JP2012523554A - 導電性構造体の非破壊試験のための装置 - Google Patents

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Abstract

本発明は、誘導部、受信部、処理手段、を備える導電性部品の非破壊試験のための装置に関し、前記誘導部が、様々な振動数f、f、…、fにおいて提供されるn個の層に分離されるインダクタを備え、受信部が複数の磁気受信器を備え、異なる振動数f’、f’、…、f’において提供され、磁気受信器が少なくとも一つのカラムにおいて互いに接続され、各磁気受信器が層の下に配置され、指数nおよびmは2を超える整数であり、処理手段はカラムの各々の磁気受信器内の磁場を知ることを可能にする。

Description

本発明は、導電性構造体の非破壊試験のための装置に関する。
本発明の分野は、導電性の部品または構造体の傷、クラック、腐食などの欠陥の検知を可能にする非破壊試験(NDT)である。
使用される方法の全てにおいて、薄いが、ただし平面である必要がない、例えば航空用軽量合金構造体または原子力発電所の蒸気発生器管などの、材料の欠落が漏れを引き起こす可能性がある、導電性構造体の検査をするために電磁的方法が特に適合される。この方法は、検査される構造体の近傍で、誘導部を用いて、電磁場を放出する段階、および構造体に存在し得る欠陥によって生成される磁気の流れの干渉を、受信部(磁場受信器またはセンサ)を用いて、測定する段階、からなる。磁場誘導部および受信部を備えるユニットは「プローブ」と呼ばれる。
受信器は、誘導型または磁気型のどちらであってもよく、例えばAMR(異方性磁気抵抗)、GMR(巨大磁気抵抗)、GMI(巨大磁気インピーダンス)、ホール効果などがある。本発明の分野は、より詳細には、第2のカテゴリー、すなわち磁気型受信器に関する。
取得をより迅速にするために、多重受信器ユニットが使用されてよく、これはすなわち同じプローブ内に複数の同じ基本受信器を含むものである。1次元(または1D)アレイで、プローブの移動を単一の軸方向に減らすことができる。2次元(または2D)磁気撮像装置でプローブの移動はもはや必要とされない。実際には、一般的に四重極の形態を有するこれらの基本磁気受信器を使用するには、インターフェイスにかなりの問題が存在する。したがって、プローブ内のかなり実質的な空間がインターフェイスに費やされなくてはならず、これは基本受信器を引き離すことにつながり、受信器によって覆われていない領域の存在に起因して、欠陥の存在を隠すことになる可能性がある。さらに、プローブ内において、実質的な空間はさらに電子装置(基本受信器一つあたり一つの増幅器を備えることが多い)、及び多重化手段によっても占められる。
特許文献1は、マトリックスまたは放出コイルおよび受信コイルが直列に接続されたコイル型の渦電流センサアレイの使用について記載している。磁気型の受信器(GMRなど)は考えられていない。
図1Aから1Cは、インダクタ10および磁気受信器11を用いる非破壊試験において通常使用される従来技術の幾つかの装置を示す。
・インダクタ10は、図1Aに示されるようにコイルであってよく、磁気受信器11はこのコイルから数ミリメートルまたは約10ミリメートルの位置に配置され、矢印12は電流の方向を示す。
・インダクタ10は「層」であってよく、ワイヤの下で、図1Bに示すように、磁場の局所的に均一な分布の生成を可能にし、磁気受信器11はこれらのワイヤの下に配置され、矢印12は電流の方向を示す。
・インダクタ10は、図1Cに示すように二重層であってよく、磁気受信器11は層の中央に配置され、矢印12は電流の方向を示す。
