WO2002095383A2 - Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von magnetisierbaren werkstücken auf fehler mittels streufluss - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von magnetisierbaren werkstücken auf fehler mittels streufluss Download PDF

Info

Publication number
WO2002095383A2
WO2002095383A2 PCT/DE2002/001684 DE0201684W WO02095383A2 WO 2002095383 A2 WO2002095383 A2 WO 2002095383A2 DE 0201684 W DE0201684 W DE 0201684W WO 02095383 A2 WO02095383 A2 WO 02095383A2
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
probes
pairs
another
pair
row
Prior art date
Application number
PCT/DE2002/001684
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Klaus Dickmann
Uwe Bronsert
Lothar Kuka
Original Assignee
V & M Deutschland Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by V & M Deutschland Gmbh filed Critical V & M Deutschland Gmbh
Publication of WO2002095383A2 publication Critical patent/WO2002095383A2/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields

Definitions

  • the invention relates to a method for the non-destructive testing of magnetizable workpieces, in particular pipes, for defects by means of leakage flux according to the preamble of the main claim.
  • the previous application was limited to wall thicknesses ⁇ 6 mm.
  • the distance between the error display and the noise level is too small to arrive at usable statements. This distance should be at least 8 dB.
  • a method is known from US Pat. No. 5,619,136 for increasing the signal-to-noise ratio. Two probes located at a distance from each other are differentially connected to each other. Tests have shown that this known differential circuit is helpful, but is not sufficient for use with pipes with wall thicknesses> 6 mm.
  • the object of the invention is therefore to specify a method and a device for the non-destructive testing of magnetizable workpieces, in particular pipes, for defects by means of leakage flux, with which pipes with wall thicknesses> 6 mm, in particular> 10 mm, can also be reproduced for internal defects at a test defect depth of 5 % of the wall thickness can be checked.
  • two spaced-apart pairs of probes are differentially connected to one another. This has the advantage that this switching arrangement reduces the noise level and thus increases the distance to the error signal.
  • the two probes forming a pair are differentially connected to a second pair arranged in the same way.
  • the probes forming a pair are preferably placed one above the other at a distance from one another.
  • test ruler becomes very narrow and is well suited for tight installation conditions.
  • two parallel pairs of probes are formed, one row being offset from the first row.
  • the respective individual probe is preferably designed as a flat-wound coil and lies parallel to the workpiece surface. This has the advantage that the distance between the probe and the workpiece surface is particularly small.
  • This arrangement can be elegantly realized by designing the respective individual probe as a printed coil. In this way, a printed circuit board is formed and the pairing takes place, for example, in such a way that two printed circuit boards with coils printed thereon are placed one above the other with a spacer plate lying between them.
  • printed coils are arranged on the top and complementary on the underside of a printed circuit board and the printed circuit board forms the spacer plate and thus the distance between the coils forming a pair.
  • the probes forming a pair are preferably electrically contacted through the spacer plates or the printed circuit board.
  • the two pairs of probes can be interconnected either by wiring or electronically in the on-site electronics.
  • the multiplex system offers another connection option. If, for example, eight pairs of probes are arranged on a test ruler, the test ruler can be clocked using the multiplex system. For this purpose, for example, the first pair of probes is interconnected with the immediately following pair of probes. The system then jumps one unit, i.e. H. the second pair of probes is interconnected against the third pair of probes, etc. If, for example, elongated defects are to be reliably detected, then, for example, the first pair of probes and the sixth pair of probes which are further apart are interconnected.
  • the first two pairs of probes could both lie over the same defect and both generate the same error signal, so that there is no difference.
  • the disadvantage here is the effort for your own electronics per channel and the nested wiring. In order to scan the workpiece surface to be tested as seamlessly as possible, it has turned out to be advantageous to have the printed coils almost butted against one another and to arrange them in a row. Underneath is a second circuit board with the same arrangement of coils, so that the pairing described above is made possible.
  • Figure 1 in a plan view of a circuit board with printed probes
  • FIG 2 schematically shows the differential connection of two probes according to the prior art
  • Figure 3 is a perspective view of an arrangement according to the invention.
  • Figure 4 schematically shows an arrangement according to the invention of two probes in a differential connection
  • FIG. 5 schematically shows a differential connection of two probe pairs according to the invention
  • Figure 6 is a top view of a test ruler
  • Figure 7 in longitudinal section a special embodiment of a circuit board 1 shows a top view of a printed circuit board 1 with eight probes S1-S8 printed on it.
  • four probes S1, S3, S5, S7 are arranged in a row, with a spacing 3 from one another when viewed in the longitudinal direction. For example, this distance is 3 seven millimeters.
  • a further four probes S2, S4, S6, S8 are arranged in parallel, but offset, in a second row. These are also at a distance 3 from one another.
  • the rows are only a short distance apart.
  • one could also arrange all eight probes S1 - S8 in a row see FIG. 6).
  • the number of turns per printed probe is ten in this embodiment.
  • two probes can be differentially switched against one another in the sense of noise suppression. This is shown schematically in Figure 2.
  • the probe S8 in the first row is connected to the probe S5 in the second row.
  • FIG. 3 shows a perspective view of an arrangement according to the invention for testing a tube 4, this illustration only showing a segment of the tube 4.
  • two identically designed circuit boards 1, 2 are arranged one above the other. In between, there are two spacer plates 5, 5 'in this exemplary embodiment. Alternatively, only one spacer plate can be arranged.
  • a protective plate, not shown here, z. B. made of stainless steel, attached and connected for example by gluing to the circuit board 2.
  • the thick arrow 6 should symbolize the rotation of the test device.
  • the bracket required for this is not shown here.
  • the tube 4 can also rotate instead of the test device.
  • the field direction of the magnetic field is identified by a further thick arrow 7.
  • FIG. 5 shows how two pairs of probes formed according to FIG. 4 are connected to one another according to the invention.
  • the pair of sensors S8, S8 ' are switched differentially from the pair of probes S6, S6'.
  • the two pairs of probes 8, 8 ', 6, 6' are interconnected by the on-site electronics, symbolized here by amplifier 8.1; 8.2; 9th
  • FIG. 6 shows a top view of a test ruler 9 with a total of eight probe pairs S1, S1 '- S8, S8'.
  • the respective printed probes S1 '- S8 1 located below are arranged as shown in FIG. 3 at a distance from it.
  • the printed probes S1, S1 '- S8, S8' are moved towards one another without touching electrically.
  • the differential connection of the pairs of probes with respect to one another is carried out in the same way as previously described.
  • FIG. 10 A special embodiment of a letter plate 10 is shown in longitudinal section in FIG.
  • the spacer plate 5 forms the carrier, a plurality of printed probes S1, S1 '- S8, S8' being arranged in series on the top 11 and complementarily on the bottom 12.
  • the electrical via 13 of the two probes forming a pair z. B. 1, V is identified by a dashed line.

