TWM607715U - 電容檢測設備 - Google Patents

Abstract

一種電容檢測設備，係利用一第一轉動組件帶動複數個電容元件沿一環型路徑自一入料位置經複數個作業位置移動至一出料位置，然後再利用一第二轉動組件將電容元件自出料位置沿一弧形路徑移動至一集裝位置，藉以使電容元件在集裝位置裝填入一集裝治具。

Description

電容檢測設備

本創作係關於一種電容檢測設備，尤其是指一種在檢測完電容元件後，可以將電容元件整齊排列地放置於集裝治具之電容檢測設備。

由於科技技術的發達，隨處可見各式各樣的電子產品充斥著在你我的日常生活中，而這些電子產品主要都是仰賴電路板之運作而產生各種功能，也因此電路板的設計也是千變萬化，然而，儘管各種電路板的設計不盡相同，但通常都是由各種電子元件與電路之配置變化而得。

承上所述，常見的電子元件例如有電阻、電容與電感，而在大部分之電子元件中，由於電容具有正負極，且電容之正負極若接反會造成電容過熱而爆炸，因此電容在製造生產時需更加謹慎。

在電容的製造過程中，通常在電容製造完成後，還需要進行一連串的檢測，以確保電容的品質，而電容的檢測一般包含有外觀檢測、長短腳位置檢測、電性測試以及環境測試等檢測項目。

在現有的電容檢測製程中，通常是先透過一轉盤之轉動來帶動電容依序進行分腳、整腳、腳長檢測與轉向等整理作業，然後再將經過整理之電容移送至另一工作站來進行外觀檢測與電性測試，而經過外觀檢測與電性測試之電容會被收集存放於一檢測完成區，然後才透過人工的方式將電容一一整齊的排列放置於一集裝治具中，以進一步對多個電容進行環境測試等其他測試項目。

有鑒於在先前技術中，由於現有的電容檢測流程是先利用一轉盤來將電容之針腳進行整理與初步檢測，然後才接著進行外觀檢測與電性測試，最後還需透過人工的方式將電容整齊的排列放置於集裝治具中，才能使電容進到下一個檢測工作站，非常的不便利且耗費人力與工時；緣此，本創作的主要目的在於提供一種電容檢測設備，可以有效的對電容元件進行一連串的整理、外觀檢測與電性測試，之後還能自動地將電容元件整齊排列放置於集裝治具中。

本創作為解決先前技術之問題，所採用的必要技術手段是提供一種電容檢測設備，係用於帶動複數個電容元件沿一環型路徑自一入料位置經複數個作業位置移動至一出料位置，作業位置至少設置有一檢測裝置，物料移動設備包含一基座、一第一轉動組件以及一第二轉動組件。

第一轉動組件係以一第一軸線為中心而可轉動地設置於基座，並設有複數個第一夾具，藉以在電容元件透過一送料軌道輸送至入料位置時，利用第一夾具夾持電容，並帶動電容元件依序經過作業位置而移動至出料位置，且當電容元件經過作業位置其中設有檢測裝置之一者時，檢測裝置係對電容元件進行檢測。

第二轉動組件係以一垂直於第一軸線之第二軸線為中心而可轉動地設置於基座，並設有一第二夾具，用以在電容元件移動至出料位置時，利用第二夾具將電容元件自出料位置沿一弧形路徑移動至一集裝位置，藉以使電容元件在集裝位置裝填入一集裝治具。

在上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段中，基座包含一平台以及一動力輸出裝置。動力輸出裝置係固定於平台上，且第一轉動組件係可轉動地設置於動力輸出裝置，藉以使第一轉動組件透過動力輸出裝置之帶動而轉動。

在上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段中，第一轉動組件更包含一轉盤，轉盤係可轉動地設置於基座，且第一夾具係以第一軸線為中心而均勻地分散設置於轉盤。

在上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段中，第二轉動組件更包含一電機元件與一懸臂，電機元件係固定於基座，懸臂係可轉動地連結於電機元件，且第二夾具係固定於懸臂，藉以利用電機元件與懸臂帶動第二夾具沿弧形路徑往復移動。較佳者，電容元件更包含一圓柱本體、一長針腳與一短針腳，長針腳與短針腳係分別自圓柱本體之端面沿伸出，且第一夾具係用以夾持圓柱本體，第二夾具係用以夾持長針腳與短針腳。