本発明の分野は、より詳細には、図1Bまたは1Cに示されるように、「層」型のインダクタ、およびGMR型の磁気受信器、または同様にGMI、AMR、TMR(トンネル磁気抵抗)型などである。磁気検知は、特許文献2で記載されるように、混合関数として使用されてよい。その後、振動数fで層が提供され、この振動数は検討される材料および検知される欠陥の性質に応じて一般的に固定される。たとえば電流内の磁気検知器の提供は、振動数f’において直流または交流であってよい。もしも提供が直流である場合、磁気検知器の端部における複素信号の復調は振動数fで実行される。もしもそれが交流である場合、二つの線が、一方は振動数f−f’において、および他方は振動数f+f’において、信号中に現れ、f−f’またはf+f’における復調は、この周波数における複素電圧の振幅を決定する。復調の後、振幅は検知器を通過する電流およびそれが位置する場所の磁場に比例する。
図2Aおよび2Bに示される、多重受信器ユニットの場合、基本受信器20は従来互いに隣り合って位置決めされ、かつ独立である。実線の長方形21によって表されるインダクタ層は、これらの基本受信器を全て覆う。矢印22は電流の方向を示す。図2Aの場合、実質的な表面を覆うために全ての受信器は軸Yに沿って移動される。図2Bの場合、プローブ(インダクタ+受信器)は移動なしで使用されてよく、構造体の欠陥によって放射される磁場の静的マッピングを実行する。
従来技術のデバイスのインターフェイスは、一つの要素あたり少なくとも一つの接続を使用することに起因して複雑である。そのようなものとして、GMR型の磁気検知は従来二つの供給ワイヤおよび二つの差分測定ワイヤを必要とする。後者は差分増幅器に接続される。そこで、プローブと器具との間の接続数を低減するためにアナログマルチプレクサー/デマルチプレクサーが必須である。後者は、渦電流を介する非破壊試験として信号を用いるために、および復調振動数において線の複雑な振幅を得るために、従来の方法で、同期復調装置を含む。
本発明は、基本磁気受信器のアレイまたはマトリックスの形態で多重受信器ユニットを含む試験のための装置を提案することによって、これらの技術的問題を解決することを目的とし、これは、それらの密度を増加し、かつ基本磁気受信器によって覆われていない被試験構造体の領域を最小化するために、直列に、または並列に基本磁気受信器を提供することによって、インターフェイスおよび電子装置を最小化することを可能とする。
仏国特許出願第2904693号明細書 国際公開第2007/095971号
本発明は、導電性部品の非破壊試験のための装置に関し、前記装置は、
・誘導部
・受信部
・処理手段
を含み、
前記誘導部が、様々な振動数f、f、…、fにおいて提供される、n個の層型の基本インダクタに分離されるインダクタを備えること、
受信部がm個のカラムに分配されたn’個の磁気受信器を備え、各カラムが最大n個の受信器を備え、磁気受信器が各カラムにわたって互いに接続され、受信器のm個のカラムが振動数f’、f’、…、f’ゼロまたは非ゼロの電気信号v’、v’、…、v’によって提供され、各磁気受信器が基本インダクタの下に配置され、m個の磁気受信器が各基本インダクタの下に位置決めされ、指数n、n’、およびmは正の整数であり、例えばn≧2、1<n’≦n*m、およびm≧1であり、
処理手段はカラムの各々の磁気受信器内の磁場を知ることを可能にし、各磁気受信器は復調装置として使用されること
を特徴とする。
各々の基本インダクタは、導電性のワイヤを含む層、または直列の幾つかの導電性のストランド、または並列の幾つかの導電性のストランドであってよい。
有利には、磁気受信器は直列に接続される。
第1の実施形態において、受信器の各カラムiは電流中に提供され、カラムの端部で測定される電圧は、振動数f±f’、f±f’、…、およびf±f’における、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、最大2nの正弦曲線基本電圧の合計である。
第2の実施形態において、受信器の各カラムは電圧中に提供され、カラムiを通過する電流は、振動数f±f’i1、f±f’、…、およびf±f’における、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、最大2nの正弦曲線基本電流の合計である。
