WO2004030077A1 - 接合方法および装置 - Google Patents

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WO2004030077A1
WO2004030077A1 PCT/JP2003/012204 JP0312204W WO2004030077A1 WO 2004030077 A1 WO2004030077 A1 WO 2004030077A1 JP 0312204 W JP0312204 W JP 0312204W WO 2004030077 A1 WO2004030077 A1 WO 2004030077A1
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metal
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Tadatomo Suga
Akira Yamauchi
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Toray Engineering Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a joining method and an apparatus for joining objects having a metal joint on the surface of a base material such as chips, wafers, and various circuit boards.
  • Japanese Patent No. 27191429 discloses a method of joining silicon wafers at the room temperature in a vacuum prior to joining when joining the joining surfaces of the silicon wafers.
  • a method for bonding a silicon wafer by irradiating an inert gas ion beam or an inert gas fast atom beam to perform sputter etching.
  • oxides and organic substances on the bonding surface of the silicon wafer are blown away by the above-mentioned beam to form a surface with activated atoms, and the surfaces are bonded by a high bonding force between the atoms. Is done. Therefore, this method basically eliminates the need for heating for bonding, and enables bonding at room temperature or a low temperature close thereto by simply bringing the activated surfaces into contact with each other.
  • the bonding between the etched bonding surfaces must be performed in a vacuum while maintaining the surface activation state. For this reason, a predetermined vacuum state must be maintained from the surface cleaning by the beam to the bonding, and at least a part of the bonding mechanism is configured in a chamber that can maintain a predetermined degree of vacuum. Therefore, the size of the sealing mechanism becomes large, and the entire apparatus becomes large and expensive.
  • a predetermined vacuum state can be maintained between the two locations, and the workpiece can be maintained while maintaining the vacuum state.
  • a means for transporting the cleaning equipment from the cleaning location to the bonding location is required, which makes practical equipment design difficult and further increases the size of the entire equipment.
  • the metal bonding part of the workpiece is The possibility of joining together in the air. If surface bonding becomes possible after surface activation, The joining process and equipment can be greatly simplified as compared with the case of joining in the air or the like.
  • the present inventors have conducted intensive studies focusing on the bonding technique based on surface activation as described above, which has recently been studied.
  • the present inventors have found that by removing the special film at the time of or immediately before bonding to expose the surface-activated bonding surface, it is possible to reliably perform bonding in the air, and have completed the present invention.
  • an object of the present invention is to appropriately prevent a foreign substance layer from adhering to the cleaned bonding surface until the bonding is performed after the object to be bonded whose cleaning surface has been cleaned by the energy wave is taken out into the air and bonded.
  • An object of the present invention is to provide a bonding method and a device capable of performing bonding in the atmosphere more reliably and easily.
  • a joining method is characterized in that, when joining objects to be joined having a metal joining portion on a surface of a base material, the joining surface of the metal joining portion is washed by one wave of energy, After replacing the atmosphere of the cleaned joint surface with a special gas and forming a special film derived from the special gas on the joint surface, joining the metal joints while removing or destroying the special film in the air
  • the method comprises: Cleaning of the joint surface of the metal joint by energy waves can be performed under atmospheric pressure or under reduced pressure.
  • the energy wave for cleaning the bonding surface of the metal bonding portion it is preferable to use plasma, and it is particularly preferable to use plasma under reduced pressure.
  • Various methods can be adopted as a method for removing the special film at the time of joining. You. That is, it is possible to remove the special coating by heating at the time of joining. As for the heating temperature, it is preferable that the special coating can be removed at a temperature of 180 ° C or less, preferably less than 150 ° C, in order to promote the bonding between the metals in the solid phase and reduce the load on the apparatus. . In addition, it is also possible to blast the special coating by applying pressure during bonding to expose the cleaning surface. Also, it is possible to decompose and remove the special coating by applying ultrasonic waves at the time of removal bonding. It is also possible to remove the special coating by cleaning with energy waves during bonding.
  • the irradiation energy wave for removing the special film may be weaker than the above-mentioned energy wave for cleaning the bonding surface, and for example, atmospheric pressure plasma or the like can be used. Furthermore, at the time of bonding, at least two of heating, pressurization, application of ultrasonic waves, and cleaning by energy waves are performed in combination, whereby the special coating can be more effectively removed.
  • a gas containing nitrogen gas, Ar gas, carbon, fluorine or the like can be used as the special gas for forming the special film.
  • a gas containing nitrogen gas, Ar gas, carbon, and fluorine is replaced after cleaning, a special film in which nitrogen, Ar, C, and F molecules adhere to the joint surface can be formed. It can be transported in the air and mounted on the joining means, and at the time of joining, the thin film can be crushed by, for example, pressing to join.
  • thin films can be diffused by heating. Also, by applying ultrasonic waves, slippage at the interface at the joint can be generated, whereby the film can be decomposed and removed to join.
  • the special coating can be irradiated with energy waves in a shorter time than the pre-cleaning, thereby removing the coating and joining.
  • a carbon (C) -based special film after cleaning with Ar plasma, oxidation can be prevented even in the air, and the special film can be easily removed by oxygen plasma during bonding.
  • the above-mentioned special film can be formed by replacement with a hydroxyl group, hydrogen plasma or oxygen plasma.
  • the atmosphere can also be purged with a non-oxidizing gas or a special gas to the bonding surface (that is, the bonding surface on which the special film is formed).
  • the special gas for purging in this case is the special gas for forming the special film described above.
  • the gas may be the same or different. This purge may be performed locally. In other words, at least in the process of transporting the workpieces, holding the workpieces for bonding, and aligning the workpieces for bonding between the formation of the special coating and the joining of the metal joints.
  • a method in which a non-oxidizing gas or a special gas is locally supplied to the joint surface on which the special film is formed can be adopted.
  • the joining in the present invention is particularly suitable for joining metal joints whose surfaces are made of any of gold, copper, A1, In, and Sn.
  • the same kind of metal such as gold, copper, A1, In, or Sn, or any two kinds of dissimilar metals, or one of which is gold and the other is gold
  • the combination may be any of copper, Al, In, and Sn.
  • bonding can be performed reliably even at room temperature.
  • joining of gold for example, joining of gold-z-copper, gold / aluminum, etc.
  • joining can be performed at room temperature or a low temperature close thereto.
  • the entire electrode or the like forming the metal joint can be made of gold, but only the surface can be made of gold.
  • the form for forming the surface with gold is not particularly limited, and a form of gold plating or a form in which a gold thin film is formed by sputtering / evaporation may be adopted.
  • the etching is performed to a depth of 1.6 nm or more on the entire surface of the metal joint.
  • the variation in the gap between the metal joints is set to a maximum of 4 ⁇ m or less. If the gap variation is 4 m or less (4 m or less in the range), the gap variation required for joining metal joints with an appropriate joining load, for example, a joining load of about 300 MPa It is preferable to adjust the parallelism between the objects to be joined within 4 // m (within the range) when joining the metal joints. With such parallelism adjustment, The variation in the gap can be reduced, and the metal joints can be brought into more close surface contact with each other, so that the joining can be more easily performed.
  • At the time of joining metal joints at least one metal joint has a surface hardness of 120 or less in Pickers hardness Hv, more preferably by annealing so that the surfaces can be in good contact with each other.
  • the hardness is preferably reduced to 100 or less.
  • the surface hardness Hv is preferably in the range of 3Q to 70 (for example, the average Hv is 50). With such low hardness, the surface of the metal joint is appropriately deformed when a joining load is applied, and a more intimate joint can be achieved.
  • a bonding device is a device for bonding objects to be bonded having a metal bonding portion on a surface of a base material, wherein the cleaning device irradiates an energy wave to a bonding surface of the metal bonding portion; A special gas replacement means for replacing the atmosphere of the joined surface with a special gas to form a special film derived from the special gas on the joint surface; and And a joining means for joining while removing or destroying.
  • the cleaning means may be configured to irradiate an energy wave to the surface of the metal joint under atmospheric pressure, or may be configured to irradiate the energy wave to the surface of the metal joint under reduced pressure.
  • the cleaning means comprises a plasma irradiation means.
  • the bonding means includes a heating means for removing the special film by heating at the time of bonding, a pressurizing means for breaking the special film by pressurizing, and a decomposing / removing special film by applying ultrasonic waves. It is possible to adopt a configuration having an energy wave cleaning means at the time of bonding for removing a special film by washing with a sound wave applying means or an energy wave, and further comprising at least two of these means. You can also. Atmospheric pressure plasma irradiation means can be used as the energy wave cleaning means at the time of bonding.
