WO2004010148A1

WO2004010148A1 - 分析装置

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Publication number: WO2004010148A1
Application number: PCT/JP2003/009120
Authority: WO
Inventors: Junichi Oka
Original assignee: Arkray, Inc.
Priority date: 2002-07-19
Filing date: 2003-07-17
Publication date: 2004-01-29
Also published as: EP1536238A1; CN100567988C; US20050207942A1; CN1668926A; US20080317629A1; AU2003281593A1; JPWO2004010148A1; JP4385108B2

Abstract

　本発明は、分析対象物(４)を搬送するための回転体(３)を備えた分析装置(１)に関する。この分析装置(１)は、分析対象物(４)に負圧を作用させて回転体(３)に対して分析対象物(４)を保持し、回転体(３)の周方向Ｄ３,Ｄ４に分析対象物(４)を搬送するように構成されている。回転体(３)は、負圧が発生させられる内部空間(30)と、分析対象物(４)を位置決め保持するための複数の載置部(31Ａ)と、載置部(31Ａ)と内部空間(30)との間を繋ぐ貫通孔(33)と、を有するものとして構成するのが好ましい。内部空間(30)には、回転体(３)に対して相対動させることにより、貫通孔(33)が開放する状態と閉塞される状態とを選択するための閉塞部材(７)を配置するのが好ましい。

Description

明細書分析装置技術分野

本発明は、分析対象物を搬送するための回転体を備えた分析装置に関する。背景技術

分析装置としては、分析用具の供給を測定者が行い、供給された分析用具を測光部位まで搬送して分析を行う半自動のものがある。分析用具の搬送には、たとえばベルトコンベアなどにより分析用具を平面的に搬送する方法が採用されてレヽる。ところが、分析用具の搬送を平面的に行う方法では、分析用具を搬送するためのスペースを平面的に大きく確保する必要があるために、分析装置が大型ィ匕してしまうといった問題がある。これに対して、分析用具の大型化を抑制するためのものとして、回転ドラムを用いた搬送方法を採用した分析装置がある。

この搬送方法を採用した分析装置としては、たとえば日本国特開 ¥6— 323997 号公報に開示されたものがある。上記公報に記載の分析装置は、本願の図⁸に示したように、試験片 90を載置するための複数の凹部 91が設けられた回転ドラム 92 を備えたものである。図 9 Aおよび図 9 Bに示したように、凹部 91に保持された試験片 90は、回転ドラム 92の回転によって載置部位 S 1力 >ら測光部位 S 2まで搬送される。試験片 90は、単に凹部 91に載置しているだけであるため、測光後の試験片 90は、回転ドラム 92の回転にともなって凹部 91から離脱して落下し、廃棄箱 93に収容される。

分析装置 9では、凹部 91に対して試験片 90を載置し、それを自由落下させる構成を採用している。そのため、試験片 90が自由落下しない範囲（図 9 Aおよび図 9 Bに 0で示した角度範囲に相当する範囲）に、試験片 90の搬送範囲が限定されてしまう。その一方で、試料液の分析を適切に行うためには、試験片 90に試料液を供給してから、一定以上の反応時間を確保する必要がある。したがって、短い搬送 »で目的とする反応時間を確保するためには、回転ドラム 92の回転速度を小さく設定する必要が生じる。そのには、短時間で連続的に多数の試料液を分析するのが困難となる。これに対して、短時間で連続的に多数の試料液を分析するためには、分析用具 90を載置するための載置部位 S 1から測光部位 S 2までの距離を大きく確保する必要がある。搬送距離は、回転ドラム 92の径を大きくすることにより大きくすることができるが、そのには、結局、分析装置 9の大型化を招来してしまう。発明の開示

本発明は、小型ィ匕を達成しつつも、短時間で連続的に分析対象物の分析を行うことができる分析装置を iヰすることを目的としている。

本発明により提供される分析装置は、分析雕物を搬送するための回転体を備え、カゝつ、分析対象物に負圧を作用させて上記回転体に対して分析対象物を保持し、上記回転体の周方向に分析物を搬送するように構成されていることを特徴としている。