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken, insbesondere Rohre, auf Fehler mittels Streufluss mit mindestens vier einzelnen Sonden, von denen zwei beabstandet voneinander als Paar differenziell gegeneinander geschaltet sind. Erfindungsgemäß sind zwei voneinander beabstandete Paare (S8,S8',S6,S6') differenziell gegeneinander geschaltet.

Description

Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken auf Fehler mittels Streufluss
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken, insbesondere Rohre, auf Fehler mittels Streufluss gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruches.
Aus Kapazitäts- und Kostengründen wird versucht, die bewährte Ultraschallprüfung zur Detektierung von Längs- und Querfehlern durch eine zerstörungsfreie Prüfung mittels Streufluss zu ersetzen. Der Anwendung dieses Verfahrens sind aber Grenzen gesetzt.
Beispielsweise war bei der Detektierung von Innenfehlern bei Rohren bei einer Testfehlertiefe von 5 % der Wanddicke die bisherige Anwendung auf Wanddicken < 6 mm beschränkt. Bei größeren Wanddicken wird der Abstand Fehleranzeige zum Rauschpegel zu gering, um zu verwertbaren Aussagen zu kommen. Dieser Abstand sollte mindestens 8 dB betragen.
Aus der US 5, 619, 136 ist ein Verfahren bekannt, wie man den Rauschabstand vergrößern kann. Dabei werden zwei beabstandet voneinander liegende Sonden differenziell gegeneinander geschaltet. Versuche haben ergeben, dass diese bekannte Differenzschaltung zwar hilfreich, aber für die Anwendung bei Rohren mit Wanddicken > 6 mm nicht ausreichend ist. Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken, insbesondere Rohre, auf Fehler mittels Streufluss anzugeben, mit dem auch Rohre mit Wanddicken > 6 mm, insbesondere > 10 mm reproduzierbar auf Innenfehler bei einer Testfehlertiefe von 5 % der Wanddicke geprüft werden können.
Diese Aufgabe wird ausgehend vom Oberbegriff in Verbindung mit den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruches 1 bzw. Anspruch 2 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen sind jeweils Gegenstand von Unteransprüchen.
Nach der Lehre der Erfindung werden zwei voneinander beabstandete Paare von Sonden differenziell gegeneinander geschaltet. Dies hat den Vorteil, dass mit dieser Schaltanordnung der Rauschpegel gesenkt und somit der Abstand zum Fehlersignal erhöht wird.
In der Realisation werden die zwei ein Paar bildenden Sonden beabstandet voneinander gegen ein zweites in gleicher Weise angeordnetes Paar differenziell geschaltet. Vorzugsweise werden die jeweils ein Paar bildenden Sonden beabstandet voneinander übereinander gelegt.
Von der Anordnung her bietet es sich an, eine Vielzahl so gebildeter Paare diese beabstandet voneinander in Reihe anzuordnen. Dies hat den Vorteil, dass dann das sogenannte Prüflineal sehr schmal wird und für enge Einbauverhältnisse gut geeignet ist. Bei einer anderen Anordnung werden zwei parallel liegende Reihe von Sondenpaaren gebildet, wobei die eine Reihe versetzt zur ersten Reihe liegt.
Vorzugsweise ist die jeweilige Einzelsonde als flach gewickelte Spule ausgebildet und liegt parallel zur Werkstückoberfläche. Das hat den Vorteil, dass damit der Abstand zwischen Sonde und Werkstückoberfläche besonders gering ist. Elegant kann man diese Anordnung in der Weise realisieren, wenn man die jeweilige Einzelsonde als gedruckte Spule ausbildet. Auf diese Weise wird eine Leiterplatte gebildet und die Paarbildung erfolgt beispielsweise in der Art, dass man zwei Leiterplatten mit darauf gedruckten Spulen übereinander legt mit einer dazwischen liegenden Distanzplatte.