  • the above-mentioned special gas replacing means can be constituted by means of replacing with nitrogen gas, means of replacing with Ar gas, means of replacing with gas containing carbon, means of replacing with gas containing fluorine, and the like.
  • this bonding apparatus performs a process of transporting the workpieces, holding the workpieces for bonding, and aligning the workpieces for bonding between the formation of the special coating and the bonding of the metal bonding parts.
  • means for locally supplying a non-oxidizing gas or a special gas to the joint surface on which the special film is formed may be employed.
  • the combination of the surface metal types of the two metal joints to be joined may be the same metal of any one of gold, copper, Al, and IS ⁇ , or any two different metals, or However, a combination can be used in which one is gold and the other is copper, Al, In, or Sn. Above all, when gold is combined, bonding becomes the easiest. In particular, by providing an ultrasonic wave applying means, it becomes possible to join such dissimilar metals.
  • the above-mentioned cleaning means is capable of etching at a depth of 1.6 nm or more on the entire surface to be joined of the metal joint in order to perform surface etching necessary for joining the metal joints in the air. It is preferable to include a means for irradiating a single energy wave with a high energy.
  • the joining means include a means for reducing a variation in a gap at the time of joining between metal joints to a maximum of 4 m or less.
  • the joining means includes means for adjusting the parallelism between the objects to be joined when joining the metal joints to each other within 4 m.
  • the surface hardness of at least one of the metal joints is 120 or less, preferably 100 or less in Vickers hardness HV.
  • the present invention also provides a joined body produced by the joining method as described above. That is, the joined body according to the present invention is a joined body of objects to be joined having a metal joint on the surface of the base material, and the joint surface of the metal joint is washed by an energy wave and washed. After the atmosphere of the bonded surface is replaced with a special gas and a special film derived from the special gas is formed on the bonded surface, the metal joints are bonded together while the special film is removed or destroyed in air.
  • the assembly consisting of those characterized by being produced by at least one of the joined objects to be bonded can be configured ing a semiconductor.
  • the energy wave is applied to the bonding surface of the metal bonding portion of the workpiece under reduced pressure or atmospheric pressure, and after the surface is cleaned and activated by etching. However, it is replaced by a special gas, and a special film derived from the special gas is formed. Since the cleaned bonding surface is covered with this special film, adhesion of foreign material layers such as an oxide film, an organic material layer, and a contaminant layer to the bonding surface is prevented, and the bonding process is provided in that state.
  • the special coating is removed or ruptured by heating, pressurizing, applying ultrasonic waves, irradiating single-wave energy before joining, or a combination thereof, and the cleaned interface is exposed and joining is performed.
  • This special film is formed to be thin or to be easily peeled even if it is somewhat thick, so that it can be easily and easily removed at the time of joining.
  • the bonding surface is covered with the special film until the bonding, so that the state of the bonding surface activated by the energy wave cleaning is maintained until the start of bonding, and the optimum surface state for bonding is exposed. Immediately after the joining.
  • the joining surface that has been subjected to energy wave cleaning until the joining is kept covered with a special coating, it is possible to transport the workpiece in the air and leave the workpiece in the air for a certain period of time. become.
  • the degree of freedom between the cleaning step and the bonding step can be increased, and the degree of freedom in device design can be increased.
  • the foreign substance layer adheres to the cleaned bonded surface until the bonded object whose bonding surface has been cleaned by the energy wave is taken out into the air and then bonded. Can be appropriately prevented, and bonding in the air can be performed more reliably and easily. By enabling atmospheric bonding, Dramatic simplification of the process and equipment and cost reduction are also possible.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a joining device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an enlarged partial side view of an object to be bonded showing a state of forming a special film.
  • FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing another configuration example of the energy wave irradiation means at the time of bonding.
  • FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing still another configuration example of the energy wave irradiation means at the time of bonding.
  • FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 shows a joining apparatus 1 according to one embodiment of the present invention.
  • the workpiece 4 or 5 having the metal joint 2 or 3 on the surface of the base material is first cleaned as a means for cleaning by an energy wave in a chamber 7 which is depressurized by a vacuum pump 6 to a predetermined degree of vacuum.
  • the bonding surfaces of the metal bonding portions 2 and 3 are cleaned by etching with the plasma 9 irradiated from the plasma irradiation means 8 (cleaning step).
  • the inside of the chamber 7 is replaced with a special gas supplied by the pump 10, whereby a special film derived from the special gas is formed on the cleaned joint surface.
  • the taken-out workpieces 4 and 5 are transported to the joining step (joining device section 30), and the metal joined sections 2 and 3 are joined in the atmosphere.
  • the plasma irradiation is performed under a predetermined reduced pressure, but the plasma irradiation may be performed under the atmospheric pressure.
  • the special gas is formed by replacing the atmospheric gas in contact with the surface of the joint surface 2a (3a) cleaned by the plasma 9 with the special gas, as shown in FIG.
  • the special film 11 is formed by adsorption or adhesion of the derived special molecules, and the special film 11 covers the bonding surface 2a (3a) cleaned by plasma.
  • the special gas is a gas containing nitrogen gas, Ar gas, carbon, or fluorine, nitrogen molecules, Ar molecules, C molecules, and F molecules are attached, and each is specialized by special molecules derived from those special gases.
  • a film 11 is formed.
  • the special skin 11 is usually formed to be extremely thin and can be easily removed or destroyed. Even if it is formed relatively thick, it is formed to be easily peeled and easily removed. .
  • the article 4 is made of, for example, a chip
  • the article 5 is made of, for example, a substrate.
  • the chip here refers to all forms of the side to be bonded to the substrate irrespective of the type and size, such as an IC chip, a semiconductor chip, an optical element, a surface mount component, and a wafer.
  • the metal joint 2 and then, for example, bumps are formed.
  • substrate refers to, for example, a resin substrate, a glass substrate, a film substrate, a chip, a wafer, or any other form that is to be bonded to a chip, regardless of its type or size.
  • a typical embodiment of the present invention is an embodiment in which at least one of the objects to be joined is made of a semiconductor.
  • the articles 4 and 5 on which the above-mentioned cleaned and special film 11 is formed are placed in a predetermined standby section 12 after being transported in the atmosphere.
  • the work piece 4 is held on the reversing mechanism 13 p head part 14 by suction or the like so as not to touch the cleaning surface, is turned upside down, and is provided below the bonding head 15.
  • the metal bonding portion 2 is held by suction or the like in the form in which the metal bonding portion 2 faces downward on the bonding tool 16 that is provided.
  • the article 5 is transferred from the standby section 12 and is held on a bonding stage 17 by suction or the like with the metal joint 3 directed upward.
  • the transfer mechanism for the article 4 and the transfer mechanism for the article 5 can be shared, but they may be provided separately.
  • the reversing mechanism 13 is provided in the transfer mechanism for the article 4 as described above.
  • the bonding tool 16 has a built-in heater 18 as a heating means, and can perform both bonding at room temperature and under air in the air.
  • the bonding head 15 can be pressed downward by a pressurizing means 19 via a bonding tool 16 via a bonding tool 16.
  • the load can be applied and controlled.
  • the bonding head 15 can be moved and positioned in the vertical direction (Z direction).
  • the bonding stage 17 holding the article 5 is provided with a horizontal position control in the X and ⁇ directions by the position adjustment table 20 provided in the lower part, and a zero direction.
  • Rotational position control and tilt control around the X-axis and Y-axis make it possible to perform relative positioning and parallelism adjustment with the workpiece 4, and to connect metal joints. This also makes it possible to reduce variations in the gap at the time of joining.
  • This relative positioning and parallelism adjustment is performed by a recognition means inserted between the workpieces 4 and 5 so as to be able to advance and retreat, for example, a two-field recognition means 2 1 (for example, a two-field camera) reads the recognition marks (not shown) attached to the workpieces 4 and 5 or their holding means, and makes necessary corrections to the position and angle based on the read information. Will be implemented.
  • the two-field-of-view recognition means 21 can adjust the position in the X and Y directions, and in some cases, the Z direction.
  • the relative positioning and the parallelism adjustment are mainly performed on the bonding stage 17 side, but it is also possible to perform the bonding on the bonding head 15 or the bonding tool 16 side.
  • either or both of heating by the heater 18 as heating means and pressurization by the pressurizing means 19 are applied to remove the special film 11 at the time of joining the articles 4 and 5 to be joined.
  • a bonding head 15 or a bonding tool 16 is provided with an ultrasonic wave applying means 22.
