WO2007074506A1 - カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム - Google Patents

カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム Download PDF

Info

Publication number
WO2007074506A1
WO2007074506A1 PCT/JP2005/023799 JP2005023799W WO2007074506A1 WO 2007074506 A1 WO2007074506 A1 WO 2007074506A1 JP 2005023799 W JP2005023799 W JP 2005023799W WO 2007074506 A1 WO2007074506 A1 WO 2007074506A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
temperature
substrate
carbon nanotube
nanotube growth
catalyst particles
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/023799
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Akio Kawabata
Original Assignee
Fujitsu Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Limited filed Critical Fujitsu Limited
Priority to PCT/JP2005/023799 priority Critical patent/WO2007074506A1/ja
Priority to JP2007551822A priority patent/JP4924433B2/ja
Publication of WO2007074506A1 publication Critical patent/WO2007074506A1/ja
Priority to US12/146,841 priority patent/US7906095B2/en
Priority to US13/022,110 priority patent/US8501108B2/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76877Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
    • H01L21/76879Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material by selective deposition of conductive material in the vias, e.g. selective C.V.D. on semiconductor material, plating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B32/00Carbon; Compounds thereof
    • C01B32/15Nano-sized carbon materials
    • C01B32/158Carbon nanotubes
    • C01B32/16Preparation
    • C01B32/162Preparation characterised by catalysts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • H01L21/283Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current
    • H01L21/285Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation
    • H01L21/28506Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers
    • H01L21/28512Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table
    • H01L21/28556Deposition of conductive or insulating materials for electrodes conducting electric current from a gas or vapour, e.g. condensation of conductive layers on semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table by chemical means, e.g. CVD, LPCVD, PECVD, laser CVD
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/532Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body characterised by the materials
    • H01L23/53204Conductive materials
    • H01L23/53276Conductive materials containing carbon, e.g. fullerenes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/10Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device
    • H01L2221/1068Formation and after-treatment of conductors
    • H01L2221/1094Conducting structures comprising nanotubes or nanowires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Definitions

