JP2020506396A - 渦電流プローブを備えるチューブ検査ユニット及び対応する方法 - Google Patents

Abstract

本発明は、渦電流プローブ（１４）を備えるチューブ検査ユニット（１０）であって、前記プローブ（１４）は、複数のインダクタ及び複数の受信機を備える、検査ユニット（１０）に関する。受信機は、実質的に線形の機能領域を有する磁気抵抗である。プローブ（１４）のインダクタは、コントローラ（２６）に接続されている。コントローラ（２６）は、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧をインダクタに注入するようにプログラムされ、その結果、受信機は、実質的に線形の機能領域に位置する分極中心を有する。

Description

本発明は、渦電流プローブを備えるチューブ検査ユニットであって、プローブは、複数のインダクタ及び複数の受信機を備え、受信機は、実質的に線形の機能領域を有する磁気抵抗であり、プローブのインダクタ及び受信機はコントローラに接続されている、チューブ検査ユニットに関する。

特許文献１は、複数のインダクタ及び複数の受信機を備え、受信機は磁気抵抗である、渦電流プローブについて記載している。インダクタには正弦波電流が供給される。これにより、検査に使用される渦電流が生成される。

磁気抵抗の応答は、所定の実質的に線形の制限された機能領域を有する。この実質的に線形の機能領域では、磁気抵抗の抵抗は、実質的に線形に磁場に依存する。実質的に線形の機能領域の外側では、受信機が取得したデータの活用が危険にさらされる。実際に、受信機の抵抗は、もはや磁場の線形関数ではない。従って、結果はもはや簡単には使用できない。さらに、ＧＭＲの応答の実質的に線形の領域は、０に近い磁場の中心にある必要はない。

１つのアイデアは、磁気抵抗がその実質的に線形の機能領域で動作するように磁場を測定することである。

特許文献２は、再生コイル（ｔｉｃｋｌｅｒ ｃｏｉｌ）、受信機、及び分極回路（ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ ｃｉｒｃｕｉｔ）を備える検査アセンブリについて記載している。磁気抵抗は分極回路によって分極され、従って実質的に線形の機能領域で動作する。

しかしながら、分極回路を追加すると、検査アセンブリはより複雑になる。検査アセンブリは、例えば小型化するのがより困難であり、より具体的には、限られた直径（内径約２０ｍｍ）の原子力発電所用の加圧水型原子炉（ＰＷＲ）の蒸気発生器チューブを検査するために作られたプローブの場合、統合の問題を引き起こす。

さらに、分極回路の追加は、単一の受信機に対して記載される。複数の受信機の場合、各受信機が分極回路に関連付けられていると、分極回路は、それらが関連付けられていない受信機と相互作用するリスクがある。従って、各受信機がそれらの実質的に線形の機能領域で動作することは保証されない。

国際公開第２０１１／１２６３９号公報 仏国特許出願公開第２，８５１，３３７号公報

従って、本発明の１つの目的は、チューブの信頼性が高く迅速な検査を可能にする簡単な検査アセンブリを提供することである。

その目的のために、本発明は、前述のタイプのチューブ検査ユニットであって、コントローラは、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧をインダクタに注入するようにプログラムされ、そして受信機は、実質的に線形の機能領域に位置する分極中心を有する、チューブ検査ユニットに関する。

