WO2002073262A1 - Spleisseinrichtung und verfahren zum steuern eines thermischen spleissvorgangs - Google Patents

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WO2002073262A1
WO2002073262A1 PCT/EP2002/002613 EP0202613W WO02073262A1 WO 2002073262 A1 WO2002073262 A1 WO 2002073262A1 EP 0202613 W EP0202613 W EP 0202613W WO 02073262 A1 WO02073262 A1 WO 02073262A1
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WO
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light
frequency
range
splicing
light source
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Application number
PCT/EP2002/002613
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English (en)
French (fr)
Inventor
Gervin Ruegenberg
Regina Menegozzi
Original Assignee
Ccs Technology, Inc.
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Publication date
Application filed by Ccs Technology, Inc. filed Critical Ccs Technology, Inc.
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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
    • G02B6/2555—Alignment or adjustment devices for aligning prior to splicing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
    • G02B6/2551—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding using thermal methods, e.g. fusion welding by arc discharge, laser beam, plasma torch

Definitions

  • the invention relates to a splicing device for thermal splicing of optical fibers, such as in particular
  • Optical fibers from e.g. Glass and a method for controlling the splicing process when splicing optical fibers.
  • optical fibers When splicing optical fibers, they are usually aligned with each other in advance and then spliced together, e.g. by welding.
  • the alignment process is controlled e.g. such that the optical fibers at the splice point via one or more electronic cameras, e.g. CCD or CMOS cameras can be optically recorded, the position of the optical waveguide, the position of the splice and also the splice shape being recognizable from the associated optical image.
  • the optical waveguides can then be aligned with one another.
  • An optical image of the optical waveguide at the splice is achieved, for example, by using a light source, such as an LED, to emit light transversely to the longitudinal direction of the light guide in the direction of the splice at the level of the splice, and in that with respect to the On the opposite side of the splice, incoming light is detected by the camera arranged on this side.
  • the light arriving on the camera side thus results in brightness differences for the camera recording, which correspond in particular to the contour of the optical waveguides in the area of the splice point, so that an image of the splice point based on different brightnesses is generated.
  • a detailed representation of the splice can also be achieved, from which not only the outer contour of the light guide, but also its core and sheath course can be seen in the form of differences in brightness.
  • thermal splicing i.e. when welding optical fibers, e.g. by means of an arc or another heat source such as a laser or a gas burner, the optical fibers are heated to such an extent at their splice point, e.g. to a temperature of over 1500 ° C, that they in turn emit light, especially emit visible light.
  • the invention provides a splicing device and a method for controlling a thermal splicing process, by means of which the splicing process can be monitored and controlled almost without being disturbed by the light development of the optical waveguides heated during splicing.
  • Splicing of optical fibers has a light source from which light with a narrow frequency band range is emitted.
  • the splicing device also has a light detection device which is arranged opposite the light source and which is designed such that it is only sensitive to light in the region of the frequency band range of the light emitted by the light source.
  • the optical waveguides are arranged with their splicing point between the light source and the light detection device. This is done before, during and / or after the thermal splicing, that is to say welding, of the splicing means associated with the splicing device
  • Optical waveguide emits light from the light source towards the splice point - in the case of using special optics also through this - and is then emitted by the light arranged on the other side of the splice point.
  • the term frequency band range of the light emitted by the light source is to be understood here as the range in which the light source essentially emits light, i.e. e.g. in the case of the light intensity plotted over the wavelength as a Gaussian curve, the area between the two foot sections of the Gaussian curve in which a sharp increase (large curvature of the Gaussian curve) can be observed compared to their flat sections, in particular that area comprises approximately 99% of the emitted light.
  • the narrow frequency band range of the light is to be understood here as a frequency band range which is significantly narrower than the frequency band range of the light emitted by the optical waveguides.
  • the light source emits light with a narrow frequency band range, i.e. with a frequency bandwidth narrower than the frequency bandwidth of the light emitted by the optical fibers, and that the light detection device only approximately in the range of the frequency
  • Band range of the light emitted by the light source is sensitive to light, go. differences in brightness detected by the light detection device and thus the optical image of the splice point or the associated ones generated by the light detection device
  • Light signal or brightness information to a much greater extent on that originating from the light source, passing over and / or through the splice point Light back.
  • the light of which in the desired frequency range has, for example, an approximately four times stronger light intensity than the light emitted by the optical waveguides
  • the ratio of the light intensity emitted by the light of the light source to that of the light is ultimately the total light detected by the light detection device the light intensity emanating from the fibers is already sufficiently high to be able to obtain a good evaluation result. It is thus achieved that the light detection device with respect to the optical
  • Light intensity ratio would be necessary, e.g. in the form of the use of highly radiating special diodes or special lighting optics, significantly reduced.
  • the meaningful information about the shape of the splice point that can be obtained with the invention are particularly well suited for controlling the splicing process during the splicing.
  • the splicing agents being able to be controlled accordingly when an undesired change in the outer contour and / or in the course is found.
  • the welding parameters to be controlled include in particular the welding time, but also e.g. the welding current of a welding device in question.
  • such a light source is used as the light source, which has a frequency band range lying in the visible spectral range.
  • An LED is particularly suitable for this.
  • the wavelength half-width of the light source is preferably approximately 100 nm or less; the wavelength band range of the light source, in particular its Half-width range, is also preferably in a wavelength range from 400 to 900 nm.
  • the light detection device is preferably photosensitive over such a frequency band range which corresponds to the frequency band range, in particular the frequency half-value range, of the light emitted by the light source or within the frequency band range, in particular the frequency half-value range of the light emitted by the light source.
  • the light detection device has a central frequency in its frequency band range which is within the frequency half-value range of that of
  • Light source emitted light is located and which in particular essentially corresponds to the central frequency of the frequency band range.
  • the light detection device is light-sensitive in a frequency band region which has a frequency half-value range corresponding to the frequency half-value range of the light source or whose frequency half-value range lies within the frequency half-value range of the light source.
  • the light detection device can, for example, have an optical camera system that is per se only sensitive to light in the desired frequency range.
  • the light detection device has: an optical camera system which is sensitive to light over almost the entire visible frequency range, and a filter or a filter arrangement with a plurality of filters which is / are arranged in front of the camera system and of which / Which light is filtered out with a frequency outside the range of the frequency band range of the light emitted by the light source, ie is suppressed.
