TWM469490U - 測試連接器及其電接觸件 - Google Patents

Description

測試連接器及其電接觸件

本創作是關於一種測試連接器，尤指一種應用於積體電路元件測試設備中，提供待測積體電路元件與測試設備電性連接媒介的測試連接器及其電接觸件創作。

為判斷構裝完成的積體電路元件功能是否正確，積體電路元件通常經由測試設備進行功能測試，所述測試設備為使積體電路元件得以電性連接測試系統，於測試設備中連接測試系統之電路載板即裝設有測試連接器，用以提供積體電路元件經由手動或自動化機械移置該測試連接器中，進而通過測試連接器電連接測試系統。

目前已知測試連接器組成構造創作，概如我國公開第200741210號「電子裝置測試組及其接觸件」發明專利申請案揭示者，其主要係令該測試組之每一列間隔排列的接觸件為二彈性條於其下兩側相對偏位而夾持，並以每一接觸件一端作為積體電路元件測試時下壓接觸的部位，接觸件底緣則接觸電路載板上的接觸墊，另由該二彈性提供接觸件被下壓而產生滾動後復位的彈性。

前述電子裝置測試組於組裝時，一般而言，其係將測試插座外殼倒置而使其底面朝上，續將預定位置在上的彈性條置入測試插座外殼中，再將複數接觸件分別 插設於測試插座外殼，之後，將預定位置在下的彈性條置入測試插座外殼。惟該測試插座外殼中提供接觸件組設的插槽過寬，且接觸件僅是抵靠於預定位置在上的彈性條上，故接觸件在組裝的過程易於滑移，而自測試插座外殼中滑出，造成該電子裝置測試組組裝上的困擾。

此外，尚有一種測試連接器之組成構造創作，其係於基座中之每一列接觸件一端上方各設置一彈性條，每一接觸件另一端作為積體電路元件測試時下壓接觸的部位，接觸件底緣則接觸電路載板上的接觸墊，另由單一彈性條，提供接觸件被下壓而產生滾動後復位的彈性。

前述測試連接器於組裝時，一般亦是採取插座外殼倒置而使其底面朝上方式組裝，其中先將彈性條置入插座外殼中，再將複數接觸件分別插設於插座外殼中。惟該插座外殼中提供接觸件組設的插槽過寬，且接觸件僅是抵靠於彈性條上，故接觸件在組裝的過程易於滑移，而自測試插座外殼中滑出，造成該電子裝置測試組組裝上的困擾。再者，該測試連接器於組裝完成後，須翻轉回復頂朝上，並組裝於電路載板上，因測試連接器之每一接觸件底部並無任何支撐部位，且插座外殼、彈性條與每一接觸件間僅為活動抵靠關係，並無任何實質的結合定位狀態，造成測試連接器移置電路載板上組裝過程中，接觸件易因重力而自插座外殼底部掉落等困擾。

本創作之主要目的在於提供一種測試連接器及其電接觸件，希藉此創作，解決現有測試連接器移置組 設於測試設備的電路載板上，電接觸件易掉落的問題。

為達成前揭目的，本創作所提出之測試連接器係包含：一基座，其具有一個以上的測試區，且於測試區底部形成複數間隔排列且由測試區向下延伸至基座底面的活動槽，所述活動槽包含有上下偏位排列且互相連通的上槽部與下槽部，上槽部與下槽部之間形成一槽部通道，下槽部頂緣與上槽部側壁連接處為槽部通道第一端緣，上槽部底緣與下槽部側壁連接處為槽部通道第二端緣，基座底面設有複數組接槽，每一組接槽分別垂直連通一列活動槽之下槽部；複數絕緣彈性條，係分別裝設於基座的組接槽中定位且通過活動槽的下槽部；以及複數電接觸件，係分別絕緣組設於活動槽中而各自獨立，所述電接觸件包括一下接觸段與一成形於下接觸段一端上接觸段，下接觸段位活動槽之下槽部中，上接觸段通過活動槽之上槽部伸向測試區，上接觸段與下接觸段銜接處界定有一在上的第一端部與一在下的第二端部，第一端部鄰近基座之槽部通道第一端緣，第二端部鄰近基座之槽部通道第二端緣，下接觸段底部偏位於元件接觸端一側之區段具有通過下槽部底部的圓弧形接觸部，下接觸段頂部形成一開口朝上的凹部，並以凹部兩側壁抱持絕緣彈性條，所述凹部之開口兩側端分別為一第一端點與一第二端點，凹部鄰近上接觸段之第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離大於基座之槽部通道第一端 緣至槽部通道第二端緣間的直線距離。

