WO2011141867A1 - Materialbearbeitungsvorrichtung mit in-situ messen des bearbeitungsabstands - Google Patents

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WO2011141867A1
WO2011141867A1 PCT/IB2011/052048 IB2011052048W WO2011141867A1 WO 2011141867 A1 WO2011141867 A1 WO 2011141867A1 IB 2011052048 W IB2011052048 W IB 2011052048W WO 2011141867 A1 WO2011141867 A1 WO 2011141867A1
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Martin SCHÖNLEBER
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Precitec Optronik Gmbh
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    • G01B2290/70—Using polarization in the interferometer

Definitions

  • the invention relates to a material processing apparatus with processing beams of a beam generator and with in-situ measurement of the processing distance between the radiator ⁇ producer and the workpiece.
  • the material processing device has for this purpose a processing laser with processing beams in the near infrared.
  • a laser scanner with a two-dimensional deflector with scanner mirrors is arranged downstream of a processing laser.
  • An automatic nach ⁇ adjusting device for varying processing distances is provided.
  • FIG. 8 shows a partial perspective schematic diagram of such a material processing device 3 according to the prior art.
  • This material processing device 3 processed with the processing beam 4 of a beam generator 5, and with in-situ measuring the machining distance a between a machining ⁇ tung head 7 and the workpiece 6, the perspective ones shown, slightly curved workpiece 6.
  • the Materialbearbei ⁇ processing apparatus 3 has for this purpose as a beam generator 5 a Be ⁇ processing laser with processing beams 4 in the near infrared on.
  • the processing head 7 is guided by an industrial robot 8.
  • an automatic focus adjustment device for time-varying processing distances a (t) is provided to follow, for example, the curvature 9 of the workpiece 6 when guiding the workpiece 6 in the direction of arrow A.
  • an optical coherence tomograph 10 provided for tomography acquisition.
  • the spectral transmittance and the polarization state and the Mi ⁇ mixing ratio may be caused by vibrations of optical fibers changes comparable between different polarization modes, which affects the measurement result and thus the imaging ⁇ acquisition.
  • the object of the invention is to overcome the disadvantages of the prior art and before, during and after the processing (ablation, build-up welding, etc.) of a surface by a laser to detect the topography contactless.
  • the goal is to improve the reliability of the control of the Bear ⁇ beitungsreaes and endpoint detection of the removal of material / contract by means of a distance measurement.
  • Another task is to measure absolute example to focus the laser adjust the distance of the workpiece to Bear ⁇ beitungssystem.
  • a material processing device is provided with processing jets of a jet generator and with in-situ measurement of the processing distance between the jet generator and the workpiece.
  • the material processing device has for this purpose a processing laser with processing beams.
  • a laser scanner with two-dimensional deflection Device with scanner mirrors is arranged downstream of a processing laser.
  • An automatic nachstell ⁇ device for varying processing distances is vorgese ⁇ hen.
  • a sensor device with a spectrometer and at least two sensor light sources generates measuring beams which, via the laser scanner and a lens, jointly scan the machining area of the workpiece while detecting the workpiece distance.
  • the measuring beams of at least two of the sensor light sources are linearly polarized and coupled in a collimated manner with crossed polarization directions into the beam path of the laser scanner of the material processing device via an optical coupling element.
  • This material processing device has the advantage that a predetermined laser scanner optics of a processing laser is used for the sensor optics, so that the processing beam and sensor measuring beams are directed onto the workpiece jointly via an F-theta lens system.
  • a processing laser a solid-state laser with a wavelength in the range between 1030 nm and 1070 nm is typically provided.
  • a further advantage is that at least two sensor light sources which generate measurement beams ⁇ which are linearly polarized and are coupled collimated with ge ⁇ crossed directions of polarization in the beam path of the laser scanner of the material processing device fitted with an optical coupling element, so that the sensor device robust against vibration of the material processing device is protected, especially as the crossed polarization directions vibrations or vibrations of the optical fibers used no longer affect the lighting and detection properties.
  • a spectrointerferometric distance sensor also called OCT
  • OCT spectrointerferometric distance sensor
  • cal coherence tomography integrated into the laser scanner for material processing.
  • unpolarized light source such as preferably two light sources with linearly polarized Ab- radiation, which are transported with a polarization-maintaining fiber to a PBC (polarization beam combiner) and merged in PBC with crossed polarization directions by a polarizing beam splitter, is prevented the polarization state is changed by shaking the optical fibers and thus the mixing ratio between the polarization modes is changed.
  • the spectral trans ⁇ mission is therefore no longer affected even if optical components have a different depending on the polarization spectral transmission.
  • the distance peak to be evaluated splits in two partial peaks in the least favorable case.
  • a birefringent element is inserted into the beam path, whose main directions coincide with the main directions of the polarization-relevant components, such as beam splitters
  • the light sources used are superluminescence diodes with linearly polarized radiation, the light sources being connected via polarization-maintaining optical fibers to a polarization beam coupler which brings together the crossed polarization directions by means of a polarizing beam splitter.
  • the sensor beam path has a narrow-band dichroic beam splitter as a narrow-band Notch filter.
  • a narrow band dichroic beam splitter and a rotating filter wheel may, for collimated coupling the sensor beams in the machining beam path, be vorgese ⁇ hen which couples alternating laser light or the sensor light in the laser scanner, and rotates synchronously to the pulse frequency of the processing laser, so that in an advantageous manner in the pulse pauses of the Machining laser laser scanner for the measuring beam is available and the processing operation is not affected.
  • a deflecting mirror which can be swiveled into the beam path
  • a collimated coupling of the sensor beams into the machining beam path can likewise be achieved.
  • Refocusing of the sensor light is preferably carried out by using the focus tracking of the laser. The sensor light is coupled almost collimated in the laser beam path. However, in order to compensate for the chromatic focus shift of the F-theta-ektivs, the lens of the sensor collimator is refocused.
  • a stabilization of a spectral reflectance can be achieved.
  • a uniformly high, tilt- and polarization-independent reflectivity of the scanner mirrors is thus also used for the sensor light.
  • the sensor wavelength in the wavelength range of the "camera window" of the scanner mirrors at approximately 650 nm, where the reflectivities of the scanner mirrors or galvanomirrors are also high and uniform. This advantageously simplifies retrofitting of an existing material processing device with the new sensor device to a material processing device according to the invention.
  • the material processing device has a computer-aided control device which is equipped with a low-pass characteristic for scanner mirrors with coatings which have a different reflectivity at the sensor wavelength and at the laser wavelength, the sensor light wavelength greater than the laser light wave ⁇ length is filtered out of the reflected signal and evaluated for distance detection.
  • a spectral Einhül- loin Io-mean are measured (k) also in a calibration run for each Kombina ⁇ tion of the orientation of the galvanomirror. In this case, a plane surface with known spectral reflectivity is measured.
  • ⁇ ( ⁇ ) 4n (z 0 -z R ) / ⁇
  • ⁇ ( ⁇ ) the complex Fourier transform or FFT of the equalized spectrum for negative layer thicknesses and for small
  • Ii ⁇ ⁇ * ⁇ ! ( ⁇ ) * ⁇ [ ⁇ * ⁇ ( ⁇ )] * exp [i4n (z 0 -z R ) / ⁇ ].
  • An amount formation thus provides:
  • the sensor device has a free-jet pre-modulator which is connected to the sensor light sources as well as to the sensor beam path by an optical fiber.
  • the free-jet pre-modulator is designed as an interferometer with two arms and the fiber end of the free-jet Vormodulierers is executed partially reflective to the sensor beam path.
  • the free-jet pre-modulator causes a first partial wave with a second partial wave to interfere.
  • other spectral modulations are advantageously outside the measuring range of an evaluation unit.
  • a glass lens is provided with a same dispersion as the total dispersion provided in the sensor beam.
  • another embodiment of the invention provides an interferometer.
  • the interferometer is arranged in the collimated sensor beam before coupling the processing laser beam.
  • a reference arm of the interferometer has a dispersion-compensating effect.
  • the reference arm has for this purpose the same optical County ⁇ ge as the object arm between a Interferometerstrahltei- ler and the workpiece.
  • a further sensor head is provided outside the machining zone , which detects a reference distance to the workpiece and contributes to an absolute change in a machining depth Laserabiation or a processing height determined at a material ⁇ order.
  • FIG. 1 shows a schematic sketch of a material processing device according to a first embodiment of the invention
  • FIG. 2 shows a schematic sketch of a material processing device according to a second embodiment of the invention
  • FIG. 3 shows a raw spectrum with FIG. 3a and with FIG. 3b a level spectrum according to the invention
  • FIG. 4 shows two measured reflection spectra of a plane mirror of a laser scanner
  • FIG. 5 shows the polarization and angle-dependent transmission of scanner mirrors
  • FIG. 6 shows the refractive index of quartz glass in the vicinity of the laser wavelengths around 1050 nm
  • Figure 7 is a plot of Gaussian beam parameters in terms of waist diameter and Rayleigh length
  • FIG. 8 shows a telweise perspective schematic diagram of a material processing apparatus according to the prior art.
  • FIG. 1 shows a schematic sketch of a material processing apparatus 1 according to a first embodiment of the invention.
  • the material processing device 1 operates with processing beams 4 of a beam generator 5 and with in-situ measurement of the processing distance (a) between the beam ⁇ generator 5 and a workpiece 6.
  • the material processing ⁇ device 1 has to the processing laser 13 with processing beams 4 in the near infrared.
  • a laser scanner 14 with two-dimensional deflection device 15 with scanner mirrors 31 and 32 is arranged downstream of a processing laser 13.
  • An automatic focus adjustment device for varying processing distances a (t) is provided.
  • a sensor device 16 with a spectrometer 17 and sensor light sources 11 and 12 generates measuring beams 18, which scan via the laser scanner 14 and a lens 19 together the processing area 20 of the workpiece 6 while detecting the workpiece distance a.