  • the present invention relates to a carbon nanotube growth method and growth system suitable for an integrated circuit or the like.
  • Patent Document 3 describes a method of growing carbon nanotubes using catalyst particles. However, even with the method described in Patent Document 3, although the intended purpose is achieved, the diameter and characteristics of carbon nanotubes may vary.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-267926
  • Patent Document 2 JP 2002-530805 A
  • Patent Document 3 JP 2005-22886
  • An object of the present invention is to provide a carbon nanotube growth method and a growth system capable of suppressing variations in the diameter and characteristics of carbon nanotubes.
  • the inventor of the present application has intensively studied to investigate the cause of the variation in the diameter of the carbon nanotubes. I found. In other words, the diameter of the unfused fine particles remains small. The diameter of the fine particles resulting from the fusion is increasing. . For these reasons, the diameter of the fine particles and the characteristics of the carbon nanotube may vary with the conventional method because the diameter of the fine particles cannot be controlled completely.
  • the substrate is placed at 500 ° C./min in a chamber into which a source gas containing carbon atoms has been introduced in advance.
  • the temperature is increased at the above speed.
  • the catalyst particles are prepared before the temperature of the substrate is raised, and further, the raw material gas is introduced, so that the variation in the diameter of the carbon nanotubes where the catalyst particles hardly fuse with each other. Can be suppressed.
  • FIG. 1A is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 1A.
  • FIG. 1C is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 1B.
  • FIG. 1D is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 1C.
  • FIG. 1E is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 1D.
  • FIG. 1F is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 1E.
  • FIG. 2 is a diagram showing temperature control in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a diagram showing details of the carbon nanotube 17.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of temperature control.
  • FIG. 5A is a SEM photograph showing carbon nanotubes grown according to Example No. 1.
  • FIG. 5B is a diagram schematically showing carbon nanotubes grown according to Example No. 1.
  • FIG. 6A is a SEM photograph showing a carbon nanotube grown according to Example No. 2.
  • FIG. 6B is a diagram schematically showing carbon nanotubes grown according to Example No. 2.
  • FIG. 7A is a SEM photograph showing a carbon nanotube grown according to Example No. 3.
  • FIG. 7B is a diagram schematically showing carbon nanotubes grown according to Example No. 3.
  • FIG. 8 is a diagram showing temperature control in Example No. 3.
  • FIG. 9A is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9B is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 9A.
  • FIG. 9C is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 9B.
  • FIG. 9D is a cross-sectional view showing a carbon nanotube growth method following FIG. 9C.
  • FIG. 10A is a diagram showing another example of temperature control.
  • FIG. 10B is a diagram showing still another example of temperature control.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of temperature control and atmosphere control.
  • 1A to 1F are cross-sectional views showing a carbon nanotube growth method according to the first embodiment of the present invention in the order of steps.
  • a SiO film 12 is formed on a Si substrate 11.
  • the thickness of the SiO film 12 is about 350 nm, for example. Next, it has a circular opening 13a
  • a resist pattern 13 is formed on the SiO film 12.
  • the diameter of the opening 13a is, for example,
  • a cylindrical opening 14 is formed in the SiO film 12.
  • a catalyst layer 15 is formed at the bottom of the opening 14.
  • a Ti film having a thickness of about 1 nm is formed.
  • a plurality of catalyst particles 16 having a substantially uniform diameter are adhered onto the catalyst layer 15.
  • the diameter of the catalyst particles 16 is, for example, 5 nm or less.
  • the catalyst particles 16 for example, Co particles, Ni particles, or Fe particles are used. Further, these alloy particles may be used.
  • the catalyst particles 16 may adhere to the resist pattern 13.
  • the method for attaching the catalyst particles 16 is not particularly limited. For example, the method described in Japanese Patent Publication No. 2005-22886 may be adopted.
  • the resist pattern 13 is removed by ashing or the like. As a result, even if the catalyst particles 16 adhere to the resist pattern 13, they are removed.
  • carbon nanotubes 17 are grown from the catalyst particles 16 on the catalyst layer 15.
  • the Si substrate 11 on which the catalyst layer 15 is formed is transferred to a thermal CVD chamber (not shown) having an internal temperature, for example, room temperature (RT).
  • a gas mixture is introduced.
  • the mixed gas for example, a mixed gas of argon and acetylene having a mixing ratio of 90:10 is used. That is, a material gas (acetylene gas) diluted with an inert gas (argon gas) is used.
  • argon gas inert gas
  • the pressure inside the chamber is stabilized at, for example, lkPa, as shown in FIG. Increase the temperature in the chamber to 510 ° C in 1 minute.
  • the carbon nanotubes 17 begin to grow linearly from the catalyst particles 16 that are not fused together.
  • the temperature and atmosphere are maintained, for example, for about 30 minutes.
  • the carbon nanotubes 17 begin to grow, the surfaces of the catalyst particles 16 are covered with carbon, so that the catalyst particles 16 do not fuse with each other even during the holding for about 30 minutes.
  • the temperature is lowered to room temperature while maintaining the atmosphere.
  • the speed is increased from the start of the heating.
  • the carbon nanotube 17 begins to grow quickly. Therefore, as described above, the fusion of the catalyst particles 16 does not occur. Furthermore, since the temperature rising rate is high, fusion of the catalyst particles 16 can be prevented more reliably. As a result, the diameter of the carbon nanotube 17 depends on the diameter of the attached catalyst particles 16. In the present embodiment, since the catalyst particles 16 having substantially the same diameter (for example, about 5 nm) are used, the variation in the diameter of the carbon nanotubes 17 where the force grows is extremely small.
  • the carbon nanotubes 17 grown by the above-described embodiment have a linear portion 17a and a crimped portion 17b. This is because the carbon nanotubes 17 grow linearly when the temperature is raised rapidly, whereas the carbon nanotubes 17 grow while shrinking when the temperature is maintained. Comparing the characteristics of these parts, the resistance value with few defects is low in the linear part 17a. For this reason, it is preferable to select conditions such that the linear portion 17a grows long. According to the results of tests conducted so far by the inventor of the present application, for example, it is preferable that the temperature rising rate at which the pressure in the chamber is 0.1 kPa to 30 kPa is 500 ° CZ or more.
  • spike annealing it is effective to perform spike annealing when raising the temperature. This is because, for example, spike annealing can raise the temperature at 500 ° C./second or more. Further, the time for heating is not particularly limited, and for example, it is 30 seconds or more or 1 minute or more.
  • the temperature reached by the high temperature temperature rise is 400 ° C or more as long as it is a temperature at which carbon nanotubes can grow.
  • the temperature maintained thereafter may be any temperature at which carbon nanotubes can grow. However, if there is a weak portion or part of heat on the same substrate, such as a low dielectric constant film, the temperature should preferably be 450 ° C or lower.
  • the raw material gas is not limited to acetylene gas, and various hydrocarbon gases can be used.
  • the catalyst particles may contain Ti, Mo, Pd, Ta, Al, W, Cu, V, Hf and / or Zr, which is not limited to Fe, Co and / or Ni. .
  • the carbon nanotubes may start growing at a lower temperature.
  • the source gas is evacuated and oxygen is newly introduced into the chamber until the pressure in the chamber reaches IkPa. Then, the temperature is raised from room temperature to 510 ° C in an oxygen atmosphere at a high speed in 1 minute. By this treatment, the carbon covering the catalyst fine particles is removed.
  • the catalyst fine particles can be used efficiently. That is, it is possible to grow carbon nanotubes from almost all catalyst fine particles. As a result, it is possible to obtain a single-bonn nanotube that has grown at a high density that cannot be obtained by a single high temperature increase. It should be noted that the conditions of the rapid temperature increase and / or oxidation after the second time may be different from the first condition.
  • an apparatus for attaching a catalyst and a heat treatment apparatus for performing high-temperature temperature rise or the like may be provided separately or integrated.
  • FIGS. 5A, 6A, and 7A schematically show the contents of the SEM photographs shown in 5A, 6A, and 7A, respectively.
  • the carbon nanotubes shown in FIGS. 5A and 5B are grown according to the method according to the above-described embodiment (Example No. 1).
  • the carbon nanotubes shown in FIGS. 6A and 6B are grown according to a method (Example No. 2) in which the pressure in the chamber is changed from the method according to the above-described embodiment. In Example No. 2, the pressure in the chamber was lOkPa.
  • Example 7A and 7B are grown according to a method (Example No. 3) in which the temperature control is changed from the method according to the above-described embodiment.
  • Example No. 3 as shown in FIG. 8, the temperature in the chamber was increased to 510 ° C. in 30 minutes after the pressure inside the chamber was stabilized at lkPa.
  • 9A to 9D are cross-sectional views showing a carbon nanotube growth method according to the second embodiment of the present invention in the order of steps.
  • an SiO film 22 is formed on the Si substrate 21.
  • the thickness of the SiO film 22 is about 350 nm, for example.
  • a catalyst layer 25 is formed on the SiO film 22.
  • catalyst layer 25 As catalyst layer 25
  • a Ti film having a thickness of about 1 nm is formed.
  • a plurality of catalyst particles 26 whose diameters are substantially uniform are adhered onto the catalyst layer 25.
  • the diameter of the catalyst particle 26 is, for example, 5 nm or less.
  • the method for attaching the catalyst particles 26 is not particularly limited. For example, as in the first embodiment, the method described in JP-A-2005-22886 may be employed.
  • carbon nanotubes 27 are grown from the catalyst particles 26 on the catalyst layer 25.
  • the carbon nanotubes 27 can be grown by the same method as the carbon nanotubes 17 in the first embodiment.
  • the catalyst particles are prepared before the temperature of the substrate is raised, and further, the raw material gas is introduced, so that the catalyst particles hardly fuse with each other. . For this reason, the dispersion

