WO2007105391A1 - マイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システム - Google Patents

マイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システム Download PDF

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WO2007105391A1
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microchip
unit
inspection apparatus
detected
detection unit
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Tsuneo Sawazumi
Mitsuharu Kitamura
Yuushi Nobumoto
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Konica Minolta Medical & Graphic, Inc.
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    • GPHYSICS
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    • G01N2035/00099Characterised by type of test elements
    • G01N2035/00158Elements containing microarrays, i.e. "biochip"

Definitions

  • the present invention relates to an inspection device using a microchip and an inspection system using a microchip.
  • Micro Total Analysis System that performs analysis by detecting a reaction state by mixing a plurality of solutions on a microchip on which microchannels are integrated and processed.
  • Analysis System TAS
  • ⁇ TAS has advantages such as a small amount of sample, a short reaction time, and a small amount of waste!
  • the burden on the patient can be reduced by reducing the amount of specimen (blood, urine, wiping fluid, etc.), and the cost of testing can be reduced by reducing the amount of reagent.
  • the reaction time is greatly shortened and the efficiency of the test can be improved.
  • the device since the device is small, it can be installed in a small medical institution, and inspection can be performed quickly regardless of location.
  • the temperature of the microchip is often adjusted in order to cool the reagent and heat the sample to promote the reaction between the reagent and the like.
  • Patent Document 1 describes a microphone tip temperature controller that adjusts the temperature of each of a plurality of regions in a microchip.
  • Patent Document 2 discloses detection of a reaction state of a reaction detection channel by irradiating light to a reaction detection channel (a portion to be detected) on a microchip and receiving light from the reaction detection channel. The inspection device to be performed is described.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-214782
  • Patent Document 2 Japanese Patent Laid-Open No. 2003-4752 Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of the above problems.
  • dew condensation is unlikely to occur in the detected part of the microchip and the light detection part of the inspection apparatus.
  • An inspection apparatus using a microchip includes a microchip housing portion that houses a microphone mouth chip having a detected portion and a cooled portion, and the microchip housing portion that is housed in the microchip housing portion.
  • An inspection apparatus using a microchip having a detection portion provided corresponding to the detection portion and a cooling portion provided corresponding to the cooling portion of the microchip accommodated in the microchip accommodation portion In this case, the detection unit does not condense.
  • V an interval between the detection unit and the cooling unit is set as described above.
  • an inspection apparatus using a microchip includes a microchip housing portion in which a microchip having a detected portion and a cooled portion is housed, and a microchip housing in the microchip housing portion.
  • a microchip having a detection unit provided corresponding to the detection target unit and a cooling unit provided corresponding to the cooling target unit of the microchip stored in the microphone opening chip storage unit is used.
  • a heat insulating member is disposed between the detection unit and the cooling unit.
  • an inspection apparatus using a microchip includes a microchip housing portion in which a microchip having a detected portion and a cooled portion is housed, and a microchip housing in the microchip housing portion.
  • a detection unit provided corresponding to the detection target unit and a cooling unit of the microchip stored in the microphone port chip storage unit are provided.
  • An inspection apparatus using a microchip having a cooling unit has a dehumidifying means.
  • An inspection system using a microchip includes a microchip provided with a portion to be detected and a portion to be cooled, a microchip housing portion in which the microchip is housed, and a housing in the microchip housing portion.
  • a detection unit provided corresponding to the detection target part of the microchip, and a cooling unit provided corresponding to the cooling target part of the microchip stored in the microchip storage unit.
  • the interval between the detected part and the cooled part of the microchip is set so that the detected part of the microchip is not condensed.
  • the relative position between the cooling section and the detection section is set so that the detected section of the microchip and the inspection device It is difficult for condensation to occur in the detector, and even if condensation occurs, the condensation can be removed using the dehumidifying means, so that accurate detection can be performed.
  • FIG. 1 is an external view of an inspection apparatus using a microchip according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a configuration diagram of an inspection apparatus using a microchip according to the present embodiment.
  • FIG. 3 is a configuration diagram of a microchip according to the present embodiment.
  • FIG. 4 is a diagram showing a main part of a control configuration of an inspection apparatus using a microchip according to the present embodiment.
  • FIG. 5 is a flowchart of dehumidification control according to the present embodiment.
  • FIG. 6 is a flowchart of light detection control according to the present embodiment.
  • FIG. 1 is an external view of an inspection apparatus 80 using a microchip according to this embodiment.
  • the detection device 80 is a device that automatically reacts a sample and a reagent previously injected into the microchip 1 and automatically outputs a reaction result.
  • the casing 82 of the inspection apparatus 80 has a spout 83 for inserting the microchip 1 into the apparatus, a display section 84, a memory card slot 85, a print output port 86, an operation panel 87, an external input / output terminal. 88 is provided.
  • the person inspecting inserts the microchip 1 in the direction of the arrow in FIG. 1 and operates the operation panel 87 to start the inspection. Inside the inspection device 80, the reaction in the microchip 1 is automatically inspected, and the result is displayed on the display unit 84 when the inspection is completed.
  • the inspection result can be output from the print output port 86 or stored in a memory card inserted in the memory card slot 85 by operating the operation panel 87. You can also save data to a personal computer using an external input / output terminal. After the inspection is completed, the person in charge of inspection takes out the microchip 1 from the insertion slot 83.
  • FIG. 2 is a configuration diagram of an inspection apparatus 80 using the microchip according to the present embodiment.
  • FIG. 2 shows a state in which the microchip is inserted from the throat inlet 83 shown in FIG. 1 and the setting is completed.