本発明の特定の実施形態によれば、検査アセンブリは、単独で又は技術的に可能な組み合わせに従って考えられる以下の特徴のうちの１つ以上を有する：
−正弦波成分はゼロではない；
−インダクタは、少なくとも第１行及び第２行に配置され、第１行は横方向に沿って延び、第２行は第１行と平行に延び、第１行に対して縦方向にずらされている；
−インダクタの各行は、同じ数のインダクタを含み、１つの行のインダクタは横方向に規則的に間隔を空けられ、第１行のインダクタは第２行のインダクタに対して縦方向及び横方向にずらされており、第２行の各インダクタは第１行のインダクタに直列に接続されている；
−各インダクタは、平行な第１及び第２分岐と、第１及び第２分岐のそれぞれの端部を接続する少なくとも１つの端部ストリップとを備える、長方形リングの形態をしており、電流は各インダクタを循環し、第１分岐を循環する電流は、第２分岐を循環する電流と反対の方向を有する；
−受信機は、各第１分岐及び各第２分岐に配置される；
−検査ユニットは、主軸に沿って延びる本体と、インダクタ及び受信機が取り付けられた可撓性フィルムとを備え、可撓性フィルムは本体に巻き付けられている；
−可撓性フィルムにはノッチが設けられ、ノッチは本体の主軸と平行に配置される；
−検査ユニットは発泡体を含み、発泡体は本体と可撓性フィルムとの間に配置され、発泡体は膨張可能である；及び
−検査ユニットは、原子力発電所の蒸気発生器のチューブ用の検査ユニットである。

本発明はさらに、前述の検査ユニットを実装するチューブ検査方法に関し、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧が、チューブの取得ステップ中に複数のインダクタに注入される。

本発明の特定の実施形態によれば、検査方法は、単独で又は技術的に可能な組み合わせに従って考えられる以下の特徴のうちの１つ以上を有する：
−取得ステップ中、電圧は１ｋＨｚ〜１０ＭＨｚの周波数を有する：
−取得ステップ中、プローブはチューブ内を並進して移動し、電圧がインダクタのセットに注入され、プローブの全ての受信機が作動される；
−取得ステップ中、電圧は、インダクタの第１行の２つの隣接するインダクタ及び第２行の関連するインダクタに注入され、インダクタごとに１つの受信機が作動され、作動されている受信機が隣接するライブインダクタの側にある；
−取得ステップ中、プローブは、以下の動き：
・分析されるチューブの第１端部から第２端部への縦方向の動き、
・第２端部から第１端部への縦方向の動き、
・所定の角度による回転、
・それ自身の周りでの少なくとも３６０°の回転を実行するまでの、前述のステップの繰り返し、
に従って移動され、
縦方向の動きのうちの１つの間、チューブの点の線が受信機によって取得され、各点は取得中の受信機での磁場を表す値に関連付けられ、
取得された線のセットが、チューブを表すマップを形成する；
−各線に対して平衡値が決定され、平衡値は、線の点のそれぞれの値から差し引かれる；
−取得ステップ中、プローブは、分析されるチューブの第１端部から第２端部まで縦方向に移動され、移動中に取得ピッチでチューブの連続的な円周取得が行われ、
取得された円周のセットが、チューブを表すマップを形成する。

本発明の他の特徴及び利点は、単に例として提供され、添付の図面を参照して行われる以下の説明を読むと明らかになるであろう。

本発明の一実施形態による検査ユニットの概略断面図である。 図１の検査ユニットの可撓性フィルム及び回路の平坦な概略図である。 本発明の方法の第１の実施形態によるチューブのマップである。 画像処理後の図３のマップである。 本発明の方法の第２の実施形態による取得中の作動されている要素の概略図である。 本発明の方法の第２の実施形態によるチューブのマップである。

本発明による検査ユニット１０が図１に示され、図２に部分的に示されている。このような検査ユニットは、チューブ１２の検査に特に適している。

検査ユニット１０は、原子力発電所の蒸気発生器のチューブ用の検査ユニットである。

検査ユニット１０は、渦電流プローブ１４を備える。

プローブは、複数のインダクタ１６〜２２及び複数の受信機２３、２４を備える。

検査ユニット１０は、コントローラ２６をさらに備える。

プローブ１４は、本体３０、本体３０を囲むフィルム２８、フィルム２８と本体３０との間の発泡体３２、及び摺動リング（ｓｌｉｄｉｎｇ ｒｉｎｇｓ）のシステム３４をさらに備える。