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)

Abstract

 カーボンナノチューブの成長に当たっては、内部の温度が室温の熱CVDチャンバに基板を搬送し、その内部に不活性ガス及び原料ガスの混合ガスを導入する。そして、チャンバ内部の圧力が、1kPaに安定した後、1分間で510°Cまでチャンバ内の温度を昇温する。この結果、触媒粒子同士が融合することなく、各触媒粒子からカーボンナノチューブが直線状に成長し始める。続いて、30分間程度、温度及び雰囲気を保持する。カーボンナノチューブが一旦成長し始めると、触媒粒子の表面は炭素に覆われるため、この30分間程度の保持の間でも、触媒粒子同士が融合することはない。

Description

明 細 書
カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム
技術分野
[0001] 本発明は、集積回路等に好適なカーボンナノチューブの成長方法及び成長システ ムに関する。
背景技術
[0002] 従来、カーボンナノチューブを成長させるに当たり、スパッタ法又は蒸着法に触媒 金属の薄膜を形成した後、チャンバ内に還元性ガス又は不活性ガスを導入しながら 触媒金属の薄膜を加熱して微粒子化している(特許文献 1及び 2)。その後、ァセチ レンガス等の原料ガスをチャンバ内に供給し始め、熱 CVD法、プラズマ CVD法及び ホットフィラメント CVD法等により、カーボンナノチューブを成長させるのである。
[0003] し力 ながら、このような従来の方法では、成長するカーボンナノチューブの直径が 安定せず、特性にばらつきが生じやすいとレ、う問題点がある。
[0004] カーボンナノチューブの直径の制御に関して、特許文献 3に触媒パーティクルを用 いてカーボンナノチューブを成長させる方法が記載されている。しかし、この特許文 献 3に記載の方法によっても、所期の目的は達成されるものの、カーボンナノチュー ブの直径及び特性がばらつくことがある。
[0005] 特許文献 1 :特開 2004— 267926号公報
特許文献 2 :特開 2002— 530805号公報
特許文献 3 :特開 2005— 22886号公報
発明の開示
[0006] 本発明の目的は、カーボンナノチューブの直径及び特性のばらつきを抑制すること ができるカーボンナノチューブの成長方法及び成長システムを提供することにある。
[0007] 本願発明者は、カーボンナノチューブの直径のばらつきの原因を究明すべく鋭意 検討を重ねた結果、カーボンナノチューブを成長させる前の加熱中に、隣接する微 粒子同士が融合することがあることを見出した。つまり、融合していない微粒子の直 径は小さいままである力 融合した結果の微粒子の直径は大きくなつているのである 。このような理由により、従来の方法では、微粒子の直径を制御しきれず、カーボンナ ノチューブの直径及び特性がばらつくことがあるのである。
[0008] そして、本願発明者は、この見解に基づいて更に鋭意検討を重ねた結果、以下に 示す発明の諸態様に想到した。
[0009] 本発明に係るカーボンナノチューブの製造方法では、基板の上面に触媒粒子を付 着させた後、炭素原子を含む原料ガスが予め導入されたチャンバ内において、前記 基板を 500°C/分以上の速度で昇温する。
[0010] 本発明に係るカーボンナノチューブの成長システムには、基板の上面に触媒粒子 を付着させる触媒付着手段と、炭素原子を含む原料ガスが予め導入されたチャンバ 内において、前記基板を 500°C/分以上の速度で昇温する熱処理手段と、が設けら れている。
[0011] 本発明においては、基板の昇温の前に触媒粒子を準備しておき、更に、原料ガス を導入してあるので、触媒粒子同士の融合が生じにくぐカーボンナノチューブの直 径のばらつきを抑えることができる。
図面の簡単な説明
[0012] [図 1A]図 1Aは、本発明の第 1の実施形態に係るカーボンナノチューブの成長方法 を示す断面図である。
[図 1B]図 1Bは、図 1Aに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 1C]図 1Cは、図 1Bに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 1D]図 1Dは、図 1Cに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 1E]図 1Eは、図 1Dに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 1F]図 1Fは、図 1Eに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 2]図 2は、本発明の第 1の実施形態における温度制御を示す図である。 [図 3]図 3は、カーボンナノチューブ 17の詳細を示す図である。
[図 4]図 4は、温度制御の一例を示す図である。
[図 5A]図 5Aは、実施例 No. 1に倣って成長させたカーボンナノチューブを示す SE M写真である。
[図 5B]図 5Bは、実施例 No. 1に倣って成長させたカーボンナノチューブを模式的に 示す図である。
[図 6A]図 6Aは、実施例 No. 2に倣って成長させたカーボンナノチューブを示す SE M写真である。
[図 6B]図 6Bは、実施例 No. 2に倣って成長させたカーボンナノチューブを模式的に 示す図である。
[図 7A]図 7Aは、実施例 No. 3に倣って成長させたカーボンナノチューブを示す SE M写真である。
[図 7B]図 7Bは、実施例 No. 3に倣って成長させたカーボンナノチューブを模式的に 示す図である。
[図 8]図 8は、実施例 No. 3における温度制御を示す図である。
[図 9A]図 9Aは、本発明の第 2の実施形態に係るカーボンナノチューブの成長方法 を示す断面図である。