  • the inspection apparatus 80 includes a driving liquid tank 10 that stores a driving liquid 11 for feeding a sample and a reagent previously injected into the microchip 1, and a pump that supplies the driving liquid 11 to the microchip 1. 5, the pump 5 and the microchip 1 are not leaking the drive liquid 11! /, So that the packing 6 is connected, the temperature control unit 3 that controls the temperature of the necessary part of the microchip 1, and the microchip 1 are not displaced.
  • Chip pressing plate 2 for tightly contacting the packing 6, pressing plate drive unit 32 for moving the chip pressing plate 2 up and down, regulating member 31 for accurately positioning the microchip 1 with respect to the pump 5, inside the microchip 1
  • a light detection unit 4 for detecting a reaction state between the sample and the reagent, a dew condensation sensor 7 and a dehumidification heater 8 provided in the vicinity of the light detection unit 4.
  • the chip pressing plate 2 is retracted upward from the position shown in FIG. 2 in the initial state. Thereby, the microchip 1 can be inserted and removed in the direction of the arrow X, and the person inspecting inserts the microchip 1 from the insertion port 83 (see FIG. 1) until it comes into contact with the regulating member 31. Thereafter, the chip pressing plate 2 is lowered by the pressing plate driving unit 32 and comes into contact with the microchip 1, and the lower surface of the microphone port chip 1 is in close contact with the temperature control unit 3 and the packing 6.
  • the temperature control unit 3 controls the temperature of a necessary part of the microchip 1 and includes a Peltier element 33 and a heater 34.
  • the portion containing the reagent is cooled by the Peltier element 33 so that the reagent is not denatured, or the portion where the sample and the reagent react is heated by the heater 34 to promote the reaction.
  • the light detection unit 4 includes a light emitting unit 4a and a light receiving unit 4b.
  • the light detecting unit 4 irradiates the microphone mouth chip 1 with light from the light emitting unit 4a, and detects light transmitted through the microchip 1 with the light receiving unit 4b.
  • the light receiving portion 4b is integrally provided inside the chip pressing plate 2.
  • the light emitting unit 4a and the light receiving unit 4b are provided in a plurality so as to face each of the detected portions 11la to L1Id of the microchip 1 described later.
  • the pump 5 includes a pump chamber 52, a piezoelectric element 51 that changes the volume of the pump chamber 52, a first throttle channel 53 that is located on the microchip 1 side of the pump chamber 52, and a driving fluid tank 10 side of the pump chamber
  • the second throttle channel 54, etc. located in The first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 are narrow and narrow channels, and the first throttle channel 53 is longer than the second throttle channel 54.
  • the second throttle channel 54 which is a short throttle channel
  • the flow resistance in the second throttle channel 54 is relatively long compared to the first throttle channel 53, which is a throttle channel. growing.
  • the driving liquid 11 in the pump chamber 52 is predominantly pushed out toward the first throttle channel 53 and fed.
  • the piezoelectric element 51 is driven so that Then, the driving liquid 11 flows from the first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 as the volume in the pump chamber 52 increases.
  • the second throttle channel 54 since the second throttle channel 54 is shorter in length than the first throttle channel 53, the second throttle channel 54 has a smaller channel resistance than the first throttle channel 53.
  • the driving liquid 11 flows into the pump chamber 52 predominantly also in the direction of the second throttle channel 54.
  • the piezoelectric element 51 repeats the above operation, the driving liquid 11 is fed in the forward direction.
  • the piezoelectric element 51 is driven so as to gradually reduce the volume of the pump chamber 52.
  • the second throttle channel 54 is shorter in length than the first throttle channel 53, so the second throttle channel 54 is in comparison with the first throttle channel 53. Resistance becomes smaller.
  • the driving liquid 11 in the pump chamber 52 is predominantly pushed out toward the second throttle channel 54 and fed.
  • the piezoelectric element 51 is driven. Then, the driving liquid 11 flows from the first throttle channel 53 and the second throttle channel 54 as the volume in the pump chamber 52 increases.
  • the dew condensation sensor 7 is a sensor for detecting dew condensation on the light detection unit 4 and a detected portion 111 of the microchip 1 described later.
  • the dehumidifying heater 8 is a heater for dehumidifying the vicinity of the light detection unit 4.
  • the operating environment of the apparatus is set so that the light detection unit 4 does not cause condensation.
  • the relative position between the Peltier element 33 and the light detection unit 4 is set. For example, set as follows.
  • the maximum temperature and humidity in the operating environment of the device are 35 respectively. If C and 75%, the dew point temperature is about 30 ° C.
  • the light detector 4 is placed at a position where the temperature is 30 ° C or higher.
  • the operating environment of the device is, for example, that described in the product specifications of the instruction manual.
  • a dew condensation sensor 7 and a dehumidifying heater 8 are provided, and dew condensation is detected by the dew condensation sensor 7. Then, the dehumidifying heater 8 is actuated to remove dew condensation on the light detection unit 4 and the detected part 111 of the microchip 1. Perform detection after removing condensation.
  • FIG. 3 is a configuration diagram of the microchip 1 according to the present embodiment.
  • the present invention is not limited to this example.
  • FIG. 3 (a) an arrow indicates an insertion direction in which the microchip 1 is inserted into the inspection apparatus 80, and FIG. 3 (a) illustrates a surface that becomes the lower surface of the microchip 1 at the time of insertion.
  • Figure 3 (b) is a side view of the microphone tip 1.
  • the microchip 1 includes a groove forming substrate 108 and a covering substrate 109 that covers the groove forming substrate 108.
  • the microchip 1 includes a microchannel and a channel element for mixing and reacting the specimen and the reagent on the microchip 1.