  • the ultrasonic bonding is performed between the metal joint 3 of the object 5 and the metal joint 2 by applying ultrasonic vibration to the object 4 side, particularly to the metal joint 2 thereof.
  • the energy wave cleaning means 23 at the time of welding is exemplified as a swing type, but as shown in FIG. 3, the workpieces 4 and 5 whose gaps are narrowed are removed.
  • the bonding method according to the present invention is performed as follows using the bonding apparatus as described above.
  • the metal joint 2 (for example, a bump) and the metal joint 3 (for example, an electrode) of the substrate 5 as the object 5 are plasma-cleaned to activate the surface.
  • plasma irradiation is performed so that the entire surface to be joined to the metal joint can be etched by 1.6 nm or more in order to remove the foreign material layer on the surface and sufficiently activate the surface for later joining in the atmosphere. It is preferable to set the intensity and time.
  • the inside of the chamber 7 is replaced with a special gas, and a special film 11 derived from the special gas is formed on the bonded surface after the cleaning, as shown in FIG.
  • the bonding surfaces 2a and 3a that have been cleaned with the plasma are covered with the special coating 11 that has been formed.
  • these bonding surfaces 2a and 3a are A foreign substance layer such as an oxide film, an organic layer, or a contamination layer is prevented from adhering to a and 3a.
  • this state is maintained until the joining, the adhesion of the foreign material layer is prevented even while waiting in the standby section 12, for example.
  • the chip 4 and the substrate 5 whose bonding surfaces 2a and 3a are covered with the special film 11 are temporarily placed on the standby unit 12 and then the chip 4 is turned upside down to bond the package 1 6, and the substrate 5 is held on the bonding stage 17 without being inverted.
  • the chip 4 and the substrate 5 held opposite to each other are aligned so as to fall within a predetermined accuracy based on the information read by the two-field recognition means 21 and the parallelism is also adjusted to fall within the predetermined accuracy. Is done.
  • the bonding tool 16 is lowered, and the chip 4 and the substrate 5 are joined.
  • the special film 11 is removed, and the surface is activated by plasma cleaning.
  • the bonding surfaces 2a and 3a are exposed, and the target bonding is performed in the air.
  • heating using a heater 18, pressurizing using a pressurizing unit 19, and applying ultrasonic waves Ultrasonic application by 2 2 energy wave cleaning method at the time of joining 2 3 by Either energy wave cleaning or a combination of these methods is used. Removal of special coating 11 shows surface-activated bonding surfaces 2a and 3a that are equivalent to, or not significantly reduced from, the level immediately after plasma cleaning. Without joining, the joint surfaces 2a and 3a are satisfactorily joined to each other.
  • a large-scale seal device or the like is not required for the joint, which simplifies the process and equipment, and also enables cost reduction.
  • it since it is kept covered with the special floor membrane 11 until bonding, it can be transported in the air and waited in the air while preventing the adhesion of foreign matter layers, further improving the process and equipment. Simplification is possible, and the degree of freedom between the cleaning process and the bonding process is increased. Due to this increase in the degree of freedom, even if the time required for each process is different, a buffer such as a standby portion can be provided without any problem, and a series of processes for the entire bonding process including energy wave cleaning can be performed. The operation can be performed smoothly, which can contribute to the improvement of productivity. It can also contribute to shortening the tact time of the entire process.
  • the joint surface cleaned by the energy wave so as to be covered with the special film by maintaining the joint surface cleaned by the energy wave so as to be covered with the special film until the joining, basically, the foreign matter remains on the joint surface until immediately before the joining where the special film is removed.
  • a special coating is required during the transporting process, the standby process, the holding operation, and the positioning. It is preferable to locally purge the atmosphere with a non-oxidizing gas or a special gas to the joint surface covered with. In this way, the joining surface is less likely to be exposed to atmospheric air (outside air) in a state where the special film is formed, so that the effect of forming the special film until the actual joining is more effectively exhibited. Will be.
  • the tray 43 is taken out from the tray changer 44 in which the trays (work trays) 43 containing the chips 41 and the substrates 42 are stacked and carried into the cleaning chamber 45.
  • a tray loader for taking out a tray which will be described later, may be used for this removal and loading, or another dedicated means may be used.
  • a reaction gas for generating plasma for example, Ar gas
  • the inside of the cleaning chamber 45 is replaced with the special gas 46 according to the present invention, and a special film is formed.
  • the inside of the cleaning chamber 45 is set to, for example, the atmospheric pressure.
  • the tray 4.3 on which the chip 41 on which the special film is formed and the substrate 42 are placed is taken out of the cleaning chamber 45 by the tray loader 47, and the purge gas 48 made of non-oxidizing gas or special gas is used. While the atmosphere on the tray 43 on which the chip 41 and the substrate 42 are placed is purged, the wafer is conveyed to the standby section 50 on the stage tape 49.
  • the purging in the tray loader 47 is performed, for example, by supplying a non-oxidizing gas or a special gas through the porous plate 51.
  • the tray 4 which can be moved by the lid 54 movable while being purged by the purge gas 53 made of a non-oxidizing gas or a special gas blown out from the purge nozzle 52 is used.
  • the top is covered and the purge gas 53 is trapped.
  • the lid 54 is opened, and the substrate 42 is held by suction by the holding head 56 attached to the tip of the substrate transfer mechanism 55, and the held substrate 42 is bonded to the bonding stage. Transferred on 5 7 Also in this case, since the purge gas 53 is purged on the tray 43 by the purge nozzle 52, other chips and substrates are also covered with the purge gas.
  • the substrate 42 is sucked and held by suction, and is transferred to the bonding stage 57 when transferring.
  • the purge gas 58 is blown out again into the holding head 56 to break the vacuum state in the head.
  • the lid 54 is opened, and the chip 41 is held by suction by the holding head 60 attached to the tip of the chip reversing mechanism 59, and the held chip 4 1 is inverted and then transferred onto the lower surface of the bond ring 61.
  • the purge gas 53 is purged on the tray 43 by the purge nozzle 52, other chips and substrates are also covered with the purge gas.
  • the purge gas 62 made of a non-oxidizing gas or a special gas is blown out into the holding head 60, the chip 41 is sucked and held by suction, and is used for transferring to the bonding tool 61.
  • suction is released, hold again The purge gas 62 is blown into the head 60, and the vacuum state in the head is broken.
  • the recognition means 67 for two fields of view is performed using the recognition means 67 for two fields of view. After the alignment, the two visual field recognition means 67 are retracted, the bonding head 68 is lowered, and the chip 41 held by the bonding tool 61 is held by the bonding stage 57. It is joined to the substrate 42 while using pressure and, in some cases, heating.
  • the mounted product is taken out, for example, by the substrate transfer mechanism 55 and stored in the completed product tray 69.
  • the finished product tray 69 is delivered to the tray changer 144 for stacking the finished products tray 69 by, for example, the tray loader 147. It is. In this manner, a purge with a non-oxidizing gas or a special gas can be applied to various points in a series of operation steps.
  • the joining apparatus and method according to the present invention can be applied to all kinds of joining between objects to be joined having a metal joining portion, and are particularly suitable for joining when at least one of the objects to be joined is a semiconductor.

