WO2003054940A1 - Appareil de traitement au plasma, boitier d'adaptation, adaptateur d'impedance et coupleur - Google Patents

Appareil de traitement au plasma, boitier d'adaptation, adaptateur d'impedance et coupleur Download PDF

Info

Publication number
WO2003054940A1
WO2003054940A1 PCT/JP2002/013094 JP0213094W WO03054940A1 WO 2003054940 A1 WO2003054940 A1 WO 2003054940A1 JP 0213094 W JP0213094 W JP 0213094W WO 03054940 A1 WO03054940 A1 WO 03054940A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
power supply
frequency power
plasma
supply rod
matching
Prior art date
Application number
PCT/JP2002/013094
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Tsutomu Higashiura
Original Assignee
Tokyo Electron Limited
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Limited filed Critical Tokyo Electron Limited
Priority to AU2002354234A priority Critical patent/AU2002354234A1/en
Priority to KR1020047009011A priority patent/KR100625762B1/ko
Priority to US10/498,222 priority patent/US7025857B2/en
Publication of WO2003054940A1 publication Critical patent/WO2003054940A1/ja

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/32174Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
    • H01J37/32183Matching circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge

Definitions

  • the present invention relates to a plasma processing apparatus that performs a process such as a film forming process on a target object using plasma.
  • a plasma processing apparatus that performs a surface treatment on the substrate using plasma may be used.
  • a plasma processing apparatus for example, an apparatus for performing a chemical vapor deposition (CVD) process is known.
  • CVD chemical vapor deposition
  • a parallel plate type plasma processing apparatus is widely used because of its excellent processing uniformity and relatively simple apparatus configuration.
  • the plasma processing apparatus is provided with an electrode for supplying high-frequency power to convert a source gas or the like into plasma in a vacuum vessel in which surface treatment of the substrate is performed.
  • a power supply rod connected to the electrode may be inserted into the socket to electrically couple the high-frequency power supply and the electrode.
  • a multi-face contact is arranged on the inner surface, and is provided, for example, at the output part of an impedance matching device so that high-frequency power transmitted from a high-frequency power supply can be transmitted to a power supply rod.
  • the multifaceted contact has, for example, a large number of contacts having a ring shape and a spherical surface. These contacts are urged toward the inside of the socket by a spring. When the power supply rod is fitted into this socket, it is elastically held to electrically connect the power supply rod and the socket. .
  • the matching box is fixed to the outer wall of the vacuum vessel, and has a contact inside the vacuum vessel.
  • the feed rod connected to the electrode is connected to the contact.
  • An external power supply is connected to the contacts via external terminals.
  • the contact may be fitted to the feed rod.
  • a contact 70 a force for connecting the matching box 70 and the power supply rod 71 is provided outside the matching box 70 from the beginning.
  • the impedance matching box and the matching box containing the impedance matching box are attached to and detached from the plasma processing system for maintenance and correction of electrical characteristics.
  • this attachment or detachment is performed, there is a problem that the contact area between the power supply rod and the multi-face contact changes and the contact resistance fluctuates. If the contact resistance fluctuates, the electrical characteristics of the high-frequency power transmission path will change, resulting in non-uniform plasma and increased losses due to the resistance component.
  • the power supply rod may be directly connected to the electrode, and in such a case, it is structurally difficult to perform the plating process. Furthermore, at the part in contact with the vacuum area, plating may not be possible because plating may cause contamination.
  • the present invention has been made in view of the above situation, and has as its object to provide a plasma processing apparatus capable of stably mounting an electric circuit physically or electrically.
  • Another object of the present invention is to provide a highly reliable plasma processing apparatus.
  • a plasma processing apparatus uses a plasma gas and a vacuum vessel for processing an object to be processed
  • An electrode for plasma generation arranged in the vacuum vessel
  • a high-frequency power supply for generating high-frequency power to be supplied to the plasma generation electrode; a power supply rod for transmitting the high-frequency power generated by the high-frequency power supply to the plasma generation electrode;
  • a matching box having a matching circuit for matching input impedance to the plasma generating electrode side and output impedance of the high-frequency power supply; an output terminal of high-frequency power in the matching circuit; and a high-frequency power in the power supply rod.
  • a contactor for establishing electrical contact with the input end of the
  • the contactor is configured to be able to establish electrical contact between the matching circuit and the power supply rod
  • the matching pox has an insertion port into which the contactor can be inserted, and the matching circuit is inserted into the insertion port with the matching bottas attached to the outer wall of the vacuum vessel, whereby the matching circuit is formed. It is desirable to establish electrical contact between the power supply rod and the power supply rod.
  • the contactor includes a heater that heats an object to be processed in the vacuum vessel, and the contactor is configured to be able to establish electrical contact for providing electric power supplied from a commercial power supply to the heater. May be.
  • the matching box includes, for example, a coupler that fits a power supply rod connected to the plasma generation electrode to fix and hold the power supply rod to the impedance matching device.
  • a coating layer made of an object. This coupler can supply the high-frequency power generated by the high-frequency power supply to the plasma generation electrode by inductive coupling with the power supply rod.
  • the matsuchinda box according to the second aspect of the present invention includes:
  • a matching box which is applied to a plasma processing apparatus for processing an object to be processed using a plasma gas and has a matching circuit for matching an output impedance of a high-frequency power supply with an input impedance of a plasma load side.
  • a plasma processing apparatus includes:
  • a vacuum container for processing the object to be processed Using a gas that has been turned into plasma, a vacuum container for processing the object to be processed, and an electrode for plasma generation arranged in the vacuum container,
  • a high-frequency power supply that generates high-frequency power to be supplied to the plasma generation electrode; an impedance coupled to the plasma generation electrode and the output of the high-frequency power supply coupled between the plasma generation electrode and the high-frequency power supply; An impedance matching device for matching impedance and
  • a coupling that fits a power supply rod connected to the plasma generation electrode and that is fixedly held by the impedance matcher
  • the coupler is characterized in that a coating layer made of an insulator is provided at a fitting portion of the power supply rod.
  • a coating made of an insulating material is provided on the fitting portion of the power supply rod in the coupler. Layers are provided, and it is not necessary to consider the contact resistance when inserting the power supply rod, and circuits such as impedance matching devices and high-frequency power supplies can be electrically stably mounted.
  • the coupler be capable of supplying high-frequency power generated by the high-frequency power supply to the electrode for plasma generation by inductive coupling with the power supply rod.
  • An impedance matching device includes:
  • An impedance matching device that is applied to a plasma processing apparatus for processing an object to be processed using a gas that has been turned into plasma, and matches an output impedance of a high-frequency power supply with an input kinase on a plasma load side.
  • a coupler that fits and fixes a power supply rod connected to an electrode provided in a vacuum vessel that processes the object to be processed
  • the coupler is characterized in that it has a coating layer made of an insulator at a portion where the power supply rod is fitted.
  • a coupler according to a fifth aspect of the present invention includes:
  • a power supply rod connected to an electrode provided in a vacuum vessel for processing an object to be processed using a plasma gas is fixed and held, and the power supply rod is connected to an electric circuit outside the vacuum vessel.
  • a contact layer with the power supply rod includes a coating layer made of an insulator.