  • An example of processing performed in the microchip 1 by these fine flow paths and flow path elements will be described with reference to FIG. FIG. 3 (c) schematically shows the flow path element and its joined state with the coated substrate 109 removed in FIG. 3 (a).
  • a sample storage unit 121 that stores a sample liquid
  • a reagent storage unit 120 that stores a reagent
  • a positive control storage unit 122 that stores a reagent for positive control
  • a reagent for negative control A negative control accommodating portion 123 and the like are provided.
  • Reagents, positive controls, and negative controls are stored in advance in each storage unit. Positive control reacts with reagent and shows positive
  • the negative control which reacts with the reagent and shows negative, is used to confirm whether or not an accurate test has been performed.
  • FIG. 3 (c) is schematically shown for the sake of simplicity. Actually, a plurality of reagents, diluting solutions, etc. are accommodated in the chip, and reagent preparation in the chip is performed. May be performed.
  • the sample injection unit 113 is an injection unit for injecting the sample into the microchip 1
  • the driving liquid injection units 110a to 110d are injection units for injecting the driving liquid 11 into the microchip 1.
  • the tester injects the sample from the sample injection unit 113 using a syringe or the like. As shown in FIG. 3 (c), the sample injected from the sample injection section 113 is stored in the sample storage section 121 through the communicating fine channel.
  • the microchip 1 into which the specimen has been injected is inserted into the insertion port 83 of the inspection apparatus 80 shown in FIG. 1 by the person in charge of the inspection, and set as shown in FIG.
  • the pump 5 shown in FIG. 2 is driven in the forward direction according to a predetermined procedure instructed to the CPU 90 described later, and the driving liquid 11 is injected from the driving liquid injection units 110a to 110d.
  • Driving liquid injection part 11 Drive liquid 11 injected from Oa pushes out the sample stored in the sample storage part 121 through the communicating fine channel, and sends the sample into the reaction part 124.
  • Driving fluid injection section 110b force The injected driving liquid 11 is accommodated in the positive control storage section 122 through the communicating fine flow path, pushes out the positive control reagent, and sends the positive control to the reaction section 125. .
  • the driving liquid 11 injected from the driving liquid injection section 110c is stored in the negative control storage section 123 through the communicating fine channel, pushes out the negative control reagent, and sends the negative control to the reaction section 126.
  • the driving liquid 11 injected from the driving liquid injection section lOd is stored in the reagent storage section 120 through the communicating fine channel, pushes out the reagent, and sends the reagent to the reaction sections 124 to 126 described above.
  • the specimen and the reagent merge in the reaction unit 124, the positive control and the reagent merge in the reaction unit 125, and the negative control and the reagent merge in the reaction unit 126.
  • the reagent storage unit 120, the sample storage unit 121, the positive control storage unit 122, and the negative control storage unit 123 are positioned to face the Peltier element 33 of the test apparatus 80 so as not to be denatured. To be cooled.
  • the reaction units 124 to 126 are positioned to face the heater 34 of the inspection device 80 and are heated so as to promote the reaction.
  • a part of the mixed liquid of the specimen and the reagent merged in the reaction unit 124 is sent to the detected part 111a.
  • a part of the mixed solution of the specimen and the reagent merged in the reaction unit 124 and a part of the mixed solution of the positive control and the reagent merged in the reaction unit 125 are sent to 11 lb to be detected.
  • a part of the mixed solution of the positive control and the reagent merged in the reaction unit 125 is sent to the detected unit 111c.
  • the liquid mixture of the negative control and the reagent merged in the reaction unit 126 is sent to the detected portion 11 Id.
  • the window 1 lie of the detected portion and the detected portions 11 la to ll id are provided for optically detecting the reaction of each liquid mixture, and are made of a material such as transparent glass resin. It is configured.
  • FIG. 4 is a diagram showing a main part of the control configuration of the inspection apparatus using the microchip according to the present embodiment.
  • the CPU 90 that controls the inspection device 80 according to the program is connected to the ROM 91, the RAM 93, the nonvolatile memory 94, the light detection unit 4, the dew condensation sensor 7, the dehumidification heater 8, etc. Yes. Note that V and apparatus components not directly related to the control of the present invention are omitted.
  • the ROM 92 stores various control programs executed by the CPU 90, data, and the like.
  • the RAM 93 is used as a work area by the CPU 90, and temporarily stores programs and data required when the CPU 90 executes control.
  • the non-volatile memory 94 stores a detection result by the light detection unit 4 and the like.
  • FIG. 5 is a flowchart of dehumidification control according to the present embodiment. Dehumidification control is performed by the CPU 90 executing processing based on the dehumidification control program stored in the ROM 92. Is called.
  • the CPU 90 acquires the output of the dew condensation sensor 7 and determines whether or not dew condensation has occurred (step S 11).
  • step S11 If it is determined that condensation has occurred (step S11; Yes), the CPU 90 turns the dehumidifying heater 8 on.
  • Step S12 Turn ON (Step S12). Then, the process returns to step S11.
  • step Sl l If it is determined that condensation has not occurred (step Sl l; No), the CPU 90 turns off the dehumidifying heater 8 (step S13). Then, the process returns to step S11.
  • the dehumidifying heater 8 is operated to remove dew condensation on the light detection unit 4 and the detected portion 111 of the microchip 1.
  • FIG. 6 is a flowchart of light detection control according to the present embodiment.
  • the light detection control is performed by the CPU 90 executing processing based on the light detection control program stored in the ROM 92.
  • the CPU 90 determines whether or not the power is the timing for performing light detection (step S21).
