TWM517819U - 分料模組 - Google Patents

Description

分料模組

本創作係有關於電子元件外觀檢測裝置的分料模組，尤其是能夠提升外觀檢測裝置檢測準確率的分料模組。

現有的電子元件外觀檢測裝置一般是藉由震動盤將電子元件整列後，排列至一旋轉盤上，旋轉盤將電子元件輸送至鏡頭前取像以供檢測外觀，再藉由一取料機構依據檢測結果分類收集。現有技術存在下述之缺點需要改善。

現有的取料機構多是藉由電磁閥驅動作動，當電磁閥頻繁作動時會致使電磁閥壽命時間縮短，其老化而使取料機構將電子元件分類錯誤。電子元件分類錯誤會嚴重影響檢測的準確率。

有鑑於此，本創作人遂針對上述現有技術，特潛心研究並配合學理的運用，盡力解決上述之問題點，即成為本創作人改良之目標。

本創作提供一種能夠提升外觀檢測裝置檢測準確率的分料模組。

本創作提供一種分料模組，設置在一外觀檢測裝置的一基座，外觀檢測裝置包含用以檢測電子元件的一檢測模組，其包含一輸送機構、至少三組取料機構及一控制器。輸送機構用以輸送電子元件。取料機構沿電子元件的 輸送方向排列分別用以取下輸送機構上不良、合格以及其他的電子元件。控制器分別電性連接各取料機構藉以依據檢測模組的檢測結果驅動各取料機構取下輸送機構上對應的電子元件。其中沿輸送機構的輸送方向上，用以取下不良的電子元件的取料機構排列於最先，接續排列用以取下合格的電子元件的取料機構，用以取下其他的電子元件的取料機構排列於最後。

將作動頻率低的取料機構排列於先能夠避免因取料機構老化而將非對應的電子元件取下，因此能夠確保檢測的準確率。

1‧‧‧外觀檢測裝置

10‧‧‧基座

20‧‧‧檢測模組

21‧‧‧攝影鏡頭

22‧‧‧反射鏡

23‧‧‧直立滑軌

100‧‧‧輸送機構

110‧‧‧感測器

120‧‧‧旋轉盤

130‧‧‧馬達

131‧‧‧驅動軸

140‧‧‧靜電刷

200‧‧‧供料機構

210‧‧‧震動盤

211‧‧‧整列軌道

220‧‧‧儲料桶

221‧‧‧供料道

230‧‧‧下料軌道

300a/300b/300c/300d‧‧‧取料機構

310‧‧‧集料盒

311‧‧‧活動緩衝擋板

320‧‧‧吹嘴

321‧‧‧電磁閥

322‧‧‧樞轉軸

D‧‧‧輸送方向

圖1係本創作較佳實施例之分料模組之一立體配置示意圖。

圖2係本創作較佳實施例之分料模組之另一立體配置示意圖。

圖3係本創作較佳實施例之分料模組之俯視配置示意圖。

圖4係本創作較佳實施例之分料模組之一立體示意圖。

圖5係本創作較佳實施例之分料模組之另一立體示意圖。

參閱圖1至圖4，本創作之較佳實施例提供一種分料模組，其設置在一外觀檢測裝置1的基座10上，此基座10上還設置有至少一檢測模組20，藉此檢測複數電子元件(圖中未示)。

於本實施例中，本創作的分料模組包含有一輸送機構100、一供料機構200、一感測器110、一控制器(圖中未示)以及至少三組取料機構300a/300c/300d。

輸送機構100設置在基座10上，於本實施例中，輸送機構100包含有一旋轉盤120、一馬達130、一角度編碼器(圖中未示)以及一靜電刷140。於本實施例中，馬達130較佳地是直驅式馬達(Direct Drive Motor,DD motor)，馬達130設置於基座10上且其驅動軸131為直立配置。於本實施例中，旋轉盤120為玻璃製的圓環狀透明盤，旋轉盤120呈水平配置而且動力連接馬達130，旋轉盤120的圓心配置馬達130的驅動軸131延伸線上，旋轉盤120藉此能夠被馬達130驅動而水平自轉。角度編碼器內建有圓形角度座標，角度編碼器電性連接馬達130而能夠取得旋轉盤120(或馬達130)的角度位置。靜電刷140設置在基座10且靜電刷140接觸旋轉盤120，當旋轉盤120旋轉時能夠與靜電刷140相互摩擦而使旋轉盤120上產生正電荷。