  • a fitting hole for fitting and fixing and holding the power supply rod be provided, and the coating layer be provided on an inner surface of the fitting hole.
  • FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a configuration of a plasma processing apparatus according to an embodiment of the present invention. It is.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a configuration of a susceptor and the like provided at a lower portion of the vacuum vessel.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of the matching pox and an example of the internal wiring of the contactor.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of the configuration of the upper part of the vacuum vessel.
  • FIG. 5 is a diagram showing in detail a fitting portion between the socket and the power supply rod.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the operation of attaching the matching box.
  • FIG. 7 is a diagram showing an equivalent circuit of a path for transmitting high-frequency power from the second high-frequency power supply to the shower head.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a conventional matching box. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • a plasma processing apparatus 1 includes a cylindrical vacuum vessel 2.
  • the vacuum vessel 2 is made of a conductive material such as anodized aluminum (anodized).
  • the vacuum vessel 2 is grounded.
  • An exhaust pipe 3 is connected to the bottom of the vacuum vessel 2, and the exhaust pipe 3 is connected to a pump 4.
  • the pump 4 is an exhaust device composed of a turbo molecular pump (TMP) or the like, and can exhaust the inside of the vacuum vessel 2 until a predetermined pressure is reached.
  • TMP turbo molecular pump
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the configuration of the susceptor 8 and the like.
  • the susceptor 8 is made of, for example, aluminum nitride (A 1 N) formed in a columnar shape, and an electrostatic chuck 10 is placed and fixed on an upper surface, and generates plasma in a processing space in the vacuum vessel 2. Function as a lower electrode.
  • the electrostatic chuck 10 ' is configured by arranging a conductive sheet 10a such as a copper foil plate between two upper and lower insulating layers made of, for example, a polyimide film, and adsorbs the wafer W by Coulomb force. And fix it.
  • a conductive sheet 10a such as a copper foil plate
  • two upper and lower insulating layers made of, for example, a polyimide film
  • a heater 11 for heating the wafer W to a predetermined temperature is provided. Have been killed. Further, a cooling jacket 12 for circulating the refrigerant is provided with the heat transfer plate 15 interposed between the cooling jacket 12 and the heater 11. An inlet pipe 13 and an outlet pipe 14 are connected to the cooling jacket 12, and the refrigerant supplied from the inlet pipe 13 is discharged from the outlet pipe 14 through the cooling jacket 12. .
  • the bottom surface of the susceptor 8 is supported by a ground member 2a which is a part of the inner wall of the vacuum vessel 2.
  • the susceptor 8 is connected to, for example, the inner conductor bars 16, 17 a, 17 b and the outer conductor tube 18. As a result, the susceptor 8 receives the high-frequency power generated by the first high-frequency power supply 50 and functions as a lower electrode for drawing plasma into the wafer W in the vacuum chamber 2.
  • the inner conductor rods 16, 17a, 17b and the outer conductor pipe 18 function as a power supply rod 19 for supplying power to the lower electrode.
  • the inner conductor rod 16 is connected to the conductive sheet 10a provided in the electrostatic chuck 10 and is generated by the high-frequency power generated by the first high-frequency power supply 50 and the DC power supply 52. To transmit a DC voltage.
  • the inner conductor rods 17a and 17b are connected to the heater 11 and transmit the commercial frequency power supplied from the commercial power supply 53.
  • the outer conductor tube 18 is a tube arranged so as to cover the inner conductor bars 16, 17 a and 17 b.
  • a matching box 20 having a matching circuit section 21 is provided between the susceptor 8 and the first high-frequency power supply 50, the DC power supply 52, and the commercial power supply 53. Have been.
  • the power supply rod 19 is drawn out to the outer wall of the side surface of the vacuum vessel 2, and is configured so that the matching box 20 can be attached.
  • FIG. 3 is a front view showing an example of the configuration of the matching box 20.
  • the matching pox 20 includes a matching circuit section 21 and a contactor insertion section 22.
  • the matching box 20 is connected to a first high-frequency power supply 50 and a commercial power supply 53.
  • the matching box 20 is connected to a DC power supply 52 via a filter circuit 55 composed of an LPF (Low Pass Filter) or the like.
  • the matching circuit section 21 is for matching the output impedance of the first high-frequency power supply 50 with the input impedance of the susceptor 8 as the lower electrode. Further, matching circuit section 21 superimposes the voltage for drawing plasma received from first high-frequency power supply 50 on the DC voltage received from DC power supply 52 via filter circuit 55 and outputs it.
  • the contactor insertion section 22 is an insertion port for fixing the internal wiring to the contactor 23 box 20 in which the internal wiring is modularized.
  • a power supply rod lead-out part 24 composed of an opening through which the power supply rod 19 can be pulled out from the back side is provided.
  • the contactor insertion part 22 has an electrode 25 at a predetermined position, which is in contact with a lead-out terminal of each wiring stored in the contactor 23 to establish an electrical connection with the power supply rod 19. It is located.
  • the electrode 25 includes, for example, a first electrode 25 a extending to the inner conductor rod 16 by insertion of the contactor 23, and a second electrode 2 connecting to the outer conductor tube 18. 5b and third and fourth electrodes 25c and 25d connected to the internal conductor rods 17a and 17b.
  • the first and second electrodes 25 a and 25 b are connected to the matching circuit section 21 and function as output terminals of the matching circuit section 21, and are used to pull in plasma that is superimposed on a DC voltage and transmitted. Can be supplied to the electrostatic chuck 10.
  • the second electrode 25 b connected to the outer conductor tube 18 is grounded.
  • the third and fourth electrodes 25 c and 25 d are connected to a commercial power supply 53, so that electric power at a commercial frequency can be supplied to the heater 11.
  • a filter circuit composed of an LPF or the like for preventing high-frequency power from flowing around may be provided between the commercial power source 53 and the power source.
  • FIG. 3 shows an example of a wiring 30 arranged inside the contactor 23 and connecting the power supply rod 19 and the electrode 25.
  • the contactor 23 has wirings 30a to 30d built therein as a three-dimensional circuit.
  • the wiring 30a is connected to the inner conductor bar 16 and is exposed to the exposed terminal 31a-1 and the first electrode 25a is exposed to the terminal 31a-2. It is connected to the.
  • the wiring 30 b is composed of a lead terminal 3 1 b—1 exposed to contact the outer conductor tube 18 and a lead terminal 3 1 b— exposed to contact the second electrode 25 b. Connected to two.
  • the wiring 30 c is composed of a lead-out terminal 3 1c-1 exposed to contact the internal conductor bar 17 a and a lead-out terminal 3 1c exposed to contact the third electrode 25 c. One is connected to two.
  • the wiring 30 d is composed of a lead-out terminal 3 1 d—1 exposed to contact the inner conductor rod 17 b and a lead-out terminal 3 1 d—exposed to contact the fourth electrode 25 d. Connected to two.
  • a shower head 5 having a large number of gas discharge holes is provided on the ceiling of the vacuum vessel 2 facing the mounting surface of the wafer W on the susceptor 8 shown in FIG. To the shower The periphery of the pad 5 is fixed with bolts or the like, and is covered with an insulating member 6 formed in an annular shape.
  • the insulating member 6 is made of, for example, such as quartz insulation coating process is performed with a high corrosion resistance such as alumina (A 1 2 0 3) ceramics from the surface.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of the configuration of the upper portion of the vacuum vessel 2 in detail.
  • a gas pipe 26a and 26b connected to an upper portion of the diffusion plates 7a and 7b receive gas for plasma generation, source gas, and the like. Supplied.
  • the gas pipe 26 including the gas pipes 26a and 26b is connected to a gas supply source 29 via a valve 27 or an MFC (mass flow controller) 28 as shown in FIG. cage, for example, S i H 4, 0 2 and the raw material gas such as plasma, such as a r gas
  • a gas for generation and the like can be supplied from the shower head (5) into the vacuum vessel (2).
  • a plurality of gas pipes 26, valves 27, MFCs 28 and gas supply sources 29 are provided as appropriate in accordance with the type of gas to be provided in the vacuum vessel 2, but each one is shown in FIG. ing. Further, the number and configuration of the diffusion plates 7 a and 7 b can be appropriately changed according to the type of gas supplied from the gas supply source 29.
