TWM491836U - 多功能測試選別包裝機 - Google Patents

Description

多功能測試選別包裝機

本創作是關於電子元件經過測試、篩選後加以封裝呈帶狀，其主要是進行電子元件的電子特性測試後篩選電子元件，進而排除不良電子元件，選擇良品的電子元件進行料帶封裝，以利後續電子元件加工於電路板上，如此成為一種實用性及加之多功能測試選別包裝機。

一般電容器的電性檢測項目包括有檢測漏電(LC)、電容量、等效電阻(ESR)等項目，並且在進行相關項目檢測時必須對電容進行充電，而這些充電及檢測項目係可全部整合於一檢測裝置的物料導引路徑上，成為各個相異或重覆的檢測區站，並於各區站內透過導電接觸元件的裝設，而逐一進行檢測。

然而，僅有針對電容器進行電性檢測再現今階段是不足夠，尤其面對各種不同需求的客戶，單單只是電性檢測區分優劣，並不能滿足後續關於電容器的保存、自動化加工等需求。

有鑑於此，本案創作人為了能夠提供更佳的使用需求，利用許多時間投入研究相關知識，並加以比較各項優劣，且進行相關產品的研究與開發，並歷經多次實驗與測試，而終於推出一種多功能測試選別包裝機，藉以符合現今各業者的使用需求。

本創作主要目的係提供一種多功能測試選別包裝機，主要有以電子特性通電檢測電子元件後，將不合格的電子元件排除並集中收納，而將合格的電子元件封裝至料帶，以利於後續電子元件加工於電路板使用，並確保電子元件係通過電子特性檢測，如此成為一種實用性極佳產品，適合業界大幅推廣使用。

為了達成上述之目的與效果，本創作一種多功能測試選別包裝機，其包括：機座；分割器，其設置於機座上，分割器包括有可轉動之分割盤，且分割盤上環設有間隔排列的承料座；入料組，其設置於機座上並位於分割器旁，入料組包括有入料軌道、入料三聯座、換向座及入料校正座，入料三聯座同步吸取原先於入料軌道、換向座及入料校正座上的電子元件，入料三聯座各別移動至換向座、入料校正座及分割器的承料座；換向座控制電子元件極性轉動至同一方向；充電測試區，其設置於機座上並位於分割器旁；充電測試區包括有充電測試組件，其可相對承料座位移而與電子元件接觸過電檢測；不良排料組，其設置於機座上並位於分割器旁用以吸取經充電測試區過電檢測後而位於承料座的不良電子元件，移動電子元件集中回收；入帶組，其設置於機座上並位於分割器旁，包括有入帶軌道、入帶三聯座、入帶校正座以及中站座，入帶三聯座同步吸取原先於承料座、入帶校正座、中站座的電子元件，各別移動至入帶校正座、中站座以及入帶軌道，入帶軌道用以輸送具有間隔排列並收納電子元件容置槽之料帶；以及封膜加熱組，其用以將封膜加熱貼合於料帶。

上述多功能測試選別包裝機，其中入料組進一步包括有極性影像感測器，極性影像感測器用以檢測入料軌道上電子元 件。入料組進一步包括有換向馬達，換向馬達用以轉動換向座，且換向座設有用以置放電子元件的容納槽，換向座周側設置感測器用以檢測位於容納槽內之電子元件。入料組進一步包括有用以抵頂電子元件周側定位於入料校正座頂端之對位夾爪。

上述多功能測試選別包裝機，其中充電測試組件包括有組設於機座的支架、間隔組設於支架的上滑座與下滑座、組設於上滑座與下滑座之主滑桿、滑設於上滑座與下滑座之副滑桿、組設於主滑桿底端下底板、設置於下底板用以壓抵承料座之探針座、滑設於主滑桿又固定於副滑桿頂端之上架板、組設於上架板且朝向機座延伸之頂塊、組設於上架板用以壓抵承料座之上壓板、組設於支架的搖臂座、樞設於搖臂座且其擺動可推抵頂塊與下底板之開臂、樞設於開臂且帶動開臂擺動之連桿。另外，充電測試組件進一步包括有連接塊與彈簧，連接塊兩端分別固設於下底板與探針座，而彈簧的兩端分別固設於下底板與上壓板。另於開臂組設有用以推抵頂塊與下底板之滑輪。