  • any conventional, e.g. electronic cameras eg CCD or CMOS cameras
  • Standard components can be used as filters, their integration into the overall system being simple and therefore also inexpensive to implement.
  • the filters are preferably arranged with respect to the splice on the side of the splice facing the camera, for example directly in front of the camera.
  • the filter or the filter arrangement advantageously have a bandpass characteristic and / or a central frequency which correspond to the frequency band range or the central frequency of the light emitted by the light source.
  • the splicing device further has a control device which is connected to the light detection device and from which, depending on the light detected by the light detection device, control signals for controlling the splicing process can be generated.
  • the control device is implemented in particular in the form of a microprocessor, the control device e.g. can also perform a control function by tracing the detected light signals to the corresponding control variables.
  • the light detected by the light detection device gives an image of the splice point on the basis of the differences in brightness detected therewith, from which image e.g. the optical waveguide core and the surrounding optical waveguide jacket of the respective optical waveguide can be seen.
  • the control device is provided in particular for controlling the splice means, which comprise, for example, a pair of welding electrodes or a welding laser and an energy supply device connected thereto.
  • the control device is connected to the splicing means, in particular to their energy supply device, in order to control the welding current and / or the welding time, for example, on the basis of the light information detected by the light detection device.
  • the splicing device also preferably has an alignment device, which can be implemented, for example, in the form of a positioning device and with which one of the optical waveguides to be spliced three-dimensionally, in particular in a first direction towards the other optical waveguide and transversely thereto in a second and a different third direction, is movable. Positioning devices can also be provided on both optical fibers, with which the optical fibers can be moved in three different directions relative to one another.
  • the control device is advantageously also connected to this alignment device in order to align the optical fibers to be spliced with one another before and / or during the splicing process.
  • a lens device e.g., in front of the light detection device, in particular in front of the filter or the filter arrangement, is preferably used. in the form of a lens or an arrangement of lenses, which lens device is in particular also part of the light detection device. This ultimately results in an even sharper image of the fibers.
  • the optical waveguides are spliced to one another thermally at a splice point, light from a narrow frequency band range is emitted by a light source transversely to the optical waveguides in the direction of the splice point emitted towards, the light emitted towards the splice point is detected by a light detection device which is arranged with respect to the position of the light source on the diametrically opposite side of the splice point, only light of a frequency band range in the range from the light detection device of the frequency band range of the emitted light is detected, and the splicing process is controlled depending on the detected light.
  • splice means i.e. a heat source intended to generate the necessary welding energy, controlled and / or regulated, e.g. in the form of controlling the splice duration and / or the supplied splice energy, e.g. the welding current when using welding electrodes as a splice.
  • Figure 1 shows schematically a splicing device according to an embodiment of the invention
  • FIGS. 2 and 3 each a diagram to illustrate the operation of the invention
  • the splicing device 1 accordingly has a light source 2 in the form of an LED, from which light in the visible spectral range can be emitted with a narrow frequency bandwidth compared to the entire visible spectral range.
  • the splicing device 1 also has a light detection device 4 in the form of a camera filter system, the light detection device a camera 6, a filter 8 arranged in front of the camera 6 and one in front of the filter 8 arranged lens 10 has.
  • the light source 2 and the light detection device 4 are arranged opposite one another at a distance from one another.
  • a holding and aligning device 12 is arranged in the intermediate space between the light source 2 and the camera system and extends in a longitudinal direction transversely to the connecting line between the light source 2 and the light detection device 4
  • the holding and aligning device 12 has two holding devices 14, 16 arranged at a distance from one another in their longitudinal direction, in each of which an optical waveguide 18, 20 in the form of an optical waveguide fiber is received and held.
  • the optical waveguides 18, 20 are held by the holding and aligning device 12 in such a way that they extend in their longitudinal direction transversely to the connection line between the light source 2 and the light detection device 4, the ends of the optical waveguides 18, 20 provided splice 22 is on this line.
  • the holding device 14 on the right in FIG. 1 is simultaneously designed as a positioning device, from which the optical fiber 18 accommodated therein can be moved in the longitudinal direction of the optical fiber and in two directions transverse to this longitudinal direction and can thus be aligned with the other optical fiber 20.
  • the two optical fibers 18, 20 can hereby be e.g. at the splice 22 at their opposite ends, e.g. to be placed flush against one another.
  • the splicing device 1 also has splicing means in the form of welding electrodes 24, 26 arranged opposite one another with respect to the splice point 22, between which an arc can be generated, of which the
  • Optical waveguides 18, 20 are welded together at their opposite ends at the splice point 22, ie are thermally spliced.
  • the welding electrodes 24, 26 are connected to an energy supply device 28, which in turn is connected via a data line to a control device 30, from which the energy supply device 28 can be controlled.
  • the control device 30 is also connected via data lines to the light detection device 4 and to the light source 2.
  • the light detection device 4 is designed such that it generates an optical image only in that frequency band range which corresponds to the frequency band range of the light source or lies within the same.
  • the camera 6 is designed such that it can record light signals in the region of the entire visible spectral range in order to generate an optical image therefrom.
  • the filter 8 connected in front of the camera 6 is designed in such a way that it only transmits light which has the frequency band range of the light emitted by the light source 2 or which lies within this frequency band range. In contrast, the filter 8 does not let light of a different frequency band range pass through.
  • the lens 10 In operation, when the two optical waveguides 18, 20 are spliced, light is sent from the light source 2 transversely to the longitudinal direction of the fiber in the direction of the splice 22, the lens 10 then focusing over the splice 22 and / or the light passing through it strikes the filter 8 and then hits the camera 6 in a filtered form, from which an optical image is generated or other light signal information corresponding to the incoming light is generated.
  • the generated light signal information is forwarded to the control device 30, from which control information for controlling the
  • Energy supply device 28 and thus the splicing agent are determined before and / or during splicing.
  • the fibers heated during the welding of the optical waveguides 18, 20 also emit visible light, which however, is filtered out by the filter 8 with regard to an area outside the frequency band range of the filter 8, so that only that light emitted by the fibers 18, 20 reaches the camera 6 which corresponds to the frequency band range of the filter 8 and thus exclusively in the Frequency band range of the light source 2 is.
