Μ3Ό4664 八、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作係提供-魏子元狀崎治具，尤指職治具之測 試頭可依電子元件之接腳位置、數目_試面積，w以更換有 不同測試面之實體測試塊，輯加實體測試塊與微小接腳間的接 觸面積’躺提高整體測試料度、效率及確侧試品質之目的 〇 【先前技術】 按’隨著電子工業的進步及電子科技應用的快速發展，愈來 愈多的電子產品被頻繁的於日f生活巾，以提升作業的方便 ，與生活品質，在許多不同的電子產品翻之中，皆須使用到許 多電子元件，例如··二極體、積體電路、電阻、電容等，來進行
管理、控制、分析、處理、使用者輸人之詩，特別是電腦 通訊以及消費性電子產品等t有日益頻細應用。 惟’在完成各式電子元件的製造程序後，需經過—連串之電 氣測試，方能在數量好之電子元件巾·瑕疵不良品，由於電 子元件體積愈趨短小’亦使電子產品愈趨小型化，降低生產成本 ，提高制π樣的，電阻、電容、龍ϋ甚至錢電阻阻抗（ c R )等元件’亦是朝此趨勢前進，·但，小型化的產品在製作 、品保過程中’因體積小、腳轉，使_人員在賴上無法克 服人為疏失障礙，例如：以往使用L c R με τ ε _量參數 數據日守It系疋利用手持探測棒之方式量测’請參閱第五圖所示 5 Μ3Ό4664
===測試時之示意圖，由圖中可清楚看出，測試探針A 、側為/刀別設有半圓形或尖錐形之測試面Ai、 侧連接測觀號以2、B 2，當電子元件 用測試探針A、3之資仏Δ , 心頂柄而利 接網$ 面A1、B1與電子元件C之接腳C1
結果，是以，除了造成品質不穩、容易延誤出貨外，還可能提高 額外的重卫（RewQ r k丨ng)問題，相當不符合經濟效益 ’故’此種習用檢測仍有很大的改善空間。 觸’再透過戦訊號線A 2、B 2傳輸至測試儀議測試結 心树’ ^要透過纽作業方式讀手握制試探針A、 、“進:操作’但可能會因手指顫動而造成誤差值過大或誤判， 並且在調時輕考驗人員的穩定度以及耐心，且測試面A卜 B 1與電子元件C之接腳c丨接觸面積僅為前端之_或尖點接 觸’其整體接觸面積小’即料造制試時的不穩定*影響測試 再請參閱第六圖所示，係為另一習用於測試時之示意圖，由 圖中可清楚看出，此習用是藉由夾持式之測試棒D、側分別 設有測試面D1、E 1，即可透過測試棒D、£之測試面D1、 E 1進行測試，惟，此習用之測試棒d、E之測試面D1、E1 以夾持方式與電子元件C之接腳C1抵觸，而一般之電子元件c 因體積小型化，其接腳C1也趨於微小，使其與夾持式之測試棒 D、E的接觸面積小’十分不易夾持，若夾持不完全，則容易造 成短路或脫落，而影響到測試結果的不正確或錯誤，進而導致產 品不良率提昇、浪費製造成本，極不符合經濟效益。 6 M304664 …是以，上述f狀電子元件職裝置仍存財諸多缺失，且 =待艾步改良之必要’即為本創作人與從事此行業者所亟欲 改善之方向所在。 【新型内容] ，二上述f用之不足與缺失’乃搜集相關資料 ㈣田Γ 方輯事此行#之多年經驗透過不斷 生始設計出此種電子元件之測試治具的新型專利誕 本創作之轉㈣;5在_朗可雜 腳處，並使物侧子元㈣卿、數目==接 而予以更财柯職面之__，明加實體測試塊愈微 面積，進而提高整體測試準確度、效率及確保測 _本創作之次要目的乃在_朗之基部上謂延伸之轴桿可 牙設於基座内之直立軸承内，並使軸桿露出基座上表面為定位有 ^片，而限位片貝情入基座周圍表面所設之二相對應調整部間 、、限位’赠止讀峨塊抵麵料崎軸桿機，進而造 成測試頭偏移之情況發生。 σ 【實施方式】 為達成上述目的及功效，本創作所採用之技術手段及其 ，_圖就本創作之較佳實施例詳加說明其特徵與功能如下，俾 利完全瞭解。 7 M304664 」月同日样閱弟-、二、三、四圖所示，係為本創作測試治具 之前視圖、職治具之觀圖及測試治具之俯棚、測試治且: 前視剖面圖，蝴中可以清楚看出，本創作電子元件之測試治且 係於基座1底部設有可上、下位移之複數測試頭2，其令·、 該基座1一側為延伸有可定位於預設機台之固定部i i，# 於基座1内設有複數直立之轴承1 2，以及於基座1JL、下表面 ::軸承12相對位之轴孔1 3，另於基座1周圍表面設有可 形成偏〜轉動且二相對應之調整部14。 該測朗2為祕部2 i上延伸有物卿^ 22，且轴桿22嶋座1上表面為定位恤片23 = ^伸入基座1表面之二相對應調整部“間呈一限= 底—…於基:;== ，體測越2 5，且實_試塊2 5於底部具有職 、 ’並於實體戦塊2 5—顯财戦訊觀2 5 2。 