  • the measuring beams 18 of the sensor light sources 11, 12 are linearly polarized and are coupled in a collimated manner with crossed polarization directions into the machining beam path 25 of the laser scanner 14 of the material processing device 1 via an optical coupling element 21.
  • the light sources 11 and 12 are formed by two superluminescent diodes SLD with linearly polarized radiation.
  • the material processing device 1 has a computer-aided control device 30, which is equipped with a low-pass characteristic at scanner mirrors 31 and 32 with coatings that have a different reflectivity at the sensor wavelength and at the laser wavelength, the sensor wavelength greater than the laser ⁇ light wavelength is passedfil ⁇ tert from the reflected signal and evaluated for distance detection.
  • a computer-aided control device 30 which is equipped with a low-pass characteristic at scanner mirrors 31 and 32 with coatings that have a different reflectivity at the sensor wavelength and at the laser wavelength, the sensor wavelength greater than the laser ⁇ light wavelength isumblefil ⁇ tert from the reflected signal and evaluated for distance detection.
  • the laser scanner optics consists both for the material processing device 1 according to FIG. 1 and for the material processing device 2 according to FIG. 2 preferably of the following components:
  • a beam splitter for a not shown in Figure 1 and Figure 2 camera module for observing the processing area 20, which is typically designed for 650 nm;
  • a pair of galvanomirrors 31 and 32 for deflecting the collimated beam in the x and y directions aligned orthogonally to the z-axis optical axis; 4. an F-theta lens system, which is a Spezialo ective 19 for use together with the galvanically coated galvanomirror pair 31 and 32 and for focusing the collimated processing beam 4 in the processing level 41, preferably telecentric, that is, the focused processing beam 4 strikes everywhere in the measurement / edit field perpendicular to the surface.
  • the numerical aperture NA of the focused beam 4 is typically less than 0.1 with a beam cone less than +/- 5 °.
  • the surface inclination is ⁇ on the cone angle also, no light is reflected back in the direction indicated as "coaxial" sensor device 16, in which the lighting direction is equal to the detection direction. Therefore, optical sensors are used in the spectrometer 17, which also stray light from can evaluate inclined surfaces. Since the surface through a laser processing is usually rough, can be expected scattered light, so that a auswertba ⁇ rer portion of the workpiece 6 is reflected in the detector direction.
  • confocal chromatic sensors have proven ungeeig ⁇ net because their low numerical aperture of the optical scanner that results in high inaccuracy.
  • a further disadvantage of such confocal-chromatic sensors forms the temperature-dependent calibration curve so that a Ermér ⁇ tion of the f-theta lenses can change by the power laser, the characteristics of the chromatic confocal sensors.
  • unpolarized light sources 11 and 12 namely two superluminescent diodes (or SLDs) with, however, linearly polarized radiation, which with polarization-preserving light-conducting phases 22 and 23 are converted into a PBC (polarized light).
  • a polarizing beam splitter 24 If optical components such as beam splitters and galvano mirrors have a different spectral transmission depending on the direction of polarization, the state of polarization and thus the mixing ratio between the polarization modes and thereby the spectral transmission are changed by shaking the optical fibers 22, 23 or 42. If in the two polarization modes but different path differences are present (for example by clamping voltage ⁇ birefringence or by coating), the distance peak splits into two peaks.
  • a birefringent element whose main directions coincide with the main directions of the polarization-relevant components such as beam splitters and galvanomirrors is inserted into the beam path.
  • spectral optical FD (OCT) sensors Fluorescent Domain Optical Coherence Tomography sensors
  • Uncontrolled path change between object and reference arm by temperature drift or wobble at the light guide are compensated according to the invention by the use of at least two light sources;
  • a poor transmission of light through the sensor Strah ⁇ beam path of the scanner optics is inventively avoided by not deviating much the sensor wavelength of the laser wavelength.
  • the coating of optical components of the scanner optics is tuned to the laser wavelength. This mainly concerns antireflection, mirror or Strahltei ⁇ Lersch layers;
  • Pre-modulator 33 is used, which is connected to both the light sources 11 and 12 and with the sensor beam path 26 through an optical fiber 42 and as an interferometer with two poor points A and B is executed.
  • the fiber end point C to the sensor beam path 26 is designed partially reflecting.
  • the partial wave, which in the longer reference arm 35 (point B) of the Vormodulierers is reflected 33 and at the fiber end point C is brought to interference with the part of shaft which kür ⁇ zeren object arm 36 (point A) and the workpiece 6 (point D) is reflected.
  • the remaining part of interference between waves so have large path differences that their spectral Modula ⁇ tion is no longer dissolved by a FD OCT sensor or lies outside the measuring range of a TD OCT sensor.
  • the optical path length in the sensor optical path 26 to the workpiece surface is wavelength dependent because having Glaskompo ⁇ components dispersions.
  • Vormodulierers glass components are placed, whose Ge ⁇ feldisperson is that of rotarms. Therefore, for the free-jet pre-modulator 33, a glass optic with the same total dispersion as in the sensor beam path from point C to point D is provided.
  • FIG. 2 shows a schematic sketch of a material processing device 2 according to a second embodiment of the invention.
  • Components having the same functions as in FIG. 1 are identified by the same reference numerals and will not be discussed separately.
  • an interferometer 34 is inserted in the collimated sensor beam before being coupled into the machining beam path 25, wherein the reference arm 37 has a dispersion compensating effect and has approximately the same length as the object arm 38 from the interferometer beam splitter 40 to the workpiece 6 ,
  • a brightness adjustment of the light wave in the reference arm 37 can take place.
  • aperture or filter having a constant spectral transmission and a constant optical path and have no dispersion effects or wavefront aberrations.
  • a preferred embodiment is a reference mirror 43, which has a spatially variable reflectivity and can be displaced along the mirror plane, so that the spot of the sensor light, which focuses on the reference mirror 43, is varied in its intensity. It is also possible to use devices which change the spectral transmission or path length in a predictable manner, so that this can be taken into account in the evaluation software.
  • Calibration of the three-dimensional sensor spot position can be carried out with a planar specular mirror body on which grid marks are applied and which is adjustable in height.
  • the f-theta ob ektiv 19 has a field curvature and distortion.
  • the optical path length of the sensor beam to the workpiece plane 41 - applied over the measuring field in the x and y directions - has a saddle-shaped design. Therefore, according to the invention in a calibration run, the relationship between the scanner mirror ⁇ angles and the adjustment of a Nachfokussierers one hand, and the three-dimensional position of the spots, as well as its measured by the sensor optical path and its Defokussie- tion on the other hand determined.
  • a reference mirror which can be displaced in z-direction in several defined steps by approximately half the sensor center wavelength.
  • a position-controlled piezo actuator or a transversely oscillating stage mirror can be used.
  • I (j) I (z 0 + j * Az)
  • phase value is calculated for each k-pixel, the known terms cos (4n * ⁇ / ⁇ ) and sin (4n * ⁇ / ⁇ ) being used to determine the phase
  • Purpose of the phase-shifting measurement is a higher robustness of the measurement value due to the higher number of Mes ⁇ solutions which are included in the evaluation.
  • FIG. 3 shows a raw spectrum with FIG. 3a and with FIG. 3b a level spectrum according to the invention.
  • Fig. 3 shows a raw spectrum with FIG. 3a and with FIG. 3b a level spectrum according to the invention.
  • Fig. 5 shows a polarization and angle-dependent trans- mission of the used scanner mirrors 31 and 32.
  • Fig. 5 shows the polarization-dependent reflection spectrum of a single galvanomirror for three angles of incidence, namely an angle of incidence of 57.5 ° in Figure 5a, an incident ⁇ angle 45 ° in Figure 75b and an angle of incidence 27.5 ° in Figure 5c.
  • Dotted curves represent an s-polarization
  • dashed curves represent a p-polarization
  • solid curves represent a "random polarization".
  • the object wave and the reference wave has the form ⁇
  • Z 0 and z R are the running distances in the two interferometer arms.
  • E 0 and E R are constants.
  • I mod (E 0 * E * R + E * 0 * ER) * cos [4n (z 0 -z R ) / ⁇ ]
  • E 0 E 1 * exp [i * 4n di / ⁇ ] + E 2 * exp [i * 4nd 2 / X]
  • Io bD ekt I Ei I 2 +
  • the spectrum contains two closely neighboring layer thicknesses and forms beating phenomena.
  • FIG. 6 shows the refractive index of quartz glass in the surrounding environment ⁇ the laser wavelengths around 1050 nm.
  • This wavelength-dependent refractive index of quartz glass can be used for an extended depth of field by use of the chromatic focus displacement ⁇ bung.
  • the focal length f is therefore wel ⁇ lenidenput when using quartz glass.
  • R radius of curvature
  • fo and no are the focal length and the refractive index at the laser wavelength, respectively.
  • the depth of field It is given by the Rayleigh length, on which the beam cross- sectional area of a Gaussian beam, starting from the beam focus, doubled (or the intensity halved)
  • FIG. 7 shows a diagram for Gaussian beam parameters with respect to the waist diameter and the Rayleigh length.
  • the chromatic focus shift of the f-theta objective is used according to the invention in order to simultaneously have a n small spot at high NA and a large capture range for a focused measurement. This is in the example 270 pm for 100 nm sensor bandwidth.
  • a n small spot at high NA and a large capture range for a focused measurement This is in the example 270 pm for 100 nm sensor bandwidth.
  • one wavelength in the sensor band becomes maximally sharp. Only wavelengths around the focus maximum with the focus Shift ⁇ +/- z R significantly contributes to the signal. Therefore, according to the invention, the following measures are carried out:
  • a sensor with a large capture range ie an extremely broadband sensor is used.
  • the measurement method can here be spectral interferometric or chromatic confocal.
  • spectral interferometric or chromatic confocal For the fine measurement, a series of narrowband spectral interferometric sensors is responsible. Their wavelength ranges overlap and cover the overall spectrum of the coarse sensor. Each one of these Sen ⁇ sensors is activated.
  • Such a multi-sensor concept is realized with only peo ⁇ gen spectrometer.