  • the total light intensity of the light source 2 is greater than the total light intensity of the light that the
  • Welding is emitted from the fibers heated to over 1500 ° C.
  • the camera thus detects an overall light which is formed almost exclusively by the light generated by the light source 2 and passing the splice 20 and / or passing through the splice 20, which overall light is thus a hardly distorted and therefore sufficiently accurate image of the splice 20 in the form of differences in brightness.
  • the CPU calculates, as explained above, in particular control or regulation signals for controlling the energy supply device 28 and thus the splice means, i.e. here the welding electrodes 24, 26.
  • the welding time and / or the welding current can be used as welding parameters.
  • light information can also be used to determine control or regulating signals for the control or regulation of the alignment and holding device 12 during the splicing process.
  • FIGS. 2 and 3 show the relative light intensities of a total light detected by the camera 6, which is composed of the light emanating from the light source and the light emanating from the heated light fibers during welding, separately over a wavelength range of 300 nm graphically represented up to 1000 nm.
  • Figure 2 shows here the light intensities detected by a camera 6 (see FIG. 1) when no filter 8 is connected upstream according to the invention
  • FIG. 3 shows the light intensities detected by the camera 6 when the filter 8 is connected upstream.
  • the curve 50 in FIG. 2 shows the course of the relative light intensities of the visible welding light emanating from the fibers at the splice 22 during welding, which extends over the wavelength range from 300 to 1000 n, and which is from the camera 6 without an upstream connection Filter is completely detected, so that with regard to this detected welding light, a total light intensity results as an integral of the curve 50 shown.
  • the light source 2 (curve 52), which only emits light on the narrow spectral range from approx. 650 nm to 880 nm, which according to this example has a central wavelength (center wavelength) of 750 nm and a half width of 40 nm, by a factor two smaller total intensities.
  • Curve 54 in FIG. 2 shows a preferred bandpass characteristic of filter 8, which hereafter has the same central frequency as the light from light source 2, namely a central wavelength of 750 n, and a half-width of 15 nm and thus essentially only light of a wavelength range of approx. 720 nm to 830 nm.
  • the filter 8 is placed in front of the camera 6, so that the camera 6 can only detect light within the wavelength range of the filter 8, whereas the other wavelengths are filtered out.
  • Curve 56 in FIG. 3 shows the relative light intensities of the light emitted by the camera 6 with an upstream filter 8 and the curve 58 in FIG. 3 shows the relative light intensities of the light detected by the camera 6 with an upstream filter 8 Light intensities of the of the Fibers at the splice emitted light.
  • Curve 56 is considerably greater than the total light intensity of the light emitted by the splice point and ultimately detected by camera 6, which results as an integral of curve 58.
  • the ratio of the light source light intensity to the splice point light intensity detected by the camera 6 is approximately five. Compared to the device described above without filter 8, with which a light intensity ratio of 0.5 was achieved, a light intensity ratio that is ten times better is achieved.
  • splice means i.e. the heat splicing source and the aligners during thermal splicing, i.e. of welding, are possible.

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Abstract

Zum thermischen Verspleissen von Lichtwellenleitern (18, 20), mit einer Lichtquelle (20), von welcher Licht mit einer schmalen Frequenz-Bandbreite emittiert wird, und einer Licht-Detektionseinrichtung (4), welche der Lichtquelle (2) gegenüberliegend angeordnet ist und welche derart ausgebildet ist, dass sie ausschliesslich im Bereich der Frequenz-Bandbreite des von Lichtquelle (2) emittierten Lichts lichtempfindlich ist.

Description

Spleißeinrichtung und Verfahren zum Steuern eines thermischen Spleißvorgangs
Die Erfindung betrifft eine Spleißeinrichtung zum thermischen Verspleißen von Lichtwellenleitern, wie insbesondere
Lichtleitfasern aus z.B. Glas, sowie ein Verfahren zum Steuern des Spleißvorgangs beim Verspleißen von Lichtwellenleitem.
Beim Verspleißen von Lichtwellenleitern werden diese in der Regel vorab zueinander ausgerichtet und anschließend miteinander verspleißt, z.B. durch Verschweißen. Die Steuerung des Ausrichtvorgangs erfolgt hierbei z.B. derart, daß die Lichtwellenleiter an der Spleißstelle über eine oder mehrere elektronische Kameras, wie z.B. CCD- oder CMOS-Kameras, optisch erfaßt werden, wobei aus der zugehörigen optischen Abbildung die Lage der Lichtwellenleiter, die Lage des Spleißes und auch die Spleißform erkennbar sind. In Abhängigkeit von diesen Informationen können dann die Lichtwellenleiter zueinander ausgerichtet werden.
Ein optisches Abbild der Lichtwellenleiter an der Spleißstelle wird beispielsweise dadurch erzielt, daß mittels einer Lichtquelle, wie zum Beispiel einer LED, auf Höhe der Spleißstelle Licht quer zur Längsrichtung der Lichtleiter in Richtung zu der Spleißstelle hin ausgestrahlt wird und daß das hiervon auf der bezüglich der Spleißstelle gegenüberliegenden Seite ankommende Licht von der auf dieser Seite angeordneten Kamera erfaßt wird. Das auf der Kameraseite ankommende Licht ergibt damit für die Kameraaufnahme Helligkeitsunterschiede, die insbesondere der Kontur der Lichtwellenleiter im Bereich der Spleißstelle entsprechen, so daß ein auf unterschiedlichen Helligkeiten beruhendes Abbild der Spleißstelle generiert wird. Im Falle der Verwendung einer speziellen Optik kann hierbei auch eine detaillierte Darstellung der Spleißstelle erzielt werden, aus der nicht nur die Außenkontur der Lichtleiter, sondern auch deren Kern- und Mantelverlauf in Form von Helligkeitsunterschieden ersichtlich ist. Beim thermischen Verspleißen, d.h. beim Verschweißen von Lichtwellenleitern, z.B. mittels eines Lichtbogens oder einer sonstigen Wärmequelle, wie z.B. einem Laser oder einem Gasbrenner, werden die Lichtwellenleiter an ihrer Spleißstelle derart stark erhitzt, z.B. auf eine Temperatur von über 1500° C, so daß sie ihrerseits Licht emittieren, insbesondere sichtbares Licht emittieren. Dieses beim Schweißen auftretende Schweißlicht ist derart stark und breitbandig, daß es das von der Lichtquelle ausgestrahlte Licht so überstrahlt und damit überlagert, daß eine exakte Erfassung und Auswertung der gewünschten, d.h. der von dem von der Lichtquelle ausgehenden Licht herrührenden, Helligkeitsunterschiede nur erschwert möglich ist. Somit können mittels dieser Methode während des Verspleißens bislang keine qualitativ ausreichenden Informationen zur Steuerung des Spleißvorgangs gewonnen werden. Hierbei ist es jedoch gerade während des Schweißvorgangs von Vorteil, beispielsweise thermische Spleißmittel, d.h. Schweißeinrichtungen, zu steuern, um z.B. die Erwärmung der Lichtleitfasern mit einem damit verbundenen Selbstzentriereffekt der Fasern zu verhindern oder exakt einzustellen, da andernfalls eine vorher durchgeführte Ausrichtung der Faserkerne evtl. zunichte gemacht würde.