  • step S21 If it is determined that it is time to perform light detection (step S21; Yes), the CPU 90 acquires the output of the dew condensation sensor 7 and determines whether or not dew condensation has occurred (step S22). If it is determined that it is not time to perform light detection (step S21; No), the process returns to step S21, and the CPU 90 waits until it is time to perform light detection.
  • step S22 when it is determined that condensation has not occurred (step S22; No), the CPU 90 irradiates the detected portion 111 of the microchip 1 with the light from the light emitting portion 4a, thereby detecting the detected state of the microchip 1.
  • the light that has passed through the section 111 is detected by the light receiving section 4b and a light detection process is performed (step S23). If it is determined that condensation has occurred (step S22; Yes), the process returns to step S22, and the CPU 90 waits until condensation does not occur. During this waiting time, the above-mentioned dehumidification control is performed and condensation is removed.
  • the relative position between the Peltier element 33 and the light detection unit 4 is set so that condensation does not occur. Therefore, it is difficult for condensation to occur in the detected part 111 of the microchip 1 and the light detection part 4 of the inspection apparatus. Even if condensation occurs, the condensation can be removed using the dehumidifying heater 8, so that accurate detection is possible. Can go out.
  • a separating member is particularly provided between the cooling unit (Peltier element 33) and the detection unit (light detection unit 4), but there is no gap between the cooling unit and the detection unit. It is also effective to prevent condensation of the detection unit by separating it with a heat insulating wall or a heat insulating material, or to reduce the size of the device by making the distance between the cooling unit and the detection unit close to each other with this heat insulating wall.
  • force using a dehumidifying heater as dehumidifying means Dry air (air having a dew point temperature of a predetermined temperature or less) is blown to the detected portion 111 of the microchip 1 and the light detecting portion 4 of the inspection apparatus.
  • Spraying means may be provided. At this time, it is preferable to form an air flow in which dry air is recirculated inside the inspection apparatus with the light detection unit 4 as a base point and then discharged to the outside of the apparatus.
  • the dew condensation sensor 7 is used as the dew condensation detection means.
  • the temperature / humidity sensor V it is also possible to use the temperature / humidity sensor V to measure the temperature / humidity and calculate the dew point temperature, or to directly use the dew point temperature sensor. Noh. In this case, condensation can be predicted, and the dehumidifying means can be activated when the occurrence of condensation prior to the occurrence of condensation has occurred, thus preventing condensation and preventing the detection process from waiting.
  • light detection is performed using transmitted light, but light detection using reflected light is also possible.

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Abstract