本創作另外提出之測試連接器之電接觸件，係用以組設於所述測試連接器之基座的活動槽中，所述電接觸件包括一下接觸段與一成形於下接觸段一端上接觸段，上接觸段與下接觸段銜接處界定有一在上的第一端部與一在下的第二端部，所述第一端部與第二端部之直線距離接近所述基座之活動槽的槽部通道寬度，下接觸段底部偏位於元件接觸端一側之區段具有圓弧形接觸部，下接觸段頂部形成一開口朝上的凹部，所述凹部兩側壁足以抱持所述基座中所組設的絕緣彈性條，所述凹部之開口兩側端分別為一第一端點與一第二端點，凹部鄰近上接觸段之第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離大於第一端部至第二端部間直線距離。

藉由前述測試連接器之整體組成構造創作，其主要係利用所述電接觸件以其下接觸段頂部凹部兩側壁抱持絕緣彈性條，另限定電接觸件之凹部鄰近上接觸段之第一端點至件上、下接觸段銜接處在下之第二端部間之直線距離大於基座活動槽中之槽部通道寬度，或者，限定電接觸件之凹部鄰近上接觸段之第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離大於第一端部至第二端部間直線距離，藉此，於組裝時，將基座底面朝上，電接觸件自基座底面置入基座的活動槽內，且能夠直接抱持住基座中預設的絕緣彈性條，且每一電接觸件一經抱持住絕緣彈性條即自然定位，而不會於組裝其他電接觸件時，致其他電接觸件因震動而自基座滑出之困擾，如此，使本 創作於組裝過程中具有簡便而能快速完成組裝之功效；而且該測試連接器移置組設於測試設備的電路載板上，藉由電接觸件抱持基座中的絕緣彈性條定位，使電接觸件不會因重力而自基座底部掉落，克服習知測試連接器移置組設於測試設備的電路載板上，電接觸件易掉落的問題。

10‧‧‧基座

11‧‧‧測試區

12‧‧‧活動槽

121‧‧‧上槽部

122‧‧‧下槽部

1221‧‧‧側壁

123‧‧‧第一端緣

124‧‧‧第二端緣

13‧‧‧組接槽

15‧‧‧裝配槽

16‧‧‧元件定位座

161‧‧‧元件對位槽

20‧‧‧絕緣彈性條

30‧‧‧電接觸件

31‧‧‧下接觸段

32‧‧‧上接觸段

331‧‧‧第一端部

332‧‧‧第二端部

34‧‧‧凹部

341‧‧‧第一端點

342‧‧‧第二端點

35‧‧‧缺口

36‧‧‧抵靠部

37‧‧‧元件接觸端

38‧‧‧接觸部

S1‧‧‧基座之槽部通道第一端緣至槽部通道第二端緣間的直線距離

S2‧‧‧電接觸件之凹部第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離

D‧‧‧電接觸件之凹部第一端點與第二端點間之直線距離

40‧‧‧電路載板

41‧‧‧接觸墊

50‧‧‧積體電路元件

51‧‧‧電訊號輸出入端子

圖1係本創作測試連接器之一較佳實施例之立體分解示意圖。

圖2係圖1所示測試連接器較佳實施例之俯視平面示意圖。

圖3係圖2所示割面線3-3位置的側視剖面示意圖。

圖4係圖3之局部放大示意圖。

圖5係本創作測試連接器較佳實施例裝設於測試設備之電路載板上，提供待測積體電路元件置入其中且未下壓電接觸件時之實施狀態參考圖。

圖6係本創作測試連接器較佳實施例裝設於測試設備之電路載板上，待測積體電路元件置入其中，且已下壓電接觸件之實施狀態參考圖。

本創作係包含測試連接器及其電接觸件，如圖1及圖2所示，係揭示本創作測試連接器之一較佳實施例，所述測試連接器包含一基座10、複數絕緣彈性條20以及複數所述電接觸件30。