Durch die Erfindung werden eine Spleißeinrichtung und ein Verfahren zum Steuern eines thermischen Spleißvorgangs geschaffen, durch welche eine Überwachung und Steuerung des Spleißvorgangs nahezu ungestört von der Lichtentwicklung der beim Verspleißen erhitzten Lichtwellenleiter ermöglicht ist.
Die erfindungsgemäße Spleißeinrichtung zum thermischen
Verspleißen von Lichtwellenleitern hat eine Lichtquelle, von welcher Licht mit einem schmalen Frequenz-Bandbereich emittiert wird. Die Spleißeinrichtung hat ferner eine Licht- Detektionseinrichtung, welche der Lichtquelle gegenüberliegend angeordnet ist und welche derart ausgebildet ist, daß sie ausschließlich im Bereich des Frequenz-Bandbereichs des von der Lichtquelle emittierten Lichts lichtempfindlich ist. Bei dieser erfindungsgemäßen Spleißeinrichtung werden die Lichtwellenleiter mit ihrer Spleißstelle zwischen der Lichtquelle und der Licht-Detektionseinrichtung angeordnet. Hierbei wird vor, während und/oder nach dem mittels der Spleißeinrichtung zugehörigen Spleißmitteln erfolgenden thermischen Verspleißen, d.h. Verschweißen der
Lichtwellenleiter, von der Lichtquelle Licht in Richtung zu der Spleißstelle hin - im Falle der Verwendung einer speziellen Optik auch durch diese hindurch - emittiert und von der dann auf der anderen Seite der Spleißstelle angeordneten Licht-
Detektionseinrichtung erfaßt, welche hieraus ein entsprechendes optisches Bild oder sonstige dem erfaßten Licht zugeordnete Informationen generiert. Unter dem Begriff Frequenz-Bandbereich des von der Lichtquelle emittierten Lichts ist hier jener Bereich zu verstehen, in dem die Lichtquelle im wesentlichen Licht emittiert, d.h. z.B. bei der als Gauß-Kurve über der Wellenlänge abgetragenen Lichtintensität der Bereich zwischen den beiden Fußabschnitten der Gauß-Kurve, in denen ein gegenüber deren flachen Abschnitte starker Anstieg (große Krümmung der Gaußkurve) zu verzeichnen ist, insbesondere umfaßt jener Bereich ca. 99% des emittierten Lichts. Unter schmalem Frequenz-Bandbereich des Lichts ist hierbei ein gegenüber dem Frequenz-Bandbereich des von den Lichtwellenleitern emittierten Lichts deutlich schmalerer Frequenz-Bandbereich zu verstehen.
Dadurch, daß die Lichtquelle ein Licht mit schmalem Frequenz- Bandbereich emittiert, d.h. mit einer gegenüber der Frequenz- Bandbreite des von den Lichtleitfasern emittierten Lichts schmaleren Frequenz-Bandbreite, und daß die Licht- Detektionseinrichtung annähernd nur im Bereich des Frequenz-
Bandbereichs des von der Lichtquelle emittierten Lichts lichtempfindlich ist, gehen die. von der Licht- Detektionseinrichtung erfaßten Helligkeitsunterschiede und damit das von der Licht-Detektionseinrichtung generierte optische Abbild der Spleißstelle bzw. die zugehörigen
Lichtsignal- oder Helligkeitsinformationen in wesentlich stärkerem Maße auf das von der Lichtquelle ausgehende, über die Spleißstelle hinweg und/oder durch diese hindurch gelangende Licht zurück. Mit einer herkömmlichen Lichtquelle, deren Licht im gewünschten Frequenzbereich z.B. eine ca. vierfach stärkere Lichtintensität als das von den Lichtwellenleitern ausgehende Licht hat, ist hinsichtlich des von der Licht- Detektionseinrichtung letztlich erfaßten Gesamtlichts das Verhältnis der vom Licht der Lichtquelle ausgehenden Lichtintensität zu der vom Licht der Fasern ausgehenden Lichtintensität bereits ausreichend hoch, um ein gutes Auswertergebnis gewinnen zu können. Somit ist erreicht, daß von der Licht-Detektionseinrichtung hinsichtlich der optischen
Abbildung der Spleißstelle wesentlich aussagekräftigere Licht- Information erfaßt werden, als wenn das Licht-Detektionssystem über den gesamten Frequenz-Bereich des von den Lichtwellenleitem emittierten Lichts lichtempfindlich wäre. In jedem Falle ist der technische Aufwand, welcher andernfalls zur Erzielung eines entsprechend ausreichenden
Lichtintensitätsverhältnisses notwendig wäre, z.B. in Form der Verwendung von stark strahlenden Spezialdioden oder von speziellen Beleuchtungsoptiken, erheblich verringert.
Die mit der Erfindung zu erlangenden, aussagekräftigen Informationen über die Form der Spleißstelle eignen sich besonders gut, um damit den Spleißvorgang während des Spleißens zu steuern. So kann z.B. beim Verspleißen entweder die Außenkontur der Lichtwellenleiter und/oder aber auch direkt der Verlauf deren Faserkerne genau nachverfolgt werden, wobei bei der Feststellung einer unerwünschten Änderung in der Außenkontur und/oder im Verlauf die Spleißmittel entsprechend gesteuert werden können. Hierbei kommen als zu steuernde Schweißparamter insbesondere die Schweißzeit, aber auch z.B. der Schweißstrom einer Schweißeinrichtung in Frage.
