TWM449958U

TWM449958U - 具有翻轉機構之面板檢測裝置

Info

Publication number: TWM449958U
Application number: TW101220957U
Authority: TW
Inventors: Tzu-Yueh Wang; Kuei-Chih Ku
Original assignee: Favite Inc
Priority date: 2012-10-30
Filing date: 2012-10-30
Publication date: 2013-04-01

Description

具有翻轉機構之面板檢測裝置

　　本案係有關一種面板檢測裝置，尤指一種具有翻轉機構，可使待測面板於面板檢測裝置內即可完成正反兩面之缺陷檢測之具有翻轉機構之面板檢測裝置。

　　為因應平面顯示器之輕薄趨勢，即產生將平面顯示器其面板在對組後之厚度予以薄化的需求，例如將對組後之厚度予以薄化在0.25mm~0.35mm之間，而面板背面的刮傷或者污染都會增加薄化的製造成本。

　　習知之面板檢測裝置並未具有翻轉機構，以致無法直接做面板背面的檢測。習知之面板檢測裝置如果需要做面板的背面檢測，必須要在面板檢測裝置以外，另設置一翻轉設備，於該翻轉設備完成翻轉動作之後，再將面板傳送回面板檢測裝置進行面板的背面檢測，此外，還需要在檢查完成之後，再次將面板傳送至該翻轉設備予以翻轉成正面後，才能續行後續的製程，如此除耗費較多的時間及金錢外，額外的傳送過程，也會增加面板被刮傷的風險。

　　此外，也有於習知之面板檢測裝置加裝另一掃瞄裝置，使該面板檢測裝置可對待測面板進行正、反面的檢測，但是於進行反面缺陷的檢測時，掃描裝置會受到面板檢測裝置中結構組件的阻擋，因此，無法取得完整影像進行判斷，仍有其不足之處。

　　針對上述習知面板檢測裝置之缺點，本案提供一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，以改善上述之缺點。

　　本案之一目的係提供一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，其具有至少一翻轉機構，可於面板之正面經檢測完成時，於面板檢測裝置內翻轉面板，再進行反面之檢測，以節省檢測工序及減縮製程時間。

　　本案之另一目的係提供一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，其內建至少一翻轉機構，可縮減面板檢測裝置之占地面積。

　　本案之另一目的係提供一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，其內建至少一翻轉機構，可降低面板因進行翻面而傳送時被刮傷的風險。

　　為達上述之目的，本案之一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，其包括：一基座，其上具有一頂視呈長方形之框架；複數個支撐單元，係設置於該基座上，以供支撐一待測面板；至少一固定單元，係位於該複數個支撐單元之一側，且與該框架之短邊同側，用以固持該待測面板；至少一驅動裝置，係設於該基座上，且與該框架之短邊同側，並與該固定單元連結，以驅動該固定單元往復移動；一檢測機構，係設置於該框架上，用以檢測該待測面板上是否有缺陷；以及至少一翻轉機構，係位於該基座上，且位於該基座之一側，並與該框架之長邊同側，可將該待測面板翻轉，以便執行該待測面板另一面之缺陷檢測。

為使　貴審查委員能進一步瞭解本案之結構、特徵及其目的，茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如后。

　　請一併參照圖1～圖3，其中，圖1繪示本案一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置之示意圖；圖2繪示本案一較佳實施例之翻轉機構之前側之示意圖；圖3繪示本案一較佳實施例之翻轉機構之後側之示意圖。

　　如圖所示，本案一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其包括：一基座10；複數個支撐單元20；至少一固定單元30；至少一驅動裝置40；一檢測機構50；以及至少一翻轉機構60所組合而成者。

　　其中，該基座10例如但不限於由金屬所製成，用以承載該複數個支撐單元20、固定單元30、驅動裝置40、檢測機構50以及翻轉機構60等元件，且其上具有一頂視呈長方形之框架11，而該框架11以位於該基座10之中段位置為較佳。