2 2:=了Γ構件於組構時’係先將複數測試頭2之軸桿 編^ Γ 對雜承1 2内，並使各職頭2之 ，干2 2 -猶出基座！上表面之限位片2技位於對應之調敕 :1 4間’藉由調整部丄4可將限位片2 3止擋限位，以防止； 偏移，如此’若要調整時，僅需透過調整部丄 限位片i 4可形㈠_擺，即可微_吻之獅間隙使 8 M304664 而後，可將彈性元件2 4套設於軸桿2 2上，並使彈性元件2 4 分別抵撑於基座1底面及基部21表面，另將實體測試塊2 5定 位於测試頭2之基部21下方，其實體測試塊2 5可依電子元件 接腳位置、數目或測试點，而更換有不同測試面2 51之實體 測試塊2 5，並將實體測試塊2 5接設有測試訊號線2 5 2，當 貫體測試塊2 5之測試面2 51去抵壓電子元件接腳時，可透過
彈f生元件2 4使測試頭2形成上、下彈性位移之動作，即可完成 本創作之整體組裝。 疋以，於測試時，係先透過基座1之固定部11，將基座1 鎖固於機台（®巾未示出）上，並將各測朗2之實體測試塊2 5連接有測試訊絲2 5 2 ’且測試訊號線2 5 2為分別連接至 測試儀器上，即可透過治具將電子元件3輸送至測試頭2下方， 使電子7G件3之接腳3 1與實體測試塊2 5之測試面2 5丄相對 應，便可藉由機台之線性滑軌（圖中未示出）將基座丄下移，使 實體測試塊2 5去抵壓電子元件3之接腳3 i，其測試頭2受壓 後形成向上位移’同時藉由彈性雜2 4抵撐，可確實的使實體 測試塊2 5之測試面2 51與電子元件3之接腳3工穩固接觸， 當被測電子元件3之電阻_、於姐姆時，可採關爾文連接 方式（或稱四m方式）來進行職，開爾文連接有兩個要求 ，就是對於每個測試點都有—條激勵線F和-條檢測線S，二者 嚴格分開，各自構_立_，_要求3線必須接到一個有極 高輸入阻抗的測試回路上，使流過檢測線S的電流極小，趨近為 9 M304664 零；當複數實體測試塊2 5之測試面2 51與對應電子元件之接 腳形成確實的抵壓接觸後，即可利用測試儀器透過測試訊號線2 5 2來判斷電子元件於接觸後的訊號是否正常，以有效地減少測 量誤差。 此外’本創作之測試頭2可依電子元件之接腳位置、數目或 測試面積，而予以更換有不同測試面2 51之實體測試塊2 5， 以增加實體測試塊2 5與微小接腳間的接觸面積，進而防止測試 面2 51與接腳21接觸不完全或產生錯位情況發生，因電子元 件的體積趨於微小，相對地，其接腳2 i亦更加細小，故，可藉 由本創作之實體測試塊2 5的測試面2 51面積加大，可確實穩 固的與電子元件之接腳接觸，以達到增加測試訊號的準確度及正 確性，並生提昇整體產品的良率。 上述本創作之電子元件之測試治具於實際使用時，為可具有 下列各項優點： 本創作之測試治具可直接應用在一般自動化之加工機具上， 透過基座1底部之測試頭2彈性抵壓，可迅速對電子元件3之接 腳3 1進行職，划m頭2可依電子元件3之接腳3 i位置、 數目或測試面積，而於測試頭2底部更換有不同測試面25丄之 實體測試塊2 5，以增加實體測試塊2 5舆微小接腳間的接觸面 積，進而防止測試面2 5 1與接腳3 1_不完全或產生錯位情 況發生，以提高整體測試效率及確保測試品質之目的。 惟’以上所述僅為本創作之較佳實施例而已，非因此即偈限 M304664 本創作之補細，故舉凡朝本_朗書簡柏容 m等效結構變化，均_理包含於本創作之專利範圍内 综上所述’摘作上叙電子树之_治胁使 確實能達到其功效及目的，故本創作誠為—實雜優異之創作為 為付合新型專利之申請要件，爰依法提出巾請，盼轉早 准=案’以保障創作人之辛苦創作，倘若肖局審委有任何稽疑 ’請不吝來函指示，_人定當竭力配合，至感德便。
11 M304664 【圖式簡單說明】 第一圖係為本創作測試治具之前視圖。 第二圖係為本創作測試治具之側視圖。 第三圖係為本創作測試治具之俯視圖。 • 第四圖係為本創作測試治具之前視剖面圖 第五圖係為習用於測試時之示意圖。 第六圖係為另一習用於測試時之示意圖。 元件符號說明 【主要 3 4 軸孔 調整部 實體測試塊 測試面 測試訊號線 1、 基座 1 1、固定部 1 2、軸承 2、 測試頭 21、基部 2 5、 2 2、軸桿 2 5 1、 2 3、限位片 2 5 2、 2 4、彈性元件 3、電子元件 3 1、接腳 12 M304664 A 2、測試訊號線 A、 測試彳朱針 A 1、測試面 B 2、測試訊號線 B、 測試探針 B1、測試面 C、 電子元件 ’ C1、接腳 D、 測試棒 D1、測試面 E、 測試棒 E1、測試面 13