WO2007043696A1 - 薄膜半導体素子および表示装置 - Google Patents

薄膜半導体素子および表示装置 Download PDF

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WO2007043696A1
WO2007043696A1 PCT/JP2006/320794 JP2006320794W WO2007043696A1 WO 2007043696 A1 WO2007043696 A1 WO 2007043696A1 JP 2006320794 W JP2006320794 W JP 2006320794W WO 2007043696 A1 WO2007043696 A1 WO 2007043696A1
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layer
thin film
insulating layer
anode
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Takuya Hata
Kenji Nakamura
Atsushi Yoshizawa
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Pioneer Corporation
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Definitions

  • the present invention relates to a thin film semiconductor element and a display device that use a compound having a carrier (hole or electron) transport property and includes a semiconductor layer made of such a compound.
  • Light emitting elements that emit light by applying an electric field, for example, light emitting elements utilizing electroluminescence (hereinafter simply referred to as EL) by recombination of carriers (holes or electrons) in a substance are known.
  • EL electroluminescence
  • EL display devices equipped with display panels using injection-type organic EL elements using organic compound materials have been developed.
  • the organic EL element includes a red EL element having a structure emitting light in red, a green EL element having a structure emitting light in green, and a blue EL element having a structure emitting light in blue.
  • a color display device can be realized by arranging these three organic EL elements emitting red, blue and green RGB as a single-pixel light-emitting unit and arranging a plurality of pixels in a matrix on the panel.
  • a passive matrix driving type and an active matrix driving type are known.
  • An active matrix drive type EL display device has advantages such as low power consumption and less crosstalk between pixels compared to a passive matrix type display device, especially large screen display devices and high definition. Suitable for display devices.
  • the display panel of an active matrix drive type EL display device includes an anode power line, a cathode A power supply line, a scanning line responsible for horizontal scanning, and drive lines arranged crossing each scanning line are formed in a grid pattern. RGB sub-pixels are formed at each RGB intersection of the scan line and drive line.
  • a scanning line is connected to the gate of a field effect transistor (FET Field Effect Transistor) for selecting a scanning line, a drive line is connected to the drain, and a light emitting drive FET is connected to the source.
  • FET Field Effect Transistor field effect transistor
  • the gate is connected.
  • a drive voltage is applied to the source of the light emission drive FET via the anode power supply line, and the anode end of the EL element is connected to the drain.
  • a capacitor is connected between the gate and source of the light emitting drive FET.
  • a ground potential is applied to the 'cathode end of the EL element via a cathode power supply line.
  • organic light-emitting devices represented by organic EL devices
  • organic EL devices are basically active devices that exhibit diode characteristics, and most products that are commercialized are driven by passive matrix.
  • line-sequential driving requires instantaneously high brightness, and the limit number of scanning lines is limited, so it is difficult to obtain a high-definition display device.
  • an auxiliary electrode, an insulating layer, an anode, an organic functional layer including a light emitting layer, and a cathode are sequentially arranged on the substrate, and the anode has a light emitting element having a smaller area than the cathode.
  • the light-emitting element having such a configuration is based on An auxiliary electrode, an insulating layer, and an anode are sequentially provided on the plate, and then an organic functional layer is formed by a vapor deposition method to provide a negative electrode.
  • holes are injected from the anode to the light-emitting layer by applying a voltage between the auxiliary electrode and the cathode so as to be in the same direction as the voltage applied between the anode and the cathode. The amount is improved.
  • the edge of the cathode is organic due to the reason that the vapor deposition material flow is blocked by the anode, depending on the angle between the vapor deposition material source and the vapor deposition surface.
  • a part that is not completely covered by the functional layer or a part having a thin film thickness is formed.
  • the electric field and current injection are concentrated on the part, and a short circuit and a current leak occur, resulting in destruction of the light emitting voice or a defective light emission.
  • the efficiency of hole injection from the anode to the organic functional layer is lowered.
  • the present invention provides a means for solving the above-mentioned problems. aimed to.
  • the thin film semiconductor device wherein an auxiliary electrode provided on a substrate, an insulating layer provided on the auxiliary electrode, a first electrode supported by the insulating layer, and the insulating layer A partition wall supported by the semiconductor layer, a semiconductor layer made of a carrier transportable semiconductor material in contact with the first electrode, and a second electrode supported by the semiconductor layer and formed by vapor deposition. It is characterized by that.
  • the display device is arranged at a plurality of scanning lines, a plurality of drive lines, and a crossing position of the plurality of scanning lines and the plurality of drive lines, each of which is 1 and
  • a display device comprising a plurality of light emitting units connected to one of the plurality of drive lines, each of the plurality of light emitting units being in response to a signal of one of the plurality of scanning lines.
  • a thin film semiconductor element the thin film semiconductor element being provided on the substrate and the auxiliary electrode provided on the auxiliary electrode.
  • FIG. 1 is a partial cross-sectional view of an organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a partial plan view of an organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 3 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 4 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 5 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 6 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 7 is a partial cross-sectional view illustrating the manufacturing process of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 8 is a partial sectional view showing a continuation of the manufacturing process of the organic EL element shown in FIG.
  • FIG. 9 is a partial cross-sectional view for explaining a modification of the manufacturing process of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 10 is a partial sectional view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 11 is a partial sectional view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 12 is a partial sectional view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 13 is a partial plan view of a modification of the thin film transistor according to the present invention.
  • FIG. 14 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 15 is a partial plan view of a modification of the organic EL device according to the present invention.
  • FIG. 16 is an equivalent circuit diagram showing a sub-pixel light emitting unit using an organic EL device according to the present invention. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • An organic EL element 1 as shown in FIG. 1 includes an auxiliary electrode 3 provided on a substrate 2.
  • the material of the substrate 2 is not limited to a translucent material such as glass, quartz, polystyrene, or other plastic materials, but is opaque material such as silicon or A1, thermosetting resin such as phenol resin, thermoplastic resin such as polycarbonate, etc. Can be used. Not.
  • the insulating layer 4 is provided on the auxiliary electrode 3.
  • the insulating layer 4 can be made of various insulating materials such as Si02 and Si3N, but is preferably an inorganic oxide film having a high relative dielectric constant.
  • Inorganic oxides include silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, titanium oxide, tin oxide, vanadium oxide, barium strontium titanate, barium zirconate titanate, lead zirconate titanate, lead lanthanum titanate, titanate Examples include strontium, barium titanate, barium magnesium fluoride, bismuth titanate, bismuth titanate bismuth, strontium tantalate bismuth, bismuth tantalate niobate, and trioxide yttrium.
  • silicon oxide, aluminum oxide, tantalum oxide, and titanium oxide are preferable.
  • Inorganic nitrides such as silicon nitride and aluminum nitride can also be suitably used.
  • the organic compound film include polyimide, polyamide, polyester, polyacrylate, photo-curing polymer of photo radical polymerization system, photo-thion polymerization system, copolymer containing acrylonitrile component, polyvinyl phenol, polybulu alcohol.
  • a novolak resin and cyanoethyl pullulan, a polymer body, a phosphazene compound including an elastomer, and the like can be used.
  • An anode 5 is provided on the insulating layer 4, and the positive electrode 5 is a first electrode.
  • the anode 5 has a smaller area than the cathode 9 described later. That is, the area of the surface of the anode 5 facing the negative electrode 9 is smaller than the area of the surface of the cathode 9 facing the anode 5.
  • the anode 5 may be formed in a comb-like shape, a saddle-like shape, or a lattice-like shape.
  • the anode 5 may be a comb-like body having two comb teeth. .
  • the anode 5 serving as the first electrode is not limited to the configuration in which the first electrode is directly provided on the insulating layer as long as it is supported by the insulating layer 4.
  • the anode 5 defines the pixel area A.
  • the pixel region A means a region surrounded by the anode 5 in the light-emitting element.
  • the pixel region A is a region sandwiched between the comb teeth.
  • an eaves wall 6 made of an electrically insulating material is formed on the anode 5, an eaves wall 6 made of an electrically insulating material is formed.
  • the partition wall 6 is formed along the anode 5 force protrusion bracket.
  • an overhang portion 6 a protruding in the direction parallel to the substrate is formed on the partition 6 along the extending direction of the partition 6.
  • the bar hang portion 6a is arranged so that the perpendicular to the substrate 2 from the front end portion crosses the pixel region A.
  • a material for the partition wall 6 for example, a negative type photoresist material can be used.
  • the partition 6 is not limited to a configuration in which the partition 6 is directly provided on the first electrode supported by the insulating layer 4 as long as it is supported by the insulating layer 4. Further, the partition wall only has to protrude in a direction away from the insulating layer.
  • the anode 5 is in contact with a semiconductor layer 7 made of a carrier transporting organic semiconductor material.
  • the semiconductor layer 7 is provided in the pixel region A, and includes a hole injection layer, a hole transport layer, or a combination thereof.
  • the hole injection layer has a function of facilitating the injection of holes from the anode 5.
  • a pororephilin derivative typified by copper phthalocyanine (CuPc)
  • polyacene typified by petacene
  • a polymer arylamine called starburst amine typified by m-TDATA.