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Abstract

基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士を接合するに際し、金属接合部の接合面をエネルギー波により洗浄し、洗浄された接合面の雰囲気を特殊ガスに置換して接合面上に特殊ガスに由来する特殊皮膜を形成した後、大気中で特殊皮膜を除去又は破壊しながら金属接合部同士を接合する接合方法、および接合装置。エネルギー波により接合面を洗浄した被接合物を大気中に取り出した後接合までの間、洗浄された接合面に異物が付着することを適切に防止でき、大気中での接合をより確実にかつ容易に行うことが可能になる。

Description

明 系田 »
接合方法および装置
技 術 分 野
本発明は、 チップやウェハ—、 各種回路基板等の、 基材の表面に金属接合部を 有する被接合物同士を接合する接合方法および装置に関する。
背 景 技 術
接合部を有する被接合物同士を接合する方法として、 特許第 2 7 9 1 4 2 9号 公報には、 シリコンウェハ一の接合面同士を接合するに際し、 接合に先立って室 温の真空中で不活性ガスイオンビームまたは不活性ガス高速原子ビームを照射し てスパッタエッチングする、 シリ コンウェハーの接合法が開示されている。 この 接合法では、 シリコンウェハ一の接合面における酸化物や有機物等が上記のビー ムで飛ばされて活性化された原子で表面が形成され、 その表面同士が、 原子間の 高い結合力によって接合される。 したがって、 この方法では、 基本的に、 接合の ための加熱を不要化でき、 活性化された表面同士を単に接触させるだけで、 常温 またはそれに近い低温での接合が可能になる。
しかし、 この接合法では、 エッチングされた接合面同士の接合は、 真空中にて、 表面活性化の状態を維持したまま行われなければならない。 そのため、 上記ビー ムによる表面洗浄から接合に至るまで、 所定の真空状態に保たなければならず、 とくに接合のための機構の少なく とも一部を所定の真空度に保持可能なチヤンバ 内に構成しなければならないためシール機構が大がかりになり、 装置全体が大型 かつ高価なものになる。 また、 上記ビームによる表面洗浄と接合の工程を分ける ためにこれらを別の箇所で行おうとすると、 両箇所間にわたつて所定の真空状態 に保つことや、 該真空状態に保ったまま被接合物を洗浄箇所から接合箇所に搬送 する手段が必要になり、 現実的な装置設計が難しくなるとともに、 さらに装置全 体の大型化を招く。
上記のようなビーム照射によるスパッタエッチングにより表面洗浄して接合す る方法に関して、 最近、 上述したような接合面の表面活性化による接合に対する 利点を最大限確保しつつ、 被接合物の金属接合部同士の接合を大気中で行うこと の可能性が探究され始めた。 表面活性化後、 大気中での接合が可能になれば、 真 空中等で接合を行う場合に比べて、 接合工程、 装置を大幅に簡素化することが可 能となる。
しかしながら、 大気中で接合を行う場合、 真空中での表面洗浄後、 洗浄された 被接合物を大気中に取り出すと、 洗浄により表面活 tt化された接合面に酸化膜や 有機物層、 コンタミ層が付着するおそれがあり、 このような異物層が比較的厚く 形成されたり強固に付着していたりすると、 現実的には大気中での接合は困難に なる。
, 発 明 の 開 示
そこで本発明者らは、 最近検討され始めた上記のような表面活性化による接合 技術に着目して鋭意検討した結果、 洗浄により表面活性化された接合面に接合時 に容易に除去可能な特殊皮膜を形成しておけば、 洗浄された被接合物を大気中に 取り出しても実際の接合直前まで表面活性化された接合面に酸化膜や有機物層、 コンタミ層が付着することを防止でき、 接合時あるいは接合直前にその特殊皮膜 を除去して表面活性化された接合面を露出させることにより、 確実に大気中での 接合が可能になることを見出し、 本発明を完成するに至った。
すなわち、 本発明の目的は、 エネルギー波により接合面を洗浄した被接合物を 大気中に取り出した後接合までの間、 洗浄された接合面に異物層が付着すること を適切に防止して、 大気中での接合をより確実にかつ容易に行うことが可能な接 合方法およぴ装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、 本発明に係る接合方法は、 基材の表面に金属接合 部を有する被接合物同士を接合するに際し、 前記金属接合部の接合面をエネルギ 一波により洗浄し、 洗浄された接合面の雰囲気を特殊ガスに置換して接合面上に 特殊ガスに由来する特殊皮膜を形成した後、 大気中で前記特殊皮膜を除去又は破 壊しながら金属接合部同士を接合することを特徵とする方法からなる。 金属接合 部の接合面のエネルギー波による洗浄は、 大気圧下で行うことも可能であり、 減 圧下で行うことも可能である。
金属接合部の接合面を洗浄するエネルギー波としては、 プラズマを用いること が好ましく、 とくに減圧下でのプラズマを用いることが好ましい。
接合に際し上記特殊皮膜を除去する方法としては、 各種の方法を採用可能であ る。 すなわち、 接合時に加熱により前記特殊皮膜を除去することが可能である。 加熱温度としては、 固相での金属間の接合を促進させ、 かつ装置の負担を抑える ために、 1 8 0 °C以下好ましくは 1 5 0 °C未満で特殊皮膜を除去できることが好 ましい。 また、 接合時に加圧により特殊皮膜を破壌して洗浄面を露出させること も可能である。 また、 除去接合時に超音波印加により特殊皮膜を分解除去するこ とも可能である。 また、 接合時にエネルギー波による洗浄により特殊皮膜を除去 することも可能である。 この特殊皮膜除去のための照射エネルギー波は、 上述の 接合面洗浄のためのエネルギー波よりも弱いものでよく、 たとえば大気圧プラズ マ等を使用できる。 さらに、 接合時に、 加熱、 加圧、 超音波印加、 エネルギー波 による洗浄のうちの少なくとも 2つを組み合わせて行い、 それによつて上記特殊 皮膜をより効果的に除去することも可能である。
上記特殊皮膜を形成するための特殊ガスとしては、 窒素ガス、 A rガス、 炭素、 フッ素を含むガス等を用いることができる。 たとえば、 洗浄後に窒素ガスや A r ガス、 炭素、 フッ素を含むガスに置換すれば、 窒素や A r、 C、 Fの分子が接合 面に付着した特殊皮膜を形成することができ、 その状態で大気中を搬送して接合 手段に装着し、 接合時に、 たとえば加圧により、 その薄い皮膜を押し破って接合 することができる。 また、 薄い皮膜であれば、 加熱により拡散させることができ る。 また、 超音波を印加することによつても、 接合部における界面でのすべりを 発生させ、 それによつて皮膜を分解除去して、 接合することができる。 さらに、 特殊皮膜に上記事前洗浄より短時間でエネルギー波を照射し、 それによつて皮膜 を除去して接合することもできる。 たとえば、 A rプラズマで洗浄後炭素 (C ) 系の特殊皮膜を形成することで大気中でも酸化が防げ、 接合時の酸素プラズマに より容易に特殊皮膜は除去することができる。 なお、 上記特殊皮膜の形成は、 水 酸基、 水素プラズマ ·酸素プラズマによる置換によっても可能である。
また、 本発明においては、 エネルギー波による洗浄、 特殊皮膜の形成後、 接合 に至るまでの間に、 より確実に、 この特殊皮膜以外の異物層が極力付着しないよ うにするために、 接合に至るまでの工程において接合面 (つまり、 特殊皮膜が形 成された接合面) に対して非酸化性ガス又は特殊ガスにより雰囲気をパージする こともできる。 この場合のパージ用の特殊ガスは、 上述の特殊皮膜形成用の特殊 ガスと同種のものであっても異種のものであってもよい。 また、 このパージは、 局所的に行えばよい。 すなわち、 特殊皮膜の形成後金属接合部同士の接合までの 間の、 被接合物搬送、 接合のための被接合物の保持および接合のための被接合物 同士の位置合わせ工程のうちの少なく とも一つの工程で (望ましくは一連の工程 のすべてにおいて) 、 特殊皮膜が形成されている接合面に対し非酸化性ガス又は 特殊ガスを局所的に供給する方法を採用できる。