Bei einer anderen Ausführungsart sind auf der Ober- und komplementär dazu auf der Unterseite einer Leiterplatte gedruckte Spulen angeordnet und die Leiterplatte bildet die Distanzplatte und damit den Abstand zwischen den ein Paar bildenden Spulen. Vorzugsweise werden die jeweils ein Paar bildenden Sonden elektrisch durch die Distanzplatten bzw. die Leiterplatte durchkontaktiert. Die Verschaltung der beiden Sondenpaare gegeneinander kann wahlweise durch Verdrahtung oder elektronisch in der Vorortelektronik erfolgen.
Eine andere Möglichkeit der Verschaltung bietet das Multiplexsystem. Sind beispielsweise acht Sondenpaare auf einem Prüflineal angeordnet, dann kann man mittels des Multiplex- Systems das Prüflineal durchtakten. Dazu wird beispielsweise das erste Sondenpaar mit dem direkt folgenden Sondenpaar gegeneinander verschaltet. Danach springt das System um eine Einheit weiter, d. h. das zweite Sondenpaar wird gegen das dritte Sondenpaar gegeneinander verschaltet usw. Will man beispielsweise langgestreckte Fehlstellen sicher erfassen, dann wird beispielsweise das erste Sondenpaar und das im weiteren Abstand dazu liegende sechste Sondenpaar gegeneinander verschaltet.
Würde man dagegen die erstgenannte Verfahrensweise anwenden, dann könnten die ersten beiden Sondenpaare beide über der gleichen Fehlstelle liegen und beide das gleiche Fehlersignal erzeugen, so dass sich keine Differenz ergibt.
Eine weitere Möglichkeit ergibt sich durch die, Anwendung einer Mehrkanaltechnik. Man könnte beispielsweise die ersten beiden Sondenpaare auf einen Kanal schalten, die Son- denpaare 3 und 4 auf einen zweiten Kanal usw., so dass man bei acht Sondenpaaren vier Kanäle benötigt. Auf jedem Kanal werden zwei Sondenpaare gegeneinander verschaltet, so dass sich bei vier Kanälen die Prüfleistung entsprechend erhöht. Nachteilig dabei ist aber der Aufwand für die eigene Elektronik je Kanal und die verschachtelte Verdrahtung. Im Sinne einer möglichst lückenlosen Abtastung der zu prüfenden Werkstückoberfläche hat es sich als vorteilhaft heraus gestellt, die gedruckten Spulen fast aneinander stoßen zu lassen und sie in einer Reihe anzuordnen. Darunter liegt eine zweite Leiterplatte mit der gleichen Anordnung von Spulen, so dass die vorher beschriebene Paarbildung ermöglicht wird.
Weitere Merkmale, Vorteile und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von einem in einer Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiel:
Es zeigen:
Figur 1 in einer Draufsicht eine Leiterplatte mit aufgedruckten Sonden
Figur 2 schematisch die differenzielle Verschaltung zweier Sonden nach dem Stand der Technik
Figur 3 in perspektivischer Darstellung eine erfindungsgemäße Anordnung der
Sonden für die Prüfung eines Rohres
Figur 4 schematisch eine erfindungsgemäße Anordnung zweier Sonden in differenzieller Verschaltung
Figur 5 schematisch eine erfindungsgemäß differenzielle Verschaltung zweier Sondenpaare
Figur 6 in einer Draufsicht ein Prüflineal
