transparent substrate surface of the optical axis correction element 30 is the XY plane, the optical axis 44 is the Z-axis direction, and the optical path difference distribution in the XY plane is expressed as a function ⁇ (x, y ).
  • FIG. 6A is an example of a profile showing a distribution diagram showing the desired optical path difference in the X-axis direction.
  • a remainder with respect to the wavelength ⁇ 1 is set as a function ⁇ ′ (x, y) as a wavelength to be corrected for optical axis.
  • FIG. 6B is a profile showing the remainder function ⁇ ′ (x, y).
  • FIG. 6C shows the distribution of height h (x, y) based on FIG.
  • the first material that becomes the convex portion 31 is processed so that the uneven portion 33 has the distribution shown in FIG. 6C, and the second material that becomes the concave portion 32 is changed into the groove of the convex portion 31. It can be realized by filling in.
  • FIG. 6D shows a stepped shape of the height distribution of FIG. 6C, and may be a distribution approximated in this way.
  • the height distribution is not necessarily limited to the periodic uneven shape, and the uneven shape distribution may be appropriately given according to desired optical axis correction characteristics.
  • the uneven shape of the uneven portion 33 is given based on the surplus of this specific wavelength, it becomes a periodic diffraction grating shape.
  • the uneven portion 33 is not limited to a periodic diffraction grating shape.
  • the uneven shape may be a shape in which a shape including an optical path difference distribution for reducing aberration is added to a periodic diffraction grating.
  • the distribution of the optical path difference corresponding to the generated aberration is represented by a function W (x, y), and the entire optical path difference distribution is expressed by the function ⁇ W (x, y) in order to reduce the aberration generated by the optical axis correction.
  • W (x, y) Ax ⁇ W (x, y) (3a)
  • W (x, y) a 0 + a 1 (x / r 0 ) + a 2 (y / r 0 ) + a 3 (x / r 0 ) 2 + A 4 (x / r 0 ) ⁇ (y / r 0 ) + a 5 (y / r 0 ) 2 + (3b) It is good to do.
  • a 0 , a 1 , a 2 , a 3 , a 4 , a 5 ,... are constants
  • r 0 is a normalization constant, which is a value comparable to the aperture size for which aberration is to be obtained. It becomes.
  • W (x, y in the above formula (3a) B ⁇ (x / r 0 ) 2 ⁇ (y / r 0 ) 2 ⁇ + C [3 ⁇ (x / r 0 ) 2 + (y / r 0 ) ⁇ 2 ⁇ 2] ⁇ (x / r 0 ) (3c) (B and C are constants).
  • the uneven height distribution h W (x, y) of the uneven portion 33 corresponding to the function ⁇ W (x, y) is not periodic. There are many cases.
  • the distribution of diffraction efficiency is adjusted by adjusting the height of the unevenness of the unevenness portion 33 (height of the protruding portion 31).
  • the intensity distribution of the light emitted from the optical axis correction element 30 can be corrected to a desired distribution.
  • the light intensity distribution is uniform, deterioration of the spot shape due to the light intensity (light quantity) distribution is suppressed, preferable.
  • the height of the convex part 31 may be a constant value, and the distribution may be given to the shape of the convex part 31.
  • the protrusions 31 are uniformly distributed as an eight-stage pseudo-blazed shape having the same width of each step, but the pseudo-blaze shape having a different number of steps and a pseudo-size in which the width of each step is non-uniform.
  • the intensity distribution of the light emitted from the optical axis correction element 30 can be corrected to a desired distribution.
  • the shape is not limited to the pseudo blaze shape, and may be a blaze shape.
  • the intensity distribution of emitted light can be corrected by including a blazed shape in which the height of the convex portion 31 is constant and the gradient is non-uniform.
  • a method of adjusting the amount of light transmitted by separately providing a diffraction element or by patterning a multilayer film may be used.
  • the configuration of the concavo-convex portion 33 of the optical axis correction element 30 of the three-wavelength light source device 10 according to the present embodiment is the same as that of the three-wavelength light source device and the three-wavelength light receiving device according to another embodiment to be described later. 30 is also applicable.
  • each optical axis correction plate has various configurations of the uneven portion 33 of the optical axis correction element 30, that is, A configuration in which the cross section has a shape of a diffraction grating having periodic unevenness, or a configuration having an uneven shape that adds an optical path difference distribution for further reducing aberrations, and a configuration that corrects the light quantity distribution of light Etc. can be applied.
  • FIG. 7 is a conceptual schematic diagram of the light source device for three wavelengths according to the present embodiment.
  • the three-wavelength light source device 50 is obtained by adding a position adjustment unit 55 that can adjust the position of the optical axis correction element 30 to the three-wavelength light source device 10.
  • the light source 20 and the optical axis correction element 30 having the same configuration as that of the three-wavelength light source device 10 are denoted by the same reference numerals to avoid redundant description.
  • the position adjustment unit 55 has a mechanism capable of moving the optical axis correction element 30 in one dimension in the Z-axis direction, but is not limited thereto, and may have a mechanism capable of moving in two dimensions, including rotation and tilt. Good.
  • the three-wavelength light source device 50 includes the position adjusting unit 55, and is effective when there are variations in the positions of the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 provided in the light source 20, as will be described later. It is possible to correct the optical axis for light of a predetermined wavelength.
  • the position adjustment unit 55 a function of fixing the optical axis correction element 30 to the holder and adjusting the position of the optical axis correction element 30 with a screw or the like is added to the holder, or the optical axis correction element 30 is A guide may be provided at a place to be fixed, and a function of adjusting the optical axis correction element 30 with a micrometer from the outside along the guide may be added.
  • the position adjustment unit 55 may be one in which the screw can be removed after the position of the optical axis correction element 30 is fixed.
  • the position adjusting unit 55 is The optical axis correction element 30 may be adjusted to be tilted. It should be noted that the position adjustment unit included in each embodiment described later also has an equivalent function.
  • FIGS. 8A and 8B schematically show a case where the positions of the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 of the light source 20 are different from each other in the light source device 50 for three wavelengths. , in which each showed typical rays of the emitted wavelength lambda 1 of the light from one wavelength light source 25.
  • FIG. 8A as in the three-wavelength light source device 10 in FIG. 2A, the distance between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22 is d, and this position It is assumed that the relationship indicates the optical system that is the design center.
  • the optical axis of the optical system of the three-wavelength light source device 50 is indicated by the optical axis 54 on the second light emitting point 22, and the light 51 a having the wavelength ⁇ 1 emitted from the one-wavelength light source 25 is indicated in the X-axis direction.
  • the optical axis is corrected by tilting it by an angle ⁇ to coincide with the optical axis 54.
  • FIG. 8B shows an optical system in which the distance between the first light emission point 21 and the second light emission point 22 is deviated from the design center due to variations in the arrangement of the light sources 20 and is d + ⁇ x. It is shown.
  • FIG. 8 (b) similarly to the optical system to be designed around, in order to correct the optical axis deflects the wavelength lambda 1 of the light 51b is inclined in the X-axis direction by an angle theta, positioning The optical axis correction element 30 may be moved by ⁇ z in the Z-axis direction by the unit 55.
  • ⁇ z ⁇ x / tan ⁇ (4) If the above relationship is satisfied, desired optical axis correction can be performed. Further, when a large value is assumed as ⁇ z, it is necessary to provide a wide space in which the optical axis correction element 30 can move. Therefore, the angle ⁇ may be set so that ⁇ z is 10 mm or less, and more preferably 1 mm or less.
  • the concavo-convex shape of the cross-section of the concavo-convex portion 33 is a periodic diffraction grating shape, similarly to the three-wavelength light source device 10 Alternatively, it may have a concavo-convex shape having a height distribution h W (x, y) to which aberration correction is added.
  • the optical axis correction element 30 has the uneven shape of the uneven portion considering the correction of the aberration, the aberration is a function of the size of the diameter of the light. Therefore, depending on the position set by the position adjusting unit 55, the optical path difference The value of the distribution W (x, y) is different.
  • the distribution W m (x, y) of the optical path difference for aberration correction at the position where the diameter of the light is the largest in the movable range of the optical axis correction element 30 is expressed as W ( x, y) may be given.
  • W ( x, y) the distribution W m (x, y) of the optical path difference for aberration correction at the position where the diameter of the light is the largest in the movable range of the optical axis correction element 30 is expressed as W ( x, y) may be given.
  • W ( x, y) may be given. This is preferable because the amount of change in aberration depending on the change in the diameter of the light due to the movement of the optical axis correction element 30 in the Z-axis direction can be reduced.
  • the optical disk is stable. Recording / reproduction can be realized.
  • the optical axis correction element 30 can use various configurations for correcting the intensity distribution of incident light, and the optical axis correction element 30 in the subsequent embodiments is used in the
  • FIG. 9A, FIG. 9B, and FIG. 10 are schematic views showing the configuration and optical action of the three-wavelength light source device according to this embodiment.
  • the optical axis correction element 65 includes a first optical axis correction plate 65a and a second optical axis correction plate 65b. These are different from the three-wavelength light source device 10 in that they are arranged in the three-wavelength optical path.
  • FIG. 9A is a schematic diagram showing the optical action of the three-wavelength light source device 60a for light of one wavelength among the three wavelengths of light, and FIG.
  • action of the light source device 60a for wavelengths it is a schematic diagram shown about the optical effect
  • the same number as the light source device 10 for 3 wavelengths is attached
  • FIG. 9 (a) and 9 (b) show only representative light beams emitted from the respective light emitting points with a solid line in the optical system of the three-wavelength light source device 60a.
  • Optical axis correcting element 65 as shown in FIG. 9 (a), with respect to the wavelength lambda 1 of the light 61a, performs optical axis correction for deflecting inclined in the X-axis direction by an angle theta, is coincident with the optical axis 64
  • FIG. 9B the action of deflecting the light 62 having the wavelength ⁇ 2 and the light 63 having the wavelength ⁇ 3 does not occur.
  • the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b form concave and convex portions (not shown) using two different materials.
  • the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b are a combination of materials having the refractive index wavelength dispersion characteristics n 1 ( ⁇ ) and n 2 ( ⁇ ) shown in FIG. It is set as the structure containing The first optical axis correction plate 65a, a second optical axis correcting plate 65b has a diffraction grating pattern as a diffraction angle ⁇ with respect to light having a wavelength of lambda 1.
  • a shape including an optical path difference distribution for reducing aberration when added, it may be added to either one of the two optical axis correction plates or to both.
  • FIG. 10 is a schematic diagram showing the configuration and optical action of the three-wavelength light source device 60b showing another configuration of the present embodiment.
  • the optical axis correction is performed by inclining and deflecting by an angle ⁇ in the X-axis direction. Can be realized.
  • the three-wavelength light source device 60b also includes an optical axis correction element 66 as an optical axis correction element having two optical axis correction plates.
  • the first optical axis correction plate 66a and the second optical axis correction plate 66b constituting the optical axis correction element 66 are diffracted from the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b, respectively.
  • different numbers are given.
  • the optical axis correcting element 66, a first optical axis correction plate 66a and the second optical axis correcting plate 66b is a structure arranged at an interval of t 2, the first optical axis correcting plate 66a is , diffracted at the diffraction angle theta 1 with respect to the wavelength lambda 1 of the light 61b, the second optical axis correcting plate 66b is diffracted by the diffraction angle theta 2 with respect to the wavelength lambda 1 of the light 61b.
  • t 1 and t 2 are distances based on the concavo-convex portions in the first optical axis correction plate 66a and the second optical axis correction plate 66b, respectively, and the thickness of the transparent substrate is Not considered.
  • FIG. 11A and FIG. 11B are schematic views showing the configuration and optical action of the three-wavelength light source device according to this embodiment.
  • the three-wavelength light source device 70 has a configuration in which a position adjusting unit 75 that can adjust the position of the optical axis correction element 65 is added to the three-wavelength light source device 60a, and the first optical axis correction plate 65a,
  • the configuration of the second optical axis correction plate 65b is the same.
  • the position adjustment unit 75 moves only the second optical axis correction plate 65b in the Z-axis direction, but is not limited to this, and only the first optical axis correction plate 65a or the first optical axis correction plate 65b.
  • the position adjustment unit 75 may have a mechanism for moving both the optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b.
  • a configuration in which a position adjustment unit 75 that can adjust the position of the optical axis correction element 66 is added to the three-wavelength light source device 60b may be adopted.
  • the position adjustment unit 75 may have a mechanism that can move the first optical axis correction plate 65a and / or the second optical axis correction plate 65b in two dimensions, including rotation and tilt.
  • the position adjustment unit 75 is provided, so that the optical axis can be effectively used when there are variations in the positions of the one wavelength light source 25 and the two wavelength light source 26. Correction can be performed.
  • FIGS. 11A and 11B schematically show a case where the positions of the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 of the light source 20 are different in the three-wavelength light source device 70.
  • a representative ray of light having a wavelength ⁇ 1 emitted from the one-wavelength light source 25 is shown.
  • FIG. 11A shows an optical system in which the distance between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22 is d, and this positional relationship is the design center.
  • the three optical axes of the optical system of a wavelength light source apparatus 70 indicates the optical axis 74, the light deflecting the wavelength lambda 1 of the light 71a emitted from the 1-wavelength light source 25 is inclined in the X-axis direction by an angle ⁇ Axis correction is performed to match the optical axis 74.
  • the optical axis 74 is on the second light emitting point 22, and there is a distance d between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22.
  • FIG. 11B shows an optical system in which the distance between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22 is deviated from the design center due to variations in the light source 20 and is d + ⁇ x. Is.
  • FIG. 11 (b) similarly to the optical system to be designed around, in order to correct the optical axis deflects the wavelength lambda 1 of the light 71b is inclined in the X-axis direction by an angle theta, positioning The second optical axis correction plate 65b may be moved by ⁇ z by the unit 75 in parallel with the Z-axis direction. At this time, if ⁇ z satisfies the relationship of the above equation (4), a desired optical axis correction can be performed.
  • optical axis correction element 65 can increase the diffraction angle ⁇ by using two optical axis correction plates, thereby reducing the movement distance ⁇ z.
  • ⁇ z may be set so that ⁇ z is 10 mm or less, more preferably 1 mm or less, as in the second embodiment of the light source device for three wavelengths.
  • FIG. 12A and FIG. 12B are schematic views showing the configuration and optical action of the three-wavelength light source device according to this embodiment.
  • the three-wavelength light source device 80 includes a light source 20, an optical axis correction element 85, and a position adjustment unit 86 that can adjust the position of the optical axis correction element 85.
  • the optical axis correction element 85 has a first optical axis correction plate 85a and a second optical axis correction plate 85b, which are arranged in an optical path of three wavelengths.
  • the position adjustment unit 86 is configured to move only the first optical axis correction plate 85a in the X-axis direction, but is not limited thereto, only the second optical axis correction plate 85b, or the first optical axis correction plate 85a. It may have a mechanism for moving both the optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b. Further, the position adjustment unit 86 may have a mechanism that can move the first optical axis correction plate 85a and / or the second optical axis correction plate 85b in two dimensions, including rotation and tilt. Also in this case, the optical axis correction can be performed effectively when the position adjustment unit 86 is provided and the positions of the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 vary.
  • FIG. 12A is a schematic diagram showing the optical action of the three-wavelength light source device 80 on the light of wavelength ⁇ 1 among the three wavelengths of light
  • FIG. 12B shows the light of wavelength ⁇ 2 and the wavelength ⁇ for 3 of the light is a schematic diagram showing the optical action of the three-wavelength light source device 80.
  • FIG. 12 (a) by deflecting inclined in the X-axis direction with respect to the wavelength lambda 1 of the light 81a by an angle theta, perform optical axis correction, is aligned with the optical axis 84, whereas, FIG. As shown in FIG. 12 (b), the action of deflecting the light 82 having the wavelength ⁇ 2 and the light 83 having the wavelength ⁇ 3 does not occur.
  • the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correcting plate 85b are both having an uneven portion (not shown) formed only on the wavelength lambda 1 of the light, an uneven shape composed of a distribution that gives the optical path difference.
  • the incident light having the wavelength ⁇ 1 is in this case at the reference position that is the design center.
  • r is a vector quantity indicating the reference position of the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b in the XY plane, and ⁇ r indicates a deviation from the reference position.
  • W (x, y) is a distribution function of the optical path difference that reduces aberration, and the above formula (3b) or formula (3c) can be applied.
  • (x, y) (0, 0) corresponds to the optical axis 84 of the light source device 80 for three wavelengths.
  • the above formula (7b) is a representative of a change of course of light incident to the optical axis correcting element 85 is proportional to [Delta] x a, the [Delta] x a, emits optical axis correcting element 85
  • the traveling direction (deflection direction) of light can be controlled.
  • the first optical axis correcting plate 85a or the second optical axis correcting plate 85b may be moved in the X-axis direction (b 2 are constants)
  • the first optical axis correcting plate 85a and / or second optical axis correction plate 85b may be moved in the Y-axis direction (b 3 are constants).
  • the effective diameter of the light incident on the optical axis correction element 85 and entering the first optical axis correction plate 85a is different from the effective diameter of the light incident on the second optical axis correction plate 85b.
  • FIGS. 13A and 13B schematically show a case where the positions of the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 of the light source 20 are different in the light source device 80 for three wavelengths.
  • a representative ray of light having a wavelength ⁇ 1 emitted from the one-wavelength light source 25 is shown.
  • the light source device for three wavelengths 80 in FIG. 13A shows the same drawing as the light source device for three wavelengths 80 in FIG.
  • FIG. 13A shows an optical system in which the distance between the first light emission point 21 and the second light emission point 22 is d and is the design center.
  • the optical axis of the optical system of the light source device 80 for three wavelengths is indicated by an optical axis 84, and the optical axis 84 is on the second light emitting point 22.
  • the position adjusting unit 86 controls the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b described above to be in a specific arrangement.
  • the combinations of the optical path difference functions ⁇ a (x, y) and ⁇ b (x, y) of the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b are respectively expressed by the formulas ( 6a) and the formula (6b) shall be satisfied.
  • the first optical axis correction plate 85a, the second optical axis correction plate 85b, and the light having the wavelength ⁇ 1 are incident on the optical axis correction element 85 and deflected with an angle ⁇ in the X-axis direction. Is the reference position.
  • the incident wavelength lambda 1 of the light 81b is in the optical axis correcting element 85 is tilted in the X-axis direction is deflected, given the angle to coincide with the optical axis 84 [theta] & apos, greater than the angle ⁇ in the reference position .
  • the position adjusting section 86 than the reference position of the second optical axis correcting plate 85b, by shifting [Delta] x a in the X-axis direction, the deflection angle of the angle greater ⁇ 'than the angle ⁇ easily .
  • adjustment with high accuracy can be performed.
  • FIG. 14A and FIG. 14B are schematic views showing the configuration and optical action of the three-wavelength light source device according to this embodiment.
  • the optical axis correction element provides an optical action of deflecting and emitting only the light of wavelength ⁇ 1 out of the incident light of three wavelengths. It was.
  • the three-wavelength light source device 90 according to the present embodiment deflects and emits only the light with the wavelength ⁇ 2 and the light with the wavelength ⁇ 3 among the three wavelengths incident on the optical axis correction element 100. give.
  • the same number as the light source device 10 for 3 wavelengths is attached
  • the optical axis of the predetermined optical system is the optical axis 94
  • the optical axis 94 is on the first light emitting point 21, and between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22.
  • d there is a distance d.
  • the optical axis correcting element 100 does not cause a deflection action on the light 91 having the wavelength ⁇ 1
  • the optical axis correcting element 100 has the wavelength ⁇ 2 .
  • Optical axis correction is performed by inclining and deflecting the light 92 by an angle ⁇ in the X-axis direction so as to coincide with the optical axis 94.
  • the light 93 having the wavelength ⁇ 3 can be corrected so as to approach the optical axis 94, and more preferably, the light 93 coincides with the optical axis 94.
  • the target of light for which optical axis correction is performed with particularly high accuracy is not limited to light of wavelength ⁇ 2 , and light axis correction of light of wavelength ⁇ 3 may be performed preferentially. In the following description, it is assumed that light of wavelength ⁇ 2 is corrected with priority.
  • the three-wavelength light source device 90 according to the present embodiment is greatly different from the three-wavelength light source device 10 according to the first embodiment, specifically, the optical axis.
  • the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of the first material and / or the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of the second material constituting the uneven portion of the correction element 100 are different from those of the optical axis correction element 30.
  • the optical axis correction element 100 will be described.
  • FIG. 15 is an example showing a schematic cross-sectional view of the optical axis correction element 100.
  • the optical axis correction element 100 has a concavo-convex portion 103 having a concavo-convex cross-section by a convex portion 101 made of a first material and a concave portion 102 made of a second material.
  • the concavo-convex portion 103 can be a diffraction grating having a concavo-convex shape in cross section having a periodic pitch, but may have a non-periodic shape.
  • the concave portion 102 may be provided so as to fill the groove of the convex portion 101, or may be provided so as to cover the convex portion 101 as shown in FIG.
  • the optical axis correction element 100 is configured by including the transparent substrate 104a and the transparent substrate 104b sandwiching the concavo-convex portion 103, but a configuration in which one of the transparent substrates is not provided.
  • the first material constituting the convex portion 101 and the second material constituting the concave portion 102 are each made of a homogeneous and optically isotropic material. Therefore, the refractive index does not depend on the polarization state of incident light.
  • the first material and the second material those having a wavelength dispersion characteristic of a refractive index described below are preferable.
  • FIG. 16 shows the wavelength ⁇ on the horizontal axis and the refractive index n ( ⁇ ) for the light with the wavelength ⁇ on the vertical axis, the wavelength dispersion characteristic n 1 ( ⁇ ) of the refractive index of the first material as a solid line, and the second material. This is an example in which the chromatic dispersion characteristic n 2 ( ⁇ ) of the refractive index in FIG.
  • the refractive indices of the respective materials, n 1 ( ⁇ 1 ) and n 2 ( ⁇ 1 ), with respect to the light of wavelength ⁇ 1 are substantially the same.