図１を参照すると、インダクタ１６〜２２は、コントローラ２６の周りに巻かれている。

ここでの各インダクタ１６〜２２は、第１分岐３８、第２分岐４０、及び２つの端部ストリップ４２を備える長方形リングの形態である。

ここでの各インダクタは、長方形リングの全体形状を得るように配置された連続したトラックである。トラックは複数のターンを実行し、トラックの各ターン間に空間が残されている。

第１及び第２分岐３８、４０は、互いに平行である。それらはそれぞれ端部を含む。

各端部ストリップ４２は、第１及び第２分岐３８、４０のそれぞれの端部を接続する。

電流がインダクタ１６〜２２の１つを循環するとき、第１分岐３８を循環する電流は、第２分岐４０を循環する電流と反対の方向を有する。

従って、第１分岐３８及び第２分岐４０はそれぞれ、互いに反対方向の電流層を生成することができる。

インダクタ１６〜２２は、第１行４３及び第２行４４に沿って配置される。

第１行４３は、横方向Ｙに延びている。

第２行４４は、第１行４３と平行に延びている。それは、縦方向Ｘにおいて、第１行４３に対してずらされている。

横のＹ方向と縦のＸ方向は、互いに垂直である。

各インダクタ１６〜２２の第１及び第２分岐３８、４０は、主に縦方向Ｘに延びている。従って、電流は主にこの方向に循環する。

第１行４３は、第２行４４と同じ数のインダクタを含む。

同じ行４３、４４のインダクタは、横方向に規則的に配置される。それらは例えば、１．５ｍｍ〜１．８ｍｍの間、例えば１．６５ｍｍに実質的に等しい規則的なピッチで配置される。

第１行４３のインダクタ１６、２０は、第２行４４のインダクタ１８、２２に対して、縦方向及び横方向にずらされている。

特にこのズレは、ＧＭＲ受容体間の空間を２つに分割することにより、検査の解像度を高めることができる。

第２行４４の各インダクタは、第１行４３のインダクタに直列に接続されている。第１行４３の各インダクタは、第２行４４の単一のインダクタにのみ接続されている。

受信機２３、２４は、インダクタ１６〜２２の各第１分岐３８及び各第２分岐４０に、より具体的には、各第１分岐３８及び各第２分岐４０の実質的に中央に配置される。

受信機２３、２４は磁気抵抗である。

磁気抵抗の抵抗は、周囲の磁場に依存する。各磁気抵抗は、優先方向における磁場の値の関数としての抵抗の特性曲線を有する。

磁気抵抗は実質的に線形の機能領域を有しており、すなわち、特性曲線の一部は実質的に直線である。

ここでの受信機２３、２４は、欠陥の全長にわたって応答信号を得るために、優先方向が横方向Ｙに対応するように向けられており、実質的には、表面の法線に沿った方向の場合のように欠陥の端部にはない。

コントローラ２６は、インダクタ１６〜２２に所定の電圧を注入するようにプログラムされている。

電圧は、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する。

電圧の正弦波成分は、ゼロではない。

図１を参照すると、本体３０は主軸に沿って延びている。

本体３０の形状は、検査されるチューブに適合している。本体３０は、例えば円筒形又は楕円形である。従って、丸形又は楕円形の断面を有するチューブの検査に特に適している。

本体３０は、その内部からチューブを検査する場合に特に適している。

本体３０は、例えば中空であり、本体によって画定される内部空間は、例えばケーブル配線を通すために使用される。

変形例では、本体は中空であり、検査アセンブリは、チューブを囲むことにより、外側からチューブを検査することができる。

可撓性フィルム２８は、例えば、ポリイミド（例えば、カプトン（登録商標））又はＰＥＥＫである。

電気回路は、可撓性フィルム２８上にエッチング又は堆積することができる。

インダクタ１６〜２２及び受信機２３、２４は、前述の配置で可撓性フィルム２８に取り付けられている。

一実施形態では、インダクタ１６〜２２は、可撓性フィルム２８上に直接エッチング又は堆積される。エッチングの場合、エッチングの幅は実質的に３０μｍに等しく、２つの隣接するエッチング間の絶縁は実質的に６０μｍに等しい。