  • a power supply rod 32 is fixed by screwing or the like, and the high-frequency power generated by the second high-frequency power supply 51 is supplied to the shower head. By supplying it to 5, it functions as an upper electrode for generating plasma such as source gas in the vacuum vessel 2.
  • the impedance matching unit 34 matches the output impedance of the second high-frequency power supply 51 with the input impedance of the shower head 5 which is the upper electrode. It has a socket 40 for fitting and fixing.
  • FIG. 5 is a view showing in detail a fitting portion between the socket 40 and the power supply rod 32. As shown in FIG. Soke
  • the 25-bit 40 is provided with a fitting hole 41 for fitting and holding the power supply rod 32 in the center of a cylindrical metal body 40a.
  • a coating layer 42 made of an insulating material such as a fluororesin such as polytetrafluoroethylene [Teflon (registered trademark)] is provided on the inner wall of the fitting hole 41. That is, the power supply rod 32 and the socket 40 are electrically insulated from each other, and supply only the AC component power by inductive coupling. It is configured to transmit to the electric rod 32 side. Further, the socket 40 is grounded through a capacitor C1 for compensating for the rear turtle component of the impedance and for insulating the DC component, and the power supply rod 32 fitted in the fitting hole 41 is And grounded via the capacitor C2.
  • a shield box 33 and an impedance matching device 34 are placed above the vacuum vessel 2.
  • the power supply rod 32 connected to the diffusion plate 7b is fitted into the fitting hole 41 of the socket 40 provided at the output part of the impedance matching device 34 with the coating layer 42 interposed therebetween.
  • the matching box 20 Fix the matching box 20 to the outer side wall of the vacuum vessel 2 by screwing. As shown in Fig. 6, the matching box 20 is screwed into the innermost part of the contactor insertion part 22 by a screw hole provided in the frame, etc., so that the power supply rod 19 connected to the susceptor 8 is Is fixed to the outer wall of the side surface of the vacuum vessel 2 with a sufficient space between them. At this time, the power supply rod 19 is moved from the power supply rod outlet 24 to the contactor insertion part.
  • the contactor 23 is inserted into the contactor insertion part 22 to connect the external circuit including the matching circuit part 21 and the power supply rod. Electrical contact with 19 is established.
  • the wafer W is loaded from a load lock chamber (not shown) and placed on the susceptor 8.
  • the DC voltage generated by the DC power supply 52 is applied to the conductive sheet 10 a of the electrostatic chuck 10 to attract and hold the wafer W.
  • the pump 4 is driven to evacuate the inside of the vacuum vessel 2 to a predetermined degree of vacuum.
  • a predetermined degree of vacuum is reached, the valve 27 is opened, and a predetermined gas supplied from the gas supply source 29, for example, a plasma generation gas such as 25 Ar gas, is controlled by the MFC 28 while controlling the gas flow. It is led to a pipe 26 and supplied into the vacuum vessel 2 by a shield 5 to maintain a predetermined pressure.
  • the vacuum vessel 2 is heated Caro by the heater 1 1, a predetermined raw material gas from the gas supply source 2 9, for example, a process gas such as S i H 4 gas and 0 2 gas input.
  • Heater 1 1 For example, the inside of the vacuum vessel 2 is heated such that the temperature of the wafer W becomes a predetermined process temperature within a range of 400 ° C. to 600 ° C.
  • the first and second high-frequency power supplies 50 and 51 are activated to start supplying high-frequency power, and a raw material gas or the like is plasma-decomposed to deposit a laminated film on the wafer W.
  • the first high-frequency power supply 50 applies a negative bias voltage to attract ions to the wafer W.
  • the frequency of the first high-frequency power supply 50 is determined based on the vibration frequency of plasma ions in the vacuum vessel 2 and the like, and is set to about 10 MHz at the highest, preferably about 2 MHz.
  • the second high-frequency power supply 51 generates and outputs high-frequency power having a predetermined frequency, for example, preferably 60 MHz within 27 MHz to: L0 MHz.
  • the power supply rod 32 and the socket 40 connected to the diffusion plate 7b are arranged so that the directions of the magnetic fields formed by the alternating currents flowing therethrough match. For example, suppose that an alternating current flows in the socket 40 due to the high-frequency power transmitted from the second high-frequency power supply 51, and a concentric magnetic field is formed in the circumferential direction of the power supply rod 32. In this case, the induced electromotive force in the sheet Denbo 3 2 occurs, high frequency power is transmitted to the Shawa 1 »head 5 as the upper electrode.
  • the output part of the impedance matching device 34 shows the same electrical characteristics as the transformer T 1 shown in FIG. 7, and the high-frequency power supplied from the second high-frequency power supply 51 is supplied to the upper part through the power supply rod 32. It can be transmitted to the shower head 5, which is an electrode.
  • the socket 40 corresponds to the primary winding of the transformer T1
  • the power supply rod 32 corresponds to the secondary winding of the transformer T1.
  • the plasma load 60 shown in FIG. 7 includes the impedance of the power supply rod 32 and the shower head 5, the impedance of the plasma generated in the processing space in the vacuum vessel 2, and the like.
  • the socket 40 and the power supply rod 32 are insulated by the coating layer 42, it is not necessary to consider contact resistance in the first place, and the second characteristic is electrically stable. High frequency power from the high frequency power supply 51 can be transmitted.
  • SiH 4 gas and O 2 gas are supplied as source gases, these gases are ionized in the processing space in the vacuum vessel 2, and a Sio 2 film is deposited on the wafer W.
  • supply of discharge power, introduction of raw material gas, vacuum vessel After stopping the heating in each of the vacuum vessels 2 and sufficiently purging and cooling the inside of the vacuum vessel 2, the wafer W is taken out.
  • the matching box 20 when the matching box 20 is attached to the outer side wall of the vacuum vessel 2, it is fixed and positioned with a margin between the power supply rod 19 and the positioning box. Then, by inserting the contactor 23 into the contactor insertion portion 22, electrical contact between the power supply rod 19 and an external circuit is established. Thereby, when the matching pox 20 is attached, the pressure applied to the coupling portion with the power supply rod 19 can be reduced. Therefore, the power supply rod 19 and the contactor 23 can be prevented from being destroyed, and an external circuit can be physically stably attached to the power supply rod 19.
  • the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications and applications are possible.
  • the description has been made assuming that the coating layer 42 is provided on the socket 40 into which the power supply rod 32 connected to the upper electrode is fitted.
  • the present invention is not limited to this. That is, a plurality of metal members may be connected to each other on the power supply rod 19 connected to the susceptor 8 serving as the lower electrode by using a socket configured similarly to the socket 40.
  • the DC voltage output by the DC power supply 52 shall be transmitted by electrical contact with the power supply rod 19, and the socket will receive the high-frequency power generated by the first high-frequency power supply 50, etc. What is necessary is just to supply.
  • the configuration of the contactor 23 can be arbitrarily changed according to the type of power supply for supplying power to the lower electrode susceptor 8 and the like.
  • a lead terminal and an electrode for establishing a proper contact can be used, and those with wiring can be used.
  • the configuration of the plasma processing apparatus 1 can be arbitrarily changed.
  • the plasma processing apparatus 1 has a coil or a permanent magnet around the vacuum vessel 2 for generating a predetermined magnetic field.
  • the wafer W may be processed by utilizing the resonance of the wafer.
  • the present invention is not limited to a plasma processing apparatus that performs plasma CVD processing, but supplies high frequency power to a shower head and a susceptor to process a target object such as a semiconductor wafer, a CD substrate, or a solar cell substrate.
  • the present invention can be applied to an etching apparatus, an asshing apparatus, and the like.
  • the present invention is applicable to a processing apparatus that performs plasma processing, such as a semiconductor manufacturing apparatus and a liquid crystal display element manufacturing apparatus.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