供料機構200設置在基座10上，其包含有一震動盤210、一儲料桶220以及一去靜電風扇(圖中未示)。於本實施例中，震動盤210及儲料桶220較佳地皆設置於基座10。儲料桶220用以容納待檢測的電子元件(圖中未示)，儲料桶220具有一供料道221藉以送出儲料桶220內的電子元件，供料道221朝向震動盤210內配置而能夠將電子元件投入震動盤210內。但本創作不限定儲料桶220設置於基座10，例如儲料桶220可以附設在震動盤210的上方且儲料桶220的供料道221朝向震動盤210內配置。震動盤210內形成有一整列軌道211，投入震動盤210內的電子元件落入整列軌道211之中並且被震動盤210震動而一列排列於整列軌道211之中。去靜電風扇之出風方向朝向震動盤210配置，電子元件多為環氧樹脂(Epoxy)封裝，因此容易帶有負電荷，去靜電風扇能夠去除震動盤210內電子元件所帶的負電荷。整列軌道211延伸出與其相連接的一下料軌道230，完成整列的電子元件被送入下料軌道230，不帶電荷的電子元件通過下料軌道230時與下料軌道230摩 擦，因此當電子元件被輸送到達下料軌道230的末端時其已帶有少許的負電荷。下料軌道230的末端延伸至旋轉盤120之上方，下料軌道230較佳地沿著旋轉盤120的旋轉方向之切線方向配置，旋轉盤120旋轉時電子元件被從下料軌道230的末端一一投下至旋轉盤120上，帶有負電荷的子元件能夠被帶有正電荷的旋轉盤120吸附固定而且電子元件隨旋轉盤120旋轉而被沿圓環形的路徑輸送。

於本實施例中，感測器110較佳地為遮斷式光學感測器110，感測器110設置在基座10上，其對應旋轉盤120配置而能夠產生貫穿旋轉盤120的光束。感測器110較佳地與下料軌道230的末端相鄰配置，而且沿著旋轉盤120的旋轉方向上下料軌道230的末端排列在感測器110之前，旋轉盤120旋轉時先接收下料軌道230投入下電子元件，電子元件再被旋轉盤120輸送通過感測器110而將感測器110產生的光束遮斷。

檢測模組20設置於基座10上，而且檢測模組20環繞旋轉盤120配置。各檢測模組20分別依據不同的取像角度而沿不同的角度鄰近旋轉盤120配置。各檢測模組20分別包含一攝影鏡頭21，攝影鏡頭21可以直接朝向旋轉盤120配置。檢測模組20也可以視需求而更包含一反射鏡22，攝影鏡頭21朝向反射鏡22配置，且反射鏡22對應旋轉盤120配置藉以反映旋轉盤120上的承載的電子元件以供攝影鏡頭21擷取電子元件的影像。檢測模組20可以包含一直立滑軌23，直立滑軌23直立配置，其縱向平行於旋轉盤120的正向，且各直立滑軌23上可滑動地設置一個攝影鏡頭21。

控制器電性連接編碼器以及各檢測模組20，而且各檢測模組20的取像位置依據角度編碼器之座標預先建立在控制器中，旋轉盤120的旋轉速度同樣預先建立在控制器中。就單一電子元件而言，當電子元件通過感測器110時，感 測器110能夠觸發控制器自角度編碼器取得馬達130當時所在的角度位置，藉此定義此電子元件行經路徑的原點。控制器依據此電子元件行經路徑的原點以及旋轉盤120的旋轉速度能夠推算此電子元件到達各檢測模組20的取像位置之時間點，因此控制器在該些時間點驅動對應的檢測模組20擷取此電子元件各視角的影像，並且控制器能夠依據取得的影像與預建於控制器內的參考影像比對來判定此電子元件之外觀是否合格。

於本實施例中包含有四組取料機構300a/300b/300c/300d，其中二組取料機構300a/300b用以取下輸送機構上經檢測為不良的電子元件，另外二組料機構300c/300d分別用以取下輸送機構上經檢測為合格以及其他的電子元件。該些取料機構300a/300b/300c/300d沿電子元件的輸送方向D排列，用以取下不良的電子元件的二組取料機構300a/300b排列於最先，接續排列用以取下合格電子元件的取料機構300c，用以取下其他的電子元件的取料機構300d排列於最後。

各取料機構300a/300b/300c/300d分別包含設置在基座10上的集料盒310以及對應此集料盒310的吹嘴320，吹嘴320朝向相對應的集料盒310配置且旋轉盤120介於吹嘴320與相對應的集料盒310之間。各取料機構300a/300b/300c/300d的吹嘴320之位置依據角度編碼器之座標預先建立在控制器中，各吹嘴320分別連接一可調整壓力之穩定正壓氣源，且各吹嘴320上分別設置有一電磁閥321。各電磁閥321分別電性連接控制器，因此控制器能夠藉由電磁閥321控制各吹嘴320吹氣之時間點，控制器藉此能夠依據各電子元件的判定結果將各電子元件分別吹入對應的集料盒310中。各集料盒310內分別設有一活動緩衝擋板311，且各吹嘴320分別朝向相對應的集料盒310內的活動緩衝擋板311配置，當吹嘴320將旋轉盤120上的電子元件吹入對應的集料盒310時，電子元件先撞擊活動緩衝擋板311而 減速，而後再落入集料盒310底部，因此能夠避免電子元件高速撞擊集料盒310內壁而損壞。緩衝擋板可以是一軟板或者是樞設在集料盒310內的硬板，本創作不以此為限。