インダクタ１６〜２２は、エッチングされた回路によって少なくとも部分的にコントローラ２６に接続されるか、又は可撓性フィルム２８上に堆積される。回路は、例えば、コントローラに接続され本体内に配置されるケーブルに接続される。

受信機２３、２４は、フリップチップ法を使用してフィルムに取り付けられ、各受信機及び可撓性フィルムの回路上の接点は互いに向き合っている、すなわち、接触面は直接対向している。受信機２３、２４もコントローラ２６に接続されている。

可撓性フィルム２８は、本体の主軸が縦方向Ｘと組み合わされるように、本体３０の周りに巻かれる。

横方向Ｙは、本体３０の円周に対応する。

次いで、各行の受信機は、８°〜１２．５°、例えば１１．２５°に実質的に等しい角度ピッチで間隔を空けられる。

可撓性フィルムにはノッチ４６が設けられている。ノッチ４６は互いに平行であり、縦方向Ｘに平行である。

例えば、各ノッチは、インダクタの第１分岐３８と第２分岐４０とを部分的に分離する。

有利には、発泡体３２が、本体３０と可撓性フィルム２８との間に配置される。

発泡体３２は膨張することができる、すなわち、発泡体によって占有される体積は増加する。

これにより、特に、検査アセンブリがチューブに挿入されると、検査されるチューブに可撓性フィルムを押し付けることが可能になる。可撓性フィルムは、特にノッチ４６により、発泡体の膨張に順応することができる。

さらに、所定の検査ユニットは、従って、異なる半径を有するホースを検査することができる。

摺動リングのシステム３４は、前部リング５０、中央リング５２、後部リング５４、前部ストップ５６及び後部ストップ５８を備える。

ここで「前部」及び「後部」との用語は、縦方向Ｘにおける任意の方向を指す。ここで、「前部」は図１の左に位置し、「後部」は図１の右に位置するといえる。

リング５０、５２、５４は、軸Ｘに沿って並進して本体３０の周りを移動するように取り付けられている。

ストップ５６、５８は、本体３０に対して固定される。前部ストップ５６は、前部リング５０と中央リング５２との間に配置される。後部ストップ５８は、中央リング５２と後部リング５４との間に配置される。

可撓性フィルム２８は、前部リング５０及び後部リング５４に固定される。発泡体３２は、中央リング５２に固定される。

本体３０がチューブ内で前方に向かって移動すると、リングは本体３０に対して後方に向かって移動する。前部リング５０は前部ストップ５６に当接する。そして、可撓性フィルム２８は、後方に向かって駆動されている後部リング５４と、本体に対して固定された状態である前部リング５０とによって引き伸ばされる。

本体３０がチューブ内で後方に向かって移動すると、リングは本体３０に対して前方に向かって移動する。後部リング５４は後部ストップ５８に当接する。そして、可撓性フィルム２８は、固定された状態である後部リング５４と、本体に対して前方に向かって駆動されている前部リング５０とによって引き伸ばされる。

前述の検査ユニットを実装するチューブを検査するための第１の方法をここで説明する。

前述の検査ユニットが提供される。それは、チューブの軸が縦方向Ｘに沿うように、検査されるチューブの一部の一端に挿入される。

本検査方法は、チューブを取得するステップを含む。

取得ステップ中に、コントローラ２６は、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧をインダクタの端子間に注入する。

従って、インダクタには、分極電流と呼ばれる直流が流れる。

電流は、静磁場の確立を引き起こす。

所定の電流に対して、受信機を囲む磁場は、受信機がそれらの実質的に線形の機能領域で動作するようなものである。受信機は、実質的に線形の機能領域に含まれる分極中心を有するといえる。