第3の実施形態において、受信器の各カラムiは、交流電圧によって提供され、かつ、不均衡な差分電圧が振動数f±f’、f±f’、…、f±f’において測定される、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、ホイートストン抵抗ブリッジのブランチを構成する。
有利には、磁気受信器は、検知感度の軸Xに従った方向を向き、これらの基本受信器の電流の主方向は軸Yに従った方向に向けられる。
例示的な実施形態において、本発明の装置はm×nの磁気受信器のマトリックス(すなわち、n’=n:各カラムiは、基本インダクタが存在する限り多くの受信器を含む)を含み、振動数f、f、…、fは、各々振動数f+Δf、f+2Δf、…、f+nΔfと等しく、および振動数f’、f’、…、f’は全て振動数fに等しく、振動数fは約1MHzであってよく、振動数Δfは約10KHzであってよい。
他の例示的な実施形態によれば、受信器の提供は直接実行され(f’=f’=…=f’=0)、振動数f、f、…、fは各々振動数f+Δf、f+2Δf、…、f+nΔfと等しい。振動数fは約1MHzであってよく、振動数Δfは約20KHzであってよい。
有利には、本発明の装置は、その上にインダクタおよび磁気受信器が配置される支持体を含み、この支持体は多層のフレキシブルプリント回路であってよい。これらの磁気受信器は直接配線された受信器であってよい。誘導部は多層基板の少なくとも一つの層の上に分配される幾つかの層を含んでよい。
有利には、磁気受信器はGMR型の受信器である。
本発明の装置は多くの有利な点を有し、特に以下の点を有する。
・接続の最小化および基本受信器の密度の増加、
・装置内部の処理電子装置の最小化、
・磁気受信器ユニットの実装の簡素化、
・2D撮像装置の実行可能性。
本発明の装置は、渦電流を介する非破壊試験に関する多素子用途に関して、より詳細には、構造体表面の小さな欠陥を検知することを目的とする用途に関して、特に使用され得る。
従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 従来技術のインダクタ/受信器装置を示す。 本発明の装置を示す。 本発明を示す。 図4Aに示される本発明の装置の例示的実施形態の移動の間、磁気受信器の方向に応じて得られる磁場のマッピングの様子を示す。 図4Aに示される本発明の装置の例示的実施形態の移動の間、磁気受信器の方向に応じて得られる磁場のマッピングの様子を示す。 図4Aに示される本発明の装置の例示的実施形態の移動の間、磁気受信器の方向に応じて得られる磁場のマッピングの様子を示す。 本発明の装置の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 面A−Aに従った図9Aの断面図である。 図9Aおよび9Bに示されるような本発明の装置の例示的実施形態で得られた実験結果を示す。 図9Aおよび9Bに示されるような本発明の装置の例示的実施形態で得られた実験結果を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。 本発明の装置の他の例示的実施形態を示す。
図3に示されるように、本発明の装置は以下を含む。
・異なる振動数f1、f2、...、fnにおいて提供されるn個の基本インダクタ33に分離されるインダクタを備える誘導部、
・m個のカラムにわたって分配されたn’個の磁気受信器34を備える受信部であって、各カラムは最大n個の磁気受信器34を備え、これらの磁気受信器は各カラムにわたって互いに接続され、受信器のm個のカラムが、振動数f1’、f2’、…、fm’の、電気信号v1’、v2’、…、vm’、ゼロまたは非ゼロ、によって提供され、各磁気受信器34は基本インダクタの下に配置され、指標n、n’、およびmは正の整数であり、例えばn≧2、1<n’≦n*m、およびm≧1である、受信部、
・カラムの各磁気受信器34の磁場を知ることを可能にする処理手段。
インダクタ提供30、磁気受信器34の提供31、および受信チャンネル32が存在する。