  • a spectrometer with echelle grating is used which detects different spectral ranges depending on Beugungsord ⁇ voltage.
  • a plurality of SLD light sources, wherein each SLD is associated with a specific diffraction order used.
  • Spectrometers include fiber couplers, fiber circulators and / or WDM couplers, a fiber analog to the dichroic beam splitter, or alternatively, a free-jet coupler.
  • the fiber channels in the direction of the interferometer are coupled via a fiber switch to an end fiber (so that one always measures at the same point).
  • the fibers in the direction of the spectrometer become an ray, which is perpendicular to the direction of the spectral fanning.
  • the pixels of the line end ⁇ tektors capture are long enough (0.5 or 1 mm) to the light from each fiber of the array in the array direction.
  • Figure 8 shows a partial perspective schematic diagram of a material processing apparatus according to the prior art, which has already been discussed in the introduction, which is why a re-consideration at this point is unnecessary.
  • the material processing device 1 has a computer-aided control device 30, which is equipped with a low-pass characteristic at scanner mirrors 31 and 32 with coatings that have a different reflectivity at the sensor wavelength and at the laser wavelength, the sensor wavelength greater than the laser ⁇ light wavelength is passedfil ⁇ tert from the reflected signal and evaluated for distance detection.
  • a computer-aided control device 30 which is equipped with a low-pass characteristic at scanner mirrors 31 and 32 with coatings that have a different reflectivity at the sensor wavelength and at the laser wavelength, the sensor wavelength greater than the laser ⁇ light wavelength is passedfil ⁇ tert from the reflected signal and evaluated for distance detection.
  • scanner mirrors At scanner mirrors

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Materialbearbeitungsvorrichtung (1) mit Bearbeitungsstrahlen (4) eines Strahlerzeugers (5) und mit in-situ Messen des Bearbeitungsabstands (a) zwischen dem Strahlerzeuger (5) und dem Werkstück(6). Die Materialbearbeitungsvorrichtung (1) weist dazu einen Bearbeitungslaser (13) mit Bearbeitungsstrahlen (4) auf. Ein Laserscanner (14) mit zweidimensionaler Ablenkeinrichtung mit Scannerspiegeln (31, 32) ist strahlabwärts eines Bearbeitungslasers (13) angeordnet. Eine automatische Fokusnachstelleinrichtung für variierende Bearbeitungsabstände (a(t)) ist vorgesehen. Eine Sensorvorrichtung (16) mit einem Spektrometer (17) und mindestens mindestens zwei Sensorlichtquellen erzeugt Messstrahlen (18), die über den Laserscanner (14) und ein Objektiv (19) gemeinsam den Bearbeitungsbereich (20) des Werkstücks (6) unter Erfassung des Werkstückabstands (a) abtasten. Die Messstrahlen (18) der Sensorlichtquellen (11,12) sind linearpolarisiert und mit gekreuzten Polarisationsrichtungen in den Bearbeitungsstrahlengang (25) des Laserscanners (14) der Materialbearbeitungsvorrichtung (1) über ein optisches Koppelelement (21) kollimiert eingekoppelt.

Description

Beschreibung
Materialbearbeitungsvorrichtung mit in-situ Messen des Bearbeitungsabstands
Die Erfindung betrifft eine Materialbearbeitungsvorrichtung mit Bearbeitungsstrahlen eines Strahlerzeugers und mit in- situ Messen des Bearbeitungsabstands zwischen dem Strahler¬ zeuger und dem Werkstück. Die Materialbearbeitungsvorrichtung weist dazu einen Bearbeitungslaser mit Bearbeitungsstrahlen im nahen Infrarot auf. Ein Laserscanner mit zweidimensionaler Ablenkeinrichtung mit Scannerspiegeln ist strahlabwärts eines Bearbeitungslaser angeordnet. Eine automatische Fokusnach¬ stelleinrichtung für variierende Bearbeitungsabstände ist vorgesehen.
Eine derartige Materialbearbeitungsvorrichtung ist aus der Druckschrift EP 1 977 850 AI bekannt. Figur 8 zeigt eine teilweise perspektivische Prinzipskizze einer derartigen Ma- terialbearbeitungsvorrichtung 3 gemäß dem Stand dem Technik. Diese Materialbearbeitungsvorrichtung 3 bearbeitet mit Bearbeitungsstrahlen 4 eines Strahlerzeugers 5 und mit in-situ Messen des Bearbeitungsabstands a zwischen einem Bearbei¬ tungskopf 7 und dem Werkstück 6 das perspektivisch darge- stellte leicht gewölbte Werkstück 6. Die Materialbearbei¬ tungsvorrichtung 3 weist dazu als Strahlerzeugers 5 einen Be¬ arbeitungslaser mit Bearbeitungsstrahlen 4 im nahen Infrarot auf. Der Bearbeitungskopf 7 wird von einem Industrieroboter 8 geführt. In der Materialbearbeitungsvorrichtung 3 ist eine automatische Fokusnachstelleinrichtung für zeitlich variierende Bearbeitungsabstände a(t) vorgesehen, um beispielsweise der Wölbung 9 des Werkstücks 6 beim führen des Werkstücks 6 in Pfeilrichtung A zu folgen. Dazu ist in dem Bearbeitungs- köpf 7 ein optischer Kohärenztomograph 10 zur Tomographieerfassung vorgesehen.
Ein Nachteil dieser Materialbearbeitungsvorrichtung 3 ist, dass die Messsignale für die Tomographieerfassung über Licht¬ leitfasern transportiert werden. Bei Vibrationen im Betrieb kann durch Schwingungen an Lichtleitfasern die spektrale Transmission und damit der Polarisationszustand und das Mi¬ schungsverhältnis zwischen einzelnen Polarisationsmoden ver- ändert sein, was das Messergebnis und damit die Tomographie¬ erfassung beeinträchtigt.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile im Stand der Technik zu überwinden und vor, während sowie nach der Bear- beitung (Ablatieren, Auftragschweißen, usw.) einer Oberfläche durch einen Laser, die Topographie berührungslos zu erfassen. Ziel ist es dabei die Zuverlässigkeit der Regelung des Bear¬ beitungsprozesses und die Endpunktbestimmung des Materialab- /auftrags mit Hilfe einer Abstandsmessung zu verbessern. Eine weitere Aufgabe ist es, den Abstand des Werkstücks zum Bear¬ beitungssystem absolut zu messen z.B. um den Fokus des Lasers nachzustellen .
Diese Aufgabe wird mit dem Gegenstand der unabhängigen An- sprüche gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
Erfindungsgemäß wird eine Materialbearbeitungsvorrichtung mit Bearbeitungsstrahlen eines Strahlerzeugers und mit in-situ Messen des Bearbeitungsabstands zwischen dem Strahlerzeuger und dem Werkstück geschaffen. Die Materialbearbeitungsvorrichtung weist dazu einen Bearbeitungslaser mit Bearbeitungsstrahlen auf. Ein Laserscanner mit zweidimensionaler Ablenk- einrichtung mit Scannerspiegeln ist strahlabwärts eines Bearbeitungslaser angeordnet. Eine automatische Fokusnachstell¬ einrichtung für variierende Bearbeitungsabstände ist vorgese¬ hen. Eine Sensorvorrichtung mit einem Spektrometer und min- destens zwei Sensorlichtquellen erzeugt Messstrahlen, die ü- ber den Laserscanner und ein Objektiv gemeinsam den Bearbeitungsbereich des Werkstücks unter Erfassung des Werkstückabstands abtasten. Die Messstrahlen von mindestens zwei der Sensorlichtquellen sind linearpolarisiert und mit ge- kreuzten Polarisationsrichtungen in den Strahlengang des Laserscanners der Materialbearbeitungsvorrichtung über ein optisches Koppelelement kollimiert eingekoppelt.
Diese Materialbearbeitungsvorrichtung hat den Vorteil, dass für die Sensoroptik eine vorgegebene Laserscanneroptik eines Bearbeitungslasers verwendet wird, so dass Bearbeitungsstrahl und Sensormessstrahlen über ein F-theta-Linsensystem auf das Werkstück gemeinsam gerichtet sind. Als Bearbeitungslaser ist typischerweise ein Festkörperlaser mit einer Wellenlänge im Bereich zwischen 1030 nm und 1070 nm vorgesehen. Ein weiterer Vorteil ist, das mindestens zwei Sensorlichtquellen die Mess¬ strahlen erzeugen, die linearpolarisiert sind und mit ge¬ kreuzten Polarisationsrichtungen in den Strahlengang des Laserscanners der Materialbearbeitungsvorrichtung über ein op- tisches Koppelelement kollimiert eingekoppelt werden, so dass die Sensorvorrichtung robuster vor Vibrationen der Materialbearbeitungsvorrichtung geschützt ist, zumal durch die gekreuzten Polarisationsrichtungen Erschütterungen oder Vibrationen der eingesetzten Lichtleitfasern die Beleuchtungs- und Detektionseigenschaften nicht mehr beeinträchtigen.
Dazu wird in der Materialbearbeitungsvorrichtung ein spektra- linterferometrischer Abstandssensor (auch OCT genannt, opti- cal coherence tomography) in den Laserscanner für die Materialbearbeitung integriert. Erfindungsgemäß wird zur Lösung der Aufgabe somit eine Kombination von Merkmalen vorgeschlagen, die eine hochwertige Abstandsmessung im gesamten Volumen des Laserscanners ermöglicht. Dazu werden vor allem Maßnahmen zur spektralen Stabilisierung vorgesehen.
Durch die Verwendung von unpolarisierten Lichtquelle wie vorzugsweise von zwei Lichtquellen mit linear polarisierter Ab- Strahlung, die mit einer polarisationserhaltenden Faser zu einem PBC (Polarisation beam combiner) transportiert werden und im PBC mit gekreuzten Polarisationsrichtungen durch einen polarisierenden Strahlteiler zusammengeführt werden, wird verhindert, dass durch Wackeln an den Lichtleitfasern der Po- larisationszustand und damit das Mischungsverhältnis zwischen den Polarisationsmoden verändert wird. Die spektrale Trans¬ mission wird demnach nicht mehr beeinträchtigt selbst wenn optische Komponenten eine je nach Polarisationsrichtung unterschiedliche spektrale Transmission aufweisen.