Als Lichtquelle wird insbesondere eine solche Lichtquelle eingesetzt, welche einen im sichtbaren Spektralbereich liegenden Frequenz-Bandbereich aufweist. Insbesondere ist hierzu eine LED geeignet . Die Wellenlängen-Halbwertsbreite der Lichtquelle beträgt bevorzugt ca. 100 nm oder weniger; der Wellenlängen-Bandbereich der Lichtquelle, insbesondere deren Halbwertsbreitenbereich, liegt ferner bevorzugt in einem Wellenlängenbereich von 400 bis 900 nm.
Um eine noch bessere Lichtinformationsausbeute zu erzielen, ist die Licht-Detektionseinrichtung bevorzugt über einen solchen Frequenz-Bandbereich hinweg lichtempfindlich, welcher dem Frequenz-Bandbereich, insbesondere dem Frequenz- Halbwertsbereich, des von der Lichtquelle emittierten Lichts entspricht oder innerhalb des Frequenz-Bandbereichs, insbesondere des Frequenz-Halbwertsbereichs, des von der Lichtquelle emittierten Lichts liegt.
Es ist ferner bevorzugt, daß die Licht-Detektionseinrichtung in ihrem Frequenz-Bandbereich eine zentrale Frequenz aufweist, welche innerhalb des Frequenz-Halbwertsbereichs des von der
Lichtquelle emittierten Lichts liegt und welche insbesondere im wesentlichen der zentralen Frequenz des Frequenz-Bandbereichs entspricht. Insbesondere ist die Licht-Detektionseinrichtung in einem Frequenz-Bandbereich lichtempfindlich, der einen dem Frequenz-Halbwertsbereich der Lichtquelle entsprechenden Frequenz-Halbwertsbereich hat oder dessen Frequenz- Halbwertsbereich innerhalb des Frequenz-Halbwertsbereichs der Lichtquelle liegt.
Die Licht-Detektionseinrichtung kann beispielsweise ein optisches Kamerasystem ausweisen, das per se nur im gewünschten Frequenzbereich lichtempfindlich ist. Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung weist die Licht- Detektionseinrichtung auf: ein optisches Kamerasystem, welches annähernd über den gesamten sichtbaren Frequenzbereich lichtempfindlich ist, und einen Filter oder eine Filteranordnung mit mehreren Filtern, welcher/welche vor dem Kamerasystem angeordnet ist/sind und von welchem/welcher Licht mit einer Frequenz außerhalb des Bereichs des Frequenz- Bandbereichs des von der Lichtquelle emittierten Lichts herausgefiltert, d.h. unterdrückt, wird.
Dies ermöglicht die Verwendung jeglicher herkömmlicher, z.B. elektronischer Kameras (z.B. CCD oder CMOS-Kameras) , als Kamerasystem, so daß das System von daher kostengünstig realisiert werden kann. Als Filter können Standardbauteile verwendet werden, wobei deren Integration in das Gesamtsystem einfach und damit ebenfalls kostengünstig realisierbar ist. Die Filter sind bevorzugt bezüglich der Spleißstelle auf der der Kamera zugewandten Seite der Spleißstelle angeordnet, beispielsweise unmittelbar vor der Kamera.
Gemäß der vorstehend beschriebenen, bevorzugten Ausführungsform haben der Filter bzw. die Filteranordnung hierbei vorteilhafterweise eine Bandpaßcharakteristik und/oder eine zentrale Frequenz, die dem Frequenz-Bandbereich bzw. der zentralen Frequenz des von der Lichtquelle emittierten Lichts entsprechen.
Nach einer anderen Ausführungsform der Erfindung hat die Spleißeinrichtung ferner eine Steuervorrichtung, welche an die Licht-Detektionseinrichtung angeschlossen ist und von welcher in Abhängigkeit von dem von der Licht-Detektionseinrichtung erfaßten Licht Steuersignale zum Steuern des Spleißvorgangs generierbar sind.
Die Steuervorrichtung ist insbesondere in Form eines Mikroprozessors realisiert, wobei die Steuervorrichtung z.B. durch Rückführen der erfaßten Lichtsignale auf die entsprechenden Steuergrößen auch eine Regelfunktion übernehmen kann. Das von der Licht-Detektionseinrichtung erfaßte Licht ergibt auf Basis der damit erfaßten Helligkeitsunterschiede ein Bild der Spleißstelle, aus welchem Bild z.B. der Lichtwellenleiterkern und der ihn umgebende Lichtwellenleitermantel des jeweiligen Lichtwellenleiters ersichtlich ist.
Die Steuervorrichtung ist insbesondere zur Steuerung der Spleißmittel vorgesehen, welche zum Beispiel ein Paar Schweißelektroden oder einen Schweißlaser und eine damit verbundene Energieversorgungseinrichtung umfassen. Die Steuereinrichtung ist hierzu mit den Spleißmitteln verbunden, insbesondere mit deren Enegergieversorgungseinrichtung, um so z.B. den Schweißstrom und/oder die Schweißzeit auf Basis der von der Licht-Detektionseinrichtung erfaßten Lichtinformationen zu steuern.
Die Spleißeinrichtung hat ferner bevorzugt eine Ausrichteinrichtung, die beispielsweise in Form einer Positioniereinrichtung realisiert sein kann und mit welcher einer der zu verspleißenden Lichtwellenleiter dreidimensional, insbesondere in eine erste Richtung auf den anderen Lichtwellenleiter zu sowie quer hierzu in eine zweite und eine davon verschiedene dritte Richtung, bewegbar ist. Es können auch an beiden Lichtwellenleitern Positioniereinrichtungen vorgesehen sein, mit denen die Lichtwellenleiter in drei unterschiedliche Richtungen zueinander bewegbar sind. Die Steuervorrichtung ist hierbei vorteilhafterweise auch an diese Ausrichtungeinrichtung angeschlossen, um vor und/oder auch während des Spleißvorgangs die zu verspleißenden Lichtleitfasern zueinander auszurichten.