各吹嘴320分別藉由一樞轉軸322可樞轉地連接基座10，而且各樞轉軸322與旋轉盤120相互平行配置，因此各吹嘴320皆能夠向上翻轉而自旋轉盤120上退開。

由於電子元件的尺寸微小，檢測模組20及分料吹嘴320皆必需要精確定位，特別是在旋轉盤120的旋轉方向上。旋轉盤120在輸送電子元件的過程中會磨損，其屬於耗材，本創作的各吹嘴320能夠向上翻轉退讓，檢測模組20的鏡頭310則能夠沿直立滑軌23向上退讓，藉此退讓出空間以便於更換旋轉盤120，向上翻轉時不會造成在旋轉盤120旋轉方向上的位移，因此當更換完旋轉盤120後，檢測模組20及分料吹嘴320能夠翻轉歸位，且不需再重新對於旋轉盤120的旋轉方向校正定位，能夠減少維護耗時。

在一般的情況下，複數電子元件之中，經檢測後為合格的電子元件佔多數，而經檢測後為不良或其他的電子元件佔少數。因此，用以取下合格的電子元件的取料機構300c其電磁閥之作動頻率遠高於其他的取料機構300a/300b/300d。作動頻繁的電磁閥壽命時間較短，當其老化之後作動不精確致使將電子元件吹入非對應的集料盒310內而使得檢測準確率下降。用以取下不良的電子元件的取料機構300a/300b其電磁閥之作動頻率低，本創作中將此取料機構300a/300b排列於先能夠優先排除不良的電子元件，藉此避免不良電子元件被吹入收集合格的電子元件的集料盒310內，因此能夠確保檢測的準確率。

以上所述僅為本創作之較佳實施例，非用以限定本創作之專利範圍，其他運用本創作之專利精神之等效變化，均應俱屬本創作之專利範圍。

1‧‧‧外觀檢測裝置

10‧‧‧基座

20‧‧‧檢測模組

21‧‧‧攝影鏡頭

22‧‧‧反射鏡

23‧‧‧直立滑軌

100‧‧‧輸送機構

110‧‧‧感測器

120‧‧‧旋轉盤

130‧‧‧馬達

131‧‧‧驅動軸

140‧‧‧靜電刷

200‧‧‧供料機構

210‧‧‧震動盤

211‧‧‧整列軌道

220‧‧‧儲料桶

221‧‧‧供料道

230‧‧‧下料軌道

300a/300b/300c/300d‧‧‧取料機構

320‧‧‧吹嘴

Claims (11)

1. 一種分料模組，設置在一外觀檢測裝置的一基座，所述外觀檢測裝置包含用以檢測電子元件的一檢測模組，包含：用以輸送所述電子元件的一輸送機構；至少三組取料機構，該些取料機構沿所述電子元件的輸送方向排列分別用以取下該輸送機構上不良、合格以及其他的所述電子元件；及一控制器，分別電性連接各該取料機構藉以依據所述檢測模組的檢測結果驅動各該取料機構取下該輸送機構上對應的所述電子元件；其中，沿該輸送機構的輸送方向上，用以取下不良的所述電子元件的該取料機構排列於最先，接續排列用以取下合格的所述電子元件的該取料機構，用以取下其他的所述電子元件的該取料機構排列於最後。
2. 如請求項1所述的分料模組，其中該輸送機構包含一旋轉盤，該旋轉盤水平配置以承載所述電子元件，且該旋轉盤能夠水平自轉而沿一環形路徑輸送所述電子元件。
3. 如請求項2所述的分料模組，其中該輸送機構包含一馬達以及一角度編碼器，該馬達設置於所述基座，該旋轉盤呈水平配置且該旋轉盤動力連接該馬達而能夠被該馬達驅動而水平自轉，該角度編碼器電性連接該馬達。
4. 如請求項2所述的分料模組，其中該輸送機構，包含一靜電刷，該靜電刷接觸該旋轉盤。
5. 如請求項1所述的分料模組，其中各該取料機構分別包含一集料盒以及用以將所述電子元件吹入該集料盒的一吹嘴，該吹嘴朝向該集料盒配置。
6. 如請求項5所述的分料模組，其中該吹嘴設有電性連接該控制器的一電磁閥。
7. 如請求項5所述的分料模組，其中該集料盒內設有一活動緩衝擋板，且與該集料盒相對應的該吹嘴朝向該集料盒內的該活動緩衝擋板配置。
8. 如請求項7所述的分料模組，其中該活動緩衝擋板樞設在該集料盒內。
9. 如請求項5所述的分料模組，其中各該吹嘴分別藉由一樞轉軸可樞轉地連接所述基座。
10. 如請求項9所述的分料模組，其中各該樞轉軸與該旋轉盤相互平行配置。
11. 如請求項1所述的分料模組，其中用以取下不良的所述電子元件的取料機構為複數。