WO2001023939A3 - Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie - Google Patents

Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie Download PDF

Info

Publication number
WO2001023939A3
WO2001023939A3 PCT/DE2000/003362 DE0003362W WO0123939A3 WO 2001023939 A3 WO2001023939 A3 WO 2001023939A3 DE 0003362 W DE0003362 W DE 0003362W WO 0123939 A3 WO0123939 A3 WO 0123939A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
near field
optical system
objective
optical
scanning near
Prior art date
Application number
PCT/DE2000/003362
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO2001023939A2 (de
Inventor
Hans-Achim Fuss
Frank Saurenbach
Hans-Ulrich Danzebrink
Original Assignee
Surface Imaging Systems S I S
Fuss Hans Achim
Frank Saurenbach
Danzebrink Hans Ulrich
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Surface Imaging Systems S I S, Fuss Hans Achim, Frank Saurenbach, Danzebrink Hans Ulrich filed Critical Surface Imaging Systems S I S
Publication of WO2001023939A2 publication Critical patent/WO2001023939A2/de
Publication of WO2001023939A3 publication Critical patent/WO2001023939A3/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/18SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SNOM probes
    • G01Q60/22Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders

Abstract

Bislang werden bei der optischen Nahfeldmikroskopie zur Führung der eingesetzten Strahlung Optiken verwendet, die zumindest zum Teil aus Glasfasern oder Linsen zusammengesetzt sind. Die Wellenlängenabhängigkeit der Absorption insbesondere bei Glasfasern sowie die Linsenfehler wirken sich insbesondere dann problematisch aus, wenn wechselnde Wellenlängen eingesetzt werden sollen. Die neue Vorrichtung weist eine allein aus Spiegeln (10, 11) bestehende fokussierende Optik (9) auf, deren Fokuspunkt auf die Apertur einer Nahfeldsondenspitze (18) ausrichtbar oder ständig ausgerichtet ist. Spiegeloptiken weisen weder eine nennenswerte Absorption noch chromatische Fehler auf, so dass eine Verschiebung des Fokuspunktes aufgrund einer Wellenlängenänderung nicht erfolgt. Die fokussierende Optik (9) kann als abbildende Optik ausgelegt sein, so dass sie als Objektiv eines optischen Mikroskops verwendbar ist. Durch eine kompakte Bauweise mit Integration der Nahfeldsonde (15) und der fokussierenden Optik (9) in einem Gehäuse kann ein in einem Objektivrevolver eines optischen Mikroskops einsetzbares Wechselobjektiv bereitgestellt werden.
PCT/DE2000/003362 1999-09-30 2000-09-26 Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie WO2001023939A2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19947287A DE19947287C2 (de) 1999-09-30 1999-09-30 Nahfeldmikroskop
DE19947287.4 1999-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2001023939A2 WO2001023939A2 (de) 2001-04-05
WO2001023939A3 true WO2001023939A3 (de) 2001-08-16

Family

ID=7924136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE2000/003362 WO2001023939A2 (de) 1999-09-30 2000-09-26 Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE19947287C2 (de)
WO (1) WO2001023939A2 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10226801B4 (de) * 2002-06-15 2005-03-31 Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Oberflächenmessvorrichtung und Verfahren zur mechanischen sowie berührungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen
DE102004032953B4 (de) * 2004-07-07 2008-02-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Vorrichtung und Rastermikroskop mit einer fokussierenden Optik
US8166567B2 (en) 2007-03-16 2012-04-24 Bruker Nano, Inc. Fast-scanning SPM scanner and method of operating same
US8904560B2 (en) 2007-05-07 2014-12-02 Bruker Nano, Inc. Closed loop controller and method for fast scanning probe microscopy
DE102007027010B4 (de) 2007-06-08 2023-02-16 Spectro Analytical Instruments Gmbh Spektrometeroptik mit nicht-sphärischen Spiegeln
US7770231B2 (en) 2007-08-02 2010-08-03 Veeco Instruments, Inc. Fast-scanning SPM and method of operating same
DE102008057093A1 (de) * 2008-11-13 2010-05-27 Carl Zeiss Ag Objektivanordnung für Nahfeldmikroskopie
DE102008057096A1 (de) * 2008-11-13 2010-05-20 Carl Zeiss Ag Nahfeldmikroskop und Beobachtungseinheit dafür
FR2965929B1 (fr) * 2010-10-07 2012-12-14 Centre Nat Rech Scient Microscope optique en champ proche
DE102016226212A1 (de) * 2016-12-23 2018-06-28 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Analyseeinrichtung