本発明における接合は、 とくに、 表面が金、 銅、 A 1、 I n、 S nのいずれか により構成されている金属接合部同士を接合する場合に好適である。 たとえば、 互いに接合される金属接合部の組み合わせとして、 金、 銅、 A 1、 I n、 S nの いずれかの同種金属同士、 あるいは任意の 2つの異種金属同士、 あるいは、 一方 を金とし他方を銅、 A l、 I n、 S nのいずれかとする組み合わせとすることが できる。 中でも、 金同士の接合の場合、 常温でも確実に接合できるようになる。 ただし、 金同士の接合以外の場合でも (たとえば、 金 Z銅、 金/アルミニウム等 の接合等) 、 常温あるいはそれに近い低温での接合を可能とすることができる。 また、 少なくとも一方の金属接合部を特定の金属、 たとえば金で構成する場合、 金属接合部を形成する電極等の全体を金で構成することもできるが、 表面だけを 金で構成することもできる。 表面を金で構成するための形態はとくに限定されず、 金めつきの形態や金薄膜をスパッタリングゃ蒸着等により形成した形態を採用す ればよい。
上記エネルギー波による洗浄では、 金属接合部の接合される全表面で 1 . 6 n m以上の深さにエッチングすることが好ましい。 このような深さ以上にエツチン グ可能なエネルギー波照射により、 金属接合部同士を大気中で接合するに必要な 表面性状を得ることが可能になる。
上記金属接合部同士の接合時には、 金属接合部間の隙間のばらつきを最大 4 β m以下にすることが好ましい。 隙間のばらつきが 4 m以下 (レンジで 4 m以 下) であれば、 適切な接合荷重、 たとえば 3 0 0 M P a程度の接合荷重で、 金属 接合部同士の接合のために必要な隙間のばらつき以下に抑えることが可能となる < また、 金属接合部同士の接合時に、 被接合物間の平行度を 4 // m以内 (レンジで 以内) に調整することが好ましい。 このような平行度調整により、 上記の 隙間のばらつきを小さく抑えることが可能になるとともに、 金属接合部同士がよ り密接に面接触できるようになり、 一層容易に接合できるようになる。
また、 金属接合部同士の接合に際し、 表面同士が良好に密着できるように、 少 なく とも一方の金属接合部の表面硬度がピツカ一ス硬度 H vで 1 2 0以下、 さら に好ましくはアニーリングにより硬度を 1 0 0以下に下げたものがよい。 たとえ ば、 表面硬度 H vを 3 Q〜7 0の範囲内 (たとえば、 平均 H vを 5 0 ) とするこ とが好ましい。 このような低硬度としておくことで、 接合荷重印加時に金属接合 部の表面が適当に変形し、 より密接な接合が可能となる。
本発明に係る接合装置は、 基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士を接 合する装置であって、 前記金属接合部の接合面にエネルギー波を照射する洗浄手 段と、 洗浄された接合面の雰囲気を特殊ガスに置換して接合面上に特殊ガスに由 来する特殊皮膜を形成する特殊ガス置換手段と、 被接合物の金属接合部同士を大 気中で前記特殊皮膜を除去又は破壊しながら接合する接合手段とを有することを 特徴とするものからなる。 この接合装置においては、 上記洗浄手段を、 大気圧下 で金属接合部の表面にエネルギー波を照射する手段に構成することもできるし、 減圧下で金属接合部の表面にエネルギー波を照射する手段に構成することもでき る ο
この接合装置においては、 上記洗浄手段がプラズマ照射手段からなることが好 ましい。
また、 上記接合手段は、 特殊皮膜を除去する手段として、 接合時に加熱により 特殊皮膜を除去する加熱手段、 加圧により特殊皮膜を破壊する加圧手段、 超音波 印加により特殊皮膜を分解除去する超音波印加手段、 またはエネルギー波による 洗浄により特殊皮膜を除去する接合時エネルギー波洗浄手段を備えている構成と することができ、 さらには、 これらのうちの少なくとも 2つの手段を備えている 構成とすることもできる。 接合時エネルギー波洗浄手段としては、 大気圧プラズ マ照射手段を用いることができる。
また、 上記特殊ガス置換手段としては、 窒素ガスに置換する手段、 A rガスに 置換する手段、 炭素を含むガスに置換する手段、 フッ素を含むガスに置換する手 段等に構成できる。 さらに、 この接合装置は、 特殊皮膜の形成後金属接合部同士の接合までの間の、 被接合物搬送、 接合のための被接合物の保持および接合のための被接合物同士の 位置合わせ工程のうちの少なくとも一つの工程で、 特殊皮膜が形成されている接 合面に対し非酸化性ガス又は特殊ガスを局所的に供給する手段を傭えている構成 としてもよい。 これにより、 前述の如く、 接合に至るまで、 上記特殊皮膜以外の 異物層が付着することをより確実に防止できる。
また、 接合される両金属接合部の表面金属種の組み合わせは、 前述したように、 金、 銅、 A l、 I S ηのいずれかの同種金属同士、 あるいは任意の 2つの異 種金属同士、 あるいは、 一方を金とし他方を銅、 A l、 I n、 S nのいずれかと する組み合わせとすることができる。 中でも、 金同士の組み合わせとする場合、 接合が最も容易になる。 とくに超音波印加手段を設けておく ことにより、 このよ うな異種金属同士の接合まで可能となる。
また、 上記洗浄手段は、 金属接合部同士を大気中で接合するに必要な表面エツ チングを行うために、 金属接合部の接合される全表面で 1 . 6 n m以上の深さの エツチングが可能なエネルギー以上でエネルギ一波を照射する手段からなること が好ましい。
また、 上記接合手段は、 金属接合部同士の接合時の隙間のばらつきを最大 4 m以下にする手段を備えていることが好ましい。 また、 接合手段が、 金属接合部 同士の接合時の被接合物間の平行度を 4 m以内に調整する手段を備えているこ とが好ましい。 さらに、 少なくとも一方の金属接合部の表面硬度がビッカース硬 度 H Vで 1 2 0以下好ましくは 1 0 0以下とされていることが望ましい。
本発明はまた、 前記のような接合方法により作製された接合体も提供する。 す なわち、 本発明に係る接合体は、 基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士 の接合体であって、 前記金属接合部の接合面がエネルギー波により洗浄され、 洗 浄された接合面の雰囲気が特殊ガスに置換されて接合面上に特殊ガスに由来する 特殊皮膜が形成された後、 大気中で前記特殊皮膜が除去又は破壊されながら金属 接合部同士が接合されることによって作製されたことを特徴とするものからなる c 上記接合体においては、 接合された被接合物の少なくとも一方が半導体からな る構成とすることができる。 上記のような本発明に係る接合方法および装置においては、 減圧下または大気 圧下で被接合物の金属接合部の接合面にエネルギー波が照射され、 表面がエッチ ングにより洗浄され活性化された後、 特殊ガスに置換されてその特殊ガスに由来 する特殊皮膜が形成される。 この特殊皮膜により洗浄された接合面が覆われるた め、 酸化膜や有機物層、 コンタミ層等の異物層の接合面への付着が防止され、 そ の状態で接合工程に供される。 接合時には、 加熱や加圧、 超音波印加、 接合前ェ ネルギ一波照射のいずれか、 またはそれらの組み合わせにより、 特殊皮膜が除去 又は破壌され、 洗浄された界面が露出されて、 接合が行われる。 この特殊皮膜は、 薄く形成されるか、 あるいは多少厚くても容易に剝がされ得るものに形成されて いるので、 接合時には問題なく容易に除去される。 このように接合に至るまで特 殊皮膜によって接合面が被覆されているので、 エネルギー波洗浄により表面活性 化された接合面の状態が接合開始まで維持され、 接合に最適な表面状態が露出さ れた直後に接合が開始されることになる。 したがって、 大気中の接合でありなが ら、 従来の真空中でエネルギー波洗浄された後真空状態を維持したまま接合が開 始されるのと同等の条件が得られ、 所望の接合が容易に達成されることになる。 大気中での接合が可能となるので、 接合のために大がかりな真空装置やそのため のシール装置等が不要になり、 工程全体、 装置全体として大幅に簡素化され、 コ ストダウンも可能となる。
また、 接合に至るまでエネルギー波洗浄された接合面が特殊皮膜によって被覆 された状態に保たれるので、 被接合物の大気中搬送や、 ある時間大気中への被接 合物の放置が可能になる。 これによつて、 洗浄工程、 接合工程間の自由度を増大 させることができるとともに、 装置設計の自由度も増大させることができる。 さ らに、 各工程に要する時間に差異が有る場合にも、 工程間で被接合物を待機させ ることが可能になり、 時間差を容易に吸収して、 大量連続生産の場合の生産性を 向上することができる。