ここで、「分析舰物」としては、典型的には試料の分析を行うために使用される試験片などの分析用具が挙げられる。分析対象物には、光学的手法などを利用して製品の良否の判定がなされるもの、たとえば半導体装置などの電子部品も含まれる。

回転体は、たとえば負圧が発生させられる内部空間と、分析物を位置決め保持するための複数の載置部と、載置部と内部空間との間を繋ぐ貫通孔と、を有するものとして形成される。この^、本発明の分析装置は、内部空間に負圧を発生させるための負圧発生手段を備えたものとして構成される。

回転体は、たとえば回転軸が略水平方向に延びるように配置される。

回転体は、たとえば円筒状に形成され、力つ、その外表面に上記複数の載置部が形成されたものとして構成される。

複数の載置部は、たとえば回転体の軸方向に延びるとともに、回転体の周方向において間隔を隔てて配置される。

内部空間には、回転体に対して相対動させることにより、貫通孔が閉塞される状態と開放される状態とを選択するための閉塞き附を収容しておくのが好ましレ、。

閉塞き附は、たとえば回転体の軸方向に延び、力つ上記軸方向に延びる切欠を有するものとして構成される。

本発明の分析装置は、たとえば回転体の少なくとも一部を収容する筐体をさらに備えたものとして構成される。この^ \ 閉塞部材における一方の端部は、筐体に対して回転不能に支持される。

本発明の分析装置は、分析用具を光学的に分析するための測光部をさらに備えたものとして構成することができる。この場合、閉塞部材は、分析対象物が測光部によって測光可能な位置に存在する状態では、当該分析物が載置された載置部に繋がる貫通孔を開放して当該分析物に対して負圧が作用した状態となるように構成される。

本発明の分析装置は、たとえば回転体を 180度以上回転させることにより、分析対象物を、載置部に載置された位置から測光部におレヽて測光可能な位置まで搬送するように構成される。

閉塞部材は、載置部が分析対象物を載置するための載置部位に位置するときには、当該載置部に繋がる貫通孔を閉塞して当該分析対象物に対して負圧が作用しないように構成するのが好ましレ、。

本発明の分析装置は、載置部に保持された分析対象物を取り外すためのブレードを備えたものとして構成することもできる。

この、回転体には、回転体に密着した状態でブレードが回転体に対して相対動することを許容するためのガイド部を設けるのが好ましい。

各載置部と当該載置部に繋がる貫通孔の間には、分析対象物に対して、この分析対象物における回転体の軸方向に延びる領域に負圧を作用させるための吸引力作用空間が設けるのが好ましい。

吸引力作用空間は、たとえば載置部よりも寸法の小さい凹部を、当該載置部に隣接させて載置部よりも回転体の軸に近レ、部分に設けることにより形成される。本発明の分析装置は、分析対象物が分析用具である ¾ ^には、分析用具に負圧を作用させたときに、分析用具に付着した余剰な試料を除去できるように構成するのが子ましい。図面の簡単な説明

図 1は、本発明の第 1の実施の形態に係る分析装置を示す全体斜視図である。図 2は、図 1に示した分析装置の内部構成を説明するための要部を示す平面図である。

図 3は、回転体およびその周囲を説明するための断面図である。

図 4は、図 2の IV— IV線に沿う断面図である。

図 5は、本発明の第 2の実施の形態に係る分析装置を示す図 4に相当する断面図である。

図 6は、実験で使用した回転ドラムの全体 # ^見図である。

図 7は、図 6の VII— VII線に沿う断面図である。

図 8は、従来の分析装置の一例を示す全体斜視図である。

図 9 Aおよび図 9 Bは、図 8に示した分析装置の要部を示す断面図である。発明を実施するための最良の形態

まず、本発明の第 1の実施の形態にっレ、て、図 1ないし図 4を参照して説明する。

図 1ないし図 4に示した分析装置 1は、筐体 2内の収容された回転体 3を備え、試験片 4に負圧を作用させて、回転体 3の周方向に試験片 4を搬送するように構成されたものである。図示した試験片 4は、短冊片 40の長手方向に並ぶようにして複数の試薬パッド 41が設けられたものである。