　　該複數個支撐單元20係設置於該基座10上，以供支撐一待測面板70，而該複數個支撐單元20例如但不限於為氣浮式、滾輪式或滾珠式元件，如為氣浮式元件，每一個支撐單元20上即具有複數個氣孔21，如為滾輪式或滾珠式元件，則每一個支撐單元20上即具有之複數個滾輪或滾珠（圖未示），在本實施例中，係以該支撐單元20上具有複數個氣孔21為例加以說明，但並不以此為限。其中，該複數個支撐單元20之數量例如但不限於為三個，且係等距配置於該基座10上，該氣孔21可吹氣，用以支撐該待測面板70，以避免該待測面板70因重力而彎曲。其中，該待測面板70例如但不限於為一觸控感應器（Touch Sensor）、保護玻璃（Cover Glass）、薄膜電晶體液晶面板（TFT LCD）、有源矩陣有機發光二極體面板（AMOLED）或低溫多晶矽面板（LTPS）。

　　該至少一固定單元30係位於該基座10中，並位於該複數個支撐單元20之一側，且與該框架11之短邊同側，該固定單元30例如但不限於為吸盤式或夾具式元件，如為吸盤式，其上具有至少一吸盤31，用以固持該待測面板70，如為夾具式，其上具有至少一夾具（圖未示），在本實施例中，係以該固定單元30上具有至少一吸盤31為例加以說明，但並不以此為限。且在本實施例中，係以兩個固定單元30為例加以說明，但並不以此為限，該兩個固定單元30係分置於該複數個支撐單元20之兩側，並與該框架11之短邊同側，且其上以具有複數個吸盤31為較佳，以穩固地吸住該待測面板70。

　　該至少一驅動裝置40係設於該基座10上，且與該框架11之短邊同側，並與該固定單元30連結，以驅動該固定單元30往復移動。在本實施例中，係以兩個驅動裝置40為例加以說明，但並不以此為限，該兩個驅動裝置40係各別與同側的該兩個固定單元30連結，例如但不限於為置於該固定單元30之下方，但並不以此為限，而該驅動裝置40例如但不限於為磁浮式、滾珠螺桿式、鏈條式、皮帶式或線性馬達式元件，且該驅動裝置40具有一軌道12，該軌道12係以與該框架11之短邊平行方式設置於基座10上，藉由該軌道12可使該固定單元30直線往復移動。

　　該檢測機構50係設置於該框架11上，可檢測該待測面板70上是否有缺陷。其中，該檢測機構50進一步具有：至少一取像裝置51以及至少一影像處理裝置52。其中，該取像裝置51例如但不限於為CMOS線掃描相機(CMOS line scan camera)、CMOS區域掃描相機(CMOS area scan camera)或CCD(Charge Coupled Device)線掃描相機，係設置於該框架11長邊之一側，可對該待測面板70上是否有缺陷（defect）進行取像和自動辨識，其中該缺陷例如但不限於為一髒污、刮傷或型態瑕疵（pattern defect）。該影像處理裝置52例如但不限於為一相機或電性測試裝置，其中該電性測試裝置例如但不限於為一組探針，係設置於該框架11長邊之另一側，可擷取該缺陷之影像，並提供該缺陷之座標參數，例如但不限於為X、Y軸座標參數。

　　該至少一翻轉機構60係位於該基座10上，且位於該基座10之一側，並與該框架11之長邊同側，可將該待測面板70翻轉，以便執行該待測面板70另一面之缺陷檢測，在本實施例中，係以一個翻轉機構60為例加以說明，但並不以此為限。

　　如圖2及圖3所示，其中，該翻轉機構60例如但不限於為一機械手臂，且其進一步具有：一支架61；複數個取放板62；至少一升降驅動裝置63；以及至少一翻轉驅動裝置64。其中，該升降驅動裝置63可為磁浮式、滾珠螺桿式、鏈條式、皮帶式或線性馬達式元件。其中，該翻轉驅動裝置64例如但不限於為鏈條式、皮帶式或直接驅動馬達（Direct Drive Motor）式元件。其中，該支架61係置於該基座10之一側，並與該框架11之長邊同側，且較佳係由金屬材質所製成；該複數個取放板62係設於該支架61上，並可於該支架61上直線上下移動，用以取、放該待測面板70，且其上具有複數個吸盤621，以固持該待測面板70，其中，該複數個取放板62之數量例如但不限於為三個，並以等距配置為較佳；該升降驅動裝置63係設置於該支架61上，其如為皮帶式馬達元件，則具有兩皮帶631，並由一傳動軸632同時帶動該兩皮帶631，用以驅動該複數個取放板62上下移動；以及該翻轉驅動裝置64係設置於該支架61上，其如為皮帶式馬達元件，則具有一皮帶641，用以驅動該複數個取放板62進行轉動，以翻轉該待測面板70。該待測面板70被翻轉後，該複數個取放板62即下降至等高於該固定單元30之位置後，再將該待測面板70放置於該固定單元30上，藉由與該固定單元30連結之該驅動裝置40傳送該待測面板70至該檢測機構50，進行另一面之缺陷檢測，亦即是先進行該待測面板70其中一面之缺陷檢測後，再進行翻轉之程序。