この分極は、特に、インダクタの端子間の電圧に直流成分を追加することにより得られ、適切な値の静磁場を得ることを可能にする。

従って、磁気抵抗の抵抗は、感度の好ましい方向における磁場の成分に実質的に線形に依存する。従って、受信機に存在するこの磁場成分を正確に測定することができる。

優先方向におけるチューブの潜在的な欠陥は、その方向における磁場の成分の変化を引き起こす。その場合、優先方向におけるチューブの欠陥を確実に検出し、例えばその寸法を測定することができる。

電圧の直流成分は、例えば３．２Ｖ〜３．６Ｖである。

電圧の正弦波成分は、例えば１ｋＨｚ〜１０ＭＨｚの周波数と、例えば５Ｖ〜１０Ｖのピーク間振幅とを有する。

電流は、例えば３０ｍＡ〜５０ｍＡであり、例えば４０ｍＡに等しい。

プローブの全ての受信機が作動される。

取得ステップ中、プローブは、チューブ内を所定の速度で縦方向Ｘに並進する。速度は、例えば５ｍｍ／秒〜１０００ｍｍ／秒であり、例えば実質的に２５ｍｍ／秒に等しい。

縦方向Ｘにおける受信機による取得ピッチは、０．０５ｍｍ〜０．２ｍｍであり、例えば、実質的に０．１ｍｍに等しい。

チューブ内のプローブの各位置で、点６２の列６４が取得される。

次いで、このようにして得られた信号は、プローブの要素のずらされた行の位置によって引き起こされるズレを修正するために再較正される。

従って、取得ステップ中に、チューブの点６２の長方形のセットが、受信機によって取得される。

列６４の点６２は、所与の瞬間での受信機に対応する。各点は、取得時の受信機での磁場を表す値に関連付けられる。代表値は、例えば、直接的に磁気抵抗の抵抗であるか、又は、受信機の４つの磁気抵抗素子によって形成されて電圧が供給されるブリッジの端子間の差動電圧である。

ここでの値は、灰色の雲による点の色付けで表され、優先軸に沿って測定された磁場が大きくなると、色合いが明るくなる。

色付けされた点のセットは、図３に示すように、チューブを表すマップ６６を形成する。

場合によっては、マップ上でより暗い列の少なくとも１つのセット６８を見ることができる。

列のこのセット６８は、例えば、チューブの端部のエッジ効果によるものである。

マップ６６に対して、平衡値が決定される。平衡値は、例えば、マップの点を表す値の平均である。変形例では、平衡値は、欠陥がないことがわかっている列の点を表す値である。

次に、各点に対して、その点が属する列の平衡値が、代表値から差し引かれる。

この画像処理の後、図４に示すように、エッジ効果が平滑化されたマップ６９が取得される。

次に、代表値が代表値のセットの平均とは実質的に異なる点領域を検出する。例えば、代表値と平均との比（信号対雑音比）は、３デシベル以上である。

磁気受信機は、欠陥の全長にわたって選択された構成要素に敏感であり、この長さのサイズ処理は、信号を分析することにより可能である。

前述の検査ユニットを実装するチューブを検査する第２の方法を、図５を参照してここで説明する。

前と同様に、前述の検査ユニットが設けられ、本方法はチューブを取得するステップを含む。

検査ユニットは同様に、検査されるチューブの部分の第１端部で、チューブに配置される。

取得ステップ中に、コントローラ２６は、４つのみのインダクタの端子間に、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧を注入する。

正弦波成分はゼロではない。

図５に示すように、電圧は、インダクタの第１行４３の２つの隣接するインダクタ１６、２０と、これらのインダクタ１６、２０に接続された第２行４４のインダクタ１８、２２とに注入される。

電圧が注入される端子間に、インダクタ１６、１８、２０、２２ごとに１つの受信機２３ａ、２３ｃ、２４ｄ、２４ｂのみが作動される。各インダクタについて、作動された受信機は、隣接するライブインダクタの側にある。