在上述必要技術手段所衍生之一附屬技術手段中，電容檢測設備更包含一入料模組，設置於基座，並位於入料位置，用以將電容元件移動至環型路徑，以使第一夾具夾持固定住電容元件。

如上所述，本創作是利用第一轉動組件帶動複數個電容元件沿環型路徑自入料位置經複數個作業位置移動至出料位置的同時，可以完成電容元件之整理作業、外觀檢測作業與電性測試作業，然後利用第二轉動組件將電容元件自出料位置沿弧形路徑移動至集裝位置的方式，可以便利且快速的將電容元件裝填集裝治具中，且還能保持多個電容元件的針腳方向一致性，有利於電容元件進行下個測試製程。

本創作所採用的具體實施例，將藉由以下之實施例及圖式作進一步之說明。

請參閱第一圖，第一圖係顯示本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備之立體示意圖。如第一圖所示，一種電容檢測設備100，包含一基座1、一第一轉動組件2、一入料模組3、一轉向裝置4、一檢測裝置5、一第一不良品排除裝置6、一檢測裝置7、一第二不良品排除裝置8以及一第二轉動組件9。其中，電容檢測設備100還鄰近於一送料軌道200，而送料軌道200是用以將複數個電容元件300輸送至一入料位置S1。

基座1包含一平台11與一動力輸出裝置12，動力輸出裝置12是固定於平台11上，且動力輸出裝置12例如為一步進馬達。第一轉動組件2包含一轉盤21以及十二個第一夾具22，轉盤21是以一第一軸線X1為中心而可轉動地設置於基座1之動力輸出裝置12，藉以受動力輸出裝置12之帶動而沿一轉動方向R1轉動。十二個第一夾具22是分別設置於轉盤21之底面，並凸伸出轉盤21之邊緣，且十二個第一夾具22是以第一軸線X1為中心均勻地分散設置。其中，當轉盤21受到動力輸出裝置12之帶動而沿轉動方向R1轉動時，第一夾具22也會隨著轉盤21之轉動而移動，且第一夾具22之移動範圍涵蓋了入料位置S1。

入料模組3包含一支架31、一調整台32、一懸臂33以及一移物夾爪組件34。支架31是固定地設置於平台11，而調整台32是固接於支架31，懸臂33是可轉動地設置於調整台32，而移物夾爪組件34是連結於懸臂33，並受懸臂33之帶動而在入料位置S1內移動，用以將透過送料軌道200移動至入料位置S1之電容元件300由送料軌道200上夾持移送至入料位置S1內之第一夾具22處，以使第一夾具22可以夾持住電容元件300。當在入料位置S1之第一夾具22夾持住電容元件300後，透過動力輸出裝置12帶動轉盤21沿一轉動方向R1移動，會使連結於轉盤21之第一夾具22帶動電容元件300自入料位置S1沿一環型路徑（圖未標示）經多個工作位置（圖未標示）移動至一出料位置S2。

轉向裝置4是固定於平台11，並對應於上述多個工作位置其中之一者，藉以在電容元件300受到第一夾具22之帶動而移動至對應於轉向裝置4之工作位置時，用以轉動電容元件300而使電容元件300之短針腳303接近轉盤21之中心，以及相對地使電容元件300之長針腳302遠離轉盤21之中心，意即使短針腳303與長針腳302在轉盤21之徑向上一內一外。

在本實施例中，在入料位置S1與對應於轉向裝置4之工作位置之間的其他工作位置實際上設置有整腳裝置、腳拉直裝置與長短腳檢測裝置等裝置，其中整腳裝置是用來將電容元件300之長針腳302與短針腳303分開，以避免長針腳302與短針腳303交疊，而腳拉直裝置是用來將長針腳302與短針腳303拉直，長短腳檢測裝置則是用來檢測長針腳302與短針腳303的內外位置；其中，由於長短腳檢測裝置是設置在轉向裝置4之前的工作位置，因此轉向裝置4可以依據長短腳檢測裝置所檢測之結果來判斷是否要將電容元件300轉向。此外，由於整腳裝置、腳拉直裝置與長短腳檢測裝置皆為現有之技術，故在此不多加贅言。