Wenn jedoch in den beiden Polarisationsmoden beispielsweise durch Spannungsdoppelbrechung oder durch Beschichtung unterschiedliche Wegunterschiede vorliegen, spaltet sich im un¬ günstigsten Fall der auszuwertende Abstandspeak in zwei Teil- peaks. In dem Fall wird in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ein doppelbrechendes Element in den Strahlengang eingefügt, dessen Hauptrichtungen mit den Hauptrichtungen der polarisationsrelevanten Komponenten, wie Strahlteiler
und/oder Galvanospiegel übereinstimmen. Dadurch werden die beiden Peaks so weit getrennt, dass eine saubere Auswertung möglich ist. Als Lichtquellen werden Superlumineszens-Dioden mit linear polarisierter Abstrahlung eingesetzt, wobei die Lichtquellen über polarisationserhaltende Lichtleitfasern mit einem Pola- risationsstrahlenkoppler verbunden sind, der durch einen po- larisierenden Strahlteiler die gekreuzten Polarisationsrichtungen zusammenführt. Zum kollimierten Einkoppeln der Sensorstrahlen in den Bearbeitungsstrahlengang, weist der Sensorstrahlengang einen schmalbandigen dichroischen Strahlteiler wie ein schmalbandiges Notch-Filter auf.
Anstelle eines schmalbandigen dichroischen Strahlteilers kann zum kollimierten Einkoppeln der Sensorstrahlen in den Bearbeitungsstrahlengang, auch ein rotierendes Filterrad vorgese¬ hen sein, das abwechselnd Laserlicht oder Sensorlicht in den Laserscanner einkoppelt und synchron zur Pulsfrequenz des Bearbeitungslasers rotiert, so dass in vorteilhafter Weise in den Pulspausen des Bearbeitungslasers der Laserscanner für den Messstrahl zur Verfügung steht und der Bearbeitungsvorgang nicht beeinträchtigt wird. Mit einem in den Strahlengang einschwenkbarer Umlenkspiegel, kann in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ebenfalls ein kollimiertes Einkoppeln der Sensorstrahlen in den Bearbeitungsstrahlengang erreicht werden . Eine Nachfokussierung des Sensorlichts erfolgt vorzugsweise durch Mitverwendung der Fokusnachführung des Lasers . Das Sensorlicht ist dabei nahezu kollimiert in den Laserstrahlengang eingekoppelt. Um jedoch die chromatische Fokusverschiebung des F-theta-Ob ektivs zu kompensieren, wird die Linse des Sensorkollimators nachfokussiert .
Trotz variierender Verkippung der dielektrisch beschichteten Scannerspiegel kann eine Stabilisierung einer spektralen Re- flektivität dadurch erreicht werden, dass die Sensorwellen¬ länge mit 1260 bis 1360 nm (Nanometer) nahe bei der oben er¬ wähnten Laserwellenlänge zwischen 1030 nm und 1070 nm vorge¬ sehen ist. Eine gleichmäßig hohe, verkippungs- und polarisa- tionsunabhängige Reflektivität der Scannerspiegel wird somit auch für das Sensorlicht genutzt.
Außerdem ist es möglich, die Sensorwellenlänge in den Wellenlängenbereich des „Kamerafensters" der Scannerspiegel bei ca. 650 nm zu legen. Hier sind die Reflektivitäten der Scannerspiegel bzw. Galvanospiegel ebenfalls hoch und gleichmäßig. Für einen derartigen Wellenlängenbereich stehen kommerzielle Strahlteiler zur Sensorstrahleinkopplung zur Verfügung. Das vereinfacht in vorteilhafter Weise eine Nachrüstung einer be- stehenden Materialbearbeitungsvorrichtung mit der neuen Sensorvorrichtung zu einer erfindungsgemäßen Materialbearbeitungsvorrichtung .
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist es vorge- sehen, dass die Materialbearbeitungsvorrichtung ein rechnergestütztes Steuergerät aufweist, das für Scannerspiegel mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Reflektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufweisen, mit einer Tiefpasscharakteristik ausgestattet ist, die eine Sensorlichtwellenlänge, die größer als die Laserlichtwellen¬ länge ist aus dem reflektierten Signal herausfiltert und zur Abstandserfassung auswertet.
Alternativ zur Tiefpassfilterung kann eine spektrale Einhül- lende Io-mean(k) auch in einer Kalibrierfahrt für jede Kombina¬ tion der Orientierung der Galvanospiegel gemessen werden. Hierbei wird eine Planfläche mit bekannter spektraler Reflek- tivität vermessen. Dazu weist die Materialbearbeitungsvor- richtung ein rechnergestütztes Steuergerät auf, das bei Scan¬ nerspiegeln mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Re- flektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwel¬ lenlänge aufweisen, Kalibrierfahrten veranlasst, Mit den Ka- librierfahrten kann jede Kombination der Orientierung der galvanisch beschichteten Scannerspiegel im Vergleich zu einer Planfläche mit bekannter spektraler Reflektivität vermessen und im Rechner tabelliert gespeichert und wobei die gespei¬ cherte Tabelle bei der Auswertung des reflektierten Messsig- nals berücksichtigt werden.
Diese Lösung ist nur brauchbar, wenn die Welligkeit des re¬ flektierten Messsignals nicht allzu groß ausfällt. Im wesent¬ lichen geht es darum, dass es nicht möglich ist, den Term εχρ[ί*Φ(λ)] zu separieren. Es können nur |Ei| und | E2 I be¬ stimmt und eliminiert werden. Dabei muss vorausgesetzt wer¬ den, dass Φ(λ) im gesamten Wellenlängenbereich im Intervall ±n/2 liegt. Außerdem ist es denkbar, dass der Mischterm einen Knoten, wo | ER | * | ER | = 0 ist, hat und wo die Phase der Trä- gerfrequenz umklappt, d.h. um n springt. Dies kann abgefangen werden, indem bei der Division durch | ER | * | ER | am Knoten ein VorZeichenwechsel von | ER | * | ER | angesetzt wird.
Damit ergibt sich folgendes:
Im allgemeinen Fall ist
E0 = Ει(λ) * exp[i*3>(X) ]
mit reellem Ei und damit
I = |ER|2 + I Ei I 2 + 2 I ER I * I Ei I { cos Φ(λ) * cos[4n(z0 - zR) /λ] - sin Φ(λ)* sin[4n(z0 - zR) /λ] }
= |ER|2 + |Ei|2 + 2|ER|*|ER| * cos[4n(z0 - zR) λ + Φ(λ)]
Bevorzugt messbar sind sind folgende Spektren:
iReferenz = ER 2 (Objektarm abgeblendet) lobjekt = Ei (Referenzarm abgeblendet)
Sind diese bekannt, ist es möglich, aus dem ebenfalls gemes¬ senen I den Cosinus-Term zu separieren. Das Problem ist nun, dass die Phasenstörung nicht ohne weite¬ res von der Abstandsphase
Φο(λ)= 4n(z0 - zR) /λ
Separiert werden kann, da sie in I (λ) nur als Summe auftre¬ ten. Daher wird nun | ER | und |Ei| ermittelt. Dann wird der Mischterm
2|ER|*|ER| * cos[4n(z0 - zR) λ + Φ(λ)]
durch |ER|*|ER| dividiert.
Die Elimination der Reflektionsamplituden erfolgt durch Ver- gleich der gefilterten fouriertransformierten Fourierspektren. Es wird daraus die spektrale Modulation ermit¬ telt. Durch diese wird das trägerfrequenzgefilterte Spektrum dividiert, was eine Gewichtungsoperation bildet. Genauso funktioniert eine Mess-Serie mit drei eng benachbar¬ ten Abständen des Werkstücks (bzw. eines Planspiegels) oder des Referenzspiegels mit:
I(zo - Δζ), I(z0) und I(z0 + Δζ)
Durch Differenzbildung erhält man
I(z0) - I(z0 + Δζ) = 2ER*Ei*
{ [1-cos (4πΔζ/λ) ] *cos [4n (z0 - zR) /X + Φ(λ)] + sin(4nAz/X) * sin [4n (z0 - zR) /X + Φ(λ) ] }
I (z0) - I (z0 - Δζ) = 2ER*Ei*
{ [1-cos (4πΔζ/λ) ] *cos [4n (z0 - zR) /X + Φ(λ)] + sin(4nAz/X) * sin[4n (z0 - zR) /X + Φ(λ)]}
und schließlich
I(z0) - I(z0 + Δζ) - [I(zo) - I(z0 - Δζ)]
= I(z0 - Δζ) - I(z0 + Δζ) = 4 ER * Ei * sin(4nAz/X)* sin[4n(z0 - zR) /λ + Φ(λ) ]
und
Figure imgf000011_0001
= 4ER*E! * [1-COS (4πΔζ/λ) ] *COS [4n (Z0 - zR) /λ + Φ(λ)]
Damit sind Cosinus und Sinus bekannt. Das gesuchte Φ(λ) kann somit absepariert werden.
Man kann Φ(λ) auch mit einer Fouriermethode ermitteln. Hierzu wird die komplexe Fouriertransformierte bzw. FFT des entzerr- ten Spektrums für negative Schichtdicken und für kleine
Schichtdicken auf Null gesetzt und invers fouriertransformiert. Es wird vorausgesetzt, dass der Fourierpeak zur Dis¬ tanzmessung außerhalb der genullten Region liegt. Als Ergebnis erhält man:
Ii = Εκ*Ε!(λ) * εχρ[ί*Φ(λ)] * exp[i4n(z0 - zR) /λ] .
Eine Betragsbildung liefert somit:
Figure imgf000011_0002
In der nächsten invers-FFT werden nur Schichtdicken mit kleinen Beträgen stehen gelassen. Das liefert
Figure imgf000011_0003
so dass
0 = ER 4 - I3ER 2 + I2 2 ist.