Um die Lichtstrahlen, die von der Lichtquelle ausgesandt und über die Spleißstelle hinweg und/oder durch diese hindurch gelangen, besser auf die Licht-Detektionseinrichtung zu fokussieren, ist bevorzugt vor der Licht-Detektionseinrichtung, insbesondere vor dem Filter oder der Filteranordnung eine Linseneinrichtung, z.B. in Form einer Linse oder einer Anordnung von Linsen, angeordnet, welche Linseneinrichtung insbesondere ebenfalls Teil der Licht-Detektionseinrichtung ist. Hierduch wird letztlich eine noch schärfere Abbildung der Fasern erzielt.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Steuern eines thermischen Spleißvorgangs von Lichtwellenleitern, wie insbesondere Lichtleitfasern, werden die Lichtwellenleiter an einer Spleißstelle thermisch miteinander verspleißt, wird von einer Lichtquelle Licht eines schmalen Frequenz-Bandbereichs quer zu den Lichtwellenleitern in Richtung zu der Spleißstelle hin emittiert, wird das in Richtung zu der Spleißstelle hin emittierte Licht von einer Licht-Detektionseinrichtung erfaßt, die hinsichtlich der Position der Lichtquelle auf der diametral gegenüberliegenden Seite der Spleißstelle angeordnet ist, wobei von der Licht-Detektionseinrichtung nur Licht eines Frequenz- Bandbereichs im Bereich des Frequenz-Bandbereichs des emittierten Lichts erfaßt wird, und wird in Abhängigkeit von dem erfaßten Licht der Spleißvorgang gesteuert.
Wie oben erläutert, werden in Abhängigkeit von dem von der Licht-Dektektionseinrichtung erfaßten Licht insbesondere Spleißmittel, d.h. eine zum Erzeugen der notwendingen Schweißenergie vorgesehene Wärmequelle, gesteuert und/oder geregelt, z.B. in Form der Steuerung der Spleißdauer und/oder der zugeführten Spleißenergie, wie z.B. des Schweißstroms bei Verwendung von Schweißelektroden als Spleißmittel.
Die Erfindung wird im folgenden anhand einer bevorzugten Ausführungsform mit Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert . In der Zeichnung zeigen:
Figur 1 schematisch eine Spleißeinrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung und
Figuren 2 und 3 jeweils ein Diagramm zur Verdeutlichung der Funktionsweise der Erfindung
In Figur 1 ist eine Spleißeinrichtung 1 nach einer Ausführungsform der Erfindung dargestellt. Die Spleißeinrichtung 1 weist hiernach eine Lichtquelle 2 in Form einer LED auf, von welcher Licht im sichtbaren Spektralbereich mit einer gegenüber dem gesamten sichtbaren Spektralbereich schmalen Frequenz-Bandbreite emittiert werden kann.
Die Spleißeinrichtung 1 hat ferner eine Licht- Detektionseinrichtung 4 in Form eines Kamera-Filtersystems, welche Licht-Detektionseinrichtung eine Kamera 6, einen vor der Kamera 6 angeordneten Filter 8 und eine vor dem Filter 8 angeordnete Linse 10 aufweist.
Die Lichtquelle 2 und die Licht-Detektionseinrichtung 4 sind einander gegenüberliegend in einem Abstand voneinander angeordnet. In dem zwischen der Lichtquelle 2 und dem Kamerasystem liegenden Zwischenraum ist eine Halte- und Ausrichteinrichtung 12 angeordnet, welche sich in einer Längsrichtung quer zur Verbindungslinie zwischen der Lichtquelle 2 und der Licht-Detektionseinrichtung 4 erstreckt
Die Halte- und Ausrichteinrichtung 12 hat zwei in ihrer Längsrichtung in einem Abstand voneinander angeordnete Haltevorrichtungen 14, 16, in welchen jeweils ein Lichtwellenleiter 18, 20 in Form einer Lichtwellenleiterfaser aufgenommen und gehalten ist. Die Lichtwellenleiter 18, 20 sind hierbei von der Halte- und Ausrichteinrichtung 12 derart gehalten, daß sie sich in deren Längsrichtung quer zur genannten Verbindungslinie zwischen der Lichtquelle 2 und der Licht-Detektionseinrichtung 4 erstrecken, wobei die an den einander zugewandten Stirnenden der Lichtwellenleiter 18, 20 vorgesehene Spleißstelle 22 auf dieser Linie liegt. Die in Figur 1 rechte Haltevorrichtung 14 ist gleichzeitig als Positioniereinrichtung ausgebildet, von welcher die darin aufgenommene Lichtleitfaser 18 in Längsrichtung der Lichtleitfaser sowie in zwei zu dieser Längsrichtung quer verlaufende Richtungen bewegbar ist und damit zu der anderen Lichtleitfaser 20 ausrichtbar ist. Die beiden Lichtleitfasern 18, 20 können hierdurch an der an ihren gegenüberliegenden Stirnenden vorliegenden Spleißstelle 22 z.B. fluchtend auf Stoß aneinandergesetzt werden.
Die Spleißeinrichtung 1 nach dieser Ausführungsform hat ferner Spleißmittel in Form von bezüglich der Spleißstelle 22 einander gegenüberliegend angeordneten Schweißelektroden 24, 26, zwischen welchen ein Lichtbogen erzeugbar ist, von dem die
Lichtwellenleiter 18, 20 an ihren einander gegenüberliegenden Stirnenden an der Spleißstelle 22 zusammengeschweißt, d.h. thermisch verspleißt, werden. Die Schweißelektroden 24, 26 sind mit einer Energieversorgungseinrichtung 28 verbunden, welche ihrerseits über eine Datenleitung mit einer Steuereinrichtung 30 verbunden ist, von welcher die Energieversorgungseinrichtung 28 steuerbar ist. Die Steuervorrichtung 30 ist ferner auch über Datenleitungen mit der Licht-Detektionseinrichtung 4 sowie mit der Lichtquelle 2 verbunden.
