TWI830229B - 微型檢測機及其檢測模組 - Google Patents
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Abstract
一種微型檢測機及其檢測模組，用以解決習知檢測裝置檢測不便的問題。係包含：一殼座，具有一容室；一檢測模組，位於該容室，該檢測模組具有一本體及一激發光源，該本體內容置至少一檢測晶片體，該激發光源位於該本體一側，該激發光源朝向該檢測晶片體，該檢測模組具有一激發光濾片，該激發光濾片可抽換地結合於該本體，該激發光濾片位於該檢測晶片體與該激發光源之間；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組電性連接該檢測模組；及一控制模組，電性連接於檢測模組及該光譜模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。
Description
本發明係關於一種檢測機及其檢測模組，尤其是一種微型檢測機及其檢測模組。
生化領域上，運用螢光檢測技術來進行樣品的檢測是常見的，螢光檢測是利用分析物(analyte)的某些成分會與特定的螢光染劑產生鍵結，而該螢光染劑會對光譜中特定波長有激發光(Photol uminescence)的特性，故一待測樣品照射固定強度的入射光下，量測該待測樣品的發射光譜，可進行分析該待測樣品的種類或濃度。其係將該待測樣品放置於一檢測裝置，藉由一光源通過一光柵並照射在該待測樣品上，該待測樣品吸收能量產生螢光效應，再經由一檢測器接收結果並與資料庫做比對。
然而，上述的檢測裝置是採用光柵來實現色散效果，使得檢測的波長範圍較為有限，以及，該光柵的結構較為複雜，且整體結構體積龐大而使得攜帶不便，導致須檢測之樣品需帶回實驗室才有辦法進行檢測，形成檢測不便的問題。
有鑑於此，習知的檢測裝置仍有加以改善之必要。
為解決上述問題，本發明的目的是提供一種微型檢測機，係可以依據待測試劑的波長需求不同，而更換不同的激發光濾片，可以使檢測作業順利進行者。
本發明的次一目的是提供一種微型檢測機，係可以方便攜帶使用及操作者。
本發明的又一目的是提供一種微型檢測機，係可以方便組裝者。
本發明的再一目的是提供一種微型檢測機，係可以使用便利者。
本發明全文所述方向性或其近似用語，例如「前」、「後」、「左」、「右」、「上(頂)」、「下(底)」、「內」、「外」、「側面」等，主要係參考附加圖式的方向，各方向性或其近似用語僅用以輔助說明及理解本發明的各實施例，非用以限制本發明。
本發明全文所記載的元件及構件使用「一」或「一個」之量詞，僅是為了方便使用且提供本發明範圍的通常意義；於本發明中應被解讀為包括一個或至少一個，且單一的概念也包括複數的情況，除非其明顯意指其他意思。
本發明全文所述「結合」、「組合」或「組裝」等近似用語，主要包含連接後仍可不破壞構件地分離，或是連接後使構件不可分離等型態，係本領域中具有通常知識者可以依據欲相連之構件材質或組裝需求予以選擇者。
本發明的微型檢測機，包含：一殼座，具有一容室；一檢測模組，位於該容室，該檢測模組具有一本體及一激發光源，該本體內容置至少一檢測晶片體，該本體具有相疊合的一第一板體、一第二板體及一第三板體，
該第二板體位於該第一板體與該第三板體之間，該檢測晶片體結合於該第一板體，該本體具有一遮蓋板及一固定板，該遮蓋板結合於該第一板體上方，該遮蓋板遮蓋該檢測晶片體，該激發光源位於該本體一側，該激發光源朝向該檢測晶片體，該檢測模組具有一激發光濾片，該激發光濾片可抽換地結合於該本體，該激發光濾片位於該檢測晶片體與該激發光源之間，該檢測模組具有一聚光件，該聚光件位於該激發光源與該激發光濾片之間，該聚光件具有一通孔，該通孔供該激發光源的光通過；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組電性連接該檢測模組；及一控制模組，電性連接於檢測模組及該光譜模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。