Figur 7 im Längsschnitt eine besondere Ausgestaltung einer Leiterplatte ln Figur 1 ist in einer Draufsicht eine Leiterplatte 1 dargestellt mit acht aufgedruckten Sonden S1 - S8. In diesem Ausführungsbeispiel sind jeweils vier Sonden S1 , S3, S5, S7 in einer Reihe angeordnet, wobei sie in Längsrichtung gesehen einen Abstand 3 zueinander aufweisen. Beispielsweise beträgt dieser Abstand 3 sieben Millimeter. Parallel, aber versetzt dazu, sind in einer zweiten Reihe weitere vier Sonden S2, S4, S6, S8 angeordnet. Auch diese weisen einen Abstand 3 zueinander auf. Die Reihen zueinander sind nur mit einem geringen Abstand angeordnet. Alternativ könnte man auch alle acht Sonden S1 - S8 in einer Reihe liegend anordnen (siehe Figur 6). Die Anzahl der Windungen pro gedruckter Sonde liegt bei diesem Ausführungsbeispiel bei zehn. In bekannter Weise kann man im Sinne einer Rauschunterdrückung zwei Sonden differenziell gegeneinander schalten. Dies ist schematisch in Fjgur 2 dargestellt. Beispielsweise ist die in der ersten Reihe liegende Sonde S8 gegen die in der zweiten Reihe liegende Sonde S5 gegeneinander geschaltet.
Figur 3 zeigt in einer perspektivischen Darstellung eine erfindungsgemäße Anordnung für die Prüfung eines Rohres 4, wobei diese Darstellung nur ein Segment des Rohres 4 zeigt. Erfindungsgemäß sind zwei identisch ausgebildete Leiterplatten 1 , 2 übereinander liegend angeordnet. Dazwischen befinden sich in diesem Ausführungsbeispiel zwei Distanzplatten 5, 5'. Alternativ kann auch nur eine Distanzplatte angeordnet sein. Zum Schutz der Sonden S1 ' - S8' in der zweiten Leiterplatte 2, die gegen das Rohr 4 gerichtet sind, wird eine hier nicht dargestellte Schutzplatte, z. B. aus Edelstahl, angebracht und diese beispielsweise durch Kleben mit der Leiterplatte 2 verbunden. Der dick eingetragene Pfeil 6 soll die Drehung der Prüfvorrichtung symbolisieren. Die dafür erforderliche Halterung ist hier nicht dargestellt. Alternativ kann sich statt der Prüfvorrichtung auch das Rohr 4 dre- hen. Mit einem weiteren dick eingetragenen Pfeil 7 ist die Feldrichtung des Magnetfeldes gekennzeichnet.
Im Unterschied zum Stand der Technik werden zwei übereinander liegende Sonden differenziell gegeneinander geschaltet, wobei der Abstand zueinander durch die Distanzplat- ten 5, 5' gegeben ist. Diese Anordnung ist schematisch in Figur 4 dargestellt. Die zwei betreffenden gedruckten Sonden S8, S8' sind gegenläufig gewickelt, so dass bei entsprechender Verdrahtung eine Differenzschaltung entsteht. In Figur 5 ist dargestellt wie erfindungsgemäß zwei entsprechend Figur 4 gebildete Paare von Sonden gegeneinander geschaltet werden. Dazu werden beispielsweise das Spn- denpaar S8, S8' gegen das Sondenpaar S6, S6' differenziell geschaltet. In diesem Ausführungsbeispiel erfolgt die Verschaltung der beiden Sondenpaare 8, 8', 6, 6' gegenein- ander durch die Vorortelektronik, hier symbolisiert durch Verstärker 8.1 ; 8.2; 9.
Figur 6 zeigt in einer Draufsicht ein Prüflineal 9 mit insgesamt acht Sondenpaaren S1 , S1' - S8, S8'. Die jeweils darunter liegenden gedruckten Sonden S1' - S81 sind wie in Figur 3 dargestellt, im Abstand dazu angeordnet. Um eine möglichst lückenlose Abtastung der Werkstückoberfläche zu erreichen, sind in diesem Ausführungsbeispiel die gedruckten Sonden S1 , S1' - S8, S8' aneinander gerückt, ohne sich elektrisch zu berühren. Die differenzielle Schaltung der Sondenpaare gegeneinander erfolgt in der gleichen Weise wie vorher beschrieben.
In Figur 7 ist im Längsschnitt eine besondere Ausgestaltung einer Letterplatte 10 dargestellt. In diesem Ausführungsbeispiel bildet die Distanzplatte 5 den Träger, wobei auf der Ober- 11 und komplementär dazu auf der Unterseite 12 mehrere in Reihe liegende gedruckte Sonden S1, S1' - S8, S8' angeordnet sind. Die elektrische Durchkontaktierung 13 der beiden ein Paar bildenden Sonden z. B. 1, V ist durch eine gestrichelte Linie gekenn- zeichnet.
Bezugszeichenliste
Figure imgf000009_0001