明細書 プラズマ処理装置、 マッチングボックス、 インピーダンス整合器、 結合器 技術分野
この発明は、 プラズマを用いて被処理体に成膜処理等の処理を施すプラズマ処 理装置に関する。 背景技術
半導体基板等の製造プロセスでは、 プラズマを用いてこれらの基板に表面処理 を施すプラズマ処理装置が使用されることがある。 プラズマ処理装置としては、 例えば、 化学的気相成長 (Chemical Vapor Deposition: C V D) 処理を施す装置 等が知られている。 プラズマ処理装置の中でも、 平行平板型のプラズマ処理装置 は、 処理の均一性に優れ、 また、 装置構成も比較的簡易であることから、 広く使 用されている。
プラズマ処理装置には、 基板の表面処理が行われる真空容器内に、 高周波電力 を供給して原料ガス等をプラズマ化するための電極が設けられている。
真空容器内に高周波電力を供給するため、 電極に繋がる給電棒をソケットに差 し込んで、 高周波電源と電極とを電気的に結合する場合がある。 このソケットは 内面に多面接触子が配置され、 例えばインピーダンス整合器の出力部分に設けら れ、 高周波電源から伝送された高周波電力を給電棒に伝達可能とする。 多面接触 子は、 例えば、 リング状で、 表面が球状の多数の接触子を有している。 これらの 接触子は、 ばねによりソケット内側へ付勢されており、 給電棒がこのソケットに 嵌め込まれた際にこれを弾性的に保持することにより、 給電棒とソケットとを電 気的に接続させる。
このように、 インピーダンス整合器の出力部分に設けられたソケットと給電棒 との電気的接触面に多面接触子を配置することで、 所定の実接触面積及び接触圧 を確保するようにしていた。
また、 電極に繋がる給電棒と外部の電気回路とを電気的に接続するため、 マツ チングボックスを使用する方法がある。 マッチングボックスは、 真空容器の外壁 に固定され、 真空容器の内部側に接触子を備える。 電極に接続された給電棒は接 触子に接続される。 外部の電源は、 外部端子を介して接触子に接続される。 接触 子を給電棒に嵌合させる場合がある。 この場合、 従来では、 例えば図 8に示すよ うに、 マッチングボックス 7 0と給電棒 7 1とを結合するための接触子 7 0 a力 当初からマッチングボックス 7 0の外部に突設されていた。 給電棒 7 1をマッチ ングボックス 7 0に取付ける際には、 接触子 7 0 aを給電棒 7 1に設けられた嵌 合穴 7 1 aに嵌め込んだ後、 マッチングボックス 7 0本体を真空容器の外壁に設 けられたフレーム等にネジ止めして固定する。
インピーダンス整合器及びこれを収容したマッチングボックスは、 メンテナン スゃ電気特性の修正などのために、 プラズマ処理装置本体に対する取付けや取外 しが行われる。 この取り付けや取り外しが行われると、 給電棒と多面接触子との 接触面積が変化し、 接触抵抗が変動するという問題があった。 接触抵抗が変動す ると、 高周波電力の伝送経路における電気特性が変化するためプラズマが不均一 となったり、 抵抗成分による損失が増大することがある。
また、 給電棒とソケットとの接触抵抗を安定させるためには、 給電棒の表面に メツキ処理を施すことが望ましい。 しかしながら、 給電棒は電極に直結している 場合があり、 このような場合などには構造的にメツキ処理が困難であった。 さら に、 真空領域に接する部位では、 メツキが汚染の原因となる場合もあることから、 メツキ処理ができないこともあった。
また、 マツチンダボックスに突設された接触子を給電棒に嵌合させて結合する 場合には、 接触子の嵌め込みをマッチングボックスのネジ止めよりも先に行わな ければならなくなる。 マッチングボックスは、 一般に 1 0 k g〜2 0 k g程度と かなりの重量があるため、 接触子を正確に給電棒に差し込むことが困難であった。 さらに、 マッチングボックスをネジ止めするまでの間は、 重いマッチングボック スを適切に支持しておかなければ、 給電棒に強い圧迫が加わることになる。 この ため、 マッチングボックスと給電棒とを結合する接触子や給電棒自体が破壊され やすいという問題があった。 発明の開示
この発明は、 上記実状に鑑みてなされたものであり、 電気回路を物理的に、 あ るいは電気的に、 安定して取付可能なプラズマ処理装置を、 提供することを目的 とする。
また、 この発明は、 信頼性の高いプラズマ処理装置を、 提供することを他の目 的とする。
上記目的を達成するため、 この発明の第 1の観点に係るプラズマ処理装置は、 プラズマ化したガスを用レ、て被処理体を処理するための真空容器と、
前記真空容器内に配置されるブラズマ生成用電極と、
前記プラズマ生成用電極に供給される高周波電力を生成する高周波電源と、 前記高周波電源にて生成された高周波電力を前記プラズマ生成用電極に伝送す る給電棒と、 '
前記プラズマ生成用電極側への入カインピーダンスと前記高周波電源の出カイ ンピーダンスとを整合させるための整合回路を有するマッチングボックスと、 前記整合回路における高周波電力の出力端と、 前記給電棒における高周波電力 の入力端との電気的接触を確立する接触器とを備え、
前記接触器は、 前記給電棒と前記マツチングボックスの位置決めが完了した後、 前記整合回路と前記給電棒との電気的接触を確立可能に構成されている、
ことを特徴とする。
この構成によれば、 給電棒とマッチングボックスの位置決めが完了した後、 接 触器により整合回路と給電棒との電気的接触を確立させることで、 給電棒にかか る圧迫を軽減できる。 これにより、 マッチングボックスが有する整合回路といつ た電気回路を、 物理的に安定して取り付けることができる。
前記マツチングボックスが前記真空容器の外壁に取り付けられることにより、 前記給電棒と前記マツチングボックスの位置決めが完了することが望ましい。 前記マッチングポックスは、 前記接触器を差し込み可能な差込口を備え、 前記マツチングボッタスが前記真空容器の外壁に取り付けられた状態で前記差 込口に前記接触器を差し込むことにより、 前記整合回路と前記給電棒との電気的 接触が確立することが望ましい。 また、 前記真空容器内で処理される被処理体を加熱するヒータを備え、 前記接触器は、 商用電源から供給される電力を前記ヒータに提供するための電 気的接触を確立可能に構成されていてもよい。
前記マッチングボックスは、 例えば、 前記プラズマ生成用電極に繋がれた給電 棒を嵌め込んで前記インピーダンス整合器に固定保持させる結合器を備え、 前記 結合器は、 前記給電棒の嵌込部分に、 絶縁物からなる被膜層を備える。 この結合 器は、 前記給電棒との誘導結合により、 前記高周波電源にて生成された高周波電 力を前記ブラズマ生成用電極に供給可能とする。
この発明の第 2の観点に係るマツチンダボックスは、
プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するためのプラズマ処理装置に適 用されて、 高周波電源の出力インピーダンスとプラズマ負荷側の入力インピーダ ンスとを整合させる整合回路を有するマッチングボックスであって、
被処理体を処理する真空容器の外壁に取り付けられることにより、 前記真空容 器内に設けられた電極に繋がる給電棒の位置決めが完了し、
接触器を差し込むことにより前記整合回路と前記給電棒との電気的接触が確立 する差込口を備える、
ことを特 ί敷とする。
この発明の第 3の観点に係るプラズマ処理装置は、
プラズマ化したガスを用レ、て被処理体を処理するための真空容器と、 前記真空容器内に配置されるプラズマ生成用電極と、
前記ブラズマ生成用電極に供給される高周波電力を生成する高周波電源と、 前記ブラズマ生成用電極と前記高周波電源との間に結合されて、 前記ブラズマ 生成用電極側へのインピーダンスと前記高周波電源の出力インピーダンスとを整 合させるためのインピーダンス整合器と、
前記プラズマ生成用電極に繋がれた給電棒を嵌め込んで前記ィンピーダンス整 合器に固定保持させる結合器とを備え、
前記結合器は、 前記給電棒の嵌込部分に、 絶縁物からなる被膜層を備える、 ことを特徴とする。
この構成によれば、 結合器における給電棒の嵌込部分に、 絶縁物からなる被膜 層が設けられており、 給電棒を嵌め込む際の接触抵抗を考慮する必要がなく、 ィ ンピーダンス整合器や高周波電源などの回路を、 電気的に安定して取り付けるこ とができる。
より具体的には、 前記結合器は、 前記給電棒との誘導結合により、 前記高周波 電源にて生成された高周波電力を前記プラズマ生成用電極に供給可能とすること が望ましい。
この発明の第 4の観点に係るインピーダンス整合器は、
プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するためのプラズマ処理装置に適 用されて、 高周波電源の出力インピーダンスとプラズマ負荷側の入カインビーダ ンスとを整合させるインピーダンス整合器であって、
被処理体を処理する真空容器内に設けられた電極に繋がる給電棒を嵌め込んで 固定する結合器を備え、
前記結合器は、 前記給電棒の嵌込部分に絶縁物からなる被膜層を有する、 ことを特 ί敷とする。
この発明の第 5の観点に係る結合器は、
プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するための真空容器内に設けられ た電極に繋がる給電棒を固定保持して、 前記給電棒と前記真空容器外の電気回路 とを結合するための結合器であって、 ,
前記給電棒との接触部分に、 絶縁物からなる被膜層を備える、
ことを特徴とする。