電気信号v1’、v2’、…、vm’は、各々の振動数f1’、f2’、…、fm’の、直流電流または電圧、または交流電流または電圧のどちらかであってよい。これ以降、問題を簡単にするために、電圧v1’、v2’、…、vm’が振動数f1’、f2’、…、fm’の正弦曲線の、またはこの場合においてf1’=f2’=…=fm’=0を考慮することによって直流である、最も一般的な場合について考えられるべきである。
各々の基本インダクタ33は導電性ワイヤ、または図1Bおよび1Cに示されるような直列の複数の導電性ストランド、または並列の複数の導電性ストランドを含む層であってよい。ストランドは直線状でなくてもよい。それらは、図1Dに示されるように、同じ電流またはコイル14によって提供される、小さな基本層で構成されてよい。
各磁気受信器34は、復調器として使用される。それ自体は、例えば、直列に配置された磁気受信器34の第1のカラムの端部において測定される電圧v1が、f1±f’1、f2±f’1、…、およびfn±f’1における、2n個の正弦曲線基本電圧の合計である。f1−f’1、f2−f’1、…、およびfn−f’1、またはf1+f’1、f2+f’1、…、およびfn+f’1におけるv1の復調は、これらの振動数の各々におけるv1の成分の複素振幅を得ることを可能にし、その後カラムの測定点または受信器の各々に存在する磁場を得ることを可能にする。マルチプレクサーは必要とされない。
直列の磁気受信器34のカラムの提供31は電圧内に提供することであってよく、電流がこれらの受信器を通過し、その後測定される信号となる。
第1の実施形態において、n’i受信器を備えるカラムiの各々は、振動数f’iにおいて、電流内に提供され、このカラムiの端部で測定された電圧は、2n’i基本電圧の合計であり(n’iはこの場合f’i=0におけるもの)、最大で振動数f1±f’i、f2±f’i、…、およびfn±f’iにおけるものである(カラムの基本インダクタの下で受信器が存在しない場合、これらの振動数の幾つかにおける振幅はゼロ、または非常に低い)。
第2の実施形態において、各カラムiは振動数f’iにおいて電圧内に提供され、電流はカラムiを通過し、2n’i基本電流の合計であり、最大で振動数f1±f’i、f2±f’i、…、およびfn±f’iにおけるものである。
第3の実施形態において、n’i個の受信器を備える各カラムiがホイートストンブリッジのブランチ内に挿入される。ブリッジの三つのインピーダンスは、例えば抵抗であり、値の各々は磁気受信器の全カラムの抵抗に近い。各ブリッジiは振動数f’iにおいて提供される。ブリッジの中間ブランチの端部で測定される、差分の非平衡電圧は、最大f1±f’i、f2±f’i、…、およびfn±f’iにおける、2n’i個の基本電圧の合計である。
どの場合であっても、復調は、振動数f1−f’i、f2−f’i、…、およびfn−f’iにおいて、または振動数f1+f’i、f2+f’i、…、およびfn+f’iにおいて、各々の受信器における局所的磁場を決定するために、行われる。受信器のカラムの提供が直列である特別な場合には、f1’=f2’=…fm’=0であるため、復調は振動数f1、f2、…およびfnで行われなくてはならない。
振動数f1、…、fn、およびf’1、…、f’mを正確に選択することによって、受信電圧v1、v2、…、vmを、増幅手段を用いることによって、単一の信号に合計し、この単一の信号を、n×mの振動数差fi−f’jにおいて復調手段を用いて復調することができる。そして単一の受信ケーブルが、本発明の装置(プローブ)と復調手段との間に必要とされる。このように本発明の装置で、接続の数が限定される。