 本発明は、マイクロチップを冷却する場合に、マイクロチップの被検出部や検査装置の光検出部に結露が発生しにくく、また結露が発生したとしても結露を除去して、精度良い検出を行うことのできるマイクロチップを用いる検査装置を提供する。この解決手段として被検出部及び被冷却部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの被検出部に対応して設けられた検出部と、マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置において、検出部が結露しないように検出部と冷却部との間隔を設定している。

Description

明 細 書
マイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システ ム 技術分野
[0001] 本発明は、マイクロチップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システ ムに関する。
背景技術
[0002] 近年、微細流路が集積加工されたマイクロチップ上にぉ ヽて、複数の溶液を混合し て反応させ、当該反応の状態を検出して分析を行うマイクロ総合分析システム(Micr o Total Analysis System; TAS)が注目されている。
[0003] μ TASでは、試料の量が少な 、、反応時間が短!、、廃棄物が少な!/、等のメリットが ある。医療分野に使用した場合、検体 (血液、尿、拭い液等)の量を少なくすることで 患者への負担を軽減でき、試薬の量を少なくすることで検査のコストを下げることがで きる。また、検体、試薬の量が少ないことから、反応時間が大幅に短縮され、検査の 効率ィ匕が図れる。さらに、装置が小型であるため小さな医療機関にも設置することが でき、場所を選ばず迅速に検査を行うことができる。
[0004] マイクロチップを用いる検査では、試薬の冷却、検体と試薬との反応促進のための 加熱等を行うために、マイクロチップの温度調節を行うことが多 、。
[0005] 特許文献 1には、マイクロチップにおける複数の領域のそれぞれを温度調節するマ イク口チップ用温度調節器が記載されて 、る。
[0006] また、マイクロチップ上の反応を検出する方法として、マイクロチップの反応部に光 を照射し、その透過光や反射光を検出する方法が知られて 、る。
[0007] 特許文献 2には、マイクロチップ上の反応検出流路 (被検出部)に光を照射し、反応 検出流路からの光を受光することにより反応検出流路の反応状態の検出を行う検査 装置が記載されている。
特許文献 1:特開 2005— 214782号公報
特許文献 2 :特開 2003— 4752号公報 発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0008] マイクロチップを冷却する場合に、冷却部分の近傍にマイクロチップの被検出部や 検査装置の光検出部が存在していると、当該被検出部や光検出部に結露が生じ易 くなる。結露が生じると検出値が変化し、誤った検査結果を出力してしまう可能性があ る。
[0009] 本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものであり、マイクロチップを冷却す る場合に、マイクロチップの被検出部や検査装置の光検出部に結露が発生しにくぐ また結露が発生したとしても結露を除去して、精度良 、検出を行うことのできるマイク 口チップを用いる検査装置及びマイクロチップを用いる検査システムを提供することを 目的としている。
課題を解決するための手段
[0010] 本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、被検出部及び被冷却部を有するマ イク口チップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部に収容 されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マイクロ チップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられた冷 却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置において、前記検出部が結露しな
V、ように前記検出部と前記冷却部との間隔が設定されて!、ることを特徴として 、る。
[0011] また、本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、被検出部及び被冷却部を有 するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部 に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マ イク口チップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられ た冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置において、前記検出部と前記 冷却部との間に断熱部材が配置されて 、ることを特徴として 、る。
[0012] また、本発明のマイクロチップを用いる検査装置は、被検出部及び被冷却部を有 するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記マイクロチップ収容部 に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けられた検出部と、前記マ イク口チップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設けられ た冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置において、除湿手段を有する ことを特徴としている。
[0013] 本発明のマイクロチップを用いる検査システムは、被検出部及び被冷却部が設けら れたマイクロチップと、前記マイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、前記 マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設けら れた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却 部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査システムに おいて、前記マイクロチップの被検出部が結露しないように、前記マイクロチップの被 検出部と被冷却部との間隔が設定されていることを特徴としている。
発明の効果
[0014] 本発明によれば、マイクロチップを冷却する場合に、結露が発生しな!、ように冷却 部と検出部との相対位置を設定している為マイクロチップの被検出部や検査装置の 検出部に結露が発生しにくぐまた結露が発生したとしても結露を除湿手段を用いて 除去することができるので、精度良い検出を行うことができる。
図面の簡単な説明
[0015] [図 1]本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置の外観図である。
[図 2]本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置の構成図である。
[図 3]本実施形態に係るマイクロチップの構成図である。