同様に、ライブインダクタには電流が流れる。

電流は、磁場の確立を引き起こす。

作動された受信機を囲む磁場は、受信機がそれらの実質的に線形の機能領域で動作するようなものである。電圧は例えば、前と同じ特性を有する。

取得ステップ中に、プローブは、以下の動き：
−分析されるチューブの一部の第１端部から第２端部への縦方向の動き、
−第２端部から第１端部への縦方向の動き、
−所定の角度による回転、
−それ自身の周りでの少なくとも３６０°の回転を実行するまでの、前述のステップの繰り返し、
に従って移動される。

プローブの移動速度は、例えば、縦方向の移動中に５ｍｍ／秒〜１５ｍｍ／秒であり、例えば１０ｍｍ／秒に実質的に等しい。

回転角は、例えば８°〜１５°であり、例えば１２°に実質的に等しい。

繰り返しのたびに、縦方向の動きのうちの１つの間、取得が行われる。

例えば、第２端部から第１端部へのそれぞれの縦方向の動きの際に、チューブの点６２の線６０が受信機によって取得される。点は、取得ステップ中の所定の瞬間でのプローブの位置に対応する。縦方向Ｘにおける取得ピッチは、０．０５ｍｍ〜０．２ｍｍであり、例えば、実質的に０．１ｍｍに等しい。

同様に、各点は、取得時の受信機での磁場を表す値に関連付けられる。代表値は、例えば、使用される受信機のタイプに応じて、作動された受信機の磁気抵抗の抵抗の平均、又は磁気抵抗ブリッジの端子間の差動電圧である。

前と同様に、値は、チューブを描いたマップを取得するために、灰色の雲による点の色付けで表される。

得られたマップ７４の例を図６に示す。

優先軸に沿って知覚される地球の磁場は、プローブの回転後に変化する可能性があることを考えると、（チューブの空間的向きに応じて）行又は列の少なくとも１つのセット７６は、マップ７４の残りの部分よりも実質的に暗く又は明るくなる。

マップ７４の各行に対して、初期化値が決定される。初期化値は、例えば、行の点を表す値の平均である。変形例では、初期化値は、欠陥がないことがわかっている行の点を表す値である。

次に、各点に対して、点が属する行の平衡値が、初期化値から差し引かれる。

この画像処理の後、例えば図３に示す第１の実施形態の取得ステップ後に取得されるものと同様に、地球の磁場の変動が減少されたマップが取得される。

変形例では、地球の磁場の変動を相殺するために、プローブの要素の角度及び縦方向の配置に従って、取得中に分極曲線が修正される。

次に、前と同様に、エッジ効果を平滑化することを可能にする画像処理が任意で適用される。

次に、代表値が代表値のセットの平均とは実質的に異なる点領域を検出する。この比（信号対雑音比）は例えば、３デシベル以上である。

受信機は、優先方向の磁場に敏感であり、検出された欠陥はこの優先方向にある。従って、これらの領域７０は、円周方向の欠陥に対応し、その寸法を推定することができる。

変形例では、取得ステップ中、プローブは回転しない。

取得ステップ中に、プローブは、分析されるチューブの第１端部から分析されるチューブの第２端部まで縦方向に移動する。プローブの移動速度は、例えば５ｍｍ／秒〜１０００ｍｍ／秒である。

取得ステップは、チューブの円周を連続して取得することにより実行される。縦方向Ｘにおける円周取得のピッチは、０．０５ｍｍ〜０．２ｍｍであり、例えば、実質的に０．１ｍｍに等しい。

円周取得ごとに、４つのインダクタの第１のセットが作動され、他のインダクタは作動されない。４つのインダクタは前述の通り、すなわち、図５に示すように、インダクタの第１行４３の２つの隣接するインダクタ１６、２０、及びこれらのインダクタ１６、２０に接続された第２行４４のインダクタ１８、２２である。前と同様に、電圧が注入される端子間に、インダクタ１６、１８、２０、２２ごとに１つの受信機２３ａ、２３ｃ、２４ｄ、２４ｂのみが作動される。各インダクタについて、作動された受信機は、隣接するライブインダクタの側にある。