図 1に示したように、筐体 2には、複数の操作ボタン 21や表示器 22の他、切欠 20が設けられている。切欠 20は、後述する回転体 3の凹部 31を露出させるための第 1領域 20 a、試験片 4の移動を許容するための第 2領域 20b、および廃棄箱 5 を出し入れするための第 3領域 20 cを有している。なお、第 1領域 20 aにおいて凹部 31を露出させる状態とすることにより、回転体 3に対して試験片 4を載置することができる。

図 2ないし図 4に示したように、回転体 3は、円柱状の内部空間 30を有する筒状の形態とされている。回転体 3の外周面には、試験片 4を保持するための複数の凹部 31と、複数のガイド部 32と、が設けられている。 ' 複数の凹部 31は、回転体 3の軸方向 (図²および図 3の D 1， D 2方向)に延びるとともに、回転体 3の周方向 (図 2の D 3方向)におレ、て一定間隔隔てて並んで設けられている。本実施の形態の回転体 3には、合計で 8個の凹部 31が設けられている。各凹部 31は、第 1部分 31Aおよび第 2部分 31 Bを有している。

第 1部分 31 Aは、試験片 4を載置するためのものであり、試験片 4の幅寸法に対応した幅寸法を有している。第 2部分 31 Bは、第 1部分 31 Aに載置された試験片 4に対して、この試験片 4の長手方向の略全域にわたって負圧を作用させるための空間 31 bを形成するためのものであり、第 1部分 31Aよりも幅寸法が小さくされている。すなわち、図 4によく表れているように、凹部 31においては、第 1 部分 31 Aの底面 31Aaに当接した状態で試験片 4が載置され、試験片 4と第 2部分 31 Bの底面 31Baとの間には、 D 1，D 2方向 (図 2参照)に延びる空間 31 bが形成される。

図 3および図 4に示したように、第 2凹部 31Bの底面 31Baからは、回転体 3の内部空間 30に繋がる貫通孔 33が延びている。この貫通孔 33は、回転体 3の内部空間 30と凹部 31との間を連通させるためのものである。

図 2および図 4に示したように、複数のガイド部 32は、隣接する凹部 31の間の領域において、回転体 3の周方向 D 3に並んで設けられている。ガイド部 32は、後述するブレ一ド 82を回転体 3に対して密着した状態で相対動させるための部分であり、その底面 32 aが第 1部分 31 Aの底面 31Aaに対して段差なく連続している。

図 2および図 3に示したように、回転体 3の端部 34は、ジョイント 60を有する配管 6を介してポンプ 61に接続されている。より具体的には、回転体 3の端部 34 は、その外面 34 aとジョイント 60の内面 60 aとの間に Oリング 62を介在させた状態で、ジョイント 60に揷入されている。これにより、回転体 3の内部空間 30の気密性が確保されてレ、るとともに、ポンプ 61を利用して、内部空間 30に負圧を発生させることができるようになつている。ジョイント 60は、図面上には明確に表れていないが、筐体 2に対して位置固定されている。その結果、回転体 3の端部 34 は、ジョイント 60を介して筐体 2に支持されている。図 3および図 4に示したように、内部空間 30には、閉塞奋附 7が収容されている。この閉塞咅附 7は、切欠 70を有する本体部 71と、この本体部 71の端部 72から延出する軸部 73とを有している。軸部 73は、筐体 2に対して回転不能に固定されている。その結果、閉塞部材 7が回転しないようになされているとともに、回転体 3の端部 35が閉塞部材 7を介して筐体 2に支持されてレ、る。