磁気受信器34は検知感度の軸を有する。それらは、三つの軸X、Y、またはZの一つに沿った方向を選択的に向くことができる。図4Bから4Dは、図4Aに示される、試験される構造体内の傷41の上の軸Yに沿った方向を向く基本インダクタ40、および磁気受信器42を備える、本発明の装置の例示的実施形態の軸XおよびYに従う移動(掃引)43の間に得られる磁場のマッピングの様子を示す。この磁気受信器42は、軸Xに従う方向を向いてよく、それによって図4Bに示されるマッピングを得ることを可能にし、軸Yに従う方向を向いてよく、それによって図4Cに示されるマッピングを得ることを可能にし、または軸Zに従う方向を向いてよく、それによって図4Dに示されるマッピングを得ることを可能にする。図4B(軸X)に示されるような場合、中央の極大部分と比較して明らかに実体に欠ける振幅の、両側の、小さな二次的極大部分を無視することによって、全体的に単極の信号が、図4C(軸Y)に示されるような場合四極の信号が、および図4D(軸Z)に示されるような場合双極の信号が、得られる。
図5は、本発明の例示的な実施形態を示し、欠陥(傷41)は、四つの基本インダクタ52、および各々a、b、c、およびdで示される四つの対応する磁気受信器51を備えるインダクタの中央に位置する。一連の四つの磁気受信器51の配置からもたらされる、傷41に起因する信号v1は、軸Yまたは軸Zに従う受信機の方向付けの場合、理論的にはゼロである。その理由は対称性であり、磁気受信器bおよびcの寄与は同じであるが符号は反対であり、磁気受信器aおよびdでも同様である。したがってそのような構成は傷の不検知につながる可能性があり、これは図4Bに示されるマッピングの磁気受信器の軸Xに従う方向の場合では起こらず、これはカラムに従う同等性に起因する。したがって、軸Xに従う測定に関する構成は、本発明の装置の枠組みの中でより有利である。
振動数の選択の観点からみた簡素化された実施形態の例が、m×nの磁気受信器のマトリックスで図6に示され、振動数f+Δf、f+2Δf、…、f+nΔfにおける基本インダクタ63のインダクション供給60、振動数fにおける受信器64の供給61、および振動数Δf、2Δf、3Δf、…、nΔfの信号の合計を得ることを可能にする受信チャンネル62を備える。磁気受信器64のカラムの各々に関して、復調はΔf、2Δf、…、nΔfにおいて実施されるようなものである。
図7は、4×4の磁気受信器64のマトリックスを備える図6の簡素化された実施形態の例を含み、全て軸Xに従って方向付けられている。試験振動数fは約1MHzであり、振動数Δfは約10kHzである。使用される磁気受信器64は検知感度の軸に従う方向を向いた両極性の直流磁場に急に入れられ、それらが線形性のドメイン内で操作可能であるようにされる。この両極性は、磁気受信器の下を通過する、調整可能な直流電圧が供給される導電性ワイヤによって実行される。図7において、振動数f+Δf、…、f+4Δfでのインダクタ供給70、振動数fにおける磁気受信器64の供給71、および受信チャンネル72(振動数Δf、2Δf、3Δf、および4Δfにおける信号の合計)が示される。参照番号74は、電流のイメージの測定値の低い値の抵抗を示す。
図8は第3の実施形態の図7の簡素化された例示的実施形態を含み、各々のカラムはホイートストンブリッジのブランチ内に挿入された四つの受信器を備える(抵抗75)。
磁気受信器64および基本インダクタ63に関して使用される支持体(インダクタの両側に配置され得る)はフレキシブルプリント回路であり、例えば厚さ400μmのエポキシで作られた「フレックス」プリント回路である。そのような回路によって、本発明の装置は複雑な形状に成形することが可能となる。磁気受信器の各々のカラムは交流電圧v’1、v’2、v’3、またはv’4によって供給され、磁気受信器64とともに直列に挿入された低い値の抵抗74は磁気受信器64内の電流のイメージ電圧を測定することを可能にする。この電圧は、特に振動数Δf、2Δf、3Δf、および4Δfにおける線を含み、これは、これらの振動数における復調の後、試験される構造体または部品内の傷の存在の可能性を検知することを可能にする。
図9Aおよび9Bは、四つの基本インダクタ80、81、82、および83、および例えばGMR型の、文字aからpによって各々表される、各々の供給を有する、4×4の磁気受信器84を示すことによって、図7の例示的実施形態を示す。受信器a、e、i、mは層80の下に配置されるようなものであり、受信器b、f、j、nは基本インダクタ81の下に配置されるようなものであり、受信器c、g、k、oは基本インダクタ82の下に配置されるようなものであり、受信器d、h、l、pは基本インダクタ84の下に配置されるようなものである。示される基本インダクタの幅eは、例えば7mmに等しく、基本インダクタ80および82の内部の開口の幅e’は8mmに等しい。
