WO2008133209A1 - Contact conducteur et unité de contact conducteur - Google Patents

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WO2008133209A1
WO2008133209A1 PCT/JP2008/057615 JP2008057615W WO2008133209A1 WO 2008133209 A1 WO2008133209 A1 WO 2008133209A1 JP 2008057615 W JP2008057615 W JP 2008057615W WO 2008133209 A1 WO2008133209 A1 WO 2008133209A1
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conductive contact
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leading end
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Toshio Kazama
Kohei Hironaka
Shigeki Ishikawa
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Nhk Spring Co., Ltd.
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Abstract

L'invention concerne un contact conducteur, qui peut supprimer la réduction d'un courant admissible en raison d'une réduction de diamètre, et une unité de contact conducteur. Le contact conducteur comporte un premier piston composé d'un matériau conducteur sensiblement en forme d'aiguille ; un second piston, qui est composé d'un matériau conducteur sensiblement en forme d'aiguille avec la partie d'extrémité avant dirigée à l'opposé de la direction dans laquelle la partie d'extrémité avant du premier piston est dirigée ; et un élément élastique, qui est composé d'un matériau conducteur, a une première extrémité fixée au premier piston et l'autre fixée au second piston et peut s'allonger et se contracter dans la direction longitudinale. L'axe central de la partie d'extrémité avant du premier piston dans la direction longitudinale et l'axe central de la partie d'extrémité avant du second piston dans la direction longitudinale sont différents l'un de l'autre mais parallèles entre eux.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011048890A1 (fr) * 2009-10-23 2011-04-28 株式会社ヨコオ Sonde de contact et support
WO2014017157A1 (fr) * 2012-07-23 2014-01-30 山一電機株式会社 Sonde de contact et prise femelle d'élément à semi-conducteurs la comportant
KR20160096968A (ko) * 2015-02-06 2016-08-17 리노공업주식회사 검사장치용 프로브
WO2017141564A1 (fr) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 Broche de sonde et dispositif d'inspection l'utilisant
KR102162476B1 (ko) * 2019-07-18 2020-10-06 박상량 단일 몸체의 하우징으로 구성되는 고성능 반도체 테스트 소켓
WO2023181906A1 (fr) * 2022-03-25 2023-09-28 株式会社ヨコオ Connecteur à ressort
WO2023228844A1 (fr) * 2022-05-26 2023-11-30 株式会社ヨコオ Sonde

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180060565A (ko) * 2016-11-29 2018-06-07 주식회사 파인디앤씨 계측용 프로브핀

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06201725A (ja) * 1992-11-09 1994-07-22 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子及び導電性接触子ユニット
JPH0743419A (ja) * 1993-06-29 1995-02-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd プリント配線板検査治具
JPH095356A (ja) * 1995-06-23 1997-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の検査装置
JP2000028638A (ja) * 1998-07-10 2000-01-28 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子
JP2002350487A (ja) * 2001-03-19 2002-12-04 Inoue Shoji Kk プリント配線板の検査治具
JP2003021658A (ja) * 2001-07-06 2003-01-24 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の電気特性検査装置
JP2006170633A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Inoue Shoji Kk プリント配線板の検査治具

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6685492B2 (en) * 2001-12-27 2004-02-03 Rika Electronics International, Inc. Sockets for testing electronic packages having contact probes with contact tips easily maintainable in optimum operational condition
JP4614434B2 (ja) * 2004-09-30 2011-01-19 株式会社ヨコオ プローブ
JP4757531B2 (ja) * 2005-04-28 2011-08-24 日本発條株式会社 導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06201725A (ja) * 1992-11-09 1994-07-22 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子及び導電性接触子ユニット
JPH0743419A (ja) * 1993-06-29 1995-02-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd プリント配線板検査治具
JPH095356A (ja) * 1995-06-23 1997-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の検査装置
JP2000028638A (ja) * 1998-07-10 2000-01-28 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子
JP2002350487A (ja) * 2001-03-19 2002-12-04 Inoue Shoji Kk プリント配線板の検査治具
JP2003021658A (ja) * 2001-07-06 2003-01-24 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の電気特性検査装置
JP2006170633A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Inoue Shoji Kk プリント配線板の検査治具

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011048890A1 (fr) * 2009-10-23 2011-04-28 株式会社ヨコオ Sonde de contact et support
JP2011089930A (ja) * 2009-10-23 2011-05-06 Yokowo Co Ltd コンタクトプローブ及びソケット
WO2014017157A1 (fr) * 2012-07-23 2014-01-30 山一電機株式会社 Sonde de contact et prise femelle d'élément à semi-conducteurs la comportant
JP2014021054A (ja) * 2012-07-23 2014-02-03 Yamaichi Electronics Co Ltd コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
US9684031B2 (en) 2012-07-23 2017-06-20 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Contact probe and semiconductor element socket provided with same
KR20160096968A (ko) * 2015-02-06 2016-08-17 리노공업주식회사 검사장치용 프로브
KR101704710B1 (ko) 2015-02-06 2017-02-08 리노공업주식회사 검사장치용 프로브
WO2017141564A1 (fr) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 Broche de sonde et dispositif d'inspection l'utilisant
JP2017146119A (ja) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 プローブピンおよびこれを用いた検査装置
KR102162476B1 (ko) * 2019-07-18 2020-10-06 박상량 단일 몸체의 하우징으로 구성되는 고성능 반도체 테스트 소켓
WO2023181906A1 (fr) * 2022-03-25 2023-09-28 株式会社ヨコオ Connecteur à ressort
WO2023228844A1 (fr) * 2022-05-26 2023-11-30 株式会社ヨコオ Sonde

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