  • a layer in which Lewis acid tetrafluoride tetracyanoquinodimethane (F4-TCNQ) or the like is mixed with a porphyrin derivative, a triphenylamine derivative, or the like can be used for the hole injection layer.
  • the mixing ratio is preferably 5 to 95% by weight.
  • High molecular weight materials such as polyaniline ( ⁇ ), ophene derivative (PEDOT), and polypexylthiophene ( ⁇ 3 ⁇ ) can be used.
  • the hole and layer may be a mixed layer of these materials or a laminated layer.
  • the hole transport layer has a function of stably transporting holes from the anode 5 ⁇
  • materials used for the hole transport layer include triphenyldiamine derivatives, styrylamine derivatives, and amines having an aromatic condensed ring.
  • the derivatives, force rubazole derivatives, and polymer materials include polyvinyl carbazol and derivatives thereof, and polythiophene. Two or more of these compounds may be used in combination.
  • the hole transport layer has a larger ionization potential ⁇ than the hole injection layer, and it is preferable to use an organic semiconductor material.
  • the semiconductor layer 7 may be made of an inorganic material, for example, a metal oxide such as AlGaZnO and InGaZnO.
  • a light emitting layer 8 is provided on the semiconductor layer 7. That is, the light emitting layer 8 is supported by the semiconductor layer 7.
  • the light emitting layer 8 contains a fluorescent material or a phosphor that is a compound having a light emitting function.
  • a fluorescent substance is selected from compounds such as those disclosed in JP 63-264692, for example, compounds such as quinacridone, rubrene, and styryl dyes.
  • Examples of phosphorescent substances include organic iridium complexes and organic platinum complexes as described in Appl Phys Lett., 75 ⁇ , Section 4, 1999.
  • a cathode 9 serving as a second electrode is provided on the light emitting layer 8, and the light emitting layer 8 is sandwiched between the semiconductor layer 7 and the second electrode (cathode 9).
  • the cathode 9 is supported by the semiconductor layer 7.
  • the cathode 9 is formed by a vapor deposition process using a shielding effect by the partition walls 6. That is, the cathode 9 is formed by the vapor deposition process, and the partition 6 defines the shape of the cathode 9 by shielding the vapor deposition material flow in the vapor deposition process.
  • the cathode 9 has a light emitting layer 8, It faces the auxiliary electrode 3 through the semiconductor layer 7 and the insulating layer 4 ′. In addition, it is preferable that the area is smaller than the area of the pixel region A defined by the ulcer electrode 5.
  • the cathode 9, anode 5, and auxiliary electrode 3 are metals such as Ti, Al, Li Al, Cu, Ni, Ag, Mg Ag, Au, Pt, Pd, Ir, Cr, ⁇ , W, and Ta. Or these alloys are mentioned. Alternatively, conductive polymers such as polyaniline and PEDT PSS can be used.
  • One of the main components is an oxide transparent conductive thin film such as tin-doped indium oxide (ITO zinc-doped indium oxide (IZO), indium oxide (In203), zinc oxide (ZnO), tin oxide (Sn02)).
  • the power that can be used is not limited to this, and the thickness of each electrode is preferably about 30 to 500 nm, and the cathode 9 and the auxiliary electrode 3 particularly have a range of 50 to 300 nm.
  • the anode 5 is suitable in the range of about 10 to 200 nm, and the anode 5 has a high work function metal that can easily inject holes into the semiconductor layer 7, such as Au, Pt, Pd.
  • the range of about 30 to 200 nm is particularly suitable for the cathode 9.
  • These electrodes are preferably produced by vacuum deposition or sputtering.
  • the organic EL element 1 configured as described above, when a voltage is applied between the auxiliary electrode 3 and the cathode 9 so as to be in the same direction as the voltage direction applied between the anode 5 and the cathode 9.
  • the light emitting layer 8 emits light.
  • a voltage is applied between the auxiliary electrode 3 and the cathode 9 so that a voltage is applied between the anode 5 and the cathode 9 and further in the same direction as the voltage applied between the anode 5 and the cathode 9.
  • holes are injected from the anode 5 toward the semiconductor layer 7 and transported to the light emitting layer 8, and electrons are injected from the cathode 9 to the light emitting layer 8.
  • the first electrode and the second electrode are spatially separated by reducing the area of the second electrode as compared with the pixel region A defined by the first electrode. Therefore, it is possible to prevent a short circuit and a leak from occurring. As a result, the leakage current between the first electrode and the second electrode when OFF is reduced, and the OFF characteristics of current and luminance are improved.
  • the shape of the pixel region A can be variously set according to the shape of the first electrode.
  • the anode 5 serving as the first electrode as shown in FIG. 2 may have a comb shape, and the pixel region A may be provided between the combs of the anode 5.
  • the cathode 9 serving as the second electrode is smaller than the area of the pixel area A where the force is applied, and is formed in a comb shape so as to be fitted between the comb teeth of the first electrode.
  • the cathode 9 is connected to the cathode lead portion 10.
  • the anode 5 serving as the first electrode may be in a grid pattern so as to form a plurality of rectangular pixel areas A as shown in FIG.
  • the element regions A are provided with cathodes 9 each having an area smaller than that of the pixel region A, and the cathodes 9 are coupled by cathode lead portions 10.
  • the pixel area A may be a polygon such as a rectangle, a hexagon, or a circle as shown in FIGS.
  • the cathode 9 serving as the second electrode is smaller than the area of the pixel region A, and is spatially separated from the anode 5 serving as the first electrode.
  • the partition 6, the semiconductor layer 7, and the light emitting layer 8 are omitted in FIGS.
  • the auxiliary electrode 3 is formed on the substrate 2 as shown in FIG.
  • the auxiliary electrode 3 is formed by, for example, dry It is also possible to use a film formation method by a process and a patterning process using a photoresist. More specifically, for example, after a thin film made of ITO is formed by a sputtering method, a photoresist is applied by spin coating. Pattern the photoresist that is powerful by exposure and development using an optical mask, and then remove the IT ⁇ film without the photoresist pattern from it by milling, and finally remove it? The photoresist is dissolved using a coating.
  • the auxiliary electrode 3 may be formed by such a procedure.
  • an insulating layer 4 is formed on the auxiliary electrode 3 as shown in FIG.
  • the insulating layer 4 can be formed by a film formation method using a dry process or a film formation method using a wet process. If the insulating layer 4 is made of an organic compound film, a wet film formation method can be used.
  • the insulating layer 4 can be formed by a spin coating method using a propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) solution containing 10 wt% of polyvinylphenol polymer.
  • PGMEA propylene glycol monomethyl ether acetate
  • heating means such as a hot plate is used. Is used for baking.
  • an anode 5 serving as a first electrode is formed as shown in FIG. 7 (c).
  • the anode 5 may be formed using a dry process such as a vapor deposition method.
  • the anode 5 may be formed by depositing gold by a vacuum deposition method using a metal mask.
  • partition walls 6 are formed on the anode 5 as shown in FIG.
  • the partition wall 6 is formed using a technique such as photolithography.
  • a photoresist is formed by spin coating, and a photoresist pattern is formed using a technique such as photolithography.
  • the pattern forms the partition wall 6.
  • a semiconductor layer 7 made of a carrier transporting semiconductor material is formed in contact with the electrode 5 on which the partition wall 6 is formed (FIG. 8 (a)).
  • a film forming method using a dry process such as a vapor deposition method, a sputtering method, or a CVD method can be used.
  • the semiconductor layer 7 is preferably formed so as to be in contact with the anode 5.
  • the light emitting layer 8 is formed using a dry process such as a vapor deposition method as shown in FIG. 8 (b).
  • a mask vapor deposition method can be used to form the light emitting layer 8, and the mask may be placed on the partition wall.
  • a cathode 9 is formed thereon using a vapor deposition method as shown in FIG. 8 (c).
  • Vapor deposition is performed using an anisotropic vapor deposition material flow, for example by allowing the vapor deposition material to enter the substrate substantially perpendicularly.
  • the isotropic vapor deposition material flow the deposited film is divided by the gap between the upper part of the partition wall 6 and the light emitting layer, and the cathode 9 having a shape corresponding to the partition wall 6 is formed on the light emitting layer 8. Formed.
  • the cathode 9 is formed, and the organic EL element 1 is formed.
  • the partition wall 6 may be used as a mask when forming the pattern of the first electrode.
  • the process similar to the manufacturing process described above is used until the insulating layer 4 is formed (see FIG. 7B), and an ITO thin film 11 and a photoresist film 12 are sequentially formed on the insulating layer. ( Figure 9 (a)).
  • a photoresist pattern is formed on the photoresist film 12 using a technique such as photolithography, and the pattern is used as the partition wall 6 (FIG. 9B).
  • the anode 5 is formed by performing dry etching or wet etching such as reactive ion etching (RIE) using sputter etching and reactive gas on the ITO thin film 11 using the powerful partition wall 6 as a mask (FIG. 9 (c)).
  • RIE reactive ion etching
  • an organic EL element is formed by substantially the same process as described above with reference to FIGS. 8 (a) to 8 (c). It is full of things.