[図 9B]図 9Bは、図 9Aに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 9C]図 9Cは、図 9Bに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 9D]図 9Dは、図 9Cに引き続き、カーボンナノチューブの成長方法を示す断面図 である。
[図 10A]図 10Aは、温度制御の他の一例を示す図である。
[図 10B]図 10Bは、温度制御の更に他の一例を示す図である。
[図 11]図 11は、温度制御及び雰囲気制御の一例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の実施形態について、添付の図面を参照して具体的に説明する。 [0014] (第 1の実施形態)
先ず、本発明の第 1の実施形態について説明する。図 1A乃至図 1Fは、本発明の 第 1の実施形態に係るカーボンナノチューブの成長方法を工程順に示す断面図であ る。
[0015] 本実施形態では、先ず、図 1Aに示すように、 Si基板 11上に SiO膜 12を形成する
2
。 SiO膜 12の厚さは、例えば 350nm程度とする。次に、円形の開口部 13aを有する
2
レジストパターン 13を SiO膜 12上に形成する。開口部 13aの直径は、例えば
2
程度とする。
[0016] 次いで、レジストパターン 13を用いて SiO膜 12をパターユングする。この結果、図
2
1Bに示すように、 SiO膜 12に円筒状の開口部 14が形成される。
2
[0017] その後、図 1Cに示すように、開口部 14の底部に触媒層 15を形成する。触媒層 15 としては、例えば厚さが lnm程度の Ti膜を形成する。
[0018] 続いて、図 1Dに示すように、触媒層 15上に直径がほぼ均一に揃った複数の触媒 粒子 16を付着させる。触媒粒子 16の直径は、例えば 5nm以下とする。触媒粒子 16 としては、例えば Co粒子、 Ni粒子又は Fe粒子を用いる。また、これらの合金粒子を 用いてもよい。このとき、図 1Dに示すように、触媒粒子 16がレジストパターン 13上に 付着することもある。触媒粒子 16を付着する方法は、特に限定されない。例えば、特 開 2005— 22886号公報に記載された方法を採用すればよい。
[0019] 次に、図 1Eに示すように、レジストパターン 13をアツシング等により除去する。この 結果、例えレジストパターン 13上に触媒粒子 16が付着していても、これらは除去され る。
[0020] 次いで、図 1Fに示すように、触媒層 15上の触媒粒子 16からカーボンナノチューブ 17を成長させる。カーボンナノチューブ 17の成長に当たっては、内部の温度が例え ば室温 (R. T. )の熱 CVDチャンバ(図示せず)に触媒層 15が形成された Si基板 11 を搬送し、その内部に不活性ガス及び原料ガスの混合ガスを導入する。混合ガスとし ては、例えば混合比が 90 : 10のアルゴン及びアセチレンの混合ガスを用いる。つまり 、原料ガス(アセチレンガス)が不活性ガス(アルゴンガス)により希釈されたものを用 いる。そして、チャンバ内部の圧力が、例えば lkPaに安定した後、図 2に示すように 、 1分間で 510°Cまでチャンバ内の温度を昇温する。この結果、触媒粒子 16同士が 融合することなぐ各触媒粒子 16からカーボンナノチューブ 17が直線状に成長し始 める。
[0021] 続いて、例えば 30分間程度、温度及び雰囲気を保持する。カーボンナノチューブ 1 7がー且成長し始めると、触媒粒子 16の表面は炭素に覆われるため、この 30分間程 度の保持の間でも、触媒粒子 16同士が融合することはない。そして、保持が終了す ると、雰囲気を保持したまま温度を室温まで下げる。
[0022] このような本実施形態によれば、触媒粒子 16を触媒層 15上に付着させてから加熱 を開始する前に、既に原料ガスをチャンバ内に供給しているため、加熱開始から速 やかにカーボンナノチューブ 17が成長し始める。従って、上述のように、触媒粒子 16 同士の融合が生じない。更に、昇温速度を高速にしているため、触媒粒子 16同士の 融合をより確実に防止することができる。この結果、カーボンナノチューブ 17の直径 は、付着させた触媒粒子 16の直径に依存したもののとなる。そして、本実施形態で は、触媒粒子 16として、直径がほぼ揃ったもの(例えば、 5nm程度)を用いているた め、そこ力も成長するカーボンナノチューブ 17の直径のばらつきも極めて小さなもの となる。
[0023] なお、上述の実施形態によって成長したカーボンナノチューブ 17には、厳密には、 図 3に示すように、直線状の部分 17aと縮れた部分 17bとが存在する。これは、高速 昇温時にカーボンナノチューブ 17が直線状に成長するのに対し、温度保持時には、 カーボンナノチューブ 17が縮れながら成長するからである。これらの部分の特性を比 較すると、直線状の部分 17aにおいて、欠陥が少なぐ抵抗値が低い。このため、直 線状の部分 17aが長く成長するような条件を選択することが好ましい。本願発明者が これまでに行った試験結果によると、例えば、チャンバ内の圧力を 0. lkPa乃至 30k Paとすることが好ましぐ昇温速度を 500°CZ分以上とすることが好ましい。昇温に当 たり、スパイクァニールを行うことは有効である。スパイクァニールによれば、例えば 5 00°C/秒以上の昇温も可能だからである。更に、昇温にかける時間も特に限定され ず、例えば 30秒間以上又は 1分間以上とする。
[0024] また、昇温後に温度を保持する必要はなぐ図 4に示すように、昇温が完了したら速 やかに温度を下げ始めてもよい。
[0025] 更に、高速昇温により到達させる温度は、カーボンナノチューブが成長可能な温度 であればよぐ例えば 400°C以上とする。その後に保持する温度も、カーボンナノチュ ーブが成長可能な温度であればよい。但し、同一基板上に低誘電率膜等の熱に弱 レ、部分が存在する場合には、 450°C以下とすることが好ましレ、。