本發明的檢測模組，包含：一本體，該本體內容置至少一檢測晶片體，該本體具有相疊合的一第一板體、一第二板體及一第三板體，該第二板體位於該第一板體與該第三板體之間，該檢測晶片體結合於該第一板體，該本體具有一遮蓋板及一固定板，該遮蓋板結合於該第一板體上方，該遮蓋板遮蓋該檢測晶片體；一激發光源，位於該本體一側，該激發光源朝向該檢測晶片體；一激發光濾片，可抽換地結合於該本體，該激發光濾片位於該檢測晶片體與該激發光源之間；及一聚光件，該聚光件位於該激發光源與該激發光濾片之間，該聚光件具有一通孔，該通孔供該激發光源的光通過。
據此，本發明的微型檢測機及其檢測模組，藉由該激發光濾片可抽換地結合於該本體，可以依據待測試劑的波長需求不同，而更換不同的激發光濾片，使該檢測作業可以順利進行，以及，本發明的微型檢測機還可以將檢測的各元件整合於該容室內，係可以方便攜帶使用及操作，如此，係具有方便檢測的功效。又，該聚光件可以使該激發光源形成集中束，係具有避免照射強度分散的功效。此外，該檢測晶片體可以隔絕其他光源，係具有可以順利進行檢測的功效。
其中，該殼座可以具有相對的一底板及一蓋板，該蓋板與該底板之間連接一環牆，該底板、該蓋板與該環牆可以共同圈圍出該容室。如此，該結構簡易而便於組裝，係具有方便組裝的功效。
其中，該環牆可以具有一開口槽，該開口槽連通該容室與該殼座外部。如此，該檢測晶片體可以由該開口槽置入於該容室，係具有使用便利的功效。
本發明的微型檢測機可以另包含至少一散熱件，該至少一散熱件位於該容室。如此，該容室內的熱能可以排出至該殼座外，係具有避免該檢測模組或該光譜模組運作時產生過熱情形的功效。
其中，該激發光濾片可以具有一透光部，該透光部對位於該檢測晶片體與該激發光源。如此，該激發光源係可以經由該透光部朝該檢測晶片體進行照光的功效。
本發明的檢測模組可以另包含一散射光濾片，該散射光濾片位於該檢測晶片體下方。如此，該激發光源的光係可以濾得更乾淨的功效。
本發明的檢測模組可以另包含一接頭，該接頭結合於該本體的下方。如此，該接頭係可以連接一傳輸線，該傳輸線係可以將該檢測模組的檢測資訊傳送至該光譜模組，係具有使用便利的功效。
〔本發明〕
1:殼座
11:底板
12:蓋板
13:環牆
14:開口槽
2:檢測模組
21:本體
21a:第一板體
21b:第二板體
21c:第三板體
21d:遮蓋板
21e:固定板
22:激發光源
23:激發光濾片
231:透光部
24:聚光件
241:通孔
25:散射光濾片
251:濾光部
26:接頭
3:光譜模組
4:控制模組
41:觸控面板
5:散熱件
L:傳輸線
M:承接口
N:結合口
P:檢測晶片體
P1:反應區
S:容室
〔第1圖〕本發明一較佳實施例的分解立體圖。
〔第2圖〕本發明一較佳實施例的組合立體圖。
〔第3圖〕本發明一較佳實施例檢測模組的分解立體圖。
〔第4圖〕本發明一較佳實施例檢測模組的組合剖面圖。
為讓本發明之上述及其他目的、特徵及優點能更明顯易懂，下文特舉本發明之較佳實施例，並配合所附圖式作詳細說明；此外，在不同圖式中標示相同符號者視為相同，會省略其說明。
請參照第2圖所示，其係本發明微型檢測機的一較佳實施例，係包含一殼座1、一檢測模組2、一光譜模組3及一控制模組4，該檢測模組2、該光譜模組3及該控制模組4位於該殼座1內。
請參照第1、2圖所示，該殼座1係可以為各種幾何形狀的中空物件，在本發明中不予限制，在本實施例中，該殼座1可以具有相對的一底板11及一蓋板12，該蓋板12與該底板11之間連接一環牆13，該底板11、該蓋板12與該環牆13則可以共同圈圍出一容室S，該容室S能夠用以容置該檢測模組2、該光譜模組3、該電力模組4及該控制模組4，藉此，以避免外界光源干擾該容室S內的檢測結果。此外，該環牆13可以具有一開口槽14，該開口槽14可以連通該容室S與該殼座1外部。