このような構成では、回転体 3や閉塞き附 7を容易に取り外すことができるため、回転体 3や閉塞咅附 7を洗浄することができるようになる。

本体部 71は、回転体 3の内径に相当するを有する円柱状の部材に対して、切欠 70を形成した形態を有している。このため、切欠 70によって回転体 3と閉塞部材 7との間に空間 74が形成されるとともに、本体部 71の外面 75 (切欠 70が形成された部分を除く）が回転体 3の内面 3 Aに密着するように構成されている。したがって、閉塞部材 7の切欠 70に相当する部分に位置する貫通孔 33は、開放状態とされる一方、閉塞部材 7が密着した部分に位置する貫通孔 33は閉塞される。これにより、試験片 4を載置していなレヽ凹部 31や負圧を作用させる必要のなレ、部位に位置する凹部 31が内部空間 30と連通することを回避し、内部空間 30に発生した負圧が不必要に低下してしまうことを抑制することができる。

切欠 70は、図示した略 90度の中心角 Θを有する扇状の断面を有しているとともに、閉塞部材 7の軸方向 D 1 ,D 2に延びている。この切欠 70は、閉塞部材 7の端部 76において軸方向 D 2に開放している。その結果、切欠 70により規定される空間 74は、回転体 3の端部開口 36に連通し、空間 74にはポンプ 61により負圧を発生させることができる。

回転体 3の端部 34には、図 2および図 4に示したように歯車部 37が設けられてレ、る。この歯車部 37は、モータ 8の回転軸 80に接続された歯 ¾81と嚙み合うものである。回転体 3は、上述したように端部 34がジョイント 60を介して、端部 35が閉塞音附 7を利用して支持されている。そのため、回転体 3は、モータ 8の回転軸 80を矢印 D 4方向に回転させることによって、閉塞咅附 7の周りを矢印 D 3方向に回転することができる。回転体 3は、モータ 8の回転軸 80の回転を制御することにより、たとえば回転体 3は 45度ずつ間欠的に回転させられる。この^ 先に回転体 3を回転させてから次に回転体 3を回転させるまでの時間は、たとえば 8〜10秒に設定される。

筐体 2の内部には、回転体 3の他に、ブレード 82および測光部 83が配置されてレ、る。ブレード 82は、回転体 3に保持された試験片 4を搔き落とすためのものであり、回転体 3におけるガイド部 32の底面 32 aまたは凹部 31における第 1部分 31 Aの底面 31Aaに密着して酉己置されている。したがって、回転体 3を回転させた場合には、回転体 3におけるブレード 82が当接する部分が順次変ィ匕するとともに、ブレード 82が配置された部分に試験片 4が搬送されたときに試験片 4の底面と第 1部分 31 Aの底面 31Aaとの間にブレード 82の先端が差し込まれる。これにより、試験片 4は、回転体 3から搔き落とされる。

一方、測光部 83は、試験片 4の試薬パッド 41に対して光を照射し、その反射光を受光するためのものであり、たとえば L E Dなどの光†原とフォトダイォードなどの受光部とを有している。測光部 83は、スクリュウ 84によって筐体 2に支持されており、スクリュウ 84を矢印 D 5または D 6方向に回転させることにより、矢印 D 1，D 2方向に往復移動するように構成されている。したがって、複数の試薬パッド 41が設けられた試験片 4に対しては、試薬パッド 41毎に個別に光照射およびその反射光の受光を行うことができる。

次に、分析装置 1を用いての試料液の分析動作にっレ、て説明する。ただし、試験片 4の試薬パッド 41には、予め試料液が含浸させられているものとし、回転体 3の内部において切欠 70によって形成される空間 74には、ポンプ 61によって負圧が発生させられているものとする。