図9Bに示されるように、一方で、基本インダクタ80、81、82、および83、および、他方で、磁気受信器84が、ここでは四層のプリント回路によって構成される、支持体85の両面に配置される。インターフェイス86、および分極コイル88が、これらの層の間に配置される。参照番号87は試験される部品を示す。
図9Aおよび9Bに示されるような本発明の装置は、表面に作られた長さ10mmの電気的に腐食された欠陥を含む平坦な部分の上を掃引することによって、テストすることができる。図10Aおよび10Bは、参照番号nおよびpが与えられた磁気受信器を用いて、振動数Δfおよび4Δfで、電圧v4の復調の後、得られた信号を示す。二つの磁気受信器mおよびpは、完全に独立した方法で、かつクロストークなしで、この欠陥を正確に検知することを可能にする。
多重磁気受信器ユニットが、図11に示されるように、「C」(「ヨーク」)103の形態の磁気受信器で実行することができ、二つの隣接する磁気受信器要素104の間の空間は約100μmである。接続の必要性によって、相互接続コンタクトに関して必要とされる空間の観点から、2Dマトリックスの実行が抑制される。しかし、図11に示されるように、復調のために回路を、前述のように使用し、様々な磁気受信器要素から来る信号を使用することによって、各々の基本受信器に関する二つの外部コンタクトのみ保持することが可能である。図11は、インダクタ供給100、受信器供給101、および受信チャンネル102(Δf1、Δf2、…、Δfnにおける電圧の合計)を示す。それ自体として、基本磁気受信器104はもはや個別ではなく連続である。そのような受信器ユニットは他の利点を有し、特に以下の利点を有する。
・渦電流プローブは、高密度のセンサと共に使用することができる。
・コンタクトを介してもたらされる漂遊容量が抑制され、これは数百kHzを超える振動数において特に有利である。
・磁気受信器ユニットの実行および接続が、非常に簡素化される。
・要素毎にではなくカラム毎に一つの増幅器を使用することによって、必要に応じて近接センサ低ノイズ増幅電子装置を最小化することができる。
・磁気受信器ユニットは、例えば数センチメートルなど、非常に長くてよい。
本発明の装置において、誘電部を構成する基本インダクタ111は、単一の固体導体(ワイヤ)、または直列もしくは並列に配置された導電性の様々なストランドのどちらで実行されてもよい。図12Aから12Fに示されるように、同じ基本インダクタ111のストランドを、多層基板110(プリント回路、カプトンなど)の様々な層の上に分配することができる。一連のストランドは、多層基板を使用することによって部分的に重ねられ、または入れ子にされることができる。図12Aから12Fは、図12Aおよび12Bに示されるような層上に、図12Cから12Eに示されるような二つの層112および113の上に、または図12Fに示されるような四つの層115、116、117、および118の上に、配置された四つの基本インダクタ111に関する様々な例示的実施形態を示し、層119は絶縁層である。
本発明の装置の代替的な実施形態において、下記のものを使用することができる。
・直列に配置される代わりに、並列である磁気受信器、
・大きな円形のコイルの形態の、または小さなコイルを直列に配置した、基本インダクタ、
・誘電場を増大するための、基本インダクタの上方の磁気テープ、
・磁気受信器の交互配列、
・フレキシブル基板(カプトン、またはフレキシブルプリント回路)、
・GMR型の、または四重極型の磁気受信器、AMR、TMR、GMIなど、の使用、
・ブリッジに取り付けられた一体化された磁気受信器での操作、
・検知感度の軸に従う、磁気受信器内の流れを集中するための、磁気要素での受信器の使用。