如圖1、圖3及圖4所示，所述基座10可為 絕緣材質所製成，或於預定與電接觸件30接觸的特定部位設置絕緣材質，該基座10中設有一個以上之測試區11，於本較佳實施例中，係揭示基座10中設有一個測試區11，該基座10於測試區11底部形成複數間隔排列且由測試區11向下延伸至基座10底面的活動槽12，所述複數活動槽12主要係分布設置於測試區11相對兩側呈二列排列，或分布設置於測試區11周邊四側呈四列排列，或進一步再分布設置於測試區11中央底部呈一列以上排列，亦即所述複數活動槽12之分布型態與位置係依待測積體電路元件的電訊號輸出入端子的分布型態與位置而設定。

如圖1、圖3及圖4所示，所述活動槽12包含有一上槽部121、一下槽部122以及介於上槽部121與下槽部122之間的槽部通道，所述上槽部121上端向上通往測試區11，下槽部122位於上槽部121下方且相對於上槽部121呈橫向偏位而互相連通，下槽部122頂緣與上槽部121側壁連接處為第一端緣123，上槽部121底緣與下槽部122側壁連接處為第二端緣124，第一端緣123至第二端緣124間之連線部位為介於上槽部121與下槽部122之間的槽部通道，槽部通道的寬度即第一端緣123至第二端緣124間之直線距離。

如圖1、圖3及圖4所示，於本較佳實施例中，所述基座10底面設有複數組接槽13，每一組接槽13分別垂直連通一列活動槽12之下槽部122，且組接槽13自基座10底面延伸至下槽部122頂部。

如圖1至圖4所示，於本較佳實施例中，該 基座10中對應於所述測試區11處形成一裝配槽15，於裝配槽15中裝設一可拆組之元件定位座16，所述元件定位座16中形成一對應於待測積體電路元件外形的元件對位槽161，元件對位槽161通向測試區11及活動槽12的上槽部121。

如圖1、圖3及圖4所示，所述絕緣彈性條20係具有可壓縮回復彈性之絕緣材質(如矽膠等)製成的構件，所述絕緣彈性條20可為截面呈圓形的圓條體，並裝設於基座10的組接槽13中，使絕緣彈性條20通過活動槽12下槽部122上段，於本較佳實施例中，所述絕緣彈性條20之直徑略大於組接槽13之槽寬，使絕緣彈性條20藉由本身之可壓縮彈性而擠壓固定於組接槽13中。

如圖1、圖3及圖4所示，所述複數電接觸件30係分別自基座10底部裝設於活動槽12中而各自獨立，所述電接觸件30係具有電訊傳遞功能之材質所製成的構件，且與基座10間呈絕緣關係，於本較佳實施例中，所述電接觸件30為片狀體，所述電接觸件30包括一下接觸段31與一體成形於下接觸段31一端向上延伸的上接觸段32，所述下接觸段位活動槽12之下槽部122中，上接觸段32通過活動槽12之上槽部121伸向測試區11，上接觸段32頂部形成元件接觸端37，上接觸段32與下接觸段31銜接處界定有一在上的第一端部331與一在下的第二端部332，第一端部331鄰近上槽部121與下槽部122間的槽部通道第一端緣123，第二端部332鄰近上槽部121與下槽部122間的槽部通道第二端緣124，所述下 接觸段31頂部於第一端部331側邊形成一開口朝上的凹部34，並以凹部34兩側壁抱持絕緣彈性條20，絕緣彈性條20則可對電接觸件30施以彈力，所述下接觸段31底部於偏位於元件接觸端37一側之區段具有通過下槽部122底部的接觸部38，用以電接觸測試設備之電路載板上的接觸墊，所述接觸部38以圓弧形為佳，使其於使用過程中緊抵接觸墊，而能降低電阻值，並使位於活動槽12中的電接觸件30被施以作用力時，藉由抵接接觸墊的圓弧形接觸部38而能夠產生有限範圍的滾動效果。