[0026] また、原料ガスはアセチレンガスに限定されるものではなぐ種々の炭化水素ガスを 用いることも可能である。
[0027] 更に、触媒粒子には、 Fe、 Co及び/又は Niだけでなぐ Ti、 Mo、 Pd、 Ta、 Al、 W 、 Cu、 V、 Hf及び/又は Zrが含有されていてもよレ、。これらの元素が含有されている と、カーボンナノチューブがより低温で成長を開始することがある。
[0028] 更にまた、カーボンナノチューブの成長にあたり、図 10Aに示すように、高速昇温 及び降温を繰り返してもよい。このとき、図 10Bに示すように、高速昇温と降温との間 に温度保持を行ってもよい。このような繰り返しを行うことにより、長さ方向で特性が変 化するカーボンナノチューブを得ることができる。
[0029] 更に、各温度プロファイルで原料ガス種類、圧力、温度及び温度勾配等を変えるこ とも可能である。これらを応用すると、図 11に示すような制御により、カーボンナノチュ ーブを成長させることも可能となる。
[0030] 即ち、先ず、アセチレン(C H )及びアルゴン (Ar)の混合ガス(IkPa)中で、 510
2 2
°Cまで 1分間で高速昇温する。この結果、ほとんどの触媒微粒子からカーボンナノチ ユーブが成長するが、触媒微粒子によっては、そこからカーボンナノチューブが成長 しないものもある。これは、成長が開始される前に触媒微粒子がカーボンで覆われて しまったためである。そこで、原料ガスを一旦真空引きし、チャンバ内に新たに酸素を チャンバ内圧力が IkPaになるまで導入する。その後、室温から酸素雰囲気中で 510 °Cまで 1分間で高速昇温する。この処理により、触媒微粒子を覆っていたカーボンが 除去される。
[0031] 続いて、室温まで降温し、再度、アセチレン及びアルゴンの混合ガス(IkPa)中で、 510°Cまで 1分間で高速昇温する。この結果、最初の高速昇温時にはカーボンナノ チューブが成長しなかった触媒微粒子のほとんどからカーボンナノチューブが成長 する。
[0032] そして、これらの処理を繰り返すことにより、触媒微粒子を効率よく利用することがで きる。即ち、ほとんどすべての触媒微粒子からカーボンナノチューブを成長させること が可能となる。この結果、 1回の高速昇温では得られないような高密度に成長した力 一ボンナノチューブを得ることが可能となる。なお、 2回目以降の高速昇温及び/又 は酸化の条件を 1回目の条件と異ならせてもよい。
[0033] なお、カーボンナノチューブの成長システムを構築するに当たっては、触媒を付着 させる装置と高速昇温等を行う熱処理装置とを個別に設けてもよぐ一体化させても よい。
[0034] 次に、本願発明者が実際に撮影したカーボンナノチューブの SEM写真を、図 5A、 図 6A及び図 7Aに示す。また、図 5B、図 6B及び図 7Bに、夫々 5A、図 6A及び図 7 Aに示す SEM写真の内容を模式的に示す。図 5A及び図 5Bに示すカーボンナノチ ユーブは、上述の実施形態に係る方法(実施例 No. 1)に倣って成長させたものであ る。図 6A及び図 6Bに示すカーボンナノチューブは、上述の実施形態に係る方法か らチャンバ内の圧力を変更した方法(実施例 No. 2)に倣って成長させたものである。 実施例 No. 2では、チャンバ内の圧力を lOkPaとした。図 7A及び図 7Bに示すカー ボンナノチューブは、上述の実施形態に係る方法から温度制御を変更した方法(実 施例 No. 3)に倣って成長させたものである。実施例 No. 3では、図 8に示すように、 チャンバ内部の圧力が lkPaに安定した後、 30分間で 510°Cまでチャンバ内の温度 を昇温した。
[0035] 図 5A及び図 5Bに示すカーボンナノチューブと図 6A及び図 6Bに示すカーボンナ ノチューブとを比較すると分かるように、圧力が高いほど、直線状の部分が長いカー ボンナノチューブが得られた。
[0036] また、図 5A及び図 5Bに示すカーボンナノチューブと図 7A及び図 7Bに示すカー ボンナノチューブとを比較すると分かるように、昇温速度が速いほど、直線状の部分 が長いカーボンナノチューブが得られた。なお、図 7A及び図 7Bに示すカーボンナノ チューブにおレ、ても、直径のばらつきが小さいとレ、う効果は得られた。
[0037] (第 2の実施形態) 次に、本発明の第 2の実施形態について説明する。図 9A乃至図 9Dは、本発明の 第 2の実施形態に係るカーボンナノチューブの成長方法を工程順に示す断面図であ る。
[0038] 本実施形態では、先ず、図 9Aに示すように、 Si基板 21上に SiO膜 22を形成する
2
。 SiO膜 22の厚さは、例えば 350nm程度とする。
2
[0039] 次に、図 9Bに示すように、 SiO膜 22上に触媒層 25を形成する。触媒層 25として
2
は、例えば厚さが lnm程度の Ti膜を形成する。
[0040] 次いで、図 9Cに示すように、触媒層 25上に直径がほぼ均一に揃った複数の触媒 粒子 26を付着させる。触媒粒子 26の直径は、例えば 5nm以下とする。触媒粒子 26 としては、例えば Co粒子、 Ni粒子又は Fe粒子を用いる。また、これらの合金粒子を 用いてもよい。触媒粒子 26を付着する方法は、特に限定されない。例えば、第 1の実 施形態と同様に、特開 2005— 22886号公報に記載された方法を採用すればよい。
[0041] その後、図 9Dに示すように、触媒層 25上の触媒粒子 26からカーボンナノチューブ 27を成長させる。カーボンナノチューブ 27は、第 1の実施形態におけるカーボンナノ チューブ 17と同様の方法により成長させることができる。
[0042] このような第 2の実施形態によっても第 1の実施形態と同様の効果が得られる。
産業上の利用可能性
[0043] 以上詳述したように、本発明によれば、基板の昇温の前に触媒粒子を準備しておき 、更に、原料ガスを導入してあるので、触媒粒子同士の融合が生じにくい。このため、 カーボンナノチューブの直径のばらつきを抑えることができる。