図 2および図 4に示したように、試料液の分析に当たっては、まず切欠 20の第 1領域 20 aを介して回転体 3における凹部 31の第 1部分 31 Aに対して試験片 4 を載置する。このとき、試験片 4は、第 2部分 31 Bの底面 3lBaから一定赚離間した状態で第 1部分 31 Aの底面 31Aaに当接する。上述したように、回転体 3は 45 度ずつ間欠的に回転させられるため、試験片 4の載置は回転体 3の回転が停止している間に行うことができる。また、試験片 4の載置は、回転体 3が 45度回転する毎に行うのが好ましく、そうすれば、連続的に試験片 4を供給することができるようになる。

試験片 4は、回転体 3の回転にともなって搬送される力空間 74には負圧が発生している。このため、試験片 4には、凹部 31が貫通孔 33を介して空間 74と連通した時点から負圧が作用し、試験片 4が回転体 3に保持される。貫通孔 33と試験片 4との間には、 D 1 ,D 2方向に延びる空間 31 bが介在しているため、試験片 4 の底面には、略全域にわたって負圧が作用する。これにより、試験片 4が第 1部分 31 Aに対して適切に保持され、試験片 4が回転体 3から自由落下してしまうことを抑制することができる。試験片 4に対して吸引力を作用させた場合には、試験片 4に対して過剰に付着した試料液が除去される効果も期待される。

試験片 4に付着した余剰な試料液を確実に除去するために、凹部 31における試験片 4に翻 ¾する部分に、複数の溝を設けるようにしてもよい。

試験片 4が載置されてから回転体 3を 90度回転させたには、試験片 4は、測光部 83の正面に位置する。この位置関係においては、測光部 83から試験片 4の試薬パッド 41に対して光を照射でき、また試薬パッド 41からの反射光を測光部 83 において受光することができる。より具体的には、スクリュウ 84を矢印 D 5方向に回転させることにより、測光部 83を矢印 D 1方向に移動させつつ、試験片 4の各試薬パッド 41に対する光照射とそのときの反射光の受光が連続的に行われる。分析装置 1では、測光部 83での測光結果に基づいて、試料液の分析が行われる。一方、測光部 83における測光が終了した場合には、スクリュゥ 84を矢印 D 6方向に回転させることによって測光部 83を矢印 D 2方向に移動させ、測光部 83を元の位置に復帰させる。測光部 83における測光は、回転体 3の回転が停止させられている間に終了し、測光後においては、回転体 3が再び回転させられる。回転体 3を一定角度回転させた # ^には、試験片 4は、ブレード 82が配置された部位に到達する。このとき、ブレード 82は、凹部 31における第 1部分 31Aの底面 31Aa に当接した状態となっており、ブレード 82の先端は、試験片 4の底面と第 1部分 31 Aの底面 3lAaとの間に差し込まれる。その結果、試験片 4が第 1部分 31 Aの底面 31Aaに密着した状態が解除され、凹部 31ひレヽては回転体 3から試験片 4が搔き取られる。この試験片 4は、廃棄箱 5内に収容される。

次に、本発明の第 2の実施の形態について、図 5を参照して説明する。ただし、図 5におレ、ては、図 1ないし図 4を参照して先に説明した分析装置と同様な要素については、同一の符号を付してあり、重複説明は省略する。図 5に示した分析装置では、先に説明した分析装置 1と同様に、回転体 3 (図 1ないし図 4参照)の上方から凹部 31における第 1部分 31Aに対して試験片 4を載置するように構成されている。その一方で、分析装置では、測光部 83が回転体 3の下方に位置しており、第 1部分 31 Αに載置された試験片 4を、回転体 3を 180度回転させることにより、測光部 83の正面まで試験片 4を搬送するように構成されている。この分析装置 1 'では、試験片 4が回転体 3の最下部に位置する部位においても試験片 4を保持する必要があるために、閉塞部材 7 'の切欠 70'の形状が先の分析装置 1における閉塞部材 7の切欠 70(図 3および図 4参照）とは異なつている。また、回転体 3の最下部において測光を行うため、ブレード 82の配置箇所も異なっている。ただし、分析装置においても、分析装置 1 (図 1ないし図 4 参照)と同様にして試料液の分析が行われる。