上述多功能測試選別包裝機，其中不良排料組包括有組設於機座之架體與下料管、活動組設於機座用以收集電子零件之集料盒、一端套設於下料管下端另一端則對應集料盒用以輸送電子零件之排料管、樞設於架體用以吸取承料座電子零件之第一壓缸、組設於架體用以帶動第一壓缸朝向下料管擺動令電子元件甩動至下料管之第二壓缸。

1‧‧‧機座

2‧‧‧分割器

21‧‧‧分割盤

22‧‧‧承料座

3‧‧‧入料組

31‧‧‧入料軌道

32‧‧‧入料三聯座

33‧‧‧換向座

331‧‧‧容納槽

332‧‧‧感測器

34‧‧‧入料校正座

341‧‧‧對位夾爪

35‧‧‧極性影像感測器

4‧‧‧充電測試區

41‧‧‧充電測試組件

42‧‧‧支架

421‧‧‧上滑座

422‧‧‧下滑座

423‧‧‧主滑桿

424‧‧‧副滑桿

425‧‧‧下底板

426‧‧‧探針座

427‧‧‧上架板

428‧‧‧頂塊

429‧‧‧上壓板

430‧‧‧搖臂座

431‧‧‧開臂

432‧‧‧連桿

433‧‧‧連接塊

434‧‧‧彈簧

435‧‧‧滑輪

5‧‧‧不良排料組

51‧‧‧架體

52‧‧‧下料管

53‧‧‧集料盒

54‧‧‧排料管

55‧‧‧第一壓缸

56‧‧‧第二壓缸

6‧‧‧入帶組

61‧‧‧入帶軌道

62‧‧‧入帶三聯座

63‧‧‧入帶校正座

64‧‧‧中站座

7‧‧‧封膜加熱組

8‧‧‧電子元件

81‧‧‧料帶

82‧‧‧容置槽

83‧‧‧封膜

第一圖係本創作立體示意圖。

第二圖係本創作俯視示意圖。

第三至六圖係本創作入料組作動示意圖。

第七圖係本創作充電測試組件組合立體示意圖

第八至九圖係本創作充電測試組件座動示意圖。

第十至十三圖係本創作不良排料組作動示意圖。

第十四至十六圖係本創作入帶組作動示意圖。

第十七圖係本創作封膜加熱組對封膜加熱貼合於料帶示意圖。

為了達成上述創作目的與功效，於此列舉一較佳實施例，並請配合參閱圖式第一與二圖所示。圖式中顯示本創作一種多功能測試選別包裝機，其包括：機座1，用以承載下列元件。分割器2，其設置於機座1上，分割器2包括有可轉動之分割盤21，且分割盤21上環設有間隔排列的承料座22。分割器2係藉由馬達(圖未繪製)驅動而轉動。入料組3，其設置於機座1上並位於分割器2旁，入料組3包括有入料軌道31、入料三聯座32、換向座33及入料校正座34，入料三聯座32同步吸取原先於入料軌道31、換向座33及入料校正座34上的電子元件8，入料三聯座32各別移動至換向座33、入料校正座34及分割器2的承料座22，如圖式第三圖至第六圖所示。透過入料三聯座32吸取電子元件8後擺等作動循環下得以持續自動化運作功能，而關於入料三聯座32的移動可透過滑軌與氣壓裝置配合下控制入料三聯座32的移動。此外，入料三聯座32吸取電子元件8係藉由氣壓裝置及其所配置的吸嘴吸取電子元件8。換向座33控制電子元件8極性轉動至同一方向。充電測試區4，其設置於機座1上並位於分割器2旁，請配合參閱圖式第七至九圖。充電測試區4包括有充電測試組件41， 其可相對承料座22位移而與電子元件8接觸過電檢測。不良排料組5，其設置於機座1上並位於分割器2旁用以吸取經充電測試區4過電檢測後而位於承料座22的不良電子元件8，移動電子元件8集中回收，另請配合參閱第十至十三圖所示。藉由接觸式過電檢測其可針對電子元件8檢測出其電子特性之優劣，而以不良排料組5將劣質的電子元件8依造電子特性的缺陷將其分類集中收集。

入帶組6，其設置於機座1上並位於分割器2旁，請配合參閱圖式第十四圖置第十六圖所示，入帶組6包括有入帶軌道61、入帶三聯座62、入帶校正座63以及中站座64，入帶三聯座62同步吸取原先於承料座22、入帶校正座63、中站座64的電子元件8，入料三聯座62各別移動至入帶校正座63、中站座64以及入帶軌道61，入帶軌道61用以輸送料帶81，且料帶81具有間隔排列容置槽82用以收納電子元件8，並且藉由入帶軌道61將裝有電子元件8的料帶81送往封膜加熱組7。入帶三聯座62的移動可透過滑軌與氣壓裝置配合下控制入帶三聯座62的移動。此外，入帶三聯座62吸取電子元件8係藉由氣壓裝置及其所配置的吸嘴吸取電子元件8。