Die Licht-Detektionseinrichtung 4 ist derart ausgebildet, daß sie nur in jenem Frequenz-Bandbereich ein optisches Abbild generiert, welcher dem Frequenz-Bandbereich der Lichtquelle entspricht oder innerhalb desselben liegt. Die Kamera 6 ist hierbei derart ausgebildet, daß sie im Bereich des gesamten sichtbaren Spektralbereichs Lichtsignale aufzeichnen kann, um hieraus ein optisches Abbild zu generieren. Der vor die Kamera 6 geschaltete Filter 8 ist derart ausgebildet, daß er nur solches Licht hindurchläßt, welches den Frequenz-Bandbereich des von der Lichtquelle 2 ausgesandten Lichts hat oder welches innerhalb dieses Frequenzbandbereichs liegt. Demgegenüber läßt der Filter 8 Licht eines anderen Frequenz-Bandbereichs nicht durch.
Im Betrieb wird beim Verspleißen der beiden Lichtwellenleiter 18, 20 von der Lichtquelle 2 Licht quer zur Faserlängsrichtung in Richtung auf die Spleißstelle 22 zu geschickt, wobei das über die Spleißstelle 22 hinweg und/oder das durch diese hindurch gelangende Licht dann von der Linse 10 fokussiert auf den Filter 8 auftrifft und anschließend in gefilterter Form auf die Kamera 6 trifft, von welcher daraus eine optische Abbildung generiert wird oder sonstige dem ankommenden Licht entsprechende Lichtsignalinformationen erstellt werden. Die generierten Lichtsignalinformationen werden an die Steuervorrichtung 30 weiterleitet, von welcher dann aus diesen Informationen Steuersignale zum Steuern der
Energieversorgungseinrichtung 28 und damit der Spleißmittel vor und/oder während des Spleißens ermittelt werden.
Die beim Verschweißen der Lichtwellenleiter 18, 20 erhitzten Fasern strahlen hierbei ebenfalls sichtbares Licht aus, welches jedoch hinsichtlich eines außerhalb des Frequenz-Bandbereichs des Filters 8 liegenden Bereichs von dem Filter 8 herausgefiltert wird, so daß nur jenes von den Fasern 18, 20 abgestrahlte Licht zur Kamera 6 gelangt, welches dem Frequenz- Bandbereich des Filters 8 entspricht und damit ausschließlich im Frequenz-Bandbereich der Lichtquelle 2 liegt.
Im Frequenz-Bandbereich der Lichtquelle 2, der z.B. 650 bis 880 nm beträgt, ist die Gesamtlichtintensität der Lichtquelle 2 größer als die Gesamtlichtintensität des Lichts, das beim
Schweißen von den auf über 1500°C erhitzten Fasern emittiert wird. Damit erfaßt die Kamera ein Gesamtlicht, das nahezu ausschließlich von dem von der Lichtquelle 2 erzeugten und an der Spleißstelle 20 vorbei und/oder durch die Spleißstelle 20 hindurch gelangenden Licht gebildet wird, welches Gesamtlicht damit ein kaum verfälschtes und somit ausreichend genaues Abbild der Spleißstelle 20 in Form von Helligkeitsunterschieden mit sich bringt.
Aus diesen Informationen berechnet die CPU dann, wie oben erläutert, insbesondere Steuer- oder auch Regelsignale zur Steuerung der Energieversorgungseinrichtung 28 und damit der Spleißmittel, d.h. hier der Schweißelektroden 24, 26. Als Schweißparameter kommen insbesondere die Schweißzeit und/oder der Schweißstrom in Frage. Die von der Kamera 6 erfaßten
Lichtinformationen können jedoch auch durchaus zur Ermittlung von Steuer- oder Regelsignalen für die Steuer- bzw. Regelung der Ausricht- und Halteeinrichtung 12 während des Spleißvorgangs herangezogen werden.
Das Funktionsprinzip der Erfindung wird nachfolgend anhand der beiden in Figuren 2 und 3 dargestellten Diagramme erläutert. In den Diagrammen sind jeweils die relativen Lichtintensitäten eines von der Kamera 6 erfaßten Gesamtlichts, das sich zusammensetzt aus dem Licht, das von der Lichtquelle ausgeht, und aus dem Licht, das beim Schweißen von den erhitzten Lichtfasern ausgeht, separat über einem Wellenlängenbereich von 300 nm bis 1000 nm grafisch dargestellt. Figur 2 zeigt hierbei die von einer Kamera 6 (siehe Figur 1) erfaßten Lichtintensitäten, wenn kein Filter 8 gemäß der Erfindung vorgeschaltet ist, und Figur 3 zeigt die von der Kamera 6 erfaßten Lichtintensitäten, wenn der Filter 8 vorgeschaltet ist.
Die Kurve 50 in Figur 2 stellt den Verlauf der relativen Lichtintensitäten des von den Fasern an der Spleißstelle 22 beim Schweißen ausgehenden, sichtbaren Schweißlichts dar, welches sich über den Wellenlängen-Bereich von 300 bis 1000 n erstreckt, und welches von der Kamera 6 ohne vorgeschalteten Filter komplett erfaßt wird, so daß sich hinsichtlich dieses erfaßten Schweißlichts eine Gesamtlichtintensität als Integral des gezeigten Verlaufs der Kurve 50 ergibt.
Demgegenüber bringt die nur auf dem schmalen Spektralbereich von ca. 650 nm bis 880 nm Licht ausstrahlende Lichtquelle 2 (Kurve 52) , welche nach diesem Beispiel eine zentrale Wellenlänge (Mittenwellenlänge) von 750 nm und eine Halbwertsbreite von 40 nm hat, eine um den Faktor zwei kleinere Gesa tlichtintensitität mit sich.
Die Kurve 54 in Figur 2 zeigt eine bevorzugte Bandpaßcharakteristik des Filters 8, welcher hiernach die gleiche zentrale Frequenz wie das Licht der Lichtquelle 2, nämlich eine zenrale Wellenlänge von 750 n , und eine Halbwertsbreite von 15 nm und damit im wesentlichen nur Licht eines Wellenlängenbereich von ca. 720 nm bis 830 nm durchläßt.
Nach Figur 3 ist der Filter 8 vor die Kamera 6 gelegt, so daß die Kamera 6 nur Licht innerhalb des Wellenlängenbereichs des Filters 8 erfassen kann, wohingegen die anderen Wellenlängen herausgefiltert sind. Die Kurve 56 in Figur 3 zeigt hierbei die von der Kamera 6 mit vorgeschaltetem Filter 8 erfaßten, relativen Lichtintensitäten des von der Lichtquelle 2 ausgehenden Lichts, und die Kurve 58 in Figur 3 zeigt die relativen Lichtintensitäten der von der Kamera 6 mit vorgeschaltetem Filter 8 erfaßten Lichtintensitäten des von den Fasern an der Spleißstelle emittierten Lichts.