  • the refractive index of each material with respect to lambda 2 light, n 1 ( ⁇ 2) and n 2 ( ⁇ 2) and different further, the refractive index of each material with respect to the wavelength lambda 3 of the light, n 1 ( ⁇ 3) and n 2 ( ⁇ 3 ) shows a different characteristic.
  • the substantially coincidence means that the value of
  • the ratio is preferably 30% or less, and more preferably 20% or less.
  • a resin material containing an aromatic hydrocarbon or a resin containing inorganic fine particles can be used as the first material exhibiting the refractive index wavelength dispersion characteristic n 1 ( ⁇ ) as shown in FIG. 16, for example.
  • the aromatic hydrocarbon compound one having a biphenyl structure or a phenylsilane structure can be used.
  • a low Abbe number sol-gel material or an inorganic material may be used.
  • a multilayer film structure since the wavelength dispersion characteristic of the refractive index can be adjusted by using a multilayer film structure, a multilayer film structure may be used.
  • an aliphatic hydrocarbon As the second material exhibiting the wavelength dispersion characteristic n 2 ( ⁇ ) of the refractive index, an aliphatic hydrocarbon, a fluorine-based hydrocarbon, a sulfur-based hydrocarbon, a polysiloxane-based resin, or the like can be used. It is also possible to use those resins containing inorganic fine particles.
  • the aliphatic hydrocarbon it is preferable to select a material such as adamantane, diamantane, or tricyclodecane because a material having a high refractive index and a high Abbe number can be obtained.
  • a multilayer film structure of a high Abbe number sol-gel material, an inorganic material, or an inorganic material may be used.
  • Materials used for these inorganic fine particles, sol-gel, and inorganic materials include titanium oxide, zinc oxide, tantalum oxide, niobium oxide, zirconium oxide, tungsten oxide, indium oxide, tin oxide, hafnium oxide, cerium oxide, yttrium oxide, and barium titanate. , Silica, alumina and the like. Moreover, you may use the material which mixed the above-mentioned inorganic material. In general, an inorganic material has light resistance to light in a blue wavelength band. Therefore, when transmitting light in a blue wavelength band, an inorganic material is used as at least one of the first material and the second material. It is good to contain.
  • At least one of the first material and the second material may be composed of an inorganic material.
  • the convex portion 101 is the first material and the concave portion 102 is the second material
  • the wavelength dispersion characteristic of the refractive index is obtained by the combination of the concave and convex portion 103 materials.
  • a combination of the second material and the recess 102 as the first material may be used.
  • the refractive index in light in the blue wavelength band is high.
  • the resin material may be deteriorated. Therefore, when a material containing a resin is used as the first material and the second material, the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line (587.56 nm) of this material are: First material: 1.5 ⁇ nd ⁇ 1.70, 10 ⁇ vd ⁇ 35, Second material: 1.5 ⁇ nd ⁇ 1.70, 35 ⁇ vd ⁇ 60, It is preferable to select a value in the range.
  • the concavo-convex portion 103 may be a diffraction grating having a periodic concavo-convex cross section and having a blazed shape or a pseudo blazed shape. Further, the uneven portion 103 is not limited to the uneven shape having a periodic cross section, and based on the description of the light source device 10 for three wavelengths according to the first embodiment, aberration generated by optical axis correction in addition to the shape of the diffraction grating. It may have a concavo-convex shape to which an optical path difference for reducing the above is further added.
  • the three-wavelength light source device 90 of the present embodiment is typically a case where the optical axis correction element 30 is replaced with the optical axis correction element 100 in the three-wavelength light source device 10 according to the first embodiment. Although described, it is not limited to the application of only the first embodiment. That is, also in the three-wavelength light source devices according to the second to fifth embodiments, the optical axis is on the first light-emitting point 21 and the refractive index of the first material included in the optical axis correction element. The same configuration can be applied except that the light of the wavelength targeted for optical axis correction is different due to the difference between the wavelength dispersion characteristic and the wavelength dispersion characteristic of the refractive index of the second material.
  • a position adjustment unit such as the three-wavelength light source device 50 according to the second embodiment, and a mechanism for moving the optical axis correction element 100 in the optical axis (Z-axis) direction.
  • the adjusting unit may have a mechanism for moving at least one of the two phase correction plates in an optical axis (Z-axis) direction, a plane (XY plane) direction orthogonal to the optical axis, or the like.
  • each embodiment of the light source device for three wavelengths has been described, but in this embodiment, the three wavelengths incident on the optical axis correction elements used in these light sources for three wavelengths are different from each other.
  • a three-wavelength light receiving device for arriving at least two wavelengths of light in the same light receiving area will be described.
  • FIG. 17A is a schematic diagram showing the basic configuration and optical action of the three-wavelength light receiving device 150a.
  • the three-wavelength light receiving device 150a includes an optical axis correction element 160 and a photodetector 170.
  • the photodetector 170 has a first light receiving area 171 and a second light receiving area 172, and can perform signal detection or the like by light reaching these light receiving areas. .
  • the photodetector 170 has been described as having two light receiving areas. However, the photodetector 170 has one light receiving area, and all the three wavelengths of light incident on the optical axis correction element 160 reach one light receiving area. It may be a thing.
  • the optical axis correction element 160 may have a plurality of regions having concave and convex portions in the effective region of incident light, and each region may be deflected in different directions with respect to light of a specific wavelength. In this case, light incident on a specific region among a plurality of regions may be deflected and shared with a light receiving area where light of other wavelengths arrives.
  • FIG. 17 (a) the optical axis correcting element 160 of 3-wavelength light receiving device 150a, the wavelength lambda 1 of light 151a, the light 152a and the wavelength lambda 2, the light 153a of wavelength lambda 3, respectively, the optical axis FIG.
  • actual light has a finite area in a plane orthogonal to the traveling direction, but FIG. 17A shows only representative light beams with a solid line.
  • FIG. 17A shows only representative light beams with a solid line.
  • the photodetector 170 can be reduced in size. Further, the photodetector 170 may be provided with a circuit that converts an optical signal into an electrical signal to control the optical system. For example, by sharing the first light receiving area 171, this circuit configuration is configured. It can also be simplified.
  • the optical axis correction element 160 used in the three-wavelength light receiving device 150a for example, the optical axis correction element 30 in the first embodiment of the three-wavelength light source device can be used. That is, the wavelength dispersion characteristic of refractive index to form a concavo-convex portion by two materials different from each other, with an angle ⁇ inclined deflecting (diffractive) in the X-axis direction for the wavelength lambda 1 of the light 151a incident wavelength lambda 2 It has the function of the straight transmits light 152a and the wavelength lambda 3 of the light 153a.
  • the cross-sectional shape of the uneven portion of the optical axis correction element 160 is the diffraction grating
  • the configuration may have an uneven shape that adds an optical path difference for further aberration correction to the shape.
  • each constant can be determined and set to a predetermined shape based on the above equation (3b) or equation (3c), which is a distribution function of the optical path difference. It is to be noted that providing the cross-sectional shape so as to correct the aberration generated when the convergent light is incident on the optical axis correction element can be similarly applied to other embodiments of the three-wavelength light receiving device.
  • FIG. 17B shows the configuration and optical action of a three-wavelength light receiving device 150 b having an optical axis correction element 160, a photodetector 170, and a position adjustment unit 154 that can move the optical axis correction element 160.
  • 3-wavelength light receiving device 150b is shown in the optical axis correcting element 160, the wavelength lambda 1 of the light 151b, light 152b and the wavelength lambda 2, the light 153b of wavelength lambda 3, respectively, the manner in which the optical axis is incident differently a was drawing, particularly, the wavelength lambda 1 of the light 151b is displaced relative to the position of the designed center, showing the manner in which enters the optical axis correcting element 160.
  • the position adjustment unit 154 has a mechanism for moving the optical axis correction element 160 in the optical axis direction, so that the light 151b having the wavelength ⁇ 1 is deflected at an angle ⁇ in the X-axis direction, and the first adjustment is performed. Adjustment can be made to reach the light receiving area 171. That is, in this case, the relationship between the optical axis correction element 160 and the position adjustment unit 154 corresponds to the relationship between the optical axis correction element 30 and the position adjustment unit 55 in the second embodiment of the light source device for three wavelengths. To do.
  • FIG. 18A is a schematic diagram showing the configuration and optical action of a three-wavelength light receiving device 180 a having an optical axis correction element 185 and a photodetector 170.
  • Optical axis correcting element 185 has a first optical axis correcting plate 185a and the second optical axis correcting plate 185b, in the light of three wavelengths of incident, only the wavelength lambda 1 of light 181a, X-axis direction, respectively Is deflected at an angle ⁇ .
  • any light 183a of wavelength lambda 2 of light 182a and wavelength lambda 3 is straightly transmitted.
  • the first light receiving area 171 wavelength lambda 2 of light 182a that straightly transmitted the optical axis correcting element 185 reaches reaches the wavelength lambda 1 of light 181a, because it can share the first light receiving area 171,
  • the photodetector 170 can be downsized.
  • the optical axis correction element 185 used in the three-wavelength light receiving device 180a for example, the optical axis correction elements 65 and 66 in the third embodiment of the three-wavelength light source device can be used.
  • FIG. 18B shows the configuration and optical action of a three-wavelength light receiving device 180b having an optical axis correction element 185, a photodetector 170, and a position adjustment unit 186 that can move the optical axis correction element 185.
  • 3-wavelength light receiving device 180b is shown in the optical axis correcting element 185, the wavelength lambda 1 of the light 181b, the wavelength lambda 2 of the light 182b and light 183b of wavelength lambda 3, respectively, the manner in which the optical axis is incident differently a was drawing, particularly, the wavelength lambda 1 of the light 181b is displaced relative to the position of the designed center, showing the manner in which enters the optical axis correcting element 185.
  • FIG. 18 (b) the distance between the first wavelength lambda 1 incident on the optical axis correcting plate 185a light 181b and the wavelength lambda 2 of the light 182b, the first optical axis correction in FIG. 18 (a) different from the distance between the wavelength lambda 1 of the light 181a and the wavelength lambda 2 of the light 182a incident on the plate 185a.
  • the position adjustment unit 186 among the optical axis correcting element 185, for example, by having a mechanism for moving the first optical axis correcting plate 185a in the optical axis direction, the light 181b wavelength lambda 1, X-axis The light can be deflected at an angle ⁇ in the direction and adjusted to reach the first light receiving area 171. That is, in this case, the relationship between the optical axis correction element 185 and the position adjustment unit 186 corresponds to the relationship between the optical axis correction element 65 and the position adjustment unit 75 in the fourth embodiment of the light source device for three wavelengths. To do.
  • the position adjustment unit 186 may have a mechanism for moving the first optical axis correction plate 185a, the second optical axis correction plate 185b, or both.
  • the three-wavelength light receiving device has a function of correcting the optical axis of light having a specific wavelength, similarly to the three-wavelength light source devices according to the first to sixth embodiments.
  • the above-described three-wavelength light receiving device an example in which a part of the configuration of the three-wavelength light source device according to the first to fourth embodiments is applied has been described, but the fifth and sixth embodiments are applied. You may make it apply as a 3 wavelength light-receiving device based on the structure of the light source device for 3 wavelengths which concerns.
  • the optical axis correction element 85 of the three-wavelength light source device 80 corresponds to the optical axis correction element 85 of the three-wavelength light source device 80 according to the fifth embodiment and, for example, the position adjustment unit 86 that can move the second optical axis correction plate 85b in the plane direction orthogonal to the optical axis.
  • the optical axis correction element has a combination of materials as shown in FIG. 16 so that only the light of wavelength ⁇ 1 can be transmitted in a straight line and the light of wavelength ⁇ 2 and the light of wavelength ⁇ 3 can be deflected. And based on each structure of the light source device for 3 wavelengths, you may make it apply to the light-receiving device for 3 wavelengths.
  • the present invention is not limited to this. Even in the case where each of the incident three-wavelength light has different light-receiving areas, the three-wavelength light-receiving according to the first to sixth embodiments is performed in order to correct the deviation of the optical axis. By using the optical axis correction element in the apparatus, a light receiving apparatus for three wavelengths can be obtained.
  • FIG. 19A is a schematic diagram of an optical head device 200a including the three-wavelength light source device 210 or the three-wavelength light source device 220
  • FIG. It is a schematic diagram of the optical head apparatus 200b provided with the light-receiving device 240. Parts common to the optical head devices 200a and 200b are assigned the same numbers.
  • the light source 201 is a semiconductor laser element that emits light of three wavelengths. Wavelength ⁇ 1 which is three wavelengths is light in the 405 nm wavelength band for BD, wavelength ⁇ 2 is light in the 660 nm wavelength band for DVD, and wavelength ⁇ 3 is light in the 785 nm wavelength band for CD, It is assumed that linearly polarized light in the same direction is emitted. The emitted three-wavelength light is converted into parallel light by the collimator lens 202 and passes straight through the polarization beam splitter 203.
  • the light is circularly polarized light by the quarter wavelength plate 204 and is condensed on the information recording surface of the optical disk 206 by the objective lens 205.
  • the optical path from the light source 201 to the optical disc 206 is defined as “outward path”.
  • the three-wavelength light reflected by the optical disk 206 is transmitted again through the objective lens 205, converted into linearly polarized light orthogonal to the forward path by the quarter-wave plate 204, and reflected by the polarization beam splitter 203.
  • the light is condensed by the condenser lens 207 and reaches each light receiving area of the photodetector 208.
  • the optical path from the optical disk 206 to the photodetector 208 is defined as “return path”.
  • the optical detector 208 detects optical information such as a reproduction signal of information recorded on the optical disc 206, a focus error signal, and a tracking error signal.
  • the optical head devices 200a and 200b may be provided with a grating element for diffracting light into three beams in the forward optical path.
  • a focus servo that controls the movement of the objective lens 205 in the optical axis direction based on the focus error signal and a tracking servo that controls the movement of the objective lens 205 in the direction perpendicular to the optical axis based on the tracking error signal are provided.
  • the three-wavelength light source device 210 and the three-wavelength light source device 220 in the optical head device 200a will be described.
  • the three-wavelength light source device 210 and the three-wavelength light source device 220 include a light source 201 and an optical axis correction element 211 in common.
  • the light source device for three wavelengths 220 is configured to further include a position adjustment unit 221. That is, the optical axis correction element 211 corresponds to each optical axis correction element of the light source device for three wavelengths according to the first to sixth embodiments.
  • the optical axis correction element 211 has a configuration like the optical axis correction element 30 described above. Alternatively, it can be replaced with a configuration such as the optical axis correction element 65 described above including the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b.
  • the position adjustment unit 221 is a mechanism that moves the optical axis correction element 211 in the optical axis direction like the position adjustment unit 55 and the position adjustment unit 75, and the optical axis correction element 211 like the position adjustment unit 86. Is provided with a mechanism movable in a plane direction orthogonal to the optical axis direction, or a mechanism movable in both.
  • each of the three wavelengths of light comprises a light source 201 emitted from different emission points, three-wavelength light source unit 210 and 220, for example, the optical axis of the wavelength lambda 1 of the light for BD, the wavelength for the DVD It has the function of deflecting to match the optical axis of the lambda 2 light.
  • the light source 201 includes the one-wavelength light source 25 and the two-wavelength light source 26 as in the light source 20 described in the three-wavelength light source devices according to the first to sixth embodiments.
  • the deviation of the optical axis generated between the light having the wavelength ⁇ 2 for DVD and the light having the wavelength ⁇ 1 for BD due to the variation in the distance is corrected. It is important to do the following:
  • the optical head device 200a, 200b when the optical head device 200a, 200b is focused on the optical disk 206 or focused on the photodetector 208 with the optical axis being shifted, a certain amount of aberration is generated. This can cause a decrease in the stability of the reproduction characteristics.
  • an optical disc with a high recording density uses light of a short wavelength, but the adjustment margin of optical components is severely limited as compared with an optical system of an optical disc with a low recording density. Therefore, among the light emitting points different light, this case, the shortest wavelength which is the wavelength lambda 1 for BD optical axis of the light, by adjusting preferentially in a predetermined direction, the recording and reproducing for BD Is performed stably.
  • the wavelength ⁇ 2 for DVD can be reduced.
  • Optical axis correction is performed such that the optical axis of the light having the wavelength ⁇ 1 for BD coincides with the optical axis of the light, or the wavelength ⁇ 2 for DVD is applied to the optical axis of the light having the wavelength ⁇ 1 for BD. It is preferable to correct the optical axis of the optical axis so that the optical axis is preferentially matched with the optical axis of the wavelength ⁇ 3 for CD. Further, it is more preferable if the light for the wavelength ⁇ 3 for CD can be designed to coincide with these optical axes.
  • the three-wavelength light receiving device 230 and the three-wavelength light receiving device 240 in the optical head device 200b will be described.
  • the three-wavelength light receiving device 230 and the three-wavelength light receiving device 240 include an optical axis correction element 231 and a photodetector 208 in common.
  • the three-wavelength light receiving device 240 further includes a position adjusting unit 241.
  • the optical axis correction element 231 corresponds to each optical axis correction element of the three-wavelength light receiving device according to the above embodiment based on the three-wavelength light source device according to the first to sixth embodiments.
  • the configuration like the optical axis correction element 30 described above, the configuration like the optical axis correction element 65 described above including the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b, etc. Can be replaced.
  • the position adjustment unit 241 is a mechanism that moves the optical axis correction element 231 in the optical axis direction like the position adjustment unit 55 and the position adjustment unit 75, and the optical axis correction element 231 like the position adjustment unit 86. Is provided with a mechanism movable in a plane direction orthogonal to the optical axis direction, or a mechanism movable in both.
  • a mechanism movable in a plane direction orthogonal to the optical axis direction or a mechanism movable in both.
  • three-wavelength light receiving device 230, 240 in order to obtain the stability of the recording and reproducing of BD preferentially as described above, illustration of the photodetector 208 having a wavelength lambda 1 of the light for BD reaches
  • the DVD wavelength ⁇ 2 is deflected so as to reach the light receiving area not reached, or the DVD wavelength ⁇ 1 reaches the light receiving area (not shown) of the photodetector 208 where the light having the wavelength ⁇ 1 arrives.
  • the light for the wavelength ⁇ 3 for CD can be designed to reach a light receiving area common to the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2 .
  • the optical head device 200a is provided with the three-wavelength light source devices 210 and 220, and the optical head device 200b is provided with the three-wavelength light receiving devices 230 and 240.
  • the optical head device is not limited thereto. You may provide both the light source device for 3 wavelengths, and the light-receiving device for 3 wavelengths. By doing in this way, optical axis correction can be realized with higher accuracy, and stabilization of recording / reproduction of each optical disc can be realized.
  • the three-wavelength light source devices 210 and 220 include a grating element (not shown) that forms three beams in the optical path between the light source 201 and the optical axis correction element 211, or a collimator lens 202. Or may be integrated. Furthermore, the optical axis correction element 211 may be integrated with the polarization beam splitter 203. The three-wavelength light source devices 210 and 220 only need to be provided in the forward optical path to the polarization beam splitter 203. For example, the optical axis correction element 211 may be provided on the light emission side of the collimator lens 202. . Further, the optical head device 200a may be configured without the collimator lens 202.
  • the optical axis correction element 211 may be integrated with another optical element, or the surface of the other optical element may have an optical axis correction function.
  • the optical element is preferably a wave plate whose characteristic change due to the alignment of the optical axis correction element 211 is small.
  • the three-wavelength light receiving devices 230 and 240 may include a condensing lens in the optical path between the polarizing beam splitter 203 and the photodetector 208, or may include a cylindrical lens (not shown). May be integrated. Further, the optical axis correction element 231 may be integrated with the polarization beam splitter 203. The three-wavelength light receiving devices 230 and 240 may be provided in the return optical path from the polarization beam splitter 203. For example, the optical axis correction element 231 may be provided on the light incident side of the condenser lens 207. Good.
  • the optical axis correction element 231 may be integrated with another optical element, or the surface of the other optical element may have an optical axis correction function.
  • the optical element is preferably a wave plate that has a small characteristic change due to the alignment of the optical axis correction element 231.
  • Example 1 a design example of the three-wavelength light source device 10 shown in FIG. 2 will be described.
  • the one-wavelength light source 25 emits light of 405 nm from the first light emission point 21, and the two-wavelength light source 26 is 660 nm from the second light emission point 22. It is assumed that light is emitted and light of 785 nm is emitted from the third light emitting point 23.
  • the distance d between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22 is 120 ⁇ m, and the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 3 mm.
  • the optical axis correction element 30 is designed so that the optical axis of 405 nm light coincides with the optical axis of light of 660 nm (optical axis 44 in FIG. 2).
  • the direction of distance d is considered as the X-axis direction
  • the optical axis direction of light at 660 nm is considered as the Z-axis direction.
  • a glass substrate having a thickness of about 0.3 mm is used as the transparent substrates 34a and 34b. Then, on one surface of the glass substrate corresponding to the transparent substrate 34a, a high refractive index dispersion resin containing an aromatic hydrocarbon as a first material is formed with a uniform thickness of 17.7 ⁇ m. Next, the convex portion 31 is formed by processing the first material into a pseudo-blazed shape having a stepped shape of 8 steps so that the lattice pitch is 10.8 ⁇ m.
  • a resin containing zirconia fine particles is formed as the second material so as to fill the grooves formed by the convex portions 31, and is sandwiched between glass substrates having a thickness of 0.3 mm.
  • the second material is made of acrylic resin having refractive indexes of 1.551, 1.531, and 1.528 for 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light, respectively, 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light. It contains 11.5% by volume fraction of zirconia fine particles having refractive indexes of 2.021, 1.972, and 1.965, respectively. Table 1 summarizes the refractive indexes of the first material and the second material for these three wavelengths of light.
  • the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the first material are 1.584 and 33.4, respectively, and the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the second material are 1.583, respectively. 50.6.
  • the refractive index of the resin containing the zirconia fine particles as the second material can be calculated from Maxwell Garnet's theory. In this way, the second material is formed as the recess 32.
  • the lattice pitch direction is the X-axis direction.