該檢測模組2位於該容室S，該檢測模組2具有一本體21，該本體21內容置至少一檢測晶片體P，該本體21可以具有一承接口M，該承接口M可以對位該開口槽14，該承接口M可以承接由該開口槽14所置入的檢測晶片體P，使該本體21能夠用以置放該檢測晶片體P，該本體21還可以具有一結合口N，該結合口N的開口朝向該蓋板12。
請參照第3、4圖所示，特別說明的是，該本體21的型態，本發明不加以限制，在本實施例中，該本體21可以具有相疊合的一第一板體21a、一第二板體21b及一第三板體21c，該第二板體21b位於該第一板體21a與該第三板體21c之間，該檢測晶片體P可以結合於該第一板體21a，該本體
21可以具有一遮蓋板21d及一固定板21e，該遮蓋板21d結合於該第一板體21a上方，該遮蓋板21d可以遮蓋該檢測晶片體P，該固定板21e結合於該第三板體21c下方。
該檢測模組2具有一激發光源22，該激發光源22位於該本體21一側，該激發光源22可以朝向該本體21，該激發光源22可以對位該第一板體21a，使該激發光源22可以朝該檢測晶片體P照射，該激發光源22可例如為白光、紫外光等，本發明不予限制，該激發光源22電性連接至電路板或其他供電裝置而能夠供電射出白光或紫外光，係為本領域人員可以瞭解，本發明在此不做贅述。
該檢測模組2具有一激發光濾片23，該激發光濾片23可抽換地結合於該本體21的結合口N，該激發光濾片23位於該檢測晶片體P與該激發光源22之間，該激發光濾片23可以具有一透光部231，該透光部231對位於該檢測晶片體P與該激發光源22，該透光部231可以為一透孔，或者可以於該激發光濾片23上以可透光材質形成該透光部231，藉此能夠使該激發光源22可以經由該透光部231朝該檢測晶片體P進行照光。較佳地，該檢測模組2可以具有一聚光件24，該聚光件24可以位於該激發光源22與該激發光濾片23之間，該聚光件24可以具有一通孔241，該通孔241可以供該激發光源22的光通過，係可以進一步地使該激發光源22形成集中束，具有避免照射強度分散的作用。
此外，該檢測模組2可以具有一散射光濾片25，該激發光濾片23可以結合於該本體21的第三板體21c，該散射光濾片25可以位於該檢測晶片體P下方，該散射光濾片25可以具有一濾光部251，該濾光部251可以對位於該檢測晶片體P，使該激發光源22的光可以濾得更乾淨。又，該檢測模組2還可以具有一接頭26，該接頭26可以結合於該本體的21固定板
21e下方，該接頭26可以連接一傳輸線L，並藉由該傳輸線L將該檢測模組2的檢測資訊傳送至該光譜模組3。
請參照第2圖所示，該光譜模組3位於該容室S，該光譜模組3可以電性連接該檢測模組2，該光譜模組3可以接收該檢測模組2的檢測資訊，該光譜模組3可以具有一資料庫31，該資料庫31可用以儲存不同種類生物或非生物的影像資訊或拉曼光譜型態，以對該檢測資訊進行比對或分析。
請參照第1、2圖所示，該控制模組4電性連接於檢測模組2及該光譜模組3，該控制模組4可以具有一觸控面板41，該觸控面板41可以位於該殼座1的外表面，在本實施例中，該觸控面板41係位於該蓋板12上，使用者可以藉由該觸控面板41來進行各項操作(例如：設定時間、檢測模式或波長)，此為本發明所屬技術領域中具有通常知識者所熟知，在此不加以贅述。特別說明的是，在本實施例中，該觸控面板41可以係一樹梅派7吋觸控螢幕；如此，係可以提供較佳的解析度。
請參照第2圖所示，本發明的微型檢測機還可以另包含至少一散熱件5，該至少一散熱件5位於該容室S，在本實施例中，該散熱件5的數量係為兩個。各該散熱件5可以為散熱鰭片或風扇，使該容室S內的熱能可以被排除，如此，可以避免該檢測模組2或該光譜模組3運作時產生過熱的情形。
請參照第1、3、4圖所示，欲進行檢測時，係將少量的待測試劑滴落於該檢測晶片體P的一反應區P1後，再使該檢測晶片體P經由該開口槽14及該承接口M放置於該檢測模組2的本體21內；此時，該激發光源22可以通過該激發光濾片的透光部231並側向照射在該待測試劑上，該待測試劑吸收能量產生螢光效應，接著，藉由該傳輸線L將該檢測模組2的檢測資訊傳送至該光譜模組3，該光譜模組3可以對該檢測資訊進行比對或分析結