  • the first electrode is formed using the partition wall 6 as a mask for the first electrode, it is not necessary to align the first electrode and the partition wall 6.
  • the partition wall 6 is formed after the formation of the first electrode, it is necessary to consider the positioning accuracy between the partition wall 6 and the first electrode. There is no need to consider.
  • the organic EL element can be formed without aligning the first electrode and the second electrode by using the partition wall 6 as a mask for the first electrode and using the partition wall 6 for patterning the second electrode. You can do it. '
  • the organic EL device of the above-described embodiment described with reference to FIG. 1 has a configuration of an auxiliary electrode / insulating layer, a positive electrode, a positive hole injection layer, a positive hole transport layer, an optical layer, and a negative electrode.
  • an electron injection layer, an electron transport layer, or a combination thereof may be arbitrarily used between the light emitting layer and the cathode.
  • an electron transport layer and an electron injection layer may be provided between the light emitting layer 8 and the cathode 9.
  • a quinoline derivative such as an organometallic complex having 8-quinolinol or a derivative thereof such as tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq3) as a ligand, an oxadiazole derivative, a perylene derivative, Pyridine derivatives, pyrimidine derivatives, quinoxaline derivatives, diphenylquinone derivatives, nitro-substituted fluorene derivatives, and the like can be used.
  • the electron injecting layer and / or the electron transporting layer may also serve as the light emitting layer 8, and in this case, it is preferable to use tris (8-quinolinolato) aluminum or the like.
  • the first electrode is described as an anode and the second electrode is described as a cathode.
  • the structure after the insulating layer may be reversed, that is, the first electrode may be a cathode and the second electrode may be an anode.
  • auxiliary electrode / insulating layer / no cathode / electron injection layer / electron transport layer / light emitting layer may be reversed.
  • a hole blocking layer and an electron blocking layer may be arbitrarily used between the first electrode and the second electrode.
  • the organic EL element 1 as shown in FIG. 10 may be provided with a carrier regulating layer BF between the partition wall 6 and the anode 5.
  • the carrier regulation layer BF functions as a barrier for carrier movement from the anode 5 to the semiconductor layer 7.
  • the material of the carrier regulation layer BF is selected based on the condition of the ionization potential, that is, the value of the work function (or ionization potential) between the work function of the contact electrode and the ionization potential of the hole injection layer. That is, for the carrier regulation layer BF, it is preferable to use a material whose work function is significantly different from the material used for the anode 5 or a material used for the edge layer. This is because it is better to have a large energy barrier to inhibit carrier movement.
  • a metal having a low work function such as Al, Mg, Ag, Ta, Cr, which is difficult to inject holes into the semiconductor layer 7 is preferable as the carrier regulation layer BF.
  • the total film thickness of the anode 5 and the carrier regulation layer BF is suitably in the range of about 30 to 200 nm.
  • the path of carriers injected into the semiconductor layer 7 is defined.
  • the carrier regulation layer BF is arranged so as to be sandwiched between the anode 5 and the partition wall 6, carriers (holes) are regulated by the carrier. It is injected from the portion not covered with the layer BF (side portion of the anode 5).
  • the carrier injection efficiency is improved. If a carrier suppression layer is provided, an organic EL device with good performance such as ON / OFF ratio can be obtained.
  • the organic EL element is composed of an auxiliary electrode / insulating layer Z anode '(first electrode) / semiconductor layer / light emitting layer Z cathode (second electrode)
  • the present invention is not limited to this.
  • the order of deposition of the anode 5 and the semiconductor layer 7 is changed as shown in FIG.
  • a structure in which the layer 8 is provided in order that is, a structure in which the anode 5 is inserted in contact with the semiconductor layer 7 and the light emitting layer 8 (so-called top contact type) may be employed.
  • a configuration in which the cathode and the anode are interchanged is acceptable. That is, a structure in which a semiconductor layer no-cathode and a light-emitting layer are sequentially provided on the insulating layer, that is, a structure in which the cathode is inserted in contact between the semiconductor layer and the light-emitting layer may be employed.
  • a carrier control layer is provided between the first electrode and the wall.
  • an organic EL element 1 is formed in the following order: substrate 2 / auxiliary electrode 3 // insulating layer 4 semiconductor layer 7Z anode 5 (first electrode). It has been broken.
  • a light emitting layer 8 is formed so as to be in contact with the carrier restricting layer BF and the semiconductor layer 7, and a cathode 9 (second electrode) is formed on the light emitting layer 8.
  • the voltage between the anode 5 and the cathode 9 and the voltage applied between the anode 5 and the cathode 9 are in the same direction as that of the auxiliary electrode 3 and the cathode 9.
  • a voltage is applied between the holes, holes are injected from the interface between the anode 5 and the semiconductor layer 7 and transported to the light emitting layer 8 (see arrows in the figure).
  • electrons are emitted from the cathode 9 to the light emitting layer 8.
  • the holes and electrons recombine in the light emitting layer Ti.
  • the shape of the partition is not limited to this, although it is an inversely tapered shape having an overhang portion on the top of the partition.
  • the thickness of the second electrode is sufficient for the semiconductor layer and the light emitting layer, the taper angle may not be provided.
  • an inorganic insulating material, a positive resist, or the like can be used as the material of the partition wall.
  • a semiconductor layer made of a carrier transporting material and a light emitting layer having light emitting characteristics are separately provided between the first electrode and the second electrode, but the present invention is not limited thereto. .
  • it can be used as a single-layer organic EL device consisting of a single organic material layer that combines a light-emitting layer and a semiconductor layer using a material that has both carrier transport properties and light-emitting properties.
  • the second electrode is formed by shielding the vapor deposition material flow in the vapor deposition process with the partition walls, but is not limited to this method.
  • the second electrode may be formed by using, for example, a mask vapor deposition method as long as the second electrode is formed to be smaller than a pixel region defined by the first electrode.
  • the light emitting layer is described using an organic EL element made of an organic material.
  • the same structure can be applied to an inorganic EL element having a light emitting layer made of an inorganic material.
  • the thin film semiconductor device of the present invention is limited to the light emitting device. Even if it is a vertical MOS, which is not a thin transistor, it is good even if it is a thin transistor, except that a light emitting layer is not provided between the first electrode and the second electrode. It has almost the same structure as the light emitting element.
  • a thin film transistor 13 as shown in FIG. 13 includes an auxiliary electrode provided on a substrate and serving as a gate electrode 14, an insulating layer 4 provided on the gate electrode 14, and an insulating layer 4.
  • the first electrode which is held and serves as the source electrode 15, the partition wall 6 supported by the insulating layer 4 through the source electrode 15, and the semiconductor made of a semiconductor material which is in contact with the source electrode 15 and has a carrier transporting property
  • a second electrode which is supported by the semiconductor layer 7 and is a drain electrode 16 formed by vapor deposition.
  • the partition wall 6 shown in FIG. 14 may be provided on the insulating layer 4.
  • the partition wall may be formed on a semiconductor layer or a light emitting layer which may be formed away from the first electrode.
  • the barrier rib 6 may be formed on the light emitting layer 8 as shown in FIG.
  • the display device is arranged at a plurality of scanning lines, a plurality of drive lines, and the intersections of the plurality of scanning lines and the plurality of drive lines, each of one of the plurality of scanning lines and each of the plurality of drive lines. It consists of a plurality of light emitting units connected to 1.
  • Fig. 16 shows an equivalent circuit diagram showing the light emitting part of the subpixel of the organic EL display panel.
  • Each of the light emitting portions 101 formed on the substrate is composed of a switching organic TFT element 17 of a selection transistor, a capacitor 18 for holding a data voltage, and an organic EL element 19.
  • This configuration is divided into scan line SL and power supply line Vc. By arranging it near each intersection of cL and drive line D, it is possible to realize the light emitting part of the pixel. In this embodiment, the effect of omitting the driving transistor can be obtained, but it is needless to say that the present invention can be applied to the case where two or more driving organic TFT elements are provided.
  • the gate electrode G of the switching organic TFT element 17 is connected to a scanning line S L to which an address signal is supplied, and the source electrode S of the switching organic TFT element 17 ′ is connected to a drive line DL to which a data signal is supplied.
  • the drain electrode D of the switching organic TFT element 17 is connected to the auxiliary electrode 3 of the organic EL element 19 and one terminal of the capacitor 18.
  • the anode 5 of the organic EL element 19 is connected to the power supply line VccL, and the other end of the capacitor 18 is connected to the capacitor line Vcap.
  • the cathode 9 of the organic EL element 19 is connected to the common electrode 20.
  • the power supply line VccL and the common electrode 20 are connected to a voltage source (not shown) that supplies power to each of them.
  • Light-emitting portions 101 having a powerful structure are arranged in a matrix, and an active matrix display type organic EL display panel can be formed.
  • the organic EL element of the above embodiment can also be applied to a substrate of a passive matrix display type panel in which TFT elements are arranged around the screen of the panel.
  • a light emitting device having the structure shown in FIG. 1 was produced.