このステップは、インダクタの第１行４３の２つの隣接するインダクタ１６、２０、及びこれらのインダクタ１６、２０に接続された第２行４４のインダクタ１８、２２を備える４つのインダクタの異なるセットの全て、並びに対応する受信機が作動されるまで繰り返される。

これにより、所定の縦方向の位置でチューブの円周を取得することができる。

取得ステップの最後に、縦方向Ｘにおけるピッチで取得されたチューブの円周のセットからマップが取得される。

異なるインダクタ及び受信機の連続的な作動は、作動されるインダクタ又は受信機に対応する入力を選択するために、例えば少なくとも１つのマルチプレクサを使用して行われる。

従って、本発明の検査方法及び検査ユニットは、チューブ内の好ましい方向に発生する欠陥を、信頼性高く迅速に検出することができる。

従って、ここで対象とされるのは、円周方向の欠陥である：縦方向の欠陥は検出されない。同様に、欠陥ネットワークでは、円周部分のみが検出される。縦方向の欠陥は、円周方向の欠陥の寸法の推定値を変えない。

円周方向の欠陥の検出は、割れた欠陥を検出するために原子力発電所の蒸気発生器チューブを監視するのに特に役立つ。

１０ 検査ユニット
１２ チューブ
１４ 渦電流プローブ
１６、１８、２０、２２ インダクタ
２３、２４ 受信機
２６ コントローラ
２８ 可撓性フィルム
３０ 本体
３２ 発泡体
３４ 摺動リングのシステム
３８ 第１分岐
４０ 第２分岐
４２ 端部ストリップ
４３ 第１行
４４ 第２行
４６ ノッチ
５０ 前部リング
５２ 中央リング
５４ 後部リング
５６ 前部ストップ
５８ 後部ストップ
６０ 線
６２ 点
６４ 列
６６ マップ
６９ マップ
７０ 領域
７４ マップ
７６ 行又は列の少なくとも１つのセット

Claims (16)