果，並將該比對或分析結果傳送至該觸控面板41，以便使用者可以藉由該觸控面板41查看比對或分析結果。其中，藉由該激發光濾片23可抽換地結合於該本體21，係可以依據該待測試劑的波長需求不同，而更換不同的激發光濾片23，以及，本發明的微型檢測機還可以將檢測的各元件整合於該容室S內，以方便攜帶使用及操作。
綜上所述，本發明的微型檢測機及其檢測模組，藉由該激發光濾片可抽換地結合於該本體，可以依據待測試劑的波長需求不同，而更換不同的激發光濾片，使該檢測作業可以順利進行，以及，本發明的微型檢測機還可以將檢測的各元件整合於該容室內，係可以方便攜帶使用及操作，如此，係具有方便檢測的功效。
雖然本發明已利用上述較佳實施例揭示，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者在不脫離本發明之精神和範圍之內，相對上述實施例進行各種更動與修改仍屬本發明所保護之技術範疇，因此本發明之保護範圍當包含後附之申請專利範圍所記載的文義及均等範圍內之所有變更。
2:檢測模組
21:本體
21a:第一板體
21b:第二板體
21c:第三板體
21d:遮蓋板
21e:固定板
22:激發光源
23:激發光濾片
231:透光部
24:聚光件
241:通孔
25:散射光濾片
251:濾光部
26:接頭
L:傳輸線
M:承接口
N:結合口
P:檢測晶片體
P1:反應區
Claims (8)
- 一種微型檢測機，包含：一殼座，具有一容室；一檢測模組，位於該容室，該檢測模組具有一本體及一激發光源，該本體內容置至少一檢測晶片體，該本體具有相疊合的一第一板體、一第二板體及一第三板體，該第二板體位於該第一板體與該第三板體之間，該檢測晶片體結合於該第一板體，該本體具有一遮蓋板及一固定板，該遮蓋板結合於該第一板體上方，該遮蓋板遮蓋該檢測晶片體，該激發光源位於該本體一側，該激發光源朝向該檢測晶片體，該檢測模組具有一激發光濾片，該激發光濾片可抽換地結合於該本體，該激發光濾片位於該檢測晶片體與該激發光源之間，該檢測模組具有一聚光件，該聚光件位於該激發光源與該激發光濾片之間，該聚光件具有一通孔，該通孔供該激發光源的光通過；一光譜模組，位於該容室，該光譜模組電性連接該檢測模組；及一控制模組，電性連接於檢測模組及該光譜模組，該控制模組具有一觸控面板，該觸控面板位於該殼座外表面。
- 如請求項1之微型檢測機，其中，該殼座具有相對的一底板及一蓋板，該蓋板與該底板之間連接一環牆，該底板、該蓋板與該環牆共同圈圍出該容室。
- 如請求項2之微型檢測機，其中，該環牆具有一開口槽，該開口槽連通該容室與該殼座外部。
- 如請求項1之微型檢測機，另包含至少一散熱件，該至少一散熱件位於該容室。
- 一種檢測模組，包含：一本體，該本體內容置至少一檢測晶片體，該本體具有相疊合的一第一板 體、一第二板體及一第三板體，該第二板體位於該第一板體與該第三板體之間，該檢測晶片體結合於該第一板體，該本體具有一遮蓋板及一固定板，該遮蓋板結合於該第一板體上方，該遮蓋板遮蓋該檢測晶片體；一激發光源，位於該本體一側，該激發光源朝向該檢測晶片體；一激發光濾片，可抽換地結合於該本體，該激發光濾片位於該檢測晶片體與該激發光源之間；及一聚光件，該聚光件位於該激發光源與該激發光濾片之間，該聚光件具有一通孔，該通孔供該激發光源的光通過。
- 如請求項5之檢測模組，其中，該激發光濾片具有一透光部，該透光部對位於該檢測晶片體與該激發光源。
- 如請求項5之檢測模組，另包含一散射光濾片，該散射光濾片位於該檢測晶片體下方。
- 如請求項5之檢測模組，另包含一接頭，該接頭結合於該本體的下方。
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2022
- 2022-05-11 TW TW111118400A patent/TWI830229B/zh active
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