以及封膜加熱組7，其用以將封膜83加熱貼合於料帶81，而封裝電子元件8料帶81與封膜83。

據此達成本創作之目的過電電子特性檢測後加以封裝，不會輕易因外界受力而改變電子元件8於料帶81上的位置，不僅具有方便後續加工之效用外，更可以將劣質電子元件8集中收集。

進一步詳細說明本創作多功能測試選別包裝機，其中入料組3進一步包括有極性影像感測器35，極性影像感測器35用以檢測入料軌道31上電子元件8，如第四、五圖所示。透過極性影像感測 器35於入料軌道31末端先行檢測電子元件8表面上極性記號，得以藉由換向座33統一將電子元件8的極性記號轉向同一方向，以利於後續封裝於料帶81時有一致方向性，方便後續電子元件8加工辨識以及使用便利性。入料組3進一步包括有換向馬達(圖未繪製)，換向馬達用以轉動換向座33，且換向座33設有用以置放電子元件8的容納槽331，換向座33周側設置感測器332用以檢測位於容納槽331內之電子元件8。入料組3進一步包括有用以抵頂電子元件8周側定位於入料校正座34頂端之對位夾爪341。透過對位夾爪341得以微幅校正經換向座33之後的電子元件8位置，而得以提供入料三聯座32順利放置於分割器2的承料座22位置。

關於本創作充電測試組件41其相關元件組成關係及其作動方式請配合參閱圖式第七至九圖所示，其包括有組設於機座1的支架42、間隔組設於支架42的上滑座421與下滑座422、組設於上滑座421與下滑座422之主滑桿423、滑設於上滑座421與下滑座422之副滑桿424、組設於主滑桿423底端下底板425、設置於下底板425用以壓抵承料座22之探針座426、滑設於主滑桿423又固定於副滑桿424頂端之上架板427、組設於上架板427且朝向機座1延伸之頂塊428、組設於上架板427用以壓抵承料座22之上壓板429、組設於支架42的搖臂座430、樞設於搖臂座430且其擺動可推抵頂塊428與下底板425之開臂431、樞設於開臂431且帶動開臂431擺動之連桿432。充電測試組件41進一步包括有連接塊433與彈簧434，連接塊433兩端分別固設於下底板425與探針座426，而彈簧434的兩端分別固設於下底板425與上壓板429。藉由連桿432的上升位移拉動開臂431擺動，且開臂431推抵頂塊428與下底板425，令下底板425朝向機座1方向位移， 而使探針座426遠離承料座22(解除過電檢測狀態)，同時上架板427、上壓板429與頂塊428同步向上遠離承料座22，而位移的上壓板429、下底板425拉動彈簧434伸張。當連桿432下降位移時，因彈簧434不再受上壓板429與下底板425的拉動，而得以收縮並迅速將上壓板429朝向承料座22壓抵，以及下底板425以連接塊433帶動探針座426上升，而進行探針座426對應承料座22上的電子元件8過電電子特性檢測。另外，開臂431組設有用以推抵頂塊428與下底板425之滑輪435。如此開臂431藉由可轉動的滑輪435而能順暢推抵頂塊428與下底板425位移。

關於本創作對於電子元件經檢測後，判定為劣質或不符合規範的不良品集中收集，其所運用相關機構與作動方式，請配合參閱圖式第十至十三圖所示以及下列說明，其中不良排料組5包括有組設於機座1之架體51與下料管52、活動組設於機座1用以收集電子元件8之集料盒53、一端套設於下料管52下端另一端則對應集料盒53用以輸送電子元件8之排料管54、樞設於架體51用以吸取承料座22電子元件8之第一壓缸55、組設於架體51用以帶動第一壓缸55朝向下料管52擺動令電子元件8甩動至下料管52之第二壓缸56。一但經充電測試組件41檢測後判定為不良品時，機台得以控制第一壓缸55吸取電子元件8後控制第二壓缸56，而使得第一壓缸55呈現朝向下料管52開口位置擺動，並解除第一壓缸55吸嘴的吸力，讓不良的電子元件8藉由此擺動作用力以及解除的吸力能夠拋向下料管52位置，而沿下料管52、排料管54的輸送通往集料盒53集中收納。本創作多功能選測試選別包裝機可以針對不同偵側電子特性分類，配置相同數量的多組壓缸、下料管52、排料管54以及集料盒53。

