WO2006040850A1 - 多価イオン発生源およびこの発生源を用いた荷電粒子ビーム装置 - Google Patents

多価イオン発生源およびこの発生源を用いた荷電粒子ビーム装置 Download PDF

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WO2006040850A1
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vacuum vessel
vacuum
multivalent
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Makoto Sakurai
Fumiharu Nakajima
Takunori Fukumoto
Nobuyuki Nakamura
Shunsuke Ohtani
Shinro Mashiko
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Japan Science And Technology Agency
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Definitions

  • the present invention relates to a multiply charged ion source and a charged particle beam apparatus using the multiply charged ion source.
  • Removing an electron from an atom can produce a positive ion, but for example, X e 4 4 + ions that have removed two or more electrons are called positive multivalent ions.
  • Multivalent ions have extremely large internal energy, and when a multivalent ion collides with a solid surface, a large number of secondary electrons are emitted, or a nanometer size around the incident point of multivalent ions. Many unique phenomena are known to occur, including structural changes (see references 1 and 2 below). This unique interaction between multiply-charged ions and substances has the potential to be applied to nanometer-scale process technologies such as single-ion implantation plantation and quantum dot fabrication (see Reference 3 below).
  • Electron cyclotron resonance (ECR) ion source (ECRIS) and electron beam ion source (EBIS) are generally known as ion sources that generate such multiply charged ions. The latter is characterized by a high ionization degree of the resulting ion.
  • ECR electron cyclotron resonance
  • EBIS electron beam ion source
  • a fusion research laboratory device developed for atomic physics research is known (for example, see Reference 4 below). This device is composed of an electron source, a drift tube, a collector, a solenoid magnet, an ion extraction lens, and the like.
  • the electron emitted from the force electrode is a drift tube placed in a magnetic field. Passed through and collected by the collector.
  • Electrons are compressed by a strong magnetic field formed in the drift tube, resulting in a high current density electron beam.
  • the gas introduced from the vicinity of the cathode is ionized in the drift chew.
  • the drift tube electrode is divided into several parts, and a potential is applied so that a well-type potential having barriers against ions at both ends is formed. Ion is for a certain time, It is confined in this well-type potential, and the impact ionization by electrons proceeds to become multivalent ions.
  • multiply charged ions the one whose kinetic energy increases due to electron collision and exceeds the barrier is guided to the ion extraction lens side (the multiply charged ions are taken out to the ion source section).
  • the EBIT (electron beam ion trap) of the conventional example 2 improved from the EBIS of the conventional example 1 was developed (see reference 5 below).
  • the EBIT generation principle of EBIT is the same as that of EBIS, but the superconducting Helmholt coil is used and the drift tube is made shorter than before to avoid plasma instability in the drift tube. In this way, the ion confinement time is improved, so that a high number of multiply charged ions can be held stably. For this reason, E B I T has made it possible to generate a high ionization ion by focusing the electron beam in the drift tube to the ultimate.
  • the equipment at the Puruk Haven Laboratory in the United States consists of a superconducting magnet, an electron source necessary for ion generation, a drift tube, and a collector (here, these are collectively referred to as an ion source electrode) They are separated (see reference 9 below).
  • an ion source electrode the equipment at the Puruk Haven Laboratory in the United States consists of a superconducting magnet, an electron source necessary for ion generation, a drift tube, and a collector (here, these are collectively referred to as an ion source electrode) They are separated (see reference 9 below).
  • the heat resistance of the superconducting magnet part is weak in the EB IS of Conventional Example 6, so that a sufficient degree of vacuum cannot be obtained unless evacuation is continued for a very long time.
  • the central axes of the electron source, drift tube, and collector need to be adjusted with high precision.
  • the axis of the ion source electrode alone can be aligned. Therefore, a lot of time was required for assembly and adjustment
  • a superconducting magnet is required for ion generation, as in the multivalent ion source in Conventional Example 6.
  • separation from the ion source electrode it was necessary to break the vacuum of the ion source electrode. For this reason, when the superconducting magnet is not assembled, the ion source electrode alone cannot be aligned, and a great deal of time is required for assembly and adjustment.
  • the present invention provides a multi-ion source that is easy to manufacture, has excellent operability and maintainability, has a high power consumption, and has a large beam, and a charged particle beam apparatus using the same. It is aimed.
  • the present inventors have manufactured, assembled, and adjusted by disposing the ion source electrode in the same vacuum container and the superconducting magnet in different vacuum containers. It has been found that a highly-charged ion source that is easy to operate and has excellent operability. In addition, the acceleration voltage is reduced to 4 O k V or less, and the ion source electrode shape and superconducting coil optimal for this are used to increase the intensity and size of the multi-ion beam. The invention has been completed.
  • the multivalent ion generation source of the present invention includes an ion source electrode including an electron source, a drift tube serving as an ion confinement region, and a collector, and a superconducting magnet for ion confinement.
  • the ion introduction means, and the multivalent ion generation source further comprises a first vacuum container containing the ion source electrode and a second vacuum container containing the superconducting magnet.
  • the first vacuum vessel and the second vacuum vessel are each provided with an evacuation device.
  • the second vacuum vessel is formed in an annular shape in cross section, and the first vacuum vessel is disposed through the ring of the first vacuum vessel.
  • the second vacuum vessel is preferably removable from the first vacuum vessel without breaking both vacuums.
  • Super The conducting magnet is preferably a superconducting magnet using a Helmholtz type coil. It is preferable to set the acceleration voltage of the electron source to 10 to 40 kV.
  • the superconducting magnet is accommodated—with the second vacuum vessel detached from the first vacuum vessel, the first vacuum vessel and the contained ion source electrode are sufficiently heated. And can be degassed.
  • the first vacuum vessel for generating multivalent ions can be brought to an extremely high vacuum in a short time. Therefore, in the multivalent ion generation source of the present invention, the ion source electrode can be started up in a short time, so that a multivalent ion generation source with excellent operability and maintainability can be realized.
  • the charged particle beam apparatus of the present invention is characterized by using the above-mentioned multivalent ion generation source and irradiating the sample surface with multivalent ions.
  • Another configuration of the charged particle beam device includes an ion source including a drift tube and a collector serving as an electron source and a ion confinement region, an electrode, a superconducting magnet for ion confinement, and ion introduction. Means, a first vacuum vessel containing an ion source electrode, a second vacuum vessel containing the superconducting magnet, and a vacuum exhaust disposed in each of the first vacuum vessel and the second vacuum vessel.
  • a third vacuum vessel connected to the multivalent ion generation source, and a vacuum exhaust device thereof, and further comprising:
  • the ion separator and the sample stage are arranged on the sample stage, and the sample is placed on the sample stage, so that a desired multivalent ion is selected from the multivalent ions generated by the multivalent ion source by the ion separator. Irradiate the sample surface And it is characterized in and.
  • the charged particle beam device preferably further includes a sample observation device and / or a sample surface treatment device.
  • various multivalent ions generated from the multivalent ion generation source are irradiated with the sample by selecting a desired multivalent ion by the ion separator.
  • the surface cleaning device can clean the sample surface before the multi-ion irradiation.
  • the multivalent ion generation source since the multivalent ion generation source is small and light, it can be applied to a nano process.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a multiply-charged ion source according to the present invention.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view schematically showing the configuration of the electron source shown in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a polyvalent ion source having a solid ion source as the ion source.
  • FIG. 4 is a schematic block diagram for explaining a power source applied to the multivalent ion generation source of the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram schematically showing a configuration of a charged particle beam apparatus using the multiply-charged ion generation source of the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram showing a magnetic field generated by a superconducting magnet having a Helmholtz-type coil used in the multivalent ion generation source of the example.
  • Figure 7 shows the calculation results of the electron beam trajectory when electrons are accelerated at 40 keV in the multiply-charged ion source of the example.
  • (A) is near the force sword
  • (b) is It is a figure which shows the collector vicinity.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a multiply-charged ion source according to the present invention.
  • a multivalent ion generation source 1 of the present invention includes an ion source electrode 3 disposed in a first vacuum vessel 2 and a superconducting ion confinement disposed in a second vacuum vessel 10.
  • a conductive magnet 11 and a gas ion introducing means 20 are provided.
  • the ion source electrode 3 includes an electron source 4, a drift tube 5 serving as an ion confinement region, and a collector 6.