10 インダクタ
11 磁気受信器
30 インダクタ提供
32 受信チャンネル
33 基本インダクタ
34 磁気受信器

Claims (17)

  1. ・誘導部、
    ・受信部、
    ・処理手段、
    を備える導電性部品の非破壊試験のための装置であって、
    前記誘導部が、様々な振動数f、f、…、fにおいて提供される、n個の層型の基本インダクタに分離されるインダクタを備えること、
    前記受信部がm個のカラムに分配されたn’個の磁気受信器を備え、各カラムが最大n個の受信器を備え、磁気受信器が各カラムにわたって互いに接続され、受信器のm個のカラムが振動数f’、f’、…、f’、ゼロまたは非ゼロの電気信号v’、v’、…、v’によって提供され、各磁気受信器が基本インダクタの下に配置され、m個の磁気受信器が各基本インダクタの下に位置決めされ、指数n、n’、およびmは正の整数であり、例えばn≧2、1<n’≦n*m、およびm≧1であり、
    前記処理手段はカラムの各々の磁気受信器内の磁場を知ることを可能にし、各磁気受信器は復調装置として使用されること
    を特徴とする、装置。
  2. 各々の基本インダクタは、導電性のワイヤを含む層、または直列の幾つかの導電性のストランド、または並列の幾つかの導電性のストランドである、請求項1に記載の装置。
  3. 前記磁気受信器が直列に接続される、請求項1に記載の装置。
  4. 受信器の各カラムiは電流中に提供され、カラムの端部で測定される電圧は、振動数f±f’、f±f’、…、およびf±f’における、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、最大2nの正弦曲線基本電圧の合計である、請求項1に記載の装置。
  5. 受信器の各カラムiは電圧中に提供され、カラムを通過する電流は、振動数f±f’i1、f±f’、…、およびf±f’における、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、最大2nの正弦曲線基本電流の合計である、請求項1に記載の装置。
  6. 受信器の各カラムiは、振動数f’iにおける信号によって提供され、かつ不均衡な差分電圧が振動数f±f’、f±f’、…、f±f’において測定される、およびf+f’、f+f’、…、f+f’、またはf−f’、f−f’、…、f−f’における復調手段の、ホイートストン抵抗ブリッジのブランチを構成する、請求項1に記載の装置。
  7. 磁気受信器は、検知感度の軸Xに従った方向を向き、これらの基本受信器の電流の主方向は軸Yに従った方向に向けられる、請求項1に記載の装置。
  8. m×n個の磁気受信器のマトリックスを含み、振動数f、f、…、fは、各々振動数f+Δf、f+2Δf、…、f+nΔfと等しく、および振動数f’、f’、…、f’は全て振動数fに等しい、請求項1に記載の装置。
  9. m×n個の磁気受信器のマトリックスを含み、振動数f、f、…、fは、各々振動数f+Δf、f+2Δf、…、f+nΔfと等しく、および信号v’1、v’2、…、v’mは直流である、請求項1に記載の装置。
  10. 振動数fが約1MHzであり、振動数ΔFが約10KHzである、請求項8に記載の装置。
  11. 基本インダクタおよび磁気受信器が支持体の上に配置される、請求項1に記載の装置。
  12. 支持体がフレキシブルプリント回路である、請求項11に記載の装置。
  13. 支持体が多層プリント回路である、請求項11に記載の装置。
  14. 直接配線された磁気受信器を備える、請求項1に記載の装置。
  15. 誘導部は多層基板の少なくとも一つの層の上に分配される幾つかの層を備える、請求項1に記載の装置。
  16. 磁気受信器がGMR型の受信器である、請求項1に記載の装置。
  17. インダクタが磁気テープに接続される、請求項1に記載の装置。
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