[図 4]本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置の制御構成の要部を示す 図である。
[図 5]本実施形態に係る除湿制御のフロー図である。
[図 6]本実施形態に係る光検出制御のフロー図である。
符号の説明
[0016] 1 マイクロチップ
4 光検出部
7 結露センサ
8 除湿ヒータ
32 ペルチェ素子 80 検査装置
111 被検出部
120 試薬収容部
121 検体収容部
122 ポジティブコントロール収容部
123 ネガティブコントロール収容部
発明を実施するための最良の形態
[0017] 本実施形態では、一例として、特定 DNAの反応を検出する DNAチップのように、 検体と試薬とをマイクロチップ上で反応させる場合について示すが、これに限られず
、少なくとも 2種類の流体をマイクロチップ上で混合させる場合に適用することができ る。
[0018] (装置構成)
図 1は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置 80の外観図である。検 查装置 80は、マイクロチップ 1に予め注入された検体と試薬とを自動的に反応させ、 反応結果を自動的に出力する装置である。
[0019] 検査装置 80の筐体 82には、マイクロチップ 1を装置内部に挿入するための揷入口 83、表示部 84、メモリカードスロット 85、プリント出力口 86、操作パネル 87、外部入 出力端子 88が設けられている。
[0020] 検査担当者は、図 1の矢印方向にマイクロチップ 1を挿入し、操作パネル 87を操作 して検査を開始させる。検査装置 80の内部では、マイクロチップ 1内の反応の検査が 自動的に行われ、検査が終了すると表示部 84に結果が表示される。検査結果は操 作パネル 87の操作により、プリント出力口 86よりプリントを出力したり、メモリカードス ロット 85に挿入されたメモリカードに記憶することができる。また、外部入出力端子 88 力 例えば LANケーブルを使って、パソコンなどにデータを保存することができる。 検査終了後、検査担当者はマイクロチップ 1を挿入口 83から取り出す。
[0021] 図 2は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置 80の構成図である。図 2においては、マイクロチップが図 1に示す揷入口 83から挿入され、セットが完了して いる状態を示している。 [0022] 検査装置 80は、マイクロチップ 1に予め注入された検体及び試薬を送液するため の駆動液 11を貯留する駆動液タンク 10、マイクロチップ 1に駆動液 11を供給するた めのポンプ 5、ポンプ 5とマイクロチップ 1とを駆動液 11が漏れな!/、ように接続するパッ キン 6、マイクロチップ 1の必要部分を温調する温度調節ユニット 3、マイクロチップ 1を ずれないようにパッキン 6に密着させるためのチップ押圧板 2、チップ押圧板 2を昇降 させるための押圧板駆動部 32、マイクロチップ 1をポンプ 5に対して精度良く位置決 めする規制部材 31、マイクロチップ 1内の検体と試薬との反応状態等を検出する光 検出部 4、光検出部 4近傍に設けられた結露センサ 7及び除湿ヒータ 8、等を備えて いる。
[0023] チップ押圧板 2は、初期状態においては、図 2に示す位置より上方に退避している 。これにより、マイクロチップ 1は矢印 X方向に挿抜可能であり、検査担当者は挿入口 83 (図 1参照)から規制部材 31に当接するまでマイクロチップ 1を挿入する。その後、 チップ押圧板 2は、押圧板駆動部 32により下降してマイクロチップ 1に当接し、マイク 口チップ 1の下面が温度調節ユニット 3及びパッキン 6に密着される。
[0024] 温度調節ユニット 3は、マイクロチップ 1の必要部分を温調するもので、ペルチェ素 子 33及びヒータ 34を備えて 、る。試薬が収容されて 、る部分をペルチェ素子 33で 冷却して試薬が変性しな!ヽようにしたり、検体と試薬とが反応する部分をヒータ 34で 加熱して反応を促進させたりする。
[0025] 光検出部 4は、発光部 4a及び受光部 4bから構成され、発光部 4aからの光をマイク 口チップ 1に照射し、マイクロチップ 1を透過した光を受光部 4bにより検出する。受光 部 4bはチップ押圧板 2の内部に一体的に設けられて 、る。発光部 4a及び受光部 4b は、後述のマイクロチップ 1の被検出部 11 la〜: L 1 Idのそれぞれに対向するように複 数設けられている。
[0026] ポンプ 5は、ポンプ室 52、ポンプ室 52の容積を変化させる圧電素子 51、ポンプ室 5 2のマイクロチップ 1側に位置する第 1絞り流路 53、ポンプ室の駆動液タンク 10側に 位置する第 2絞り流路 54、等から構成されている。第 1絞り流路 53及び第 2絞り流路 54は絞られた狭い流路となっており、また、第 1絞り流路 53は第 2絞り流路 54よりも 長い流路となっている。 [0027] 駆動液 11を順方向(マイクロチップ 1に向力 方向)に送液する場合には、まず、ポ ンプ室 52の容積を急激に減少させるように圧電素子 51を駆動する。そうすると、短い 絞り流路である第 2絞り流路 54において乱流が発生し、第 2絞り流路 54における流 路抵抗が長い絞り流路である第 1絞り流路 53に比べて相対的に大きくなる。これによ り、ポンプ室 52内の駆動液 11は、第 1絞り流路 53の方に支配的に押し出され送液さ れる。次に、ポンプ室 52の容積を緩やかに増力!]させるように圧電素子 51を駆動する 。そうすると、ポンプ室 52内の容積増加に伴って駆動液 11が第 1絞り流路 53及び第 2絞り流路 54から流れ込む。このとき、第 2絞り流路 54の方が第 1絞り流路 53と比べ て長さが短いので、第 2絞り流路 54の方が第 1絞り流路 53と比べて流路抵抗が小さ くなり、ポンプ室 52内には第 2絞り流路 54の方力も支配的に駆動液 11が流入する。 以上の動作を圧電素子 51が繰り返すことにより、駆動液 11が順方向に送液されるこ とになる。
[0028] 一方、駆動液 11を逆方向(駆動液タンク 10に向力う方向)に送液する場合には、ま ず、ポンプ室 52の容積を緩やかに減少させるように圧電素子 51を駆動する。そうす ると、第 2絞り流路 54の方が第 1絞り流路 53と比べて長さが短いので、第 2絞り流路 5 4の方が第 1絞り流路 53と比べて流路抵抗が小さくなる。これにより、ポンプ室 52内 の駆動液 11は、第 2絞り流路 54の方に支配的に押し出され送液される。次に、ボン プ室 52の容積を急激に増力!]させるように圧電素子 51を駆動する。そうすると、ポンプ 室 52内の容積増加に伴って駆動液 11が第 1絞り流路 53及び第 2絞り流路 54から流 れ込む。このとき、短い絞り流路である第 2絞り流路 54において乱流が発生し、第 2 絞り流路 54における流路抵抗が長い絞り流路である第 1絞り流路 53に比べて相対 的に大きくなる。これにより、ポンプ室 52内には第 1絞り流路 53の方力も支配的に駆 動液 11が流入する。以上の動作を圧電素子 51が繰り返すことにより、駆動液 11が 逆方向に送液されることになる。
[0029] 結露センサ 7は、光検出部 4及び後述のマイクロチップ 1の被検出部 111の結露を 検出するためのセンサである。
[0030] 除湿ヒータ 8は、光検出部 4の近傍を除湿するためのヒータである。