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken, insbesondere Rohre, auf Fehler mittels Streufluss mit mindestens vier einzelnen Sonden, von denen zwei beabstandet voneinander als Paar differenziell gegeneinander geschaltet sind, dadurch gekennzeichnet, dass zwei voneinander beabstandete Paare (S8, S8', S6, S6') differenziell gegeneinander geschaltet sind.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 , mit einer relativ Zum Werkstück bewegbaren Halterung, an der mindestens vier einzelne Sonden angeordnet und elektrisch miteinander verdrahtet sind, dadurch gekennzeichnet, dass zwei ein Paar bildende Sonden (S8, S8') beabstandet voneinander gegen ein weiteres Paar (S6, S6') differenziell geschaltet sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2 dadurch gekennzeichnet, dass die jeweils ein Paar bildenden Sonden (S1 , S1' - S8, S8') beabstandet (5, 5') voneinander übereinander liegen.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3 dadurch gekennzeichnet, dass eine Vielzahl von Paaren (S2, S2'; S4, S4'; S6, So'; S8, S8') jeweils beabstandet voneinander in Reihe angeordnet sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3 dadurch gekennzeichnet, dass eine Vielzahl von Paaren jeweils (S2, S2'; S4, S4'; S6, S6'; S8, S8') beabstandet voneinander in Reihe und eine weitere Vielzahl von Paaren (S1 , S1"; S3, S3'; S5, S5"; S7, S7') ebenfalls beabstandet voneinander in einer weiteren parallel zur ersten Reihe liegenden Reihe angeordnet sind, wobei die Paare der einen Reihe jeweils versetzt zu den Paaren der anderen Reihe liegen.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 5 dadurch gekennzeichnet, dass die jeweilige Einzelsonde als flach gewickelte Spule ausgebildet ist und parallel zur Werkstückoberfläche liegt.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6 dadurch gekennzeichnet, dass die jeweilige Einzelsonde (S1 - S8') als gedruckte Spule ausgebildet ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass die Einzelsonden (S1 - S8') in Form von gedruckten Spulen auf einer Leiterplatte (1 , 2) angeordnet sind.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8 dadurch gekennzeichnet, dass zwei Leiterplatten (1 , 2) mit aufgedruckten Sonden (S1 - S8') übereinander liegen mit einer dazwischen liegenden Distanzplatte (5, 5').
0. Vorrichtung nach Anspruch 9 dadurch gekennzeichnet, dass die jeweilige Leiterplatte (1 , 2) zwei parallel liegende Reihen aufgedruckter Sonden (S1 - S8') aufweist, wobei die Sonden der einen Reihe versetzt zu den Sonden der anderen Reihe liegen.
11. Vorrichtung nach Anspruch 7 dadurch gekennzeichnet, dass auf der Ober- (12) und komplementär dazu auf der Unterseite (13) einer Lei- terpiatte (11) aufgedruckte Sonden (S1 , S1' - S8, S8') angeordnet sind und die
Leiterplatte (11) die Distanzplatte (5) bildet.
12. Vorrichtung nach den Ansprüchen 3 bis 11 dadurch gekennzeichnet, dass die jeweils ein Paar bildenden übereinander liegenden Sonden (S1 , S1 ' -
S8, S8') elektrisch durch die Distanzplatten (5, 5') bzw. die Leiterplatte durch- kontaktiert sind.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 - 12 dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Sondenpaare (S8, S8' S6, S6') durch Verdrahtung gegeneinander geschaltet sind.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 - 12 dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Sondenpaare (S8, S8'; S6, S6') elektronisch in der Vorortelektronik (8.1;8.2; 9) gegeneinander geschaltet sind.
PCT/DE2002/001684 2001-05-21 2002-05-06 Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von magnetisierbaren werkstücken auf fehler mittels streufluss WO2002095383A2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2001125310 DE10125310A1 (de) 2001-05-21 2001-05-21 Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von magnetisierbaren Werkstücken auf Fehler mittels Streufluss
DE10125310.9 2001-05-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2002095383A2 true WO2002095383A2 (de) 2002-11-28