檢測裝置5是固定於平台11，並對應於上述多個工作位置其中沿轉動方向R1排列於轉向裝置4後之一者，藉以在電容元件300受到第一夾具22之帶動自對應於轉向裝置4之工作位置移動至對應於檢測裝置5之工作位置時，用以對電容元件300進行檢測；在本實施例中，檢測裝置5為一自動光學檢測裝置（Automated Optical Inspection, AOI），主要是透過照明模組對電容元件300投射光束，並利用影像擷取模組來擷取電容元件300之影像；其中，由於電容元件300之短針腳303為負極接腳，而圓柱本體301之外觀會對應於短針腳303而標示有負極符號，因此本實施例之檢測裝置5可以透過影像擷取模組由內向外擷取圓柱本體301內側之外觀影像，進而透過圓柱本體301內側之外觀影像是否有負極符號來判斷電容元件300之外觀標示與短針腳303之位置是否相符。

第一不良品排除裝置6是固定於平台11，並對應於上述多個工作位置其中沿轉動方向R1排列於檢測裝置5後之一者，藉以在電容元件300受到第一夾具22之帶動自對應於檢測裝置5之工作位置移動至對應於第一不良品排除裝置6之工作位置時，用以將檢測裝置5檢測不合格之電容元件300移除。

檢測裝置7是固定於平台11，並對應於上述多個工作位置其中沿轉動方向R1排列於第一不良品排除裝置6後之一者，藉以在電容元件300受到第一夾具22之帶動自對應於第一不良品排除裝置6之工作位置移動至對應於檢測裝置7之工作位置時，用以對電容元件300進行檢測；在本實施例中，檢測裝置7為一電性測試裝置，用以對電容元件300進行電性測試。

第二不良品排除裝置8是固定於平台11，並對應於上述多個工作位置其中沿轉動方向R1排列於檢測裝置7後之一者，藉以在電容元件300受到第一夾具22之帶動自對應於檢測裝置7之工作位置移動至對應於第二不良品排除裝置8之工作位置時，用以將檢測裝置7檢測不合格之電容元件300移除。

請一併參閱第一圖與第二圖，第二圖係顯示本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備之平面示意圖。如第一圖與第二圖所示，第二轉動組件9包含一電機元件91、一懸臂92以及一第二夾具93，電機元件91是固定於平台11，懸臂92是以一垂直於第一軸線X1之第二軸線X2為中心而可轉動地連結於電機元件91，第二夾具93是固定於懸臂92，藉以受電機元件91與懸臂92之帶動而自出料位置S2沿一弧形路徑P2移動至一鄰近於一集裝治具400之集裝位置S3；其中，集裝治具400包含一移動軌道401、一載具402以及複數個固定夾具403（圖中僅標示一個），移動軌道401是延伸至其他工作站，載具402是可移動地設置於移動軌道401上，而固定夾具403是排列設置於載具402上。

請繼續參閱第三圖與第四圖，第三圖係顯示在本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備中，利用第二轉動組件之第二夾具夾持電容元件之長針腳與短針腳之平面示意圖；第四圖係顯示在本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備中，利用第二轉動組件將電容元件夾持並移動至集裝治具之平面示意圖。如第一圖至第四圖所示，當電容元件300受到第一夾具22之帶動而移動至出料位置S2時，第二轉動組件9可以透過電機元件91與懸臂92帶動第二夾具93在出料位置S2夾取電容元件300之長針腳302與短針腳303，並進一步帶動電容元件300沿弧形路徑P2移動至集裝位置S3，以使圓柱本體301直接移動至固定夾具403之夾持空間內，並使固定夾具403可以直接夾持住圓柱本體301而露出長針腳302與短針腳303，藉此，由於每個經過電容檢測設備100所送出之電容元件300都以相同的擺放角度固定於集裝治具400，因此集裝治具400可以將多個電容元件300以一致的排列方式進到下個工作站，進而有效的提升下個工作站之作業便利性。

綜上所述，相較於先前技術之電容檢測製程是先將電容之針腳進行整理與初步檢測，然後才接著進行外觀檢測與電性測試，最後還需透過人工的方式將電容整齊的排列放置於集裝治具中，本創作利用第一轉動組件帶動複數個電容元件沿環型路徑自入料位置經複數個作業位置移動至出料位置的同時，可以完成電容元件之整理作業、外觀檢測作業與電性測試作業，然後利用第二轉動組件將電容元件自出料位置沿弧形路徑移動至集裝位置的方式，可以便利且快速的將電容元件裝填集裝治具中，且還能保持多個電容元件的針腳方向一致性，有利於電容元件進行下個測試製程。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本創作之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本創作之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本創作所欲申請之專利範圍的範疇內。

