TWM591168U - 檢測裝置 - Google Patents

Abstract

一種檢測裝置，包含一轉動單元，及至少一連接單元。該轉動單元包括一轉盤，及複數開設於該轉盤周緣之承載槽，其中，該轉盤具有一遠離地面之第一面，及一靠近地面之第二面，該承載槽供承載一電子元件並受該轉盤帶動而轉動，該至少一連接單元包括一基座、一與該基座一端連接之延伸座，及一與該基座之另一端連接的檢測座，其中，該檢測座與該轉盤之第二面連接。

Description

檢測裝置

本新型是有關一種檢測裝置，特別是指一種適用於對複數電子元件進行電性檢測之檢測裝置。

隨著電子產品發展日漸蓬勃，為維持產品品質的穩定，需針對所生產之電子元件進行缺陷檢測，以根據檢測之結果來分析造成這些缺陷之原因並進一步掌握，達到提升電子元件製程良率以及可靠度之目的。

對待測之電子元件進行檢測時，電子元件會連接至量測儀器，以將驅動訊號產生的回饋訊號傳送至量測的儀器。以四線式量測來說，需在每一待測物之兩端各接觸二支探針組，目前四端點感測是以個別獨立的四個線軌來帶動四個測片，以連接待測物進行量測，雖可減去驅動端子傳輸驅動訊號帶來的電壓降，以增加量測上的精確度，但實際使用時，僅設置單一的檢測元件，無法同時對複數電子零件進行檢測。

上述缺點都顯現習知電子元件於進行檢測過程所衍生的種種問題，是故現有技術確實有待提出更佳解決方案之必要性。

有鑑於此，本新型之目的，是提供一種檢測裝置，包含一轉動單元，及至少一連接單元。

該轉動單元包括一轉盤，及複數開設於該轉盤周緣之承載槽，其中，該轉盤具有一遠離地面之第一面，及一靠近地面之第二面，該承載槽供承載一電子元件 並受該轉盤帶動而轉動，該至少一連接單元包括一基座、一與該基座一端連接之延伸座，及一與該基座之另一端連接的檢測座，其中，該檢測座與該轉盤之第二面連接。

較佳者，更包含一位於該轉動單元與該至少一連接單元間之固定單元，其包括一固定座，及複數開設於該固定座上之連接口，該檢測座是穿過該連接口而與該轉盤之第二面連接。

較佳者，該檢測座具有一連接支架、一沿該連接支架向外延伸之延伸壁，及一沿該延伸壁向外垂直延伸之連接壁，該連接壁與該轉盤之第二面連接。

較佳者，該連接單元的數量為五個。

較佳者，該五連接單元間隔設置於該轉盤之第二面。

較佳者，該檢測座更具有一開設於該連接壁上之開口，及一設置於該開口之檢測片。

本新型之另一目的，是提供一種檢測裝置，包含一轉動單元、至少一連接單元，及一固定單元。

該轉動單元包括一轉盤，及複數開設於該轉盤周緣之承載槽，其中，該轉盤具有一遠離地面之第一面，及一靠近地面之第二面，該承載槽供承載一電子元件並受該轉盤帶動而轉動，該至少一連接單元，包括一基座、一與該基座一端連接之延伸座，及一與該基座之另一端連接的檢測座，其中，該檢測座與該轉盤之第二面連接，且該連接單元的數量為五個，該固定單元位於該轉動單元與該至少一連接單元間，其包括一固定座，及複數開設於該固定座上之連接口，該檢測座是穿過該連接口而與該轉盤之第二面連接。

較佳者，該五連接單元間隔設置於該轉盤之第二面上。

較佳者，該固定單元更包括一開設於該固 定座上且位於該轉盤一側的傳送軌道，該電子元件自該傳送軌道進入該轉盤之承載槽，再由該轉盤帶動而轉動。

本新型之有益功效在於，藉由該複數連接單元設計，可同時對複數個電子元件進行檢測，以提升作業效率，進一步地，在每一連接單元上裝設檢測不同屬性、尺寸或類型之電子元件的檢測組，除了可減少更換檢測元件的時間，更可提升機台之共用性。

1‧‧‧轉動單元

11‧‧‧轉盤

111‧‧‧第一面

112‧‧‧第二面

12‧‧‧承載槽

2‧‧‧連接單元

21‧‧‧基座

22‧‧‧延伸座

23‧‧‧檢測座

231‧‧‧連接支架

232‧‧‧延伸壁

233‧‧‧連接壁

234‧‧‧開口

235‧‧‧檢測片

3‧‧‧固定單元

31‧‧‧固定座

32‧‧‧連接口

33‧‧‧傳送軌道

4‧‧‧檢測組

圖1是一立體示意圖，說明本新型檢測裝置的較佳實施例；圖2是一立體示意圖，說明該較佳實施例中一轉動單元與至少一連接單元之連接態樣；圖3是一立體示意圖，說明該較佳實施例之另一視角態樣；及圖4是一立體示意圖，說明該較佳實施例中該連接單元上裝設一檢測組之態樣。

有關本新型之相關申請專利特色與技術內容，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。

參閱圖1、2，及3，為本新型檢測裝置之較佳實施例，包含一轉動單元1、至少一連接單元2，及一固定單元3。

該轉動單元1包括一轉盤11，及複數開設於該轉盤11周緣之承載槽12，其中，該轉盤11具有一遠離地面之第一面111，及一靠近地面之第二面112，該承載槽12供承載一電子元件並受該轉盤11帶動而轉動。