このように、 本発明に係る接合方法および装置によれば、 エネルギー波により 接合面を洗浄した被接合物を大気中に取り出した後接合までの間、 洗浄された接 合面に異物層が付着することを適切に防止することができ、 大気中での接合をよ り確実にかつ容易に行うことが可能になる。 大気中接合を可能とすることにより、 工程、 装置の大幅な簡素化、 コス トダウンも可能になる。
図 面 の 簡 単 な 説 明
図 1は、 本発明の一実施態様に係る接合装置の概略構成図である。
図 2は、 特殊皮膜形成の様子を示す被接合物の拡大部分側面図である。
図 3は、 接合時エネルギー波照射手段の別の構成例を示す概略構成図である。 図 4は、 接合時エネルギー波照射手段のさらに別の構成例を示す概略構成図で ある。
図 5は、 本発明の の実施態様に係る接合装置の概略構成図である。
〔符号の説明〕
1 接合装置
2、 3 金属接合部
2 a、 3 a 接合面
被接合物 (チップ)
5 被接合物 (基板)
6 真空ポンプ
7 チャンバ
8 プラズマ照射手段
9 プラズマ
1 0 特殊ガス供給ポンプ
1 1 特殊皮膜
1 2 待機部
1 3 反転機構
1 4 反転機構のへッ ド部
1 5 ボンディ ングへッ ド
1 6 ボンディ ングツール
1 7 ボンディ ングステージ
1 8 加熱手段としてのヒータ
1 9 加圧手段
2 0 位置調整テ一プル 2 1 2視野の認識手段
2 2 超音波印加手段
2 3、 2 4、 2 5 接合時エネルギー波洗浄手段 3 0 接合装置部
4 1 チップ
4 2 基板
4 3 トレイ (ワーク トレイ)
4 4 トレィチェンジャー
4 5 洗浄チヤンバ
4 6 特殊ガス
4 7 トレィローダー
4 8 パージガス
9 ステージテ一ブル
5 0 待機部
5 1 多孔質板
5 2 パージノズル
5 3 パージガス
5 4 蓋
5 5 基板移載機構
5 6 保持へッ ド
5 7 ボンディ ングステージ
5 8 パージガス
5 9 チップ反転機構
6 0 保持へッ ド
6 1 ボンディ ングツール
6 2 パージガス
6 3 . 6 パージノズル
6 5、 6 6 パ一ジガス
6 7 2視野の認識手段 6 8 ボンディ ングへッ ド
6 9 完成品トレイ
発明 を実施す る た め の最良の形態
以下に、 本発明の望ましい実施の形態を、 図面を參照しながら説明する。
図 1は、 本発明の一実施態様に係る接合装置 1を示している。 基材の表面に金 属接合部 2または 3を有する被接合物 4または 5は、 まず、 真空ポンプ 6により 減圧され所定の真空度にされたチヤンバ 7内で、 エネルギー波による洗浄手段と してのプラズマ照射手段 8から照射されたプラズマ 9によって金属接合部 2、 3 の接合面がエッチングにより洗浄される (洗浄工程) 。 洗浄後、 チャンバ 7内は、 ポンプ 1 0により供給される特殊ガスで置換され、 それによつて洗浄された接合 面上に特殊ガスに由来する特殊皮膜が形成され、 その状態で、 チャンバ 7内から 取り出された被接合物 4、 5が接合工程 (接合装置部 3 0 ) に搬送され、 金属接 合部 2、 3同士が大気中で接合される。 なお、 本実施態様では所定の減圧下にて プラズマ照射することとしているが、 大気圧下でのプラズマ照射とすることも可 能である。
上記特殊皮膜の形成は、 たとえば図 2に示すように、 プラズマ 9によって洗浄 された接合面 2 a ( 3 a ) の表面に接する雰囲気ガスが上記特殊ガスに置換され ることにより、 その特殊ガスに由来する特殊分子の吸着や付着等により特殊皮膜 1 1が形成され、 この特殊皮膜 1 1によってプラズマ洗浄された接合面 2 a ( 3 a ) が被覆される。 特殊ガスが窒素ガスや A rガス、 炭素、 フッ素を含むガスの 場合には窒素分子や A r分子、 C分子、 F分子が付着されて、 それぞれ、 それら の特殊ガスに由来する特殊分子によって特殊皮膜 1 1が形成される。 この特殊皮 膜 1 1は、 通常極めて薄く形成され容易に除去あるいは破壊し得るものであり、 比較的厚く形成された場合にあっても、 剝がれ易く容易に除去し得るものに形成 される。
なお、 上記において、 被接合物 4は、 たとえばチップからなり、 被接合物 5は、 例えば基板からなる。 ただし、 ここでチップとは、 たとえば、 I Cチップ、 半導 体チップ、 光素子、 表面実装部品、 ウェハーなど種類や大きさに関係なく基板と 接合される側の全ての形態のものを指す。 この被接合物 4上に、 金属接合部 2と して、 たとえばバンプが形成されている。 また、 基板とは、 たとえば、 樹脂基板、 ガラス基板、 フィルム基板、 チップ、 ウェハーなど種類や大きさに関係なくチッ プと接合される側の全ての形態のものを指す。 本発明における代表的な態様とし て、 接合される被接合物の少なく とも一方が半導体からなる態様を挙げることが できる。
接合装置部 3 0では、 たとえば、 所定の待機部 1 2に、 上記洗浄され特殊皮膜 1 1が形成された被接合物 4、 5が大気中を搬送された後載置される。 被接合物 4は、 反転機構 1 3 pへッ ド部 1 4に、 洗浄面に触れないように、 吸着等により 保持され、 上下反転された後、 ボンディ ングへッ ド 1 5の下部に設けられたボン ディ ングツール 1 6に、 金属接合部 2が下方に向けられた形態で吸着等によって 保持される。 被接合物 5は、 待機部 1 2から移載され、 たとえば、 ボンディ ング ステージ 1 7上に、 金属接合部 3が上方に向けられた形態で吸着等によって保持 される。 被接合物 4用の移載機構と被接合物 5用の移載機構とを共通化すること も可能であるが、 それぞれ別個に設けてもよい。 別個に設ける場合には、 被接合 物 4用の移載機構には、 上記の如く反転機構 1 3が設けられる。 本実施態様では、 ボンディ ングツール 1 6に加熱手段としてのヒータ 1 8が内蔵されており、 大気 中にて、 常温下での接合、 加熱下での接合のいずれも可能となっている。
ボンディ ングへッ ド 1 5は、 加圧手段 1 9により、 ボンディ ングツール 1 6を 介して被接合物 4を下方に押圧できるようになつており、 被接合物 5に対して、 所定の接合荷重を印加、 コントロールできるようになつている。 本実施態様では、 ボンディ ングへッ ド 1 5は、 上下方向 (Z方向) に移動および位置決めできるよ うになっている。
また、 上記被接合物 5を保持しているボンディ ングステージ 1 7は、 本実施態 様では、 下部に設けられている位置調整テーブル 2 0による、 X、 γ方向の水平 方向位置制御、 0方向の回転方向位置制御、 および、 X軸、 Y軸周りの傾き調整 制御により、 被接合物 4との間の相対位置合わせおよび平行度調整を行うことが できるようになつており、 金属接合部同士の接合時の隙間のばらつきを小さく抑 えることもできるようになつている。 この相対位置合わせおよび平行度調整は、 被接合物 4、 5間に進退可能に揷入される認識手段、 たとえば 2視野の認識手段 2 1 (たとえば、 2視野カメラ) により、 被接合物 4、 5あるいはそれらの保持 手段に付された認識マーク (図示略) を読み取り、 読み取り情報に基づいて位置 や角度の必要な修正を行うことにより、 実施される。 2視野の認識手段 2 1は、 X、 Y方向、 場合によっては Z方向への位置調整が可能となっている。 この相対 位置合わせおよび平行度調整は、 本実施態様では主としてボンディ ングステージ 1 7側で行われるが、 ボンディ ングへッ ド 1 5またはボンディ ングツール 1 6側 で行うようにすることも可能であり、 両側で行うことも可能である。 両側で行う 場合には、 必要に応,じて、 ボンディ ングへッ ド 1 5側については昇降制御だけで なく回転制御および/または平行移動制御を行い、 ボンディ ングステージ 1 7側 についても回転制御、 平行移動制御および昇降制御などを行うことができ、 これ ら制御形態は必要に応じて任意に組み合わせることが可能である。