Wie aus der Figur 3 ersichtlich ist, ist nunmehr die Gesamtlichtintensität des von der Lichtquelle 2 ausgehenden und letztlich von der Kamera 6 erfaßten Lichts als Integral der
Kurve 56 erheblich größer als die Gesamtlichtintensität des von der Spleißstelle emittierten und letztlich von der Kamera 6 erfaßten Lichts, welche sich als Integral der Kurve 58 ergibt. Bei den wie aus den Figuren 2 und 3 ersichtlichen, gewählten Werten hinsichtlich des Wellenlängenbereichs der Lichtquelle 2 und der Charakteristik des Filters 8 ist das Verhältnis der von der Kamera 6 erfaßten Lichtquellen-Lichtintensität zur Spleißstellen-Lichtintensität ca. fünf. Gegenüber der oben beschriebenen, ohne Filter 8 verwendeten Einrichtung, mit welcher ein Lichtintensitäts-Verhältnis von 0,5 erzielt wurde, ist damit ein um den Faktor zehn besseres Lichtintensitäts- Verhältnis erreicht.
Mit der Erfindung ist es daher nunmehr möglich, die Fasern auch während des Spleißvorgangs mittels eines im sichtbaren
Spektralbereich arbeitenden Lichtquellen-Licht-Detektorsystems zu beobachten, so daß Messungen zur Überwachungen der Spleißqualität sowie auch Steuerungen der Spleißeinrichtungen, wie der Spleißmittel, d.h. der die thermische Spleißung bewirkenden Wärmequelle, und der Ausrichteinrichtungen, während des thermischen Spleißens, d.h. des Schweißens, möglich sind.
Hierdurch kann letztlich insgesamt eine bessere Spleißqualität, insbesondere im Hinblick auf eine verringerte Spleißdämpfung, erzielt werden.

Claims

Ansprüche
1. Spleißeinrichtung (1) zum thermischen Verspleißen von Lichtwellenleitern (18, 20), mit einer Lichtquelle (20), von welcher Licht mit einem schmalen Frequenz-Bandbereich emittiert wird, und einer Licht-Detektionseinrichtung (4) , welche der Lichtquelle (2) gegenüberliegend angeordnet ist und welche derart ausgebildet ist, daß sie im wesentlichen nur im Bereich des Frequenz-Bandbereichs des von der Lichtquelle (2) emittierten Lichts lichtempfindlich ist.
2. Spleißeinrichtung (1) nach Anspruch 1, wobei die Licht- Detektionseinrichtung (4) im wesentlichen über einen Frequenz- Bandbereich hinweg lichtempfindlich ist, welcher dem Frequenz- Bandbereich, insbesondere dem Frequenz-Halbwertsbereich, des von der Lichtquelle (2) emittierten Lichts entspricht oder innerhalb des Frequenz-Bandbereichs, insbesondere des Frequenz- Halbwertsbereichs, des von der Lichtquelle (2) emittierten Lichts liegt.
3. Spleißeinrichtung (1) nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Licht-Detektionseinrichtung (4) in ihrem Frequenz-Bandbereich eine zentrale Frequenz aufweist, welche innerhalb des Frequenz- Halbwertsbereichs des von der Lichtquelle (2) emittierten Lichts liegt und welche insbesondere im wesentlichen der zentralen Frequenz des Frequenz-Bandbereichs entspricht.
4. Spleißeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Licht-Detektionseinrichtung (4) in einem Frequenz- Bandbereich lichtempfindlich, der einen dem Frequenz- Halbwertsbereich der Lichtquelle (2) entsprechenden Frequenz- Halbwertsbereich hat oder dessen Frequenz-Halbwertsbereich innerhalb des Frequenz-Halbwertsbereichs der Lichtquelle (2) liegt.
5. Spleißeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die Licht-Detektionseinrichtung (4) aufweist: ein optisches Kamerasystem (6) , welches über den sichtbaren Frequenzbereich hinweg lichtempf indlich ist , und einen Filter ( 8 ) oder eine Filteranordnung mit mehreren Filtern, welcher/welche vor dem Kamerasystem (6 ) angeordnet ist/sind und von welchem/ elcher Licht mit einer Frequenz außerhalb des Bereichs des Frequenz-Bandbereichs des von der Lichtquelle (2 ) emittierten Lichts herausgefiltert wird .
6. Spleißeinrichtung ( 1) nach Anspruch 5 , wobei der Filter ( 8) bzw. die Filteranordnung eine Bandpaßcharakteristik und/oder eine zentrale Frequenz aufweisen, die dem Frequenz-Bandbereich bzw. der zentralen Frequenz des von der Lichtquelle emittierten Lichts entsprechen.
7. Spleißeinrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 6 , ferner mit einer Steuervorrichtung (30 ) , welche an die Licht- Detektionseinrichtung (4) angeschlossen ist und von welcher in Abhängigkeit von dem von der Licht-Detektionseinrichtung (4) erfaßten Licht Steuersignale zum Steuern des Spleißvorgangs generierbar sind .
8. Verfahren zum Steuern eines thermischen Spleißvorgangs, bei dem Lichtwellenleiter (18, 20) an einer Spleißstelle (22) thermisch miteinander verspleißt werden, bei dem von einer Lichtquelle (2) Licht eines schmalen Frequenz-Bereichs quer zu den Lichtwellenleitern (18, 20) in Richtung zu der Spleißstelle (22) hin emittiert wird, bei dem das in Richtung zu der Spleißstelle (22) hin emittierte Licht auf der gegenüberliegenden Seite der Spleißstelle (22) von einer Licht- Detektionseinrichtung (4) erfaßt wird, wobei von der Licht- Detektionseinrichtung (4) nur Licht eines Frequenz-Bandbereichs im Bereich des Frequenz-Bandbereichs des emittierten Lichts erfaßt wird, und bei dem in Abhängigkeit von dem erfaßten Licht der Spleißvorgang gesteuert wird.
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