TWM597866U

TWM597866U - 微型光譜儀

Info

Publication number: TWM597866U
Application number: TW109204771U
Authority: TW
Inventors: 傅龍明
Original assignee: 國立成功大學
Priority date: 2020-04-22
Filing date: 2020-04-22
Publication date: 2020-07-01

Abstract

一種微型光譜儀，用以解決習知檢測裝置在應用範圍上受到限制而導致使用不便的問題。係包含：一殼座，該殼座內具有一容室；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組具有一檢測區，該光譜模組的一激發光源及一接收器位於該檢測區的相對兩側；一壓力控制模組，位於該檢測區上方，該壓力控制模組用以控制該檢測區的壓力；一溫控模組，位於該檢測區，該溫控模組用以控制該檢測部的溫度；及一控制模組，電性連接於該接收器、該壓力控制模組及該溫控模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。

Description

微型光譜儀

本創作係關於一種檢測裝置，尤其是一種用於晶片檢測的微型光譜儀。

習知的檢測裝置可以具有一基座，該基座內部呈中空而具有一容室，該容室的一端形成一晶片取放開口，另一端形成一結合開口，該基座另具有連通該容室的一輸氣孔；該檢測裝置還具有一氣壓控制模組及一加熱模組，該氣壓控制模組連接於該基座的輸氣孔，該氣壓控制模組用以對該容室加壓或洩壓，該加熱模組結合於一熱傳導件，該加熱模組用以提升該容室的溫度。類似於該習知的檢測裝置的一實施例已揭露於中華民國公告第I515041號專利案當中。

上述習知的檢測裝置，雖能以晶片方式對樣品進行檢測，然而，該檢測裝置無法以光線激發該樣品來檢測吸光值，在應用範圍上受到限制，導致使用不便。

有鑑於此，習知的檢測裝置確實仍有加以改善之必要。

為解決上述問題，本創作的目的是提供一種微型光譜儀，係可以將晶片檢測的各元件進行整合，可以提升使用便利性及檢測效率者。

本創作的次一目的是提供一種微型光譜儀，係可以提升檢測準確度者。

本創作的又一目的是提供一種微型光譜儀，係可以降低製造成本者。

本創作的再一目的是提供一種微型光譜儀，係可以提升組裝便利性者。

本創作全文所述方向性或其近似用語，例如「前」、「後」、「左」、「右」、「上（頂）」、「下（底）」、「內」、「外」、「側面」等，主要係參考附加圖式的方向，各方向性或其近似用語僅用以輔助說明及理解本創作的各實施例，非用以限制本創作。

本創作全文所記載的元件及構件使用「一」或「一個」之量詞，僅是為了方便使用且提供本創作範圍的通常意義；於本創作中應被解讀為包括一個或至少一個，且單一的概念也包括複數的情況，除非其明顯意指其他意思。

本創作全文所述「結合」、「組合」或「組裝」等近似用語，主要包含連接後仍可不破壞構件地分離，或是連接後使構件不可分離等型態，係本領域中具有通常知識者可以依據欲相連之構件材質或組裝需求予以選擇者。

本創作的微型光譜儀，包含：一殼座，該殼座內具有一容室；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組具有一檢測區，該光譜模組的一激發光源及一接收器位於該檢測區的相對兩側；一壓力控制模組，位於該檢測區上方，該壓力控制模組用以控制該檢測區的壓力；一溫控模組，位於該檢測區，該溫控模組用以控制該檢測部的溫度；及一控制模組，電性連接於該接收器、該壓力控制模組及該溫控模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。

據此，本創作的微型光譜儀，利用該光譜模組的激發光源及接收器位於該檢測區的相對兩側，可以由該激發光源對該檢測晶片體照射，並藉由該接收器接收該檢測晶片體產生的吸光值，以達到檢測之目的；此外，還可以利用該壓力控制模組、該溫控模組以及該觸控面板來控制壓力、溫度及進行各項操作。藉此，本創作的微型光譜儀可以將晶片檢測的各元件進行整合，以方便攜帶使用及操作，係具有可以提升使用便利性及檢測效率等功效。

其中，該殼座可以具有相對的一底板及一蓋板，該蓋板與該底板之間可以連接一環牆，該底板、該蓋板與該環牆共同圈圍出該容室。如此，該結構簡易而便於組裝，係具有提升組裝便利性的功效。

其中，該殼座可以具有一平台，該平台可以固定於該環牆的內壁面。如此，該光譜模組可以位於該平台上，係具有可以提升空間利用性的功效。

其中，該殼座可以具有一置入口，該置入口連通該容室，該置入口可以鄰接該檢測區。如此，該檢測區可以承接由該置入口所置入的一檢測晶片體，係具有提升使用便利性的功效。

其中，該檢測區可以具有一透光部，該激發光源及該接收器係分別對位於該透光部的相對兩側。如此，能夠以該檢測區的上方朝該檢測晶片體進行照光，以便該激發光源可以對該檢測晶片體產生作用，係具有提升檢測準確度的功效。