　　於運作時，前一作業程序之機械手臂（圖未示）可將正面朝上之該待測面板70放置於該固定單元30上，經該吸盤31固持後，輸送該待測面板70至該檢測機構50進行正面檢測，再經由該翻轉機構60將該待測面板70翻轉至反面朝上後，傳送該待測面板70至該檢測機構50進行反面檢測，其後，再次經由該翻轉機構60將該待測面板70翻轉至正面朝上後，輸送該待測面板70至該基座10之另一端交還給前一作業程序之機械手臂。因此，本案之面板檢測裝置以一個翻轉機構60，既可以完成該待測面板70其正反兩面之完整檢測，同時也達到省錢之目的。

　　請參照圖4，其繪示本案另一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置之示意圖。

　　如圖所示，本案另一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置其具有兩個翻轉機構60，且係分置於該框架11長邊之兩側。

　　於運作時，前一作業程序之機械手臂（圖未示）可將正面朝上之該待測面板70放置於與其鄰接之該翻轉機構60之複數個取放板62上，經該吸盤621固持後，同一翻轉機構60之該升降驅動裝置63即上升至一定高度，再由同一翻轉機構60之該翻轉驅動裝置64將該待測面板70翻轉至反面朝上，然後輸送該待測面板70至該檢測機構50進行反面檢測，接著經由另一個該翻轉機構60將該待測面板70翻轉至正面朝上後，傳送該待測面板70至該檢測單元50進行正面檢測，其後即將該待測面板70輸送至該基座10其與前一作業程序之機械手臂鄰接之一端，交還給前一作業程序之機械手臂。因此，本案之面板檢測裝置以兩個翻轉機構60，非但可以完成該待測面板70其正反兩面之完整檢測，同時也達到省時之目的。

因此，藉由本案之具有翻轉機構之面板檢測裝置之結構，可使該待測面板70於該面板檢測裝置內即可完成正反兩面之缺陷檢測，同時亦具備節省檢測工序、減縮製程時間、縮減面板檢測裝置之占地面積，及降低面板因進行翻面而傳送時被刮傷的風險等優點，因此，本案確實較習知之面板檢測裝置具有進步性。

　　綜上所述，藉由本案之具有翻轉機構之面板檢測裝置之實施，其具有：至少一翻轉機構，可於面板之正面經檢測完成時，翻轉面板，再進行反面檢測，以節省檢測工序及減縮製程時間；其內建至少一翻轉機構，可縮減面板檢測裝置之占地面積；以及其內建至少一翻轉機構，可降低面板因進行翻面而傳送時被刮傷的風險。因此，本案確實較習知之面板檢測裝置具有進步性。

　　本案所揭示者，乃較佳實施例，舉凡源於本案技術思想之局部或均等變更或修飾，而為熟習該項技藝之人所易於推知者，俱不脫本案之專利範疇。

　　綜上所陳，本案無論就目的、手段與功效，在在顯示其迥異於習知之技術特徵，且其首先創作並合於實用，亦在在符合新型之專利要件，懇請　貴審查委員明察，並祈早日賜予專利，俾嘉惠社會，實感德便。