  • the first and second vacuum devices 2 and 10 have independent configurations, but the first vacuum device 2 is disposed so as to pass through the inside of the second vacuum device 10. That is, in this embodiment, the first vacuum vessel 10 is formed in a cylindrical shape with an annular cross section and open at both ends. Thus, the first vacuum device 1 is arranged through the ring of the cylindrical first vacuum vessel 10. A superconducting magnet 11 is annularly arranged inside a cylindrical second vacuum vessel 10.
  • the first vacuum vessel 2 and the second vacuum vessel 10 are evacuated independently by the vacuum evacuation devices 15 and 16, respectively.
  • the first vacuum container 2 for Okai on occurrence, 1 X 1 0- 5 P a ( Pascal) or less, and especially 1 X 1 0- 3 P a hereinafter the extreme high vacuum.
  • the first vacuum vessel 2 is provided with baking means using a baking heater (not shown) for degassing. By using this baking means, the first vacuum vessel 2 can be baked to about 2500-300.
  • the first and second vacuum vessels 2 and 10 are formed of a material such that at least their opposing surfaces are applied with the magnetic field from the superconducting magnet 11 to the drift tube 5.
  • the nonmagnetic material austenitic stainless steel (for example, SUS-304, SUS-3116) or aluminum can be used.
  • a superconducting magnet 11 is accommodated in the second vacuum vessel 10 so as to be thermally cut off from the outside.
  • the superconducting magnet 11 is kept at a cryogenic temperature of, for example, 10 K ( ⁇ 26 3 ° C.). It is designed to be cooled.
  • the true ⁇ the second vacuum chamber 1 0 is a high vacuum of about 1 0- 4 P a. Baking means for obtaining such a high vacuum is not necessary.
  • a magnetic shield 18 is provided on the outer periphery of the first vacuum vessel 10 on the first vacuum vessel 2 side. The magnetic shield 18 is disposed so that the magnetic field from the superconducting magnet 11 does not leak to the electron source 4 of the ion source electrode 3 and the drift tube 5 on the collector 6 side.
  • the magnetic shield 18 may be made of a ferromagnetic material such as soft iron.
  • FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view schematically showing the configuration of the electron source 4 shown in FIG.
  • the electron source 4 is connected to the ultrahigh vacuum flange 2 a on the left side surface of the first vacuum vessel 2 via the support portion 2 b on the horizontal central axis of the first vacuum vessel 2. It is arranged.
  • the diameter of the void of the superconducting magnet 11 accommodated in the second vacuum vessel 10 is indicated by D. is doing.
  • the arrow in the figure indicates the exhaust path.
  • the electron source 4 is arranged from left to right in the order of a filament (force sword) electrode 4 a, a focus electrode 4 b, an anode electrode 4 c, and a snout electrode 4 d, each of which is a terminator 4 e, 4 e
  • the thread is 3 ⁇ 4 ⁇ .
  • the electron source 4 includes a backing coil 7 for setting the magnetic field in the vicinity of the force sword to 0 (zero), and is accommodated in the magnetic shield unit 8.
  • the above-mentioned force sword electrode 4a, anode electrode c, and snow electrode 4d and the insulators 4e, 4e are assembled by fitting together to increase the mutual axis. Match with accuracy.
  • the anode potential is 4 k + + 10 kV for the anode electrode 4 c and + 15 k for the snout electrode 4 d, based on the filament potential. V potential is applied.
  • the electron source 4 can be accommodated in the ultra-high vacuum flange 2 a having an outer diameter of 16 2 mm and an inner diameter of 10 2 mm, and the electron source 4 side of the second vacuum vessel 10 The diameter can be reduced to 1 52 mm.
  • the inner diameter of the ultra-high vacuum flange 2a is sufficiently larger than the diameters of the magnetic shield part 8 and the drift tube 5, the emitted gas from the electron source 4 region can be exhausted efficiently.
  • the annular gap of the second vacuum vessel 10 that accommodates the superconducting magnet 11, that is, the bore diameter of the superconducting magnet can be reduced.
  • the device of the multiply-charged ion source 1 can be downsized. By being able to reduce the size, the manufacturing cost and operating cost of the device can be reduced.
  • the drift tube 5 is composed of a cylindrical electrode divided into several parts, and both ends thereof have an electric field arrangement that forms a barrier (well-type potential) against ions.
  • the gas that becomes ions is introduced into the interior of the drift tube 5 from the side by the gas ion introduction means 20.
  • the stage 20 includes a gas source 20 a, a flow rate adjusting unit 2 O b, a piping unit 20 c into the first vacuum vessel 2, and the like.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a multivalent ion source having a solid ion source.
  • the multivalent ion generation source shown in FIG. 3 is different from the multivalent ion generation source shown in FIG. 1 in that a solid ion introduction means 22 is provided on the right side of the collector 6 instead of the gas ion introduction means 20. It is that you are.
  • a vacuum arc ion source or the like can be used in which needle-shaped solid material for generating desired ions is subjected to vacuum arc discharge and ionized (monovalent). Ions generated from the solid ion introduction means 2 2 pass through the collector 6 in the first vacuum vessel 2 and are injected into the drift tube 5.
  • the ions injected into the drift tube 5 by the ion introduction means consisting of the above gas ion introduction means 20 or solid ion introduction means 22 are confined in a well-type potential for a certain period of time, and the impact ionization by electrons proceeds. It becomes a multivalent ion.
  • these polyvalent ions the one that increases kinetic energy due to electron collision and exceeds the barrier is taken out of the multivalent ion source 1.
  • the multiplying ion beam jumps out by changing the electric field arrangement. Is generated.
  • the collector 6 is an electrode for collecting electrons passing through the drift tube 5 and is composed of electrodes such as a suppressor electrode, a collector electrode, and an extractor one electrode, for example.
  • the force sword and the collector 6 are applied with a voltage of about several tens of kV to about 300 kV with respect to the ground.
  • the acceleration voltage may be a voltage for obtaining a desired multivalent ion.
  • the electrons are applied with the maximum acceleration voltage immediately before entering the drift tube 5, and the electrons passing through the drift tube 5 are decelerated to about 2 to 3 kV before the collector 6 and collected by the collector 6. Therefore, the collector 6 collects the power of the product of this voltage and the electron beam current.
  • This power is 9 0 0 W when the voltage before the collector 6 is 3 kV and the electron beam current is 30 O mA, and when it hits the collector 6 in a narrowed state, The place melts. Accordingly, the collector 6 collects electrons while expanding the electron beam as an electrode structure cooled with a refrigerant.
  • the superconducting magnet 11 uses a so-called Helmholtz type coil composed of a first coil 1 la and a second coil 11 b.
  • the radius of the first coil 1 1 a and the second coil 1 1 b is a, and the distance between these coils is the same as the radius a, the magnetic field in the central part of the opposing coil is made uniform. be able to.
  • the superconducting magnet 11 is cooled by a closed cycle refrigerator using He (not shown) as a refrigerant, and is maintained in a superconducting state.
  • a feature of the multivalent ion generation source 1 of the present invention is that a superconducting magnet 11 for ion confinement is disposed in a second vacuum vessel 10, and an annular gap in the second vacuum vessel 10 is provided. That is, the first vacuum vessel 2 is inserted. That is, the first vacuum vessel 2 is inserted in the gap of the superconducting magnet 11.
  • the ion source 3 including the electron source 4, the drift tube 5, and the collector 6 is disposed in the first vacuum vessel 2.
  • the first vacuum vessel 10 that accommodates the superconducting magnet 11 can be detached without breaking the vacuum of the first vacuum vessel 2 and the like.
  • the multivalent ion generation source of the present invention is configured as described above. Next, the operation thereof will be described.
  • FIG. 4 is a schematic block diagram for explaining a power source applied to the multiply-charged ion source 1 of the present invention.
  • An example of an electron acceleration voltage of 40 kV is shown.
  • the filament of electron source 4 is 15 V, 2 A
  • the focus electrode is 50 V, 1 mA
  • the anode electrode is 10 kV
  • the snow electrode is 15 kV.
  • 1 mA power is added to the 130 kV power supply.
  • each electrode of the drift tube 5 has a first electrode 5 0 0 V and a second electrode 5 0 0 V on a 10 kV power source.