該至少一連接單元2包括一基座21、一與 該基座21一端連接之延伸座22，及一與該基座21之另一端連接的檢測座23，其中，該檢測座23與該轉盤11之第二面112連接。

配合參閱圖4，實際實施時，該基座21與該延伸座22上會裝設一檢測組4，且該檢測組4上設置有至少一測片，用以對該電子元件進行電性檢測之用，藉由該連接單元2之設置，可增加該檢測組4進行檢測作業之穩定性。

較佳地，該連接單元2的數量為五個，且該五連接單元2間隔設置於該轉盤11之第二面112。透過該複數連接單元2之設置，可同時對複數個電子元件進行檢測，以提升作業效率。

進一步地，亦可在每一連接單元2上裝設檢測不同屬性、尺寸或類型之電子元件的檢測組4，除了可減少更換檢測組件的時間，更可提升機台之共用性。

該檢測座23具有一連接支架231、一沿該連接支架231向外延伸之延伸壁232、一沿該延伸壁232向外垂直延伸之連接壁233、一開設於該連接壁233上之開口234，及一設置於該開口234之檢測片235。

其中，該連接壁233與該轉盤11之第二面112連接，而該開口234與該轉盤11之承載槽12對向連接，實際實施時，該檢測片235上開設有複數檢測穿孔，該檢測組4之測片自該複數檢測穿孔向外凸伸，用以檢測該複數電子元件之電性。

該固定單元3位於該轉動單元1與該至少一連接單元2間，其包括一固定座31、複數開設於該固定座31上之連接口32，及，一開設於該固定座31上且位於該轉11盤一側的傳送軌道31。

該檢測座23是穿過該連接口32而與該轉盤11之第二面112連接，而該電子元件自該傳送軌道31 進入該轉盤11之承載槽12，其移動方向如圖1之固定座31上的箭頭方向，之後該電子元件再由該轉盤11帶動而轉動。

綜上所述，本新型檢測裝置，藉以該轉動單元1、該至少一連接單元2，及該固定單元3間相互設置，透過該複數連接單元2之設置，可同時對複數個電子元件進行檢測，以提升作業效率，進一步地，在每一連接單元2上裝設檢測不同屬性、尺寸或類型之電子元件的檢測組4，除了可減少更換檢測元件的時間，更可提升機台之共用性，再者，藉由該連接單元2之設置，可增加該檢測組4檢測作業之穩定性，故確實可以達成本新型之目的。

惟以上所述者，僅為本新型之較佳實施例而已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

1‧‧‧轉動單元

11‧‧‧轉盤

111‧‧‧第一面

112‧‧‧第二面

12‧‧‧承載槽

2‧‧‧連接單元

21‧‧‧基座

22‧‧‧延伸座

23‧‧‧檢測座

231‧‧‧連接支架

232‧‧‧延伸壁

233‧‧‧連接壁

234‧‧‧開口

235‧‧‧檢測片

Claims (9)

1. 一種檢測裝置，包含：一轉動單元，包括一轉盤，及複數開設於該轉盤周緣之承載槽，其中，該轉盤具有一遠離地面之第一面，及一靠近地面之第二面，該承載槽供承載一電子元件並受該轉盤帶動而轉動；及至少一連接單元，包括一基座、一與該基座一端連接之延伸座，及一與該基座之另一端連接的檢測座，其中，該檢測座與該轉盤之第二面連接。
2. 依據申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，更包含一位於該轉動單元與該至少一連接單元間之固定單元，其包括一固定座，及複數開設於該固定座上之連接口，該檢測座是穿過該連接口而與該轉盤之第二面連接。
3. 依據申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中，該檢測座具有一連接支架、一沿該連接支架向外延伸之延伸壁，及一沿該延伸壁向外垂直延伸之連接壁，該連接壁與該轉盤之第二面連接。
4. 依據申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中，該連接單元的數量為五個。
5. 依據申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中，該五連接單元間隔設置於該轉盤之第二面。
6. 依據申請專利範圍第5項所述之檢測裝置，其中，該檢測座更具有一開設於該連接壁上之開口，及一設置於該 開口之檢測片。
7. 一種檢測裝置，包含：一轉動單元，包括一轉盤，及複數開設於該轉盤周緣之承載槽，其中，該轉盤具有一遠離地面之第一面，及一靠近地面之第二面，該承載槽供承載一電子元件並受該轉盤帶動而轉動；至少一連接單元，包括一基座、一與該基座一端連接之延伸座，及一與該基座之另一端連接的檢測座，其中，該檢測座與該轉盤之第二面連接，且該連接單元的數量為五個；及一位於該轉動單元與該至少一連接單元間之固定單元，其包括一固定座，及複數開設於該固定座上之連接口，該檢測座是穿過該連接口而與該轉盤之第二面連接。
8. 依據申請專利範圍第7項所述之檢測裝置，其中，該五連接單元間隔設置於該轉盤之第二面上。
9. 依據申請專利範圍第8項所述之檢測裝置，其中，該固定單元更包括一開設於該固定座上且位於該轉盤一側的傳送軌道，該電子元件自該傳送軌道進入該轉盤之承載槽，再由該轉盤帶動而轉動。

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