ここで、 前記給電棒を嵌め込んで固定保持するための嵌込孔を備え、 前記嵌込孔の内面に前記被膜層が設けられていることが望ましい。
前記給電棒との誘導結合により、 高周波電源にて生成された高周波電力を伝達 することが望ましい。
また、 インピーダンスのリアクタンス成分を補償するため、 また、 直流成分を 絶縁するための容量を介して接地されていることが望ましい。 図面の簡単な説明
図 1は、 この発明の実施の形態に係るプラズマ処理装置の構成の一例を示す図 である。
図 2は、 真空容器の下部に設けられたサセプタ等の構成の一例を示す図である。 図 3はマツチングポックスの構成の一例と接触器の内部配線の一例を示す図で ある。
図 4は、 真空容器の上部の構成の一例を示す図である。
図 5は、 ソケットと給電棒との嵌込部分を詳細に示す図である。
図 6は、 マッチングボックスを取り付ける動作を説明するための図である。 図 7は、 第 2の高周波電源からシャワーへッドに高周波電力を伝送する経路の 等価回路を示す図である。
図 8は、 従来のマッチングボックスについて説明するための図である。 発明を実施するための最良の形態
以下に、 図面を参照して、 この発明の実施の形態に係るプラズマ処理装置につ いて詳細に説明する。
図 1を参照して、 プラズマ処理装置 1は、 円筒形状の真空容器 2を備えている。 真空容器 2は、 アルマイト処理 (陽極酸化処理) が施されたアルミニウム等の導 電性材料から構成される。 また、 真空容器 2は、 接地されている。
真空容器 2の底部には、 排気管 3が接続されており、 この排気管 3はポンプ 4 に繋がっている。 ポンプ 4は、 ターボ分子ポンプ (TMP ) などからなる排気装 置であり、 真空容器 2内が所定の圧力となるまで排気することができる。
真空容器 2の下部中央には、 ウェハ Wを載置するためのサセプタ 8が設けられ ている。 図 2は、 サセプタ 8等の構成の一例を示す図である。 サセプタ 8は例え ば円柱状に形成された窒化アルミニウム (A 1 N) 等から構成され、 上部表面に 静電チャック 1 0が載置固定され、 真空容器 2内の処理空間にプラズマを生成す るための下部電極として機能する。
静電チャック 1 0'は、 例えばポリイミドフィルムからなる上下 2枚の絶縁層間 に、 例えば銅箔板等の導電性シート 1 0 aを配置することにより構成され、 クー ロン力によってウェハ Wを吸着して固定する。
サセプタ 8の中には、 ウェハ Wを所定の温度に加熱するためのヒータ 1 1が設 けられている。 また、 冷媒を循環させる冷却ジャケット 1 2が、 ヒータ 1 1との 間に伝熱板 1 5を挟んで設けられている。 冷却ジャケット 1 2には、 導入管 1 3 と排出管 1 4とが接続されており、 導入管 1 3から供給された冷媒が冷却ジャケ ット 1 2を通って排出管 1 4から排出される。 サセプタ 8の底面は真空容器 2の 内壁の一部であるグランド部材 2 aにより支持されている。
サセプタ 8には、 例えば内部導体棒 1 6、 1 7 a、 1 7 b及ぴ外部導体管 1 8 が接続されている。 これにより、 サセプタ 8は、 第 1の高周波電源 5 0にて生成 された高周波電力を受け、 真空容器 2内のウェハ Wにプラズマを引き込むための 下部電極として機能する。 また、 内部導体棒 1 6、 1 7 a , 1 7 b及ぴ外部導体 管 1 8とは、 下部電極に電力を供給する給電棒 1 9として機能する。
内部導体棒 1 6は、 静電チヤック 1 0が備える導電性シート 1 0 aに接続され ており、 第 1の高周波電源 5 0にて生成された高周波電力及ぴ直流電源 5 2にて 生成された直流電圧を伝達する。 内部導体棒 1 7 a、 1 7 bはヒータ 1 1に接続 されており、 商用電源 5 3から供給された商用周波数の電力を伝送する。 外部導 体管 1 8は、 内部導体棒 1 6、 1 7 a , 1 7 bを覆うように配置された管である。 図 1に示すように、 サセプタ 8と第 1の高周波電源 5 0、 直流電源 5 2及ぴ商 用電源 5 3との間には、 整合回路部 2 1を備えたマッチングボックス 2 0が配設 されている。 給電棒 1 9は真空容器 2の側面外壁に引き出されており、 マツチン グボックス 2 0を取付可能に構成されている。
図 3はマッチングボックス 2 0の構成の一例を示す正面図である。 図示するよ うに、 マツチングポックス 2 0は整合回路部 2 1と、 接触器差込部 2 2とを備え る。 また、 マッチングボックス 2 0は、 第 1の高周波電源 5 0と商用電源 5 3に 接続されている。 また、 マッチングボックス 2 0は、 L P F (Low Pass Filter) 等から構成されるフィルタ回路 5 5を介して直流電源 5 2に接続されている。 整合回路部 2 1は、 第 1の高周波電源 5 0の出力インピーダンスと、 下部電極 であるサセプタ 8の入カインピーダンスとをマッチングさせるためのものである。 また、 整合回路部 2 1は、 第 1の高周波電源 5 0から受けたプラズマ引込用の電 圧を、 フィルタ回路 5 5を介して直流電源 5 2から受けた直流電圧に重畳させて 出力する。 接触器差込部 2 2は、 内部配線がモジュールィ匕された接触器 2 3 ボックス 2 0に固定するための差込口である。 接触器 2 3の最奥部には、 給電棒 1 9を裏側から引出可能な開口から構成される給電棒引出部 2 4が設けられてい る。 また、 接触器差込部 2 2には、 接触器 2 3に格納された各配線の引出端子と 接触することで給電棒 1 9との電気的結合を確立する電極 2 5が、 所定位置に配 置されている。
より具体的に、 電極 2 5は、 例えば、 接触器 2 3の差込により内部導体棒 1 6 に繫がる第 1の電極 2 5 aと、 外部導体管 1 8に繋がる第 2の電極 2 5 bと、 内 部導体棒 1 7 a、 1 7 bに繋がる第 3及び第 4の電極 2 5 c、 2 5 dとを備えて いる。 第 1及び第 2の電極 2 5 a、 2 5 bは、 整合回路部 2 1に接続されて整合 回路部 2 1の出力端として機能し、 直流電圧に重畳されて伝送されるプラズマ引 込用の電圧を静電チャック 1 0に供給可能とする。 但し、 外部導体管 1 8に繋が る第 2の電極 2 5 bは接地されている。 第 3及び第 4の電極 2 5 c、 2 5 dは、 商用電源 5 3に接続されており、 ヒータ 1 1に商用周波数の電力を供給可能とす る。 なお、 商用電?原 5 3との間には、 高周波電力の回り込みを防止するための L P F等からなるフィルタ回路が設けられていてもよい。
また、 図 3は、 接触器 2 3の内部に配置されて給電棒 1 9と電極 2 5とを繋ぐ 配線 3 0の一例を示す。 図示するように、 接触器 2 3には、 配線 3 0 a〜 3 0 d が 3次元回路として内蔵されている。 配線 3 0 aは、 内部導体棒 1 6に接触する ベく露設された引出端子 3 1 a— 1と、 第 1の電極 2 5 aに接触するべく露設さ れた 3 1 a— 2に接続されている。 配線 3 0 bは、 外部導体管 1 8に接触するべ く露設された引出端子 3 1 b— 1と、 第 2の電極 2 5 bに接触するべく露設され た引出端子 3 1 b— 2に接続されている。 配線 3 0 cは、 内部導体棒 1 7 aに接 触するべく露設された引出端子 3 1 c— 1と、 第 3の電極 2 5 cに接触するべく 露設された引出端子 3 1 c一 2に接続されている。 配線 3 0 dは、 内部導体棒 1 7 bに接触するべく露設された引出端子 3 1 d— 1と、 第 4の電極 2 5 dに接触 するべく露設された引出端子 3 1 d— 2に接続されている。
図 1に示すサセプタ 8上のウェハ Wの載置面と対向する真空容器 2の天井部に は、 多数のガス吐出孔を備えたシャワーヘッド 5が設けられている。 シャワーへ ッド 5の周縁はボルト等により固定され、 環状に形成された絶縁部材 6でカバー されている。 絶縁部材 6は、 例えば表面にアルミナ (A 1 2 0 3) 系セラミックス といった高い耐食性を有する絶縁被膜処理が施された石英などから構成される。 図 4は、 真空容器 2の上部の構成の一例を詳細に示す図である。 シャワーへッ
5 ド 5の上方には、 例えば 2枚の拡散板 7 a 、 7 bが配置されており、 その上部に 繋がれたガス管 2 6 a 、 2 6 bからプラズマ生成用ガスや原料ガス等が供給され る。 ガス管 2 6 a 、 2 6 bを含めたガス管 2 6は、 図 1に示すように、 バルブ 2 7や M F C (マスフローコントローラ) 2 8等を経由してガス供給源 2 9に接続 されており、 例えば、 S i H 4、 0 2といった原料ガスや、 A rガス等のプラズマ
10生成用ガスなどを、 シャワーヘッド 5から真空容器 2内に供給可能とする。 なお、 ガス管 2 6、 バルブ 2 7 、 M F C 2 8及ぴガス供給源 2 9は、 真空容器 2内に提 供するガスの種類に合わせて適宜複数設けられるが、 図 1ではそれぞれ 1つずつ 示している。 また、 拡散板 7 a 、 7 bの枚数や構成は、 ガス供給源 2 9から供給 されるガスの種類等に応じて適宜変更可能である。
15 また、 拡散板 7 bの上面中央部には、 給電棒 3 2がネジ止め等により結合され て固定されており、 第 2の高周波電源 5 1にて生成された高周波電力をシャワー へッド 5に供給することで、 真空容器 2内に原料ガス等のプラズマを生成するた めの上部電極として機能させる。