上記実施態様では、 被接合物 4、 5の接合時に特殊皮膜 1 1を除去するに際し て、 加熱手段としてのヒータ 1 8による加熱および加圧手段 1 9による加圧のい ずれか又は両方を適用できる構成となっているが、 加熱、 加圧の他にも、 2点鎖 線で示すように、 ボンディ ングへッ ド 1 5またはボンディ ングツール 1 6に超音 波印加手段 2 2を設けて超音波印加により特殊皮膜 1 1を分解除去する方法、 ま たは/および、 接合時エネルギー波洗浄手段 2 3からの照射エネルギー波 (たと えば、 大気圧プラズマ) により接合面 2 a、 3 a上の特殊皮膜 1 1を除去する方 法も採用でき、 これら除去方法の任意の 2つ以上を組み合わせることもできる。 図 1に示した例では、 被接合物 4側に、 とくにその金属接合部 2に超音波振動を 与えることにより、 被接合物 5の金属接合部 3との間で超音波接合を行うことが できるようになっているが、 被接合物 5側に超音波振動を与えることも可能であ る。 また、 図 1に示した例では、 接合時エネルギー波洗浄手段 2 3は首振り型と して例示されているが、 図 3に示すように、 間隙が狭められた被接合物 4、 5の 接合面に対して同時洗浄可能な接合時エネルギー波洗浄手段 2 4を備えた構成、 あるいは図 4に示すように、 被接合物 4、 5の保持部自身に接合時エネルギー波 照射手段 2 5 (プラズマ電極等) を設けた構成とすることも可能である。
上記のような接合装置を用いて本発明に係る接合方法は次のように実施される まず、 所定の真空度とされたチヤンバ 7内で、 被接合物 4 としてのチップ 4の金 属接合部 2 (たとえば、 バンプ) と、 被接合物 5としての基板 5の金属接合部 3 (たとえば、 電極) が、 プラズマ洗浄され、 表面が活性化される。 このプラズマ 洗浄においては、 後の大気中接合のために表面異物層を除去し十分に表面活性化 するために、 金属接合部の接合される全表面で 1 . 6 n m以上エッチングできる ようにプラズマ照射強度、 時間を設定することが好ましい。
上記プラズマ洗浄後に、 チャンバ 7内が特殊ガスに置換され、 洗浄後の接合面 上に、 図 2に示したように、 その特殊ガスに由来する特殊皮膜 1 1が形成される。 この状態では、 プラ 'マ洗浄された接合面 2 a、 3 aは、 形成された特殊皮膜 1 1で覆われる。 この状態にて、 つぎの接合工程に移行するためにチャンバ 7内か ら大気中へと取り出されるが、 接合面 2 a、 3 aが特殊皮膜 1 1で覆われている ため、 これら接合面 2 a、 3 aに酸化膜や有機物層、 コンタミ層等の異物層が付 着することが防止される。 また、 接合までこの状態に維持されるから、 たとえば 待機部 1 2で待機されている間も、 異物層の付着が防止されることになる。
このように特殊皮膜 1 1で接合面 2 a、 3 aが覆われたチップ 4および基板 5 は、 一旦待機部 1 2に載置された後、 チップ 4は上下反転されてボンディ ングッ —ル 1 6に、 基板 5は反転されずにボンディ ングステージ 1 7に、 それぞれ保持 される。 対向保持されたチップ 4と基板 5は、 2視野の認識手段 2 1による読み 取り情報に基づいて、 所定の精度内に入るように位置合わせされ、 平行度も所定 の精度内に入るように調整される。 とくに平行度に関しては、 良好な接合を達成 するために、 金属接合部間の隙間のばらつきを最大 4 // m以下とするように調整 されることが好ましい。 このような被接合物の保持、 位置合わせ動作時にも、 接 合面 2 a、 3 aが特殊皮膜 1 1で覆われている状態に維持され、 異物層の付着が 防止される。
そして、 この状態から、 ボンディ ングツール 1 6が降下され、 チップ 4と基板 5の接合が行われるが、 この接合時に、 特殊皮膜 1 1が除去されて、 プラズマ洗 浄され表面活性化されている接合面 2 a、 3 aが露出され、 目標とする接合が大 気中で行われる。 特殊皮膜 1 1の除去には、 前述したように、 形成されている特 殊皮膜 1 1の種類に応じて、 ヒ一タ 1 8による加熱、 加圧手段 1 9による加圧、 超音波印加手段 2 2による超音波印加、 接合時エネルギー波洗浄手段 2 3による エネルギー波洗浄のいずれか、 あるいはこれらの組み合わせによる方法が採用さ れる。 特殊皮膜 1 1の除去により、 プラズマ洗浄直後と同等の、 あるいはそれか ら大きくは低下していない、 表面活性化された接合面 2 a、 3 aが現れるので、 大気中であっても、 劣化していない状態で接合面 2 a、 3 a同士が良好に接合さ れることになる。
大気中での接合が可能になることにより、 接合部に関して大がかりなシール装 置等が不要になり、 工程、 装置ともに簡素化され、 コストダウンも可能となる。 また、 接合まで特殊床膜 1 1で覆われた状態に維持されるので、 異物層の付着を 防止しつつ大気中の搬送や、 大気中での待機等も可能となり、 一層、 工程、 装置 の簡素化が可能になるとともに、 洗浄工程、 接合工程間の自由度も増大される。 この自由度の増大により、 各工程に必要とされる時間が異なる場合にあっても、 間に待機部等のバッファを問題なく設けることができ、 エネルギー波洗浄を含め た接合工程全体の一連の動作を円滑に行わせることができ、 生産性向上にも寄与 できる。 また、 工程全体としてのタク トタイムの短縮にも寄与できる。
なお、 本発明では、 エネルギー波により洗浄された接合面を接合に至るまで特 殊皮膜で覆った状態に維持することにより、 基本的に、 特殊皮膜が除去される接 合直前まで接合面に異物層が付着することを防止することができるが、 より一層 確実に異物層の付着を防止するためには、 前述したように、 搬送工程や待機工程、 保持動作時や位置合わせ時において、 特殊皮膜で覆われた接合面に対して非酸化 性ガスや特殊ガスにより局所的に雰囲気をパージすることが好ましい。 このよう にすれば、 特殊皮膜を形成した状態でその接合面が雰囲気空気 (外気) に触れに く くなるため、 実際の接合に至るまで特殊皮膜を形成しておく効果がより良好に 発揮されることになる。
上記のような雰囲気パージを達成するために、 たとえば図 5に示すような全体 構成を採用することができる。 図 5においては、 たとえばチップ 4 1と基板 4 2 の入ったトレィ (ワーク トレイ) 4 3が段積みされたトレイチェンジャー 4 4か らトレイ 4 3が取り出され、 洗浄チヤンバ 4 5内に搬入される。 この取り出し、 搬入には、 後述のトレィ取り出し用のトレイローダーを使用してもよく、 別の専 用手段を用いてもよい。 洗浄チャンバ 4 5内は、 たとえば真空引きされた後、 プ ラズマ発生用反応ガス (たとえば、 A rガス) に置換され、 減圧下でチップ 4 1 と基板 4 2の接合面がプラズマ洗浄される。 洗浄後、 洗浄チャンバ 4 5内が本発 明に係る特殊ガス 4 6に置換されて特殊皮膜が形成される。 この特殊ガスへの置 換時には、 洗浄チャンバ 4 5内はたとえば大気圧とされる。 特殊皮膜が形成され たチップ 4 1と基板 4 2を載せたトレイ 4 .3が、 トレィローダ一 4 7によって洗 浄チャンバ 4 5内から取り出され、 非酸化性ガス又は特殊ガスからなるパージガ ス 4 8でチップ 4 1と基板 4 2を載せたトレィ 4 3上の雰囲気がパージされなが ら、 ステージテ一プル 4 9上の待機部 5 0に搬送される。 トレィローダ一 4 7で の上記パージは、 たとえば多孔質板 5 1を介して非酸化性ガス又は特殊ガスを供 給することにより行われる。
ステージテ一プル 4 9上の待機部 5 0では、 パージノズル 5 2から吹き出され た非酸化性ガス又は特殊ガスからなるパージガス 5 3でパージされながら、 移動 可能な蓋 5 4により待機中のトレイ 4 3上が覆われてパージガス 5 3が閉じ込め られる。 待機後、 蓋 5 4が開けられ、 基板移載機構 5 5の先端部に取り付けられ た保持へッ ド 5 6によって、 基板 4 2が吸着により保持され、 保持された基板 4 2はボンディ ングステージ 5 7上に移載される。 その場合においても、 トレィ 4 3上にはパージノズル 5 2により、 パージガス 5 3がパージされているので他の チップや基板上もパージガスで覆われている。 このとき、 保持へッ ド 5 6内に非 酸化性ガス又は特殊ガスからなるパージガス 5 8が吹き出されてから吸引により 基板 4 2が吸着保持され、 ボンディ ングステージ 5 7上に移載する際の吸着解除 時には、 再び保持へッ ド 5 6内にパージガス 5 8が吹き出されてへッ ド内の真空 状態が破壊される。 また、 チップ 4 1側についても、 蓋 5 4が開けられ、 チップ 反転機構 5 9の先端部に取り付けられた保持へッ ド 6 0によって、 チップ 4 1が 吸着により保持され、 保持されたチップ 4 1は反転された後、 ボンディ ングッ一 ル 6 1の下面上に移載される。 その場合においても、 トレィ 4 3上にはパージノ ズル 5 2により、 パージガス 5 3がパージされているので他のチップや基板上も パージガスで覆われている。 