由上所述者僅為用以解釋本創作之較佳實施例，並非企圖據以對本創作做任何形式上之限制，是以，凡有在相同之創作精神下所做有關本創作之任何修飾或變更者，為其他可據以實施之型態且具有相同效果者，皆仍應包括在本創作意圖保護之範疇內。

綜上所述，本創作「多功能測試選別包裝機」，其實用性及成本效益上，確實是完全符合產業上發展所需，且所揭露之結構創作亦是具有前所未有的創新構造，所以其具有「新穎性」應無疑慮，又本創作可較習用之結構更具功效之增進，因此亦具有「進步性」，其完全符合我國專利法有關新型專利之申請要件的規定，乃依法提起專利申請，並敬請 鈞局早日審查，並給予肯定。

1‧‧‧機座

3‧‧‧入料組

4‧‧‧充電測試區

41‧‧‧充電測試組件

5‧‧‧不良排料組

6‧‧‧入帶組

7‧‧‧封膜加熱組

Claims (8)

1. 一種多功能測試選別包裝機，其包括：機座；分割器，其設置於機座上，分割器包括有可轉動之分割盤，且分割盤上環設有間隔排列的承料座；入料組，其設置於機座上並位於分割器旁，入料組包括有入料軌道、入料三聯座、換向座及入料校正座，入料三聯座同步吸取原先於入料軌道、換向座及入料校正座上的電子元件，入料三聯座各別移動至換向座、入料校正座及分割器的承料座；換向座控制電子元件極性轉動至同一方向；充電測試區，其設置於機座上並位於分割器旁；充電測試區包括有充電測試組件，其可相對承料座位移而與電子元件接觸過電檢測；不良排料組，其設置於機座上並位於分割器旁用以吸取經充電測試區過電檢測後而位於承料座的不良電子元件，移動電子元件集中回收；入帶組，其設置於機座上並位於分割器旁，包括有入帶軌道、入帶三聯座、入帶校正座以及中站座，入帶三聯座同步吸取原先於承料座、入帶校正座、中站座的電子元件，各別移動至入帶校正座、中站座以及入帶軌道，入帶軌道用以輸送具有間隔排列並收納電子元件容置槽之料帶；以及封膜加熱組，其用以將封膜加熱貼合於料帶。
2. 如申請專利範圍第1項所述之多功能測試選別包裝機，進一步包括有極性影像感測器，極性影像感測器用以檢測入料軌道上電子元件。
3. 如申請專利範圍第1項所述之多功能測試選別包裝機，進一步包括有換向馬達，換向馬達用以轉動換向座，且換向座設有用以置放電子元件的容納槽，換向座周側設置感測器用以檢測位於容納槽內之電子元件。
4. 如申請專利範圍第1項所述之多功能測試選別包裝機，進一步包括有 用以抵頂電子元件周側定位於入料校正座頂端之對位夾爪。
5. 如申請專利範圍第1項所述之多功能測試選別包裝機，其中充電測試組件包括有組設於機座的支架、間隔組設於支架的上滑座與下滑座、組設於上滑座與下滑座之主滑桿、滑設於上滑座與下滑座之副滑桿、組設於主滑桿底端下底板、設置於下底板用以壓抵承料座之探針座、滑設於主滑桿又固定於副滑桿頂端之上架板、組設於上架板且朝向機座延伸之頂塊、組設於上架板用以壓抵承料座之上壓板、組設於支架的搖臂座、樞設於搖臂座且其擺動可推抵頂塊與下底板之開臂、樞設於開臂且帶動開臂擺動之連桿。
6. 如申請專利範圍第5項所述之多功能測試選別包裝機，充電測試組件進一步包括有連接塊與彈簧，連接塊兩端分別固設於下底板與探針座，而彈簧的兩端分別固設於下底板與上壓板。
7. 如申請專利範圍第5項或第6項所述之多功能測試選別包裝機，其中開臂組設有用以推抵頂塊與下底板之滑輪。
8. 如申請專利範圍第1項所述之多功能測試選別包裝機，其中不良排料組包括有組設於機座之架體與下料管、活動組設於機座用以收集電子零件之集料盒、一端套設於下料管下端另一端則對應集料盒用以輸送電子零件之排料管、樞設於架體用以吸取承料座電子零件之第一壓缸、組設於架體用以帶動第一壓缸朝向下料管擺動令電子元件甩動至下料管之第二壓缸。