  • auxiliary electrode 3 After forming lOOnm of indium tin oxide (ITO) on a non-alkali glass substrate by a sputtering method, a photoresist is applied by spin coating. The previous photoresist was patterned by exposure and development using an optical mask, and the ITO film was removed from the portion without the photoresist pattern by milling. Finally, the photoresist was dissolved using a stripping solution.
  • PGMEA propylene glycol monomethyl etherate
  • anode 5 and partition wall 6 As the anode, a chromium (Cr) layer and a gold (Au) layer were formed to a thickness of 5 nm and 30 nm, respectively, by sputtering.
  • the sputtering conditions were lPa and DC 150 W, and the deposition rates of the Cr layer and the Au layer were 1 OnmZmm and SOnmZmin, respectively.
  • the Cr layer was used as an auxiliary layer for increasing the adhesion strength of the Au layer to the insulating layer and the substrate. Note that the Cr layer is not always necessary.
  • Negative resist TELR-N101PM was applied on the anode, and a 2 ⁇ m thick barrier rib with an inverted trapezoidal shape was formed by a photolithography process.
  • the first electrode was formed by patterning the first electrode by sputter etching using a powerful partition as a mask. ⁇ Argon gas (Ar) was used as the etching gas, RF 200W, and the etching gap was 17 mm.
  • pentacene as forming a hole injection layer forming the semiconductor layer 7 is formed by a vacuum deposition method to a thickness of 50nm at a deposition rate of 0 4 nm / sec, NPD and 0. 2 nm as the hole-transporting layer / / A semiconductor layer was formed by vacuum deposition at a thickness of 50 nm at a film formation rate of sec.
  • Formation of light-emitting layer 8 As the light-emitting layer, Alq3 was formed by vacuum deposition at a thickness of 60 nm at a film formation rate of 0.2 nm / sec.
  • An auxiliary electrode provided on the substrate, an insulating layer provided on the auxiliary electrode, a first electrode supported by the insulating layer, a partition wall supported by the insulating layer, and the first electrode
  • a semiconductor layer made of a semiconductor material that is in contact with one electrode and transporting carriers; and a second electrode that is supported by the semiconductor layer and formed by vapor deposition.
  • the first electrode and the second electrode are spatially separated to prevent the occurrence of short circuits and leaks, so that the OFF characteristics of current and luminance can be improved. it can.
  • each of the plurality of light emitting units is a switching device that conducts a data signal from one of the plurality of drive lines in accordance with a signal of one of the plurality of scanning lines.
  • a thin film semiconductor element, and the thin film semiconductor element is supported on the auxiliary electrode provided on the substrate, the insulating layer provided on the auxiliary electrode, and the insulating layer.

Abstract

 薄膜半導体素子は、基板上に設けられている補助電極と、該補助電極上に設けられている絶縁層と、該絶縁層に支持されている第1電極と、該絶縁層に支持されている隔壁と、該第1電極に接していてキャリア輸送性の半導体材料からなる半導体層と、該半導体層に支持されていて蒸着処理によって形成される第2電極と、を含む。これにより、キャリア注入効率が良好な薄膜半導体素子が提供される。

Description

明細書 薄膜半導体素子および表示装置 技術分野
本発明は、キャリア(正孔又は電子)輸送性を有する化合物を利用し、かかる化合物 から る半導体層を備えた薄膜半導体素子および表示装置に関する。 背景技術
電界を印加して発光させる発光素チ、例えば物質におけるキャリア(正孔又は電子) の再結合によるエレクトロルミネセンス (以下、単に ELという)を利用している発光素子 が知られている。例えば、有機化合物材料を用いた注入型の有機 EL素子による表示 パネルを搭載した EL表示装置が開発されている。有機 EL素子には、赤色で発光する 構造を有する赤色 EL素子、緑色で発光する構造を有する緑色 EL素子、及び青色で 発光する構造を有する青色 EL素子がある。これら赤、青、緑 RGBで発光する 3つの有 機 EL素子を 1画素発光ユニットとして、複数画素をパネル部上にマトリクス状に配列す ればカラー表示装置を実現することができる。力かるカラー表示装置による表示パネ ルの駆動方式として、パッシブマトリクス駆動型と、アクティブマトリクス駆動型が知られ ている。アクティブマトリクス駆動型の EL表示装置は、パッシブマトリクス型のものに比 ベて、低消費電力であり、また画素間のクロストークが少ないなどの利点を有し、特に 大画面表示装置や高精細度表示装置に適している。
アクティブマトリクス駆動型の EL表示装置の表示パネルには、陽極電源ライン、陰極 電源ライン、水平走査を担う走査線及び各走査線に交叉して配列されたドライブ線が 格子状に形成されている。走査線及びドライブ線の各 RGB交差部に RGBサブピクセ ルが形成されている。
サブピクセル毎に、走査線選択用の電界効果トランジスタ(FET Field Effect Tr ansistor)のゲートには走査線が接続され、そのドレインにはドライブ線が接続されて、 そのソースには発光駆動用の FETのゲートが接続されている。発光駆動 FETのソー スには陽極電源ラインを介して駆動電圧が印加され、そのドレインには EL素子の陽極 端が接続されている。発光駆動 FETのゲート及びソース間にはキャパシタが接続され ている。更に、 EL素子の'陰極端には、陰極電源ラインを介して接地電位が印加され る。
有機 EL素子に代表される従来の有機発光素子は基本的にダイオード特性を示す 能動素子であり、製品化されているものはほとんどパッシブマトリクス駆動によるもので ある。パッシブマトリクス駆動法では、線順次駆動を行うため瞬時的に高い輝度を必要 とし、走査線数の限界数が限られてしまうため高精細な表示装置を得ることが難しかつ た。
ポリシリコンなどを用いた TFTを用いた有機 EL表示装置が検討されている力 プロ セス温度が高い、単位面積あたりの製造コストが高く大画面化に向かなレ、、 1画素内に 2つ以上のトランジスタとコンデンサを配置しなければならないため開口率が下がり有 機 ELを高レ、輝度で発光させなければならなレ、などの欠点があった。
そこで、基板上に、補助電極、絶縁層、陽極、発光層を含む有機機能層および陰極 を順に配置して形成されており、陽極は、陰極に比べて面積が小となっている発光素 子が提案されている(特開 2002— 343578公報参照)。かかる構成の発光素子は、基 板上に補助電極、絶縁層、陽極を順に設けた後、有機機能層を蒸着法で形成し、陰 極を設けている。当該発光素子においては、陽極と陰極との間に印加する電圧方向と 同一の方向となるように、補助電極と陰極との間に電圧を印加することによって、陽極 から発光層への正孔注入量が向上する。