このような分析装置 1 'では、回転体 3の回転角度が 180度に相当する距離だけ、試験片 4の搬送距離を確保することができる。この距離は、自由落下により試験片 4を取り除く構成の分析装置においては達成困難なものである。この点からすれば、分析装置 1 'では回転体 3の径を大きくすることなく搬送距離を大きく確保できるといえる。したがって、分析装置 1 'では、回転体 3を利用した搬送方法を採用することにより分析装置 1 'の小型化を達成しつつも、吸引力を利用して試験片 4を保持することにより搬送距離を大きく確保できる。その結果、分析装置 1 ' に対して短時間に連続的に試験片 4を供給し、短時間で多くの試料液を分析することが可能となる。

本発明は、上述した実施の形態で説明した構成には限定されず、種々に設計変更可能である。たとえば、回転体における試験片を載置するための凹部の個数は 8個には限定されず、凹部を幅寸法の異なる 2つ (第 1および第 2凹部)により構成する力^かも設計事項である。各凹部に負圧を発生させるための貫通孔の個数やその形成位置も設計事項である。

本発明は、試験片を分析するように構成された分析装置ばかりでなく、その他の構成の分析用具を用いて試料の分析を行うように構成された分析装置、あるいは製品の良否の判定を行うための分析装置にも適用することができる。実施例

本発明者は、吸引力を利用して回転体に試験片を保持し、試験片を搬送する方法に実用性がある力かを検討した。回転体に対応するものとして、図 6および図 7に示した角筒 85をした。この角筒 85は、 4つの側面 85A〜85Dを有しているとともに、各側面 85A〜85Dに凹部 86A〜89Aが形成されたものである。角筒 85の外形寸法は、 HXHX L =15 X 15 X 100mmである。各凹部 86A〜89Aは、載置部 (分析装置 1の凹部 31における第 1部分 31Aに相当) 86Aa〜89 Aaおよび吸弓 I部（分析装置 1の凹部 31における第 2部分 31Bに相当） 86Ab〜89Abを有している。各凹部 86A〜89Aは、 1つの貫通孔 86 B〜89Bを介して角筒 85の内部空間 85Eに連通している。各凹部 86A〜89Aの幅寸法 W1は 5mmに、各吸引部 86Ab 〜89Abの幅寸法 W2は 2.5mmに、内部空間 85 Eの容積は、 1030mm³にそれぞれ設定されている。この内部空間 85 Eには、図外のポンプによって負圧が発生するようになされている。試験片 4'としては、幅寸法が 5mm、長さ寸法が 100mmのものを使用した。

実用上留意すべき点は、第 1に、試験片 4'が回転体 (角筒 85)の最下部において測光されることがあるため、試験片 4'を回転体 (角筒 85)の最下部において保持でき (図 6および図 7の状態)、多少の外力が作用しても試験片 4'が落ちないこと、第 2に、一旦載置した試験片 4 'の位置補正をできることである。第 1の点を実現するためには、試験片 4'を大きな力によって吸引すればよい反面、第 2の点を実現するためには、試験片 4'に作用する力を小さくしなければならなレ、。

実際の検討にあたっては、まず、凹部 86 Aを粘着テープ 86Dによって塞いだ状態として、内部空間 85E内に負圧を発生させた上で、凹部 87Aに試験片 4'を吸引保持させた。この状態において、試験片 4'を比較的容易に移動させることができる内部圧力の負圧の最大値を検討した。その結果は、一 4.90X10³Paであった。一方、角筒 85最下部において、指で軽く触っても試験片 4'を保持させておくことができる内部圧力の負圧の最小値を検討した。その結果は、 — 1.96X10³Paであつた。したがって、図示した角筒 85を用いる^には、内部空間 85Eの内部圧力を一 4.90 X 10³Pa〜一 1.96 X 10³に設定すれば、試験片 4'の保持および西立置合わせを行うことがきる。言レ、換えれば、試験片 4'の保持および赚置合わせを行うことができる吸引力の設定範囲がし、吸引力を利用した試験片 4'の保持手法は、実施の形態にぉレ、て説明した形態の回転体にっレ、ても実現可能性があることがされた。