Family

ID=7685983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE2002/001684 WO2002095383A2 (de) 2001-05-21 2002-05-06 Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von magnetisierbaren werkstücken auf fehler mittels streufluss

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE10125310A1 (de)
WO (1) WO2002095383A2 (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006007807A1 (de) 2004-07-16 2006-01-26 V & M Deutschland Gmbh Verfahren und vorrichtung zur zerstörungsfreien prüfung von rohren
DE102008024394A1 (de) 2008-05-15 2009-12-03 V&M Deutschland Gmbh Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Rohren
DE102011000917A1 (de) * 2011-02-24 2012-08-30 V&M Deutschland Gmbh Streuflusssonde zur zerstörungsfreien Streuflussprüfung von Körpern aus magnetisierbarem Werkstoff
EP2594929A3 (de) * 2011-11-16 2014-03-19 Vallourec Deutschland GmbH Streuflusssonde zur zerstörungsfreien Streuflussprüfung von Körpern aus magnetisierbarem Werkstoff
WO2018146081A1 (fr) * 2017-02-10 2018-08-16 Framatome Ensemble d'inspection de tubes avec une sonde à courants de foucault et procédé associé

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101547049B1 (ko) 2011-06-07 2015-08-24 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 와이어 로프 탐상 장치

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5619136A (en) * 1992-02-11 1997-04-08 Silverwing, Limited Detection of discontinuities below the surface of magnetizable material using differentially coupled sensors to detect magnetic flux leakage