[0031] 本実施形態にぉ 、ては、光検出部 4が結露が発生しな 、ように装置の動作環境を 考慮してペルチェ素子 33と光検出部 4との相対位置を設定している。例えば、以下 のように設定する。装置の動作環境における最高温度及び最高湿度がそれぞれ 35 。C、 75%とすると、露点温度は約 30°Cとなる。ペルチェ素子 33の設定温度を 5°Cとし たときの機内の温度分布を考慮して、温度が 30°C以上になる位置に光検出部 4を配 置する。ここで、装置の動作環境とは、例えば、取扱説明書の製品仕様に記載されて いるものである。
[0032] また、光検出部 4及びマイクロチップ 1の被検出部 111の結露の万一の発生に備え て、結露センサ 7及び除湿ヒータ 8を設け、結露センサ 7により結露が検出された場合 に、除湿ヒータ 8を作動させ光検出部 4及びマイクロチップ 1の被検出部 111の結露 を除去する。結露除去後に検出動作を行う。
[0033] (マイクロチップの構成)
図 3は、本実施形態に係るマイクロチップ 1の構成図である。一例の構成を示すもの であり、これに限定されない。
[0034] 図 3 (a)において矢印は、検査装置 80にマイクロチップ 1を挿入する挿入方向であ り、図 3 (a)は挿入時にマイクロチップ 1の下面となる面を図示している。図 3 (b)はマ イク口チップ 1の側面図である。
[0035] 図 3 (b)に示すように、マイクロチップ 1は溝形成基板 108と、溝形成基板 108を覆う 被覆基板 109から構成されて 、る。
[0036] 本実施形態に係るマイクロチップ 1には、検体と試薬とをマイクロチップ 1上で混合' 反応させるための微細流路及び流路エレメントが配設されて 、る。これらの微細流路 および流路エレメントによってマイクロチップ 1内で行われる処理の一例を図 3 (c)を 用いて説明する。図 3 (c)は、図 3 (a)において被覆基板 109が取り外された状態で 流路エレメントとその接合状態を模式的に示している。
[0037] 微細流路には、検体液を収容する検体収容部 121、試薬を収容する試薬収容部 1 20、ポジティブコントロール用の試薬を収容するポジティブコントロール収容部 122、 ネガティブコントロール用の試薬を収容するネガティブコントロール収容部 123等が 設けられている。試薬、ポジティブコントロール及びネガティブコントロールは、予め各 収容部に収容されている。ポジティブコントロールは試薬と反応して陽性を示すもの で、ネガティブコントロールは試薬と反応して陰性を示すものであり、正確な検査が実 施された力否かを確認するためのものである。
[0038] なお、図 3 (c)は、説明を簡単にするため模式的に示しており、実際は、複数の試 薬や希釈用溶液などをチップに収容し、チップ内での試薬の調合などを行わせても よい。
[0039] 検体注入部 113はマイクロチップ 1に検体を注入するための注入部であり、駆動液 注入部 110a〜l 10dはマイクロチップ 1に駆動液 11を注入するための注入部である
[0040] まず、マイクロチップ 1による検査を行うに先立って、検査担当者は検体を検体注入 部 113から注射器等を用いて注入する。図 3 (c)に示すように、検体注入部 113から 注入された検体は、連通する微細流路を通って検体収容部 121に収容される。
[0041] 次に、検体の注入されたマイクロチップ 1は、検査担当者により図 1に示す検査装置 80の挿入口 83に挿入され、図 2に示すようにセットされる。
[0042] 次に、図 2に示すポンプ 5が後述する CPU90に指令される所定の手順に従い順方 向に駆動され駆動液注入部 110a〜l 10dから駆動液 11が注入される。駆動液注入 部 11 Oaから注入された駆動液 11は、連通する微細流路を通って検体収容部 121に 収容されている検体を押し出し、反応部 124に検体を送り込む。駆動液注入部 110b 力 注入された駆動液 11は、連通する微細流路を通ってポジティブコントロール収 容部 122に収容されて 、るポジティブコントロール用の試薬を押し出し、反応部 125 にポジティブコントロールを送り込む。駆動液注入部 110cから注入された駆動液 11 は、連通する微細流路を通ってネガティブコントロール収容部 123に収容されて 、る ネガティブコントロール用の試薬を押し出し、反応部 126にネガティブコントロールを 送り込む。駆動液注入部 l lOdから注入された駆動液 11は、連通する微細流路を通 つて試薬収容部 120に収容されて 、る試薬を押し出し、上記の反応部 124〜 126に 試薬を送り込む。
[0043] このようにして、反応部 124では検体と試薬とが合流し、反応部 125ではポジティブ コントロールと試薬とが合流し、反応部 126ではネガティブコントロールと試薬とが合 流する。 [0044] ここで、試薬収容部 120、検体収容部 121、ポジティブコントロール収容部 122及 びネガティブコントロール収容部 123は、検査装置 80のペルチェ素子 33に対向して 位置し、変性することのないように冷却される。また、反応部 124〜126は、検査装置 80のヒータ 34に対向して位置し、反応が促進されるよう加熱される。
[0045] その後、反応部 124で合流した検体と試薬との混合液の一部は、被検出部 111a に送液される。反応部 124で合流した検体と試薬との混合液の一部並びに反応部 1 25で合流したポジティブコントロールと試薬との混合液の一部は、被検出部 11 lbに 送液される。反応部 125で合流したポジティブコントロールと試薬との混合液の一部 は、被検出部 111cに送液される。反応部 126で合流したネガティブコントロールと試 薬との混合液は、被検出部 11 Idに送液される。
[0046] 被検出部の窓 1 l ie及び被検出部 11 la〜l l idは、各混合液の反応を光学的に 検出するために設けられており、透明なガラスゃ榭脂等の材料で構成されている。
[0047] (制御構成)
図 4は、本実施形態に係るマイクロチップを用いる検査装置の制御構成の要部を示 す図である。プログラムに従って検査装置 80の制御を実行する CPU90を中心に、 ノ ス 91により、 ROM92、 RAM93、不揮発性メモリ 94、光検出部 4、結露センサ 7、 及び除湿ヒータ 8、等が相互に接続されている。なお、本発明の制御に直接関係しな V、装置構成要素につ 、ては省略して 、る。
[0048] ROM92は、 CPU90によって実行される各種制御プログラムやデータ等を記憶す る。
[0049] RAM93は、 CPU90によってワークエリアとして利用され、 CPU90が制御を実行 する際に必要なプログラムやデータを一時的に記憶する。
[0050] 不揮発性メモリ 94は、光検出部 4による検出結果等を記憶する。
[0051] 光検出部 4、結露センサ 7、及び除湿ヒータ 8についての説明は、前述したので省 略する。
[0052] (除湿制御フロー)
図 5は、本実施形態に係る除湿制御のフロー図である。除湿制御は、 ROM92に記 憶されている除湿制御プログラムに基づいて CPU90が処理を実行することにより行 われる。
[0053] まず、 CPU90は、結露センサ 7の出力を取得し、結露が発生しているか否かを判 断する (ステップ S 11)。
[0054] 結露が発生していると判断すると (ステップ S11; Yes)、 CPU90は、除湿ヒータ 8を
ONする(ステップ S 12)。その後、ステップ S 11に戻る。
[0055] 結露が発生していないと判断すると (ステップ Sl l ;No)、 CPU90は、除湿ヒータ 8 を OFFする(ステップ S 13)。その後、ステップ S 11に戻る。