  • the light source device 10 for three wavelengths having the optical axis correction element 30 designed in this way when light of three wavelengths is emitted from the light source 20, the light of 405 nm is diffracted because the refractive index is different at the concavo-convex portion 33, and is 660 nm. Both the light of 405 nm and the light of 785 nm pass straight through without being diffracted because the refractive index coincides with the concavo-convex portion 33, and the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 is the optical axis of the light of 660 nm. Match.
  • FIG. 20 shows the calculation result of the diffraction efficiency ⁇ of the optical axis correction element 30 of the present embodiment. Note that represents a zero-order diffraction efficiency eta 0, 1 order diffraction efficiency eta 1.
  • high first-order diffraction efficiency is shown for light in the 405 nm wavelength band
  • high zero-order diffraction efficiency that is, high straight transmittance is shown for light in the 660 nm wavelength band and light in the 785 nm wavelength band. Recognize.
  • the diffraction efficiency does not fluctuate greatly with respect to wavelength fluctuations centered on 405 nm, 660 nm, and 785 nm.
  • the third-order astigmatism in the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 is ⁇ 8 [mm ⁇ rms ]
  • the third-order coma aberration is ⁇ 10 [mm ⁇ rms ].
  • Example 2 In the second embodiment, a design example of the three-wavelength light source device 50 illustrated in FIGS. 8A and 8B will be described. Similarly, it is assumed that the light source 20 emits light of 405 nm from the first light emitting point 21 and the light source 26 emits light of 660 nm from the second light emitting point 22. Further, the position adjusting unit 55 includes a holder that fixes the optical axis correction element 30 and a mechanism that can move the holder in the direction of the optical axis 54 by adjusting a screw.
  • the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 3 mm.
  • the position in the optical axis direction by the position adjusting unit 55 is set to 0 ⁇ m as the reference position. That is, this position is given so as to correspond to a position where the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 3 mm.
  • the optical axis of the 405 nm light is made to coincide with the optical axis of the 660 nm light (the optical axis 54 in FIGS. 8A and 8B).
  • the position adjusting unit 55 The optical axis correction element 30 is moved along the optical axis 54 by ⁇ 530 ⁇ m. That is, if the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 2.47 mm, the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of the 660 nm light.
  • the position adjusting unit 55 causes the optical axis correcting element 30 to be Move along the optical axis 54 by +530 ⁇ m. That is, if the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 3.53 mm, the optical axis of 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of 660 nm light. And the diffraction efficiency in the optical axis correction element 30 shows the characteristic of FIG.
  • the position adjusting unit 55 performs light
  • the axis correction element 30 is moved along the optical axis 54 by ⁇ 1330 ⁇ m. That is, if the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 1.67 mm, the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of the 660 nm light. In FIG. 8B, when ⁇ x is ⁇ 50 ⁇ m, that is, the distance d between the first light emitting point 21 and the second light emitting point 22 is 70 ⁇ m, the position adjusting unit 55 performs light
  • the axis correction element 30 is moved along the optical axis 54 by ⁇ 1330 ⁇ m. That is, if the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 1.67 mm, the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of the 660 n
  • the position adjustment unit 55 causes the optical axis correction element 30 to be moved. It is moved along the optical axis 54 by +1330 ⁇ m. That is, when the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 30 is 4.33 mm, the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of the 660 nm light. And the diffraction efficiency in the optical axis correction element 30 shows the characteristic of FIG.
  • the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 coincides with the optical axis of the 660 nm light.
  • the third-order astigmatism of 405 nm light emitted from the optical axis correction element 30 is ⁇ 1 [mm ⁇ rms ]
  • the third-order coma aberration is ⁇ 3 [mm ⁇ rms ], thereby reducing each aberration. Can do.
  • the element is configured to have a distribution in the emitted light intensity (hereinafter referred to as “outgoing intensity”), and the other conditions are the same as in the first embodiment.
  • the three-wavelength light source device 10 is designed.
  • the optical axis correction element 30 of the present embodiment has a lattice pitch of 10.8 ⁇ m, which is the same as that of the first embodiment, but the height of the convex portion 31, that is, the height of the uppermost step of the eight-stage pseudo-blazed shape. Have a non-uniform configuration.
  • the light intensity (hereinafter referred to as “incident intensity”) at which 405 nm light is incident on the optical axis correction element 30 from the one-wavelength light source 25. It is an example of the profile which showed with the broken line and showed the output intensity with respect to incident intensity with the continuous line.
  • the incident intensity is normalized with the maximum value being 1.
  • the intensity of light emitted from the one-wavelength light source 25 has an intensity distribution in which the divergence angle at which the intensity becomes half value is 19.5 °.
  • the optical axis correction element 30 of the present embodiment for the light having the distribution of the incident intensity designs the height of the convex portion 31 so that the emission intensity is uniform. .
  • FIG. 21B shows an example of the distribution of the height (solid line) of the convex portion 31 and the first-order diffraction efficiency ⁇ 1 (broken line) for giving the emission intensity distribution with respect to the incident intensity distribution of FIG. It is.
  • the emission intensity can be made uniform. Accordingly, when the light emitted from the optical axis correction element 30 is collected, it is possible to suppress the deterioration of the spot shape caused by the unevenness of the emission intensity.
  • FIG. 21A is an example showing a profile in one cross section of the optical axis correction element 30, and the optical axis correction element 30 has a distribution in which the heights of the convex portions 31 are two-dimensionally different.
  • the elements are configured so as to have a distribution in the emission intensity, and other than that, the three-wavelength light source device 10 having the same conditions as in the first embodiment is designed.
  • the optical axis correction element 30 of the present embodiment has a lattice pitch of 10.8 ⁇ m, which is the same as that of the first embodiment, and the height of the convex portion 31, that is, the height of the uppermost stage of the pseudo blazed shape is 17.7 ⁇ m.
  • the pseudo blazed shape is not uniform.
  • the incident intensity of light of 405 nm from the one-wavelength light source 25 is indicated by a broken line on the optical axis correction element 30, and the emission intensity with respect to the incident intensity is indicated by a solid line. It is an example of the shown profile.
  • the incident intensity is normalized with the maximum value being 1.
  • the intensity of light emitted from the one-wavelength light source 25 has an intensity distribution in which the divergence angle at which the intensity becomes half value is 19.5 °.
  • the optical axis correction element 30 of the present embodiment for the light having the distribution of the incident intensity designs the shape of the convex portion 31 so that the difference in the emission intensity becomes small. .
  • FIG. 23B is an example showing a distribution of the first-order diffraction efficiency ⁇ 1 for providing an emission intensity distribution with respect to the incident intensity distribution of FIG. 24 (a), 24 (b), and 24 (c) correspond to three types of pseudo-blazed shapes for providing the first-order diffraction efficiency distribution shown in FIG. 23 (b).
  • the phase difference profile is shown. Specifically, in FIGS. 24A to 24C, when the grating pitch is normalized to 1 on the horizontal axis and light of 405 nm is incident in the same phase with respect to the position within the grating pitch, the height of the convex portion is increased. The phase difference of each position when the phase of the light which radiates
  • the phase difference on the vertical axis can be replaced with the height of the pseudo blaze.
  • FIG. 24A shows the first-order diffraction efficiency ⁇ 1 of 95%
  • FIG. 24B shows the first-order diffraction efficiency ⁇ 1 of 89%
  • FIG. 24C shows the first-order diffraction efficiency ⁇ 1.
  • the profile is 85%. Note that the height of the pseudo blazed shape shown in FIGS. 24B and 24C is equal to one of the eight heights of the pseudo blazed shape shown in FIG.
  • Example 6 the first material (convex portion 31) and the second material (concave portion 32) of the optical axis correction element 30 are inorganic materials, and other than that, the same conditions as in Example 1 are used.
  • the light source device 10 is designed.
  • As a first material Ta 2 O 5 is formed with a uniform thickness of 3.6 ⁇ m on one surface of a glass substrate corresponding to the transparent substrate 34a having a thickness of about 0.3 mm.
  • the convex portion 31 is formed by processing the first material into an eight-step pseudo-blazed shape having an equal step so that the lattice pitch is 10.8 ⁇ m.
  • a mixed film is formed and sandwiched between glass substrates having a thickness of 0.3 mm.
  • the first material has a refractive index of 2.286, 2.108, and 2.086 for 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light, respectively.
  • the second material has refractive indexes of 2.188, 2.085, and 2.067 for 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light, respectively.
  • Table 2 summarizes the refractive indices of the first material and the second material for these three wavelengths of light.
  • the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the first material are 2.130 and 14.2, respectively, and the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the second material are 2.101, respectively. 21.2.
  • the calculation result of the diffraction efficiency ⁇ of the optical axis correcting element 30 of the present embodiment is shown in FIG. Note that represents a zero-order diffraction efficiency eta 0, 1 order diffraction efficiency eta 1.
  • Example 7 a design example of the three-wavelength light source device 60a shown in FIGS. 9A and 9B will be described.
  • the light source 20 has the same conditions as in Example 1, including that the distance d between the first light emission point 21 and the second light emission point 22 is 120 ⁇ m.
  • the direction of the distance d corresponds to the X-axis direction
  • the optical axis 64 corresponds to the Z-axis direction.
  • the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b constituting the optical axis correction element 65 are formed of a diffraction grating by a combination of materials having wavelength dispersion characteristics of refractive index shown in Table 1. An uneven portion having an uneven shape is formed.
  • a high refractive index dispersion resin containing an aromatic hydrocarbon which corresponds to the first material in Table 1, is formed on a glass substrate having a thickness of 0.3 mm, and corresponds to the X-axis direction. Processing is performed so that the pitch of the quasi-blazed diffraction grating is 8 steps with a grating pitch of 6.8 ⁇ m and a height of 17.7 ⁇ m. Then, a groove formed by the convex portion made of the first material is filled with a resin containing zirconia fine particles corresponding to the second material in Table 1, and is sandwiched between glass substrates having a thickness of 0.3 mm. The first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b are produced.
  • the optical axes arranged in parallel so that the distance from the light source 20 to the first optical axis correction plate 65a is 1.0 mm and the distance from the light source 20 to the second optical axis correction plate 65b is 2.0 mm.
  • a three-wavelength light source device 60 having a correction element 65 is provided. Note that the longitudinal directions of the diffraction gratings of the first optical axis correction plate 65a and the second optical axis correction plate 65b are the same (Y-axis) direction, and the inclinations of the pseudo blazed shape are different from each other.
  • the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 65 coincides with the optical axis of the 660 nm light.
  • the diffraction efficiency in the optical axis correction element 65 shows the characteristic based on FIG.
  • Example 8 In Example 8, a design example of the light source device for three wavelengths 70 shown in FIGS. 11A and 11B will be described. Further, as the position adjusting unit 75, there are a holder for fixing the first optical axis correction plate 65a, a holder for fixing the second optical axis correction plate 65b, and a holder for fixing the second optical axis correction plate 65b. A device having a mechanism capable of moving in the direction of the optical axis 74 by screw adjustment is provided.
  • the distance from the light source 20 to the first optical axis correction plate 65a is 1.0 mm
  • the distance from the light source 20 to the second optical axis correction plate 65b is 2.0 mm.
  • the position adjusting unit 75 sets the position in the optical axis direction of the second optical axis correction plate 65b to 0 ⁇ m. That is, this position is given so as to correspond to a position where the distance between the light source 20 and the second optical axis correction plate 65b is 2.0 mm.
  • the optical axis of the 405 nm light is made to coincide with the optical axis of the 660 nm light (the optical axis 74 in FIGS. 11A and 11B).
  • ⁇ x ⁇ 20 ⁇ m
  • ⁇ z ⁇ 330 ⁇ m
  • the position adjustment unit 75 performs the second optical axis correction.
  • Example 9 a design example of the three-wavelength light source device 80 shown in FIG.
  • the light source 20 has the same conditions as in Example 1, including that the distance d between the first light emission point 21 and the second light emission point 22 is 120 ⁇ m.
  • the direction of the distance d corresponds to the X-axis direction
  • the optical axis 84 corresponds to the Z-axis direction.
  • the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b constituting the optical axis correction element 85 form a concavo-convex portion by a combination of materials having the refractive index wavelength dispersion characteristics shown in Table 1. To do.
  • a high refractive index dispersion resin containing an aromatic hydrocarbon corresponding to the first material in Table 1 is formed on a glass substrate having a thickness of 0.3 mm.
  • the shape satisfying the optical path difference function corresponding to ⁇ a (x, y) is approximated to a height of 8 steps by combination with a resin containing zirconia fine particles corresponding to the second material in Table 1. It is processed so as to have the shape.
  • the second material is filled on the first material, and is sandwiched by a glass substrate having a thickness of 0.3 mm to produce the first optical axis correction plate 85a.
  • a groove formed by forming and processing the first material in Table 1 on a glass substrate having a thickness of 0.3 mm is filled with the second material to form a glass substrate having a thickness of 0.3 mm.
  • optical axes arranged in parallel so that the distance from the light source 20 to the first optical axis correction plate 85a is 3.0 mm and the distance from the light source 20 to the second optical axis correction plate 85b is 3.7 mm.
  • a three-wavelength light source device 80 having a correction element 85 is provided. Of the three wavelengths of light emitted from the light source 20, the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 85 coincides with the optical axis of the 660 nm light. And the diffraction efficiency in the optical axis correction element 85 shows the characteristic based on FIG.
  • the third-order astigmatism in the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 85 is ⁇ 8 [mm ⁇ rms ]
  • the third-order coma aberration is ⁇ 9 [mm ⁇ rms ].
  • Example 10 In the tenth embodiment, a design example of the three-wavelength light source device 80 shown in FIGS. 13A and 13B will be described. Further, as the position adjusting unit 86, there are a holder for fixing the first optical axis correction plate 85a, a holder for fixing the second optical axis correction plate 85b, and a holder for fixing the second optical axis correction plate 85b. A device having a mechanism capable of moving in a plane direction orthogonal to the optical axis 84 by screw adjustment is provided.
  • the distance from the light source 20 to the first optical axis correction plate 85a is 3.0 mm
  • the distance from the light source 20 to the second optical axis correction plate 85b is 3.7 mm.
  • the first optical axis correction plate 85a and the second optical axis correction plate 85b have the position of the optical axis 84 and ⁇ It is assumed that the coordinates (x, y) of a (x, y) and ⁇ b (x, y) coincide with the position where (0, 0) is obtained. Also in this embodiment, the optical axis of 405 nm light is aligned with the optical axis of 660 nm light (optical axis 84 in FIG. 13B).
  • the position adjustment unit 86 performs the second optical axis correction.
  • the diffraction efficiency in the optical axis correction element 85 exhibits the characteristics based on FIG. Incidentally, the sign of [Delta] x, the sign of [Delta] x a, has the same relationship.
  • the position adjusting unit 86 performs the second optical axis correction.
  • the function ⁇ a (x, y) of the optical path difference with respect to the light of 405 nm in the uneven portion of the first optical axis correction plate 85a is the same as that of the ninth embodiment, and other conditions are the same as those of the ninth embodiment. To do.
  • the optical axis of the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 85 coincides with the optical axis of the 660 nm light. Further, the third-order astigmatism in the 405 nm light emitted from the optical axis correction element 85 becomes 0 [mm ⁇ rms ], and the third-order coma aberration becomes 0 [mm ⁇ rms ], so that each aberration can be reduced. .
  • the one wavelength light source 25 out of the light source 20 emits light of 405 nm from the first light emitting point 21, and the two wavelength light source 26 is 660 nm from the second light emitting point 22. It is assumed that light is emitted and light of 785 nm is emitted from the third light emitting point 23.
  • the distance d between the first light emission point 21 and the second light emission point 22 is 120 ⁇ m, and the light source 20 and the optical axis correction element 100 are 3 mm apart.
  • the optical axis correction element 100 is designed so that the optical axis of 660 nm light coincides with the optical axis of 405 nm light (optical axis 94 in FIG. 14B).
  • the direction of distance d is considered as the X-axis direction
  • the optical axis direction of light of 405 nm is considered as the Z-axis direction.
  • a glass substrate having a thickness of about 0.3 mm is used as the transparent substrates 104a and 104b. Then, on one surface of the glass substrate corresponding to the transparent substrate 104a, a high refractive index dispersion resin containing an aromatic hydrocarbon as a first material is formed with a uniform thickness of 33.3 ⁇ m. Next, the convex portion 101 is formed by processing the first material into a pseudo blazed shape having a stepped shape of 8 steps so that the lattice pitch is 17.6 ⁇ m. Next, a resin containing zirconia fine particles is formed as the second material so as to fill the grooves formed by the convex portions 101.
  • the second material is made of acrylic resin having refractive indexes of 1.551, 1.531, and 1.528 for 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light, respectively, 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light. It contains 16.0% by volume fraction of zirconia fine particles having a refractive index with respect to light of 2.021, 1.972, and 1.965, respectively. Table 3 summarizes the refractive indexes of the first material and the second material with respect to these three wavelengths of light in this example.
  • the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the first material are 1.584 and 33.4, respectively, and the refractive index nd and Abbe number vd at the d-line of the second material are 1.601 respectively. 50.9.
  • the refractive index of the resin containing the zirconia fine particles as the second material can be calculated from Maxwell Garnet's theory.
  • the second material is filled as the concave portion 102 to form the concave-convex portion 103, which is sandwiched between glass substrates having a thickness of 0.3 mm, and the optical axis correcting element 100 is manufactured.
  • the optical axis correcting element 100 designed in this way, when light of three wavelengths is emitted from the light source 20, the light of 405 nm does not diffract because the refractive index coincides with the concavo-convex portion 103, and passes straight. In addition, both the light of 660 nm and the light of 785 nm are diffracted because the refractive index is different in the concavo-convex portion 103. Furthermore, the optical axis of 660 nm light emitted from the optical axis correction element 100 coincides with the optical axis of 405 nm light.
  • FIG. 25 shows the calculation result of the diffraction efficiency ⁇ of the optical axis correcting element 100 of the present embodiment. Note that represents a zero-order diffraction efficiency eta 0, 1 order diffraction efficiency eta 1. From FIG. 25, it can be seen that high 0th-order diffraction efficiency for light in the 405 nm wavelength band, that is, high linear transmittance, and high first-order diffraction efficiency for light in the 660 nm wavelength band and light in the 785 nm wavelength band are shown. Recognize. In addition, FIG. 25 shows that the diffraction efficiency does not vary greatly even with wavelength variations centered on 405 nm, 660 nm, and 785 nm.
  • the three-wavelength light source device 90 of the twelfth embodiment further includes a holder for fixing the optical axis correction element 100 and a position adjustment unit having a mechanism that can move the holder in the direction of the optical axis 94 by adjusting the screw.
  • a position adjustment unit having a mechanism that can move the holder in the direction of the optical axis 94 by adjusting the screw.
  • this position is given so as to correspond to a position where the distance between the light source 20 and the optical axis correction element 100 is 3 mm.
  • the optical axis of the light of 660 nm is made to coincide with the optical axis of the light of 405 nm (the optical axis 94 in FIG. 14B).
  • the position adjusting unit moves the optical axis correction element 100 along the optical axis 94 by ⁇ 530 ⁇ m.
  • the optical axis of the 660 nm light emitted from the optical axis correction element 100 coincides with the optical axis of the 405 nm light.
  • the position adjustment unit moves the optical axis correction element 100 along the optical axis 94 by +530 ⁇ m.
  • the optical axis of 660 nm light emitted from the optical axis correction element 100 coincides with the optical axis of 405 nm light.
  • the diffraction efficiency in the optical axis correction element 100 shows the characteristic of FIG.
  • Comparative Example 1 As Comparative Example 1, an optical axis correction element that diffracts 405 nm light out of 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light as incident three-wavelength light and matches the optical axis of the 660 nm light is considered. .
  • the retardation value at the interface with air is a non-integer multiple of the wavelength with respect to 405 nm light, and the retardation value at the interface with air is 650 nm light and 785 nm light, respectively. Then, it is processed to be an integral multiple of the wavelength.
  • the refractive index of the quartz glass substrate is 1.479, 1.462, and 1.459 for the light of 405 nm, the light of 660 nm, and the light of 785 nm, respectively.
  • An optical axis correcting element having a four-stage pseudo-blazed shape with a height of 8.65 ⁇ m is manufactured.
  • FIG. 26 shows the calculation result of the diffraction efficiency ⁇ of the optical axis correction element of Comparative Example 1. Note that represents a zero-order diffraction efficiency eta 0, 1 order diffraction efficiency eta 1.
  • FIG. 26 shows a high first-order diffraction efficiency for 405 nm light and a high zero-order diffraction efficiency for 660 nm light and 785 nm light, but wavelength fluctuations occur for these predetermined wavelengths. Then, the diffraction efficiency of light of each wavelength varies steeply and stable diffraction efficiency cannot be obtained.
  • the first-order diffraction efficiency is 5% or less, and even if the light is corrected to a predetermined optical axis, a high amount of light cannot be stably obtained.
  • Comparative Example 2 As Comparative Example 2, the incident light of three wavelengths is diffracted by 660 nm light and 785 nm light among 405 nm light, 660 nm light, and 785 nm light.
  • an optical axis correction element With respect to the surface of the quartz glass substrate, the retardation value at the interface with air is an integral multiple of the wavelength with respect to 405 nm light, and the retardation value at the interface with air is 650 nm light and 785 nm light, respectively. Processing to be a non-integer multiple of the wavelength.
  • an optical axis correction element having a rectangular diffraction grating as a cross-sectional shape and a binary shape with a height of 0.84 ⁇ m is manufactured.
  • FIG. 27 shows the calculation result of the diffraction efficiency ⁇ of the optical axis correction element of Comparative Example 2. Note that represents a zero-order diffraction efficiency eta 0, 1 order diffraction efficiency eta 1.
  • FIG. 27 shows a high zero-order diffraction efficiency for 405 nm light and a predetermined first-order diffraction efficiency for 660 nm light and 785 nm light. Unlike the optical axis correction element of Comparative Example 1, the optical axis correction element of Comparative Example 2 does not have large fluctuations in diffraction efficiency due to wavelength fluctuations, but the first-order diffraction efficiency with respect to 660 nm light and 785 nm light is about 40%. Therefore, it is difficult to obtain a high light amount even if the optical axis is corrected to a predetermined optical axis.