ところが、有機機能層を蒸着法によって形成した場合、蒸着材料源と蒸着面との間 'における角度に応じて、蒸着材料流が陽極によって遮断されるなどの理由により、陽 極の縁部が有機機能層によって完全に覆われていない部分若しくは有埤機能層の膜 厚が薄い部分が形成されるおそれがある。 , 力かる部分が形成されると、当該部分に電界と電流注入とが集中し、ショートおよび 電流のリークが発生して、当該発光声子が破壊されるもしくは発光不良が生じる。また、 陽極から有機機能層への正孔の注入効率が低下するなどの問題がある。
また、有機機能層をスピンコート法などのウエットプロセスを用いた場合においても、 同様の問題が生じ得る。すなわち、陽極の縁部において基板との間に形成されている 段差を覆う特性、いわゆるステップカバレッジ性が良好でない場合、当該段差部は有 機機能層によって完全に覆われない若しくは膜厚が薄くなり、当該部分においてショ ートおよびリークが発生するおそれがある。
また、有機機能層に発光層が設けられておらず、上記した素子構造に類似している 有機薄膜トランジスタの場合においても、電界の均一性、リーク電流などが問題となりう る。 発明の開示
本発明は、上記した問題力 例として挙げられる諸問題を解決する手段を提供するこ とを目的とする。
請求項 1記載の薄膜半導体素子は、基板上に設けられている補助電極と、該補助電 極上に設けられている絶縁層と、該絶縁層に支持されている第 1電極と、該絶縁層に 支持されている隔壁と、該第 1電極に接していてキャリア輸送性の半導体材料からなる 半導体層と、該半導体層に支持されていて蒸着処理によって形成される第 2電極と、 を含む、ことを特徴とする。
請求項 13記載の表示装置は、'複 の走査線、複数のドライブ線、及び該複数の走 查線及び該複数のドライブ線の交差位置に配され、各々が該複数の走査線の 1及び 該複数のドライブ線の 1に接続された複数の発光部からなる表示装置であって、該複 数の発光部の各々は、該複数の走査線の 1の信号に応じて該複数のドライブ線の 1か らのデータ信号を導通せしめるスイッチング素子と、.薄膜半導体素子と、を有し、該薄 膜半導体素子は、基板上に設けられている捕助電極と、該補助電極上に設けられて いる絶縁層と、該絶縁層に支持されている第 1電極と、該絶縁層に支持されている隔 壁と、該第 1電極に接していてキャリア輸送性の半導体材料からなる半導体層と、該半 導体層に支持されている発光層と、該発光層に支持されていて蒸着処理によって形 成される第 2電極と、を含む、ことを特徴とする。 図面の簡単な説明
図 1は本発明による有機 EL素子の部分断面図である。
図 2は本発明による有機 EL素子の部分平面図である。
図 3は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。
図 4は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。 図 5は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。
図 6は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。
図 7は本発明による有機 EL素子の製造工程を説明する部分断面図である。
図 8は図 7に示す有機 EL素子の製造工程の続きを示す部分断面図である。
図 9は本発明による有機 EL素子の製造工程の変形例を説明する部分断面図であ 'る。
図 10は本発明による有機 EL素子 変形例の部分断面図である。
図 11は本発明による有機 EL素子の変形例の部分断面図である。 , 図 12は本発明による有機 EL素子の変形例の部分断面図である。
図 13は本発明による薄膜トランジスタの変形例の部分平面図である。
図 14は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。
図 15は本発明による有機 EL素子の変形例の部分平面図である。
図 16は本発明による有機 EL素子を用レ、たサブピクセル発光部を示す等価回路図 である。 発明を実施するための形態
以下、本発明による薄膜半導体素子の一例として、発光層を含む有機 EL素子につ いて、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
図 1に示す如ぐ有機 EL素子 1は、基板 2上に設けられている補助電極 3を含んでい る。基板 2の材料としては、ガラス、石英、ポリスチレンなどのプラスチック材料といった 半透明材料に限らず、シリコンや A1などの不透明な材料、フエノール樹脂などの熱硬 化性樹脂、ポリカーボネートなどの熱可塑性樹脂などを用いることができるがこれに限 らない。
補助電極 3上には絶縁層 4が設けられている。絶縁層 4は、 Si02、 Si3N に代表さ れる種々の絶縁材料力 なることができるものの、特に比誘電率の高い無機酸化物皮 膜が好ましい。無機酸化物としては、酸化ケィ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸 化チタン、酸化スズ、酸化バナジウム、チタン酸バリウムストロンチウム、ジルコニウム酸 チタン酸バリウム、ジルコニウム酸チタン酸鉛、チタン酸鉛ランタン、チタン酸ストロンチ ゥム、チタン酸バリウム、フッ化バリウムマグネシウム、チタン酸ビスマス、チタン酸スト口 ンチウムビスマス、タンタル酸ストロンチウムビスマス、タンタル酸ニオブ酸ビスマス、トリ オキサイドイットリウムなどが挙げられる。それらのうち好ましいのは、酸化ケィ素、酸化 アルミニウム、酸化タンタル、酸化チタンである。窒化ケィ素、窒化アルミニウムなどの 無機窒化物も好適に用いることができる。また有機化合物皮膜としては、ポリイミド、ポ リアミド、ポリエステル、ポリアクリレート、光ラジカル重合系、光力チオン重合系の光硬 化性樹脂、あるいはアクリロニトリル成分を含有する共重合体、ポリビニルフエノール、 ポリビュルアルコール、ノボラック樹脂、及びシァノエチルプルラン、ポリマー体、エラス トマ一体を含むホスファゼン化合物、などを用レ、ることもできる。
絶縁層 4上には陽極 5が設けられており、力、かる陽極 5が第 1電極となっている。陽極 5は、後述する陰極 9に比べて小なる面積を有している。すなわち、陽極 5における陰 極 9と対向している面の面積は陰極 9における陽極 5と対向している面の面積よりも小と なっている。また、陽極 5は、櫛状、簾状又は格子状の形状に形成されていても良ぐ 例えば図 1に示すように、 2本の櫛歯を有する櫛状体であることとしても良レ、。なお、第 1電極となっている陽極 5は絶縁層 4に支持されていれば良ぐ絶縁層上に第 1電極を 直接設ける構成に限定されない。 陽極 5は画素領域 Aを兩定している。ここで画素領域 Aとは、発光素子において、陽 極 5によって挟まれている考しくは囲まれている領域をいう。例えば図 1に示す如く陽 極 5が 2本の櫛歯を有する 状体である場合、画素領域 Aは、該櫛歯によって挟まれ ている領域となっている。
陽極 5の上には、電気的絶縁材料からなる Ιί壁 6が形成されている。隔壁 6は陽極 5 力 突出しかっこれに沿って形成されている。また、隔壁 6の上部に基板に平行な方 向に突出するオーバーハング部 6aが、隔壁 6の伸長方向に沿って形成されている。ォ 一バーハング部 6aは、'その先端部から基板 2に向力 垂線が画素領域 Aをよぎるよう に配置されている。隔壁 6の材料として、例えばネガ型のフォトレジスト材料が使用でき る。なお、隔壁 6は絶縁層 4に支持されていれば良ぐ絶縁層 4に支持されている第 1 電極の上に隔壁 6を直接設ける構成に限定されない。また、隔壁は絶縁層から離れる 方向に突出していれば良い。
陽極 5は、キャリア輸送性の有機半導体材料からなる半導体層 7と接している。半導 体層 7は、画素領域 Aに設けられており、正孔注入層、正孔輸送層またはこれらの組 み合わせからなる。
正孔注入層は、陽極 5からの正孔の注入を容易にする機能を有している。正孔注入 層に用いられる材料として、銅フタロシアニン (CuPc)に代表されるポノレフィリン誘導体、 ぺタセンに代表されるポリアセン、 m— TDATAに代表されるスターバーストアミンと呼 ばれる高分子ァリールアミンを使用することができる。また、ポルフィリン誘導体やトリフ ヱニルァミン誘導体などにルイス酸ゃ四フッ化テトラシァノキノジメタン(F4—TCNQ) などを混合し導電性を高くした層を正孔注入層に用いることもできる。この時、混合比 率は重量比率で 5〜95%の割合で混合されていることが好ましい。また、高分子系で はポリア二リン (ΡΑΝί)、' ォフェン誘導体(PEDOT)、ポリ ぺキシルチオフエ ン)(Ρ3ΗΤ)などの高分子材料を用いることができる。また、正孔& 層はこれらの材 料の混合層、もしくは積層レたものでもよい。
正孔輸送層は、陽極 5からの正孔を安定に輸送する機能を有している έ正孔輸送層 に使用される材料としては、トリフエニルジァ ン誘導体、スチリルァミン誘導体、芳香 族縮合環を有するァミン誘導体、力ルバゾール誘導体、高分子材料としてはポリビ- ルカルバゾ一ル及びその誘導体'、ポリチォフェンなどが挙げられる。これらの化合物は 2種以上を併用してもよい。さらに、一般的に、正孔輸送層は正孔注入層よりもイオン 化ポテンシャル Ιρが大きレ、有機半導体材料を用いた方が好ましレ、。
なお、半導体層 7は無機材料からなることとしても良 例えば AlGaZnOおよび InG aZnOなどの金属酸化物からなることとしても良い。
半導体層 7上には発光層 8が設けられている。すなわち、発光層 8は半導体層 7に支 持されている。発光層 8は、発光機能を有する化合物である蛍光物質もしくは燐光物 質を含有している。このような蛍光性物質としては、例えば特 63— 264692号公報 に開示されているような化合物、例えばキナクリドン、ルブレン、スチリル系色素などの 化合物から選択される。燐光性物質としては Appl Phys Lett. , 75卷、 4項、 19 99年にあるような有機イリジウム錯体、有機プラチナ錯体などが挙げられる。