  • the third electrodes 50 OV are supplied by being added to each other.
  • the suppressor electrode, collector electrode, and extractor electrode of collector 6 are added with 2 kV, 3 kV, 50 OmA, and 13 reductions, respectively, to the -3 OkV power supply. Have been supplied.
  • Electrons generated from the electron source 4 pass through a drift tube 5 disposed in the magnetic field of the superconducting magnet 11.
  • a drift tube 5 disposed in the magnetic field of the superconducting magnet 11.
  • Electrons that have entered the drift tube 5 after being accelerated are compressed by the strong magnetic field formed in the drift tube 5 by the superconducting magnet 11, and have an electron beam with a large current density (: ⁇ 100 OA / cm 2 ).
  • collector 6 collects the gas after decelerating to about 2-3 kV. The electrons are applied with the maximum acceleration voltage immediately before the drift tube 5.
  • the gas to be ions introduced from the gas ion introduction means 20 is ionized in the drift tube 5.
  • the electrode of the drift tube 5 is divided into several parts, and a potential is applied to both ends so that a barrier (well-type potential) is formed against ions. Ions are confined in this well-type potential for a certain period of time, and gas atoms are ionized by repeatedly colliding with an electron beam. Impact ionization by electrons proceeds and becomes multivalent ions. Among these multiply charged ions, the kinetic energy increases due to electron collision and exceeds the barrier, and is taken out of the ion source.
  • the intensity of the resulting multiply charged ion beam 24 is proportional to the length L 1 of the drift tube 5 in which ions are trapped (see Fig. 1) and the emission current, and the time until the ionization degree reaches the ultimate is Proportional to current density. If the drift tube 5 is too long, plasma instability will appear and high ionization polyion will not be possible.
  • the electron beam current density increases as the magnetic field strength applied to the drift tube 5 by the superconducting magnet 11 increases (however, it is not proportional). For this reason, the intensity of the multiply-charged ion beam 24 obtained per unit time can be increased as the electron beam current density is higher and the trap region is longer.
  • the above multivalent ion generation mechanism is the same as the conventional multivalent ion generation source.
  • a feature of the present invention is that a vacuum exhaust device 15 for the first vacuum vessel 2 that houses the ion source electrode 3 and a vacuum exhaust for the first vacuum vessel 10 that contains the superconducting magnet 11 1.
  • the device 16 can be detached and detached. For this reason, the first vacuum vessel 2 and the ion source electrode 3 accommodated in the second vacuum vessel 10 containing the superconducting magnet 11 are sufficiently separated from the first vacuum vessel 2. Can be degassed by heating.
  • the first vacuum vessel 2 for generating multiply charged ions can be made an extremely high vacuum in a short time.
  • the ion source electrode 3 can be started up in a short time, so that the highly-charged ion source 1 having excellent operability and maintainability is realized. be able to.
  • FIG. 5 is a diagram schematically showing a configuration of a charged particle beam device 30 using the multiply-charged ion source 1 of the present invention.
  • the third vacuum vessel 31 is connected to the multivalent ion generation source 1, and the third vacuum vessel 31 is included in the third vacuum vessel 31.
  • the third vacuum vessel 3 1 is evacuated by the evacuation device 3 5 independently of the evacuation devices 15 and 16 of the multivalent ion generation source 1.
  • the ion separator 32 is provided for selecting a desired multivalent ion from various multivalent ions generated from the multivalent ion source 1.
  • an analysis magnet deflection magnet
  • a Wien filter using a magnetic field and an electric field, or the like can be used as the ion separator 3 2.
  • the sample stage 34 can use an XYZ stage or the like so that its position can be controlled.
  • the charged particle beam device 30 may include a sample surface observation device 36.
  • an observation apparatus include an electron beam diffraction apparatus, a scanning electron microscope (S E M), a scanning tunneling microscope (S TM), and a secondary ion mass spectrometer (S I M S).
  • a sample surface treatment apparatus 37 may be provided. Examples of such a surface treatment apparatus include a surface cleaning apparatus and a vapor deposition apparatus.
  • the various multivalent ions generated from the multivalent ion source 1 are irradiated with the sample by selecting the desired multivalent ions in the ion separator 3 2.
  • the surface of the sample can be cleaned by the surface cleaning device 37 before irradiation with the multiply charged ions.
  • the observation device 36 can be used to observe the shape of the sample and its crystal state during irradiation with multiply charged ions. According to the charged particle beam apparatus 30 using the multiply-charged ion source 1 of the present invention, since the multi-charged ion source 1 is small and light, it can be applied to a nano process.
  • an acceleration voltage of 10 to 40 kV, an electron beam current of 30 O mA, an ion confinement magnetic field of 3 T, and a commercially available superconducting magnet as a superconducting coil is separated from an electron beam and ion beam.
  • the polyvalent ion source 1 disposed in the second vacuum vessel 10 was manufactured (see FIGS. 1 and 2).
  • a Helmholtz coil type was adopted as the superconducting coil, and the ion confinement region was widened by using a drift tube 5 having a length of 200 mm.
  • FIG. 6 is a diagram showing a magnetic field generated by a superconducting magnet T1 having a Helmholtz-type coil used in the multiply-charged ion source 1 of the example.
  • the horizontal axis indicates the distance (mm) in the horizontal axis from the cathode to the collector 6, and the vertical axis indicates the magnetic field (Tesla (T)) formed in the first vacuum vessel 2.
  • the maximum magnetic field is 3 T
  • the uniform magnetic field range of 5% from the maximum magnetic field is 10 Omm. For this reason, if the length of the drift tube 5 ′ was 100 to 20 Omm, a substantially uniform magnetic field could be formed at the center.
  • Figure 7 shows the calculation results of the electron beam trajectory when electrons are accelerated at 40 keV in the multiply-charged ion source 1 of the example.
  • (A) is near the force sword
  • (b) is the collector It is a figure which shows the vicinity.
  • the horizontal axis (a) is from the force sword
  • (b) is from the left end of the collector
  • the vertical axis is from the horizontal axis (X) to the vertical direction (Y
  • the distance (mm) to) is shown.
  • the calculation of the electron beam trajectory was performed using the TriComp 2 D (Fiedel Frecione on) software.
  • Beam direction Horizontal Vertical Table 1 compares the EBIT of the multivalent ion source 1 of the example and the conventional example 3.
  • the maximum accelerating voltage of the multiply-charged ion source 1 in the example is 40 kV necessary for ionizing xenon, the maximum electron beam current is 30 mA, and cooling of the superconducting magnet right 1 1 is a closed cycle.
  • the magnetic field strength is 3 T, and the beam of multiply charged ions can be emitted horizontally.
  • the maximum acceleration voltage is 30 kV to ionize uranium
  • the maximum electron beam current is 30 O mA
  • the superconducting magnet is cooled by a liquid He tank.
  • the magnetic field strength is 4.5 T, and the beam of multiply charged ions can be emitted in the vertical direction.
  • the major difference between the multivalent ion source 1 of the present invention and the EBIT of the conventional example 3 is its size (height X width L 2). In the present invention, 0.6 mx 1 m, respectively, Then it is 3 m X 2 m. As described above, the multivalent ion source 1 of the present invention can be made smaller in size than the EBIT of Conventional Example 3.
  • the multivalent ion generation source of Conventional Example 3 was a large apparatus of 3 mx 2 m (vertical type), but in the embodiment, a compact apparatus of 0.6 mx lm (horizontal type)
  • a highly-charged ion source 1 having equivalent or better performance can be realized from the viewpoint of application to nanoprocesses.
  • the superconducting magnet 11 was accommodated in a second vacuum vessel 10 different from the first vacuum vessel 2 in which an electron beam and an ion beam were accommodated, thereby facilitating device fabrication.
  • a second vacuum vessel 10 different from the first vacuum vessel 2 in which an electron beam and an ion beam were accommodated, thereby facilitating device fabrication.
  • a nanoprocess using multivalent ions can be performed.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope of the invention described in the claims, and it goes without saying that these are also included in the scope of the present invention.
  • the ion source electrode configuration including the drift tube and collector serving as the electron source and the ion confinement region and the magnetic field strength of the superconducting magnet are appropriately changed according to the acceleration voltage and the electron beam current it can.