  • the three-wavelength light source device of the present invention emits light of three wavelengths from light sources having different light emission points, and the remaining one is placed on the optical axis of light of a specific wavelength among these three wavelengths.
  • the optical axes of the two wavelengths of light can be matched.
  • the three-wavelength light receiving device of the present invention can match the optical axes of the remaining one or two wavelengths with the optical axes of the specific wavelengths among the three wavelengths having different optical axes. it can.
  • an optical head device capable of stabilizing recording / reproduction of each optical disc of BD, DVD, and CD can be obtained by using the light source device for three wavelengths and / or the light receiving device for three wavelengths of the present invention.
  • Optical axis correction element 20 Three-wavelength light source device 30, 65, 66, 85, 100, 160, 185, 211, 231 Optical axis correction element 20, 201 Light source 21 First Light emitting point 22 second light emitting point 23 third light emitting point 25 one wavelength light source 26 two wavelength light source 31, 101 convex portion 32, 102 concave portion 33, 103 concave and convex portions 34a, 34b, 104a, 104b transparent substrates 41, 51a, 51b, 61a, 61b, 71a, 71b, 81a, 81b, 91,151a, 151b, 181a, 181b wavelength lambda 1 of the light 42,62,82,92,152a, 152b, 182a, 182b wavelength lambda 2 of the light 43, 63,83,93,153a, 153b, 183a, light 183b wavelength ⁇ 3 44,54,64,74,84,

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Abstract

 波長が異なる少なくとも3つの光のうち、少なくとも1つの波長の光の偏向方向を変えて他の少なくとも1つの波長の光の光軸と一致させる3波長用光源装置、3波長用受光装置、これらを用いる光ヘッド装置を提供する。 発光点の位置がそれぞれ異なる、3波長の光を出射する光源20と、光軸補正素子30を備えた3波長用光源装置10において、光軸補正素子30は、凸部と、凸部の溝を埋めるように配置された凹部により、断面が凹凸形状を有し、凸部を構成する第1の材料と凹部を構成する第2の材料とは、3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光において屈折率が略一致するとともに、残りの波長の光において屈折率が異なり、光軸補正素子30は、屈折率が異なる波長の光が入射するとき、偏向させて出射する回折等の光学作用を発生して、他の波長の光の光軸と一致させる。

Description

3波長用光源装置、3波長用受光装置および光ヘッド装置
 本発明は、波長が異なる3つの光が入射して進行方向を揃える機能を有する光軸補正素子を備えた3波長用光源装置、3波長用受光装置および、光ストレージを扱う光学系として、CD、DVD、光磁気ディスクなどの光記録媒体および、「Blu-ray」(登録商標:以下BD)などの高密度光記録媒体(以下、「光ディスク」という)に情報の記録および/または再生(以下、「記録・再生」という。)を行う光ヘッド装置等に関する。
 BD、DVD、CD等の複数の光ディスクに対応した光ヘッド装置では、異なる規格の光ディスク毎に、波長の異なる光を出射する半導体レーザ素子等の光源が用いられる。そして、開口数NAの異なる対物レンズにより光ディスクの情報記録面に光源からの出射光が集光され、その反射光を例えば、ビームスプリッタにより分岐して光検出器にて受光することで、電気信号に変換して情報の記録・再生を行う。このとき、光源として、例えば、BDを記録・再生するために青紫色の波長帯の光を出射するレーザ素子と、DVDを記録・再生するために赤色の波長帯の光を出射するレーザ素子および、CDを記録・再生するために赤外の波長帯の光を出射するレーザ素子が、それぞれ個別に配置される構成が考えられる。
 ここで、光ヘッド装置を、BD、DVD、CDの光ディスク毎、独立した光学系に基づいて空間配置した部品を用いて構成する場合、光ヘッド装置が大型化し、重量が増加するとともに、光学部品の部品点数が増えるという問題がある。また、光源として、BD用の青紫色の波長帯の光を出射するレーザ素子と、DVD用の赤色の波長帯の光およびCD用の赤外の波長帯の光を出射するレーザ素子とが、個別に配置される光ヘッド装置の構成であっても、同様の理由により、とくに、薄型のノートパソコン等に、BD、DVD、CDを記録・再生できる光ヘッド装置を搭載する場合、求められる小型化、軽量化が実現できないという問題がある。そこで、光ヘッド装置にこれら3種類の波長帯(以下、「3波長」という。)の光を出射する光源として、例えば、1つのCANタイプのパッケージ内に3波長の光を出射する半導体が集積されて構成される、ハイブリッド型またはモノリシック型のレーザ素子を利用し、小型化、軽量化を実現することが検討されている。
 ところが、上述のように1つのCANパッケージ内に複数の波長帯の光を出射する構成のレーザ素子を用いる場合、各波長帯の光の発光点が空間的に離れてしまう。そのため、複数の波長帯の光が共通する光路を有する光学系において、複数の波長帯の光の光軸が一致しない。そして、このような光学系における光軸と、一方の波長帯の光の光軸と、を合わせると、他方の波長帯の光の光軸とは一致せず、そのために収差が発生してしまう。このように光学系において収差が発生すると、例えば、光ヘッド装置の場合、光ディスクで反射した光を、光検出器によって高い精度で信号検出ができず、安定した記録・再生ができないという問題がある。
 このため、光源から発射された2つの異なる波長の光のうち、一方の光は直進透過させるとともに、他方の光を偏向させ光学系の光軸を一致させる例として、複屈折媒体からなる2波長用偏向光学素子を用いる、2波長光源装置が報告されている(特許文献1)。
 また、発光点が異なる複数の波長帯の光について、光学系の光軸を一致させるために、入射するCD用/DVD用/BD用の3つの異なる波長の光のうち、例えば、CD用のレーザ光の光軸のみを回折させて、DVD用のレーザ光の光軸に整合させる回折格子を用いる光ヘッド装置が報告されている(特許文献2)。
日本国特開2001-209963号公報 日本国特開2006-099941号公報
 ところが、特許文献1の2波長光源装置に用いられる2波長用偏向光学素子は、複屈折媒体を用いており、入射する2つの波長の光の偏光状態を、互いに直交する直線偏光の光として設定しなければならないという制限がある。そのため、例えば、2波長用偏向光学素子に無偏光の光が入射させることはできず、また、互いに直交する直線偏光の光を入射させる場合でも直線偏光の偏光方向と、2波長用偏向光学素子の光学軸と、を精度よく整合させなければならないなど、設計自由度が低いという問題があった。
 また、特許文献2の光ヘッド装置に用いられる第1/第2の回折格子は、複屈折媒体ではなく、例えば、ガラスなどの等方性材料に格子パターンを形成しているので、入射する複数の波長の光の偏光状態についてはとくに制限がない。そして、入射するCD用/DVD用/BD用の3つの異なる波長の光のうち、CD用のレーザ光の光軸のみを回折させる場合、格子のステップの高さが、BD用の波長およびDVD用の波長の略整数倍、そしてCD用の波長の非整数倍となるように設定し、CD用の波長の光のみを回折している。しかし、ステップの高さを調整する場合、出射する光の波長が所望の波長に対してずれてしまうと、回折効率が変化しやすくなり、安定した光利用効率を得ることができない、という問題があった。とくに、半導体レーザは、使用する温度によって、出射する波長が変化するので、使用環境によって光利用効率が変化するため、光ディスクの安定した記録・再生が実現できないという問題もあった。
 本発明は、上記の問題を鑑みてなされたものであり、とくに3波長の光が入射するとき、特定の1つまたは2つの波長の光に対して偏向させることにより、光学系において少なくとも2つの波長の光の光軸を一致(「光軸補正」ともいう。)させる。そして、入射する光の偏光状態に依存せず、また、光利用効率の波長依存性が小さく、さらに、高い精度で所定の波長の光の光軸補正ができる、3波長用光源装置または3波長用受光装置、そしてこれらの装置のいずれかまたは両方を用いた光ヘッド装置を提供することにある。
 本発明は、互いに異なる帯域を有する3波長の光である、波長λの光、波長λの光、波長λの光(λ<λ<λ)を、それぞれ異なる発光点から出射する光源と、入射する前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光の進行方向を選択的に変えて出射する光軸補正素子と、有する3波長用光源装置であって、前記光軸補正素子は、第1の材料からなる凸部と第2の材料からなる凹部との組み合わせにより、断面が凹凸形状を有する凹凸部を有し、前記第1の材料の屈折率および前記第2の材料の屈折率は、前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光に対して、略一致するとともに、残りの波長の光に対して、異なり、前記3波長の光のうち、1つの波長の光が、残りの波長の少なくとも1つの光の光軸と一致して出射する3波長用光源装置を提供する。
 また、前記凹凸部の断面形状は、周期的なピッチとなる回折格子の形状を有するかまたは、前記回折格子形状に、前記3波長の光のうち偏向させる波長の光に対して収差を低減する光路差の分布を付加した形状を有する上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有する上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子の位置を、光軸方向または前記光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有し、前記3波長の光のうち光の進行方向を変える波長の光に対する、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板が発生する光路差の分布関数をΦ(x,y)、Φ(x,y)とするとき、Φ(x,y)=-Φ(x,y)である基準位置を有し、光軸と直交する平面方向に、前記光軸からのベクトル量をr、前記基準位置からのずれを示すベクトル量をΔrとするとき、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板は、前記Φ(x,y)と前記Φ(x,y)との差分を表す関数Φ(r)-Φ(r+Δr)が、
  Φ(r)-Φ(r+Δr)=α・x(±|Δr|)+β+A・x+W(x,y)、
  W(x,y)=a+a(x/r)+a(y/r)+a(x/r
    +a(x/r)・(y/r)+a(y/r+・・・
(但し、α、β、A、a、a、a、a、a、aは定数、rは開口サイズの規格化定数)の関係を満たす前記凹凸部の形状を有する上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子の位置を、光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致するとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なる上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なるとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致する上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記第1の材料と前記第2の材料の一方または両方が、無機材料を含有する上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、前記波長λは395~425nmの範囲の405nm波長帯、前記波長λは640~680nmの範囲の660nm波長帯、前記波長λは、765~805nmの範囲の785nm波長帯である上記の3波長用光源装置を提供する。
 また、互いに異なる帯域を有する3波長の光である、波長λの光、波長λの光、波長λの光(λ<λ<λ)のうち、1つまたは2つの波長の光の進行方向を選択的に変えて出射する光軸補正素子と、前記3波長の光を受光する光検出器と、を有する3波長用受光装置であって、前記光軸補正素子は、第1の材料からなる凸部と第2の材料からなる凹部との組み合わせにより、断面が凹凸形状を有する凹凸部を有し、前記第1の材料の屈折率および前記第2の材料の屈折率は、前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光に対して、略一致するとともに、残りの波長の光に対して、異なり、前記3波長の光のうち、1の波長の光が、残りの波長の光の少なくとも1つの光と一致して前記光検出器に到達する3波長用受光装置を提供する。
 また、前記凹凸部の断面形状は、周期的なピッチとなる回折格子の形状を有するかまたは、前記回折格子形状に、前記3波長の光のうち偏向させる波長の光に対して収差を低減する光路差の分布を付加した形状を有する上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有する上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子の位置を、光軸方向または前記光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有し、前記3波長の光のうち光の進行方向を変える波長の光に対する、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板が発生する光路差の分布関数をΦ(x,y)、Φ(x,y)とするとき、Φ(x,y)=-Φ(x,y)である基準位置を有し、光軸と直交する平面方向に、前記光軸からのベクトル量をr、前記基準位置からのずれを示すベクトル量をΔrとするとき、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板は、前記Φ(x,y)と前記Φ(x,y)との差分を表す関数Φ(r)-Φ(r+Δr)が、
  Φ(r)-Φ(r+Δr)=α・x(±|Δr|)+β+A・x+W(x,y)、
  W(x,y)=a+a(x/r)+a(y/r)+a(x/r
    +a(x/r)・(y/r)+a(y/r+・・・
(但し、α、β、A、a、a、a、a、a、aは定数、rは開口サイズの規格化定数)の関係を満たす前記凹凸部の形状を有する上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記光軸補正素子の位置を、光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える上記の3波長用受光装置を提供する。
 前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致するとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なる上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なるとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致する上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記第1の材料と前記第2の材料の一方または両方が、無機材料を含有する上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、前記波長λは395~425nmの範囲の405nm波長帯、前記波長λは640~680nmの範囲の660nm波長帯、前記波長λは、765~805nmの範囲の785nm波長帯である上記の3波長用受光装置を提供する。
 また、光源と、前記光源から出射した光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光を受光する光検出器と、前記光源から出射した光を前記対物レンズへ導くとともに、前記光ディスクで反射された光を前記光検出器へ導くビームスプリッタと、を備えた光ヘッド装置において、前記光源を含み、前記光源から前記ビームスプリッタ間の光路中に上記の3波長用光源装置が備えられる光ヘッド装置を提供する。
 さらに、光源と、前記光源から出射した光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光を受光する光検出器と、前記光源から出射した光を前記対物レンズへ導くとともに、前記光ディスクで反射された光を前記光検出器へ導くビームスプリッタと、を備えた光ヘッド装置において、前記光検出器を含み、前記ビームスプリッタから前記光検出器間の光路中に上記の3波長用受光装置が備えられる光ヘッド装置を提供する。
 本発明によれば、少なくとも3つの異なる波長帯である波長λ、波長λおよび波長λを用いる所定の光学系において、1つまたは2つの波長の光を偏向させて所定の光学系の光軸と一致させる、3波長用光源装置、3波長用受光装置を提供することができる。また、本発明の3波長用光源装置および/または3波長用受光装置を用いて、3波長の光に対して小型化、軽量化を実現するとともに、各波長の光に対応する光ディスクの安定した記録・再生が実現できる光ヘッド装置を提供することができる。
3波長用光源装置の概念的模式図(第1の実施形態)。 (a)3波長用光源装置の波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第1の実施形態)。(b)3波長用光源装置の波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第1の実施形態)。 光軸補正素子の断面模式図。 第1の材料の屈折率の波長分散特性および第2の材料の屈折率の波長分散特性の例を示すグラフ。 (a)ガラス材料について、C線における屈折率に対するh線における屈折率の関係を示すグラフ。(b)ガラス材料について、d線における屈折率に対するアッベ数の関係を示すグラフ。 (a)所定の光路差のプロファイル例。(b)所定の光路差に対する波長λの余剰のプロファイル例。(c)凹凸部の凹凸形状のプロファイル例。(d)凹凸部の凹凸形状の階段近似プロファイル例。 3波長用光源装置の概念的模式図(第2の実施形態)。 (a)設計中心の発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第2の実施形態)。(b)設計中心からずれた発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第2の実施形態)。 (a)3波長用光源装置の構成および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第3の実施形態)。(b)3波長用光源装置の構成および、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第3の実施形態)。 3波長用光源装置の構成および波長λの光に対する他の光学作用を示す模式図(第3の実施形態)。 (a)設計中心の発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第4の実施形態)。(b)設計中心からずれた発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第4の実施形態)。 (a)3波長用光源装置の構成および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第5の実施形態)。(b)3波長用光源装置の構成および、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第5の実施形態)。 (a)設計中心の発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第5の実施形態)。(b)設計中心からずれた発光点を有する3波長用光源装置の、波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第5の実施形態)。 (a)3波長用光源装置の構成および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第6の実施形態)。(b)3波長用光源装置の構成および、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図(第6の実施形態)。 光軸補正素子の断面模式図。 第1の材料の屈折率の波長分散特性および第2の材料の屈折率の波長分散特性の例を示すグラフ。 (a)3波長用受光装置の基本構成および、波長λの光、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図。(b)位置調整部を含む3波長用受光装置の構成および、波長λの光、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図。 (a)3波長用受光装置の他の構成および、波長λの光、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図。(b)位置調整部を含む3波長用受光装置の他の構成および、波長λの光、波長λの光および波長λの光に対する光学作用を示す模式図。 (a)3波長用光源装置を含む光ヘッド装置の模式図。(b)3波長用受光装置を含む光ヘッド装置の模式図。 実施例1の3波長用光源装置における光軸補正素子の、回折効率の波長依存性を示すグラフ。 (a)実施例4の3波長用光源装置における光軸補正素子の、入射強度および出射強度のプロファイル例。(b)実施例4の3波長用光源装置における光軸補正素子の、凸部高さおよび1次回折効率のプロファイル例。 実施例4の3波長用光源装置における光軸補正素子の、回折効率の波長依存性を示すグラフ。 (a)実施例5の3波長用光源装置における光軸補正素子の、入射強度および出射強度のプロファイル例。(b)実施例5の3波長用光源装置における光軸補正素子の、1次回折効率のプロファイル例。 (a)実施例5における光軸補正素子の、格子ピッチと位相差の関係(η=95%)。(b)実施例5における光軸補正素子の、格子ピッチと位相差の関係(η=89%)。(c)実施例5における光軸補正素子の、格子ピッチと位相差の関係(η=85%)。 実施例13の3波長用光源装置における光軸補正素子の、回折効率の波長依存性を示すグラフ。 比較例1の光軸補正素子において、回折効率の波長依存性を示すグラフ。 比較例2の光軸補正素子において、回折効率の波長依存性を示すグラフ。
 (3波長用光源装置の第1の実施形態)
  図1は、本実施形態に係る3波長用光源装置の概念的模式図である。3波長用光源装置10は、光源20と、光源20から発射する光の進行方向に備えられた光軸補正素子30を含む構成を有する。光源20は、波長λの光、波長λの光および、波長λ(λ<λ<λ)の光を出射する集積された半導体レーザ素子などから構成され、例えば、CANパッケージ内に一体化されている。また、光軸補正素子30は、屈折率が互いに異なる2つの材料が組み合わされており、これらの材料の境界線が凹凸をなす構造を有する。そして、後述するように、この凹凸によって、光軸補正素子30に入射する3波長の光うち、いずれか1つまたは2つの光を偏向させて、3波長の光のうち少なくとも2つの波長の光の光軸を一致させるように設定されている。なお、「偏向」は、「回折」の現象も含む意味で用いる。
 波長λ、波長λおよび波長λの組み合わせとしては、光ヘッド装置に適用させる場合、例えば、波長λとしてBD用の405nm波長帯(395~420nm)、波長λとしてDVD用の660nm波長帯(640~680nm)、そして、波長λとしてCD用の785nm波長帯(765~805nm)の組み合わせが考えられる。また、これらの波長の組み合わせはこれに限らない。例えば、3色のレーザ光を用いた投射型表示装置(プロジェクタ)用として用いられるBlue(420~480nm)となる450nm波長帯、Green(520~560nm)となる533nm波長帯およびRed(610~670nm)となる645nm波長帯をそれぞれ、これら波長λ、波長λおよび波長λとして設計するものであってもよい。さらに、他の波長帯の組合せであってもよい。