100:電容檢測設備 1:基座 11:平台 12:動力輸出裝置 2:第一轉動組件 21:轉盤 22:第一夾具 3:入料模組 31:支架 32:調整台 33:懸臂 34:移物夾爪組件 4:轉向裝置 5:檢測裝置 6:第一不良品排除裝置 7:檢測裝置 8:第二不良品排除裝置 9:第二轉動組件 91:電機元件 92:懸臂 93:第二夾具 200:送料軌道 300:電容元件 301:圓柱本體 302:長針腳 303:短針腳 400:集裝治具 401:移動軌道 402:載具 403:固定夾具 S1:入料位置 S2:出料位置 S3:集裝位置 X1:第一軸線 X2:第二軸線 R1:轉動方向 P2:弧形路徑

第一圖係顯示本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備之立體示意圖； 第二圖係顯示本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備之平面示意圖； 第三圖係顯示在本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備中，利用第二轉動組件之第二夾具夾持電容元件之長針腳與短針腳之平面示意圖；以及 第四圖係顯示在本創作較佳實施例所提供之電容檢測設備中，利用第二轉動組件將電容元件夾持並移動至集裝治具之平面示意圖。

100:電容檢測設備

1:基座

11:平台

12:動力輸出裝置

2:第一轉動組件

21:轉盤

22:第一夾具

3:入料模組

31:支架

32:調整台

33:懸臂

34:移物夾爪組件

4:轉向裝置

5:檢測裝置

6:第一不良品排除裝置

7:檢測裝置

8:第二不良品排除裝置

9:第二轉動組件

91:電機元件

92:懸臂

93:第二夾具

200:送料軌道

300:電容元件

301:圓柱本體

302:長針腳

303:短針腳

400:集裝治具

401:移動軌道

402:載具

403:固定夾具

S1:入料位置

S2:出料位置

X1:第一軸線

X2:第二軸線

R1:轉動方向

Claims (6)

1. 一種電容檢測設備，係用於帶動複數個電容元件沿一環型路徑自一入料位置經複數個作業位置移動至一出料位置，該些作業位置至少設置有一檢測裝置，該電容檢測設備包含： 一基座； 一第一轉動組件，係以一第一軸線為中心而可轉動地設置於該基座，並設有複數個第一夾具，藉以在該些電容元件透過一送料軌道輸送至該入料位置時，利用該些第一夾具夾持該些電容元件，並帶動該些電容元件依序經過該些作業位置而移動至該出料位置，且當該些電容元件經過該些作業位置其中設有該檢測裝置之一者時，該檢測裝置係對該些電容元件進行檢測；以及 一第二轉動組件，係以一垂直於該第一軸線之第二軸線為中心而可轉動地設置於該基座，並設有一第二夾具，用以在該些電容元件移動至該出料位置時，利用該第二夾具將該些電容元件自該出料位置沿一弧形路徑移動至一集裝位置，藉以使該些電容元件在該集裝位置裝填入一集裝治具。
2. 如請求項1所述之電容檢測設備，其中，該基座包含： 一平台；以及 一動力輸出裝置，係固定於該平台上，且該第一轉動組件係可轉動地設置於該動力輸出裝置，藉以使該第一轉動組件透過該動力輸出裝置之帶動而轉動。
3. 如請求項1所述之電容檢測設備，其中，該第一轉動組件更包含一轉盤，該轉盤係可轉動地設置於該基座，且該些第一夾具係以該第一軸線為中心而均勻地分散設置於該轉盤。
4. 如請求項1所述之電容檢測設備，其中，該第二轉動組件更包含一電機元件與一懸臂，該電機元件係固定於該基座，該懸臂係可轉動地連結於該電機元件，且該第二夾具係固定於該懸臂，藉以利用該電機元件與該懸臂帶動該第二夾具沿該弧形路徑往復移動。
5. 如請求項4所述之電容檢測設備，其中，該電容元件更包含一圓柱本體、一長針腳與一短針腳，該長針腳與該短針腳係分別自該圓柱本體之端面沿伸出，且該第一夾具係用以夾持該圓柱本體，該第二夾具係用以夾持該長針腳與該短針腳。
6. 如請求項1所述之電容檢測設備，更包含一入料模組，設置於該基座，並位於該入料位置，用以將該些電容元件移動至該環型路徑，以使該些第一夾具夾持固定住該些電容元件。

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