其中，該壓力控制模組可以具有一螺牙缸及一氣密鋁塊，該螺牙缸位於該氣密鋁塊上方，該氣密鋁塊對位於該檢測區，該螺牙缸與該氣密鋁塊之間可以連接一螺桿。如此，該螺牙缸可以帶動該螺桿轉動，進而使該螺桿可以帶動該氣密鋁塊相對該檢測區上升或下降，係具有提升作動順暢性的功效。

其中，該壓力控制模組可以具有至少一通氣管，各該通氣管連接該氣密鋁塊與一氣壓泵。如此，該氣壓泵可以將氣體經由各該通氣管輸送至該氣密鋁塊，以便藉由該氣壓泵來進行供氣產生壓力，係具有提升使用便利性的功效。

其中，該溫控模組可以係一加熱片。如此，係具有降低製造成本的功效。

其中，該觸控面板可以係一樹梅派7吋觸控螢幕。如此，係具有提供較佳的解析度的功效。

本創作的微型光譜儀可以另包含至少一散熱件，該至少一散熱件位於該容室。如此，該容室內的熱能係可以排出至殼座外，係具有避免該光譜模組、該壓力控制模組或該溫控模組過熱的功效。

為讓本創作之上述及其他目的、特徵及優點能更明顯易懂，下文特舉本創作之較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

請參照第1、2圖所示，其係本創作微型光譜儀的一較佳實施例，係包含一殼座1、一光譜模組2、一壓力控制模組3、一溫控模組4及一控制模組5，該光譜模組2、該壓力控制模組3、該溫控模組4及該控制模組5位於該殼座1內。

該殼座1係可以為各種幾何形狀的中空物件，在本創作中不予限制，為便於說明，以下所舉實施例係以四方形予以說明。該殼座1可以具有相對的一底板11及一蓋板12，該蓋板12與該底板11之間連接一環牆13，該底板11、該蓋板12與該環牆13則可以共同圈圍出一容室S，該容室S能夠用以容置該光譜模組2、該壓力控制模組3、該溫控模組4及該控制模組5，藉此，以避免外界光源干擾該容室S內的檢測結果。

詳言之，該殼座1可以具有一開關鈕14及一置入口15，該開關鈕14可以位於該蓋板12上，該置入口15可以位於該環牆13，該置入口15連通該容室S，使該置入口15能夠用以置入一檢測晶片體P。又，該殼座1還可以具有一平台16，該平台16位於該容室S內，該平台16能夠以鎖固、卡合、黏合或緊配合等方式固定於該環牆13的內壁面，本創作不予限制。

請參照第1、2、3圖所示，該光譜模組2位於該平台16，該光譜模組2具有一檢測區21，該檢測區21係可以鄰接於該置入口15，以使該檢測區21可以承接由該置入口15所置入的檢測晶片體P，使該檢測區21能夠用以置放該檢測晶片體P。另，該檢測區21可以具有一透光部211，該透光部211可以為一透孔，或者可以於該檢測區21上以可透光材質形成該透光部211。詳言之，該光譜模組2具有一激發光源22及一接收器23，該激發光源22及該接收器23係分別對位於該透光部211的相對兩側，該激發光源22可例如為白光、紫外光等，本創作不予限制。該激發光源22電性連接至電路板或其他供電裝置而能夠供電射出白光或紫外光，係為本領域人員可以瞭解，本創作在此不做贅述。藉此，能夠以該檢測區21的上方朝該檢測晶片體P進行照光，以便該激發光源22可以對該檢測晶片體P產生作用。

請參照第3圖所示，該壓力控制模組3位於該光譜模組2上方，該壓力控制模組3用以控制該檢測區21的壓力，該壓力控制模組3的型態，係以可順利調整該檢測區21所需的壓力為原則，本創作不加以限制。在本實施例中，該壓力控制模組3可以具有一螺牙缸31及一氣密鋁塊32，該螺牙缸31位於該氣密鋁塊32上方，該氣密鋁塊32可以對位於該檢測區21，該螺牙缸31與該氣密鋁塊32之間可以連接一螺桿33。如此，可以利用一動力件（圖未繪示）提供動力驅動該螺牙缸31轉動，使該螺牙缸31可以帶動該螺桿33轉動，進而使該螺桿33可以帶動該氣密鋁塊32相對該檢測區21上升或下降。

請參照第2、3圖所示，該壓力控制模組3還可以具有至少一通氣管34，本實施例的通氣管34係以三個來做說明，各該通氣管34可以連接該氣密鋁塊32與一氣壓泵35，該氣壓泵35可以將氣體經由各該通氣管34輸送至該氣密鋁塊32，以便藉由該氣壓泵35來進行供氣，使該氣密鋁塊32對該檢測區21產生壓力。

該溫控模組4位於該檢測區21，該溫控模組4用以控制該檢測區21的溫度，該溫控模組4的型態，係以可順利調整該檢測區21所需的溫度為原則，本創作不加以限制。在本實施例中，該溫控模組4可以係一加熱片41；該檢測晶片體P放置於該檢測區21時，藉由該加熱片41的設置，使該加熱片41可以對該檢測晶片體P加熱。