  • the first vacuum vessel for generating multiply-charged ions can be brought to an extremely high vacuum in a short time, so that the ion source electrode can be started up in a short time. Therefore, a highly-charged ion source with excellent operability and maintainability can be realized.
  • this device is small and light and can be manufactured at low cost.
  • the multivalent ion generation source since the multivalent ion generation source is used, in addition to providing a small and lightweight charged particle beam apparatus, it is possible to start up the vacuum in a short time. Excellent operability and maintainability. Therefore, it can be suitably used for nanoprocesses.

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Abstract

製造が容易で、操作性及び保守性に優れ、電離度が高く、ビーム強度の大きい多価イオン発生源とそれを用いた荷電粒子ビーム装置であって、多価イオン発生源は、電子源(4)とイオン閉じ込め領域となるドリフトチューブ(5)とコレクタ(6)とからなるイオン源電極(3)と、イオン閉じ込めのための超伝導磁石(11)と、イオン導入手段(20,22)と、さらにイオン源電極(3)を収容した第1の真空容器(2)と、超伝導磁石(11)を収容した第2の真空容器(10)と、第1の真空容器及び第2の真空容器にそれぞれ配設した真空排気装置(15,16)とで成る。第1の真空容器(2)と第2の真空容器(10)は着脱可能であり、極高真空が必要なイオン源電極(3)のみを容易にベーキングできる。

Description

多価ィォン発生源およびこの発生源を用 ヽた荷電粒子ビーム装置 技術分野
本発明は、 多価イオン発生源とこの多価イオン発生源を用いた荷電粒子ビーム 装置に関する。 明 背景細技術
原子から電子を取り除くと正のイアンができるが、 例えば X e 4 4 + イオンのよ うに、 電子を 2個以上取り去つたものを正の多価イオンと言う。 多価イオンは極 めて大きな内部エネルギーを持っており、 多価イオンが固体表面と衝突すると、 多数の二次電子が放出されたり、 多価ィォンの入射点まわりにナノメートルの大 きさの構造変化が誘起されるなど、数多くの特異な現象が起こることが知られて いる (下記文献 1及び 2参照) 。 この多価イオンと物質の特異な相互作用は、単 一イオンィンプランテーションゃ量子ドット作製などのナノメートル領域のプロ セス技術に応用できる可能性があり、 注目を集めている (下記文献 3参照) 。 こ のような多価イオンを生成するイオン源としては、 電子サイクロトロン共鳴 (E C R) 型イオン源 (E C R I S ) と、 電子ビーム型イオン源 ( E B I S ) とが一 般に知られている。 後者は得られるィォンの電離度が高いという特徴がある。 従来例 1の E B I Sとしては、 原子物理学の研究用に開発された核融合研究所 の装置が公知である (例えば、 下記文献 4参照)。 この装置は、 電子源 (カソ一 'ド) 、 ドリフトチューブ、 コレクタ、 ソレノィド磁石、 イオン引き出し用レンズ などから構成されており、 力ソ ドから出射した電子は、 磁場中に配置されたド リフトチューブを通り、 コレクタに捕集される。 電子は、 ドリフトチューブに形 成される強磁場で圧縮され大電流密度の電子ビームとなっている。 一方、 カソ一 ド付近から導入された気体はドリフトチュー 内でイオン化される。 ドリフトチ ューブ電極は幾つかに分割されており、 両端がィォンに対して障壁を有する井戸 型ポテンシャルが形成されるように電位が与えられている。 イオンは一定時間、 この井戸型ポテンシャル内に閉じ込められ、電子による衝突電離が進み、 多価ィ オンとなる。 この多価イオンのうち、 電子の衝突により運動エネルギーが増加し 障壁を越えたものが、 イオン引き出し用レンズ側に導かれること(こより、 多価ィ ォンがィォン源タ部に取り出される。
さらに、 1 9 8 8年には、従来例 1の E B I Sを改良した従来例 2の E B I T (電子ビームイオントラップ) が開発された (下記文献 5参照) 。 この従来例 2 の E B I Tの多価イオン発生原理は E B I Sと同じであるが、超伝導ヘルムホル ッ型コイルを用い、 ドリフトチューブを従来よりも短くして、 ドリフトチューブ 内のプラズマの不安定性を回避することによりイオンの閉じ込め時間を改善し、 高価数の多価イオンを安定に保持できるようにしたものである。 このため、 E B I Tでは、 ドリフトチューブでの電子ビームの絞込みを究極まで行い、高電離ィ ォンを生成することを可能にした。
また、 従来例 3の E B I Tとして、 ウラン (U ) まで完全電離できるように、 電子の加速電圧を最大 3 0 O k Vとした装置が、 本発明者らにより開発されてい る (下記文献 6参照。 ) 。 この E B I Tは、 原子物理学の研究のために開発され たもので、 生成可能な多価イオンの内部エネルギーとしては世界最高の性能を持 つている。 しかしながら、 高ビーム強度を得るために装置が高価であることと、 運転コストが高いという課題がある。
また、 従来例 4として、 米国ローレンスバークレー研究所において、 E B I T の超伝導磁石を閉サイクル冷凍機で冷却する形式の R E B I Tが開発されている (下記文献 7参照) 。
従来例 5の E B I Tの市販品としては、 ドイツのドレスデン工科大学がライポ ルト社と共同で永久磁石を使ったものを開発しているが、永久磁石は磁場が弱い ため、超伝導磁石を用いた E B I Tなどよりもビ一ム強度が弱い (下記文献 8参 照) 。
従来例 6の E B I Sとして、 米国プルックヘブン研究所の装置は、超伝導磁石 を、 イオン生成に必要な電子源、 ドリフトチューブ、 コレクタ (ここでは、 これ らをまとめて、 イオン源電極と呼ぶ) と、 分離している (下記文献 9参照) 。 し かし、 この装置では、超伝導磁石をイオン源電極と分離する際には、 イオン源電 極の真空を破る必要がある。 このため、従来例 6の EB I Sでは、超伝導磁石部 分の耐熱性が弱いため、非常に長期間排気を続けないと十分な真空度が得られな い。 また、 EB I Sでは、 電子源、 ドリフトチューブ及びコレクタ相互の中心軸 を精度良く調整する必要があるが、 超伝導磁石を組まない状態では、 イオン源電 極単体での軸合わせをすることができず、 組立及び調整に多大の時間が必要であ つた。
文献 1 : J.W. McDonald, D. Schneider, M.W. Clark and D. DeWitt, Phys.