真空容器 2の上方には、 シールドボックス 3 3を介してインピーダンス整合器
20 3 4が載置されている。 インピーダンス整合器 3 4は、 第 2の高周波電源 5 1側 の出力インピーダンスと、 上部電極であるシャワーへッド 5側への入力インピー ダンスとをマッチングさせる.ためのものであり、 給電棒 3 2を嵌め込んで固定す るためのソケット 4 0を備えている。
図 5は、 ソケット 4 0と給電棒 3 2との嵌込部分を詳細に示す図である。 ソケ
25 ット 4 0は、 円筒形状に成形された金属体 4 0 aの中心部に、 給電棒 3 2を嵌め 込んで保持するための嵌込孔 4 1を備えている。 嵌込孔 4 1の内壁には、 例えば ポリテトラフルォロエチレン [テフロン (登録商標) ] 等のフッ素樹脂といった、 絶縁物からなる被膜層 4 2が設けられている。 即ち、 給電棒 3 2とソケット 4 0 との間は、 電気的に絶縁されており、 誘導結合により、 交流成分の電力のみを給 電棒 3 2側に伝達するべく構成されている。 また、 ソケット 4 0は、 インピーダ ンスのリアタトル成分を捕償するため、 また、 直流成分を絶縁するための容量 C 1を介して接地され、 嵌込孔 4 1に嵌め込まれた給電棒 3 2は、 容量 C 2を介し て接地される。
5 以下に、 この発明の実施の形態に係るプラズマ処理装置 1の動作を説明する。
このプラズマ処理装置 1によりウェハ Wを処理するため、 真空容器 2の上方に シールドボックス 3 3及ぴインピーダンス整合器 3 4を載置する。 この際、 拡散 板 7 bに繋がる給電棒 3 2は、 インピーダンス整合器 3 4の出力部分に設けられ たソケット 4 0の嵌込孔 4 1に、 被膜層 4 2が介在した状態で嵌め込まれる。
10 また、 真空容器 2の側面外壁にマッチングボックス 2 0をネジ止めにより固定 する。 マッチングボックス 2 0は、 図 6に示すように、 接触器差込部 2 2の最奥 部ゃフレームなどに設けられたネジ穴にてネジ止めすることにより、 サセプタ 8 に繋がる給電棒 1 9との間の空間的な余裕を持たせた状態で、 真空容器 2の側面 外壁に固定される。 この際、 給電棒 1 9は、 給電棒引出部 2 4から接触器差込部
15 2 2に引き出されて位置決めされた状態で露設される。 マッチングボックス 2 0 が真空容器 2の側面外壁に固定された後、 接触器 2 3を接触器差込部 2 2に差し 込むことで、 整合回路部 2 1などからなる外部の回路と、 給電棒 1 9との電気的 接触が確立される。
こうしてマッチングボックス 2 0やインピーダンス整合器 3 4の取付が完了す 20 ると、 図示せぬロードロック室からウェハ Wを搬入してサセプタ 8上に載置する。
このとき、 直流電源 5 2にて生成された直流電圧を静電チヤック 1 0の導電性シ ート 1 0 aに印加することにより、 ウェハ Wを吸着保持させる。 続いてポンプ 4 を駆動し、 真空容器 2の内部を所定の真空度まで真空引きする。 所定の真空度に 達するとバルブ 2 7を開き、 ガス供給源 2 9から供給される所定のガス、 例えば 25 A rガスといったプラズマ生成用ガス等を MF C 2 8により流量を制御しつつガ ス管 2 6に導き、 シャヮ一^ "ッド 5により真空容器 2内に供給して所定の圧力に 維持する。
また、 真空容器 2内をヒータ 1 1によりカロ熱し、 ガス供給源 2 9から所定の原 料ガス、 例えば S i H4ガスや 02ガスといった処理ガスを投入する。 ヒータ 1 1 は、 例えばウェハ Wの温度が 4 0 0 °C〜 6 0 0 °C内で所定のプロセス温度となる ように、 真空容器 2内を加熱する。
第 1及ぴ第 2の高周波電源 5 0 、 5 1を起動して高周波電力の供給を開始し、 原料ガス等をプラズマ分解してウェハ W上に積層膜を堆積させる。 ここで、 第 1 の高周波電源 5 0は、 ウェハ Wにイオンを吸引するために負のバイアス電圧を印 加する。 この第 1の高周波電源 5 0の周波数は、 真空容器 2内のプラズマイオン の振動周波数等に基づいて決定され、 約 1 0 MH zを最高とし、 好ましくは 2 M H z程度に設定する。 第 2の高周波電源 5 1は、 例えば 2 7 MH z〜: L 0 0 MH z内で所定の周波数、 好ましくは 6 0 MH zの周波数を有する高周波電力を生成 して出力する。
拡散板 7 bに繋がる給電棒 3 2とソケット 4 0は、 それぞれに流れる交番電流 によって形成される磁界の方向が一致するように配置されている。 例えば、 第 2 の高周波電源 5 1から伝送された高周波電力によりソケット 4 0内に交番電流が 流れ、 給電棒 3 2の周方向に同心円状の磁界が形成されたとする。 この場合、 給 電棒 3 2に誘導起電力が生じ、 上部電極であるシャヮ 1 »ッド 5に高周波電力が 伝送される。
即ち、 インピーダンス整合器 3 4の出力部分は、 図 7に示すトランス T 1と等 価な電気的特性を示し、 第 2の高周波電源 5 1から供給された高周波電力を、 給 電棒 3 2を通じて上部電極であるシャワーへッド 5に伝送することができる。 こ こでは、 ソケット 4 0がトランス T 1の一次卷線に相当し、 給電棒 3 2がトラン ス T 1の二次卷線に相当する。 また、 図 7に示すプラズマ負荷 6 0は、 給電棒 3 2及ぴシャワーへッド 5のインピーダンスや、 真空容器 2内の処理空間に発生し たプラズマのインピーダンス等を含んでいる。
このように、 ソケット 4 0と給電棒 3 2との間は、 被膜層 4 2によって絶縁さ れていることから、 そもそも接触抵抗を考慮する必要がなく、 電気的に安定した 特性で第 2の高周波電源 5 1からの高周波電力を伝送することができる。
例えば、 原料ガスとして S i H4ガスと O 2ガスが供給された場合、 真空容器 2 内の処理空間では、 これらのガスがィオン化して、 ウェハ W上に S i o 2膜が堆積 する。 積層膜の堆積が終了すると、 放電電力の供給、 原料ガスの導入、 真空容器 2内の加熱をそれぞれ停止し、 真空容器 2内を充分にパージして冷却した後、 ゥ ェハ Wを取り出す。
以上説明したように、 この実施の形態によれば、 真空容器 2の側面外壁にマツ チングボックス 2 0を取り付ける際に、 給電棒 1 9との間に余裕を持たせた状態 で固定して位置決めした後、 接触器差込部 2 2に接触器 2 3を差し込むことで給 電棒 1 9と外部の回路との電気的接触が確立される。 これにより、 マッチングポ ックス 2 0を取り付ける際に給電棒 1 9との結合部分にかかる圧迫を軽減するこ とができる。 従って、 給電棒 1 9や接触器 2 3の破壊を防止して、 外部の回路を 給電棒 1 9に物理的に安定して取り付けることができる。
また、 この実施の形態によれば、 インピーダンス整合器 3 4の出力部分に設け られたソケット 4 0において、 絶縁物からなる被膜層 4 2が介在した状態で、 嵌 込孔 4 1に給電棒 3 2が嵌め込まれる。 これにより、 給電棒 3 2の嵌込部分での 接触抵抗を考慮する必要がなく、 一方、 高周波電力は誘導結合により上部電極側 に伝達されるので、 インピーダンス整合器 3 4等の回路を電気的に安定して取り 付けることができる。
この発明は、 上記実施の形態に限定されるものではなく、 様々な変形及ぴ応用 が可能である。 例えば、 上記実施の形態では、 上部電極に繋がる給電棒 3 2を嵌 め込むソケット 4 0に被膜層 4 2を設けるものとして説明したが、 これに限定さ れるものではない。 即ち、 下部電極であるサセプタ 8に繋がる給電棒 1 9におい て、 ソケット 4 0と同様に構成されたソケットを用いて複数の金属体を結合する ようにしてもよい。 この場合、 直流電源 5 2が出力する直流電圧については、 給 電棒 1 9との電気的接触により伝送するものとし、 ソケットには第 1の高周波電 源 5 0にて生成された高周波電力等を供給するようにすればよい。
また、 接触器 2 3の構成は、 下部電極であるサセプタ 8等に電力を供給する電 源の種類などに応じて任意に変更可能であり、 給電棒 1 9と外部の回路との適切 な電気的接触を確立するための引出端子、 電極が配置され、 配線が施されたもの を用いることができる。
プラズマ処理装置 1の構成も任意に変更可能であり、 例えば、 真空容器 2の周 囲に所定の磁場を発生させるためのコイルや永久磁石などを有し、 電子サイクロ ト口ン共鳴等を利用してウェハ Wを処理するものであってもよい。
また、 この発明は、 プラズマ C VD処理を行うプラズマ処理装置に限定される ものではなく、 シャワーヘッドゃサセプタに高周波電力を供給し、 半導体ウェハ や C D基板、 太陽電池基板のような被処理体をプラズマ処理する装置であれば、 エッチング装置、 アツシング装置等にも適用することができる。
なお、 本発明は、 2 0 0 1年 1 2月 1 3日に出願された日本国特願 2 0 0 1 - 3 8 0 1 8 3号に基づき、 その明細書、 特許請求の範囲、 図面おょぴ要約書を含 む。 上記出願における開示は、 本明細書中にその全体が参照として含まれる。 産業上の利用の可能性
この発明は、 半導体製造装置、 液晶表示素子製造装置等のプラズマ処理を行う 処理装置に利用可能である。