Claims

請求の範囲

1 . 分析¾ 物を搬送するための回転体を備え、カゝつ、

分析物に負圧を作用させて上記回転体に対して分析 ¾ 物を保持し、上記回転体の周方向に分析対象物を搬送するように構成されていることを特徴とする、分析装置。

2 . 上記回転体は、負圧が発生させられる内部空間と、分析文豫物を位置決め保持するための複数の載置部と、上記载置部と上記内部空間との間を繋ぐ貫通孔と、を有している、請求項 1に記載の分析装

3 . 上記内部空間に負圧を発生させるための負圧発生手段をさらに備えている、請求項 2に記載の分析装置。

4. 上記回転体は、その回転軸が略水平方向に延びるように配置されている、請求項 1に記載の分析装 So

5 . 上記回転体は、円筒状に形成され、カゝつ、その外表面に上記複数の載置部が形成されたものである、請求項 2に記載の分析装置。

6 . 上記複数の載置部は、上記回転体の軸方向に延びているとともに、上記回転体の周方向にぉレ、て間隔を隔てて配置されている、請求項 5に記載の分析装置。

7 . 上記内部空間には、上記回転体に対して相対動させることにより、上記貫通孔が閉塞される状態と開放される状態とを選択するための閉塞部材が収容されている、請求項 2に記載の分析装 go

8 . 上記閉塞部材は、上記回転体の軸方向に延びているとともに、上記軸方向に延びる切欠を有している、請求項 7に記載の分析装置。

9 . 上記回転体の少なくとも一部を収容する筐体をさらに備えており、上記閉塞部材における一方の端部は、上記筐体に対して回転不能に支持されている、請求項に記載の分析装置。

10. 分析 ¾ ^物を光学的に分析するための測光部をさらに備えており、

上記閉塞部材は、分析纖物が上記測光部によつて測光可能な位置に存在する状態では、当該分析物が載置された載置部に繋がる貫通孔を開放して当該分析物に対して負圧が作用した状態となるように構成されている、請求項 7 に記載の分析装置。

11. 上記回転体を 180度以上回転させることにより、分析対象物を、上記載置部に載置された位置から上記測光部において測光可能な位置まで搬送するように構成されている、請求項 10に記載の分析装置。

12. 上記閉塞部材は、載置部が分析文豫物を載置するための載置部位に位置するときには、当該載置部に繋がる貫通孔を閉塞して当該分析対象物に対して負圧が作用しないように構成されている、請求項 7に記載の分析装置。

13. 載置部に保持された分析対象物を取り外すためのブレードを備えている、請求項 1に記載の分析装置。

14. 上記回転体には、上記回転体に密着した状態で上記ブレードが上記回転体に対して相対動することを許容するためのガイド部が設けられている、請求項 13に記載の分析装置。

15. 上記各載置部と当該載置部に繋がる貫通孔の間には、分析物に対して、この分析^^物における上記回転体の軸方向に延びる領域に負圧を作用させるための吸引力作用空間が設けられている、請求項 2に記載の分析装置。

16. 上記吸引力作用空間は、上記載置部よりも寸法の小さい凹部を、上記載置部に «させて上記載置部よりも上記回転体の軸に近レ、部分に設けることにより形成されている、請求項 15に記載の分析装置。

17. 上記分析纖物は、試料の分析を行うための分析用具であり、

上記分析用具に負圧を作用させたときに、上記分析用具に付着した余剰な試料を除去できるように構成されている、請求項 1に記載の分析装置。