WO1999038024A1 - Verfahren zur computergestützten optimierung von prüfspezifikationen und minimierung von prüfsoftware - Google Patents

Verfahren zur computergestützten optimierung von prüfspezifikationen und minimierung von prüfsoftware Download PDF

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Horst Meissner
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2846Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • G01R31/2848Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation

Definitions

  • the invention relates to a method for the computer-aided optimization of test specifications and minimization of test software as well as for proving the testability of technical devices, systems or systems to be developed.
  • test programs required for testing the functions and for troubleshooting can be generated in part during the actual development phase using appropriate simulations, but are largely based on a node test.
  • every connection between the smallest components is tested.
  • test software which is required to control measuring devices by means of computer-aided measuring stations and to further process the measured data.
  • Programming is mainly based on the finished product, which means that the test program can only be used for the special unit.
  • the structuring itself depends on the programmer, which makes changes difficult. Given the current state of technology, it is only when carrying out tests that it becomes clear whether the test programs created on the basis of the product work effectively with regard to test results and troubleshooting. In most cases, it is necessary to make extensive changes or Make corrections in the software. This work must be carried out under high time pressure, since production has usually already started, and delays in delivery due to the lack of test software are the result.
  • test software determining the measurement and control tasks during the test process contains a data-relevant part, the test specification data and test instruction data, and a control-relevant part, which is the part to be tested
  • the data-relevant part is constructed as a text data field from which the control-relevant information can be tapped.
  • the control-relevant part of the test software then only has to be created once, in order to adapt it to the agreed text data field.
  • the actual test procedure, determined by a sequence software, then results from the sequence of the test steps that follow one another in the text data field.
  • test specification requirements which can create essential conditions for the subsequent design of the product or device.
  • test specification requirements can create essential conditions for the subsequent design of the product or device.
  • it is furthermore necessary to bring the re-design phase, which was previously necessary after the prototype phase, to be abolished, so that there are no delays / additional costs due to the test aspect.
  • the method according to the invention is based on a product model according to the technical conception, i.e. the specification or a task outlined in the specification, the model being described by localizable functional units and their links to one another in connection with intended test paths and diagnostic test points.
  • This product model is then quasi top-down, i.e. Optimized taking into account a model depth using easily exchangeable units.
  • an essential method step of the invention consists in that model-implemented algorithms are used to check whether the functional units in the model can be localized and whether the existing inputs and outputs can be functionally tested.
  • the test paths are stimulated by means of a computer and the test reports obtained are evaluated by a test logic in order to obtain a testability statement.
  • test paths and / or additional diagnostic test points are suggested in the case of insufficient testability or insufficient test depth.
  • the product model which has been optimized in accordance with the method and is now fully testable, is stored in a technical database, with a program-side connection to standardized test software being provided via the defined test path names.
  • the effort for creating or completing the test software itself is minimal.
  • the above-mentioned advantage of the invention results from the fact that only the model for the subsequent product has to be created in accordance with the technical conception in order to obtain test results and to optimize them. Furthermore, the process itself is a tool for the subsequent development process.
  • the adaptively adapted, ultimately available, optimized product model can then be used to derive the structure and addressing of a database, which database can be used for the entire product development and life cycle, which results in further cost savings.
  • This database is to be understood as a model-based knowledge base that can be accessed by a large number of system components.
  • the model of the product concerned created in the knowledge base under testability criteria is supplemented in the later processing cycle by assignment to the localizable units of description documents, images, image sequences or the like.
  • the database in turn is managed under a uniform, image-oriented user interface, the system components mentioned being able to use product-specific data records directly.