Das Ergebnis besteht darin, dass die Werte ER , Ει(λ) und Φ(λ) aus einem einzigen Spektrum - und zwar dem abstandsmes- senden Spektrum - herauspräpariert werden können.
Im letzten Schritt wird schließlich:
Ii mit 1/ (ER *Ει(λ) multipliziert und fouriertransformiert. Dabei wird vorrausgesetzt , dass Φ(λ) eine einigermaßen glatte Funktion ist. In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung weist die Sensorvorrichtung einen Freistrahl-Vormodulierer auf, der sowohl mit den Sensorlichtquellen als auch mit dem Sensorstrahlengang durch eine Lichtleitfaser verbunden ist. Dazu ist der Freistrahl-Vormodulierer als Interferometer mit zwei Armen ausgeführt und das Faserende des Freistrahl-Vormodulierers ist zum Sensorstrahlengang hin teilreflektierend ausgeführt. Durch den Freistrahl-Vormodulierer wird eine erste Teilwelle mit einer zweiten Teilwelle zur Interferenz gebracht. Die erste Teilwelle wird in dem längeren Referenzarm des Frei¬ strahl-Vormodulierers und am Faserende, während die zweite Teilwelle in dem kürzeren Objektarm des Freistrahl-Vormodu¬ lierers und an dem Werkstück reflektiert wird. Dabei liegen in vorteilhafter Weise andere spektrale Modulationen außer- halb des Messbereichs einer Auswerteeinheit. Um die Gesamt¬ dispersion im Sensorstrahlengang zu kompensieren, ist in dem Freistrahl- Vormodulierer eine Glasoptik mit einer gleichen Dispersion wie die Gesamtdispersion im Sensorstrahlengang vorgesehen .
Anstelle eines Freistrahl-Vormodulierers sieht eine weitere Ausführungsform der Erfindung ein Interferometer vor. Das Interferometer ist in dem kollimierten Sensorstrahl vor einer Einkopplung des Bearbeitungslaserstrahls angeordnet. Dabei wirkt ein Referenzarm des Interferometers dispersionskompen- sierend. Der Referenzarm weist dazu die gleiche optische Län¬ ge wie der Objektarm zwischen einem Interferometerstrahltei- ler und dem Werkstück auf. Darüber hinaus ist in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ein weiterer Sensorkopf außerhalb der Bearbeitungszo¬ ne vorgesehen, der einen Referenzabstand zum Werkstück er- fasst und eine absolute Änderung einer Bearbeitungstiefe bei Laserabiation oder einer Bearbeitunghöhe bei einem Material¬ auftrag ermittelt.
Die Erfindung wird nun an Hand der beigefügten Figuren näher erläutert .
Figur 1 zeigt eine schematische Skizze einer Materialbea- beitungsvorrichtung gemäß einer ersten Ausführungs form der Erfindung;
Figur 2 zeigt eine schematische Skizze einer Materialbea- beitungsvorrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung;
Figur 3 zeigt mit Figur 3a ein Rohspektum und mit Figur 3b ein nivelliertes Spektrum nach erfindungsgemäßer Bearbeitung;
Figur 4 zeigt zwei gemessene Reflexionsspektren eines Plan spiegeis eines Laserscanners;
Figur 5 zeigt die Polarisations- und winkelabhängige Trans mission von Scannerspiegeln;
Figur 6 zeigt den Brechungsindex von Quarzglas in der Umge bung der Laserwellenlängen um 1050 nm;
Figur 7 zeigt ein Diagramm für Gaußstrahlparameter in Bezug auf Taillendurchmesser und Rayleighlänge ;
Figur 8 zeigt eine telweise perspektivische Prinzipskizze einer Materialbearbeitungsvorrichtung gemäß dem Stand dem Technik. Figur 1 zeigt eine schematische Skizze einer Materialbeabei- tungsvorrichtung 1 gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung. Die Materialbearbeitungsvorrichtung 1 arbeitet mit Bearbeitungsstrahlen 4 eines Strahlerzeugers 5 und mit in- situ Messen des Bearbeitungsabstands (a) zwischen dem Strahl¬ erzeuger 5 und einem Werkstück 6. Die Materialbearbeitungs¬ vorrichtung 1 weist dazu des Bearbeitungslaser 13 mit Bearbeitungsstrahlen 4 im nahen Infrarot auf. Ein Laserscanner 14 mit zweidimensionaler Ablenkeinrichtung 15 mit Scannerspiegeln 31 und 32 ist strahlabwärts eines Bearbeitungslasers 13 angeordnet. Eine automatische Fokusnachstelleinrichtung für variierende Bearbeitungsabstände a(t) ist vorgesehen. Eine Sensorvorrichtung 16 mit einem Spektrometer 17 und Sensorlichtquellen 11 und 12 erzeugt Messstrahlen 18, die über den Laserscanner 14 und ein Objektiv 19 gemeinsam den Bearbeitungsbereich 20 des Werkstücks 6 unter Erfassung des Werkstückabstands a abtasten. Die Messstrahlen 18 der Sensor- lichtquellen 11,12 sind linearpolarisiert und mit gekreuzten Polarisationsrichtungen in den Bearbeitungsstrahlengang 25 des Laserscanners 14 der Materialbearbeitungsvorrichtung 1 über ein optisches Koppelelement 21 kollimiert eingekoppelt. Die Lichtquellen 11 und 12 werden von zwei Superlumineszens- Dioden SLD mit linear polarisierter Abstrahlung gebildet.
Diese Lichtquellen 11 und 12 sind über polarisationserhaltende Lichtleitfasern 22 und 23 mit einem Polarisationsstrahlen- koppler bzw. dem Koppelelement 21 verbunden, der durch einen polarisierenden Strahlteiler 24 die gekreuzten Polarisations- richtungen zu einem Sensorlicht 29 in einer Lichtleitfaser 42 zusammenführt und die Messstrahlen 18 des Sensorastrahlengangs 26 bildet. Die Materialbearbeitungsvorrichtung 1 weist ein rechnergestütztes Steuergerät 30 auf, das bei Scannerspiegeln 31 und 32 mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Reflektivi- tät bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufweisen, mit einer Tiefpasscharakteristik ausgestattet ist, die eine Sensorlichtwellenlänge, die größer als die Laser¬ lichtwellenlänge ist aus dem reflektierten Signal herausfil¬ tert und zur Abstandserfassung auswertet. Bei Scannerspiegeln
31 und 32 mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Re- flektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwel¬ lenlänge aufweisen, veranlasst das rechnergestützte Steuerge¬ rät 30 Kalibrierfahrten mit welchen jede Kombination der Orientierung der galvanisch beschichteten Scannerspiegel 31 und
32 im Vergleich zu einer Planfläche mit bekannter spektraler Reflektivität vermessen und im Rechner tabelliert gespeichert wird, und wobei die gespeicherte Tabelle bei der Auswertung des reflektierten Messsignals berücksichtigt wird.
Die Laserscanneroptik besteht sowohl für die Materialbeabei tungsvorrichtung 1 gemäß Figur 1 als auch für die Material- beabeitungsvorrichtung 2 gemäß Figur 2 vorzugsweise aus fol genden Komponenten:
1. einem Beam-Expander 39 bzw. einem optischen Strahlauf- weiter mit Steuerung der Strahlkonvergenz für eine axia le Fokuslage;
2. einem Strahlteiler für ein in Figur 1 und Figur2 nicht gezeigtes Kamera-Modul zur Beobachtung des Bearbeitungs bereichs 20, das typischerweise für 650 nm ausgelegt ist ;
3. einem Paar Galvanospiegel 31 und 32 zur Ablenkung des kollimierten Strahls in x- und y-Richtung, die orthogonal zur optischen z-Achse ausgerichtet sind; 4. einem F-theta-Linsensystem, das ein Spezialo ektiv 19 zum Gebrauch zusammen mit dem galvanisch beschichtetem Galvanospiegelpaar 31 und 32 ist und zur Fokussierung des kollimierten Bearbeitungsstrahls 4 in der Bearbei- tungsebene 41, vorzugsweise telezentrisch ist, d.h. der fokussierte Bearbeitungsstrahl 4 trifft überall im Mess- /Bearbeitungsfeld senkrecht auf die Oberfläche auf.
Die Numerische Apertur NA des fokussierten Strahls 4 liegt typischerweise unter 0,1 mit einem Strahlkegel unter +/- 5°. Sobald die Oberflächenneigung über den Kegelwinkel hinaus¬ geht, wird kein Licht zurück in die als „koaxial" bezeichnete Sensorvorrichtung 16, bei der die Beleuchtungsrichtung gleich der Detektionsrichtung ist, gespiegelt. Daher sind optische Sensoren in dem Spektrometer 17 eingesetzt, die auch noch Streulicht von schrägen Oberflächen auswerten können. Da die Oberfläche durch eine Laserbearbeitung meistens rauh wird, kann mit Streulicht gerechnet werden, so dass eine auswertba¬ rer Anteil von dem Werkstück 6 in Detektorrichtung reflektiert wird.
