TWM447597U - 天線支架及使用該天線支架之測試裝置。 - Google Patents

Description

天線支架及使用該天線支架之測試裝置

本新型涉及一種天線支架及使用該天線支架之測試裝置。

於電子產品之電磁輻射測試時，需要使用天線架搭配電磁輻射複合天線進行測試，目前業界之電磁輻射測試天線架採用外部標識之方式進行定位，易導致接收天線不能準確對準受試儀器，從而影響測試結果之準確性；另每次天線架定位及天線高度之精確定位都需要用卷尺及鉛垂等工具進行定位，比較繁瑣。

鑒於以上內容，有必要提供一種可準確定位天線且調整方便之天線支架。

還有必要提供一種使用該天線支架之測試裝置。

一種天線支架，包括底座及立柱，立柱設置於底座上，所述天線支架還包括用於安裝天線之滑動套、驅動部及二定位發射器；該驅動部與該滑動套裝設於該立柱上，該二定位發射器裝設於該滑動套上，該驅動部帶動滑動套沿立柱滑動，用以調整二定位發射器之位置，該二定位發射器所發射光源線用以定位該天線之指向及高度。

優選地，該驅動部包括固定於該立柱端部之固定桿、升降馬達、裝設於固定桿內之滑輪及傳送帶，該傳送帶連接滑輪及滑動套由升降馬達驅動，並可帶動滑動套沿立 柱滑動。

優選地，該二定位發射器裝設於該滑動套之二側面上，其發射之光源線分別用以確定天線之指向及高度。

優選地，該底座內設有驅動裝置，該底座底部設有滑輪，該驅動裝置可驅動該滑輪帶動底座轉動。

一種測試裝置，該測試裝置包括箱體及裝設於箱體內之天線支架，所述天線支架包括底座及立柱，立柱設置於底座上，所述天線支架還包括用於安裝天線之滑動套、驅動部及二定位發射器；該驅動部與該滑動套裝設於該立柱上，該二定位發射器裝設於該滑動套上，該驅動部帶動滑動套沿立柱滑動。

優選地，該二定位發射器裝設於該滑動套之二側面上，其發射之光源線分別用以確定天線之指向及高度。

優選地，該箱體包括底壁、側壁及端壁，該底座裝於底壁上，該側壁及端壁上設有定位點，該二定位點分別代表天線測試之指向及高度，該二定位發射器發射之光源線分別與二定位點對準，以確定天線之指向及高度。

優選地，與定位天線指向之定位點對準之光源線垂直於該定位點於之表面。

本新型所述天線支架裝設於測試裝置內，用以裝設天線，其滑動套之二側面上分別固定有定位發射器，定位發射器發射光源線可以與測試裝置內設定之定位點對準，用以確認該天線之極性及指向係否正確，無需人工目測或者用卷尺再次測量對準該天線之極性及高度，使天線 定位更準確，降低測量誤差。

請一併參閱圖1，本新型較佳實施方式之天線支架包括裝有驅動裝置之底座10、立柱15、滑動套20、驅動部25及二定位發射器30。滑動套20套設於立柱15上，並可沿立柱15上下滑動。該二定位發射器30裝設於滑動套20上。一天線50裝設於滑動套20上。所述天線支架裝設於一測試裝置內，該測試裝置包括箱體200。該箱體200包括底壁210、側壁220及端壁230。該底壁210、側壁220及端壁230相互垂直連接。

所述底座10呈方形箱體結構，其包括一頂板11及滑輪(圖未示)。該滑輪設於該底座10之底部，藉由啟動驅動裝置帶動滑輪轉動，進而使該底座10可移動。該立柱15一端固定於該頂板11中部。該驅動部25裝設於該立柱15之上端部，其包括升降馬達(圖未示)、固定桿251、裝設於固定桿251內之滑輪252及傳送帶253。該固定桿251固定於該立柱15端部，其側面開設有容置槽255。該滑輪252可旋轉裝設於該容置槽255內。該傳送帶253連接該滑輪252與該底座10內之滑輪。該滑動套20套於該立柱15上。該滑動套20為矩形框體，其與該傳送帶253連接，當傳送帶253傳動時帶動該滑動套20沿立柱15滑動。一固定部22裝設於該滑動套20上。天線50裝設於該固定部22上。藉由一遙控裝置可控制該升降馬達帶動該滑動套20沿立柱15滑動，用以調整該天線50之高度位置。

所述二定位發射器30為紅外發射器，其發射點為圓形， 發射之光源線31呈直線。本實施例中，該二定位發射器30分別裝設於該滑動套20之二垂直之側面上，並且該二定位發射器30發射之光源線31成直角。該二定位發射器30之光源線31所指定位置分別代表該天線50之指向及高度。