如圖1、圖3及圖4所示，於本較佳實施例中，所述電接觸件之上接觸段32的體積小於下接觸段31的體積，其中上接觸段32鄰近第二端部332處形成一缺口35，使電接觸件30之重心通過下接觸段31，使電接觸件30之上接觸段32被下壓滾動後，於下壓力去除，易於反向滾動復位。

如圖1、圖3及圖4所示，所述下接觸段31遠離上接觸段32之一側形成一具有圓弧狀端部之抵靠部36，使所述複數電接觸件30裝設於基座10中，藉由抵靠部36抵接所述下槽部122遠離上槽部121的側壁1221。

如圖1、圖3及圖4所示，於本較佳實施例中，所述元件接觸端37形成一個以上的凸緣371，所述凸緣371用以接觸待測積體電路元件底部的電訊號輸出入端子。

如圖1、圖3及圖4所示，於本較佳實施例中，所述絕緣彈性條20為截面呈圓形之長條體，所述電接 觸件30之凹部34為大於二分之一圓的圓形凹部，下接觸段31於所述凹部34之開口兩側端為一第一端點341與一第二端點342，其中第一端點341鄰近上接觸段32，第二端點342遠離上接觸段32，第一端點341與第二端點342間之直線距離(D)小於該圓形的凹部34直徑，且小於圓形條狀的絕緣彈性條20寬度(即直徑)，使每一電接觸件30裝設於基座10的活動槽12，並以其凹部34兩側壁抱持住圓條形絕緣彈性條20定位，使電接觸件30不會因重力作用而自基座10底部掉落。

如圖1、圖3及圖4所示，前述電接觸件30中，該凹部34鄰近上接觸段32之第一端點341至上接觸段32與下接觸段31銜接處之第二端部332間之直線距離(S2)大於基座10之槽部通道第一端緣123至槽部通道第二端緣124間的直線距離(S1)，所述凹部34之第一端部331至第二端部332間之直線距離接近基座10之槽部通道第一端緣123至槽部通道第二端緣124間的直線距離(S1)，故該凹部34鄰近上接觸段32之第一端點341至上接觸段32與下接觸段31銜接處之第二端部332間之直線距離(S2)亦大於所述凹部34之第一端部331至第二端部332間之直線距離。

如圖5所示，本創作測試連接器於應用於積體電路元件的測試設備中，其係以基座10以螺絲鎖固於測試設備之電路載板40上，並使每一電接觸件30各以其圓弧形接觸部38電接觸電路載板40上相應的接觸墊41，其中對應於測試區11中央的電接觸件30係用以電接觸 電路載板40上相應的接地用接觸墊，每一電接觸件30藉基座10鎖固於電路載板40上之滾動而擠壓絕緣彈性條20，使每一電接觸件30之元件接觸端37自基座10的活動槽12上槽部121向上伸至測試區11。

如圖5所示，當進行積體電路元件功能性檢測時，係將待測積體電路元件50以手動或機械自動化手段經由元件定位座16置入基座10的測試區11，如圖6所示，續對待測積體電路元件50施以一向下的力量，使待測積體電路元件50底部之每一電訊號輸出入端子(如球墊、引腳或引墊等)分別壓抵於相應的電接觸件30的元件接觸端37且施以下壓力，其中藉由電接觸件30底部的圓弧形接觸部38以電路載板的接觸墊41表面產生非定點旋轉的滾動動作，且以下接觸段31擠壓絕緣彈性條20，另藉由元件接觸端37具有一個以上的凸緣371構造，使元件接觸端37與電訊號輸出入端子51確實構成電性接觸之狀態。其次，由測試設備之測試系統通過電路載板40及該測試連接器的複數電接觸件30而對待測積體電路元件50進行功能性檢測，判斷所述積體電路元件之功能是否正確。

如圖5所示，待測試完成後，將積體電路元件50自測試連接器的基座10中移出，而電接觸件30因施壓於元件接觸端的力量移除，並藉絕緣彈性條20蓄積的彈力推抵每一電接觸件30於電路載板40之接觸墊41上反向滾動，讓每一電接觸件之元件接觸端37自基座10的活動槽12上槽部121向上伸至測試區11復位。以此方 式，接續進行下一個待測積體電路元件的測試作業。