10‧‧‧基座
11‧‧‧框架

12‧‧‧軌道
20‧‧‧支撐單元

21‧‧‧氣孔
30‧‧‧固定單元

31‧‧‧吸盤
40‧‧‧驅動裝置

50‧‧‧檢測機構
51‧‧‧取像裝置

52‧‧‧影像處理裝置
60‧‧‧翻轉機構

61‧‧‧支架
62‧‧‧取放板

621‧‧‧吸盤
63‧‧‧升降驅動裝置

631‧‧‧皮帶
632‧‧‧傳動軸

64‧‧‧翻轉驅動裝置
641‧‧‧皮帶

70‧‧‧待測面板

　　圖1為一示意圖，其繪示本案一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置之示意圖。

　　圖2為一示意圖，其繪示本案一較佳實施例之翻轉機構之前側之示意圖。

　　圖3為一示意圖，其繪示本案一較佳實施例之翻轉機構之後側之示意圖。

　　圖4為一示意圖，其繪示本案另一較佳實施例之具有翻轉機構之面板檢測裝置之示意圖。

10‧‧‧基座

11‧‧‧框架

12‧‧‧軌道

20‧‧‧支撐單元

21‧‧‧氣孔

30‧‧‧固定單元

31‧‧‧吸盤

40‧‧‧驅動裝置

50‧‧‧檢測機構

51‧‧‧取像裝置

52‧‧‧影像處理裝置

60‧‧‧翻轉機構

61‧‧‧支架

62‧‧‧取放板

64‧‧‧翻轉驅動裝置

70‧‧‧待測面板

Claims

一種具有翻轉機構之面板檢測裝置，其包括：
　　一基座，其上具有一頂視呈長方形之框架；
　　複數個支撐單元，係設置於該基座上，以供支撐一待測面板；
　　至少一固定單元，係位於該基座中，並位於該複數個支撐單元之一側，且與該框架之短邊同側，用以固持該待測面板；
　　
至少一驅動裝置，係設於該基座上，且與該框架之短邊同側，並與該固定單元連結，以驅動該固定單元往復移動；
　　一檢測機構，係設置於該框架上，用以檢測該待測面板上是否有缺陷；以及
　　至少一翻轉機構，係位於該基座上，且位於該基座之一側，並與該框架之長邊同側，可將該待測面板翻轉，以便執行該待測面板另一面之缺陷檢測。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該待測面板為一觸控感應器（Touch Sensor）、保護玻璃（Cover Glass）、薄膜電晶體液晶面板（TFT LCD）、有源矩陣有機發光二極體面板（AMOLED）或低溫多晶矽面板（LTPS）。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該檢測機構進一步具有：
　　一取像裝置，係設置於該框架長邊之一側，可對該待測面板上是否有缺陷進行取像和自動辨識；以及
　　一影像處理裝置，係設置於該框架長邊之另一側，可擷取該缺陷之影像，並提供該缺陷之座標參數。
如申請專利範圍第3項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該取像裝置為一CMOS線掃描相機(CMOS line scan camera)、CMOS區域掃描相機(CMOS area scan camera)或CCD(Charge Coupled Device)線掃描相機。
如申請專利範圍第3項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該影像處理裝置為一相機或電性測試裝置，其中該電性測試裝置為一組探針。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該支撐單元之數量至少為二個，係等距配置於該基座上，用以支撐該待測面板，以避免該待測面板因重力而彎曲。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該複數個支撐單元為氣浮式、滾輪式或滾珠式元件。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該固定單元為吸盤式或夾具式元件。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該驅動裝置為磁浮式、滾珠螺桿式、鏈條式、皮帶式或線性馬達式元件，且具有一軌道，以使該固定單元直線往復移動。
如申請專利範圍第9項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該軌道係以與該框架其短邊平行之方式，設置於該基座上。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該翻轉機構具有：
　　一支架，係置於該基座之一側，並與該框架之長邊同側；
　　複數個取放板，係設於該支架上，並於該支架上直線上下移動，用以取、放該待測面板，且其上具有複數個吸盤，以固持該待測面板；
　　至少一升降驅動裝置，係設置於該支架上，用以驅動該複數個取放板上下移動；以及
　　至少一翻轉驅動裝置，係設置於該支架上，用以驅動該複數個取放板進行轉動。
如申請專利範圍第11項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該升降驅動裝置為磁浮式、滾珠螺桿式、鏈條式、皮帶式或線性馬達式元件。
如申請專利範圍第11項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該翻轉驅動裝置為鏈條式、皮帶式或直接驅動馬達（Direct Drive Motor）式元件。
如申請專利範圍第1項所述之具有翻轉機構之面板檢測裝置，其中該翻轉機構之數量可為兩個，且係分置於該框架長邊之兩側。