當對電子產品進行電磁干擾測試時，將該天線支架裝於該箱體200內，底座10裝於底壁210上，根據測量資料需要，使用卷尺及鉛錘工具於該箱體200之側壁220及端壁230上分別設定一定位點240，該側壁220之定位點240及端壁230上之定位點240分別代表測試需要之天線50之高度及指向，並且二定位點240於箱體200內之延伸線垂直。對天線50校正後，開啟定位發射器30發射光源線31，藉由遙控裝置啟動升降馬達以調整該滑動套20於該立柱15之高度位置，並藉由啟動底座10內之驅動裝置轉動該底座10，調整該定位發射器30之光源線31相對側壁220及端壁230之位置，使該兩條光源線31與二定位點240重合，此時，兩條光源線31與所對準之定位點240於之側壁220及端壁230表面垂直，即可確認該天線50之指向及高度正確，即確認該天線50符合測試位置，之後可以進行測試作業。為了更方便之對準該光源線31與定位點240，可以將二定位點240之間用水準直線連接，調整時，將該光源線31與該直線對準都，再調整該底座10之位置，使光源線31與定位點240對準即可。

本新型之天線支架之立柱15上裝設有驅動部25，該驅動部可帶動該滑動套20沿立柱15滑動，該滑動套20之二側 面上分別固定有定位發射器30，定位發射器30發射光源線31可以與測試箱體200內設定之定位點240對準，用以確認該天線50之極性及指向係否正確，無需人工目測或者用卷尺再次測量對準該天線之極性及高度，使天線定位更準確，降低測量誤差。

10‧‧‧底座

11‧‧‧頂板

15‧‧‧立柱

20‧‧‧滑動套

22‧‧‧固定部

25‧‧‧驅動部

251‧‧‧固定桿

252‧‧‧滑輪

253‧‧‧傳送帶

255‧‧‧容置槽

30‧‧‧定位發射器

31‧‧‧光源線

50‧‧‧天線

200‧‧‧箱體

210‧‧‧底壁

220‧‧‧側壁

230‧‧‧端壁

240‧‧‧定位點

圖1係本新型較佳實施例之天線支架示意圖。

10‧‧‧底座

11‧‧‧頂板

15‧‧‧立柱

20‧‧‧滑動套

22‧‧‧固定部

25‧‧‧驅動部

251‧‧‧固定桿

252‧‧‧滑輪

253‧‧‧傳送帶

255‧‧‧容置槽

30‧‧‧定位發射器

31‧‧‧光源線

50‧‧‧天線

200‧‧‧箱體

210‧‧‧底壁

220‧‧‧側壁

230‧‧‧端壁

240‧‧‧定位點

Claims (8)

1. 一種天線支架，包括可轉動之底座及立柱，立柱設置於底座上，其改良在於：所述天線支架還包括用於安裝天線之滑動套、驅動部及二定位發射器；該驅動部與該滑動套裝設於該立柱上，該二定位發射器裝設於該滑動套上，該驅動部帶動滑動套沿立柱滑動，用以調整二定位發射器之位置，該二定位發射器所發射光源線用以定位該天線之指向及高度。
2. 如申請專利範圍第1項所述之天線支架，其中該驅動部包括固定於該立柱端部之固定桿、升降馬達、裝設於固定桿內之滑輪及傳送帶，該傳送帶連接滑輪及滑動套由升降馬達驅動，並可帶動滑動套沿立柱滑動。
3. 如申請專利範圍第2項所述之天線支架，其中該二定位發射器裝設於該滑動套之二相會垂直之側面上，二定位發射器發射之光源線分別用以確定天線之指向及高度。
4. 如申請專利範圍第3項所述之天線支架，其中該底座內設有驅動裝置，該底座底部設有滑輪，該驅動裝置可驅動該滑輪帶動底座轉動。
5. 一種測試裝置，該測試裝置包括箱體及裝設於箱體內之天線支架，所述天線支架包括底座及立柱，立柱設置於底座上，其改良在於：所述天線支架還包括用於安裝天線之滑動套、驅動部及二定位發射器；該驅動部與該滑動套裝設於該立柱上，該二定位發射器裝設於該滑動套上，該驅動部帶動滑動套沿立柱滑動，該箱體內設有二定位點，該二定位發射器所發射光源線用以定位該天線之指向及高度。
6. 如申請專利範圍第5項所述之測試裝置，其中該二定位發 射器裝設於該滑動套之二側面上，二定位發射器發射之光源線分別用以確定天線之指向及高度。
7. 如申請專利範圍第6項所述之測試裝置，其中該箱體包括底壁、側壁及端壁，該底座裝於底壁上，該側壁及端壁上設有水平線連接之定位點，該二定位點分別代表天線測試之指向及高度，該二定位發射器發射之光源線分別與二定位點對準，以確定天線之指向及高度。
8. 如申請專利範圍第7項所述之測試裝置，其中與定位天線指向之定位點對準之光源線垂直於該定位點於之表面。