Claims

請求の範囲
1. プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するための真空容器 (2) と、 前記真空容器内に配置されるプラズマ生成用電極 (8, 5) と、
前記プラズマ生成用電極に供給される高周波電力を生成する高周波電源 (50, 51) と、
前記高周波電源にて生成された高周波電力を前記プラズマ生成用電極に伝送す る給電棒 (1 9、 3 2) と、
前記プラズマ生成用電極側への入力インピーダンスと前記高周波電源の出カイ ンピーダンスとを整合させるための整合回路 (2 1 a, 34 a) を有するマッチ ングボックス (20, 34) と、
前記整合回路 (2 1 a, 34 a) における高周波電力の出力端と、 前記給電棒 における高周波電力の入力端との電気的接触を確立する接触器 (2 3、 40) と を備え、
前記接触器は、 前記給電棒 (1 9、 3 2) と前記マツチングボックス (20, 34) の位置決めが完了した後、 前記整合回路と前記給電棒との電気的接触を確 立可能に構成されている、
ことを特徴とするブラズマ処理装置。
2. 前記マッチングボックス (20) が前記真空容器 (2) の外壁に取り付け られることにより、 前記給電棒 (1 9) と前記マッチングボックス (20) の位 置決めが完了する、
ことを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ処理装置。
3. 前記マッチングボックス (20) は、 前記接触器 (2 3) を差し込み可能 な差込口 (22) を備え、
前記マッチングボックス (20) が前記真空容器 (2) の外壁に取り付けられ た状態で前記差込口 (22) に前記接触器 (2 3) を差し込むことにより、 前記 整合回路 (2 1 a, 34 a) と前記給電棒との電気的接触が確立する、
ことを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ処理装置。
4. 前記真空容器 (2) 内で処理される被処理体を加熱するヒータ (1 1) を 備え、
前記接触器 (2 3) は、 商用電源から供給される電力を前記ヒータに提供する ための電気的接触を確立可能に構成されている、
ことを特徴とする請求項 1に記載のプラズマ処理装置。
5. 前記マツチングポックスは、 前記プラズマ生成用電極に繋がれた給電棒 (3 2) を嵌め込んで前記インピーダンス整合器 (34) に固定保持させる結合 器 (40) を備え、 前記結合器 (40) は、 前記給電棒 (3 2) の嵌込部分 (4 1) に、 絶縁物からなる被膜層 (4 2) を備える、 ■
ことを特徴とする請求項 4に記載のプラズマ処理装置。
6. 前記結合器 (40) は、 前記給電棒 (3 2) との誘導結合により、 前記高 周波電源にて生成された高周波電力を前記プラズマ生成用電極 (5) に供給可能 とする、
ことを特徴とする請求項 5に記載のプラズマ処理装置。
7. プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するためのプラズマ 理装置 に適用されて、 高周波電源の出力インピーダンスとプラズマ負荷側の入力インピ 一ダンスとを整合させる整合回路 (2 1 a , 34 a) を有するマッチングボック スであって、
被処理体を処理する真空容器 (2) の外壁に取り付けられることにより、 前記 真空容器 (2) 内に設けられた電極 (8) に繋がる給電棒 (1 9) の位置決めが 兀丁し、
接触器 (2 3) を差し込むことにより前記整合回路 (2 1 a) と前記給電棒 (1 9) との電気的接触が確立する差込口 (2 2) を備える、
ことを特徴とするマッチングボックス。
8. プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するための真空容器 (2) と、 前記真空容器内に配置されるプラズマ生成用電極 (5) と、
前記プラズマ生成用電極に供給される高周波電力を生成する高周波電源 (5 1) と.、
前記ブラズマ生成用電極と前記高周波電源との間に結合されて、 前記プラズマ 生成用電極側へのインピーダンスと前記高周波電源の出力インピーダンスとを整 合させるためのインピーダンス整合器 (34) と、
前記プラズマ生成用電極に繋がれた給電棒 (32) を嵌め込んで前記インピー ダンス整合器 (34) に固定保持させる結合器 (40) とを備え、
5 前記結合器 (40) は、 前記給電棒 (32) の嵌込部分 (41) に、 絶縁物か らなる被膜層 (42) を備える、
ことを特徴とするプラズマ処理装置。
9. 前記結合器 (40) は、 前記給電棒 (32) との誘導結合により、 前記高 周波電源にて生成された高周波電力を前記プラズマ生成用電極 (5) に供給可能
10 とする、
ことを特徴とする請求項 8に記載のプラズマ処理装置。
10. プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するためのプラズマ処理装 置に適用されて、 高周波電源の出力インピーダンスとプラズマ負荷側の入カイン ピーダンスとを整合させるインピーダンス整合器 (34) であって、
15 被処理体を処理する真空容器内に設けられた電極に繋がる給電棒を嵌め込んで 固定する結合器 (40) を備え、
前記結合器は、 前記給電棒の嵌込部分に絶縁物からなる被膜層 (42) を有す る、
ことを特徴とするィンピーダンス整合器。
20 11. プラズマ化したガスを用いて被処理体を処理するための真空容器 (2) 内に設けられた電極 (5) に繋がる給電棒 (32) を固定保持して、 前記給電棒
(32) と前記真空容器 (2) 外の電気回路とを結合するための結合器 (40) であって、
前記給電棒との接触部分に、 絶縁物からなる被膜層 (42) を備える、 25 ことを特徴とする結合器。
12. 前記給電棒を嵌め込んで固定保持するための嵌込孔 (41) を備え、 前記嵌込孔 (41) の内面に前記被膜層 (42) が設けられている、 ことを特徴とする請求項 11に記載の結合器。
13. 前記給電棒 (32) との誘導結合により、 高周波電源にて生成された高 周波電力を伝達する、
ことを特徴とする請求項 1 1に記載の結合器。
1 4. インピーダンスのリアクタンス成分を捕償するため、 及び/または、 直 流成分を絶縁するための容量を介して接地されている、
ことを特徴とする請求項 1 1に記載の結合器。
PCT/JP2002/013094 2001-12-13 2002-12-13 Appareil de traitement au plasma, boitier d'adaptation, adaptateur d'impedance et coupleur WO2003054940A1 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AU2002354234A AU2002354234A1 (en) 2001-12-13 2002-12-13 Plasma treatment apparatus, matching box, impedance matching device, and coupler
KR1020047009011A KR100625762B1 (ko) 2001-12-13 2002-12-13 플라즈마 처리 장치 및 매칭 박스
US10/498,222 US7025857B2 (en) 2001-12-13 2002-12-13 Plasma treatment apparatus, matching box, impedance matching device, and coupler