発光層 8の上には第 2電極となっている陰極 9が設けられており、発光層 8は半導体 層 7と第 2電極(陰極 9)との間に挟持されている。また、陰極 9は半導体層 7によって支 持される。陰極 9は、隔壁 6による遮蔽効果を利用した蒸着処理によって形成される。 すなわち、陰極 9は蒸着処理によって形成され、隔壁 6は蒸着処理における蒸着材料 流を遮蔽することによって、陰極 9の形状を規定している。かかる陰極 9は、発光層 8、 半導 層 7、絶縁層 4 介'しで補助電極 3と対向している。なお、瘍極 5によって画定さ れる画素領域 Aの面積よりも小となっていることが好ましい。
なお、陰極 9、陽極 5及びネ 助電極 3としては、 Ti、 Al、 Li Al、 Cu、 Ni、 Ag、 Mg A g、 Au、 Pt、 Pd、 Ir、 Cr、 ΜΌ、 W、 Taなどの金属あるいはこれらの合金が挙げられる。 あるいは、ポリア二リンや PEDT PSSなどの導電性高分子を用レ、ることができる。ある レ、は、酸化物透明導電薄膜、例えば錫ドープ酸化インジウム (ITO 亜鉛ドープ酸化 インジウム(IZO)、酸化インジウム(In203)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化錫(Sn02)のい ずれかを主組成としたものを用いることができる力 これに限定されなレ、。また、各電極 の厚さは 30〜500nm程度が好ましレ、。陰極 9と補助電極 3には特に 50〜300nmの 範囲が適している。陽極 5は 10〜200nm程度の範囲が適している。陽極 5には、半導 体層 7に正孔を注入することが容易な高仕事関数の金属、例えば Au、 Pt、 Pd等が好 ましレ、。陰極 9は特に 30〜200nm程度の範囲が適している。これらの電極は真空蒸 着法、スパッタ法で作製されたものが好ましレ、。
上記の如き構成の有機 EL素子 1において、陽極 5と陰極 9との間に印加する電圧方 向と同一方向になるように、補助電極 3と陰極 9との間に電圧が印加されるときに、発光 層 8が発光する。
すなわち、陽極 5と陰極 9との間に電圧を印加し、さらに陽極 5と陰極 9との間に印加 する電圧方向と同一方向になるように、補助電極 3と陰極 9との間に電圧が印加される ときに、正孔が陽極 5から半導体層 7に向けて注入されて発光層 8に輸送され、電子が 陰極 9から発光層 8に注入される。
上記の如き構成の発光素子において、第 1電極によって画定される画素領域 Aに比 ベて第 2電極の面積を小とすることによって、第 1電極と第 2電極とが空間的に隔離さ れて、ショートおよびリークが発生することを防ぐことができる。結果的に、 OFF時にお ける第 1電極と第 2電極との間のリーク電流が低減し、電流および輝度の OFF特性が 改善される。 '
また、第 1電極の端部の近傍における電流集中を防ぐことができる故、画素領域 Aに おける発光ムラを防ぐことができる。
上記の如き構成の有機 EL素子において、画素領域 Aの形状は、第 1電極の形状に 応じて、種々設定することができる。例えば、図 2に示す如ぐ第 1電極となっている陽 極 5を櫛状とし、画素領域 Aは陽極 5の櫛齒の間に設けられても良レ、。第 2電極となつ ている陰極 9 は、力がる画素領域 Aの面積よりも小となっており、第 1電極の櫛歯の間 に嵌め込まれるように、櫛状に形成されている。陰極 9は陰極引き出し部 10と接続して いる。 ' ' 第 1電極となっている陽極 5は、図 3に示す如ぐ複数の矩形の画素領域 Aを形成す るように格子状であっても良レ、。当該 ®素領域 Aには、それぞれ画素領域 Aよりも小な る面積の陰極 9が設けられており、各陰極 9は、陰極引き出し部, 10によって結合されて いる。
また、画素領域 Aは、図 4乃至図 6に示す如く矩形、六角形等の多角形、または円形 であることとしても良レ、。それぞれにおいて、第 2電極となっている陰極 9は画素領域 A の面積よりも小となっており、第 1電極となっている陽極 5とは空間的に離れている。 なお、説明を容易にするために、図 2乃至 6中、隔壁 6、半導体層 7および発光層 8を 除いて示している。
次に、上記の如き構成の有機 EL素子の製造方法について説明する。図 7 (a)に示 す如 まず基板 2上に補助電極 3が形成される。補助電極 3の形成は、例えばドライ プロセスによる成膜方法とフォトレジストを用いたパターニング工程を用レ、ることとしても 良レ、。より具体的には、例えば、 ITOからなる薄膜をスパッタリング法により形成した後 に、フォトレジストをスピンコートにより塗布する。光学マスクを用いた露光と現像により 力かるフォトレジストをパターン化し、その上からミリングによりフォトレジストパターンの 無い部分の IT〇膜を取り除き、最後に剥離?被を用いてフォトレジストを溶解させる。か 'かる手順によって、補助電極 3を形成することとしても良い。
次に、図 7 (b)に示す如ぐかかる補助電極 3上に絶縁層 4が形成される,。絶縁層 4の 形成は、ドライプロセスによる成膜方法またはウエットプロセスによる成膜方法を使用す ることができる。絶縁層 4が有機化合物皮膜からなる場合、ウエットプロセスによる成膜 方法が使用されても良レ、。例えば、,絶縁層 4は、ポリビニルフヱノール系高分子 10w t%を含むプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)溶液を用い てスピンコート法により形成することができる。この場合において、当該高分子膜のうち 補助電極 3上の端部などの絶縁が不要な部分が PGMEAを含ませたコットンにより拭 き取られるなどして除去された後、ホットプレート等の加熱手段を用いてベーキングが 行われる。
絶縁層 4の上には、図 7 (c)に示す如く第 1電極となる陽極 5が形成される。陽極 5は、 蒸着法などのドライプロセスを用いて形成することとしても良い。例えば、陽極 5は、メタ ルマスクを用いた真空蒸着法により金を成膜して形成されても良い。
陽極 5が形成された後に、図 7 (d)に示す如く、陽極 5上に隔壁 6が形成される。隔壁 6の形成には、フォトリソグラフィ法などの手法を用いて形成される。たとえば陽極 5が 形成された後に、フォトレジストをスピンコートで成膜して、フォトリソグラフィ法等の手法 を用いてフォトレジストパターンを形成する。当該パターンが隔壁 6を形成する。 隔壁 6が形成された 極 5と接するようにキャリア輸送 ' 機半導体材料か らなる半導体層 7が形成される(図 8 (a) )。半導体層 7の形成には 蒸着法、スパッタ法、 CVD法などのドライプロセスによる成膜方法が使用できる。当該成腠方法において、 半導体層 7が陽極 5と接するように、形成されることが好ましい。
半導体層 7が作製された後、図 8 (b)に示す'如く、蒸着法等のドライプロセスを用いて 発光層 8が形成される。発光層 8の形成には、マスク蒸着法を用いることができて、マス クを隔壁上に載置しても良い。
発光層 8が形成された後、その上に、図 8 (c)に示す如く、蒸着法を用いて陰極 9が 形成される。蒸着は、基板に対して蒸着材料をほぼ垂直に入射させるなどして異方性 の蒸着材料流を用いて行われる。 方性の蒸着材料流を用いることによって、蒸着形 成された膜は、隔壁 6の上部と発光層との間のギャップにより分断されて、隔壁 6に応じ た形状の陰極 9が発光層 8上に形成される。陰極 9が形成されて、有機 EL素子 1が形 成される。
なお、第 1電極の形成において、隔壁 6を第 1電極のパターンを形成する際のマスク として利用しても良い。この場合において、絶縁層 4の形成までは上記した製造工程と 同様の工程を利用し(図 7 (b)参照)、絶縁層の上に ITO薄膜 11とフォトレジスト膜 12と を順に成膜する(図 9 (a) )。力、かるフォトレジスト膜 12についてフォトリソグラフィ法等の 手法を用いてフォトレジストパターンを形成し、当該パターンを隔壁 6とする(図 9 (b) )。 力かる隔壁 6をマスクに用いて ITO薄膜 11に対して、スパッタエッチングおよび反応ガ スを用いたリアクティブイオンエッチング(RIE)などのドライエッチングまたはウエットェ ツチングを行って、陽極 5を形成する(図 9 (c) )。陽極 5が形成された後は、図 8 (a)乃 至(c)に図示しつつ説明した上記工程とほぼ同じ工程によって有機 EL素子を形成す ることがでぎる。
上記の如く隔壁 6を第 1電極のマスクとして利用して、第 1電極 形成することから、 第 1電極と隔壁 6の位置あわせを行う必要がない。すなわち、第 ί電極を形成した後に 隔壁 6を形成する場合においては、隔壁 6と第 1電極との位 あおせ精度を考慮する 必要があるものの、隔壁 6をマスクとすることに'よって、これを考慮する必要がない。
' また、第 1電極のマスクとして利用し、さらに該隔壁 6を第 2電極のパターニングに用 レ、ることによって、第 1電極と第 2電極との位置あわせを行うことなく有機 EL素子を形成 することがでさる。 '
なお、図 1に示して説明した上記実施例の有機 EL素子は、補助電極/絶縁層 Ζ陽 極ノ正孔注入層/正孔輸送層 光層 嗱極という構成をとつているものの、これに 限定されず、発光層と陰極との間に電子注入層、電子輸送層またはこれらの組み合わ せが任意に用いられても良レ、。例えば、発光層 8と陰極 9との間に電子輸送層と電子 注入層が設けられていることとしても良い。
電子注入層及び又は電子輸送層には、トリス(8—キノリノラト)アルミニウム (Alq3)な どの 8—キノリノール又はその誘導体を配位子とする有機金属錯体などのキノリン誘導 体、ォキサジァゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、キ ノキサリン誘導体、ジフエ二ルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体などを用いる ことができる。電子注入層及ぴ又は電子輸送層は発光層 8を兼ねたものであってもよく、 力、かる場合にはトリス(8—キノリノラト)アルミニウムなどを使用することが好ましい。電 子注入層と電子輸送層を作製するときには、陰極 9側に電子親和力の値の大きい化 合物が配置されるように成膜することが好ましい。
また、上記実施例において、第 1電極を陽極とし、第 2電極を陰極として記載している ものの、絶縁層以降の構造を逆転している構成、すなわち第 1電極が陰極であり、第 2 電極が陽極である構成としても良い。例えば、補助電極/絶縁層ノ陰極/電子注入 層/電子輸送層/発光層 陽極とレ、う構成が用レ、られても良レ、。
なお、図示はしないものの、第 1電極と第 2電極との間には、その他、正孔ブロック層、 電子ブロック層が任意に用いられても良い。 !