Dabei haben sich konfokal-chromatische Sensoren als ungeeig¬ net erwiesen, weil deren niedrige Numerische Apertur der Scanneroptik zu hoher Meßungenauigkeit führt. Einen weiteren Nachteil derartiger konfokaler-chromatischer Sensoren bildet die temperaturabhängige Kalibrierkurve, so dass eine Erwär¬ mung der f-theta-Linsen durch den Leistungslaser die Kennlinien der konfokal-chromatischen Sensoren verändern kann. In Figur 1 und Figur 2 werden unpolarisierte Lichtquellen 11 und 12, nämlich zwei Superlumineszens-Dioden (bzw. SLD) mit jedoch linear polarisierter Abstrahlung, die mit polarisati- onserhaltenden Lichtleitfasen 22 und 23 zu einem PBC (polari- sation beam combiner) transportiert werden und im PBC mit gekreuzten Polarisationsrichtungen durch einen polarisierenden Strahlteiler 24 zusammengeführt werden, verwendet. Wenn optische Komponenten wie Strahlteiler und Galvanospiegel eine je nach Polarisationsrichtung unterschiedliche spektrale Transmission aufweisen, wird auf diese Weise verhindert, dass durch Wackeln an den Lichtleitfasern 22, 23 oder 42 der Polarisationszustand und damit das Mischungsverhältnis zwischen den Polarisationsmoden und dadurch die spektrale Transmission verändert wird. Wenn in den beiden Polarisationsmoden jedoch unterschiedliche Wegunterschiede vorliegen (z.B. durch Span¬ nungsdoppelbrechung oder durch Beschichtung) , spaltet der Abstandspeak in zwei Teilpeaks auf. Um die beiden Teilpeaks so weit zu trennen, dass eine saubere Auswertung möglich ist, wird erfindungsgemäß ein doppelbrechendes Element, dessen Hauptrichtungen mit den Hauptrichtungen der polarisationsrelevanten Komponenten wie Strahlteiler und Galvanospiegel ü- bereinstimmen, in den Strahlengang eingefügt.
In den mit den in den Figuren 1 und 2 gezeigten Ausführungsformen der Anmeldung werden spektraloptische FD (OCT) - Sensoren (Fourier Domain Optical Coherence Tomography - Sensoren) eingesetzt. Diese haben jedoch folgende Nachteile, die durch den Gegenstand der vorliegenden Erfindung überwunden werden.
Unkontrollierte Wegänderung zwischen Objekt- und Referenzarm durch Temperaturdrift oder Wackeln am Lichtleiter werden erfindungsgemäß durch den Einsatz von mindestens zwei Licht- quellen kompensiert;
Deutlich unterschiedliche Intensitäten aus Objekt- und Refe¬ renzarm und damit geringe spektrale Modulationstiefe bedingt z.B. durch schräge Oberfläche und / oder durch eine Defokus- sierung, werden durch minimale Messfleckdurchmesser erfindungsgemäß ausgeglichen;
Eine Defokussierung auf rauhen Oberflächen verschlechtert die Messqualität, da im Gegensatz zur spiegelnden Oberfläche, die nur ein einziges Teilstrahlenbündel zurück in die Lichtleit¬ fasern bringt, bringt jeder beleuchtete Teil der rauhen Ober¬ fläche Streulicht in Richtung der optischen Lichtleitfasern. Eine optische Lichtleitfaser sieht somit „ein Gemisch von Abständen". Dadurch wird auch der Fourierpeak ausgefranst aus. Dabei gilt, je kleiner der Spot auf einer rauhen Oberfläche, um so größer sind die Speckies (Spritzer) aus dem Streulicht. Deshalb wird in vorteilhafter Weise ein minimaler Messfleckdurchmesser mit einem Fokus auf der Oberfläche in dieser Erfindung erzeugt;
Eine schlechte Transmission des Sensorlichts durch den Strah¬ lengang der Scanneroptik wird erfindungsgemäß vermieden, indem die Sensorwellenlänge von der Laserwellenlänge nicht stark abweicht. Die Beschichtung von Optikkomponenten der Scanneroptik ist nämlich auf die Laserwellenlänge abgestimmt. Dies betrifft vor allem Antireflex-, Spiegel- oder Strahltei¬ lerschichten;
Eine veränderliche spektrale Transmission je nach Kippwinkel der Galvanospiegel aufgrund dielektrischer Spiegelschichten für einen Wellenlängenbereich, zumal blanke Metallspiegel für Laserlicht nicht geeignet sind, wird durch die erfindungsge¬ mäßen Maßnahmen nahezu neutralisiert.
Eine Unabhängigkeit optischer Wegunterschiede von Temperatur und Vibrationen wird durch Bereitstellung einer umweltresis- tenten Referenzwelle ermöglicht. In Figur 1 wird dazu ein
Vormodulierer 33 verwendet, der sowohl mit den Lichtquellen 11 und 12 als auch mit dem Sensorstrahlengang 26 durch eine Lichtleitfaser 42 verbunden ist und als Interferometer mit zwei Armen Punkte A und B ausgeführt ist. Das Faserende Punkt C zum Sensorstrahlengang 26 ist teilreflektierend ausgeführt. Die Teilwelle, die im längeren Referenzarm 35 (Punkt B) des Vormodulierers 33 und am Faserende Punkt C reflektiert wird, wird zur Interferenz gebracht mit der Teilwelle, die im kür¬ zeren Objektarm 36 (Punkt A) und am Werkstück 6 (Punkt D) reflektiert wird. Die übrigen Interferenzen zwischen Teilwellen haben so große Wegunterschiede, dass deren spektrale Modula¬ tion von einem FD OCT -Sensors nicht mehr aufgelöst wird bzw. außerhalb des Messbereichs eines TD OCT -Sensors liegt.
Die optische Weglänge im Sensorstrahlengang 26 bis zur Werkstückoberfläche ist wellenlängenabhängig, weil die Glaskompo¬ nenten Dispersionen aufweisen. Im Referenzarm des Freistrahl- Vormodulierers 33 sind Glaskomponenten platziert, deren Ge¬ samtdisperson die des Objektarms ist. Daher wird für den Freistrahl-Vormodulierer 33 eine Glasoptik mit gleicher Gesamtdispersion wie im Sensorstrahlengang von Punkt C nach Punkt D vorgesehen.
Figur 2 zeigt eine schematische Skizze einer Materialbeabei- tungsvorrichtung 2 gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in Figur 1 werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. In Figur 2 wird anstelle des Freistrahl- Vormodulierer ein Interferometer 34 im kollimierten Sensorstrahl vor der Einkopplung in den Bearbeitungsstrahlengang 25 eingesetzt, wobei der Referenzarm 37 dispersionskompensierend wirkt und etwa die gleiche Länge wie der Objektarm 38 von dem Interferometer-Strahlteiler 40 bis zum Werkstück 6 aufweist.
Durch steuerbare Blenden und/oder Filter kann eine Helligkeitsanpassung der Lichtwelle im Referenzarm 37 erfolgen. Da- zu werden vorzugsweise Blenden bzw. Filter eingesetzt, die eine konstante spektrale Transmission und einen konstanten optischen Weg haben und keine Dispersionseffekte oder Wellen- frontaberrationen aufweisen.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel ist ein Referenzspiegel 43, der eine räumlich variable Reflektivität aufweist und entlang der Spiegelebene verschoben werden kann, so dass der Spot des Sensorlichts, der fokussiert auf den Referenzspiegel 43 trifft, in seiner Intensität variiert wird. Einsetzbar sind auch Vorrichtungen, welche die spektrale Transmission oder Weglänge in vorhersagbarer Weise ändern, so dass dies in der Auswertungssoftware berücksichtigt werden kann.
Eine Kalibrierung der dreidimensionalen Sensorspot-Position kann mit einem planaren spiegelnden Kalibrierkörper, auf dem Rastermarken aufgebracht sind und der in der Höhe definiert verstellbar ist erfolgen. Das f-theta-Ob ektiv 19 weist eine Bildfeldwölbung und eine Verzeichnung auf. Außerdem hat die optische Weglänge des Sensorstrahls bis zur Werkstückebene 41 - aufgetragen über dem Messfeld in x-und y-Richtung - eine sattelförmige Gestalt. Daher wird erfindungsgemäß in einer Kalibrierfahrt der Zusammenhang zwischen den Scannerspiegel¬ winkeln und der Einstellung eines Nachfokussierers einerseits und der dreidimensionalen Position des Spots, sowie seines vom Sensor gemessenen optischen Wegs und seiner Defokussie- rung andererseits ermittelt.
Für eine phasenschiebende Messung wird ein Referenzspiegel, der in z-Richtung in mehreren definierten Schritten um ca. eine halbe Sensor-Mittenwellenlänge verschoben werden kann, eingesetzt. Dazu kann ein positionsgeregelter Piezosteller oder ein quer schwingender Stufenspiegel verwendet werden. Für eine phasenschiebende Messung wird eine Sequenz von min¬ destens drei Spektren mit z.B. äquidistanten Schritten j = 1, 2, 3 Gemessen. Damit ergibt sich:
I(j) = I(z0 + j*Az)
= ER2 + Ei2 + 2 ER* E ! *
{cos (4nj*Az/X) *cos [4n (z0 - zR) /X + Φ(λ)] - sin ( 4nj *Δζ/λ) sin[4n(z0 - zR) /X + Φ (X) ] }
In der Messauswertung wird für jedes k-Pixel der Phasenwert berechnet, wobei die bekannten Terme cos ( 4n *Δζ/λ) und sin ( 4n *Δζ/λ) verwendet werden, um die Phase
[4π(ζ0 - ζκ)/λ + Φ(λ)] zu bestimmen.
Zweck der phasenschiebenden Messung ist eine höhere Robustheit des Messwerts, bedingt durch die höhere Anzahl von Mes¬ sungen, die in die Auswertung eingehen.
Figur 3 zeigt mit Figur 3a ein Rohspektum und mit Figur 3b ein nivelliertes Spektrum nach erfindungsgemäßer Bearbeitung. Das Rohspektrum hat die Gestalt des in Fig. 3a gezeigten Diagramms. Ohne Licht vom Objekt (nur Referenzlicht) wird die gestrichelte Linie gemessen. Im auf k = l/λ entzerrten Spekt¬ rum wird das Referenzlicht subtrahiert, das ergibt Io(k) . Mit einem Tiefpaßfilter wird die spektrale Einhüllende Iomean(k) berechnet und dividiert, um in Figur 3b eine spektrale Modu¬ lation mit konstanter Amplitude zu erhalten. Schließlich wird eine FFT durchgeführt. Fig. 4 zeigt zwei gemessene Reflekt ionsspektren eines Plan¬ spiegels eines Laserscanners im Spektralbereich 1260 bis 1360 nm und für zwei Winkelstellungen des Galvanospiegelpaars. In jedem Diagramm sind mehrere Spektren bei Nachfokussierung in äquidistanten Schritten gezeigt. Es ist erkennbar, dass beim Nachfokussieren der Intensitätsschwerpunkt von der kurzwelli¬ geren Seite zu der langwelligeren Seite des Spektrums wandert. Darüber hinaus zeigt die spektrale Einhüllende eine wellige Form, die sich in den beiden Spiegelstellungen unterscheidet. Die Welligkeit entsteht durch eine dielektrische Spiegelschicht der Galvanospiegel.