  • the product data stored in the common database can be updated continuously over the life cycle without a prior specification regarding a possible use being required when the data is stored.
  • the database aligned with the product model is used in a modular diagnostic, information and / or training or training system, the predominant product-neutral command sets in the respective modules for information, diagnosis and / or training of the system and in the Database product-specific data records are stored.
  • the diagnostic module of the system has means for performing product-independent tests and means for performing troubleshooting routines.
  • the test is interrupted in one test step and a troubleshooting routine is started.
  • the data required for this are loaded from the common database.
  • the localized error source down to the component level and the steps taken to recognize this source are then saved, which creates the possibility of shortening the test or test sequence in the event of the same or similar errors occurring later, by not activating all but rather typical errors or be triggered.
  • Knowledge base is based on functional blocks of the product and their verifiability using a model that has been created, adapted adaptively or optimized according to the desired functional depth.
  • the addressing depth is selected depending on the functional depth, device system, device, assembly, component.
  • Fig. 1 is a graphical representation of the model structure of a product
  • Fig. 2 is a diagram for integrating the method for computer-aided optimization of test specifications
  • the product model according to FIG. 1 has, as model-describing components, the functionalities or functional blocks FI to F4, which can also be regarded as the smallest exchangeable units. Provided connections between the functionalities F 1 to F4 correspond to the desired functions and / or properties of the product. These connections also form parts of test paths.
  • the product model also provides test points for diagnostic purposes, for example to check certain voltage relationships.
  • Stimulus signals are applied to the intended product model inputs for testing. In the example shown, this applies to test path T1 / 2. On the output side, the test result TE1 or the test path T3-TE2 is recorded, for which purpose the measurement point in question is scanned.
  • the existing nodes or test points for diagnostic purposes create a possibility, if desired, to make statements about the function blocks assigned to the nodes.
  • test report received enables the product model to be assessed to determine whether and to what extent adequate test coverage is available and how effectively this test coverage has been achieved.
  • a test logic preferably fuzzy logic, is able to simplify the testing of the model by means of appropriate program implementation and possibly to propose or specify new nodes in the event that individual function blocks cannot be tested or can only be tested inadequately. In this way, a gradual optimization of the test specifications takes place in such a way that, by increasing or restricting the individual tests, an adaptively adapted model is ultimately created, the description of which forms the basis for the subsequent development process.
  • the diagram according to FIG. 2 illustrates the method for optimizing test specifications and minimizing test software using the product model or the knowledge base based thereon.
  • the product model is created and verifiability verifications are provided on the model.
  • the knowledge gained here is available for the SEW system design and the FEW fine design. Based on this information, part development TLE can then begin in the further life cycle.
  • the information for the fine design FEW and the system design SEW which in turn goes back to the product model, provides insights for the possible integration of INT assemblies or components.
  • the structure and depth of the addressing of the database is aligned with the product model, the database being able to be updated during the product development and life cycle and the database being managed under a display-oriented user interface.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware sowie zum Nachweis der Prüfbarkeit zu entwickelnder technischer Geräte, Anlagen oder Systeme. Erfindungsgemäß wird zunächst ein Produktmodell entsprechend der technischen Konzeption erstellt und eingegeben, wobei die das Modell beschreibenden Komponenten Funktionsblöcke oder kleinste und größte tauschbare Einheiten, Testpfade darstellende Verbindungen zwischen den Funktionsblöcken und vorzusehende Diagnosetestpunkte zwischen oder an den Funktionsblöcken sind. In einem nächsten Schritt wird ein adaptives Anpassen der funktionalen Tiefe des Produktmodells in Abhängigkeit von mit der vorangegangenen Modellstufe erhaltenen Prüfbarkeitsaussage vorgenommen, wobei hierfür mittels eines Computers die Testpfade stimuliert und die erhaltenen Testreporte durch eine Prüflogik bewertet werden. Das auf diese Weise ggfs. in mehreren Schritten erhaltene optimierte, vollständig prüfbare Produktmodell wird in einer technischen Datenbank abgespeichert, wobei über die jeweiligen Testpfadnamen eine programmseitige Verbindung zu einer standardisierten Prüfsoftware hergestellt werden kann.