Claims

請求の範囲
[I] 基板の上面に触媒粒子を付着させる工程と、
炭素原子を含む原料ガスが予め導入されたチャンバ内において、前記基板を 500 °C /分以上の速度で昇温する工程と、
を有することを特徴とするカーボンナノチューブの成長方法。
[2] 炭素原子を含む原料ガスが予め導入されたチャンバ内において基板を昇温する第 1の工程と、酸化性ガスが予め導入されたチャンバ内において基板を昇温する第 2の 工程と、
を繰り返す工程を有することを特徴とするカーボンナノチューブの成長方法。
[3] 前記基板の昇温を、前記基板の温度が 400°C以上になるまで継続することを特徴 とする請求項 1に記載のカーボンナノチューブの成長方法。
[4] 前記基板の昇温を、 30秒間以上継続することを特徴とする請求項 1に記載のカー ボンナノチューブの成長方法。
[5] 前記触媒粒子として、直径が 5nm以下のものを用いることを特徴とする請求項 1に 記載のカーボンナノチューブの成長方法。
[6] 前記触媒粒子は、 Fe、 Co及び Niからなる群から選択された少なくとも 1種を含有す ることを特徴とする請求項 1に記載のカーボンナノチューブの成長方法。
[7] 前記触媒粒子は、更に、 Ti、 Mo、 Pd、 Ta、 Al、 W、 Cu、 V、 Hf及び Zrからなる群 力 選択された少なくとも 1種を含有することを特徴とする請求項 6に記載のカーボン ナノチューブの成長方法。
[8] 前記原料ガスとして、炭化水素ガスを用いることを特徴とする請求項 1に記載の力 一ボンナノチューブの成長方法。
[9] 前記原料ガスは、不活性ガスにより希釈されていることを特徴とする請求項 1に記載 のカーボンナノチューブの成長方法。
[10] 前記基板を昇温する工程における前記チャンバ内の圧力を 0. lkPa乃至 30kPaと することを特徴とする請求項 1に記載のカーボンナノチューブの成長方法。
[II] 前記基板を昇温する工程の後に、前記基板の温度をカーボンナノチューブが成長 可能な温度に保持する工程を有することを特徴とする請求項 1に記載のカーボンナノ チューブの成長方法。
[12] 前記保持する温度を 450°C以下とすることを特徴とする請求項 11に記載のカーボ ンナノチューブの成長方法。
[13] 基板の上面に触媒粒子を付着させる触媒付着手段と、
炭素原子を含む原料ガスが予め導入されたチャンバ内において、前記基板を 500
°C /分以上の速度で昇温する熱処理手段と、
を有することを特徴とするカーボンナノチューブの成長システム。
[14] 前記熱処理手段は、前記基板の昇温を、前記基板の温度が 400°C以上になるまで 継続することを特徴とする請求項 13に記載のカーボンナノチューブの成長システム。
[15] 前記熱処理手段は、前記基板の昇温を、 30秒間以上継続することを特徴とする請 求項 13に記載のカーボンナノチューブの成長システム。
[16] 前記熱処理手段は、前記基板を昇温する際に、前記チャンバ内の圧力を 0. lkPa 乃至 30kPaとすることを特徴とする請求項 13に記載のカーボンナノチューブの成長 システム。
[17] 前記熱処理手段は、前記基板を昇温した後に、前記基板の温度をカーボンナノチ ユーブが成長可能な温度に保持することを特徴とする請求項 13に記載のカーボンナ ノチューブの成長システム。
[18] 前記熱処理手段は、前記保持する温度を 450°C以下とすることを特徴とする請求 項 17に記載のカーボンナノチューブの成長システム。
PCT/JP2005/023799 2005-12-26 2005-12-26 カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム WO2007074506A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2005/023799 WO2007074506A1 (ja) 2005-12-26 2005-12-26 カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム
JP2007551822A JP4924433B2 (ja) 2005-12-26 2005-12-26 カーボンナノチューブの成長方法
US12/146,841 US7906095B2 (en) 2005-12-26 2008-06-26 Method of growing carbon nanotube and carbon nanotube growing system
US13/022,110 US8501108B2 (en) 2005-12-26 2011-02-07 Carbon nanotube growing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2005/023799 WO2007074506A1 (ja) 2005-12-26 2005-12-26 カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US12/146,841 Continuation US7906095B2 (en) 2005-12-26 2008-06-26 Method of growing carbon nanotube and carbon nanotube growing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2007074506A1 true WO2007074506A1 (ja) 2007-07-05