Fig. 5 zeigt eine Polarisations- und winkelabhängige Trans- mission der verwendeten Scannerspiegel 31 und 32. Fig. 5 zeigt das polarisationsabhängige Reflektionsspektrum eines einzelnen Galvanospiegels für drei Einfallswinkel, nämlich für einen Einfallswinkel 57,5° in Figur 5a, einen Einfalls¬ winkel 45°in Figur 75b und einen Einfallswinkel 27,5° in Fi- gur 5c. Punktierte Kurven stehen für eine s-Polarisation, gestrichelte Kurven stehen für eine p-Polarisation und durchgezogene Kurven stehen für eine „random Polarisation".
Im Bereich der Laserwellenlänge 1050 nm ist ein breites Pla- teau mit hoher, polarisationsabhängiger Reflektivität , das mit zunehmendem Einfallswinkel in Richtung kurze Wellenlänge annimmt. Bei größeren Wellenlängen ist die Reflektivität schwach und spektral moduliert, teilweise bricht sie auf R<1% ein. Die Modulation verläuft in den beiden Polarisationsrich- tungen nahezu gegenphasig. Weil im Aufbau immer ein Spiegel¬ paar wirkt, ist die Gesamtreflektivität noch komplizierter. Die Scannergeometrie gibt vor, dass eine Welle, die p- polarisiert auf den ersten Spiegel trifft, vorwiegend s- polarisiert auf den zweiten trifft, und umgekehrt.
Die spektrale Welligkeit der Spiegel-Reflektivität und die
Schwebungserscheinungen im Reflektionsspektrum des Gesamtaufbaus zeigen, dass der Galvanospiegel mehrere sehr dünne „Ei¬ genschichtdicken" hat, die vom Spektralinterferometer mitge- messen werden. Bei der Abstandsmessung wird somit nicht ein einzelner Fourierpeak, sondern die Überlappung mehrerer Teil- peaks erfasst. Abstand und Gewichtung der Teilpeaks hängen von den Spiegelwinkeln und vom Polarisationszustand ab.
Mathematisch betrachtet hat die Objektwelle und die Referenz¬ welle die Form
Eobjekt = E0 * exp [ί*4πζ0/λ]
EReferenz = ER * exp [ ί * 4Π ZR/λ ]
Dabei sind z0 und zR die Laufstrecken in den beiden Interfe- rometerarmen . Im ungestörten Fall sind E0 und ER Konstanten. Die gemessene Intensität
I = {E0b ekt Ep.eferenz } {E Objekt + E Referenz}
Figure imgf000023_0001
enthält den Interferenzterm
Imod = (E0*E*R + E*0*ER) *cos[4n(z0 - zR) /λ]
aus dem die Wegdifferenz der Arme bestimmt werden. Im ungestörten Fall wird der Vorfaktor zu 2 Eo * ER. Durch die Re- flektivität der Galvanospiegel wird die Objektwelle komplex moduliert. Modellhaft werden zwei Eigenschichtdicken dl und d2 angesetzt:
E0 = E1*exp[i*4n di/λ] + E2*exp [i*4nd2/X]
und es ergibt sich:
IobDekt = I Ei I 2 + |E2|2 + 2 |Ei | * | E2\ * cos[4n(d! - d2)/X]
Imod = (E!*E*R + E*!*ER) * cos[4n(z0 + di - ζκ)/λ]
+ (E2*E*R + E*2 * ER ) * cos[4n(z0 + d2 - zR) /λ]
(Ei * E*R + E*i * ER)
{cos[4ndi/X] *cos[4n(z0 ZR) /λ] sin [4ndi /λ] sin [ 4π ( z0 zR) /λ] }
+ (E2 * E*R + E*2 * ER)
{cos[4nd2/X] *cos[4n(z0 ZR) /λ] sin [4nd2/X] sin [ 4n ( z0 ZR) /λ] }
{ (Ei cos [ 4ndi /λ]
(E2 ER) cos[4nd2/X] * cos[4n(z0 ZR) /λ]
Figure imgf000024_0001
( E 2 ER) sin [4nd2/X] } sin [ 4n ( z0 ZR) /λ]
Das Spektrum enthält demnach - wie angesetzt - zwei eng be- nachbarte Schichtdicken und bildet Schwebungserscheinungen .
Figur 6 zeigt den Brechungsindex von Quarzglas in der Umge¬ bung der Laserwellenlängen um 1050 nm. Dieser wellenlängenabhängige Brechungsindex von Quarzglas kann für eine erweiterte Schärfentiefe durch Nutzung der chromatischen Fokusverschie¬ bung verwendet werden. Die f-theta-Ob ektive sind in der Re¬ gel nicht achromatisch, weil sie für einzelne Laserwellenlängen ausgelegt sind. Achromasie ist jedoch schwierig zu re¬ alisieren, weil Glassorten bevorzugt werden, die resistent sind gegen die hohen Spitzenintensitäten von Pulslasern wie z.B. Quarzglas .
Die Brennweite f ist daher bei Verwendung von Quarzglas wel¬ lenlängenabhängig. Gemäß der Formel für eine dünne Plankon- vexlinse mit Krümmungsradius R gilt ungefähr 1/f = [η(λ) - 1]/R. Daraus folgt
f = f0/ [1 + (η(λ) - n0) / (no-1) ]
wobei fo und no die Brennweite bzw. der Brechungsindex bei der Laserwellenlänge sind.
Durch Taylorentwicklung ergibt sich:
f - f0 - f0An/(n0-l)
Für eine Quarzlinse mit f=100mm beträgt die spektrale Bre¬ chungsindexverschiebung l,2e-5/nm und damit die Fokusverschiebung 2,7 pm/nm. Bei einer Sensorbandbreite von 100 nm beträgt die Fokusverschiebung im Spektrum bereits 270 pm.
Dem steht der Schärfentiefebereich gegenüber. Er ist gegeben durch die Rayleigh-Länge, auf der sich die Strahlquer- schnittsfläche eines Gaußstrahls, ausgehend vom Strahlfokus, verdoppelt (bzw. die Intensität halbiert)
Z R = nwo2/A
Dabei ist wo der Strahlradius im Fokus, bei dem die Intensi- tät auf e~2 = 0,135 der Mittenintensität abgefallen ist. Be¬ zogen auf die Numerische Apertur NA ist
wo = λ/[π tan (aresin NA)]
Mit der paraxialen Näherung NA = λ/nwo folgt
zR = X/ (nNA2)
Für eine NA=0,05 und 1050 nm Wellenlänge ist somit w0 = 13 pm und zR = 133 pm.
Figur 7 zeigt dazu ein Diagramm für Gaußstrahlparameter in Bezug auf den Taillendurchmesser und die Rayleighlänge . Die weiter oben berechnete Fokusverschiebung für 100mm Brennweite und 100 nm Bandbreite lag bei 270 pm und ist doppelt so groß. Daraus folgt, dass bei NA=0,05 die Randwellenlängen des Sen¬ sorspektrums durch Defokussierung um den Faktor 0,5 abgeschwächt sind.
Die Messungen von Fig. 4 wurden mit ca. NA=0,10 durchgeführt. Hier ist die Abschwächung der defokussierten Wellenlängen noch extremer, weil zR = 33 pm ist. Der Spotdurchmesser ist mit wo = 6,6 pm nur noch halb so groß. Dies ist günstig für die Qualität der Abstandsmessung im Fokus. Nachteilig ist je¬ doch die st ärkere Abschwächung bei Defokussierung .
Die chromatische Fokusverschiebung des f-theta-Ob ektivs wird erfindungsgemäß genutzt, um gleichzeitig eine n kleinen Spot bei hoher NA und einen großen Fangbereich für eine fokussier- te Messung zu haben. Dieser ist im Beispiel 270 pm für 100 nm Sensorbandbreite. Wenn sich das Werkstück im Fangbereich befindet, wird eine Wellenlänge im Sensorband maximal scharf. Nur Wellenlängen um das Fokusmaximum herum mit der Fokusver- Schiebung < +/-zR tragen merklich zum Signal bei. Daher werden erfindungsgemäß nachfolgende Maßnahmen durchgeführt:
1. Bei der Entzerrung und Normierung des Spektrums wird ei¬ ne Fensterfunktion gewählt, die deutlich schmaler als die Sensorbandbreite ist und deren Maximum im Intensi¬ tätsmaximum des Rohspektrums liegt.
2. In einer „passiven" Variante wird überhaupt nicht ge- fenstert, weil dies schon physikalisch von der wellenlängenabhängigen Defokussierung erledigt wird.
3. Um das Werkstück grob zu lokalisieren, wird ein Sensor mit großem Fangbereich, also ein extrem breitbandiger Sensor eingesetzt. Das Messverfahren kann hier spektral- interferometrisch oder chromatisch-konfokal sein. Für die Feinmessung ist eine Reihe von schmalbandigen spektral-interferometrischen Sensoren zuständig. Ihre Wellenlängenbereiche überlappen und decken insgesamt das Spektrum des Grob-Sensors ab. Jeweils einer dieser Sen¬ soren wird aktiviert.