[0056] このように、結露センサ 7により結露が検出された場合に、除湿ヒータ 8を作動させ 光検出部 4及びマイクロチップ 1の被検出部 111の結露を除去する。
[0057] (光検出制御フロー)
図 6は、本実施形態に係る光検出制御のフロー図である。光検出制御は、 ROM92 に記憶されている光検出制御プログラムに基づいて CPU90が処理を実行することに より行われる。
[0058] まず、 CPU90は、光検出を行うタイミングである力否かを判断する (ステップ S21)。
光検出を行うタイミングであると判断すると (ステップ S21 ; Yes)、 CPU90は、結露セ ンサ 7の出力を取得し結露が発生している力否かを判断する (ステップ S22)。光検出 を行うタイミングでないと判断すると(ステップ S21 ;No)、ステップ S21に戻り、 CPU9 0は、光検出を行うタイミングになるまで待機する。
[0059] 次に、結露が発生していないと判断すると (ステップ S22 ;No)、 CPU90は、発光 部 4aからの光をマイクロチップ 1の被検出部 111に照射し、マイクロチップ 1の被検出 部 111を透過した光を受光部 4bにより検出して光検出処理を行う (ステップ S23)。 結露が発生していると判断すると (ステップ S22 ; Yes)、ステップ S22に戻り、 CPU9 0は、結露が発生しなくなるまで待機する。この待機している間に上述の除湿制御が 行われ、結露が除去される。
[0060] 以上のように、本実施形態によれば、マイクロチップ 1を冷却する場合に、結露が発 生しな 、ようにペルチェ素子 33と光検出部 4との相対位置を設定して 、る為マイクロ チップ 1の被検出部 111や検査装置の光検出部 4に結露が発生しにくぐまた結露が 発生したとしても結露を除湿ヒータ 8を用いて除去することができるので、精度良い検 出を行うことができる。
[0061] 本実施形態では、冷却部(ペルチェ素子 33)と検出部(光検出部 4)との間には特 に隔離部材を設けて 、な 、が、冷却部と検出部との間を断熱壁や断熱材で隔離す ることにより、検出部の結露を防止したり、この断熱壁により冷却部と検出部の間隔を 近接させて装置サイズを小型化することも有効である。
[0062] 本実施形態では、除湿手段として除湿ヒータを用いた力 マイクロチップ 1の被検出 部 111や検査装置の光検出部 4にドライエアー (露点温度が所定温度以下の空気) を吹き付けるドライエアー吹付手段を設けてもよい。このとき、ドライエアーを光検出 部 4を基点に検査装置内を還流させた後、装置外に排出するようなエアー流を形成 することが好ましい。
[0063] 本実施形態では、結露検出手段として結露センサ 7を用いたが、温湿度センサを用 V、て温湿度を測定して露点温度を演算したり、直接露点温度センサを用いることも可 能である。この場合、結露の予測が可能であり結露発生前の結露の発生が高まった 時点で除湿手段を作動することができるので、結露を予防でき検出処理を待機させ ることがない。
[0064] 本実施形態では、透過光により光検出を行ったが、反射光による光検出ももちろん 可能である。

Claims

請求の範囲
[1] 被検出部及び被冷却部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と
、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して 設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記 被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置 において、
前記検出部が結露しないように前記検出部と前記冷却部との間隔が設定されている ことを特徴とするマイクロチップを用いる検査装置。
[2] 検査装置の動作環境における最高温度及び最高湿度から得られる露点温度、前記 冷却部の温度、及び装置内の温度分布に基づ!、て前記検出部と前記冷却部との間 隔が設定されていることを特徴とする請求の範囲第 1項に記載のマイクロチップを用 いる検査装置。
[3] 被検出部及び被冷却部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と 、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して 設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記 被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置 において、
前記検出部と前記冷却部との間に断熱部材が配置されていることを特徴とするマイク 口チップを用いる検査装置。
[4] 被検出部及び被冷却部を有するマイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と 、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して 設けられた検出部と、前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記 被冷却部に対応して設けられた冷却部と、を有するマイクロチップを用いる検査装置 において、
除湿手段を有することを特徴とするマイクロチップを用いる検査装置。
[5] 前記除湿手段は、前記検出部の近傍に作用させることを特徴とする請求の範囲第 4 項に記載のマイクロチップを用いる検査装置。
[6] 前記除湿手段は、除湿ヒータであることを特徴とする請求の範囲第 4項又は第 5項に 記載のマイクロチップを用いる検査装置。
[7] 前記除湿手段は、前記検出部の近傍にドライエアを吹き付けるドライエア吹付手段 であることを特徴とする請求の範囲第 4項又は第 5項に記載のマイクロチップを用いる 検査装置。
[8] 前記検出部の結露状態を検出する結露検出手段と、
前記結露検出手段の出力に基づき、前記除湿手段を作動させる制御手段と、 を有することを特徴とする請求の範囲第 7項に記載のマイクロチップを用いる検査装 置。
[9] 前記制御手段は、前記除湿手段を作動させることにより、前記結露検出手段により結 露が検出されなくなった場合、前記検出部による検出を実行させることを特徴とする 請求の範囲第 8項に記載のマイクロチップを用いる検査装置。
[10] 前記結露検出手段は、結露センサであることを特徴とする請求の範囲第 8項又は第 9 項に記載のマイクロチップを用いる検査装置。
[11] 前記結露検出手段は、温湿度センサ又は露点温度センサであることを特徴とする請 求の範囲第 8項又は第 9項に記載のマイクロチップを用いる検査装置。
[12] 被検出部及び被冷却部が設けられたマイクロチップと、
前記マイクロチップが収容されるマイクロチップ収容部と、
前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被検出部に対応して設 けられた検出部と、
前記マイクロチップ収容部に収容されたマイクロチップの前記被冷却部に対応して設 けられた冷却部と、
を有するマイクロチップを用いる検査システムにお 、て、
前記マイクロチップの被検出部が結露しないように、前記マイクロチップの被検出部と 被冷却部との間隔が設定されていることを特徴とするマイクロチップを用いる検査シ ステム。
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