このとき、 保持へッ ド 6 0内に非酸化性ガス又は特 殊ガスからなるパージガス 6 2が吹き出されてから吸引によりチップ 4 1が吸着 保持され、 ボンディ ングツール 6 1に移載する際の吸着解除時には、 再び保持へ ッ ド 6 0内にパージガス 6 2が吹き出されてへッ ド内の真空状態が破壌される。 チップ 4 1がセッ 卜されたボンディ ングツール 6 1と基板 4 2がセッ 卜された ボンディ ングステージ 5 7の双方に対し、 それぞれ、 パージノズル 6 3、 6 4か ら吹き出された非酸化性ガス又は特殊ガスからなるパージガス 6 5、 6 6でチッ プ 4 1表面上の雰囲気および基板 4 2表面上の雰囲気がパージされながら、 2視 野の認識手段 6 7を用いてァライメントされる。 ァライメント後、 2視野の認識 手段 6 7が退避され、 ボンディ ングへッ ド 6 8が下降され、 ボンディ ングッ一ル 6 1に保持されているチップ 4 1力 ボンディ ングステージ 5 7に保持されてい る基板 4 2に、 加圧、 場合によっては加熱を併用しながら、 接合される。 チップ 1が基板 4 2上に実装された後、 その実装完成品が、 たとえば基板移載機構 5 5によって取り出され、 完成品トレィ 6 9内に収納される。 完成品トレィ 6 9内 が順次取り出されてきた完成品で満杯になると、 その完成品トレィ 6 9がたとえ ばトレイローダ一 4 7により、 完成品トレィ 6 9を段積みする トレイチヱンジャ 一 4 4に払い出される。 このように、 一連の動作工程の各所に非酸化性ガス又は 特殊ガスによるパージを適用できる。
産 業 上 の 利 用 可 能 性
本発明に係る接合装置および方法は、 金属接合部を有する被接合物同士のあら ゆる接合に適用でき、 とくに少なくとも一方の被接合物が半導体である場合の接 合に好適である。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士を接合するに際し、 前記金属 接合部の接合面をエネルギー波により洗浄し、 洗浄された接合面の雰囲気を特殊 ガスに置換して接合面上に特殊ガスに由来する特殊皮膜を形成した後、 大気中で 前記特殊皮膜を除去又は破壊しながら金属接合部同士を接合することを特徴とす る接合方法。
2 . 前記金属接合部の接合面のエネルギー波による洗浄を減圧下で行う、 請求項 1の接合方法。
3 . 前記エネルギー波としてプラズマを用いる、 請求項 1の接合方法。
4 . 接合時に加熱により前記特殊皮膜を除去する、 請求項 1の接合方法。
5 . 接合時に加圧により前記特殊皮膜を破壌する、 請求項 1の接合方法。
6 . 接合時に超音波印加により前記特殊皮膜を分解除去する、 請求項 1の接合方 法。
7 . 接合時にエネルギー波による洗浄により前記特殊皮膜を除去する、 請求項 1 の接合方法。
8 . 接合時に、 加熱、 加圧、 超音波印加、 エネルギー波による洗浄のうちの少な く とも 2つを行い、 前記特殊皮膜を除去又は/及び破壊する、 請求項 1の接合方 法。
9 . 前記特殊ガスとして窒素ガスを用いる、 請求項 1の接合方法。
1 0 . 前記特殊ガスとして A rガスを用いる、 請求項 1の接合方法。
1 1 . 前記特殊ガスとして炭素を含むガスを用いる、 請求項 1の接合方法。
1 2 . 前記特殊ガスとしてフッ素を含むガスを用いる、 請求項 1の接合方法。
1 3 . 前記特殊皮膜の形成後金属接合部同士の接合までの間の、 被接合物搬送、 接合のための被接合物の保持および接合のための被接合物同士の位置合わせ工程 のうちの少なく とも一つの工程で、 特殊皮膜が形成されている接合面に対し非酸 化性ガス又は特殊ガスを局所的に供給する、 請求項 1の接合方法。
1 4 . 接合面が金、 銅、 A l、 I n、 S nのいずれかにより構成されている金属 接合部同士を接合する、 請求項 1の接合方法。
1 5 . 前記エネルギー波による洗浄により、 前記金属接合部の接合される全表面 で 1 . 6 n m以上の深さにエッチングする、 請求項 1の接合方法。
1 6 . 金属接合部同士の接合時に、 金属接合部間の隙間のばらつきを最大 4 m 以下にする、 請求項 1の接合方法。
1 7 . 金属接合部同士の接合時に、 被接合物間の平行度を 4 m以内に調整する、 請求項 1の接合方法。
1 8 . 少なくとも一方の金属接合部の表面硬度をビッカース硬度 H vで 1 2 0以 下にする、 請求項 1の接合方法。
1 9 . 基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士を接合する装置であって、 前記金属接合部の接合面にエネルギー波を照射する洗浄手段と、 洗浄された接合 面の雰囲気を特殊ガスに置換して接合面上に特殊ガスに由来する特殊皮膜を形成 する特殊ガス置換手段と、 被接合物の金属接合部同士を大気中で前記特殊皮膜を 除去又は破壊しながら接合する接合手段とを有することを特徴とする接合装置。
2 0 . 前記洗浄手段が、 減圧下で金属接合部の接合面にエネルギー波を照射する 手段からなる、 請求項 1 9の接合装置。
2 1 . 前記洗浄手段がプラズマ照射手段からなる、 請求項 1 9の接合装置。
2 2 . 前記接合手段が、 接合時に加熱により前記特殊皮膜を除去する加熱手段を 備えている、 請求項 1 9の接合装置。
2 3 . 前記接合手段が、 接合時に加圧により前記特殊皮膜を破壊する加圧手段を 備えている、 請求項 1 9の接合装置。
2 4 . 前記接合手段が、 接合時に超音波印加により前記特殊皮膜を分解除去する 超音波印加手段を備えている、 請求項 1 9の接合装置。
2 5 . 前記接合手段が、 接合時にエネルギー波による洗浄により前記特殊皮膜を 除去する接合時エネルギー波洗浄手段を備えている、 請求項 1 9の接合装置。.
2 6 . 前記接合時エネルギー波洗浄手段が大気圧プラズマ照射手段からなる、 請 求項 2 5の接合装置。
2 7 . 前記接合手段が、 接合時に加熱により前記特殊皮膜を除去する加熱手段、 加圧により前記特殊皮膜を破壌する加圧手段、 超音波印加により前記特殊皮膜を 分解除去する超音波印加手段、 エネルギー波による洗浄により前記特殊皮膜を除 去する接合時エネルギー波洗浄手段のうちの少なくとも 2つの手段を備えている、 請求項 1 9の接合装置。
2 8 . 前記特殊ガス置換手段が、 窒素ガスに置換する手段からなる、 請求項 1 9 の接合装置。
2 9 . 前記特殊ガス置換手段が、 A r.ガスに置換する手段からなる、 請求項 1 9 の接合装置。
3 0 . 前記特殊ガス置換手段が、 炭素を含むガスに置換する手段からなる、 請求 項 1 9の接合装置。
3 1 . 前記特殊ガス置換手段が、 フッ素を含むガスに置換する手段からなる、 請 求項 1 9の接合装置。
3 2 . さらに、 前記特殊皮膜の形成後金属接合部同士の接合までの間の、 被接合 物搬送、 接合のための被接合物の保持および接合のための被接合物同士の位置合 わせ工程のうちの少なくとも一つの工程で、 特殊皮膜が形成されている接合面に 対し非酸化性ガス又は特殊ガスを局所的に供給する手段を備えている、 請求項 1 9の接合装置。
3 3 . 接合される両金属接合部の接合面が金、 銅、 A 1、 I n、 S nのいずれか により構成されている、 請求項 1 9の接合装置。
3 4 . 前記洗浄手段が、 前記金属接合部の接合される全表面で 1 . 6 n m以上の 深さのエツチングが可能なエネルギー以上でエネルギー波を照射する手段からな る、 請求項 1 9の接合装置。
3 5 . 前記接合手段が、 金属接合部同士の接合時の隙間のばらつきを最大 4 / m 以下にする手段からなる、 請求項 1 9の接合装置。
3 6 . 前記接合手段が、 金属接合部同士の接合時の被接合物間の平行度を 4 m 以内に調整する手段を備えている、 請求項 1 9の接合装置。
3 7 . 少なくとも一方の金属接合部の表面硬度がピツカ一ス硬度 H vで 1 2 0以 下とされている、 請求項 1 9の接合装置。
3 8 . 基材の表面に金属接合部を有する被接合物同士の接合体であって、 前記金 属接合部の接合面がエネルギー波により洗浄され、 洗浄された接合面の雰囲気が 特殊ガスに置換されて接合面上に特殊ガスに由来する特殊皮膜が形成された後、 大気中で前記特殊皮膜が除去又は破壊されながら金属接合部同士が接合されるこ とによって作製されたことを特徴とする接合体。
3 9 . 前記接合された被接合物の少なくとも一方が半導体からなる、 請求項 3 8 の接合体。
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