Description

Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware sowie zum Nachweis der Prüfbarkeit zu entwickelnder technischer Geräte, Anlagen oder Systemen.
Es ist bekannt, daß die materiell technischen, aber auch Man- poweraufwendungen für die Prüfung von industriell gefertigten Produkten oder Systemen aufgrund zunehmender Komplexität zur Anwendung kommender Technik sich ständig erhöhen. Die erforderlichen Testprogramme für die Prüfung der Funktionen und zur Fehlersuche können zwar teilweise während der eigentlichen Entwicklungsphase über entsprechende Simulationen generiert werden, basieren jedoch weitgehend auf einer Knotenprüfung. Bei digitaler Technik wird demnach jede Verbindung zwischen den kleinsten Bausteinen getestet. Dies bedeutet jedoch, daß bei hoher Funktionsanzahl einer Einheit entsprechend viele Tests durchgeführt werden müssen, wodurch die Prüfzeit und die Fehlersuchzeiten einer solchen Einheit unvertretbar ansteigt.
Bekannte rechnergesteuerte Meß- und Prüfverfahren für elektrische oder elektronische Schaltungen, insbesondere für elektrische Baugruppen sind so ausgerichtet, daß für jede Meß- und Prüf- oder Regelaufgabe jeweils ein eigenes Software-Programm geschrieben werden muß, welches sowohl Kenndaten, Treiber und Meßroutinen einschließlich Auswerteanforderungen enthält. Unter dem Begriff Prüfsoftware ist dabei eine solche Software definiert, welche erforderlich ist, um mittels rechnergestützter Meßplätze Meßgeräte zu steuern und die gemessenen Daten weiterzuverarbeiten. Die Programmierung erfolgt überwiegend anhand des fertigen Produktes, wodurch das Prüfprogramm nur für die spezielle Einheit einsetzbar ist. Die Strukturierung selbst ist vom Programmierer abhängig, was Änderungen erschwert. Beim gegebenen Stand der Technik zeigt sich demnach erst bei der Durchfuhrung von Prüfungen, ob die anhand des Produktes erstellten Prüfprogramme effektiv hinsichtlich Testergebnis und Fehlersuche arbeiten. In den meisten Fällen ist es notwendig, aufwendige Änderungen oder Korrekturen in der Software vorzunehmen. Diese Arbeiten müssen, da in der Regel die Produktion bereits angelaufen ist, unter hohem Zeitdruck durchgeführt werden und Terminverzögerungen mangels bereitstehender Prüfsoftware sind die Folge.
Es wurde zur Minimierung der Aufwendungen bei der Erstellung von Prüfsoftware bereits vorgeschlagen, diese produktunabhängig zu gestalten. Dies erfolgt in dem Sinne, daß die die Meß- und Regelaufgaben während des Prüfvorganges bestimmende Prüfsoftware in einen datenrelevanten Anteil, der Prüfspezifikationsdaten und Prüfanweisungsdaten enthält, und einen steuerungsrelevanten Anteil, der den von den jeweils zu prüfenden
Schaltungen unabhängigen Treiberteil für die Meßgeräte einschließlich der für die Messungen erforderlichen Meßroutinen enthält, getrennt ist. Der datenrelevante Anteil wird als Text-Datenfeld aufgebaut, aus dem die steuerungsrelevanten Informationen abgreifbar sind. Der steuerungsrelevante Anteil der Prüfsoftware muß dann nur einmal, und zwar zur Anpassung an das vereinbarte Text-Datenfeld erstellt werden. Der eigentliche, durch eine Ablaufsoftware bestimmte Prüfvorgang ergibt sich dann aus der Reihenfolge der im Text-Datenfeld aufeinanderfolgenden Prüfschritte.
Voraussetzung ist es bei oben genannter Lösung jedoch, daß zur Festlegung der Reihenfolge im Text-Datenfeld das betreffende Produkt bereits real vorhanden sein muß und aus dem Design sich möglicherweise ergebende Unzulänglichkeiten oder zu aufwendige Prüfschritte nicht oder nur zu spät erkannt werden können. Mit anderen Worten, eine Optimierung der Prüfbarkeit und damit der Prüfsoftware der Komponenten ist somit nicht möglich.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung der Prüfsoftware sowie zum Nachweis der Prüfbarkeit zu entwickelnder technischer Geräte oder Anlagen anzugeben, das es gestattet, bereits am Beginn oder vor der Entwicklungsphase eines Produktes die Testtiefe zur Erfüllung der