Family

ID=38217745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2005/023799 WO2007074506A1 (ja) 2005-12-26 2005-12-26 カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム

Country Status (3)

Country Link
US (2) US7906095B2 (ja)
JP (1) JP4924433B2 (ja)
WO (1) WO2007074506A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009155111A (ja) * 2006-12-21 2009-07-16 Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw 触媒ナノ粒子の制御および選択的な形成
WO2010043007A1 (pt) * 2008-10-16 2010-04-22 Petróleo Brasileiro S.A. - Petrobras Nanomateriais de carbono obtidos a partir de frações pesadas de petróleo e processo de obtenção dos mesmos
JP2013126942A (ja) * 2013-01-28 2013-06-27 Ulvac Japan Ltd カーボンナノチューブの作製方法
JP2014162672A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Univ Of Tokyo 単層カーボンナノチューブ、垂直配向単層カーボンナノチューブの多層膜、及びこれらの製造方法
US10378104B2 (en) 2013-11-13 2019-08-13 Tokyo Electron Limited Process for producing carbon nanotubes and method for forming wiring

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EA028873B1 (ru) 2009-04-17 2018-01-31 СИРСТОУН ЭлЭлСи Способ производства твердого углерода путем восстановления оксидов углерода
JP6379085B2 (ja) 2012-04-16 2018-08-22 シーアストーン リミテッド ライアビリティ カンパニー 炭素酸化物を含有するオフガスを処理するための方法
WO2013158160A1 (en) 2012-04-16 2013-10-24 Seerstone Llc Method for producing solid carbon by reducing carbon dioxide
NO2749379T3 (ja) 2012-04-16 2018-07-28
US9796591B2 (en) 2012-04-16 2017-10-24 Seerstone Llc Methods for reducing carbon oxides with non ferrous catalysts and forming solid carbon products
WO2013158161A1 (en) 2012-04-16 2013-10-24 Seerstone Llc Methods and systems for capturing and sequestering carbon and for reducing the mass of carbon oxides in a waste gas stream
US9896341B2 (en) 2012-04-23 2018-02-20 Seerstone Llc Methods of forming carbon nanotubes having a bimodal size distribution
WO2014011631A1 (en) 2012-07-12 2014-01-16 Seerstone Llc Solid carbon products comprising carbon nanotubes and methods of forming same
US10815124B2 (en) 2012-07-12 2020-10-27 Seerstone Llc Solid carbon products comprising carbon nanotubes and methods of forming same
WO2014011206A1 (en) 2012-07-13 2014-01-16 Seerstone Llc Methods and systems for forming ammonia and solid carbon products
US9779845B2 (en) 2012-07-18 2017-10-03 Seerstone Llc Primary voltaic sources including nanofiber Schottky barrier arrays and methods of forming same
US9371232B2 (en) * 2012-10-29 2016-06-21 Bryan Edward Laubscher Trekking atom nanotube growth
WO2014085378A1 (en) 2012-11-29 2014-06-05 Seerstone Llc Reactors and methods for producing solid carbon materials
US9783416B2 (en) 2013-03-15 2017-10-10 Seerstone Llc Methods of producing hydrogen and solid carbon
US10086349B2 (en) 2013-03-15 2018-10-02 Seerstone Llc Reactors, systems, and methods for forming solid products
EP3129133A4 (en) 2013-03-15 2018-01-10 Seerstone LLC Systems for producing solid carbon by reducing carbon oxides
WO2014151144A1 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Seerstone Llc Carbon oxide reduction with intermetallic and carbide catalysts
US10115844B2 (en) 2013-03-15 2018-10-30 Seerstone Llc Electrodes comprising nanostructured carbon
WO2018022999A1 (en) 2016-07-28 2018-02-01 Seerstone Llc. Solid carbon products comprising compressed carbon nanotubes in a container and methods of forming same
CN116495725B (zh) * 2023-05-19 2023-12-19 重庆中润新材料股份有限公司 一种碳纳米管生长系统