Rev. Lett. , Vol.68, (1992), p.2297
文献 2 :T. Meguro et al., Appl. Phys. Lett. , Vol.79, (2001), p.3866 文献 3 : T. Schenkel et al., Appl. Phys. , Vol. 94, (2003), p.7017 文献 4 :小林 信夫、 大谷 俊介 他 7名、 名古屋大学プラズマ研究所資料
'技術報告、 I PP J-DT- 8 . 1 98 1年
文献 5 : M. A. Levin他 7名, Physica Scr., T22, 1988, p.157
文献 6 :大谷俊介、桜井誠、 プラズマ '核融合学会誌、 73、 (1997)、 p. 10
63
文献 7 : フィジックス 'アンド 'テクノロジ一社 (Physics & Technology) 、 「冷凍機冷却電子ビームイオントラップノイオン源」 (REB I TS/S) 、 [online] 、 (掲載日不明) 、 [平成 1 6年 1 0月 5日検索]、インターネット <URL:http://www. physics techno logy, com/pt brochure, pdf >
文献 8 : G. Zschrnack, 「ドレスデンェビッ ト」 (The Dresden EB IT) 、 [ online] 、 (掲載曰不明) 、 ドレスデン工科大学原子物理グループ (atomic phy sics group, Technical University Dresden; 、 [平成 1 6年 1 0月 5日検索] 、 ィン夕一ネッ卜く URL:http://www. physik. tu-dresden. de/apg/apeebitl. htm> 文献 9 : N . Beebe et al., Rev. Sci. Instrum., Vol.73, (2002), p.699 従来例 1〜 5の多価ィォン発生源は、電子源とドリフトチューブとコレクタか らなるイオン源電極及び超伝導磁石を同一真空室内に配置しており、 さらに、 ビ —ム弓 ¾J¾が弱いことから、製作、調整、運転、保守に多大な時間とコストを要す る。
さらに、従来例 6の多価イオン発生源のように、超伝導磁石をイオン生成に必 要なィォン源電極から分離している例があるが、 超伝導磁石をィォン源電極と分 離する際、 イオン源電極の真空を破る必要があった。 このため、 超伝導磁石を組 み込まない状態では、 ィォン源電極単体での軸あわせをすることができず、 組立 及び調整に多大の時間を要する。
このように、 従来例 1〜6の多価イオン発生源は何れも原子核物理の研究用で あるために、 操作 ¾E、 保守性に欠点を有しており、 さらに、 ビーム強度が弱いた め、例えば、 ナノ構造体 (ナノメートルオーダ一の微細なデバイス) を形成する ための加工に用いるための実用的な多価イオン発生源が実現されていない。 発明の開示
本発明は、 上記課題に鑑み、製造が容易で、操作性及び保守性に優れ、 電献 が高く、 ビーム の大きい多価ィォン発生源とそれを用いた荷電粒子ビーム装 置を提供することを目的としている。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、 イオン源電極を 同一真空容器内に配置し、超伝導磁石を異なる真空容器内に配置することで、製 造、 組立、調整が容易で、操作性 '保守性に優れている多価イオン発生源を実現 することを見出した。 また、加速電圧を 4 O k V以下に低速ィヒし、 これに最適な ィォン源電極形状と超伝導コィルとにより構成することで、 多価ィォンビームの 高強度化、 小型ィヒを図り、 本発明を完成させるに至った。
上記の課題を解決するため、 本発明の多価イオン発生源は、電子源とイオン閉 じ込め領域となるドリフトチューブとコレクタとからなるイオン源電極と、 ィォ ン閉じ込めのための超伝導磁石と、 イオン導入手段と、 を具備し、 さらにこの多 価イオン発生源は、 上記イオン源電極を収容した第 1の真空容器と、上記超伝導 磁石を収容した第 2の真空容器と、 を備えると共に、 第 1の真空容器及び第 2の 真空容器に、 それぞれ真空排気装置が配設されていることを特徴とするものであ る。
上記構成において、好ましくは、第 2の真空容器は断面環状に形成され、第 1 の真空容器がこの第 の真空容器の環中を揷通して配置される。 第 2の真空容器 は、好ましくは、 第 1の真空容器から両者の真空を破らずに脱着可能である。 超 伝導磁石は、 好ましくは、 ヘルムホルツ型コイルを用いる超伝導磁石である。 電 子源の加速電圧を 1 0〜 4 0 k Vに設定すれば好ましい。
上記構成によれば、超伝導磁石を収容する-第 2の真空容器を、 第 1の真空容器 から脱離させた状態で、第 1の真空容器及び収容されているイオン源電極を十分 に加熱して、 脱ガスをすることができる。 これにより、 多価イオン発生のための 第 1の真空容器を、 短時間で極高真空とすることができる。 'したがって、本発明 の多価ィォン発生源においては、 ィォン源電極の真空立ち上げが短時間で済むの で、操作性、 保守性に優れた、 多価イオン発生源を実現することができる。 本発明の荷電粒子ビーム装置は、上記の多価イオン発生源を用い、試料表面に 多価ィォンを照射することを特徴とする。
本発明の荷電粒子ビ一ム装置の他の構成は、 電子源とィォン閉じ込め領域とな るドリフトチューブとコレクタとからなるイオン源、電極と、 イオン閉じ込めのた めの超伝導磁石と、 イオン導入手段と、 さらに、 イオン源電極を収容した第 1の 真空容器と、 上記超伝導磁石を収容した第 2の真空容器と、 第 1の真空容器及び 第 2の真空容器にそれぞれ配設した真空排気系とを備える多価イオン発生源を具 備すると共に、 さらに、 上記多価ィォン発生源に接続された第 3の真空容器及び その真空排気装置と、 を備えていて、 第 3の真空容器内にイオン分離器と試料台 とを配設し、試料台に試料を載置することにより、上記多価ィォン発生源で発生 した多価ィォンから所望の多価ィオンをィォン分離器により選択して試料表面に 照射することを特徴とするものである。
上記構成において、好ましくは、荷電粒子ビーム装置は、 さらに、試料の観察 装置及び/又は試料の表面処理装置を備えている。
上記構成によれば、 多価イオン発生源から発生した種々の多価イオンは、 ィォ ン分離器で所望の多価ィォンが選択されて、試料に照射される。 表面清浄化装置 により、 多価ィォン照射前に試料表面を洗浄することがができる。 また、 多価ィ オン照射時の試料形状やその結晶状態などが観察装置によりその場観察が可能で ある。 本発明の多価イオン発生源を用いた荷電粒子ビーム装置によれば、 多価ィ ォン発生源が小型軽量であるので、 ナノプロセスへ応用することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、本発明による多価イオン発生源の構成を模式的に示す断面図である。 図 2は、 図 1に示す電子源の構成 模式的 示す拡大断面図である
図 3ほ、 ィォン源として固体のィォン源を有する多価ィォン発生源の構成を模 式的に示す断面図である。
図 4は、本発明の多価イオン発生源に印加される電源を説明するための模式的 なブロック図 ある。
図 5は、本発明の多価イオン発生源を用いた荷電粒子ビーム装置の構成を模式 的に示す図である。
図 6は、実施例の多価イオン発生源に用いるヘルムホルツ型コイルを有する超 伝導磁石による磁場を示す図である。
図 7は、実施例の多価イオン発生源において、電子を 4 0 k e Vで加速したと きの電子ビーム軌道の計算結果を示す図であり、 (a ) が力ソード近傍、 (b ) がコレクタ近傍を示す図である。 発明を実施するための最良の形態
本発明は、 以下の詳細な発明及び本発明の幾つかの実施の形態を示す添付図面 に基づいて、 より良く理解されるものとなろう。 なお、添付図面に示す種々の実 施例は本発明を特定または限定することを意図するものではなく、単に本発明の 説明及び理解を容易とするためだけのものである。
図 1は、 本発明による多価イオン発生源の構成を模式的に示す断面図である。 図 1において、 本発明の多価イオン発生源 1は、第 1の真空容器 2内に配置され るイオン源電極 3と、第 2の真空容器 1 0内に配置されるイオン閉じ込めのため の超伝導磁石 1 1と、 気体イオン導入手段 2 0とを具備して構成されている。 ィ オン源電極 3は、電子源 4とイオン閉じ込め領域となるドリフトチューブ 5とコ レク夕 6とから構成されている。