1. 渦電流プローブ（１４）を備えるチューブ検査ユニット（１０）であって、前記プローブ（１４）は、複数のインダクタ（１６〜２２）及び複数の受信機（２３、２４）を備え、前記受信機（２３、２４）は、実質的に線形の機能領域を有する磁気抵抗であり、前記プローブ（１４）の前記インダクタ（１６〜２２）はコントローラ（２６）に接続されており、前記コントローラ（２６）は、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧を前記インダクタ（１６〜２２）に注入するようにプログラムされ、そして前記受信機（２３、２４）は、前記実質的に線形の機能領域に位置する分極中心を有することを特徴とする、チューブ検査ユニット（１０）。
2. 前記正弦波成分はゼロではないことを特徴とする、請求項１に記載の検査ユニット。
3. 前記インダクタ（１６〜２２）は、少なくとも第１行及び第２行（４３、４４）に配置され、前記第１行（４３）は横方向（Ｙ）に沿って延び、前記第２行（４４）は前記第１行（４３）と平行に延び、前記第１行（４３）に対して縦方向（Ｘ）にずらされていることを特徴とする、請求項１又は２に記載の検査ユニット。
4. インダクタ（１６〜２２）の各行（４３、４４）は、同じ数のインダクタ（１６〜２２）を含み、同じ行のインダクタ（１６〜２２）は横方向に規則的に間隔を空けられ、前記第１行（４３）のインダクタ（１６、２０）は前記第２行（４４）のインダクタ（１８、２２）に対して縦方向及び横方向にずらされており、前記第２行（４４）の各インダクタ（１８、２２）は前記第１行（４３）のインダクタ（１６、２０）に直列に接続されていることを特徴とする、請求項３に記載の検査ユニット。
5. 各インダクタ（１６〜２２）は、平行な第１及び第２分岐（３８、４０）と、前記第１及び第２分岐（３８、４０）のそれぞれの端部を接続する少なくとも１つの端部ストリップ（４２）とを備える、長方形リングの形態をしており、電流は各インダクタ（１６〜２２）を循環し、前記第１分岐（３８）を循環する電流は、前記第２分岐（４０）を循環する電流と反対の方向を有することを特徴とする、請求項１〜４の何れか１項に記載の検査ユニット。
6. 受信機は、各第１分岐（３８）及び各第２分岐（４０）に配置されることを特徴とする、請求項５に記載の検査ユニット。
7. 前記検査ユニット（１０）は、主軸に沿って延びる本体（３０）と、前記インダクタ（１６〜２２）及び前記受信機（２３、２４）が取り付けられた可撓性フィルム（２８）とを備え、前記可撓性フィルム（２８）は前記本体（３０）に巻き付けられていることを特徴とする、請求項１〜６の何れか１項に記載の検査ユニット。
8. 前記可撓性フィルム（２８）にはノッチ（４６）が設けられ、前記ノッチ（４６）は前記本体（３０）の主軸と平行に配置されることを特徴とする、請求項７に記載の検査ユニット。
9. 前記検査ユニット（１０）は発泡体（３２）を含み、前記発泡体（３２）は前記本体（３０）と前記可撓性フィルム（２８）との間に配置され、前記発泡体（３２）は膨張可能であることを特徴とする、請求項８に記載の検査ユニット。
10. 請求項１〜９の何れか１項に記載の検査ユニット（１０）を実装するチューブ検査方法であって、正弦波成分及び非ゼロ直流成分を有する電圧が、チューブ（１２）の取得ステップ中に複数のインダクタ（１６〜２２）に注入される、チューブ検査方法。
11. 取得ステップ中、電圧は１ｋＨｚ〜１０ＭＨｚの周波数を有することを特徴とする、請求項１０に記載の検査方法。
12. 取得ステップ中、前記プローブ（１４）は前記チューブ（１２）内を並進して移動し、電圧がインダクタのセット（１６〜２２）に注入され、前記プローブの全ての受信機（２３、２４）が作動されることを特徴とする、請求項１０又は１１に記載の検査方法。
13. 請求項４又は６に記載の検査ユニット（１０）を実装する、請求項１０又は１１に記載の検査方法であって、取得ステップ中、電圧は、インダクタの第１行（４３）の２つの隣接するインダクタ（１６、２０）及び第２行（４４）の関連するインダクタ（１８、２２）に注入され、インダクタごとに１つの受信機（２３、２４）が作動され、作動されている受信機が隣接するライブインダクタの側にあることを特徴とする、検査方法。
14. 取得ステップ中、前記プローブ（１４）は、以下の動き：
    −分析されるチューブの第１端部から第２端部への縦方向の動き、
    −第２端部から第１端部への縦方向の動き、
    −所定の角度による回転、
    −それ自身の周りでの少なくとも３６０°の回転を実行するまでの、前述のステップの繰り返し、
    に従って移動され、
    縦方向の動きのうちの１つの間、前記チューブの点（６２）の線（６０）が前記受信機（２３、２４）によって取得され、各点（６２）は取得中の前記受信機での磁場を表す値に関連付けられ、
    取得された線（６０）のセットが、前記チューブ（１２）を表すマップ（６６）を形成することを特徴とする、請求項１３に記載の検査方法。
15. 各線（６０）に対して平衡値が決定され、前記平衡値は、前記線（６０）の点（６２）のそれぞれの値から差し引かれることを特徴とする、請求項１４に記載の検査方法。
16. 取得ステップ中、前記プローブ（１４）は、分析されるチューブの第１端部から第２端部まで縦方向に移動され、移動中に取得ピッチで前記チューブの連続的な円周取得が行われ、
    取得された円周のセットが、前記チューブ（１２）を表すマップを形成することを特徴とする、請求項１０〜１５の何れか１項に記載の検査方法。

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