10‧‧‧基座

11‧‧‧測試區

12‧‧‧活動槽

121‧‧‧上槽部

122‧‧‧下槽部

1221‧‧‧側壁

123‧‧‧第一端緣

124‧‧‧第二端緣

13‧‧‧組接槽

15‧‧‧裝配槽

16‧‧‧元件定位座

161‧‧‧元件對位槽

20‧‧‧絕緣彈性條

30‧‧‧電接觸件

31‧‧‧下接觸段

32‧‧‧上接觸段

331‧‧‧第一端部

332‧‧‧第二端部

34‧‧‧凹部

341‧‧‧第一端點

342‧‧‧第二端點

36‧‧‧抵靠部

37‧‧‧元件接觸端

38‧‧‧接觸部

S1‧‧‧基座之槽部通道第一端緣至槽部通道第二端緣間的直線距離

S2‧‧‧電接觸件之凹部第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離

D‧‧‧電接觸件之凹部第一端點與第二端點間之直線距離

Claims (7)

1. 一種測試連接器，係包含：一基座，其具有一個以上的測試區，且於測試區底部形成複數間隔排列且由測試區向下延伸至基座底面的活動槽，所述活動槽包含有上下偏位排列且互相連通的上槽部與下槽部，上槽部與下槽部之間形成一槽部通道，下槽部頂緣與上槽部側壁連接處為槽部通道第一端緣，上槽部底緣與下槽部側壁連接處為槽部通道第二端緣，基座底面設有複數組接槽，每一組接槽分別垂直連通一列活動槽之下槽部；複數絕緣彈性條，係分別裝設於基座的組接槽中定位且通過活動槽的下槽部；以及複數電接觸件，係分別絕緣組設於活動槽中而各自獨立，所述電接觸件包括一下接觸段與一成形於下接觸段一端上接觸段，下接觸段位活動槽之下槽部中，上接觸段通過活動槽之上槽部伸向測試區，上接觸段與下接觸段銜接處界定有一在上的第一端部與一在下的第二端部，第一端部鄰近基座之槽部通道第一端緣，第二端部鄰近基座之槽部通道第二端緣，下接觸段底部偏位於元件接觸端一側之區段具有通過下槽部底部的圓弧形接觸部，下接觸段頂部形成一開口朝上的凹部，並以凹部兩側壁抱持絕緣彈性條，所述凹部之開口兩側端分別為一第一端點與一第二端點，凹部鄰近上接觸段之第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離大於基座之槽部通道第一端緣至槽部通道第二端緣間的直線距離。
2. 如請求項1所述之測試連接器，其中，所述電接觸件之下接觸段遠離上接觸段之一側為一具有圓弧形端部之抵靠部，所述抵靠部能抵接所述下槽部遠離上槽部的側壁。
3. 如請求項1所述之測試連接器，其中，所述電接觸件的凹部開口第一端點至第二端點的直線距離小於絕緣彈性條的寬度。
4. 如請求項2所述之測試連接器，其中，所述電接觸件的凹部開口第一端點至第二端點的直線距離小於絕緣彈性條的寬度。
5. 如請求項1至4中任一項所述之測試連接器，其中，所述電接觸件之上接觸段體積小於下接觸段的體積，上接觸段鄰近第二端部處形成一缺口。
6. 一種測試連接器之電接觸件，用以組設於所述測試連接器之基座的活動槽中，所述電接觸件包括一下接觸段與一成形於下接觸段一端上接觸段，上接觸段與下接觸段銜接處界定有一在上的第一端部與一在下的第二端部，所述第一端部與第二端部之直線距離接近所述基座之活動槽的槽部通道寬度，下接觸段底部偏位於元件接觸端一側之區段具有圓弧形接觸部，下接觸段頂部形成一開口朝上的凹部，所述凹部兩側壁足以抱持所述基座中所組設的絕緣彈性條，所述凹部之開口兩側端分別為一第一端點與一第二端點，凹部鄰近上接觸段之第一端點至上接觸段與下接觸段銜接處之第二端部間之直線距離大於第一端部至第二端部間直線距離。
7. 如請求項6所述之測試連接器之電接觸件，其中，所述電接觸件之上接觸段體積小於下接觸段的體積，上接觸段鄰近第二端部處形成一缺口。