上記第 1, 第 2の真空装置 2, 1 0は独立構成であるが、 第 1の真空装置 2は 第 2の真空装置 1 0の内部を揷通するように配置されている。 すなわち、本実施 態様では、第 の真空容器 1 0は断面環状で両端が開放した筒状に形成されてい て、 この筒状の第 の真空容器 1 0の環内に第 1の真空装置 1が揷通して配置さ れている。 筒状の第 2の真空容器 1 0の内部に超伝導磁石 1 1が環状に配設され て構成されている。
第 1の真空容器 2及び第 2の真空容器 1 0は、 それぞれ、 真空排気装置 1 5, 1 6により独立に排気されるように'なっている。 第 1の真空容器 2内は、 多価ィ オン発生のためには、 1 X 1 0— 5P a (パスカル)以下、特に 1 X 1 0— 3P a以 下の極高真空とする。 例えば、 U92+ の生成には 1 0— 1Q P a ( 1 0— 12 To r r ) の真空が必要である。 このため、第 1の真空容器 2は、脱ガスのために、 図 示しないベーキング用ヒータなどを用いたベ一キング手段を備えている。 このべ 一キング手段を用いることで、 第 1の真空容器 2は、 2 5 0〜3 00で程度にま でべ一キングすることができる。
ここで、第 1及び第 2の真空容器 2, 1 0は、少なくともそれらの対向面が、 超伝導磁石 1 1からの磁場がドリフトチューブ 5に印加されるように、 !¾性材 料から形成されている。 非磁性材料としては、 オーステナイト系ステンレス鋼 ( 例えば、 SUS— 3 04, SUS- 3 1 6 ) やアルミニウムを用いることができ る。
第 2の真空容器 1 0には、外部と熱的に遮断するために超伝導磁石 1 1が収容 され、 この超伝導磁石 1 1は、例えば 1 0K (- 26 3°C) の極低温に冷却され るようになっている。 また、第 2の真空容器 1 0の真孥度は、 1 0— 4P a程度の 高真空にされる。 このような高真空を得るためのベーキング手段は不要である。 第 の真空容器 1 0の第 1真空容器 2側の外周部には、磁気シールド 1 8が設け られている。 この磁気シールド 1 8は、超伝導磁石 1 1からの磁場が、 イオン源 電極 3の電子源 4及びコレクタ 6側のドリフトチュ一ブ 5に漏れないようにする ために配設するものである。 この磁気シールド 1 8には、 軟鉄などの強磁性材料 を用いればよい。
図 2は図 1に示す電子源 4の構成を模式的に示す拡大断面図である。 図示する ように、 電子源 4は、第 1の真空容器 2の左側面の超高真空用フランジ 2 aに支 持部 2 bを介して、 第 1の真空容器 2の水平方向の中心軸上に配設されている。 第 2の真空容器 1 0内に収容した超伝導磁石 1 1の空隙 (ボア) の直径は Dで示 している。 図中の矢印は排気経路を示している。 電子源 4は、 左から右方向に、 フィラメント (力ソード) 電極 4 a、 フォーカス電極 4 b、 アノード電極 4 c、 スノート電極 4 dの順に配置され、 それぞれが、終禄碍子 4 e , 4 eに り糸 ¾禄 されている。 電子源 4は、 力ソード近傍の磁場を 0 (零) とするためのバッキン グコイル (B u c k i n g c o i l ) 7を備え、磁気シールド部 8に収容され ている。
ここで、 電子源 4から発生される電子ビームを、 ドリフトチューブ 5に当てる ことなくコレクタ 6に導く必要がある。 このため、上記の力ソード電極 4 a、 ァ ノ一ド電極 c及びスノ一ト電極 4 dの各電極と絶縁碍子 4 e , 4 eとは、 嵌め 合いにより組み立てることで、相互の軸を高い精度で一致させている。 一例とし て、 3 0 O mAの電流を力ソード電極 4 aから引き出す際は、 フィラメント電位 を基準にして、 アノード電極 4 cには + 1 0 k V、 スノート電極 4 dには + 1 5 k Vの電位を与える。 このように、各電極とバッキングコイル 7及び磁気シール ド部 8には最大 + 1 5 k Vの高電圧がかかるが、 各部品を小型化することで相互 の絶縁を確保しながら、磁気シールド部 8の直径を I 0 O mmに抑えることがで きる。 この場合には、外径が 1 6 2 mmで内径が 1 0 2 mmの超高真空フランジ 2 aに電子源 4を収容することができ、第 2の真空容器 1 0の電子源 4側の直径 を 1 5 2 mmに抑えることができる。
超高真空フランジ 2 aの内径は、 磁気シールド部 8及びドリフトチューブ 5の 直径よりも十分大きいので、 電子源 4領域からの放出ガスを効率良く排気するこ とができる。 このように、 電子源 4の^去を小さくすることで、 超伝導磁石 1 1 を収容する第 2の真空容器 1 0の環状の空隙、即ち超伝導磁石のボア径を小さく することができる。 これにより、 多価イオン発生源 1の装置の小型化が実現でき る。 小型ィ匕できることにより、 装置の製造コスト及び運転コストの低減ィ匕が図れ る。
ドリフトチューブ 5は、幾つかに分割された円筒形電極から構成されていて、 その両端が、 イオンに対して、 障壁 (井戸型ポテンシャル) を形成するような電 場配置となっている。 イオンとなる気体は、 気体イオン導入手段 2 0により、 ド リフトチューブ 5側面から、 その内部に導入される。 ここで、 気体イオン導入手 段 2 0は、 気体源 2 0 a , 流量調整部 2 O b , 第 1の真空容器 2内への配管部 2 0 cなどから構成されている。
一方、 固体をイオンとする場合には、 ゾ一スと Iて固体イオン源を用いればよ い。 図 3は、 固体のイオン源を有する多価イオン発生源の構成を模式的に示す断 面図である。 図 3に示す多価イオン発生源が、 図 1に示す多価イオン発生源と異 なるのは、 気体ィォン導入手段 2 0の代わりに、 コレクタ 6の右側に固体ィォン 導入手段 2 2を備えていることである。 このような固体イオン導入手段 2 2は、 所望のイオンを発生させる針状の固体材料を真空アーク放電させ、 イオン化 ( 1 価) させる真空アーク型イオン源などを用いることができる。 固体イオン導入手 段 2 2から発生したイオンは、 第 1の真空容器 2中で、 コレクタ 6を通過して、 ドリフトチューブ 5に注入される。
上記の気体イオン導入手段 2 0又は固体イオン導入手段 2 2からなるイオン導 入手段によりドリフトチューブ 5に注入されるイオンは、.一定時間、井戸型ポテ ンシャルに閉じ込められ、 電子による衝突電離が進み、 多価イオンとなる。 この 多価ィオンのうち、 電子の衝突により運動エネルギ一が増加して障壁を越えたも のが、 多価ィォン発生源 1の外部に取り出される。 イオンの電離度が究極、即ち 、 これ以上電子を当て続けても電離が進まない状態に達したときに、 電場配置を 変えて多価イオンが外に飛び出すようにして、 多価イオンビーム 2 4を生成させ る。
コレクタ 6は、 ドリフトチューブ 5を通過する電子を捕集するための電極であ り、例えば、 サプレッサ電極、 コレク夕電極、 ェクストラクタ一電極などの電極 から構成されている。 力ソード及びコレクタ 6には、 アースに対して、 最大一数 十 k Vから一 3 0 0 k V程度の電圧が印加されている。 この加速電圧は、所望の 多価イオンが得られるための電圧であればよい。 電子は、 ドリフトチューブ 5の 入射直前に最大加速電圧が印加され、 ドリフトチューブ 5を通過した電子は、 コ レクタ 6の手前で 2〜 3 k V程度に減速されてコレクタ 6に捕集される。 このた め、 コレクタ 6には、 この電圧と電子ビーム電流との積の電力が捕集される。 こ の電力は、上記コレクタ 6手前の電圧が 3 k Vで電子ビーム電流が 3 0 O mAの 場合には、 9 0 0 Wとなり、絞られた状態でコレクタ 6に当たると、 当たった場 所が溶ける。 したがって、 コレクタ 6は、 冷媒で冷却した電極構造として、 電子 ビームを広げながら電子を捕集するようになつている。
次に、超伝導磁石について説明する。 図 ί及び図 3に示すように、超伝導磁石 1 1は第 1のコイル 1 l a及び第 2のコイル 1 1 bからなる、所謂ヘルムホルツ 型コイルを用いている。 第 1のコイル 1 1 a及び第 2のコイル 1 1 bの半径を a とし、 これらのコイルの間隔を半径 aと同じ aとしたときに、対向するコイルの 中央部分の磁場を一様にすることができる。 ここで、 超伝導磁石 1 1は、 図示し ない H eを冷媒とするクライオスタツトゃ閉サイクル冷凍機により冷却されて、 超伝導状態に保持される。