請參照第1、2圖所示，該控制模組5位於該殼座1，該控制模組5電性連接於該光譜模組2的接收器23、該壓力控制模組3及該溫控模組4。該控制模組5可以具有一觸控面板51，該觸控面板51可以位於該蓋板12上，使用者可以藉由該觸控面板51來進行各項操作（例如：設定時間、溫度或壓力），此為本創作所屬技術領域中具有通常知識者所廣泛應用，在此不加以贅述。特別說明的是，在本實施例中，該觸控面板51可以係一樹梅派7吋觸控螢幕；如此，係可以提供較佳的解析度。

請參照第2圖所示，本創作的微型光譜儀還可以另包含一至少一散熱件6，該至少一散熱件6位於該殼座1，在本實施例中，該散熱件6的數量係以三個來作說明。各該散熱件6可以為散熱鰭片或風扇，使該容室S內的熱能可以排出至殼座1外，避免該光譜模組2、該壓力控制模組3或該溫控模組4運作時產生過熱的情形。

請參照第1、2、3圖所示，欲進行檢測時，可以將該檢測晶片體P由該置入口15放置於該檢測區21，使該檢測晶片體P可以對位於該激發光源22與該接收器23之間；此時，由該激發光源22對該檢測晶片體P照射白光或紫外光，以使該檢測晶片體P產生吸光值，並可以藉由該接收器23接收該吸光值，以對該吸光值進行分析。此外，還可藉由該壓力控制模組3控制該檢測區21的壓力、藉由該溫控模組4控制該檢測區21的溫度，以及藉由該觸控面板51來進行各項操作；如此，本創作的微型光譜儀可以有助於增加使用便利性及檢測效率的作用。

綜上所述，本創作的微型光譜儀，利用該光譜模組的激發光源及接收器位於該檢測區的相對兩側，可以由該激發光源對該檢測晶片體照射，並藉由該接收器接收該檢測晶片體產生的吸光值，以達到檢測之目的；此外，還可以利用該壓力控制模組、該溫控模組以及該觸控面板來控制壓力、溫度及進行各項操作。藉此，本創作的微型光譜儀可以將晶片檢測的各元件進行整合，以方便攜帶使用及操作，係具有可以提升使用便利性及檢測效率等功效。

雖然本創作已利用上述較佳實施例揭示，然其並非用以限定本創作，任何熟習此技藝者在不脫離本創作之精神和範圍之內，相對上述實施例進行各種更動與修改仍屬本創作所保護之技術範疇，因此本創作之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

﹝本創作﹞ 1:殼座 11:底板 12:蓋板 13:環牆 14:開關鈕 15:置入口 16:平台 2:光譜模組 21:檢測區 211:透光部 22:激發光源 23:接收器 3:壓力控制模組 31:螺牙缸 32:氣密鋁塊 33:螺桿 34:通氣管 35:氣壓泵 4:溫控模組 41:加熱片 5:控制模組 51:觸控面板 6:散熱件 P:檢測晶片體 S:容室

［第1圖］本創作一較佳實施例的立體圖。［第2圖］本創作一較佳實施例的局部立體圖。［第3圖］本創作一較佳實施例光譜模組的立體圖。

1:殼座

11:底板

16:平台

2:光譜模組

21:檢測區

3:壓力控制模組

31:螺牙缸

32:氣密鋁塊

34:通氣管

35:氣壓泵

4:溫控模組

41:加熱片

6:散熱件

P:檢測晶片體

S:容室

Claims

一種微型光譜儀，包含：一殼座，該殼座內具有一容室；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組具有一檢測區，該光譜模組的一激發光源及一接收器位於該檢測區的相對兩側；一壓力控制模組，位於該檢測區上方，該壓力控制模組用以控制該檢測區的壓力；一溫控模組，位於該檢測區，該溫控模組用以控制該檢測部的溫度；及一控制模組，電性連接於該接收器、該壓力控制模組及該溫控模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該殼座具有相對的一底板及一蓋板，該蓋板與該底板之間連接一環牆，該底板、該蓋板與該環牆共同圈圍出該容室。
如請求項2之微型光譜儀，其中，該殼座具有一平台，該平台固定於該環牆的內壁面。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該殼座具有一置入口，該置入口連通該容室，該置入口鄰接該檢測區。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該檢測區具有一透光部，該激發光源及該接收器係分別對位於該透光部的相對兩側。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該壓力控制模組具有一螺牙缸及一氣密鋁塊，該螺牙缸位於該氣密鋁塊上方，該氣密鋁塊對位於該檢測區，該螺牙缸與該氣密鋁塊之間連接一螺桿。
如請求項6之微型光譜儀，其中，該壓力控制模組具有至少一通氣管，各該通氣管連接該氣密鋁塊與一氣壓泵。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該溫控模組係一加熱片。
如請求項1之微型光譜儀，其中，該觸控面板係一樹梅派7吋觸控螢幕。
如請求項1至9中任一項之微型光譜儀，另包含至少一散熱件，該至少一散熱件位於該容室。