 次に、3波長用光源装置10の光学作用について説明する。図2(a)は、3波長の光のうち1つの波長の光に対する3波長用光源装置10の光学作用について示す模式図であり、図2(b)は、残り2つの波長の光に対する3波長用光源装置10の光学作用について示す模式図である。なお、図2(a)、図2(b)において、光源20は、パッケージ部分を表示していない。ここで、3波長の光を出射する光源20は、1波長光源25と、2波長光源26とが、一定の間隔で並べられて不図示のパッケージに収納されているものとする。また、1波長光源25は、波長λの光を第1の発光点21から出射し、2波長光源26は、波長λの光を第2の発光点22から出射するとともに、波長λの光を第3の発光点23から出射する。そして、所定の光学系の光軸を光軸44とすると、光軸44は、第2の発光点22上にあり、また、第1の発光点21と第2の発光点22との間は、距離dの間隔があるものとする。
 ここで、第1の発光点21および第3の発光点23は、光軸44からずれており、このうち、第1の発光点21から出射する波長λの光が、所定の光学系において、光軸補正素子30によって光軸44と同一の光軸となるように設定する。なお、実際の光は進行方向と直交する平面において有限の面積を有するが、図2(a)、図2(b)では、3波長用光源装置10の光学系において、各発光点から出射した代表的な光線についてのみ実線で示しており、以降の実施形態においても、そのように示す。光軸補正素子30は、図2(a)に示すように、波長λの光41に対してX軸方向に角度θだけ傾けて偏向させる光軸補正を行い、光軸44と一致させ、一方で、図2(b)に示すように波長λの光42および波長λの光43に対して光軸補正の作用は発生しない。つまり、特定の波長の光について波長選択的に光軸補正を行う機能を有する。このように例えば、1波長光源25と、2波長光源26とが独立して配置される場合、配置状態のばらつき等によって、とくに光軸のずれが生じやすい波長λの光41に対して光軸補正を行うことができる。
 次に、光軸補正素子30の具体的な構成について説明する。図3は、光軸補正素子30の断面模式図を示す例である。光軸補正素子30は、第1の材料からなる凸部31と、第2の材料からなる凹部32によって、断面形状が凹凸となるように組み合わされた凹凸部33を有する。なお、凹凸部33における凹凸(形状)とは、光軸補正素子30の断面において、第1の材料と第2の材料との境界線によってできる凹凸、という意味であり、以降の実施形態においても同様の意味で用いる。この凹凸部33は、例えば、図3に示すように断面が周期的なピッチを有する回折格子とすることができるが、後述するように周期的ではない凹凸の形状を有してもよい。凹部32は、凸部31の溝を埋めるように備えられていてもよく、図3のように、凸部31を覆うように備えられていてもよい。また、ここでは凹凸部33を挟持する透明基板34aおよび透明基板34bが備わって光軸補正素子30を構成するが、一方の透明基板が備わらない構成でもよい。また、透明基板34a、34bとしては、入射する光に対して透明であれば、樹脂板、樹脂フィルムなど種々の材料を用いることができるが、ガラスや石英ガラスなどの光学的等方性材料を用いると、透過光に複屈折性の影響を与えないため好ましい。
 凸部31を構成する第1の材料と凹部32を構成する第2の材料は、それぞれ均質で光学的に等方性な材料からなる。そのため、屈折率は入射する光の偏光状態には依存しない。そして、第1の材料と第2の材料と、の組み合わせとしては、以下に説明する屈折率の波長分散特性を有する。図4は、横軸に波長λ、縦軸に波長λの光に対する屈折率n(λ)を示し、第1の材料における屈折率の波長分散特性n(λ)を実線で、第2の材料における屈折率の波長分散特性n(λ)を破線で示した例である。
 図4では、光軸補正素子30に入射する3波長の光について、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが異なり、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが略一致し、さらに、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが略一致する特性を示したものである。なお、この場合、略一致とは、|n(λ)-n(λ)|の値に対する、|n(λ)-n(λ)|の値、|n(λ)-n(λ)|の値が、40%以下であり、この割合が、30%以下であれば好ましく、20%以下であればより好ましい。例えば、3波長用光源装置10を後述する光ヘッド装置に組み込み、さらに、λ=405nm、λ=660nm、λ=785nmとする場合を考える。そして、凹凸部33の断面の凹凸形状がブレーズ形状であるとき、660nmにおいて上記のように40%以下であれば、660nmの光の0次回折効率(直進透過率)η(660)が80%以上、30%以下、20%以下であれば、η(660)がそれぞれ、90%以上、95%以上となり、660nmの光について一定量の高い光量が得られる。
 また、図4の屈折率の波長分散特性を示す光軸補正素子30の凹凸部33は、波長λの光41に対して、光路差が発生して伝播方向が変化するのに対し、波長λの光42および波長λの光43に対して、光路差は発生しないので、直進透過する。そして、波長λの光41に対して、凹凸部33において変化する伝播方向を制御する設計とすることで、この場合、波長λの光41の光軸を光軸44に一致させる補正をすることができる。
 図4のような屈折率の波長分散特性n(λ)を示す第1の材料として、例えば、芳香族系炭化水素を含む樹脂材料や無機微粒子を含有した樹脂を用いることができる。芳香族系炭化水素化合物としては、ビフェニル構造やフェニルシラン構造を有するものを用いることができる。他にも、低アッベ数のゾルゲル材料や無機材料を用いてもよい。無機材料である場合、多層膜構造とすることで屈折率の波長分散特性を調整できるので、多層膜構造としてもよい。屈折率の波長分散特性n(λ)を示す第2の材料としては、脂肪族系炭化水素、フッ素系炭化水素、硫黄系炭化水素、ポリシロキサン系の樹脂などを用いることが可能である。また、これらの樹脂に無機微粒子を含むものを用いることも可能である。脂肪族系炭化水素としては、アダマンタン、ジアマンタン、トリシクロデカンなどの材料を選択すると高屈折率、高アッベ数の材料を得ることができるので好ましい。他にも、高アッベ数のゾルゲル材料や無機材料、無機材料による多層膜構造としてもよい。これらの無機微粒子やゾルゲル、無機材料に用いる材料として、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化タンタル、酸化ニオブ、酸化ジルコニウム、酸化タングステン、酸化インジウム、酸化スズ、酸化ハフニウム、酸化セリウム、酸化イットリウム、チタン酸バリウム、シリカ、アルミナなどが挙げられる。また、前述の無機材料を混合した材料を用いてもよい。一般的に無機材料は青色波長帯の光に対して耐光性を有しているので、青色波長帯の光を透過させる場合には第1の材料、第2の材料の少なくとも一つに無機材料を含有するとよい。さらに、第1の材料、第2の材料の少なくとも一つが、無機材料から構成されてもよい。なお、凸部31を第1の材料、凹部32を第2の材料とする組み合わせとしたが、凹凸部33の材料の組み合わせによって屈折率の波長分散特性を得るものであるので、凸部31に第2の材料、凹部32に第1の材料とする組み合わせであってもよい。
 また、第1の材料、第2の材料が樹脂を含有する材料であって、青色波長帯のように光子エネルギーが高い波長帯の光を透過させる場合、青色波長帯の光における屈折率が高い樹脂材料を用いると、樹脂材料の劣化が起こり得る。したがって、第1の材料、第2の材料として樹脂を含有する材料を用いる場合、この材料のd線(587.56nm)における屈折率ndとアッベ数vdとして、
  第1の材料: 1.5<nd<1.70、 10<vd<35、
  第2の材料: 1.5<nd<1.70、 35<vd<60、
となる範囲の値を選択するのが好ましい。
 次に、第1の材料、第2の材料が無機材料を含有する材料の場合について考える。図5(a)は、無機材料についてC線(656nm)における屈折率nCに対するh線(405nm)における屈折率nhの関係を表したグラフの例であり、具体的には、HOYA社のガラスのカタログ(http://www.hoya-opticalworld.com/japanese/datadownload/index.html 変更日:2010年4月21日)より抜粋したデータをプロットしたグラフである。図5(a)に示されるように、無機材料のC線における屈折率nCが高くなるほどh線における屈折率nhのばらつきが大きくなることがわかる。この例に基づき、全般的に、第1の材料と第2の材料の両方が無機材料を含有する場合、屈折率nCが高い材料を選択すると、屈折率nhの取り得る選択範囲が広がるという点で好ましい。
 このように、第1の材料、第2の材料が無機材料を含有する材料の場合、d線における屈折率ndとアッベ数vdとしては、
 第1の材料: nd>1.70、
        vd≦554.928/(nd)
              -132.831/(nd)+20.608、
 第2の材料: nd>1.70、
        vd>554.928/(nd)
              -132.831/(nd)+20.608、
となる範囲の値を選択するのが好ましい。
 また、図5(b)は、HOYA社のガラスのカタログのデータ(http://www.hoya-opticalworld.com/japanese/datadownload/index.html 変更日:2010年4月21日)より抜粋したデータを用いて、d線における屈折率ndに対するアッベ数vdの関係を表したグラフの例である。また、図5(b)中に、
 Vd=56.9581×(nd)-280.588×(nd)+356.349、
となる曲線を実線で示している。例えば、このような曲線を境界として屈折率、アッベ数が区分される2つの材料を、それぞれ、第1の材料と第2の材料として使用することで、回折するべき波長の光について、これらの材料の間で高い屈折率差が得られる。
 次に、凹凸部33の凹凸形状について説明する。本実施形態に係る3波長用光源装置10に用いる光軸補正素子30は、凹凸部33が、断面が周期的な凹凸となる回折格子を有する。とくに、波長λの光に対して、例えば、高い1次回折効率で回折光を発生するブレーズ形状または、ブレーズ形状を階段状に近似した、擬似ブレーズ形状を有することが好ましい。
 ここで、回折格子の周期を表す格子ピッチをP、波長をλ、回折次数をmとするとき、回折格子による回折角度θ´は、sinθ´=mλ/P、の関係を満たす。したがって、図2(a)に示す、所望の光軸補正角度θに対して、回折次数を決定して、光軸補正素子30が、sinθ=mλ/Pを満たすように格子ピッチPを設定するとよい。
 また、例えば、図3の凸部31に示すように、擬似ブレーズ形状は、フォトリソグラフィーとエッチングを繰り返すことにより形成することができる。また、これに限らず、ブレーズ形状や他の任意の凹凸形状も含め、切削や研削加工、金型を用いたプレス、モールドを用いたインプリント法などでも形成できる。また、凹部32は、例えば、凸部31の加工後に、例えば、樹脂やゾルゲル材料を塗布することによって形成できる。さらに、これに限らず、凹部32として無機材料を用いる場合、CVD法、バイアススパッタ法をはじめとするスパッタ法、真空蒸着法などを用いることができる。
 次に、特定の波長の光を偏向させる場合の、凹凸部33の凹凸(格子)形状の決定方法について説明する。光軸補正素子30に入射する特定の波長の光について進行方向を変えて出射する場合、波面の変化が生じるものとして考えることもできる。そして、図3に示すように、光軸補正素子30の透明基板面をX-Y平面とし、光軸44をZ軸方向とし、X-Y平面における光路差の分布を関数Φ(x,y)で定義する。このとき、以下の方法によって凹凸形状を決定するとよい。なお、(x,y)座標において、(x,y)=(0,0)は3波長用光源装置10の光軸44に相当する。
 まず、光軸補正素子30に特定の波長の光が入射して波面を変えて出射するとき、所望の角度θだけ偏向させて光軸補正が実現できるための、光軸補正素子30の光路差の分布を与える。図6(a)は、その所望の光路差を示す分布図をX軸方向について示したプロファイルの例である。ここで、図6(a)の光路差分布において、光軸補正の対象となる波長として、例えば、波長λに対する剰余を関数Φ´(x,y)とする。図6(b)はこの剰余の関数Φ´(x,y)を示したプロファイルである。
 次に、波長λの光に対する、第1の材料の屈折率と第2の材料の屈折率と、の差(=屈折率差)をΔn(λ)とし、凹凸形状の高さの分布をh(x,y)と定義すると、
  h(x,y)=Φ´(x,y)/Δn(λ)  ・・・ (1)
で与えることができる。図6(c)は、図6(b)に基づく、高さh(x,y)の分布を示すものである。そして、凹凸部33が図6(c)に示す分布となるように、例えば、凸部31となる第1の材料を加工して、凹部32となる第2の材料を、凸部31の溝に埋めることで実現できる。また、図6(d)は、図6(c)の高さの分布を階段形状にした図を示したものであり、このように近似させた分布であってもよい。なお、例として図6(d)に高さの分布を示すように、必ずしも周期的な凹凸形状に限らず、所望の光軸補正の特性に応じて適宜、凹凸形状の分布を与えるとよい。
 また、凹凸部33の凹凸形状は、例えば、図2(a)に示すように、特定の波長の光をX軸方向に傾けて偏向させる場合、光路差の分布を、関数Φ(x,y)とすると、
  Φ(x,y)=Ax  ・・・ (2)
として与えることができる(Aは、定数)。この場合、凹凸部33の凹凸形状は、この特定の波長の余剰分に基づいて与えると、周期的な回折格子の形状となる。また、凹凸部33は、周期的な回折格子の形状だけに限らない。光軸を補正する特定の波長の光が、光軸補正素子30に発散光として入射すると、非点収差、コマ収差等の収差が発生するが、これらの収差を低減させるため、凹凸部33の凹凸形状は、周期的な回折格子に、収差を低減するための光路差の分布を含む形状を付加する形状としてもよい。
 つまり、発生する収差に相当する光路差の分布を、関数W(x,y)で表し、光軸補正によって発生する収差を低減させるため、全体の光路差の分布を関数Φ(x,y)とすると、
  Φ(x,y)=Ax-W(x,y)  ・・・(3a)
  W(x,y)=a+a(x/r)+a(y/r)+a(x/r
    +a(x/r)・(y/r)+a(y/r+・・・ (3b)
とするとよい。なお、a、a、a、a、a、a、・・・は定数であり、rは規格化定数であり、収差を求める対象となる開口サイズと同程度の値となる。
 また、特定の波長の光についてのみX軸方向に傾けて偏向させる場合において、3次の非点収差および3次のコマ収差だけを補正させる場合、上記の式(3a)のW(x,y)として、
  W(x,y)=B{(x/r-(y/r
 +C[3{(x/r+(y/r)}-2]・(x/r) ・・・(3c)
を与えるとよい(B、Cは、定数)。
 このように、収差を低減させる光路差を含ませる場合、関数Φ(x,y)に対応する凹凸部33の凹凸の高さの分布h(x,y)は、周期的とはならない場合が多い。また、例えば、1波長光源25から出射する波長λの光の強度に分布を有する場合、凹凸部33の凹凸の高さ(凸部31の高さ)を調整することにより、回折効率の分布を変化させることができるので、光軸補正素子30を出射する光の強度分布を所望の分布に補正することもできる。とくに、光軸補正素子30を出射する光を他の光学系で集光させる場合、光の強度分布が均一であれば、光の強度(光量)分布に起因するスポット形状の劣化が抑制され、好ましい。
 また、光軸補正素子30を出射する光の強度分布を所望の分布を与える場合、凸部31の高さを一定値とし、凸部31の形状に分布を与えてもよい。例えば、図3は、凸部31が、各段の幅が等しい8段の擬似ブレーズ形状として一様に分布しているが、段数が異なる擬似ブレーズ形状や各段の幅が不均一となる擬似ブレーズ形状を含めることによって、光軸補正素子30を出射する光の強度分布を所望の分布に補正することもできる。この場合、各段の高さを一定の値とできるので、凸部31を形成するために、エッチングプロセスを利用する場合に、エッチング処理の回数を大きく増加することなく実現できる。また、擬似ブレーズ形状に限らず、ブレーズ形状でもよい。ブレーズ形状の場合、凸部31の高さが一定で、勾配が不均一となるブレーズ形状を含めることで、出射する光の強度分布を補正できる。また、光の強度分布を補正するために別途回折素子を設けたり、多層膜のパターニングなどによって透過する光量を調整する方法を用いてもよい。
 本実施形態に係る3波長用光源装置10の光軸補正素子30の凹凸部33の構成は、後述する他の実施形態に係る3波長用光源装置および、3波長用受光装置の光軸補正素子30にも適用できる。また、後述するように、光軸補正素子を、2つの光軸補正板によって構成する場合であっても、各光軸補正板は、光軸補正素子30の凹凸部33の種々の構成、つまり、断面が周期的な凹凸を有する回折格子の形状となる構成、または、さらに収差を低減するための光路差の分布を付加する凹凸の形状を有する構成、光の光量分布の補正を付加する構成などを適用することができる。
 (3波長用光源装置の第2の実施形態)
 図7は、本実施形態に係る3波長用光源装置の概念的模式図である。3波長用光源装置50は、3波長用光源装置10に対して、光軸補正素子30の位置を調整できる位置調整部55が付加されたものである。本実施形態では、3波長用光源装置10と同じ構成を有する、光源20および光軸補正素子30には、同じ番号を付して、説明の重複を避ける。位置調整部55は、光軸補正素子30をZ軸方向の1次元に移動できる機構を有するが、これに限らず、2次元、回転やチルトも含む3次元に移動できる機構を有してもよい。
3波長用光源装置50は、位置調整部55を備えることで、後述するように光源20に備えられた、1波長光源25と2波長光源26との位置に、ばらつきなどがある場合等、有効に所定の波長の光に対する光軸補正を行うことができる。具体的に、位置調整部55として、光軸補正素子30をホルダーに固定して、ホルダーごとネジ等によって光軸補正素子30の位置を調整する機能が付加されていたり、光軸補正素子30を固定する場所にガイドを備え、ガイドに沿って外部からマイクロメータで光軸補正素子30を調整する機能が付加されていたりしてもよい。また、位置調整部55は、光軸補正素子30の位置を固定した後にネジが取り外せるものであってもよい。また、例えば、1波長光源25が傾いて配置されており、第1の発光点21が、第2の発光点22と第3の発光点23を結ぶ直線上に無い場合、位置調整部55が、光軸補正素子30を傾ける調整をしてもよい。なお、後述する各実施形態に含まれる位置調整部についても同等の機能を有するものとする。
 図8(a)と図8(b)は、3波長用光源装置50において、光源20の1波長光源25と2波長光源26と、の位置が互いに異なる場合について模式的に示したものであり、それぞれ、1波長光源25から出射する波長λの光の代表的な光線を示したものである。まず、図8(a)は、図2(a)の3波長用光源装置10と同様に、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔がdであって、この位置関係が、設計中心となる光学系を示すものとする。また、3波長用光源装置50の光学系の光軸を、第2の発光点22上にある光軸54で示しており、1波長光源25から出射する波長λの光51aをX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正を行い、光軸54と一致させる。
 一方、図8(b)は、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔が、光源20の配置のばらつきによって設計中心からずれが生じ、d+Δxであるときの光学系について示したものである。ここで、図8(b)に示すように、設計中心となる光学系と同様に、波長λの光51bをX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正するために、位置調整部55によって、Z軸方向にΔzだけ光軸補正素子30を移動させるとよい。このとき、Δzは、
  Δz=Δx/tanθ  ・・・ (4)
の関係を満足すると、所望の光軸補正が可能となる。また、Δzとして大きい値を想定する場合、光軸補正素子30が移動可能な空間を広く与える必要がある。そのため、Δzとしては10mm以下となるように角度θを設定するとよく、1mm以下であればより好ましい。
 また、本実施形態に係る3波長用光源装置50の光軸補正素子30は、3波長用光源装置10と同様に、凹凸部33の断面の凹凸形状が周期的な回折格子の形状であってもよく、また、収差の補正分を付加した高さの分布h(x,y)を有する凹凸形状を有するものであってもよい。光軸補正素子30が、収差の補正を考慮する凹凸部の凹凸形状を有する場合、収差は光の径の大きさの関数となるため、位置調整部55によって設定される位置によって、光路差の分布W(x,y)の値が異なる。そのため、光軸補正素子30の可動範囲のうち、最も光の径が大きくなる位置における、収差補正のための光路差の分布W(x,y)を、上記の式(3b)のW(x,y)として与えるとよい。このようにすると、光軸補正素子30のZ軸方向の移動による光の径の変化に依存する収差変化の量を低減できるので好ましく、例えば、後述する光ヘッド装置に用いる場合、光ディスクの安定した記録・再生を実現することができる。また、光軸補正素子30は、第1の実施形態で示すように、入射する光の強度分布を補正する種々の構成を用いることもでき、以降の実施形態における光軸補正素子でも同様に用いることができる。
 (3波長用光源装置の第3の実施形態)
  図9(a)、図9(b)および図10は、本実施形態に係る3波長用光源装置の構成および光学作用を示す模式図である。図9(a)および図9(b)の3波長用光源装置60aは、光軸補正素子65が、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bと、を有し、これらが3波長の光路中に配置されるところが、3波長用光源装置10と異なる。図9(a)は、3波長の光のうち1つの波長の光に対する3波長用光源装置60aの光学作用について示す模式図であり、図9(b)は、残り2つの波長の光に対する3波長用光源装置60aの光学作用について示す模式図である。なお、光源20については、3波長用光源装置10と同じ番号を付して、説明の重複を避ける。また、3波長用光源装置60aの所定の光学系の光軸を光軸64とすると、光軸64は、第2の発光点22上にあり、また、第1の発光点21と第2の発光点22との間は、距離dの間隔があるものとする。
 また、図9(a)、図9(b)は、3波長用光源装置60aの光学系において、各発光点から出射した代表的な光線についてのみ実線で示す。光軸補正素子65は、図9(a)に示すように、波長λの光61aに対して、X軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正を行い、光軸64と一致させ、一方で、図9(b)に示すように波長λの光62および波長λの光63に対して偏向する作用は発生しない。
 ここで、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bは、光軸補正素子30と同様に、2つの異なる材料によって図示しない凹凸部を形成する。なお、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bは、いずれも、図4に示す屈折率の波長分散特性n(λ)、n(λ)を有する材料の組み合わせを含む構成とする。そして、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bは、波長λの光に対して回折角度θとなる回折格子形状を有する。また、収差を低減する光路差の分布を含む形状を付加する場合、2つの光軸補正板のうちいずれか一方に付加しても、両方に付加してもよい。このとき、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bとの間の距離をtとすると、t=d/tanθを満足するように設定するとよい。なお、tは、厳密には、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bにおいて、それぞれの凹凸部間の距離であり、透明基板の厚さは考慮されない。
 また、図10は、本実施形態の別の構成を示す3波長用光源装置60bの構成および光学作用を示す模式図であって、同様にX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正が実現できる。3波長用光源装置60bも、同様に2つの光軸補正板を有する光軸補正素子として光軸補正素子66を有する。なお、光軸補正素子66を構成する第1の光軸補正板66aおよび第2の光軸補正板66bは、それぞれ、第1の光軸補正板65aおよび第2の光軸補正板65bと回折角度が異なる例を示すため、異なる番号を付して表したものである。ここで、第1の発光点21から第1の光軸補正板66aまでの距離をtとする。また、光軸補正素子66は、第1の光軸補正板66aと第2の光軸補正板66bとがtの間隔で配置される構成であって、第1の光軸補正板66aは、波長λの光61bに対して回折角度θで回折し、第2の光軸補正板66bは、波長λの光61bに対して回折角度θで回折する。そして、tとtは、t×tanθ+t×tanθ=d、の関係を満たすように設定されていると、波長λの光61bの光軸を、光軸64と一致させることができる。なお、tおよびtは、厳密には、第1の光軸補正板66a、第2の光軸補正板66bにおいて、それぞれ、凹凸部を基準とした距離であり、透明基板の厚さは考慮されない。
 (3波長用光源装置の第4の実施形態)
  図11(a)および図11(b)は、本実施形態に係る3波長用光源装置の構成および光学作用を示す模式図である。3波長用光源装置70は、3波長用光源装置60aに対して、光軸補正素子65の位置を調整できる位置調整部75が付加された構成を有し、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bの構成は同じである。位置調整部75は、例えば、第2の光軸補正板65bのみを、Z軸方向に可動するものとするが、これに限らず、第1の光軸補正板65aのみ、または、第1の光軸補正板65aおよび第2の光軸補正板65bの両方を可動する機構を有するものであってもよい。また、図示しないが、3波長用光源装置60bに対して、光軸補正素子66の位置を調整できる位置調整部75が付加された構成であってもよい。さらに、位置調整部75は、第1の光軸補正板65aおよび/または第2の光軸補正板65bを、2次元、回転やチルトも含む3次元に移動できる機構を有してもよい。この場合も、3波長用光源装置の第2の実施形態と同様に、位置調整部75を備えることで、1波長光源25、2波長光源26の位置のばらつきなどがある場合に有効に光軸補正を行うことができる。
 図11(a)、図11(b)は、3波長用光源装置70において、光源20の1波長光源25と2波長光源26と、の位置が異なる場合について模式的に示したものであり、1波長光源25から出射する波長λの光の代表的な光線を示したものである。まず、図11(a)は、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔がdであって、この位置関係が、設計中心となる光学系を示すものとする。また、3波長用光源装置70の光学系の光軸を、光軸74で示しており、1波長光源25から出射する波長λの光71aをX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正を行い、光軸74と一致させる。そして、光軸74は、第2の発光点22上にあり、また、第1の発光点21と第2の発光点22との間は、距離dの間隔があるものとする。
 一方、図11(b)は、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔が、光源20のばらつきによって設計中心からずれが生じ、d+Δxであるときの光学系について示したものである。ここで、図11(b)に示すように、設計中心となる光学系と同様に、波長λの光71bをX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正するために、位置調整部75によって、Z軸方向に平行に、Δzだけ第2の光軸補正板65bを移動させるとよい。このとき、Δzは、上記の式(4)の関係を満足すると、所望の光軸補正が可能となる。なお、光軸補正素子65は、2つの光軸補正板を用いることで、回折角度θを大きくすることができるので、それによって、移動距離Δzを小さくすることができる。また、Δzは、3波長用光源装置の第2の実施形態と同様に、10mm以下となるように角度θを設定するとよく、1mm以下であればより好ましい。
 (3波長用光源装置の第5の実施形態)
 図12(a)および図12(b)は、本実施形態に係る3波長用光源装置の構成および光学作用を示す模式図である。3波長用光源装置80は、光源20と、光軸補正素子85と、光軸補正素子85の位置を調整できる位置調整部86を有する。また、光軸補正素子85は、第1の光軸補正板85aと第2の光軸補正板85bと、を有し、これらが3波長の光路中に配置される。位置調整部86は、例えば、第1の光軸補正板85aのみを、X軸方向に可動するものとするが、これに限らず、第2の光軸補正板85bのみ、または、第1の光軸補正板85aおよび第2の光軸補正板85bの両方を可動する機構を有するものであってもよい。さらに、位置調整部86は、第1の光軸補正板85aおよび/または第2の光軸補正板85bを、2次元、回転やチルトも含む3次元に移動できる機構を有してもよい。この場合も、位置調整部86を備えることで、1波長光源25と、2波長光源26との位置に、ばらつきなどがある場合、有効に光軸補正を行うことができる。
 図12(a)は、3波長の光のうち波長λの光に対する3波長用光源装置80の光学作用について示す模式図であり、図12(b)は、波長λの光および波長λの光に対する3波長用光源装置80の光学作用について示す模式図である。図12(a)に示すように、波長λの光81aに対してX軸方向に角度θだけ傾けて偏向することで、光軸補正を行い、光軸84と一致させ、一方で、図12(b)に示すように波長λの光82および波長λの光83に対して偏向する作用は発生しない。
 第1の光軸補正板85aと第2の光軸補正板85bは、いずれも波長λの光に対してのみ、光路差を与える分布となる凹凸形状をなす図示しない凹凸部を有する。具体的に、図12(a)のように、第1の光軸補正板85aと第2の光軸補正板85bは、設計中心となる基準位置において、入射する波長λの光がこの場合、X軸方向に角度θだけ傾けて偏向するように光路差の分布を有する組み合わせとなる。
 ここで、第1の光軸補正板85aの光路差の分布を表す関数をΦ(x,y)、第2の光軸補正板85aの光路差の分布を表す関数をΦ(x,y)とし、これらの関数の差分を表す関数をF(Δr)とするとき、
  F(Δr)=Φ(r)-Φ(r+Δr)
      =α・x(±|Δr|)+β+A・x+W(x,y) ・・・ (5)
を満足するようにΦ(x,y)およびΦ(x,y)を決定する。なお、ここで、rはX-Y平面において、第1の光軸補正板85aおよび第2の光軸補正板85bの基準位置を示すベクトル量であって、Δrは基準位置からのずれを示すベクトル量、そしてα、β、Aは、定数である。また、W(x,y)は、収差を低減する光路差の分布関数であり、上記の式(3b)または式(3c)を適用することができる。なお、(x,y)座標において、(x,y)=(0,0)は3波長用光源装置80の光軸84に相当する。
 上記の式(5)を満たすための、第1の光軸補正板85aおよび第2の光軸補正板85bの光路差の分布関数として、例えば、
  Φ(x,y)=b      ・・・ (6a)
  Φ(x,y)=-Φ(x,y)  ・・・ (6b)
とする組み合わせが考えられる(bは、定数)。なお、ここではA=0、W(x,y)=0として考えるが、チルト成分に関するA、収差の分布に関するW(x,y)が有限の値を示すものであってもよい。
 上記の式(6a)および式(6b)を満たす場合、例えば、第2の光軸補正板85bをX軸方向に平行にΔxだけ移動させると、
  F(Δr)=b-b(x-Δx
      =2bΔxx-bΔx     ・・・ (7a)
となる。
 ここで、上記の式(7a)の右辺の第2項は、実質的に光学系には影響を与えないので、式(7a)は、
  F(Δr)=2bΔxx        ・・・ (7b)
として与えることができる。そして、上記の式(7b)は、光軸補正素子85に入射する光の進行方向の変化を表すものであって、Δxに比例するので、Δxによって、光軸補正素子85を出射する光の進行方向(偏向方向)を制御することができる。
 また、上記の式(5)を満たす、光路差関数Φ(x,y)、Φ(x,y)の他の組み合わせとして、
  Φ(x,y)=b(x+y)      ・・・ (8a)
  Φ(x,y)=-Φ(x,y)       ・・・ (8b)
として(aは定数)、第1の光軸補正板85aまたは第2の光軸補正板85bをX軸方向に移動させてもよく(bは、定数)、また、
  Φ(x,y)=bxy           ・・・ (9a)
  Φ(x,y)=-Φ(x,y)       ・・・ (9b)
として(aは定数)、第1の光軸補正板85aおよび/または第2の光軸補正板85bをY軸方向に移動させてもよい(bは、定数)。また、これらの組み合わせに限らず、上記の式(5)を満たす、Φ(x,y)とΦ(x,y)と、の組み合わせであればよい。
 また、光軸補正素子85に発散光が入射し、第1の光軸補正板85aに入射する光の有効径と、第2の光軸補正板85bに入射する光の有効径と、が異なる場合について考える。このとき、各光軸補正板に入射する光の有効径の大きさrで規格化したX座標η=x/rと、Y座標ξ=y/rを、それぞれ、上記の光路差関数のx、yに置換することで、上記の式(5)を満足する。
 図13(a)、図13(b)は、3波長用光源装置80において、光源20の1波長光源25と2波長光源26と、の位置が異なる場合について模式的に示したものであり、1波長光源25から出射する波長λの光の代表的な光線を示したものである。なお、図13(a)の3波長用光源装置80は、図12(a)の3波長用光源装置80と同じ図面を示すものである。まず、図13(a)は、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔がdであって、設計中心となる光学系を示すものとする。また、3波長用光源装置80の光学系の光軸を、光軸84で示しており、光軸84は、第2の発光点22上にある。
 このとき、図13(a)において、波長λの光81aをX軸方向に角度θだけ傾けて偏向する光軸補正をし、光軸84を一致させるために、光軸補正素子85は、前述した第1の光軸補正板85aと第2の光軸補正板85bと、が特定の配置となるように位置調整部86で制御しているものとする。例えば、第1の光軸補正板85aと、第2の光軸補正板85bと、の光路差関数Φ(x,y)、Φ(x,y)との組み合わせが、それぞれ、式(6a)、式(6b)を満足するものとする。このとき、波長λの光が光軸補正素子85に入射して、X軸方向に角度θだけ傾けて偏向する、第1の光軸補正板85aと、第2の光軸補正板85bとの位置関係を基準位置とする。
 次に、図13(b)に示すように、第1の発光点21と第2の発光点22と、の間隔が、光源20のばらつきによって設計中心からずれが生じ、d+Δxであるときの光学系である場合について考える。このとき、波長λの光81bが入射して、光軸補正素子85でX軸方向に傾けて偏向し、光軸84と一致させる角度θ´を考えると、基準位置における角度θよりも大きい。そのため、位置調整部86によって、第2の光軸補正板85bを基準位置よりも、X軸方向にΔxずらすことで、角度θよりも大きい角度θ´の偏向角を容易に得ることができる。本実施形態では、例えば、所定の光学系において光軸方向の空間が狭い場合においても、高い精度の調整ができる。
 (3波長用光源装置の第6の実施形態)
  図14(a)および図14(b)は、本実施形態に係る3波長用光源装置の構成および光学作用を示す模式図である。第1~第5の3波長用光源装置の実施形態では、光軸補正素子は、入射する3波長の光のうち、波長λの光のみ進行方向を偏向させて出射させる光学作用を与えるものとした。これに対して、本実施形態に係る3波長用光源装置90は、光軸補正素子100に入射する3波長のうち、波長λの光および波長λの光のみ偏向させて出射させる光学作用を与える。なお、光源20については、3波長用光源装置10と同じ番号を付して、説明の重複を避ける。
 ここで、所定の光学系の光軸を光軸94とすると、光軸94は、第1の発光点21上にあり、また、第1の発光点21と第2の発光点22との間は、距離dの間隔があるものとする。光軸補正素子100は、図14(a)に示すように、波長λの光91に対して偏向作用は発生せず、一方で、図14(b)に示すように、波長λの光92に対してX軸方向に角度θだけ傾けて偏向して光軸94と一致させる光軸補正を行う。また、この場合、波長λの光93に対しては、光軸94に近づくように補正ができれば好ましく、また、光軸94と一致するとより好ましい。なお、とくに高い精度で光軸補正を行う光の対象としては、波長λの光に限らず、波長λの光を優先的に光軸補正するものであってもよい。以下は、波長λの光を優先的に光軸補正するものとして説明する。
 まず、上記のような光学作用を与えるため、本実施形態に係る3波長用光源装置90が、第1の実施形態に係る3波長用光源装置10と大きく異なるところは、具体的に、光軸補正素子100の凹凸部を構成する、第1の材料の屈折率の波長分散特性および/または、第2の材料の屈折率の波長分散特性が、光軸補正素子30と異なるところである。以下、光軸補正素子100について説明する。
 図15は、光軸補正素子100の断面模式図を示す例である。光軸補正素子100は、第1の材料からなる凸部101と、第2の材料からなる凹部102によって、断面形状が凹凸となる凹凸部103を有する。この凹凸部103は、例えば、図15に示すように断面の凹凸形状が、周期的なピッチを有する回折格子とすることができるが、周期的ではない形状を有してもよい。凹部102は、凸部101の溝を埋めるように備えられていてもよく、図15のように、凸部101を覆うように備えられていてもよい。また、ここでは凹凸部103を挟持する透明基板104aおよび透明基板104bが備わって光軸補正素子100を構成するが、一方の透明基板が備わらない構成でもよい。
 凸部101を構成する第1の材料と凹部102を構成する第2の材料は、それぞれ均質で光学的に等方性な材料からなる。そのため、屈折率は入射する光の偏光状態には依存しない。そして、第1の材料と第2の材料と、の組み合わせとしては、以下に説明する屈折率の波長分散特性を有するものが好ましい。図16は、横軸に波長λ、縦軸に波長λの光に対する屈折率n(λ)を示し、第1の材料における屈折率の波長分散特性n(λ)を実線、第2の材料における屈折率の波長分散特性n(λ)を破線で示した例である。
 図16では、光軸補正素子100に入射する3波長の光について、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが略一致し、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが異なり、さらに、波長λの光に対する各材料の屈折率、n(λ)とn(λ)とが異なる特性を示したものである。なお、この場合、略一致とは、|n(λ)-n(λ)|の値に対する、|n(λ)-n(λ)|の値が、40%以下であり、この割合が、30%以下であれば好ましく、20%以下であればより好ましい。
 図16の屈折率の波長分散特性を示す光軸補正素子100の凹凸部103は、波長λの光91に対して、光路差は発生しないので、直進透過するのに対し、波長λの光92および波長λの光93に対して、光路差が発生して伝播方向が変化する。そして、波長λの光92および/または波長λの光93に対して、凹凸部103において変化する伝播方向を制御する設計とすることで、この場合、波長λの光92および/または波長λの光93の光軸を補正することができる。
 図16のような屈折率の波長分散特性n(λ)を示す第1の材料として、例えば、芳香族系炭化水素を含む樹脂材料や無機微粒子を含有した樹脂を用いることができる。芳香族系炭化水素化合物としては、ビフェニル構造やフェニルシラン構造を有するものを用いることができる。他にも、低アッベ数のゾルゲル材料や無機材料を用いてもよい。無機材料である場合、多層膜構造とすることで屈折率の波長分散特性を調整できるので、多層膜構造としてもよい。屈折率の波長分散特性n(λ)を示す第2の材料としては、脂肪族系炭化水素、フッ素系炭化水素、硫黄系炭化水素、ポリシロキサン系の樹脂などを用いることが可能である。また、これらの樹脂に無機微粒子を含むものを用いることも可能である。脂肪族系炭化水素としては、アダマンタン、ジアマンタン、トリシクロデカンなどの材料を選択すると高屈折率、高アッベ数の材料を得ることができるので好ましい。他にも、高アッベ数のゾルゲル材料や無機材料、無機材料による多層膜構造としてもよい。これらの無機微粒子やゾルゲル、無機材料に用いる材料として、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化タンタル、酸化ニオブ、酸化ジルコニウム、酸化タングステン、酸化インジウム、酸化スズ、酸化ハフニウム、酸化セリウム、酸化イットリウム、チタン酸バリウム、シリカ、アルミナなどが挙げられる。また、前述の無機材料を混合した材料を用いてもよい。一般的に無機材料は青色波長帯の光に対して耐光性を有しているので、青色波長帯の光を透過させる場合には第1の材料、第2の材料の少なくとも一つに無機材料を含有するとよい。さらに、第1の材料、第2の材料の少なくとも一つが、無機材料から構成されてもよい。なお、凸部101を第1の材料、凹部102を第2の材料とする組み合わせとしたが、凹凸部103の材料の組み合わせによって屈折率の波長分散特性を得るものであるので、凸部101に第2の材料、凹部102に第1の材料とする組み合わせであってもよい。
 また、第1の材料、第2の材料が樹脂を含有する材料であって、青色波長帯のように光子エネルギーが高い波長帯の光を透過させる場合、青色波長帯の光における屈折率が高い樹脂材料を用いると、樹脂材料の劣化が起こり得る。したがって、第1の材料、第2の材料として樹脂を含有する材料を用いる場合、この材料のd線(587.56nm)における屈折率ndとアッベ数vdとして、
  第1の材料: 1.5<nd<1.70、 10<vd<35、
  第2の材料: 1.5<nd<1.70、 35<vd<60、
となる範囲の値を選択するのが好ましい。
 次に、凹凸部103の凹凸形状について説明する。凹凸部103は、断面が周期的な凹凸で、ブレーズ形状または擬似ブレーズ形状となる回折格子であってもよい。さらに、凹凸部103は、断面が周期的な凹凸形状に限らず、第1の実施形態に係る3波長用光源装置10の説明に基づき、回折格子の形状に加え、光軸補正によって発生する収差を低減するための光路差をさらに付加した、凹凸形状を有するものであってもよい。
 また、本実施形態の3波長用光源装置90は、代表的に、第1の実施形態に係る3波長用光源装置10のうち、光軸補正素子30を光軸補正素子100として置き換えた場合について説明したが、第1の実施形態のみの適用に限らない。つまり、第2~第5の実施形態に係る3波長用光源装置においても、光軸が第1の発光点21上にあることと、光軸補正素子に含まれる第1の材料の屈折率の波長分散特性と第2の材料の屈折率の波長分散特性と、の関係が異なることによる光軸補正対象の波長の光が異なること、以外は、同様の構成を適用することができる。
 したがって、第2の実施形態に係る3波長用光源装置50のように位置調整部があって、光軸補正素子100を光軸(Z軸)方向に可動する機構を有するものであってもよい。また、第3~第5の実施形態に係る3波長用光源装置のように、光軸補正素子100の代わりに2つの光軸補正板を有するもの、さらに、位置調整部を有し、この位置調整部によって2つの位相補正板のうち少なくとも1つを、光軸(Z軸)方向や、光軸と直交する平面(X-Y面)方向等に可動する機構を有するものであってもよい。このような構成によって、所望の波長λの光および/または波長λの光の光軸を所望の角度で補正することができる。とくに、位置調整部を付加することで、光源20の第1の発光点21と第2の発光点22との間隔、または、第1の発光点21と第3の発光点23との間隔にばらつきがあっても、所定の波長の光に対して適正に光軸補正を実現することができる。
 (3波長用受光装置の実施形態)
 これまで、3波長用光源装置の各実施形態について説明したが、本実施形態では、これらの3波長用光源装置に用いる各光軸補正素子を用いて、互いに光軸が異なって入射する3波長の光のうち、少なくとも2つの波長の光を同一の受光エリアに到達する3波長用受光装置について説明する。
 図17(a)は、3波長用受光装置150aの基本構成および光学作用を示す模式図であって、3波長用受光装置150aは、光軸補正素子160と光検出器170と、を有する。また、図17(a)において、光検出器170は、第1の受光エリア171と第2の受光エリア172を有し、これらの受光エリアに到達した光によって、信号検出などを行うことができる。なお、光検出器170は、2つの受光エリアを有するものとして説明したが、1つの受光エリアを有し、光軸補正素子160に入射する3波長の光をいずれも1つの受光エリアに到達させるものでもよい。さらに、光軸補正素子160は、入射する光の有効領域内に凹凸部を有する複数の領域を有し、それぞれの領域において特定の波長の光に対して互いに異なる方向に偏向させてもよい。この場合、複数の領域のうち、特定の領域に入射する光を偏向させて、他の波長の光が到達する受光エリアと共有して到達させるようにしてもよい。
 また、図17(a)は、3波長用受光装置150aの光軸補正素子160に、波長λの光151a、波長λの光152aおよび、波長λの光153aが、それぞれ、光軸が異なって入射する様子を示した図である。なお、実際の光は進行方向と直交する平面において有限の面積を有するが、図17(a)、代表的な光線についてのみ実線で示している。ここで、図17(a)において、とくに、波長λの光151aを例えば、X軸方向に回折角度θで回折し、偏向することで、光軸補正素子160を直進透過する波長λの光152aが到達する第1の受光エリア171に、波長λの光151aが到達するところに特徴がある。この場合、第1の受光エリア171を共有化できるため、光検出器170を小型化することができる。さらに、光検出器170は、光信号を電気信号に変換して光学系を制御する回路が備わっている場合があり、例えば、第1の受光エリア171を共有化することによって、この回路構成を簡素化させることもできる。
 3波長用受光装置150aに用いる光軸補正素子160としては、例えば、3波長用光源装置の第1の実施形態における、光軸補正素子30を用いることができる。つまり、屈折率の波長分散特性が互いに異なる2つの材料によって凹凸部を形成することで、入射する波長λの光151aについてX軸方向に角度θ傾けて偏向(回折)するとともに、波長λの光152aおよび波長λの光153aを直進透過する機能を有する。また、例えば、光軸補正素子160に、収束光が入射して光検出器170に集光して到達する光学系である場合、光軸補正素子160の凹凸部の断面形状は、回折格子の形状に、さらに収差補正をする光路差を付加する凹凸の形状を有する構成であってもよい。この場合、光路差の分布関数である、上記の式(3b)または式(3c)に基づき、各定数を決定して、所定の形状に設定することができる。なお、光軸補正素子に収束光が入射することによって発生する収差を補正するように、断面の形状を与えることは、他の3波長用受光装置の実施形態においても同様に適用できる。
 また、図17(b)は、光軸補正素子160と光検出器170、そして、光軸補正素子160を可動する位置調整部154を有する、3波長用受光装置150bの構成および光学作用を示す模式図である。3波長用受光装置150bは、光軸補正素子160に、波長λの光151b、波長λの光152bおよび、波長λの光153bが、それぞれ、光軸が異なって入射する様子を示した図であって、とくに、波長λの光151bが、設計中心の位置に対してずれて、光軸補正素子160に入射する様子を示すものである。つまり、図17(b)における、光軸補正素子160に入射する波長λの光151bと波長λの光152bとの距離は、図17(a)における光軸補正素子160に入射する波長λの光151aと波長λの光152aとの距離とは異なる。
 このとき、位置調整部154は、光軸補正素子160を光軸方向に可動させる機構を有することによって、波長λの光151bが、X軸方向に角度θ傾けて偏向して、第1の受光エリア171に到達するように調整することができる。つまり、この場合、光軸補正素子160と位置調整部154と、の関係は、3波長用光源装置の第2の実施形態における、光軸補正素子30と位置調整部55と、の関係に相当する。
 また、3波長用受光装置の実施形態としては、3波長用受光装置150a、150bだけに限らない。図18(a)は、光軸補正素子185と光検出器170と、を有する3波長用受光装置180aの構成および光学作用を示す模式図である。光軸補正素子185は、第1の光軸補正板185aと第2の光軸補正板185bを有し、入射する3波長の光のうち、波長λの光181aのみを、それぞれX軸方向に角度θ傾けて偏向する。なお、波長λの光182aおよび波長λの光183aはいずれも、直進透過する。そして、光軸補正素子185を直進透過する波長λの光182aが到達する第1の受光エリア171に、波長λの光181aが到達し、第1の受光エリア171を共有化できるため、光検出器170を小型化することができる。また、3波長用受光装置180aに用いる光軸補正素子185としては、例えば、3波長用光源装置の第3の実施形態における、光軸補正素子65、66を用いることができる。
 そして、図18(b)は、光軸補正素子185と光検出器170、そして、光軸補正素子185を可動する位置調整部186を有する、3波長用受光装置180bの構成および光学作用を示す模式図である。3波長用受光装置180bは、光軸補正素子185に、波長λの光181b、波長λの光182bおよび、波長λの光183bが、それぞれ、光軸が異なって入射する様子を示した図であって、とくに、波長λの光181bが、設計中心の位置に対してずれて、光軸補正素子185に入射する様子を示すものである。つまり、図18(b)における、第1の光軸補正板185aに入射する波長λの光181bと波長λの光182bとの距離は、図18(a)における第1の光軸補正板185aに入射する波長λの光181aと波長λの光182aとの距離とは異なる。
 このとき、位置調整部186は、光軸補正素子185のうち、例えば、第1の光軸補正板185aを光軸方向に可動させる機構を有することによって、波長λの光181bが、X軸方向に角度θ傾けて偏向し、第1の受光エリア171に到達するように調整することができる。つまり、この場合、光軸補正素子185と位置調整部186と、の関係は、3波長用光源装置の第4の実施形態における、光軸補正素子65と位置調整部75と、の関係に相当する。なお、位置調整部186は、第1の光軸補正板185a、第2の光軸補正板185b、または両方を可動させる機構を有するものであってもよい。
 このように、3波長用受光装置は、第1~第6の実施形態に係る3波長用光源装置と同様に特定の波長の光の光軸を補正する機能を有する。上記に説明した3波長用受光装置は、第1~第4の実施形態に係る3波長用光源装置の構成の一部を適用させた例について説明したが、第5、第6の実施形態に係る3波長用光源装置の構成に基づいて、3波長用受光装置として適用させてもよい。つまり、第5の実施形態に係る3波長用光源装置80の光軸補正素子85と、例えば、第2の光軸補正板85bを光軸と直交する平面方向に可動する位置調整部86に相当する構成を有するものであってもよい。また、光軸補正素子が、波長λの光のみを直進透過させ、波長λの光および波長λの光を偏向させる機能を有するように、図16に示すような材料の組み合わせを有し、3波長用光源装置の各構成に基づき、3波長用受光装置に適用させてもよい。なお、上記は、少なくとも2つの波長の光を同一の受光エリアに到達する3波長用受光装置について説明したが、これに限らない。入射する3波長の光に対して、それぞれ、異なる受光エリアを有しているような場合についても、光軸のずれを補正するために、第1~第6の実施形態に係る3波長用受光装置における光軸補正素子を用いて、3波長用受光装置とすることができる。
 (光ヘッド装置の実施形態)
 本実施形態は、上記の3波長用光源装置および/または3波長用受光装置を備えた光ヘッド装置について説明する。図19(a)は、3波長用光源装置210または3波長用光源装置220を備えた光ヘッド装置200aの模式図であり、図19(b)は、3波長用受光装置230または3波長用受光装置240を備えた光ヘッド装置200bの模式図である。なお、光ヘッド装置200a、200bに共通する部品には、同じ番号を付している。