Prüfspezifikationsforderungen festzulegen und zu optimieren, wodurch für das nachfolgende Design des Produktes oder Gerätes wesentliche Voraussetzungen geschaffen werden können. Mittels der Erfindung gilt es weiterhin, die unter dem Prüfbarkeitsaspekt bisher nach der Prototypen-Phase erforderliche Re-Design-Phase zum Fortfall: zu bringen, so daß keine unter dem Prüfaspekt bedingte Terminverzögerungen/Mehrkosten gegeben sind.
Die Lösung der Aufgabe der Erfindung erfolgt mit einem Verfahren nach Patentanspruch 1 , wobei die Unteransprüche mindestens zweckmäßige Ausgestaltungen und Weiterbildungen umfassen.
Das erfindungsgemäße Verfahren geht von einem Produktmodell entsprechend der technischen Konzeption, d.h. der Vorgabe oder einer in dem Lastenheft skizzierten Aufgabenstellung aus, wobei das Modell durch lokalisierbare Funktionseinheiten und deren Verknüpfungen untereinander in Verbindung mit angedachten Testpfaden und Diagnosetestpunkten beschrieben wird.
Dieses Produktmodell wird dann quasi top-down, d.h. unter Beachtung einer Modelltiefe anhand leicht tauschbarer Einheiten optimiert. Das heißt, ein wesentlicher Verfahrensschritt der Erfindung besteht darin, daß durch modellimplementierte Algorithmen geprüft wird, ob die im Modell befindlichen Funktionseinheiten lokalisierbar sind und ob die vorhandenen Ein- und Ausgänge funktional getestet werden können. Hierfür wird mittels eines Computers ein Stimulieren der Testpfade vorgenommen und die erhaltenen Testreporte werden durch eine Prüflogik bewertet, um eine Prufbarkeitsaussage zu erhalten. Aufgrund der Prufbarkeitsaussage werden bei unzureichender Prüfbarkeit oder nicht ausreichender Prüftiefe Testpfade und/oder zusätzliche Diagnosetestpunkte vorgeschlagen.
Im Falle einer Prüfredundanz werden Funktionsblöcke bzw.
Funktionseinheiten zusammengefaßt, wodurch für das nachfolgende Hardware-Design wesentliche Erkenntnise gewonnen werden können.
Das verfahrensgemäß optimierte, nunmehr vollständig prüfbare Produktmodell wird in einer technischen Datenbank abgelegt, wobei über die vorhandenen definierten Testpfadnamen eine programmseitige Verbindung zu einer standardisierten Prufsoftware vorgesehen ist. Im Falle der späteren Prüfung eines realen Produktes ist der Aufwand für das Erstellen oder Vervollständigen der Prüfsoftware selbst minimal. Aus dem oben Genannten ergibt sich der besondere Vorteil der Erfindung, der darin liegt, daß nur das Modell für das spätere Produkt entsprechend der technischen Konzeption erstellt werden muß, um Prüfbarkeitsergebnisse zu erhalten und diese zu optimieren. Weiterhin stellt das Verfahren selbst ein Werkzeug für den nachgeschalteten Entwicklungsprozeß dar.
Anhand des adaptiv angepaßten, letztendlich vorhandenen optimierten Produktmodells läßt sich dann der Aufbau und die Adressierung einer Datenbank ableiten, wobei diese Datenbank für den gesamten Produktentwicklungs- und -lebenszyklus Verwendung finden kann, wodurch weitere Kosteneinsparungen die Folge sind. Diese Datenbank ist dabei als modellorientierte Wissensbasis zu verstehen, auf die eine Vielzahl von Systemkomponenten zugreifen kann. Das in der Wissensbasis unter Prüfbarkeitskriterien erstellte Modell des betreffenden Produktes wird im späteren Bearbeitungszyklus durch Zuordnung zu den lokalisierbaren Einheiten von Beschreibungsunterlagen, Abbildungen, Bildsequenzen oder dergleichen ergänzt. Die Datenbank wiederum wird unter einer einheitlichen, darstellungsseitig bildorientierten Benutzeroberfläche verwaltet, wobei die erwähnten Systemkomponenten unmittelbar auf produktspezifische Datensätze zurückgreifen können. Durch diese Produktlebenszyklus begleitende Datenbank ist es möglich, das separate Abspeichern von an sich redundanter Informationen, z.B. von Abbildungen für Dokumentionszwecke einerseits und für Schulungs- sowie Prüfzwecke andererseits zu verhindern, d.h. das Auftreten einer Datenduplizität und die damit verbundene Gefahr von Inkonsistenzen bei Datenänderungen wird ausgeschlossen.
Wie in einer Ausgestaltung des Verfahrens beschrieben, können die in der gemeinsamen Datenbank abgelegten Produktdaten über den Lebenszyklus laufend aktualisiert werden, ohne daß beim Ablegen der Daten eine Vorabspeziflkation bezogen auf eine mögliche Verwendung oder Nutzung erforderlich wird.
Die am Produktmodell ausgerichtete Datenbank wird in einer Ausführungsform der Erfindung in einem modularen Diagnose-, Informations- und/oder Ausbildungs- bzw. Trainingssystem verwendet, wobei in den jeweiligen Modulen für Information, Diagnose und/oder Training des Systems überwiegend produktneutrale Befehlssätze und in der Datenbank produktspezifische Datensätze abgelegt sind. Insbesondere durch die Identifizierbarkeit von Prüfsoftware für entsprechende Identifikatoren der Tastpfadnamen kann bei späteren Prüfungen im Falle von - Fehlersuche und Wartungsarbeiten am Produkt ein selbstlernender Prozeß durchgeführt werden. Hierfür besitzt das Diagnosemodul des Systems Mittel zum Durchführen von produktunabhängigen Prüfungen sowie Mittel zur Durchfuhrung von Fehlersuchroutinen. Im Falle der erwähnten späteren Prüfung am Produkt wird bei festgestellter Anomalie in einem Prüfschritt die Prüfung unterbrochen und eine Fehlersuchroutine gestartet. Die hierfür erforderlichen Daten werden aus der gemeinsamen Datenbank geladen. Die lokalisierte Fehlerquelle hin bis zur Bauteilebene und die zur Erkennung dieser Quelle absolvierten Schritte werden dann gespeichert, wodurch die Möglichkeit geschaffen ist, im Falle später auftretender gleicher oder ähnlicher Fehler den Prüf- oder Testablauf abzukürzen, indem nicht mehr sämtliche, sondern nur fehlertypische Schritte aktiviert oder ausgelöst werden.
Die Vorgabe der Struktur der Datenbank bzw. der hierin verkörperten
Wissensbasis erfolgt orientiert an Funktionsblöcken des Produktes und deren Prüfbarkeit anhand eines erstellten, adaptiv angepaßten oder entsprechend der gewünschten funktionalen Tiefe optimierten Modells. Die Adressierungstiefe wird in Abhängigkeit von der funktionalen Tiefe, Gerätesystem, Gerät, Baugruppe, Bauteil gewählt.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines Ausführungsbeispieles sowie unter Zuhilfenahme von Figuren näher erläutert werden. Hierbei zeigen:
Fig. 1 eine graphische Darstellung der Modellstruktur eines Produktes und
Fig. 2 ein Schaubild zur Einbindung des Verfahrens zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und
Minimierung von Prüfsoftware im Produktlebenszyklus.
Das Produktmodell nach Fig. 1 besitzt als modellbeschreibende Komponenten die Funktionalitäten oder Funktionsblöcke FI bis F4, welche auch als kleinste tauschbare Einheiten anzusehen sind. Vorgesehene Verbindungen zwischen den Funktionalitäten F 1 bis F4 entsprechen den gewünschten Funktionen und/oder Eigenschaften des Produktes. Diese Verbindungen bilden gleichzeitig Teile von Testpfaden. Im Produktmodell sind weiterhin Testpunkte für Diagnosezwecke, z.B. zum Überprüfen bestimmter Spannungsverhältnisse vorgesehen.
An vorgesehenen Produktmodelleingängen werden zur Prüfung Stimuli- Signale angelegt. Beim gezeigten Beispiel gilt dies für den Testpfad Tl/2. Ausgangsseitig wird das Testergebnis TE1 bzw. beim Testpfad T3-TE2 erfaßt, wofür der betreffende Meßpunkt abgetastet wird.
Die vorhandenen Knoten- oder Testpunkte für Diagnosezwecke schaffen eine Möglichkeit, wenn gewünscht, Aussagen über die den Knoten zugeordneten Funktionsblöcke zu treffen.
Der erhaltene Testreport ermöglicht eine Beurteilung des Produktmodells dergestalt, ob und inwieweit eine ausreichende Testabdeckung gegeben ist und wie effektiv diese Testabdeckung erreicht wurde. Eine Prüflogik, vorzugsweise eine Fuzzy-Logik, ist in der Lage, durch entsprechende programmseitige Umsetzung die Prüfung des Modells zu vereinfachen und möglicherweise neue Knoten vorzuschlagen oder anzugeben für den Fall, daß einzelne der Funktionsblöcke nicht oder nur unzureichend prüfbar sind. Auf diese Weise erfolgt eine schrittweise Optimierung der Prüfspezifikationen dergestalt, daß durch eine Erhöhung oder Einschränkung der einzelnen Tests letztendlich ein adaptiv angepaßtes Modell erstellt wird, dessen Beschreibung die Grundlage für den nachgeschalteten Entwicklungsprozeß bildet.
Mit dem Schaubild nach Fig. 2 wird das Verfahren zur Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware unter Nutzung des Produktmodells bzw. der hierauf basierenden Wissensbasis verdeutlicht.
Durch die Verwendung des Produktmodells für die Simulation zum Nachweis der Prüfbarkeit eines Produktes schon vor der eigentlichen
Entwicklungsphase kann der Nachweis der geforderten Prüfbarkeit bei minimalem Aufwand in kürzester Zeit erbracht werden.
Durch den Modellcharakter als prüftechnisches Abbild des Produktes werden alle relevanten Parameter für den Nachweis der Prüfbarkeit automatisch protokolliert und als Wissensbasis in der erwähnten Datenbank für spätere Anwendungen verfügbar und transferierbar gehalten. Spätere Anwendungen können beispielsweise in der Nutzung der Wissensbasis für die Diagnose von Fehlern am fertigen Produkt sein. Durch die Modellstruktur werden die Abhängigkeiten der einzelnen kleinsten tauschbaren Einheiten bzw. Funktionsblöcke von den Testergebnissen erhalten, d.h. alle in einem Testpfad liegenden Funktionsblöcke sind im Fehlerfall betroffene Einheiten und sind in die Diagnose einzubeziehen.
Fig. 2 macht deutlich, daß der Entwicklungsprozeß mit der Leistungsmerkmalsfestlegung LFG beginnt, in die Kennwerte über die Prüfbarkeit einfließen.
Anhand dieser Leistungsmerkmale wird das Produktmodell erstellt und es werden Prüfbarkeitsnachweise am Modell erbracht. Hierbei gewonnene Erkenntnisse, insbesondere nach dem adaptiven Anpassen der funktionalen Tiefe des Produktmodells stehen für den Systementwurf SEW sowie den Feinentwurf FEW bereit. Auf der Basis dieser Informationen kann dann im weiteren Lebenszyklus die Teileentwicklung TLE beginnen. Aus den Informationen für den Feinentwurf FEW und den Systementwurf SEW, die wiederum auf das Produktmodell zurückgehen, werden Erkenntnisse für die mögliche Integration INT von Baugruppen oder Bauteilen gewonnen.
Gemäß Ausführungsbeispiel ist es beim vorgeschlagenen Verfahren nicht mehr notwendig, nach der Werkserprobung WEP bzw. der Abnahme ABN Fehlerkataloge zu erfassen und manuell quasi im Re-Design sehr zeitaufwendige Prüfbarkeitsnachweise und Korrekturen zu erarbeiten.
Die durch das Produktmodell und dessen Optimierung sich ergebenden Daten stehen für den gesamten Produktlebenszyklus zur Verfügung, wodurch insbesondere mit Hilfe von Testpfadnamen eine programmseitige Verbindung zu der notwendigen, standardisierten Prüfsoftware am Ende des Entwicklungsprozesses in leichter Weise realisiert werden kann. Patentansprüche
1. Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware sowie zum Nachweis der Prüfbarkeit zu entwickelnder technischer Geräte, -Anlagen oder Systemen, mit folgenden Schritten:
Eingabe eines Produktmodells entsprechend der technischen Konzeption, wobei die das Modell beschreibenden Komponenten Funktionsblöcke oder kleinste und größte tauschbare Einheiten, Testpfade darstellende Verbindungen zwischen den
Funktionsblöcken und vorzusehende Diagnosetestpunkte zwischen oder an den Funktionsblöcken sind;
adaptives Anpassen der funktionalen Tiefe des Produktmodells in Abhängigkeit von mit der vorangegangenen Modellierungsstufe erhaltenen Prufbarkeitsaussage, wobei hierfür mittels eines
Computers die Testpfade stimuliert und die erhaltenen Testreporte durch eine Prüflogik bewertet werden;
Abspeichern des optimierten, vollständig prüfbaren Produktmodells in einer technischen Datenbank, wobei über die jeweiligen Testpfadnamen eine programmseitige Verbindung zu standardisierter Prüfsoftware vorsehbar ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Struktur und die Tiefe der Adressierung der Datenbank auf das Produktmodell ausgerichtet ist, wobei die Datenbank Produktentwicklungs- und -lebenszyklus begleitend aktualisierbar ist und die Datenbank unter einer darstellungsseitig bildorientierten Benutzeroberfläche verwaltet wird.

Claims

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das prüftechnisch optimierte Produktmodell eine technische Designvorgabe zur Hardwareumsetzung in die Geräte oder Anlagen bildet.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die am Produktmodell ausgerichtete Datenbank in einem modularen Diagnose-, Informations- und/oder Ausbildungs- bzw. Trainingssystem verwendet wird, wobei in den jeweiligen Modulen des Systems überwiegend produktneutrale Befehlssätze und in der Datenbank produktspezifische Datensätze abgelegt sind.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß das Diagnosemodul des Systems Mittel zum Durchführen von produktunabhängigen Prüfungen sowie Mittel zum Durchfuhren von Fehlersuchroutinen aufweist, wobei im Falle späterer Prüfung am Produkt bei festgestellter Anomalie in einem Prüfschritt die Prüfung unterbrochen und eine Fehlersuchroutine gestartet wird und die hierfür erforderlichen Daten aus der gemeinsamen Datenbank geladen und weiterhin lokalisierte Fehlerquellen bis zur Bauteilebene hin und die zur Erkennung dieser Quellen absolvierten Schritte gespeichert werden, wodurch die Möglichkeit besteht, beim erneuten Auftreten einer ähnlichen Anomalie den Prüfschritt und/oder die Fehlersuchroutine zu verkürzen.
PCT/DE1999/000182 1998-01-27 1999-01-25 Verfahren zur computergestützten optimierung von prüfspezifikationen und minimierung von prüfsoftware WO1999038024A1 (de)

Priority Applications (2)

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AU32464/99A AU3246499A (en) 1998-01-27 1999-01-25 Method for computer assisted optimization of inspection specifications and minimization of test software

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DE1998103032 DE19803032A1 (de) 1998-01-27 1998-01-27 Verfahren zur computergestützten Optimierung von Prüfspezifikationen und Minimierung von Prüfsoftware

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190004928A1 (en) * 2015-12-21 2019-01-03 Safran Electronics & Defense Method for detecting computer module testability problems
CN117785643A (zh) * 2024-02-23 2024-03-29 广州飞进信息科技有限公司 一种软件开发用性能测试平台

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10244131B4 (de) 2002-09-23 2006-11-30 Siemens Ag Verfahren zur Unterstützung einer Identifizierung einer defekten Funktionseinheit in einer technischen Anlage
DE102004039832A1 (de) * 2004-08-17 2006-03-09 Siemens Ag Strukturelle Überdeckungskriterien für Continuous Function Charts

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991000527A2 (en) * 1989-07-05 1991-01-10 Applied Diagnostics, Inc. Method and apparatus for locating faults in electronic units
US5539652A (en) * 1995-02-07 1996-07-23 Hewlett-Packard Company Method for manufacturing test simulation in electronic circuit design

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991000527A2 (en) * 1989-07-05 1991-01-10 Applied Diagnostics, Inc. Method and apparatus for locating faults in electronic units
US5539652A (en) * 1995-02-07 1996-07-23 Hewlett-Packard Company Method for manufacturing test simulation in electronic circuit design

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MOHAMED F ET AL: "TEST AND DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUITS: WHEN FUZZINESS CAN LEAD ACCURACY", JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, vol. 9, no. 1/02, 1 August 1996 (1996-08-01), pages 203 - 216, XP000636635 *
SEN S ET AL: "SIMULATION-BASED TESTABILITY ANALYSIS AND FAULT DIAGNOSIS", CONFERENCE RECORD AUTOTESTCON '96 TEST TECHNOLOGY AND COMMERCIALIZATION, DAYTON, SEPT. 16 - 19, 1996, no. CONF. 32, 16 September 1996 (1996-09-16), INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, pages 136 - 148, XP000728514 *
VENETSKY L ET AL: "NEXT GENERATION TEST GENERATOR (NGTG) FOR ANALOG CIRCUITS", 1997 AUTOTESTCON PROCEEDINGS: IEEE SYSTEMS READINESS TECHNOLOGY CONFERENCE, ANAHEIM, SEPT. 22 - 25, 1997, no. CONF. 33, 22 September 1997 (1997-09-22), INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, pages 113 - 120, XP000741506 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190004928A1 (en) * 2015-12-21 2019-01-03 Safran Electronics & Defense Method for detecting computer module testability problems
US10394688B2 (en) * 2015-12-21 2019-08-27 Safran Electronics & Defense Method for detecting computer module testability problems
CN117785643A (zh) * 2024-02-23 2024-03-29 广州飞进信息科技有限公司 一种软件开发用性能测试平台
CN117785643B (zh) * 2024-02-23 2024-05-14 广州飞进信息科技有限公司 一种软件开发用性能测试平台

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