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4111530A (en) * 1975-12-05 1978-09-05 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh Microscope objective mount
US5138159A (en) * 1990-07-20 1992-08-11 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning tunneling microscope
US5306918A (en) * 1990-05-10 1994-04-26 Goudonnet Jean Pierre Installation for the study or the transformation of the surface of samples placed in a vacuum or in a controlled atmosphere
US5473157A (en) * 1994-03-22 1995-12-05 At&T Corp. Variable temperature near-field optical microscope
US5548113A (en) * 1994-03-24 1996-08-20 Trustees Of Boston University Co-axial detection and illumination with shear force dithering in a near-field scanning optical microscope
US5641896A (en) * 1994-05-11 1997-06-24 Dr. Khaled Karrai Und Dr. Miles Haines Gesellschaft Burgerlichen Rechts Coupled oscillator scanning imager

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947034A (en) * 1989-04-28 1990-08-07 International Business Machines Corporation Apertureless near field optical microscope
EP0765453B1 (de) * 1994-06-24 2001-01-10 United Technologies Corporation Voreinspritzung für gasturbinenanlagen
JPH09203864A (ja) * 1996-01-25 1997-08-05 Nikon Corp Nfm一体型顕微鏡
EP0864846A3 (de) * 1997-03-12 2000-12-13 Haines, Miles, Dr. Rasterabtastmikroskop

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4111530A (en) * 1975-12-05 1978-09-05 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh Microscope objective mount
US5306918A (en) * 1990-05-10 1994-04-26 Goudonnet Jean Pierre Installation for the study or the transformation of the surface of samples placed in a vacuum or in a controlled atmosphere
US5138159A (en) * 1990-07-20 1992-08-11 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning tunneling microscope
US5473157A (en) * 1994-03-22 1995-12-05 At&T Corp. Variable temperature near-field optical microscope
US5548113A (en) * 1994-03-24 1996-08-20 Trustees Of Boston University Co-axial detection and illumination with shear force dithering in a near-field scanning optical microscope
US5641896A (en) * 1994-05-11 1997-06-24 Dr. Khaled Karrai Und Dr. Miles Haines Gesellschaft Burgerlichen Rechts Coupled oscillator scanning imager

Also Published As

Publication number Publication date
DE19947287A1 (de) 2001-04-05
WO2001023939A2 (de) 2001-04-05
DE19947287C2 (de) 2003-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4987884A (en) Electronic endoscope
US7511891B2 (en) Miniaturized optically imaging system with high lateral and axial resolution
US7042638B2 (en) Device for coupling light into a microscope
CA1244685A (en) Stereomicroscope
US6285019B1 (en) Optical arrangement disposed in a microscope beam path
US7554664B2 (en) Laser scanning microscope
US7551351B2 (en) Microscope with evanescent sample illumination
WO2005094304A3 (en) Catadioptric imaging system employing immersion liquid for use in broad band microscopy
WO1999006856A3 (de) Mikroskop mit adaptiver optik
CA2280531A1 (en) F-sin (.theta.) lens system and method of use of same
WO2005026782A3 (en) Inspection system using small catadioptric objective
AU2014284109A1 (en) Optical scanner and scanned lens optical probe
WO2004077104A3 (en) High performance catadioptric imaging system
WO2001023939A3 (de) Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie
EP1054490A3 (de) Laser mit verringerter Linienbreite und Raumfilter
CA1302754C (en) Kit for converting a standard microscope into, and design for, a single aperture confocal scanning epi-illumination microscope
ATE538407T1 (de) Mikroskop für infrarotabbildung
US8477418B2 (en) Confocal laser microscope
WO2003052342A3 (de) Konfokaler liniensensor
JP2007219319A (ja) 位相差顕微鏡
JP3879218B2 (ja) 倒立顕微鏡
JP2005107302A (ja) 顕微鏡フォーカス維持装置
WO2003009042A3 (de) Mikroskopobjektiv und verwendung eines solchen mikroskopobjektivs bei einem mikroskop
Aziz et al. Confocal microscopy via a fiber optic imaging bundle
DE60025801D1 (de) Spektroskop

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
AK Designated states

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
122 Ep: pct application non-entry in european phase
NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP