DE102011086352A1

DE102011086352A1 - Verfahren und Diagnosesystem zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in technischen Systemen

Info

Publication number: DE102011086352A1
Application number: DE102011086352A
Authority: DE
Inventors: Christian Erath; Mirko Wagner; Andreas Buse; Martin Fritz
Original assignee: Robert Bosch GmbH
Current assignee: Robert Bosch GmbH
Priority date: 2011-05-31
Filing date: 2011-11-15
Publication date: 2012-12-06
Also published as: CN103608815A; US20140188433A1; CN103608815B; WO2012163634A1; EP2715624A1

Abstract

Die Erfindung betrifft Verfahren zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, mit den Schritten des Erfassens einer Menge von Beobachtungen an dem technischen System, des Ermittelns einer Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems und einer Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen, des Ermittelns einer Menge an möglichen Komponentenfehlern, welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist, des Ermittelns einer absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems für jede mögliche Merkmalsausprägungskombination jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge an möglichen Komponentenfehlern, des Berechnens einer ersten Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems auf der Basis der ermittelten absoluten Reduktion jedes Tests, des Ermittelns einer absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems für jede mögliche Merkmalsausprägungskombination jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems, des Berechnens einer zweiten Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems auf der Basis der ermittelten absoluten Reduktion jedes Tests, und des Erstellens einer priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Diagnosesystem zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in technischen Systemen, insbesondere bei Kraftfahrzeugen.
Stand der Technik
In technischen Systemen mit einer Vielzahl von Komponenten ist es bei Störfällen oder mangelnder Funktionsfähigkeit des Systems häufig notwendig, eine schrittweise Abfolge von Tests, Prüfungen und/oder Messungen vorzunehmen, um anhand der ermittelten Symptome und/oder Reaktionen des technischen Systems fehlerhafte Komponenten bzw. kleinste tauschbare Einheiten zu identifizieren. Aufgrund der Komplexität solcher Systeme wird häufig auf eine geführte Fehlersuche zurückgegriffen, das heißt, eine problemspezifisch vorgegebene Reihenfolge von separaten Tests und Prüfungen, um mit geringem Testaufwand eine schnelle, sichere und eindeutige Identifikation von Fehlern zu ermöglichen.
Die Druckschrift DE 103 07 365 B4 offenbart beispielsweise eine Diagnosevorrichtung für ein Fahrzeug, bei der Zustandsdaten des Fahrzeugs in einer Recheneinrichtung mit einem Fehlerdiagnosemodell korreliert werden, so dass Vorschläge durchzuführender Messungen und/oder einzugebender Messdaten für die Fehlereingrenzung ermittelt werden können.
Eine mögliche Grundlage für die geführte Fehlersuche sind Fehlersuchbäume. Fehlersuchbäume stellen schrittweise Fehlersuchstrategien dar, mithilfe derer anhand einfacher Entscheidungen und Beobachtungen die Menge aller Fehlerursachen auf eine mit den Beobachtungen kongruente Teilmenge an möglichen Fehlerursachen eingegrenzt werden kann. Die Qualität der geführten Fehlersuche wird also maßgeblich durch die Qualität der Fehlersuchbäume bestimmt. Die Erstellung der Fehlersuchbäume erfolgt üblicherweise manuell auf der Basis des Fachwissens von Experten und erfordert einen hohen Zeitaufwand.
Eine Möglichkeit, eine geführte Fehlersuche durchzuführen, besteht in einer sogenannten dynamischen Fehlersuche, wobei die verfügbaren Tests und Prüfungen erst während der Fehlersuche an technischen System bewertet und priorisiert werden. Dabei erfolgt eine Bewertung bei der dynamischen Fehlersuche, ebenso wie die Ermittlung möglicher fehlerhafter Komponenten, nach jedem durchgeführtem Test neu. Über eine Prüfdomäne, welche beispielsweise die Zuordnungen von verfügbaren Tests und zu überprüfenden möglichen fehlerhaften Komponenten abbildet, können relevante Tests automatisiert ermittelt und mittels eines Programmmoduls einer Bewertung unterzogen werden.
Die Druckschrift DE 10 2005 027 378 B3 offenbart ein Diagnosesystem, welches durch Systemabfragen über Systemzustände mit einem Diagnoseprogramm eine Fehlerkandidatenmenge erzeugt, welche priorisierte Fehlerkandidaten aufweist. Es werden darauf folgende Prüfschritte vorgeschlagen, deren Prüfergebnisse für eine erneute Bewertung der Fehlerkandidatenmenge dienen können.
Offenbarung der Erfindung
Die Erfindung beruht auf der Idee, ein Diagnosesystem und ein Diagnoseverfahren für ein technisches System zu schaffen, mit welchem auf der Basis des bereits für die manuelle Erstellung von Fehlersuchbäumen notwendigen Expertenwissens die Erstellung von Fehlersuchbäumen automatisiert und die Durchführung einer geführten Fehlersuche unterstützt werden kann. Hierzu sind ein Erfassungsmodul zur systematischen Erfassung aller relevanten Zustands-, Beobachtungs- und/oder Messdaten des technischen Systems und ein Priorisierungsmodul zur Priorisierung aller in Frage kommender Tests, Prüfungen oder Messungen vorgesehen, um gemäß den Gewichtungen der Tests, Prüfungen oder Messungen in Abhängigkeit von den Zustands-, Beobachtungs- und/oder Messdaten automatisch einen Fehlersuchbaum zu erstellen, welcher als Grundlage für eine geführte Fehlersuche dienen kann.
Die relevanten Zustands-, Beobachtungs- und/oder Messdaten können dabei in dem Erfassungsmodul in Form einer strukturierten Ontologie für das Priorisierungsmodul bereitgestellt werden, in dem die Ontologie dann entsprechend verarbeitet werden kann.
Im Unterschied zu bekannten Diagnosesystemen und -verfahren sind in dem Erfassungsmodul nur Informationen aus der Domäne des Expertenwissens notwendig, ohne dass physikalische Modelle, Bayes'sche Netze oder ähnliche Prüfdomänen. eingesetzt werden müssen.
Mit dem Verfahren bzw. dem Diagnosesystem gemäß der Erfindung können außerdem vorteilhafterweise Wissenslücken sichtbar gemacht werden, wenn beispielsweise bei bestimmten Symptomen oder Merkmalsausprägungen eine eindeutige Zuordnung zu einer defekten Komponente mit den möglichen durchzuführenden Tests nicht in konsistenter Weise möglich ist. Dadurch kann die Vollständigkeit der geführten Fehlersuche automatisch und empirisch überprüft werden. Insbesondere können vorteilhafterweise fehlende Tests automatisch ermittelt werden. Ein Erlernen mathematischer oder physikalischer Modellierungsmethoden ist hierzu nicht notwendig.
Die vorliegende Erfindung schafft daher gemäß einer Ausführungsform ein Verfahren zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, mit den Schritten des Erfassens einer Menge von Beobachtungen an dem technischen System, des Ermittelns einer Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems und einer Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen, des Ermittelns einer Menge an möglichen Komponentenfehlern, welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist, des Ermittelns jeweils einer ersten absoluten Reduktion der Anzahl der Elements der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems bei der Bestimmung der Menge an möglichen Komponentenfehlern ergibt, des Berechnens einer ersten Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems auf der Basis der ermittelten ersten absoluten Reduktionen jedes Tests, des Ermittelns jeweils einer zweiten absoluten Reduktion der Anzahl der Elements der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems ergibt, des Berechnens einer zweiten Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems auf der Basis der ermittelten absoluten Reduktion jedes Tests, und des Erstellens einer priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung.
Die vorliegende Erfindung schafft gemäß einer weiteren Ausführungsform ein Diagnosesystem zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, mit einer Erfassungseinrichtung, welche dazu ausgelegt ist, eine Menge von Beobachtungen an dem technischen System zu erfassen und eine Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems und eine Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen zu ermitteln, einer Ermittlungseinrichtung, welche dazu ausgelegt ist, eine Menge an möglichen Komponentenfehlern, welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist, zu ermitteln, einer Berechnungseinrichtung, welche dazu ausgelegt ist, jeweils eine erste absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems bei der Bestimmung der Menge an möglichen Komponentenfehlern ergibt, zu ermitteln, eine erste Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems auf der Basis der ermittelten ersten absoluten Reduktionen jedes Tests zu berechnen, jeweils eine zweite absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems ergibt, zu ermitteln, und eine zweite Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems auf der Basis der ermittelten zweiten absoluten Reduktionen jedes Tests zu berechnen, und einer Ausgabeeinrichtung, welche dazu ausgelegt ist, eine priorisierte Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung zu erstellen und auszugeben.
In einer vorteilhaften Ausführungsform umfasst das erfindungsgemäße Verfahren weiterhin die Schritte des Ermittelns von für das technische System relevanten Komponenten, Komponentenfehlern und Tests, und des Zuordnens der ermittelten relevanten Komponentenfehler zu Symptomen und ermittelten relevanten Komponenten.
Damit kann ausschließlich auf der Basis von Expertenwissen, das heißt, ohne beispielsweise auf physikalische Modelle, Bayes'sche Netze oder sonstige Prüfdomänen zurückgreifen zu müssen, eine Datenbasis aller Komponentenfehler-Symptom- und Komponentenfehler-Merkmalsausprägungs-Abhängigkeiten geschaffen werden, die einer geführten Fehlersuche zugrunde gelegt wird.
In einer vorteilhaften Ausführungsform umfasst das Verfahren die Schritte des Auswählens einer zu testenden Komponente aus der Menge möglicher defekter Komponenten durch einen Nutzer, des Ermittelns jeweils einer dritten absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler der ausgewählten zu testenden Komponente des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems ergibt, des Berechnens einer dritten Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler der ausgewählten zu testenden Komponente des technischen Systems, und des Erstellens einer priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests für die ausgewählte zu testende Komponente auf der Basis der dritten Priorisierung. Dadurch kann statt einer allgemeinen Auswahl eines durchzuführenden Tests durch einen Nutzer alternativ bei einem Verdacht einer defekten Komponente die Priorisierung der vorgeschlagenen Tests hinsichtlich des Nutzens zum Ausschluss oder zur Bestätigung der verdächtigten Komponente erfolgen, so dass ein Nutzer gezielt Tests für eine bestimmte Komponente auswählen kann.
Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der jeweiligen Unteransprüche.
Die obigen Ausgestaltungen und Weiterbildungen lassen sich, sofern sinnvoll, beliebig miteinander kombinieren. Weitere mögliche Ausgestaltungen, Weiterbildungen und Implementierungen der Erfindung umfassen auch nicht explizit genannte Kombinationen von zuvor oder im Folgenden bezüglich der Ausführungsbeispiele beschriebenen Merkmale der Erfindung.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Weitere Merkmale und Vorteile von Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen.
Es zeigen:
1 eine schematische Darstellung eines Abhängigkeitsgraphen gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
2 eine schematische Darstellung eines Verfahrens zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
3 eine schematische Darstellung eines Verfahrens zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
4 eine schematische Darstellung eines Verfahrens zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung; und
5 eine schematische Darstellung eines Diagnosesystems zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
In den Figuren der Zeichnung sind gleiche und funktionsgleiche Elemente, Merkmale und Komponenten – sofern nichts Anderes ausgeführt ist – jeweils mit denselben Bezugszeichen versehen. Es versteht sich, dass Komponenten und Elemente in den Zeichnungen aus Gründen der Übersichtlichkeit und Verständlichkeit nicht notwendigerweise maßstabsgetreu zueinander wiedergegeben sind.
Ausführliche Beschreibung der Erfindung
1 zeigt eine schematische Darstellung eines Abhängigkeitsgraphen 10. Der Abhängigkeitsgraph 10 zeigt in schematischer Darstellung die Relationen zwischen Tests, deren Merkmalen und Merkmalsausprägungen, Komponenten und deren Komponentenfehlern, und Symptomen. Die Anzahl der dargestellten Einheiten in 1 ist jeweils nur beispielhaft und es ist für jede Einheit jede andere Anzahl an Relationen und Auftretenshäufigkeit ebenso möglich.
Dargestellt sind Tests 11a und 11b, welche über Merkmale 12a und 12b bzw. 12c verfügen. Tests im Sinne der Anmeldung sind alle Prüfungen, Messungen oder sonstige beobachterische Eingriffe in ein technisches System, die als beobachtete, geprüfte und/oder gemessene Daten Informationen über Merkmale des technischen Systems liefern. Ein konkretes Beispiel für einen Test ist beispielsweise ein Abgastest an einem Fahrzeug. Merkmale im Sinne dieser Anmeldung sind alle Informationsentitäten, deren Beobachtung, Messung oder Prüfung verschiedene Merkmalsausprägung zur Folge haben, die für jeden Test als Merkmalsausprägungskombinationen auftreten können. Ein konkretes Merkmal ist im Zusammenhang mit dem beispielhaft erwähnten Abgastest an einem Fahrzeug beispielsweise die Menge eines im Abgas eines Fahrzeugs enthaltenen Gasbestandteils, wie etwa Kohlendioxid. Technische Systeme im Sinne der Anmeldung können beispielsweise Maschinen, Fertigungsanlagen, Roboter, Systemanlagen, Kraftfahrzeuge oder sonstige komplexe technische Zusammenstellungen funktionell voneinander abhängiger technischer Komponenten umfassen.
In 1 haben die Merkmale 12a und 12b jeweils die Merkmalsausprägungen 13a und 13b sowie 13c und 13d, das Merkmal 12c hingegen hat nur die Merkmalsausprägung 13e. Die Anzahl der Merkmalsausprägungen pro Merkmal ist dabei aber prinzipiell unbegrenzt und durch die Art des Merkmals definiert. Der Abhängigkeitsgraph umfasst weiterhin Komponenten 15a, 15b und 15c des technischen Systems. Komponenten im Sinne der Anmeldung können kleinste tauschbare Einheiten eines technischen Systems sein, beispielsweise Maschinenteile, Fahrzeugteile oder dergleichen.
Jede der Komponenten 15a, 15b und 15c kann Komponentenfehler 14a, 14b, 14c und 14d aufweisen. Im Beispiel der 1 kann die Komponente 15a zwei unterschiedliche Komponentenfehler 14a und 14b aufweisen, während die Komponenten 15b und 15c lediglich jeweils einen Komponentenfehler 14c bzw. 14d aufweisen können. Komponentenfehler im Sinne der Anmeldung können dabei alle Abweichungen vom Normzustand der Funktionalität von Komponenten darstellen, und insbesondere durch Beobachtungen des technischen Systems wahrnehmbar sein. Beispielsweise können Komponentenfehler Abweichungen in Ausgangs- oder Messgrößen von Komponenten sein.
Jedem der Komponentenfehler 14a, 14b, 14c und 14d sind dabei ein oder mehrere Merkmalsausprägungen 13a, 13b, 13c, 13d zugeordnet, das heißt, bei einem Vorliegen einer Menge von Merkmalsausprägungen 13a, 13b, 13c, 13d kann auf das Vorhandensein oder das Nichtvorhandensein eines Komponentenfehlers 14a, 14b, 14c und 14d geschlossen werden. Beispielsweise kann bei einem Auftreten von Merkmalsausprägungen 13a und 13c der beiden Merkmale 12a, 12b des Tests 11a darauf geschlossen werden, dass der Komponentenfehler 14a der Komponente 15a vorliegt.
Weiterhin umfasst der Abhängigkeitsgraph 10 Symptome 16a und 16b, welche eine Menge an beobachtbaren Fehlfunktionen von Komponenten eines technischen Systems sind und insbesondere einem oder mehreren Komponentenfehlern zugeordnet werden können. Beispielsweise äußert sich das Symptom 16a in Komponentenfehlern 14a und 14b, während sich Symptom 16b in Komponentenfehlern 14c und 14d äußert. Dabei können die Symptome auch Kennziffern zur Identifikation von Fehlfunktionen umfassen, sogenannte ”Displayed Trouble Codes” (DTC), welche beispielsweise durch Steuer- und Diagnosegeräte in Fahrzeugen erfasst, gespeichert und abgerufen werden können.
2 zeigt eine schematische Darstellung eines Verfahrens 20 zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System. Das Verfahren 20 umfasst in einem ersten Schritt 21 ein Erfassen einer Menge von Beobachtungen an dem technischen System. Dabei kann die Menge von Beobachtungen eine Menge der zu Beginn des Verfahrens bekannten Merkmalsausprägungen und Symptome umfassen. Bekannte Merkmalsausprägungen und Symptome können dabei beispielsweise einen Ausgangszustand des technischen Systems charakterisieren. Beispielsweise können vor Beginn des Verfahrens bereits Tests an dem technischen System durchgeführt worden sein, welche zu einer Menge an anfänglich bekannten Merkmalsausprägungen geführt haben. Weiterhin können beobachtete Fehlfunktionen oder Abweichungen von Normalzuständen an dem technischen System bekannt sein, deren Auftreten bekannten Symptomen zugeordnet werden können.
In einem zweiten Schritt 22 erfolgt ein Ermitteln einer Menge möglicher defekter Komponenten und möglicher ausführbarer bzw. durchzuführender Tests auf der Basis der Menge von Beobachtungen. Dabei kann auf Abhängigkeitsbeziehungen, wie beispielsweise in dem Abhängigkeitsgraphen in 1, zurückgegriffen werden, um die Menge möglicher defekter Komponenten und möglicher ausführbarer bzw. durchzuführender Tests zu ermitteln. Beispielsweise können die Abhängigkeitsbeziehungen durch systematische Analyse, experimentelle Bestimmung oder durch die Auswertung statistisch erhobener Daten erfolgen, die zum Beispiel durch Auswertung des Feedbacks von Reparaturdaten erhoben werden können. Im Folgenden können dann bekannte Merkmalsausprägungen und Symptome über die Abhängigkeitsbeziehungen denjenigen Komponentenfehlern zugeordnet werden, welche mit den bekannten Merkmalsausprägungen und Symptome konsistent sind. Über die konsistenten Komponentenfehler können dann diejenigen Komponenten als mögliche defekte Komponenten ermittelt werden, bei denen die konsistenten Komponentenfehler auftreten können.
Mögliche defekte Komponenten umfassen dabei alle Komponenten des technischen Systems, welche für eine mit der Menge von Beobachtungen konsistente Fehlfunktion des technischen Systems verantwortlich sein können. Ziel kann es dabei im Folgenden sein, durch Auswahl oder Vorschlagen geeigneter weiterer Tests weitere Beobachtungen bzw. Merkmalsausprägungen zu ermitteln, welche die Menge möglicher defekter Komponenten auf eine Teilmenge einschränken können, um letztlich eine defekte Komponente ausfindig zu machen.
Im zweiten Schritt 22 können dazu weiterhin Priorisierungsparameter rank(t_i) und rank_KKF(t_i) ermittelt werden, die eine Aussage darüber erlauben, wie hilfreich jeder Test der Menge möglicher durchzuführender Tests NT bei der Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten MDK sein kann. Dazu kann eine Priorisierung unter anderem auch auf der Basis des Aufwands für den jeweiligen Test und die Auftretenswahrscheinlichkeit für einen Komponentenfehler bezogen auf ein Symptom erfolgen.
Der Priorisierungsparameter rank(t_i) kann beispielsweise eine im Mittel zu erwartende Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten MDK angeben. Im Folgenden wird ein beispielhaftes Verfahren angegeben, mit dem diese Reduktion unter Berücksichtigung der Auftretenswahrscheinlichkeit für einen Komponentenfehler bezogen auf ein Symptom berechnet werden kann.
Für jeden Test t_i der Menge möglicher durchzuführender Tests NT kann die Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungskombinationen berechnet werden. Die Elemente von KMK_i sind dabei Merkmalsausprägungskombinationen, das heißt Mengen von Merkmalsausprägungen des Tests t_i, welche als Folge jeweils aller Elemente einer Menge von möglichen Komponentenfehlern, die für die Menge von Beobachtungen verantwortlich sein können, auftreten können. Für jede konsistente Merkmalsausprägungskombination K_(k,i) der Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungen kann die Vereinigungsmenge BMA_(k,i) aller beobachteten Merkmalsausprägungen mit der konsistenten Merkmalsausprägungskombination K_(k,i) bestimmt werden. Auf der Basis der Vereinigungsmenge BMA_(k,i) kann dann die neue Menge KKF_(k,i) aller konsistenter Komponentenfehler sowie die neue Menge der möglichen defekten Komponenten MDK_(k,i) ermittelt werden. Mit anderen Worten, umfasst die Vereinigungsmenge BMA_(k,i) im Allgemeinen mehr Elemente als die Menge von Beobachtungen, die im Schritt 21 erfasst worden ist, und verringert somit die Anzahl der Elemente der Menge der möglichen defekten Komponenten MDK_(k,i). Diese Verringerung oder erste Reduktion r_(k,i) kann als absolute Differenz der Anzahl der Elemente der bisherigen Menge der möglichen defekten Komponenten MDK sowie der neuen Menge der möglichen defekten Komponenten MDK_(k,i) angegeben werden.
Die ermittelte erste Reduktion r_(k,i) kann dann mit den Auftretenswahrscheinlichkeiten für jede konsistente Merkmalsausprägungskombination K_(k,i) gewichtet werden. Dazu kann die neue Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF_(k,i) herangezogen werden und für jede Kombination konsistenter Komponentenfehler f_(k,i) eine Auftretenswahrscheinlichkeit p_(k,i) angegeben werden, die über die Menge aller Kombinationen konsistenter Komponentenfehler f_(k,i) zu einer Gesamtauftretenswahrscheinlichkeit p_i summiert werden können. Die erste absolute Reduktion r_(k,i) kann dann mit der Gesamtauftretenswahrscheinlichkeit p_i zur Angabe einer gewichteten absoluten Reduktion rg_(k,i) werden multipliziert werden.
Zur Ermittlung des Priorisierungsparameters rank(t_i) können alle gewichteten absoluten Reduktionen rg_(k,i) für jede der konsistente Merkmalsausprägungskombinationen K_(k,i) der Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungen summiert und auf die Anzahl der Elemente der Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungen normiert werden. Weiterhin ist es optional möglich, den Priorisierungsparameter rank(t_i) mit einem Aufwandsparameter zu gewichten, welcher einen zeitlichen und/oder kostenabhängigen Diagnoseaufwand abbilden kann. Dabei kann auf vorbestimmte Zeitwerte für spezielle Tests und Messgeräte sowie gegebenenfalls auf tatsächlich anfallende Kosten eines Tests zurückgegriffen werden.
Der Priorisierungsparameter rank(t_i) gibt damit für jeden Test ein Maß an, welcher den Nutzen des Tests im Hinblick auf eine Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten MDK darstellt.
Der Priorisierungsparameter rank_KKF(t_i) kann ebenfalls eine im Mittel zu erwartende Reduktion angeben. Im Unterschied zu dem Priorisierungsparameter rank(t_i) hängt der Priorisierungsparameter rank_KKF(t_i) von der absoluten zu erwartenden Reduktion r_KKF(k,i) der Anzahl der Elemente der Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF ab. Diese Verringerung oder zweite Reduktion r_KKF(k,i) kann als absolute Differenz der Anzahl der Elemente der bisherigen Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF sowie der neuen Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF_(k,i) angegeben werden.
Die ermittelte zweite Reduktion r_KKF(k,i) kann dann mit den Auftretenswahrscheinlichkeiten für jede konsistente Merkmalsausprägungskombination K_(k,i) gewichtet werden. Dazu kann die neue Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF_(k,i) herangezogen werden und für jede Kombination konsistenter Komponentenfehler f_(k,i) eine Auftretenswahrscheinlichkeit p_KKF(k,i) angegeben werden, die über die Menge aller Kombinationen konsistenter Komponentenfehler f_KKF(k,i) zu einer Gesamtauftretenswahrscheinlichkeit p_KKFi summiert werden können. Die absolute Reduktion r_KKF(k,i) kann dann mit der Gesamtauftretenswahrscheinlichkeit p_KKFi zur Angabe einer gewichteten absoluten Reduktion rg_KKF(k,i) multipliziert werden.
Zur Ermittlung des Priorisierungsparameters rank_KKF(t_i) können alle gewichteten absoluten Reduktionen rg_KKF(k,i) für jede der konsistente Merkmalsausprägungskombinationen K_(k,i) der Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungen summiert und auf die Anzahl der Elemente der Menge KMK_i aller konsistenten Merkmalsausprägungen normiert werden. Weiterhin ist es optional möglich, den Priorisierungsparameter rank_KKF(t_i) mit dem oben angegebenen Aufwandsparameter zu gewichten.
In einem dritten Schritt 23 wird überprüft, ob die Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten größer als eins ist. Sollte lediglich eine mögliche defekte Komponente übrig bleiben, kann in Schritt 23a die verbliebene Komponente als die defekte Komponente ausgegeben werden. Sollte die Anzahl der Elements der Menge möglicher defekter Komponenten Null betragen, kann in Schritt 23a alternativ ausgegeben werden, dass die Beobachtungen im Rahmen des Modells nicht plausibel sind.
Sollte die Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten größer als eins sein, wird in einem vierten Schritt 24 überprüft, ob die Anzahl der Elemente der Menge möglicher durchzuführender Tests größer als Null ist, das heißt, ob überhaupt noch Tests vorhanden sind, die durchgeführt werden können und noch nicht durchgeführt worden sind. Sollte kein weiterer Test mehr möglich sein, kann das in Schritt 24a einem Nutzer angezeigt werden. Gleichzeitig kann in Schritt 24a die bisherige Liste aller möglicher defekter Komponenten als Liste verdächtiger Komponenten ausgegeben werden.
Auf der Basis der Priorisierungsparameter rank(t_i) und rank_KKF(t_i) kann dann in Schritt 25 eine priorisierte Liste aller möglicher durchzuführender Tests NT ermittelt werden, die einem Nutzer angezeigt werden kann. Der Nutzer kann dann einen der vorgeschlagenen Tests auswählen, durchführen und die Menge von Beobachtungen mit den Ergebnissen des durchgeführten Tests ergänzen. Alternativ zur Auswahl durch den Nutzer kann auch der am höchsten priorisierte Test als durchzuführender Test dem Nutzer vorgegeben werden, der dann diesen Test durchführen muss.
In einem Schritt 26 kann dann die Menge von mit den Ergebnissen des gemäß Schritt 25 durchgeführten Tests erhaltenen Beobachtungen ergänzt werden. Weiterhin kann die Menge möglicher ausführbarer bzw. durchzuführender Tests aktualisiert werden. Zudem werden die Priorisierungsparameter rank(t_i) und ran_KKF(t_i) auf der Basis der neuen Menge von Beobachtungen neu berechnet, beispielsweise unter Zuhilfenahme der oben angegebenen Verfahren.
In den Schritten 27 und 28 erfolgt dann wieder ein Überprüfen ähnlich den Schritten 23 und 24, wobei diesmal die Überprüfung auf der Basis der neuen Menge möglicher defekter Komponenten bzw. der neuen Menge möglicher durchzuführender Tests erfolgt. Die Schritte 27a und 28a entsprechen dabei den Schritten 23a und 24a.
In einem Schritt 29 kann dann die Anzeige bzw. Ausgabe der priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests aktualisiert werden, sofern die Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten größer als eins und die Anzahl der Elemente der Menge möglicher durchzuführender Tests größer als Null ist. Das Verfahren kann dann von Schritt 25 an so lange iteriert werden, bis eines der in den Schritten 27 und 28 überprüften Abbruchkriterien erreicht ist, oder der Nutzer das Diagnoseverfahren selbstständig abbricht.
3 zeigt eine schematische Darstellung eines Verfahrens 30 zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, beispielsweise in einem zu diagnostizierenden Fahrzeug. Das Verfahren 30 umfasst dabei die Schritte 31, 32, 33, 33a, 34 und 34a, welche den Schritten 21, 22, 23, 23a, 24 und 24a des Verfahrens 20 in 2 entsprechen können. In einem Schritt 35 kann ein Nutzer dann eine Komponente K aus der Menge der möglichen defekten Komponenten MDK auswählen, von der er beispielsweise glaubt, dass sie möglicherweise defekt ist, oder an der er weitere Untersuchungen bzw. Tests vornehmen möchte. Dies kann beispielsweise vorteilhaft sein, wenn sich das zu diagnostizierende Fahrzeug bereits in einem Aufbau- oder Diagnosezustand befindet, welches ein Überprüfen bzw. Testen der Komponente K einfach oder naheliegend macht. Beispielsweise kann es vorteilhaft sein, eine Komponente der Auspuffanlage zu überprüfen, wenn sich das Fahrzeug derzeit schon auf einer Hebebühne befindet. Es kann auch vorteilhaft sein, wenn der Nutzer aufgrund ähnlicher Symptome bei bestimmten Fahrzeugtypen, bei bestimmten Witterungsbedingungen oder bestimmten Fahrsituationen Erfahrungen gesammelt hat, welche der Komponenten mit hoher Wahrscheinlichkeit betroffen sein könnte, diese Komponente K zur Überprüfung auszuwählen.
In diesem Fall kann in Schritt 36 die Menge aller konsistenten Komponentenfehler KKF_K bezogen auf die in Schritt 35 ausgewählte Komponente K bestimmt werden. In Schritt 37 kann dann die Menge alter möglichen durchzuführenden Tests NT_K auf Basis der Menge aller konsistenten Komponentenfehler KKF_K ermittelt werden. In Schritt 38 kann eine Ermittlung eines weiteren Priorisierungsparameters rank_K(t_i) ermittelt werden, welcher im Unterschied zu dem Priorisierungsparameter rank_KKF(t_i) von der absoluten zu erwartenden Reduktion r_KKF(k,i) der Anzahl der Elemente der Menge der konsistenten Komponentenfehler KKF_K der ausgewählten Komponente K abhängt.
Das Verfahren zur Bestimmung des Priorisierungsparameters rank_K(t_i) kann dabei ähnlich dem oben erläuterten Verfahren zur Bestimmung des Priorisierungsparameters rank_KKF(t_i) durchgeführt werden, wobei jeweils nur diejenigen konsistenten Komponentenfehler KKF_K berücksichtigt werden, welche sich auf die ausgewählte Komponente K beziehen. Ebenso werden die Auftretenswahrscheinlichkeiten p_KKF(k,i) und p_KKFi im Hinblick auf die ausgewählte Komponente K angepasst.
In Schritt 39 können die verbliebenen möglichen durchzuführenden Tests auf der Basis. der Auswahl der Komponente K ermittelt werden. Anhand des Priorisierungsparameters rank_K(t_i) können die Tests speziell für die ausgewählte Komponente K bewertet werden. Dazu kann der Priorisierungsparameter rank_K(t_i) beispielsweise zur neuen Gewichtung der mithilfe der Priorisierungsparameter rank_KKF(t_i) und rank(t_i) erstellten priorisierten Liste in Schritt 40 herangezogen werden. Ein Nutzer kann dann anhand der neu gewichteten priorisierten Liste einen der vorgeschlagenen Tests auswählen. Alternativ kann dem Nutzer der höchstpriorisierte Test zur Durchführung vorgegeben werden.
Nach Durchführung eines weiteren Tests kann in Schritt 41, ähnlich dem Schritt 26 in 2, die Menge von mit den Ergebnissen des gemäß Schritt 40 durchgeführten Tests erhaltenen Beobachtungen ergänzt werden. Weiterhin kann die Menge möglicher ausführbarer bzw. durchzuführender Tests aktualisiert werden. Zudem werden die Priorisierungsparameter rank(t_i) und rank_KKF(t_i) auf der Basis der neuen Menge von Beobachtungen neu berechnet, beispielsweise unter Zuhilfenahme der oben angegebenen Verfahren. Die Schritte 42, 42a, 43 und 43a entsprechen den Schritten 27, 27a, 28 und 28a des Verfahrens 20 in 2. In Schritt 44 kann weiterhin überprüft werden, ob durch den weiterhin vorgenommenen Test die ausgewählte Komponente K sich noch unter der neu ermittelten Menge möglicher defekter Komponenten befindet. Sollte dies nicht der Fall sein, kann in Schritt 44a ausgegeben werden, dass die ausgewählte Komponente K nicht defekt ist. Der Nutzer kann dann zu Schritt 35 zur Auswahl einer anderen Komponente K' weitergeleitet werden. Sollte sich die ausgewählte Komponente weiterhin in der aktualisierten Menge möglicher defekter Komponenten befinden, kann in einem Schritt 45 überprüft werden, ob für die ausgewählte Komponente K weitere Tests möglich sind. Sollte dies nicht der Fall sein, kann der Nutzer zu Schritt 35 zur Auswahl einer anderen Komponente K' weitergeleitet werden.
Sollten weitere Tests für die ausgewählten Komponente K vorhanden sein, kann in Schritt 46 ein neuer Test aus der aktualisierten priorisierten Liste von möglichen durchzuführenden Tests für die ausgewählte Komponente K ausgewählt und durchgeführt werden. Das Verfahren kehrt nach Durchführung des Tests wieder zu Schritt 41 zurück und kann so lange iteriert werden, bis eines der in den Schritten 42, 43, 44 und 45 überprüften Abbruchkriterien erfüllt ist, oder der Nutzer das Verfahren von sich aus abbricht.
4 zeigt eine schematische Darstellung eines Verfahrens 50 zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System. Das Verfahren 50 kann beispielsweise zur Unterstützung eines Autors bei der Erstellung oder Optimierung eines Fehlersuchbaums für die geführte Fehlersuche in einem technischen System, beispielsweise einem Fahrzeug dienen. Im Gegensatz zu den Verfahren 20 und 30 in 2 bzw. 3 ist es beispielsweise mit dem Verfahren 50 möglich zu beschreiben, dass nach einem bestimmten Test A, bei dem die Merkmalsausprägung A1 ermittelt worden ist, stets der Test B durchzuführen ist, ohne dass ein Nutzer die Auswahl des Tests verändern kann. Eine derartige Vorgabe kann beispielsweise aufgrund des Expertenwissens des Autors vorgenommen werden.
In einem ersten Schritt 51 erfolgt ein Erfassen eines zu bearbeitenden Symptoms aus einem Startknoten in dem zu erstellenden oder zu optimierenden Fehlersuchbaum. In einem zweiten Schritt 52 erfolgt ähnlich den Schritten 22 und 32 in 2 bzw. 3 ein Ermitteln der Menge möglicher defekter Komponenten MDK und der Menge möglicher durchzuführender Tests NT auf der Basis der Menge möglicher defekter Komponenten MDK und der Menge möglicher durchzuführender Tests NT. Weiterhin können in Schritt 52 Priorisierungsparameter rank(t_i) und rank_KKF(t_i) in ähnlicher Weise wie oben erläutert berechnet werden.
In Schritt 53 kann der Autor aus der gemäß der Priorisierungsparameter rank(t_i) und rank_KKF(t_i) erstellten priorisierten Liste vorgeschlagener durchzuführender Tests einen der Tests auswählen, um ihn in den Fehlersuchbaum einzupflegen. In Schritt 54 kann der Autor für jede mögliche Kombination an Merkmalsausprägungen des ausgewählten Tests einen neuen Zweig anlegen bzw. einen vorhandenen Zweig bearbeiten. Nach einer Auswahl eines der Knoten in Schritt 55 kann in den Schritten 56, 56a, 57 und 57a eine Überprüfung von Abbruchkriterien ähnlich der Schritte 23, 23a, 24 und 24a in 2 erfolgen. Solange die Anzahl der Elemente der Menge der möglichen defekten Komponenten größer als eins und die Anzahl der möglichen noch durchzuführenden Tests größer als Null ist, können in Schritt 58 alle Zweige vervollständigt werden, bis die Zweige durch Abbruchkriterien beendet werden können. Nach Vervollständigung des Fehlersuchbaums hinsichtlich des ausgewählten Tests kann das Verfahren ausgehend von Schritt 53 iteriert werden, bis der gesamte Fehlersuchbaum erstellt bzw. optimiert worden ist.
Der Autor kann mit dem Verfahren 50 Klarheit darüber gewinnen, welche Komponenten momentan noch als mögliche defekte Komponenten ermittelt werden und welche Tests er bei gegebener Symptomatik noch ausführen kann. Weiterhin erhält der Autor Informationen darüber, welche Tests im jeweiligen Knoten bzw. Zweig des Fehlersuchbaums am höchsten priorisiert werden, das heißt den größten Nutzen aufweisen. Das Verfahren 50 eignet sich daher vorteilhafterweise auch bei der Überprüfung bestehender Fehlersuchbäume auf Vollständigkeit und/oder Eindeutigkeit.
5 zeigt eine schematische Darstellung eines Diagnosesystems 60 zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System. Insbesondere kann das Diagnosesystem dazu ausgelegt sein, eines der Verfahren 20, 30 oder 50 in den 2, 3 und 4 durchzuführen.
Das Diagnosesystem 60 umfasst eine Erfassungseinrichtung 61, welche dazu ausgelegt ist, eine Menge von Beobachtungen an dem technischen System zu erfassen und eine Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems und eine Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen zu ermitteln. Das Diagnosesystem 60 umfasst weiterhin eine Ermittlungseinrichtung 62, welche dazu ausgelegt ist, eine Menge an möglichen Komponentenfehlern, welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist, zu ermitteln.
Eine Berechnungseinrichtung 63 ist dazu ausgelegt, eine absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems für jede mögliche Merkmalsausprägungskombination jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge an möglichen Komponentenfehlern zu ermitteln, eine erste Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems auf der Basis der ermittelten absoluten Reduktion jedes Tests zu berechnen, eine absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems für jede mögliche Merkmalsausprägungskombination jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems zu ermitteln, und eine zweite Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems zu berechnen.