 最初に、光ヘッド装置200a、200bに共通する主な光ヘッド装置の構成とその機能について説明する。光源201は、3波長の光を出射する半導体レーザ素子等である。3波長となる波長λはBD用の405nm波長帯の光、波長λはDVD用の660nm波長帯の光、そして波長λはCD用の785nm波長帯の光であって、これらは、同一方向の直線偏光の光が出射するものとする。出射した3波長の光はコリメータレンズ202で平行光となり、偏光ビームスプリッタ203を直進透過する。そして、1/4波長板204で円偏光の光となって対物レンズ205によって光ディスク206の情報記録面に集光する。なお、光源201から光ディスク206までの光路を「往路」と定義する。
 そして、光ディスク206で反射された3波長の光は、再び対物レンズ205を透過し、1/4波長板204によって、往路と直交する直線偏光の光に変換されて、偏光ビームスプリッタ203で反射され、集光レンズ207によって集光されて光検出器208の各受光エリアに到達する。なお、光ディスク206から光検出器208までの光路を「復路」と定義する。また、光検出器208は、光ディスク206に記録された情報の再生信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などの光情報が検出される。
 光ヘッド装置200a、200bは、図示しないが、往路の光路中に、光を回折して3ビーム化するためのグレーティング素子が備えられてもよい。また、図示しないが、フォーカスエラー信号に基づいて対物レンズ205を光軸方向に移動制御するフォーカスサーボ、トラッキングエラー信号に基づいて対物レンズ205を光軸と垂直方向に移動制御するトラッキングサーボを備える。
 ここで、まず、光ヘッド装置200aにおける3波長用光源装置210、3波長用光源装置220について説明する。そして、3波長用光源装置210および3波長用光源装置220は、共通して光源201および光軸補正素子211を含む。また、3波長用光源装置220は、位置調整部221をさらに備える構成である。つまり、光軸補正素子211は、第1~第6の実施形態に係る3波長用光源装置の各光軸補正素子に相当するものであり、例えば、上記の光軸補正素子30のような構成や、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bとを含む、上記の光軸補正素子65のような構成等に置き換えることができる。
 また、位置調整部221は、上記の位置調整部55、位置調整部75のように光軸補正素子211を光軸方向に可動する機構、上記の位置調整部86のように光軸補正素子211を光軸方向と直交する平面方向に可動する機構、またはその両方に可動する機構等を備える。ここで、3波長の光がそれぞれ、異なる発光点から出射する光源201を含む、3波長用光源装置210、220は、例えば、BD用の波長λの光の光軸を、DVD用の波長λの光の光軸に合わせるように偏向させる機能を有する。
 とくに、光源201が、第1~第6の実施形態に係る3波長用光源装置で説明した光源20のように、1波長用光源25と2波長用光源26を備える場合について考える。このとき、DVD用の波長λの光の発光点と、BD用の波長λの光の発光点との間隔のばらつきによって生じる、これらの波長の光の間に生じる光軸のずれを補正することが以下の理由で重要である。
 まず、光ヘッド装置200a、200bにおいて光軸のずれが発生したまま、光ディスク206に集光したり、光検出器208に集光したりすると、一定量の収差が発生するため、光ディスクの記録・再生特性の安定性を低下させる原因となり得る。そして、とくに、記録密度の高い光ディスクは短波長の光を利用するが、その分、記録密度の低い光ディスクの光学系に比べ、光学部品の調整マージンも厳しく制限される。そのため、発光点が異なる複数の光のうち、この場合、最も短波長であるBD用の波長λの光の光軸を、所定の方向に優先的に調整することで、BDに対する記録・再生が安定して行われる。
 そのため、光ヘッド装置200aにおける3波長用光源装置210または3波長用光源装置220として、第1~第6の実施形態に係る各3波長用光源装置を用いることで、DVD用の波長λの光の光軸に、BD用の波長λの光の光軸を一致するように偏向する光軸補正をしたり、BD用の波長λの光の光軸に、DVD用の波長λの光軸を、CD用の波長λの光軸よりも優先的に一致するように偏向する光軸補正をしたりすることが好ましい。また、CD用の波長λの光も、これらの光軸に一致するように設計できれば、さらに好ましい。
 次に、光ヘッド装置200bにおける3波長用受光装置230、3波長用受光装置240について説明する。ここで、3波長用受光装置230および3波長用受光装置240は、共通して光軸補正素子231および光検出器208を含む。また、3波長用受光装置240は、位置調整部241をさらに備える構成である。そして、光軸補正素子231は、第1~第6の実施形態に係る3波長用光源装置に基づく、上記の実施形態に係る3波長用受光装置の各光軸補正素子に相当するものであり、例えば、上記の光軸補正素子30のような構成や、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bとを含む、上記の光軸補正素子65のような構成などに置き換えることができる。
 また、位置調整部241は、上記の位置調整部55、位置調整部75のように光軸補正素子231を光軸方向に可動する機構、上記の位置調整部86のように光軸補正素子231を光軸方向と直交する平面方向に可動する機構、またはその両方に可動する機構等を備える。ここで、3波長の光がそれぞれ、光ディスク206を反射して、3波長用受光装置230、240に光軸が異なって入射する場合を考える。このとき、3波長用受光装置230、240は、上記のようにBDの記録・再生の安定性を優先的に得るために、BD用の波長λの光が到達する光検出器208の図示しない受光エリアに、DVD用の波長λの光が到達するように偏向するかまたは、BD用の波長λの光が到達する光検出器208の図示しない受光エリアに、DVD用の波長λの光が、CD用の波長λの光よりも優先的に到達するように偏向して光軸補正をすることが好ましい。また、CD用の波長λの光も、波長λの光および波長λの光に共通の受光エリアに到達するように設計できれば、さらに好ましい。
 なお、光ヘッド装置200aでは、3波長用光源装置210、220を備え、光ヘッド装置200bでは、3波長用受光装置230、240を備える例を示したが、これに限らず、光ヘッド装置は、3波長用光源装置と3波長用受光装置と、の両方を備えてもよい。このようにすることで、より、高い精度で光軸補正を実現することができ、各光ディスクの記録・再生の安定化を実現することができる。
 また、光ヘッド装置200aにおいて、3波長用光源装置210、220は、光源201と光軸補正素子211との間の光路中に、3ビーム化する図示しないグレーティング素子が備わっていたり、コリメータレンズ202が備わったりして、一体化されていてもよい。さらに、光軸補正素子211が偏光ビームスプリッタ203と一体化されていてもよい。なお、3波長用光源装置210、220は、偏光ビームスプリッタ203までの往路の光路中に備わっていればよく、例えば、コリメータレンズ202の光出射側に光軸補正素子211が備わっていてもよい。さらに、光ヘッド装置200aは、コリメータレンズ202が備わらない構成であってもよい。光軸補正素子211は、他の光学素子と一体化されていてもよく、他の光学素子の表面に光軸補正機能を持たせてもよい。光学素子としては、光軸補正素子211の位置合わせによる特性変化が小さい波長板のようなものが好ましい。
 また、光ヘッド装置200bにおいて、3波長用受光装置230、240は、偏光ビームスプリッタ203と光検出器208との間の光路中に集光レンズが備わっていたり、図示しないシリンドリカルレンズが備わったりして一体化されていてもよい。さらに、光軸補正素子231が偏光ビームスプリッタ203と一体化されていてもよい。なお、3波長用受光装置230、240は、偏光ビームスプリッタ203からの復路の光路中に備わっていればよく、例えば、集光レンズ207の光入射側に光軸補正素子231が備わっていてもよい。光軸補正素子231は、他の光学素子と一体化されていてもよく、他の光学素子の表面に光軸補正機能を持たせてもよい。光学素子としては、光軸補正素子231の位置合わせによる特性変化が小さい波長板のようなものが好ましい。
 (実施例1)
  実施例1では、図2に示す3波長用光源装置10の設計例について説明する。まず、3波長用光源装置10における、光源20のうち、1波長光源25は、第1の発光点21より405nmの光を出射し、2波長光源26は、第2の発光点22より660nmの光を出射するとともに、第3の発光点23より785nmの光を出射するものとする。そして、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが120μm、また、光源20と光軸補正素子30との距離が3mmであるものとする。そして、本実施例では、660nmの光の光軸(図2の光軸44)上に405nmの光の光軸を一致させるように光軸補正素子30を設計する。ここで、距離dの方向をX軸方向、660nmの光の光軸方向をZ軸方向として考える。
 図3の光軸補正素子30において、透明基板34a、34bとして、厚さ約0.3mmのガラス基板を用いる。そして、透明基板34aに相当するガラス基板の一方の面に、第1の材料として、芳香族系炭化水素を含有する高屈折率分散樹脂を、17.7μmの均一な厚さで形成する。次に、第1の材料について、格子ピッチが10.8μm、となるように断面が、8段の階段状の擬似ブレーズ形状に加工して、凸部31を形成する。次に、凸部31によってできる溝を充填するように、第2の材料として、ジルコニア微粒子を含有する樹脂を形成して、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持する。第2の材料は、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、1.551、1.531、1.528となるアクリル樹脂に、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、2.021、1.972、1.965となるジルコニア微粒子を、体積分率で11.5%含有するものである。これら3波長の光に対する第1の材料および第2の材料の屈折率を表1にまとめる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 ここで、第1の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ1.584、33.4であり、第2の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ1.583、50.6である。
 なお、第2の材料であるジルコニア微粒子を含有する樹脂の屈折率は、マクスウェル・ガーネットの理論から計算することができる。このように第2の材料を凹部32として形成する。このように形成した、回折格子形状を有する凹凸部33は、(λ=)405nmの光に対する光路差の関数Φ(x,y)を与えると、Φ(x,y)={λ/(2π)}×Ax、の関係において、λ=0.405×10-3[mm]、A=-581.4[mm-1]として与えたものに相当する。なお、この場合、格子ピッチの方向がX軸方向である。
 このように設計した光軸補正素子30を有する3波長用光源装置10について、光源20より3波長の光を出射すると、405nmの光は凹凸部33で屈折率が異なるので回折し、また、660nmの光および785nmの光はいずれも、凹凸部33で屈折率が一致するので回折せずに直進透過し、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。
 次に、本実施例の光軸補正素子30の回折効率ηの計算結果を図20に示す。なお、0次回折効率をη、1次回折効率をηで表す。図20より、405nm波長帯の光に対して高い1次回折効率を示すとともに、660nm波長帯の光および785nm波長帯の光に対して高い0次回折効率、つまり高い直進透過率を示すことがわかる。また、図20より、405nm、660nmおよび785nmを中心とする波長変動に対しても大きく回折効率が変動しないことがわかる。そして、本実施例において、光軸補正素子30を出射する405nmの光における、3次の非点収差が-8[mmλrms]となり、3次のコマ収差が-10[mmλrms]となる。なお、これらの収差は、開口の半径を0.27mmとして、計算したものであり、以降の実施例における、各収差の値も、同様に、開口の半径を0.27mmとしたものである。
 (実施例2)
  実施例2では、図8(a)、図8(b)に示す3波長用光源装置50の設計例について説明するが、光軸補正素子30としては、実施例1と同じ構成のものを用い、光源20も同様に、1波長光源25は、第1の発光点21より405nmの光を出射し、2波長光源26は、第2の発光点22より660nmの光を出射するものとする。また、位置調整部55として、光軸補正素子30を固定するホルダーと、そのホルダーをネジ調整によって光軸54方向に移動できる機構を有するものを備える。ここで、実施例1と同様に、光源20と光軸補正素子30との距離は3mmである。また、第1の発光点21と第2の発光点との距離dが120μmのとき、位置調整部55による光軸方向の位置を基準位置として、0μmと設定する。つまり、この位置が、光源20と光軸補正素子30との距離を3mmとする位置、に相当するように与える。そして、本実施例では、660nmの光の光軸(図8(a)、図8(b)の光軸54)上に405nmの光の光軸を一致させる。
 次に、光源20として、図8(b)において、Δxが-20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが100μmであるとき、位置調整部55によって、光軸補正素子30を光軸54に沿って-530μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子30との間の距離を2.47mmとすると、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。また、図8(b)において、Δxが+20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが140μmであるとき、位置調整部55によって、光軸補正素子30を光軸54に沿って+530μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子30との間の距離を3.53mmとすると、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子30における回折効率は、実施例1と同様に、図20の特性を示す。
 また、光源20として、図8(b)において、Δxが-50μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが70μmであるとき、位置調整部55によって、光軸補正素子30を光軸54に沿って-1330μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子30との間の距離を1.67mmとすると、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。また、図8(b)において、Δxが+50μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが170μmであるとき、位置調整部55によって、光軸補正素子30を光軸54に沿って+1330μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子30との間の距離を4.33mmとすると、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子30における回折効率は、実施例1と同様に、図20の特性を示す。
 (実施例3)
  実施例3では、実施例1における光軸補正素子30の凹凸部33における、(λ=)405nmの光に対する光路差の関数Φ(x,y)について、収差補正を考慮して、
  Φ(x,y)={λ/2π}×{Ax+Bx+Cy+Dxy+Ex
とし、A=-586.3[mm-1]、B=1.4[mm-2]、C=-1.4[mm-2]、D=20.6[mm-3]、E=20.6[mm-3]として与える凹凸形状とし、それ以外は、実施例1と同じ条件とする。
 このとき、実施例1と同様に、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。さらに、光軸補正素子30を出射する405nmの光における、3次の非点収差が-1[mmλrms]となり、3次のコマ収差が-3[mmλrms]となり、各収差を低減することができる。
 (実施例4)
  実施例4では、光軸補正素子30の特性として、出射する光強度(以下、「出射強度」という。)に分布を有するように素子を構成し、それ以外は、実施例1と同じ条件となる3波長用光源装置10を設計する。具体的に、本実施例の光軸補正素子30は、格子ピッチが実施例1と同じ10.8μmであるが、凸部31の高さ、つまり、8段の擬似ブレーズ形状の最上段の高さが、不均一な構成を有する。
 図21(a)は、光軸44を横軸0の位置としたとき、光軸補正素子30に1波長光源25から405nmの光が入射する光強度(以下、「入射強度」という。)を破線で示し、入射強度に対する出射強度を実線で示したプロファイルの一例である。なお、入射強度は最大値を1として規格化している。また、1波長光源25から発射する光の強度は、その強度が半値となる広がり角が19.5°となる強度分布を有するものとする。ここで、1波長光源25の発光点は光軸44上には無いので、405nmの光の入射強度は、最大となる位置が光軸44からずれて分布している。この入射強度の分布を有する光に対して本実施例の光軸補正素子30は、図21(a)に示すように、出射強度が均一となるように、凸部31の高さを設計する。
 図21(b)は、図21(a)の入射強度分布に対する出射強度分布を与えるための、凸部31の高さ(実線)および1次回折効率η(破線)の分布を示した例である。このように、405nmの光が入射する各位置で、凸部31の高さを調整することで、出射強度を均一化することができる。これより、光軸補正素子30を出射する光を集光する場合、出射強度の不均一に起因するスポット形状の劣化を抑制することができる。なお、図21(a)は、光軸補正素子30の一つの断面におけるプロファイルを示した例であり、光軸補正素子30は、2次元的に凸部31の高さが異なる分布を有する。
 (実施例5)
  実施例5では、光軸補正素子30の特性として、出射強度に分布を有するように素子を構成し、それ以外は、実施例1と同じ条件となる3波長用光源装置10を設計する。具体的に、本実施例の光軸補正素子30は、格子ピッチが実施例1と同じ10.8μm、凸部31の高さ、つまり、擬似ブレーズ形状の最上段の高さが、17.7μmであるが、擬似ブレーズ形状が不均一な構成を有する。
 図23(a)は、光軸44を横軸0の位置としたとき、光軸補正素子30に1波長光源25から405nmの光の入射強度を破線で示し、入射強度に対する出射強度を実線で示したプロファイルの一例である。なお、入射強度は最大値を1として規格化している。また、1波長光源25から発射する光の強度は、その強度が半値となる広がり角が19.5°となる強度分布を有するものとする。ここで、1波長光源25の発光点は光軸44上には無いので、405nmの光の入射強度は、最大となる位置が光軸44からずれて分布している。この入射強度の分布を有する光に対して本実施例の光軸補正素子30は、図23(a)に示すように、出射強度の差が小さくなるように、凸部31の形状を設計する。
 図23(b)は、図23(a)の入射強度分布に対する出射強度分布を与えるための、1次回折効率ηの分布を示した例である。そして、図24(a)、図24(b)、図24(c)は、図23(b)に示す1次回折効率の分布を与えるための、3種類の擬似ブレーズ形状に対応する、位相差のプロファイルを示したものである。具体的に、図24(a)~図24(c)は、横軸に格子ピッチを1と規格化し、格子ピッチ内の位置に対し、405nmの光が同相で入射したとき、凸部の高さが0の部分を出射する光の位相を基準としたときの各位置の位相差を示したものである。なお、図24(a)~図24(c)の各プロファイルは、縦軸の位相差を擬似ブレーズの高さに置き換えることもできる。つまり、最大の位相差を示す縦軸の位置を、擬似ブレーズの最上段の高さ(=17.7μm)と置き換えて、各段の高さを与えることができる。そして、図24(a)は、1次回折効率ηが95%、図24(b)は、1次回折効率ηが89%、図24(c)は、1次回折効率ηが85%とするときのプロファイルである。なお、図24(b)、図24(c)に示す擬似ブレーズ形状の高さは、図24(a)に示す擬似ブレーズ形状の8段の高さのうち、いずれかの高さと等しい。そして、これらの擬似ブレーズ形状のプロファイルを、図23(a)に示す位置関係を満足するように分布させることで、出射光の光量分布の中心強度を光軸付近に与えることができ、光軸を対象とする光量のバランスを改善することができる。
 (実施例6)
  実施例6では、光軸補正素子30の第1の材料(凸部31)および第2の材料(凹部32)を、無機材料とし、それ以外は、実施例1と同じ条件となる3波長用光源装置10を設計する。厚さ約0.3mmの透明基板34aに相当するガラス基板の一方の面に、第1の材料として、Taを3.6μmの均一な厚さで形成する。次に、第1の材料について、格子ピッチが10.8μm、となるように断面が、段差が等しい8段の階段状の擬似ブレーズ形状に加工して、凸部31を形成する。次に、凸部31によってできる溝を充填するように、第2の材料として、TiOとSiOとを混合比が、TiO:SiO=63:37となるようにバイアススパッタ法により、混合膜を形成して、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持する。
 第1の材料は、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、2.286、2.108、2.086である。また、第2の材料は、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、2.188、2.085、2.067である。これら3波長の光に対する第1の材料および第2の材料の屈折率を表2にまとめる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 ここで、第1の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ2.130、14.2であり、第2の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ2.101、21.2である。次に、本実施例の光軸補正素子30の回折効率ηの計算結果を図22に示す。なお、0次回折効率をη、1次回折効率をηで表す。図22より、405nm波長帯の光に対して高い1次回折効率を示すとともに、660nm波長帯の光および785nm波長帯の光に対して高い0次回折効率、つまり高い直進透過率を示すことがわかる。
 (実施例7)
  実施例7はでは、図9(a)、図9(b)に示す3波長用光源装置60aの設計例について説明する。光源20としては、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが120μmであることも含め、実施例1と同様の条件とする。また、距離dの方向がX軸方向、光軸64がZ軸方向に相当する。そして、光軸補正素子65を構成する、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bは、表1に示す屈折率の波長分散特性を有する材料の組み合わせによって、回折格子の凹凸形状を有する凹凸部を形成する。
 具体的に、表1の第1の材料に相当する、芳香族系炭化水素を含有する高屈折率分散樹脂を、厚さ0.3mmのガラス基板上に形成して、X軸方向に相当する格子ピッチが、6.8μmで高さが17.7μmの8段の擬似ブレーズ回折格子の形状となるように加工する。そして、第1の材料からなる凸部によってできる溝に、表1の第2の材料に相当する、ジルコニア微粒子を含有する樹脂を充填して、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持し、第1の光軸補正板65a、第2の光軸補正板65bを作製する。
 そして、光源20から第1の光軸補正板65aまでの距離が1.0mm、光源20から第2の光軸補正板65bまでの距離が2.0mmとなるように、平行に配置した光軸補正素子65を有する3波長用光源装置60とする。なお、第1の光軸補正板65aと第2の光軸補正板65bの回折格子の長手方向は同一(Y軸)方向であって、擬似ブレーズ形状の傾斜は、互いに異なるように配置する。そして、光源20より出射した3波長の光のうち、光軸補正素子65を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子65における回折効率は、実施例1の図20に基づく特性を示す。
 (実施例8)
  実施例8では、図11(a)、図11(b)に示す3波長用光源装置70の設計例について説明する。また、位置調整部75として、第1の光軸補正板65aを固定するホルダーと、第2の光軸補正板65bを固定するホルダーと、その第2の光軸補正板65bを固定するホルダーをネジ調整によって、光軸74方向に移動できる機構を有するものを備える。ここで、実施例7と同様に、光源20から第1の光軸補正板65aまでの距離が1.0mm、光源20から第2の光軸補正板65bまでの距離が2.0mmである。また、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが120μmのとき、位置調整部75による、第2の光軸補正板65b光軸方向の位置を0μmと設定する。つまり、この位置が、光源20と第2の光軸補正板65bとの距離を2.0mmとする位置、に相当するように与える。そして、本実施例では、660nmの光の光軸(図11(a)、図11(b)の光軸74)上に405nmの光の光軸を一致させる。