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7728586B2 (en) 2004-07-16 2010-06-01 V & M Deutschland Gmbh Method and device for testing pipes in a non-destructive manner
DE102004035174A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 V&M Deutschland Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Rohren
DE102004035174B4 (de) * 2004-07-16 2006-08-10 V&M Deutschland Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Rohren
WO2006007807A1 (de) 2004-07-16 2006-01-26 V & M Deutschland Gmbh Verfahren und vorrichtung zur zerstörungsfreien prüfung von rohren
US8552718B2 (en) 2008-05-15 2013-10-08 V & M Deutschland Gmbh Method for the nondestructive testing of pipes
DE102008024394A1 (de) 2008-05-15 2009-12-03 V&M Deutschland Gmbh Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Rohren
DE102011000917A1 (de) * 2011-02-24 2012-08-30 V&M Deutschland Gmbh Streuflusssonde zur zerstörungsfreien Streuflussprüfung von Körpern aus magnetisierbarem Werkstoff
US9322805B2 (en) 2011-02-24 2016-04-26 Vallourec Deutshcland GmbH Leakage flux probe for non-destructive leakage flux-testing of bodies consisting of magnetisable material
DE102011000917B4 (de) * 2011-02-24 2017-08-17 Vallourec Deutschland Gmbh Streuflusssonde zur zerstörungsfreien Streuflussprüfung von Körpern aus magnetisierbarem Werkstoff
EP2594929A3 (de) * 2011-11-16 2014-03-19 Vallourec Deutschland GmbH Streuflusssonde zur zerstörungsfreien Streuflussprüfung von Körpern aus magnetisierbarem Werkstoff
WO2018146081A1 (fr) * 2017-02-10 2018-08-16 Framatome Ensemble d'inspection de tubes avec une sonde à courants de foucault et procédé associé
FR3062916A1 (fr) * 2017-02-10 2018-08-17 Areva Np Ensemble d'inspection de tubes avec une sonde a courants de foucault et procede associe
JP2020506396A (ja) * 2017-02-10 2020-02-27 フラマトムＦｒａｍａｔｏｍｅ 渦電流プローブを備えるチューブ検査ユニット及び対応する方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE10125310A1 (de) 2003-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007046054B4 (de) Verbesserter hochgenauer Rogowski-Stromwandler
EP0467202B1 (de) Vorrichtung zur Prüfung von mit magnetischen Eigenschaften ausgestatteten Messobjekten
DE102009010453A1 (de) Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Rohren
EP0142119B1 (de) Anordnung zur Veränderung der Kontaktabstände eines Kontaktfeldrasters an einem Leiterplattenprüfgerät
DE2448153B2 (de) Wirbelstromsonde zur Innenuntersuchung von Rohren aus ferromagnetischen Materialien
EP0838688A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
DE102018119941A1 (de) Messaufnehmer und Messgerät
DE69917438T2 (de) Anordnung zur erkennung/prüfung von gegenständen
EP0180034B1 (de) Vorrichtung mit zwei Hallgeneratoren zur Messung der Gradienten magnetischer Felder
WO2002095383A2 (de) Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von magnetisierbaren werkstücken auf fehler mittels streufluss
WO2015067483A1 (de) Wirbelstromsonde und wirbelstrom-prüfgerät
DE2601250B2 (de) Vorrichtung zum Abtasten eines Gegenstandes und zum Sichtbarmachen der Abtastung
DE3708771C1 (de) Vorrichtung zur beruehrungslosen Ermittlung von Abstaenden eines Gegenstandes von Konturen eines relativ zu diesem bewegbaren Objektes mittels gepulster Funkenentladungen
DE1800657A1 (de) Kontaktvorrichtung,insbesondere zur elektrischen Pruefung der Leitungszuege gedruckter oder geaetzter Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik
EP0322607B1 (de) Ansteuereinrichtung für die Vorrichtung zur elektrischen Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern
DE102013216019A1 (de) Mehrschicht-Wirbelstromsonde, Verfahren zur Herstellung einer Mehrschicht-Wirbelstromsonde und Prüfgerät mit Mehrschicht-Wirbelstromsonde
DE1934752A1 (de) Pruefadapter fuer elektrische Bausteine
DE19854483B4 (de) Vorrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in einem Luftspalt
DE3638428C1 (en) Processing device with in-register positioning for offset printing formes
EP0772048B1 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen
DE10039324C1 (de) Beschleunigungsmeßvorrichtung
DE3438658C1 (de) Anordnung von Hallgeneratoren
DE642163C (de) Verfahren zum Pruefen von magnetisierbaren Werkstoffen auf Risse und Ungleichmaessigkeiten
DE2925924C2 (de) Sondenanordnung zum Abtasten der Oberfläche eines magnetisierten ferromagnetischen Prüfteils
EP4071447B1 (de) Verfahren zum bestimmen der leitfähigkeit eines mediums, betriebsverfahren eines magnetisch-induktiven durchflussmessgeräts, und magnetisch-induktives durchflussmessgerät

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO NZ OM PH PL PT RO RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WA Withdrawal of international application
WWW Wipo information: withdrawn in national office

Ref document number: 2002339467

Country of ref document: AU