Das Diagnosesystem 60 umfasst weiterhin eine Ausgabeeinrichtung 64, welche dazu ausgelegt ist, eine priorisierte Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung zu erstellen und auszugeben. Zusätzlich kann das Diagnosesystem 60 ein optionales (nicht gezeigtes) Erfassungsmodul aufweisen, welches dazu ausgelegt ist, für das technische System relevante Komponenten, Komponentenfehler und Test zu erfassen, mögliche relevante Komponentenfehler zu Symptomen und relevanten Komponenten und mögliche Merkmalsausprägungen der relevanten Tests zu möglichen Symptomen und relevanten Komponenten zuzuordnen, und welches weiterhin dazu ausgelegt ist, die relevanten Komponenten, Komponentenfehler, Tests und Zuordnungen für die Berechnungseinrichtung 63 bereitzustellen.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
Zitierte Patentliteratur

DE 10307365 B4 [0003]
DE 102005027378 B3 [0006]

Claims

Verfahren zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, mit den Schritten: Erfassen einer Menge von Beobachtungen an dem technischen System; Ermitteln einer Menge möglicher defekter Komponenten (MDK) des technischen Systems und einer Menge möglicher durchzuführender Tests (NT) des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen; Ermitteln einer Menge an möglichen Komponentenfehlern (KKF), welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist; Ermitteln jeweils einer ersten absoluten Reduktion (r) der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten (MDK) des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen (KMK) jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests (NT) des technischen Systems bei der Bestimmung der Menge an möglichen Komponentenfehlern (KKF) ergibt; Berechnen einer ersten Priorisierung (rank) der Menge möglicher durchzuführender Tests (NT) durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion (rg) der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten (MDK) des technischen Systems auf der Basis der ermittelten ersten absoluten Reduktionen (r) jedes Tests; Ermitteln jeweils einer zweiten absoluten Reduktion (r_KKF) der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler (KKF) des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen (KMK) jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests (NT) des technischen Systems ergibt; Berechnen einer zweiten Priorisierung (rank_KKF) der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion (rg_KKF) der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler (KKF) des technischen Systems auf der Basis der ermittelten zweiten absoluten Reduktionen (r_KKF) jedes Tests; und Erstellen einer priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung (rank, rank_KKF).
Verfahren nach Anspruch 1, weiterhin mit den Schritten: Ermitteln von für das technische System relevanten Komponenten, Komponentenfehlern und Tests; und Zuordnen der ermittelten relevanten Komponentenfehlern zu Symptomen und ermittelten relevanten Komponenten.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 und 2, wobei das Berechnen der ersten und/oder zweiten Priorisierung (rank, rank_KKF) weiterhin auf der Basis des Aufwands zur Durchführung jedes der möglichen durchzuführenden Tests erfolgt.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, weiterhin mit den Schritten: Auswählen einer zu testenden Komponente (K) aus der Menge möglicher defekter Komponenten (MDK) durch einen Nutzer; Ermitteln jeweils einer dritten absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler der ausgewählten zu testenden Komponente (K) des technischen Systems für jede mögliche Merkmalsausprägungskombination (KMK_K) jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems; Berechnen einer dritten Priorisierung (ran_K) der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler (KKF_K) der ausgewählten zu testenden Komponente (K) des technischen Systems; und Erstellen einer priorisierten Liste möglicher durchzuführender Tests für die ausgewählte zu testende Komponente (K) auf der Basis der dritten Priorisierung (rank_K).
Diagnosesystem (60) zur Unterstützung der geführten Fehlersuche in einem technischen System, mit: einer Erfassungseinrichtung (61), welche dazu ausgelegt ist, eine Menge von Beobachtungen an dem technischen System zu erfassen und eine Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems und eine Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems auf der Basis der Menge von Beobachtungen zu ermitteln; einer Ermittlungseinrichtung (62), welche dazu ausgelegt ist, eine Menge an möglichen Komponentenfehlern, welche mit der Menge von Beobachtungen konsistent ist, zu ermitteln; einer Berechnungseinrichtung (63), welche dazu ausgelegt ist, jeweils eine erste absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems bei der Bestimmung der Menge an möglichen Komponentenfehlern ergibt, zu ermitteln, eine erste Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher defekter Komponenten des technischen Systems auf der Basis der ermittelten ersten absoluten Reduktionen jedes Tests zu berechnen, jeweils eine zweite absolute Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems, welche sich durch Berücksichtigung jeder der möglichen Merkmalsausprägungskombinationen jedes der Menge möglicher durchzuführender Tests des technischen Systems ergibt, zu ermitteln, und eine zweite Priorisierung der Menge möglicher durchzuführender Tests durch Bestimmung einer im Mittel zu erwartenden absoluten Reduktion der Anzahl der Elemente der Menge möglicher Komponentenfehler des technischen Systems auf der Basis der ermittelten zweiten absoluten Reduktionen jedes Tests zu berechnen; und einer Ausgabeeinrichtung (64), welche dazu ausgelegt ist, eine priorisierte Liste möglicher durchzuführender Tests auf der Basis der ersten und der zweiten Priorisierung zu erstellen und auszugeben.
Diagnosesystem (60) nach Anspruch 5, weiterhin mit: einem Erfassungsmodul, welches dazu ausgelegt ist, für das technische System relevante Komponenten, Komponentenfehler und Test zu erfassen, erfasste relevante Komponentenfehler zu Symptomen und erfassten relevanten Komponenten und mögliche Merkmalsausprägungen der relevanten Tests zu möglichen Symptomen und relevanten Komponenten zuzuordnen, und welches weiterhin dazu ausgelegt ist, die relevanten Komponenten, Komponentenfehler, Tests und Zuordnungen für die Berechnungseinrichtung (63) bereitzustellen.