本発明の多価ィォン発生源 1の特徴は、第 2の真空容器 1 0内にィォン閉じ込 めのための超伝導磁石 1 1が配置され、第 2の真空容器 1 0の環状の空隙に第 1 の真空容器 2が挿入されていることである。 つまり、 超伝導磁石 1 1の空隙 (ポ ァ) 内に、第 1の真空容器 2が挿入されていることである。 上記のように、 この 第 1の真空容器 2内には、 電子源 4、 ドリフトチューブ 5及びコレクタ 6からな るィォン源 3が配置されている。
超伝導磁石 1 1を収容する第 1の真空容器 1 0は、 第 1の真空容器 2力、ら、両 者の真空を破らずに脱着が可能である。 本発明では、 イオン源電極 3を第 1の真 空容器 2に収納したものを作ればよく、超伝導磁石 1 1は、 市販品を用いること ができるので製作が容易である。 このため、本発明の多価イオン発生源 1におい ては、従来の多価イオン発生源のように、超伝導磁石 1 1とイオン源電極 3とを 一体化した構造を精度良く製作する必要がない。
本発明の多価ィォン発生源は以上のように構成されており、 次にその動作につ いて説明する。
図 4は、本発明の多価イオン発生源 1に印加される電源を説明するための模式 的なブロック図である。 電子の加速電圧が 4 0 k Vの一例を示している。 図示す るように、電子源 4のフィラメントには 1 5 V, 2 A、 フォーカス電極には 5 0 V, 1 mA、 アノード電極には 1 0 k V、 スノ一ト電極には 1 5 k V, 1 mAの 電源が一 3 0 k Vの電源に上乗せされて供給されている。 また、 ドリフトチュー ブ 5の各電極には、 1 0 k Vの電源上に、 第 1電極 5 0 0 V、第 2電極 5 0 0 V 、第 3電極 5 0 O Vが、 それぞれ上乗せされて供給されている。 さらに、 コレク タ 6のサプレッサ電極、 コレクタ電極、 ェクストラクタ一電極には、 それぞれ、 2 k V、 3 k V , 5 0 O mA、 一 3 の竃減が ー 3 O k Vの電源に上乗せさ れて供給されている。
電子源 4から発生された電子は、超伝導磁石 1 1の磁場中に配置されたドリフ トチューブ 5を通る。 図 4に示す電源を用いた場合には、 電子源 4とドリフトチ ュ一ブ 5の間で、 電子が最大 4 O k Vまで加速される。 このカロ速されてドリフト チューブ 5に入射した電子は、超伝導磁石 1 1によりドリフトチューブ 5に形成 される強磁場で圧縮され、 大電流密度 (:〜 1 0 0 O A/ c m 2 ) の電子ビームと なり、 コレクタ 6に捕集される。 図 4に示す電源を用いた場合には、 コレクタ 6 には、 2〜3 k V位まで減速されて捕集される。 電子は、 ドリフトチューブ 5の 直前で最大加速電圧が印加されるようになっている。 原子を電離するためには、 束縛電子の電離エネルギー以上のエネルギ一を持った電子と衝突させなければな らないので、重元素 (例えば、 キセノン (X e ) など) を完全に電離させるには 1 s軌 の電離エネルギー (X eでは 3 5 k e V ) より高いエネルギーが必要で 、加速電圧 3 5 k V以上が必要である。
—方、 気体イオン導入手段 2 0から導入されるイオンとなる気体は、 ドリフト チューブ 5内でイオン化される。 ドリフトチューブ 5の電極は幾つかに分割され ており、 両端がイオンに対して障壁 (井戸型ポテンシャル) が形成されるように 電位が与えられている。 イオンは一定時間、 この井戸型ポテンシャルに閉じ込め られ、 気体の原子は、 電子ビームに繰り返し衝突させることにより電離が進む。 電子による衝突電離が進み、 多価イオンとなる。 この多価イオンのうち、 電子の 衝突により運動エネルギーが増加し障壁を越えたものが、 イオン源外部に取り出 される。
このように、 イオンの電離度が究極、即ち、 これ以上電子を当て続けても電離 が進まない状態に達したときに、電場配置を変えて多価ィォンが外に飛び出すよ うにして、 多価イオンビーム 2 4を生成させる。
このドリフトチューブ 5で生成した多価イオンが、 ドリフトチューブ 5から引 き出される際には、 図 4のドリフトチューブ 5とコレクタ 6間で 4 0 k Vでー且 加速され、第 1の真空容器 2を出る際は、 この真空容器 2はアース電位であるの で、 1 0 k Vまで減速されて出射する。
得られる多価イオンビーム 2 4の強度は、 イオンがトラップされているドリフ トチューブ 5の長さ L 1 (図 1参照) 及びエミッシヨン電流に比例し、 電離度が 究極に至るまでの時間は電子の電流密度に比例する。 なお、 ドリフトチューブ 5 の長さが長すぎる場合にはプラズマの不安定性が出現し、 高電離の多価ィォンが できなくなる。
また、 電子ビーム電流密度は、 超伝導磁石 1 1によりドリフトチューブ 5に印 加される磁場強度が高いほど高くなる (但し、 比例ではない) 。 このため、 単位 時間当たりに得られる多価イオンビーム 2 4の強度は、電子ビーム電流密度が高 く トラップ領域が長いほど高くすることができる。
上記の多価ィォン発生機構は、従来の多価ィォン発生源と同様である。
本発明の特徴は、 ィォン源電極 3を収納する第 1の真空容器 2のための真空排 気装置 1 5と、 超伝導磁石 1 1を収容する第 1の真空容器 1 0のための真空排気 装置 1 6とを、 着脱して、 分離することができる点にある。 このため、 超伝導磁 石 1 1を収容する第 2の真空容器 1 0を、第 1の真空容器 2から分離した状態で 、第 1の真空容器 2及び収容されているイオン源電極 3を十分に加熱して、 脱ガ スをすることができる。
したがって、 多価イオン発生のための第 1の真空容器 2を、短時間で、極高真 空とすることができる。 例えば、誤って電子ビームをドリフトチューブ 5に当て たときには、 本発明の多価ィォン発生源 1では、 ィォン源電極 3を収納した第 1 の真空容器 2のみ修理すればよい。 これにより、 本発明の多価イオン発生源 1に おいては、 イオン源電極 3の真空立ち上げが短時間で済むので、操作性、保守性 に優れた、 多価イオン発生源 1を実現することができる。
次に、 本発明の多価イオン発生源を用いた荷電粒子ビーム装置について説明す る。 図 5は、 本発明の多価イオン発生源 1を用いた荷電粒子ビーム装置 3 0の構 成を模式的に示す図である。 本発明の多価イオン発生源 1を用いた荷電粒子ビ一 ム装置 3 0は、 多価イオン発生源 1に第 3の真空容器 3 1が接続され、 第 3の真 空容器 3 1内に、 イオン分離器 3 2と試料 3 3を載置する試料台 3 4とを収納し ている。 第 3の真空容器 3 1は、 真空排気装蘆 3 5により、 多価イオン発生源 1 の真空排気装置 1 5, 1 6とは独立に真空排気される。
イオン分離器 3 2は、 多価イオン発生源 1から発生し 種々の多価イオン中か ら所望の多価イオンを選択するために設けられている。 イオン分離器 3 2として は、 分析磁石 (偏向磁石) や磁場及び電場によるウィーンフィルターなどを用い ることができる。 試料台 3 4は、 その位置が制御できるように X Y Zステージな どを用いることができる。
荷電粒子ビーム装置 3 0は試料表面の観察装置 3 6を備えていてもよい。 この ような観察装置としては、 電子線回折装置、走査型電子顕微鏡 (S E M) 、 走査 トンネル顕微鏡 ( S TM) 、 二次イオン質量分析装置 ( S I M S ) などが挙げら れる。 試料の表面処理装置 3 7を備えていてもよい。 このような表面処理装置と しては、表面清浄ィヒ装置や蒸着装置などが挙げられる。
次に、 本発明の多価イオン発生源 1を用いた荷電粒子ビーム装置 3 0の動作に ついて説明する。
多価イオン発生源 1から発生した種々の多価イオンは、 イオン分離器 3 2で所 望の多価イオンが選択されて、試料に照射される。 この際、表面清浄化装置 3 7 により、 多価イオン照射前に試料表面の洗浄ができる。 また、 多価イオン照射時 の試料形状やその結晶状態などが観察装置 3 6により、 その場観察ができる。 本 発明の多価イオン発生源 1を用いた荷電粒子ビーム装置 3 0によれば、 多価ィォ ン発生源 1が小型軽量であるので、 ナノプロセスへ応用することができる。 実施例