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001380183A JP4488662B2 (ja) 2001-12-13 2001-12-13 プラズマ処理装置、マッチングボックス
JP2001-380183 2001-12-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2003054940A1 true WO2003054940A1 (fr) 2003-07-03

Family

ID=19187109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2002/013094 WO2003054940A1 (fr) 2001-12-13 2002-12-13 Appareil de traitement au plasma, boitier d'adaptation, adaptateur d'impedance et coupleur

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7025857B2 (ja)
JP (1) JP4488662B2 (ja)
KR (1) KR100625762B1 (ja)
AU (1) AU2002354234A1 (ja)
TW (2) TW200735727A (ja)
WO (1) WO2003054940A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6939434B2 (en) * 2000-08-11 2005-09-06 Applied Materials, Inc. Externally excited torroidal plasma source with magnetic control of ion distribution
KR100470224B1 (ko) * 2002-02-05 2005-02-05 주성엔지니어링(주) 매칭박스 고정장치를 가지는 척
JP2006339144A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Ngk Insulators Ltd プラズマ処理装置
JP2007191792A (ja) * 2006-01-19 2007-08-02 Atto Co Ltd ガス分離型シャワーヘッド
US8920597B2 (en) 2010-08-20 2014-12-30 Applied Materials, Inc. Symmetric VHF source for a plasma reactor
US9032012B2 (en) * 2011-06-27 2015-05-12 International Business Machines Corporation Configurable pacing for messaging systems
JP2013098177A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Semes Co Ltd 基板処理装置及びインピーダンスマッチング方法
US9132436B2 (en) * 2012-09-21 2015-09-15 Applied Materials, Inc. Chemical control features in wafer process equipment
KR101605722B1 (ko) * 2014-08-29 2016-03-23 세메스 주식회사 피더 및 기판 처리 장치
KR101864821B1 (ko) * 2017-11-16 2018-06-05 전북대학교산학협력단 태양전지 보호 기판 코팅용 플라즈마 표면처리 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11330058A (ja) * 1998-05-19 1999-11-30 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2001262355A (ja) * 2000-03-16 2001-09-26 Applied Materials Inc プラズマcvd装置およびその異常検出方法
JP2002110638A (ja) * 2000-09-26 2002-04-12 Hitachi Ltd プラズマ処理装置及びそのメンテナンス方法
JP2002141331A (ja) * 2000-10-25 2002-05-17 Applied Materials Inc ドライエッチング装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3122618B2 (ja) * 1996-08-23 2001-01-09 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
TW529085B (en) * 2000-09-22 2003-04-21 Alps Electric Co Ltd Method for evaluating performance of plasma treatment apparatus or performance confirming system of plasma treatment system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11330058A (ja) * 1998-05-19 1999-11-30 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2001262355A (ja) * 2000-03-16 2001-09-26 Applied Materials Inc プラズマcvd装置およびその異常検出方法
JP2002110638A (ja) * 2000-09-26 2002-04-12 Hitachi Ltd プラズマ処理装置及びそのメンテナンス方法
JP2002141331A (ja) * 2000-10-25 2002-05-17 Applied Materials Inc ドライエッチング装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003178988A (ja) 2003-06-27
TW200304764A (en) 2003-10-01
KR100625762B1 (ko) 2006-09-21
TWI301039B (ja) 2008-09-11
US7025857B2 (en) 2006-04-11
TW200735727A (en) 2007-09-16
US20050011450A1 (en) 2005-01-20
KR20040065248A (ko) 2004-07-21
TWI290811B (en) 2007-12-01
JP4488662B2 (ja) 2010-06-23
AU2002354234A1 (en) 2003-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6330087B2 (ja) 対称給電構造を有する基板サポート
JP5657262B2 (ja) プラズマ処理装置
KR100458424B1 (ko) 플라즈마 처리장치
US6214162B1 (en) Plasma processing apparatus
KR100761565B1 (ko) 플라즈마 처리 장치의 제어 방법
CN109219873A (zh) 具有气体孔中的孔径减小的插塞的高功率静电卡盘
KR100742487B1 (ko) 하부 전극 구조 및 그것을 이용한 플라즈마 처리 장치
US6192829B1 (en) Antenna coil assemblies for substrate processing chambers
WO2003054940A1 (fr) Appareil de traitement au plasma, boitier d'adaptation, adaptateur d'impedance et coupleur
US20050236111A1 (en) Processing apparatus
JP4704445B2 (ja) プラズマ処理装置におけるマッチングボックスの取り付け方法
JP2010159493A (ja) プラズマ処理装置、インピーダンス整合器、結合器
WO2004006320A1 (ja) プラズマ処理装置
KR101981289B1 (ko) 인덕턴스를 이용하여 임피던스 매칭이 가능한 라디칼 발생기
US20230136720A1 (en) Substrate support, plasma processing apparatus, and plasma processing method
US20220384154A1 (en) Plasma processing apparatus
US20190287768A1 (en) Plasma processing apparatus
TW202303837A (zh) 低溫微區靜電卡盤連接器組件
TW202107950A (zh) 電漿處理方法及電漿處理裝置
KR20080047655A (ko) 플라즈마 처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10498222

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020047009011

Country of ref document: KR

122 Ep: pct application non-entry in european phase