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005001936A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Fujikura Ltd カーボンナノチューブの製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6232706B1 (en) 1998-11-12 2001-05-15 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Self-oriented bundles of carbon nanotubes and method of making same
US6761871B2 (en) * 2001-05-22 2004-07-13 Reginald Bernard Little Magnetic production of carbon nanotubes and filaments
US6596187B2 (en) * 2001-08-29 2003-07-22 Motorola, Inc. Method of forming a nano-supported sponge catalyst on a substrate for nanotube growth
US7250148B2 (en) * 2002-07-31 2007-07-31 Carbon Nanotechnologies, Inc. Method for making single-wall carbon nanotubes using supported catalysts
JP2004267926A (ja) 2003-03-10 2004-09-30 Mitsubishi Electric Corp カーボンナノチューブの製造方法、カーボンナノチューブの製造装置、これらに使用される触媒、当該触媒を利用した触媒装置及び当該触媒装置の製造方法
JP3869394B2 (ja) 2003-06-30 2007-01-17 富士通株式会社 微粒子の堆積方法及びカーボンナノチューブの形成方法
US8541054B2 (en) * 2003-09-08 2013-09-24 Honda Motor Co., Ltd Methods for preparation of one-dimensional carbon nanostructures
WO2006052009A1 (ja) * 2004-11-10 2006-05-18 Nikon Corporation カーボンナノチューブ集合体及びその製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005001936A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Fujikura Ltd カーボンナノチューブの製造方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHIU C.-C. ET AL.: "Synthesis of ultra long vertically aligned carbon nanotubes using the rapid heating and cooling system in the thermal chemical vapor deposition process", 10 August 2005 (2005-08-10), XP002997163, Retrieved from the Internet <URL:http://www.sciencedirect.com> *
MORALES F.M. ET AL.: "Structural Study of Micro and Nanotubes synthesized by Rapid Thermal Chemical vapor Deposition", MICROCHIM. ACTA JN., vol. 145, no. 1/4, 2004, pages 129 - 132, XP002997162 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009155111A (ja) * 2006-12-21 2009-07-16 Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw 触媒ナノ粒子の制御および選択的な形成
WO2010043007A1 (pt) * 2008-10-16 2010-04-22 Petróleo Brasileiro S.A. - Petrobras Nanomateriais de carbono obtidos a partir de frações pesadas de petróleo e processo de obtenção dos mesmos
US8722007B2 (en) 2008-10-16 2014-05-13 Petroleo Brasileiro S.A.—Petrobras Method for producing carbon nanomaterials produced from heavy oil
JP2013126942A (ja) * 2013-01-28 2013-06-27 Ulvac Japan Ltd カーボンナノチューブの作製方法
JP2014162672A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Univ Of Tokyo 単層カーボンナノチューブ、垂直配向単層カーボンナノチューブの多層膜、及びこれらの製造方法
US10378104B2 (en) 2013-11-13 2019-08-13 Tokyo Electron Limited Process for producing carbon nanotubes and method for forming wiring

Also Published As

Publication number Publication date
US20110142727A1 (en) 2011-06-16
US8501108B2 (en) 2013-08-06
JP4924433B2 (ja) 2012-04-25
JPWO2007074506A1 (ja) 2009-06-04
US7906095B2 (en) 2011-03-15
US20080260618A1 (en) 2008-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007074506A1 (ja) カーボンナノチューブの成長方法及び成長システム
JP3877302B2 (ja) カーボンナノチューブの形成方法
US8163647B2 (en) Method for growing carbon nanotubes, and electronic device having structure of ohmic connection to carbon element cylindrical structure body and production method thereof
US20100227058A1 (en) Method for fabricating carbon nanotube array
EP2616390B1 (en) Process for growth of graphene
JP2010504268A (ja) メタルフリーナノ粒子を用いたカーボンナノチューブの成長
JP2001262343A (ja) 製品の製造方法
JP5029603B2 (ja) カーボンナノチューブの製造方法
JP5374801B2 (ja) 炭素元素からなる線状構造物質の形成体及び形成方法
JP5636337B2 (ja) カーボンナノチューブ膜の製造方法
JPWO2007108050A1 (ja) カーボンナノチューブ構造体、カーボンナノチューブの作製方法、電気的機能装置、カーボンナノチューブ成長用触媒微粒子
JP2007091484A (ja) カーボンファイバの製造方法および基板ユニット
JP2013530833A (ja) ナノ粒子形成方法およびナノ粒子形成装置
JP2004051432A (ja) カーボンナノチューブの製造用基板及びそれを用いたカーボンナノチューブの製造方法
JP4907017B2 (ja) カーボンナノチューブ膜体の製造方法
WO2009113195A1 (ja) ブラシ状カーボンナノ構造物製造用触媒体、触媒体製造方法、ブラシ状カーボンナノ構造物及びその製法
JP4059795B2 (ja) カーボンナノチューブ成長方法
JP4471617B2 (ja) Pd金属内包カーボンナノチューブの製造方法
JP3994161B2 (ja) 単結晶酸化タングステンナノチューブとその製造方法
US6761803B2 (en) Large area silicon cone arrays fabrication and cone based nanostructure modification
Mohammad VQS (vapor-quasiliquid-solid, vapor-quasisolid-solid) mechanism for realizing narrow distributions of chirality and diameters of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs)
JP4838990B2 (ja) カーボンナノチューブの作製方法
JP2006021957A (ja) カーボンナノチューブの製造方法
Kim The role of hydrogen in the growth of carbon nanotubes: a study of the catalyst state and morphology
JP2020007177A (ja) カーボンナノチューブを成長させる方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007551822

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 05820242

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1