4. Ein derartiges Multisensor-Konzept wird mit einem einzi¬ gen Spektrometer realisiert. Dazu wird ein Spektrometer mit Echelle-Gitter eingesetzt, das je nach Beugungsord¬ nung verschiedene Spektralbereiche detektiert. Dabei werden mehrere SLD-Lichtquellen, wobei jeder SLD eine bestimmte Beugungsordnung zugeordnet ist, verwendet. Zur Verbindung der SLDs mit dem Messkopf und mit dem
Spektrometer sind Faserkoppler , Faserzirkulatoren und/oder WDM-Koppler, ein Faseranalogon zum dichroischen Strahlteiler vorgesehen, oder alternativ, ein Frei- strahlkoppler . Die Faserkanäle in Richtung Interferome- ter werden per Faserumschalter auf eine Endfaser eingekoppelt (damit man immer auf dem selben Punkt misst) . Die Fasern in Richtung Spektrometer werden zu einem Ar- ray zusammengefasst , das senkrecht zur Richtung der spektralen Auffächerung steht. Die Pixel des Zeilende¬ tektors sind in Arrayrichtung lang genug (0,5 oder 1mm) um das Licht aus jeder Faser des Arrays einzufangen.
Figur 8 zeigt eine teilweise perspektivische Prinzipskizze einer Materialbearbeitungsvorrichtung gemäß dem Stand dem Technik, die einleitend bereits erörtert wurde, weshalb sich eine erneute Betrachtung an dieser Stelle erübrigt.
Die Materialbearbeitungsvorrichtung 1 weist ein rechnergestütztes Steuergerät 30 auf, das bei Scannerspiegeln 31 und 32 mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Reflektivi- tät bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufweisen, mit einer Tiefpasscharakteristik ausgestattet ist, die eine Sensorlichtwellenlänge, die größer als die Laser¬ lichtwellenlänge ist aus dem reflektierten Signal herausfil¬ tert und zur Abstandserfassung auswertet. Bei Scannerspiegeln
31 und 32 mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Re- flektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwel¬ lenlänge aufweisen, veranlasst das rechnergestützte Steuerge¬ rät 30 Kalibrierfahrten mit welchen jede Kombination der Orientierung der galvanisch beschichteten Scannerspiegel 31 und
32 im Vergleich zu einer Planfläche mit bekannter spektraler Reflektivität vermessen und im Rechner tabelliert gespeichert wird, und wobei die gespeicherte Tabelle bei der Auswertung des reflektierten Messsignals berücksichtigt wird. Bezugs zeichenliste
1 Materialbearbeitungsvorrichtung (1. Ausführungsform)
2 Materialbearbeitungsvorrichtung (2. Ausführungsform) 3 Materialbearbeitungsvorrichtung (Stand der Technik)
4 Bearbeitungsstrahl
5 Strahlerzeuger
6 Werkstück
7 Bearbeitungskopf
8 Industrieroboter
9 Wölbung
10 Tomograph
11 erste Lichtquelle
12 zweite Lichtquelle
13 Bearbeitungslaser
14 Laserscanner
15 Ablenkeinrichtung
16 Sensorvorrichtung
17 Spektrometer
18 Messstrahl
19 Objektiv
20 Bearbeitungsbereich
21 optisches Koppelelement
22 Lichtleitfaser
23 Lichtleitfaser
24 Strahlteiler
25 Bearbeitungsstrahlengang
26 Sensorstrahlengang
29 Sensorlicht
30 Steuergerät
31 Scannerspiegel
32 Scannerspiegel
33 Freistrahl Vormodulierer 34 Interferometer
35 Referenzarm des Freistrahl Vormodulierers
36 Objektarm des Freistrahl Vormodulierers
37 Referenzarm des Interferometers
38 Objektarm des Interferometers
39 Beamexpander bzw. Strahlaufweister
40 Interferometer-Srahlteiler
41 Bearbeitungsebene
42 Lichtleitfaser
43 Referenzspiegel
A Pfeilrichtung
a Abstand

Claims

Patentansprüche
1. Materialbearbeitungsvorrichtung mit Bearbeitungsstrahlen (4) eines Strahlerzeugers (5) und mit in-situ Messen des Bearbeitungsabstands (a) zwischen dem Strahlerzeuger (5) und dem Werkstück (6), wobei die Materialbearbeitungs¬ vorrichtung (1) aufweist:
- einen Bearbeitungslaser (13),
einen Laserscanner (14) für den Bearbeitungslaser (13) mit zweidimensionaler Ablenkeinrichtung (15) mit Scannerspiegeln (31, 32) und einer variablen Fokusnachstelleinrichtung bei variierenden Bearbeitungsabstän- den (a (t ) ) ;
- eine Sensorvorrichtung (16) mit einem Spektrometer
(17) und mindestens einer Sensorlichtquelle;
wobei Messstrahlen (18) über den Laserscanner (14) und ein Objektiv (19) gemeinsam den Bearbeitungsbereich (20) des Werkstücks (6) unter Erfassung des Werkstückabstands (a) abtasten und die Messstrahlen (18) mindestens zwei der Sensorlichtquellen (11,12) linearpolarisiert sind und mit gekreuzten Polarisationsrichtungen in den Bearbeitungsstrahlengang (25) des Laserscanners (14) der Materialbearbeitungsvorrichtung (1) über ein optisches Koppelelement (21) kollimiert eingekoppelt sind.
2. Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Lichtquellen (11, 12) Superlumineszens-Dioden mit linear polarisierter Abstrahlung aufweisen, und wobei die Lichtquellen (11, 12) über polarisationserhaltende Lichtleitfasern mit einem Polarisationsstrahlenkoppler (21) verbunden sind, der durch einen polarisierenden Strahlteiler (24) die gekreuzten Polarisationsrichtungen zusammenführt .
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei zum kollimierten Einkoppeln der Messstrahlen (18) in den Bearbeitungsstrahlengang (25), der Sensorstrahlengang (26) einen schmalbandigen dichroi- schen Strahlteiler aufweist.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei zum kollimierten Einkoppeln der Messstrahlen (18) in den Bearbeitungsstrahlengang ( 25 ) , der Sensorstrahlengang (26) ein schmalbandiges Notch-Filter aufweist .
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei zum kollimierten Einkoppeln der Messstrahlen (18) in den Bearbeitungsstrahlengang (25), ein rotierendes Filterrad vorgesehen ist, das abwechselnd Laserlicht oder Sensorlicht in den Laserscanner (14) einkoppelt und synchron zur Pulsfrequenz des Bearbei¬ tungslasers (13) rotiert, so dass in den Pulspausen der Laserscanner (14) für den Messstrahl (18) vorgesehen ist .
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei zum kollimierten Einkoppeln der Messstrahlen (18) in den Bearbeitungsstrahlengang (25) ein in den Strahlengang einschwenkbarer Umlenkspiegel vorgesehen ist.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Sensorlichtquellen (11,12) eine Sensorwellenlänge aufweisen, welche die Wellenlänge eines Kammerafensters der Scannerspiegel (31, 32) aus¬ weist.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der Laserscanner (14) Scannerspiegel (31, 32) mit Beschichtungen aufweist, die eine gleiche Reflektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufweisen.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Materialbearbeitungsvorrichtung (1) ein rechnergestütztes Steuergerät (30) auf¬ weist, das bei Scannerspiegeln (31, 32) mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Reflektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufwei¬ sen, mit einer Tiefpasscharakteristik ausgestattet ist, die eine Sensorlichtwellenlänge, die größer als die La¬ serlichtwellenlänge ist aus dem reflektierten Signal herausfiltert und zur Abstandserfassung auswertet.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei die Materialbearbeitungsvorrichtung (1) ein rechnergestütztes Steuergerät (30) ausweist, das bei Scannerspiegeln (31, 32) mit Beschichtungen, die eine unterschiedliche Reflektivität bei der Sensorwellenlänge und bei der Laserwellenlänge aufweisen, Kalibrierfahrten veranlasst, mit welchen jede Kombination der Orientie¬ rung der galvanisch beschichteten Scannerspiegel (31, 32) im Vergleich zu einer Planfläche mit bekannter spektraler Reflektivität vermessen und im Rechner tabel- liert gespeichert werden, und wobei die gespeicherte Ta¬ belle bei der Auswertung des reflektierten Messsignals berücksichtigt wird.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Sensorvorrichtung einen Freistrahl-Vormodulierer (33) aufweist, der sowohl mit den Sensorlichtquellen (11, 12) als auch mit dem Sensorstrahlengang (26) durch eine Lichtleitfaser (22, 23) verbunden ist.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 11, wobei der Freistrahl-Vormodulierer (33) als Interferometer (34) mit zwei Armen (35, 36) ausgeführt ist.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach Anspruch 12, wobei das Faserende des Freistrahl-Vormodulierers (33) zum Sensorstrahlengang (26) hin teilreflektierend ausgeführt ist .
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, wobei eine erste Teilwelle mit einer zweiten Teilwelle zur Interferenz gebracht wird, wobei die erste Teilwelle in dem längeren Referenzarm (35) des Freistrahl-Vormodulierers (33) und am Faserende und die zweite Teilwelle im kürzeren Objektarm (36) und an dem Werkstück (6) reflektiert ist, wobei andere spektrale Modulationen außerhalb des Messbereichs einer Auswerte¬ einheit liegen.
Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 14, wobei in dem Freistrahl- Vormodulierer (33) eine Glasoptik mit einer gleichen Dispersion wie die Gesamtdispersion im Sensorstrahlengang (26) angeordnet ist .
16. Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei ein Interferometer (34) in dem kolli- mierten Messstrahl (18) vor einer Einkopplung des Bearbeitungslaserstrahls (4) angeordnet ist und der Refe¬ renzarm (37) des Interferometers (34) dispersionskompen- sierend wirkt und der Referenzarm (37) die gleiche opti¬ sche Länge wie der Objektarm (38) zwischen einem Inter- ferometerstrahlteiler (40) und dem Werkstück (6) aufweist.
17. Materialbearbeitungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei außerhalb des Bearbeitungsbe¬ reichs (20) ein zweiter Sensorkopf angeordnet ist, der einen Referenzabstand zum Werkstück (6) erfasst und eine absolute Änderung einer Bearbeitungstiefe bei Laserabla- tion oder einer Bearbeitunghöhe beim Materialauftrag er¬ mittelt .
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