' 有機 EL素子において、隔壁と第 1電極との間にキャリア規制層が設けられていること としても良レ、。例えば、図 10に示す如 有機 EL素子 1は、隔壁 6と陽極 5との間にキ ャリア規制層 BFを設けることとしても良い。キャリア規制層 BFは陽極 5から半導体層 7 へのキャリア移動の障壁としての機能を有しており、キャリア規制層 BFを設けることに よって、キャリア規制層 BFを介した電流が流れ難くなる。
キャリア規制層 BFの材料は、そのイオン化ポテンシャルの条件すなわち、接触電極 の仕事関数と正孔注入層のイオン化ポテンシャルとの間の仕事関数(又はイオン化ポ テンシャル)の値に基づいて選択される。すなわち、キャリア規制層 BFは、陽極 5に使 用される材料に比べて仕事関数が大きく異'なる材料、若しくは 縁層に用いられる材 料を用いることが好ましい。キャリアの移動を阻害するにはエネルギー障壁が大である ほうがよいからである。
例えば Al、 Mg、 Ag、 Ta、 Cr等の半導体層 7に正孔を注入し難い低仕事関数の金 属がキャリア規制層 BFとして好ましい。なお、陽極 5とキャリア規制層 BFとの合計膜厚 は、 30〜200nm程度の範囲が適している。
力かるキャリア規制層 BFを設けることによって、半導体層 7に注入されるキャリアの経 路が規定される。図 10に示す如き構成の場合、すなわちキャリア規制層 BFが陽極 5と 隔壁 6とによって狭持されるように配置されている場合、キャリア(正孔)はキャリア規制 層 BFに覆われていない部分(陽極 5の側部)から注入されることとなる。ここで、陽極 5 の側部は半導体層 7と接しているため、キャリアの注入効率が向上する。キャリア抑制 層を設けると ON/OFF比などの性能が良い有機 EL素子が得られる。
上記した実施例において、有機 EL素子は、補助電極/絶縁層 Z陽極' (第 1電極) / 半導体層/発光層 Z陰極(第 2電極)とレ、う構'成(レ、わゆるボトムコンタクト型)を採用し ているもののこれに限定されず、例えば図 11に示す如ぐ陽極 5と半導体層 7の成膜 順序'を入れ替えて、絶縁層 4上に半導体層 7/陽極 5ノ発光層 8を順に設ける構成、 すなわち陽極 5が半導体層 7と発光層 8との間に接触して揷入される構成(いわゆるトツ プコンタクト型)としても良い。換言すれば、第 1電極が絶縁層に支持されていて、半導 体層が絶縁層と第 1電極との間に挟,持されてレ、る構成であれば、限定されない。また、 かかる構成において、陰極と陽極とを入れ替えた構成であっても良レ、。すなわち;絶 縁層上に半導体層ノ陰極 発光層を順に設ける構成、すなわち陰極が半導体層と発 光層との間に接触して挿入される構成としてもよい。
また、トップコンタクト型の有機 EL素子において、第 1電極と 壁との間にキャリア規 制層が設けられていることとしても良レ、。例えば図 12に示す如 有機 EL素子 1は、基 板 2/補助電極 3/ /絶縁層 4 半導体層 7Z陽極 5 (第 1電極)の順に形成されており、 陽極 5がキャリア規制層 BFによって覆われている。キャリア規制層 BFおよび半導体層 7に接するように、発光層 8 が形成され、発光層 8上に陰極 9 (第 2電極)が形成されて いる。力かる構成による有機 EL素子において、陽極 5と陰極 9との間に電圧し、さらに 陽極 5と陰極 9との間に印加する電圧方向と同一方向になるように、補助電極 3と陰極 9との間に電圧が印加されるときに、正孔は、陽極 5と半導体層 7との界面から注入され て、発光層 8に輸送される(図中、矢印参照)。また、同時に電子が陰極 9から発光層 8 に注入され、発光層 Tiおいで正孔と電子が再結合する。なお、上記'の如きトップコン タクト型の有機 EL素^ fの構成においても、陰極と陽極とを入れ替 た構成を採用する こと力 Sでさる。
上記実施例にお'レ、て、隔壁の形状は、隔壁の上部にオーバーハング部を有する逆 テーパー形状となっているもののこれに限定きれない。例えば半導体層おょぴ発光層 に対して第 2電極の成膜厚さが十分である場合 '、テーパー角が付いていなくても良い。 この場合において、隔壁の材料は、無機絶縁材料、ポジ型レジストなどを用いることが でさる。 ' また、上記実施例において第 1電極と第 2電極との間にキャリア輸送性の材料からな る半導体層と発光特性を有する発光層とを別々に設けているもののこれに限定されな レ、。例えば、キャリア輸送性と発光特性を共に備えた材料を用いて、発光層と半導体 層とを兼ね備えた単一の有機材料層からなる単一層構造の有機 EL素子としても良 レ、。
なお、上記実施例において、第 2電極は蒸着処理における蒸着材料流を隔壁で遮 蔽することによって形成しているものの、かかる方法に限定されない。第 2電極が第 1 電極によって画定される画素領域よりも小となるように形成されれば良ぐ例えばマスク 蒸着法を用いて第 2電極を形成することとしても良い。
また、上記実施例において、発光層が有機材料からなる有機 EL素子を用いて説明 しているものの、発光層が無機材料からなる無機 EL素子においても同様の構成とする こと力 Sできる。
上記実施例において、第 1電極と第 2電極との間に発光層が設けられている発光素 子について説明しているものの、本発明の薄膜半導体素子は発光素子に限定される ものではなぐ縦型 MOS, 造の薄 トランジスタであっても良レ \ άトランジスタは、 第 1電極と第 2電極との間に発光層が設けられていない点を除レ、 'て、上記した発光素 子とほぼ同一の構成を有している。
例えば、図 13に示す如ぐ薄膜トランジスタ 13は、基板上に設けられていてゲート電 極 14となる補助電極と、ゲート電極 14上に |kけられている絶縁層 4と、絶縁層 4に支 持されていてソース電極 15となっている第 1電極と、ソース電極 15を介して絶縁層 4に 支持されている隔壁 6と、ソース電極 15に接していてキャリア輸送性の半導体材料から なる半導体層 7と、半導体層 7に支持されていて蒸着処理によって形成されているドレ イン電極 16となっている第 2電極と、を含んでいる。
さらにまた、上記した何れの実施 ljにおいても、隔壁が第 1電極を介して絶縁層に支 持されている構成について説明しているものの、これに限定されない。例えば、図 14 に示す如 隔壁 6が絶縁層 4上に設けられていても良い。 '
また、隔壁は第 1電極から離れて形成されていても良ぐ半導体層または発光層の上 に形成されていても良い。例えば、図 15に示す如ぐ発光層 8の上に隔壁 6が形成さ れていることとしても良レ、。
次に上記の如き構成の有機 EL素子を表示装置に用いた場合について説明する。 表示装置は、複数の走査線、複数のドライブ線、及び該複数の走査線及ぴ該複数の ドライブ線の交差位置に配され、各々が該複数の走査線の 1及び該複数のドライブ線 の 1に接続された複数の発光部からなる。図 16は有機 EL表示パネルのサブピクセル の発光部を示す等価回路図を示す。基板上に形成された発光部 101の各々は、選択 用トランジスタのスイッチング有機 TFT素子 17と、データ電圧の保持用のキャパシタ 1 8と、有機 EL素子 19と、力 構成されている。この構成を走査線 SL及び電源ライン Vc cL、並びにドライブ線 D の各交点近傍に、配置することで画素の発光部を実現する こと力できる。本実施形態では駆動用トランジスタを省略する効果が得られるが、駆動 有機 TFT素子を 2以上設けた場合にも適用できることはレ、うまでもない。
スイッチング有機 TFT素子 17のゲート電極 Gは、アドレス信号が供給される走査線 S Lに接続され、スイッチング有機 TFT素子 17'のソース電極 Sはデータ信号が供給され るドライブ線 DLに接続されている。スイッチング有機 TFT素子 17のドレイン電極 Dは 有機 EL素子 19の 助電極 3及'びキャパシタ 18の一方の端子に接続されている。有 機 EL素子 19の陽極 5は電源ライン VccLに接続されており、キャパシタ 18の他方はキ ャパシタライン Vcapに接続されている。有機 EL素子 19の陰極 9は共通電極 20に接 続されている。電源ライン VccL及 共通電極 20は、それぞれに電力を供給する電圧 源(図示せず)にそれぞれ接続されている。
力かる構成の発光部 101がマトリクス状に配置されて、アクティブマトリクス表示タイプ の有機 EL表示パネルが形成できる。なお、上記実施例の有機 EL素子は、 TFT素子 などをパネルの画面周囲に配置したパッシブマトリクス表示タイプのパネルの基板にも 応用できる。
(実施例 1)
図 1に示す如き構成の発光素子を作製した。