実施例として、 加速電圧 1 0〜4 0 k V、電子ビーム電流 3 0 O mA、 イオン 閉じ込め磁場 3 T、超伝導コイルとして市販の超伝導磁石 1 1を電子ビーム、 ィ ォンビ一ムとは別の第 2の真空容器 1 0内に配置した多価ィォン発生源 1を製作 した (図 1及び図 2参照) 。 超伝導コイルとしてヘルムホルツコイル型を採用し 、長さが 2 0 0 mmのドリフトチューブ 5を用いてイオン閉じ込め領域を広げる ことにより、 多価ィオンビーム 2 4の高強度化を達成した。
次に、実施例の多価イオン発生源 1の超伝導磁石による磁場と電子ビーム軌道 について説明する。
図 6は、実施例の多価イオン発生源 1に用いるヘルムホルツ型コイルを有する 超伝導磁石 T1による磁場を示す図である。 図において、 横軸はカソ ~ドからコ レクタ 6への水平軸方向距離(mm) を示し、 縦軸は第 1の真空容器 2内に形成 される磁場(テスラ (T) ) を示している。 図から明らかなように、 最大磁場は 3 Tであり、 最大磁場から 5%の範囲の均一磁場範囲は 1 0 Ommであることが 分かる。 このため、 ドリフトチューブ 5'の長さが 1 00〜20 Ommであれば、 その中央部にはほぼ均一の磁場を形成することができた。
図 7は、実施例の多価イオン発生源 1において、 電子を 40 k e Vで加速した ときの電子ビーム軌道の計算結果を示す図であり、 (a) が力ソード近傍、 (b ) がコレクタ近傍を示す図である。 図において、 横軸は (a) が力ソードから、 (b) がコレクタ左端から、 のそれぞれ、 水平軸方向距離 (mm) を示し、縦軸 は何れも水平軸 (X) から垂直方向 (Y) への距離 (mm) を示している。 この 電子ビーム軌道の計算は、 Tr i C omp 2 D (F i e l d Fr e c i s i on社製) ソフトウェアを用いて行った。
図 7 (a) から、 力ソードから出射した電子は、 アノードを通過すると、 直径 が 0. 1mm以下の電子ビームとなっていることが分かる。 図 7 (b) から、 コ レクタ 6に入射した電子は、徐々に広がってコレクタ電極に捕集されることが分 かる。
(表 1 ) 項目 実施例 従来例 3
*大加速電圧 (kV) 40 300 最大電子ビーム電流 (mA) 300 300
磁場強度 (τ) 3 4.5 超伝導磁石の冷却方法 閉サイクル冷凍機 液体 Heタンク 寸法(高さ(m) X幅(m)) 0.6 X 1 3X2
ビーム方向 水平 垂直 表 1は、実施例の多価ィォン発生源 1と従来例 3の E B I Tとを比較したもの である。 実施例の多価イオン発生源 1の最大加速電圧はキセノンをイオン化する ために必要な 4 0 k V、 最大電子ビーム電流は 3 0 O mA、'超伝導磁右 1 1の冷 却は閉サイクル冷凍機で行い、 その磁場強度は 3 Tであり、 多価イオンのビーム は水平方向に出射させることができる。
一方、 従来例 3の E B I T (文献 6 ) では、 最大加速電圧はウランをイオン化 するために 3 0 0 k V、 最大電子ビーム電流は 3 0 O mA、超伝導磁石の冷却は 液体 H eタンクで行い、 その磁場強度は 4 . 5 Tであり、 多価イオンのビ一ムは 垂直方向に出射させることができる。
本発明の多価イオン発生源 1と、従来例 3の E B I Tとの大きな違いは、 その サイズ (高さ X幅 L 2 ) であり、 それぞれ、本発明では 0 . 6 m x 1 m、従来例 3では 3 m X 2 mである。 このように、本発明の多価ィォン発生源 1は、従来例 3の E B I Tに対して小型の構造にすることができた。 上記実施例から、従来例 3の多価イオン発生源が 3 mx 2 m (縦型) という大型の装置であったものが、 実施例においては、 0 . 6 mx l m (横型) のコンパクトな装置で、 ナノプロセ スへの応用という観点で、 同等以上の性能を有する多価イオン発生源 1を実現で きることが分かる。
超伝導磁石 1 1を電子ビーム及びイオンビームが収容される第 1の真空容器 2 とは別の第 2の真空容器 1 0に収容することで装置製作が容易となつた。 このた め、極高真空が必要なィォン源電極 3のみを容易にベ一キングすることが可能に なり、 装置コスト、性能維持に必要な保守コストを大幅に低減できた。
本発明の多価ィォン発生源及びそれを用いた荷電粒子ビーム装置によれば、 多 価イオンを用いたナノプロセスを実施することができる。
本発明は、 上記実施例に限定されることなく、特許請求の範囲に記載した発明 の範囲内で種々の変形が可能であり、 それらも本発明の範囲内に含まれることは いうまでもない。 例えば、 上記実施の形態において、 電子源とイオン閉じ込め領 域となるドリフトチューブとコレクタとからなるィォン源電極の構成や超伝導磁 石の磁場強度は、 加速電圧や電子ビーム電流に合わせて適宜変更できる。 産業上の刺用可能性
本発明の多価イオン発生源によれば、 多価イオン発生のための第 1の真空容器 を、短時間で、極高真空とすることがで 、 イオン源電極の真空立ち上げが短時 間で済むので、 操作性、 保守性に優れた多価イオン発生源を実現できる。 また、 本装置は小型軽量であり、低コストで製造することができる。
また、本発明の荷電粒子ビーム装置によれば、 上記多価イオン発生源を用いる ので、 小型で軽量な荷電粒子ビーム装置を提供することができることに加え、真 空立ち上げが短時間で済み、操作性、保守性に優れている。 従って、 ナノプロセ スに好適に使用することができる。

Claims

1 . 電子 ¾|とイオン閉じ込め領域となるドリフトチューブとコレクタとか らなるイオン源電極と、
イオン閉じ込めのための超伝導磁石と、
ィォン導入手段と、 を含んで構成される多価ィォン発生源であつて、 さらに、上記イオン源電極請を収容した第 1の真空容器と、
上記超伝導磁石を収容した第 2の真空容器と、 を備え、
上記第 1の真空容器及び第 2の真空容の器に、 それぞれ、真空排気装置が配設さ れていることを特徴とする、 多価イオン発生範源。
2 . 前記第 2の真空容器が断面環状に形成囲され、 前記第 1の真空容器が該 第 2の真空容器の環中を揷通して配置されていることを特徴とする、 請求項 1記 載の多価イオン発生源。
3 . 前記超伝導磁石が、 前記環状の第 2の真空容器内に環状に配設されて いることを特徴とする、 請求項 2記載の多価ィォン発生源。
4 · 前記第 2の真空容器は、 前記第 1の真空容器から両者の真空を破らず に脱着可能であることを特徴とする、 請求項 1又は 2に記載の多価ィォン発生源
5 . 前記超伝導磁石は、 ヘルムホルツ型コイルを用いる超伝導磁石である ことを特徴とする、 請求項 1乃至 3の何れかに記載の多価ィォン発生源。
6 . 前記電子源の加速電圧は、 1 0〜4 0 k Vであることを特徴とする、 請求項 1に記載の多価ィォン発生源。
7 . 電子源とイオン閉じ込め領域となるドリフトチューブとコレクタとか らなるイオン源電極と、 イオン閉じ込めのための超伝導磁石と、 イオン導入手段 と、 を含み、 さらに、上記イオン源電極を収容した第 1の真空容器と、 上記超伝 導磁石を収容した第 2の真空容器と、 を備え、 上記第 1の真空容器及び第 2の真 空容器に、 それぞれ、真空排気装置が配設されている多価イオン発生源を用い、 試料表面に多価ィォンを照射することを特徴とする、荷電粒子ビーム装置。
8 . 電子源とイオン閉じ込め領域となるドリフトチューブとコレクタとか らなるイオン原電極と、 イオン閉じ込めのための超伝導磁石と、 イオン導入手段 と、 さらに、上記イオン源電極を収容した第 1の真空容器と、上記超伝導磁石を 収容した第 2の真空容器と、上記第 ' ίの真 容器及び、第 2の真空容器にそれぞれ 配設した真空排気系と、 を備える多価イオン発生源と、
上記多価ィォン発生源に接続された第 3の真空容器及びその真空排気装置と、 を備えていて、
上記第 3の真空容器内にィォン分離器と試料台とを配設し、
上記試料台に試料を載置することにより、上記多価ィォン発生源で発生した多 価ィォンから所望の多価ィオンをィォン分離器により選択して試料表面に照射す ることを特徴とする、荷電粒子ビーム装置。
9 . 前記荷電粒子ビーム装置が、 さらに、前記試料の観察装置を備えてい ることを特徴とする、請求項 7又は 8に記載の荷電粒子ビーム装置。
1 0 . 前記荷電粒子ビーム装置が、 さらに、前記試料の表面処理装置を備 えていることを特徴とする、請求項 7又は 8に記載の荷電粒子ビーム装置。
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