 次に、光源20として、図11(b)において、Δxが-20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが100μmであるとき、位置調整部75によって、第2の光軸補正板65bを光軸74に沿ってΔz=-330μm移動させる。つまり、光源20と第2の光軸補正板65bとの間の距離を1.67mmとすると、光軸補正素子30を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。また、図11(b)において、Δxが+20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが140μmであるとき、位置調整部75によって、第2の光軸補正板65bを光軸74に沿ってΔz=+330μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子30との間の距離を2.33mmとすると、光軸補正素子65を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子65における回折効率は、実施例1の図20に基づく特性を示す。
 (実施例9)
  実施例9では、図12(a)等に示す3波長用光源装置80の設計例について説明する。光源20としては、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが120μmであることも含め、実施例1と同様の条件とする。また、距離dの方向がX軸方向、光軸84がZ軸方向に相当する。そして、光軸補正素子85を構成する、第1の光軸補正板85aと第2の光軸補正板85bは、表1に示す屈折率の波長分散特性を有する材料の組み合わせによって凹凸部を形成する。このとき、第1の光軸補正板85aおよび第2の光軸補正板85bの凹凸部における、(λ=)405nmの光に対する光路差関数をそれぞれ、Φ(x,y)、Φ(x,y)とする。このとき、
  Φ(x,y)={λ/2π}×{A(x+y)+Bx}、
  Φ(x,y)={λ/2π}×{C(x+y)}、
とし、A=483.6[mm-2]、B=-580.3[mm-1]、C=-350[mm-2]として与える凹凸形状とする。
 具体的に、表1の第1の材料に相当する、芳香族系炭化水素を含有する高屈折率分散樹脂を、厚さ0.3mmのガラス基板上に形成する。そして、表1の第2の材料に相当する、ジルコニア微粒子を含有する樹脂との組み合わせにより、Φ(x,y)に相当する光路差関数を満足する形状を、8段の高さに近似した形状となるように加工する。そして、第1の材料上に、第2の材料を充填して、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持し、第1の光軸補正板85aを作製する。また、同様に、厚さ0.3mmのガラス基板上に表1の第1の材料を形成、加工しでできた溝に、第2の材料を充填して、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持し、Φに相当する光路差関数を満足する形状を、8段の高さに近似した形状となるように第2の光軸補正板85bを作製する。
 そして、光源20から第1の光軸補正板85aまでの距離が3.0mm、光源20から第2の光軸補正板85bまでの距離が3.7mmとなるように、平行に配置した光軸補正素子85を有する3波長用光源装置80とする。そして、光源20より出射した3波長の光のうち、光軸補正素子85を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子85における回折効率は、実施例1の図20に基づく特性を示す。なお、本実施例において、光軸補正素子85を出射する405nmの光における、3次の非点収差が-8[mmλrms]となり、3次のコマ収差が-9[mmλrms]となる。
 (実施例10)
  実施例10では、図13(a)、図13(b)に示す3波長用光源装置80の設計例について説明する。また、位置調整部86として、第1の光軸補正板85aを固定するホルダーと、第2の光軸補正板85bを固定するホルダーと、その第2の光軸補正板85bを固定するホルダーをネジ調整によって、光軸84と直交する平面方向に移動できる機構を有するものを備える。ここで、実施例9と同様に、光源20から第1の光軸補正板85aまでの距離が3.0mm、光源20から第2の光軸補正板85bまでの距離が3.7mmである。また、第1の発光点21と第2の発光点との距離dが120μmのとき、第1の光軸補正板85aおよび第2の光軸補正板85bは、光軸84の位置と、Φ(x,y)およびΦ(x,y)の座標(x,y)が、(0,0)となる位置と一致する配置とする。そして、本実施例でも、660nmの光の光軸(図13(b)の光軸84)上に405nmの光の光軸を一致させる。
 次に、光源20として、図13(b)において、Δxが-20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが100μmであるとき、位置調整部86によって、第2の光軸補正板85bをX軸方向に(Δx=)-100μm移動させる。また、図13(b)において、Δxが+20μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが140μmであるとき、位置調整部86によって、第2の光軸補正板85bをX軸方向に(Δx=)+100μm移動させる。この場合、いずれも、光軸補正素子85における回折効率は、実施例1の図20に基づく特性を示す。なお、Δxの符号と、Δxの符号と、は同じ関係を有する。
 また、光源20として、図13(b)において、Δxが-50μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが70μmであるとき、位置調整部86によって、第2の光軸補正板85bをX軸方向に(Δx=)-250μm移動させる。また、図13(b)において、Δxが+50μm、つまり、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが170μmであるとき、位置調整部86によって、第2の光軸補正板85bをX軸方向に(Δx=)+250μm移動させる。この場合も、いずれも、光軸補正素子85における回折効率は、実施例1の図20に基づく特性を示す。
 (実施例11)
  実施例11では、実施例9における第2の光軸補正板85bの凹凸部における、(λ=)405nmの光に対する光路差の関数Φ(x,y)について、収差補正を考慮して、
  Φ(x,y)={λ/2π}×{Cx+Dx+Ey+Fxy+Gx}、
とし、C=-0.1[mm-1]、D=-348.8[mm-2]、E=-351.1[mm-2]、F=16.3[mm-3]、G=16.3[mm-3]として与える凹凸形状とする。なお、第1の光軸補正板85aの凹凸部における、405nmの光に対する光路差の関数Φ(x,y)は、実施例9と同じとし、それ以外の条件も実施例9と同じとする。
 このとき、光軸補正素子85を出射する405nmの光の光軸が660nmの光の光軸と一致する。さらに、光軸補正素子85を出射する405nmの光における、3次の非点収差が0[mmλrms]となり、3次のコマ収差が0[mmλrms]となり、各収差を低減することができる。
 (実施例12)
  実施例12では、図14(a)、図14(b)に示す3波長用光源装置90の設計例について説明する。まず、3波長用光源装置90における、光源20のうち、1波長光源25は、第1の発光点21より405nmの光を出射し、2波長光源26は、第2の発光点22より660nmの光を出射するとともに、第3の発光点23より785nmの光を出射するものとする。そして、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが120μm、また、光源20と光軸補正素子100とが3mmの距離を有するものとする。そして、本実施例では、405nmの光の光軸(図14(b)の光軸94)上に660nmの光の光軸を一致させるように光軸補正素子100を設計する。ここで、距離dの方向をX軸方向、405nmの光の光軸方向をZ軸方向として考える。
 図15の光軸補正素子100において、透明基板104a、104bとして、厚さ約0.3mmのガラス基板を用いる。そして、透明基板104aに相当するガラス基板の一方の面に、第1の材料として、芳香族系炭化水素を含有する高屈折率分散樹脂を、33.3μmの均一な厚さで形成する。次に、第1の材料について、格子ピッチが17.6μm、となるように断面が、8段の階段状の擬似ブレーズ形状に加工して、凸部101を形成する。次に、凸部101によってできる溝を充填するように、第2の材料として、ジルコニア微粒子を含有する樹脂を形成する。第2の材料は、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、1.551、1.531、1.528となるアクリル樹脂に、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、2.021、1.972、1.965となるジルコニア微粒子を、体積分率で16.0%含有するものである。本実施例における、これら3波長の光に対する第1の材料および第2の材料の屈折率を表3にまとめる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
 ここで、第1の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ1.584、33.4であり、第2の材料のd線における屈折率nd、アッベ数vdはそれぞれ1.601、50.9である。
 なお、第2の材料であるジルコニア微粒子を含有する樹脂の屈折率は、マクスウェル・ガーネットの理論から計算することができる。このように第2の材料を凹部102として充填して凹凸部103を形成し、厚さ0.3mmのガラス基板で挟持し、光軸補正素子100を作製する。
 このように設計した光軸補正素子100を有する3波長用光源装置90について、光源20より3波長の光を出射すると、405nmの光は凹凸部103で屈折率が一致するので回折せず直進透過し、また、660nmの光および785nmの光はいずれも、凹凸部103で屈折率が異なるので回折する。さらに、光軸補正素子100を出射する660nmの光の光軸が405nmの光の光軸と一致する。
 次に、本実施例の光軸補正素子100の回折効率ηの計算結果を図25に示す。なお、0次回折効率をη、1次回折効率をηで表す。図25より、405nm波長帯の光に対して高い0次回折効率、つまり高い直進透過率を示すとともに、660nm波長帯の光および785nm波長帯の光に対して高い1次回折効率を示すことがわかる。また、図25より、405nm、660nmおよび785nmを中心とする波長変動に対しても大きく回折効率が変動しないことがわかる。
 (実施例13)
  実施例13では、実施例12の3波長用光源装置90にさらに、光軸補正素子100を固定するホルダーと、そのホルダーをネジ調整によって光軸94方向に移動できる機構を有する位置調整部を備える、3波長用光源装置を考える。ここで、実施例12と同様に、光源20と光軸補正素子100との距離は3mmである。また、第1の発光点21と第2の発光点との距離dが120μmのとき、位置調整部による光軸方向の位置を0μmと設定する。つまり、この位置が、光源20と光軸補正素子100との距離を3mmとする位置、に相当するように与える。そして、本実施例では、405nmの光の光軸(図14(b)の光軸94)上に660nmの光の光軸を一致させる。
 次に、光源20として、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが100μmであるとき、位置調整部によって、光軸補正素子100を光軸94に沿って-530μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子100との間の距離を2.47mmとすると、光軸補正素子100を出射する660nmの光の光軸が405nmの光の光軸と一致する。また、第1の発光点21と第2の発光点22との距離dが140μmであるとき、位置調整部によって、光軸補正素子100を光軸94に沿って+530μm移動させる。つまり、光源20と光軸補正素子100との間の距離を3.53mmとすると、光軸補正素子100を出射する660nmの光の光軸が405nmの光の光軸と一致する。そして、光軸補正素子100における回折効率は、実施例12と同様に、図25の特性を示す。
 (比較例1)
  比較例1として、入射する3波長の光として、405nmの光、660nmの光、785nmの光のうち、405nmの光を回折させて、660nmの光の光軸と一致させる光軸補正素子を考える。石英ガラス基板の表面を、405nmの光に対して空気との界面におけるリタデーション値が波長の非整数倍となるとともに、660nmの光および785nmの光に対して、空気との界面におけるリタデーション値がそれぞれ、波長の整数倍となるように加工する。具体的に、石英ガラス基板の屈折率は、405nmの光、660nmの光、785nmの光に対する屈折率がそれぞれ、1.479、1.462、1.459であって、断面形状として、1段の高さが8.65μmの4段擬似ブレーズ形状となる光軸補正素子を作製する。
 次に、比較例1の光軸補正素子の回折効率ηの計算結果を図26に示す。なお、0次回折効率をη、1次回折効率をηで表す。図26より、405nmの光に対して高い1次回折効率を示すとともに、660nmの光および785nmの光に対して高い0次回折効率を示すが、これら所定の波長に対して波長の変動が生じると、各波長の光の回折効率が急峻に変動し、安定した回折効率が得られない。例えば、405nmの光が10nm変動しただけで、1次回折効率が5%以下となり、所定の光軸に補正されても、安定して高い光量が得られない。
 (比較例2)
  比較例2として、入射する3波長の光として、405nmの光、660nmの光、785nmの光のうち、660nmの光および785nmの光を回折させて、とくに660nmの光を405nmの光の光軸と一致させる光軸補正素子を考える。石英ガラス基板の表面を、405nmの光に対して空気との界面におけるリタデーション値が波長の整数倍となるとともに、660nmの光および785nmの光に対して、空気との界面におけるリタデーション値がそれぞれ、波長の非整数倍となるように加工する。具体的に、断面形状として、矩形状の回折格子とし、高さが0.84μmのバイナリ形状となる光軸補正素子を作製する。
 次に、比較例2の光軸補正素子の回折効率ηの計算結果を図27に示す。なお、0次回折効率をη、1次回折効率をηで表す。図27より、405nmの光に対して高い0次回折効率を示すとともに、660nmの光および785nmの光に対して所定の1次回折効率を示す。比較例2の光軸補正素子は、比較例1の光軸補正素子のように、波長変動による回折効率の大きな変動は無いが、660nmの光、785nmの光に対する1次回折効率が40%程度であり、所定の光軸に補正されても、高い光量が得ることが困難である。
 以上のように、本発明の3波長用光源装置は、発光点が異なる光源より3波長の光を発射し、これら3波長の光のうち特定の波長の光の光軸に、残りの1つまたは2つの波長の光の光軸を一致させることができる。また、本発明の3波長用受光装置は、光軸が異なる3波長の光のうち特定の波長の光の光軸に、残りの1つまたは2つの波長の光の光軸を一致させることができる。また、本発明の3波長用光源装置および/または3波長用受光装置を用いて、BD、DVD、CDの各光ディスクの記録・再生を安定させることができる光ヘッド装置を得ることができる。
 本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
本出願は、2010年5月28日出願の日本特許出願(特願2010-122791)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
10、50、60a、60b、70、80、90、210,220 3波長用光源装置
30、65、66、85、100、160、185,211、231 光軸補正素子
20、201 光源
21 第1の発光点
22 第2の発光点
23 第3の発光点
25 1波長光源
26 2波長光源
31、101 凸部
32、102 凹部
33、103 凹凸部
34a、34b、104a、104b 透明基板
41、51a、51b、61a、61b、71a、71b、81a、81b、91、151a、151b、181a、181b 波長λの光
42、62、82、92、152a、152b、182a、182b 波長λの光
43、63、83、93、153a、153b、183a、183b 波長λの光
44、54、64、74、84、94 光軸
55、75、86、154、186、221、241 位置調整部
65a、66a、85a、185a 第1の光軸補正板
65b、66b、85b、185b 第2の光軸補正板
150a、150b、180a、180b、230、240 3波長用受光装置
170、208 光検出器
171 第1の受光エリア
172 第2の受光エリア
200a、200b 光ヘッド装置
202 コリメータレンズ
203 ビームスプリッタ
204 1/4波長板
205 対物レンズ
206 光ディスク
207 集光レンズ

Claims (22)

  1.  互いに異なる帯域を有する3波長の光である、波長λの光、波長λの光、波長λの光(λ<λ<λ)を、それぞれ異なる発光点から出射する光源と、入射する前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光の進行方向を選択的に変えて出射する光軸補正素子と、有する3波長用光源装置であって、
     前記光軸補正素子は、第1の材料からなる凸部と第2の材料からなる凹部との組み合わせにより、断面が凹凸形状を有する凹凸部を有し、
     前記第1の材料の屈折率および前記第2の材料の屈折率は、前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光に対して、略一致するとともに、残りの波長の光に対して、異なり、
     前記3波長の光のうち、1つの波長の光が、残りの波長の少なくとも1つの光の光軸と一致して出射する3波長用光源装置。
  2.  前記凹凸部の断面形状は、周期的なピッチとなる回折格子の形状を有するかまたは、前記回折格子形状に、前記3波長の光のうち偏向させる波長の光に対して収差を低減する光路差の分布を付加した形状を有する請求項1に記載の3波長用光源装置。
  3.  前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、
     前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有する請求項1または請求項2に記載の3波長用光源装置。
  4.  前記光軸補正素子の位置を、光軸方向または前記光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える請求項1~3いずれか1項に記載の3波長用光源装置。
  5.  前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、
     前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有し、
     前記3波長の光のうち光の進行方向を変える波長の光に対する、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板が発生する光路差の分布関数をΦ(x,y)、Φ(x,y)とするとき、Φ(x,y)=-Φ(x,y)である基準位置を有し、
     光軸と直交する平面方向に、前記光軸からのベクトル量をr、前記基準位置からのずれを示すベクトル量をΔrとするとき、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板は、前記Φ(x,y)と前記Φ(x,y)との差分を表す関数Φ(r)-Φ(r+Δr)が、
      Φ(r)-Φ(r+Δr)=α・x(±|Δr|)+β+A・x+W(x,y)、
      W(x,y)=a+a(x/r)+a(y/r)+a(x/r
        +a(x/r)・(y/r)+a(y/r+・・・
    (但し、α、β、A、a、a、a、a、a、aは定数、rは開口サイズの規格化定数)の関係を満たす前記凹凸部の形状を有する請求項1に記載の3波長用光源装置。
  6.  前記光軸補正素子の位置を、光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える請求項5に記載の3波長用光源装置。
  7.  前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致するとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なる請求項1~6いずれか1項に記載の3波長用光源装置。
  8.  前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なるとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致する請求項1~6いずれか1項に記載の3波長用光源装置。
  9.  前記第1の材料と前記第2の材料の一方または両方が、無機材料を含有する請求項1~8いずれか1項に記載の3波長用光源装置。
  10.  前記波長λは395~425nmの範囲の405nm波長帯、前記波長λは640~680nmの範囲の660nm波長帯、前記波長λは、765~805nmの範囲の785nm波長帯である請求項1~9いずれか1項に記載の3波長用光源装置。
  11.  互いに異なる帯域を有する3波長の光である、波長λの光、波長λの光、波長λの光(λ<λ<λ)のうち、1つまたは2つの波長の光の進行方向を選択的に変えて出射する光軸補正素子と、前記3波長の光を受光する光検出器と、を有する3波長用受光装置であって、
     前記光軸補正素子は、第1の材料からなる凸部と第2の材料からなる凹部との組み合わせにより、断面が凹凸形状を有する凹凸部を有し、
     前記第1の材料の屈折率および前記第2の材料の屈折率は、前記3波長の光のうち、1つまたは2つの波長の光に対して、略一致するとともに、残りの波長の光に対して、異なり、
     前記3波長の光のうち、1の波長の光が、残りの波長の光の少なくとも1つの光と一致して前記光検出器に到達する3波長用受光装置。
  12.  前記凹凸部の断面形状は、周期的なピッチとなる回折格子の形状を有するかまたは、前記回折格子形状に、前記3波長の光のうち偏向させる波長の光に対して収差を低減する光路差の分布を付加した形状を有する請求項11に記載の3波長用受光装置。
  13.  前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、
     前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有する請求項11または請求項12に記載の3波長用受光装置。
  14.  前記光軸補正素子の位置を、光軸方向または前記光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える請求項11~13いずれか1項に記載の3波長用受光装置。
  15.  前記光軸補正素子は、第1の光軸補正板と第2の光軸補正板を有し、
     前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板はそれぞれ、前記凹凸部を有し、
     前記3波長の光のうち光の進行方向を変える波長の光に対する、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板が発生する光路差の分布関数をΦ(x,y)、Φ(x,y)とするとき、Φ(x,y)=-Φ(x,y)である基準位置を有し、
     光軸と直交する平面方向に、前記光軸からのベクトル量をr、前記基準位置からのずれを示すベクトル量をΔrとするとき、前記第1の光軸補正板および前記第2の光軸補正板は、前記Φ(x,y)と前記Φ(x,y)との差分を表す関数Φ(r)-Φ(r+Δr)が、
      Φ(r)-Φ(r+Δr)=α・x(±|Δr|)+β+A・x+W(x,y)、
      W(x,y)=a+a(x/r)+a(y/r)+a(x/r
        +a(x/r)・(y/r)+a(y/r+・・・
    (但し、α、β、A、a、a、a、a、a、aは定数、rは開口サイズの規格化定数)の関係を満たす前記凹凸部の形状を有する請求項11に記載の3波長用受光装置。
  16.  前記光軸補正素子の位置を、光軸方向と直交する平面方向に可変する位置調整部を備える請求項15に記載の3波長用受光装置。
  17.  前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致するとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なる請求項11~16いずれか1項に記載の3波長用受光装置。
  18.  前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが異なるとともに、前記波長λの光および前記波長λの光に対する、前記第1の材料の屈折率と前記第2の材料の屈折率とが略一致する請求項11~16いずれか1項に記載の3波長用受光装置。
  19.  前記第1の材料と前記第2の材料の一方または両方が、無機材料を含有する請求項11~18いずれか1項に記載の3波長用受光装置。
  20.  前記波長λは395~425nmの範囲の405nm波長帯、前記波長λは640~680nmの範囲の660nm波長帯、前記波長λは、765~805nmの範囲の785nm波長帯である請求項11~19いずれか1項に記載の3波長用受光装置。
  21.  光源と、前記光源から出射した光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光を受光する光検出器と、前記光源から出射した光を前記対物レンズへ導くとともに、前記光ディスクで反射された光を前記光検出器へ導くビームスプリッタと、を備えた光ヘッド装置において、
     前記光源を含み、前記光源から前記ビームスプリッタ間の光路中に請求項1~10いずれか1項に記載の3波長用光源装置が備えられる光ヘッド装置。
  22.  光源と、前記光源から出射した光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光を受光する光検出器と、前記光源から出射した光を前記対物レンズへ導くとともに、前記光ディスクで反射された光を前記光検出器へ導くビームスプリッタと、を備えた光ヘッド装置において、
     前記光検出器を含み、前記ビームスプリッタから前記光検出器間の光路中に請求項11~20いずれか1項に記載の3波長用受光装置が備えられる光ヘッド装置。
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