(1) 補助電極 3の形成 無アルカリガラス基板上にインジウム錫酸化物(IT〇)をスパ ッタリング法により lOOnm形成したのち、フォトレジストをスピンコートにより塗布する。 光学マスクを用いた露光と現像により先のフォトレジストをパターン化し、その上からミリ ングによりフォトレジストパターンの無い部分の ITO膜を取り除ぐ最後に剥離液を用い てフォトレジストを溶解させた。 (2) 絶縁層 4の形成 ·絶縁層としてポリビュルフエノール系高分子 10wt%プロピレ ングリコールモノメチルエーテルァセテ一ト(PGMEA)溶液を用レ、てスピンコート法に より 420nm成膜した。その後、補助電極上の端部に成膜された高分子膜を、 PGME Aを含ませたコットンにより拭き取り、ホットプレートを用いて 200°Cで 10分間べ一キン グを行った。
(3) 陽極 5および隔壁 6の形成 ·陽極として、スパッタ法によりクロム(Cr)層および金 (Au)層をそれぞれ 5nmおよび 30nmの厚さで成膜した。スパッタ条件は lPa、 DC15 0Wであり、 Cr層おょぴ Au層の成膜レートはそれぞれ 1 OnmZmmおよび SOnmZmi nであった。ここで、 Cr層は Au層の絶縁層及び基板への付着強度を増すための補助 層とした。なお、 Cr層は必ずしも必 ではないことを注記しておく。陽極上にネガレジ スト TELR- N101PMを塗布し、フォトリソ工程により逆台形形状の厚さ 2 μ mの隔壁を 形成した。力かる隔壁をマスクに用いて第 1電極のパターニングをスパッタエッチング により行って、第 1電極を作成した。 ^ツチングガスにはアルゴンガス (Ar)を用レ、、 RF 200Wでエッチング Β奢間は 17mmであった。
(4) 半導体層 7の形成の形成 正孔注入層としてペンタセンを 0 4nm/sec の成膜 速度で 50nmの厚さで真空蒸着法により形成し、正孔輸送層として NPDを 0. 2nm/ /s ecの成膜速度で 50nmの厚さで真空蒸着法により形成して、半導体層とした。
(5) 発光層 8の形成 発光層として、 Alq3を 0. 2nm/secの成膜速度で 60nmの 厚さで真空蒸着法により形成した。
(6) 陰極 9の形成 陰極として、マグネシウム (Mg)と銀 (Ag)を真空蒸着法によって、 10 1の比で lOOnmの厚さで共蒸着した。このとき、マグネシウム(Mg)の成膜速度は InmZsであり、銀 (Ag)の成膜速度は 0. lrnnZsであった。 上記の如き工程によって有機 EL素子を形成した。当該実施例によって形成された 有機 EL素子は、陽極と陰極とを空間的に離して形成されている故、両電極間にリーク 電流が流れることはなく、有機 EL素子の画素領域において発光ムラは観察されなかつ た。 '
基板上に設けられている補助電極と、該補 電極上に設けられている絶縁層と、該 絶縁層に支持されている第 1電極と、該絶縁層に支持されている隔壁と、該第 1電極 に接していてキャリア輸送性の半導体材料からなる半導体層と、該半導体層に支持さ れていて蒸着処理によって形成される第 2電極と、を含む、ことを特徴とする本発明に よる薄膜半導体素子によれば、第 1電極と第 2電極とが空間的に隔離されて、ショート およびリークが発生することを防ぐこ,とができる故、電流および輝度の OFF特性を改善 することができる。
複数の走査線、複数のドライブ線、及び該複数の走査線及び該複数のドライブ線の 交差位置に配され、各々が該複数の走査線の 1及び該複数のドライブ線の 1に接続さ れた複数の発光部からなる表示装置であって、該複数の発光部の各々は、該複数の 走査線の 1の信号に応じて該複数のドライブ線の 1からのデータ信号を導通せしめるス イッチング素子と、薄膜半導体素子と、を有し、該薄膜半導体素子は、基板上に設けら れている補助電極と、該補助電極上に設けられている絶縁層と、該絶縁層に支持され ている第 1電極と、該絶縁層に支持されている隔壁と、該第 1電極に接していてキヤリ ァ輸送性の半導体材料からなる半導体層と、該半導体層に支持されている発光層と、 該発光層に支持されてレ、て蒸着処理によって形成される第 2電極と、を含む、ことを特 徴とする本発明による表示装置によれば、薄膜半導体素子の第 1電極の端部の近傍 における電流集中を防いで、画素領域における発光ムラを防ぐことができることから、 画素領域の面積が大きい薄膜半導体素子を備えた表示装置においても、発光ムラを 感じることのない、良好な視認特性を得ることができる。
本出願は日本囯出願第 2005— 300594号に基いており、本願の開示に組み入れ られる。

Claims

請求の範囲
1. 基板上に設けられてレ、る補助電極と、
前記補助電極上に設けられている絶縁層と、
前記絶縁層に支持されている第 1電極と、
前記絶縁層に支持されている隔壁と、
前記第 1電極に接していてキャリア輸送性の半導体材料からなる半導体層と、 前記半導体層に支持されていて 着処理によって形成される第 2電極と、を含む、こ とを特徴とする薄膜半導体素子。
2 前記第 2電極の面積は前記第 1電極によって画定される画素領域の面積よりも小で あることを特徴とする請求項 1記載,の薄膜半導体素子。
3.前記半導体層と前記第 2電極との間に挟持されている発光層を含むことを特徴とす る請求項 1記載の薄膜半導体素子。
4.前記隔壁は前記第 1電極を介して前記絶縁層に支持されかつ前記第 1電極から突 出してレ、ることを特徴とする請求項 1記載の薄膜半導体素子。
5 前記半導体層は前記絶縁層と前記第 1電極との間に挟持されていることを特徴と する請求項 1記載の薄膜半導体素子。
6.前記隔壁はその上部に前記基板に平行な方向に突出するオーバーハング部を有 することを特徴とする請求項 1記載の薄膜半導体素子。
7 前記オーバーハング部の上先端部から前記基板に向かう垂線が前記画素領域を よぎることを特徴とする請求項 6記載の薄膜半導体素子。
8.前記第 1電極は陽極であり、前記第 2電極は陰極であり、
前記半導体層は正孔注入層、正孔輸送層またはこれらの組み合わせであることを特 徴とする請求項 1記載の薄膜半導体素子。
9 前記第 1電極は陰極であり、前記第 2電極は陽極であり、
前記半導体層は電子注入層、電子輸送層またはこれらの組み合わせであることを特 徴とする請求項 1記載の薄膜半導体素子。
10.前記第 1電極と前記隔壁との間に挟持されているキャリア規制層を含むことを特 徴とする請求項 1記載の薄膜半導体素子。
11.前記第 1電極は格子状、櫛状又は簾状の形状を備えていることを特徴とする請求 項 1記載の薄膜半導体素子。
12 前記画素領域は円形若しくは多角形の形状を有することを特徴とする請求項 1記 載の薄膜半導体素子。 ,
13.複数の走査線、複数のドライブ線、及び前記複数の走査線及び前記複数のドライ ブ線の交差位置に配され、各々が前記複数の走査線の 1及び前記複数のドライブ 線の 1に接続された複数の発光部力 なる表示装置であって、
前記複数の発光部の各々は、前記複数の走査線の 1の信号に応じて前記複数のド ライブ線の 1からのデータ信号を導通せしめるスイッチング素子と、薄膜半導体素子 と、を有し、
前記薄膜半導体素子は、基板上に設けられている補助電極と、前記補助電極上に 設けられている絶縁層と、前記絶縁層に支持されている第 1電極と、前記絶縁層に 支持されている隔壁と、前記第 1電極に接していてキャリア輸送性の半導体材料か らなる半導体層と、前記半導体層に支持されている発光層と、前記発光層に支持さ れていて蒸着処理によって形成される第 2電極と、を含む、ことを特徴とする表示装 置。
14 前記第 2電極の面積は前記第 1電極によって画定される画素領域の面積よりも小 であることを特徴とする請求項 13記載の表示装置。
15.前記隔壁は前記第 1電極を介して前記絶縁層に支持されかつ前記第 1電極から 突出していることを特徴とする請求項 13記載の表示装置。
16 前記半導体層は前記絶縁層と前記第 1電極との間に挟持されてレ、ることを特徴と する請求項 13記載の表示装置。
17 前記隔壁はその上部に前記基 に平行な方向に突出するオーバーハング部を 有することを特徴とする請求項 13記載の表示装置。
18 前記オーバーハング部の上先端部から前記基板に向かう垂線が前記画素領域を よぎることを特徴とする請求項 17記載の表示装置。
19.前記第 1電極は陽極であり、前記第 2電極は陰極であり、 , 前記半導体層は正孔注入層、正孔輸送層またはこれらの組み合わせであることを特 徴とする請求項 13記載の表示装置
20.前記第 1電極は陰極であり、前記第 2電極は陽極であり、
前記半導体層は電子注入層、電子輸送層またはこれらの組み合わせであることを特 徴とする請求項 13記載の表示装置。
21.前記第 1電極と前記隔壁との間に挟持されているキャリア規制層を含むことを特 徴とする請求項 13記載の表示装置。
22 前記第 1電極は格子状、櫛状又は簾状の形状を備えていることを特徴とする請求 項 13記載の表示装置。
23 前記画素領域は円形若しくは多角形の形状を有することを特徴とする請求項 13 記載の表示装置。
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